KR20210105208A - Induction heating type cooktop of determining material of heating object and method thereof - Google Patents

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KR20210105208A
KR20210105208A KR1020200019890A KR20200019890A KR20210105208A KR 20210105208 A KR20210105208 A KR 20210105208A KR 1020200019890 A KR1020200019890 A KR 1020200019890A KR 20200019890 A KR20200019890 A KR 20200019890A KR 20210105208 A KR20210105208 A KR 20210105208A
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heating
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곽영환
손승호
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조주형
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엘지전자 주식회사
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Abstract

According to the present disclosure, provided is a method, in a method for determining a material of a heated object disposed in an induction heating type cooktop, comprising the steps of: storing, in advance, information on the temperature of a thin film coated on at least one of an upper end and a lower end of an upper plate of a cooktop and the correlation between an inductor component and a resistance component of an equivalent circuit formed by the thin film; determining estimated temperature information corresponding to an inductor component and a resistance component of an equivalent circuit formed by a thin film induction-heated by a working coil based on the information on the correlation; measuring the temperature of the thin film through a temperature sensor, to obtain measured temperature information; and determining whether a material of a heated object is a metal material or a non-metal material based on the estimated temperature information and the measured temperature information. In addition, an induction heating type cooktop for performing the method may be provided.

Description

피가열 물체 재질을 결정하는 유도 가열 방식의 쿡탑 및 그 방법{INDUCTION HEATING TYPE COOKTOP OF DETERMINING MATERIAL OF HEATING OBJECT AND METHOD THEREOF} Induction heating type cooktop and method for determining the material of the object to be heated

본 개시는 유도 가열 방식의 쿡탑에서 가열되는 용기가 금속 재질인지 비금속 재질인지 여부를 결정할 수 있는 쿡탑 및 그 방법에 관한 것이다.The present disclosure relates to a cooktop capable of determining whether a container heated in an induction heating type cooktop is made of a metal material or a non-metal material, and a method thereof.

가정이나 식당에서 음식을 가열하기 위한 다양한 방식의 조리 기구들이 사용되고 있다. 종래에는 가스를 연료로 하는 가스 레인지가 널리 보급되어 사용되어 왔으나, 최근에는 가스를 이용하지 않고 전기를 이용하여 피가열 물체, 예컨대 냄비와 같은 조리 용기를 가열하는 장치들의 보급이 이루어지고 있다.BACKGROUND ART Various types of cooking utensils are used to heat food at home or in a restaurant. Conventionally, gas stoves using gas as fuel have been widely used, but recently devices for heating an object to be heated, for example, a cooking vessel such as a pot, have been spread using electricity instead of gas.

전기를 이용하여 피가열 물체를 가열하는 방식은 크게 저항 가열 방식과 유도 가열 방식으로 나누어진다. 전기 저항 방식은 금속 저항선 또는 탄화규소와 같은 비금속 발열체에 전류를 흘릴 때 생기는 열을 방사 또는 전도를 통해 피가열 물체(예를 들어, 조리 용기)에 전달함으로써 피가열 물체를 가열하는 방식이다. 그리고 유도 가열 방식은 소정 크기의 고주파 전력을 코일에 인가할 때 코일 주변에 발생하는 자계를 이용하여 금속 성분으로 이루어진 피가열 물체에 와전류(eddy current)를 발생시켜 피가열 물체 자체가 가열되도록 하는 방식이다. A method of heating an object to be heated using electricity is largely divided into a resistance heating method and an induction heating method. The electrical resistance method is a method of heating an object to be heated by transferring heat generated when a current flows through a metal resistance wire or a non-metallic heating element such as silicon carbide to the object to be heated (eg, a cooking vessel) through radiation or conduction. In the induction heating method, when high-frequency power of a predetermined size is applied to the coil, an eddy current is generated in the object to be heated using a magnetic field generated around the coil to heat the object to be heated. am.

최근에는 쿡탑(Cooktop)에 유도 가열 방식이 대부분 적용되고 있다.Recently, most of the induction heating methods are applied to cooktops.

다만, 유도 가열 방식이 적용된 쿡탑의 경우, 자성체만을 가열할 수 있다는 한계가 있다. 즉, 비자성체(예를 들어, 내열유리, 도기류 등)가 쿡탑 위에 배치된 경우, 유도 가열 방식이 적용된 쿡탑은 해당 피가열 물체를 가열하지 못한다는 문제가 있다. However, in the case of a cooktop to which an induction heating method is applied, there is a limitation in that only a magnetic material can be heated. That is, when a non-magnetic material (eg, heat-resistant glass, ceramics, etc.) is disposed on the cooktop, there is a problem that the cooktop to which the induction heating method is applied cannot heat the object to be heated.

이에 따라, 종래에는 유도 가열 방식의 쿡탑이 가지는 한계를 극복하기 위해, 하기와 같이 다양한 방법이 고안되었다.Accordingly, in order to overcome the limitations of the conventional induction heating type cooktop, various methods have been devised as follows.

먼저, 쿡탑과 비자성체 사이에 유도 가열 방식으로 가열할 수 있는 가열판을 추가하는 방식이 고안되었다. 일본 등록특허공보 제5630495호(2014.10.17)를 참조하면, 가열판을 추가하여 유도 가열하는 방식이 개시되어 있다.First, a method of adding a heating plate that can be heated by induction heating between the cooktop and the non-magnetic material was devised. Referring to Japanese Patent Publication No. 5630495 (2014.10.17), a method of induction heating by adding a heating plate is disclosed.

그러나 해당 방식의 경우, 가열 효율이 떨어질 뿐만 아니라 피가열 물체에 수납된 재료를 가열하는 데 필요한 시간이 기존보다 크게 늘어난다는 문제가 있었다.However, in the case of the method, there is a problem that heating efficiency is lowered, as well as the time required to heat the material accommodated in the object to be heated is significantly increased than before.

또 다른 방법으로, 전기 저항 방식이 적용된 라디언트 히터(Radiant Heater)를 통해 비자성체를 가열하고, 유도 가열 방식이 적용된 워킹 코일을 통해 자성체를 가열하는 하이브리드 쿡탑이 고안되었다. 일본 공개특허공보 제2008-311058호(2008.12.25)를 참조하면, 하이브리드 쿡탑의 구성이 개시되어 있다.As another method, a hybrid cooktop has been devised that heats a nonmagnetic material through a radiant heater to which an electric resistance method is applied, and heats a magnetic material through a working coil to which an induction heating method is applied. Referring to Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-311058 (December 25, 2008), a configuration of a hybrid cooktop is disclosed.

그러나 해당 방식의 경우, 라디언트 히터의 출력이 낮고 가열 효율이 떨어진다는 문제가 있었고, 사용자가 가열 영역에 피가열 물체를 놓을 때 해당 피가열 물체의 재질을 고려해야 한다는 불편함이 있었다.However, in the case of the method, there was a problem that the output of the radiator heater was low and the heating efficiency was low, and there was an inconvenience that the user had to consider the material of the object to be heated when placing the object to be heated in the heating area.

마지막으로, 모든 금속 피가열 물체(즉, 자성을 띠지 않는 금속 및 자성체)를 가열할 수 있는 올 메탈 쿡탑(All metal cooktop)이 고안되었다. 미국 등록특허공보 제6,770,857호(2004.08.03)를 참조하면, 올 메탈 쿡탑의 구성이 개시되어 있다.Finally, an all metal cooktop has been devised that can heat all metal objects to be heated (ie non-magnetic metals and magnetic materials). Referring to U.S. Patent No. 6,770,857 (2004.08.03), a configuration of an all-metal cooktop is disclosed.

그러나 해당 방식의 경우, 자성을 띠지 않는 비금속 피가열 물체를 가열하지 못한다는 문제가 있었다. 또한 자성을 띠지 않는 금속 피가열 물체를 가열하는 경우, 라디언트 히터 기술보다 가열 효율이 낮고 재료비가 높다는 문제도 있었다. However, in the case of the method, there was a problem that the non-magnetic non-metal to be heated object could not be heated. In addition, when heating a non-magnetic metal object to be heated, there was a problem in that the heating efficiency was lower than that of the radiant heater technology and the material cost was high.

이에 따라, 유도 가열 방식의 쿡탑이 가지는 한계를 극복할 수 있는 새로운 기술 개발의 필요성이 커지고 있다. Accordingly, there is a growing need to develop a new technology that can overcome the limitations of the induction heating type cooktop.

나아가 종래 기술에서는 상판부 상에 배치된 용기로 인해 형성되는 전기적 파라미터를 이용하여 금속 용기의 유무를 판단한다. Furthermore, in the prior art, the presence or absence of a metal container is determined using an electrical parameter formed by the container disposed on the upper plate.

본 개시는 용기와 워킹 코일 사이에 별도의 피가열 물체인 박막이 배치된 쿡탑에서는 종래의 판단 방법에 따라 용기의 재질을 판단하는 것에 매우 어렵다는 점을 고려하여, 유도 가열되는 박막이 상판부에 배치된 쿡탑에서도 피가열 물체인 용기의 재질을 판단하기 위한 것이다.In the present disclosure, considering that it is very difficult to determine the material of the container according to the conventional determination method in a cooktop in which a thin film, which is a separate object to be heated, is disposed between the container and the working coil, the induction heating thin film is disposed on the upper plate In the cooktop, it is also used to determine the material of the container, which is an object to be heated.

본 개시는 사용자가 가열시키려는 용기 외의 별도의 유도 가열체(즉, 박막)를 상판부 상에 배치하여 자성체와 비자성체 모두 가열 가능한 유도 가열 방식의 쿡탑을 제공하기 위한 것이다. An object of the present disclosure is to provide an induction heating type cooktop capable of heating both a magnetic material and a non-magnetic material by disposing a separate induction heating body (ie, a thin film) other than a container to be heated by a user on an upper plate portion.

이하의 실시예들을 통해 도출될 수 있는 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있고, 실시예들에 의해 보다 분명하게 이해될 것이다. 또한, 실시예들을 통해 도출될 수 있는 목적 및 장점들은 특허 청구 범위에 나타낸 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.Objects that can be derived through the following examples are not limited to the objects mentioned above, and other objects and advantages not mentioned may be understood by the following description, and will be more clearly understood by the examples. will be. In addition, it will be easily understood that the objects and advantages that can be derived through the embodiments can be realized by the means and combinations thereof indicated in the claims.

본 개시에 따라 케이스의 상단에 결합되고, 상단에 피가열 물체가 배치되는 상판부가 구비된 커버 플레이트; 상판부의 상단 및 하단 중 적어도 하나에 코팅된 박막; 박막 및 피가열 물체 중 적어도 하나를 유도 가열하기 위해 케이스 내부에 구비된 워킹 코일; 박막의 온도를 측정하여 측정 온도 정보를 획득하는 온도 센서; 박막의 온도와 박막에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 미리 저장하도록 구성되는 메모리; 및 상관관계에 대한 정보에 기초하여 워킹 코일에 의해 유도 가열된 박막에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보를 결정하고, 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이가 미리 설정된 범위 내에 포함되는지 판단하여 피가열 물체가 금속 재질인지 비금속 재질인지를 결정하도록 구성되는 MCU를 포함하는, 유도 가열 방식의 쿡탑이 제공될 수 있다. A cover plate coupled to the upper end of the case according to the present disclosure and provided with an upper plate portion on which an object to be heated is disposed; a thin film coated on at least one of the top and bottom of the upper plate; a working coil provided inside the case for inductively heating at least one of the thin film and the object to be heated; a temperature sensor measuring the temperature of the thin film to obtain measured temperature information; a memory configured to store in advance information on a correlation between a temperature of the thin film and a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit formed by the thin film; and determining the estimated temperature information corresponding to the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the thin film induction heated by the working coil based on the information on the correlation, and the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is determined in advance An induction heating type cooktop may be provided, including an MCU configured to determine whether the object to be heated is a metal material or a non-metal material by determining whether it is included within a set range.

본 개시에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑에 배치된 피가열 물체의 재질을 결정하는 방법에 있어서, 쿡탑의 상판부의 상단 및 하단 중 적어도 하나에 코팅된 박막의 온도와 박막에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 미리 저장하는 단계; 상관관계에 대한 정보에 기초하여 워킹 코일에 의해 유도 가열된 박막에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보를 결정하는 단계; 온도 센서를 통해 박막의 온도를 측정하여 측정 온도 정보를 획득하는 단계; 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보에 기초하여 피가열 물체의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지를 결정하는 단계를 포함하는, 방법이 제공될 수 있다.In the method for determining the material of an object to be heated disposed in an induction heating type cooktop according to the present disclosure, the temperature of the thin film coated on at least one of the upper and lower ends of the upper plate of the cooktop and the resistance of the equivalent circuit formed by the thin film pre-storing information on the correlation between the component and the inductor component; determining estimated temperature information corresponding to a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit formed by a thin film induction heated by a working coil based on the information on the correlation; obtaining measured temperature information by measuring the temperature of the thin film through a temperature sensor; A method may be provided, including determining whether a material of the object to be heated is a metal material or a non-metal material based on the estimated temperature information and the measured temperature information.

본 개시에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑은 유도 가열되는 박막이 상판부에 배치된 상태에서도 용기의 재질을 판단할 수 있게 됨으로써, 사용 안정성 및 사용 편의성을 확보할 수 있다.In the cooktop of the induction heating method according to the present disclosure, it is possible to determine the material of the container even in a state in which the thin film to be induction heated is disposed on the upper plate, thereby securing use stability and ease of use.

본 개시에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑은 피가열 물체인 용기가 사용자가 설정한 가열 모드에 대응되는 재질인지 여부를 판단할 수 있으며, 이에 따라 배치된 용기의 재질에 적응적인 가열 모드의 설정이 가능하다.The cooktop of the induction heating method according to the present disclosure can determine whether the container, which is the object to be heated, is a material corresponding to the heating mode set by the user, and accordingly, it is possible to set the heating mode adaptive to the material of the disposed container do.

본 개시에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑은 다양한 자성체 및 비자성체를 가열할 수 있는바, 피가열 물체의 배치 위치 및 종류에 상관없이 해당 피가열 물체를 가열할 수 있다. 이에 따라, 사용자는 피가열 물체를 가열하기 위해 피가열 물체의 재질을 일일이 파악할 필요가 없으므로, 사용자의 사용 편의성이 개선될 수 있다.The cooktop of the induction heating method according to the present disclosure can heat various magnetic and non-magnetic materials, and can heat the object to be heated regardless of the arrangement position and type of the object to be heated. Accordingly, since the user does not need to individually grasp the material of the object to be heated in order to heat the object, user convenience can be improved.

본 개시에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑은 동일 열원으로 피가열 물체를 직간접적으로 가열할 수 있는바, 별도의 가열판 또는 라디언트 히터를 구비할 필요가 없다. 이에 따라, 가열 효율을 높일 수 있을 뿐만 아니라 재료비를 절감할 수 있다. Since the cooktop of the induction heating method according to the present disclosure can directly or indirectly heat an object to be heated with the same heat source, there is no need to provide a separate heating plate or a radiator heater. Accordingly, it is possible to not only increase the heating efficiency but also reduce the material cost.

상술한 효과와 더불어 도출 가능한 구체적인 효과는 이하 발명을 실시하기 위한 구체적인 사항을 설명하면서 함께 기술한다. Specific effects that can be derived in addition to the above-described effects will be described together while describing specific details for carrying out the invention below.

도 1은 일 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑을 설명하는 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 유도 가열 방식의 쿡탑의 케이스 내부에 구비된 구성요소를 설명하는 도면이다.
도 3 및 도 4는 일 실시예에 따른 박막의 두께와 스킨 뎁스(skin depth) 간 관계를 설명하는 도면들이다.
도 5 및 도 6은 피가열 물체의 종류에 따른 박막과 피가열 물체 간 임피던스 변화를 설명하는 도면들이다.
도 7은 다른 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑을 설명하는 도면이다.
도 8은 도 7에 도시된 유도 가열 방식의 쿡탑의 케이스 내부에 구비된 구성요소를 설명하는 도면이다.
도 9는 도 7에 도시된 유도 가열 방식의 쿡탑에 피가열 물체가 배치된 모습을 설명하는 도면이다.
도 10은 일 실시예에 따라 박막의 온도 추정을 수행하는 유도 가열 방식의 쿡탑에 포함된 구성들을 나타내는 블록도이다.
도 11a는 일 실시예에 따라 박막의 두께 및 워킹 코일의 구동 주파수를 기준으로 박막의 온도에 따라 박막의 등가회로의 저항 성분의 변화 양상을 나타내는 도면이다.
도 11b는 일 실시예에 따라 온도에 따른 출력전력, 공진 전류, 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분의 변화 양상을 나타내는 도면이다.
도 12a는 일 실시예에 따라 사용자에 의해 설정된 출력에 대응되는 구동 주파수 및 온도 추정을 위해 이용되는 고정 주파수에 따라 워킹 코일을 구동시키기 위한 입력 전압을 도시한다.
도 13a는 일 실시예에 따라 자율 공진 방식에 따른 온도 추정을 수행하는 방법을 나타낸 도면이다.
도 13b는 일 실시예에 따라 온도 추정을 위한 자율 공진 방식에서 등가 회로의 저항 성분 및 인덕터 성분을 획득하기 위해 공진 주파수 및 감쇄폭을 획득하는 특징을 설명하기 위한 도면이다.
도 14는 일 실시예에 따라 박막에 의해 형성되는 등가회로를 이용하여 추정되는 온도와 온도 센서를 통해 측정되는 온도를 비교하여 박막의 손상 여부를 파악하기 위한 유도 가열 방식의 쿡탑의 블록도를 도시한다.
도 15는 일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑이 추정 온도 정보와 측정 온도 정보를 비교하여 박막이 손상되었는지를 결정하는 방법에 대한 흐름도이다.
도 16은 일 실시예에 따라 쿡탑이 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이가 제1 범위에 포함되는지에 기초하여 박막의 손상 여부를 결정하는 방법에 대한 흐름도를 도시한다.
도 17은 일 실시예에 따라 쿡탑이 미리 설정된 제1 범위 및 제2 범위에 기초하여 박막이 손상되었는지, 박막이 손상되지는 않았으나 가열 효율이 감소한 상태인지, 아니면 박막이 손상되지도 않았고 가열 효율이 정상인 것으로 결정하는 방법에 대한 흐름도를 도시한다.
도 18은 일 실시예에 따라 피가열 물체가 상판부에 배치되었는지 여부에 기초하여 박막의 손상 여부를 결정하는 방법에 대한 흐름도를 도시한다.
도 19는 일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑이 추정 온도 정보와 측정 온도 정보를 비교하여 피가열 물체(HO)의 재질을 결정하는 방법에 대한 흐름도이다.
도 20은 일 실시예에 따라 쿡탑이 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이가 미리 설정된 범위에 포함되는지에 따라 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지 결정하는 과정에 대한 흐름도를 도시한다.
도 21은 일 실시예에 따라 미리 설정된 조건에 기초하여 선택된 가열모드로 박막 및 피가열 물체(HO) 중 적어도 하나를 가열하는 상황에서의 피가열 물체(HO)의 재질을 결정하는 과정을 수행하는 방법에 대한 흐름도이다.
도 22는 일 실시예에 따라 선택된 가열 모드와 피가열 물체(HO)의 재질이 대응되지 않는 경우에 쿡탑이 실시하게 되는 가열 모드 변경 방법에 대한 흐름도를 도시한다.
도 23은 일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 비교를 통해 피가열 물체(HO)의 재질을 결정하고 피가열 물체(HO)의 배치 여부를 파악하여, 가열 모드를 제어할 수 있는 유도 가열 방식의 쿡탑의 블록도를 도시한다.
도 24는 일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 비교를 통해 피가열 물체(HO)의 재질을 결정하고 피가열 물체(H0)의 배치 여부를 파악하여, 가열 모드를 제어할 수 있는 방법에 대한 흐름도를 도시한다.
도 25는 일 실시예에 따라 피가열 물체(HO)의 배치 여부를 파악하여, 가열을 중단시키는 방법에 대한 흐름도를 도시한다.
도 26은 일 실시예에 따라 피가열 물체(HO)의 재질과 선택된 가열 모드가 서로 대응되지 않는 경우 배치 정보 및 선택된 가열 모드에 기초하여 가열 모드를 제어하는 방법에 대한 흐름도를 도시한다.
1 is a view for explaining an induction heating type cooktop according to an embodiment.
FIG. 2 is a view for explaining the components provided inside the case of the cooktop of the induction heating method shown in FIG. 1 .
3 and 4 are views illustrating a relationship between a thickness of a thin film and a skin depth according to an exemplary embodiment.
5 and 6 are diagrams for explaining a change in impedance between a thin film and an object to be heated according to the type of the object to be heated.
7 is a view for explaining an induction heating type cooktop according to another embodiment.
8 is a view for explaining the components provided inside the case of the cooktop of the induction heating method shown in FIG. 7 .
9 is a view for explaining a state in which an object to be heated is disposed on the cooktop of the induction heating method shown in FIG. 7 .
10 is a block diagram illustrating components included in an induction heating type cooktop for performing temperature estimation of a thin film according to an embodiment.
11A is a diagram illustrating a change in a resistance component of an equivalent circuit of a thin film according to a temperature of a thin film based on a thickness of a thin film and a driving frequency of a working coil, according to an exemplary embodiment;
11B is a diagram illustrating changes in output power, resonance current, and resistance and inductor components of an equivalent circuit according to temperature, according to an exemplary embodiment.
12A illustrates an input voltage for driving a working coil according to a driving frequency corresponding to an output set by a user and a fixed frequency used for temperature estimation, according to an exemplary embodiment.
13A is a diagram illustrating a method of performing temperature estimation according to an autonomous resonance method according to an exemplary embodiment.
13B is a diagram for explaining a characteristic of acquiring a resonance frequency and an attenuation width to acquire a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit in an autonomous resonance method for temperature estimation according to an embodiment;
14 is a block diagram of an induction heating type cooktop for determining whether a thin film is damaged by comparing a temperature estimated using an equivalent circuit formed by a thin film and a temperature measured through a temperature sensor according to an embodiment; do.
15 is a flowchart illustrating a method of determining whether a thin film is damaged by comparing estimated temperature information and measured temperature information by an induction heating type cooktop according to an embodiment.
16 is a flowchart illustrating a method for the cooktop to determine whether a thin film is damaged based on whether a difference between estimated temperature information and measured temperature information is included in a first range, according to an exemplary embodiment.
17 shows whether the thin film is damaged, the thin film is not damaged, but the heating efficiency is reduced, or the thin film is not damaged and the heating efficiency is It shows a flow chart for a method of determining to be normal.
18 is a flowchart illustrating a method of determining whether a thin film is damaged based on whether an object to be heated is disposed on an upper plate according to an exemplary embodiment.
19 is a flowchart of a method of determining a material of an object to be heated (HO) by comparing estimated temperature information and measured temperature information by an induction heating type cooktop according to an exemplary embodiment.
20 is a flowchart of a process in which the cooktop determines whether the material of the object to be heated (HO) is a metallic material or a non-metallic material according to whether a difference between estimated temperature information and measured temperature information is included in a preset range according to an embodiment; show
21 is a process of determining the material of the object to be heated (HO) in a situation in which at least one of a thin film and an object to be heated (HO) is heated in a heating mode selected based on a preset condition according to an embodiment; Here's a flow chart on how to do it.
22 is a flowchart illustrating a method of changing a heating mode performed by the cooktop when the selected heating mode does not correspond to the material of the object HO to be heated, according to an embodiment.
23 is a view illustrating a method of controlling a heating mode by determining the material of the object to be heated (HO) through comparison of the estimated temperature information and the measured temperature information, and determining whether the object to be heated (HO) is disposed, according to an embodiment; A block diagram of an induction heating cooktop is shown.
24 is a view illustrating a method of controlling a heating mode by determining the material of the object to be heated (HO) through comparison of the estimated temperature information and the measured temperature information and determining whether the object to be heated (H0) is disposed according to an embodiment; A flowchart for the method is shown.
25 is a flowchart illustrating a method of stopping heating by determining whether an object to be heated HO is disposed, according to an embodiment.
26 is a flowchart illustrating a method of controlling a heating mode based on arrangement information and a selected heating mode when the material of the object to be heated HO and the selected heating mode do not correspond to each other according to an embodiment.

이하, 실시예들과 관련된 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 이하의 실시예들은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. Hereinafter, the embodiments will be described in detail with reference to the drawings so that those of ordinary skill in the art can easily carry out the embodiments. The following embodiments may be implemented in various different forms and are not limited to the embodiments described herein.

명확한 설명을 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다. 또한, 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 개시를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 실시예들의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.For clear explanation, parts irrelevant to the description are omitted, and the same reference numerals are assigned to the same or similar elements throughout the specification. Further, some embodiments will be described in detail with reference to exemplary drawings. In adding reference numerals to components of each drawing, the same components may have the same reference numerals as much as possible even though they are indicated in different drawings. In addition, in describing the present disclosure, when it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the embodiments, the detailed description may be omitted.

실시예들의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 임의의 구성요소 간 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 임의의 구성요소 간에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있고 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In describing the components of the embodiments, terms such as first, second, A, B, (a), (b), etc. may be used. These terms are only for distinguishing the elements from other elements, and the essence, order, order, or number of the elements are not limited by the terms. When it is described as “connected”, “coupled” or “connected” between any components, any components may be directly connected or connected, and other components may be “interposed” between each component or each component It will be understood that may be “connected”, “coupled” or “connected” through other components.

본 개시에서, "포함한다", "구성된다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.In the present disclosure, terms such as “comprises”, “consists of” or “have” are intended to designate that a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification is present, but one It should be understood that it does not preclude the possibility of the presence or addition of or more other features or numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

또한, 본 개시를 구현함에 있어서 설명의 편의를 위하여 구성요소를 세분화하여 설명할 수 있으나, 이들 구성요소가 하나의 장치 또는 모듈 내에 구현될 수도 있고, 혹은 하나의 구성요소가 다수의 장치 또는 모듈들에 나뉘어져서 구현될 수도 있다.In addition, in implementing the present disclosure, components may be subdivided for convenience of description, but these components may be implemented in one device or module, or one component may include multiple devices or modules. It may be implemented by being divided into .

이하에서는, 일 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑을 설명하도록 한다.Hereinafter, a cooktop of an induction heating method according to an embodiment will be described.

도 1은 일 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑을 설명하는 도면이다. 1 is a view for explaining an induction heating type cooktop according to an embodiment.

