KR20210085975A - Secondary battery pouch sealing part thickness measuring assembly and pouch sealing part thickness measuring method - Google Patents

Secondary battery pouch sealing part thickness measuring assembly and pouch sealing part thickness measuring method Download PDF

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Abstract

An objective of the present invention is to provide an apparatus for measuring the thickness of a sealing part of a secondary battery pouch and a method for measuring the thickness of a sealing part of a pouch. The method for measuring the thickness of a sealing part of a secondary battery pouch, capable of resolving the occurrence of a measurement error, comprises: a lower probe (30) to be brought into contact with a lower surface of a sealing part (2S) of a secondary battery pouch; and an upper probe (20) to be brought into contact with an upper surface of the sealing part (2S) of the pouch. The lower probe (30) advances and comes into contact with the lower surface of the sealing part (2S) to measure the thickness deviation between a zero set point (ZP) for measuring the thickness of the sealing part (2S) and the lower surface of the sealing part (2S). The upper probe (20) advances and comes into contact with the upper surface of the sealing part (2S) to measure the thickness deviation between the zero set point (ZP) for measuring the thickness of the sealing part (2S) and the upper surface of the sealing part (2S).

Description

이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법{Secondary battery pouch sealing part thickness measuring assembly and pouch sealing part thickness measuring method}A device for measuring the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries and a method for measuring the thickness of the sealing part of the pouch {Secondary battery pouch sealing part thickness measuring assembly and pouch sealing part thickness measuring method}

본 발명은 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 이차전지 파우치의 실링부 두께를 정밀하게 측정할 수 있도록 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for measuring the thickness of the sealing part of a pouch for secondary batteries and a method for measuring the thickness of the sealing part of the pouch, and more particularly, to the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries that can precisely measure the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries. It relates to a measuring device and a method for measuring the thickness of a sealing part of a pouch.

일반적으로, 파우치형 이차전지는 알루미늄 라미네이트 시트가 접합되어 이루어진 파우치에 전극조립체를 내장한 구조의 전지를 말한다. 파우치형 이차전지는 파우치와 상기 파우치의 전기적 연결을 위해 구비되는 전극탭을 포함한다. 상기 파우치는 개방되어진 상태에서 전해액이 주입되고, 상기 전극탭은 파우치의 외측으로 돌출되도록 파우치 내부의 전극으로부터 연장 형성된 상태에서 파우치가 밀폐되도록 실링되는 실링부가 형성된다.In general, a pouch-type secondary battery refers to a battery having a structure in which an electrode assembly is embedded in a pouch formed by bonding an aluminum laminate sheet. The pouch-type secondary battery includes an electrode tab provided for electrical connection between the pouch and the pouch. An electrolyte is injected into the pouch in an open state, and a sealing portion is formed to seal the pouch while the electrode tab extends from the electrode inside the pouch to protrude to the outside of the pouch.

이때, 이차전지 파우치에서 실링부의 두께 측정이 정확하게 이루어지지 못하면 파우치의 불량 여부 등을 제대로 알아내기가 어려우므로 이차전지 파우치의 실링부에 대한 정밀한 두께 측정이 중요하다. 파우치의 두께 측정이 제대로 되지 않아서 불량 여부 등을 제대로 파악하지 못할 경우 파우치 내부에서 예를 들어 가스가 찾을 때에 이차전지가 터질 수 있는 경우가 생기므로, 이차전치 파우치의 실링부에 대한 정밀한 두께 측정이 매우 중요하다. 이차전지 사용중에 파우치 내부에서 가스가 발생해서 차는 경우는 많지 않지만 파우치의 실링부 두께가 제대로 측정되지 않은 두께 불량 파우치를 사용한다면, 파우치 내부에서 가스가 찰 경우 이차전지가 터지는 것과 같은 문제가 생길 수 있으므로, 이차전지 파우치의 실링부 두께 측정이 매우 중요하다.At this time, if the thickness of the sealing part in the secondary battery pouch is not accurately measured, it is difficult to properly determine whether the pouch is defective or the like, so it is important to accurately measure the thickness of the sealing part of the secondary battery pouch. If the thickness of the pouch is not measured properly and it is not possible to determine whether there is a defect, for example, when gas is found inside the pouch, the secondary battery may burst. Therefore, accurate thickness measurement of the sealing part of the secondary anterior pouch is difficult. very important. There are not many cases where gas is generated inside the pouch and fills up while using the secondary battery, but if you use a pouch with poor thickness for which the thickness of the sealing part of the pouch is not properly measured, problems such as bursting of the secondary battery may occur if gas fills inside the pouch. Therefore, it is very important to measure the thickness of the sealing part of the secondary battery pouch.

이차전지 파우치의 실링부 두께는 실링부의 여러 지점에서 측정한다. 적어도 파우치의 실링부의 3~5 군데 위치에서 두께 측정을 한다. 이때, 두께 측정 정확도는 적어도 1㎛ 정도로 확보하여야 한다.The thickness of the sealing part of the secondary battery pouch is measured at various points of the sealing part. Measure the thickness at least at 3~5 positions of the sealing part of the pouch. At this time, the thickness measurement accuracy should be secured to at least 1㎛.

그런데, 기존에는 측정 기준면에 측정용 프로브를 접촉시켜서 측정 기준면을 제로 셋팅(Zero setting : 영점 셋팅)한 상태에서 측정 기준면에 파우치의 실링부를 올려놓고 측정용 프로브를 파우치 실링면에 접촉시켜서 두께를 측정하는데, 파우치 실링면의 변형으로 인한 측정 오차가 발생하는 문제가 있다.However, in the prior art, in a state where the measurement reference surface was set to zero by contacting the measurement probe to the measurement reference surface, the sealing part of the pouch was placed on the measurement reference surface, and the measuring probe was brought into contact with the pouch sealing surface to measure the thickness. However, there is a problem in that a measurement error occurs due to deformation of the pouch sealing surface.

밀착 유닛을 사용하더라도 실링부의 강성으로 인하여 프로브의 밀착이 부정확하기 때문에, 실링부의 두께 측정이 제대로 되지 못한다.Even if the adhesion unit is used, the thickness of the sealing portion cannot be measured properly because the probe is inaccurate due to the rigidity of the sealing portion.

또한, 기존에는 기준면의 상하 이동시에 반복 정밀도 문제가 발생한다. 실링부 두께 측정 기준면이 상하 이동을 반복하다보면 오차가 많이 생겨서 그만큼 실링부 두께 측정에 있어서 오차가 많이 생기게 된다.Also, in the prior art, a problem of repeatability occurs when the reference plane moves up and down. If the reference plane for measuring the thickness of the sealing part repeats up and down movement, a lot of errors occur, and accordingly, a lot of errors occur in measuring the thickness of the sealing part.

마이크로 미터 단위로 파우치의 실링부 두께를 정확하게 측정해야 하는데, 파우치의 실링부가 용융되서 붙어서 만들어지기 때문에, 강성이 있고, 이러한 강성이 있는 실링부를 측정용 프로브에 의해서 누르더라도 두께가 정확하게 측정이 되어야 한다.The thickness of the sealing part of the pouch must be accurately measured in micrometers. Since the sealing part of the pouch is melted and adhered, it has rigidity, and even if the sealing part with such rigidity is pressed by a measuring probe, the thickness must be accurately measured. .

그러나, 파우치의 실링부의 강성으로 인하여 측정용 프로브와 파우치의 실링부 사이의 간극이 생기는데, 기존에는 이러한 간극으로 인한 두께 측정 오차를 극복하지 못하여 실링부 두께가 정확하게 측정되기 쉽지 않은 문제가 있다.However, due to the rigidity of the sealing portion of the pouch, a gap occurs between the measuring probe and the sealing portion of the pouch. In the past, thickness measurement error due to such a gap cannot be overcome, so that it is not easy to accurately measure the thickness of the sealing portion.

한국공개특허 제10-2012-0126932호(2012년11월21일 등록)Korean Patent Laid-Open Patent No. 10-2012-0126932 (registered on November 21, 2012) 한국공개특허 제10-2016-0133041호(2016년11월22일 등록)Korean Patent Publication No. 10-2016-0133041 (registered on November 22, 2016)

본 발명은 전술한 바와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 이차전지 파우치의 실링부 두께를 정밀하게 측정할 수 있는 파우치의 실링부 두께 측정 장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법을 제공하고자 하는 것이다. 본 발명은 파우치의 변형된 실링면에 대해서도 정확한 측정이 가능한 파우치의 실링부 두께 측정 장치와 파우치의 실링부 두께 측정방법을 제공하고자 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is to solve the problems described above, and an object of the present invention is to provide an apparatus for measuring the thickness of the sealing portion of a pouch and a method for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch, which can precisely measure the thickness of the sealing portion of a secondary battery pouch would like to An object of the present invention is to provide an apparatus for measuring the thickness of the sealing part of a pouch and a method for measuring the thickness of the sealing part of the pouch, which can accurately measure even the modified sealing surface of the pouch.

