KR20210103797A - 회로설계 검증 장치 - Google Patents

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Abstract

회로설계 검증 장치가 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 3로 스위치를 포함한 회로설계의 검증을 위한 회로설계 검증 장치는 상기 검증 장치에 전력을 공급하는 전원부, 각각이 적어도 3개의 접점을 가지는 스위치인 제1 내지 제n 스위치를 포함하는 제1 내지 제n 조작부, 및 제1 내지 제n 발광 다이오드(light emitting diode, LED)를 포함하는 제1 내지 제n 확인부를 포함하고, 상기 전원부, 상기 1 내지 상기 제n 조작부 및 상기 제1 내지 제n 확인부는 상기 회로설계에 따라서 상호간 연결되며, 상기 제1 내지 제n 스위치의 조작에 따른 상기 제1 내지 제n LED의 발광 여부에 따라 상기 회로설계가 검증되는 것을 특징으로 할 수 있다.

Description

회로설계 검증 장치{APPARATUS FOR CIRCUIT DESIGN VERIFICATION}
본 발명은 회로설계 검증 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 3로 스위치를 이용한 회로설계에 대한 검증 또는 실험을 수행하기 위한 회로설계 검증 장치에 관한 것이다.
3로(3-way) 스위치는 옥내외 건축 전기부품의 일종으로, 전등 제어 등에 사용될 수 있다. 3로 스위치는 시공 시 함께 설치되는 박스 및 전구와 함께 전기배관작업을 통하여 전선으로 결선되어야 한다. 3로 스위치의 시공은 2로(2-way) 스위치 등에 비하여 그 난이도와 복잡도가 높으며, 많은 작업시간과 기술 및 기능을 필요로 한다. 특히 시공이 완료된 이후에 설계 오류가 발견되어 철거 및 재설치 작업을 필요로 하게 될 경우 매우 번거롭고 비효율적일 수 있다. 따라서 3로 스위치를 이용한 회로의 시공 전후에 회로설계에 대한 검증이 요구될 수 있다.
3로 스위치를 이용한 회로설계의 검증에는 카르노 맵(Karnaugh Map)을 통한 회로 해석 방법이 사용될 수 있다. 그런데 조명 외에도 다양한 전기장치 및 배선의 시공이 완료된 건물의 회로를 카르노 맵으로 해석 및 검증하는 것은 상당히 복잡하고 용이하지 않을 수 있다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, PCB 기판에 설치된 구성요소들 간의 결선을 통하여, 3로 스위치를 이용한 회로설계에 대한 검증 또는 실험을 간편하고 안전하게 수행할 수 있는 회로설계 검증 장치를 제공하는 데 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 3로 스위치를 포함한 회로설계의 검증을 위한 회로설계 검증 장치는, 상기 검증 장치에 전력을 공급하는 전원부, 각각이 적어도 3개의 접점을 가지는 전기 스위치인 제1 내지 제n 스위치를 포함하는 제1 내지 제n 조작부, 및 제1 내지 제n 발광 다이오드(light emitting diode, LED)를 포함하는 제1 내지 제n 확인부를 포함하고, 상기 전원부, 상기 1 내지 상기 제n 조작부 및 상기 제1 내지 제n 확인부는 상기 회로설계에 따라서 상호간 연결되며, 상기 제1 내지 제n 스위치의 조작에 따른 상기 제1 내지 제n LED의 발광 여부에 따라 상기 회로설계가 검증되는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 전원부, 상기 제1 내지 제n 조작부, 및 상기 제1 내지 제n 확인부는 인쇄 회로 기판(printed circuit board, PCB 기판)에 설치되고, 상기 전원부, 상기 제1 내지 제n 조작부, 및 상기 제1 내지 제n 확인부는 전선 및 상기 PCB 기판의 후면 에칭을 통하여 상호간 연결되고, 그리고 상기 전원부에 포함되는 전원부 터미널 블록(terminal block, TB)과, 상기 제1 내지 제n 조작부에 포함되는 제1 내지 제n 조작부 TB와, 상기 제1 내지 제n 확인부에 포함되는 상기 제1 내지 제n 확인부 TB는 각각 복수의 연결 단자를 포함하여, 상기 복수의 연결 단자에 연결된 전선을 통해 상호간 연결되는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 전원부 TB에 포함된 + 단자는 상기 제1 내지 제n 조작부 TB에 포함된 제1 단자에 연결되고, 상기 전원부 TB에 포함된 - 단자는 상기 제1 내지 제n 확인부 TB에 포함된 - 단자에 연결되고, 상기 제1 내지 제n 확인부 TB에 포함된 + 단자는 검증하고자 하는 제1 회로설계에 따라서 상기 제1 내지 제n 조작부 TB에 포함된 제2 단자에 연결되고, 그리고 상기 제1 내지 제n 스위치가 On으로 조작됨에 따라 상기 제1 내지 제n LED가 점등되고, 상기 제1 내제 제n 스위치가 Off로 조작됨에 따라 상기 제1 내지 제n LED가 꺼지는 것이 확인될 경우, 상기 제1 회로설계가 유효한 것으로 검증되는 것을 특징으로 할 수 있다.