먼저, 도 1을 참조하면, 일 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑(1)은 케이스(25), 커버 플레이트(20), 워킹 코일(WC1, WC2; 즉, 제1 및 제2 워킹 코일), 박막(TL1, TL2; 즉, 제1 및 제2 박막)을 포함할 수 있다.First, referring to FIG. 1 , an induction heating type cooktop 1 according to an embodiment includes a case 25 , a cover plate 20 , and working coils WC1 and WC2; that is, first and second working coils). , and thin films TL1 and TL2 (ie, first and second thin films).

케이스(25)에는 워킹 코일(WC1, WC2)이 설치될 수 있다.Working coils WC1 and WC2 may be installed in the case 25 .

참고로, 케이스(25)에는 워킹 코일(WC1, WC2) 외에 워킹 코일의 구동과 관련된 각종 장치(예를 들어, 교류 전력을 제공하는 전원부, 전원부의 교류 전력을 직류 전력으로 정류하는 정류부, 정류부에 의해 정류된 직류 전력을 스위칭 동작을 통해 공진 전류로 변환하여 워킹 코일에 제공하는 인버터부, 유도 가열 방식의 쿡탑(1) 내 각종 장치의 동작을 제어하는 제어 모듈, 워킹 코일을 턴온 또는 턴오프하는 릴레이 또는 반도체 스위치 등)가 설치될 수 있으나, 이에 대한 구체적인 설명은 생략하도록 한다.For reference, in the case 25, in addition to the working coils WC1 and WC2, various devices related to the driving of the working coil (eg, a power supply providing AC power, a rectifying unit for rectifying the AC power of the power supply into DC power, a rectifying unit Inverter unit that converts DC power rectified by the inverter into resonance current through a switching operation and provides it to the working coil, a control module that controls the operation of various devices in the induction heating type cooktop 1, and turns the working coil on or off relay or semiconductor switch, etc.) may be installed, but a detailed description thereof will be omitted.

커버 플레이트(20)는 케이스(25)의 상단에 결합되고, 상단에 피가열 물체(미도시)가 배치되는 상판부(15)가 구비될 수 있다. The cover plate 20 is coupled to the upper end of the case 25 , and an upper plate portion 15 on which an object to be heated (not shown) is disposed may be provided.

구체적으로, 커버 플레이트(20)는 조리 용기와 같은 피가열 물체를 올려놓기 위한 상판부(15)를 포함할 수 있다.Specifically, the cover plate 20 may include a top plate portion 15 for placing an object to be heated, such as a cooking vessel.

여기에서, 상판부(15)는 예를 들어, 유리 소재(예를 들어, 세라믹 글래스(ceramics glass))로 구성될 수 있다. Here, the upper plate part 15 may be made of, for example, a glass material (eg, ceramics glass).

또한 상판부(15)에는 사용자로부터 입력을 제공받아 입력 인터페이스용 제어 모듈(미도시)로 해당 입력을 전달하는 입력 인터페이스(미도시)가 구비될 수 있다. 물론, 입력 인터페이스는 상판부(15)가 아닌 다른 위치에 구비될 수도 있다.In addition, the upper panel 15 may be provided with an input interface (not shown) that receives an input from a user and transmits the input to a control module (not shown) for the input interface. Of course, the input interface may be provided at a location other than the upper panel 15 .

참고로, 입력 인터페이스는 사용자가 원하는 가열 강도나 유도 가열 방식의 쿡탑(1)의 구동 시간 등을 입력하기 위한 모듈로서, 물리적인 버튼이나 터치 패널 등으로 다양하게 구현될 수 있다. 또한 입력 인터페이스에는 예를 들어, 전원 버튼, 잠금 버튼, 파워 레벨 조절 버튼(+, -), 타이머 조절 버튼(+, -), 충전 모드 버튼 등이 구비될 수 있다. 그리고, 입력 인터페이스는 입력 인터페이스용 제어 모듈(미도시)에 사용자로부터 제공받은 입력을 전달하고, 입력 인터페이스용 제어 모듈은 전술한 제어 모듈(즉, 인버터용 제어 모듈)로 상기 입력을 전달할 수 있다. 또한 전술한 제어 모듈은 입력 인터페이스용 제어 모듈로부터 제공받은 입력(즉, 사용자의 입력)을 토대로 각종 장치(예를 들어, 워킹 코일)의 동작을 제어할 수 있는바, 이에 대한 구체적인 내용은 생략하도록 한다. For reference, the input interface is a module for inputting a desired heating intensity or operating time of the cooktop 1 of the induction heating method, and may be variously implemented as a physical button or a touch panel. In addition, the input interface may include, for example, a power button, a lock button, a power level adjustment button (+, -), a timer adjustment button (+, -), a charging mode button, and the like. In addition, the input interface may transmit the input received from the user to the control module for the input interface (not shown), and the control module for the input interface may transmit the input to the aforementioned control module (ie, the control module for the inverter). In addition, the above-described control module can control the operation of various devices (eg, a working coil) based on an input (ie, a user input) provided from the control module for the input interface, so that specific details thereof will be omitted. do.

한편, 상판부(15)에는 워킹 코일(WC1, WC2)의 구동 여부 및 가열 세기(즉, 화력)가 화구 모양으로 시각적으로 표시될 수 있다. 이러한 화구 모양은 케이스(25) 내에 구비된 복수개의 발광 소자(예를 들어, LED)로 구성된 인디케이터(미도시)에 의해 표시될 수 있다. Meanwhile, on the upper panel 15 , whether the working coils WC1 and WC2 are driven and the heating intensity (ie, thermal power) may be visually displayed in the shape of a crater. The shape of the crater may be indicated by an indicator (not shown) composed of a plurality of light emitting devices (eg, LEDs) provided in the case 25 .

워킹 코일(WC1, WC2)은 피가열 물체를 가열하기 위해 케이스(25) 내부에 설치될 수 있다.The working coils WC1 and WC2 may be installed inside the case 25 to heat the object to be heated.

구체적으로, 워킹 코일(WC1, WC2)은 전술한 제어 모듈(미도시)에 의해 구동이 제어될 수 있으며, 피가열 물체가 상판부(15) 위에 배치된 경우, 제어 모듈에 의해 구동될 수 있다. Specifically, the working coils WC1 and WC2 may be controlled to be driven by the aforementioned control module (not shown), and when the object to be heated is disposed on the upper plate 15 , the working coils WC1 and WC2 may be driven by the control module.

또한 워킹 코일(WC1, WC2)은 자성을 띠는 피가열 물체(즉, 자성체)를 직접 가열할 수 있고, 자성을 띠지 않는 피가열 물체(즉, 비자성체)를 후술하는 박막(TL1, TL2)을 통해 간접적으로 가열할 수 있다. In addition, the working coils WC1 and WC2 can directly heat an object to be heated (ie, a magnetic body) that exhibits magnetism, and thin films (TL1, TL2) which will be described later for an object to be heated (ie, a non-magnetic body) that do not exhibit magnetism It can be heated indirectly through

그리고 워킹 코일(WC1, WC2)은 유도 가열 방식에 의해 피가열 물체를 가열할 수 있고, 박막(TL1, TL2)과 세로 방향(즉, 수직 방향 또는 상하 방향)으로 오버랩되도록 구비될 수 있다. In addition, the working coils WC1 and WC2 may heat an object to be heated by an induction heating method, and may be provided to overlap the thin films TL1 and TL2 in a vertical direction (ie, a vertical direction or a vertical direction).

참고로, 도 1에는 2개의 워킹 코일(WC1, WC2)이 케이스(25)에 설치되는 것으로 도시되어 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 즉, 1개 또는 3개 이상의 워킹 코일이 케이스(25)에 설치될 수도 있으나, 설명의 편의를 위해 일 실시예에서는, 2개의 워킹 코일(WC1, WC2)이 케이스(25)에 설치되는 것을 예로 들어 설명하기로 한다.For reference, although it is illustrated in FIG. 1 that two working coils WC1 and WC2 are installed in the case 25 , the present invention is not limited thereto. That is, one or three or more working coils may be installed in the case 25 , but for convenience of explanation, in one embodiment, two working coils WC1 and WC2 are installed in the case 25 as an example. listen and explain.

박막(TL1, TL2)은 피가열 물체 중 비자성체를 가열하기 위해 상판부(15)에 코팅될 수 있다.The thin films TL1 and TL2 may be coated on the upper plate portion 15 to heat a non-magnetic material among the objects to be heated.

구체적으로, 박막(TL1, TL2)은 상판부(15)의 상단 표면 또는 하단 표면에 코팅될 수 있고, 워킹 코일(WC1, WC2)과 세로 방향(즉, 수직 방향 또는 상하 방향)으로 오버랩되도록 구비될 수 있다. 이에 따라, 피가열 물체의 배치 위치 및 종류에 상관없이 해당 피가열 물체에 대한 가열이 가능하다. Specifically, the thin films TL1 and TL2 may be coated on the upper surface or the lower surface of the upper plate portion 15, and the working coils WC1 and WC2 and the working coils WC1 and WC2 may be provided to overlap in the vertical direction (ie, in the vertical direction or in the vertical direction). can Accordingly, it is possible to heat the object to be heated regardless of the arrangement position and type of the object to be heated.

또한 박막(TL1, TL2)은 자성 및 비자성 중 적어도 하나의 특성(즉, 자성, 비자성, 또는 자성과 비자성 둘다)을 갖출 수 있다. Also, the thin films TL1 and TL2 may have at least one of magnetic and non-magnetic properties (ie, magnetic, non-magnetic, or both magnetic and non-magnetic).

그리고 박막(TL1, TL2)은 예를 들어, 전도성 물질로 이루어질 수 있고, 도면에 도시된 바와 같이, 서로 다른 직경의 복수개의 링이 반복되는 형상으로 상판부(15)의 상단 표면에 코팅될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.In addition, the thin films TL1 and TL2 may be made of, for example, a conductive material, and as shown in the figure, a plurality of rings of different diameters may be coated on the upper surface of the upper plate 15 in a repeating shape. , but is not limited thereto.

즉, 박막(TL1, TL2)은 전도성 물질이 아닌 다른 재질로 이루어질 수도 있고, 다른 형상으로 상판부(15)에 코팅될 수도 있다. 다만, 설명의 편의를 위해, 일 실시예에서는, 박막(TL1, TL2)이 전도성 물질로 이루어지고, 서로 다른 직경의 복수개의 링이 반복되는 형상으로 상판부(15)에 코팅되는 것을 예로 들어 설명하기로 한다. That is, the thin films TL1 and TL2 may be made of a material other than a conductive material, or may be coated on the upper plate 15 in a different shape. However, for convenience of explanation, in one embodiment, the thin films TL1 and TL2 are made of a conductive material, and a plurality of rings of different diameters are coated on the upper plate 15 in a repeated shape. do it with

참고로, 도 1에는 2개의 박막(TL1, TL2)이 도시되어 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 즉, 1개 또는 3개 이상의 박막이 코팅될 수도 있으나, 설명의 편의를 위해 일 실시예에서는, 2개의 박막(TL1, TL2)이 코팅되는 것을 예로 들어 설명하기로 한다.For reference, although two thin films TL1 and TL2 are illustrated in FIG. 1 , the present invention is not limited thereto. That is, one or three or more thin films may be coated, but for convenience of description, in one embodiment, two thin films TL1 and TL2 are coated as an example.

다만 도 1은 본 개시에서 이용되는 구성들 간의 예시적 배치관계를 설명하기 위한 도면이므로, 구성들의 형태, 개수 및 위치 등이 도 1에 도시된 대로 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. However, since FIG. 1 is a diagram for explaining an exemplary arrangement relationship between components used in the present disclosure, the shape, number, and location of the components should not be construed as being limited as shown in FIG. 1 .

박막(TL1, TL2)에 대한 보다 구체적인 내용은 후술하도록 한다.Further details of the thin films TL1 and TL2 will be described later.

도 2는 일 실시예에 따라 도 1에 도시된 유도 가열 방식의 쿡탑의 케이스 내부에 구비된 구성요소를 설명하는 도면이다. FIG. 2 is a view for explaining the components provided inside the case of the cooktop of the induction heating method shown in FIG. 1 according to an embodiment.

도 2를 참조하면, 일 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑(1)은 단열재(35), 차폐판(45), 지지부재(50), 냉각팬(55)을 더 포함할 수 있다. Referring to FIG. 2 , the cooktop 1 of the induction heating method according to an embodiment may further include a heat insulating material 35 , a shielding plate 45 , a support member 50 , and a cooling fan 55 .

참고로, 제1 워킹 코일(WC1)의 주변에 배치되는 구성 요소와 제2 워킹 코일(도 1의 WC2)의 주변에 배치되는 구성 요소는 동일한바, 이하에서는, 설명의 편의를 위해, 제1 워킹 코일(WC1)을 중심으로 주변 구성 요소(제1 박막(TL1), 단열재(35), 차폐판(45), 지지부재(50), 냉각팬(55))를 설명하도록 한다.For reference, the components disposed around the first working coil WC1 and the components disposed around the second working coil WC2 in FIG. 1 are the same. Hereinafter, for convenience of description, the first The peripheral components (the first thin film TL1 , the heat insulating material 35 , the shielding plate 45 , the support member 50 , and the cooling fan 55 ) will be described centering on the working coil WC1 .

단열재(35)는 상판부(15)의 하단 표면과 제1 워킹 코일(WC1) 사이에 구비될 수 있다. The heat insulating material 35 may be provided between the lower surface of the upper plate part 15 and the first working coil WC1 .

구체적으로, 단열재(35)는 커버 플레이트(20), 즉, 상판부(15)의 하단에 장착될 수 있고, 그 아래에는 제1 워킹 코일(WC1)이 배치될 수 있다.Specifically, the heat insulating material 35 may be mounted on the lower end of the cover plate 20 , that is, the upper plate part 15 , and the first working coil WC1 may be disposed below it.

이러한 단열재(35)는 제1 워킹 코일(WC1)의 구동에 의해 제1 박막(TL1) 또는 피가열 물체(HO)가 가열되면서 발생된 열이 제1 워킹 코일(WC1)로 전달되는 것을 차단할 수 있다. The insulator 35 may block the transfer of heat generated while the first thin film TL1 or the object to be heated HO is heated by the driving of the first working coil WC1 from being transferred to the first working coil WC1. have.

즉, 제1 워킹 코일(WC1)의 전자기 유도에 의해 제1 박막(TL1) 또는 피가열 물체(HO)가 가열되면, 제1 박막(TL1) 또는 피가열 물체(HO)의 열이 상판부(15)로 전달되고, 상판부(15)의 열이 다시 제1 워킹 코일(WC1)로 전달되어 제1 워킹 코일(WC1)이 손상될 수 있다. That is, when the first thin film TL1 or the object to be heated HO is heated by electromagnetic induction of the first working coil WC1 , the heat of the first thin film TL1 or the object HO to be heated is transferred to the upper plate part 15 . ), and the heat of the upper plate part 15 is transferred to the first working coil WC1 again, so that the first working coil WC1 may be damaged.

단열재(35)는 이와 같이, 제1 워킹 코일(WC1)로 전달되는 열을 차단함으로써, 제1 워킹 코일(WC1)이 열에 의해 손상되는 것을 방지할 수 있고, 나아가 제1 워킹 코일(WC1)의 가열 성능이 저하되는 것도 방지할 수 있다. In this way, the heat insulating material 35 blocks the heat transferred to the first working coil WC1, thereby preventing the first working coil WC1 from being damaged by heat, and furthermore, the first working coil WC1. It can also prevent the heating performance from falling.

참고로, 필수적인 구성 요소는 아니지만, 스페이서(미도시)가 제1 워킹 코일(WC1)과 단열재(35) 사이에 설치될 수도 있다.For reference, although it is not an essential component, a spacer (not shown) may be installed between the first working coil WC1 and the heat insulating material 35 .

구체적으로, 스페이서는 제1 워킹 코일(WC1)과 단열재(35)가 직접 접촉하지 않도록 제1 워킹 코일(WC1)과 단열재(35) 사이에 삽입될 수 있다. 이에 따라, 스페이서는 제1 워킹 코일(WC1)의 구동에 의해 제1 박막(TL1) 또는 피가열 물체(HO)가 가열되면서 발생된 열이 단열재(35)를 통해 제1 워킹 코일(WC1)로 전달되는 것을 차단할 수 있다. Specifically, the spacer may be inserted between the first working coil WC1 and the insulator 35 so that the first working coil WC1 and the insulator 35 do not directly contact each other. Accordingly, in the spacer, heat generated while the first thin film TL1 or the object to be heated HO is heated by the driving of the first working coil WC1 is transferred to the first working coil WC1 through the heat insulating material 35 . transmission can be blocked.

즉, 스페이서가 단열재(35)의 역할을 일부 분담할 수 있는바, 단열재(35)의 두께를 최소화할 수 있고, 이를 통해 피가열 물체(HO)와 제1 워킹 코일(WC1) 사이의 간격을 최소화할 수 있다.That is, since the spacer can partially share the role of the insulating material 35 , the thickness of the insulating material 35 can be minimized, thereby reducing the gap between the object to be heated HO and the first working coil WC1 . can be minimized

또한 스페이서는 복수개가 구비될 수 있고, 복수개의 스페이서는 제1 워킹 코일(WC1)과 단열재(35) 사이에 서로 이격되도록 배치될 수 있다. 이에 따라, 후술하는 냉각팬(55)에 의해 케이스(25) 내부로 흡입된 공기는 스페이서에 의해 제1 워킹 코일(WC1)로 안내될 수 있다. In addition, a plurality of spacers may be provided, and the plurality of spacers may be disposed to be spaced apart from each other between the first working coil WC1 and the heat insulating material 35 . Accordingly, the air sucked into the case 25 by the cooling fan 55 to be described later may be guided to the first working coil WC1 by the spacer.

즉, 스페이서는 냉각팬(55)에 의해 케이스(25) 내부로 유입된 공기가 제1 워킹 코일(WC1)로 적절하게 전달될 수 있도록 안내함으로써 제1 워킹 코일(WC1)의 냉각 효율을 개선할 수 있다. That is, the spacer guides the air introduced into the case 25 by the cooling fan 55 to be properly transferred to the first working coil WC1, thereby improving the cooling efficiency of the first working coil WC1. can

차폐판(45)은 제1 워킹 코일(WC1)의 하단에 장착되어 제1 워킹 코일(WC1)의 구동시 하방으로 발생되는 자기장을 차단할 수 있다.The shielding plate 45 may be mounted on the lower end of the first working coil WC1 to block a magnetic field generated downward when the first working coil WC1 is driven.

구체적으로, 차폐판(45)은 제1 워킹 코일(WC1)의 구동시 하방으로 발생되는 자기장을 차단할 수 있고, 지지부재(50)에 의해 상방으로 지지될 수 있다.Specifically, the shielding plate 45 may block a magnetic field generated downward when the first working coil WC1 is driven, and may be supported upward by the support member 50 .

지지부재(50)는 차폐판(45)의 하단 표면과 케이스(25)의 하단 표면 사이에 설치되어 차폐판(45)을 상방으로 지지할 수 있다.The support member 50 may be installed between the lower surface of the shielding plate 45 and the lower surface of the case 25 to support the shielding plate 45 upward.

구체적으로, 지지부재(50)는 차폐판(45)을 상방으로 지지함으로써, 단열재(35)와 제1 워킹 코일(WC1)을 상방으로 간접적으로 지지할 수 있고, 이를 통해, 단열재(35)가 상판부(15)에 밀착되도록 할 수 있다. Specifically, the support member 50 may support the shielding plate 45 upwardly, thereby indirectly supporting the insulating material 35 and the first working coil WC1 upwardly, through which the insulating material 35 is It can be made to be in close contact with the upper plate (15).

그 결과, 제1 워킹 코일(WC1)과 피가열 물체(HO) 사이의 간격을 일정하게 유지할 수 있다.As a result, the distance between the first working coil WC1 and the object to be heated HO may be constantly maintained.

참고로, 지지부재(50)는 예를 들어, 차폐판(45)을 상방으로 지지하기 위한 탄성체(예를 들어, 스프링)를 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 또한 지지부재(50)는 필수적인 구성요소가 아닌바, 유도 가열 방식의 쿡탑(1)에서 생략될 수 있다. For reference, the support member 50 may include, for example, an elastic body (eg, a spring) for supporting the shielding plate 45 upward, but is not limited thereto. In addition, since the support member 50 is not an essential component, it may be omitted from the induction heating type cooktop 1 .

냉각팬(55)은 제1 워킹 코일(WC1)을 냉각하기 위해 케이스(25) 내부에 설치될 수 있다.The cooling fan 55 may be installed inside the case 25 to cool the first working coil WC1 .

구체적으로, 냉각팬(55)은 전술한 제어 모듈에 의해 구동이 제어될 수 있고, 케이스(25)의 측벽에 설치될 수 있다. 물론, 냉각팬(55)은 케이스(25)의 측벽이 아닌 다른 위치에 설치될 수도 있으나, 일 실시예에서는, 설명의 편의를 위해, 냉각팬(55)이 케이스(25)의 측벽에 설치되는 것을 예로 들어 설명하기로 한다.Specifically, the cooling fan 55 may be controlled to be driven by the aforementioned control module, and may be installed on the sidewall of the case 25 . Of course, the cooling fan 55 may be installed at a location other than the sidewall of the case 25 , but in one embodiment, for convenience of explanation, the cooling fan 55 is installed on the sidewall of the case 25 . will be described with an example.

또한 냉각팬(55)은 도 2에 도시된 바와 같이, 케이스(25) 외부의 공기를 흡입하여 제1 워킹 코일(WC1)로 전달하거나 케이스(25) 내부의 공기(특히, 열기)를 흡입하여 케이스(25) 외부로 배출할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 2 , the cooling fan 55 sucks air from the outside of the case 25 and delivers it to the first working coil WC1 or sucks air (particularly, hot air) inside the case 25 . The case 25 may be discharged to the outside.

이를 통해, 케이스(25) 내부의 구성 요소들(특히, 제1 워킹 코일(WC1))의 효율적인 냉각이 가능하다.Through this, efficient cooling of the components inside the case 25 (particularly, the first working coil WC1) is possible.

또한 전술한 바와 같이, 냉각팬(55)에 의해 제1 워킹 코일(WC1)로 전달된 케이스(25) 외부의 공기는 스페이서에 의해 제1 워킹 코일(WC1)로 안내될 수 있다. 이에 따라, 제1 워킹 코일(WC1)에 대한 직접적이고 효율적인 냉각이 가능해져 제1 워킹 코일(WC1)의 내구성 개선(즉, 열 손상 방지에 따른 내구성 개선)이 가능하다.Also, as described above, the air outside the case 25 delivered to the first working coil WC1 by the cooling fan 55 may be guided to the first working coil WC1 by the spacer. Accordingly, direct and efficient cooling of the first working coil WC1 is possible, so that durability of the first working coil WC1 can be improved (that is, durability improvement due to prevention of thermal damage).

이와 같이, 일 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑(1)은 전술한 특징 및 구성을 가질 수 있는바, 이하에서는, 도 3 내지 도 6을 참조하여, 전술한 박막의 특징 및 구성을 보다 구체적으로 설명하도록 한다.As such, the cooktop 1 of the induction heating method according to an embodiment may have the above-described characteristics and configuration. Hereinafter, with reference to FIGS. 3 to 6 , the characteristics and configuration of the above-described thin film will be described in more detail. to be explained as

도 3 및 도 4는 일 실시예에 따라 박막의 두께와 스킨 뎁스(skin depth) 간 관계를 설명하는 도면들이다. 도 5 및 도 6은 일 실시예에 따라 피가열 물체의 종류에 따른 박막과 피가열 물체 간 임피던스 변화를 설명하는 도면들이다.3 and 4 are diagrams illustrating a relationship between a thickness of a thin film and a skin depth according to an exemplary embodiment. 5 and 6 are diagrams for explaining a change in impedance between a thin film and an object to be heated according to the type of the object to be heated, according to an embodiment.

참고로, 제1 박막(TL1)과 제2 박막(TL2)은 동일한 기술적 특징을 가지고, 박막(TL1, TL2)은 상판부(15)의 상단 표면 또는 하단 표면에 코팅될 수 있는바, 이하에서는, 설명의 편의를 위해, 상판부(15)의 상단 표면에 코팅된 제1 박막(TL1)을 예로 들어, 설명하도록 한다.For reference, the first thin film TL1 and the second thin film TL2 have the same technical characteristics, and the thin films TL1 and TL2 may be coated on the upper surface or the lower surface of the upper plate part 15, in the following, For convenience of description, the first thin film TL1 coated on the upper surface of the upper plate part 15 will be described as an example.

제1 박막(TL1)의 특징을 살펴보면 다음과 같다.The characteristics of the first thin film TL1 are as follows.

먼저, 제1 박막(TL1)은 낮은 비투자율(relative permeability)을 가진 재질로 이루어질 수 있다.First, the first thin film TL1 may be made of a material having low relative permeability.

구체적으로, 제1 박막(TL1)의 비투자율이 낮은바, 제1 박막(TL1)의 스킨 뎁스는 깊을 수 있다. 여기에서, 스킨 뎁스는 재질 표면으로부터의 전류 침투 깊이를 의미하고, 비투자율은 스킨 뎁스(skin depth)와 반비례 관계일 수 있다. 이에 따라, 제1 박막(TL1)의 비투자율이 낮을수록 제1 박막(TL1)의 스킨 뎁스는 깊어지는 것이다. Specifically, since the relative magnetic permeability of the first thin film TL1 is low, the skin depth of the first thin film TL1 may be deep. Here, the skin depth means a current penetration depth from the surface of the material, and the relative magnetic permeability may be inversely proportional to the skin depth. Accordingly, as the relative magnetic permeability of the first thin film TL1 decreases, the skin depth of the first thin film TL1 increases.

또한, 제1 박막(TL1)의 스킨 뎁스(skin depth)는 제1 박막(TL1)의 두께보다 깊을 수 있다. 즉, 제1 박막(TL1)은 얇은 두께(예를 들어, 0.1um~1,000um 두께)를 가지고, 제1 박막(TL1)의 스킨 뎁스는 제1 박막(TL1)의 두께보다 깊은바, 제1 워킹 코일(WC1)에 의해 발생된 자기장이 제1 박막(TL1)을 통과하여 피가열 물체(HO)까지 전달됨으로써 피가열 물체(HO)에 와전류가 유도될 수 있는 것이다.Also, a skin depth of the first thin film TL1 may be greater than a thickness of the first thin film TL1 . That is, the first thin film TL1 has a thin thickness (eg, 0.1 μm to 1,000 μm), and the skin depth of the first thin film TL1 is deeper than the thickness of the first thin film TL1 , As the magnetic field generated by the working coil WC1 passes through the first thin film TL1 and is transmitted to the object HO to be heated, an eddy current may be induced in the object HO to be heated.