상기와 같은 과제를 해결하기 위한 본 발명에 의하면, 이차전지용 파우치의 실링부 하면에 접촉되는 하부 프로브; 상기 파우치의 실링부 상면에 접촉되는 상부 프로브;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치가 제공된다.According to the present invention for solving the above problems, a lower probe in contact with the lower surface of the sealing part of the pouch for secondary batteries; There is provided an apparatus for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch for secondary batteries, characterized in that it includes; an upper probe in contact with the upper surface of the sealing portion of the pouch.

상기 하부 프로브는 상기 실링부의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점과 상기 실링부의 하면 사이의 두께 편차를 측정하도록 상기 실링부의 하면으로 전진하여 접촉되고, 상기 상부 프로브는 상기 실링부의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점과 상기 실링부의 상면 사이의 두께 편차를 측정하도록 상기 실링부의 상면으로 전진하여 접촉되는 것을 특징으로 한다.The lower probe advances to the lower surface of the sealing part to measure the thickness deviation between the zero set point for measuring the thickness of the sealing part and the lower surface of the sealing part, and the upper probe contacts the zero set point for measuring the thickness of the sealing part and the upper surface of the sealing unit advance to the upper surface of the sealing unit to measure a thickness deviation between the upper surface and the upper surface of the sealing unit.

상기 하부 프로브의 상단부는 하부 콘택트부로 구성되고, 상기 상부 프로브의 하단부는 상부 콘택트부로 구성되어, 상기 하부 콘택트부와 상기 상부 콘택트부가 상기 파우치의 실링부의 하면과 상면에 각각 접촉된 것을 특징으로 한다.The upper end of the lower probe is constituted by a lower contact part, and the lower end of the upper probe is constituted by an upper contact part, so that the lower contact part and the upper contact part are in contact with the lower surface and the upper surface of the sealing part of the pouch, respectively.

상기 상부 프로브의 상부 콘택트부와 상기 하부 프로브의 하부 콘택트부가 상기 파우치의 실링부의 상면과 저면에 각각 접촉시키는 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부를 포함하고, 상기 하부 콘택트부가 상기 상부 콘택트부에 비하여 상기 파우치의 실링부를 상대적으로 더 큰 힘으로 접촉되도록 작동시키는 것을 특징으로 한다.The upper contact portion of the upper probe and the lower contact portion of the lower probe include an upper contact operation portion and a lower contact operation portion for contacting the upper and lower surfaces of the sealing portion of the pouch, respectively, wherein the lower contact portion is higher than the upper contact portion. It is characterized in that the sealing part of the pouch is operated to contact with a relatively greater force.

상기 하부 프로브와 상기 상부 프로브 사이에 배치되며 두께가 정해져 있는 측정 기준 지그;를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.and a measurement reference jig disposed between the lower probe and the upper probe and having a predetermined thickness.

상기 측정 기준 지그에 상기 하부 프로브의 상단부와 상기 상부 프로브의 하단부가 접촉되어 파우치의 실링부의 두께 측정 기준면을 설정하고, 상기 측정 기준 지그를 치우고 상기 하부 프로브의 상단부와 상부 프로브의 하단부가 각각 상기 파우치의 실링부의 하면과 상면에 접촉된 상태로 상기 파우치의 실링부의 두께를 측정하도록 구성된 것을 특징으로 한다.The upper end of the lower probe and the lower end of the upper probe are brought into contact with the measurement reference jig to set a reference plane for measuring the thickness of the sealing part of the pouch, the measurement reference jig is removed, and the upper end of the lower probe and the lower end of the upper probe are respectively the pouch It is characterized in that it is configured to measure the thickness of the sealing portion of the pouch while in contact with the lower surface and the upper surface of the sealing portion.

상기 파우치는 스탠드에 거치된 상태에서 상기 파우치의 실링부의 하면과 상면에 각각 상기 하부 프로브의 상단부와 상부 프로브의 하단부가 접촉되어 상기 실링부의 두께를 측정하도록 구성된 것을 특징으로 한다.The pouch is characterized in that it is configured to measure the thickness of the sealing portion by contacting the upper end of the lower probe and the lower end of the upper probe to the lower surface and the upper surface of the sealing portion of the pouch, respectively, while being mounted on the stand.

본 발명에 의하면, 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 셋팅하는 단계; 상기 하부 프로브의 상단부와 상기 상부 프로브의 상단부를 상기 파우치의 상기 실링부 하면과 상면에 각각 접촉시켜서 상기 제로 셋팅점을 기준으로 하부 프로브 측정값과 상기 상부 프로브 측정값을 취득하여 상기 파우치의 실링부의 두께를 측정하는 단계;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정방법이 제공된다.According to the present invention, the steps of setting a zero set point for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch for secondary batteries; The upper end of the lower probe and the upper end of the upper probe are brought into contact with the lower surface and upper surface of the sealing part of the pouch, respectively, to obtain the lower probe measurement value and the upper probe measurement value based on the zero set point, so that the sealing part of the pouch is There is provided a method for measuring the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries, characterized in that it comprises; measuring the thickness.

상기 하부 프로브의 상단부와 상기 상부 프로브의 상단부를 접촉시켜서 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 셋팅하고, 상기 하부 프로브의 상단부가 상기 실링부의 하면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점을 기준으로 하부 프로브 측정값을 구하고, 상기 상부 프로브의 하단부가 상기 실링부의 상면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점을 기준으로 상부 프로브 측정값을 구하도록 구성된 것을 특징으로 한다.The upper end of the lower probe and the upper end of the upper probe are brought into contact to set a zero set point for measuring the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries, and the zero setting point is set in a state where the upper end of the lower probe is in contact with the lower surface of the sealing part. It is characterized in that it is configured to obtain the measured value of the lower probe based on , and obtain the measured value of the upper probe based on the zero set point while the lower end of the upper probe is in contact with the upper surface of the sealing part.

상기 하부 프로브 측정값과 상기 상부 프로브 측정값을 합산하여 파우치의 실링부의 두께를 측정한다.The thickness of the sealing part of the pouch is measured by adding the measured value of the lower probe and the measured value of the upper probe.

상기 하부 프로브와 상기 상부 프로브 사이에 두께가 정해져 있는 측정 기준 지그를 배치시켜서 상기 파우치의 실링부의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 정하고, 상기 제로 셋팅점을 기준으로 하부 프로브 측정값과 상기 상부 프로브 측정값을 취득하여 상기 파우치의 실링부의 두께를 측정하도록 구성된 것을 특징으로 한다.A measurement reference jig having a predetermined thickness is disposed between the lower probe and the upper probe to determine a zero set point for measuring the thickness of the sealing part of the pouch, and the lower probe measurement value and the upper probe measurement based on the zero set point It is characterized in that it is configured to measure the thickness of the sealing part of the pouch by acquiring a value.

상기 하부 프로브와 상단부와 상기 상부 프로브의 하단부 사이에 상기 측정 기준 지그를 치우고, 상기 하부 프로브의 상단부가 상기 실링부의 하면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점을 기준으로 하부 프로브 측정값을 구하고, 상기 상부 프로브의 하단부가 상기 실링부의 상면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점을 기준으로 상부 프로브 측정값을 구하도록 구성된 것을 특징으로 한다.The measurement reference jig is removed between the lower probe and the upper end and the lower end of the upper probe, and the lower probe measurement value is obtained based on the zero set point while the upper end of the lower probe is in contact with the lower surface of the sealing part, and It is characterized in that it is configured to obtain the upper probe measurement value based on the zero set point while the lower end of the upper probe is in contact with the upper surface of the sealing part.

상기 기준 측정 지그의 두께를 기준으로 하부 제로 셋팅점과 상부 제로 셋팅점이 정해지며, 상기 하부 제로 셋팅점에서 상기 하부 프로브의 상단부가 상기 파우치의 실링부에 접촉되도록 올라온 거리와 상기 상부 제로 셋팅점에서 상기 상부 프로브의 상단부가 상기 파우치의 실링부에 접촉되도록 내려온 거리를 상기 기준 측정 지그의 두께에서 차감하여 상기 파우치의 실링부의 두께를 측정한다.A lower zero set point and an upper zero set point are determined based on the thickness of the reference measuring jig, and at the lower zero set point, the upper end of the lower probe rises to contact the sealing portion of the pouch, and at the upper zero set point The thickness of the sealing portion of the pouch is measured by subtracting a distance from which the upper end of the upper probe comes into contact with the sealing portion of the pouch from the thickness of the reference measurement jig.

