KR20210088365A - 메모리 모듈 실장 테스트 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 메모리 모듈을 픽업하여 플레이스 할 수 있도록 구성되는 테스트 핸들러, 메모리 모듈이 전기적으로 연결될 수 있도록 구성되는 소켓이 구비된 마더보드를 포함하며, 소켓이 복수로 구성되어 일측을 향하여 배열되는 테스트 셀, 소켓의 배열에 대응하여 복수의 메모리 모듈이 배열되어 적재될 수 있도록 구성된 테스트 트레이, 테스트 트레이를 이송할 수 있도록 구성되는 제1 트랜스퍼 및 테스트 트레이에 적재되어 있는 상태에서 복수의 메모리 모듈이 복수의 소켓 각각에 전기적으로 접촉될 수 있도록 가압하는 프레스를 포함하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 메모리 모듈 실장 테스터 장치는 테스트 트레이를 이용하여 마더보드와 메모리 모듈을 접촉시키게 되므로 메모리 모듈의 착탈에 소요되는 시간을 최소화할 수 있고, 메모리 모듈의 착탈을 위한 별도의 구성을 생략할 수 있다. 따라서 공간상의 제약을 최소화 할 수 있고, 결국 상하 방향의 2단 이상으로 테스트 유닛을 배열할 수 있어 컴팩트한 레이아웃으로 구성되어 공간 효율성을 높일 수 있다.

Description

메모리 모듈 실장 테스트 장치{APPARATUS OF SYSTEM LEVEL TEST FOR MEMORY MODULE}
본 발명은 메모리 모듈 실장 테스트 장치에 관한 것이며, 보다 상세하게는 메모리 모듈을 마더 보드에 장착하여 테스트를 수행하며, 리테스트 등급으로 분류된 메모리 모듈의 리테스트(RE-TEST)를 수행하기 위한 독립적인 리테스트 유닛이 구비된 메모리 모듈 실장 테스트 장치에 관한 것이다.
메모리 모듈(Memory module)은 컴퓨터의 주기억장치이며, 마더 보드(Mother Board)에 착탈될 수 있도록 구성된다. 메모리 모듈은 제조 완료 후 개별적인 모듈의 성능을 검사하기 위한 다양한 테스트가 수행된다. 그러나 메모리 모듈 자체의 성능을 검사하여 이상이 없는 것으로 판단된 경우라도 실제 마더 보드에 장착하여 사용하는 경우 제대로 동작하지 않는 경우가 빈번하게 발생되었다.
따라서, 출하 전 메모리 모듈의 성능 테스트시 실제 장착되는 마더 보드와 동일한 환경에서 요구 성능을 만족하는지 여부를 판단하는 실장 테스트가 수행되고 있다.
종래의 실장 테스트에서는 메모리 모듈의 경우 실제 마더 보드(또는 메인 보드)의 소켓에 삽입하여 장착한 이후 메모리를 테스트하게 되나, 작업자가 메모리 모듈을 마더 보드의 소켓에 직접 끼워넣거나, 대한민국 등록특허 제0950034호와 같이 핸드가 하나씩 소켓에 끼우게 되어 비효율적으로 운용되던 문제점이 있었다.
또한 종래의 실장 테스트에서는 모듈의 테스트 결과 리테스트(RETEST)가 필요하다고 판단된 메모리 모듈에 대하여 리테스트를 수행할 때 테스트 셀 내에 사용되지 않는 마더보드가 다수 존재하여 가동 효율이 낮아지는 문제점이 있었다.
대한민국 등록특허 제0950034호
본 발명은 종래의 메모리 모듈의 실장 테스트 장치의 처리 속도를 증가시키고, 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈에 대한 리테스트의 신속성 및 효율성을 향상시키며, 테스트 장치의 공간 활용도를 향상시킬 수 있는 메모리 테스트 장치를 제공하는 것에 그 목적이 있다.
상기 과제의 해결 수단으로서, 메모리 모듈을 픽업하여 플레이스 할 수 있도록 구성되는 테스트 핸들러, 메모리 모듈이 전기적으로 연결될 수 있도록 구성되는 소켓이 구비된 마더보드를 포함하며, 소켓이 복수로 구성되어 일측을 향하여 배열되는 테스트 유닛, 소켓의 배열에 대응하여 복수의 메모리 모듈이 배열되어 적재될 수 있도록 구성된 테스트 트레이, 테스트 트레이를 이송할 수 있도록 구성되는 제1 트랜스퍼, 테스트 트레이에 적재되어 있는 상태에서 복수의 메모리 모듈이 복수의 소켓 각각에 전기적으로 접촉될 수 있도록 가압하는 프레스 및 테스트 핸들러에 인접하여 구비되며, 실장 테스트 결과 리테스트(re-test) 등급 부여된 메모리 모듈을 적재하여 실장 테스트를 수행할 수 있도록 구성된 리테스트 유닛을 포함하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치가 제공될 수 있다.
한편, 리테스트 유닛은 소켓이 구비된 마더보드가 복수로 구비되도록 구성될 수 있다.
또한, 리테스트 유닛은 리테스트 등급이 부여된 적어도 하나의 메모리 모듈이 적재된 테스트 트레이를 이송받아 리테스트를 수행하도록 구성될 수 있다.
한편, 테스트 핸들러는 리테스트 등급이 부여된 적어도 하나의 메모리 모듈을 테스트 트레이에 적재할 수 있도록 구성될 수 있다.
또한, 테스트 핸들러는 소정 개수의 메모리 모듈에 대한 테스트를 수행한 이후 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈이 적재된 테스트 트레이를 리테스트 유닛으로 이송하도록 구성될 수 있다.
