KR20210080519A - Method for manufacturing a substrate for forming a transparent conductive layer, a transparent conductive film, a touch panel, and a substrate for forming a transparent conductive layer - Google Patents

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Abstract

적층하는 투명 도전층의 밀착성이 우수하며 내찰상성이 우수한 투명 도전층 형성용 기재 및 그 제조 방법과, 이것을 이용한 투명 도전성 필름 및 터치 패널을 제공한다.
투명 도전층 형성용 기재(10)는, 기재 필름(12)과, 기재 필름(12)의 면 상에 형성된 제1 수지층(14)을 가지고, 제1 수지층(14)이, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함한다. 투명 도전성 필름(80)은, 투명 도전층 형성용 기재(10)의 제1 수지층(14)의 면 상에 투명 도전층(26)을 갖는다. 터치 패널은, 투명 도전성 필름(80)의 투명 도전층(26)이 전극에 이용되고 있는 것이다.
Provided are a substrate for forming a transparent conductive layer having excellent adhesion and scratch resistance and a method for manufacturing the same, and a transparent conductive film and a touch panel using the same.
The base material 10 for transparent conductive layer formation has the base film 12 and the 1st resin layer 14 formed on the surface of the base film 12, The 1st resin layer 14 is a silsesqui The hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which has an oxane skeleton is included. The transparent conductive film 80 has the transparent conductive layer 26 on the surface of the 1st resin layer 14 of the base material 10 for transparent conductive layer formation. As for the touch panel, the transparent conductive layer 26 of the transparent conductive film 80 is used for an electrode.

Description

투명 도전층 형성용 기재, 투명 도전성 필름, 터치 패널 및 투명 도전층 형성용 기재의 제조 방법Method for manufacturing a substrate for forming a transparent conductive layer, a transparent conductive film, a touch panel, and a substrate for forming a transparent conductive layer

본 발명은 투명 도전층 형성용 기재, 투명 도전성 필름, 터치 패널 및 투명 도전층 형성용 기재의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate for forming a transparent conductive layer, a transparent conductive film, a touch panel, and a method for manufacturing a substrate for forming a transparent conductive layer.

스마트 폰이나 타블렛 단말 등, 화면 상의 표시에 닿음으로써 기기를 조작하는 것이 가능한 입력 장치로서, 정전 용량 방식의 터치 패널이 알려져 있다. 이 종류의 터치 패널에는, 투명 도전성 필름이 이용되고 있다. 투명 도전성 필름은, 예컨대, 플라스틱 기재(수지 기재)의 면 상에 산화인듐주석(ITO) 등의 금속 산화물을 포함하는 투명 도전층이 형성된 것을 포함한다(특허문헌 1).As an input device capable of operating an apparatus by touching a display on a screen such as a smart phone or a tablet terminal, a capacitive touch panel is known. A transparent conductive film is used for this type of touch panel. The transparent conductive film includes, for example, a transparent conductive layer containing a metal oxide such as indium tin oxide (ITO) formed on the surface of a plastic substrate (resin substrate) (Patent Document 1).

플라스틱 기재의 면 상에 직접, 금속 산화물을 포함하는 투명 도전층을 형성하면, 플라스틱 기재와 투명 도전층의 밀착성이 낮다. 그래서, 예컨대 특허문헌 2에서는, 프라이머층을 적층한 플라스틱 기재의 프라이머층의 면 상에, 금속 산화물을 포함하는 투명 도전층을 형성하고 있다.When a transparent conductive layer containing a metal oxide is formed directly on the surface of the plastic substrate, the adhesion between the plastic substrate and the transparent conductive layer is low. Then, in patent document 2, for example, the transparent conductive layer containing a metal oxide is formed on the surface of the primer layer of the plastic base material which laminated|stacked the primer layer.

특허문헌 1: 일본 특허 공개 평성07-068690호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei07-068690 특허문헌 2: 일본 특허 공개 제2012-007065호 공보Patent Document 2: Japanese Patent Laid-Open No. 2012-007065

특허문헌 2의 프라이머층은, 티올기 함유 실세스퀴옥산, 수산기 함유 폴리에스테르 수지, 폴리이소시아네이트류를 함유하는 조성물을 열경화시켜 얻어진 것이며, 내찰상성이 낮아, 금속 산화물을 포함하는 투명 도전층을 형성할 때의 취급 시에, 프라이머층의 표면에 상처가 날 우려가 있다. 프라이머층의 표면에 상처가 나면, 투명 도전성 필름의 외관 불량이 발생한다.The primer layer of Patent Document 2 is obtained by thermosetting a composition containing a thiol group-containing silsesquioxane, a hydroxyl group-containing polyester resin, and polyisocyanates, and has low scratch resistance and a transparent conductive layer containing a metal oxide. At the time of handling at the time of formation, there exists a possibility that the surface of a primer layer may be damaged. When the surface of the primer layer is scratched, poor appearance of the transparent conductive film occurs.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 적층하는 투명 도전층의 밀착성이 우수하며 내찰상성이 우수한 투명 도전층 형성용 기재 및 그 제조 방법과, 이것을 이용한 투명 도전성 필름 및 터치 패널을 제공하는 것에 있다.The problem to be solved by the present invention is to provide a base material for forming a transparent conductive layer having excellent adhesion of the laminated transparent conductive layer and excellent scratch resistance, a method for manufacturing the same, and a transparent conductive film and a touch panel using the same.

상기 과제를 해결하기 위해 본 발명에 따른 투명 도전층 형성용 기재는, 투명 도전층을 형성하기 위한 기재가 되는 투명 도전층 형성용 기재로서, 기재 필름과, 상기 기재 필름의 면 상에 형성된 제1 수지층을 가지고, 상기 제1 수지층이, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 것을 요지로 하는 것이다.In order to solve the above problems, the substrate for forming a transparent conductive layer according to the present invention is a substrate for forming a transparent conductive layer serving as a substrate for forming a transparent conductive layer, a substrate film and a first formed on the surface of the substrate film It has a resin layer and makes it a summary that the said 1st resin layer contains the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which has silsesquioxane skeleton.

실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지는, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 (메트)아크릴레이트인 것이 바람직하다. 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지의 함유량은, 경화성 조성물의 고형분 전량 기준으로, 1 질량% 이상인 것이 바람직하다. 기재 필름과 제1 수지층 사이에는, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제2 수지층을 갖는 것이 바람직하다. 제1 수지층은, 기재 필름의 한쪽의 면 상에만 가지고, 기재 필름의 다른쪽의 면 상에, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제3 수지층을 가지고 있어도 좋다. 제1 수지층은, 기재 필름의 한쪽의 면 상에만 가지고, 기재 필름의 다른쪽의 면 상에, 점착제층을 통해 보호 필름을 가지고 있어도 좋다. 제1 수지층은, 기재 필름의 양쪽의 면 상에 가지고 있어도 좋다.It is preferable that ultraviolet curable resin which has silsesquioxane frame|skeleton is (meth)acrylate which has silsesquioxane frame|skeleton. It is preferable that content of the ultraviolet curable resin which has silsesquioxane frame|skeleton is 1 mass % or more on the basis of solid content whole quantity of a curable composition. Between a base film and a 1st resin layer, it is preferable to have the 2nd resin layer containing the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which does not have silsesquioxane frame|skeleton. A 1st resin layer has only on one surface of a base film, and on the other surface of a base film, the 3rd which contains the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane frame|skeleton. You may have a resin layer. A 1st resin layer may have only on one surface of a base film, and may have a protective film on the other surface of a base film through an adhesive layer. You may have a 1st resin layer on both surfaces of a base film.

그리고, 본 발명에 따른 투명 도전성 필름은, 본 발명에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 제1 수지층의 면 상에 투명 도전층을 갖는 것을 요지로 하는 것이다.And the transparent conductive film which concerns on this invention makes it a summary to have a transparent conductive layer on the surface of the 1st resin layer of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on this invention.

투명 도전층은, 터치 패널의 전극에 이용되면 좋다.What is necessary is just to use a transparent conductive layer for the electrode of a touchscreen.

그리고, 본 발명에 따른 투명 도전성 필름은, 본 발명에 따른 투명 도전성 필름의 투명 도전층이 전극에 이용되고 있는 것을 요지로 하는 것이다.And the transparent conductive film which concerns on this invention makes the summary that the transparent conductive layer of the transparent conductive film which concerns on this invention is used for an electrode.

그리고, 본 발명에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 제조 방법은, 투명 도전층을 형성하기 위한 기재가 되는 투명 도전층 형성용 기재의 제조 방법으로서, 기재 필름의 면 상에, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제1 수지층을 형성하는 것을 요지로 하는 것이다.And the manufacturing method of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on this invention is a manufacturing method of the base material for transparent conductive layer formation used as a base material for forming a transparent conductive layer, On the surface of a base film, a silsesquioxane skeleton It makes it a summary to form the 1st resin layer containing the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which has.

본 발명에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 제조 방법에 있어서는, 기재 필름의 면 상에, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제2 수지층을 형성한 후, 제2 수지층의 면 상에 제1 수지층을 형성하여도 좋다.In the manufacturing method of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on this invention, the 2nd resin layer containing the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane skeleton on the surface of a base film After forming, you may form a 1st resin layer on the surface of a 2nd resin layer.

본 발명에 따른 투명 도전층 형성용 기재에 따르면, 기재 필름의 면 상에 형성된 제1 수지층이 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하기 때문에, 적층하는 투명 도전층의 밀착성이 우수하며 내찰상성이 우수하다.According to the base material for forming a transparent conductive layer according to the present invention, since the first resin layer formed on the surface of the base film contains a cured product of a curable composition comprising an ultraviolet curable resin having a silsesquioxane skeleton, the laminated The transparent conductive layer has excellent adhesion and excellent scratch resistance.

그리고, 기재 필름과 제1 수지층 사이에, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제2 수지층을 가지면, 광학 조정 기능이나 블로킹 방지 기능의 설계가 용이해진다.And between a base film and a 1st resin layer, when it has the 2nd resin layer containing the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane frame|skeleton, the design of an optical adjustment function and a blocking prevention function becomes easier

그리고, 제1 수지층은, 기재 필름의 한쪽의 면 상에만 가지고, 기재 필름의 다른쪽의 면 상에, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제3 수지층을 가지고 있으면, 기재 필름의 다른쪽의 면측도 내찰상성이 우수하다.And the 1st resin layer has only on one surface of a base film, and contains the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane skeleton on the other surface of a base film. When it has a 3rd resin layer, the other surface side of a base film is also excellent in abrasion resistance.

그리고, 제1 수지층은, 기재 필름의 한쪽의 면 상에만 가지고, 기재 필름의 다른쪽의 면 상에, 점착제층을 통해 보호 필름을 가지고 있으면, 취급 시에 있어서, 기재 필름의 다른쪽의 면에 상처가 나는 것을 억제할 수 있다.And if a 1st resin layer has only on one surface of a base film, and has a protective film on the other surface of a base film through an adhesive layer, at the time of handling, the other surface of a base film Injuries can be suppressed.

도 1은 본 발명의 제1 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 단면도이다.
도 2는 본 발명의 제2 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 단면도이다.
도 3은 본 발명의 제3 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 단면도이다.
도 4는 본 발명의 제4 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 단면도이다.
도 5는 본 발명의 제5 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 단면도이다.
도 6은 본 발명의 제6 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 단면도이다.
도 7은 본 발명의 제7 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 단면도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시형태에 따른 투명 도전성 필름의 단면도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is sectional drawing of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on 1st Embodiment of this invention.
It is sectional drawing of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on 2nd Embodiment of this invention.
It is sectional drawing of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on 3rd Embodiment of this invention.
It is sectional drawing of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on 4th Embodiment of this invention.
It is sectional drawing of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on 5th Embodiment of this invention.
It is sectional drawing of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on 6th Embodiment of this invention.
It is sectional drawing of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on 7th Embodiment of this invention.
8 is a cross-sectional view of a transparent conductive film according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명에 대해서 상세하게 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, this invention is demonstrated in detail.

도 1은 본 발명의 제1 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 단면도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is sectional drawing of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on 1st Embodiment of this invention.

도 1에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 제1 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(10)는, 기재 필름(12)과, 기재 필름(12)의 면 상에 형성된 제1 수지층(14)을 갖는다. 제1 수지층(14)은, 기재 필름(12)에 접하고 있다. 제1 수지층(14)은, 기재 필름(12)의 한쪽의 면 상에만 갖는다.As shown in FIG. 1, the base material 10 for transparent conductive layer formation which concerns on 1st Embodiment of this invention is the base film 12, and the 1st resin layer 14 formed on the surface of the base film 12. ) has The first resin layer 14 is in contact with the base film 12 . The 1st resin layer 14 has only on one surface of the base film 12.

기재 필름(12)은, 투명성을 가지고 있으면, 특별히 한정되지 않는다. 기재 필름(12)으로서는, 투명 고분자 필름, 유리 필름 등을 들 수 있다. 투명성이란, 가시광 파장 영역에 있어서의 전체 광선 투과율이 50% 이상인 것을 말하며, 전체 광선 투과율은, 보다 바람직하게는 85% 이상이다. 상기 전체 광선 투과율은, JIS K7361-1(1997)에 준거하여 측정할 수 있다. 기재 필름(12)의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 취급성이 우수한 등의 관점에서, 2∼500 ㎛의 범위 내인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 2∼200 ㎛의 범위 내이다. 또한, 「필름」이란, 일반적으로 두께가 0.25 ㎜ 미만인 것을 말하지만, 두께가 0.25 ㎜ 이상인 것이어도 롤형으로 감을 수 있으면, 두께가 0.25 ㎜ 이상인 것이어도 「필름」에 포함되는 것으로 한다.The base film 12 will not be specifically limited, if it has transparency. As the base film 12, a transparent polymer film, a glass film, etc. are mentioned. Transparency means that the total light transmittance in a visible light wavelength range is 50 % or more, More preferably, the total light transmittance is 85 % or more. The said total light transmittance can be measured based on JISK7361-1 (1997). Although the thickness of the base film 12 is not specifically limited, From a viewpoint of being excellent in handleability, it is preferable to exist in the range of 2-500 micrometers. More preferably, it exists in the range of 2-200 micrometers. In addition, although "film" generally refers to a thing having a thickness of less than 0.25 mm, even if it is a thing of 0.25 mm or more in thickness, as long as it can be wound into a roll shape, it shall be included in "film" even if it is 0.25 mm or more in thickness.