본 발명의 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치 및 파우치의 실링부 두께 측정방법은 파우치의 실링부의 변형으로 인한 측정 오차가 발생하는 문제를 해결하고, 밀착 유닛을 사용하지 않더라도 실링부의 강성으로 인하여 상부 프로브와 하부 프로브의 밀착이 부정확해지는 경우를 방지하므로, 실링부의 두께 측정이 제대로 될 수 있으며, 두께 측정 기준면의 상하 이동으로 인한 반복 정밀도 문제가 발생하는 경우도 방지하는 효과가 있다.The device for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch for a secondary battery and the method for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch of the present invention solve the problem of measurement error due to deformation of the sealing portion of the pouch, and even if the adhesion unit is not used, the upper portion due to the rigidity of the sealing portion Since it prevents the case of inaccurate adhesion between the probe and the lower probe, the thickness of the sealing part can be measured properly, and there is an effect of preventing the occurrence of repeatability problems due to the vertical movement of the thickness measurement reference plane.

도 1은 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께를 측정할 때에 두께 측정 지점을 보여주는 평면도
도 2는 종래 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 설정하는 과정을 보여주는 도면
도 3은 종래 이차전지용 파우치 실링부의 두께를 측정하는 과정을 보여주는 도면
도 4는 종래 이차전지용 파우치의 변형된 실링부의 두께를 측정할 때에 두께 측정 오차가 발생되는 경우를 보여주는 도면
도 5는 종래 측정 기준면의 상하 이동으로 인한 반복 정밀도 문제가 생기는 경우를 보여주는 도면
도 6은 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치의 주요부를 보여주는 정면도
도 7은 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치에 의해 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 설정하는 과정을 보여주는 도면
도 8은 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치에 의해 파우치의 실링부 두께를 측정하는 과정을 보여주는 도면
도 9는 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치에 의해 파우치의 변형된 실링부에 대한 정확한 두께 측정이 가능한 상태를 보여주는 도면
도 10은 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치의 주요부인 측정 기준 지그에 의해 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정을 위한 제로 셋팅점을 설정하는 과정을 보여주는 도면
도 11은 도 10에 도시된 측정 기준 지그에 의해 측정 기준점인 제로 셋팅점을 설정한 상태에서 상부 프로브와 하부 프로브에 의해 파우치의 변형된 실링부에 대한 정확한 두께 측정이 가능한 상태를 보여주는 도면
도 12는 파우치의 실링부를 상부 프레싱편과 하부 프레싱편에 의해 누른 상태에서 파우치의 실링부에 변형이 생긴 상태를 개략적으로 보여주는 도면
도 13은 본 발명의 다른 실시예의 주요부인 하부 프로브에 의해 파우치의 변형된 실링부를 평탄면으로 펴주어서 실링부의 두께를 오차 없이 측정하는 과정을 개략적으로 보여주는 도면
도 14는 본 발명의 다른 실시예의 주요부인 상부 프로브에 의해 파우치의 변형된 실링부를 평탄면으로 펴주어서 실링부의 두께를 오차 없이 측정하는 과정을 개략적으로 보여주는 도면
1 is a plan view showing a thickness measurement point when measuring the thickness of a sealing part of a pouch for a secondary battery according to the present invention;
2 is a view showing a process of setting a zero set point for measuring the thickness of the sealing part of the conventional pouch for secondary batteries;
3 is a view showing a process of measuring the thickness of a conventional secondary battery pouch sealing part;
4 is a view showing a case in which a thickness measurement error occurs when measuring the thickness of a deformed sealing part of a conventional secondary battery pouch;
5 is a view showing a case in which a repeat accuracy problem occurs due to vertical movement of a conventional measurement reference plane; FIG.
6 is a front view showing the main part of the device for measuring the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries according to the present invention;
7 is a view showing a process of setting a zero set point for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch for secondary batteries by the device for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch for secondary batteries according to the present invention;
8 is a view showing a process of measuring the thickness of the sealing part of the pouch by the sealing part thickness measuring device of the secondary battery pouch according to the present invention;
9 is a view showing a state in which accurate thickness measurement of the deformed sealing portion of the pouch is possible by the device for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch for secondary batteries according to the present invention;
10 is a view showing a process of setting a zero set point for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch for secondary batteries by the measurement reference jig, which is a main part of the device for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch for secondary batteries according to the present invention;
11 is a view showing a state in which accurate thickness measurement of the deformed sealing part of the pouch is possible by an upper probe and a lower probe in a state where a zero set point, which is a measurement reference point, is set by the measurement reference jig shown in FIG.
12 is a view schematically showing a state in which deformation occurs in the sealing portion of the pouch while the sealing portion of the pouch is pressed by an upper pressing piece and a lower pressing piece;
13 is a view schematically showing the process of measuring the thickness of the sealing part without error by spreading the deformed sealing part of the pouch to a flat surface by the lower probe, which is a main part of another embodiment of the present invention;
14 is a view schematically showing the process of measuring the thickness of the sealing part without error by spreading the deformed sealing part of the pouch to a flat surface by the upper probe, which is a main part of another embodiment of the present invention;

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명한다. 상기 본 발명의 목적과 특징 및 장점은 첨부도면 및 다음의 상세한 설명을 참조함으로써 더욱 쉽게 이해될 수 있을 것이다. 도면에서 동일 부분에 대해서는 동일 부호를 사용한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The objects, features and advantages of the present invention will be more readily understood by referring to the accompanying drawings and the following detailed description. In the drawings, the same reference numbers are used for the same parts. In addition, in describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), (b), etc. may be used. These terms are only for distinguishing the component from other components, and the essence, order, or order of the component is not limited by the term. When it is described that a component is “connected”, “coupled” or “connected” to another component, the component may be directly connected or connected to the other component, but another component is between each component. It will be understood that may also be "connected", "coupled" or "connected".

도면을 참조하면, 본 발명의 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치는 이차전지용 파우치의 실링부(2S) 하면에 접촉되는 하부 프로브(30)와, 상기 파우치의 실링부(2S)의상면에 접촉되는 상부 프로브(20)를 구비한다.Referring to the drawings, the device for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch for secondary batteries of the present invention includes a lower probe 30 that is in contact with the lower surface of the sealing portion 2S of the pouch for secondary batteries, and the upper surface of the sealing portion 2S of the pouch. and an upper probe 20 that becomes

상기 상부 프로브(20)의 하단부는 상부 콘택트부(22)로 구성되고, 상기 하부 프로브(30)의 상단부는 하부 콘택트부(32)로 구성된다. 상부 콘택트부(22)와 하부 콘택트부(32)는 반구 형상으로 구성된다. 상기 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)는 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부에 의해 승강되도록 구성된다.The lower end of the upper probe 20 is constituted by the upper contact part 22 , and the upper end of the lower probe 30 is constituted by the lower contact part 32 . The upper contact portion 22 and the lower contact portion 32 have a hemispherical shape. The upper probe 20 and the lower probe 30 are configured to be raised and lowered by the upper contact operating unit and the lower contact operating unit.

메인 프레임에 상부 프로브 마운팅 패널과 하부 프로브 마운팅 패널이 상하 방향으로 슬라이드 가능하게 결합되고, 상기 상부 프로브 마운팅 패널과 하부 프로브 마운팅 패널에 각각 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)가 장착될 수 있다.The upper probe mounting panel and the lower probe mounting panel are slidably coupled to the main frame in the vertical direction, and the upper probe 20 and the lower probe 30 may be mounted to the upper probe mounting panel and the lower probe mounting panel, respectively. .

상기 메인 프레임에 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부가 장착되어, 상기 상부 프로브 마운팅 패널과 상부 프로브(20)를 상부 콘택트 작동부에 의해 승강시키고, 상기 하부 프로브 마운팅 패널과 하부 프로브(30)를 하부 콘택트 작동부에 의해 승강시키도록 구성될 수 있다. 이때, 상기 상부 콘택트 작동부는 실린더 로드가 상부 프로브 마운팅 패널에 연결된 상부 승강 작동 실린더로 구성되고, 상부 콘택트 작동부는 실린더 로드가 상부 프로브 마운팅 패널에 연결된 상부 승강 작동 실린더로 구성될 수 있다.An upper contact operation part and a lower contact operation part are mounted on the main frame, the upper probe mounting panel and the upper probe 20 are raised and lowered by the upper contact operation part, and the lower probe mounting panel and the lower probe 30 are lowered It may be configured to be raised and lowered by a contact actuating unit. In this case, the upper contact operation unit may be configured as an upper lifting operation cylinder in which a cylinder rod is connected to the upper probe mounting panel, and the upper contact operation unit may include an upper lifting operation cylinder in which the cylinder rod is connected to the upper probe mounting panel.