즉, 도 3에 도시된 바와 같이, 제1 박막(TL1)의 스킨 뎁스가 제1 박막(TL1)의 두께보다 얕은 경우, 제1 워킹 코일(WC1)에 의해 발생된 자기장이 피가열 물체(HO)까지 도달하기 어렵다는 것을 알 수 있다. That is, as shown in FIG. 3 , when the skin depth of the first thin film TL1 is shallower than the thickness of the first thin film TL1 , the magnetic field generated by the first working coil WC1 is the object HO to be heated. ) is difficult to reach.

그러나, 일 실시예와 같이(즉, 도 4에 도시된 바와 같이), 제1 박막(TL1)의 스킨 뎁스가 제1 박막(TL1)의 두께보다 깊은 경우, 제1 워킹 코일(WC1)에 의해 발생된 자기장이 피가열 물체(HO)로 대부분 전달된다는 것을 알 수 있다. 즉, 일 실시예에서는, 제1 박막(TL1)의 스킨 뎁스가 제1 박막(TL1)의 두께보다 깊은바, 제1 워킹 코일(WC1)에 의해 발생된 자기장이 제1 박막(TL1)을 통과하여 피가열 물체(HO)에서 대부분 소진되고, 이를 통해, 피가열 물체(HO)가 주로 가열될 수 있는 것이다. However, as in one embodiment (ie, as shown in FIG. 4 ), when the skin depth of the first thin film TL1 is greater than the thickness of the first thin film TL1 , the first working coil WC1 It can be seen that most of the generated magnetic field is transferred to the object to be heated (HO). That is, in an embodiment, since the skin depth of the first thin film TL1 is greater than the thickness of the first thin film TL1 , the magnetic field generated by the first working coil WC1 passes through the first thin film TL1 . Thus, most of the object to be heated (HO) is consumed, and through this, the object to be heated (HO) can be mainly heated.

한편, 제1 박막(TL1)은 전술한 바와 같이 얇은 두께를 가지는바, 제1 워킹 코일(WC1)에 의해 가열될 수 있는 저항값을 가질 수 있다. Meanwhile, since the first thin film TL1 has a thin thickness as described above, it may have a resistance value that can be heated by the first working coil WC1 .

구체적으로, 제1 박막(TL1)의 두께는 제1 박막(TL1)의 저항값(즉, 표면 저항값)과 반비례 관계일 수 있다. 즉, 상판부(15)에 코팅되는 제1 박막(TL1)의 두께가 얇을수록 제1 박막(TL1)의 저항값(즉, 표면 저항)이 커지는바, 제1 박막(TL1)은 상판부(15)에 얇게 코팅됨으로써 가열 가능한 부하로 특성 변화될 수 있다.Specifically, the thickness of the first thin film TL1 may be in inverse proportion to a resistance value (ie, surface resistance value) of the first thin film TL1 . That is, as the thickness of the first thin film TL1 coated on the upper plate part 15 becomes thinner, the resistance value (ie, surface resistance) of the first thin film TL1 increases, and the first thin film TL1 is the upper plate part 15 . By being coated thinly, the properties can be changed with a load that can be heated.

참고로, 제1 박막(TL1)은 예를 들어, 0.1um 내지 1,000um 사이의 두께를 가질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.For reference, the first thin film TL1 may have a thickness of, for example, 0.1 μm to 1,000 μm, but is not limited thereto.

이와 같은 특징을 가지는 제1 박막(TL1)은 비자성체를 가열하기 위해 존재하는바, 제1 박막(TL1)과 피가열 물체(HO) 간 임피던스 특성은 상판부(15)의 상단에 배치되는 피가열 물체(HO)가 자성체인지 또는 비자성체인지에 따라 변화될 수 있다.The first thin film TL1 having such a characteristic is present to heat the non-magnetic material, and the impedance characteristic between the first thin film TL1 and the object HO to be heated is an impedance characteristic between the first thin film TL1 and the object to be heated HO disposed on the upper end of the upper plate 15 . It may change depending on whether the object HO is a magnetic substance or a non-magnetic substance.

먼저, 피가열 물체가 자성체인 경우를 설명하자면 다음과 같다.First, the case where the object to be heated is a magnetic material will be described as follows.

도 2 및 도 5를 참조하면, 자성을 띠는 피가열 물체(HO)가 상판부(15)의 상단에 배치되고, 제1 워킹 코일(WC1)이 구동되는 경우, 자성을 띠는 피가열 물체(HO)의 저항 성분(R1) 및 인덕터 성분(L1)은 제1 박막(TL1)의 저항 성분(R2) 및 인덕터 성분(L2)과 등가회로를 형성할 수 있다.2 and 5, when the magnetic object HO is disposed on the upper end of the upper plate 15 and the first working coil WC1 is driven, the magnetic object to be heated ( The resistance component R1 and the inductor component L1 of the HO) may form an equivalent circuit with the resistance component R2 and the inductor component L2 of the first thin film TL1 .

이 경우, 등가회로에서 자성을 띠는 피가열 물체의 임피던스(impedance)(즉, R1과 L1으로 구성된 임피던스)는 제1 박막(TL1)의 임피던스(즉, R2와 L2로 구성된 임피던스)보다 작을 수 있다.In this case, the impedance (i.e., impedance composed of R1 and L1) of the object to be heated that is magnetic in the equivalent circuit may be smaller than the impedance of the first thin film (TL1) (i.e., impedance composed of R2 and L2). have.

이에 따라, 전술한 등가회로가 형성되는 경우, 자성을 띠는 피가열 물체(HO)로 인가된 와전류(I1)의 크기는 제1 박막(TL1)으로 인가된 와전류(I2)의 크기보다 클 수 있다. 보다 구체적으로, 대부분의 와전류가 피가열 물체(HO)로 인가되어 피가열 물체(HO)가 가열될 수 있다. Accordingly, when the above-described equivalent circuit is formed, the magnitude of the eddy current I1 applied to the magnetically heated object HO may be greater than the magnitude of the eddy current I2 applied to the first thin film TL1. have. More specifically, most of the eddy current may be applied to the object HO to be heated, so that the object HO may be heated.

즉, 피가열 물체(HO)가 자성체인 경우, 전술한 등가회로가 형성되어 대부분의 와전류가 피가열 물체(HO)로 인가되는바, 제1 워킹 코일(WC1)은 피가열 물체(HO)를 직접 가열할 수 있다. That is, when the object to be heated HO is a magnetic material, the above-described equivalent circuit is formed and most of the eddy current is applied to the object HO to be heated, and the first working coil WC1 is the object to be heated HO. It can be heated directly.

물론, 제1 박막(TL1)에도 일부 와전류가 인가되어 제1 박막(TL1)이 약간 가열되는바, 피가열 물체(HO)는 제1 박막(TL1)에 의해 간접적으로 약간 가열될 수 있다. 다만, 제1 워킹 코일(WC1)에 의해 피가열 물체(HO)가 직접 가열되는 정도와 비교하였을 때, 제1 박막(TL1)에 의해 피가열 물체(HO)가 간접적으로 가열되는 정도는 유의미하다고 할 수 없다.Of course, some eddy current is also applied to the first thin film TL1 to slightly heat the first thin film TL1 , and the object HO to be heated may be indirectly slightly heated by the first thin film TL1 . However, compared with the degree of direct heating of the object HO by the first working coil WC1, the degree of indirect heating of the object HO by the first thin film TL1 is significant. Can not.

반면에 피가열 물체가 비자성체인 경우를 설명하자면 다음과 같다.On the other hand, the case where the object to be heated is a non-magnetic material is as follows.

도 2 및 도 6을 참조하면, 자성을 띠지 않는 피가열 물체(HO)가 상판부(15)의 상단에 배치되고, 제1 워킹 코일(WC1)이 구동되는 경우, 자성을 띠지 않는 피가열 물체(HO)에는 임피던스가 존재하지 않고, 제1 박막(TL1)에는 임피던스가 존재할 수 있다. 즉, 제1 박막(TL1)에만 저항 성분(R) 및 인덕터 성분(L)이 존재할 수 있다.2 and 6, when the non-magnetic to-be-heated object HO is disposed on the upper end of the upper plate 15 and the first working coil WC1 is driven, the non-magnetic to-be-heated object ( HO) does not have an impedance, and the first thin film TL1 may have an impedance. That is, the resistance component R and the inductor component L may exist only in the first thin film TL1 .

이에 따라, 제1 박막(TL1)에만 와전류(I)가 인가되고, 자성을 띠지 않는 피가열 물체(HO)에는 와전류가 인가되지 않을 수 있다. 보다 구체적으로, 와전류(I)가 제1 박막(TL1)에만 인가되어 제1 박막(TL1)이 가열될 수 있다. Accordingly, the eddy current I may be applied only to the first thin film TL1 , and the eddy current may not be applied to the object HO that is not magnetic. More specifically, the eddy current I may be applied only to the first thin film TL1 to heat the first thin film TL1 .

즉, 피가열 물체(HO)가 비자성체인 경우, 전술한 바와 같이, 와전류(I)가 제1 박막(TL1)으로 인가되어 제1 박막(TL1)이 가열되는바, 자성을 띠지 않는 피가열 물체(HO)는 제1 워킹 코일(WC1)에 의해 가열된 제1 박막(TL1)에 의해 간접적으로 가열될 수 있다. That is, when the object HO to be heated is a non-magnetic material, as described above, the eddy current I is applied to the first thin film TL1 to heat the first thin film TL1 , and thus the heating target that does not exhibit magnetism is heated. The object HO may be indirectly heated by the first thin film TL1 heated by the first working coil WC1 .

정리하자면, 피가열 물체(HO)가 자성체인지 또는 비자성체인지 여부와 상관없이 제1 워킹 코일(WC1)이라는 하나의 열원에 의해 피가열 물체(HO)가 직간접적으로 가열될 수 있다. 즉, 피가열 물체(HO)가 자성체인 경우, 제1 워킹 코일(WC1)이 직접 피가열 물체(HO)를 가열하고, 피가열 물체(HO)가 비자성체인 경우, 제1 워킹 코일(WC1)에 의해 가열된 제1 박막(TL1)이 피가열 물체(HO)를 간접적으로 가열할 수 있는 것이다. In summary, the object HO to be heated may be directly or indirectly heated by one heat source called the first working coil WC1 regardless of whether the object HO is a magnetic material or a non-magnetic material. That is, when the object to be heated HO is a magnetic material, the first working coil WC1 directly heats the object HO, and when the object HO to be heated is a non-magnetic material, the first working coil WC1 The first thin film TL1 heated by ) may indirectly heat the object HO to be heated.

전술한 바와 같이, 일 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑(1)은 자성체와 비자성체 모두를 가열할 수 있는바, 피가열 물체의 배치 위치 및 종류에 상관없이 해당 피가열 물체를 가열할 수 있다. 이에 따라, 사용자는 피가열 물체가 자성체인지 비자성체인지 여부를 파악할 필요 없이 상판부 상의 임의의 가열 영역에 피가열 물체를 올려놓아도 되는바, 사용 편의성이 개선될 수 있다.As described above, the cooktop 1 of the induction heating method according to an embodiment can heat both a magnetic material and a non-magnetic material, so that the object to be heated can be heated regardless of the arrangement position and type of the object to be heated. have. Accordingly, the user may place the object to be heated on any heating area on the upper plate without having to determine whether the object to be heated is a magnetic material or a non-magnetic material, and thus ease of use may be improved.

또한 일 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑(1)은 동일 열원으로 피가열 물체를 직간접적으로 가열할 수 있는바, 별도의 가열판 또는 라디언트 히터를 구비할 필요가 없다. 이에 따라, 가열 효율을 높일 수 있을 뿐만 아니라 재료비를 절감할 수 있다. In addition, the cooktop 1 of the induction heating method according to an embodiment can directly or indirectly heat an object to be heated with the same heat source, so there is no need to provide a separate heating plate or a radiator heater. Accordingly, it is possible to not only increase the heating efficiency but also reduce the material cost.

이하에서는, 다른 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑을 설명하도록 한다.Hereinafter, a cooktop of an induction heating method according to another embodiment will be described.

도 7은 다른 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑을 설명하는 도면이다. 도 8은 도 7에 도시된 유도 가열 방식의 쿡탑의 케이스 내부에 구비된 구성요소를 설명하는 도면이다. 도 9는 도 7에 도시된 유도 가열 방식의 쿡탑에 피가열 물체가 배치된 모습을 설명하는 도면이다.7 is a view for explaining an induction heating type cooktop according to another embodiment. 8 is a view for explaining the components provided inside the case of the cooktop of the induction heating method shown in FIG. 7 . 9 is a view for explaining a state in which an object to be heated is disposed on the cooktop of the induction heating method shown in FIG. 7 .

참고로, 다른 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑(2)은 도 1의 유도 가열 방식의 쿡탑(1)과 일부 구성 요소 및 효과를 제외하고는 동일한바, 차이점을 중심으로 설명하도록 한다.For reference, the cooktop 2 of the induction heating method according to another embodiment is the same as the cooktop 1 of the induction heating method of FIG. 1 except for some components and effects, and the differences will be mainly described.

도 7 및 도 8을 참조하면, 다른 실시예에 따른 유도 가열 방식의 쿡탑(2)은 도 1의 유도 가열 방식의 쿡탑(1)과 달리, 존프리(ZONE FREE) 방식의 쿡탑일 수 있다.7 and 8 , the induction heating type cooktop 2 according to another embodiment may be a zone-free type cooktop, unlike the induction heating type cooktop 1 of FIG. 1 .

구체적으로, 유도 가열 방식의 쿡탑(2)은 케이스(25), 커버 플레이트(20), 복수개의 박막(TLG), 단열재(35), 복수개의 워킹 코일(WCG), 차폐판(45), 지지부재(50), 냉각팬(미도시), 스페이서(미도시), 제어 모듈(미도시)을 포함할 수 있다.Specifically, the induction heating type cooktop 2 includes a case 25 , a cover plate 20 , a plurality of thin films (TLG), an insulating material 35 , a plurality of working coils (WCG), a shielding plate 45 , and a support. It may include a member 50, a cooling fan (not shown), a spacer (not shown), and a control module (not shown).

여기에서, 복수개의 박막(TLG)과 복수개의 워킹 코일(WCG)은 세로 방향으로 서로 오버랩될 수 있고, 각각이 일대일 대응되도록 배치될 수 있다. 물론, 복수개의 박막(TLG)과 복수개의 워킹 코일(WCG)이 1대1 대응이 아닌 다(多)대1 대응 또는 1대다(多) 대응일 수도 있으나, 설명의 편의를 위해, 다른 실시예에서는, 복수개의 박막(TLG)과 복수개의 워킹 코일(WCG)이 일대일 대응되도록 배치되는 것을 예로 들어 설명하기로 한다.Here, the plurality of thin films TLG and the plurality of working coils WCG may overlap each other in the vertical direction, and may be disposed to correspond to each other one-to-one. Of course, the plurality of thin films (TLG) and the plurality of working coils (WCG) may not correspond to one-to-one, but may correspond to many-to-one or one-to-many, but for convenience of explanation, another embodiment In the description, an example in which the plurality of thin films TLG and the plurality of working coils WCG are arranged to correspond one-to-one will be described as an example.

즉, 유도 가열 방식의 쿡탑(2)은 복수개의 박막(TLG)과 복수개의 워킹 코일(WCG)을 포함하는 존프리 방식의 쿡탑인바, 하나의 피가열 물체(HO)를 복수개의 워킹 코일(WCG) 중 일부 또는 전부로 동시에 가열하거나 복수개의 박막(TLG) 중 일부 또는 전부로 동시에 가열할 수 있다. 물론, 복수개의 워킹 코일(WCG) 중 일부 또는 전부 및 복수개의 박막(TLG) 중 일부 또는 전부 둘다를 이용하여 피가열 물체(HO)를 가열할 수도 있다. That is, the cooktop 2 of the induction heating method is a zone-free type cooktop including a plurality of thin films (TLG) and a plurality of working coils (WCG), and a plurality of working coils (WCG) for one object to be heated (HO). ) may be heated simultaneously with some or all of the ), or may be simultaneously heated with some or all of the plurality of thin films (TLG). Of course, the object HO to be heated may be heated using some or all of the plurality of working coils WCG and some or all of the plurality of thin films TLG.

따라서, 도 9에 도시된 바와 같이, 복수개의 워킹 코일(도 8의 WCG) 및 복수개의 박막(TLG)이 존재하는 영역(예를 들어, 상판부(15) 영역) 내에서는 피가열 물체(HO1, HO2)의 크기, 위치, 종류에 상관없이 피가열 물체(HO1, HO2)의 가열이 가능하다. Therefore, as shown in FIG. 9, in the region (eg, the upper plate portion 15 region) in which the plurality of working coils (WCG in FIG. 8) and the plurality of thin films (TLG) exist, the object to be heated (HO1, It is possible to heat the objects to be heated (HO1, HO2) regardless of the size, location, and type of HO2).

이와 같이 상판부(15) 상에 배치된 박막(TL)이 직접 유도 가열되는 쿡탑(1 또는 2)에서는 얇은 두께를 가지는 박막(TL)이 유도 가열로 인해 약 600℃ 이상까지 가열되는 경우, 절대적으로 상승하게 되는 온도 구간 뿐만 아니라 그 온도 상승 속도가 매우 빨라 정확한 온도 측정을 위한 지연시간이 필요한 종래의 온도 센서(예를 들면, 써미스터)를 통한 온도 측정 시 그 오차가 매우 클 수 있으며 이에 따라 쿡탑의 부품이 파손될 수 있다. 따라서 이러한 유도 가열되는 박막(TL)의 온도를 측정하기 위해서는 종래의 기술과는 다른 방식으로 온도 측정 방식이 요구된다. 특히, 상판부(15) 상에 배치되는 피가열 물체(HO)가 비자성 재질인 경우 피가열 물체(HO)는 유도 가열되지 않고 박막(TL)이 유도 가열 됨으로써 피가열 물체(HO)로의 열 전도를 통해 가열이 이루어지므로 매우 급격하게 상승하는 박막(TL)의 온도를 정확하고 신속하게 측정하는 것이 매우 중요하다.In the cooktop 1 or 2 in which the thin film TL disposed on the upper plate 15 is directly induction heated as described above, when the thin film TL having a thin thickness is heated to about 600° C. or higher due to induction heating, absolutely In addition to the temperature range in which the temperature rises, the error may be very large when measuring the temperature through a conventional temperature sensor (eg thermistor) that requires a delay time for accurate temperature measurement because the temperature increase rate is very fast. Parts may be damaged. Therefore, in order to measure the temperature of the inductively heated thin film TL, a temperature measurement method is required in a manner different from that of the prior art. In particular, when the object to be heated HO disposed on the upper plate 15 is made of a non-magnetic material, the object to be heated HO is not inductively heated and the thin film TL is inductively heated to conduct heat to the object HO. Since heating is performed through the

도 10은 일 실시예에 따라 박막의 온도 추정을 수행하는 유도 가열 방식의 쿡탑(1000)에 포함된 구성들을 나타내는 블록도이다.10 is a block diagram illustrating components included in the cooktop 1000 of an induction heating method for performing temperature estimation of a thin film according to an embodiment.

일 실시예에 따라 도 10으로부터의 설명에 활용되는 유도 가열 방식의 쿡탑(1000)은 도 1 내지 도 9를 통해 상술한 다양한 실시예에서 이용되는 유도 가열 방식의 쿡탑(1)에 대응되는 것일 수 있다. 따라서, 도 10에 도시되지 않은 유도 가열 방식의 쿡탑(1000)의 구성요소는 도 1 내지 도 9 및 그에 대한 설명을 통해 뒷받침되는 범위 내에서 쿡탑(1)의 구성요소를 선택적으로 포함할 수 있는 것으로 이해될 수 있다. 나아가 도 10에 도시된 구성 중 도 1 내지 도 9의 구성에 대응되는 구성은 도 1 내지 도 9에 관하여 설명한 상술한 실시예들에 대한 특징에 대응되는 특징을 가질 수 있다.According to an embodiment, the cooktop 1000 of the induction heating method used in the description from FIG. 10 may correspond to the cooktop 1 of the induction heating method used in the various embodiments described above with reference to FIGS. 1 to 9. have. Accordingly, the components of the cooktop 1000 of the induction heating method not shown in FIG. 10 may selectively include components of the cooktop 1 within the range supported through FIGS. 1 to 9 and the description thereof. can be understood as Furthermore, among the configurations shown in FIG. 10 , a configuration corresponding to the configuration of FIGS. 1 to 9 may have features corresponding to the features of the embodiments described with reference to FIGS. 1 to 9 .

도 10을 참조하면, 유도 가열 방식의 쿡탑(1000)은 일 실시예에 따라, 케이스의 상단에 결합되고, 상단에 피가열 물체가 배치되는 상판부가 구비된 커버 플레이트(1010); 상판부(15)의 상단 및 하단 중 적어도 하나에 코팅된 박막(1020); 박막(1020)을 유도 가열하기 위해 케이스 내부에 구비된 워킹 코일(1050); 박막(1020)의 온도와 박막(1020)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 미리 저장하도록 구성되는 메모리(1030); 및 상관관계에 대한 정보에 기초하여 워킹 코일(1050)에 의해 유도 가열된 박막(1020)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보를 박막(1020)의 현재 온도로서 결정하도록 구성되는 MCU(1040)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 10 , the induction heating type cooktop 1000 includes a cover plate 1010 coupled to an upper end of a case and provided with an upper plate on which an object to be heated is disposed; a thin film 1020 coated on at least one of the top and bottom of the upper plate 15; a working coil 1050 provided inside the case for inductively heating the thin film 1020; a memory 1030 configured to store in advance information on the correlation between the temperature of the thin film 1020 and the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the thin film 1020; and estimated temperature information corresponding to the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the thin film 1020 inductively heated by the working coil 1050 based on the information on the correlation as the current temperature of the thin film 1020 MCU 1040 configured to determine.

일 실시예에 따라 상판부(15)의 상단에 박막(1020)이 배치될 수 있으며 추가 금속막(ML)은 이러한 상판부(15)의 하단에 배치될 수 있다. 일 실시예에 따라 추가 금속막(ML)은 상판부(15)의 하단 및 단열재(35)의 상단에 배치될 수 있다. 일 실시예에 따라 박막(1020)은 커버 플레이트(1010)에 포함되는 상판부(15) 상에 배치되어 피가열 물체(HO)와 접촉할 수 있다. According to an exemplary embodiment, the thin film 1020 may be disposed on the upper end of the upper plate part 15 , and the additional metal film ML may be disposed on the lower end of the upper plate part 15 . According to an exemplary embodiment, the additional metal layer ML may be disposed on the lower end of the upper plate part 15 and the upper end of the heat insulating material 35 . According to an embodiment, the thin film 1020 may be disposed on the upper plate portion 15 included in the cover plate 1010 to contact the object HO to be heated.

일 실시예에 따라 상판부(15)의 상단에 박막(1020)이 배치되는 대신 커버 플레이트(1010)의 하단에 박막(1020)이 배치될 수 있다. 일 실시예에 따라 박막(1020)은 커버 플레이트(1010)의 하단에 접촉 또는 코팅된 것일 수 있거나 또는 박막(1020)으로 인한 격차를 줄이기 위해 커버 플레이트(1010)의 하단 표면의 일부를 이룰 수도 있다. 즉, 이 경우 박막(1020)은 상판부(15)의 상단 표면에 배치되지 않아 외부에 노출되지 않으면서 커버 플레이트(1010)의 하단면에 다양한 방식으로 배치될 수도 있다. According to an exemplary embodiment, the thin film 1020 may be disposed at the lower end of the cover plate 1010 instead of the thin film 1020 disposed on the upper end of the upper plate portion 15 . According to an embodiment, the thin film 1020 may be in contact with or coated on the lower end of the cover plate 1010 , or may form a part of the lower surface of the cover plate 1010 in order to reduce a gap due to the thin film 1020 . . That is, in this case, the thin film 1020 may be disposed on the lower surface of the cover plate 1010 in various ways without being exposed to the outside because it is not disposed on the upper surface of the upper plate part 15 .

다만 도 10은 유도 가열 방식의 쿡탑에 어떠한 구성들이 이용되는지에 대한 관계를 설명하기 위한 도면이므로, 도 10의 블록들 간의 위치, 개수 및 포함관계 등으로 실시예들이 한정 해석되어서는 안 된다. However, since FIG. 10 is a diagram for explaining the relationship of which components are used in the cooktop of the induction heating method, the embodiments should not be construed as being limited to the location, number, and inclusion relationship between the blocks of FIG. 10 .

일 실시예에 따라 메모리(1030)는 박막(1020)의 온도와 박막(1020)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 미리 저장하도록 구성될 수 있으며, 이러한 상관관계에 대한 정보는 적어도 MCU(1040)에 의해 박막(1020)의 현재 온도를 결정하기 전에 저장된 것일 수 있다. 일 실시예에 따라 상관관계에 대한 정보는, 박막(1020)의 온도마다의 등가 회로의 저항 성분 및 인덕터 성분 중 적어도 하나를 박막(1020)의 두께 및 워킹 코일(1050)이 구동되는 주파수를 기준으로 정리한 데이터일 수 있다. According to an embodiment, the memory 1030 may be configured to store in advance information on the correlation between the temperature of the thin film 1020 and the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the thin film 1020 , such The information on the correlation may be stored at least before the current temperature of the thin film 1020 is determined by the MCU 1040 . According to an embodiment, the correlation information is based on the thickness of the thin film 1020 and the frequency at which the working coil 1050 is driven by using at least one of a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit for each temperature of the thin film 1020 . It may be data organized by .

일 실시예에 따라 미리 저장된 상관관계에 대한 정보에 포함된 저항 성분 및 인덕터 성분은 출력 전력 및 공진 전류의 값을 통해 계산된 저항 성분 및 인덕터 성분이 계산된 것일 수 있다. 일 실시예에 따라 미리 구성된 쿡탑(1000)의 회로 상에서 커패시턴스(capacitance)의 값은 일정하기 때문에, 구동 중인 워킹 코일(1050)에 의해 유도 가열된 박막(1020)의 실제 가열 온도에서의 출력 전력 및 공진 전류를 알 수 있다면, 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분은 산출될 수 있다. According to an embodiment, the resistance component and the inductor component included in the correlation information stored in advance may be calculated by calculating the resistance component and the inductor component based on the values of the output power and the resonance current. Since the value of the capacitance on the circuit of the cooktop 1000 configured in advance according to an embodiment is constant, the output power at the actual heating temperature of the thin film 1020 inductively heated by the working coil 1050 in operation and If the resonance current is known, the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit can be calculated.