기재 필름(12)의 고분자 재료로서는, 폴리에틸렌테레프탈레이트 수지, 폴리에틸렌나프탈레이트 수지 등의 폴리에스테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리(메트)아크릴레이트 수지, 폴리스티렌 수지, 폴리아미드 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아크릴로니트릴 수지, 폴리프로필렌 수지, 폴리에틸렌 수지, 폴리시클로올레핀 수지, 시클로올레핀코폴리머 수지 등의 폴리올레핀 수지, 폴리페닐렌설파이드 수지, 폴리염화비닐 수지, 폴리염화비닐리덴 수지, 폴리비닐알코올 수지 등을 들 수 있다. 기재 필름(12)의 고분자 재료는, 이들 중 1종만으로 구성되어 있어도 좋고, 2종 이상의 조합으로 구성되어 있어도 좋다. 이들 중에서는, 광학 특성이나 내구성 등의 관점에서, 폴리에틸렌테레프탈레이트 수지, 폴리이미드 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리(메트)아크릴레이트 수지, 폴리시클로올레핀 수지, 시클로올레핀코폴리머 수지가 보다 바람직하다.Examples of the polymer material of the base film 12 include polyester resins such as polyethylene terephthalate resin and polyethylene naphthalate resin, polycarbonate resin, poly(meth)acrylate resin, polystyrene resin, polyamide resin, polyimide resin, and polyacrylic resin. polyolefin resins such as ronitrile resin, polypropylene resin, polyethylene resin, polycycloolefin resin, cycloolefin copolymer resin, polyphenylene sulfide resin, polyvinyl chloride resin, polyvinylidene chloride resin, polyvinyl alcohol resin, etc. can The polymer material of the base film 12 may be comprised only by 1 type among these, and may be comprised in 2 or more types of combinations. Among these, polyethylene terephthalate resins, polyimide resins, polycarbonate resins, poly(meth)acrylate resins, polycycloolefin resins, and cycloolefin copolymer resins are more preferable from the viewpoints of optical properties and durability.

기재 필름(12)은, 상기 고분자 재료의 1종 또는 2종 이상을 포함하는 층을 포함하는 단층으로 구성되어 있어도 좋고, 상기 고분자 재료의 1종 또는 2종 이상을 포함하는 층과, 이 층과는 다른 고분자 재료의 1종 또는 2종 이상을 포함하는 층 등, 2층 이상의 층으로 구성되어 있어도 좋다.The base film 12 may be composed of a single layer including a layer containing one or two or more of the above-mentioned polymeric materials, and a layer containing one or two or more of the above-mentioned polymeric materials; may be composed of two or more layers, such as a layer containing one or two or more of different polymer materials.

제1 수지층(14)은, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함한다. 제1 수지층(14)은, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 화합물을 포함함으로써, 적층하는 투명 도전층의 밀착성이 우수하다. 또한, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 화합물이 자외선 경화성의 수지임으로써, 제1 수지층(14)의 내찰상성이 우수하다. 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지는, 하기의 식 (1)로 표시되는 구조를 갖는다.The 1st resin layer 14 contains the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which has a silsesquioxane skeleton. The 1st resin layer 14 is excellent in the adhesiveness of the transparent conductive layer laminated|stacked by including the compound which has a silsesquioxane skeleton. Moreover, when the compound which has a silsesquioxane skeleton is ultraviolet curable resin, it is excellent in the abrasion resistance of the 1st resin layer 14. Ultraviolet-curable resin which has silsesquioxane frame|skeleton has a structure represented by following formula (1).

(화학식 1)(Formula 1)

(R-SiO1.5)n (1)(R-SiO 1.5 )n (1)

식 (1) 중, n은, 2 이상의 정수이다. n으로서는, 2∼200의 정수가 바람직하고, 2∼150의 정수가 보다 바람직하고, 2∼100의 정수가 더욱 바람직하다. 식 (1) 중, R은 유기기이며, 복수의 R 중 적어도 일부는 자외선 반응성의 반응성기이다. 자외선 반응성의 반응성기로서는, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 알릴기, 비닐기 등의 에틸렌성 불포화 결합을 갖는 라디칼 중합형의 반응성기나 옥세타닐기 등의 카치온 중합형의 반응성기 등을 들 수 있다. 이들 중에서는, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 옥세타닐기가 보다 바람직하고, 아크릴로일기, 메타크릴로일기가, 내후성이나 광학적인 투명성이 우수하기 때문에, 특히 바람직하다. 즉, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 (메트)아크릴레이트가 특히 바람직하다. 또한, 본 명세서에 있어서 「(메트)아크릴레이트」는 「아크릴레이트 및 메타크릴레이트 중 적어도 한쪽」을 말한다. 「(메트)아크릴로일」은 「아크릴로일 및 메타크릴로일 중 적어도 한쪽」을 말한다. 「(메트)아크릴」은 「아크릴 및 메타크릴 중 적어도 한쪽」을 말한다.In formula (1), n is an integer of 2 or more. As n, the integer of 2-200 is preferable, the integer of 2-150 is more preferable, The integer of 2-100 is still more preferable. In Formula (1), R is an organic group, and at least one part of some R is an ultraviolet-reactive reactive group. Examples of the UV-reactive reactive group include a radical polymerization type reactive group having an ethylenically unsaturated bond such as an acryloyl group, a methacryloyl group, an allyl group, and a vinyl group, and a cationic polymerization type reactive group such as an oxetanyl group. have. Among these, an acryloyl group, a methacryloyl group, and an oxetanyl group are more preferable, and since an acryloyl group and a methacryloyl group are excellent in weather resistance and optical transparency, they are especially preferable. That is, the (meth)acrylate which has silsesquioxane skeleton is especially preferable. In addition, in this specification, "(meth)acrylate" means "at least one of an acrylate and a methacrylate." "(meth)acryloyl" means "at least one of acryloyl and methacryloyl." "(meth)acryl" means "at least one of an acryl and methacryl".

실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지의 작용기 당량은, 80∼10000 g/eq의 범위 내인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 100∼1000 g/eq의 범위 내, 더욱 바람직하게는 150∼300 g/eq의 범위 내이다. 작용기 당량이 이 범위이면, 자외선 경화성이 우수하다. 본 발명에 있어서, 작용기 당량은, 작용기 1 당량당의 질량(g)을 나타낸다. 또한, 상기 작용기란 자외선 반응성의 반응성기를 말한다.It is preferable that the functional group equivalent of the ultraviolet curable resin which has a silsesquioxane skeleton exists in the range of 80-10000 g/eq. More preferably, it exists in the range of 100-1000 g/eq, More preferably, it exists in the range of 150-300 g/eq. When the functional group equivalent is within this range, the ultraviolet curability is excellent. In the present invention, the functional group equivalent refers to the mass (g) per equivalent of the functional group. In addition, the functional group refers to a reactive group having UV reactivity.

실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지는, 경화 전이나 경화 후의 실세스퀴옥산 골격에 있어서, 수산기나 알콕시기를 포함하는 것이 바람직하다. 수산기나 알콕시기를 포함함으로써, 적층하는 투명 도전층의 밀착성이 향상한다. 실세스퀴옥산에는, 완전 바구니형 구조, 사다리형 구조, 랜덤 구조, 불완전 바구니형 구조 등이 있다. 완전 바구니형 구조나 사다리형 구조에는 수산기나 알콕시기가 포함되지 않지만, 랜덤 구조나 불완전 바구니형 구조에는 수산기나 알콕시기가 포함된다. 따라서, 실세스퀴옥산 골격의 일부 또는 전부가 랜덤 구조 또는 불완전 바구니형 구조인 것이 바람직하다.It is preferable that ultraviolet curable resin which has silsesquioxane skeleton contains a hydroxyl group and an alkoxy group in the silsesquioxane skeleton before hardening or after hardening. By including a hydroxyl group or an alkoxy group, the adhesiveness of the transparent conductive layer to laminate|stack improves. Silsesquioxane includes a complete cage structure, a ladder structure, a random structure, and an incomplete cage structure. A hydroxyl group or an alkoxy group is not contained in a complete cage structure or a ladder structure, but a hydroxyl group and an alkoxy group are contained in a random structure and an incomplete cage structure. Therefore, it is preferable that a part or all of a silsesquioxane skeleton has a random structure or an incomplete cage structure.

실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지로서는, 도아고세이 제조의 AC-SQ TA-100, MAC-SQ TM-100, AC-SQ SI-20, MAC-SQ SI-20, MAC-SQ HDM, OX-SQ TX-100, OX-SQ SI-20, OX-SQ HDX 등을 들 수 있다.As ultraviolet curable resin which has a silsesquioxane skeleton, Toagosei Co., Ltd. AC-SQ TA-100, MAC-SQ TM-100, AC-SQ SI-20, MAC-SQ SI-20, MAC-SQ HDM, OX -SQ TX-100, OX-SQ SI-20, OX-SQ HDX, etc. are mentioned.

제1 수지층(14)을 형성하는 경화성 조성물에는, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지에 더하여, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지가 포함되어 있어도 좋고, 포함되지 않아도 좋다. 또한, 비자외선 경화성 수지가 포함되어 있어도 좋고, 포함되지 않아도 좋다. 또한, 제1 수지층(14)을 형성하는 경화성 조성물에는, 광중합 개시제가 포함되어 있어도 좋다. 또한, 필요에 따라, 경화성 조성물에 첨가하는 첨가제 등이 포함되어 있어도 좋다. 이러한 첨가제로서는, 분산제, 레벨링제, 소포제, 요변제, 방오제, 항균제, 난연제, 슬립제, 무기 입자, 수지 입자 등을 들 수 있다. 또한, 필요에 따라, 용제가 포함되어 있어도 좋다.In addition to the ultraviolet curable resin which has a silsesquioxane skeleton, the ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane skeleton may be contained in the curable composition which forms the 1st resin layer 14, and it does not need to be contained. In addition, non-ultraviolet-ray-curable resin may or may not be contained. Moreover, the photoinitiator may be contained in the curable composition which forms the 1st resin layer 14. Moreover, the additive etc. which are added to a curable composition may be contained as needed. Examples of such additives include a dispersant, a leveling agent, an antifoaming agent, a thixotropic agent, an antifouling agent, an antibacterial agent, a flame retardant, a slip agent, inorganic particles, and resin particles. Moreover, a solvent may be contained as needed.

제1 수지층(14)을 형성하는 경화성 조성물에 있어서, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지의 함유량은, 경화성 조성물의 고형분 전량 기준으로, 0.5 질량% 이상인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 2 질량% 이상, 더욱 바람직하게는 4 질량% 이상이다. 경화성 조성물의 고형분은, 용제를 제외한 성분이다. 상기 함유량이 1 질량% 이상이면, 적층하는 투명 도전층의 밀착성이 보다 우수하다. 또한, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지의 함유량은, 경화성 조성물의 고형분 전량 기준으로, 100 질량%여도 좋다. 바람직하게는 98 질량% 이하이다. 함유량을 상기 범위로 함으로써 투명 도전층의 밀착성이 우수하며 내찰상성이 우수한 것으로 할 수 있다.The curable composition which forms the 1st resin layer 14 WHEREIN: It is preferable that content of the ultraviolet curable resin which has a silsesquioxane skeleton is 0.5 mass % or more on the basis of solid content whole quantity of a curable composition. More preferably, it is 2 mass % or more, More preferably, it is 4 mass % or more. The solid content of the curable composition is a component excluding the solvent. The adhesiveness of the transparent conductive layer to laminate|stack that the said content is 1 mass % or more is more excellent. In addition, 100 mass % may be sufficient as content of the ultraviolet curable resin which has silsesquioxane frame|skeleton on the basis of solid content whole quantity of a curable composition. Preferably it is 98 mass % or less. By making content into the said range, it can be made into the thing excellent in the adhesiveness of a transparent conductive layer and excellent in abrasion resistance.

실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지로서는, 자외선 반응성의 반응성기를 갖는다, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 모노머, 올리고머, 프리폴리머 등을 들 수 있다. 자외선 반응성의 반응성기로서는, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 알릴기, 비닐기 등의 에틸렌성 불포화 결합을 갖는 라디칼 중합형의 반응성기나 옥세타닐기 등의 양이온 중합형의 반응성기 등을 들 수 있다. 이들 중에서는, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 옥세타닐기가 보다 바람직하고, 아크릴로일기, 메타크릴로일기가 특히 바람직하다. 즉, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 (메트)아크릴레이트가 특히 바람직하다.As ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane frame|skeleton, the monomer, oligomer, prepolymer etc. which have an ultraviolet-reactive reactive group and do not have a silsesquioxane frame|skeleton are mentioned. Examples of the UV-reactive reactive group include a radical polymerization type reactive group having an ethylenically unsaturated bond such as an acryloyl group, a methacryloyl group, an allyl group, and a vinyl group, and a cationic polymerization type reactive group such as an oxetanyl group. have. Among these, an acryloyl group, a methacryloyl group, and an oxetanyl group are more preferable, and an acryloyl group and a methacryloyl group are especially preferable. That is, the (meth)acrylate which does not have silsesquioxane skeleton is especially preferable.

실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 (메트)아크릴레이트로서는, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는, 우레탄(메트)아크릴레이트, 실리콘(메트)아크릴레이트, 알킬(메트)아크릴레이트, 아릴(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 이들 중에서는, 유연성이 우수한 등의 관점에서, 우레탄(메트)아크릴레이트가 특히 바람직하다.Examples of (meth)acrylates not having a silsesquioxane skeleton include urethane (meth)acrylates, silicone (meth)acrylates, alkyl (meth)acrylates, and aryl (meth)acrylics that do not have silsesquioxane skeletons. rate etc. are mentioned. Among these, urethane (meth)acrylate is especially preferable from a viewpoint of being excellent in a softness|flexibility etc.

비자외선 경화성 수지로서는, 열가소성 수지, 열경화성 수지 등을 들 수 있다. 열가소성 수지로서는, 폴리에스테르 수지, 폴리에테르 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리아미드 수지 등을 들 수 있다. 열경화성 수지로서는, 불포화 폴리에스테르 수지, 에폭시 수지, 알키드 수지, 페놀 수지 등을 들 수 있다.As non-ultraviolet-curable resin, a thermoplastic resin, a thermosetting resin, etc. are mentioned. As a thermoplastic resin, a polyester resin, polyether resin, polyolefin resin, polyamide resin, etc. are mentioned. As a thermosetting resin, an unsaturated polyester resin, an epoxy resin, an alkyd resin, a phenol resin, etc. are mentioned.