상기 상부 프레임과 하부 프레임은 상하 방향으로 동일 축선 상에 배치되어, 상기 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부에 의해 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)가 이차전지용 파우치의 둘레부로 나와있는 실링부(2S)의 상면과 하면에 각각 접촉될 수 있다. 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S)의 상면과 저면에 각각 접촉된다. 상기 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부는 상기 상부 승강 작동 실린더와 하부 승강 작동 실린더 이외에 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 각각 파우치의 실링부(2S)의 상면과 저면에 접촉되도록 작동시킬키는 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)를 승강시키는 킬 수 있는 수단이면 모두 채용 가능하다.The upper frame and the lower frame are arranged on the same axis in the vertical direction, and the upper probe 20 and the lower probe 30 are sealed to the periphery of the secondary battery pouch by the upper contact operation unit and the lower contact operation unit. The upper and lower surfaces of the portion 2S may be in contact with each other. The upper contact portion 22 of the upper probe 20 and the lower contact portion 32 of the lower probe 30 are in contact with the upper and lower surfaces of the sealing portion 2S of the pouch, respectively. The upper contact operation part and the lower contact operation part are the upper contact part 22 of the upper probe 20 and the lower contact part 32 of the lower probe 30 in addition to the upper lifting operation cylinder and the lower lifting operation cylinder, respectively, of the pouch. Both the upper and lower probes 20 and 30, which are operated so as to be in contact with the upper and lower surfaces of the sealing portion 2S, can be employed as long as they are killable means for elevating and lowering the upper and lower probes.

한편, 상기 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)의 양쪽에 배치된 좌우 한 쌍의 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)이 파우치의 실링부(2S)를 각각 상면과 저면에서 눌러주고 있는 상태에서 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S)의 상면과 저면에 각각 접촉되도록 구성될 수 있다.On the other hand, a pair of left and right upper pressing pieces 24 and lower pressing pieces 34 disposed on both sides of the upper probe 20 and the lower probe 30 hold the sealing portion 2S of the pouch from the upper and lower surfaces, respectively. The upper contact portion 22 of the upper probe 20 and the lower contact portion 32 of the lower probe 30 may be in contact with the upper and lower surfaces of the sealing portion 2S of the pouch, respectively, in a pressing state. have.

상기 파우치는 메인 프레임에 구비된 스탠드에 거치된 상태에서 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)에 의해 거치된 실링부(2S)의 두께가 측정될 수 있도록 구성된다. 스탠드는 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)가 승강되는 영역의 옆에 배치되어, 파우치를 스탠드 위에 올려놓고 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)의 승강 영역으로 들어와 있는 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정하도록 구성된다.The pouch is configured such that the thickness of the sealing part 2S mounted by the upper probe 20 and the lower probe 30 can be measured while being mounted on a stand provided in the main frame. The stand is arranged next to the area where the upper probe 20 and the lower probe 30 are lifted, put the pouch on the stand, and the sealing part of the pouch that enters the lift area of the upper probe 20 and the lower probe 30 (2S) is configured to measure the thickness.

상기 하부 프로브(30)는 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)과 실링부(2S)의 하면 사이의 두께 편차를 측정하도록 실링부(2S)의 하면으로 전진하여 접촉된다. 하부 프로브(30)가 파우치의 실링부(2S) 아래에 있어서 하부 프로브(30)가 위로 올라와서 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S) 하면에 접촉된다.The lower probe 30 advances to the lower surface of the sealing portion 2S to measure the thickness deviation between the zero set point ZP for measuring the thickness of the sealing portion 2S and the lower surface of the sealing portion 2S. . Since the lower probe 30 is under the sealing portion 2S of the pouch, the lower probe 30 is raised so that the lower contact portion 32 of the lower probe 30 is in contact with the lower surface of the sealing portion 2S of the pouch.

상기 상부 프로브(20)는 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)과 실링부(2S)의 상면 사이의 두께 편차를 측정하도록 실링부(2S)의 상면으로 전진하여 접촉된다. 상부 프로브(20)가 파우치의 실링부(2S) 위에 있어서 상부 프로브(20)가 아래로 내려와서 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 파우치의 실링부(2S) 상면에 접촉된다.The upper probe 20 advances to the upper surface of the sealing portion 2S to measure the thickness deviation between the zero set point ZP for measuring the thickness of the sealing portion 2S and the upper surface of the sealing portion 2S. . The upper probe 20 is above the sealing portion 2S of the pouch, so that the upper probe 20 is lowered so that the upper contact portion 22 of the upper probe 20 is in contact with the upper surface of the sealing portion 2S of the pouch.

한편, 본 발명에 의한 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정방법은 파우치의 실링부(2S) 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)을 셋팅하는 단계와, 상기 하부 프로브(30)의 상단부와 상부 프로브(20)의 상단부를 파우치의 실링부(2S) 하면과 상면에 각각 접촉시켜서 상기 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 하부 프로브 측정값과 상부 프로브 측정값을 취득하여 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정하는 단계를 포함한다.On the other hand, the method for measuring the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries according to the present invention comprises the steps of setting a zero set point (ZP) for measuring the thickness of the sealing part (2S) of the pouch, the upper end of the lower probe 30 and the upper probe The upper end of (20) is brought into contact with the lower and upper surfaces of the sealing portion 2S of the pouch, respectively, and the lower probe measurement value and the upper probe measurement value are obtained based on the zero setting point (ZP) of the sealing portion 2S of the pouch. measuring the thickness.

본 발명에 의해서 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정하는 원리를 설명하면 다음과 같다.The principle of measuring the thickness of the sealing portion 2S of the pouch according to the present invention will be described as follows.

본 발명에서는 상하 두 개의 프로브를 사용한다. 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)를 사용한다.In the present invention, two upper and lower probes are used. The upper probe 20 and the lower probe 30 are used.

상기 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)를 이용하여 제로 셋팅점(ZP)을 정한다. 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)를 위아래에서 접촉시키서 제로 셋팅점(ZP)을 정한다. 측정기 제로 셋팅(Zero setting)이다. 이 단계가 상기 제로 셋팅점(ZP)을 정하는 단계이다.A zero set point ZP is determined using the upper probe 20 and the lower probe 30 . The upper contact portion 22 of the upper probe 20 and the lower contact portion 32 of the lower probe 30 are brought into contact from the top and bottom to determine the zero setting point ZP. This is the meter zero setting. This step is the step of determining the zero set point (ZP).

상기 제로 셋팅점(ZP)이 정해지면 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30) 사이에 파우치의 실링부(2S)를 배치하고, 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)를 각각 파우치의 실링부(2S) 상면과 하면에 접촉시킨다.When the zero set point ZP is determined, the sealing part 2S of the pouch is disposed between the upper probe 20 and the lower probe 30, and the upper contact part 22 of the upper probe 20 and the lower probe ( 30), the lower contact portions 32 are brought into contact with the upper and lower surfaces of the sealing portion 2S of the pouch, respectively.

그러면, 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값을 구할 수 있다. 상기 제로 셋팅점(ZP)에서 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22) 사이의 거리가 상부 프로브 측정값이고, 상기 제로 셋팅점(ZP)에서 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32) 사이의 거리가 하부 프로브 측정값이다.Then, the upper probe measurement value and the lower probe measurement value can be obtained. The distance between the upper contact portion 22 of the upper probe 20 at the zero set point ZP is the upper probe measurement, and the lower contact portion 32 of the lower probe 30 at the zero set point ZP. The distance between them is the lower probe measurement.

이렇게 구해진 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값을 합산하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정할 수 있다. 즉, 파우치의 실링부 두께 = 상부 프로브 측정값 + 하부 프로브 측정값이 된다. 이 단계가 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정하는 단계이다.The thickness of the sealing part 2S of the pouch may be measured by adding the measured value of the upper probe and the measured value of the lower probe obtained in this way. That is, the thickness of the sealing part of the pouch = the upper probe measurement + the lower probe measurement value. This step is a step of measuring the thickness of the sealing part 2S of the pouch.

이처럼 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)를 이용하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 구하면 변형된 실링면에 대해서도 정확한 두께 측정이 가능하다.As such, if the thickness of the sealing part 2S of the pouch is obtained using the upper probe 20 and the lower probe 30, it is possible to accurately measure the thickness even on a deformed sealing surface.

따라서, 본 발명은 파우치의 실링부(2S)의 변형으로 인한 측정 오차가 발생하는 문제를 해결한다. 본 발명은 밀착 유닛을 사용하지 않더라도 실링부(2S)의 강성으로 인하여 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)의 밀착이 부정확해지는 경우가 없기 때문에, 실링부(2S)의 두께 측정이 제대로 될 수 있다.Accordingly, the present invention solves a problem in which a measurement error occurs due to deformation of the sealing portion 2S of the pouch. In the present invention, even if the adhesion unit is not used, since the adhesion between the upper probe 20 and the lower probe 30 does not become inaccurate due to the rigidity of the sealing part 2S, the thickness measurement of the sealing part 2S can be performed properly. can

또한, 본 발명에서는 기준면의 상하 이동으로 인한 반복 정밀도 문제가 발생하는 경우도 방지한다. 실링부(2S) 두께 측정 기준면이 상하 이동을 반복하는 것이 아니라서 두께 측정 오차가 많이 생기는 경우가 없으므로 그만큼 기존에 비해서 실링부(2S) 두께 측정에 있어서 오차가 생기는 경우가 방지된다.In addition, the present invention prevents the occurrence of a repeatability problem due to the vertical movement of the reference plane. Since the thickness measurement reference plane of the sealing part 2S does not repeat the vertical movement, there is no case where a thickness measurement error occurs much, and thus, the case where an error occurs in the thickness measurement of the sealing part 2S is prevented as compared to the conventional one.