나아가, 테스트 핸들러는 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈이 임시로 적재될 수 있도록 구성되는 버퍼 트레이를 더 포함하여 구성될 수 있다.
또한, 테스트 핸들러는, 소정 개수의 메모리 모듈에 대한 테스트를 수행한 이후 버퍼 트레이에 적재되어 있는 하나 이상의 메모리 모듈을 테스트 트레이로 적재하도록 제어될 수 있다.
한편, 리테스트 유닛은 리테스트 등급이 부여된 하나 이상의 메모리 모듈에 대한 리테스트 수행 이후 각각의 메모리 모듈에 대한 리테스트 결과를 외부로 송신할 수 있도록 구성될 수 있다.
한편, 테스트 핸들러와 리테스트 유닛 사이에 테스트 유닛을 이송할 수 있도록 구성되는 제2 트랜스퍼를 더 포함할 수 있다.
한편, 리테스트 유닛은 입출 가능하도록 구성된 리테스트 트레이를 더 포함하며, 테스트 핸들러는 리테스트 유닛으로부터 인출된 리테스트 트레이에 리테스트 등급 부여된 메모리 모듈을 이송하여 적재할 수 있도록 성될 수 있다.
한편, 리테스트 유닛은, 테스트 유닛에서 소정 개수의 테스트 모듈에 대한 테스트가 종료된 이후 리테스트 트레이를 리테스트 유닛으로 이송하며, 리테스트 트레이에 적재된 리테스트 등급 부여된 메모리 모듈에 대한 리테스트를 수행하도록 제어될 수 있다.
본 발명에 따른 메모리 모듈 실장 테스트 장치는 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈만들 별도로 취합하여 리테스트를 수행할 수 있으므로 공정효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
또한 리테스트의 수행시 테스트 트레이를 이용하여 마더보드와 메모리 모듈을 접촉시키게 되므로 메모리 모듈의 착탈에 소요되는 시간을 최소화할 수 있고, 메모리 모듈의 착탈을 위한 별도의 구성을 생략할 수 있다. 따라서 공간상의 제약을 최소화 할 수 있고, 결국 상하 방향의 2단 이상으로 테스트 유닛을 배열할 수 있어 컴팩트한 레이아웃으로 구성되어 공간 효율성을 높일 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 메모리 모듈 실장 테스트 장치의 사시도이다.
도 2는 테스트 핸들러에서 평면상의 작업영역을 구분하여 나타낸 개념도이다.
도 3은 제1 트랜스퍼가 나타난 사시도이다.
도 4는 테스트 유닛의 배열이 나타난 사시도이다.
도 5는 테스트 유닛의 사시도이다.
도 6은 테스트 셀의 부분절개도이다.
도 7 및 도 8은 테스트 유닛의 작동상태도이다.
도 9는 테스트 트레이 및 메모리 모듈이 도시된 사시도이다.
도 10은 본 발명에 따른 제1 실시예인 메모리 모듈 실장 테스트 장치의 테스트 핸들러에서 메모리 모듈을 이송하는 개념이 나타난 개념도이다.
도 11은 본 발명에 따른 제1 실시예인 메모리 모듈 실장 테스트 장치의 테스트 핸들러에서 메모리 모듈을 이송하는 개념이 나타난 다른 개념도이다.
도 12는 도 11에서 메모리 모듈을 이송한 이후 테스트 트레이를 리테스트 유닛으로 이송하는 개념이 도시된 개념도이다.
도 13은 본 발명에 따른 제2 실시예인 메모리 모듈 실장 테스트의 테스트 핸들러에서 메모리 모듈을 이송하는 개념이 나타난 다른 개념도이다.
도 14는 본 발명에 따른 다른 실시예인 메모리 모듈 실장 테스트의 레이아웃을 도시한 도면이다.
이하, 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 모듈 실장 테스트 장치에 대하여, 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 그리고 이하의 실시예의 설명에서 각각의 구성요소의 명칭은 당업계에서 다른 명칭으로 호칭될 수 있다. 그러나 이들의 기능적 유사성 및 동일성이 있다면 변형된 실시예를 채용하더라도 균등한 구성으로 볼 수 있다. 또한 각각의 구성요소에 부가된 부호는 설명의 편의를 위하여 기재된다. 그러나 이들 부호가 기재된 도면상의 도시 내용이 각각의 구성요소를 도면내의 범위로 한정하지 않는다. 마찬가지로 도면상의 구성을 일부 변형한 실시예가 채용되더라도 기능적 유사성 및 동일성이 있다면 균등한 구성으로 볼 수 있다. 또한 당해 기술 분야의 일반적인 기술자 수준에 비추어 보아, 당연히 포함되어야 할 구성요소로 인정되는 경우, 이에 대하여는 설명을 생략한다.
도 1은 본 발명에 따른 메모리 모듈 실장 테스트 장치(1)의 사시도이다.
도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 메모리 모듈 실장 테스트 장치(1)는 외부에서 공급된 메모리 모듈(10)을 테스트 트레이(30)에 적재하여 테스트 셀(330)에서 실장 테스트를 진행하고 다시 외부로 반출할 수 있도록 구성된다.
본 발명에 따른 메모리 모듈 실장 테스트는 테스트 핸들러(100), 제1 트랜스퍼(200), 테스트 유닛(300) 어레이 및 리테스트 셀을 포함하여 구성될 수 있다.
테스트 핸들러(100)는 유저 트레이(20)와 테스트 트레이(30)간 메모리 모듈(10)을 이송시킬 수 있도록 구성된다. 테스트 핸들러는 로딩 사이트 및 언로딩 사이트에서 각각 메모리 모듈의 이송이 이루어지며, 트랜스퍼, 버퍼 트레이, 스태커 및 핸드를 포함하여 구성될 수 있다.
