KR20210119618A - 표시 장치 - Google Patents

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KR20210119618A
KR20210119618A KR1020200035759A KR20200035759A KR20210119618A KR 20210119618 A KR20210119618 A KR 20210119618A KR 1020200035759 A KR1020200035759 A KR 1020200035759A KR 20200035759 A KR20200035759 A KR 20200035759A KR 20210119618 A KR20210119618 A KR 20210119618A
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touch
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KR1020200035759A
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양성진
박현식
유춘기
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삼성디스플레이 주식회사
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Abstract

표시 장치가 제공된다. 표시 장치는 복수의 화소를 구비한 표시 영역, 및 표시 영역에 의해 둘러싸이는 투과부, 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 비표시 영역을 포함하는 표시 유닛, 및 상기 투과부와 중첩된 투과 영역, 상기 투과부와 중첩되고 상기 투과 영역을 둘러싸는 더미부, 상기 더미부를 둘러싸는 터치 센서 영역, 및 상기 터치 센서 영역을 둘러싸는 터치 주변 영역을 구비한 터치 감지 유닛을 포함하고, 상기 터치 센서 영역은 제1 방향 및 상기 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 배열된 제1 터치 전극들, 및 상기 제1 터치 전극들 사이에 배치되고, 상기 제1 방향으로 연결되며 상기 제2 방향으로 서로 이격된 제2 터치 전극들을 포함하며, 상기 더미부는 상기 투과 영역을 직접 둘러싸는 메인 더미, 및 상기 메인 더미를 둘러싸는 적어도 하나의 서브 더미를 포함하고, 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들과 절연되며, 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미는 상기 제1 및 제2 터치 전극들 중 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극에 대응되는 제1 커팅부를 포함한다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}
본 발명은 표시 장치에 관한 것이다.
사용자에게 영상을 제공하는 스마트 폰, 태블릿 PC, 디지털 카메라, 노트북 컴퓨터, 네비게이션, 및 텔레비전(TV) 등의 전자 기기는 영상을 표시하기 위한 표시 장치를 포함한다. 표시 장치는 영상을 생성하여 표시하는 표시 패널 및 다양한 입력 장치를 포함한다.
최근에는 스마트 폰이나 태블릿 PC를 중심으로 터치 입력을 인식하는 터치 감지 유닛이 표시 장치의 입력 장치로 많이 적용되고 있다. 터치 감지 유닛은 사용자의 터치 입력 여부를 판단하고, 해당 위치를 터치 입력 좌표로 산출한다.
터치 감지 유닛은 제1 방향으로 전기적으로 연결된 제1 터치 전극들, 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 전기적으로 연결된 제2 터치 전극들, 제1 터치 전극들에 연결되는 제1 터치 라인들, 및 제2 터치 전극들에 연결되는 제2 터치 라인들을 포함할 수 있다. 이 때, 제1 터치 전극들과 제2 터치 전극들 사이에서 불필요한 커플링이 발생할 수 있고, 이로 인해 터치 감지 유닛의 감도가 악화되거나 구동이 불가능할 수 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 적어도 하나의 제1 터치 전극 및 적어도 하나의 제2 터치 전극에 의해 둘러싸이는 투과 영역, 및 투과 영역을 둘러싸는 더미부를 포함하는 경우, 더미부에 의해 적어도 하나의 제1 터치 전극 및 적어도 하나의 제2 터치 전극 사이에 불필요한 커플링의 발생을 방지할 수 있는 표시 장치를 제공하고자 하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 해결하기 위한 일 실시예의 표시 장치는 복수의 화소를 구비한 표시 영역, 및 표시 영역에 의해 둘러싸이는 투과부, 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 비표시 영역을 포함하는 표시 유닛, 및 상기 투과부와 중첩된 투과 영역, 상기 투과부와 중첩되고 상기 투과 영역을 둘러싸는 더미부, 상기 더미부를 둘러싸는 터치 센서 영역, 및 상기 터치 센서 영역을 둘러싸는 터치 주변 영역을 구비한 터치 감지 유닛을 포함하고, 상기 터치 센서 영역은 제1 방향 및 상기 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 배열된 제1 터치 전극들, 및 상기 제1 터치 전극들 사이에 배치되고, 상기 제1 방향으로 연결되며 상기 제2 방향으로 서로 이격된 제2 터치 전극들을 포함하며, 상기 더미부는 상기 투과 영역을 직접 둘러싸는 메인 더미, 및 상기 메인 더미를 둘러싸는 적어도 하나의 서브 더미를 포함하고, 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들과 절연되며, 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미는 상기 제1 및 제2 터치 전극들 중 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극에 대응되는 제1 커팅부를 포함한다.
상기 제1 커팅부는 상기 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극과 최단 거리에 배치될 수 있다.
상기 터치 감지 유닛은 상기 더미부를 지지하는 베이스 부재를 더 포함할 수 있고, 상기 더미부는 상기 베이스 부재와, 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들 사이의 층에 배치될 수 있다.
상기 터치 감지 유닛은 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들 사이에 배치된 전극 더미부를 더 포함할 수 있다.
상기 제1 커팅부는 상기 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극을 사이에 두고 상기 전극 더미부와 이격될 수 있다.
상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미는 직접 마주하는 상기 전극 더미부와 상기 제1 및 제2 터치 전극들 중 제1 터치 전극 또는 제2 터치 전극의 사이에 대응되는 제2 커팅부들을 더 포함할 수 있다.
상기 터치 감지 유닛은 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미를 둘러싸고, 상기 제1 및 제2 터치 전극들 중 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미와 직접 마주하는 제1 터치 전극 또는 제2 터치 전극과 컨택되는 컨택 더미부를 더 포함할 수 있다.
상기 컨택 더미부의 평면 상 폭은 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미의 평면 상 폭보다 클 수 있다.
상기 컨택 더미부는 상기 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극과 평면 상에서 중첩되는 제7 커팅부를 포함할 수 있다.
상기 터치 감지 유닛은 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들 사이에 배치된 전극 더미부를 더 포함하고, 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미의 일부는 상기 컨택 더미부에 의해 둘러싸이고, 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미의 다른 일부는 상기 전극 더미부에 의해 둘러싸일 수 있다.
상기 컨택 더미부의 일단 및 상기 컨택 더미부의 타단 각각은 상기 제2 커팅부들 각각에 대응되게 배치될 수 있다.
상기 적어도 하나의 서브 더미는 상기 메인 더미를 둘러싸는 제1 서브 더미, 상기 제1 서브 더미를 둘러싸는 제2 서브 더미, 및 상기 제2 서브 더미를 둘러싸고, 상기 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극과 마주하는 제3 서브 더미를 포함하고, 상기 제3 서브 더미는 상기 제1 커팅부를 포함할 수 있다.
상기 제2 서브 더미는 상기 제1 커팅부와 최단 거리에 배치되는 제3 커팅부를 포함할 수 있다.
상기 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극, 상기 제1 커팅부, 및 상기 제3 커팅부는 일직선 상에 배치될 수 있다.
상기 제2 서브 더미는 상기 홀의 중심을 지나 상기 제1 방향으로 연장되는 제1 축, 및 상기 홀의 중심을 지나 상기 제2 방향으로 연장되는 제2 축에 중첩되는 제4 커팅부를 포함할 수 있다.
상기 제1 서브 더미는 상기 제1 커팅부 또는 상기 제3 커팅부와 최단 거리에 배치되는 제5 커팅부를 포함할 수 있다.
상기 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극, 상기 제1 커팅부, 상기 제3 커팅부, 및 상기 제5 커팅부는 일직선 상에 배치될 수 있다.
상기 제1 서브 더미는 상기 투과 영역의 중심을 지나 상기 제1 방향과 상기 제2 방향 사이의 제3 방향으로 연장되는 제3 축, 및 상기 투과 영역의 중심을 지나 상기 제1 방향의 반대 방향과 상기 제2 방향 사이의 제4 방향으로 연장되는 제4 축에 중첩되는 제6 커팅부를 포함할 수 있다.
상기 터치 감지 유닛은 상기 제2 방향으로 인접한 상기 제1 터치 전극들 사이에 배치된 터치 섬 전극들, 및 상기 제1 터치 전극들과 상기 터치 섬 전극들을 연결하는 연결 전극들을 더 포함할 수 있다.
상기 터치 섬 전극들은 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들과 동일층에 배치되고, 상기 연결 전극은 상기 더미부와 동일층에 배치될 수 있다.
상기 과제를 해결하기 위한 일 실시예의 표시 장치는 복수의 화소를 구비한 표시 영역, 상기 표시 영역에 의해 둘러싸이는 제1 비표시 영역, 상기 제1 비표시 영역에 의해 둘러싸이고 일면이 개방된 투과부, 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 제2 비표시 영역을 포함하는 표시 유닛, 및 상기 투과부와 중첩된 투과 영역, 상기 제1 비표시 영역과 중첩되고 상기 투과 영역을 둘러싸는 더미부, 상기 더미부를 둘러싸는 터치 센서 영역, 및 상기 터치 센서 영역을 둘러싸는 터치 주변 영역을 포함하는 터치 감지 유닛을 포함하고, 상기 터치 센서 영역은 베이스 부재, 상기 베이스 부재 상에서 제1 방향 및 상기 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 배열된 제1 터치 전극들, 및 상기 제1 터치 전극들 사이에 배치되고, 상기 제1 방향으로 연결되며 상기 제2 방향으로 서로 이격된 제2 터치 전극들을 포함하며, 상기 더미부는 상기 투과 영역을 직접 둘러싸는 메인 더미, 및 상기 메인 더미를 둘러싸는 적어도 하나의 서브 더미를 포함하고, 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들과 절연되며, 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미는 상기 제1 및 제2 터치 전극들 중 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극에 대응되는 커팅부를 포함한다.
기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
실시예들에 따른 표시 장치에 의하면, 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미는 제1 및 제2 터치 전극들 중 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극에 대응되는 커팅부를 포함할 수 있다. 이로 인하여 따라서, 제1 터치 전극들 또는 제2 터치 전극들과 더미부 사이에 의도하지 않은 커플링이 발생하더라도, 제1 터치 전극들 및 제2 터치 전극들 각각과 대응되는 더미부는 전기적으로 절연됨으로써, 제1 및 제2 터치 전극 사이에 불필요한 커플링의 발생을 방지할 수 있고, 터치 감지 유닛의 감도 및 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
실시예들에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 사시도이다.
도 2는 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 평면도이다.
도 3a는 도 2의 선 I-I'을 따라 자른 단면도의 일 예이다.
도 3b는 도 2의 선 I-I'을 따라 자른 단면도의 다른 예이다.
도 4는 도 3a에 도시된 표시 유닛을 나타내는 평면도이다.
도 5는 도 3a에 도시된 터치 감지 유닛의 일 예를 나타내는 평면도이다.
도 6은 도 5의 A1 영역을 확대한 평면도이다.
도 7은 도 6의 선 II-II'을 따라 자른 단면도이다.
도 8은 도 5의 A2 영역의 일 예를 나타내는 확대 평면도이다.
도 9는 도 8의 선 III-III'을 따라 자른 단면도의 일 예이다.
도 10은 도 8에 도시된 더미부 및 컨택 더미부를 나타내는 도면이다.
도 11은 도 8의 A3 영역을 확대한 평면도이다.
도 12는 도 11의 선 IV-IV'을 따라 자른 단면도이다.
도 13은 도 8의 선 III-III'을 따라 자른 단면도의 다른 예이다.
도 14는 도 5의 A2 영역의 다른 예를 나타내는 확대 평면도이다.
도 15는 도 14에 도시된 더미부 및 컨택 더미부를 나타내는 도면이다.
도 16은 도 14의 A4 영역을 확대한 평면도이다.
도 17은 도 16의 선 V-V'을 따라 자른 단면도이다.
도 18은 도 5의 A2 영역의 또 다른 예를 나타내는 확대 평면도이다.
도 19는 도 18에 도시된 더미부 및 컨택 더미부를 나타내는 도면이다.
도 20은 도 18의 A5 영역을 확대한 평면도이다.
도 21은 도 20의 선 VI-VI'을 따라 자른 단면도이다.
도 22는 도 3a에 도시된 터치 감지 유닛의 다른 예를 나타내는 평면도이다.
도 23은 도 22의 A6 영역을 확대한 평면도이다.
도 24는 도 23에 도시된 더미부 및 컨택 더미부를 나타내는 도면이다.
도 25는 도 23의 A7 영역을 확대한 평면도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
소자(elements) 또는 층이 다른 소자 또는 층의 "상(on)"으로 지칭되는 것은 다른 소자 바로 위에 또는 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 실시예들을 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다.
비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.
본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 구체적인 실시예들에 대해 설명한다.
도 1은 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 사시도이고, 도 2는 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 평면도이다.
본 명세서에서, “상부”, “탑”, “상면”은 표시 장치를 기준으로 상부 방향, 즉 Z축 방향을 가리키고, “하부”, “바텀”, “하면”은 표시 장치를 기준으로 하부 방향, 즉 Z축 방향의 반대 방향을 가리킨다. 또한, “좌”, “우”, “상”, “하”는 표시 장치를 평면에서 바라보았을 때의 방향을 가리킨다. 예를 들어, “좌”는 X축 방향의 반대 방향, “우”는 X축 방향, “상”은 Y축 방향, “하”는 Y축 방향의 반대 방향을 가리킨다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 표시 장치(10)는 동영상이나 정지 영상을 표시하는 장치로서, 모바일 폰(Mobile Phone), 스마트 폰(Smart Phone), 태블릿 PC(Tablet PC), 및 스마트 워치(Smart Watch), 워치 폰(Watch Phone), 이동 통신 단말기, 전자 수첩, 전자 책, PMP(Portable Multimedia Player), 네비게이션, UMPC(Ultra Mobile PC) 등과 같은 휴대용 전자 기기뿐만 아니라, 텔레비전, 노트북, 모니터, 광고판, 사물 인터넷(Internet of Things, IOT) 등의 다양한 제품의 표시 화면으로 사용될 수 있다.