상기한 바와 같이, 마이크로 미터 단위로 파우치의 실링부(2S) 두께를 정확하게 측정해야 하는데, 파우치의 실링부(2S)가 용융되서 붙어서 만들어지기 때문에, 강성이 있고, 이러한 강성이 있는 실링부(2S)를 측정용 프로브에 의해서 누르더라도 두께가 정확하게 측정이 되어야 한다.As described above, it is necessary to accurately measure the thickness of the sealing portion 2S of the pouch in micrometers, and since the sealing portion 2S of the pouch is melted and adhered, there is rigidity, and the sealing portion 2S having such rigidity ) is pressed by the measuring probe, but the thickness must be measured accurately.

그런데, 본 발명에서는 파우치의 실링부(2S)의 강성으로 인하여 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)와 파우치의 실링부(2S) 사이의 간극이 생기는 경우를 방지하고, 이러한 간극의 발생으로 인한 두께 측정 오차를 극복할 수 있으므로 실링부(2S) 두께가 정확하게 측정되는 효과가 있다.However, in the present invention, the occurrence of a gap between the upper probe 20 and the lower probe 30 and the sealing portion 2S of the pouch is prevented due to the rigidity of the sealing portion 2S of the pouch, and the occurrence of such a gap Since the thickness measurement error caused by the thickness measurement error can be overcome, there is an effect that the thickness of the sealing part 2S is accurately measured.

한편, 본 발명은 측정 기준 지그(42)를 활용하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정하도록 측정 기준 지그(42)를 더 포함한다. 상기 하부 프로브(30)와 상부 프로브(20) 사이에 측정 기준 지그(42)가 배치되며, 측정 기준 지그(42)는 상하면 사이의 두께가 정해져 있다. 측정 기준 지그(42)의 두께는 파우치의 실링부(2S)의 두께보다 더 두껍게 구성된다.Meanwhile, the present invention further includes a measurement reference jig 42 to measure the thickness of the sealing part 2S of the pouch by using the measurement reference jig 42 . A measurement reference jig 42 is disposed between the lower probe 30 and the upper probe 20 , and the thickness between the upper and lower surfaces of the measurement reference jig 42 is determined. The thickness of the measurement reference jig 42 is configured to be thicker than the thickness of the sealing part 2S of the pouch.

상기 하부 프로브(30)와 상기 상부 프로브(20) 사이에 두께가 정해져 있는 측정 기준 지그(42)를 배치시켜서 파우치의 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)을 정하고, 상기 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 하부 프로브 측정값과 상부 프로브 측정값을 취득함으로써, 상기 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정할 수 있다.A measurement reference jig 42 having a predetermined thickness is disposed between the lower probe 30 and the upper probe 20 to determine a zero set point (ZP) for measuring the thickness of the sealing part 2S of the pouch, and By acquiring the measured value of the lower probe and the measured value of the upper probe based on the zero set point ZP, the thickness of the sealing part 2S of the pouch may be measured.

상기 하부 프로브(30)와 상단부와 상기 상부 프로브(20)의 하단부 사이에 상기 측정 기준 지그(42)를 치운 다음, 상기 하부 프로브(30)의 상단부가 실링부(2S)의 하면에 접촉된 상태에서 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 하부 프로브 측정값을 구하고, 상기 상부 프로브(20)의 하단부가 실링부(2S)의 상면에 접촉된 상태에서 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 상부 프로브 측정값을 구하게 된다.After the measurement reference jig 42 is removed between the lower probe 30 and the upper end and the lower end of the upper probe 20, the upper end of the lower probe 30 is in contact with the lower surface of the sealing part 2S. to obtain the lower probe measurement value based on the zero set point (ZP), and measure the upper probe based on the zero set point (ZP) while the lower end of the upper probe 20 is in contact with the upper surface of the sealing part 2S get the value

상기 측정 기준 지그(42)를 활용하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정하는 원리를 좀더 구체적으로 설명하면 다음과 같다.The principle of measuring the thickness of the sealing part 2S of the pouch using the measurement reference jig 42 will be described in more detail as follows.

상기 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)가 상하 방향으로 이격되어 있는 상태에서 상기 측정 기준 지그(42)를 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30) 사이에 배치시킨다.In a state in which the upper probe 20 and the lower probe 30 are vertically spaced apart, the measurement reference jig 42 is disposed between the upper probe 20 and the lower probe 30 .

이러한 상태에서 상부 프로브(20)를 내려서 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 파우치의 실링부(2S) 상면에 접촉되도록 하고, 하부 프로브(30)를 올려서 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S) 하면에 접촉되도록 한다.In this state, the upper probe 20 is lowered so that the upper contact portion 22 of the upper probe 20 is in contact with the upper surface of the sealing portion 2S of the pouch, and the lower contact portion 32 is raised by raising the lower probe 30. Make contact with the lower surface of the sealing part (2S) of the pouch.

그러면, 상기 상부 콘택트부(22)가 파우치의 실링부(2S)의 상면에 접촉된 지점이 상부 제로 셋팅점(ZP)이 되고, 상기 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S)의 하면에 접촉된 지점이 하부 제로 셋팅점(ZP)이 된다.Then, the point at which the upper contact part 22 is in contact with the upper surface of the sealing part 2S of the pouch becomes the upper zero setting point ZP, and the lower contact part 32 is the sealing part 2S of the pouch. The point in contact with the lower surface becomes the lower zero set point (ZP).

상기 상부 제로 셋팅점(ZP)과 하부 제로 셋팅점(ZP)이 정해진 상태에서 측정 기준 지그(42)를 치우고 파우치의 실링부(2S)를 상부 제로 셋팅점(ZP)과 하부 제로 셋팅점(ZP) 사이의 영역에 배치시킨다.When the upper zero set point (ZP) and the lower zero set point (ZP) are determined, the measurement reference jig 42 is removed, and the sealing part 2S of the pouch is attached to the upper zero set point (ZP) and the lower zero set point (ZP). ) in the area between

다음, 상기 상부 프로브(20)를 내리고 하부 프로브(30)를 올리면 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 상부 프로브(20)가 더 내려온 거리가 상부 프로브 측정값이 되고, 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 하부 프로브(30)가 더 올라온 거리는 하부 프로브 측정값이 된다. 즉, 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 내려온 거리가 상부 프로브 측정값이고, 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 올라온 거리가 하부 프로브 측정값이다.Next, when the upper probe 20 is lowered and the lower probe 30 is raised, the distance the upper probe 20 further descends from the upper zero set point ZP becomes the upper probe measurement value, and at the lower zero set point ZP The distance at which the lower probe 30 is further raised becomes the lower probe measurement value. That is, the distance at which the upper contact portion 22 of the upper probe 20 descends further from the upper zero set point ZP is the upper probe measurement value, and the lower contact portion 32 of the lower probe 30 is the lower zero The higher distance from the set point (ZP) is the lower probe measurement.

상기 측정 기준 지그(42)는 파우지의 실링부(2S)의 두께보다 더 두껍기 때문에, 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 상부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 내려온 거리가 마이너스(-) 상부 프로브 측정값으로 구해지고, 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 하부 제로 셋팅점(ZP)에서 더 올라온 거리가 마이너스(-) 하부 프로브 측정값으로 구해진다.Since the measurement reference jig 42 is thicker than the sealing portion 2S of the pouch, the distance the upper contact portion 22 of the upper probe 20 descends further from the upper zero setting point ZP is minus ( -) is obtained as the upper probe measurement value, and the distance at which the lower contact part 32 of the lower probe 30 rises further from the lower zero set point ZP is obtained as a negative (-) lower probe measurement value.

이처럼 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값이 구해지면, 상기 측정 기준 지그(42)의 두께에서 상기 상부 프로브 측정값과 하부 프로브 측정값을 차감하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정할 수 있다. 예를 들어, 측정 기준 지그(42)의 두께가 500㎛이고, 상부 프로브 측정값이 200㎛이고, 하부 프로브 측정값이 100㎛이면, 파우치의 실링부 두께는 500㎛ - 200㎛ - 100㎛ = 200㎛가 된다.When the upper probe measurement value and the lower probe measurement value are obtained in this way, the thickness of the sealing part 2S of the pouch can be measured by subtracting the upper probe measurement value and the lower probe measurement value from the thickness of the measurement reference jig 42 . . For example, if the thickness of the measurement reference jig 42 is 500 µm, the upper probe measurement value is 200 µm, and the lower probe measurement value is 100 µm, the thickness of the sealing part of the pouch is 500 µm - 200 µm - 100 µm = 200 μm.