스태커(110)는 실장 테스트를 위해 외부로부터 공급된 복수의 유저 트레이(20)를 적재할 스태커에 적재하도록 구성될 수 있다. 테스트 핸들러(100)는 스태커에 적재되어 있는 복수의 유저 트레이(20)를 하나씩 베이스 상으로 승강시킬 수 있도록 구성되며, 핸드는 베이스 상에 노출된 유저 트레이로부터 메모리 모듈(20)을 픽업하여 이송시킬 수 있도록 구성된다. 베이스 상에는 유저 트레이(20), 테스트 트레이(30) 및 버퍼 트레이(40)가 노출될 수 있다.
테스트 핸들러(100)는 실장 테스트가 종료된 이후 테스트 결과에 따라 등급별로 메모리 모듈(10)을 테스트 트레이(30)로부터 유저 트레이(20)로 이송 및 적재하여 외부로 반출할 준비를 마치도록 구성된다. 등급별로 분류된 메모리 모듈(10)은 유저 트레이(20)에 적재된 상태에서 스태커(110)에 적재되며, 외부의 로봇에 의해 외부로 반출될 수 있다.
제1 트랜스퍼(200)는 테스트 유닛(300)과 테스트 핸들러(100) 사이에서 테스트 트레이(30)를 이송할 수 있도록 구성된다. 제1 트랜스퍼(200)는 후술할 테스트 유닛(300) 어레이에서 어느 하나의 테스트 유닛(300)에 테스트 트레이(30)를 공급하거나 반출할 수 있도록 6방향의 이동이 가능하도록 구성될 수 있다.
테스트 유닛 어레이는 복수의 테스트 유닛(300)을 포함하여 구성된다. 각각의 테스트 유닛은 복수의 메모리 모듈(10)이 마더 보드(332)와 전기적으로 접촉하여 성능테스트를 수행할 수 있도록 구성된다. 테스트 유닛(300) 어레이는 상하 방향으로 적어도 2단으로 구성되며, 수평방향으로 소정 개수로 배치되어 동시에 다수의 테스트 유닛(300)이 실장 테스트를 수행하도록 구성될 수 있다.
리테스트 유닛(400)은 테스트 셀(330)에서 수행된 테스트 결과 정확한 등급의 판단을 위하여 다시 한번 테스트가 필요한 것으로 판단되는 메모리 모듈에 대하여 리테스트(RETEST)를 수행할 수 있도록 구성된다. 리테스트 유닛(400)의 구성은 테스트 유닛(300)과 유사하게 구성될 수 있으며, 테스트 트레이(30)에 적재된 리테스트가 필요한 메모리 모듈(11)을 이송받고 이에 대하여 실장 테스트를 재 수행할 수 있도록 구성될 수 있다. 각각의 메모리 모듈(11)에 대한 리테스트 결과는 외부의 메인 제어부에 송신되어 이후 이송경로가 결정될 수 있다.
리테스트 유닛(400)의 수는 테스트 유닛(300)의 수 보다 적게 구성될 수 있다. 통계적으로 1 LOT, 즉 1회 외부의 이송유닛으로부터 전달받은 복수의 메모리 모듈(10) 중에서 3% 내지 8% 정도가 리테스트 등급이 부여된다. 따라서 통계에 근거하여 전체 비율과 리테스트 등급의 비율에 따라 테스트 유닛(300)과 리테스트 유닛(400)의 구성비를 결정할 수 있다. 이하의 실시예에서는 하나의 리테스트 유닛(400)으로 구성된 예를 들어 설명하나, 이에 한정하지는 않는다.
리테스트 유닛(400)은 테스트 핸들러(100)의 일측에 구비되며, 테스트 핸들러(100)와 메모리 모듈(10)을 전달받을 수 있도록 구성될 수 있다. 따라서 테스트 핸들러(100)가 외부와 유저 트레이(20)를 주고받는 일측방향, 제1 트랜스퍼(200)와 테스트 트레이(30)를 주고받는 일측방향에 간섭이 일어나지 않는 방향에 인접하여 설치될 수 있다. 리테스트 유닛(400)은 테스트 핸들러(100)로부터 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈(11)을 직접 이송받거나, 테스트 핸들러(100)로부터 리테스트 등급으로 부여된 복수의 메모리 모듈(11)가 적재되어 있는 테스트 트레이(30)를 이송받도록 구성될 수 있다. 한편, 이러한 구성에 대하여는 차후 상세히 설명하도록 한다.
한편, 도시되지는 않았으나, 테스트 핸들러(100), 제1 트랜스퍼(200) 및 테스트 유닛(300) 각각을 제어하는 제어부가 구비될 수 있다.
이하에서는 도 2를 참조하여 테스트 핸들러(100)의 기능에 대하여 설명하도록 한다.
도 2는 테스트 핸들러(100)에서 평면상의 작업영역을 구분하여 나타낸 개념도이다.
도시된 바와 같이, 테스트 핸들러(100)의 수평면상의 공간은 기능적으로 로딩 사이트(L)와 언로딩 사이트(UL)로 구별될 수 있다. 로딩 사이트(L)는 실장 테스트를 위하여 메모리 모듈(10)을 테스트 트레이(30)상으로 로딩하는 공간이며, 언로딩 사이트(UL)는 실장 테스트를 마친 메모리 모듈(10)을 테스트 트레이(30)로부터 유저 트레이(20)로 언로딩하는 공간에 해당한다. 한편, 언로딩 사이트(UL)에서 언로딩을 마친 테스트 트레이(30)는 로딩 사이트(L)로 이동하여 메모리 모듈(10)의 적재가 다시 이루어질 수 있다. 즉, 테스트 트레이(30)는 메모리 모듈 실장 테스트 장치(1) 내부에서 순환하면서 메모리 모듈(10)의 로딩과 언로딩이 이루어질 수 있다. 테스트 핸들러(100)에는 복수의 핸드가 구비되어 모듈을 테스트 핸들러(100) 내부에서 이송할 수 있으며, 로딩 사이트(L)에서 메모리 모듈(10)의 이송을 담당하는 제1 핸드 (미도시) 및 언로딩 사이트(UL)에서 메모리 모듈(10)의 이송을 담당하는 제2 핸드(미도시)를 포함하여 구성될 수 있다.