광중합 개시제로서는, 알킬페논계, 아실포스핀옥사이드계, 옥심에스테르계 등의 광중합 개시제를 들 수 있다. 알킬페논계 광중합 개시제로서는, 2,2'-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-온, 1-히드록시-시클로헥실-페닐-케톤, 2-히드록시-2-메틸-1-페닐-프로판-1-온, 1-[4-(2-히드록시에톡시)-페닐]-2-히드록시-2-메틸-1-프로판-1-온, 2-히드록시-1-{4-[4-(2-히드록시-2-메틸-프로피오닐)-벤질]페닐}-2-메틸-프로판-1-온, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로판-1-온, 2-벤질메틸-2-(디메틸아미노)-1-(4-모르폴리노페닐)-1-부타논, 2-(디메틸아미노)-2-[(4-메틸페닐)메틸]-1-(4-모르폴리노페닐)-1-부타논, 2-(4-메틸벤질)-2-(디메틸아미노)-1-(4-모르폴리노페닐)-1-부타논, N,N-디메틸아미노아세토페논 등을 들 수 있다. 아실포스핀옥사이드계 광중합 개시제로서는, 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드, 비스(2,4,6-트리메틸벤조일)-페닐포스핀옥사이드, 비스(2,6-디메톡시벤조일)-2,4,4-트리메틸-펜틸포스핀옥사이드 등을 들 수 있다. 옥심에스테르계 광중합 개시제로서는, 1,2-옥탄디온, 1-[4-(페닐티오)페닐]-2-(O-벤조일옥심), 에타논-1-[9-에틸-6-(2-메틸벤조일)-9H-카르바졸3-일]-1-(O-아세틸옥심) 등을 들 수 있다. 광중합 개시제는, 이들 1종 단독으로 이용되어도 좋고, 2종 이상 조합되고 이용되어도 좋다.As a photoinitiator, photoinitiators, such as an alkylphenone type, an acyl phosphine oxide type, and an oxime ester type, are mentioned. Examples of the alkylphenone-based photopolymerization initiator include 2,2'-dimethoxy-1,2-diphenylethan-1-one, 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone, and 2-hydroxy-2-methyl-1-one. Phenyl-propan-1-one, 1-[4-(2-hydroxyethoxy)-phenyl]-2-hydroxy-2-methyl-1-propan-1-one, 2-hydroxy-1-{ 4-[4-(2-Hydroxy-2-methyl-propionyl)-benzyl]phenyl}-2-methyl-propan-1-one, 2-methyl-1-[4-(methylthio)phenyl]- 2-morpholinopropan-1-one, 2-benzylmethyl-2-(dimethylamino)-1-(4-morpholinophenyl)-1-butanone, 2-(dimethylamino)-2-[( 4-Methylphenyl)methyl]-1-(4-morpholinophenyl)-1-butanone, 2-(4-methylbenzyl)-2-(dimethylamino)-1-(4-morpholinophenyl)- 1-butanone, N,N-dimethylaminoacetophenone, etc. are mentioned. Examples of the acylphosphine oxide-based photopolymerization initiator include 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, bis(2,4,6-trimethylbenzoyl)-phenylphosphine oxide, and bis(2,6-dimethoxybenzoyl). -2,4,4-trimethyl-pentylphosphine oxide etc. are mentioned. Examples of the oxime ester photopolymerization initiator include 1,2-octanedione, 1-[4-(phenylthio)phenyl]-2-(O-benzoyloxime), ethanone-1-[9-ethyl-6-(2-) methylbenzoyl)-9H-carbazol 3-yl]-1-(O-acetyloxime); and the like. A photoinitiator may be used individually by these 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.

광중합 개시제의 함유량은, 경화성 조성물의 고형분 전량 기준으로, 0.1∼10 질량%의 범위로 하는 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 1∼5 질량%의 범위이다.It is preferable to make content of a photoinitiator into the range of 0.1-10 mass % on the basis of solid content whole quantity of a curable composition. More preferably, it is the range of 1-5 mass %.

무기 입자는, 예컨대 제1 수지층(14)에 표면 요철을 형성하거나, 제1 수지층(14)을 고굴절률로 조정하거나 할 목적으로 첨가된다. 또한, 수지 입자는, 예컨대 제1 수지층(14)에 표면 요철을 형성하거나 할 목적으로 첨가된다. 제1 수지층(14)에 표면 요철을 형성함으로써, 투명 도전층 형성용 기재를 롤형으로 감았을 때에, 표면과 이면이 접착하는 블로킹을 억제하기 쉽다. 제1 수지층(14)을 고굴절률로 조정함으로써, 적층하는 투명 도전층의 도전 패턴이 시인되기 어렵게 할 수 있다. 고굴절률이란, 측정 파장 589.3 ㎚에 있어서의 굴절률이 1.50 이상을 말하며, 바람직하게는 1.55∼1.80의 범위 내, 보다 바람직하게는 1.60∼1.70의 범위 내이다.An inorganic particle is added for the purpose of forming surface unevenness|corrugation in the 1st resin layer 14, or adjusting the 1st resin layer 14 to a high refractive index, for example. In addition, the resin particle is added for the purpose of forming surface unevenness|corrugation in the 1st resin layer 14, for example. When the base material for transparent conductive layer formation is wound in roll shape by forming the surface unevenness|corrugation in the 1st resin layer 14, it is easy to suppress the blocking which the surface and the back surface adhere|attach. By adjusting the 1st resin layer 14 to a high refractive index, it can make it difficult to visually recognize the conductive pattern of the transparent conductive layer laminated|stacked. A high refractive index means that the refractive index in measurement wavelength 589.3nm is 1.50 or more, Preferably it exists in the range of 1.55-1.80, More preferably, it exists in the range of 1.60-1.70.

제1 수지층(14)을 고굴절률로 광학 조정 가능한 무기 입자로서는, 티탄, 지르코늄, 주석, 아연, 규소, 니오븀, 알루미늄, 크롬, 마그네슘, 게르마늄, 갈륨, 안티몬, 백금 등의 금속의 산화물을 포함하는 금속 산화물 입자를 들 수 있다. 이들은, 광학 조정 가능한 무기 입자로서 1종 단독으로 이용되어도 좋고, 2종 이상 조합하여 이용되어도 좋다. 이들 중에서는, 고굴절률과 투명성의 양립이 우수한 등의 관점에서, 티탄산화물, 지르코늄산화물이 특히 바람직하다.Examples of inorganic particles capable of optically adjusting the first resin layer 14 to a high refractive index include oxides of metals such as titanium, zirconium, tin, zinc, silicon, niobium, aluminum, chromium, magnesium, germanium, gallium, antimony, and platinum. and metal oxide particles. These may be used individually by 1 type as inorganic particle which can be optically adjusted, and may be used in combination of 2 or more type. In these, a titanium oxide and a zirconium oxide are especially preferable from a viewpoint of being excellent in coexistence of a high refractive index and transparency, etc.

제1 수지층(14)에 표면 요철을 형성하는 무기 입자나 수지 입자의 종류는, 특별히 한정되지 않는다. 이러한 무기 입자로서는, 예컨대, 티탄, 지르코늄, 규소, 알루미늄, 칼슘 등의 금속의 산화물을 포함하는 금속 산화물 입자를 들 수 있다. 또한, 이러한 수지 입자로서는, 예컨대, (메트)아크릴 수지, 스티렌 수지, 스티렌-(메트)아크릴 수지, 우레탄 수지, 폴리아미드 수지, 실리콘 수지, 에폭시 수지, 페놀 수지, 폴리에틸렌 수지, 셀룰로오스 등의 수지를 포함하는 수지 입자를 들 수 있다.The kind of inorganic particle and resin particle which form the surface unevenness|corrugation in the 1st resin layer 14 is not specifically limited. Examples of such inorganic particles include metal oxide particles containing oxides of metals such as titanium, zirconium, silicon, aluminum, and calcium. In addition, as such resin particles, for example, a resin such as (meth)acrylic resin, styrene resin, styrene-(meth)acrylic resin, urethane resin, polyamide resin, silicone resin, epoxy resin, phenol resin, polyethylene resin, cellulose, etc. The resin particle contained is mentioned.

제1 수지층(14)에 표면 요철을 형성하기 위해서는, 무기 입자나 수지 입자의 평균 입자 직경은, 제1 수지층(14)의 두께 이상으로 하는 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 제1 수지층(14)의 두께의 1.1배 이상 20배 이하, 더욱 바람직하게는 제1 수지층(14)의 두께의 1.5배 이상 10배 이하, 특히 바람직하게는 제1 수지층(14)의 두께의 1.5배 이상 5배 이하이다. 평균 입자 직경은, JIS Z8825에 따른 레이저 회절·산란법에 따라 얻어지는 체적 기준의 평균 산술값이다.In order to form the surface unevenness|corrugation in the 1st resin layer 14, it is preferable to make the average particle diameter of an inorganic particle or resin particle into the thickness of the 1st resin layer 14 or more. More preferably, it is 1.1 times or more and 20 times or less the thickness of the 1st resin layer 14, More preferably, it is 1.5 times or more and 10 times or less the thickness of the 1st resin layer 14, Especially preferably, it is 1st resin layer. It is 1.5 times or more and 5 times or less of the thickness of (14). The average particle diameter is an average arithmetic value on a volume basis obtained by a laser diffraction/scattering method according to JIS Z8825.

제1 수지층(14)의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 막의 연속성이 우수한 등의 관점에서, 0.005 ㎛ 이상인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 0.010 ㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 0.020 ㎛ 이상이다. 한편, 제1 수지층(14)의 두께는, 기재 필름(12)과의 열수축차에 기인하는 컬이 억제되기 쉬운 등의 관점에서, 10 ㎛ 이하인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 5 ㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 1 ㎛ 이하이다. 제1 수지층(14)의 두께는, 두께 방향에 있어서 무기 입자나 수지 입자가 존재하지 않는 부분에 있어서의 비교적 평활한 부분의 두께이다.Although the thickness of the 1st resin layer 14 is not specifically limited, From a viewpoint of being excellent in continuity of a film|membrane, it is preferable that it is 0.005 micrometer or more. More preferably, it is 0.010 micrometer or more, More preferably, it is 0.020 micrometer or more. On the other hand, it is preferable that the thickness of the 1st resin layer 14 is 10 micrometers or less from a viewpoint of being easy to suppress the curl resulting from the difference of thermal contraction with the base film 12. More preferably, it is 5 micrometers or less, More preferably, it is 1 micrometer or less. The thickness of the 1st resin layer 14 is the thickness of the comparatively smooth part in the part in which an inorganic particle or a resin particle does not exist in the thickness direction.

제1 수지층(14)의 표면 요철이 형성되어 있는 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 투명 도전층 형성용 기재의 표면과 이면이 접착하는 블로킹을 억제하기 쉬운 등의 관점에서, 0.1∼130 ㎚의 범위 내인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 0.5∼50 ㎚의 범위 내, 더욱 바람직하게는 2∼20 ㎚의 범위 내이다.The arithmetic mean roughness Ra of the surface on which the surface irregularities of the first resin layer 14 are formed is 0.1 to 130 from the viewpoint of easily suppressing the adhesion between the surface and the back surface of the base material for forming a transparent conductive layer. It is preferable to exist in the range of nm. More preferably, it exists in the range of 0.5-50 nm, More preferably, it exists in the range of 2-20 nm.

그리고, 블로킹을 억제하면서, 헤이즈의 상승을 억제하고, 투명성이 보다 우수한 등의 관점에서, 상기 평균 입자 직경의 범위 내, 상기 평균 산술 거칠기의 범위 내에 있어서, 무기 입자나 수지 입자의 분포 밀도는, 100∼2000개/㎟의 범위 내로 하는 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 100∼1000개/㎟의 범위 내이다.And, from the viewpoint of suppressing the rise of haze while suppressing blocking and more excellent transparency, within the range of the average particle diameter and within the range of the average arithmetic roughness, the distribution density of inorganic particles or resin particles is, It is preferable to set it in the range of 100-2000 pieces/mm<2>. More preferably, it exists in the range of 100-1000 pieces/mm<2>.

경화성 조성물에 있어서 이용되는 용제로서는, 에틸렌글리콜모노메틸에테르(EGM), 프로필렌글리콜모노메틸에테르(PGM), 디에틸렌글리콜모노부틸에테르 등의 알코올계 용제나, 메틸에틸케톤(MEK), 메틸이소부틸케톤(MIBK), 시클로헥사논, 아세톤 등의 케톤계 용제, 톨루엔, 크실렌 등의 방향족계 용제, N-메틸피롤리돈, 아세트아미드, 디메틸포름아미드 등의 아미드계 용제 등을 들 수 있다. 이들은, 용제로서 1종 단독으로 이용되어도 좋고, 2종 이상 조합하여 이용되어도 좋다.Examples of the solvent used in the curable composition include alcohol solvents such as ethylene glycol monomethyl ether (EGM), propylene glycol monomethyl ether (PGM), and diethylene glycol monobutyl ether, methyl ethyl ketone (MEK), and methyl isobutyl Ketone solvents, such as ketone (MIBK), cyclohexanone, and acetone, aromatic solvents, such as toluene and xylene, amide solvents, such as N-methylpyrrolidone, acetamide, dimethylformamide, etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type as a solvent, and may be used in combination of 2 or more type.

경화성 조성물의 고형분 농도(용제 이외의 성분의 농도)는, 도공성, 막 두께 등을 고려하여 적절하게 정하면 좋다. 예컨대, 1∼90 질량%, 1.5∼80 질량%, 2∼70 질량% 등으로 하면 좋다.The solid content concentration (concentration of components other than the solvent) of the curable composition may be appropriately determined in consideration of coatability, film thickness, and the like. For example, it is good to set it as 1-90 mass %, 1.5-80 mass %, 2-70 mass %, etc.

투명 도전층 형성용 기재(10)는, 제1 수지층(14)을 형성하는 경화성 조성물을 기재 필름(12)의 면 상에 도공하고, 필요에 따라 건조 후, 자외선 조사에 의해 경화시킴으로써 제조할 수 있다. 이때, 기재 필름(12)과 제1 수지층(14)의 밀착성을 향상시키기 위해, 기재 필름(12)의 표면에는, 도공 전에 표면 처리가 실시되어도 좋다. 표면 처리로서는, 코로나 처리, 플라즈마 처리, 열풍 처리, 오존 처리, 자외선 처리 등을 들 수 있다.The base material 10 for forming a transparent conductive layer is prepared by coating the curable composition forming the first resin layer 14 on the surface of the base film 12, drying it if necessary, and curing it by UV irradiation. can At this time, in order to improve the adhesiveness of the base film 12 and the 1st resin layer 14, the surface of the base film 12 may be surface-treated before coating. Examples of the surface treatment include corona treatment, plasma treatment, hot air treatment, ozone treatment, and ultraviolet treatment.