n은 3이며, 상기 전원부 TB에 포함된 + 단자는 상기 제1 내지 제3 조작부 TB에 포함된 제1 단자에 연결되고, 상기 전원부 TB에 포함된 - 단자는 상기 제1 내지 제3 확인부 TB에 포함된 - 단자에 연결되고, 상기 제1 확인부 TB에 포함된 + 단자는 검증하고자 하는 제2 회로설계에 따라서 제2 조작부 TB에 포함된 제2 단자 및 제3 조작부 TB에 포함된 제2 단자에 연결되고, 상기 제2 확인부 TB에 포함된 + 단자는 상기 제2 회로설계에 따라서 제1 조작부 TB에 포함된 제2 단자 및 제3 조작부 TB에 포함된 제3 단자에 연결되고, 상기 제3 확인부 TB에 포함된 + 단자는 상기 제2 회로 설계에 따라서 제1 조작부 TB에 포함된 제3 단자 및 제2 조작부 TB에 포함된 제3 단자에 연결되고, 그리고 상기 제1 LED는 상기 제2 스위치가 On으로 조작되거나 상기 제3 스위치가 On으로 조작됨에 따라 점등되고, 상기 제2 LED는 상기 제1 스위치가 On으로 조작되거나 상기 제3 스위치가 Off로 조작됨에 따라 점등되고, 상기 제3 LED는 상기 제1 스위치가 Off로 조작되거나 상기 제2 스위치가 Off로 조작됨에 따라 점등되는 것이 확인될 경우, 상기 제2 회로설계가 유효한 것으로 검증되는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 전원부는 직류(direct current, DC) 전원, 전원 스위치 및 전원부 확인 LED를 더 포함하고, 상기 DC 전원의 + 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 전원부 스위치를 거쳐 상기 전원부 확인 LED의 + 전극 및 상기 전원부 TB의 + 단자와 연결되고, 상기 DC 전원의 - 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 전원부 확인 LED의 - 전극 및 상기 전원부 TB의 - 단자와 연결되고, 상기 제1 내지 제n 조작부 TB에 포함된 제1 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 제1 내지 제n 스위치에 포함된 제1 접점과 연결되고, 상기 제1 내지 제n 조작부 TB에 포함된 제2 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 제1 내지 제n 스위치에 포함된 제2 접점과 연결되고, 상기 제1 내지 제n 조작부 TB에 포함된 제3 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 제1 내지 제n 스위치에 포함된 제3 접점과 연결되고, 상기 제1 내지 제n 스위치는 On으로 조작될 경우 상기 제1 접점 및 제2 접점이 연결되고 Off로 조작될 경우 상기 제1 접점 및 제3 접점이 연결되도록 형성되고, 상기 제1 내지 제n 확인부 TB에 포함된 + 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 제1 내지 제n LED에 포함된 + 전극과 연결되고, 그리고 상기 제1 내지 제n 확인부 TB에 포함된 - 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 제1 내지 제n LED에 포함된 - 전극과 연결되는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 DC 전원은 9볼트(volt, V) 건전지인 것을 특징으로 할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 사용자는 3로 스위치를 이용한 회로설계에 따라 결선된 회로설계 검증 장치를 통하여 회로설계를 쉽고 용이하게 검증할 수 있다. 사용자는 회로설계 검증 장치에 구비된 실험 스위치들의 조작에 따른 각 LED들의 점멸 여부가 회로설계에서 의도 또는 예상한 바와 일치하는지 여부를 확인함으로써 회로설계의 검증을 수행할 수 있다. 또는, 사용자는 실험결과를 해석한 결과와 회로설계의 해석을 통해 얻은 카르노 맵을 비교함으로써, 회로설계의 검증을 수행할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면 사용자는 PCB 기판에 설치되고 9V 건전지 전원에 의해 구동되는 회로설계 검증 장치를 사용함으로써 언제 어디서든 설계된 회로를 안전하고 간편하게 검증할 수 있다.
도 1a는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로설계 검증 장치를 개략적으로 나타낸 구성도이다.
도 1b는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로설계 검증 장치가 설치되는 인쇄 회로 기판(printed circuit board, PCB 기판)을 촬영한 사진이다.
도 2a 및 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로설계 검증 장치의 후면 결선 설계를 설명하기 위한 구성도 및 사진이다.
도 3a 및 3b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 회로설계 검증 장치의 전면 결선 설계를 설명하기 위한 구성도 및 사진이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 회로설계 검증 장치의 결선 상태, 또는 본 발명의 제1 실시예에서 검증하고자 하는 제1 회로설계를 개략적으로 도식화한 구성도이다.
도 5a 및 5b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 회로설계 검증 방법을 설명하기 위한 구성도 및 사진이다.
도 6a 및 6b는 본 발명의 제2 실시예에 따른 회로설계 검증 장치의 전면 결선 설계를 설명하기 위한 구성도 및 사진이다.
도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 회로설계 검증 장치의 결선 상태, 또는 본 발명의 제2 실시예에서 검증하고자 하는 제2 회로설계를 개략적으로 도식화한 구성도이다.
도 8a, 8b 및 8c는 본 발명의 제2 실시예에 따른 회로설계 검증 방법을 설명하기 위한 구성도 및 사진이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가진 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 본 발명을 설명함에 있어 전체적인 이해를 용이하게 하기 위하여 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1a는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로설계 검증 장치를 개략적으로 나타낸 구성도이고, 도 1b는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로설계 검증 장치가 설치되는 인쇄 회로 기판(printed circuit board, PCB 기판)을 촬영한 사진이다.
도 1a 및 1b를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 회로설계 검증 장치(100)는 PCB 기판 상에 설치될 수 있다. 회로설계 검증 장치(100)는 전원부(110), 제1 내지 제n 조작부(130, 140, 150), 및 제1 내지 제n 확인부(170, 180, 190)를 포함할 수 있다.
