KR20210099594A

KR20210099594A - 용접 장치

Info

Publication number: KR20210099594A
Application number: KR1020217018200A
Authority: KR
Inventors: 슈테판 볼프스그루버; 필립 되르너; 안드레아스 슈타르젠그루버; 우베 포프; 클라우스 베르취
Original assignee: 힐티 악티엔게젤샤프트
Priority date: 2018-12-19
Filing date: 2019-11-29
Publication date: 2021-08-12
Also published as: US20220072645A1; WO2020126404A1; US11850689B2; EP3898056C0; TW202027889A; EP3670057A1; EP3898056A1; EP3898056B1

Abstract

본 발명은 기재의 미리 정해진 지점에 용접 스터드를 용접하기 위한 장치로서, 스터드 홀더, 스터드 홀더와의 사이에 갭을 형성하면서 스터드 홀더를 둘러싸는 보호 가스 실드 및 투영 장치를 구비하고, 상기 투영 장치는 갭을 통해 기재 위에 시각적 패턴을 투영하기 위해 제공된다.

Description

용접 장치

본 발명은 일반적으로 기재에 스터드를 고정하기 위한 장치 및 그러한 스터드에 관한 것이다.

여러 응용예에서 기재에 다양한 스터드들이 고정되는 몇몇 장치 및 방법이 공개되어 있다. 예를 들어, 스터드들이 기재와 접촉하고, 상기 스터드에 전류가 공급된다. 스터드와 기재 사이에 전류가 흐르는 즉시, 아크의 형성하에 스터드가 기재로부터 들어 올려진다. 방출된 에너지로 인해 스터드와 기재의 재료가 부분적으로 융해된다. 그런 다음, 이러한 재료가 냉각되어 굳어지기 전에, 스터드는 융화된 재료 내로 침지된다. 마침내 스터드는 기재에 재료 결합 방식으로 연결된다.

충분히 짧은 시간 내에 스터드와 기재의 재료의 융해에 필요한 에너지를 제공하기 위해, 매우 높은 전류 세기의 전류를 생성하여 적절하게 설계된 전기 케이블을 통해 스터드에 공급하는 장치들이 공개되어 있다. 융해된 재료의 산화를 방지하기 위해, 스터드와 기재 사이의 접촉점을 불활성 가스로 플러싱하는 것이 공개되어 있다. 이를 위해 제공되는 보호 가스 실드의 크기에 따라, 원하는 용접 지점을 찾기가 어렵다.

예를 들어 빌딩의 건축 또는 선박 건조와 같은 응용 분야에서는 나사산이 있는 다양한 크기의 스터드가 사용되며, 기재에 물체를 고정하기 위해 나사산에 물체가 나사 조임된다. 예를 들어, 전류의 지속 시간 및 전력과 같이 고정 방법의 일부 파라미터는 사용자에 의해 장치에서 설정되고 사용된 스터드에 맞게 조정되어야 한다. 마지막으로, 사용자는 육안 검사를 통해 스터드와 기재 사이의 연결의 품질을 평가한다. 따라서 연결 품질은 사용자의 경험과 능력에 따라 달라진다.

본 발명의 과제는 기재에 스터드의 고정을 간단하게 하고 및/또는 개선하는 장치 및/또는 방법을 제공하는 것이다.

본 출원의 대상은 스터드 홀더, 스터드 홀더와의 사이에 갭을 형성하면서 스터드 홀더를 둘러싸는 보호 가스 실드 및 갭을 통해 시각적 패턴을 기재 위에 투영하기 위해 제공된 투영 장치를 구비하고 기재의 미리 정해진 지점에 용접 스터드를 용접하기 위한 장치이다. 이로 인해 보호 가스 실드가 있는 경우에도 미리 정해진 지점을 찾는 것이 쉬워진다.

바람직한 실시예는, 투영 장치가 광원을 포함하는 것을 특징으로 한다. 광원은 바람직하게는 발광 다이오드를 포함한다. 투영 장치는 또한 바람직하게 복수의 광원을 포함하고, 상기 광원들은 특히 바람직하게 스터드 홀더 주위에 균일하게 배치된다.