도공에는, 예컨대, 리버스 그라비아 코트법, 다이렉트 그라비아 코트법, 다이 코트법, 바 코트법, 와이어 바 코트법, 롤 코트법, 스핀 코트법, 딥 코트법, 스프레이 코트법, 나이프 코트법, 키스 코트법 등의 각종 코팅법이나, 잉크젯법, 오프셋 인쇄, 스크린 인쇄, 플렉소 인쇄 등의 각종 인쇄법을 이용하여 행할 수 있다.For coating, for example, a reverse gravure coating method, a direct gravure coating method, a die coating method, a bar coating method, a wire bar coating method, a roll coating method, a spin coating method, a dip coating method, a spray coating method, a knife coating method, a kiss coating method It can carry out using various coating methods, such as a method, and various printing methods, such as an inkjet method, an offset printing, screen printing, flexographic printing.

건조 공정은, 도공액에 이용한 용제 등을 제거할 수 있으면 특별히 한정되지 않지만, 50∼150℃의 온도에서 10초∼180초 정도 행하는 것이 바람직하다. 특히, 건조 온도는, 50∼120℃가 바람직하다.Although a drying process will not be specifically limited if the solvent etc. used for the coating liquid can be removed, It is preferable to perform for about 10 second - 180 second at the temperature of 50-150 degreeC. In particular, as for the drying temperature, 50-120 degreeC is preferable.

자외선 조사에는, 고압 수은 램프, 무전극(마이크로파 방식) 램프, 크세논 램프, 메탈 할라이드 램프, 그 외 임의의 자외선 조사 장치를 이용할 수 있다. 자외선 조사는, 필요에 따라, 질소 등의 불활성 가스 분위기 하에서 행하여도 좋다. 자외선 조사량은, 특별히 한정되지 않지만, 50∼800 mJ/㎠가 바람직하고, 100∼300 mJ/㎠가 보다 바람직하다.A high pressure mercury lamp, an electrodeless (microwave system) lamp, a xenon lamp, a metal halide lamp, other arbitrary ultraviolet irradiation apparatuses can be used for ultraviolet irradiation. Ultraviolet irradiation may be performed in an inert gas atmosphere, such as nitrogen, as needed. Although the ultraviolet irradiation amount is not specifically limited, 50-800 mJ/cm<2> is preferable and 100-300 mJ/cm<2> is more preferable.

이상의 구성의 투명 도전층 형성용 기재(10)에 따르면, 기재 필름(12)의 면 상에 형성된 제1 수지층(14)이 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함함으로써, 적층하는 투명 도전층의 밀착성이 우수하며 내찰상성이 우수하다.According to the substrate 10 for forming a transparent conductive layer having the above configuration, the first resin layer 14 formed on the surface of the substrate film 12 is a curable composition containing an ultraviolet curable resin having a silsesquioxane skeleton. By including the cargo, the adhesiveness of the transparent conductive layer to be laminated is excellent and the scratch resistance is excellent.

본 발명에 따른 투명 도전층 형성용 기재는, 제1 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(10)의 구성에 한정되지 않는다. 이하에, 본 발명에 따른 투명 도전층 형성용 기재의 다른 실시형태에 대해서 설명한다.The base material for transparent conductive layer formation which concerns on this invention is not limited to the structure of the base material 10 for transparent conductive layer formation which concerns on 1st Embodiment. Below, another embodiment of the base material for transparent conductive layer formation which concerns on this invention is demonstrated.

도 2에는, 제2 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(20)를 나타내고 있다. 제2 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(20)는, 기재 필름(12)과, 기재 필름(12)의 면 상에 형성된 제2 수지층(16)과, 제2 수지층(16)의 면 상에 형성된 제1 수지층(14)을 갖는다. 제2 수지층(16)은, 기재 필름(12)에 접하고 있고, 제1 수지층(14)은, 제2 수지층(16)에 접하고 있다. 제1 수지층(14)은, 기재 필름(12)의 한쪽의 면 상에만 가지고 있다. 투명 도전층 형성용 기재(20)는, 기재 필름(12) 측으로부터 순서대로, 기재 필름(12), 제2 수지층(16), 제1 수지층(14)을 가지고 있다.In FIG. 2, the base material 20 for transparent conductive layer formation which concerns on 2nd Embodiment is shown. The base material 20 for transparent conductive layer formation which concerns on 2nd Embodiment is the base film 12, the 2nd resin layer 16 formed on the surface of the base film 12, and the 2nd resin layer 16 It has a 1st resin layer 14 formed on the surface of The second resin layer 16 is in contact with the base film 12 , and the first resin layer 14 is in contact with the second resin layer 16 . The 1st resin layer 14 has only on one side of the base film 12. The base material 20 for transparent conductive layer formation has the base film 12, the 2nd resin layer 16, and the 1st resin layer 14 in order from the base film 12 side.

제2 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(20)는, 제1 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(10)와 비교하여, 기재 필름(12)과 제1 수지층(14) 사이에 제2 수지층(16)을 갖는 점이 상이하고, 이 이외에 대해서는 제1 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(10)와 동일하며, 동일한 구성에 대해서는 그 설명을 생략한다.The base material 20 for transparent conductive layer formation which concerns on 2nd Embodiment is compared with the base material 10 for transparent conductive layer formation which concerns on 1st Embodiment, Between the base film 12 and the 1st resin layer 14 It is different from the point which has the 2nd resin layer 16, and about this is the same as that of the base material 10 for transparent conductive layer formation which concerns on 1st Embodiment, About the same structure, the description is abbreviate|omitted.

제2 수지층(16)은, 기재 필름(12)과 제1 수지층(14) 사이에 배치되어 있고, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함한다. 제2 수지층(16)을 형성하기 위한 경화성 조성물에는, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지는 포함되지 않는다.The 2nd resin layer 16 is arrange|positioned between the base film 12 and the 1st resin layer 14, and contains the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane skeleton. . The curable composition for forming the 2nd resin layer 16 does not contain the ultraviolet curable resin which has a silsesquioxane skeleton.

실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지로서는, 자외선 반응성의 반응성기를 갖는, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 모노머, 올리고머, 프리폴리머 등을 들 수 있다. 자외선 반응성의 반응성기로서는, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 알릴기, 비닐기 등의 에틸렌성 불포화 결합을 갖는 라디칼 중합형의 반응성기나 옥세타닐기 등의 카치온 중합형의 반응성기 등을 들 수 있다. 이들 중에서는, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 옥세타닐기가 보다 바람직하고, 아크릴로일기, 메타크릴로일기가 특히 바람직하다. 즉, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 (메트)아크릴레이트가 특히 바람직하다.As ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane skeleton, the monomer, oligomer, prepolymer etc. which have an ultraviolet-reactive reactive group and do not have a silsesquioxane skeleton are mentioned. Examples of the UV-reactive reactive group include a radical polymerization type reactive group having an ethylenically unsaturated bond such as an acryloyl group, a methacryloyl group, an allyl group, and a vinyl group, and a cationic polymerization type reactive group such as an oxetanyl group. have. Among these, an acryloyl group, a methacryloyl group, and an oxetanyl group are more preferable, and an acryloyl group and a methacryloyl group are especially preferable. That is, the (meth)acrylate which does not have silsesquioxane skeleton is especially preferable.

실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 (메트)아크릴레이트로서는, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는, 우레탄(메트)아크릴레이트, 실리콘(메트)아크릴레이트, 알킬(메트)아크릴레이트, 아릴(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 이들 중에서는, 유연성이 우수한 등의 관점에서, 우레탄(메트)아크릴레이트가 특히 바람직하다. 제2 수지층(16)을 형성하기 위한 경화성 조성물이 자외선 경화성 수지로서 우레탄(메트)아크릴레이트를 포함하는 경우에는, 예컨대 기재 필름(12)이 폴리시클로올레핀이나 시클로올레핀코폴리머 등으로 형성되어, 비교적 깨지기 쉬운 것이라도, 기재 필름(12)의 균열을 억제하기 쉽다.Examples of (meth)acrylates not having a silsesquioxane skeleton include urethane (meth)acrylates, silicone (meth)acrylates, alkyl (meth)acrylates, and aryl (meth)acrylics that do not have silsesquioxane skeletons. rate etc. are mentioned. Among these, urethane (meth)acrylate is especially preferable from a viewpoint of being excellent in a softness|flexibility etc. When the curable composition for forming the second resin layer 16 contains urethane (meth)acrylate as an ultraviolet curable resin, for example, the base film 12 is formed of polycycloolefin or cycloolefin copolymer, etc. Even if it is a comparatively fragile thing, it is easy to suppress the crack of the base film 12.

제2 수지층(16)은, 하드 코트층인 것이 바람직하다. 이 관점에서, 연필 경도가 2B∼6H의 범위 내인 것이 바람직하다. 연필 경도는, JIS K5600-5-4에 준거하여 측정할 수 있다. 제2 수지층(16)은, 자외선 경화성 수지를 포함하는 조성물로 형성됨으로써, 상기 연필 경도를 만족하기 쉽다.It is preferable that the 2nd resin layer 16 is a hard-coat layer. It is preferable that pencil hardness exists in the range of 2B-6H from this viewpoint. Pencil hardness can be measured based on JISK5600-5-4. The 2nd resin layer 16 is easy to satisfy|fill the said pencil hardness by forming with the composition containing an ultraviolet curable resin.

제2 수지층(16)을 형성하는 경화성 조성물에는, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지에 더하여, 비자외선 경화성 수지가 포함되어 있어도 좋고, 포함되지 않아도 좋다. 또한, 제2 수지층(16)을 형성하는 경화성 조성물에는, 광중합 개시제가 포함되어 있어도 좋다. 또한, 필요에 따라, 경화성 조성물에 첨가하는 첨가제 등이 포함되어 있어도 좋다. 이러한 첨가제로서는, 분산제, 레벨링제, 소포제, 요변제, 방오제, 항균제, 난연제, 슬립제, 무기 입자, 수지 입자 등을 들 수 있다. 또한, 필요에 따라, 용제가 포함되어 있어도 좋다. 비자외선 경화성 수지, 광중합 개시제, 용제는, 제1 수지층(14)을 형성하는 경화성 조성물에 있어서 기재한 것에서 적절하게 선택할 수 있다.In addition to the ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane skeleton, the non-ultraviolet-curable resin may be contained in the curable composition which forms the 2nd resin layer 16, and may not be contained. Moreover, the photoinitiator may be contained in the curable composition which forms the 2nd resin layer 16. As shown in FIG. Moreover, the additive etc. which are added to a curable composition may be contained as needed. Examples of such additives include a dispersant, a leveling agent, an antifoaming agent, a thixotropic agent, an antifouling agent, an antibacterial agent, a flame retardant, a slip agent, an inorganic particle, and a resin particle. Moreover, a solvent may be contained as needed. Non-ultraviolet-ray-curable resin, a photoinitiator, and a solvent can be suitably selected from what was described in the curable composition which forms the 1st resin layer 14.

무기 입자는, 예컨대 제1 수지층(14)에 표면 요철을 형성하거나, 제2 수지층(16)을 고굴절률로 조정하거나 할 목적으로 첨가된다. 또한, 수지 입자는, 예컨대 제1 수지층(14)에 표면 요철을 형성하거나 할 목적으로 첨가된다. 제1 수지층(14)에 표면 요철을 형성함으로써, 투명 도전층 형성용 기재를 롤형으로 감았을 때에, 표면과 이면이 접착하는 블로킹을 억제하기 쉽다. 제2 수지층(16)을 고굴절률로 조정하며 제1 수지층(14)을 저굴절률로 조정함으로써, 적층하는 투명 도전층의 도전 패턴을 시인되기 어렵게 할 수 있다. 고굴절률이란, 측정 파장 589.3 ㎚에 있어서의 굴절률이 1.50 이상을 말하며, 바람직하게는 1.55∼1.80의 범위 내, 보다 바람직하게는 1.60∼1.70의 범위 내이다. 저굴절률이란, 측정 파장 589.3 ㎚에 있어서의 굴절률이 1.50 미만을 말하며, 바람직하게는 1.30∼1.50의 범위 내, 더욱 바람직하게는 1.40∼1.50의 범위 내이다.An inorganic particle is added for the purpose of forming surface unevenness|corrugation in the 1st resin layer 14, or adjusting the 2nd resin layer 16 to high refractive index, for example. In addition, the resin particle is added for the purpose of forming surface unevenness|corrugation in the 1st resin layer 14, for example. When the base material for transparent conductive layer formation is wound in roll shape by forming the surface unevenness|corrugation in the 1st resin layer 14, it is easy to suppress the blocking which adhere|attaches the surface and the back surface. By adjusting the 2nd resin layer 16 to a high refractive index and adjusting the 1st resin layer 14 to a low refractive index, it can make it difficult to visually recognize the electrically conductive pattern of the transparent conductive layer laminated|stacked. A high refractive index means that the refractive index in measurement wavelength 589.3nm is 1.50 or more, Preferably it exists in the range of 1.55-1.80, More preferably, it exists in the range of 1.60-1.70. A low refractive index means that the refractive index in 589.3 nm of measurement wavelengths is less than 1.50, Preferably it exists in the range of 1.30-1.50, More preferably, it exists in the range of 1.40-1.50.

제2 수지층(16)을 고굴절률로 광학 조정 가능한 무기 입자로서는, 티탄, 지르코늄, 주석, 아연, 규소, 니오븀, 알루미늄, 크롬, 마그네슘, 게르마늄, 갈륨, 안티몬, 백금 등의 금속의 산화물을 포함하는 금속 산화물 입자를 들 수 있다. 이들은, 광학 조정 가능한 무기 입자로서 1종 단독으로 이용되어도 좋고, 2종 이상 조합하여 이용되어도 좋다. 이들 중에서는, 고굴절률과 투명성의 양립이 우수한 등의 관점에서, 티탄산화물, 지르코늄산화물이 특히 바람직하다.Examples of inorganic particles capable of optically adjusting the second resin layer 16 to a high refractive index include oxides of metals such as titanium, zirconium, tin, zinc, silicon, niobium, aluminum, chromium, magnesium, germanium, gallium, antimony, and platinum. and metal oxide particles. These may be used individually by 1 type as inorganic particle which can be optically adjusted, and may be used in combination of 2 or more type. In these, a titanium oxide and a zirconium oxide are especially preferable from a viewpoint of being excellent in coexistence of a high refractive index and transparency, etc.

한편, 제1 수지층(14)을 저굴절률로 광학 조정 가능한 무기 입자로서는, 불화마그네슘, 실리카, 실세스퀴옥산, 불화칼슘 등의 입자를 들 수 있다. 이들 입자는, 저굴절률로 하기 쉬운 등의 관점에서, 중공 구조인 것이 보다 바람직하다.On the other hand, as an inorganic particle which can optically adjust the 1st resin layer 14 with a low refractive index, particle|grains, such as magnesium fluoride, a silica, a silsesquioxane, a calcium fluoride, are mentioned. It is more preferable that these particle|grains have a hollow structure from a viewpoint, such as being easy to set it as a low refractive index.