전원부(110)는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로설계 검증 장치(100)에 전력을 공급할 수 있다. 전원부(110)에서 회로설계 검증 장치(100)로 공급되는 전력은 직류(direct current, DC) 전력일 수 있다. 전원부(110)는 파워 커넥트(111), 전원부 스위치(112), 전원부 발광 다이오드(light emitting diode, LED)(113), 전원부 LED 저항(113-1) 및 전원부 터미널 블록(Terminal Block, TB)(115)을 포함할 수 있다.
파워 커넥트(111)는 전원부(110)와 전원을 연결함으로써, 회로설계 검증 장치(100)가 전원부(110)를 통하여 전원으로부터 전력을 공급받도록 할 수 있다. 파워 커넥트(111)를 통해 전원부(110)와 연결되는 전원은 DC 전력을 공급하는 전원일 수 있다. 본 발명에서는 LED를 통하여 검증이 수행되기 때문에 교류(alternating current, AC) 전력보다 DC 전력을 사용하는 것이 더욱 적절할 수 있다. 이를테면, 본 발명의 일 실시예에서 파워 커넥트(111)를 통해 전원부(110)와 연결되는 전원은 9V 건전지일 수 있으나 이에 국한되지 않는다. 이를테면, 전원은 교류 전원을 직류 전원으로 변환하여 공급하는 컨버터일 수 있다.
전원부 스위치(112)는 온(On)/오프(Off) 등 적어도 둘 이상의 접점을 갖는 전기 스위치일 수 있다. 이를테면, 본 발명의 일 실시예에서 전원부 스위치(112)는 슬라이드 방식으로 접점을 선택하는 슬라이드 스위치(slide switch, SL SW)일 수 있으나, 이에 국한되지 않는다. 사용자는 전원부 스위치(112)를 조작함으로써 파워 커넥트(111)를 통하여 회로설계 검증 장치(100)로 공급되는 전력을 연결 또는 차단할 수 있다.
전원부 LED(113)는 전극의 방향과 일치하는 전류가 공급되면 빛을 발산하는 발광 다이오드(light emitting diode, LED)일 수 있다. 전원부 LED(113)는 회로설계 검증 장치(100)에 전력이 공급되고 있는지 여부를 나타낼 수 있다. 이를테면, 전원부 스위치(112)가 On으로 조작되면 전원부 LED(113)에서 빛이 발산될 수 있다. 이를 통하여 사용자가 회로설계 검증 장치(100)에 전력이 공급되고 있다는 것을 확인할 수 있다. 전원부 LED 저항(113-1)은 전원부 LED(113)에 연결되어, 전원부 LED(113)로 공급되는 전류의 크기를 결정할 수 있다. 전원부 LED 저항(113-1)은 1k옴의 값을 갖는 저항일 수 있다.
전원부 TB(115)는 복수의 연결 단자 또는 터미널을 가지는 터미널 블록(terminal block, TB)일 수 있다. 이를테면, 본 발명의 일 실시예에서 전원부 TB(115)는 2개의 연결 단자를 가지는 2핀 터미널 블록일 수 있다. 전원부(110)는 전원부 TB(115)를 통하여 회로설계 검증 장치(100)의 기타 구성요소들과 연결되어 전력을 공급할 수 있다. 전원부 TB(115)의 두 연결 단자는 각각 + 단자, - 단자 등으로 칭할 수 있다.
제1 내지 제n 조작부(130, 140, 150)는 각각 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151), 및 제1 내지 제n 조작부 TB(135, 145, 155)를 포함할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에서 n은 3일 수 있으며, 즉 회로설계 검증 장치(100)는 각각 1개씩의 실험 스위치 및 터미널 블록을 포함하는 3개의 조작부(130, 140, 150)를 포함할 수 있다. 다만 본 발명은 n이 3인 실시예에 국한되지 않는다.
제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)는 적어도 3개의 접점을 갖는 전기 스위치일 수 있다. 본 발명의 일 실시예에서 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)는 토글 방식으로 3개의 접점 중 하나의 접점을 선택하는 토글 스위치(toggle switch, TG)일 수 있으나, 이에 국한되지 않는다. 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)의 세 접점은 각각 a 접점, b 접점, c 접점 등으로 칭할 수 있다. 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)을 a 접점은 On 상태를 의미할 수 있고, b 접점은 Off 상태를 의미할 수 있고, c 접점은 기본 또는 미연결 상태를 의미할 수 있다. 사용자가 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)를 On으로 조작하면 각 스위치의 내부 구조에 의해 a 접점과 c 접점이 연결될 수 있다. 사용자가 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)를 Off로 조작하면, 각 스위치의 내부 구조에 의해 b 접점과 c 접점이 연결될 수 있다. 사용자가 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)을 Off로 조작하면, 사용자가 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)를 미연결 상태로 조작하면, 각 스위치의 세 접점은 상호간 연결되지 않을 수 있다. 사용자는 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)를 조작함으로써 본 발명의 회로설계 검증 장치(100)를 통한 회로설계 검증을 수행할 수 있다.
제1 내지 제n 조작부 TB(135, 145, 155)는 복수의 연결 단자 또는 터미널을 가지는 터미널 블록(terminal block, TB)일 수 있다. 이를테면, 제1 내지 제n 조작부 TB(135, 145, 155)는 3개의 연결 단자 또는 터미널을 가지는 3핀 터미널 블록일 수 있다. 제1 내지 제n 조작부(130, 140, 150)는 제1 내지 제n 조작부 TB(135, 145, 155)를 통하여 회로설계 검증 장치(100)의 기타 구성요소들과 연결될 수 있다. 제1 내지 제n 조작부 TB(135, 145, 155)의 세 연결 단자는 각각 a 단자, b 단자, c 단자 등으로 칭할 수 있다. 또는 c 단자는 제1 단자로, a 단자는 제2 단자로, b 단자는 제3 단자 등으로 칭할 수 있다.