바람직한 실시예는, 투영 장치가 보호 가스 실드에 설치되는 것을 특징으로 한다. 바람직하게 투영 장치는 보호 가스 실드에 고정된다. 대안적인 실시예는, 투영 장치가 스터드 홀더에 설치되는 것을 특징으로 한다. 바람직하게 투영 장치는 스터드 홀더에 고정된다. 다른 대안적인 실시예는, 투영 장치가 장치의 하우징에 설치되는 것을 특징으로 한다. 바람직하게 투영 장치는 하우징에 고정된다.

바람직한 실시예는, 보호 가스 실드는 광 통로를 갖고, 상기 광 통로를 통해 시각적 패턴이 투영될 수 있는 것을 특징으로 한다. 대안적인 실시예는, 스터드 홀더가 광 통로를 갖고, 상기 광 통로를 통해 시각적 패턴이 투영될 수 있는 것을 특징으로 한다. 다른 대안적인 실시예는, 장치는 광 통로를 가진 하우징을 갖고, 상기 광 통로를 통해 시각적 패턴이 투영될 수 있는 것을 특징으로 한다.

바람직한 실시예는, 시각적 패턴이 광점을 포함하는 것을 특징으로 한다. 다른 바람직한 실시예는, 시각적 패턴이 보조 라인을 포함하는 것을 특징으로 한다. 다른 바람직한 실시예는, 스터드 홀더에 의해 지지되는 스터드가 미리 정해진 지점에 배치되면, 시각적 패턴이 미리 정해진 지점 주위에 대칭으로 배치되는 것을 특징으로 한다.

바람직한 실시예에서, 장치는 용접 스터드 및/또는 기재의 재료를 부분적으로 융해시키기 위해 용접 스터드에 용접 전류를 공급하기 위한 용접 전류 컨택트 부재 및/또는 용접 스터드와 기재 사이에 흐르는 용접 전류를 유지하면서 기재로부터 용접 스터드를 리프팅 하기 위한 스터드 리프팅 장치 및/또는 용접 스터드 및/또는 기재가 용접 전류로 인해 부분적으로 융해되면, 용접 스터드 및/또는 기재의 융해 재료 내로 용접 스터드를 침지하기 위한 스터드 침지 장치를 포함한다.

본 발명은 이하에서 도면을 참고로 실시예에 기초하여 상세히 설명된다.

도 1은 용접 장치를 개략적으로 도시한 도면.
도 2는 용접 건을 개략적으로 도시한 도면.
도 3은 용접 건의 종단면을 도시한 도면.

도 1에는 용접 스터드(20)를 기재(30)에 용접하기 위한 용접 장치(10)가 개략적으로 도시되어 있다. 용접 스터드(20)의 재료 및 기재(30)의 재료는 전기 전도성이고, 특히 금속이다. 용접 장치(10)는 푸시 버튼으로 형성된 트리거 스위치(41)를 가진 용접 건(40), 용접기(50), 제 1 전기 케이블(61), 접속 단자(63)를 가진 제 2 전기 케이블(62), 예를 들어 전원 케이블로서 형성된 전기 공급 케이블(64), 전기 통신 라인(65), 가스 실린더로 형성된 가스 저장기(70), 튜브형 가스 공급 라인(71) 및 가스 튜브(72)를 포함한다.

제 1 케이블(61)은 용접기(50)를 통해 용접 스터드(20)에 전류를 공급하는 데 이용된다. 제 2 케이블(62)은, 접속 단자(63)가 기재(30)에 클램핑될 때, 용접기(50)에 기재(30)를 전기적으로 연결하는 데 이용된다. 용접 스터드(20)가 기재(30)와 접촉하면 회로가 폐쇄되어, 용접기(50)로부터 예를 들어 직류 또는 교류로서 형성된 용접 전류가 용접 스터드(20)에 공급될 수 있다. 이를 위해, 용접 건(40)은 도 1에 도시되지 않은 용접 전류 컨택트 부재를 포함한다. 용접기(50)는 공급 케이블(64)의 전류를 용접 전류로 변환하기 위한 도시되지 않은 장치를 포함하고, 상기 장치는 소정의 전압 및 전류 세기의 용접 전류를 제공하기 위해, 예를 들어 전기 커패시터, 사이리스터, 절연 게이트 전극을 가진 바이폴러 트랜지스터 또는 기타 전력 전자 부품 및, 마이크로프로세서를 가진 관련 제어 장치를 포함한다.