도 11a는 일 실시예에 따라 박막(1020)의 두께 및 워킹 코일(1050)이 구동되는 주파수를 기준으로, 박막(1020)의 온도 변화에 따른 박막(1020)의 등가회로의 저항 성분의 변화 양상을 나타내는 도면이다.11A illustrates a change in the resistance component of the equivalent circuit of the thin film 1020 according to the temperature change of the thin film 1020 based on the thickness of the thin film 1020 and the frequency at which the working coil 1050 is driven, according to an embodiment. It is a drawing showing

도 11a를 참조하면, 박막(1020)의 두께에 따라 온도가 증가함에 따른 등가 회로의 저항성분의 변화 양상이 결정된다. 예를 들면, 박막(1020)의 두께가 1μm인 경우 박막(1020)의 온도가 증가할수록 저항성분이 감소하는 경향을 보이며, 다른 예에 따라 박막(1020)의 두께가 10μm인 경우 박막(1020)의 온도가 증가할수록, 저항성분이 증가하는 경향을 보일 수 있다. 또 다른 예에 따라 박막(1020)의 두께가 6μm인 경우 박막(1020)의 온도가 증가할수록, 저항성분이 증가하다가 감소하는 경향을 보일 수 있다.Referring to FIG. 11A , a change pattern of the resistive component of the equivalent circuit as the temperature increases according to the thickness of the thin film 1020 is determined. For example, when the thickness of the thin film 1020 is 1 μm, the resistive component tends to decrease as the temperature of the thin film 1020 increases. According to another example, when the thickness of the thin film 1020 is 10 μm, the thickness of the thin film 1020 is As the temperature increases, the resistance component may tend to increase. According to another example, when the thickness of the thin film 1020 is 6 μm, as the temperature of the thin film 1020 increases, the resistive component increases and then decreases.

일 실시예에 따라 등가 회로의 인덕터 성분은 박막(1020)의 온도가 증가함에 따라 크기가 증가하는 양상을 띨 수 있다.According to an embodiment, the size of the inductor component of the equivalent circuit may increase as the temperature of the thin film 1020 increases.

다만 이러한 저항 성분의 변화 양상은 워킹 코일(1050)의 구동 주파수 및 박막(1020)의 재질 또는 형태 등에 따라 달라질 수 있다. 예를 들면 도 11a에 도시된 저항 성분은 워킹 코일(1050)의 구동 주파수가 40kHz인 경우일 수 있고 등가 회로의 저항 성분은 박막(1020)의 재질, 형태 등에 다양할 수 있다. 따라서 도 11a에 도시된 내용으로 본원의 다양한 실시예들에 이용되는 등가 회로의 저항 성분이 한정해석될 필요는 없다.However, the change pattern of the resistance component may vary depending on the driving frequency of the working coil 1050 and the material or shape of the thin film 1020 . For example, the resistance component shown in FIG. 11A may be a case in which the driving frequency of the working coil 1050 is 40 kHz, and the resistance component of the equivalent circuit may vary in the material and shape of the thin film 1020 . Accordingly, the resistance component of the equivalent circuit used in various embodiments of the present application need not be interpreted as being limited to the contents shown in FIG. 11A .

일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑(1000)의 박막(1020)은 미리 결정된 폼 팩터(form factor)로 설계된 것일 수 있으며, 메모리(1030)는 이러한 폼 팩터(즉, 박막(1020)의 두께)에 대응되는 상관관계에 대한 정보를 미리 저장하고 있을 수 있다. 일 실시예에 따라 메모리(1030)는 다양한 폼 팩터에 대응되는 상관관계에 대한 정보를 미리 저장하고 있을 수 있고, MCU(1040)는 유도 가열 방식의 쿡탑(1000)의 폼 팩터를 나타내는 정보를 획득하여 해당 폼 팩터에 대응되는 상관관계에 대한 정보를 선택함으로써 온도를 추정하는 과정에 이용할 수 있다.According to an embodiment, the thin film 1020 of the cooktop 1000 of the induction heating method may be designed with a predetermined form factor, and the memory 1030 may have such a form factor (ie, the thickness of the thin film 1020 ). ) may be pre-stored information on the correlation corresponding to the . According to an embodiment, the memory 1030 may store information on correlations corresponding to various form factors in advance, and the MCU 1040 obtains information indicating the form factor of the cooktop 1000 of the induction heating method. Thus, information on correlation corresponding to the corresponding form factor can be selected and used in the process of estimating the temperature.

도 11b는 일 실시예에 따라 온도에 따른 출력 전력, 공진 전류, 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분의 변화 양상을 나타내는 도면이다. 일 실시예에 따라 도 11b에 도시된 데이터는 미리 결정된 폼 팩터, 워킹 코일(1050)이 구동되는 주파수가 미리 결정된 상태에서의 변화 양상을 도시한 것이므로 본원의 다양한 실시예들의 특징들이 이에 한정해석될 필요는 없다. 일 실시예에 따라 도 11b에 도시된 데이터는 박막(1020)의 두께가 6μm이고 워킹 코일(1050)이 구동되는 주파수가 60kHz일 때 획득된 데이터일 수 있다.11B is a diagram illustrating changes in output power, a resonance current, and a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit according to temperature, according to an exemplary embodiment. According to an embodiment, since the data shown in FIG. 11B shows a change in a predetermined form factor and a frequency at which the working coil 1050 is driven in a predetermined state, the features of various embodiments of the present application will be interpreted as being limited thereto. No need. According to an embodiment, the data shown in FIG. 11B may be data obtained when the thickness of the thin film 1020 is 6 μm and the frequency at which the working coil 1050 is driven is 60 kHz.

도 11b를 참조하면, 박막(1020)의 온도에 따라 출력 전력이 변화하는 양상을 확인할 수 있다. 일 실시예에 따라 박막(1020)의 온도가 증가함에 따라 출력 전력은 감소하는 경향을 나타내는데, 여기서 출력 전력은 워킹 코일(1050) 및 박막(1020)에 의해 형성된 등가 회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 따라 결정될 수 있는 것이다. Referring to FIG. 11B , it can be seen that the output power changes according to the temperature of the thin film 1020 . According to an embodiment, as the temperature of the thin film 1020 increases, the output power tends to decrease, where the output power is in the resistance component and inductor component of the equivalent circuit formed by the working coil 1050 and the thin film 1020. can be determined accordingly.

도 11b를 참조하면, 박막(1020)의 온도에 따라 워킹 코일(1050)에 흐르는 공진 전류의 값이 변화하는 양상을 확인할 수 있다. 일 실시예에 따라 박막(1020)의 온도가 증가함에 따라 공진 전류 역시 감소하는 경향을 나타낸다. 일 실시예에 따라 쿡탑(1000)에서의 커패시터의 커패시턴스 값을 미리 결정된 상태이므로, 일정한 주파수에서의 워킹 코일(1050) 및 박막(1020)에 의해 형성되는 등가 회로의 저항 성분 및 인덕터 성분은 측정된 출력 전력 및 공진 전류값에 기초하여 알 수 있게 된다. Referring to FIG. 11B , it can be seen that the value of the resonance current flowing through the working coil 1050 changes according to the temperature of the thin film 1020 . According to an embodiment, as the temperature of the thin film 1020 increases, the resonance current also tends to decrease. According to an embodiment, since the capacitance value of the capacitor in the cooktop 1000 is in a predetermined state, the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the working coil 1050 and the thin film 1020 at a constant frequency are measured It can be known based on the output power and the resonance current value.

예를 들면, 워킹 코일(1050) 및 박막(1020)에 의한 등가 회로에서의 출력 전력(P)은 아래와 같은 수학식 1을 통해 계산될 수 있다.For example, the output power P in the equivalent circuit by the working coil 1050 and the thin film 1020 may be calculated through Equation 1 below.

Figure pat00001
Figure pat00001

일 실시예에 따라, Vin은 입력 전원, Req는 등가 회로의 저항 성분을 나타낸다. 일 실시예에 따라 쿡탑(1000)의 인버터 회로 상에서 확인할 수 있는 커패시터는 미리 결정된 것이므로, 이러한 커패시터와 등가 회로의 인덕터 성분의 관계에 의해 결정된 리액턴스와 저항 성분과의 관계에 의한 임피던스 각(

Figure pat00002
)에 의해
Figure pat00003
값이 결정된다. According to an embodiment, V in represents an input power supply, and R eq represents a resistance component of an equivalent circuit. According to an embodiment, since the capacitor that can be checked on the inverter circuit of the cooktop 1000 is predetermined, the impedance angle (
Figure pat00002
) by
Figure pat00003
The value is determined.

일 실시예에 따라 공진 주파수(fres)는 인덕터 성분 및 커패시터에 의해

Figure pat00004
로 결정되며, 이에 따라 현재 워킹 코일(1050)의 구동 주파수가 fs일 때 워킹 코일(1050) 및 박막(1020)에 의하여 형성된 등가 회로에서의 출력 전력 (P)은 아래 수학식 2와 같이 계산될 수 있다.According to an embodiment, the resonant frequency f res is determined by the inductor component and the capacitor.
Figure pat00004
is determined, and accordingly, when the driving frequency of the current working coil 1050 is f s , the output power P in the equivalent circuit formed by the working coil 1050 and the thin film 1020 is calculated as in Equation 2 below. can be

Figure pat00005
Figure pat00005

이에 따라, MCU(1040)는 각 온도마다 측정되는 출력 전력 및 공진 전류에 기초하여 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분을 산출해낼 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(1040)는 현재 쿡탑(1000)의 출력 전력 및 공진 전류를 측정하고 이에 기초하여 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분을 결정한 후, 이를 메모리(1030)에 저장된 각 온도 마다의 저항 성분 및 인덕터 성분과 비교하여 박막(1020)의 온도를 추정할 수 있다.Accordingly, the MCU 1040 may calculate the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit based on the output power and the resonance current measured for each temperature. According to an embodiment, the MCU 1040 measures the output power and the resonance current of the current cooktop 1000, determines the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit based on this, and then stores it in the memory 1030 for each temperature. The temperature of the thin film 1020 may be estimated by comparing the resistance component and the inductor component.

도 12a는 일 실시예에 따라 사용자에 의해 설정된 출력에 대응되는 구동 주파수 및 온도 추정을 위해 이용되는 고정 주파수에 따라 워킹 코일(1050)을 동작시키기 위한 입력 전압을 도시한다.12A illustrates an input voltage for operating the working coil 1050 according to a driving frequency corresponding to an output set by a user and a fixed frequency used for temperature estimation, according to an exemplary embodiment.

일 실시예에 따라 사용자는 쿡탑(1000)을 이용하여 피가열 물체(HO)를 가열시키기 위한 출력을 설정할 수 있고, 이러한 설정 과정을 통해 입력된 신호에 기초하여 MCU(1040)는 워킹 코일(1050)의 구동 주파수를 설정할 수 있다. 즉, 이러한 구동 주파수는 사용자에 의해 설정된 출력에 따라 달라질 수 있으며, 쿡탑(1000)의 동작 환경에 따라 변경될 수 있는 가변 주파수이다. According to an exemplary embodiment, a user may set an output for heating the object HO to be heated using the cooktop 1000 , and based on a signal input through this setting process, the MCU 1040 generates the working coil 1050 ) can be set. That is, the driving frequency may vary according to an output set by a user, and is a variable frequency that may be changed according to an operating environment of the cooktop 1000 .

일 실시예에 따라, MCU(1040)는 사용자에 의해 설정된 출력에 대응되는 구동 주파수와는 별개로, 박막(1020)의 온도 추정을 위한 미리 설정된 고정 주파수를 이용하여 박막(1020)의 온도를 추정하여 현재 온도로서 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 고정 주파수의 종류는 적어도 하나일 수 있다.According to an embodiment, the MCU 1040 estimates the temperature of the thin film 1020 using a preset fixed frequency for estimating the temperature of the thin film 1020 separately from the driving frequency corresponding to the output set by the user. Thus, it can be determined as the current temperature. According to an embodiment, there may be at least one type of fixed frequency.

이하에서는 사용자에 의해 설정된 출력에 대응되는 구동 주파수를 제1 주파수로, 박막(1020)의 온도 추정을 위한 미리 설정된 고정 주파수를 제2 주파수로 지칭하도록 한다.Hereinafter, a driving frequency corresponding to an output set by a user is referred to as a first frequency, and a preset fixed frequency for estimating the temperature of the thin film 1020 is referred to as a second frequency.

일 실시예에 따라 MCU(1040)는 제1 주파수로 워킹 코일(1050)이 구동되도록 제어할 수 있으며, 제1 주파수로 구동 중인 워킹 코일(1050)을 제2 주파수로 구동되도록 제어할 수 있다. 제2 주파수로 구동되도록 워킹 코일(1050)이 제어되면, 제2 주파수에 기초하여 추정 온도 정보에 대응되는 저항 성분 및 인덕터 성분이 결정될 수 있다. 즉, MCU(1040)는 사용자에 의해 설정된 출력으로(즉, 제1 주파수로) 워킹 코일(1050)이 구동 중인 상황에서 미리 결정된 제2 주파수로 동작하도록 워킹 코일(1050)을 제어하고, 해당 주파수에 동작되는 과정에서 산출되는 저항 성분 및 인덕터 성분에 기초하여 박막(1020)의 온도를 추정할 수 있다. According to an embodiment, the MCU 1040 may control the working coil 1050 to be driven at a first frequency, and may control the working coil 1050 driven at the first frequency to be driven at a second frequency. When the working coil 1050 is controlled to be driven at the second frequency, a resistance component and an inductor component corresponding to the estimated temperature information may be determined based on the second frequency. That is, the MCU 1040 controls the working coil 1050 to operate at a predetermined second frequency in a situation in which the working coil 1050 is being driven with the output set by the user (ie, at the first frequency), and the corresponding frequency The temperature of the thin film 1020 may be estimated based on the resistance component and the inductor component calculated in the course of operation.

일 실시예에 따라 제2 주파수의 종류는 복수일 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(1040)는 미리 결정된 조건에 따라 복수개의 제2 주파수 중 하나를 선택하여 박막(1020)의 온도 추정을 위한 제2 주파수로서 이용할 수 있다.According to an embodiment, the type of the second frequency may be plural. According to an embodiment, the MCU 1040 may select one of a plurality of second frequencies according to a predetermined condition and use it as the second frequency for estimating the temperature of the thin film 1020 .

일 실시예에 따라 MCU(1040)는 미리 결정된 복수의 제2 주파수 각각에 의한 구동을 통해 박막(1020)의 온도 추정을 할 수 있고, 이러한 경우 복수의 제2 주파수 중 어느 하나만을 이용한 온도 추정 결과보다 상대적으로 정확한 결과를 얻을 수도 있다. According to an embodiment, the MCU 1040 may estimate the temperature of the thin film 1020 by driving each of a plurality of predetermined second frequencies. In this case, the temperature estimation result using only one of the plurality of second frequencies You may get more relatively accurate results.

일 실시예에 따라 MCU(1040)는 복수의 제2 주파수 중 어느 하나로 적어도 한 주기 이상씩은 동작하도록 워킹 코일(1050)을 제어할 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(1040)는 어느 제2 주파수로 한 주기 이상씩 동작 후, 연속적으로 다른 제2 주파수로 한 주기 이상씩 동작하도록 워킹 코일(1050)을 제어할 수 있다. 또 다른 일 실시예에 따라 MCU(1040)는 어느 제2 주파수로 한 주기 이상씩 동작 후 다시 제1 주파수로 동작하고, 그 후 다른 제2 주파수로 한 주기 이상씩 동작하도록 워킹 코일(1050)을 제어할 수 있다.According to an embodiment, the MCU 1040 may control the working coil 1050 to operate at least one cycle or more at any one of the plurality of second frequencies. According to an embodiment, the MCU 1040 may control the working coil 1050 to continuously operate at a certain second frequency for one cycle or more and then continuously operate for one cycle or more at a different second frequency. According to another embodiment, the MCU 1040 operates at a certain second frequency for one cycle or more, then operates at the first frequency again, and then operates the working coil 1050 to operate at a different second frequency for one cycle or more. can be controlled

일 실시예에 따라 MCU(1040)는 제1 주파수로 구동 중인 워킹 코일(1050)이 제2 주파수로 동작하도록 워킹 코일(1050)을 제어할 수 있으며, 제1 주파수에서 제2 주파수로 주파수를 변경시키는 동작은 워킹 코일(1050)의 동작 중 미리 결정된 주기에 따라 주기적으로 이행될 수 있다. 일 실시예에 따라 미리 결정된 주기는 쿡탑(1000)이 제1 주파수로 구동되는 상태에서의 입력 전압의 주기의 정수배(예를 들면, 2배)의 시간일 수 있다. According to an embodiment, the MCU 1040 may control the working coil 1050 so that the working coil 1050 driven at the first frequency operates at the second frequency, and changes the frequency from the first frequency to the second frequency. The operation may be performed periodically according to a predetermined period during the operation of the working coil 1050 . According to an embodiment, the predetermined period may be an integer multiple (eg, twice) of the period of the input voltage in a state in which the cooktop 1000 is driven at the first frequency.

도 12a를 참조하면, 일 실시예에 따라 MCU(1020)는 제1 주파수로 구동되는 상태에서의 입력 전압에 대한 두 번의 주기(1210a, 1212a)가 도래한 후 제2 주파수로 주파수를 변환시킨 후 제2 주파수로 적어도 한 번의 주기(1220a)동안 워킹 코일(1050)을 동작시킬 수 있다. 일 실시예에 따라, MCU(1040)는 워킹 코일(1050)이 제2 주파수로 구동되는 동안의 출력 전력 및 공진 전류에 기초하여 등가 회로의 저항 성분 및 인덕터 성분을 계산할 수 있으며, 이렇게 제2 주파수에 기초하여 계산된 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보에 따라 박막(1020)의 온도를 추정할 수 있다. MCU(1040)는 추정된 온도를 박막(1020)의 현재 온도로서 결정할 수 있다. Referring to FIG. 12A , according to an embodiment, the MCU 1020 converts the frequency to the second frequency after two cycles 1210a and 1212a for the input voltage in a state driven at the first frequency arrive. The working coil 1050 may be operated at the second frequency for at least one period 1220a. According to an embodiment, the MCU 1040 may calculate the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit based on the output power and the resonance current while the working coil 1050 is driven at the second frequency, and thus the second frequency The temperature of the thin film 1020 may be estimated according to the estimated temperature information corresponding to the resistance component and the inductor component calculated based on . The MCU 1040 may determine the estimated temperature as the current temperature of the thin film 1020 .

일 실시예에 따라 제2 주파수에서 추정된 온도를 현재 온도로서 결정한 이후, MCU(1040)는 워킹 코일(1050)의 주파수를 제2 주파수에서 다시 제1 주파수로 변경함으로써 다시 워킹 코일(1050)이 사용자가 설정한 출력에 따라 제1 주파수로 동작하도록 제어할 수 있다. 일 실시예에 따라 제2 주파수로 적어도 한 번의 주기(1220a)동안 워킹 코일(1050)이 동작된 후, MCU(1040)는 다시 입력 전압에 대한 두 번의 주기(1210b, 1212b) 동안 제1 주파수로 워킹 코일(1050)을 동작시킬 수 있고, 그 후 제2 주파수로 주파수를 변환시킨 후 제2 주파수로 적어도 한 번의 주기(1220b)동안 워킹 코일(1050)을 동작시킬 수 있다. After determining the temperature estimated at the second frequency as the current temperature according to an embodiment, the MCU 1040 changes the frequency of the working coil 1050 from the second frequency back to the first frequency so that the working coil 1050 is again It can be controlled to operate at the first frequency according to the output set by the user. According to an embodiment, after the working coil 1050 is operated for at least one cycle 1220a with the second frequency, the MCU 1040 returns to the first frequency for two cycles 1210b and 1212b for the input voltage. The working coil 1050 may be operated, and after the frequency is converted to the second frequency, the working coil 1050 may be operated at the second frequency for at least one period 1220b.

도 12b는 일 실시예에 따라 사용자에 의해 설정된 출력에 대응되는 구동 주파수 및 온도 추정을 위해 이용되는 복수의 고정 주파수에 따라 워킹 코일(1050)을 동작시키기 위한 입력 전압을 도시한다.12B illustrates an input voltage for operating the working coil 1050 according to a driving frequency corresponding to an output set by a user and a plurality of fixed frequencies used for temperature estimation, according to an exemplary embodiment.

일 실시예에 따라 MCU(1040)는 복수의 제2 주파수 중 하나로 제2 주파수를 변경하면서 온도를 추정할 수 있다. 즉, 제2 주파수는 미리 결정된 조건에 따라 복수의 고정 주파수 중 하나가 선택된 것이므로, 현재 주기에서 이전 주기와 다른 조건을 만족하게 되는 경우, 이전 주기에서와 다른 고정 주파수로 제2 주파수가 설정될 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(1040)는 워킹 코일(1050)이 현재 제2 주파수로 미리 결정된 주기 동안 동작한 경우, 다른 제2 주파수로 동작하면서 박막(1020)의 온도를 추정하도록 워킹 코일(1050)을 제어할 수 있다. According to an embodiment, the MCU 1040 may estimate the temperature while changing the second frequency to one of the plurality of second frequencies. That is, since the second frequency is selected from one of a plurality of fixed frequencies according to a predetermined condition, when a condition different from the previous period is satisfied in the current period, the second frequency may be set to a fixed frequency different from that in the previous period. have. According to an embodiment, when the working coil 1050 operates at the current second frequency for a predetermined period, the MCU 1040 operates at a different second frequency while estimating the temperature of the thin film 1020 . can be controlled.

도 12b를 참조하면, 일 실시예에 따라 MCU(1040)는 워킹 코일(1050)을 제어하여 제1 주파수로 미리 결정된 주기(1230a, 1232a) 동안 동작 후 제2 주파수에서 미리 결정된 주기(1240a) 동안 동작하도록 하며, 제2 주파수로 동작할 때 박막(1020)의 현재 온도를 추정할 수 있다. 이러한 제1 주파수 및 제2 주파수로 동작하는 주기(1235a)는 미리 결정된 횟수만큼 반복될 수 있다. Referring to FIG. 12B , according to an embodiment, the MCU 1040 controls the working coil 1050 to operate at the first frequency for predetermined periods 1230a and 1232a, and then at the second frequency for a predetermined period 1240a. to operate, and the current temperature of the thin film 1020 can be estimated when operating at the second frequency. The period 1235a operating at the first frequency and the second frequency may be repeated a predetermined number of times.

일 실시예에 따라 MCU(1040)는 미리 결정된 횟수만큼 동작 주기(1235a)가 경과한 후, 온도 추정을 위한 워킹 코일(1050)의 제2 주파수를 변경할 수 있다. 도 12b를 참조하면, MCU(1040)는 워킹 코일(1050)로 하여금 현재의 제2 주파수로 미리 결정된 주기(1235a)동안 동작 후, 변경된 제2 주파수로 미리 결정된 주기(1240b)동안 동작하게 함으로써 온도를 추정할 수 있다. MCU(1040)는 미리 결정된 주기(1240b)동안 미리 결정된 주기(1230b, 1232b) 동안 제1 주파수로 동작하고, 미리 결정된 주기(1240b)동안 제2 주파수로 동작하도록 워킹 코일(1050)을 제어할 수 있다. According to an embodiment, the MCU 1040 may change the second frequency of the working coil 1050 for temperature estimation after the operation period 1235a elapses a predetermined number of times. Referring to FIG. 12B , the MCU 1040 causes the working coil 1050 to operate for a predetermined period 1235a at the current second frequency, and then operates for a predetermined period 1240b with the changed second frequency. can be estimated. MCU 1040 may control the working coil 1050 to operate at the first frequency during the predetermined period 1230b and 1232b during the predetermined period 1240b and at the second frequency during the predetermined period 1240b. have.

일 실시예에 따라 제1 주파수 및 제2 주파수로 워킹 코일(1050)이 동작하게 되는 미리 결정된 주기(1235a, 1235)는 서로 동일하거나 상이할 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(1040)는 변경된 제2 주파수로 동작하는 주기를 포함하는 미리 결정된 주기(1235b)가 경과한 후에는, 다시 변경 전 제2 주파수로 미리 결정된 주기(1235a)동안 동작하게 하거나 또는 또 다른 제2 주파수로 변경함으로써 온도를 추정할 수 있다.According to an embodiment, the predetermined periods 1235a and 1235 in which the working coil 1050 operates at the first frequency and the second frequency may be the same or different from each other. According to an embodiment, after a predetermined period 1235b including a period of operation with the changed second frequency has elapsed, the MCU 1040 operates again with the second frequency before the change for a predetermined period 1235a or Alternatively, the temperature may be estimated by changing to another second frequency.

일 실시예에 따라 제1 주파수 및 제2 주파수로 동작하게 되는 동안의 평균 출력은 사용자에 의해 설정된 출력에 대응되는 것일 수 있다. 즉, MCU(1040)는 제1 주파수에서 제2 주파수로의 주파수 변화에 의해 순간 전력의 변화를 보완하기 위해 제1 주파수 및 제2 주파수로 동작하는 동안의 출력을 조절할 수 있다. 예를 들면, 제2 주파수가 제1 주파수보다 낮은 경우, 제2 주파수로 동작하는 동안의 순간 전력은 제1 주파수로 동작하는 동안의 순간 전력 보다 낮을 수 있으므로, MCU(1040)는 제1 주파수 및 제2 주파수로 동작하게 되는 동안의 평균 전력이 사용자가 설정한 출력에 대응되도록, 제1 주파수의 값을 조절할 수 있다(즉, 사용자가 설정한 출력에 대응되는 주파수보다 높은 주파수로 조절할 수 있다). According to an embodiment, the average output while operating at the first frequency and the second frequency may correspond to an output set by a user. That is, the MCU 1040 may adjust the output while operating at the first frequency and the second frequency in order to compensate for the instantaneous power change by the frequency change from the first frequency to the second frequency. For example, when the second frequency is lower than the first frequency, the instantaneous power while operating at the second frequency may be lower than the instantaneous power while operating at the first frequency, so that the MCU 1040 performs the first frequency and The value of the first frequency may be adjusted so that the average power while operating at the second frequency corresponds to the output set by the user (that is, it may be adjusted to a higher frequency than the frequency corresponding to the output set by the user). .

일 실시예에 따라 제1 주파수와 제2 주파수는 사용자가 설정한 출력에 따라 가변적이거나 또는 미리 결정된 복수의 주파수 중 하나라는 점에서 차이가 있을 뿐, 주파수 자체의 값이 상이해야 하는 것으로 해석되어서는 안 된다.According to an embodiment, the first frequency and the second frequency are only different in that they are variable according to the output set by the user or are one of a plurality of predetermined frequencies, and the values of the frequencies themselves should not be interpreted to be different. Can not be done.