제2 수지층(16)을 형성하는 경화성 조성물에 첨가하는 입자로서, 제1 수지층(14)에 표면 요철을 형성하는 무기 입자나 수지 입자의 종류는, 제1 수지층(14)을 형성하는 경화성 조성물에 있어서 기재한 것으로부터 적절하게 선택할 수 있다. 또한, 경화성 조성물의 고형분 농도는, 제1 수지층(14)을 형성하는 경화성 조성물과 마찬가지로 조정할 수 있다.As particles added to the curable composition for forming the second resin layer 16 , the types of inorganic particles and resin particles that form surface asperities in the first resin layer 14 are selected from those that form the first resin layer 14 . It can select suitably from what was described in the curable composition. In addition, the solid content concentration of a curable composition can be adjusted similarly to the curable composition which forms the 1st resin layer 14.

제1 수지층(14)에 표면 요철을 형성하기 위해서는, 무기 입자나 수지 입자의 평균 입자 직경은, 제1 수지층(14)과 제2 수지층(16)의 합계의 두께 이상으로 하는 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 제1 수지층(14)과 제2 수지층(16)의 합계의 두께의 1.1배 이상 20배 이하, 더욱 바람직하게는 제1 수지층(14)과 제2 수지층(16)의 합계의 두께의 1.5배 이상 10배 이하, 특히 바람직하게는 제1 수지층(14)과 제2 수지층(16)의 합계의 두께의 1.5배 이상 5배 이하이다.In order to form the surface unevenness|corrugation in the 1st resin layer 14, it is preferable that the average particle diameter of an inorganic particle or a resin particle sets it as the thickness of the sum total of the 1st resin layer 14 and the 2nd resin layer 16 or more. Do. More preferably, it is 1.1 times or more and 20 times or less of the total thickness of the 1st resin layer 14 and the 2nd resin layer 16, More preferably, the 1st resin layer 14 and the 2nd resin layer 16 are more preferable. 1.5 times or more and 10 times or less of the total thickness of , particularly preferably 1.5 times or more and 5 times or less of the total thickness of the first resin layer 14 and the second resin layer 16 .

제2 수지층(16)의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 막의 연속성이 우수한 등의 관점에서, 0.005 ㎛ 이상인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 0.010 ㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 0.10 ㎛ 이상이다. 한편, 제2 수지층(16)의 두께는, 기재 필름(12)과의 열수축차에 기인하는 컬이 억제되기 쉬운 등의 관점에서, 10 ㎛ 이하인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 5 ㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 1 ㎛ 이하이다. 또한, 기재 필름(12)과의 열수축차에 기인하는 컬이 억제되기 쉬운 등의 관점에서, 제1 수지층(14)과 제2 수지층(16)의 합계의 두께는, 10 ㎛ 이하인 것이 바람직하다. 제2 수지층(16)의 두께는, 두께 방향에 있어서 무기 입자나 수지 입자가 존재하지 않는 부분에 있어서의 비교적 평활한 부분의 두께이다.Although the thickness of the 2nd resin layer 16 is not specifically limited, From a viewpoint of being excellent in the continuity of a film|membrane, it is preferable that it is 0.005 micrometer or more. More preferably, it is 0.010 micrometer or more, More preferably, it is 0.10 micrometer or more. On the other hand, it is preferable that the thickness of the 2nd resin layer 16 is 10 micrometers or less from a viewpoint of being easy to suppress the curl resulting from the difference of thermal contraction with the base film 12. More preferably, it is 5 micrometers or less, More preferably, it is 1 micrometer or less. Moreover, it is preferable that the total thickness of the 1st resin layer 14 and the 2nd resin layer 16 is 10 micrometers or less from a viewpoint of being easy to suppress the curl resulting from the difference of thermal contraction with the base film 12. Do. The thickness of the 2nd resin layer 16 is the thickness of the comparatively smooth part in the part in which an inorganic particle or a resin particle does not exist in the thickness direction.

제1 수지층(14)의 표면 요철이 형성되어 있는 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 블로킹 등의 관점에서, 0.1∼130 ㎚의 범위 내인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 0.5∼50 ㎚의 범위 내, 더욱 바람직하게는 2∼20 ㎚의 범위 내이다.It is preferable that arithmetic mean roughness Ra of the surface in which the surface unevenness|corrugation of the 1st resin layer 14 is formed exists in the range of 0.1-130 nm from a viewpoint of a blocking etc. More preferably, it exists in the range of 0.5-50 nm, More preferably, it exists in the range of 2-20 nm.

그리고, 블로킹성을 유지하면서, 헤이즈의 상승을 억제하여, 투명성이 보다 우수한 등의 관점에서, 상기 평균 입자 직경의 범위 내, 상기 평균 산술 거칠기의 범위 내에 있어서, 무기 입자나 수지 입자의 분포 밀도는, 100∼2000개/㎟의 범위 내로 하는 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 100∼1000개/㎟의 범위 내이다.And, from the viewpoint of suppressing the rise of haze while maintaining the blocking property and improving the transparency, etc., within the range of the average particle diameter and within the range of the average arithmetic roughness, the distribution density of inorganic particles or resin particles is , it is preferable to set it in the range of 100-2000 pieces/mm<2>. More preferably, it exists in the range of 100-1000 pieces/mm<2>.

투명 도전층 형성용 기재(20)는, 기재 필름(12)의 면 상에 제2 수지층(16)을 형성하는 경화성 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조 후, 자외선 조사에 의해 경화시켜, 기재 필름(12)의 면 상에 제2 수지층(16)을 형성한 후, 제2 수지층(16)의 면 상에 제1 수지층(14)을 형성하는 경화성 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조 후, 자외선 조사에 의해 경화시켜, 제2 수지층(16)의 면 상에 제1 수지층(14)을 형성함으로써 제조할 수 있다. 이때, 기재 필름(12)과 제2 수지층(16)의 밀착성을 향상시키기 위해, 기재 필름(12)의 표면에는, 도공 전에 표면 처리가 실시되어도 좋다. 표면 처리로서는, 코로나 처리, 플라즈마 처리, 열풍 처리, 오존 처리, 자외선 처리 등을 들 수 있다.The base material 20 for transparent conductive layer formation coats the curable composition which forms the 2nd resin layer 16 on the surface of the base film 12, and after drying as needed, it is made to harden|cure by ultraviolet irradiation, After forming the 2nd resin layer 16 on the surface of the film 12, the curable composition which forms the 1st resin layer 14 on the surface of the 2nd resin layer 16 is coated, and if necessary It can manufacture by hardening|curing by ultraviolet irradiation after drying and forming the 1st resin layer 14 on the surface of the 2nd resin layer 16. At this time, in order to improve the adhesiveness of the base film 12 and the 2nd resin layer 16, the surface of the base film 12 may be surface-treated before coating. Examples of the surface treatment include corona treatment, plasma treatment, hot air treatment, ozone treatment, and ultraviolet treatment.

이상의 구성의 투명 도전층 형성용 기재(20)에 따르면, 기재 필름(12)의 면 상에 형성된 제1 수지층(14)이 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함함으로써, 적층하는 투명 도전층의 밀착성이 우수하며 내찰상성이 우수하다. 또한, 기재 필름(12)과 제1 수지층(14) 사이에, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제2 수지층(16)을 가짐으로써, 광학 조정 기능이나 블로킹 방지 기능의 설계가 용이해진다.According to the base material 20 for forming a transparent conductive layer having the above configuration, the first resin layer 14 formed on the surface of the base film 12 is a curable composition containing an ultraviolet curable resin having a silsesquioxane skeleton. By including the cargo, the adhesiveness of the transparent conductive layer to be laminated is excellent and the scratch resistance is excellent. Moreover, by having the 2nd resin layer 16 containing the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane skeleton between the base film 12 and the 1st resin layer 14, , the design of the optical adjustment function and the anti-blocking function becomes easy.

도 3에는 제3 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(30)를 나타내고 있다. 제3 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(30)는, 기재 필름(12)과, 기재 필름(12)의 한쪽의 면 상에 형성된 제2 수지층(16)과, 제2 수지층(16)의 면 상에 형성된 제1 수지층(14)과, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 형성된 제3 수지층(18)을 갖는다. 제2 수지층(16)은, 기재 필름(12)의 한쪽의 면에 접하고 있고, 제1 수지층(14)은, 제2 수지층(16)에 접하고 있다. 또한, 제3 수지층(18)은, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면에 접하고 있다. 제1 수지층(14)은, 기재 필름(12)의 한쪽의 면 상에만 가지고 있다. 투명 도전층 형성용 기재는, 제3 수지층(18) 측으로부터 순서대로, 제3 수지층(18), 기재 필름(12), 제2 수지층(16), 제1 수지층(14)을 가지고 있다.In FIG. 3, the base material 30 for transparent conductive layer formation which concerns on 3rd Embodiment is shown. The base material 30 for transparent conductive layer formation which concerns on 3rd Embodiment is the base film 12, the 2nd resin layer 16 formed on one side of the base film 12, and the 2nd resin layer ( It has the 1st resin layer 14 formed on the surface of 16), and the 3rd resin layer 18 formed on the other surface of the base film 12. The second resin layer 16 is in contact with one surface of the base film 12 , and the first resin layer 14 is in contact with the second resin layer 16 . Moreover, the 3rd resin layer 18 is in contact with the other surface of the base film 12. As shown in FIG. The 1st resin layer 14 has only on one side of the base film 12. The base material for transparent conductive layer formation is the 3rd resin layer 18, the base film 12, the 2nd resin layer 16, and the 1st resin layer 14 in order from the 3rd resin layer 18 side. Have.

제3 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(30)는, 제2 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(20)와 비교하여, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 제3 수지층(18)을 갖는 점이 상이하고, 이 이외에 대해서는 제2 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(20)와 동일하며, 동일한 구성에 대해서는 그 설명을 생략한다.The base material 30 for transparent conductive layer formation which concerns on 3rd Embodiment is 3rd on the other surface of the base film 12 compared with the base material 20 for transparent conductive layer formation which concerns on 2nd Embodiment. It is different from the point which has the resin layer 18, About this, it is the same as that of the base material 20 for transparent conductive layer formation which concerns on 2nd Embodiment, About the same structure, the description is abbreviate|omitted.

제3 수지층(18)은, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함한다. 제3 수지층(18)을 형성하는 경화성 조성물은, 제2 수지층(16)을 형성하는 경화성 조성물과 동일한 조성물로 할 수 있다.The 3rd resin layer 18 contains the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which does not have silsesquioxane frame|skeleton. The curable composition which forms the 3rd resin layer 18 can be made into the same composition as the curable composition which forms the 2nd resin layer 16. As shown in FIG.

제3 수지층(18)은, 하드 코트층인 것이 바람직하다. 이 관점에서, 연필 경도가 2B∼6H의 범위 내인 것이 바람직하다. 연필 경도는, JIS K5600-5-4에 준거하여 측정할 수 있다. 제3 수지층(18)은, 자외선 경화성 수지를 포함하는 조성물로 형성됨으로써, 상기 연필 경도를 만족하기 쉽다.It is preferable that the 3rd resin layer 18 is a hard-coat layer. It is preferable that pencil hardness exists in the range of 2B-6H from this viewpoint. Pencil hardness can be measured based on JISK5600-5-4. The 3rd resin layer 18 is easy to satisfy|fill the said pencil hardness by forming with the composition containing an ultraviolet curable resin.

제3 수지층(18)의 두께는, 특별히 한정되지 않으며, 제2 수지층(16)의 두께와 동일한 두께로 할 수 있다. 그리고, 제3 수지층(18)의 두께를 제2 수지층(16)의 두께 또는 제2 수지층(16)과 제1 수지층(14)의 합계의 두께에 가까운 두께(예컨대 ±10% 이내)로 함으로써, 경화 시의 수축에 따른 컬을 억제하기 쉽다.The thickness of the 3rd resin layer 18 is not specifically limited, It can be set as the thickness same as the thickness of the 2nd resin layer 16. As shown in FIG. And the thickness of the 3rd resin layer 18 is close to the thickness of the 2nd resin layer 16 or the thickness of the sum total of the 2nd resin layer 16 and the 1st resin layer 14 (for example, within ±10%) By setting it as ), it is easy to suppress the curl accompanying shrinkage|contraction at the time of hardening.

투명 도전층 형성용 기재(30)는, 기재 필름(12)의 한쪽의 면 상에 제2 수지층(16)을 형성하는 경화성 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조 후, 자외선 조사에 의해 경화시켜, 기재 필름(12)의 한쪽의 면 상에 제2 수지층(16)을 형성한 후, 제2 수지층(16)의 면 상에 제1 수지층(14)을 형성하는 경화성 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조 후, 자외선 조사에 의해 경화시켜, 제2 수지층(16)의 면 상에 제1 수지층(14)을 형성하고, 또한, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 제3 수지층(18)을 형성하는 경화성 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조 후, 자외선 조사에 의해 경화시켜, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 제3 수지층(18)을 형성함으로써 제조할 수 있다. 이때, 기재 필름(12)과 제2 수지층(16)의 밀착성이나 기재 필름(12)과 제3 수지층(18)의 밀착성을 향상시키기 위해, 기재 필름(12)의 표면에는, 도공 전에 표면 처리가 실시되어도 좋다. 표면 처리로서는, 코로나 처리, 플라즈마 처리, 열풍 처리, 오존 처리, 자외선 처리 등을 들 수 있다.The base material 30 for forming a transparent conductive layer is coated with a curable composition for forming the second resin layer 16 on one surface of the base film 12, dried if necessary, and then cured by UV irradiation. After forming the 2nd resin layer 16 on one side of the base film 12, apply the curable composition which forms the 1st resin layer 14 on the surface of the 2nd resin layer 16, , After drying as needed, it is hardened by ultraviolet irradiation to form the 1st resin layer 14 on the surface of the 2nd resin layer 16, Furthermore, on the other surface of the base film 12 The curable composition which forms the 3rd resin layer 18 is coated, it is made to harden by ultraviolet irradiation after drying as needed, and the 3rd resin layer 18 is formed on the other surface of the base film 12. It can be manufactured by At this time, in order to improve the adhesiveness of the base film 12 and the 2nd resin layer 16, and the adhesiveness of the base film 12 and the 3rd resin layer 18, on the surface of the base film 12, the surface before coating. A treatment may be performed. Examples of the surface treatment include corona treatment, plasma treatment, hot air treatment, ozone treatment, and ultraviolet treatment.