제1 내지 제n 확인부(170, 180, 190)는 각각 제1 내지 제n LED(171, 181, 191), 제1 내지 제n LED 저항(171-1, 181-1, 191-1) 및 제1 내지 제n 확인부 TB(175, 185, 195)를 포함할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에서 n은 3일 수 있으며, 즉 회로설계 검증 장치(100)는 각각 1개씩의 LED, 저항, 및 터미널 블록을 포함하는 3개의 확인부(170, 180, 190)를 포함할 수 있다. 다만 본 발명은 n이 3인 실시예에 국한되지 않는다.
제1 내지 제n LED(171, 181, 191)는 전극의 방향과 일치하는 전류가 공급되면 빛을 발산하는 발광 다이오드(light emitting diode, LED)들일 수 있다. 즉, 제1 내지 제n LED(171, 181, 191)는 전원부(110)로부터 전력을 공급받으면 빛을 발산할 수 있다. 사용자는 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)의 조작에 따른 제1 내지 제n LED(171, 181, 191)의 점멸 여부를 확인함으로써 본 발명의 회로설계 검증 장치(100)를 통한 회로설계 검증을 수행할 수 있다. 제1 내지 제n LED 저항(171-1, 181-1, 191-1)은 제1 내지 제n LED(171, 181, 191)에 연결되어, 제1 내지 제n LED(171, 181, 191)로 공급되는 전류의 크기를 결정할 수 있다. 제1 내지 제n LED 저항(171-1, 181-1, 191-1)은 1k옴의 값을 갖는 저항들일 수 있다.
제1 내지 제n 확인부 TB(175, 185, 195)는 복수의 연결 단자 또는 터미널을 가지는 터미널 블록(terminal block, TB)일 수 있다. 이를테면, 제1 내지 제n 확인부 TB(175, 185, 195)는 2개의 연결 단자 또는 터미널을 가지는 터미널 블록일 수 있다. 제1 내지 제n 확인부(170, 180, 190)는 제1 내지 제n 확인부 TB(175, 185, 195)를 통하여 회로설계 검증 장치(100)의 기타 구성요소들과 연결될 수 있다. 제1 내지 제n 확인부 TB(175, 185, 195)의 두 연결 단자는 각각 + 단자, - 단자 등으로 칭할 수 있다.
도 2a 및 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로설계 검증 장치의 후면 결선 설계를 설명하기 위한 구성도 및 사진이다.
도 2a 및 2b를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 회로설계 검증 장치(100)의 각 구성요소들은 회로설계 검증 장치(100)의 후면 결선을 통하여 상호간 연결될 수 있다. 회로설계 검증 장치(100)의 후면 결선은 PCB 기판 후면 상의 에칭(etching)을 통하여 이루어질 수 있다.
전원부(110)에서, 파워 커넥트(111)의 - 단자는 전원부 LED(113)의 - 전극 및 전원부 TB(115)의 - 단자에 연결될 수 있다. 파워 커넥트(111)의 + 단자는 전원부 스위치(112)를 통하여 전원부 LED(113)의 + 전극 및 전원부 TB(115)의 + 단자에 연결될 수 있다. 구체적으로는, 파워 커넥트(111)의 + 단자는 전원부 스위치(112)의 한 접점에 연결될 수 있다. 전원부 스위치(112)의 다른 접점은 전원부 TB(115)의 + 단자와 전원부 LED 저항(113-1)의 일단에 연결될 수 있다. 전원부 LED 저항(113-1)의 타단은 전원부 LED(113)의 + 전극에 연결될 수 있다.
제1 내지 제n 조작부(130, 140, 150)에서, 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)의 a 접점은 각각 제1 내지 제n 조작부 TB(135, 145, 155)의 a 단자에 연결될 수 있다. 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)의 b 접점은 각각 제1 내지 제n 조작부 TB(135, 145, 155)의 b 단자에 연결될 수 있다. 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)의 c 접점은 각각 제1 내지 제n 조작부 TB(135, 145, 155)의 c 단자에 연결될 수 있다.
제1 내지 제n 확인부(170, 180, 190)에서, 제1 내지 제n 확인부 TB(175, 185, 195)의 - 단자는 각각 제1 내지 제n LED(171, 181, 191)의 - 전극에 연결될 수 있다. 제1 내지 제n 확인부 TB(175, 185, 195)의 + 단자는 각각 제1 내지 제n LED 저항(171-1, 181-1, 191-1)을 통하여 제1 내지 제n LED(171, 181, 191)의 + 전극에 연결될 수 있다.
사용자는 후면 결선을 통하여 상호간 부분적으로 연결된 각 구성요소들을, 전면의 각 터미널 블록들(115, 135, 145, 155, 175, 185, 195) 간의 전선 연결을 통하여 연결함으로써, 검증하고자 하는 회로설계를 본 발명에 회로설계 검증 장치(100)에 반영할 수 있도록 준비할 수 있다. 이로써, 사용자는 본 발명의 회로설계 검증 장치(100)를 통한 회로설계 검증을 수행할 수 있다.
도 3a 및 3b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 회로설계 검증 장치의 전면 결선 설계를 설명하기 위한 구성도 및 사진이다.