일 실시예에 따라 제1 주파수와 제2 주파수가 상이할 수 있으며, 이에 따라 MCU(1040)는 제1 주파수가 동작되는 기간 내지 제2 주파수로 동작되는 기간으로 구성되는 주기(예를 들면, 1210a, 1212a, 1220a)에서의 출력이, 사용자가 설정한 출력에 대응되도록, 제1 주파수를 설정할 수 있다. According to an exemplary embodiment, the first frequency and the second frequency may be different, and accordingly, the MCU 1040 performs a period (eg, 1210a) consisting of a period in which the first frequency is operated to a period in which the second frequency is operated. , 1212a, 1220a) may set the first frequency so that the output corresponds to the output set by the user.

상술한 실시예에서의 온도 추정 과정은 사용자가 설정한 출력에 따라 제1 주파수로 워킹 코일(1050)이 가동되는 동안에 주기적으로 수행될 수 있으며, 제2 주파수는 0이 아닌 미리 결정된 적어도 하나의 주파수이므로 워킹 코일(1050)이 가동되는 중간에 가동이 중단됨에 따른 허밍 사운드 발생 등의 상황이 발생하는 것을 방지할 수 있다. The temperature estimation process in the above-described embodiment may be performed periodically while the working coil 1050 is operated at a first frequency according to an output set by a user, and the second frequency is at least one predetermined frequency other than zero. Therefore, it is possible to prevent a situation such as generation of a humming sound due to the operation being stopped in the middle of the working coil 1050 being operated.

도 13a는 일 실시예에 따라 자율 공진 방식에 따른 온도 추정을 수행하는 방법을 나타낸 도면이다.13A is a diagram illustrating a method of performing temperature estimation according to an autonomous resonance method according to an exemplary embodiment.

일 실시예에 따라 쿡탑(1000)은 게이트 소자(1310, 1312), 게이트 드라이버(1320), MCU(1330), 비교기(1340), 워킹 코일(1350) 및 스위칭 제어부(1360)를 포함할 수 있다.According to an embodiment, the cooktop 1000 may include gate elements 1310 and 1312 , a gate driver 1320 , an MCU 1330 , a comparator 1340 , a working coil 1350 , and a switching controller 1360 . .

일 실시예에 따라 게이트 드라이버(1320)는 스위칭 제어부(1360)는 로부터의 제어 신호에 기초하여 게이트 소자(1310, 1312)의 온/오프 동작을 수행할 수 있다. 비교기(1340)는 워킹 코일(1350)에 흐르는 공진 전류를 측정할 수 있으며 측정된 공진 전류가 미리 결정된 기준 전류값보다 큰지 여부에 따라 펄스파를 생성하여 출력할 수 있다. 이러한 비교기(1340)의 출력을 수신한 스위칭 제어부(1360)는 공진 주파수 및 감쇄폭을 산출할 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(1350) 및 스위칭 제어부(1360)는 단일의 구성으로 이해될 수도 있으며, 이에 따라 상술한 스위칭 제어부(1360)의 동작은 MCU(1350)에 의해 수행될 수도 있다. According to an embodiment, the gate driver 1320 may turn on/off the gate devices 1310 and 1312 based on a control signal from the switching controller 1360 . The comparator 1340 may measure the resonance current flowing through the working coil 1350 , and may generate and output a pulse wave according to whether the measured resonance current is greater than a predetermined reference current value. The switching control unit 1360 receiving the output of the comparator 1340 may calculate a resonance frequency and an attenuation width. According to an embodiment, the MCU 1350 and the switching control unit 1360 may be understood as a single configuration, and accordingly, the above-described operation of the switching control unit 1360 may be performed by the MCU 1350 .

도 13a를 참조하면, 쿡탑(1000)은 스위칭 동작에 기초하여 워킹 코일(1350)에 공진 전류를 제공할 수 있다. 일 실시예에 따라 쿡탑(1000)은 사용자에 의해 입력된 출력에 대응되는 출력으로 워킹 코일(1350)이 구동되는 상황에서 고정 주파수(즉, 제2 주파수)를 이용한 구동 과정에서의 온도 측정을 수행할 수도 있을 뿐만 아니라, 미리 결정된 전류가 워킹 코일(1350)에 흐를 때 자율 공진 상태로 천이시키고 공진 전류의 공진 주파수 및 감쇄폭을 측정하여 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분을 결정할 수 있다. Referring to FIG. 13A , the cooktop 1000 may provide a resonance current to the working coil 1350 based on a switching operation. According to an embodiment, the cooktop 1000 performs temperature measurement in a driving process using a fixed frequency (ie, a second frequency) in a situation where the working coil 1350 is driven with an output corresponding to an output input by a user. In addition, when a predetermined current flows through the working coil 1350, it transitions to an autonomous resonance state and measures the resonance frequency and attenuation width of the resonance current to determine the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit.

일 실시예에 따라 쿡탑(1000)은 피가열 물체가 상판부(15) 상에 배치되지 않은 상태(이하, 대기 상태)에서 미리 결정된 값을 가지는 전류가 워킹 코일(1350)에 흐르게 되면, 게이트 소자(1310, 1312)의 스위칭 동작을 통해, 대기 상태에서 자율 공진 상태로 변경될 수 있다. 도 13a를 참조하면, 대기 상태에서 게이트 소자(1310, 1312) 중 상부 게이트(1310)는 오프 상태이고 하부 게이트(1312)는 온 상태일 수 있다. According to an exemplary embodiment, the cooktop 1000 includes a gate element ( 1310 and 1312 may be changed from the standby state to the autonomous resonance state through the switching operation. Referring to FIG. 13A , in the standby state, the upper gate 1310 of the gate devices 1310 and 1312 may be in an off state and the lower gate 1312 may be in an on state.

일 실시예에 따라 대기 상태에서 공진 전류가 미리 결정된 전류값을 가지고 있으며, MCU(1330)는 게이트 소자(1310, 1312)의 스위칭 동작이 수행되도록 게이트 드라이버(1320)를 제어할 수 있다. 일 실시예에 따라 스위칭 동작이 개시되면(1st phase) 하부 게이트(1312)는 오프 상태로 변경되고 상부 게이트(1310)는 온 상태로 변경될 수 있다. 상부 게이트(1310)가 온 상태로 변경되고 하부 게이트(1312)가 오프 상태로 변경되면 상부 게이트(1310)를 통해 흐르는 전류에 따라 공진 커패시터에 전하량이 충전될 수 있다. According to an embodiment, the resonance current has a predetermined current value in the standby state, and the MCU 1330 may control the gate driver 1320 to perform a switching operation of the gate elements 1310 and 1312 . According to an embodiment, when a switching operation is started (1st phase), the lower gate 1312 may be changed to an off state and the upper gate 1310 may be changed to an on state. When the upper gate 1310 is changed to an on state and the lower gate 1312 is changed to an off state, an amount of charge may be charged in the resonance capacitor according to a current flowing through the upper gate 1310 .

일 실시예에 따라 MCU(1330)는 게이트 소자(1310, 1312)의 스위칭 동작이 수행되도록 게이트 드라이버(1320)를 제어함으로써 온 상태였던 상부 게이트(1310)는 다시 오프 상태로 변경하고, 오프 상태였던 하부 게이트(1312)는 다시 온 상태로 변경한다(2nd phase). 이에 따라 1st phase에서 충전된 공진 커패시터 및 워킹 코일(1350)로 구성된 폐회로 내에서 자율 공진 상태가 되며, 쿡탑(1000)은 이러한 자율 공진 상태에서 워킹 코일(1350)로 흐르는 전류를 측정할 수 있다. 쿡탑(1000)은 이러한 자율 공진 상태에서의 전류에 기초하여 인덕터 성분 및 저항 성분을 산출할 수 있으며, 이에 따라 박막(1020)의 현재 온도를 결정할 수 있다.According to an embodiment, the MCU 1330 controls the gate driver 1320 to perform a switching operation of the gate elements 1310 and 1312 so that the upper gate 1310, which was in the on state, is changed back to the off state, and the The lower gate 1312 changes back to the on state (2nd phase). Accordingly, an autonomous resonance state occurs within a closed circuit composed of the resonance capacitor and the working coil 1350 charged in the 1st phase, and the cooktop 1000 may measure the current flowing to the working coil 1350 in the autonomous resonance state. The cooktop 1000 may calculate the inductor component and the resistance component based on the current in the autonomous resonance state, and thus the current temperature of the thin film 1020 may be determined.

도 13b는 일 실시예에 따라 온도 추정을 위한 자율 공진 방식에서 등가 회로의 저항 성분 및 인덕터 성분을 획득하기 위해 공진 주파수 및 감쇄폭을 획득하는 특징을 설명하기 위한 도면이다.13B is a diagram for explaining a characteristic of acquiring a resonance frequency and an attenuation width to acquire a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit in an autonomous resonance method for temperature estimation according to an embodiment;

도 13b를 참조하면, 일 실시예에 따라 비교기(1340)는 공진 전류의 최대값의 감소 추이에 기초하여 감쇄폭을 결정할 수 있으며 이에 따라 저항 성분을 결정할 수 있고, 공진 전류의 반복 주기에 기초하여 공진 주파수를 결정할 수 있으며 이에 따라 인덕터 성분을 결정할 수 있다. Referring to FIG. 13B , according to an exemplary embodiment, the comparator 1340 may determine an attenuation width based on a decrease trend of the maximum value of the resonance current, and thus determine a resistance component, and based on the repetition period of the resonance current The resonant frequency can be determined and the inductor component can be determined accordingly.

일 실시예에 따라 MCU(1360)은 공진 주파수 및 감쇄폭에 기초하여 결정된 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 미리 저장된 상관관계에 대한 정보가 무엇인지 결정함으로써, 상관관계에 대한 정보에 기초하여 결정되는 추정 온도 정보를 현재 박막(1020)의 온도로서 결정할 수 있다.According to an embodiment, the MCU 1360 determines what information about the correlation stored in advance corresponding to the resistance component and the inductor component determined based on the resonance frequency and the attenuation width is determined based on the information on the correlation. The estimated temperature information may be determined as the current temperature of the thin film 1020 .

도 14는 일 실시예에 따라 박막에 의해 형성되는 등가회로를 이용하여 추정되는 온도와 온도 센서를 통해 측정되는 온도를 비교하여 박막의 손상 여부를 파악하기 위한 유도 가열 방식의 쿡탑의 블록도를 도시한다. 도 14의 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)에 포함된 구성 중 커버 플레이트(1410), 박막(1420), 메모리(1430), MCU(1440) 워킹 코일(1450)은 도 10의 유도 가열 방식의 쿡탑(1000)에 커버 플레이트(1010), 박막(1020), 메모리(1030), MCU(1040) 워킹 코일(1050)에 대응되는 구성일 수 있다. 14 is a block diagram of an induction heating type cooktop for determining whether a thin film is damaged by comparing a temperature estimated using an equivalent circuit formed by a thin film and a temperature measured through a temperature sensor according to an embodiment; do. Among the components included in the cooktop 1400 of the induction heating method of FIG. 14 , the cover plate 1410 , the thin film 1420 , the memory 1430 , the MCU 1440 and the working coil 1450 are the cooktops of the induction heating method of FIG. 10 . At 1000 , the cover plate 1010 , the thin film 1020 , the memory 1030 , and the MCU 1040 may have a configuration corresponding to the working coil 1050 .

일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)은 온도 센서(1460)를 더 포함할 수 있으며, 이에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)은 박막(1420)의 온도를 측정할 수 있다. According to an embodiment, the cooktop 1400 of the induction heating method may further include a temperature sensor 1460 , and accordingly, the cooktop 1400 of the induction heating method may measure the temperature of the thin film 1420 .

일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)의 MCU(1440)는 메모리(1430)에 미리 저장된 박막(1420)의 온도와 박막(1420)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 이용하여 박막(1420)의 손상 여부를 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(1440)는 워킹 코일(1450)을 가동시키고, 메모리(1430)에 저장된 상관관계에 대한 정보에 기초하여 워킹 코일(1450)에 의해 유도 가열된 박막(1420)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보를 결정할 수 있다. MCU(1440)는 이렇게 결정된 추정 온도 정보와 온도 센서(1460)에 의해 실제 측정된 박막(1420)의 온도를 나타내는 측정 온도 정보를 비교하여 박막(1420)이 손상되었는지 결정할 수 있다.According to an embodiment, the MCU 1440 of the induction heating type cooktop 1400 includes the temperature of the thin film 1420 stored in advance in the memory 1430 and the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the thin film 1420 and Whether or not the thin film 1420 is damaged may be determined using information on the correlation of . According to an embodiment, the MCU 1440 operates the working coil 1450 , and is formed by the thin film 1420 that is inductively heated by the working coil 1450 based on the correlation information stored in the memory 1430 . It is possible to determine the estimated temperature information corresponding to the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit. The MCU 1440 may determine whether the thin film 1420 is damaged by comparing the determined estimated temperature information with the measured temperature information indicating the temperature of the thin film 1420 actually measured by the temperature sensor 1460 .

일 실시예에 따라 메모리(1430)에 미리 저장된 박막(1420)의 온도와 박막(1420)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보는, 손상되지 않은 상태의 박막(1420)이 가열된 온도마다 형성된 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대한 정보를 포함할 수 있다. 즉, 메모리(1430)에 저장된 상관관계에 대한 정보에 기초하여 추정되는 추정 온도는 실제 박막(1420)의 온도를 측정한 결과와 거의 동일하거나 미리 결정된 범위 내의 차이를 보일 수 있다. 일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)이 박막(1420)의 온도를 추정하는 방식은 도 10 내지 도 13b를 통해 상술한 다양한 실시예를 통해 구현될 수 있다. According to an embodiment, the information on the correlation between the temperature of the thin film 1420 stored in advance in the memory 1430 and the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the thin film 1420 is the thin film in an undamaged state. 1420 may include information about the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed for each heated temperature. That is, the estimated temperature estimated based on the correlation information stored in the memory 1430 may be substantially the same as the result of measuring the actual temperature of the thin film 1420 or may show a difference within a predetermined range. According to an embodiment, the method in which the cooktop 1400 of the induction heating method estimates the temperature of the thin film 1420 may be implemented through the various embodiments described above with reference to FIGS. 10 to 13B .

도 15는 일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)이 추정 온도 정보와 측정 온도 정보를 비교하여 박막이 손상되었는지를 결정하는 방법에 대한 흐름도이다.15 is a flowchart illustrating a method of determining whether a thin film is damaged by comparing estimated temperature information and measured temperature information by the cooktop 1400 of the induction heating method according to an embodiment.

S1510단계에서 쿡탑(1400)은 일 실시예에 따라 박막(1420)의 온도와 박막에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 메모리(1430)에 미리 저장할 수 있다. 일 실시예에 따라 메모리(1430)가 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 저장하는 시점은 추정 온도 정보와 측정 온도 정보를 비교하는 S1540단계의 임의의 시점일 수 있으나, 설명의 편의 상 S1510단계에 수행된 것을 전제로 설명하도록 한다. 쿡탑(1400)은 추정 온도 정보와 측정 온도 정보를 비교하는 과정 이전에 메모리(1430)에 상관관계에 대한 정보를 저장하고 있을 수 있는 것이고, 추정 온도 정보와 측정 온도 정보를 비교하는 과정 이전에 반드시 소정의 제어, 통신, 저장 과정을 통해 저장하는 데이터 처리를 수행해야 하는 것은 아니다. 예를 들면 쿡탑(1400)의 메모리(1430)에 저장된 상관관계에 대한 정보는 공장 초기 설정 데이터로서 메모리(1430)에 저장되어있던 정보일 수도 있고, 추정 온도 정보와 측정 온도 정보를 비교하는 과정 이전의 임의의 시점에서 외부 서버를 통해 수신한 정보를 메모리(1430)에 저장한 것일 수도 있다.In step S1510, the cooktop 1400 may store information on the correlation between the temperature of the thin film 1420 and the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the thin film in advance in the memory 1430 according to an embodiment. . According to an embodiment, the time at which the memory 1430 stores the information on the correlation between the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit may be any point in the step S1540 of comparing the estimated temperature information and the measured temperature information, For convenience of explanation, the description will be made on the premise that the step S1510 is performed. The cooktop 1400 may store correlation information in the memory 1430 before the process of comparing the estimated temperature information and the measured temperature information, and must be done before the process of comparing the estimated temperature information and the measured temperature information. It is not necessary to process the data to be stored through a predetermined control, communication, and storage process. For example, the correlation information stored in the memory 1430 of the cooktop 1400 may be information stored in the memory 1430 as factory initial setting data, or before the process of comparing the estimated temperature information and the measured temperature information. Information received through an external server at an arbitrary point in time may be stored in the memory 1430 .

S1520단계에서 쿡탑(1400)은 일 실시예에 따라 S1510단계에서 미리 저장된 상관관계에 대한 정보에 기초하여 워킹 코일(1450)에 의해 유도 가열된 박막(1420)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보를 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 워킹 코일(1450)이 동작함에 따라 박막(1420)은 유도 가열될 수 있으며, 박막(1420)이 유도 가열됨에 따라 박막(1420)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분이 변화할 수 있다. MCU(1440)는 이러한 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분을 워킹 코일(1450)의 출력 전력 및 공진 전류 등을 통해 산출할 수 있고, 미리 저장된 상관관계에 대한 정보에 기초하여 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보를 결정할 수 있다. MCU(1440)에 의해 결정된 추정 온도 정보는 온도 센서(1460)를 통해 실제 측정된 온도가 아닌 추정 값이다.In step S1520, the cooktop 1400 is configured by an equivalent circuit formed by the thin film 1420 inductively heated by the working coil 1450 based on the correlation information stored in advance in step S1510 according to an embodiment. Estimated temperature information corresponding to the inductor component may be determined. According to an embodiment, as the working coil 1450 operates, the thin film 1420 may be inductively heated, and as the thin film 1420 is inductively heated, a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit formed by the thin film 1420 This can change. The MCU 1440 may calculate the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit through the output power and the resonance current of the working coil 1450, and based on the information about the correlation stored in advance, the resistance component and the inductor component Corresponding estimated temperature information may be determined. The estimated temperature information determined by the MCU 1440 is an estimated value, not a temperature actually measured by the temperature sensor 1460 .

S1530단계에서 쿡탑(1400)은 일 실시예에 따라 온도 센서(1460)를 이용하여 워킹 코일(1450)에 의해 유도 가열된 박막(1420)의 온도를 측정하여 측정 온도 정보를 획득할 수 있다. In step S1530 , the cooktop 1400 may obtain measured temperature information by measuring the temperature of the thin film 1420 inductively heated by the working coil 1450 using the temperature sensor 1460 according to an embodiment.

S1540단계에서 쿡탑(1400)은 일 실시예에 따라 S1520단계에서 결정된 추정 온도 정보와 S1530단계에서 획득된 측정 온도 정보를 서로 비교함으로써 박막(1420)이 손상되었는지 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 박막(1420)이 손상되지 않은 경우 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보는 서로 동일하거나 차이가 크지 않아야 한다. 하지만 박막(1420)이 손상되는 경우 박막(1420)에 의해 형성된 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분의 변화로 인해 이에 대응되는 추정 온도 정보 자체가 급격하게 변하게 되므로, MCU(1440)는 박막(1420)의 손상에 따른 실제 온도와 추정 온도 차이에 기반하여 박막(1420)의 손상 여부를 결정할 수 있다.In operation S1540, the cooktop 1400 may determine whether the thin film 1420 is damaged by comparing the estimated temperature information determined in operation S1520 with the measured temperature information obtained in operation S1530 according to an exemplary embodiment. According to an embodiment, when the thin film 1420 is not damaged, the estimated temperature information and the measured temperature information should not be the same or different from each other. However, when the thin film 1420 is damaged, the corresponding estimated temperature information itself changes abruptly due to a change in the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the thin film 1420, so the MCU 1440 is the thin film 1420. Whether or not the thin film 1420 is damaged may be determined based on the difference between the actual temperature and the estimated temperature according to the damage.

도 16은 일 실시예에 따라 쿡탑(1400)이 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이가 제1 범위에 포함되는지에 기초하여 박막(1420)의 손상 여부를 결정하는 방법에 대한 흐름도를 도시한다.16 is a flowchart illustrating a method for the cooktop 1400 to determine whether the thin film 1420 is damaged based on whether a difference between estimated temperature information and measured temperature information is included in a first range, according to an embodiment.

도 16의 S1610단계, S1620단계 및 S1630단계에 대한 특징은 도 15의 S1510단계, S1520단계 및 S1530단계에 대한 특징과 각각 동일하거나 매우 유사할 수 있으므로 자세한 설명은 생략한다.The features of steps S1610, S1620, and S1630 of FIG. 16 may be the same or very similar to the features of steps S1510, S1520, and S1530 of FIG. 15, respectively, and thus a detailed description thereof will be omitted.

S1640단계에서 쿡탑(1400)은 일 실시예에 따라 S1620단계에서 결정된 추정 온도 정보와 S1630단계에서 획득된 측정 온도 정보를 비교하여, 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이가 미리 설정된 제1 범위(예를 들면, 미리 설정된 값(TH1) 이하인 범위)에 포함되는지 여부를 결정할 수 있다. 즉, MCU(1440)는 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이를 계산하고, 계산된 차이가 미리 설정된 제1 범위에 포함되지 않을 정도로 큰지 아니면 미리 설정된 제1 범위에 포함될 정도로 미미한 것인지를 결정하여 박막(1420)의 손상 여부를 결정할 수 있다.In step S1640, the cooktop 1400 compares the estimated temperature information determined in step S1620 with the measured temperature information obtained in step S1630 according to an embodiment, and the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is set in a first range (eg, For example, it may be determined whether or not it is included in the preset value TH1 or less). That is, the MCU 1440 calculates the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information, and determines whether the calculated difference is large enough not to be included in the preset first range or is insignificant enough to be included in the preset first range. It is possible to determine whether 1420 is damaged.

S1650단계에서 MCU(1440)는 일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이가 미리 설정된 제1 범위에 포함되지 않는 경우, 박막(1420)이 손상된 것으로 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이(D)가 미리 설정된 제1 범위에 포함되지 않는 경우(예를 들면, D>TH1인 경우), 박막(1420)이 손상된 것으로 결정할 수 있다.In operation S1650 , the MCU 1440 may determine that the thin film 1420 is damaged when the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is not included in a preset first range according to an embodiment. According to an embodiment, when the difference D between the estimated temperature information and the measured temperature information is not included in a preset first range (eg, when D>TH1), it may be determined that the thin film 1420 is damaged. .

일 실시예에 따라, 쿡탑(1400)은 시각적 정보 및 청각적 정보 중 적어도 하나를 출력할 수 있는 출력부(미도시)를 더 포함할 수 있으며, MCU(1440)는 이러한 출력부(미도시)를 제어하여 임의의 정보를 출력할 수 있다. 일 실시예에 따라 S1650단계에서 박막(1420)이 손상된 것으로 결정된 경우, MCU(1440)는 S1660단계에서 출력부(미도시)를 통해 박막(1420)이 손상되었음을 나타내는 시각적 정보 및/또는 청각적 정보를 출력할 수 있다. 이러한 출력을 통해 사용자는 현재 박막(1420)이 손상된 상태임을 인지할 수 있다.According to an embodiment, the cooktop 1400 may further include an output unit (not shown) capable of outputting at least one of visual information and audible information, and the MCU 1440 includes such an output unit (not shown). can be controlled to output arbitrary information. According to an embodiment, when it is determined that the thin film 1420 is damaged in step S1650, the MCU 1440 provides visual information and/or auditory information indicating that the thin film 1420 is damaged through an output unit (not shown) in step S1660. can be printed out. Through this output, the user may recognize that the current thin film 1420 is in a damaged state.

S1652단계에서 MCU(1440)는 일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이가 미리 설정된 제1 범위에 포함되는 경우, 박막(1420)이 손상되지 않은 것으로 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이(D)가 미리 설정된 제1 범위에 포함되지 않는 경우(예를 들면, D≤TH1인 경우), 박막(1420)이 손상되지 않은 것으로 결정할 수 있다.In step S1652 , the MCU 1440 may determine that the thin film 1420 is not damaged when the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is included in a preset first range according to an embodiment. According to an embodiment, when the difference D between the estimated temperature information and the measured temperature information is not included in a preset first range (eg, when D≤TH1), it is determined that the thin film 1420 is not damaged. can

도 17은 일 실시예에 따라 쿡탑(1400)이 미리 설정된 제1 범위 및 제2 범위에 기초하여 박막(1420)이 손상되었는지, 박막(1420)이 손상되지는 않았으나 가열 효율이 감소한 상태인지, 아니면 박막(1420)이 손상되지도 않았고 가열 효율이 정상인 것으로 결정하는 방법에 대한 흐름도를 도시한다.17 shows whether the thin film 1420 is damaged or the thin film 1420 is not damaged but the heating efficiency is reduced based on the first range and the second range preset in the cooktop 1400 according to an embodiment. It shows a flow chart for how to determine that the membrane 1420 is not damaged and the heating efficiency is normal.

도 17의 S1710단계, S1720단계, S1730단계, S1740단계 및 S1742단계에 대한 특징은 도 16의 S1610단계, S1620단계, S1630단계, S1640단계 및 S1650단계에 대한 특징과 각각 동일하거나 매우 유사할 수 있으므로 자세한 설명은 생략한다.The characteristics for step S1710, step S1720, step S1730, step S1740 and step S1742 of FIG. 17 may be the same or very similar to the features for step S1610, step S1620, step S1630, step S1640 and step S1650 of FIG. 16, respectively. A detailed description will be omitted.