이상의 구성의 투명 도전층 형성용 기재(30)에 따르면, 기재 필름(12)의 한쪽의 면 상에 형성된 제1 수지층(14)이 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함함으로써, 적층하는 투명 도전층의 밀착성이 우수하며 내찰상성이 우수하다. 또한, 기재 필름(12)과 제1 수지층(14) 사이에, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제2 수지층(16)을 가짐으로써, 광학 조정 기능이나 블로킹 방지 기능의 설계가 용이해진다. 또한, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제3 수지층(18)이 형성되어 있음으로써, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면측도 내찰상성이 우수하다.According to the base material 30 for transparent conductive layer formation of the above structure, the 1st resin layer 14 formed on one side of the base film 12 contains the ultraviolet curable resin which has a silsesquioxane skeleton. By including the cured product of , the adhesiveness of the transparent conductive layer to be laminated is excellent and the scratch resistance is excellent. Moreover, by having the 2nd resin layer 16 containing the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane skeleton between the base film 12 and the 1st resin layer 14, , the design of the optical adjustment function and the anti-blocking function becomes easy. Moreover, since the 3rd resin layer 18 containing the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane skeleton on the other surface of the base film 12 is formed, The other surface side of the film 12 is also excellent in scratch resistance.

도 4에는 제4 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(40)를 나타내고 있다. 제4 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(40)는, 기재 필름(12)과, 기재 필름(12)의 한쪽의 면 상에 형성된 제2 수지층(16)과, 제2 수지층(16)의 면 상에 형성된 제1 수지층(14)과, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 점착제층(22)을 통해 배치된 보호 필름(24)을 갖는다. 제2 수지층(16)은, 기재 필름(12)의 한쪽의 면에 접하고 있고, 제1 수지층(14)은, 제2 수지층(16)에 접하고 있다. 또한, 보호 필름(24)은, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면에 점착제층(22)을 통해 접하고 있다. 제1 수지층(14)은, 기재 필름(12)의 한쪽의 면 상에만 가지고 있다. 투명 도전층 형성용 기재(40)는, 보호 필름(24) 측으로부터 순서대로, 보호 필름(24), 점착제층(22), 기재 필름(12), 제2 수지층(16), 제1 수지층(14)을 가지고 있다.4, the base material 40 for transparent conductive layer formation which concerns on 4th Embodiment is shown. The base material 40 for transparent conductive layer formation which concerns on 4th Embodiment is the base film 12, the 2nd resin layer 16 formed on one side of the base film 12, and the 2nd resin layer ( It has the 1st resin layer 14 formed on the surface of 16, and the protective film 24 arrange|positioned through the adhesive layer 22 on the other surface of the base film 12. The second resin layer 16 is in contact with one surface of the base film 12 , and the first resin layer 14 is in contact with the second resin layer 16 . Moreover, the protective film 24 is in contact with the other surface of the base film 12 via the adhesive layer 22. As shown in FIG. The 1st resin layer 14 has only on one side of the base film 12. The base material 40 for transparent conductive layer formation is the protective film 24, the adhesive layer 22, the base film 12, the 2nd resin layer 16, and the 1st water in order from the protective film 24 side. It has a strata (14).

제4 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(40)는, 제2 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(20)와 비교하여, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 점착제층(22)을 통해 보호 필름(24)을 갖는 점이 상이하고, 이 이외에 대해서는 제2 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(20)와 동일하며, 동일한 구성에 대해서는 그 설명을 생략한다.The base material 40 for transparent conductive layer formation which concerns on 4th Embodiment is an adhesive layer on the other surface of the base film 12 compared with the base material 20 for transparent conductive layer formation which concerns on 2nd Embodiment. The point of having the protective film 24 through (22) is different, except for this, it is the same as that of the base material 20 for transparent conductive layer formation which concerns on 2nd Embodiment, and the description is abbreviate|omitted about the same structure.

보호 필름(24)은, 예컨대 롤프로세스 등으로 연속 가공하는 등의 취급 시에 있어서, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면에 상처가 나는 것을 억제할 수 있는 것이다. 보호 필름(24)은, 점착제층(22)을 통해 기재 필름(12)의 다른쪽의 면에 접착되어 있다. 보호 필름(24)은, 가공 후 등에 있어서는, 점착제층(22)과 함께 기재 필름(12)의 다른쪽의 면으로부터 박리된다. 이 때문에, 점착제층(22)은, 기재 필름(12)과 점착제층(22) 사이의 접착력보다 보호 필름(24)과 점착제층(22) 사이의 접착력 쪽이 강하고, 기재 필름(12)과 점착제층(22) 사이에서 계면 박리 가능한 접착력으로 조정된다.The protective film 24 can suppress damage to the other surface of the base film 12 at the time of handling, such as continuous processing by a roll process etc., for example. The protective film 24 is adhere|attached to the other surface of the base film 12 via the adhesive layer 22. As shown in FIG. The protective film 24 peels from the other surface of the base film 12 together with the adhesive layer 22 after a process etc. For this reason, in the adhesive layer 22, the adhesive force between the protective film 24 and the adhesive layer 22 is stronger than the adhesive force between the base film 12 and the adhesive layer 22, and the base film 12 and the adhesive The interfacial peelable adhesion between the layers 22 is adjusted.

보호 필름(24)을 구성하는 재료는, 기재 필름(12)을 구성하는 재료로서 예시한 것 등을 적절하게 선택할 수 있다. 보호 필름(24)을 형성하는 재료는, 특별히 한정되지 않지만, 가열 처리에 의한 컬의 억제에 우수한 등의 관점에서, 기재 필름(12)과 가열 수축률이나 선팽창 계수가 가까운 재료가 바람직하다. 예컨대, 기재 필름(12)과 동일하거나 동종의 재료인 것이 바람직하다. 동종이란, 예컨대, 폴리에스테르끼리, 폴리(메트)아크릴레이트끼리, 폴리아미드끼리 등을 나타낼 수 있다.As the material constituting the protective film 24 , those exemplified as the material constituting the base film 12 , etc. can be appropriately selected. Although the material which forms the protective film 24 is not specifically limited, From a viewpoint of being excellent in suppression of the curl by heat processing, etc., the material with heat shrinkage rate and linear expansion coefficient close to the base film 12 is preferable. For example, it is preferable that it is the same as or the same kind of material as the base film 12. The same type can represent, for example, polyesters, poly(meth)acrylates, polyamides, and the like.

보호 필름(24)의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 예컨대, 기재 필름(12)과 가열 수축률이나 선팽창 계수가 가까워지도록, 기재 필름(12)과 같은 정도의 두께이면 좋다. 구체적으로는, 예컨대, 2∼500 ㎛의 범위 내, 2∼200 ㎛의 범위 내로 할 수 있다.Although the thickness of the protective film 24 is not specifically limited, For example, what is necessary is just the thickness similar to the base film 12 so that the heat shrinkage rate and a coefficient of linear expansion may become close to the base film 12. Specifically, it can be set in the range of 2-500 micrometers, for example, in the range of 2-200 micrometers.

점착제층(22)을 형성하는 점착제는, 특별히 한정되지 않으며, 아크릴계 점착제, 실리콘계 점착제, 우레탄계 점착제 등을 적합하게 이용할 수 있다. 특히, 아크릴계 점착제는, 투명성이나 내열성이 우수하기 때문에, 적합하다. 아크릴계 점착제는, (메트)아크릴 중합체 및 가교제를 포함하는 점착제 조성물로 형성되는 것이 바람직하다.The adhesive which forms the adhesive layer 22 is not specifically limited, An acrylic adhesive, a silicone adhesive, a urethane adhesive, etc. can be used suitably. In particular, since it is excellent in transparency and heat resistance, an acrylic adhesive is suitable. It is preferable that the acrylic adhesive is formed from the adhesive composition containing a (meth)acrylic polymer and a crosslinking agent.

(메트)아크릴 중합체는, (메트)아크릴 모노머의 단독 중합체 또는 공중합체이다. (메트)아크릴 모노머로서는, 알킬기 함유 (메트)아크릴 모노머, 카르복실기 함유 (메트)아크릴 모노머, 수산기 함유 (메트)아크릴 모노머 등을 들 수 있다.A (meth)acrylic polymer is a homopolymer or copolymer of a (meth)acryl monomer. As a (meth)acryl monomer, an alkyl group containing (meth)acryl monomer, a carboxyl group containing (meth)acryl monomer, a hydroxyl group containing (meth)acryl monomer, etc. are mentioned.

알킬기 함유 (메트)아크릴 모노머로서는, 탄소수 2∼30의 알킬기를 갖는 (메트)아크릴 모노머를 들 수 있다. 탄소수 2∼30의 알킬기는, 직쇄형이어도 좋고, 분기쇄형이어도 좋고, 환형이어도 좋다. 알킬기 함유 (메트)아크릴 모노머로서는, 보다 구체적으로는, 예컨대, (메트)아크릴산이소스테아릴, (메트)아크릴산스테아릴, (메트)아크릴산라우릴, (메트)아크릴산도데실, (메트)아크릴산데실, (메트)아크릴산이소노닐, (메트)아크릴산노닐, (메트)아크릴산이소옥틸, (메트)아크릴산옥틸, (메트)아크릴산이소부틸, (메트)아크릴산n-부틸, (메트)아크릴산펜틸, (메트)아크릴산헥실, (메트)아크릴산시클로헥실, (메트)아크릴산2-에틸헥실, (메트)아크릴산프로필, (메트)아크릴산에틸, (메트)아크릴산메틸 등을 들 수 있다.As an alkyl-group containing (meth)acryl monomer, the (meth)acryl monomer which has a C2-C30 alkyl group is mentioned. The alkyl group having 2 to 30 carbon atoms may be linear, branched, or cyclic. As the alkyl group-containing (meth)acrylic monomer, more specifically, for example, isostearyl (meth)acrylate, stearyl (meth)acrylate, lauryl (meth)acrylate, dodecyl (meth)acrylate, decyl (meth)acrylate , (meth) acrylate isononyl, (meth) acrylate nonyl, (meth) acrylate isooctyl, (meth) acrylate octyl, (meth) acrylate isobutyl, (meth) acrylate n-butyl, (meth) acrylate pentyl, ( Hexyl meth)acrylate, cyclohexyl (meth)acrylate, 2-ethylhexyl (meth)acrylate, propyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, methyl (meth)acrylate, etc. are mentioned.

카르복실기 함유 (메트)아크릴 모노머로서는, (메트)아크릴산, (메트)아크릴산카르복시에틸, (메트)아크릴산카르복시펜틸 등을 들 수 있다. 카르복실기는, 알킬쇄의 말단에 위치하고 있어도 좋고, 알킬쇄의 중간에 위치하고 있어도 좋다.Examples of the carboxyl group-containing (meth)acrylic monomer include (meth)acrylic acid, carboxyethyl (meth)acrylate, and carboxypentyl (meth)acrylic acid. A carboxyl group may be located at the terminal of an alkyl chain, and may be located in the middle of an alkyl chain.

수산기 함유 (메트)아크릴 모노머로서는, (메트)아크릴산히드록시라우릴, (메트)아크릴산히드록시데실, (메트)아크릴산히드록시옥틸, (메트)아크릴산히드록시헥실, (메트)아크릴산히드록시부틸, (메트)아크릴산히드록시프로필, (메트)아크릴산히드록시에틸 등을 들 수 있다. 수산기는, 알킬쇄의 말단에 위치하고 있어도 좋고, 알킬쇄의 중간에 위치하고 있어도 좋다.Examples of the hydroxyl group-containing (meth)acrylic monomer include (meth)acrylic acid hydroxylauryl, (meth)acrylic acid hydroxydecyl, (meth)acrylic acid hydroxyoctyl, (meth)acrylic acid hydroxyhexyl, (meth)acrylic acid hydroxybutyl; (meth)acrylic-acid hydroxypropyl, (meth)acrylic-acid hydroxyethyl, etc. are mentioned. The hydroxyl group may be located at the terminal of an alkyl chain, and may be located in the middle of an alkyl chain.

(메트)아크릴 중합체를 형성하는 (메트)아크릴 모노머는, 상기 중 어느 1종이어도 좋고, 2종 이상의 조합이어도 좋다.Any one of the above types may be sufficient as the (meth)acryl monomer which forms a (meth)acrylic polymer, and 2 or more types of combination may be sufficient as it.

가교제로서는, 이소시아네이트계 가교제, 에폭시계 가교제, 금속 킬레이트계 가교제, 금속 알콕시드계 가교제, 카르보디이미드계 가교제, 옥사졸린계 가교제, 아지리딘계 가교제, 멜라민계 가교제 등을 들 수 있다. 가교제는, 이들 1종을 단독으로 이용하여도 좋고, 2종 이상을 조합시켜 이용하여도 좋다.Examples of the crosslinking agent include isocyanate crosslinking agents, epoxy crosslinking agents, metal chelate crosslinking agents, metal alkoxide crosslinking agents, carbodiimide crosslinking agents, oxazoline crosslinking agents, aziridine crosslinking agents, and melamine crosslinking agents. A crosslinking agent may be used individually by these 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

점착제 조성물에는, (메트)아크릴 중합체, 가교제 이외에, 그 외 첨가제를 포함하여도 좋다. 그 외의 첨가제로서는, 가교 촉진제, 가교 지연제, 점착성 부여 수지(태키파이어), 대전 방지제, 실란 커플링제, 가소제, 박리 조제, 안료, 염료, 습윤제, 증점제, 자외선 흡수제, 방부제, 산화 방지제, 금속 불활성제, 알킬화제, 난연제 등을 들 수 있다. 이들은 점착제의 용도나 사용 목적에 따라, 적절하게 선택하여 사용된다.The adhesive composition may contain other additives other than a (meth)acrylic polymer and a crosslinking agent. As other additives, crosslinking accelerator, crosslinking retarder, tackifying resin (tackifier), antistatic agent, silane coupling agent, plasticizer, peeling aid, pigment, dye, wetting agent, thickener, ultraviolet absorber, preservative, antioxidant, metal inert agents, alkylating agents, flame retardants, and the like. These are appropriately selected and used according to the purpose or purpose of use of the pressure-sensitive adhesive.

점착제층(22)의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 1∼10 ㎛의 범위 내인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 2∼7 ㎛의 범위 내이다.Although the thickness of the adhesive layer 22 is not specifically limited, It is preferable to exist in the range of 1-10 micrometers. More preferably, it exists in the range of 2-7 micrometers.