가스 공급 라인(71)과 가스 튜브(72)는 용접 과정 동안 접촉 영역을 주변의 산소에 의한 산화로부터 보호하기 위해 용접 스터드(20)와 기재(30) 사이의 접촉 영역에 가스 저장기(70)로부터 보호 가스를 공급하는 데 이용된다. 접촉 영역을 향한 가스 흐름을 제어하기 위해 가스 저장기(70), 가스 공급 라인(71), 용접기(50), 가스 튜브(72) 또는 용접 건(40)은 도시되지 않은, 특히 제어 가능한 밸브를 갖는다.

용접기(50)는 작동 부재들(52)을 가진 입력 장치(51) 및 시각 디스플레이 부재(54)와 무선 전송 유닛을 가진 출력 장치(53)를 포함한다. 입력 장치(51)는 용접 장치(10)로 수행될 용접 공정의 파라미터, 예를 들어 용접 전류의 전압, 전류 세기, 전력 및 지속 시간, 스터드의 위치와 속도 등을 용접 장치(10)의 사용자를 통해 입력하는데 이용된다. 출력 장치(53)는 정보, 예를 들어 용접 공정의 파라미터에 대한 정보, 용접 공정의 검출된 방출 또는 기타 변수들에 대한 정보, 용접 과정의 품질에 대한 정보, 용접 과정의 개선을 위한 조치에 대한 정보, 용접 스터드의 검출된 특성들에 대한 정보 또는 앞에서 언급된 변수들로부터 도출된 정보, 및/또는 용접 장치(10), 특히 용접 건(40)의 청소 및/또는 유지 보수를 위한 권장 사항 또는 지침을 사용자에게 출력하는 데 이용된다.

통신 라인(65)은 용접 건(40), 특히 도 1에 도시되지 않은 용접 건(40)의 제어 장치와 용접기(50), 특히 제어 장치 및/또는 입력 장치(51) 및/또는 출력 장치(53) 사이의 통신에 이용된다. 예를 들어 용접 스터드(20)의 이동과 용접 전류의 동기화를 달성하거나 용이하게 하기 위해, 용접 과정의 파라미터에 대한 정보의 교환이 이러한 통신 라인에 의해 달성된다. 도시되지 않은 실시예에서, 용접 건과 용접기 사이의 통신은 무선으로, 무선 통신에 의해 또는 용접 전류를 안내하는 제 1 전기 케이블에 의해 이루어진다.

도 2에 기재(30)에 고정하기 위한 용접 스터드(20)를 가진 용접 건(40)이 더 상세하게 도시된다. 용접 건(40)은 개구(46)가 있는 하우징(42)을 가지며, 상기 하우징으로부터 트리거 스위치(41)를 가진 핸들(43)이 돌출한다. 또한, 제 1 전기 케이블(61), 기재(30)에 클램핑된 접속 단자(63)를 가진 제 2 전기 케이블(62), 전기 통신 라인(65) 및 가스 튜브(72)가 도시된다.

용접 건(40)은 스터드 홀더(44)를 더 가지며, 상기 홀더에 용접 과정 동안 용접 스터드(20)가 지지된다. 이를 위해, 스터드 홀더는 예를 들어 개별적으로 도시되지 않은 2개, 3개, 4개 또는 그 이상의 탄성 암을 포함하며, 이들 사이에 용접 스터드(20)가 삽입되고 억지 끼워맞춤(force fit)에 의해 지지된다. 용접 건(40)은 또한 용접 스터드(20)에 용접 전류를 공급하기 위한 용접 전류 컨택트 부재(45)를 가지며, 상기 컨택트 부재는 예를 들어 하나 이상의 탄성 암의 형태로 스터드 홀더(44)에 통합된다.