S1740단계에서 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이가 미리 설정된 제1 범위에 포함되는 것으로 결정된 경우, MCU(1440)는 일 실시예에 따라 S1750단계에서 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이가 미리 설정된 제2 범위에 포함되는지 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 제2 범위는 제1 범위의 일부 범위에 해당하는 것으로 미리 설정된 범위일 수 있다. 일 실시예에 따라, 제2 범위는 미리 설정된 제1 범위(예를 들면, TH1 이하의 범위(x≤TH1)) 내에서 편향적인 범위(예를 들면, TH1 이하이고 TH2 이상인 범위(TH2≤x≤TH1))로 미리 설정된 것일 수 있다. 즉, MCU(1440)는 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이(D)가 다양한 기준으로 나뉘어진 범위(예를 들면, 0≤D<TH2; TH2≤D≤TH1; D>TH1)에 포함되는지 결정할 수 있다.When it is determined in step S1740 that the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is included in the preset first range, the MCU 1440 sets the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information in step S1750 according to an embodiment. It can be determined whether it is included in the second range. According to an exemplary embodiment, the second range may be a range preset to correspond to a partial range of the first range. According to an embodiment, the second range is a biased range (for example, a range less than TH1 and greater than or equal to TH2 (TH2≦x) within a preset first range (for example, a range less than or equal to TH1 (x≦TH1)). ≤ TH1)) may be preset. That is, the MCU 1440 determines whether the difference D between the estimated temperature information and the measured temperature information is included in a range divided by various criteria (eg, 0≤D<TH2; TH2≤D≤TH1; D>TH1). can decide

일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이가 미리 설정된 제2 범위에 포함되는 것으로 결정되는 경우(예를 들면, TH2≤D≤TH1), MCU(1440)는 일 실시예에 따라 S1752단계에서 박막(1420)의 가열 효율이 감소한 상태인 것으로 결정할 수 있다. 이 경우, 박막(1420)이 완전히 손상되어 실질적으로 유도 가열될 수 없는 정도로 손상되지는 않았으나, 박막(1420)이 일부 손상됨으로써 정상적으로 유도 가열되었을 경우에 비해 가열 효율이 미리 설정된 정도 이하(예를 들면, 정상적으로 유도 가열되었을 경우의 출력의 X% 이하)로 떨어진 것으로서 결정된 것일 수 있다.According to an embodiment, when it is determined that the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is included in the preset second range (eg, TH2≤D≤TH1), the MCU 1440 performs S1752 according to an embodiment. In the step, it may be determined that the heating efficiency of the thin film 1420 is in a reduced state. In this case, the thin film 1420 is completely damaged and not substantially damaged to the extent that induction heating cannot be performed, but the thin film 1420 is partially damaged so that the heating efficiency is lower than a preset level (for example, compared to the case where normal induction heating is performed) , may be determined as falling to X% or less of the output when normally induction heating is performed).

일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이가 미리 설정된 제2 범위에 포함되지 않는 것으로 결정되는 경우(예를 들면, 0≤D<TH2), MCU(1440)는 일 실시예에 따라 S1754단계에서 박막(1420)이 손상되지 않았고 가열 효율이 정상인 것으로 결정할 수 있다.According to an embodiment, when it is determined that the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is not included in the preset second range (eg, 0≤D<TH2), the MCU 1440 according to an embodiment In step S1754, it may be determined that the thin film 1420 is not damaged and the heating efficiency is normal.

일 실시예에 따라 쿡탑(1400)은 출력부(미도시)를 제어함으로써, S1742단계에서 박막(1420)이 손상된 것으로 결정되었거나, S1752단계에서 박막(1420)의 가열 효율이 감소한 상태인 것으로 결정된 경우, 각각의 상태를 출력할 수 있다. 이를 통해 사용자는 박막(1420)이 손상되었는지 또는 가열 효율이 감소한 상태인 것을 인지할 수 있다. According to an embodiment, when the cooktop 1400 controls the output unit (not shown), it is determined that the thin film 1420 is damaged in step S1742 or that the heating efficiency of the thin film 1420 is reduced in step S1752. , each state can be output. Through this, the user can recognize whether the thin film 1420 is damaged or the heating efficiency is reduced.

일 실시예에 따라 박막(1420)이 손상된 것으로 결정된 경우, MCU(1440)는 비금속 재질의 피가열 물체(HO)의 가열을 위해 워킹 코일(1420)이 가동되지 않도록 워킹 코일(1420)을 제어할 수 있다. 박막(1420)이 손상된 상태로 비금속 재질의 피가열 물체(HO)를 가열시키는 경우 쿡탑(1440)이 오작동할 수도 있다는 점을 고려하여 이 경우 워킹 코일(1420)이 가동되지 않도록 제어함으로써 안전성이 확보될 수 있다. 또한 워킹 코일(1420)이 가동되지 않도록 제어함으로써, 박막(1420)의 손상으로 인해 비금속 재질의 피가열 물체(HO)가 실질적으로 가열되지 않는 상태임에도 사용자로서는 가열되고 있다고 오인할 수도 있다는 점을 방지하고 이를 통해 쿡탑 사용의 신뢰성을 보장할 수 있다.According to an embodiment, when it is determined that the thin film 1420 is damaged, the MCU 1440 controls the working coil 1420 so that the working coil 1420 is not operated for heating the non-metallic object to be heated (HO). can Considering that the cooktop 1440 may malfunction when heating the non-metallic object HO in a state in which the thin film 1420 is damaged, safety is ensured by controlling the working coil 1420 not to operate in this case. can be In addition, by controlling the working coil 1420 not to be operated, the user may mistakenly believe that the non-metallic object HO is being heated even though the non-metallic object HO is not substantially heated due to damage to the thin film 1420 is prevented. And this can ensure the reliability of using the cooktop.

일 실시예에 따라 쿡탑(1400)은 상판부(15) 상에 배치된 피가열 물체(HO)가 금속 재질인지 비금속 재질인지 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 피가열 물체가 비금속 재질인 경우이고 박막(1420)이 손상된 것으로 결정된 경우, MCU(1440)는 비금속 재질의 피가열 물체(HO)의 가열을 위해 워킹 코일(1420)이 가동되지 않도록 워킹 코일(1420)을 제어할 수 있다. 일 실시예에 따라 피가열 물체(HO)가 금속 재질인 경우에는, MCU(1440)는 박막(1420)이 손상된 것으로 결정된 경우라고 하더라도 사용자가 설정한 출력에 따라 워킹 코일(1450)이 동작하도록 제어할 수 있다. 즉, 금속 재질의 용기가 상판부(15)에 배치된 경우에는 금속 재질 용기가 직접 유도 가열될 수 있으므로, MCU(1440)는 박막(1420)의 손상된 경우에도 워킹 코일(1450)이 동작하도록 제어함으로써 사용 편의성을 확보할 수 있다. According to an embodiment, the cooktop 1400 may determine whether the object to be heated HO disposed on the upper plate 15 is made of a metallic material or a non-metallic material. According to an embodiment, when the object to be heated is a non-metal material and it is determined that the thin film 1420 is damaged, the MCU 1440 does not operate the working coil 1420 for heating the object to be heated (HO) made of a non-metal material. It is possible to control the working coil 1420 to prevent it. According to an embodiment, when the object to be heated (HO) is made of a metal material, the MCU 1440 controls the working coil 1450 to operate according to the output set by the user even if it is determined that the thin film 1420 is damaged. can do. That is, when the metal container is disposed on the upper plate part 15, since the metal container can be directly induction heated, the MCU 1440 controls the working coil 1450 to operate even when the thin film 1420 is damaged. Ease of use can be ensured.

일 실시예에 따라 피가열 물체(HO)가 금속 재질인지 비금속 재질인지 여부는 박막(1420) 및 피가열 물체(HO)로 인해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 기초하여 결정될 수 있다. 이에 대한 자세한 설명은 후술하도록 한다. According to an embodiment, whether the object to be heated HO is a metal material or a non-metal material may be determined based on a resistance component and an inductor component of the thin film 1420 and an equivalent circuit formed by the object HO. A detailed description thereof will be provided later.

도 18은 일 실시예에 따라 피가열 물체(HO)가 상판부(15)에 배치되었는지 여부에 기초하여 박막(1420)의 손상 여부를 결정하는 방법에 대한 흐름도를 도시한다.18 is a flowchart illustrating a method of determining whether the thin film 1420 is damaged based on whether the object to be heated HO is disposed on the upper plate portion 15 according to an exemplary embodiment.

도 18의 S1810단계, S1820단계, S1830단계 및 S1840단계의 특징은 도 14의 S1410단계, S1420단계, S1430단계 및 S1440단계의 특징에 대응될 수 있으므로, 자세한 설명은 생략한다.Since the features of steps S1810, S1820, S1830 and S1840 of FIG. 18 may correspond to the features of steps S1410, S1420, S1430 and S1440 of FIG. 14, detailed description is omitted.

일 실시예에 따라, 쿡탑(1400)은 피가열 물체(HO)가 상판부(15) 상에 배치된 경우에 한해 박막(1420)의 손상 여부를 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 쿡탑(1400)의 메모리(1430)에 미리 저장된 상관관계에 대한 정보는 피가열 물체(HO)가 배치되지 않은 상태에서 박막(1420)에 의해서 형성된 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과 온도 간의 상관관계에 대한 정보일 수 있다. 따라서 쿡탑(1400)은 박막(1420)에 의해서만 형성된 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과 미리 저장된 상관관계에 대한 정보를 비교함으로써 온도를 추정할 수 있게 할 수 있다. According to an exemplary embodiment, the cooktop 1400 may determine whether the thin film 1420 is damaged only when the object HO to be heated is disposed on the upper plate part 15 . According to an embodiment, the information on the correlation previously stored in the memory 1430 of the cooktop 1400 is a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit formed by the thin film 1420 in a state where the object HO to be heated is not disposed. It may be information about the correlation between and temperature. Accordingly, the cooktop 1400 can estimate the temperature by comparing the information on the correlation stored in advance with the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed only by the thin film 1420 .

일 실시예에 따라 쿡탑(1400)은 상판부(15)에 피가열 물체(HO)가 배치되었는지 확인하기 위한 인지 센서(예를 들면, 적외선 센서)를 더 포함할 수 있다. According to an embodiment, the cooktop 1400 may further include a recognition sensor (eg, an infrared sensor) for confirming whether the object to be heated HO is disposed on the upper plate 15 .

일 실시예에 따라 S1800단계는 다양한 주변 상황에 기초하여 수행이 개시될 수 있다. 예를 들면, 사용자가 출력을 입력하였을 때, 상판부(15) 상에 배치되어있던 피가열 물체(HO)가 상판부(15) 상에서 제거되었을 때, 박막 손상 여부 결정과정의 개시 명령이 사용자에 의해 입력되었을 때 등의 시점에서 S1800단계의 수행이 개시될 수 있다.According to an embodiment, operation S1800 may be started based on various surrounding conditions. For example, when the user inputs an output, when the object to be heated HO disposed on the top plate 15 is removed from the top plate 15 , a command to start the process of determining whether the thin film is damaged is input by the user The execution of step S1800 may be started at a time point, such as when.

일 실시예에 따라 S1800단계에서 피가열 물체(HO)가 상판부(15)에 배치된 것으로 결정된 경우, MCU(1440)는 S1810단계를 수행할 수 있다. According to an embodiment, when it is determined that the object to be heated HO is disposed on the upper plate 15 in step S1800 , the MCU 1440 may perform step S1810 .

일 실시예에 따라 S1800단계에서 피가열 물체(HO)가 상판부(15)에 배치되지 않은 것으로 결정된 경우, MCU(1440)는 박막이 손상되었는지 여부를 확인하기 위한 과정을 수행하지 않는다.According to an embodiment, when it is determined that the object to be heated HO is not disposed on the upper plate 15 in step S1800 , the MCU 1440 does not perform a process for determining whether the thin film is damaged.

일 실시예에 따라 MCU(1440)는 고정 주파수 방식을 이용하여 추정되는 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 비교를 통해 박막(1420)이 손상되었는지를 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(1440)는 제1 주파수로 워킹 코일(1450)이 구동되도록 제어할 수 있으며, 제1 주파수로 구동 중인 워킹 코일(14450)을 제2 주파수로 구동되도록 제어할 수 있다. 제2 주파수로 구동되도록 워킹 코일(1450)이 제어되면, 제2 주파수에 기초하여 추정 온도 정보에 대응되는 저항 성분 및 인덕터 성분이 결정될 수 있다. 즉, MCU(1440)는 사용자에 의해 설정된 출력으로(즉, 제1 주파수로) 워킹 코일(1450)이 구동 중인 상황에서 미리 결정된 제2 주파수로 동작하도록 워킹 코일(1450)을 제어하고, 해당 주파수에 동작되는 과정에서 산출되는 저항 성분 및 인덕터 성분에 기초하여 박막(1420)의 온도를 추정할 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(1440)는 이러한 고정 주파수 방식을 통해 추정된 박막(1420)의 온도와 온도 센서(1460)에 의해 획득된 측정 온도 정보를 비교한 결과를 통해 박막(1420)의 손상 여부를 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 쿡탑(1400)이 고정 주파수 방식을 이용하여 박막(1420)의 온도를 추정하는 방식에 대한 특징은 도 12a 및 도 12b를 포함한 다양한 실시예를 통해 상술하였으므로 자세한 설명은 생략한다. According to an embodiment, the MCU 1440 may determine whether the thin film 1420 is damaged by comparing the estimated temperature information estimated using the fixed frequency method and the measured temperature information. According to an embodiment, the MCU 1440 may control the working coil 1450 to be driven at a first frequency, and may control the working coil 14450 driven at the first frequency to be driven at a second frequency. When the working coil 1450 is controlled to be driven at the second frequency, a resistance component and an inductor component corresponding to the estimated temperature information may be determined based on the second frequency. That is, the MCU 1440 controls the working coil 1450 to operate at a predetermined second frequency in a situation in which the working coil 1450 is being driven with the output set by the user (ie, at the first frequency), and the corresponding frequency The temperature of the thin film 1420 may be estimated based on the resistance component and the inductor component calculated during the operation. According to an embodiment, the MCU 1440 determines whether the thin film 1420 is damaged through a result of comparing the temperature of the thin film 1420 estimated through the fixed frequency method and the measured temperature information obtained by the temperature sensor 1460 . can be decided According to an embodiment, the characteristics of the method of estimating the temperature of the thin film 1420 by the cooktop 1400 using the fixed frequency method have been described above through various embodiments including FIGS. 12A and 12B, and thus a detailed description thereof will be omitted.

일 실시예에 따라 MCU(1440)는 자율 공진 방식을 이용하여 추정되는 온도를 이용하여 박막(1420)이 손상되었는지를 결정할 수 있다. 쿡탑(1400)은 스위칭 동작에 기초하여 워킹 코일(1450)에 공진 전류를 제공할 수 있다. 일 실시예에 따라 쿡탑(1400)은 사용자에 의해 입력된 출력에 대응되는 출력으로 워킹 코일(1450)이 구동되는 상황에서 고정 주파수(즉, 제2 주파수)를 이용한 구동 과정에서의 온도 측정을 수행할 수도 있을 뿐만 아니라, 미리 결정된 전류가 워킹 코일(1450)에 흐를 때 자율 공진 상태로 천이시키고 공진 전류의 공진 주파수 및 감쇄폭을 측정하여 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분을 결정할 수 있다. MCU(1440)는 측정된 저항 성분 및 인덕터 성분에 기초하여 추정 온도 정보를 결정하고, 온도 센서(1460)에 의해 획득된 측정 온도 정보와 비교하여 박막(1420)의 손상 여부를 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 쿡탑(1400)이 자율 공진 방식을 이용하여 박막(1420)의 온도를 추정하는 방식에 대한 특징은 도 13a 및 도 13b를 포함한 다양한 실시예를 통해 상술하였으므로 자세한 설명은 생략한다.According to an embodiment, the MCU 1440 may determine whether the thin film 1420 is damaged by using the temperature estimated using the autonomous resonance method. The cooktop 1400 may provide a resonance current to the working coil 1450 based on a switching operation. According to an embodiment, the cooktop 1400 performs temperature measurement in a driving process using a fixed frequency (ie, a second frequency) in a situation in which the working coil 1450 is driven with an output corresponding to an output input by a user. In addition, when a predetermined current flows through the working coil 1450, it transitions to an autonomous resonance state and measures the resonance frequency and attenuation width of the resonance current to determine the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit. The MCU 1440 may determine estimated temperature information based on the measured resistance component and the inductor component, and may determine whether the thin film 1420 is damaged by comparing it with the measured temperature information obtained by the temperature sensor 1460 . According to an embodiment, the characteristics of the method of estimating the temperature of the thin film 1420 by the cooktop 1400 using the autonomous resonance method have been described above through various embodiments including FIGS. 13A and 13B , and thus a detailed description thereof will be omitted.

일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)은 박막에 의해 형성되는 등가회로를 이용하여 추정되는 온도와 온도 센서를 통해 측정되는 온도를 비교하여 피가열 물체(HO)인 용기의 재질을 결정할 수 있다. According to an embodiment, the cooktop 1400 of the induction heating method determines the material of the container as the object to be heated (HO) by comparing the temperature estimated using the equivalent circuit formed by the thin film and the temperature measured through the temperature sensor. can

일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)의 MCU(1440)는 메모리(1430)에 미리 저장된 박막(1420)의 온도와 박막(1420)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 이용하여 박막(1420)의 피가열 물체(HO)의 재질을 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(1440)는 워킹 코일(1450)을 가동시키고, 메모리(1430)에 저장된 상관관계에 대한 정보에 기초하여 워킹 코일(1450)에 의해 유도 가열된 박막(1420)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보를 결정할 수 있다. MCU(1440)는 이렇게 결정된 추정 온도 정보와 온도 센서(1460)에 의해 실제 측정된 박막(1420)의 온도를 나타내는 측정 온도 정보를 비교하여 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지 결정할 수 있다.According to an embodiment, the MCU 1440 of the induction heating type cooktop 1400 includes the temperature of the thin film 1420 stored in advance in the memory 1430 and the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the thin film 1420 and The material of the object to be heated HO of the thin film 1420 may be determined by using the information on the correlation of . According to an embodiment, the MCU 1440 operates the working coil 1450 , and is formed by the thin film 1420 that is inductively heated by the working coil 1450 based on the correlation information stored in the memory 1430 . It is possible to determine the estimated temperature information corresponding to the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit. The MCU 1440 compares the determined estimated temperature information with the measured temperature information indicating the temperature of the thin film 1420 actually measured by the temperature sensor 1460 to determine whether the material of the object to be heated (HO) is a metallic material or a non-metallic material. can decide

일 실시예에 따라 메모리(1430)에 미리 저장된 박막(1420)의 온도와 박막(1420)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보는, 박막(1420)이 가열된 온도마다 형성된 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대한 정보를 포함할 수 있다. 즉, 메모리(1430)에 저장된 상관관계에 대한 정보에 기초하여 추정되는 추정 온도는 실제 박막(1420)의 온도를 측정한 결과와 거의 동일하거나 미리 결정된 범위 내의 차이를 보일 수 있다. 일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)이 박막(1420)의 온도를 추정하는 방식은 도 10 내지 도 13b를 통해 상술한 다양한 실시예를 통해 구현될 수 있다. According to an embodiment, the information on the correlation between the temperature of the thin film 1420 stored in the memory 1430 in advance and the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the thin film 1420 is that the thin film 1420 is heated. It may include information on the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed for each temperature. That is, the estimated temperature estimated based on the correlation information stored in the memory 1430 may be substantially the same as the result of measuring the actual temperature of the thin film 1420 or may show a difference within a predetermined range. According to an embodiment, the method in which the cooktop 1400 of the induction heating method estimates the temperature of the thin film 1420 may be implemented through the various embodiments described above with reference to FIGS. 10 to 13B .

도 19는 일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)이 추정 온도 정보와 측정 온도 정보를 비교하여 피가열 물체(HO)의 재질을 결정하는 방법에 대한 흐름도이다.19 is a flowchart illustrating a method of determining the material of the object to be heated (HO) by comparing estimated temperature information and measured temperature information by the cooktop 1400 of the induction heating method according to an embodiment.

S1910단계에서 쿡탑(1400)은 일 실시예에 따라 박막(1420)의 온도와 박막에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 메모리(1430)에 미리 저장할 수 있다. 일 실시예에 따라 메모리(1430)가 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 저장하는 시점은 추정 온도 정보와 측정 온도 정보를 비교하는 S1940단계의 임의의 시점일 수 있으나, 설명의 편의 상 S1910단계에 수행된 것을 전제로 설명하도록 한다. In step S1910, the cooktop 1400 may store information on the correlation between the temperature of the thin film 1420 and the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit formed by the thin film in advance in the memory 1430 according to an embodiment. . According to an embodiment, the time at which the memory 1430 stores the information on the correlation between the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit may be any point in step S1940 of comparing the estimated temperature information and the measured temperature information, For convenience of description, the description will be made on the premise that the step S1910 is performed.

일 실시예에 따라 S1910단계에서 미리 저장된 상관관계에 대한 정보는 박막(1420)에 의해 형성된 등가회로에 대한 저항 성분 및 인덕터 성분과 박막(1420)의 실제 온도와의 상관관계를 나타내는 정보이다.According to an embodiment, the correlation information stored in advance in step S1910 is information indicating a correlation between a resistance component and an inductor component for an equivalent circuit formed by the thin film 1420 and the actual temperature of the thin film 1420 .

일 실시예에 따라 박막(1420)은 워킹 코일(1450)에 의해 유도 가열될 수 있는 재질로 구성되며, 이에 따라 워킹 코일(1450)에서 바라본 등가 회로는 박막(1420)에 의해 형성된 것일 수 있다. 다만, 상판부(15)에 배치된 용기가 금속 재질인 경우 박막(1420)과 같이 유도 가열될 수 있으며, 금속 재질의 용기가 상판부(15) 상에 배치된 경우 워킹 코일(1450)에서 바라본 등가 회로는 박막(1420) 및 용기에 의해 형성된 것일 수 있다.According to an embodiment, the thin film 1420 is made of a material that can be inductively heated by the working coil 1450 . Accordingly, the equivalent circuit viewed from the working coil 1450 may be formed by the thin film 1420 . However, when the container disposed on the top plate 15 is made of a metal material, it may be induction heated like the thin film 1420 , and when the container made of a metal material is disposed on the top plate part 15 , the equivalent circuit viewed from the working coil 1450 . may be formed by the thin film 1420 and the container.

S1920단계에서 쿡탑(1400)은 일 실시예에 따라 S1910단계에서 미리 저장된 상관관계에 대한 정보에 기초하여 워킹 코일(1450)에 의해 유도 가열된 박막(1420)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보를 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 워킹 코일(1450)이 동작함에 따라 박막(1420)은 유도 가열될 수 있으며, 박막(1420)이 유도 가열됨에 따라 박막(1420)에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분이 변화할 수 있다. MCU(1440)는 이러한 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분을 워킹 코일(1450)의 출력 전력 및 공진 전류 등을 통해 산출할 수 있고, 미리 저장된 상관관계에 대한 정보에 기초하여 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보를 결정할 수 있다. MCU(1440)에 의해 결정된 추정 온도 정보는 온도 센서(1460)를 통해 실제 측정된 온도가 아닌 추정 값이다.In step S1920, the cooktop 1400 is formed by the thin film 1420 inductively heated by the working coil 1450 based on the correlation information stored in advance in step S1910 according to an embodiment. Estimated temperature information corresponding to the inductor component may be determined. According to an embodiment, as the working coil 1450 operates, the thin film 1420 may be inductively heated, and as the thin film 1420 is inductively heated, a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit formed by the thin film 1420 This can change. The MCU 1440 may calculate the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit through the output power and the resonance current of the working coil 1450, and based on the information about the correlation stored in advance, the resistance component and the inductor component Corresponding estimated temperature information may be determined. The estimated temperature information determined by the MCU 1440 is an estimated value, not a temperature actually measured by the temperature sensor 1460 .

S1930단계에서 쿡탑(1400)은 일 실시예에 따라 온도 센서(1460)를 이용하여 워킹 코일(1450)에 의해 유도 가열된 박막(1420)의 온도를 측정하여 측정 온도 정보를 획득할 수 있다. In step S1930 , the cooktop 1400 may obtain measured temperature information by measuring the temperature of the thin film 1420 inductively heated by the working coil 1450 using the temperature sensor 1460 according to an embodiment.

S1940단계에서 쿡탑(1400)은 일 실시예에 따라 S1920단계에서 결정된 추정 온도 정보와 S1930단계에서 획득된 측정 온도 정보를 서로 비교함으로써 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지 결정할 수 있다. In step S1940, the cooktop 1400 compares the estimated temperature information determined in step S1920 with the measured temperature information obtained in step S1930 according to an embodiment to determine whether the material of the object to be heated (HO) is a metallic material or a non-metallic material. have.

일 실시예에 따라 피가열 물체(HO)의 재질이 비금속 재질인 경우 워킹 코일(1450)에서 바라보는 등가 회로는 박막(1420)에 의해서만 형성된 것이기 때문에, S1920단계에서 획득된 추정 온도 정보와 S1930단계에서 획득된 측정 온도 정보는 서로 동일하거나 차이가 크지 않아야 한다. According to an embodiment, when the material of the object to be heated (HO) is a non-metal material, since the equivalent circuit viewed from the working coil 1450 is formed only by the thin film 1420, the estimated temperature information obtained in step S1920 and step S1930 The measured temperature information obtained from

하지만 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인 경우, 워킹 코일(1450)에서 바라보는 등가회로는 박막(1420) 및 금속 재질의 피가열 물체(HO)에 의해 등가회로에 형성되기 때문에, 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분의 변화로 인해 이에 대응되는 추정 온도 정보 자체가 급격하게 변하게 되므로, MCU(1440)는 박막(1420)의 손상에 따른 실제 온도와 추정 온도 차이에 기반하여 박막(1420)의 손상 여부를 결정할 수 있다.However, when the material of the object to be heated (HO) is made of metal, the equivalent circuit viewed from the working coil 1450 is formed in the equivalent circuit by the thin film 1420 and the object to be heated (HO) made of metal. Since the corresponding estimated temperature information itself changes abruptly due to changes in the resistance component and the inductor component of the circuit, the MCU 1440 performs the thin film 1420 based on the difference between the actual temperature and the estimated temperature due to damage to the thin film 1420 . damage can be determined.

도 20은 일 실시예에 따라 쿡탑(1400)이 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이가 미리 설정된 범위에 포함되는지에 따라 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지 결정하는 과정에 대한 흐름도를 도시한다. 도 20의 S2010단계, S2020단계 및 S2030단계에 대한 특징은 도 19의 S1910단계, S1920단계 및 S1930단계에 대한 특징과 동일하거나 유사할 수 있으므로 자세한 설명은 생략한다.20 is a process in which the cooktop 1400 determines whether the material of the object to be heated (HO) is a metallic material or a non-metallic material according to whether the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is included in a preset range according to an embodiment; shows a flow chart for The features of steps S2010, S2020, and S2030 of FIG. 20 may be the same as or similar to those of steps S1910, S1920, and S1930 of FIG. 19, and thus a detailed description thereof will be omitted.

S2040단계에서 MCU(1440)는 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이가 미리 설정된 범위에 포함되는지를 판단할 수 있다. In step S2040, the MCU 1440 may determine whether a difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is included in a preset range.