테스트 핸들러의 일측에는 전술한 바와 같이 리테스트 유닛이 구비될 수 있다. 리테스트 유닛은 언로딩 사이트에 인접하여 메모리 모듈의 이송거리를 단축시킬 수 있다. 도 2에는 로딩 사이트와 언로딩 사이트의 사이에 버퍼 트레이가 구비된 구성이 도시되어 있다. 또한 로딩 사이트와 리테스트 유닛 사이에서 테스트 트레이를 주고받을 수 있도록 구성된 구성이 도시되어 있다. 이와 같이 구성된 경우 테스트 핸들러와 리테스트 유닛 사이에 테스트 트레이를 이송하기 위한 제2 트랜스퍼(미도시)가 별도로 구비될 수 있다.
테스트 핸들러 중 로딩 사이트(L)의 일측 및 언로딩 사이트(UL)의 일측에는 제1 트랜스퍼(200)가 테스트 핸들러(100)로 진입하여 테스트 트레이(30)를 이송할 수 있도록 구성된다. 한편, 로딩 사이트(L)의 타측 및 언로딩 사이트(UL)의 타측은 유저 트레이(20)를 외부와 주고받을 수 있도록 구성되며, 외부의 AGV(Automated Guided Vehicle)와 같은 로봇에 의해 유저 트레이(20)가 이송될 수 있다.
한편, 도시되지는 않았으나, 테스트 핸들러(100)에서는 로딩시 각각의 메모리 모듈(10)에 구비된 식별표지, 예를 들어 바코드를 인식할 수 있도록 바코드 리더(barcord reader)가 구비될 수 있으며, 이후 실장 테스트 결과와 함께 저장되어 차후 메모리 모듈(10)를 등급별로 분류하는데 이용할 수 있다.
이하에서는 도 3을 참조하여 제1 트랜스퍼(200)의 구성 및 기능에 대하여 설명하도록 한다.
도 3은 제1 트랜스퍼(200)가 나타난 사시도이다. 도시된 바와 같이, 제1 트랜스퍼(200)는 프레임(240), 제1 지지부(210), 제2 지지부(220) 및 픽업플레이트(230)를 포함하여 구성될 수 있다.
프레임(240)은 제1 트랜스퍼(200)가 이동할 수 있는 영역을 정의하며, 제1 트랜스퍼(200)를 전체적으로 지지할 수 있도록 구성된다.
제1 지지부(210)는 프레임(240)상에서 도 3상에서 좌우 방향의 직선이동이 가능하도록 구성되며, 직선 움직임을 위하여 하측의 프레임(240)과 리니어 가이드로 결합되며, 별도의 구동부(321)가 구비될 수 있다.
제2 지지부(220)는 제1 지지부(210)에 의해 지지되어 상하 방향으로 연장되어 구성되며, 픽업플레이트(230)를 상하방향으로 이동시킬 수 있도록 구성된다.
픽업플레이트(230)는 테스트 트레이(30)를 지지하거나 파지할 수 있도록 구성된다. 또한 테스트 트레이(30)를 테스트 핸들러(100) 또는 테스트 유닛(300)과 주고받을 수 있도록 소정길이로 직선이동가능하도록 구성된다. 따라서 제1 트랜스퍼(200)가 테스트 핸들러(100) 또는 테스트 유닛(300) 내부로 진입하여 테스트 트레이(30)를 안착시키고 빠져나오거나, 테스트 핸들러(100) 또는 테스트 유닛(300) 내부로 진입하여 테스트 트레이(30)를 꺼낼 수 있게 된다.
도 4는 테스트 유닛(300)의 배열이 나타난 사시도이다. 도시된 바와 같이, 테스트 유닛(300)의 배열은 적어도 상하 방향으로 2단으로 구성되며, 평면상으로 복수개로 구성될 수 있다. 각각의 테스트 유닛(300)은 테스트 셀 랙(310)에 의해 지지되며, 배열이 유지될 수 있다. 각각의 테스트 유닛(300)은 각각 개별적으로 테스트의 수행 및 테스트 트레이(30)의 입출이 이루어질 수 있다. 테스트 유닛(300)은 개별적으로 복수의 메모리 모듈(10)의 실장 테스트를 수행하며, 테스트가 종료된 이후 제1 트랜스퍼(200)가 진입하여 테스트 트레이(30)를 반출할 수 있고, 이후 새로운 테스트 트레이(30)를 테스트 유닛(300) 내부로 유입시킬 수 있다. 각각의 테스트 유닛(300)에서는 실장 테스트가 수행되므로 상대적으로 많은 시간, 일 예로 약 1시간 정도의 시간이 소요 될 수 있다. 따라서 공간효율을 증가시킬 수 있도록 상하 방향의 적어도 2단으로 테스트 유닛(300)이 구비되어 공간의 효율을 향상시킬 수 있다.
이하에서는 도 5 내지 도 8을 참조하여 테스트 유닛(300)에 대하여 상세히 설명하도록 한다.