표시 장치(10)는 평면 상 직사각형 형태로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(10)는 제1 방향(X축 방향)의 장변과 제2 방향(Y축 방향)의 단변을 갖는 직사각형의 평면 형태를 가질 수 있다. 제1 방향(X축 방향)의 장변과 제2 방향(Y축 방향)의 단변이 만나는 모서리는 직각으로 형성되거나 소정의 곡률을 갖도록 둥글게 형성될 수 있다. 표시 장치(10)의 평면 형태는 직사각형에 한정되지 않고, 다른 다각형, 원형 또는 타원형으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(10)는 평탄하게 형성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 다른 예를 들어, 표시 장치(10)는 소정의 곡률로 구부러지도록 형성될 수 있다.
표시 장치(10)는 표시 유닛(100), 표시 구동부(200), 표시 회로 보드(300), 터치 구동부(400), 터치 회로 보드(410), 및 터치 감지 유닛(500)을 포함할 수 있다.
표시 유닛(100)은 영상을 표시하는 화소들을 구비한 표시 영역, 및 표시 영역의 주변에 배치된 비표시 영역을 포함할 수 있다. 표시 유닛(100)의 표시 영역은 복수의 발광 영역(또는 복수의 개구 영역)으로부터 광을 방출할 수 있다. 예를 들어, 표시 유닛(100)은 스위칭 소자 등과 같은 화소 회로, 표시 영역의 발광 영역을 정의하는 화소 정의막, 및 자발광 소자(Self-Light Emitting Element)를 포함할 수 있다.
예를 들어, 자발광 소자는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode), 양자점 발광 다이오드(Quantum dot Light Emitting Diode), 무기물 기반의 마이크로 발광 다이오드(예를 들어, Micro LED), 무기물 기반의 나노 발광 다이오드(예를 들어, Nano LED) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 이하에서는, 자발광 소자가 유기 발광 다이오드인 경우를 예시하여 서술하기로 한다.
표시 유닛(100)의 비표시 영역은 기판의 일 측 가장자리에 마련된 표시 전극 패드들을 포함할 수 있다. 표시 전극 패드들은 표시 회로 보드(300)에 전기적으로 연결될 수 있다. 표시 유닛(100)에 대한 자세한 설명은 도 3a 및 도 4를 결부하여 후술한다.
표시 구동부(200)는 표시 유닛(100)을 구동하기 위한 신호들과 전압들을 출력할 수 있다. 표시 구동부(200)는 데이터 라인들에 데이터 전압들을 공급할 수 있다. 표시 구동부(200)는 전원 라인에 전원 전압을 공급하며, 스캔 구동부에 스캔 제어 신호들을 공급할 수 있다. 표시 구동부(200)는 집적 회로(Integrated Circuit, IC)로 형성되어 COG(Chip on Glass) 방식, COP(Chip on Plastic) 방식, 또는 초음파 접합 방식으로 표시 유닛(100) 상에 접착될 수 있다. 예를 들어, 표시 구동부(200)는 터치 감지 유닛(500)에 의해 덮이지 않고 노출된 표시 유닛(100) 상에 접착될 수 있다. 다른 예를 들어, 표시 구동부(200)는 회로 보드(300) 상에 실장될 수 있다.
표시 회로 보드(300)는 이방성 도전 필름(Anisotropic Conductive Film, ACF)을 이용하여 표시 유닛(100)의 표시 전극 패드들 상에 부착될 수 있다. 이로 인해, 표시 회로 보드(300)의 리드 라인들은 표시 유닛(100)의 표시 전극 패드들에 전기적으로 연결될 수 있다. 표시 회로 보드(300)는 연성 인쇄 회로 보드(Flexible Printed Circuit Board), 인쇄 회로 보드(Printed Circuit Board) 또는 칩 온 필름(Chip on Film)과 같은 연성 필름(Flexible Film)일 수 있다.
터치 구동부(400)는 터치 감지 유닛(500)의 터치 전극들에 연결될 수 있다. 터치 구동부(400)는 터치 감지 유닛(500)의 터치 전극들에 터치 구동 신호들을 인가하고 터치 전극들의 정전 용량 값을 측정할 수 있다. 예를 들어, 터치 구동 신호는 복수의 구동 펄스들을 갖는 신호일 수 있다. 터치 구동부(400)는 터치 전극들의 정전 용량 값을 기초로 터치 입력 여부를 판단할 수 있을 뿐만 아니라, 터치가 입력된 터치 좌표들을 산출할 수 있다. 터치 구동부(400)는 집적 회로(IC)로 형성되어 터치 회로 보드(300) 상에 실장될 수 있다.
터치 회로 보드(410)는 이방성 도전 필름을 이용하여 터치 감지 유닛(500)의 터치 전극 패드들 상에 부착될 수 있다. 이로 인해, 터치 회로 보드(410)의 리드 라인들은 터치 감지 유닛(500)의 터치 전극 패드들에 전기적으로 연결될 수 있다. 터치 회로 보드(410)는 연성 인쇄 회로 보드, 인쇄 회로 보드 또는 칩 온 필름과 같은 연성 필름일 수 있다.
터치 감지 유닛(500)은 표시 유닛(100) 상에 배치될 수 있다. 터치 감지 유닛(500)은 제1 방향(X축 방향)의 장변과 제2 방향(Y축 방향)의 단변을 갖는 직사각형의 평면 형태를 가질 수 있다. 제1 방향(X축 방향)의 장변과 제2 방향(Y축 방향)의 단변이 만나는 모서리는 직각으로 형성되거나 소정의 곡률을 갖도록 둥글게 형성될 수 있다. 예를 들어, 터치 감지 유닛(500)의 평면 형태는 직사각형에 한정되지 않고, 다른 다각형, 원형 또는 타원형으로 형성될 수 있다. 터치 감지 유닛(500)의 평면 형태는 표시 유닛(100)의 평면 형태와 유사할 수 있다.
터치 감지 유닛(500)은 평탄하게 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며, 좌우측 끝단에 형성된 곡면부를 포함할 수 있다. 이 경우, 곡면부는 일정한 곡률을 갖거나 변화하는 곡률을 가질 수 있다. 또한, 터치 감지 유닛(500)은 표시 유닛(100)과 같이 구부러지거나, 휘어지거나, 벤딩되거나, 접히거나, 말릴 수 있도록 유연하게 형성될 수 있다.
터치 감지 유닛(500)은 터치 센서 영역에 배치되어 사용자의 터치를 감지하기 위한 터치 전극들과 터치 센서 영역의 주변에 배치된 터치 주변 영역에 배치된 터치 전극 패드들을 포함할 수 있다. 터치 전극 패드들은 터치 감지 유닛(500)의 일 측 가장자리에서 터치 감지 유닛(500) 상에 형성되어 터치 회로 보드(410)에 전기적으로 연결될 수 있다.
터치 감지 유닛(500)에 대한 자세한 설명은 도 3a 및 도 5를 결부하여 후술한다. 또한, 도 1 및 도 2는 터치 감지 유닛(500)이 표시 유닛(100)과 구분되는 별도의 터치 패널인 것을 예시되었으나, 이에 한정되지 않는다.
도 3a는 도 2의 선 I-I'을 따라 자른 단면도의 일 예이다.
도 3a를 참조하면, 표시 장치(10)는 표시 유닛(100), 터치 감지 유닛(500), 및 표시 유닛(100)과 터치 감지 유닛(500)을 합착시키는 접착 부재(SEAL)를 포함할 수 있다.
표시 유닛(100)은 제1 기판(SUB1), 박막 트랜지스터층(TFTL), 및 발광 소자층(EML)을 포함할 수 있다.
제1 기판(SUB1)은 베이스 기판 또는 베이스 부재일 수 있고, 고분자 수지 등의 절연 물질로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 제1 기판(SUB1)은 리지드(Rigid) 기판일 수 있다. 다른 예를 들어, 제1 기판(SUB1)은 벤딩(Bending), 폴딩(Folding), 롤링(Rolling) 등이 가능한 플렉서블(Flexible) 기판일 수 있다. 제1 기판(SUB1)이 플렉서블 기판인 경우, 폴리이미드(PI)로 형성될 수 있지만, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
박막 트랜지스터층(TFTL)은 제1 기판(SUB1) 상에 배치될 수 있다. 박막 트랜지스터층(TFTL)은 화소들의 화소 회로를 구성하는 박막 트랜지스터들 뿐만 아니라, 스캔 라인들, 데이터 라인들, 전원 라인들, 스캔 제어 라인들, 표시 구동부(200)와 데이터 라인들을 연결하는 데이터 연결 라인들, 표시 구동부(200)와 표시 전극 패드들을 연결하는 패드 연결 라인들 등을 포함할 수 있다. 박막 트랜지스터들 각각은 게이트 전극, 반도체층, 소스 전극, 및 드레인 전극을 포함할 수 있다. 스캔 구동부(110)가 도 4와 같이 표시 유닛(100)의 비표시 영역(NDA)에 형성되는 경우, 스캔 구동부(110)는 박막 트랜지스터들을 포함할 수 있다.
박막 트랜지스터층(TFTL)은 표시 영역과 비표시 영역에 배치될 수 있다. 구체적으로, 박막 트랜지스터층(TFTL)의 화소들 각각의 박막 트랜지스터들, 스캔 라인들, 데이터 라인들, 및 전원 라인들은 표시 영역(DA)에 배치될 수 있다. 박막 트랜지스터층(TFTL)의 스캔 제어 라인들, 데이터 연결 라인들, 및 패드 연결 라인들은 비표시 영역에 배치될 수 있다.
발광 소자층(EML)은 박막 트랜지스터층(TFTL) 상에 배치될 수 있다. 발광 소자층(EML)은 제1 전극, 발광층, 및 제2 전극이 순차적으로 적층되어 광을 발광하는 화소들과 화소들을 정의하는 화소 정의막을 포함할 수 있다. 발광 소자층(EML)의 화소들은 표시 영역(DA)에 배치될 수 있다.
예를 들어, 발광층은 유기 물질을 포함하는 유기 발광층일 수 있다. 발광층은 정공 수송층(Hole Transporting Layer), 유기 발광층(Organic Light Emitting Layer), 및 전자 수송층(Electron Transporting Layer)을 포함할 수 있다. 제1 전극이 박막 트랜지스터층(TFTL)의 박막 트랜지스터를 통해 소정의 전압을 인가 받고, 제2 전극이 캐소드 전압을 인가 받으면, 정공과 전자가 각각 정공 수송층과 전자 수송층을 통해 유기 발광층으로 이동될 수 있고, 유기 발광층에서 서로 결합하여 발광할 수 있다. 예를 들어, 제1 전극은 애노드 전극이고, 제2 전극은 캐소드 전극일 수 있다.
예를 들어, 에어 갭(VC)은 표시 유닛(100)과 터치 감지 유닛(500) 사이에 배치될 수 있다. 표시 유닛(100)과 터치 감지 유닛(500)이 접착 부재(SEAL)를 통해 합착되는 과정에서, 에어 갭(VC)이 표시 유닛(100)과 터치 감지 유닛(500) 사이에 형성될 수 있다.
다른 예를 들어, 충진층(미도시)은 표시 유닛(100)과 터치 감지 유닛(500) 사이에 배치될 수 있다. 표시 유닛(100)과 터치 감지 유닛(500)이 접착 부재(SEAL)를 통해 합착되는 과정에서, 충진층은 표시 유닛(100)과 터치 감지 유닛(500) 사이에 주입될 수 있다. 충진층은 에폭시 충전필름 또는 실리콘 충전 필름일 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
터치 감지 유닛(500)은 제2 기판(SUB2) 및 터치 센서층(TSL)을 포함할 수 있다.
제2 기판(SUB2)은 베이스 기판 또는 베이스 부재일 수 있고, 고분자 수지 등의 절연 물질로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 제2 기판(SUB2)은 리지드(Rigid) 기판일 수 있다. 제2 기판(SUB2)이 리지드 기판인 경우, 제2 기판(SUB2)은 글라스 재질 또는 투명 금속 재질을 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다
터치 센서층(TSL)은 제2 기판(SUB2) 상에 배치될 수 있다. 터치 센서층(TSL)은 정전 용량 방식으로 사용자의 터치를 감지하기 위한 터치 전극들, 터치 전극 패드들, 및 터치 전극 패드들과 터치 전극들을 연결하는 터치 신호 라인들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 터치 센서층(TSL)은 자기 정전 용량(Self-Capacitance) 방식 또는 상호 정전 용량(Mutual Capacitance) 방식으로 사용자의 터치를 감지할 수 있다.
터치 센서층(TSL)의 터치 전극들은 표시 유닛(100)의 표시 영역과 중첩하는 터치 센서 영역에 배치될 수 있다. 터치 센서층(TSL)의 터치 신호 라인들과 터치 전극 패드들은 표시 유닛(100)의 비표시 영역과 중첩하는 터치 주변 영역에 배치될 수 있다.
예를 들어, 편광 필름과 커버 윈도우는 터치 센서층(TSL) 상에 추가로 배치될 수 있다. 편광 필름은 터치 센서층(TSL) 상에 배치될 수 있고, 커버 윈도우는 접착 부재에 의해 편광 필름 상에 배치될 수 있다.
접착 부재(SEAL)는 비표시 영역에서 제1 기판(SUB1)의 가장자리와 제2 기판(SUB2)의 가장자리 사이에 개재될 수 있다. 접착 부재(SEAL)는 비표시 영역에서 제1 기판(SUB1)과 제2 기판(SUB2)의 가장자리를 따라 배치되어 에어 갭(VC)을 밀봉할 수 있다. 제1 기판(SUB1)과 제2 기판(SUB2)은 접착 부재(SEAL)를 통해 상호 결합될 수 있다. 예를 들어, 접착 부재(SEAL)는 프릿(Frit) 접착층, 자외선 경화형 수지, 또는 열 경화형 수지일 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
도 3b는 도 2의 선 I-I'을 따라 자른 단면도의 다른 예이다. 도 3b의 표시 장치는 도 3a의 표시 장치에서 제2 기판(SUB2)을 생략하고, 표시 유닛(100)을 밀봉하는 봉지층(TFEL)을 더 포함할 수 있다. 이하에서는, 전술한 구성과 동일한 구성은 간략히 설명하거나 생략하기로 한다.