도 5에는 제5 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(50)를 나타내고 있다. 제5 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(50)는, 기재 필름(12)의 양쪽의 면 상에 제2 수지층(16)이 형성되고, 양쪽의 제2 수지층(16)의 면 상에 각각 제1 수지층(14)이 형성되어 있다. 제2 수지층(16)은, 기재 필름(12)에 접하고 있고, 제1 수지층(14)은, 제2 수지층(16)에 접하고 있다. 투명 도전층 형성용 기재(50)는, 제1 수지층(14) 측으로부터 순서대로, 제1 수지층(14), 제2 수지층(16), 기재 필름(12), 제2 수지층(16), 제1 수지층(14)을 가지고 있다.5, the base material 50 for transparent conductive layer formation which concerns on 5th Embodiment is shown. As for the base material 50 for transparent conductive layer formation which concerns on 5th Embodiment, the 2nd resin layer 16 is formed on both surfaces of the base film 12, The surface of the 2nd resin layer 16 of both sides. A first resin layer 14 is formed thereon, respectively. The second resin layer 16 is in contact with the base film 12 , and the first resin layer 14 is in contact with the second resin layer 16 . The base material 50 for transparent conductive layer formation is, in order from the 1st resin layer 14 side, the 1st resin layer 14, the 2nd resin layer 16, the base film 12, the 2nd resin layer ( 16) and the first resin layer 14.

제5 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(50)는, 제2 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(20)와 비교하여, 제2 수지층(16) 및 제1 수지층(14)이 기재 필름(12)의 양측에 형성되어 있는 점이 상이하고, 이 이외에 대해서는 제2 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(20)와 동일하며, 그 설명을 생략한다.The base material 50 for transparent conductive layer formation which concerns on 5th Embodiment is compared with the base material 20 for transparent conductive layer formation which concerns on 2nd Embodiment, The 2nd resin layer 16 and the 1st resin layer 14 ) is different from the point formed on both sides of the base film 12, and it is the same as that of the base material 20 for transparent conductive layer formation which concerns on 2nd Embodiment about this other than this, and the description is abbreviate|omitted.

투명 도전층 형성용 기재(50)는, 기재 필름(12)의 양측에 제1 수지층(14)을 가짐으로써, 기재 필름(12)의 양측에 투명 도전층을 갖는 구성의 투명 도전성 필름을 형성하는 기재로서 적합하다.The base material 50 for transparent conductive layer formation forms the transparent conductive film of the structure which has a transparent conductive layer on both sides of the base film 12 by having the 1st resin layer 14 on both sides of the base film 12. It is suitable as a base material for

도 6에는 제6 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(60)를 나타내고 있다. 제6 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(60)는, 도 1에 나타내는 투명 도전층 형성용 기재(10)를 2장 이용하여, 점착제층(28)을 통해, 서로의 기재 필름(12) 측이 접합된 것으로 구성되어 있다. 투명 도전층 형성용 기재(60)는, 순서대로, 제1 수지층(14), 기재 필름(12), 점착제층(28), 기재 필름(12), 제1 수지층(14)을 가지고 있다.6, the base material 60 for transparent conductive layer formation which concerns on 6th Embodiment is shown. The base material 60 for transparent conductive layer formation which concerns on 6th Embodiment uses 2 sheets of the base material 10 for transparent conductive layer formation shown in FIG. 1, through the adhesive layer 28, the mutual base film 12 ) side is joined. The base material 60 for transparent conductive layer formation has the 1st resin layer 14, the base film 12, the adhesive layer 28, the base film 12, and the 1st resin layer 14 in order. .

투명 도전층 형성용 기재(60)는, 양측에 제1 수지층(14)을 가짐으로써, 투명 도전층 형성용 기재(50)와 마찬가지로, 양측에 투명 도전층을 갖는 구성의 투명 도전성 필름을 형성하는 기재로서 적합하다. 투명 도전층 형성용 기재(60)는, 도 1에 나타내는 투명 도전층 형성용 기재(10)를 2장 이용하고 있고, 기재 필름(12)을 2장 가짐으로써, 투명 도전층 형성 공정에서 파단되기 어려운 등, 핸들링성이 우수하다.The base material 60 for transparent conductive layer formation forms the transparent conductive film of the structure which has a transparent conductive layer on both sides similarly to the base material 50 for transparent conductive layer formation by having the 1st resin layer 14 on both sides. It is suitable as a base material for The base material 60 for transparent conductive layer formation uses 2 sheets of the base material 10 for transparent conductive layer formation shown in FIG. 1, By having two base film 12 sheets, it is broken in a transparent conductive layer formation process. It is difficult and has excellent handling properties.

점착제층(28)은, 2개의 기재 필름(12)끼리를 밀착성 좋게 접착하기 위한 것이다. 도 4에 나타내는 투명 도전층 형성용 기재(40)의 점착제층(22)이란, 박리되기 어려운 점에서 다르다. 점착제층(28)을 형성하는 점착제(점착제 조성물)는, 후술하는 제7 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(70)에 있어서의 점착제(점착제 조성물)를 적합하게 이용할 수 있다.The adhesive layer 28 is for adhere|attaching two base films 12 comrades with good adhesiveness. The adhesive layer 22 of the base material 40 for transparent conductive layer formation shown in FIG. 4 differs in the point which peels hard. As the pressure-sensitive adhesive (adhesive composition) for forming the pressure-sensitive adhesive layer 28 , the pressure-sensitive adhesive (adhesive composition) in the substrate 70 for forming a transparent conductive layer according to the seventh embodiment to be described later can be suitably used.

점착제층(28)의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 5∼100 ㎛의 범위 내인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 10∼50 ㎛의 범위 내이다.Although the thickness of the adhesive layer 28 is not specifically limited, It is preferable to exist in the range of 5-100 micrometers. More preferably, it exists in the range of 10-50 micrometers.

점착제층(28)은, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 점착제 조성물을 직접 도포하여 형성하는 방법, 이형 필름의 면 상에 점착제 조성물을 도포하여 형성한 후, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 전사하는 방법, 제1 이형 필름의 면 상에 점착제 조성물을 도포하여 형성한 후, 제2 이형 필름을 접합하고, 어느 한쪽의 이형 필름을 박리하여 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 전사하는 방법 등에 따라 형성할 수 있다.The pressure-sensitive adhesive layer 28 is formed by directly coating the pressure-sensitive adhesive composition on the other side of the base film 12, and after forming by applying the pressure-sensitive adhesive composition on the surface of the release film, the base film 12 A method of transferring on the other side, after forming by coating a pressure-sensitive adhesive composition on the side of the first release film, bonding the second release film, peeling one of the release films to the other side of the base film 12 It can be formed according to the method of transferring on the side surface, etc.

도 7에는 제7 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(70)를 나타내고 있다. 제7 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(70)는, 기재 필름(12)과, 기재 필름(12)의 한쪽의 면 상에 형성된 제1 수지층(14)과, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 형성된 점착제층(32)과, 점착제층(32)의 면 상에 형성된 이형 필름(34)을 갖는다. 제1 수지층(14)은, 기재 필름(12)의 한쪽의 면에 접하고 있고, 점착제층(32)은, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면에 접하고 있다. 제1 수지층(14)은, 기재 필름(12)의 한쪽의 면 상에만 가지고 있다. 투명 도전층 형성용 기재(70)는, 이형 필름(34) 측으로부터 순서대로, 이형 필름(34), 점착제층(32), 기재 필름(12), 제1 수지층(14)을 가지고 있다.In FIG. 7, the base material 70 for transparent conductive layer formation which concerns on 7th Embodiment is shown. The base material 70 for transparent conductive layer formation which concerns on 7th Embodiment is the base film 12, the 1st resin layer 14 formed on one surface of the base film 12, and the base film 12 It has a pressure-sensitive adhesive layer 32 formed on the other side of the pressure-sensitive adhesive layer 32, and a release film 34 formed on the surface of the pressure-sensitive adhesive layer (32). The first resin layer 14 is in contact with one surface of the base film 12 , and the pressure-sensitive adhesive layer 32 is in contact with the other surface of the base film 12 . The 1st resin layer 14 has only on one side of the base film 12. The base material 70 for transparent conductive layer formation has the release film 34, the adhesive layer 32, the base film 12, and the 1st resin layer 14 in order from the release film 34 side.

제7 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(70)는, 제1 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(10)와 비교하여, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 점착제층(32)과 이형 필름(34)을 갖는 점이 상이하고, 이외에 대해서는 제1 실시형태에 따른 투명 도전층 형성용 기재(10)와 동일하며, 동일한 구성에 대해서는 그 설명을 생략한다.The base material 70 for transparent conductive layer formation which concerns on 7th Embodiment is an adhesive layer on the other surface of the base film 12 compared with the base material 10 for transparent conductive layer formation which concerns on 1st Embodiment. It is different from the point which has (32) and the release film 34, and about that it is the same as that of the base material 10 for transparent conductive layer formation which concerns on 1st Embodiment, and abbreviate|omits the description about the same structure.

점착제층(32)은, 투명 도전층 형성용 기재(70)를 고분자 필름이나 유리 등의 기판에 밀착성 좋게 접착하기 위한 것이다.The adhesive layer 32 is for adhering the base material 70 for transparent conductive layer formation to board|substrates, such as a polymer film and glass, with good adhesiveness.

점착제층(32)을 형성하는 점착제 조성물은, 아크릴계 점착제, 실리콘계 점착제, 우레탄계 점착제 등의 공지의 점착성 수지를 함유할 수 있다. 그 중에서도, 광학적인 투명성이나 내열성의 관점에서, 아크릴계 점착제가 바람직하다. 점착제 조성물은, 점착제층(32)의 응집력을 높이기 위해, 가교제를 함유하는 것이 바람직하다. 가교제로서는, 이소시아네이트계 가교제, 에폭시계 가교제, 아지리딘계 가교제, 킬레이트계 가교제 등을 들 수 있다.The adhesive composition which forms the adhesive layer 32 can contain well-known adhesive resins, such as an acrylic adhesive, a silicone adhesive, and a urethane adhesive. Especially, an acrylic adhesive is preferable from a viewpoint of optical transparency and heat resistance. The pressure-sensitive adhesive composition preferably contains a crosslinking agent in order to increase the cohesive force of the pressure-sensitive adhesive layer 32 . As a crosslinking agent, an isocyanate type crosslinking agent, an epoxy type crosslinking agent, an aziridine type crosslinking agent, a chelate type crosslinking agent, etc. are mentioned.

점착제 조성물에는, 필요에 따라, 첨가제를 포함하여도 좋다. 첨가제로서는, 가소제, 실란 커플링제, 계면 활성제, 산화 방지제, 충전제, 경화 촉진제, 경화 지연제 등의 공지의 첨가제를 들 수 있다. 또한, 생산성 등의 관점에서, 유기 용제를 사용하여 희석하여도 좋다.The adhesive composition may contain an additive as needed. As an additive, well-known additives, such as a plasticizer, a silane coupling agent, surfactant, antioxidant, a filler, a hardening accelerator, and a hardening retarder, are mentioned. Moreover, you may dilute using an organic solvent from a viewpoint of productivity etc.

점착제층(32)의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 5∼100 ㎛의 범위 내인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 10∼50 ㎛의 범위 내이다.Although the thickness of the adhesive layer 32 is not specifically limited, It is preferable to exist in the range of 5-100 micrometers. More preferably, it exists in the range of 10-50 micrometers.

점착제층(32)은, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 점착제 조성물을 직접 도포하여 형성하는 방법, 이형 필름(34)의 면 상에 점착제 조성물을 도포하여 형성한 후, 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 전사하는 방법, 제1 이형 필름의 면 상에 점착제 조성물을 도포하여 형성한 후, 제2 이형 필름을 접합하고, 어느 한쪽의 이형 필름을 박리하여 기재 필름(12)의 다른쪽의 면 상에 전사하는 방법 등에 따라 형성할 수 있다.The pressure-sensitive adhesive layer 32 is formed by directly coating the pressure-sensitive adhesive composition on the other side of the base film 12, and after forming by applying the pressure-sensitive adhesive composition on the surface of the release film 34, the base film ( After the method of transferring on the other side of 12), the pressure-sensitive adhesive composition is applied and formed on the side of the first release film, the second release film is bonded, and either release film is peeled off to form the base film 12 ) can be formed according to a method of transferring onto the other side of the .

점착제층(32)은, 양호한 밀착성의 관점에서, 유리에 대한 점착력이, 4 N/25 ㎜ 이상인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 6 N/25 ㎜ 이상, 더욱 바람직하게는 10 N/25 ㎜ 이상이다.It is preferable that the adhesive force to glass of the adhesive layer 32 from a favorable adhesive viewpoint is 4 N/25 mm or more. More preferably, it is 6 N/25 mm or more, More preferably, it is 10 N/25 mm or more.

이형 필름(34)은, 사용 전에 점착제층(32)의 보호층으로서 기능하고, 사용 시에는, 점착제층(32)으로부터 박리된다. 이형 필름(34)으로서는 특별히 한정되지 않고, 기재 필름(12)에 이용한 재료와 동일한 재료를 이용할 수 있다.The release film 34 functions as a protective layer of the adhesive layer 32 before use, and peels from the adhesive layer 32 at the time of use. It does not specifically limit as the release film 34, The same material as the material used for the base film 12 can be used.

이형 필름(34)의, 점착제층(32)과 접하는 면에는, 이형 처리가 실시되어 있어도 좋다. 이형 처리에 사용되는 이형제로서는, 예컨대, 실리콘계, 불소계, 알키드계, 불포화폴리에스테르계, 폴리올레핀계, 왁스계 등의 이형제를 들 수 있다.A release treatment may be performed on the surface of the release film 34 in contact with the pressure-sensitive adhesive layer 32 . As a mold release agent used for a mold release process, mold release agents, such as a silicone type, a fluorine type, an alkyd type, an unsaturated polyester type, a polyolefin type, a wax type, are mentioned, for example.

다음에, 본 발명에 따른 투명 도전성 필름에 대해서 설명한다.Next, the transparent conductive film which concerns on this invention is demonstrated.

도 8에는 본 발명의 일 실시형태에 따른 투명 도전성 필름(80)을 나타내고 있다. 도 8에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 일 실시형태에 따른 투명 도전성 필름(80)은, 투명 도전층 형성용 기재(10)의 제1 수지층(14)의 면 상에 투명 도전층(26)을 갖는다. 투명 도전층 형성용 기재(10)는, 본 발명에 따른 투명 도전층 형성용 기재이다. 투명 도전성 필름(80)은, 기재 필름(12) 측으로부터 순서대로, 기재 필름(12), 제1 수지층(14), 투명 도전층(26)을 가지고 있다.8 shows a transparent conductive film 80 according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 8, the transparent conductive film 80 which concerns on one Embodiment of this invention is the transparent conductive layer 26 on the surface of the 1st resin layer 14 of the base material 10 for transparent conductive layer formation. has The base material 10 for transparent conductive layer formation is the base material for transparent conductive layer formation which concerns on this invention. The transparent conductive film 80 has the base film 12, the 1st resin layer 14, and the transparent conductive layer 26 in order from the base film 12 side.