도 5는 테스트 유닛(300)의 사시도이다. 도시된 바와 같이, 테스트 유닛(300)은 테스트 셀 랙(310) 상에 구비되는 프레스(320) 및 테스트 셀(330)을 포함하여 구성될 수 있다. 프레스(320)는 테스트 셀(330)의 상측방향에 구비되며, 일측이 테스트 셀 랙(310)에 고정되며, 하측방향으로 가압할 수 있도록 구성된다. 프레스(320)는 테스트 트레이(30)를 하측 방향으로 가압하여 테스트 트레이(30)에 적재되어 있는 메모리 모듈(10)을 테스트 셀(330)의 소켓(333)에 꽂을 수 있도록 구성된다. 프레스(320)는 테스트 트레이(30) 자체를 가압하여 최종적으로 메모리 모듈(10)이 소켓(333)에 꽂아질 수 있도록 구성되거나, 메모리 모듈(10) 자체를 하측방향으로 가압하여 메모리 모듈(10)이 소켓(333)이 꽂아질 수 있도록 구성될 수 있다. 한편 프레스(320)는 실장 테스트가 진행되는 동안 메모리 모듈(10)이 소켓(333)으로부터 이탈되지 않도록 소정 압력을 유지하면서 하측 방향으로 가압할 수 있다. 테스트 셀(330)은 내부에 복수의 마더 보드(332)가 적재될 수 있도록 구성되며, 상측 방향으로 메모리 모듈(10)이 꽂아질 수 있는 복수의 소켓(333) 어레이가 구비될 수 있다. 테스트 셀(330)의 상면과 프레스(320)의 하면 사이에는 소정거리가 확보되며, 소정거리는 제1 트랜스퍼(200)가 진입하여 테스트 트레이(30)를 픽업 앤 플레이스 할 수 있는 거리로 결정될 수 있다.
한편, 테스트 셀(330)은 테스트 셀 랙(310)상에 평면 방향으로 이동할 수 있도록 리니어 가이드(340)와 연결될 수 있다. 따라서 테스트 유닛(300)이 복수의 배열로 구비될 때 일측 방향으로 테스트 셀(330)의 인출이 가능하므로 유지 보수시 접근성이 향상될 수 있다.
도 6은 테스트 셀(330)의 부분절개도이다.
도시된 바와 같이 테스트 셀(330)은 하우징(331) 및 하우징(331) 내부에 적재되는 복수의 마더 보드(332)를 포함하여 구성될 수 있다. 하우징(331)은 전체적으로 육면체 형대로 구성되며, 내부에 상측 방향으로 소켓(333)의 개구가 향할 수 있도록 마더 보드(332)를 적재하게 된다.
마더 보드(332)는 상측 방향으로 형성된 복수의 소켓(333)이 구비될 수 있다. 일 예로 마더 보드(332)는 실제 마더 보드(332)와 동일한 구성으로 구성될 수 있으며, 메모리 모듈(10)을 꽂을 수 있는 소켓(333)의 위치가 상측으로 이동된 형태로 구성될 수 있다. 일 예로 마더 보드(332)는 상측 방향을 향하여 메모리 모듈 투입구가 형성된 소켓(333)이 한 쌍이 구비될 수 있다.
복수의 마더 보드(332)는 테스트 셀(330) 내부에서 1열 이상으로 배열될 수 있으며, 도 6에 도시된 바와 같이 2열로 구성되어 복수의 메모리 모듈(10)이 평면상에서 하측으로 이동하면 동시에 꽂아져 전기적으로 연결될 수 있도록 구성될 수 있다.
한편, 리테스트 유닛에 구비된 리테스트 셀은 전술한 테스트 셀의 구성과 동일하게 구성될 수 있다. 구체적으로 적어도 하나의 메모리 소켓이 일측에 구비된 마더보드가 복수로 구비될 수 있으며, 리테스트 셀 내부에 배열될 수 있다. 메모리 소켓은 리테스트 셀의 일측, 예를 들어 상측 방향으로 소켓의 개구가 바라볼 수 있도록 구성될 수 있으며, 복수의 소켓은 1열 또는 2열 또는 그 이상으로 배열될 수 있다.
도 7 및 도 8은 테스트 유닛(300)의 작동상태도이다.
먼저 도 7(a)에 도시된 바와 같이, 테스트 유닛(300)은 하측에 테스트 셀(330)이 구비되며, 상측에는 프레스(320)가 구비되고, 테스트 셀(330)과 프레스(320) 사이에 테스트 트레이(30)가 측면으로부터 이송되어 안착될 수 있도록 구성된다.
다음으로, 도 7(b)와 같이 제1 트랜스퍼(200)가 테스트 트레이(30)를 테스트 셀(330)의 상측으로 이송하여 안착시키게 되면, 도 7(b)의 우측 부분단면도에 나타난 바와 같이, 테스트 트레이(30)상에 안착된 복수의 메모리 모듈(10)이 소켓(333)의 상측에 배치될 수 있도록 정렬된다.
다음으로 도 8(a)와 같이 프레스(320)가 하측 방향으로 테스트 트레이(30) 상에 적재되어 있는 복수의 메모리 모듈(10)을 동시에 가압하면 각각의 메모리 모듈(10)이 테스트 셀(330)의 소켓(333)에 끼워지게 된다. 테스트가 수행되는 동안 프레스(320)는 메모리 모듈(10)과 소켓(333) 사이의 전기적 연결이 유지될 수 있도록 가압한 상태를 유지할 수 있다. 다만, 본 도면에서는 프레스(320)가 메모리 모듈(10)을 상측에서 직접 가압하여 소켓(333)에 끼우는 동작을 수행하나, 프레스(320)가 테스트 트레이(30)를 직접 가압하면, 테스트 트레이(30)에 의해 메모리 모듈(10)이 가압되어 소켓(333)에 끼워질 수 있도록 변형되어 적용될 수 있다.