도 3b를 참조하면, 표시 장치(10)는 표시 유닛(100) 및 터치 감지 유닛(500)을 포함할 수 있다.
표시 유닛(100)은 제1 기판(SUB1), 박막 트랜지스터층(TFTL), 발광 소자층(EML), 및 봉지층(TFEL)을 포함할 수 있다.
제1 기판(SUB1)은 베이스 기판 또는 베이스 부재일 수 있고, 고분자 수지 등의 절연 물질로 이루어질 수 있다. 박막 트랜지스터층(TFTL)은 제1 기판(SUB1) 상에 배치될 수 있다. 발광 소자층(EML)은 박막 트랜지스터층(TFTL) 상에 배치될 수 있다.
봉지층(TFEL)은 발광 소자층(EML) 상에 배치되어, 복수의 발광 소자를 덮을 수 있다. 봉지층(TFEL)은 복수의 발광 소자에 산소 또는 수분이 침투하는 것을 방지할 수 있다.
터치 감지 유닛(500)은 봉지층(TFEL) 상에 배치될 수 있고, 터치 센서층(TSL)을 포함할 수 있다.
터치 센서층(TSL)은 봉지층(TFEL) 상에 배치될 수 있다. 터치 센서층(TSL)은 정전 용량 방식으로 사용자의 터치를 감지하기 위한 터치 전극들, 터치 전극 패드들, 및 터치 전극 패드들과 터치 전극들을 연결하는 터치 신호 라인들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 터치 센서층(TSL)은 자기 정전 용량(Self-Capacitance) 방식 또는 상호 정전 용량(Mutual Capacitance) 방식으로 사용자의 터치를 감지할 수 있다.
도 4는 도 3a에 도시된 표시 유닛을 나타내는 평면도이다.
도 4를 참조하면, 표시 유닛(100)은 영상을 표시하는 화소들이 마련된 표시 영역(DA)과, 표시 영역(DA)의 주변 영역인 비표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다. 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)의 바깥쪽에서부터 표시 유닛(100)의 가장자리까지의 영역으로 정의될 수 있다.
스캔 라인들(SL), 데이터 라인들(DL), 전원 라인(PL), 및 화소들(P)은 표시 영역(DA)에 배치될 수 있다. 스캔 라인들(SL)은 제1 방향(X축 방향)으로 나란하게 형성될 수 있고, 데이터 라인들(DL)은 제1 방향(X축 방향)과 교차하는 제2 방향(Y축 방향)으로 나란하게 형성될 수 있다. 전원 라인(PL)은 제2 방향(Y축 방향)으로 데이터 라인들(DL)과 나란하게 형성된 적어도 하나의 수직 라인, 및 적어도 하나의 수직 라인으로부터 제1 방향(X축 방향)으로 분지된 복수의 수평 라인들을 포함할 수 있다.
화소들(P) 각각은 적어도 하나의 스캔 라인(SL), 데이터 라인(DL), 및 전원 라인(PL)에 접속될 수 있다. 화소들(P) 각각은 구동 트랜지스터와 적어도 하나의 스위칭 트랜지스터를 포함하는 박막 트랜지스터들, 발광 소자, 및 커패시터를 포함할 수 있다. 화소들(P) 각각은 스캔 라인(SL)으로부터 스캔 신호가 인가되는 경우 데이터 라인(DL)의 데이터 전압을 인가 받을 수 있고, 게이트 전극에 인가된 데이터 전압에 따라 발광 소자에 구동 전류를 공급함으로써 발광할 수 있다.
표시 유닛(100)은 비표시 영역(NDA)에 배치된 스캔 구동부(110), 스캔 제어 라인(SCL), 데이터 연결 라인들(DLL), 및 패드 연결 라인들을 포함할 수 있다. 또한, 표시 구동부(200)는 표시 유닛(100)의 비표시 영역(NDA)에 배치될 수 있다.
스캔 구동부(110)는 적어도 하나의 스캔 제어 라인(SCL)을 통해 표시 구동부(200)에 접속될 수 있다. 스캔 구동부(110)는 표시 구동부(200)의 스캔 제어 신호를 입력 받을 수 있다. 스캔 구동부(110)는 스캔 제어 신호에 따라 스캔 신호들을 생성하여 스캔 라인들(SL)에 공급할 수 있다.
예를 들어, 스캔 구동부(110)가 표시 영역(DA)의 일 측 바깥쪽의 비표시 영역(NDA)에 형성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 다른 예를 들어, 스캔 구동부(110)는 표시 영역(DA)의 양 측 바깥쪽의 비표시 영역(NDA)에 형성될 수 있다.
표시 구동부(200)는 표시 연결 라인들을 통해 표시 패드 영역(DPA)의 표시 전극 패드들(DP)에 접속되어 디지털 비디오 데이터와 타이밍 신호들을 입력 받을 수 있다. 표시 구동부(200)는 디지털 비디오 데이터를 아날로그 정극성/부극성 데이터 전압들로 변환하여 데이터 연결 라인(DLL)들을 통해 데이터 라인들(DL)에 공급할 수 있다. 또한, 표시 구동부(200)는 스캔 제어 라인(SCL)을 통해 스캔 구동부(110)를 제어하기 위한 스캔 제어 신호를 생성하여 공급할 수 있다. 스캔 구동부(110)의 스캔 신호들은 데이터 전압들이 공급될 화소들(P)을 선택할 수 있고, 선택된 화소들(P)은 데이터 전압을 공급 받을 수 있다. 표시 구동부(200)는 집적 회로(IC)로 형성되어 COG(Chip on Glass) 방식, COP(Chip on Plastic) 방식, 또는 초음파 접합 방식으로 제1 기판(SUB1) 상에 부착될 수 있다.
도 5는 도 3a에 도시된 터치 감지 유닛의 일 예를 나타내는 평면도이다.
도 5를 참조하면, 터치 감지 유닛(500)은 사용자의 터치를 감지하기 위한 터치 센서 영역(TSA) 및 터치 센서 영역(TSA)의 주변에 배치되는 터치 주변 영역(TPA)을 포함할 수 있다. 터치 센서 영역(TSA)은 표시 유닛(100)의 표시 영역(DA)과 중첩될 수 있고, 터치 주변 영역(TPA)은 표시 유닛(100)의 비표시 영역(NDA)과 중첩될 수 있다.
제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)은 터치 센서 영역(TSA)에 배치될 수 있다. 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)은 소정의 간격으로 이격되게 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 터치 전극들(TE)은 제1 방향(X축 방향) 및 제2 방향(Y축 방향)으로 배열될 수 있다. 제2 터치 전극들(RE)은 제1 터치 전극들(TE)의 사이에 배치될 수 있고, 제1 방향(X축 방향)으로 연장되며 제2 방향(Y축 방향)으로 서로 이격될 수 있다. 제2 방향(Y축 방향)으로 인접한 제1 터치 전극들(TE)은 터치 섬 전극들에 의해 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)은 평면 상 마름모 형태 또는 삼각형 형태로 형성될 수 있다. 예를 들어, 터치 센서 영역(TSA)의 가장자리에 배치된 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)은 평면 상 삼각형 형태로 형성될 수 있고, 그 외 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)은 평면 상 마름모 형태로 형성될 수 있다. 또한, 표시 장치(10)의 영상을 시청할 때 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)에 의해 모아레(Moire) 현상이 발생하는 것을 방지하기 위해, 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)은 평면 상 올록볼록한 변들을 가질 수 있다. 다른 예를 들어, 터치 센서 영역(TSA)에 배치된 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)의 평면 형태는 도 5에 도시된 바에 한정되지 않는다.
제2 방향(Y축 방향)으로 인접한 제1 터치 전극들(TE)은 연결 전극을 통해 터치 섬 전극에 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 하나의 제1 터치 전극(TE)은 하나의 연결 전극을 통해 터치 섬 전극에 접속될 수 있고, 터치 섬 전극은 다른 하나의 연결 전극을 통해 다른 하나의 제1 터치 전극(TE)에 접속될 수 있다. 연결 전극은 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)과 다른 층에 배치됨으로써, 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)이 그들의 교차 영역에서 서로 단락되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 제2 방향(Y축 방향)으로 전기적으로 연결된 제1 터치 전극들(TE)과 제1 방향(X축 방향)으로 전기적으로 연결된 제2 터치 전극들(RE)은 서로 절연될 수 있다.
제1 내지 제4 터치 신호 라인들(TL1~TL4) 및 터치 전극 패드들(TP)은 터치 주변 영역(TPA)에 배치될 수 있다.
제1 터치 신호 라인들(TL1)의 일 단은 터치 센서 영역(TSA)의 제1 측에 배치된 제1 터치 전극들(TE)에 연결될 수 있다. 터치 센서 영역(TSA)의 제1 측은 터치 센서 영역(TSA)의 네 측들 중 터치 전극 패드들(TP)이 배치되는 터치 패드 영역(TDA)에 가장 인접한 측일 수 있다. 제1 터치 신호 라인들(TL1)의 타 단은 터치 패드 영역(TDA)의 일부의 터치 전극 패드들(TP)에 연결될 수 있다. 따라서, 제1 터치 신호 라인들(TL1)은 터치 센서 영역(TSA)의 제1 측에 배치된 제1 터치 전극들(TE)과 터치 패드 영역(TDA)의 일부의 터치 전극 패드들(TP)을 접속시킬 수 있다.
제2 터치 신호 라인들(TL2)의 일 단은 터치 센서 영역(TSA)의 제2 측에 배치된 제1 터치 전극들(TE)에 연결될 수 있다. 터치 센서 영역(TSA)의 제2 측은 터치 센서 영역(TSA)의 제1 측의 반대 측으로서, 터치 패드 영역(TDA)에서 가장 먼 측일 수 있다. 제2 터치 신호 라인들(TL2)의 타 단은 터치 패드 영역(TDA)의 다른 일부의 터치 전극 패드들(TP)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 제2 터치 신호 라인들(TL2)은 터치 센서 영역(TSA)의 제1 측 바깥쪽과 제4 측 바깥쪽을 경유하여 터치 센서 영역(TSA)의 제2 측에 배치된 제1 터치 전극들(TE)과 연결될 수 있다. 따라서, 제2 터치 신호 라인들(TL2)은 터치 센서 영역(TSA)의 제2 측에 배치된 제1 터치 전극들(TE)과 터치 패드 영역(TDA)의 다른 일부의 터치 전극 패드들(TP)을 접속시킬 수 있다.
제3 터치 신호 라인들(RL)의 일 단은 터치 센서 영역(TSA)의 제3 측에 배치된 제2 터치 전극들(RE)에 연결될 수 있다. 터치 센서 영역(TSA)의 제3 측은 터치 센서 영역(TSA)의 제4 측의 반대 측일 수 있다. 제3 터치 신호 라인들(RL)의 타 단은 터치 패드 영역(TDA)의 나머지 터치 전극 패드들(TP)에 연결될 수 있다. 따라서, 제3 터치 신호 라인들(RL)은 터치 센서 영역(TSA)의 제3 측에 배치된 제2 터치 전극들(RE)과 터치 패드 영역(TDA)의 나머지 터치 전극 패드들(TP)을 접속시킬 수 있다.
터치 전극 패드들(TP)은 제2 기판(SUB2)의 일 측에 배치될 수 있다. 터치 전극 패드들(TP) 상에는 이방성 도전 필름을 이용하여 터치 회로 보드(410)가 부착될 수 있다. 이로 인해, 터치 전극 패드들(TP)은 터치 회로 보드(410)에 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)은 상호 정전 용량 방식 또는 자기 정전 용량 방식으로 구동될 수 있다.
예를 들어, 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)이 상호 정전 용량 방식으로 구동되는 경우, 제1 터치 신호 라인들(TL1)과 제2 터치 신호 라인들(TL2)은 제1 터치 전극들(TE)에 터치 구동 신호들을 공급할 수 있고, 상호 정전 용량들이 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)의 교차 영역들에 충전될 수 있다. 터치 구동부(400)는 제3 터치 신호 라인들(RL)을 통해 제1 및 제2 터치 전극들(TE, RE) 사이에 형성된 상호 정전 용량들의 차지 변화량을 측정할 수 있고, 상호 정전 용량들의 차지 변화량을 기초로 터치 입력 여부를 판단할 수 있다. 여기에서, 터치 구동 신호는 복수의 터치 구동 펄스를 갖는 신호일 수 있다.
다른 예를 들어, 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)이 자기 정전 용량 방식으로 구동되는 경우, 제1 내지 제3 터치 신호 라인들(TL1, TL2, RL)은 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE) 모두에 터치 구동 신호들을 공급할 수 있고, 제1 및 제2 터치 전극들(TE, RE)의 자기 정전 용량이 충전될 수 있다. 터치 구동부(400)는 제1 내지 제3 터치 신호 라인들(TL1, TL2, RL)을 통해 자기 정전 용량들의 차지 변화량을 측정할 수 있고, 자기 정전 용량들의 차지 변화량을 기초로 터치 입력 여부를 판단할 수 있다.
이하에서는, 터치 구동부(400)가 제1 터치 전극들(TE)에 복수의 터치 구동 펄스들을 인가하고, 제2 터치 전극들(RE)에 연결된 제3 터치 신호 라인들(RL)을 통해 상호 정전 용량들의 차지 변화량을 측정하는 상호 정전 용량 방식으로 구동되는 것을 중심으로 설명한다. 이 경우, 제1 터치 전극들(TE)은 터치 구동 전극, 제2 터치 전극들(RE)은 터치 감지 전극, 제1 및 제2 터치 신호 라인들(TL1, TL2)은 터치 구동 라인, 제3 터치 신호 라인들(RL)은 터치 감지 라인으로 기능할 수 있다.