도 3a 및 3b를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에서 회로설계 검증 장치(100)의 각 터미널 블록들(115, 135, 145, 155, 175, 185, 195)은 검증하고자 하는 제1 회로설계에 따라서 전선으로 연결될 수 있다. 도 2a 및 2b를 참조하여 설명한 바와 같이 회로설계 검증 장치(100)의 각 구성요소들은 후면 결선을 통하여 상호간 부분적으로 연결되어 있기 때문에, 각 터미널 블록들(115, 135, 145, 155, 175, 185, 195) 간의 전선 연결을 통하여 각 구성요소들 간의 연결이 완성된다.
전원부 TB(115)의 + 단자는 제1 내지 제n 조작부 TB(135, 145, 155)의 c 단자에 연결될 수 있다. 전원부 TB(115)의 - 단자는 제1 내지 제n 확인부 TB(175, 185, 195)의 - 단자에 연결될 수 있다. 제1 내지 제n 조작부 TB(135, 145, 155)의 a 단자는 각각 제1 내지 제n 확인부 TB(175, 185, 195)의 + 단자에 연결될 수 있다. 이로써, 이로써, 전원에 연결된 파워 커넥트(111)의 + 단자는 후면 결선 및 전면 결선을 통하여 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)의 c 접점에 연결되고, 파워 커넥트(111)의 - 단자는 후면 결선 및 전면 결선을 통하여 제1 내지 제n LED를 거쳐 제1 내지 제n 조작부 TB(135, 145, 155)의 a 단자에 연결될 수 있다. 상기한 본 발명의 제1 실시예에 따른 회로설계 검증 장치(100)의 결선 상태, 또는 상기한 본 발명의 제1 실시예에서 검증하고자 하는 제1 회로설계를 개략적으로 도식화하면 도 4와 같다.
도 4를 참조하면, 전원의 + 단자는 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)의 c 단자에 연결되고, 전원의 - 단자는 제1 내지 제n LED(171, 181, 191)를 거쳐 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)의 c 단자에 연결될 수 있다. 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)의 b 단자에는 다른 구성요소가 연결되지 않을 수 있다.
도 5a 및 5b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 회로설계 검증 방법을 설명하기 위한 구성도 및 사진이다. 도 5a 및 5b를 참조하면, 사용자는 본 발명의 제1 실시예에 따라 결선된 회로설계 검증 장치(100)를 조작하여 제1 회로설계를 검증할 수 있다.
사용자가 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)를 각각 On으로 조작하면 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)의 내부 구조에 의하여 a 단자와 c 단자가 연결될 수 있다. 즉, 전원의 + 단자는 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151) 및 제1 내지 제n LED(171, 181, 191)를 거쳐 전원의 - 단자에 연결될 수 있다. 이로써, 제1 내지 제n LED(171, 181, 191)에 전류가 공급되어 점등될 수 있다.
본 발명의 제1 실시예에 따라 결선된 회로설계 검증 장치(100)에서, 제1 내지 제n 스위치(131, 141, 151)의 조작에 따른 제1 내지 제n LED(171, 181, 191)의 점멸 여부는 표 1과 같이 나타날 수 있다. 표 1은 n이 3일 경우를 기준으로 작성되었으나, n 값에 따라서 확장되거나 축소될 수 있다. 표 1에서 S1, S2, S3 열의 숫자 1 및 0은 각각 제1 내지 제3 스위치(131, 141, 151)의 On/Off를 의미할 수 있고, L1, L2, L3 열의 숫자 1 및 0은 각각 제1 내지 제3 LED(171, 181, 191)의 점/멸을 의미할 수 있다.
Figure pat00001
제1 회로설계의 해석을 통해 얻은 카르노 맵은 표 2와 같이 나타날 수 있다. 표 2는 n이 3일 경우를 기준으로 작성되었으나, n 값에 따라서 확장되거나 축소될 수 있다. 표 2에서
Figure pat00002
,
Figure pat00003
,
Figure pat00004
은 각각 각각 제1 내지 제3 스위치(131, 141, 151)의 On을 의미할 수 있고,
Figure pat00005
,
Figure pat00006
,
Figure pat00007
은 각각 제1 내지 제3 스위치(131, 141, 151)의 Off를 의미할 수 있고, 숫자 1 및 0은 각각 제1 내지 제3 LED(171, 181, 191)의 점/멸을 의미할 수 있다.
Figure pat00008
표 1 및 표 2에 나타난 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따라 결선된 회로설계 검증 장치(100)에서 제1 내지 제3 스위치(131, 141, 151) 각각이 On으로 조작되면 제1 내지 제3 LED(171, 181, 191) 각각이 점등될 수 있다. 반면, 제1 내지 제3 스위치(131, 141, 151) 각각이 Off로 조작되면 제1 내지 제3 LED(171, 181, 191) 각각이 꺼질 수 있다.
본 발명의 제1 실시예에 따라 결선된 회로설계 검증 장치(100)를 통한 실험 결과와, 3로 스위치를 이용한 제1 회로설계에서 의도된 바 또는 제1 회로설계의 해석을 통해 얻은 카르노맵에서 예상되는 바가 서로 일치한다면, 제1 회로설계는 유효한 회로설계인 것으로 검증될 수 있다. 한편, 상기한 바와 같은 실험 결과가 3로 스위치를 이용한 제1 회로설계에서 의도된 바 또는 제1 회로설계의 해석을 통해 얻은 카르노맵에서 예상되는 바와 일치하지 않는다면, 제1 회로설계의 검증은 실패한 것으로 판단될 수 있다. 이 때, 사용자는 제1 회로설계에 문제가 없는지, 또는 회로설계 검증 장치(100)가 제1 회로설계에 따라 정상적으로 결선되었는지 등을 재검토하여 문제를 바로잡고 다시금 실험을 수행할 수 있다.