다음으로 도 7 (b)에 나타난 바와 같이, 실장 테스트가 종료된 이후 프레스(320)를 상측으로 이동시켜 원위치시키며, 제1 트랜스퍼(200)가 테스트 트레이(30)를 테스트 유닛(300)으로부터 꺼낼 수 있게 된다. 이후 제1 트랜스퍼(200)는 테스트 트레이(30)를 테스트 핸들러(100)의 언로딩 사이트(UL)로 이송시키며, 최종적으로 테스트 핸들러(100)에서 메모리 모듈(10)을 유저 트레이(20)로 언로딩할 수 있게 된다.
한편, 도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이, 테스트 트레이(30)가 테스트 유닛(300)의 측면으로부터 진입할 수 있으며, 테스트 유닛(300)에 구비되어 있는 프레스(320)를 이용하여 메모리 모듈(10)을 소켓(333)에 연결시킬 수 있다. 따라서 테스트 유닛(300)을 상하 방향으로 복수의 단으로 구성할 수 있으며, 공간효율을 극대화하는 레이아웃으로 구성할 수 있게 된다.
도 9는 테스트 트레이(30) 및 메모리 모듈(10)이 도시된 사시도이다. 도 9(b)에 도시된 바와 같이, 메모리 모듈(10)은 길이방향으로 소정길이 연장된 기판에 복수의 반도체 소자가 구비된 형태로 구성될 수 있다. 도 9(a)를 살펴보면, 테스트 트레이(30)에는 각각 메모리 모듈(10)을 선택적으로 고정할 수 있도록 인서트(31)가 구비되며, 인서트(31)는 복수로 구성되고, 소정 배열로 구성될 수 있다. 도 9에는 2열로 인서트(31)가 구비된 모습이 및 개수가 결정될 수 있다. 도 9(c)는 테스트 트레이(30)의 하측을 확인할 수 있으며, 하측방향으로 메모리 모듈(10)이 노출되며, 테스트 트레이(30)의 상측에서 가압하는 경우 하측 방향으로 소정길이 하강되어 테스트 셀(330)의 소켓(333)에 끼워질 수 있다.
이하에서는 도 10 내지 도 13을 참조하여 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈(11)의 리테스트를 수행하는 과정에 대하여 상세히 설명하도록 한다. 설명의 편의를 위하여 도 10 내지 도 13에는 테스트 핸들러(100)의 베이스, 즉 메모리 모듈(10)이 유저 트레이(20)와 테스트 트레이(30) 사이에서 이동되는 평면상의 영역이 나타날 수 있는 개념도가 도시되어 있다. 또한 본 실시예에서는 리테스트 유닛(400)과 테스트 유닛(300)에 배열된 소켓(333)이 동일함을 전제로 설명하며, 테스트 유닛(300)과 리테스트 유닛(400) 모두에 동일한 테스트 트레이(30)를 이용하여 테스트를 수행할 수 있음을 전제로 설명하도록 한다.
도 10 및 도 11은 본 발명에 따른 제1 실시예인 메모리 모듈(10) 실장 테스트 장치의 테스트 핸들러(100)에서 메모리 모듈(10)을 이송하는 개념이 나타난 개념도이며, 도 12는 도 11 이후 테스트 트레이(30)를 리테스트 유닛(400)으로 이송하는 개념이 도시된 개념도이다.
도 10에 도시된 바와 같이, 테스트가 필요한 메모리 모듈(10)이 소정개수로 공급된 이후 테스트 과정에서 리테스트가 필요한 등급으로 부여된 메모리 모듈(11)은 언 로딩 영역(UL)에서 테스트 트레이(30)로부터 버퍼 트레이(40)로 이동될 수 있도록 이송경로(Pr)가 결정될 수 있다. 리테스트가 필요하지 않고 등급이 결정된 메모리 모듈(10)은 각각 등급에 따라 별도의 경로(P3, P4, P5)를 따라 이송된 후 유저 트레이(20)에 적재될 수 있다. 한편, 메모리 모듈(10)의 이송은 전술한 바와 같이 테스트 핸들러(100)에 구비된 복수의 핸드에 의해 이루어지며, 유저 트레이(20) 및 버퍼 트레이(40)에 형성된 슬롯(21)에 개별적으로 적재될 수 있도록 구성될 수 있다.
도 11(a)를 살펴보면, 언로딩 영역(UL)에서 테스트 트레이(30)에 적재되어 있던 메모리 모듈(10)을 일부는 버퍼 트레이(40)로, 나머지는 각각 유저 트레이(20)로 이송되고 있다. 이후 도 11(b)에 도시된 바와 같이 지속적으로 테스트가 완료된 메모리 모듈(10)을 분류(sort)하며, 리테스트 등급으로 부여된 메모리 모듈(11)은 버퍼 트레이(40)에 지속적으로 적재된다. 이후 소정 단위로 구성된 1회 사이클이 종료된다. 한편, 버퍼 트레이(40)에구비되는 슬롯(21)은 통계적으로 결정될 수 있으며, 일예로 소정 시간동안 발생하는 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈(11)의 개수 또는 전체 메모리 모듈(10)의 수와 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈(11)의 수의 비율로 결정될 수 있다.
이후 도 11(a)에 도시된 바와 같이 언로딩 사이트(UL)의 비어있는 테스트 트레이(30)에 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈(11)만을 적재하게 되며, 이후 도 11(b)와 같이 리테스트 등급이 부여된 복수의 메모리 모듈(10)이 모두 테스트 트레이(30)에 적재된다.