용접 건(40)은 또한 용접 건 및 용접기(50)의 다양한 구성 요소들과 장치들을 제어하기 위한 제어 장치(200)를 갖는다. 제어 장치(200)는 용접 과정의 하나 이상의 파라미터를 제어하기 위해 제공된다. 제어 장치(200)는 이를 위해, 예를 들어 하나 이상의 마이크로프로세서, 하나 이상의 임시 또는 영구 데이터 메모리 등과 같은 다양한 전자 부품들을 포함한다.

용접 건(40)은 또한 제 1 리프팅 자석으로 형성된 스터드 리프팅 장치(80)를 가지며, 상기 스터드 리프팅 장치(80)가 활성화되면, 상기 리프팅 장치는 개구(46)로부터 뒤로 멀어지도록 스터드 홀더(44)에 힘을 가한다. 스터드 리프팅 장치(80)를 제어하기 위해, 특히 활성화 및 비활성화하기 위해, 제어 장치(200)는 도시되지 않은 신호 라인을 통해 스터드 리프팅 장치(80)와 통신한다.

용접 건(40)은 또한 제 2 리프팅 자석으로 형성된 스터드 침지 장치(90)를 가지며, 상기 스터드 침지 장치(90)가 활성화되면, 상기 침지 장치는 개구(46)를 향해 앞으로 (도 2에서 아래로) 스터드 홀더(44)에 힘을 가한다. 스터드 침지 장치(90)를 제어하기 위해, 특히 이를 활성화 및 비활성화하기 위해, 제어 장치(200)는 도시되지 않은 신호 라인을 통해 스터드 침지 장치(90)와 통신한다. 도시되지 않은 실시예에서 스터드 침지 장치는 스프링 부재로서 형성되고, 상기 스프링 부재는 스터드 홀더가 스터드 리프팅 장치에 의해 뒤로 이동되는 경우에 인장되고, 스터드 리프팅 장치가 비활성화되는 즉시, 스터드 홀더를 앞으로 이동시킨다.

용접 건(40)은 또한 스터드 침지 장치(90)에 의해 야기되는 용접 스터드의 속도에 영향을 미치는 영향 장치(100)를 갖는다. 영향 장치(100)는 제 1 액추에이터로서 제 1 리프팅 자석으로 형성된 스터드 리프팅 장치(80)를 포함하고 제 2 액추에이터로서 제 2 리프팅 자석으로 형성된 스터드 침지 장치(90)를 포함한다. 이러한 경우에 제 2 액추에이터는 제 1 액추에이터와 반대 방향으로 작동한다. 도시되지 않은 실시예에서 제 2 액추에이터는 제 1 액추에이터와 동일한 방향으로 작용한다. 두 경우 모두 용접 스터드의 속도는, 스터드 리프팅 장치(80) 및 스터드 침지 장치(90)가 제어 장치(200)에 의해 교대로 및/또는 동시에 활성화 및 비활성화됨으로써 영향을 받는다. 이로 인해, 스터드 침지 장치(90)에 의해 야기된 용접 스터드(20)의 이동을 여러 번 지연시키는 것 및/또는 반대로 전환하는 것이 가능하다.

용접 건(40)은 또한 용접 과정 시 생성된 방출을 검출하기 위한 검출 장치(210)를 갖는다. 검출 장치(210)는 예를 들어, 음향, 전기, 자기 및/또는 광학 방출을 검출하기 위한 진동 센서, 마이크로폰, 온도 센서, 방사선 센서, 카메라 또는 이와 같은 것을 포함한다. 제어 장치(200)는 검출된 방출을 나타내는 신호를 수신하고 그에 따라 용접 과정을 제어하기 위해, 도시되지 않은 신호 라인을 통해 검출 장치(210)와 통신한다.