예를 들어, 제1 내지 제4 가드 라인(GL1, GL2, GL3, GL4), 제1 및 제2 접지 라인(GRL1, GRL2)은 터치 주변 영역(TPA)에 배치될 수 있다.
제1 가드 라인(GL1)은 제3 터치 신호 라인들(RL) 중 가장 외곽에 배치된 제3 터치 신호 라인의 바깥쪽에 배치될 수 있다. 제1 접지 라인(GRL1)은 제1 가드 라인(GL1)의 바깥쪽에 배치될 수 있다. 따라서, 제1 가드 라인(GL1)은 제3 터치 신호 라인들(RL) 중 가장 외곽에 배치된 제3 터치 신호 라인과 제1 접지 라인(GRL1) 사이에 배치됨으로써, 제3 터치 신호 라인(RL)이 제1 접지 라인(GRL1)의 전압 변화의 영향을 받는 것을 최소화할 수 있다. 제1 가드 라인(GL1)의 일 단과 제1 접지 라인(GRL1)의 일 단은 가장 우측에 배치된 터치 전극 패드들에 접속될 수 있다.
제2 가드 라인(GL2)은 제3 터치 신호 라인들(RL) 중 가장 안쪽에 배치된 제3 터치 신호 라인과 제1 터치 신호 라인들(TL1) 중 가장 우측에 배치된 제1 터치 신호 라인 사이에 배치될 수 있다. 따라서, 제2 가드 라인(GL2)은 제3 터치 신호 라인(RL)과 제1 터치 신호 라인(TL1)의 상호 영향을 최소화할 수 있다. 제2 가드 라인(GL2)의 일 단은 터치 전극 패드들에 접속될 수 있다.
제3 가드 라인(GL3)은 제1 터치 신호 라인들(TL1) 중 가장 좌측에 배치된 제1 터치 신호 라인과 제2 터치 신호 라인들(TL2) 중 가장 안쪽에 배치된 제2 터치 신호 라인 사이에 배치될 수 있다. 따라서, 제3 가드 라인(GL3)은 제1 터치 신호 라인들(TL1)과 제2 터치 신호 라인들(TL2)의 상호 영향을 최소화할 수 있다. 제3 가드 라인(GL3)의 일 단은 터치 전극 패드들에 접속될 수 있다.
제4 가드 라인(GL4)은 제2 터치 신호 라인들(TL2) 중 가장 외곽에 배치된 제2 터치 신호 라인의 바깥쪽에 배치될 수 있다. 제2 접지 라인(GRL2)은 제4 가드 라인(GL4)의 바깥쪽에 배치될 수 있다. 따라서, 제4 가드 라인(GL4)은 제2 터치 신호 라인들(TL2) 중 가장 외곽에 배치된 제2 터치 신호 라인과 제2 접지 라인(GRL2) 사이에 배치되므로, 제2 터치 신호 라인(TL2)이 제2 접지 라인(GRL2)의 전압 변화의 영향을 받는 것을 최소화할 수 있다. 제4 가드 라인(GL4)의 일 단과 제2 접지 라인(GRL2)의 일 단은 가장 좌측에 배치된 터치 전극 패드들에 접속될 수 있다.
제1 접지 라인(GRL1)은 터치 감지 유닛(500)의 우측에서 가장 외곽에 배치될 수 있고, 제2 접지 라인(GRL2)은 터치 감지 유닛(500)의 하측, 좌측, 및 상측에서 가장 외곽에 배치될 수 있다. 제1 접지 라인(GRL1)과 제2 접지 라인(GRL2)은 접지 전압을 인가 받을 수 있다. 따라서, 외부로부터 정전기가 인가되는 경우, 정전기는 제1 접지 라인(GRL1)과 제2 접지 라인(GRL2)으로 방전될 수 있다.
예를 들어, 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)이 상호 정전 용량 방식으로 구동되는 경우, 제1 내지 제4 가드 라인(GL1, GL2, GL3, GL4)은 접지 전압을 인가 받을 수 있다.
도 6은 도 5의 A1 영역을 확대한 평면도이고, 도 7은 도 6의 선 II-II'을 따라 자른 단면도이다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 제1 기판(SUB1)은 베이스 기판 또는 베이스 부재일 수 있고, 고분자 수지 등의 절연 물질로 이루어질 수 있다.
버퍼층(BF)은 제1 기판(SUB1) 상에 배치될 수 있다. 버퍼층(BF)은 공기 또는 수분의 침투를 방지할 수 있는 무기막으로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 버퍼층(BF)은 교번하여 적층된 복수의 무기막을 포함할 수 있다. 버퍼층(BF)은 실리콘 나이트라이드층, 실리콘 옥시 나이트라이드층, 실리콘 옥사이드층, 티타늄옥사이드층, 및 알루미늄옥사이드층 중 적어도 하나의 무기막이 교번하여 적층된 다중막으로 이루어질 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
박막 트랜지스터층(TFTL)은 박막 트랜지스터(TFT), 게이트 절연막(GI), 층간 절연막(ILD), 보호층(PAS), 및 평탄화층(OC)을 포함할 수 있다.
박막 트랜지스터(TFT)는 버퍼층(BF) 상에 배치될 수 있고, 복수의 화소 각각의 화소 회로를 구성할 수 있다. 예를 들어, 박막 트랜지스터(TFT)는 화소 회로의 구동 트랜지스터 또는 스위칭 트랜지스터일 수 있다. 박막 트랜지스터(TFT)는 반도체층(ACT), 게이트 전극(GE), 소스 전극(SE), 및 드레인 전극(DE)을 포함할 수 있다.
반도체층(ACT)은 버퍼층(BF) 상에 마련될 수 있다. 반도체층(ACT)은 게이트 전극(GE), 소스 전극(SE), 및 드레인 전극(DE)과 중첩될 수 있다. 반도체층(ACT)은 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)과 직접 접촉될 수 있고, 게이트 절연막(GI)을 사이에 두고 게이트 전극(GE)과 마주할 수 있다.
게이트 전극(GE)은 게이트 절연막(GI)의 상부에 배치될 수 있다. 게이트 전극(GE)은 게이트 절연막(GI)을 사이에 두고, 반도체층(ACT)과 중첩될 수 있다.
소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)은 층간 절연막(ILD) 상에서 서로 이격되어 배치될 수 있다. 소스 전극(SE)은 게이트 절연막(GI) 및 층간 절연막(ILD)에 마련된 컨택홀을 통해 반도체층(ACT)의 일단과 접촉될 수 있다. 드레인 전극(DE)은 게이트 절연막(GI) 및 층간 절연막(ILD)에 마련된 컨택홀을 통해 반도체층(ACT)의 타단과 접촉될 수 있다. 드레인 전극(DE)은 보호층(PAS) 및 평탄화층(OC)에 마련된 컨택홀을 통해 발광 소자(EL)의 제1 전극(AND)과 접속될 수 있다.
게이트 절연막(GI)은 반도체층(ACT)의 상부에 마련될 수 있다. 예를 들어, 게이트 절연막(GI)은 반도체층(ACT) 및 버퍼층(BF)의 상부에 배치될 수 있고, 반도체층(ACT)과 게이트 전극(GE)을 절연시킬 수 있다. 게이트 절연막(GI)은 소스 전극(SE)이 관통하는 컨택홀 및 드레인 전극(DE)이 관통하는 컨택홀을 포함할 수 있다.
층간 절연막(ILD)은 게이트 전극(GE)의 상부에 배치될 수 있다. 예를 들어, 층간 절연막(ILD)은 소스 전극(SE)이 관통하는 컨택홀 및 드레인 전극(DE)이 관통하는 컨택홀을 포함할 수 있다. 여기에서, 층간 절연막(ILD)의 컨택홀은 게이트 절연막(GI)의 컨택홀과 연결될 수 있다.
보호층(PAS)은 박막 트랜지스터(TFT)의 상부에 마련되어, 박막 트랜지스터(TFT)를 보호할 수 있다. 예를 들어, 보호층(PAS)은 제1 전극(AND)이 관통하는 컨택홀을 포함할 수 있다.
다른 예를 들어, 보호층(PAS)은 표시 장치(10)에서 생략될 수 있다. 이 경우, 평탄화층(OC)은 박막 트랜지스터(TFT)의 상부에 마련되어, 박막 트랜지스터(TFT)의 상단을 평탄화시킬 수 있다.
평탄화층(OC)은 보호층(PAS)의 상부에 마련되어, 박막 트랜지스터(TFT)의 상단을 평탄화시킬 수 있다. 예를 들어, 평탄화층(OC)은 발광 소자(EL)의 제1 전극(AND)이 관통하는 컨택홀을 포함할 수 있다. 여기에서, 평탄화층(OC)의 컨택홀은 보호층(PAS)의 컨택홀과 연결될 수 있다.
발광 소자(EL)는 박막 트랜지스터(TFT) 상에 마련될 수 있다. 발광 소자(EL)는 제1 전극(AND), 발광층(E), 및 제2 전극(CAT)을 포함할 수 있다.
제1 전극(AND)은 평탄화층(OC)의 상부에 마련될 수 있다. 예를 들어, 제1 전극(AND)은 화소 정의막에 의해 정의되는 발광 영역 또는 개구 영역과 중첩되게 배치될 수 있다. 그리고, 제1 전극(AND)은 박막 트랜지스터(TFT)의 드레인 전극(DE)에 접속될 수 있다.
발광층(E)은 제1 전극(AND)의 상부에 마련될 수 있다. 발광층(E)은 정공 주입층, 정공 수송층, 수광층, 전자 저지층, 전자 수송층, 전자 주입층 등을 포함할 수 있다. 예를 들어, 발광층(E)은 유기 물질로 이루어진 유기 발광층일 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 발광층(E)이 유기 발광층에 해당하는 경우, 박막 트랜지스터(TFT)가 발광 소자(EL)의 제1 전극(AND)에 소정의 전압을 인가하고, 발광 소자(EL)의 제2 전극(CAT)이 공통 전압 또는 캐소드 전압을 수신하면, 정공과 전자 각각이 정공 수송층과 전자 수송층을 통해 유기 발광층(E)으로 이동할 수 있고, 정공과 전자가 유기 발광층(E)에서 서로 결합하여 광을 방출할 수 있다.
제2 전극(CAT)은 발광층(E)의 상부에 마련될 수 있다. 예를 들어, 제2 전극(CAT)은 복수의 화소 별로 구분되지 않고 전체 화소에 공통되는 전극 형태로 구현될 수 있다. 제2 전극(CAT)은 발광 영역에서 발광층(E) 상에 배치될 수 있고, 발광 영역을 제외한 영역에서 화소 정의막 상에 배치될 수 있다.
화소 정의막은 발광 영역 또는 개구 영역을 정의할 수 있다. 화소 정의막은 복수의 발광 소자(EL) 각각의 제1 전극(AND)을 이격 및 절연시킬 수 있다.
제2 기판(SUB2)은 표시 유닛(100) 상에 배치될 수 있다. 제2 기판(SUB2)은 베이스 기판일 수 있고, 고분자 수지 등의 절연 물질로 이루어질 수 있다. 제2 기판(SUB2)은 복수의 발광 소자(EL)에 산소 또는 수분이 침투하는 것을 방지할 수 있다.
터치 센서층(TSL)은 제2 기판(SUB2) 상에 배치될 수 있다. 터치 센서층(TSL)은 제1 및 제2 터치 전극들(TE, RE), 터치 섬 전극들(TEI), 연결 전극들(CE), 제1 및 제2 절연막(IL1, IL2)을 포함할 수 있다.
연결 전극들(CE)은 제2 기판(SUB2) 상에 배치될 수 있다. 연결 전극들(CE) 각각은 제1 터치 전극(TE)과 터치 섬 전극(TEI)을 접속시킬 수 있다. 예를 들어, 연결 전극들(CE) 각각의 일 단은 제1 터치 전극(TE)에 접속될 수 있고, 타 단은 터치 섬 전극(TEI)에 접속될 수 있다.
연결 전극들(CE)은 불투명한 금속 도전층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 연결 전극들(CE)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 연결 전극들(CE)은 화소(P)의 발광 영역과 중첩되지 않음으로써, 화소(P)의 개구율이 낮아지는 것을 방지할 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 터치 섬 전극(TEI)은 연결 전극들(CE)의 길이를 최소화하기 위하여 제2 방향(Y축 방향)으로 인접한 제1 터치 전극들(TE) 사이에 배치될 수 있다.
제1 절연막(IL1)은 연결 전극(CE) 및 제2 기판(SUB2)을 덮을 수 있다. 예를 들어, 제1 절연막(IL1)은 무기막, 예를 들어 실리콘 나이트라이드층, 실리콘 옥시 나이트라이드층, 실리콘 옥사이드층, 티타늄 옥사이드층, 또는 알루미늄 옥사이드층으로 이루어질 수 있다.
제1 터치 전극들(TE), 터치 섬 전극들(TEI), 및 제2 터치 전극들(RE)은 제1 절연막(IL1) 상에 배치될 수 있다. 제1 터치 전극(TE)은 제1 절연막(IL1)을 관통하는 제1 컨택홀(CNT1)을 통해 연결 전극(CE)에 접속될 수 있고, 연결 전극(CE)은 제1 절연막(IL1)을 관통하는 제2 컨택홀(CNT2)을 통해 터치 섬 전극(TEI)에 접속될 수 있다. 따라서, 연결 전극(CE)은 제1 터치 전극(TE)과 터치 섬 전극(TEI)을 전기적으로 연결시킬 수 있다. 따라서, 제2 터치 전극들(RE)을 사이에 두고 제2 방향(Y축 방향)으로 서로 이격된 제1 터치 전극들(TE)은 연결 전극(CE) 및 터치 섬 전극(TEI)을 통해 전기적으로 연결될 수 있다.