도 6a 및 6b는 본 발명의 제2 실시예에 따른 회로설계 검증 장치의 전면 결선 설계를 설명하기 위한 구성도 및 사진이다.
도 6a 및 6b를 참조하면, 본 발명의 제2 실시예에서 회로설계 검증 장치(100)의 각 터미널 블록들(115, 135, 145, 155, 175, 185, 195)은 검증하고자 하는 제2 회로설계에 따라서 전선으로 연결될 수 있다. 도 2a 및 2b를 참조하여 설명한 바와 같이 회로설계 검증 장치(100)의 각 구성요소들은 후면 결선을 통하여 상호간 부분적으로 연결되어 있기 때문에, 각 터미널 블록들(115, 135, 145, 155, 175, 185, 195) 간의 전선 연결을 통하여 각 구성요소들 간의 연결이 완성된다.
제2 회로설계는 3개의 실험 스위치 및 3개의 LED를 포함할 수 있다. 즉, 회로설계 검증 장치(100)에서 n은 3일 수 있다. 전원부 TB(115)의 + 단자는 제1 내지 제3 조작부 TB(135, 145, 155)의 c 단자에 연결될 수 있다. 전원부 TB(115)의 - 단자는 제1 내지 제3 확인부 TB(175, 185, 195)의 - 단자에 연결될 수 있다.
제1 확인부 TB(175)의 + 단자는 제2 조작부 TB(145)의 a 단자 및 제3 조작부 TB(155)의 a 단자에 연결될 수 있다. 제2 확인부 TB(185)의 + 단자는 제1 조작부 TB(135)의 a 단자 및 제3 조작부 TB(155)의 b 단자에 연결될 수 있다. 제3 확인부 TB(195)의 + 단자는 제1 조작부 TB(135)의 b 단자 및 제2 조작부 TB(145)의 b 단자에 연결될 수 있다. 상기한 본 발명의 제2 실시예에 따른 회로설계 검증 장치(100)의 결선 상태, 또는 상기한 본 발명의 제2 실시예에서 검증하고자 하는 제2 회로설계를 개략적으로 도식화하면 도 7과 같다.
도 7을 참조하면, 본 발명의 제2 실시예에 따라서 제2 회로설계의 검증을 위하여 결선된 회로설계 검증 장치(100)에서, 전원의 + 단자는 제1 내지 제3 스위치(131, 141, 151)의 c 접점에 연결될 수 있고, 전원의 - 단자는 제1 내지 제3 LED(171, 181, 191)의 - 전극에 연결될 수 있다.
제1 LED(171)의 + 전극은 제2 스위치(141)의 a 접점 및 제3 스위치(151)의 a 접점에 연결될 수 있다. 제2 LED(181)의 + 전극은 제1 스위치(131)의 a 접점 및 제3 스위치(151)의 b 접점에 연결될 수 있다. 제3 LED(191)의 + 전극은 제1 스위치(131)의 b 접점 및 제2 스위치(141)의 b 접점에 연결될 수 있다.
도 8a, 8b 및 8c는 본 발명의 제2 실시예에 따른 회로설계 검증 방법을 설명하기 위한 구성도 및 사진이다. 도 8a, 8b 및 8c를 참조하면, 사용자는 본 발명의 제2 실시예에 따라 결선된 회로설계 검증 장치(100)를 조작하여 제2 회로설계를 검증할 수 있다.
도 8a 및 8c를 참조하면, 사용자가 제1 내지 제3스위치(131, 141, 151)를 모두 On으로 조작하면 각 스위치의 내부 구조에 의하여 a 접점와 c 접점이 연결될 수 있다. 이로써, 전원의 + 단자는 제1 스위치(131)를 통하여 제2 LED(181)의 + 전극과 연결될 수 있고, 제2 및 제3 스위치(141, 151)를 통하여 제1 LED(171)의 + 전극과 연결될 수 있다. 이로써, 제1 및 제2 LED(171, 181)에 전류가 공급되어 점등될 수 있다. 한편, 제3 LED(191)의 + 전극은 전원의 + 단자에 연결되지 못하여 점등되지 못할 수 있다.
도 8b를 참조하면, 제1 LED(171)의 + 전극은 제2 스위치(141)의 a 접점 및 제3 스위치(151)의 a 접점에 연결될 수 있다. 이는, 제2 스위치(141)가 On으로 조작되거나 제3 스위치(151)가 On으로 조작되면 제1 LED(171)가 전원의 + 단자에 연결되어 점등될 수 있다는 것을 의미한다.
한편, 제2 LED(181)의 + 전극은 제1 스위치(131)의 a 접점 및 제3 스위치(151)의 b 접점에 연결될 수 있다. 이는, 제1 스위치(131)가 On으로 조작되거나 제3 스위치(151)가 Off로 조작되면 제2 LED(181)가 전원의 + 단자에 연결되어 점등될 수 있다는 것을 의미한다.
한편, 제3 LED(191)의 + 전극은 제1 스위치(131)의 b 접점 및 제2 스위치(141)의 b 접점에 연결될 수 있다. 이는, 제1 스위치(131)가 Off로 조작되거나 제2 스위치(141)가 Off로 조작되면 제3 LED(191)가 전원의 + 단자에 연결되어 점등될 수 있다는 것을 의미한다.