따라서, 본 발명에서 측정 기준 지그(42)를 활용하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 오차없이 정확하게 측정할 수 있다.Therefore, in the present invention, the thickness of the sealing portion 2S of the pouch can be accurately measured without error by using the measurement reference jig 42 .

상기 측정 기준 지그(42)를 이용하여 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정하는 경우에도 전술한 두 개의 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)만을 이용하여 파우치의 실링부(2S)를 측정하는 경우의 효과와 동일하므로, 측정 기준 지그(42)를 이용한 경우의 효과에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.Even when the thickness of the sealing part 2S of the pouch is measured using the measurement reference jig 42, the sealing part 2S of the pouch is measured using only the two upper probes 20 and the lower probe 30 described above. Since it is the same as the effect in the case where the measurement reference jig 42 is used, a redundant description of the effect in the case of using the measurement reference jig 42 will be omitted.

한편, 본 발명에서는 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)의 양쪽에 배치된 좌우 한 쌍의 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)이 파우치의 실링부(2S)를 각각 상면과 저면에서 눌러주고 있는 상태에서 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)와 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 파우치의 실링부(2S)의 상면과 저면에 각각 접촉되어 파우치의 실링부(2S) 두께를 측정하는데, 상기 파우치의 실링부(2S)는 파우치를 형성하기 위한 파우치 시트들이 용융되어 접합된 플라스틱이라 할 수 있어서 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)이 파우치의 실링부(2S)를 눌러서 잡은 상태이면 상기 실링부(2S)에서 눌리지 않은 부분은 정밀하게 보면 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)의 주위로 밀려나오면서 상기 실링부(2S)에 변형이 생길 수 있다. 도 12에서 화살표로 표시된 것과 같이 실링부(2S)에서 눌리지 않은 부분은 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)의 주위로 밀려나오면서 실링부(2S)의 변형이 생길 수도 있다. 특히 상부 프로부와 하부 프로브(30)의 상부 콘택트부(22)와 하부 콘택트부(32)가 접촉된 부분이 밀려들어온 부분에 의해 링클링되는 변형(울퉁불퉁해지는 변형)이 변형이 생길 수 있다. 1㎛ 단위와 같이 아주 정밀한 두께 기준으로 보면 상부 프로부와 하부 프로브(30)의 상부 콘택트부(22)와 하부 콘택트부(32)가 접촉된 부분이 밀려들어온 부분에 의해 링클링되는 변형이 생기는 것이다.On the other hand, in the present invention, a pair of left and right upper pressing pieces 24 and lower pressing pieces 34 disposed on both sides of the upper probe 20 and the lower probe 30 connect the sealing portion 2S of the pouch to the upper surface and the upper surface, respectively. The upper contact part 22 of the upper probe 20 and the lower contact part 32 of the lower probe 30 are in contact with the upper and lower surfaces of the sealing part 2S of the pouch, respectively, in a state of being pressed from the bottom surface of the pouch To measure the thickness of the sealing part 2S of the pouch, the sealing part 2S of the pouch is a plastic in which pouch sheets for forming a pouch are melted and joined, so that the upper pressing piece 24 and the lower pressing piece 34) If the sealing portion 2S of the pouch is pressed and held, the portion that is not pressed in the sealing portion 2S is pushed out around the upper pressing piece 24 and the lower pressing piece 34 if you look closely at the sealing portion 2S. ) may be deformed. As indicated by the arrow in FIG. 12 , the portion that is not pressed in the sealing portion 2S is pushed out around the upper pressing piece 24 and the lower pressing piece 34 , and deformation of the sealing portion 2S may occur. In particular, the contact portion between the upper contact portion 22 and the lower contact portion 32 of the upper probe portion and the lower probe 30 may be wrinkled due to the pushed-in portion (uneven deformation). When viewed on the basis of a very precise thickness, such as 1 μm, the contact portion between the upper contact portion 22 and the lower contact portion 32 of the upper probe portion and the lower probe 30 is wrinkled due to the pushed in deformation. will be.

그런데, 본 발명에서는 이처럼 상부 프로부와 하부 프로브(30)의 상부 콘택트부(22)와 하부 콘택트부(32)가 접촉된 부분에 생긴 변형을 보상하여 실링부(2S) 두께 측정의 오차가 생기는 것을 방지하기 위하여 상기 하부 프로브(30)가 파우치의 실링부(2S) 하면에서 누르는 힘을 상부 프로브(20)가 파우치의 실링부(2S) 상면에서 누르는 힘보다 더 크게 주도록 구성된다. 상기 상부 프로브(20)와 하부 프로브(30)를 각각 상부 스프링과 하부 스프링의 힘으로 눌러주도록 구성될 수 있는데, 하부 스프링의 탄성력을 상부 스프링의 탄성력보다 더 크게 함으로써 상부 프로브(20)보다 하부 프로브(30)를 더 큰 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러준다. 한편, 상기한 상부 콘택트 작동부와 하부 콘택트 작동부에 의해서 하부 프로브(30)가 상부 프로브(20)보다 더 큰 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러주도록 구성될 수도 있다.However, in the present invention, an error in measuring the thickness of the sealing portion 2S occurs by compensating for deformation occurring in the portion where the upper contact portion 22 and the lower contact portion 32 of the upper probe portion and the lower probe 30 are in contact. In order to prevent this from happening, the lower probe 30 is configured to apply a greater pressing force on the lower surface of the sealing portion 2S of the pouch than the pressing force of the upper probe 20 on the upper surface of the sealing portion 2S of the pouch. It may be configured to press the upper probe 20 and the lower probe 30 by the force of the upper spring and the lower spring, respectively. By making the elastic force of the lower spring greater than the elastic force of the upper spring, the lower probe than the upper probe 20 (30) presses the sealing part (2S) of the pouch with greater force. Meanwhile, the lower probe 30 may be configured to press the sealing portion 2S of the pouch with greater force than the upper probe 20 by the upper contact operation unit and the lower contact operation unit.

도 13에 도시된 바와 같이 하부 프로브(30)가 상부 프로브(20)보다 먼저 올라와서 상부 프로브(20)보다 더 큰 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 밑에서 눌러주고, 상부 프로브(20)가 내려와서 상기 실링부(2S)를 눌러주면, 하부 프로브(30)가 밑에서 눌러주는 더 큰 힘에 의해 실링부(2S)가 위쪽으로 살짝 곡면형으로 벤딩되는 것과 같이 올라오면서 상기 실링부(2S)의 링클링된 부분을 펴주게 되면서 실링부(2S)를 원래의 정상 두께로 보상하게 된다.As shown in FIG. 13 , the lower probe 30 comes up earlier than the upper probe 20 and presses the sealing part 2S of the pouch from the bottom with a greater force than the upper probe 20, and the upper probe 20 is If you come down and press the sealing part 2S, the sealing part 2S comes up as if it is slightly curved upward by the greater force that the lower probe 30 presses from below, and the sealing part 2S. As the wrinkled part of the wrinkled part is straightened, the sealing part 2S is compensated to the original normal thickness.

이때, 상기 하부 프로브(30)는 파우치의 실링부(2S)의 링클링된 높이를 플랫하게 눌러서 펴주고 링클링된 부분을 펴준 상태에서는 상기 실링부(2S)를 더 눌러주지는 않을 정도의 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러주도록 구성된다. 즉, 하부 프로브(30)가 파우치의 실링부(2S)에서 링클링된 부분을 눌러주고 실링부(2S)를 링클링부가 펴진 상태에서 더 눌러줌으로 인한 변형은 생기지 않을 정도의 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러주는 것이다.At this time, the lower probe 30 flatly presses and flattens the wrinkled height of the sealing part 2S of the pouch. It is configured to press the sealing portion (2S) of the pouch. That is, the lower probe 30 presses the wrinkled part in the sealing part 2S of the pouch and presses the sealing part 2S further in the state where the wrinkled part is unfolded. It is to press the sealing part (2S).

상기 파우치의 실링부(2S)에서 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)이 눌러주는 힘에 의해 밀려들어 와서 링클링된 부분을 하부 프로브(30)가 상부 프로브(20)보다 더 큰 힘으로 눌러서 플랫한 면(평평한 면)으로 펴준 상태에서 실링부(2S)의 두께를 측정하기 때문에, 파우치의 실링부(2S)가 링클링된 것으로 인한 두께 측정 오차를 방지하므로, 파우치의 실링부(2S)의 두께를 더욱더 착오없이 올바르게 측정할 수 있다.In the sealing portion 2S of the pouch, the upper pressing piece 24 and the lower pressing piece 34 are pushed in by the pressing force, and the wrinkled portion of the lower probe 30 is larger than the upper probe 20 . Since the thickness of the sealing part 2S is measured in the state that it is pressed by force and spread out with a flat surface (flat surface), a thickness measurement error caused by the sealing part 2S of the pouch is prevented from being wrinkled, so the sealing part of the pouch The thickness of (2S) can be measured correctly without further errors.