예를 들어, 제1 터치 전극들(TE), 터치 섬 전극들(TEI), 및 제2 터치 전극들(RE)은 광을 투과시킬 수 있는 ITO, IZO와 같은 투명 금속 산화물(TCO)로 형성될 수 있다. 따라서, 제1 터치 전극들(TE), 터치 섬 전극들(TEI), 및 제2 터치 전극들(RE)은 화소들(P)과 중첩되더라도 화소(P)의 개구율을 저하시키지 않을 수 있다.
제2 절연막(IL2)은 제1 터치 전극들(TE), 터치 섬 전극들(TEI), 및 제2 터치 전극들(RE)을 덮을 수 있다. 예를 들어, 제2 절연막(IL2)은 무기막, 예를 들어 실리콘 나이트라이드층, 실리콘 옥시 나이트라이드층, 실리콘 옥사이드층, 티타늄 옥사이드층, 또는 알루미늄 옥사이드층으로 형성될 수 있다.
도 8은 도 5의 A2 영역의 일 예를 나타내는 확대 평면도이고, 도 9는 도 8의 선 III-III'을 따라 자른 단면도의 일 예이다. 도 10은 도 8에 도시된 더미부 및 컨택 더미부를 나타내는 도면이고, 도 11은 도 8의 A3 영역을 확대한 평면도이며, 도 12는 도 11의 선 IV-IV'을 따라 자른 단면도이다.
도 8 내지 도 12를 참조하면, 표시 유닛(100)은 표시 영역(DA) 및 투과부(TU)를 포함할 수 있다.
표시 영역(DA)은 복수의 화소(P)를 포함할 수 있다. 화소들(P) 각각은 적어도 하나의 스캔 라인(SL), 데이터 라인(DL), 및 전원 라인(PL)에 접속될 수 있다. 화소들(P) 각각은 구동 트랜지스터와 적어도 하나의 스위칭 트랜지스터를 포함하는 박막 트랜지스터들, 발광 소자, 및 커패시터를 포함할 수 있다. 화소들(P) 각각은 스캔 라인(SL)으로부터 스캔 신호가 인가되는 경우 데이터 라인(DL)의 데이터 전압을 인가 받을 수 있고, 게이트 전극에 인가된 데이터 전압에 따라 발광 소자에 구동 전류를 공급함으로써 발광할 수 있다.
투과부(TU)는 평면 상에서 표시 영역(DA)에 의해 둘러싸일 수 있다. 투과부(TU)는 투명한 물질을 포함할 수 있고, 센서 모듈(SM)에 출입하는 광을 투과시킬 수 있다.
터치 감지 유닛(500)의 터치 센서층(TSL)은 제1 터치 전극들(TE), 제2 터치 전극들(RE), 전극 더미부(EDM), 투과 영역(TA), 더미부(DM), 및 컨택 더미부(CDM)를 포함할 수 있다.
전극 더미부(EDM)는 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE) 사이에 배치되어, 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)의 단락을 방지하고, 터치 센서층(TSL)의 기본 정전 용량을 감소시킬 수 있다. 예를 들어, 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)이 최소의 거리만큼 이격되어 직접 마주하는 경우, 기본 정전 용량의 크기가 증가하고 터치 민감도가 저하될 수 있다. 전극 더미부(EDM)는 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE)과 다른 층에 배치될 수 있으나, 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE)과 제3 방향(Z축 방향)으로 중첩되지 않을 수 있다. 따라서, 전극 더미부(EDM)는 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE) 사이의 이격 거리를 제어할 수 있고, 터치 센서층(TSL)의 기본 정전 용량을 조절하여 상호 정전 용량들의 차지 변화량을 정밀하게 감지할 수 있다. 전극 더미부(EDM)는 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE) 사이에 배치됨으로써, 터치 감지 유닛(500)의 터치 감도를 향상시킬 수 있다.
예를 들어, 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE)이 평면 상 마름모 형태를 갖는 경우, 전극 더미부(EDM)는 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE) 사이에 배치될 수 있다. 이 경우, 전극 더미부(EDM)는 제1 터치 전극들(TE)과 제2 터치 전극들(RE) 사이에서 제1 방향(X축 방향)과 제2 방향(Y축 방향) 사이의 제3 방향 또는 제3 방향의 반대 방향으로 연장되거나, 제1 방향(X축 방향)의 반대 방향과 제2 방향(Y축 방향) 사이의 제4 방향 또는 제4 방향의 반대 방향으로 연장될 수 있다. 전극 더미부(EDM)는 제2 방향(Y축 방향)으로 인접한 제1 터치 전극들(TE) 사이에서 제거될 수 있다. 또는, 전극 더미부(EDM)는 제1 터치 전극들(TE) 중 터치 섬 전극(TEI)과 인접한 영역에서 제거될 수 있다. 따라서, 제1 방향(X축 방향)으로 인접한 제1 터치 전극들(TE)은 전극 더미부(EDM)의 영역 만큼 이격되며 서로 절연될 수 있다. 또한, 제2 방향(Y축 방향)으로 인접한 제2 터치 전극들(RE)은 전극 더미부(EDM)의 영역 만큼 이격되며 서로 절연될 수 있다.
예를 들어, 전극 더미부(EDM)는 플로팅되어, 소정의 전압을 인가 받지 않을 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 다른 예를 들어, 전극 더미부(EDM)는 터치 센서층(TSL)의 정전 용량에 영향을 주지 않을 정도의 소정의 전압을 인가 받을 수 있다. 따라서, 터치 센서 유닛(500)은 전극 더미부(EDM)를 포함함으로써, 제1 및 제2 터치 전극들(TE, RE) 사이의 상호 정전 용량들의 차지 변화량을 민감하게 측정할 수 있다.
전극 더미부(EDM)는 제2 기판(SUB2) 상에 배치되어 제1 절연막(IL1)에 의해 덮일 수 있다. 전극 더미부(EDM)는 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE)과 다른 층에 배치될 수 있으나, 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE)과 제3 방향(Z축 방향)으로 중첩되지 않을 수 있다. 전극 더미부(EDM)는 불투명한 금속 도전층으로 형성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
투과 영역(TA)은 터치 센서 영역(TSA)에서 제1 터치 전극들(TE) 중 적어도 하나의 제1 터치 전극, 및 제2 터치 전극들(RE) 중 적어도 하나의 제2 터치 전극에 의해 둘러싸일 수 있다. 예를 들어, 투과 영역(TA)은 표시 유닛(100)의 투과부(TU)와 중첩될 수 있다.
예를 들어, 투과 영역(TA)은 평면 상에서 원형의 형상을 가질 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 다른 예를 들어, 투과 영역(TA)은 다각 기둥 또는 비정질 기둥의 형상일 수 있다. 이 경우, 투과 영역(TA)은 평면 상 사각형을 포함한 다각 형상이거나 비정형 형상을 가질 수 있다.
표시 유닛(100)은 투과 영역(TA)에 대응되게 배치되는 카메라 모듈 또는 센서 모듈(SM)을 포함할 수 있다. 카메라 모듈 또는 센서 모듈(SM)은 표시 유닛(100)의 하측(또는 표시 유닛(100)의 배면)에 배치될 수 있다. 예를 들어, 센서 모듈(SM)은 조도 센서, 근접 센서, 적외선 센서, 초음파 센서 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 따라서, 표시 장치(10)는 표시 영역(DA)에 의해 둘러싸이는 투과부(TU), 투과부(TU)와 중첩되는 투과 영역(TA), 및 투과 영역(TA)과 중첩되는 카메라 모듈 또는 센서 모듈(SM)을 포함함으로써, 비표시 영역의 일측에 카메라 모듈 또는 센서 모듈이 배치되는 다른 표시 장치에 비하여 데드 스페이스(Dead Space)를 최소화할 수 있다. 또한, 표시 장치(10)는 투과 영역(TA)과 중첩되는 카메라 모듈 또는 센서 모듈(SM)을 포함함으로써, 박형의 표시 장치를 구현할 수 있다.
더미부(DM)는 표시 유닛(100)의 투과부(TU)와 중첩되어 투과 영역(TA)을 둘러싸고, 제1 및 제2 터치 전극들(TE, RE)과 절연될 수 있다. 더미부(DM)와 중첩되는 표시 유닛(100)의 투과부(TU)는 비표시 영역에 해당할 수 있다. 더미부(DM)는 투과 영역(TA)을 통한 외부 노이즈를 제거할 수 있고, 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE) 사이의 커플링(Coupling)을 방지할 수 있다. 예를 들어, 카메라 모듈 또는 센서 모듈(SM)에 의하여 송수신되는 신호가 투과 영역(TA)을 통하여 전송될 수 있고, 해당 신호는 제1 터치 전극들(TE) 또는 제2 터치 전극들(RE) 사이의 커패시턴스에 영향을 줄 수 있다. 투과 영역(TA)을 통하여 전송되는 신호는 터치 센서층(TSL)에 노이즈를 유발할 수 있다. 따라서, 더미부(DM)는 투과 영역(TA)을 둘러쌈으로써, 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE)을 투과 영역(TA)로부터 이격시킬 수 있다.
더미부(DM)는 전극 더미부(EDM)와 같이 터치 센서층(TSL)의 기본 정전 용량을 제어할 수 있고, 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE) 사이의 커플링(Coupling)을 방지할 수 있다. 예를 들어, 더미부(DM)는 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE)과 다른 층에 배치될 수 있으나, 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE)과 제3 방향(Z축 방향)으로 중첩되지 않을 수 있다. 따라서, 더미부(DM)는 터치 센서층(TSL)의 기본 정전 용량을 조절할 수 있고, 터치 감지 유닛(500)의 터치 감도를 향상시킬 수 있다.
예를 들어, 더미부(DM)는 플로팅되어, 소정의 전압을 인가 받지 않을 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 다른 예를 들어, 더미부(DM)는 터치 센서층(TSL)의 정전 용량에 영향을 주지 않을 정도의 소정의 전압을 인가 받을 수 있다. 따라서, 터치 센서 유닛(500)은 더미부(DM)를 포함함으로써, 제1 및 제2 터치 전극들(TE, RE) 사이의 상호 정전 용량들의 차지 변화량을 민감하게 측정할 수 있다.
더미부(DM)는 투과 영역(TA)을 직접 둘러싸는 메인 더미(MDM), 메인 더미(MDM)를 둘러싸는 적어도 하나의 서브 더미를 포함할 수 있다. 예를 들어, 더미부(DM)는 메인 더미(MDM) 및 제1 내지 제3 서브 더미(DM1, DM2, DM3)를 포함할 수 있으나, 서브 더미의 수는 반드시 이에 한정되는 것이 아니다.
메인 더미(MDM)는 투과 영역(TA)을 직접 둘러쌈으로써, 투과 영역(TA)을 통한 외부 노이즈를 차단할 수 있다. 예를 들어, 메인 더미(MDM)는 평면 상 소정의 두께를 갖는 원형의 형상을 가질 수 있다. 메인 더미(MDM)의 평면 상 두께는 제1 내지 제3 서브 더미(DM1, DM2, DM3)의 평면 상 두께의 합보다 클 수 있다. 따라서, 메인 더미(MDM)는 소정의 두께를 가짐으로써, 투과 영역(TA)을 통한 외부 노이즈를 효율적으로 제거할 수 있다.
제1 서브 더미(DM1)는 메인 더미(MDM)를 둘러쌀 수 있고, 제2 서브 더미(DM2)는 제1 서브 더미(DM2)를 둘러쌀 수 있으며, 제3 서브 더미(DM3)는 제2 서브 더미(DM2)를 둘러쌀 수 있다. 제3 서브 더미(DM3)는 더미부(DM)의 최외곽에 배치된 서브 더미일 수 있다. 제1 터치 전극들(TE) 중 적어도 하나의 제1 터치 전극, 및 제2 터치 전극들(RE) 중 적어도 하나의 제2 터치 전극은 투과 영역(TA) 및 더미부(DM)의 위치에 따라 일부가 제거될 수 있다. 일부가 제거된 제1 터치 전극 및 제2 터치 전극은 직접 마주할 수 있다. 또한, 제3 서브 더미(DM3)는 일부가 제거된 제1 터치 전극 및 제2 터치 전극과 평면 상에서 직접 마주할 수 있다.
제1 서브 더미(DM1)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제1 방향(X축 방향)으로 연장되는 제1 축(Axis1)에 중첩되는 제1-1 커팅부(CUT11) 및 제1-2 커팅부(CUT12)를 포함할 수 있다. 제1 서브 더미(DM1)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제2 방향(Y축 방향)으로 연장되는 제2 축(Axis2)에 중첩되는 제1-3 커팅부(CUT13) 및 제1-4 커팅부(CUT1-4)를 포함할 수 있다. 제1 서브 더미(DM1)는 제1-1 커팅부(CUT11), 제1-2 커팅부(CUT12), 제1-3 커팅부(CUT13), 및 제1-4 커팅부(CUT1-4)를 포함함으로써, 제1 서브 더미(DM1)를 통해 커플링이 발생되는 것을 방지할 수 있다.
제2 서브 더미(DM2)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제1 방향(X축 방향)과 제2 방향(Y축 방향) 사이의 제3 방향으로 연장되는 제3 축(Axis3)에 중첩되는 제2-1 커팅부(CUT21) 및 제2-2 커팅부(CUT22)를 포함할 수 있다. 제2 서브 더미(DM2)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제1 방향(X축 방향)의 반대 방향과 제2 방향(Y축 방향) 사이의 제4 방향으로 연장되는 제4 축(Axis4)에 중첩되는 제2-3 커팅부(CUT23) 및 제2-4 커팅부(CUT2-4)를 포함할 수 있다. 제2 서브 더미(DM2)는 제2-1 커팅부(CUT21), 제2-2 커팅부(CUT22), 제2-3 커팅부(CUT23), 및 제2-4 커팅부(CUT2-4)를 포함함으로써, 제2 서브 더미(DM2)를 통해 커플링이 발생되는 것을 방지할 수 있다.