용접 건(40)은 또한 용접 스터드(20)의 하나 이상의 스터드 특성을 검출하기 위한 식별 장치(220)를 갖는다. 식별 장치(220)는 용접 스터드(20)의 길이 및/또는 폭 및/또는 직경과 같은 기하학적 스터드 특성을 검출하는 데 적합하다. 도시되지 않은 실시예에서 식별 장치는 용접 스터드의 재료 또는 공장에서 용접 스터드에 설치된 용접 스터드의 식별 요소를 검출하는 데 적합하다. 용접 건(40)은 또한 스터드 홀더(44)에 설치된 식별 요소를 검출하기 위해 제공된 스터드 홀더 식별 장치(270)를 갖는다. 각각의 스터드 유형이 스터드 홀더 유형에 지정되면, 이는 스터드 특성들의 간접적인 검출을 가능하게 한다. 예를 들어, 스터드 홀더(44)는 특정 직경의 스터드를 지지하는 데에만 적합하므로, 스터드 홀더(44)의 검출로부터 용접 스터드(20)의 직경이 추론될 수 있다. 검출된 스터드 특성들을 나타내는 신호를 수신하고 이에 따라 용접 과정의 제어를 수행하기 위해, 제어 장치(200)는 도시되지 않은 신호 라인을 통해 식별 장치와 통신한다. 도시되지 않은 실시예에서, 식별 요소는 용접 스터드의 패키징에 설치되고, 예를 들어 QR 코드 또는 RFID, 특히 모바일폰 또는 유사한 장치를 이용해서 판독된다.

용접 건(40)은 용접 과정 동안 용접 스터드(20)와 기재(30) 사이에 인가하는 전압을 검출하기 위한 전압 검출 장치(231) 및 용접 과정 동안 용접 스터드(20)와 기재(30) 사이에 흐르는 전류 세기를 검출하기 위한 전류 세기 검출 장치(232)를 더 포함한다. 전압 검출 장치(231)는 이를 위해 바람직하게 예를 들어 기재(30)의 전위를 탭하기 위해 개구(46)에 설치된 측정 컨택트를 포함한다. 전압 또는 전류 세기를 나타내는 신호를 수신하고, 데이터 메모리 중 하나에 저장하고, 후속 용접 과정의 하나 이상의 파라미터를 선행하는 용접 과정 동안 검출 장치(231, 232)에 의해 검출된 파라미터에 의존해서 제어하기 위해, 제어 장치(200)는 도시되지 않은 신호 라인을 통해 전압 검출 장치(231) 및 전류 세기 검출 장치(232)와 통신한다.

용접 건(40)은 용접 스터드(20)의 침지 이동 동안 용접 스터드의 속도 및 침지 이동의 지속 시간을 결정하기 위한 결정 장치(260)를 더 포함한다. 위치 검출 장치(250)는 리프팅 이동 전과 침지 이동 후 용접 스터드의 위치를 결정하는 데 적합하고, 제어 장치(200)는 이들 2개의 위치 사이의 차이를 결정하고 용접 스터드(20)와 기재(30) 사이의 용접 연결의 품질을 평가하는 데 적합하다.

용접 건(40)은 작동 부재(152)를 가진 입력 장치(151) 및 시각 디스플레이 부재와 무선 전송 유닛을 가진 출력 장치(153)를 더 포함한다. 입력 장치(151)는 용접 건(40)으로 수행될 용접 공정의 파라미터, 예를 들어 용접 전류의 전압, 전류 세기, 전력 및 지속 시간, 스터드의 위치 및 속도 등을 용접 건(40)의 사용자를 통해 입력하는 데 이용된다. 출력 장치(153)는 예를 들어 용접 공정의 파라미터에 대한 정보, 용접 공정의 검출된 방출 또는 다른 변수들에 대한 정보, 용접 과정의 품질에 대한 정보, 용접 과정의 개선을 위한 조치에 대한 정보, 용접 스터드의 검출된 특성들에 대한 정보 또는 앞에서 언급된 변수들로부터 도출된 정보 및/또는 용접 건(40)의 청소 및/또는 유지 보수를 위한 권장 사항 또는 지침과 같은 정보를 사용자에게 출력하는 데 이용된다. 제어 장치(200)는, 입력 장치(151)에 의해 입력되는 정보를 수신하고 또는 출력될 정보를 출력 장치(153)로 전송하기 위해, 도시되지 않은 신호 라인을 통해 입력 장치(151) 및 출력 장치(153)와 통신한다.