또한, 상기 하부 프로브(30)가 상부 프로브(20)에 비하여 더 많이 눌러주는 힘에 의해서 파우치의 실링부(2S) 자체가 원래의 정상 두께보다 더 줄어드는 것과 같은 변형을 방지하도록 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경을 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경보다 더 크도록 구성한다. 예를 들어, 예를 들어, 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경이 3㎜이면 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경은 1㎜로 구성한다.In addition, the lower probe 30 prevents deformation such that the sealing part 2S of the pouch itself is reduced more than the original normal thickness due to the force that the lower probe 30 presses more than the upper probe 20 . ), the radius of curvature of the lower contact portion 32 is larger than the radius of curvature of the upper contact portion 22 of the upper probe 20 . For example, if the radius of curvature of the lower contact portion 32 of the lower probe 30 is 3 mm, the radius of curvature of the upper contact portion 22 of the upper probe 20 is 1 mm.

이렇게 하면, 상기 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)가 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)에 비하여 상대적으로 더 플랫한 부분으로 눌러주기 때문에, 상기 하부 프로브(30)에 의해 상부 프로브(20)보다 더 큰 힘으로 눌러줌으로 인한 실링부(2S)의 두께 측정 오차도 보상하게 된다.In this way, since the lower contact portion 32 of the lower probe 30 is pressed to a relatively flatter portion compared to the upper contact portion 22 of the upper probe 20, the lower probe 30 The thickness measurement error of the sealing part 2S due to pressing with a greater force than the upper probe 20 is also compensated.

따라서, 하부 프로브(30)를 상부 프로브(20)에 비하여 상대적으로 더 큰 힘으로 눌러줌으로 인한 실링부(2S)의 두께 변형을 더 확실하게 방지하므로, 파우치의 실링부(2S)의 두께 측정 오차가 생기는 것을 완벽하게 방지할 수 있게 된다.Therefore, since the thickness deformation of the sealing part 2S due to pressing the lower probe 30 with a relatively greater force compared to the upper probe 20 is more reliably prevented, the thickness of the sealing part 2S of the pouch is measured. It is possible to completely prevent errors from occurring.

한편, 도 14에 도시된 바와 같이 상부 프로브(20)가 하부 프로브(30)보다 먼저 내려와서 하부 프로브(20)보다 더 큰 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 위에서 눌러주고, 하부 프로브(30)가 올라와서 상기 실링부(2S)를 눌러주면, 상부 프로브(30)가 위에서 눌러주는 더 큰 힘에 의해 실링부(2S)가 아래쪽으로 살짝 곡면형으로 벤딩되는 것과 같이 내려오면서 상기 실링부(2S)의 링클링된 부분을 펴주게 되면서 실링부(2S)를 원래의 정상 두께로 보상하게 된다. 도 14에서는 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경이 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경보다 더 크다.On the other hand, as shown in FIG. 14 , the upper probe 20 comes down before the lower probe 30 and presses the sealing part 2S of the pouch from above with a greater force than the lower probe 20, and the lower probe 30 ) comes up and presses the sealing part (2S), the sealing part (2S) comes down as if it is slightly curved downwardly by the greater force that the upper probe 30 presses from above, and the sealing part ( As the wrinkled portion of the 2S is straightened, the sealing portion 2S is compensated to the original normal thickness. In FIG. 14 , the radius of curvature of the upper contact portion 22 of the upper probe 20 is greater than the radius of curvature of the lower contact portion 32 of the lower probe 30 .

이때, 상기 상부 프로브(20)는 파우치의 실링부(2S)의 링클링된 높이를 플랫하게 눌러서 펴주고 링클링된 부분을 펴준 상태에서는 상기 실링부(2S)를 더 눌러주지는 않을 정도의 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러주도록 구성된다. 즉, 상부 프로브(30)가 파우치의 실링부(2S)에서 링클링된 부분을 눌러주고 실링부(2S)를 링클링부가 펴진 상태에서 더 눌러줌으로 인한 변형은 생기지 않을 정도의 힘으로 파우치의 실링부(2S)를 눌러주는 것이다.At this time, the upper probe 20 flatly presses and flattens the wrinkled height of the sealing part 2S of the pouch. It is configured to press the sealing portion (2S) of the pouch. That is, the upper probe 30 presses the wrinkled part in the sealing part 2S of the pouch and presses the sealing part 2S further in the state where the wrinkled part is unfolded. It is to press the sealing part (2S).

상기 파우치의 실링부(2S)에서 상부 프레싱편(24)과 하부 프레싱편(34)이 눌러주는 힘에 의해 밀려들어 와서 링클링된 부분을 상부 프로브(20)가 하부 프로브(30)보다 더 큰 힘으로 눌러서 플랫한 면(평평한 면)으로 펴준 상태에서 실링부(2S)의 두께를 측정하기 때문에, 파우치의 실링부(2S)가 링클링된 것으로 인한 두께 측정 오차를 방지하므로, 파우치의 실링부(2S)의 두께를 더욱더 착오없이 올바르게 측정할 수 있다.In the sealing portion 2S of the pouch, the upper pressing piece 24 and the lower pressing piece 34 are pushed in by the pressing force, and the wrinkled portion of the upper probe 20 is larger than the lower probe 30 . Since the thickness of the sealing part 2S is measured in the state that it is pressed by force and spread out with a flat surface (flat surface), a thickness measurement error caused by the sealing part 2S of the pouch is prevented from being wrinkled, so the sealing part of the pouch The thickness of (2S) can be measured correctly without further errors.

도 14는 상부 프로브(20)가 먼저 실링부(2S)를 위에서 눌러서 실링부(2S)를 링클링된 부분으로 펴준 상태에서 하부 프로브(30)가 올라와서 하부 콘택트부(32)가 실링부(2S)의 밑에서 눌러주고, 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경을 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경보다 더 크게 구성한 실시예를 보여준다.14 shows that the lower probe 30 is raised in a state in which the upper probe 20 first presses the sealing portion 2S from above and spreads the sealing portion 2S into a wrinkled portion, and the lower contact portion 32 is connected to the sealing portion ( 2S) and the radius of curvature of the upper contact portion 22 of the upper probe 20 is larger than the radius of curvature of the lower contact portion 32 of the lower probe 30 is shown.

또한, 상기 상부 프로브(20)가 하부 프로브(30)에 비하여 더 많이 눌러주는 힘에 의해서 파우치의 실링부(2S) 자체가 원래의 정상 두께보다 더 줄어드는 것과 같은 변형을 방지하도록 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경을 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경보다 더 크도록 구성한다. 예를 들어, 예를 들어, 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)의 곡률 반경이 3㎜이면 하부 프로브(20)의 하부 콘택트부(32)의 곡률 반경은 1㎜로 구성한다.In addition, the upper probe 20 prevents deformation such that the sealing part 2S of the pouch itself is reduced more than the original normal thickness due to the force that the upper probe 20 presses more than the lower probe 30 . ) is configured such that the radius of curvature of the upper contact portion 22 is larger than the radius of curvature of the lower contact portion 32 of the lower probe 30 . For example, if the radius of curvature of the upper contact portion 22 of the upper probe 20 is 3 mm, the radius of curvature of the lower contact portion 32 of the lower probe 20 is 1 mm.

이렇게 하면, 상기 상부 프로브(20)의 상부 콘택트부(22)가 하부 프로브(30)의 하부 콘택트부(32)에 비하여 상대적으로 더 플랫한 부분으로 눌러주기 때문에, 상기 상부 프로브(20)에 의해 하부 프로브(30)보다 더 큰 힘으로 눌러줌으로 인한 실링부(2S)의 두께 측정 오차도 보상하게 된다.In this way, since the upper contact portion 22 of the upper probe 20 is pressed to a relatively flatter portion compared to the lower contact portion 32 of the lower probe 30, the upper probe 20 The thickness measurement error of the sealing part 2S due to pressing with a greater force than the lower probe 30 is also compensated.

따라서, 상부 프로브(20)를 하부 프로브(30)에 비하여 상대적으로 더 큰 힘으로 눌러줌으로 인한 실링부(2S)의 두께 변형을 더 확실하게 방지하므로, 파우치의 실링부(2S)의 두께 측정 오차가 생기는 것을 완벽하게 방지할 수 있게 된다.Therefore, since the thickness deformation of the sealing part 2S due to pressing the upper probe 20 with a relatively greater force than the lower probe 30 is more reliably prevented, the thickness of the sealing part 2S of the pouch is measured. It is possible to completely prevent errors from occurring.

이상, 본 발명의 특정 실시예에 대하여 상술하였다. 그러나, 본 발명의 사상 및 범위는 이러한 특정 실시예에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 요지를 변경하지 않는 범위 내에서 다양하게 수정 및 변형이 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 것이다.In the above, specific embodiments of the present invention have been described above. However, the spirit and scope of the present invention is not limited to these specific embodiments, and it is common knowledge in the technical field to which the present invention pertains that various modifications and variations are possible within the scope that does not change the gist of the present invention. Anyone who has it will understand.