이후 도 12에 도시된 바와 같이, 리테스트의 수행시에는 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈(11)이 적재된 테스트 트레이(30)를 리테스트 유닛(400)으로 이송한뒤 이루어지게 된다. 리테스트 유닛(400)에서는 테스트 트레이(30)가 이송된 후 상부에 구비된 프레스를 하측으로 가압하여 마더보드와 메모리 모듈을 전기적으로 연결시킨 상태에서 이루어지게 된다.
여기서 테스트 트레이(30)는 별도로 구비된 제2 트랜스퍼에 의해 테스트 핸들러(100)와 리테스트 유닛(400) 사이에서 이송이 이루어질 수 있다.
한편, 도시되지는 않았으나, 제1 실시예에서는 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈(11)을 버퍼 트레이(4)에 적재하여 언로딩 사이트(UL) 측에서 리테스트 유닛(400)으로 이송하는 개념을 설명하였으나, 리테스트가 로딩 사이트(L)에 인접하여 배치되는 경우에는 버퍼 트레이(40)로부터 로딩 사이트에 배치된 테스트 트레이(30)에 메모리 모듈(10)을 적재할 수 있다. 이후 테스트 트레이(30)를 리테스트 유닛(400)으로 이송한 뒤 리테스트를 수행할 수 있게 된다.
이하에서는 도 13을 참조하여 본 발명에 따른 제2 실시예에 대하여 설명하도록 한다. 본 실시예에서는 전술한 실시예와 동일한 구성요소를 포함하여 구성될 수 있으며, 이러한 구성요소에 대하여는 중복기재를 피하기 위해 그 설명을 생략하고 차이가 있는 구성에 대하여 설명하도록 한다.
도 13은 본 발명에 따른 제2 실시예인 메모리 모듈(10) 실장 테스트의 테스트 핸들러(100)에서 메모리 모듈(10)을 이송하는 개념이 나타난 다른 개념도이다.
도시된 바와 같이, 본 실시예에서는 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈(11)을 위하여 리테스트 트레이(410)가 별도로 구비될 수 있다. 리테스트 트레이(410)은 테스트 트레이(30)보다 적은 개수의 메모리 모듈(10)이 적재될 수 있는 크기로 구성될 수 있다. 이와 같이 구성되는 경우 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈(11)의 개수가 소량인 경우에 효율적으로 운용될 수 있다. 리테스트 유닛(400)은 리테스트 트레이(410)의 크기에 대응하여 전술한 실시예보다 작은 크기로 구성될 수 있다.
본 실시예에서 리테스트 트레이(410)은 테스트 핸들러(100)의 일측에 배치되어 대기할 수 있다. 도 13(b)에 도시된 바와 같이 하나의 테스트 트레이(30)에 적재되어 있는 메모리 모듈(10)의 테스트가 종료되어 테스트 핸들러(100)로 이송되는 경우, 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈(11)을 테스트 트레이(30)로부터 리테스트 트레이(410)로 직접 이송하여 적재한다. 이후 도 13(b)에 도시된 바와 같이 소정 개수의 메모리 모듈(10)에 대한 테스트가 종료된 이후 리테스트 트레이(410)에 적재되어 있는 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈(11)에 대하여 리테스트를 수행할 수 있도록 리테스트 트레이(410)을 리테스트 유닛(400)으로 이송하여 테스트를 재 수행하게 된다.
한편, 도시되지는 않았으나, 리테스트 트레이(410)은 리테스트 유닛(400)으로부터 입출 가능하도록 구성될 수 있으며, 리테스트 트레이(410)이 테스트 핸들러(100) 상으로 이동한뒤 메모리 모듈(10)을 적재하고 다시 리테스트 트레이(410)로 이동될 수 있도록 구성될 수 있다. 이러한 경우 리테스트 유닛(400)은 리테스트 트레이(410)를 왕복이동시킬 수 있는 슬라이딩 가능하게 구성되는 별도의 트랜스퍼를 포함하여 구성될 수 있다.
한편, 도시되지는 않았으나, 본 실시예에서도 테스트 핸들러(100) 상에서 버퍼 트레이가 구비될 수 있으며, 리테스트 트레이(410)의 적재 개수를 넘어서는 수로 리테스트 등급이 부여된 경우 이를 잠시 적재할 수 있다.
이하에서는 도 14를 참조하여 본 발명에 따른 다른 실시예에 대하여 상세히 설명하도록 한다.
도 14는 본 발명에 따른 다른 실시예인 메모리 모듈 실장 테스트 장치의 평면상의 레이아웃을 나타낸 개념도이다. 도시된 바와 같이, 테스트 핸들러(100)에서는 스테커에 적재되어 있는 유저 트레이(20)를 외부와 주고받을 수 있다(P2). 또한 테스트 핸들러(100) 내부에서 메모리 모듈(10)을 테스트 트레이(30)로 이송하여 적재하거나, 반대로 테스트 트레이(30)로부터 메모리 모듈(10)을 유저 트레이(20)로 이송하여 적재할 수 있다. 제1 트랜스퍼(200)는 테스트 핸들러(100)와 테스트 유닛(300) 사이에서 테스트 트레이(30)를 이송시킬 수 있다(P1).
제1 트랜스퍼(200)는 테스트 유닛(300) 배열 중에서 실장 테스트가 종료된 테스트 유닛(300)으로부터 테스트 트레이(30)를 수평방향으로 빼내고 테스트 핸들러(100)로 이송시킬 수 있다. 반대로 테스트 유닛(300) 배열 중에서 실장 테스트를 위한 메모리 모듈(10)이 필요한 테스트 유닛(300)으로 테스트 트레이(30)를 이송할 수 있게 된다. 각각의 테스트 유닛(300)은 제1 트랜스퍼(200)의 이동영역 측으로 테스트 트레이(30)를 주고받을 수 있으므로 인접하여 나란하게 배열될 수 있다.