일 실시예에 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이가 미리 설정된 범위에 포함되는 경우, S2050단계에서 MCU(1440)는 피가열 물체(HO)의 재질이 비금속 재질인 것으로 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이(D)가 미리 설정된 범위에 포함되지 않는 경우(예를 들면, D>TH3인 경우), 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인 것으로 결정할 수 있다.In an embodiment, when the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is included in a preset range, in step S2050 , the MCU 1440 may determine that the material of the object HO to be heated is a non-metal material. According to an embodiment, when the difference (D) between the estimated temperature information and the measured temperature information is not included in a preset range (for example, when D>TH3), the material of the object to be heated (HO) is a metallic material. it can be decided that

일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이가 미리 설정된 범위에 포함되지 않는 경우, S2052단계에서 MCU(1440)는 피가열 물체(HO)의 재질이 비금속 재질인 것으로 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이(D)가 미리 설정된 범위에 포함되는 경우(예를 들면, D≤TH3), 피가열 물체(HO)의 재질이 비금속 재질인 것으로 결정할 수 있다.According to an embodiment, when the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is not included in the preset range, the MCU 1440 may determine that the material of the object to be heated HO is a non-metal material in step S2052 . According to an embodiment, when the difference (D) between the estimated temperature information and the measured temperature information is included in a preset range (eg, D≤TH3), it can be determined that the material of the object to be heated (HO) is a non-metal material. have.

일 실시예에 따라, 쿡탑(1400)은 시각적 정보 및 청각적 정보 중 적어도 하나를 출력할 수 있는 출력부(미도시)를 더 포함할 수 있으며, MCU(1440)는 이러한 출력부(미도시)를 제어하여 임의의 정보를 출력할 수 있다. 일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이가 미리 설정된 범위 내에 포함되는지에 따라 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지가 결정되면, 출력부(미도시)를 통해 피가열 물체(HO)의 재질에 대한 시각적 정보 및/또는 청각적 정보를 출력할 수 있다. 이러한 출력을 통해 사용자는 피가열 물체(HO)의 재질에 대한 인지할 수 있으며 이에 따라 피가열 물체(HO)의 재질을 쿡탑(1400)이 올바르게 감지하였는지 확인할 수 있다.According to an embodiment, the cooktop 1400 may further include an output unit (not shown) capable of outputting at least one of visual information and audible information, and the MCU 1440 includes such an output unit (not shown). can be controlled to output arbitrary information. According to an embodiment, when it is determined whether the material of the object to be heated HO is a metal material or a non-metal material according to whether the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is within a preset range, through an output unit (not shown) Visual information and/or auditory information about the material of the object HO to be heated may be output. Through this output, the user may recognize the material of the object HO to be heated, and accordingly, it may be confirmed whether the cooktop 1400 correctly senses the material of the object HO to be heated.

도 21은 일 실시예에 따라 미리 설정된 조건에 기초하여 선택된 가열모드로 박막(1420) 및 피가열 물체(HO) 중 적어도 하나를 가열하는 상황에서의 피가열 물체(HO)의 재질을 결정하는 과정을 수행하는 방법에 대한 흐름도이다. 도 21의 S2110단계, S2120단계, S2130단계, S2140단계, S2150단계 및 S2152단계에 대한 특징은 도 20의 S2010단계, S2020단계, S2030단계, S2040단계, S2050단계 및 S2052단계에 대한 특징과 동일하거나 유사하므로 자세한 설명은 생략한다.21 is a process for determining the material of the object to be heated (HO) in a situation in which at least one of the thin film 1420 and the object to be heated (HO) is heated in a heating mode selected based on a preset condition according to an embodiment; Here is a flowchart on how to do it. The characteristics of step S2110, step S2120, step S2130, step S2140, step S2150 and step S2152 of FIG. 21 are the same as the characteristics of step S2010, step S2020, step S2030, step S2040, step S2050 and step S2052 of FIG. Since they are similar, a detailed description will be omitted.

일 실시예에 따라 MCU(1440)는 S2156단계에서 복수의 가열모드 중 미리 설정된 조건에 기초하여 가열 모드를 선택할 수 있다. 일 실시예에 따라 미리 설정된 조건에 따라 가열 모드를 선택하는 과정은, 다양한 실시 형태에 따라 구현될 수 있다. 예를 들면, MCU(1440)는 S2150단계 또는 S2152단계에서 결정된 피가열 물체(HO)의 재질에 따라 복수의 가열 모드에 포함된 금속 가열 모드 또는 비금속 가열 모드 중 하나로 선택할 수 있다. 또 다른 예를 들면, MCU(1440)는 사용자 인터페이스(미도시)로 수신된 외부 입력에 따라 금속 가열 모드 또는 비금속 가열 모드를 선택할 수 있다. S2156단계에서 쿡탑(1400)은 선택된 가열모드로 박막(1420) 및 피가열 물체(HO) 중 적어도 하나를 가열할 수 있다.According to an embodiment, the MCU 1440 may select a heating mode based on a preset condition among a plurality of heating modes in step S2156. According to an embodiment, the process of selecting a heating mode according to a preset condition may be implemented according to various embodiments. For example, the MCU 1440 may select one of a metal heating mode or a non-metal heating mode included in the plurality of heating modes according to the material of the object HO to be heated determined in step S2150 or step S2152 . As another example, the MCU 1440 may select a metal heating mode or a non-metal heating mode according to an external input received through a user interface (not shown). In step S2156, the cooktop 1400 may heat at least one of the thin film 1420 and the object HO to be heated in the selected heating mode.

일 실시예에 따라 쿡탑(1400)가 금속 가열 모드로 동작하는 경우, 비금속 가열모드로 동작하는 경우보다 더 높은 출력을 가열을 수행할 수 있다. 예를 들면, 금속 가열 모드에서의 워킹 코일(1450)의 최대 출력은 3KW, 비금속 가열 모드에서의 워킹 코일(1450)의 최대 출력은 2KW로 설정될 수 있다.According to an embodiment, when the cooktop 1400 operates in the metal heating mode, heating may be performed at a higher output than when the cooktop 1400 operates in the non-metal heating mode. For example, the maximum output of the working coil 1450 in the metal heating mode may be set to 3KW, and the maximum output of the working coil 1450 in the non-metal heating mode may be set to 2KW.

S2160단계에서 MCU(1440)는 일 실시예에 따라 선택된 가열모드와, 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 결정된 피가열 물체(HO)의 재질이 서로 대응되는지를 판단할 수 있다. 일 실시예에 따라 쿡탑(1400)의 상판부(15)에 배치된 피가열 물체(HO)는 사용 상황에 따라서 임의 시점에 교체될 수 있고, 이에 따라 가열되는 피가열 물체(HO)의 재질은 달라질 수 있다. 따라서 선택된 가열 모드와 피가열 물체(HO)의 재질이 서로 대응되었다고 하더라도, 사용자의 사용 상황에 따라서는 선택된 가열 모드와 피가열 물체(HO)의 재질이 서로 대응하지 않게 변할 수도 있다. 일 실시예에 따라 쿡탑(1400)은 임의의 주기마다 반복적으로 S2160단계를 수행하여 선택된 가열 모드와 피가열 물체(HO)의 재질이 서로 대응하는지 여부를 지속적으로 파악할 수 있다.In step S2160, the MCU 1440 may determine whether the material of the object to be heated HO determined based on the difference between the heating mode selected according to an embodiment and the estimated temperature information and the measured temperature information corresponds to each other. According to an embodiment, the object to be heated HO disposed on the upper plate 15 of the cooktop 1400 may be replaced at any time depending on the use situation, and accordingly, the material of the object to be heated HO to be heated may vary. can Therefore, even if the selected heating mode and the material of the object to be heated correspond to each other, the selected heating mode and the material of the object to be heated HO may not correspond to each other depending on the user's usage situation. According to an embodiment, the cooktop 1400 may continuously determine whether the selected heating mode and the material of the object to be heated (HO) correspond to each other by repeatedly performing step S2160 at every arbitrary cycle.

S2162단계에서 쿡탑(1400)은 일 실시예에 따라 피가열 물체(HO)의 재질에 대응되는 가열 모드로 박막 및 피가열 물체 중 적어도 하나를 가열할 수 있다. 일 실시예에 따라 S2160단계에서의 대응 여부 판단 결과가 피가열 물체(HO)의 재질이 선택된 가열 모드에 대응되지 않는 것으로 판단된 경우, MCU(1440)는 피가열 물체(HO)의 재질에 대응되는 가열 모드로 동작하도록 워킹 코일(1450)을 제어할 수 있다. 이에 따라 쿡탑(1400)은 사용자의 사용 현황에 따라 워킹 코일(1450)의 가열 모드를 적응적으로 조절할 수 있으며 이에 따라 피가열 물체(HO)의 재질에 적합한 가열 모드를 실행할 수 있다.In step S2162, the cooktop 1400 may heat at least one of the thin film and the object to be heated in a heating mode corresponding to the material of the object to be heated (HO) according to an exemplary embodiment. According to an embodiment, when it is determined that the material of the object to be heated (HO) does not correspond to the selected heating mode as a result of the determination of whether to respond in step S2160, the MCU 1440 corresponds to the material of the object to be heated (HO). The working coil 1450 may be controlled to operate in a heating mode. Accordingly, the cooktop 1400 may adaptively adjust the heating mode of the working coil 1450 according to the user's usage status, and thus may execute a heating mode suitable for the material of the object HO to be heated.

도 22는 일 실시예에 따라 선택된 가열 모드와 피가열 물체(HO)의 재질이 대응되지 않는 경우에 쿡탑(1400)이 실시하게 되는 가열 모드 변경 방법에 대한 흐름도를 도시한다. 일 실시예에 따라 도 22의 S2260단계의 특징은 도 21의 S2160단계의 특징과 동일하거나 유사할 수 있으며, 이에 따라 S2260단계는 도 21에 도시된 흐름도 상의 S2110단계 내지 S2156단계 중 적어도 일부를 거쳐 도달한 것일 수 있다. 22 is a flowchart illustrating a method of changing a heating mode performed by the cooktop 1400 when the selected heating mode does not correspond to the material of the object HO to be heated, according to an embodiment. According to an exemplary embodiment, the characteristics of step S2260 of FIG. 22 may be the same as or similar to those of step S2160 of FIG. may have been reached

일 실시예에 따라 S2260단계에서 선택된 가열 모드와, 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 결정된 피가열 물체의 재질이 서로 대응되지 않는 것으로 결정된 경우, S2271단계에서 쿡탑(1400)은 선택된 가열 모드가 금속 가열 모드인지 비금속 가열 모드인지 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 S2271단계에서 쿡탑(1400)이 가열 모드가 금속 가열 모드인지 결정하는 것은, 가열 모드가 비금속 가열 모드인데 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인 경우와, 가열 모드가 금속 가열 모드인데 피가열 물체(HO)의 재질이 비금속 재질인 경우를 구분하여 가열 모드를 변경하기 위한 것이다. 따라서, S2271단계에서 쿡탑(1400)이 선택된 가열 모드가 금속 가열 모드인지 또는 비금속 가열 모드인지 결정하는 과정은, 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인지 또는 비금속 재질인지를 결정하는 것으로 대체될 수 있다. 다만 이하에서는 설명 상 편의를 위해, S2271단계에서 쿡탑(1400)은 선택된 가열 모드가 금속 가열 모드인지 또는 비금속 가열 모드인지 결정하는 것을 전제로 설명하도록 한다.According to an embodiment, when it is determined that the material of the object to be heated determined based on the difference between the heating mode selected in step S2260 and the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information does not correspond to each other, the cooktop 1400 is heated in step S2271. It can be determined whether the mode is a metal heating mode or a non-metal heating mode. According to an embodiment, the cooktop 1400 determines whether the heating mode is a metal heating mode in step S2271 according to an embodiment, when the heating mode is a non-metal heating mode and the material of the object to be heated (HO) is a metal material, and the heating mode is a metal The heating mode is for changing the heating mode by dividing the case where the material of the object to be heated (HO) is a non-metal material. Therefore, the process of determining whether the heating mode selected by the cooktop 1400 in step S2271 is a metal heating mode or a non-metal heating mode is replaced by determining whether the material of the object to be heated (HO) is a metal material or a non-metal material. can However, hereinafter, for convenience of description, the cooktop 1400 in step S2271 will be described on the premise that it is determined whether the selected heating mode is a metal heating mode or a non-metal heating mode.

S2271단계에서 선택된 가열 모드가 비금속 가열 모드인 것으로 결정된 경우, S2272단계에서 쿡탑(1400)은 가열 모드를 금속 가열 모드로 변경할 수 있으며 이에 기초하여 피가열 물체(HO) 및 박막(1420) 중 적어도 하나를 가열할 수 있다. When it is determined that the heating mode selected in step S2271 is the non-metal heating mode, the cooktop 1400 may change the heating mode to the metal heating mode in step S2272, and based on this, at least one of the object to be heated (HO) and the thin film 1420 can be heated.

S2271단계에서 선택된 가열 모드가 금속 가열 모드인 것으로 결정된 경우, S2273단계에서 쿡탑(1400)은 가열 모드를 비금속 가열 모드로 변경할 수 있으며 이에 기초하여 피가열 물체(HO) 및 박막(1420) 중 적어도 하나를 가열할 수 있다. When it is determined that the heating mode selected in step S2271 is a metal heating mode, the cooktop 1400 may change the heating mode to a non-metal heating mode in step S2273, and based on this, at least one of the object to be heated (HO) and the thin film 1420 can be heated.

일 실시예에 따라 S2271단계에서 선택된 가열 모드가 금속 가열 모드인 것으로 결정된 경우, S2273단계에서 쿡탑(1400)은 가열 모드를 비금속 가열 모드로 변경하는 대신 가열을 중단할 수도 있다. 일 실시예에 따라, 박막(1420)이 배치된 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)에서는 워킹 코일(1450)에서 바라본 등가 회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대한 정보를 이용하므로, 피가열 물체(HO)의 재질이 비금속 재질인 경우와 피가열 물체(HO)가 상판부(15)에 배치되지 않은 경우 모두 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 차이가 미리 설정된 범위에 포함되어 버릴 수도 있다. 따라서 피가열 물체(HO)가 상판부(15)에 배치되지 않은 경우(예를 들면, 가열 도중에 사용자가 피가열 물체(HO)를 상판부(15)에서 제거한 경우)에도 가열 모드를 비금속 가열 모드로 변경하여 지속적으로 동작하게 되는 상황을 방지하기 위해, MCU(1440)는 S2271단계에서 선택된 가열 모드가 금속 가열 모드인 것으로 결정된 경우 가열 모드를 비금속 가열 모드로 변경하는 대신 가열을 중단하도록 워킹 코일(1450)을 제어할 수도 있다.According to an embodiment, when it is determined that the heating mode selected in step S2271 is the metal heating mode, the cooktop 1400 may stop heating instead of changing the heating mode to the non-metal heating mode in step S2273. According to an embodiment, since the induction heating type cooktop 1400 in which the thin film 1420 is disposed uses information on the resistance component and the inductor component of the equivalent circuit viewed from the working coil 1450, the object to be heated (HO) The difference between the estimated temperature information and the measured temperature information may be included in a preset range both when the material of is a non-metal material and when the object to be heated HO is not disposed on the upper plate 15 . Therefore, even when the object to be heated HO is not disposed on the upper plate 15 (for example, when the user removes the object HO from the upper plate 15 during heating), the heating mode is changed to the non-metal heating mode In order to prevent the situation from continuously operating, the MCU 1440 is a working coil 1450 to stop heating instead of changing the heating mode to a non-metal heating mode when it is determined that the heating mode selected in step S2271 is a metal heating mode. can also be controlled.

일 실시예에 따라 MCU(1440)가 S2273단계에서 가열 모드를 비금속 가열 모드로 변경하는 대신 가열을 중단하게 되는 과정은 미리 결정된 조건에 부합하는 경우에 수행될 수 있다. 예를 들면, 가열 모드를 비금속 가열 모드로 변경하여 가열을 지속할 것을 지시하는 외부 신호가 미리 결정된 시간 이내에 쿡탑(1400)의 사용자 인터페이스(미도시)에 입력되지 않는 경우이거나, 금속 재질의 피가열 물체(HO)가 상판부(15)에 다시 배치되었음이 결정되었거나 또는 쿡탑(1400)에 포함된 별도의 용기 검출 센서(미도시)에 의해 피가열 물체(HO)가 상판부(HO)에 배치되지 않은 것으로 결정된 경우에, 가열이 중단될 수 있다.According to an embodiment, the process in which the MCU 1440 stops heating instead of changing the heating mode to the non-metal heating mode in step S2273 may be performed when a predetermined condition is satisfied. For example, when an external signal instructing to continue heating by changing the heating mode to the non-metal heating mode is not input to the user interface (not shown) of the cooktop 1400 within a predetermined time, or a metal material to be heated It is determined that the object HO is placed again on the upper panel 15 or the object HO to be heated is not placed on the upper panel HO by a separate container detection sensor (not shown) included in the cooktop 1400 . If it is determined that it is, heating can be stopped.

도 23은 일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 비교를 통해 피가열 물체(HO)의 재질을 결정하고 피가열 물체(HO)의 배치 여부를 파악하여, 가열 모드를 제어할 수 있는 유도 가열 방식의 쿡탑(2300)의 블록도를 도시한다. 일 실시예에 따라 도 23의 유도 가열 방식의 쿡탑(2300)에 포함된 구성 중 커버 플레이트(2310), 박막(2320), 메모리(2330), MCU(2340) 워킹 코일(2350)은 도 14의 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)에 포함된 구성 중 커버 플레이트(1410), 박막(1420), 메모리(1430), MCU(1440) 워킹 코일(1450)에 대응되는 구성일 수 있다. 따라서 도 23의 유도 가열 방식의 쿡탑(2300)의 특징은 도 14 내지 도 22를 통해 설명된 유도 가열 방식의 쿡탑(1400)의 특징을 적어도 부분적으로 이용할 수 있다. 23 is a diagram illustrating a method of controlling a heating mode by determining a material of an object to be heated (HO) through comparison of estimated temperature information and measured temperature information and determining whether the object to be heated (HO) is disposed according to an embodiment; A block diagram of a cooktop 2300 of induction heating is shown. According to an embodiment, among the components included in the induction heating type cooktop 2300 of FIG. 23 , the cover plate 2310 , the thin film 2320 , the memory 2330 , the MCU 2340 , and the working coil 2350 are shown in FIG. 14 . Among the components included in the cooktop 1400 of the induction heating method, the cover plate 1410 , the thin film 1420 , the memory 1430 , and the MCU 1440 may have a configuration corresponding to the working coil 1450 . Accordingly, the characteristics of the cooktop 2300 of the induction heating method of FIG. 23 may at least partially use the characteristics of the cooktop 1400 of the induction heating method described with reference to FIGS. 14 to 22 .

일 실시예에 따라 유도 가열 방식의 쿡탑(2300)은 용기 검출 센서(2370)를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따라 용기 검출 센서(2370)는 상판부(15)의 상에 피가열 물체(HO)가 배치되었는지 여부를 나타내는 배치 정보를 획득할 수 있다. 일 실시예에 따라 용기 검출 센서(2370)는 획득되는 정보에 기초하여 임의의 물체의 존재 여부를 파악할 수 있게 하는 다양한 종류의 센서(예를 들면, 적외선 센서, 광학 센서, 압력 센서, 초음파 센서, 근접 센서 등)를 포함할 수 있다.According to an embodiment, the cooktop 2300 of the induction heating method may include a container detection sensor 2370 . According to an exemplary embodiment, the container detection sensor 2370 may obtain arrangement information indicating whether the object to be heated HO is disposed on the upper plate part 15 . According to an embodiment, the container detection sensor 2370 includes various types of sensors (eg, an infrared sensor, an optical sensor, a pressure sensor, an ultrasonic sensor, proximity sensor, etc.).

일 실시예에 따라 MCU(2340)은 용기 검출 센서(2370)로부터 획득되는 배치 정보에 기초하여 피가열 물체(HO)가 상판부(15) 상에 배치되었는지 결정할 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(2340)는 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보에 기초하여 피가열 물체(HO)가 금속 재질인지 비금속 재질인지를 결정할 수 있으며, 이에 따라 피가열 물체(HO)의 재질에 바람직한 가열 모드로 동작하도록 워킹 코일(2350)을 제어할 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(2340)는 피가열 물체(HO)가 상판부(15) 상에 배치된 것인지에 기초하여 가열 모드를 제어할 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(2340)는 피가열 물체(HO)가 배치되지 않은 것으로 판단되는 경우, 안정성 확보를 위해 가열을 중단하도록 워킹 코일(2350)를 제어할 수 있다.According to an embodiment, the MCU 2340 may determine whether the object to be heated HO is disposed on the upper plate 15 based on the arrangement information obtained from the container detection sensor 2370 . According to an embodiment, the MCU 2340 may determine whether the object to be heated HO is a metallic material or a non-metal material based on the estimated temperature information and the measured temperature information, and accordingly, it is preferable for the material of the object to be heated HO. The working coil 2350 may be controlled to operate in a heating mode. According to an embodiment, the MCU 2340 may control the heating mode based on whether the object to be heated HO is disposed on the upper plate 15 . According to an embodiment, when it is determined that the object HO to be heated is not disposed, the MCU 2340 may control the working coil 2350 to stop heating in order to secure stability.

도 24는 일 실시예에 따라 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보의 비교를 통해 피가열 물체(HO)의 재질을 결정하고 피가열 물체(H0)의 배치 여부를 파악하여, 가열 모드를 제어할 수 있는 방법에 대한 흐름도를 도시한다.24 is a view illustrating a method of controlling a heating mode by determining the material of the object to be heated (HO) through comparison of the estimated temperature information and the measured temperature information and determining whether the object to be heated (H0) is disposed according to an embodiment; A flowchart for the method is shown.

도 24의 S2410단계, S2430단계, S2440단계 및 S2450단계의 특징은 도 19의 S1910단계, S1920단계, S1930단계 및 S1940단계의 특징과 동일하거나 유사할 수 있으므로 자세한 설명은 생략한다. The characteristics of steps S2410, S2430, S2440, and S2450 of FIG. 24 may be the same as or similar to those of steps S1910, S1920, S1930, and S1940 of FIG. 19, and thus detailed description will be omitted.

S2420단계에서 유도 가열 방식의 쿡탑(2300)은 일 실시예에 따라 피가열 물체(HO)가 배치되었는지 여부를 나타내는 배치 정보를 용기 검출 센서(2370)를 통해 획득할 수 있다. 일 실시예에 따라 배치 정보를 획득하는 S2420단계는 가열 모드를 제어하는 S2460단계 이전의 임의의 시점에서 적어도 한 번 수행될 수 있다. In step S2420 , the induction heating type cooktop 2300 may obtain arrangement information indicating whether the object to be heated HO is disposed through the container detection sensor 2370 according to an embodiment. According to an embodiment, the step S2420 of obtaining the arrangement information may be performed at least once at an arbitrary point in time before the step S2460 of controlling the heating mode.

S2460단계에서 유도 가열 방식의 쿡탑(2300)은 일 실시예에 따라 배치 정보 및 피가열 물체(HO)의 재질에 기초하여 가열 모드를 제어할 수 있다. 피가열 물체(HO)의 재질에 기반하여 가열 모드를 제어하는 다양한 방법들은 도 19 내지 도 22에서 앞서 설명한 다양한 실시예를 통해 수행될 수 있다. 일 실시예에 따라 피가열 물체(HO)의 재질에 기반하여 가열 모드를 제어하기 위해 배치 정보를 더 고려하는 방법에 대하여는 다양한 실시예를 통해 후술하도록 한다.In operation S2460, the induction heating type cooktop 2300 may control the heating mode based on the arrangement information and the material of the object to be heated (HO) according to an embodiment. Various methods of controlling the heating mode based on the material of the object to be heated HO may be performed through the various embodiments described above with reference to FIGS. 19 to 22 . A method of further considering arrangement information to control a heating mode based on the material of the object HO to be heated according to an embodiment will be described later through various embodiments.

도 25는 일 실시예에 따라 피가열 물체(HO)의 배치 여부를 파악하여, 가열을 중단시키는 방법에 대한 흐름도를 도시한다.25 is a flowchart illustrating a method of stopping heating by determining whether an object to be heated HO is disposed, according to an embodiment.

도 25의 S2510단계, S2520단계, S2530단계, S2540단계, S2550단계 및 S2560단계의 특징은 도 24의 S2410단계, S2420단계, S2430단계, S2440단계, S2450단계 및 S2460단계의 특징과 동일하거나 유사할 수 있으므로 자세한 설명은 생략한다. The characteristics of steps S2510, S2520, S2530, S2540, S2550 and S2560 of FIG. 25 may be the same as or similar to the characteristics of steps S2410, S2420, S2430, S2440, S2450 and S2460 of FIG. Therefore, a detailed description will be omitted.

일 실시예에 따라 쿡탑(2300)은 S2520단계에서 획득한 배치 정보에 기초하여, 피가열 물체(HO)가 배치되었는지를 S2522단계에서 판단할 수 있다. According to an embodiment, the cooktop 2300 may determine in step S2522 whether the object to be heated HO is disposed based on the arrangement information obtained in step S2520.

일 실시예에 따라 배치 정보가 피가열 물체(HO)가 배치되지 않은 것을 나타내는 경우, S2524단계에서 MCU(2340)는 가열을 중단하도록 워킹 코일(2350)을 제어할 수 있다. According to an embodiment, when the arrangement information indicates that the object to be heated HO is not disposed, the MCU 2340 may control the working coil 2350 to stop heating in step S2524 .

일 실시예에 따라 배치 정보가 피가열 물체(HO)가 배치된 것을 나타내는 경우, MCU(2540)는 S2530단계 내지 S2560단계를 통해 배치 정보 및 피가열 물체의 재질에 기초하여 가열 모드를 제어할 수 있다.According to an embodiment, when the arrangement information indicates that the object to be heated (HO) is placed, the MCU 2540 may control the heating mode based on the arrangement information and the material of the object to be heated through steps S2530 to S2560. have.

일 실시예에 따라 MCU(2540)는 배치 정보가 피가열 물체(HO)가 배치되었음을 나타내는 경우, 피가열 물체(HO)의 재질에 기초하여 워킹 코일(2550)의 가열 모드를 제어할 수 있다. 즉, MCU(2540)는 용기 검출 센서(2570)가 용기를 검출한 시점 기준으로 상판부(15)에 피가열 물체(HO)가 배치된 것으로 결정되었을 경우에 한하여, 피가열 물체(HO)의 재질에 기초하여 가열 모드를 제어한다. According to an embodiment, when the arrangement information indicates that the object to be heated HO is disposed, the MCU 2540 may control the heating mode of the working coil 2550 based on the material of the object HO to be heated. That is, the MCU 2540 only determines that the object to be heated (HO) is disposed on the upper plate part 15 based on the time when the container detection sensor 2570 detects the container, and the material of the object to be heated (HO) is Control the heating mode based on

일 실시예에 따라 MCU(2540)는 배치 정보가 피가열 물체(HO)가 배치되었음을 나타내는 경우, 추정 온도 정보 및 상기 측정 온도 정보 간의 차이(D)가 미리 설정된 범위 내에 포함되었는지 판단할 수 있다. 일 실시예에 따라 차이(D)가 미리 설정된 범위 내에 포함되는 경우(예를 들면, D≤TH3인 경우) MCU(2540)는 배치된 피가열 물체(HO)의 재질이 비금속 재질인 것으로 결정하고, 차이(D)가 미리 설정된 범위 내에 포함되지 않는 경우(예를 들면, D>TH3인 경우) 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인 것으로 결정할 수 있다. According to an embodiment, when the arrangement information indicates that the object to be heated HO is placed, the MCU 2540 may determine whether a difference D between the estimated temperature information and the measured temperature information is included within a preset range. According to an embodiment, when the difference D is included within a preset range (for example, when D ≤ TH3), the MCU 2540 determines that the material of the disposed object to be heated HO is a non-metal material, and , when the difference D is not included within a preset range (eg, when D>TH3), it may be determined that the material of the object to be heated HO is a metal material.