따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Accordingly, since the embodiments described above are provided to fully inform those of ordinary skill in the art to which the present invention belongs the scope of the invention, it should be understood that they are exemplary in all respects and not limiting, The invention is only defined by the scope of the claims.

20. 상부 프로브 22. 상부 콘택트부
24. 상부 프레싱편 30. 하부 프로브
32. 하부 콘택트부 34. 하부 프레싱편
42. 측정 기준 지그
20. Upper Probe 22. Upper Contact
24. Upper pressing piece 30. Lower probe
32. Lower contact part 34. Lower pressing piece
42. Dimension jig

Claims (10)

이차전지용 파우치의 실링부(2S) 하면에 접촉되는 하부 프로브(30);
상기 파우치의 실링부(2S) 상면에 접촉되는 상부 프로브(20);를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치.
a lower probe 30 in contact with the lower surface of the sealing part 2S of the secondary battery pouch;
An apparatus for measuring the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries, characterized in that it comprises; an upper probe (20) in contact with the upper surface of the sealing part (2S) of the pouch.
제1항에 있어서,
상기 하부 프로브(30)는 상기 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)과 상기 실링부(2S)의 하면 사이의 두께 편차를 측정하도록 상기 실링부(2S)의 하면으로 전진하여 접촉되고, 상기 상부 프로브(20)는 상기 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)과 상기 실링부(2S)의 상면 사이의 두께 편차를 측정하도록 상기 실링부(2S)의 상면으로 전진하여 접촉되는 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치.
According to claim 1,
The lower probe 30 advances to the lower surface of the sealing part 2S to measure the thickness deviation between the zero set point ZP for measuring the thickness of the sealing part 2S and the lower surface of the sealing part 2S. and the upper probe 20 to measure the thickness deviation between the zero set point ZP for measuring the thickness of the sealing part 2S and the upper surface of the sealing part 2S. The sealing part 2S. A device for measuring the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries, characterized in that it advances to the upper surface of the .
제2항에 있어서,
상기 하부 프로브(30)의 상단부는 하부 콘택트부(32)로 구성되고, 상기 상부 프로브(20)의 하단부는 상부 콘택트부(22)로 구성되어, 상기 하부 콘택트부(32)와 상기 상부 콘택트부(22)가 상기 파우치의 실링부(2S)의 하면과 상면에 각각 접촉된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치.
3. The method of claim 2,
The upper end of the lower probe 30 is constituted by a lower contact part 32 , and the lower end of the upper probe 20 is constituted by an upper contact part 22 , and the lower contact part 32 and the upper contact part are constituted by the upper contact part 22 . (22) is an apparatus for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch for secondary batteries, characterized in that each contacted the lower surface and the upper surface of the sealing portion (2S) of the pouch.
제1항에 있어서,
상기 하부 프로브(30)와 상기 상부 프로브(20) 사이에 배치되며 두께가 정해져 있는 측정 기준 지그(42);를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치.
According to claim 1,
The sealing part thickness measuring device of the secondary battery pouch, characterized in that it further comprises a; is disposed between the lower probe (30) and the upper probe (20), the measurement reference jig (42) having a predetermined thickness.
제4항에 있어서,
상기 측정 기준 지그(42)에 상기 하부 프로브(30)의 상단부와 상기 상부 프로브(20)의 하단부가 접촉되어 파우치의 실링부(2S)의 두께 측정 기준면을 설정하고, 상기 측정 기준 지그(42)를 치우고 상기 하부 프로브(30)의 상단부와 상부 프로브(20)의 하단부가 각각 상기 파우치의 실링부(2S)의 하면과 상면에 접촉된 상태로 상기 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정하도록 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치.
5. The method of claim 4,
The upper end of the lower probe 30 and the lower end of the upper probe 20 are in contact with the measurement reference jig 42 to set the thickness measurement reference plane of the sealing part 2S of the pouch, and the measurement reference jig 42 to measure the thickness of the sealing portion 2S of the pouch with the upper end of the lower probe 30 and the lower end of the upper probe 20 in contact with the lower and upper surfaces of the sealing portion 2S of the pouch, respectively. A device for measuring the thickness of the sealing part of a pouch for secondary batteries, characterized in that it is configured.
제1항에 있어서,
상기 파우치는 스탠드에 거치된 상태에서 상기 파우치의 실링부(2S)의 하면과 상면에 각각 상기 하부 프로브(30)의 상단부와 상부 프로브(20)의 하단부가 접촉되어 상기 실링부(2S)의 두께를 측정하도록 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정장치.
According to claim 1,
When the pouch is mounted on a stand, the upper end of the lower probe 30 and the lower end of the upper probe 20 are in contact with the lower and upper surfaces of the sealing portion 2S of the pouch, respectively, so that the thickness of the sealing portion 2S is A device for measuring the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries, characterized in that it is configured to measure.
이차전지용 파우치의 실링부(2S) 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)을 셋팅하는 단계;
상기 하부 프로브(30)의 상단부와 상기 상부 프로브(20)의 상단부를 상기 파우치의 상기 실링부(2S) 하면과 상면에 각각 접촉시켜서 상기 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 하부 프로브 측정값과 상기 상부 프로브 측정값을 취득하여 상기 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정하는 단계;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정방법.
setting a zero setting point (ZP) for measuring the thickness of the sealing part (2S) of the pouch for secondary batteries;
The upper end of the lower probe 30 and the upper end of the upper probe 20 are in contact with the lower and upper surfaces of the sealing part 2S of the pouch, respectively, and the measured value of the lower probe and the Measuring the thickness of the sealing portion (2S) of the pouch by acquiring the upper probe measurement value; A method for measuring the thickness of the sealing portion of the pouch for secondary batteries, characterized in that it comprises a.
제7항에 있어서,
상기 하부 프로브(30)의 상단부와 상기 상부 프로브(20)의 상단부를 접촉시켜서 이차전지용 파우치의 실링부(2S) 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)을 셋팅하고, 상기 하부 프로브(30)의 상단부가 상기 실링부(2S)의 하면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 하부 프로브 측정값을 구하고, 상기 상부 프로브(20)의 하단부가 상기 실링부(2S)의 상면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 상부 프로브 측정값을 구하도록 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정방법.
8. The method of claim 7,
The upper end of the lower probe 30 and the upper end of the upper probe 20 are brought into contact to set a zero set point (ZP) for measuring the thickness of the sealing portion 2S of the pouch for secondary batteries, and the lower probe 30 is In a state where the upper end is in contact with the lower surface of the sealing unit 2S, the lower probe measurement value is obtained based on the zero setting point ZP, and the lower end of the upper probe 20 is on the upper surface of the sealing unit 2S. A method for measuring the thickness of a sealing part of a pouch for secondary batteries, characterized in that it is configured to obtain the upper probe measurement value based on the zero set point (ZP) in a contact state.
제7항에 있어서,
상기 하부 프로브(30)와 상기 상부 프로브(20) 사이에 두께가 정해져 있는 측정 기준 지그(42)를 배치시켜서 상기 파우치의 실링부(2S)의 두께 측정을 위한 제로 셋팅점(ZP)을 정하고, 상기 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 하부 프로브 측정값과 상기 상부 프로브 측정값을 취득하여 상기 파우치의 실링부(2S)의 두께를 측정하도록 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정방법.
8. The method of claim 7,
A measurement reference jig 42 having a predetermined thickness is disposed between the lower probe 30 and the upper probe 20 to determine a zero set point (ZP) for measuring the thickness of the sealing part 2S of the pouch, Method for measuring the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries, characterized in that it is configured to measure the thickness of the sealing part (2S) of the pouch by acquiring the lower probe measurement value and the upper probe measurement value based on the zero set point (ZP) .
제9항에 있어서,
상기 하부 프로브(30)와 상단부와 상기 상부 프로브(20)의 하단부 사이에 상기 측정 기준 지그(42)를 치우고, 상기 하부 프로브(30)의 상단부가 상기 실링부(2S)의 하면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 하부 프로브 측정값을 구하고, 상기 상부 프로브(20)의 하단부가 상기 실링부(2S)의 상면에 접촉된 상태에서 상기 제로 셋팅점(ZP)을 기준으로 상부 프로브 측정값을 구하도록 구성된 것을 특징으로 하는 이차전지용 파우치의 실링부 두께 측정방법.
10. The method of claim 9,
The measurement reference jig 42 is removed between the lower probe 30 and the upper end and the lower end of the upper probe 20, and the upper end of the lower probe 30 is in contact with the lower surface of the sealing part 2S. to obtain the lower probe measurement value based on the zero set point (ZP), and with the lower end of the upper probe 20 in contact with the upper surface of the sealing part 2S, the zero set point (ZP) as a reference A method of measuring the thickness of the sealing part of the pouch for secondary batteries, characterized in that it is configured to obtain the upper probe measurement value.
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