제3 서브 더미(DM3)는 제1 및 제2 터치 전극들(TE, RE) 중 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 사이의 간극에 대응되는 제3-1 커팅부(CUT31)를 포함할 수 있다. 제3-1 커팅부(CUT31)는 제3 서브 더미(DM3) 중 직접 마주하는 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 사이의 간극에 대응되게 절단 또는 제거된 부분에 해당할 수 있다. 따라서, 제3-1 커팅부(CUT31)를 사이에 둔 제3 서브 더미(DM3)의 양 단은 서로 절연될 수 있다.
제3 서브 더미(DM3)는 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE)과 제3 방향(Z축 방향)으로 중첩되지 않을 수 있다. 예를 들어, 제1 터치 전극들(TE), 제2 터치 전극들(RE), 및 더미부(DM)의 패터닝 과정에서 오차가 발생하는 경우, 직접 마주하는 제1 터치 전극(TE)과 제3 서브 더미(DM3)가 일부 중첩하거나 상당히 인접할 수 있고, 직접 마주하는 제2 터치 전극(RE)과 제3 서브 더미(DM3)가 일부 중첩하거나 상당히 인접할 수 있다. 이 경우, 직접 마주하는 제1 터치 전극(TE)과 제3 서브 더미(DM3) 사이 또는 직접 마주하는 제2 터치 전극(RE)과 제3 서브 더미(DM3) 사이에 소정의 커플링(Coupling)이 발생할 수 있다. 제1 터치 전극(TE)과 커플링이 발생한 제3 서브 더미(DM3)의 일부와 제2 터치 전극(RE)과 커플링이 발생한 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부가 서로 절연되지 않는 경우, 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE) 사이에 불필요한 커플링이 발생되어, 터치 감지 유닛(500)의 감도가 악화되거나 구동이 불가능할 수 있다. 따라서, 제3 서브 더미(DM3)는 제3-1 커팅부(CUT31)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 일부와, 제2 터치 전극(RE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부를 절연시킬 수 있다. 제3 서브 더미(DM3)는 제3-1 커팅부(CUT31)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE) 사이의 커플링 발생 가능성을 차단할 수 있다.
예를 들어, 제3 서브 더미(DM3)의 제3-1 커팅부(CUT31)는 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 사이의 간극과 최단 거리에 배치될 수 있다. 제3-1 커팅부(CUT31)의 길이는 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 사이의 간극보다 길 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 사이의 간극과 제3 서브 더미(DM3)의 제3-1 커팅부(CUT31)를 잇는 가상의 직선은 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지날 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 제3 서브 더미(DM3)의 제3-1 커팅부(CUT31)는 제1 터치 전극(TE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 일부와, 제2 터치 전극(RE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부를 절연시킬 수 있도록 다양한 방식으로 설계 변경될 수 있다.
더미부(DM)의 최외곽에 배치된 서브 더미(DM3)는 직접 마주하는 전극 더미부(EDM)와 제1 및 제2 터치 전극들(TE, RE) 중 제1 터치 전극 또는 제2 터치 전극의 사이에 대응되는 제3-2 커팅부(CUT32) 및 제3-3 커팅부(CUT33)를 더 포함할 수 있다. 도 8에서, 더미부(DM)의 우하측은 전극 더미부(EDM)와 직접 마주할 수 있다. 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE)은 더미부(DM)와 전극 더미부(EDM)가 직접 마주하는 거리만큼 서로 이격될 수 있다. 제3 서브 더미(DM3)의 일부는 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE)에 의해 둘러싸일 수 있고, 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부는 전극 더미부(EDM)에 의해 둘러싸일 수 있다. 또는, 제3 서브 더미(DM3)의 일부는 컨택 더미부(CDM)에 의해 둘러싸일 수 있고, 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부는 전극 더미부(EDM)에 의해 둘러싸일 수 있다. 따라서, 제3 서브 더미(DM3)의 제3-2 커팅부(CUT32)는 직접 마주하는 제1 터치 전극(TE)과 전극 더미부(EDM) 사이에 대응되게 배치될 수 있고, 제3-3 커팅부(CUT33)는 직접 마주하는 제2 터치 전극(RE)과 전극 더미부(EDM) 사이에 대응되게 배치될 수 있다. 따라서, 제3 서브 더미(DM3)는 제3-2 커팅부(CUT32) 및 제3-3 커팅부(CUT33)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 일부와, 제2 터치 전극(RE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부를 절연시킬 수 있다. 제3 서브 더미(DM3)는 제3-2 커팅부(CUT32) 및 제3-3 커팅부(CUT33)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE) 사이의 커플링 발생 가능성을 차단할 수 있다.
더미부(DM)는 제2 기판(SUB2) 상에 배치되어 제1 절연막(IL1)에 의해 덮일 수 있다. 더미부(DM)는 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE)과 다른 층에 배치될 수 있으나, 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE)과 제3 방향(Z축 방향)으로 중첩되지 않을 수 있다. 더미부(DM)는 불투명한 금속 도전층으로 형성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
컨택 더미부(CDM)는 더미부(DM)의 최외곽에 배치된 서브 더미(DM3)를 둘러싸고, 제1 및 제2 터치 전극들(TE, RE) 중 더미부(DM)의 최외곽에 배치된 서브 더미(DM3)와 직접 마주하는 제1 터치 전극(TE) 또는 제2 터치 전극(RE)과 컨택될 수 있다. 제1 터치 전극들(TE) 중 적어도 하나의 제1 터치 전극, 및 제2 터치 전극들(RE) 중 적어도 하나의 제2 터치 전극은 투과 영역(TA) 및 더미부(DM)의 위치에 따라 일부가 제거될 수 있다. 일부가 제거된 제1 터치 전극(TE) 또는 제2 터치 전극(RE)은 제3 서브 더미(DM3)와 직접 마주할 수 있다. 일부가 제거된 제1 터치 전극(TE) 또는 제2 터치 전극(RE)은 다른 제1 터치 전극(TE) 또는 제2 터치 전극(RE) 보다 전극의 면적이 감소할 수 있다. 일부가 제거된 제1 터치 전극(TE) 또는 제2 터치 전극(RE)의 내부 저항은 다른 전극들의 내부 저항보다 감소할 수 있다. 따라서, 제3 서브 더미(DM3)와 직접 마주하는 제1 터치 전극(TE) 또는 제2 터치 전극(RE)은 컨택 더미부(CDM)와 전기적으로 연결됨으로써, 내부 저항을 증가시킬 수 있다. 컨택 더미부(CDM)의 형상 및 크기는 감소된 내부 저항을 보상하기 위하여 설계될 수 있다. 따라서, 제1 터치 전극(TE) 또는 제2 터치 전극(RE)의 제거된 양이 많을수록 컨택 더미부(CDM)의 형상 또는 크기가 증가할 수 있다. 일부가 제거되고 컨택 더미부(CDM)와 접속된 제1 터치 전극(TE) 또는 제2 터치 전극(RE)의 내부 저항은 일부가 제거되지 않은 다른 제1 터치 전극(TE) 또는 제2 터치 전극(RE)의 내부 저항과 동일하게 설계될 수 있다.
예를 들어, 컨택 더미부(CDM)의 평면 상 폭은 더미부(DM)의 최외곽에 배치된 서브 더미(DM3)의 평면 상 폭보다 클 수 있다. 다만, 컨택 더미부(CDM)의 평면 상 폭은 투과 영역(TA), 제1 터치 전극(TE), 및 제2 터치 전극(RE)의 설계에 따라 변경될 수 있는 것으로서, 상기 기재에 한정되지 않는다.
컨택 더미부(CDM)는 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 사이의 간극과 평면 상에서 중첩되는 제4-1 커팅부(CUT41)를 포함할 수 있다. 컨택 더미부(CDM)의 일부는 직접 마주하는 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 중 제1 터치 전극(TE)과 접속되고, 컨택 더미부(CDM)의 다른 일부는 직접 마주하는 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 중 제2 터치 전극(RE)과 접속될 수 있다. 따라서, 컨택 더미부(CDM)는 제4-1 커팅부(CUT41)를 포함함으로써, 제1 터치 전극들(TE) 및 제2 터치 전극들(RE) 사이의 커플링을 방지할 수 있다.
예를 들어, 컨택 더미부(CDM)의 제4-1 커팅부(CUT41)는 제3 서브 더미(DM3)의 제3-1 커팅부(CUT31)와 최단 거리에 배치될 수 있다. 제3-1 커팅부(CUT31)의 길이는 컨택 더미부(CDM)의 제4-1 커팅부(CUT41)의 길이보다 길 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 컨택 더미부(CDM)의 제4-1 커팅부(CUT41)와 제3 서브 더미(DM3)의 제3-1 커팅부(CUT31)를 잇는 가상의 직선은 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지날 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
컨택 더미부(CDM)는 더미부(DM)와 전극 더미부(EDM)가 직접 마주하는 영역에서 제거될 수 있다. 도 8에서, 더미부(DM)의 우하측은 전극 더미부(EDM)와 직접 마주할 수 있다. 이 경우, 컨택 더미부(CDM)의 일단(CDMa)은 직접 마주하는 제1 터치 전극(TE)과 전극 더미부(EDM) 사이에 대응되게 배치될 수 있고, 컨택 더미부(CDM)의 타단(CDMb)은 직접 마주하는 제2 터치 전극(RE)과 전극 더미부(EDM) 사이에 대응되게 배치될 수 있다. 컨택 더미부(CDM)의 일단(CDMa)은 제3 서브 더미(DM3)의 제3-2 커팅부(CUT32)와 대응되게 배치될 수 있고, 컨택 더미부(CDM)의 타단(CDMb)은 제3 서브 더미(DM3)의 제3-3 커팅부(CUT33)와 대응되게 배치될 수 있다. 따라서, 컨택 더미부(CDM)는 일단(CDMa)과 타단(CDMb) 각각이 제3-2 커팅부(CUT32) 또는 제3-3 커팅부(CUT33)에 대응되게 배치됨으로써, 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE) 사이의 커플링 발생 가능성을 차단할 수 있다.
컨택 더미부(CDM)는 제2 기판(SUB2) 상에 배치되어 제1 절연막(IL1)에 의해 덮일 수 있다. 예를 들어, 컨택 더미부(CDM)는 제1 절연막(IL1)을 관통하는 컨택홀을 통해 제1 터치 전극(TE) 또는 제2 터치 전극(RE)에 접속될 수 있다. 컨택 더미부(CDM)는 불투명한 금속 도전층으로 형성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
도 13은 도 8의 선 III-III'을 따라 자른 단면도의 다른 예이다. 도 13의 표시 장치는 도 9의 표시 장치와 투과부(TU)의 구성을 달리하는 것으로서, 전술한 구성과 동일한 구성은 간략히 설명하거나 생략하기로 한다.
도 13을 참조하면, 표시 유닛(100)은 표시 영역(DA)에 의해 둘러싸이는 비표시 영역(NDA) 및 비표시 영역(NDA)에 의해 둘러싸이는 투과부(TU)를 더 포함할 수 있다. 표시 유닛(100)의 투과부(TU)는 터치 감지 유닛(500)의 투과 영역(TA)에 중첩될 수 있다. 표시 유닛(100)의 투과부(TU)를 둘러싸는 비표시 영역(NDA)은 터치 감지 유닛(500)의 더미부(DM)에 중첩될 수 있다. 투과부(TU)는 표시 유닛(100) 중 터치 감지 유닛(500)의 투과 영역(TA)에 대응되는 부분이 제거된 영역에 해당할 수 있다. 예를 들어, 투과부(TU)는 제1 기판(SUB1), 박막 트랜지스터층(TFTL), 및 발광 소자층(EML) 중 투과 영역(TA)에 대응되는 부분이 제거되어 형성될 수 있다. 투과부(TU)는 카메라 모듈 또는 센서 모듈(SM)의 적어도 일부를 수용할 수 있다. 따라서, 표시 장치(10)는 카메라 모듈 또는 센서 모듈(SM)과 중첩되는 레이어를 최소화함으로써, 카메라 모듈 또는 센서 모듈(SM)의 감도를 향상시킬 수 있다.
도 14는 도 5의 A2 영역의 다른 예를 나타내는 확대 평면도이고, 도 15는 도 14에 도시된 더미부 및 컨택 더미부를 나타내는 도면이다. 도 16은 도 14의 A4 영역을 확대한 평면도이고, 도 17은 도 16의 선 V-V'을 따라 자른 단면도이다. 도 14 내지 도 17의 터치 감지 유닛(500)은 도 8 내지 도 12에 도시된 터치 감지 유닛(500)에서 제2-5 커팅부(CUT25)를 더 포함하는 것으로서, 전술한 구성과 동일한 구성은 간략히 설명하거나 생략하기로 한다.
도 14 내지 도 17을 참조하면, 터치 센서층(TSL)은 제1 터치 전극들(TE), 제2 터치 전극들(RE), 전극 더미부(EDM), 투과 영역(TA), 더미부(DM), 및 컨택 더미부(CDM)를 포함할 수 있다.
더미부(DM)는 투과 영역(TA)을 직접 둘러싸는 메인 더미(MDM), 메인 더미(MDM)를 둘러싸는 적어도 하나의 서브 더미를 포함할 수 있다. 예를 들어, 더미부(DM)는 메인 더미(MDM) 및 제1 내지 제3 서브 더미(DM1, DM2, DM3)를 포함할 수 있으나, 서브 더미의 수는 반드시 이에 한정되는 것이 아니다.
메인 더미(MDM)는 투과 영역(TA)을 직접 둘러쌈으로써, 투과 영역(TA)을 통한 외부 노이즈를 차단할 수 있다. 예를 들어, 메인 더미(MDM)는 평면 상 소정의 두께를 갖는 원형의 형상을 가질 수 있다. 메인 더미(MDM)의 평면 상 두께는 제1 내지 제3 서브 더미(DM1, DM2, DM3)의 평면 상 두께의 합보다 클 수 있다. 따라서, 메인 더미(MDM)는 소정의 두께를 가짐으로써, 투과 영역(TA)을 통한 외부 노이즈를 효율적으로 제거할 수 있다.