일 실시예에 따라 MCU(2540)는 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지에 따라 선택된 가열 모드로 박막(2520) 및 피가열 물체(HO) 중 적어도 하나를 가열하도록 워킹 코일(2550)을 제어할 수 있다. MCU(2540)는 피가열 물체(HO)의 재질에 대응되는 가열 모드로 구동되도록 워킹 코일(2550)을 제어할 수 있다.According to an embodiment, the MCU 2540 is a working coil to heat at least one of the thin film 2520 and the object to be heated (HO) in a heating mode selected according to whether the material of the object to be heated (HO) is a metallic material or a non-metal material. (2550) can be controlled. The MCU 2540 may control the working coil 2550 to be driven in a heating mode corresponding to the material of the object HO to be heated.

일 실시예에 따라 MCU(2540)는 복수의 가열 모드 중 미리 설정된 조건에 기초하여 선택된 가열 모드로 박막(2520) 및 피가열 물체(HO) 중 적어도 하나를 가열하도록 워킹 코일(2550)을 제어할 수 있다.According to an embodiment, the MCU 2540 controls the working coil 2550 to heat at least one of the thin film 2520 and the object to be heated (HO) in a heating mode selected based on a preset condition among a plurality of heating modes. can

일 실시예에 따라 복수의 가열 모드는 금속 가열 모드 및 비금속 가열 모드를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따라 MCU(2540)은 금속 가열 모드에서 비금속 가열 모드 보다 더 높은 출력으로 가동되도록 워킹 코일(2550)을 제어할 수 있다.According to an embodiment, the plurality of heating modes may include a metal heating mode and a non-metal heating mode. According to an embodiment, the MCU 2540 may control the working coil 2550 to operate at a higher output in the metal heating mode than in the non-metal heating mode.

일 실시예에 따라 워킹 코일(2550)의 가열 모드는 미리 설정된 조건에 기초하여 결정될 수 있으며, 미리 설정된 조건은 현재 배치된 피가열 물체(HO)의 재질이 무엇인지 또는 가열 모드를 선택하기 위한 외부 신호가 수신되었는지 여부 등을 포함하는 다양한 조건 중 적어도 하나일 수 있다. 일 실시예에 따라 사용자는 가열 모드를 선택하기 위한 외부 신호를 사용자 인터페이스를 통해 쿡탑(2500)에 입력할 수 있다. According to an embodiment, the heating mode of the working coil 2550 may be determined based on a preset condition, and the preset condition is the material of the currently disposed object to be heated HO or an external for selecting a heating mode. It may be at least one of various conditions including whether or not a signal is received. According to an exemplary embodiment, a user may input an external signal for selecting a heating mode to the cooktop 2500 through a user interface.

일 실시예에 따라 외부 신호에 기초하여 선택된 가열 모드와 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 결정된 피가열 물체(HO)의 재질이 서로 대응되지 않는 경우, MCU(2540)는 피가열 물체(HO)의 재질에 대응되는 가열 모드로 구동하도록 워킹 코일(2550)를 제어할 수 있다. 일 실시예에 따라 이러한 가열 모드를 변경하는 과정이 수행되는 경우 쿡탑(2500)은 출력부(미도시)를 통해 가열 모드가 변경되었음을 시각적 또는 청각적 정보의 형태로 출력할 수 있다.According to an embodiment, when the material of the object to be heated (HO) determined based on the difference between the heating mode selected based on the external signal and the estimated temperature information and the measured temperature information does not correspond to each other, the MCU 2540 is the object to be heated. The working coil 2550 may be controlled to drive in a heating mode corresponding to the material of (HO). According to an embodiment, when the process of changing the heating mode is performed, the cooktop 2500 may output the change of the heating mode in the form of visual or auditory information through an output unit (not shown).

도 26은 일 실시예에 따라 피가열 물체(HO)의 재질과 선택된 가열 모드가 서로 대응되지 않는 경우 배치 정보 및 선택된 가열 모드에 기초하여 가열 모드를 제어하는 방법에 대한 흐름도를 도시한다. 도 26의 S2660단계는 도 25의 S2650단계에 대응될 수 있다. 따라서 도 26의 동작이 수행되기 전에는 도 25의 S2650단계 이전의 동작들 중 적어도 일부가 수행된 상태일 수 있다.26 is a flowchart illustrating a method of controlling a heating mode based on arrangement information and a selected heating mode when the material of the object to be heated HO and the selected heating mode do not correspond to each other according to an embodiment. Step S2660 of FIG. 26 may correspond to step S2650 of FIG. 25 . Therefore, before the operation of FIG. 26 is performed, at least some of the operations before step S2650 of FIG. 25 may be performed.

S2660단계에서 쿡탑(2500)은 일 실시예에 따라 선택된 가열 모드와, 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 결정된 피가열 물체의 재질이 서로 대응되는 것으로 판단되는 경우, 가열 모드를 변경하지 않고 그대로 유지한다. In step S2660, when it is determined that the material of the object to be heated determined based on the difference between the heating mode selected according to an embodiment and the estimated temperature information and the measured temperature information corresponds to the cooktop 2500 in step S2660, the heating mode is not changed. and keep it as is

S2660단계에서 쿡탑(2500)은 일 실시예에 따라 선택된 가열 모드와, 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 결정된 피가열 물체의 재질이 서로 대응되지 않는 것으로 판단되는 경우, S2671단계에서 선택된 가열 모드가 금속 가열 모드인지 비금속 가열 모드인지 결정할 수 있다. S2671단계에서 쿡탑(1400)이 선택된 가열 모드가 금속 가열 모드인지 또는 비금속 가열 모드인지 결정하는 과정은, 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인지 또는 비금속 재질인지를 결정하는 것으로 대체될 수도 있다. S2671단계에서의 판단 결과에 기초하여, 쿡탑(2500)은 배치된 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지에 따라 가열 모드를 다르게 제어할 수 있다. In step S2660, when it is determined that the material of the object to be heated determined based on the difference between the heating mode selected according to an embodiment and the estimated temperature information and the measured temperature information does not correspond to the cooktop 2500 in step S2660, the selected in step S2671 It can be determined whether the heating mode is a metal heating mode or a non-metal heating mode. The process in which the cooktop 1400 determines whether the selected heating mode is a metal heating mode or a non-metal heating mode in step S2671 may be replaced by determining whether the material of the object to be heated (HO) is a metal material or a non-metal material . Based on the determination result in step S2671 , the cooktop 2500 may control the heating mode differently depending on whether the material of the disposed object HO is a metal material or a non-metal material.

일 실시예에 따라 미리 설정된 조건에 기초하여 가열 모드가 비금속 가열 모드로 선택되었는데 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 피가열 물체(HO)의 재질이 금속 재질인 것으로 결정된 경우, S2672단계에서 MCU(2540)는 가열 모드를 금속 가열 모드로 변경하여 가열하도록 워킹 코일(2550)을 제어할 수 있다.According to an embodiment, when the heating mode is selected as the non-metal heating mode based on a preset condition, and it is determined that the material of the object to be heated (HO) is a metal material based on the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information, step S2672 MCU 2540 may control the working coil 2550 to heat by changing the heating mode to the metal heating mode.

일 실시예에 따라 미리 설정된 조건에 기초하여 가열 모드가 금속 가열 모드로 선택되었는데 추정 온도 정보 및 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 피가열 물체(HO)의 재질이 비금속 재질인 것으로 결정된 경우, S2675단계에서 MCU(2540)는 배치 정보가 피가열 물체(HO)가 배치됨을 나타내는지를 판단할 수 있다. 즉, 쿡탑(2500)은 용기 검출 센서(2570)를 이용하여 획득된 배치 정보에 기초하여 피가열 물체(HO)가 배치되었음을 인지함에 따라 피가열 물체(HO)의 재질을 결정하고 또는 재질에 대응되는 가열 모드를 선택한 이후에, 선택된 가열 모드가 피가열 물체(HO)의 재질과 달라지게 된 것으로 인지하게 된 경우(예를 들면, 기존에 가열하고 있던 피가열 물체(HO)를 제거하거나 다른 재질의 피가열 물체(HO)로 바꿔서 배치하는 경우)가 발생할 수 있다. 일 실시예에 따라 쿡탑(2500)은 유도 가열 될 수 있는 박막(2520)이 상판부(15)에 배치되어있기 때문에, 비금속 재질의 피가열 물체(HO)가 배치된 경우와 피가열 물체(HO)가 배치되지 않은 경우에 쿡탑(2500)이 인지하게 되는 등가회로의 전기적 파라미터(즉, 저항 성분 및 인덕터 성분)이 동일하거나 유사할 수 있다. 이에 따라 쿡탑(2500)이 인지하게 되는 등가회로의 전기적 파라미터에만 기초하면, 비금속 재질의 피가열 물체(HO)가 배치된 것인지 피가열 물체(HO)가 배치되지 않은 것인지 구분하기 어려울 수 있다.According to an embodiment, when the heating mode is selected as the metal heating mode based on a preset condition, and it is determined that the material of the object to be heated (HO) is a non-metal material based on the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information, step S2675 The MCU 2540 may determine whether the arrangement information indicates that the object to be heated HO is placed. That is, the cooktop 2500 determines the material of the object to be heated HO based on the arrangement information obtained using the container detection sensor 2570 and determines the material of the object HO to be heated or corresponds to the material as it recognizes that the object HO is disposed. After selecting the heating mode to be heated, when it is recognized that the selected heating mode is different from the material of the object to be heated (for example, removing the object to be heated of the object to be heated (HO)) may occur. In the cooktop 2500 according to an embodiment, since a thin film 2520 capable of induction heating is disposed on the upper plate portion 15, a case in which an object to be heated (HO) made of a non-metal material is disposed and an object to be heated (HO) Electrical parameters (ie, a resistance component and an inductor component) of the equivalent circuit recognized by the cooktop 2500 may be the same or similar in the case in which is not disposed. Accordingly, based only on the electrical parameters of the equivalent circuit recognized by the cooktop 2500 , it may be difficult to distinguish whether the non-metallic object HO is disposed or the object HO is not disposed.

일 실시예에 따라 쿡탑(2500)은 용기 검출 센서(2570)를 이용하여 S2675단계에서 피가열 물체(HO)의 배치 여부를 나타내는 배치 정보를 다시 획득함으로써, 비금속 재질의 피가열 물체(HO)가 배치된 것인지 피가열 물체(HO)가 배치되지 않은 것인지 구분할 수 있다. According to an embodiment, the cooktop 2500 uses the container detection sensor 2570 to obtain again the arrangement information indicating whether the object to be heated (HO) is placed in step S2675, so that the object to be heated of a non-metallic material (HO) is It can be distinguished whether the object to be heated (HO) is disposed or not.

일 실시예에 따라 S2675단계에서 다시 획득된 배치 정보가 피가열 물체(HO)가 배치됨을 나타내는 경우, S2673단계에서 MCU(2540)는 가열 모드를 금속 가열 모드로 변경하여 가열하도록 워킹 코일(2550)을 제어할 수 있다.According to an embodiment, when the arrangement information obtained again in step S2675 indicates that the object to be heated (HO) is placed, in step S2673 the MCU 2540 changes the heating mode to the metal heating mode to heat the working coil 2550. can be controlled.

일 실시예에 따라 S2675단계에서 다시 획득된 배치 정보가 피가열 물체(HO)가 배치되지 않음을 나타내는 경우, S2676단계에서 MCU(2540)는 가열을 중단하도록 워킹 코일(2550)을 제어할 수 있다. 이에 따라 피가열 물체(HO)도 없는 상황에서 가열이 지속되는 상황을 방지함으로써 사용 안정성을 보장할 수 있다.According to an embodiment, when the arrangement information obtained again in step S2675 indicates that the object to be heated (HO) is not placed, the MCU 2540 in step S2676 may control the working coil 2550 to stop heating. . Accordingly, it is possible to ensure safety in use by preventing a situation in which heating is continued in a situation where there is no object to be heated (HO).

전술한 개시 내용들은, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 실시예들의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하므로 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니다.For those of ordinary skill in the art to which the present disclosure pertains, various substitutions, modifications and changes are possible within the scope of the embodiments without departing from the technical spirit of the embodiments, so the above-described embodiments and the accompanying drawings is not limited by

15: 상판부 HO: 피가열 물체
20: 커버 플레이트 25: 케이스
TL: 박막 WC: 워킹 코일
35: 단열재 45: 차폐판 50: 지지부재 55: 냉각팬
15: upper plate HO: object to be heated
20: cover plate 25: case
TL: thin film WC: working coil
35: insulating material 45: shielding plate 50: support member 55: cooling fan

Claims (24)

케이스의 상단에 결합되고, 상단에 피가열 물체가 배치되는 상판부가 구비된 커버 플레이트;
상기 상판부의 상단 및 하단 중 적어도 하나에 코팅된 박막;
상기 박막 및 상기 피가열 물체 중 적어도 하나를 유도 가열하기 위해 상기 케이스 내부에 구비된 워킹 코일;
상기 박막의 온도를 측정하여 측정 온도 정보를 획득하는 온도 센서;
상기 박막의 온도와 상기 박막에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 미리 저장하도록 구성되는 메모리; 및
상기 상관관계에 대한 정보에 기초하여 상기 워킹 코일에 의해 유도 가열된 상기 박막에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보를 결정하고, 상기 추정 온도 정보 및 상기 측정 온도 정보에 기초하여 상기 피가열 물체의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지를 결정하도록 구성되는 MCU를 포함하는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
a cover plate coupled to the upper end of the case and provided with an upper plate on which an object to be heated is disposed;
a thin film coated on at least one of an upper end and a lower end of the upper plate;
a working coil provided inside the case for inductively heating at least one of the thin film and the object to be heated;
a temperature sensor measuring the temperature of the thin film to obtain measured temperature information;
a memory configured to store in advance information on a correlation between a temperature of the thin film and a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit formed by the thin film; and
Based on the information on the correlation, estimated temperature information corresponding to a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit formed by the thin film inductively heated by the working coil is determined, and the estimated temperature information and the measured temperature information Including an MCU configured to determine whether the material of the object to be heated is a metal material or a non-metal material based on the induction heating method.
제 1 항에 있어서, 상기 MCU는
상기 추정 온도 정보 및 상기 측정 온도 정보 간의 차이가 미리 설정된 범위 내에 포함되면 상기 피가열 물체의 재질이 비금속 재질인 것으로 결정하고,
상기 차이가 미리 설정된 범위 내에 포함되지 않으면 상기 피가열 물체의 재질이 금속 재질인 것으로 결정하도록 구성되는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
The method of claim 1, wherein the MCU is
If the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is within a preset range, it is determined that the material of the object to be heated is a non-metal material,
and determine that the material of the object to be heated is a metal material if the difference is not included within a preset range.
제 1 항에 있어서,
상기 MCU는 복수의 가열 모드 중 미리 설정된 조건에 기초하여 선택된 가열 모드로 상기 박막 및 상기 피가열 물체 중 적어도 하나를 가열하도록 상기 워킹 코일을 제어하도록 구성되고,
상기 복수의 가열 모드는 금속 가열 모드 및 비금속 가열 모드를 포함하는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
The method of claim 1,
The MCU is configured to control the working coil to heat at least one of the thin film and the object to be heated in a heating mode selected based on a preset condition among a plurality of heating modes,
The plurality of heating modes include a metal heating mode and a non-metal heating mode, an induction heating type cooktop.
제 3 항에 있어서,
상기 MCU는 상기 금속 가열 모드에서 상기 비금속 가열 모드 보다 더 높은 출력으로 가동되도록 상기 워킹 코일을 제어하도록 구성되는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
4. The method of claim 3,
The MCU is configured to control the working coil to operate with a higher output than the non-metal heating mode in the metal heating mode, the cooktop of the induction heating method.
제 3 항에 있어서,
상기 MCU는 상기 피가열 물체의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지에 따라 선택된 가열 모드로 상기 박막 및 상기 피가열 물체 중 적어도 하나를 가열하도록 상기 워킹 코일을 제어하도록 구성되는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
4. The method of claim 3,
The MCU is configured to control the working coil to heat at least one of the thin film and the object to be heated in a heating mode selected according to whether the material of the object to be heated is a metallic material or a non-metal material.
제 3 항에 있어서,
상기 MCU는 외부 입력에 따라 선택된 가열 모드로 상기 박막 및 상기 피가열 물체 중 적어도 하나를 가열하도록 상기 워킹 코일을 제어하도록 구성되는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
4. The method of claim 3,
The MCU is configured to control the working coil to heat at least one of the thin film and the object to be heated in a selected heating mode according to an external input.
제 3 항에 있어서,
상기 MCU는 상기 선택된 가열 모드가, 상기 추정 온도 정보 및 상기 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 결정된 상기 피가열 물체의 재질이 서로 대응되지 않는 경우, 상기 재질에 대응되는 가열 모드로 가동되도록 상기 워킹 코일을 제어하도록 구성되는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
4. The method of claim 3,
The MCU is configured to operate the working coil in a heating mode corresponding to the material when the material of the object to be heated determined based on the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information does not correspond to the selected heating mode. A cooktop of an induction heating method, which is configured to control.
제 7 항에 있어서,
상기 MCU는 상기 선택된 가열 모드가 비금속 가열 모드이고, 상기 추정 온도 정보 및 상기 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 피가열 물체의 재질이 금속 재질인 것으로 결정되는 경우 상기 가열 모드를 금속 가열 모드로 변경하도록 구성되는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
8. The method of claim 7,
The MCU is configured to change the heating mode to a metal heating mode when the selected heating mode is a non-metal heating mode, and when it is determined that the material of the object to be heated is a metal material based on a difference between the estimated temperature information and the measured temperature information Consisting of an induction heating type cooktop.
제 7 항에 있어서,
상기 MCU는 상기 선택된 가열 모드가 금속 가열 모드일 때, 상기 추정 온도 정보 및 상기 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 피가열 물체의 재질이 비금속 재질인 것으로 결정되는 경우 상기 워킹 코일이 가동되지 않도록 상기 워킹 코일을 제어하도록 구성되는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
8. The method of claim 7,
When the selected heating mode is a metal heating mode, when it is determined that the material of the object to be heated is a non-metal material based on a difference between the estimated temperature information and the measured temperature information, the working coil is not operated. An induction heating cooktop configured to control a coil.
제 1 항에 있어서,
상기 MCU는 고정 주파수 방식을 이용하여 상기 추정 온도 정보를 결정하도록 구성되는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
The method of claim 1,
and the MCU is configured to determine the estimated temperature information using a fixed frequency method.
제 1 항에 있어서,
상기 MCU는 자율 공진 방식을 이용하여 상기 추정 온도 정보를 결정하도록 구성되는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
The method of claim 1,
and the MCU is configured to determine the estimated temperature information using an autonomous resonance method.
제 1 항에 있어서,
상기 박막의 두께는 상기 박막의 스킨 뎁스(skin depth) 미만인, 유도 가열 방식의 쿡탑.
The method of claim 1,
The thickness of the thin film is less than the skin depth (skin depth) of the thin film, the cooktop of the induction heating method.
유도 가열 방식의 쿡탑에 배치된 피가열 물체의 재질을 결정하는 방법에 있어서,
상기 쿡탑의 상판부의 상단 및 하단 중 적어도 하나에 코팅된 박막의 온도와 상기 박막에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분과의 상관관계에 대한 정보를 미리 저장하는 단계;
상기 상관관계에 대한 정보에 기초하여 워킹 코일에 의해 유도 가열된 상기 박막에 의해 형성되는 등가회로의 저항 성분 및 인덕터 성분에 대응되는 추정 온도 정보를 결정하는 단계;
온도 센서를 통해 상기 박막의 온도를 측정하여 측정 온도 정보를 획득하는 단계; 및
상기 추정 온도 정보 및 상기 측정 온도 정보에 기초하여 상기 피가열 물체의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지를 결정하는 단계를 포함하는, 방법.
A method for determining a material of an object to be heated disposed on a cooktop of an induction heating method, the method comprising:
storing in advance information on a correlation between a temperature of a thin film coated on at least one of an upper end and a lower end of the upper plate of the cooktop and a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit formed by the thin film;
determining estimated temperature information corresponding to a resistance component and an inductor component of an equivalent circuit formed by the thin film inductively heated by a working coil based on the information on the correlation;
obtaining measured temperature information by measuring the temperature of the thin film through a temperature sensor; and
and determining whether a material of the object to be heated is a metal material or a non-metal material based on the estimated temperature information and the measured temperature information.
제 13 항에 있어서, 상기 피가열 물체의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지를 결정하는 단계는,
상기 추정 온도 정보 및 상기 측정 온도 정보 간의 차이가 미리 설정된 범위 내에 포함되면 상기 피가열 물체의 재질이 비금속 재질인 것으로 결정하는 단계; 및
상기 차이가 상기 미리 설정된 범위 내에 포함되지 않으면 상기 피가열 물체가 금속 재질인 것으로 결정하는 단계를 포함하는, 방법.
The method of claim 13, wherein the step of determining whether the material of the object to be heated is a metal material or a non-metal material,
determining that the material to be heated is a non-metal material when the difference between the estimated temperature information and the measured temperature information is within a preset range; and
and determining that the object to be heated is a metallic material if the difference is not included within the preset range.
제 13 항에 있어서,
복수의 가열모드 중 미리 설정된 조건에 기초하여 가열 모드를 선택하는 단계; 및
상기 선택된 가열모드로 상기 박막 및 상기 피가열 물체 중 적어도 하나를 가열하는 단계를 더 포함하고,
상기 복수의 가열 모드는 금속 가열 모드 및 비금속 가열 모드를 포함하는, 방법.
14. The method of claim 13,
selecting a heating mode based on a preset condition among a plurality of heating modes; and
Further comprising the step of heating at least one of the thin film and the object to be heated in the selected heating mode,
wherein the plurality of heating modes include a metal heating mode and a non-metal heating mode.
제 15 항에 있어서, 상기 가열하는 단계는
상기 금속 가열 모드에서 상기 비금속 가열 모드 보다 더 높은 출력으로 가열하는 단계를 포함하는, 방법.
16. The method of claim 15, wherein the heating step
heating in the metal heating mode to a higher output than in the non-metal heating mode.
제 15 항에 있어서, 상기 가열 모드를 선택하는 단계는,
상기 피가열 물체의 재질이 금속 재질인지 비금속 재질인지에 따라 상기 가열 모드를 선택하는 단계를 포함하는, 방법.
The method of claim 15, wherein selecting the heating mode comprises:
and selecting the heating mode according to whether the material of the object to be heated is a metal material or a non-metal material.
제 15 항에 있어서, 상기 가열 모드를 선택하는 단계는,
외부 입력에 따라 상기 가열 모드를 선택하는 단계를 포함하는, 방법.
The method of claim 15, wherein selecting the heating mode comprises:
selecting the heating mode according to an external input.
제 15 항에 있어서, 상기 가열하는 단계는,
상기 선택된 가열 모드와, 상기 추정 온도 정보 및 상기 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 결정된 상기 피가열 물체의 재질이 서로 대응되지 않는 경우, 상기 재질에 대응되는 가열 모드로 상기 박막 및 상기 피가열 물체 중 적어도 하나를 가열하는 단계를 포함하는, 방법.
16. The method of claim 15, wherein the heating step,
When the material of the object to be heated determined based on the difference between the selected heating mode and the estimated temperature information and the measured temperature information does not correspond to each other, a heating mode corresponding to the material is selected among the thin film and the object to be heated. heating at least one.
제 19 항에 있어서, 상기 가열하는 단계는,
상기 선택된 가열모드가 비금속 가열 모드이고, 상기 추정 온도 정보 및 상기 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 상기 피가열 물체의 재질이 금속 재질인 것으로 결정되는 경우, 상기 가열 모드를 금속 가열 모드로 변경하여 가열하는 단계를 포함하는, 방법.
20. The method of claim 19, wherein the heating step,
When the selected heating mode is a non-metal heating mode, and it is determined that the material of the object to be heated is a metal material based on a difference between the estimated temperature information and the measured temperature information, the heating mode is changed to a metal heating mode for heating A method comprising the step of
제 19 항에 있어서, 상기 가열하는 단계는,
상기 선택된 가열 모드가 금속 가열 모드이고, 상기 추정 온도 정보 및 상기 측정 온도 정보 간의 차이에 기초하여 상기 피가열 물체의 재질이 비금속 재질인 것으로 결정되는 경우, 가열을 중단하는 단계를 포함하는, 방법.
20. The method of claim 19, wherein the heating step,
and stopping heating when the selected heating mode is a metal heating mode, and it is determined that the material of the object to be heated is a non-metal material based on a difference between the estimated temperature information and the measured temperature information.
제 13 항에 있어서, 상기 추정 온도 정보를 결정하는 단계는,
고정 주파수 방식을 이용하여 상기 추정 온도 정보를 결정하는 단계를 포함하는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
The method of claim 13, wherein the determining of the estimated temperature information comprises:
A cooktop of an induction heating method, comprising determining the estimated temperature information using a fixed frequency method.
제 13 항에 있어서, 상기 추정 온도 정보를 결정하는 단계는,
자율 공진 방식을 이용하여 상기 추정 온도 정보를 결정하는 단계를 포함하는, 유도 가열 방식의 쿡탑.
The method of claim 13, wherein the determining of the estimated temperature information comprises:
and determining the estimated temperature information using an autonomous resonance method.
제 13 항에 있어서,
상기 박막의 두께는 상기 박막의 스킨 뎁스(skin depth) 미만인, 유도 가열 방식의 쿡탑.
14. The method of claim 13,
The thickness of the thin film is less than the skin depth (skin depth) of the thin film, the cooktop of the induction heating method.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP4274377A1 (en) * 2022-05-02 2023-11-08 LG Electronics Inc. Cooking appliance

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