한편, 공간활용도를 높일 수 있도록 테스트 유닛(300)은 적어도 일부가 수평방향으로 제1 트랜스퍼(200)의 이동영역을 사이에 두고 서로 마주보면서 배열될 수 있다. 또한 도시되지는 않았으나, 테스트 유닛(300)의 배열은 상하 방향으로 2단 이상으로 구성될 수 있다. 한편, 각각의 테스트 유닛(300)은 테스트 셀(330)의 유지 보수를 위해 테스트 트레이(30)를 주고받는 방향과 반대 방향으로 테스트 셀(330)을 이동시킬 수 있도록 구성될 수 있다.
리테스트 유닛은 전술한 실시예와 마찬가지로 테스트 핸들러에 인접하여 구비될 수 있으며, 리테스트 등급이 부여된 복수의 모듈에 대하여 테스트 유닛과 독립적으로 리테스트를 수행하도록 구성될 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 메모리 모듈 실장 테스트 장치는 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈만들 별도로 취합하여 리테스트를 수행할 수 있으므로 공정효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
또한 리테스트의 수행시 테스트 트레이를 이용하여 마더보드와 메모리 모듈을 접촉시키게 되므로 메모리 모듈의 착탈에 소요되는 시간을 최소화할 수 있고, 메모리 모듈의 착탈을 위한 별도의 구성을 생략할 수 있다. 따라서 공간상의 제약을 최소화 할 수 있고, 결국 상하 방향의 2단 이상으로 테스트 유닛을 배열할 수 있어 컴팩트한 레이아웃으로 구성되어 공간 효율성을 높일 수 있다.
1: 메모리 모듈 실장 테스트 장치
100: : 테스트 핸들러
110: 스태커
10: 메모리 모듈
11: 리테스트 등급 부여된 메모리 모듈
20: 유저 트레이
21: 슬롯
30: 테스트 트레이
31: 인서트
40: 버퍼 트레이
200: 제1 트랜스퍼
210: 제1 지지부
220: 제2 지지부
230: 픽업플레이트
240: 프레임
300: 테스트 유닛
330: 테스트 셀
331: 하우징
332: 마더보드
333: 소켓
310: 테스트 셀 랙
320: 프레스
321: 구동부
340: 리니어 가이드
400: 리테스트 유닛
410: 리테스트 트레이

Claims (11)

  1. 메모리 모듈을 픽업하여 플레이스 할 수 있도록 구성되는 핸들러;
    상기 메모리 모듈이 전기적으로 연결될 수 있도록 구성되는 소켓이 구비된 마더보드를 포함하며, 상기 소켓이 복수로 구성되어 일측을 향하여 배열되는 테스트 셀;
    상기 소켓의 배열에 대응하여 복수의 메모리 모듈이 배열되어 적재될 수 있도록 구성된 테스트 트레이;
    상기 테스트 트레이를 이송할 수 있도록 구성되는 제1 트랜스퍼;
    상기 테스트 트레이에 적재되어 있는 상태에서 상기 복수의 메모리 모듈이 상기 복수의 소켓 각각에 전기적으로 접촉될 수 있도록 가압하는 프레스; 및
    상기 핸들러에 인접하여 구비되며, 실장 테스트 결과 리테스트(re-test) 등급 부여된 메모리 모듈을 적재하여 실장 테스트를 수행할 수 있도록 구성된 리테스트 유닛을 포함하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 리테스트 유닛은,
    소켓이 구비된 마더보드가 복수로 구비되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 리테스트 유닛은,
    상기 리테스트 등급이 부여된 적어도 하나의 메모리 모듈이 적재된 테스트 트레이를 이송받아 리테스트를 수행하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 핸들러는,
    상기 리테스트 등급이 부여된 적어도 하나의 메모리 모듈을 상기 테스트 트레이에 적재할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 핸들러는,
    소정 개수의 상기 메모리 모듈에 대한 테스트를 수행한 이후 상기 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈이 적재된 상기 테스트 트레이를 상기 리테스트 유닛으로 이송하도록 구성된 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치.
  6. 제4 항에 있어서,
    상기 핸들러는,
    상기 리테스트 등급이 부여된 메모리 모듈이 임시로 적재될 수 있도록 구성되는 버퍼 트레이를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 핸들러는,
    소정 개수의 상기 메모리 모듈에 대한 테스트를 수행한 이후 상기 버퍼 트레이에 적재되어 있는 하나 이상의 메모리 모듈을 상기 테스트 트레이로 적재하도록 제어되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 리테스트 유닛은,
    상기 리테스트 등급이 부여된 하나 이상의 메모리 모듈에 대한 리테스트 수행 이후 각각의 메모리 모듈에 대한 리테스트 결과를 외부로 송신할 수 있도록 구성되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치.
  9. 제2 항에 있어서,
    상기 핸들러와 상기 리테스트 유닛 사이에 상기 테스트 셀을 이송할 수 있도록 구성되는 제2 트랜스퍼를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치.
  10. 제2 항에 있어서,
    상기 리테스트 유닛은,
    입출 가능하도록 구성된 리테스트 트레이를 더 포함하며,
    상기 핸들러는 상기 리테스트 유닛으로부터 인출된 상기 리테스트 트레이에 상기 리테스트 등급 부여된 메모리 모듈을 이송하여 적재할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치.
  11. 제10 항에 있어서,
    상기 리테스트 유닛은,
    상기 테스트 셀에서 소정 개수의 테스트 모듈에 대한 테스트가 종료된 이후 상기 리테스트 트레이를 상기 리테스트 유닛으로 이송하며,
    상기 리테스트 트레이에 적재된 리테스트 등급 부여된 메모리 모듈에 대한 리테스트를 수행하도록 제어되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 실장 테스트 장치.
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