용접 건(40)은 중력의 방향과 관련해서 용접 건(40)의 방위를 감지하기 위한 방위 감지 장치(290)를 더 포함한다. 방위 감지 장치(290)는 예를 들어, 용접 과정 동안 용접 건(40)이 뒤로, 측면으로 또는 위쪽으로 정렬되어 있는지를 감지한다. 방위 감지 장치(290)는, 예를 들어 리프팅 이동 동안 스터드 홀더의 가속도를 평가하거나 용접 전류의 전압의 시간 프로파일을 평가함으로써 용접 건(40)의 방위를 결정한다. 용접 건(40)의 방위에 대한 정보는 용접 과정의 파라미터의 개선된 제어에 이용된다.

용접 스터드를 위해 미리 정해진 용접 지점을 찾기 위한 장치의 일부로서, 용접 건(40)은 용접 건(40), 특히 개구(46) 또는 스터드 홀더(44)와 기재(30) 사이 및/또는 용접 스터드(20)와 기재(30) 사이의 전기 접촉 저항을 감지하기 위한 감지 장치(240)를 더 포함한다. 또한, 기재의 미리 정해진 지점과 나머지 표면 사이의 높이 차를 감지하기 위해, 용접 스터드를 위해 미리 정해진 용접 지점을 찾기 위한 장치는 나머지 용접 건(40)에 대해 용접 스터드(20)와 스터드 홀더(40)의 위치를 검출하기 위한 위치 검출 장치(250)를 포함한다. 용접 스터드(20)와 스터드 홀더(44)의 접촉 저항 또는 위치를 나타내는 신호를 수신하고 처리하기 위해, 제어 장치(200)는 도시되지 않은 신호 라인을 통해 감지 장치(240) 및 위치 검출 장치(250)와 통신한다.

용접 스터드(20)를 위해 미리 정해진 용접 지점을 찾기 위한 장치의 다른 부분으로서, 용접 건은 기재(30) 위에 하나 이상의 보조 라인을 투영하기 위한 투영 장치(280)를 포함한다. 투영 장치(280)는 이를 위해 예를 들어 레이저를 포함하고, 상기 레이저는 기재(30) 위에 보조 라인을 투영한다. 보조 라인은 용접 건(40)의 사용자에게 용접 건(40)의 현재 위치에서 용접 스터드(20)가 용접되는 기재(30) 상의 지점을 나타낸다.

도 3은 도시되지 않은 기재의 미리 정해진 용접 지점에 용접 스터드(310)를 용접하기 위한 용접 건으로서 형성된 장치(300)를 도시한다. 장치(300)는, 용접 스터드(310)가 용접 축(330)을 따라 스터드 홀더(320)와 함께 이동하도록, 용접 과정 동안 용접 스터드(310)가 지지되는 스터드 홀더(320)를 포함한다. 또한, 장치(300)는 스터드 홀더(320)와 보호 가스 실드(340) 사이에 갭(350)을 형성하면서 용접 축(330)을 중심으로 둘레를 따라 스터드 홀더를 둘러싸는 보호 가스 실드(340)를 포함한다. 이로 인해 스터드 홀더(320)와 용접 스터드(310)가 보호 가스로 플러싱될 수 있고, 상기 보호 가스는 갭(350)을 통해 유동한다.

장치(300)는 투영 장치(360)를 포함하고, 상기 투영 장치는 복수의, 본 실시예에서는 스터드 홀더(320) 주위에 균일하게 배치되며 발광 다이오드로서 형성된 6개의 광원(370)을 포함한다. 광원(370)은 광원(370)이 배선된 기판(380)에 의해 보호 가스 실드(340)에 고정된다. 보호 가스 실드(340)는 광 통로(390)를 가지며, 각각의 광원(370)은 광 통로(390) 상에 또는 내부에 배치된다. 도시되지 않은 실시예에서, 광원 및/또는 광 통로는 장치의 스터드 홀더 또는 하우징에 설치 또는 제공된다.