본 발명의 제2 실시예에 따라 결선된 회로설계 검증 장치(100)에서, 제1 내지 제3 스위치(131, 141, 151)의 조작에 따른 제1 내지 제3 LED(171, 181, 191)의 점멸 여부는 표 3과 같이 나타날 수 있다. 표 3에서 S1, S2, S3 열의 숫자 1 및 0은 각각 제1 내지 제3 스위치(131, 141, 151)의 On/Off를 의미할 수 있고, L1, L2, L3 열의 숫자 1 및 0은 각각 제1 내지 제3 LED(171, 181, 191)의 점/멸을 의미할 수 있다.
Figure pat00009
상기와 같은 결과를 이를 카르노맵 형식으로 나타내면 표 4와 같이 나타날 수 있다. 표 4에서
Figure pat00010
,
Figure pat00011
,
Figure pat00012
은 각각 각각 제1 내지 제3 스위치(131, 141, 151)의 On을 의미할 수 있고,
Figure pat00013
,
Figure pat00014
,
Figure pat00015
은 각각 제1 내지 제3 스위치(131, 141, 151)의 Off를 의미할 수 있고, 숫자 1 및 0은 각각 제1 내지 제3 LED(171, 181, 191)의 점/멸을 의미할 수 있다.
Figure pat00016
표 1 및 표 2에 나타난 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따라 결선된 회로설계 검증 장치(100)에서 제1 LED(171)가 점등되려면 제2 스위치(141)가 On으로 조작되거나 제3 스위치(151)가 On으로 조작되어야 할 수 있다. 제2 LED(181)가 점등되려면 제1 스위치(131)가 On으로 조작되거나 제3 스위치(151)가 Off로 조작되어야 할 수 있다. 제3 LED(191)가 점등되려면 제1 스위치(131)가 Off로 조작되거나 제2 스위치(141)가 Off로 조작되어야 할 수 있다.
본 발명의 제2 실시예에 따라 결선된 회로설계 검증 장치(100)를 통한 실험 결과와, 3로 스위치를 이용한 제2 회로설계에서 의도된 바 또는 제2 회로설계의 해석을 통해 얻은 카르노맵에서 예상되는 바가 서로 일치한다면, 제2 회로설계는 유효한 회로설계인 것으로 검증될 수 있다. 한편, 상기한 바와 같은 실험 결과가 3로 스위치를 이용한 제2 회로설계에서 의도된 바 또는 제2 회로설계의 해석을 통해 얻은 카르노맵에서 예상되는 바와 일치하지 않는다면, 제2 회로설계의 검증은 실패한 것으로 판단될 수 있다. 이 때, 사용자는 제2 회로설계에 문제가 없는지, 또는 회로설계 검증 장치(100)가 제2 회로설계에 따라 정상적으로 결선되었는지 등을 재검토하여 문제를 바로잡고 다시금 실험을 수행할 수 있다.
상기한 본 발명의 실시예에 따르면, 사용자는 3로 스위치를 이용한 회로설계에 따라 회로설계 검증 장치의 각 구성요소들을 결선함으로써 회로설계의 검증을 쉽고 용이하게 수행할 수 있다. 사용자는 각 실험 스위치들의 조작에 따른 각 LED들의 점멸 여부가 3로 스위치를 이용한 회로설계에서 의도된 바 또는 회로설계의 해석을 통해 얻은 카르노맵에서 예상되는 바와 일치하는지 여부를 확인함으로써 회로설계의 검증을 수행할 수 있다. 또는, 사용자는 실험결과를 해석한 결과와 회로설계의 해석을 통해 얻은 카르노 맵을 비교함으로써, 회로설계의 검증을 수행할 수 있다.
상기한 본 발명의 실시예에 따른 회로설계 검증 장치는 PCB 기판에 설치되고 9V 건전지 전원에 의해 구동될 수 있기 때문에, 건물의 220V 회로에 전기배관작업을 통하여 전선으로 결선되어야 했던 종래의 검증 장비들에 비하여 부피가 작고 휴대성이 높으며 보다 안전성이 높다. 이와 같이 언제 어디서든 설계된 회로를 간편하게 검증할 수 있기 때문에 잘못된 회로설계에 대하여도 용이하게 대응할 수 있으며, 잘못된 회로설계에 의한 재시공의 위험성을 줄일 수 있다. 이로써 전기제어회로의 설계와 시공과정이 획기적으로 개선될 수 있으며, 작업시간과 공간제한, 그리고 안전문제가 획기적으로 개선될 수 있다.
본 발명에 따른 방법들은 다양한 컴퓨터 수단을 통해 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록되는 프로그램 명령은 본 발명을 위해 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다.