제1 서브 더미(DM1)는 메인 더미(MDM)를 둘러쌀 수 있고, 제2 서브 더미(DM2)는 제1 서브 더미(DM2)를 둘러쌀 수 있으며, 제3 서브 더미(DM3)는 제2 서브 더미(DM2)를 둘러쌀 수 있다. 제3 서브 더미(DM3)는 더미부(DM)의 최외곽에 배치된 서브 더미일 수 있다. 제1 터치 전극들(TE) 중 적어도 하나의 제1 터치 전극, 및 제2 터치 전극들(RE) 중 적어도 하나의 제2 터치 전극은 투과 영역(TA) 및 더미부(DM)의 위치에 따라 일부가 제거될 수 있다. 일부가 제거된 제1 터치 전극 및 제2 터치 전극은 직접 마주할 수 있다. 또한, 제3 서브 더미(DM3)는 일부가 제거된 제1 터치 전극 및 제2 터치 전극과 평면 상에서 직접 마주할 수 있다.
제1 서브 더미(DM1)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제1 방향(X축 방향)으로 연장되는 제1 축(Axis1)에 중첩되는 제1-1 커팅부(CUT11) 및 제1-2 커팅부(CUT12)를 포함할 수 있다. 제1 서브 더미(DM1)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제2 방향(Y축 방향)으로 연장되는 제2 축(Axis2)에 중첩되는 제1-3 커팅부(CUT13) 및 제1-4 커팅부(CUT1-4)를 포함할 수 있다. 제1 서브 더미(DM1)는 제1-1 커팅부(CUT11), 제1-2 커팅부(CUT12), 제1-3 커팅부(CUT13), 및 제1-4 커팅부(CUT1-4)를 포함함으로써, 제1 서브 더미(DM1)를 통해 커플링이 발생되는 것을 방지할 수 있다.
제2 서브 더미(DM2)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제1 방향(X축 방향)과 제2 방향(Y축 방향) 사이의 제3 방향으로 연장되는 제3 축(Axis3)에 중첩되는 제2-1 커팅부(CUT21) 및 제2-2 커팅부(CUT22)를 포함할 수 있다. 제2 서브 더미(DM2)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제1 방향(X축 방향)의 반대 방향과 제2 방향(Y축 방향) 사이의 제4 방향으로 연장되는 제4 축(Axis4)에 중첩되는 제2-3 커팅부(CUT23) 및 제2-4 커팅부(CUT2-4)를 포함할 수 있다. 제2 서브 더미(DM2)는 제2-1 커팅부(CUT21), 제2-2 커팅부(CUT22), 제2-3 커팅부(CUT23), 및 제2-4 커팅부(CUT2-4)를 포함함으로써, 제2 서브 더미(DM2)를 통해 커플링이 발생되는 것을 방지할 수 있다.
제2 서브 더미(DM2)는 제3-1 커팅부(CUT31)에 대응되는 제2-5 커팅부(CUT25)를 더 포함할 수 있다. 제2-5 커팅부(CUT25)는 제3-1 커팅부(CUT31)와 최단 거리에 배치될 수 있다. 제2-5 커팅부(CUT25)는 제2 서브 더미(DM2) 중 제3-1 커팅부(CUT31)에 대응되게 절단 또는 제거된 부분에 해당할 수 있다. 따라서, 제2-5 커팅부(CUT25)를 사이에 둔 제2 서브 더미(DM2)의 양 단은 서로 절연될 수 있다. 예를 들어, 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 사이의 간극, 제3-1 커팅부(CUT31), 및 제2-5 커팅부(CUT25)는 일직선 상에 배치될 수 있다.
제3 서브 더미(DM3)는 제3-1 커팅부(CUT31)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 일부와, 제2 터치 전극(RE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부를 절연시킬 수 있다. 또한, 제2 서브 더미(DM2)는 제2-5 커팅부(CUT25)를 포함함으로써, 제3 서브 더미(DM3)의 일부에 대응되는 제2 서브 더미(DM2)의 일부와, 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부에 대응되는 제2 서브 더미(DM2)의 다른 일부를 절연시킬 수 있다. 따라서, 제3 서브 더미(DM3)는 제3-1 커팅부(CUT31)를 포함하고, 제2 서브 더미(DM2)는 제2-5 커팅부(CUT25)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE) 사이의 커플링 발생 가능성을 차단할 수 있다.
더미부(DM)의 최외곽에 배치된 서브 더미(DM3)는 직접 마주하는 전극 더미부(EDM)와 제1 및 제2 터치 전극들(TE, RE) 중 제1 터치 전극 또는 제2 터치 전극의 사이에 대응되는 제3-2 커팅부(CUT32) 및 제3-3 커팅부(CUT33)를 더 포함할 수 있다. 도 14에서, 더미부(DM)의 우하측은 전극 더미부(EDM)와 직접 마주할 수 있다. 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE)은 더미부(DM)와 전극 더미부(EDM)가 직접 마주하는 거리만큼 서로 이격될 수 있다. 따라서, 제3 서브 더미(DM3)의 제3-2 커팅부(CUT32)는 직접 마주하는 제1 터치 전극(TE)과 전극 더미부(EDM) 사이에 대응되게 배치될 수 있고, 제3-3 커팅부(CUT33)는 직접 마주하는 제2 터치 전극(RE)과 전극 더미부(EDM) 사이에 대응되게 배치될 수 있다. 따라서, 제3 서브 더미(DM3)는 제3-2 커팅부(CUT32) 및 제3-3 커팅부(CUT33)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 일부와, 제2 터치 전극(RE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부를 절연시킬 수 있다. 제3 서브 더미(DM3)는 제3-2 커팅부(CUT32) 및 제3-3 커팅부(CUT33)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE) 사이의 커플링 발생 가능성을 차단할 수 있다.
예를 들어, 컨택 더미부(CDM)의 제4-1 커팅부(CUT41)는 제3 서브 더미(DM3)의 제3-1 커팅부(CUT31)와 최단 거리에 배치될 수 있다. 또한, 컨택 더미부(CDM)의 제4-1 커팅부(CUT41)는 제2 서브 더미(DM2)의 제2-5 커팅부(CUT25)와 최단 거리에 배치될 수 있다. 컨택 더미부(CDM)의 제4-1 커팅부(CUT41), 제3 서브 더미(DM3)의 제3-1 커팅부(CUT31), 및 제2 서브 더미(DM2)의 제2-5 커팅부(CUT25)를 잇는 가상의 직선은 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지날 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
도 18은 도 5의 A2 영역의 또 다른 예를 나타내는 확대 평면도이고, 도 19는 도 18에 도시된 더미부 및 컨택 더미부를 나타내는 도면이다. 도 20은 도 18의 A5 영역을 확대한 평면도이고, 도 21은 도 20의 선 VI-VI'을 따라 자른 단면도이다. 도 18 내지 도 21의 터치 감지 유닛(500)은 도 14 내지 도 17에 도시된 터치 감지 유닛(500)에서 제1-5 커팅부(CUT15)를 더 포함하는 것으로서, 전술한 구성과 동일한 구성은 간략히 설명하거나 생략하기로 한다.
도 18 내지 도 21를 참조하면, 터치 센서층(TSL)은 제1 터치 전극들(TE), 제2 터치 전극들(RE), 전극 더미부(EDM), 투과 영역(TA), 더미부(DM), 및 컨택 더미부(CDM)를 포함할 수 있다.
더미부(DM)는 투과 영역(TA)을 직접 둘러싸는 메인 더미(MDM), 메인 더미(MDM)를 둘러싸는 적어도 하나의 서브 더미를 포함할 수 있다. 예를 들어, 더미부(DM)는 메인 더미(MDM) 및 제1 내지 제3 서브 더미(DM1, DM2, DM3)를 포함할 수 있으나, 서브 더미의 수는 반드시 이에 한정되는 것이 아니다.
제1 서브 더미(DM1)는 메인 더미(MDM)를 둘러쌀 수 있고, 제2 서브 더미(DM2)는 제1 서브 더미(DM2)를 둘러쌀 수 있으며, 제3 서브 더미(DM3)는 제2 서브 더미(DM2)를 둘러쌀 수 있다. 제3 서브 더미(DM3)는 더미부(DM)의 최외곽에 배치된 서브 더미일 수 있다. 제1 터치 전극들(TE) 중 적어도 하나의 제1 터치 전극, 및 제2 터치 전극들(RE) 중 적어도 하나의 제2 터치 전극은 투과 영역(TA) 및 더미부(DM)의 위치에 따라 일부가 제거될 수 있다. 일부가 제거된 제1 터치 전극 및 제2 터치 전극은 직접 마주할 수 있다. 또한, 제3 서브 더미(DM3)는 일부가 제거된 제1 터치 전극 및 제2 터치 전극과 평면 상에서 직접 마주할 수 있다.
제1 서브 더미(DM1)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제1 방향(X축 방향)으로 연장되는 제1 축(Axis1)에 중첩되는 제1-1 커팅부(CUT11) 및 제1-2 커팅부(CUT12)를 포함할 수 있다. 제1 서브 더미(DM1)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제2 방향(Y축 방향)으로 연장되는 제2 축(Axis2)에 중첩되는 제1-3 커팅부(CUT13) 및 제1-4 커팅부(CUT1-4)를 포함할 수 있다. 제1 서브 더미(DM1)는 제1-1 커팅부(CUT11), 제1-2 커팅부(CUT12), 제1-3 커팅부(CUT13), 및 제1-4 커팅부(CUT1-4)를 포함함으로써, 제1 서브 더미(DM1)를 통해 커플링이 발생되는 것을 방지할 수 있다.
제1 서브 더미(DM1)는 제2-5 커팅부(CUT25)에 대응되는 제1-5 커팅부(CUT15)를 더 포함할 수 있다. 제1-5 커팅부(CUT15)는 제3-1 커팅부(CUT31) 또는 제2-5 커팅부(CUT25)와 최단 거리에 배치될 수 있다. 제1-5 커팅부(CUT15)는 제1 서브 더미(DM1) 중 제2-5 커팅부(CUT25)에 대응되게 절단 또는 제거된 부분에 해당할 수 있다. 따라서, 제1-5 커팅부(CUT15)를 사이에 둔 제1 서브 더미(DM1)의 양 단은 서로 절연될 수 있다. 예를 들어, 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 사이의 간극, 제3-1 커팅부(CUT31), 제2-5 커팅부(CUT25), 및 제1-5 커팅부(CUT15)는 일직선 상에 배치될 수 있다.
제2 서브 더미(DM2)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제1 방향(X축 방향)과 제2 방향(Y축 방향) 사이의 제3 방향으로 연장되는 제3 축(Axis3)에 중첩되는 제2-1 커팅부(CUT21) 및 제2-2 커팅부(CUT22)를 포함할 수 있다. 제2 서브 더미(DM2)는 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지나 제1 방향(X축 방향)의 반대 방향과 제2 방향(Y축 방향) 사이의 제4 방향으로 연장되는 제4 축(Axis4)에 중첩되는 제2-3 커팅부(CUT23) 및 제2-4 커팅부(CUT2-4)를 포함할 수 있다. 제2 서브 더미(DM2)는 제2-1 커팅부(CUT21), 제2-2 커팅부(CUT22), 제2-3 커팅부(CUT23), 및 제2-4 커팅부(CUT2-4)를 포함함으로써, 제2 서브 더미(DM2)를 통해 커플링이 발생되는 것을 방지할 수 있다.
제2 서브 더미(DM2)는 제3-1 커팅부(CUT31)에 대응되는 제2-5 커팅부(CUT25)를 더 포함할 수 있다. 제2-5 커팅부(CUT25)는 제3-1 커팅부(CUT31)와 최단 거리에 배치될 수 있다. 제2-5 커팅부(CUT25)는 제2 서브 더미(DM2) 중 제3-1 커팅부(CUT31)에 대응되게 절단 또는 제거된 부분에 해당할 수 있다. 따라서, 제2-5 커팅부(CUT25)를 사이에 둔 제3 서브 더미(DM3)의 양 단은 서로 절연될 수 있다. 예를 들어, 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 사이의 간극, 제3-1 커팅부(CUT31), 및 제2-5 커팅부(CUT25)는 일직선 상에 배치될 수 있다.
제3 서브 더미(DM3)는 제3-1 커팅부(CUT31)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 일부와, 제2 터치 전극(RE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부를 절연시킬 수 있다. 또한, 제2 서브 더미(DM2)는 제2-5 커팅부(CUT25)를 포함함으로써, 제3 서브 더미(DM3)의 일부에 대응되는 제2 서브 더미(DM2)의 일부와, 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부에 대응되는 제2 서브 더미(DM2)의 다른 일부를 절연시킬 수 있다. 따라서, 제3 서브 더미(DM3)는 제3-1 커팅부(CUT31)를 포함하고, 제2 서브 더미(DM2)는 제2-5 커팅부(CUT25)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE) 사이의 커플링 발생 가능성을 차단할 수 있다.