광원(370)은 미리 정해진 용접 지점을 쉽게 찾을 수 있도록 하기 위해, 광 통로(390) 및 갭(350)을 통해 시각적 패턴을 기재 위에 투영한다. 특정 상황에서, 광이 기재에 부딪히기 전에, 광은 스터드 홀더(320)의 외부 표면 및/또는 보호 가스 실드(340)의 내부 표면에서 반사된다. 시각적 패턴은 광점, 보조 라인 또는 원 또는 로제트(rosette)와 같이 용접 축(330)에 대해 대칭으로 구성된 패턴을 포함한다. 특히, 시각적 패턴은 용접 축(330)을 중심으로 대칭으로 형성된 스터드 홀더(320)의 그림자를 포함한다. 장치(300)의 사용자는, 기재 위에 투영된 패턴을 미리 정해진 용접 지점을 중심으로 대칭으로 정렬함으로써, 기재 위의 미리 정해진 용접 지점에 간단하게 용접 스터드(310)를 배치할 수 있다.

본 발명은 기재에 용접 스터드를 용접하기 위한 장치 및 방법의 예들에 기초하여 설명되었다. 설명된 실시예들의 특징들은 또한 단일 용접 장치 또는 단일 용접 방법 내에서 임의로 서로 조합될 수도 있다. 본 발명에 따른 장치 및 본 발명에 따른 방법은 또한 다른 목적에도 적합하다는 사실이 참조된다.

Claims

기재의 미리 정해진 지점에 용접 스터드를 용접하기 위한 용접 장치로서, 스터드 홀더, 스터드 홀더와의 사이에 갭을 형성하면서 스터드 홀더를 둘러싸는 보호 가스 실드 및 투영 장치를 구비하고, 상기 투영 장치는 갭을 통해 기재 위에 시각적 패턴을 투영하기 위해 제공되는 것인 용접 장치.
제 1 항에 있어서, 상기 투영 장치는 광원을 포함하는 것인 용접 장치.
제 2 항에 있어서, 상기 광원은 발광 다이오드를 포함하는 것인 용접 장치.
제 2 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 투영 장치는 복수의 광원을 포함하는 것인 용접 장치.
제 4 항에 있어서, 상기 광원들은 스터드 홀더 주위에 균일하게 배치되는 것인 용접 장치.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 투영 장치는 보호 가스 실드에 설치되고, 특히 고정되는 것인 용접 장치.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 투영 장치는 스터드 홀더에 설치되고, 특히 고정되는 것인 용접 장치.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 용접 장치는 하우징을 갖고, 상기 투영 장치는 하우징에 설치되고, 특히 고정되는 것인 용접 장치.
제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 보호 가스 실드는 광 통로를 갖고, 상기 광 통로를 통해 시각적 패턴이 투영될 수 있는 것인 용접 장치.
제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 스터드 홀더는 광 통로를 갖고, 상기 광 통로를 통해 시각적 패턴이 투영될 수 있는 것인 용접 장치.
제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 용접 장치는 광 통로를 가진 하우징을 갖고, 상기 광 통로를 통해 시각적 패턴이 투영될 수 있는 것인 용접 장치.
제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 시각적 패턴은 광점을 포함하는 것인 용접 장치.
제 1 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 시각적 패턴은 보조 라인을 포함하는 것인 용접 장치.
제 1 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 스터드 홀더에 의해 지지되는 스터드가 미리 정해진 지점에 배치되면, 상기 시각적 패턴은 상기 미리 정해진 지점 주위에 대칭으로 배치되는 것인 용접 장치.
제 1 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 있어서, 용접 스터드 및/또는 기재의 재료를 부분적으로 융해시키기 위해 용접 스터드에 용접 전류를 공급하기 위한 용접 전류 컨택트 부재 및/또는 용접 스터드와 기재 사이에 흐르는 용접 전류를 유지하면서 기재로부터 용접 스터드를 리프팅하기 위한 스터드 리프팅 장치 및/또는 용접 스터드 및/또는 기재가 용접 전류로 인해 부분적으로 융해되면, 용접 스터드 및/또는 기재의 융해된 재료 내로 용접 스터드를 침지하기 위한 스터드 침지 장치를 더 포함하는 용접 장치.