컴퓨터 판독 가능 매체의 예에는 롬(rom), 램(ram), 플래시 메모리(flash memory) 등과 같이 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러(compiler)에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터(interpreter) 등을 사용해서 컴퓨터에 의해 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상술한 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 적어도 하나의 소프트웨어 모듈로 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (6)

  1. 3로 스위치를 포함한 회로설계의 검증을 위한 회로설계 검증 장치에 있어서,
    상기 검증 장치에 전력을 공급하는 전원부;
    각각이 적어도 3개의 접점을 가지는 전기 스위치인 제1 내지 제n 스위치를 포함하는 제1 내지 제n 조작부; 및
    제1 내지 제n 발광 다이오드(light emitting diode, LED)를 포함하는 제1 내지 제n 확인부를 포함하고,
    상기 전원부, 상기 1 내지 상기 제n 조작부 및 상기 제1 내지 제n 확인부는 상기 회로설계에 따라서 상호간 연결되며,
    상기 제1 내지 제n 스위치의 조작에 따른 상기 제1 내지 제n LED의 발광 여부에 따라 상기 회로설계가 검증되는 것을 특징으로 하는, 회로설계 검증 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 전원부, 상기 제1 내지 제n 조작부, 및 상기 제1 내지 제n 확인부는 인쇄 회로 기판(printed circuit board, PCB 기판)에 설치되고,
    상기 전원부, 상기 제1 내지 제n 조작부, 및 상기 제1 내지 제n 확인부는 전선 및 상기 PCB 기판의 후면 에칭을 통하여 상호간 연결되고, 그리고
    상기 전원부에 포함되는 전원부 터미널 블록(terminal block, TB)과, 상기 제1 내지 제n 조작부에 포함되는 제1 내지 제n 조작부 TB와, 상기 제1 내지 제n 확인부에 포함되는 상기 제1 내지 제n 확인부 TB는 각각 복수의 연결 단자를 포함하여, 상기 복수의 연결 단자에 연결된 전선을 통해 상호간 연결되는 것을 특징으로 하는, 회로설계 검증 장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 전원부 TB에 포함된 + 단자는 상기 제1 내지 제n 조작부 TB에 포함된 제1 단자에 연결되고,
    상기 전원부 TB에 포함된 - 단자는 상기 제1 내지 제n 확인부 TB에 포함된 - 단자에 연결되고,
    상기 제1 내지 제n 확인부 TB에 포함된 + 단자는 검증하고자 하는 제1 회로설계에 따라서 상기 제1 내지 제n 조작부 TB에 포함된 제2 단자에 연결되고, 그리고
    상기 제1 내지 제n 스위치가 On으로 조작됨에 따라 상기 제1 내지 제n LED가 점등되고, 상기 제1 내제 제n 스위치가 Off로 조작됨에 따라 상기 제1 내지 제n LED가 꺼지는 것이 확인될 경우, 상기 제1 회로설계가 유효한 것으로 검증되는 것을 특징으로 하는, 회로설계 검증 장치.
  4. 청구항 2에 있어서,
    n은 3이며,
    상기 전원부 TB에 포함된 + 단자는 상기 제1 내지 제3 조작부 TB에 포함된 제1 단자에 연결되고,
    상기 전원부 TB에 포함된 - 단자는 상기 제1 내지 제3 확인부 TB에 포함된 - 단자에 연결되고,
    상기 제1 확인부 TB에 포함된 + 단자는 검증하고자 하는 제2 회로설계에 따라서 제2 조작부 TB에 포함된 제2 단자 및 제3 조작부 TB에 포함된 제2 단자에 연결되고,
    상기 제2 확인부 TB에 포함된 + 단자는 상기 제2 회로설계에 따라서 제1 조작부 TB에 포함된 제2 단자 및 제3 조작부 TB에 포함된 제3 단자에 연결되고,
    상기 제3 확인부 TB에 포함된 + 단자는 상기 제2 회로 설계에 따라서 제1 조작부 TB에 포함된 제3 단자 및 제2 조작부 TB에 포함된 제3 단자에 연결되고, 그리고
    상기 제1 LED는 상기 제2 스위치가 On으로 조작되거나 상기 제3 스위치가 On으로 조작됨에 따라 점등되고, 상기 제2 LED는 상기 제1 스위치가 On으로 조작되거나 상기 제3 스위치가 Off로 조작됨에 따라 점등되고, 상기 제3 LED는 상기 제1 스위치가 Off로 조작되거나 상기 제2 스위치가 Off로 조작됨에 따라 점등되는 것이 확인될 경우, 상기 제2 회로설계가 유효한 것으로 검증되는 것을 특징으로 하는, 회로설계 검증 장치.
  5. 청구항 2에 있어서,
    상기 전원부는 직류(direct current, DC) 전원, 전원 스위치 및 전원부 확인 LED를 더 포함하고,
    상기 DC 전원의 + 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 전원부 스위치를 거쳐 상기 전원부 확인 LED의 + 전극 및 상기 전원부 TB의 + 단자와 연결되고,
    상기 DC 전원의 - 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 전원부 확인 LED의 - 전극 및 상기 전원부 TB의 - 단자와 연결되고,
    상기 제1 내지 제n 조작부 TB에 포함된 제1 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 제1 내지 제n 스위치에 포함된 제1 접점과 연결되고,
    상기 제1 내지 제n 조작부 TB에 포함된 제2 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 제1 내지 제n 스위치에 포함된 제2 접점과 연결되고,
    상기 제1 내지 제n 조작부 TB에 포함된 제3 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 제1 내지 제n 스위치에 포함된 제3 접점과 연결되고,
    상기 제1 내지 제n 스위치는 On으로 조작될 경우 상기 제1 접점 및 제2 접점이 연결되고 Off로 조작될 경우 상기 제1 접점 및 제3 접점이 연결되도록 형성되고,
    상기 제1 내지 제n 확인부 TB에 포함된 + 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 제1 내지 제n LED에 포함된 + 전극과 연결되고, 그리고
    상기 제1 내지 제n 확인부 TB에 포함된 - 단자는 상기 PCB 기판 후면 에칭을 통하여 상기 제1 내지 제n LED에 포함된 - 전극과 연결되는 것을 특징으로 하는, 회로설계 검증 장치.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 DC 전원은 9볼트(volt, V) 건전지인 것을 특징으로 하는, 회로설계 검증 장치.
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허경, ‘기초디지털논리회로 실습을 위한 스위치 기반 LED Art 논리 회로 구현’, 실천공학교육논문지, 2016., 8권, 2호, 95-101쪽.* *

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