더미부(DM)의 최외곽에 배치된 서브 더미(DM3)는 직접 마주하는 전극 더미부(EDM)와 제1 및 제2 터치 전극들(TE, RE) 중 제1 터치 전극 또는 제2 터치 전극의 사이에 대응되는 제3-2 커팅부(CUT32) 및 제3-3 커팅부(CUT33)를 더 포함할 수 있다. 도 18에서, 더미부(DM)의 우하측은 전극 더미부(EDM)와 직접 마주할 수 있다. 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE)은 더미부(DM)와 전극 더미부(EDM)가 직접 마주하는 거리만큼 서로 이격될 수 있다. 따라서, 제3 서브 더미(DM3)의 제3-2 커팅부(CUT32)는 직접 마주하는 제1 터치 전극(TE)과 전극 더미부(EDM) 사이에 대응되게 배치될 수 있고, 제3-3 커팅부(CUT33)는 직접 마주하는 제2 터치 전극(RE)과 전극 더미부(EDM) 사이에 대응되게 배치될 수 있다. 따라서, 제3 서브 더미(DM3)는 제3-2 커팅부(CUT32) 및 제3-3 커팅부(CUT33)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 일부와, 제2 터치 전극(RE)과 직접 마주하는 제3 서브 더미(DM3)의 다른 일부를 절연시킬 수 있다. 제3 서브 더미(DM3)는 제3-2 커팅부(CUT32) 및 제3-3 커팅부(CUT33)를 포함함으로써, 제1 터치 전극(TE)과 제2 터치 전극(RE) 사이의 커플링 발생 가능성을 차단할 수 있다.
예를 들어, 컨택 더미부(CDM)의 제4-1 커팅부(CUT41)는 제3 서브 더미(DM3)의 제3-1 커팅부(CUT31)와 최단 거리에 배치될 수 있다. 또한, 컨택 더미부(CDM)의 제4-1 커팅부(CUT41)는 제2 서브 더미(DM2)의 제2-5 커팅부(CUT25) 또는 제1 서브 더미(DM1)의 제1-5 커팅부(CUT15)와 최단 거리에 배치될 수 있다. 컨택 더미부(CDM)의 제4-1 커팅부(CUT41), 제3 서브 더미(DM3)의 제3-1 커팅부(CUT31), 제2 서브 더미(DM2)의 제2-5 커팅부(CUT25), 및 제1 서브 더미(DM1)의 제1-5 커팅부(CUT15)를 잇는 가상의 직선은 투과 영역(TA)의 중심(CP)을 지날 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
도 22는 도 3a에 도시된 터치 감지 유닛의 다른 예를 나타내는 평면도이고, 도 23은 도 22의 A6 영역을 확대한 평면도이다. 도 24는 도 23에 도시된 더미부 및 컨택 더미부를 나타내는 도면이고, 도 25는 도 23의 A7 영역을 확대한 평면도이다. 도 22 내지 도 25의 터치 감지 유닛은 전술한 터치 감지 유닛과 투과 영역(TA)의 위치를 달리하는 것으로서, 전술한 구성과 동일한 구성은 간략히 설명하거나 생략하기로 한다.
도 22 내지 도 25을 참조하면, 투과 영역(TA)은 터치 센서 영역(TSA)에서 제1 터치 전극들(TE) 중 적어도 하나의 제1 터치 전극, 및 제2 터치 전극들(RE) 중 적어도 하나의 제2 터치 전극에 의해 둘러싸일 수 있다. 예를 들어, 투과 영역(TA)은 표시 유닛(100)의 투과부(TU)와 중첩될 수 있다. 도 22 및 도 23에서, 투과 영역(TA)은 2개의 제1 터치 전극(TE) 및 하나의 제2 터치 전극(RE)에 의해 둘러싸일 수 있다. 따라서, 투과 영역(TA) 및 더미부(DM)의 위치에 따라 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE)이 직접 마주하는 영역이 복수 개일 수 있다.
더미부(DM)는 투과 영역(TA)을 직접 둘러싸는 메인 더미(MDM), 메인 더미(MDM)를 둘러싸는 적어도 하나의 서브 더미를 포함할 수 있다. 예를 들어, 더미부(DM)는 메인 더미(MDM) 및 제1 내지 제3 서브 더미(DM1, DM2, DM3)를 포함할 수 있으나, 서브 더미의 수는 반드시 이에 한정되는 것이 아니다.
도 24에서, 제1 서브 더미(DM1)의 제1-1 커팅부(CUT11), 제1-2 커팅부(CUT12), 제1-3 커팅부(CUT13), 및 제1-4 커팅부(CUT1-4)의 위치는 도 8에 도시된 제2 서브 더미(DM2)의 제2-1 커팅부(CUT21), 제2-2 커팅부(CUT22), 제2-3 커팅부(CUT23), 및 제2-4 커팅부(CUT2-4)의 위치에 대응될 수 있다. 도 24에서, 제2 서브 더미(DM2)의 제2-1 커팅부(CUT21), 제2-2 커팅부(CUT22), 제2-3 커팅부(CUT23), 및 제2-4 커팅부(CUT2-4)의 위치는 도 8에 도시된 제1 서브 더미(DM1)의 제1-1 커팅부(CUT11), 제1-2 커팅부(CUT12), 제1-3 커팅부(CUT13), 및 제1-4 커팅부(CUT1-4)의 위치에 대응될 수 있다. 따라서, 제1 및 제2 서브 더미(DM1, DM2)는 복수의 커팅부를 포함함으로써, 제1 및 제2 서브 더미(DM1, DM2)를 통해 커플링이 발생되는 것을 방지할 수 있다.
도 25의 A7 영역에서, 제3 서브 더미(DM3)는 한 쌍의 직접 마주하는 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE)에 대응되는 제3-1 커팅부(CUT31)를 포함할 수 있다. 제3 서브 더미(DM3)는 다른 한 쌍의 직접 마주하는 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE)에 대응되는 제3-2 커팅부(CUT32)를 포함할 수 있다. 제3-1 커팅부(CUT31) 및 제3-2 커팅부(CUT32)의 구성 및 효과는 도 8 내지 도 12에서 설명한 제3-1 커팅부(CUT31)의 구성 및 효과와 동일한 취지를 가질 수 있다. 이와 같이, 더미부(DM)의 최외곽에 배치된 서브 더미(DM3)가 구비한 커팅부의 구성은 투과 영역(TA), 더미부(DM), 및 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE)의 구성에 따라 설계 변경될 수 있다. 따라서, 더미부(DM)의 최외곽에 배치된 서브 더미(DM3)는 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 사이의 간극에 대응되는 적어도 하나의 커팅부를 포함함으로써, 제1 터치 전극들(TE)과 더미부(DM) 사이 또는 제2 터치 전극들(RE)과 더미부(DM) 사이에 의도하지 않은 커플링이 발생하더라도, 제1 터치 전극(TE)에 대응되는 더미부(DM)의 일부와 제2 터치 전극(RE)에 대응되는 더미부(DM)의 다른 일부를 전기적으로 절연시킴으로써, 제1 및 제2 터치 전극(TE, RE) 사이에 불필요한 커플링의 발생을 방지할 수 있다. 표시 장치(10)는 터치 감지 유닛(500)의 감도 및 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
10: 표시 장치 100: 표시 유닛
SUB1: 제1 기판 TFTL: 박막 트랜지스터층
EML: 발광 소자층 VC: 진공층
200: 표시 구동부 300: 표시 회로 보드
400: 터치 구동부 410: 터치 회로 보드
500: 터치 감지 유닛 SUB2: 제2 기판
TSL: 터치 센서층 TE: 제1 터치 전극들
RE: 제2 터치 전극들 EDM: 전극 더미부
TA: 투과 영역 DM: 더미부
CDM: 컨택 더미부

Claims (21)

  1. 복수의 화소를 구비한 표시 영역, 및 표시 영역에 의해 둘러싸이는 투과부, 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 비표시 영역을 포함하는 표시 유닛; 및
    상기 투과부와 중첩된 투과 영역, 상기 투과부와 중첩되고 상기 투과 영역을 둘러싸는 더미부, 상기 더미부를 둘러싸는 터치 센서 영역, 및 상기 터치 센서 영역을 둘러싸는 터치 주변 영역을 구비한 터치 감지 유닛을 포함하고,
    상기 터치 센서 영역은,
    제1 방향 및 상기 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 배열된 제1 터치 전극들; 및
    상기 제1 터치 전극들 사이에 배치되고, 상기 제1 방향으로 연결되며 상기 제2 방향으로 서로 이격된 제2 터치 전극들을 포함하며,
    상기 더미부는 상기 투과 영역을 직접 둘러싸는 메인 더미, 및 상기 메인 더미를 둘러싸는 적어도 하나의 서브 더미를 포함하고, 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들과 절연되며,
    상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미는 상기 제1 및 제2 터치 전극들 중 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극에 대응되는 제1 커팅부를 포함하는 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 커팅부는 상기 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극과 최단 거리에 배치되는 표시 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 터치 감지 유닛은 상기 더미부를 지지하는 베이스 부재를 더 포함하고,
    상기 더미부는 상기 베이스 부재와, 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들 사이의 층에 배치되는 표시 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 터치 감지 유닛은 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들 사이에 배치된 전극 더미부를 더 포함하는 표시 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 제1 커팅부는 상기 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극을 사이에 두고 상기 전극 더미부와 이격되는 표시 장치.
  6. 제4 항에 있어서,
    상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미는 직접 마주하는 상기 전극 더미부와 상기 제1 및 제2 터치 전극들 중 제1 터치 전극 또는 제2 터치 전극의 사이에 대응되는 제2 커팅부들을 더 포함하는 표시 장치.
  7. 제4 항에 있어서,
    상기 터치 감지 유닛은 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미를 둘러싸고, 상기 제1 및 제2 터치 전극들 중 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미와 직접 마주하는 제1 터치 전극 또는 제2 터치 전극과 컨택되는 컨택 더미부를 더 포함하는 표시 장치.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 컨택 더미부의 평면 상 폭은 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미의 평면 상 폭보다 큰 표시 장치.
  9. 제7 항에 있어서,
    상기 컨택 더미부는 상기 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극과 평면 상에서 중첩되는 제7 커팅부를 포함하는 표시 장치.
  10. 제7 항에 있어서,
    상기 터치 감지 유닛은 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들 사이에 배치된 전극 더미부를 더 포함하고,
    상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미의 일부는 상기 컨택 더미부에 의해 둘러싸이고, 상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미의 다른 일부는 상기 전극 더미부에 의해 둘러싸이는 표시 장치.
  11. 제7 항에 있어서,
    상기 컨택 더미부의 일단 및 상기 컨택 더미부의 타단 각각은 상기 제2 커팅부들 각각에 대응되게 배치되는 표시 장치.
  12. 제1 항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 서브 더미는,
    상기 메인 더미를 둘러싸는 제1 서브 더미;
    상기 제1 서브 더미를 둘러싸는 제2 서브 더미; 및
    상기 제2 서브 더미를 둘러싸고, 상기 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극과 마주하는 제3 서브 더미를 포함하고,
    상기 제3 서브 더미는 상기 제1 커팅부를 포함하는 표시 장치.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 제2 서브 더미는 상기 제1 커팅부와 최단 거리에 배치되는 제3 커팅부를 포함하는 표시 장치.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극, 상기 제1 커팅부, 및 상기 제3 커팅부는 일직선 상에 배치되는 표시 장치.
  15. 제13 항에 있어서,
    상기 제2 서브 더미는 상기 투과 영역의 중심을 지나 상기 제1 방향으로 연장되는 제1 축, 및 상기 투과 영역의 중심을 지나 상기 제2 방향으로 연장되는 제2 축에 중첩되는 제4 커팅부를 포함하는 표시 장치.
  16. 제13 항에 있어서,
    상기 제1 서브 더미는 상기 제1 커팅부 또는 상기 제3 커팅부와 최단 거리에 배치되는 제5 커팅부를 포함하는 표시 장치.
  17. 제16 항에 있어서,
    상기 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극, 상기 제1 커팅부, 상기 제3 커팅부, 및 상기 제5 커팅부는 일직선 상에 배치되는 표시 장치.
  18. 제13 항에 있어서,
    상기 제1 서브 더미는 상기 투과 영역의 중심을 지나 상기 제1 방향과 상기 제2 방향 사이의 제3 방향으로 연장되는 제3 축, 및 상기 투과 영역의 중심을 지나 상기 제1 방향의 반대 방향과 상기 제2 방향 사이의 제4 방향으로 연장되는 제4 축에 중첩되는 제6 커팅부를 포함하는 표시 장치.
  19. 제1 항에 있어서,
    상기 터치 감지 유닛은,
    상기 제2 방향으로 인접한 상기 제1 터치 전극들 사이에 배치된 터치 섬 전극들; 및
    상기 제1 터치 전극들과 상기 터치 섬 전극들을 연결하는 연결 전극들을 더 포함하는 표시 장치.
  20. 제19 항에 있어서,
    상기 터치 섬 전극들은 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들과 동일층에 배치되고,
    상기 연결 전극은 상기 더미부와 동일층에 배치되는 표시 장치.
  21. 복수의 화소를 구비한 표시 영역, 상기 표시 영역에 의해 둘러싸이는 제1 비표시 영역, 상기 제1 비표시 영역에 의해 둘러싸이고 일면이 개방된 투과부, 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 제2 비표시 영역을 포함하는 표시 유닛; 및
    상기 투과부와 중첩된 투과 영역, 상기 제1 비표시 영역과 중첩되고 상기 투과 영역을 둘러싸는 더미부, 상기 더미부를 둘러싸는 터치 센서 영역, 및 상기 터치 센서 영역을 둘러싸는 터치 주변 영역을 포함하는 터치 감지 유닛을 포함하고,
    상기 터치 센서 영역은,
    베이스 부재;
    상기 베이스 부재 상에서 제1 방향 및 상기 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 배열된 제1 터치 전극들; 및
    상기 제1 터치 전극들 사이에 배치되고, 상기 제1 방향으로 연결되며 상기 제2 방향으로 서로 이격된 제2 터치 전극들을 포함하며,
    상기 더미부는 상기 투과 영역을 직접 둘러싸는 메인 더미, 및 상기 메인 더미를 둘러싸는 적어도 하나의 서브 더미를 포함하고, 상기 제1 터치 전극들 및 상기 제2 터치 전극들과 절연되며,
    상기 더미부의 최외곽에 배치된 서브 더미는 상기 제1 및 제2 터치 전극들 중 직접 인접한 제1 및 제2 터치 전극 사이의 간극에 대응되는 커팅부를 포함하는 표시 장치.
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