투명 도전층(26)은, 도전성 물질을 함유한다. 도전성 물질은, 특별히 한정되지 않지만, 산화아연, 산화바륨, 산화인듐주석, 산화인듐아연, 산화지르코늄, 산화이테르븀, 산화이트륨, 산화탄탈, 산화알루미늄, 산화세륨, 산화티탄 등의 금속 산화물을 들 수 있다. 이들 중에서는, 투명성과 도전성을 고도로 양립할 수 있는 등의 관점에서, 산화인듐주석, 산화인듐아연이 특히 바람직하다.The transparent conductive layer 26 contains a conductive substance. The conductive material is not particularly limited, and metal oxides such as zinc oxide, barium oxide, indium tin oxide, indium zinc oxide, zirconium oxide, ytterbium oxide, yttrium oxide, tantalum oxide, aluminum oxide, cerium oxide, and titanium oxide are exemplified. have. Among these, indium tin oxide and indium zinc oxide are especially preferable from a viewpoint of being highly compatible with transparency and electroconductivity, etc.

투명 도전층(26)의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 10∼40 ㎚의 범위 내가 바람직하다. 보다 바람직하게는 15∼30 ㎚의 범위 내이다.Although the thickness of the transparent conductive layer 26 is not specifically limited, The inside of the range of 10-40 nm is preferable. More preferably, it exists in the range of 15-30 nm.

투명 도전층(26)은, 스퍼터링법, 진공 증착법, CVD법, 이온 플레이팅법 등을 들 수 있다. 이들 중에서는, 저저항이며 균질한 막을 안정적으로 제조할 수 있는 등의 관점에서, 스퍼터링법이 바람직하다.Examples of the transparent conductive layer 26 include a sputtering method, a vacuum vapor deposition method, a CVD method, and an ion plating method. Among these, the sputtering method is preferable from a viewpoint of being able to manufacture a low-resistance, homogeneous film stably.

투명 도전층(26)은, 도전성 물질의 결정화를 촉진시키기 위해, 성막 후에 있어서 도전성 물질을 소성하는 공정을 갖는 것이 바람직하다. 소성 방법은 특별히 한정되지 않지만, 예컨대 스퍼터링을 행할 때의 드럼 가열이나, 열풍식 가열로, 원적외선 가열로 등을 이용하여 행하면 좋다. 소성 시의 가열 온도는, 도전성 물질의 종류에 따라 적절하게 선택하면 좋다. 예컨대, 50∼200℃, 80∼180℃, 100∼160℃ 등으로 할 수 있다. 소성 시의 가열 시간은, 특별히 한정되지 않지만, 3∼180분, 5∼120분, 10∼90분 등으로 할 수 있다.The transparent conductive layer 26 preferably has a step of firing the conductive material after film formation in order to promote crystallization of the conductive material. Although the baking method is not specifically limited, For example, what is necessary is just to perform using drum heating at the time of sputtering, a hot-air heating furnace, a far-infrared heating furnace, etc. What is necessary is just to select the heating temperature at the time of baking suitably according to the kind of electroconductive substance. For example, it can be set as 50-200 degreeC, 80-180 degreeC, 100-160 degreeC, etc. Although the heating time at the time of baking is not specifically limited, 3-180 minutes, 5-120 minutes, 10-90 minutes, etc. can be made.

이상의 구성의 투명 도전성 필름(80)에 따르면, 본 발명에 따른 투명 도전층 형성용 기재(10)의 제1 수지층(14)의 면 상에 투명 도전층(26)을 가짐으로써, 제1 수지층(14)과 투명 도전층(26)의 밀착성이 우수하다. 또한, 제1 수지층(14)이 내찰상성이 우수하기 때문에, 취급 시에 있어서, 제1 수지층(14)의 표면에 상처가 나는 것을 억제할 수 있다.According to the transparent conductive film 80 having the above configuration, by having the transparent conductive layer 26 on the surface of the first resin layer 14 of the substrate 10 for forming a transparent conductive layer according to the present invention, the first number The adhesion between the base layer 14 and the transparent conductive layer 26 is excellent. Moreover, since the 1st resin layer 14 is excellent in abrasion resistance, it can suppress that the surface of the 1st resin layer 14 is damaged at the time of handling.

본 발명에 따른 투명 도전성 필름(80)은, 투명 도전층(26)을 터치 패널의 전극으로서 이용할 수 있는 것이다. 터치 패널의 전극은, 투명 도전층(26)을 원하는 전극 패턴으로 형성한 것을 포함한다. 전극 패턴은, 투명 도전층(26)의 에칭 처리 등에 의해 형성할 수 있다.In the transparent conductive film 80 according to the present invention, the transparent conductive layer 26 can be used as an electrode of a touch panel. The electrodes of the touch panel include those in which the transparent conductive layer 26 is formed in a desired electrode pattern. The electrode pattern can be formed by etching the transparent conductive layer 26 or the like.

다음에, 본 발명에 따른 터치 패널에 대해서 설명한다.Next, a touch panel according to the present invention will be described.

본 발명에 따른 터치 패널은, 본 발명에 따른 투명 도전성 필름(80)을 이용하여 구성되어 있고, 투명 도전성 필름(80)의 투명 도전층(26)이 터치 패널의 전극으로서 이용되는 것이다. 터치 패널은, 정전 용량 방식이나 저항막 방식 등의 터치 패널이다. 본 발명에 따른 터치 패널로서는, GFF 방식이나, GF2 방식의 것을 들 수 있다. GFF 방식의 터치 패널은, 예컨대, 도 6에 나타내는 것과 같은, 2장의 투명 도전층 형성용 기재(10)의, 서로의 기재 필름(12) 측이, 점착제층(28)을 통해 접합되어 이루어지는 투명 도전층 형성용 기재(60)의, 각각의 제1 수지층(12)의 면 상에 투명 도전층(26)을 형성한 투명 도전성 필름이나, 도 8에 나타내는 것과 같은, 기재 필름(12)의 한쪽의 면측에만 제1 수지층(14) 및 투명 도전층(26)을 갖는 구성의 투명 도전성 필름(80)의, 2장의 서로의 기재 필름(12) 측을 투명한 점착제로 접합한 것을, 더욱 투명한 점착제를 이용하여 한쪽의 투명 도전층(26)의 면을 유리나 수지 필름 등의 투명 기재에 접합한 것을 포함한다. 또한, GF2 방식의 터치 패널은, 예컨대 도 5에 나타내는 것과 같은, 기재 필름(12)의 양면측에 제1 수지층(14) 및 투명 도전층(26)을 갖는 구성의 투명 도전층 형성용 기재(50)로 형성한 투명 도전성 필름을 투명한 점착제로 유리나 수지 필름 등의 투명 기재에 접합한 것을 포함한다.The touch panel according to the present invention is constituted by using the transparent conductive film 80 according to the present invention, and the transparent conductive layer 26 of the transparent conductive film 80 is used as an electrode of the touch panel. A touch panel is a touch panel, such as a capacitive type and a resistive film type. As a touch panel which concerns on this invention, the thing of a GFF system and a GF2 system is mentioned. The GFF-type touch panel is transparent in which the base film 12 side of each other of the base material 10 for transparent conductive layer formation of 2 sheets as shown in FIG. 6 is bonded through the adhesive layer 28, for example. The transparent conductive film in which the transparent conductive layer 26 was formed on the surface of each 1st resin layer 12 of the base material 60 for conductive layer formation, as shown in FIG. 8, the base film 12 of The transparent conductive film 80 having the configuration having the first resin layer 14 and the transparent conductive layer 26 only on one side side was bonded to each other on the base film 12 side of two sheets with a transparent adhesive, which is more transparent It includes what bonded the surface of one transparent conductive layer 26 to transparent base materials, such as glass or a resin film, using an adhesive. In addition, the touch panel of the GF2 system is a base material for transparent conductive layer formation of the structure which has the 1st resin layer 14 and the transparent conductive layer 26 on both surfaces of the base film 12 as shown in FIG. 5, for example. Includes those in which the transparent conductive film formed in (50) is bonded to a transparent substrate such as glass or a resin film with a transparent adhesive.

본 발명에 따른 터치 패널의 화상 표시 방식은 특별히 한정되지 않고, 액정 표시 장치, 유기 EL 표시 장치 등의 임의의 표시 장치에 이용할 수 있다.The image display method of the touch panel which concerns on this invention is not specifically limited, It can use for arbitrary display apparatuses, such as a liquid crystal display device and an organic electroluminescent display.

이상, 본 발명의 실시형태에 대해서 설명하였지만, 본 발명은 상기 실시형태에 전혀 한정되지 않으며, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위 내에서 여러 가지의 개변이 가능하다.As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited at all to the said embodiment, Various changes are possible within the range which does not deviate from the meaning of this invention.

예컨대 상기 실시형태에서는, 기재 필름(12)과 제1 수지층(14), 제2 수지층(16), 또는 제3 수지층(18)과의 밀착성을 향상시키기 위해, 기재 필름(12)의 표면에 표면 처리를 실시하여도 좋은 기재를 하고 있지만, 표면 처리 대신에, 기재 필름(12)의 표면에, 접착 용이층을 마련하는 구성이어도 좋다.For example, in the said embodiment, in order to improve the adhesiveness of the base film 12 and the 1st resin layer 14, the 2nd resin layer 16, or the 3rd resin layer 18, the base film 12 Although the base material which may surface-treat to the surface is performed, the structure which provides an easily bonding layer in the surface of the base film 12 instead of surface treatment may be sufficient.

또한, 상기 실시형태에서는, 제1 수지층(14)의 표면 요철은, 입자를 첨가하는 층의 두께보다 큰 평균 입자 직경의 입자를 첨가하는 것으로 하고 있지만, 요철의 형성 방법으로서는, 이에 한정되지 않는다. 예컨대, 형전사에 의해 제1 수지층(14) 등 표면 요철을 형성하는 층에 표면 요철을 형성하는 것이어도 좋다. 또한, 입자를 첨가하여 표면 요철을 형성하는 경우라도, 입자에 표면 처리를 실시하거나, 계면 활성제를 병용함으로써, 입자의 표면 자유 에너지를 작게 하고, 입자를 첨가하는 층의 표면에 입자를 편재시켜 입자에 의한 표면 요철을 형성하는 방법이어도 좋다. 이 경우, 입자의 평균 입자 직경은, 입자를 첨가하는 층의 두께보다 작은 것이어도 좋다. 예컨대, 제1 수지층(14)에 이러한 입자를 첨가하는 경우, 입자의 평균 입자 직경은, 50∼500 ㎚의 범위 내인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 80∼400 ㎚의 범위 내, 더욱 바람직하게는 120∼400 ㎚의 범위 내이다. 또한, 그 평균 입자 직경은, 입자를 첨가하는 층의 두께의 1/2 이하인 것이 바람직하다.In addition, in the said embodiment, the surface unevenness|corrugation of the 1st resin layer 14 is supposed to add the particle|grains of the average particle diameter larger than the thickness of the layer to which the particle|grains are added, However, As a formation method of unevenness|corrugation, it is not limited to this. . For example, surface unevenness may be formed in a layer that forms surface unevenness, such as the first resin layer 14 by die transfer. In addition, even when adding particles to form surface irregularities, the surface free energy of the particles is reduced by surface-treating the particles or using a surfactant together, and the particles are localized on the surface of the layer to which the particles are added. A method of forming surface irregularities by In this case, the average particle diameter of the particles may be smaller than the thickness of the layer to which the particles are added. For example, when adding such particles to the first resin layer 14, the average particle diameter of the particles is preferably in the range of 50 to 500 nm. More preferably, it exists in the range of 80-400 nm, More preferably, it exists in the range of 120-400 nm. Moreover, it is preferable that the average particle diameter is 1/2 or less of the thickness of the layer which adds particle|grains.

그리고, 상기 보호 필름(24)은, 도 4에 나타내는 바와 같이, 도 2에 나타내는 제2 실시형태의 투명 도전층 형성용 기재(20)에 추가하는 형태로 나타내고 있지만, 도 1에 나타내는 제1 실시형태의 투명 도전층 형성용 기재(10)에 추가하는 형태여도 좋다. 또한, 도 8에 나타내는 투명 도전성 필름(80) 등의 투명 도전성 필름에 추가하는 형태여도 좋다.In addition, although the said protective film 24 is shown in the form added to the base material 20 for transparent conductive layer formation of 2nd Embodiment shown in FIG. 2 as shown in FIG. 4, 1st Embodiment shown in FIG. The form added to the base material 10 for transparent conductive layer formation of a form may be sufficient. Moreover, the form added to transparent conductive films, such as the transparent conductive film 80 shown in FIG. 8, may be sufficient.

그리고, 상기 점착제층(32)은, 도 7에 나타내는 바와 같이, 도 1에 나타내는 제1 실시형태의 투명 도전층 형성용 기재(10)에 추가하는 형태로 나타내고 있지만, 도 2∼3에 나타내는 투명 도전층 형성용 기재(20∼30)에 추가하는 형태여도 좋다. 또한, 도 8에 나타내는 투명 도전성 필름(80) 등의 투명 도전성 필름에 추가하는 형태여도 좋다.In addition, although the said adhesive layer 32 is shown in the form added to the base material 10 for transparent conductive layer formation of 1st Embodiment shown in FIG. 1 as shown in FIG. 7, it is transparent as shown in FIGS. 2-3. The form added to the base materials 20-30 for conductive layer formation may be sufficient. Moreover, the form added to transparent conductive films, such as the transparent conductive film 80 shown in FIG. 8, may be sufficient.

또한, 도 6에 나타내는 투명 도전층 형성용 기재(60)는, 2장의 투명 도전층 형성용 기재(10)의, 서로의 기재 필름(12) 측이, 점착제층(28)을 통해 접합되어 이루어지는 형태로 나타내고 있지만, 2장의 투명 도전층 형성용 기재(10)중 한쪽 또는 양방이, 도 2∼3에 나타내는 투명 도전층 형성용 기재(20∼30)여도 좋다. 또한, 도 8에 나타내는 투명 도전성 필름(80) 등의 투명 도전성 필름이어도 좋다.Moreover, in the base material 60 for transparent conductive layer formation shown in FIG. 6, the mutual base film 12 side of the base material 10 for transparent conductive layer formation of 2 sheets is joined through the adhesive layer 28. Although shown in the form, one or both of the base materials 10 for transparent conductive layer formation of 2 sheets may be the base materials 20-30 for transparent conductive layer formation shown in FIGS. Moreover, a transparent conductive film, such as the transparent conductive film 80 shown in FIG. 8, may be sufficient.

그리고, 투명 도전성 필름(80)은, 도 8에 나타내는 바와 같이, 도 1에 나타내는 제1 실시형태의 투명 도전층 형성용 기재(10)를 투명 도전층 형성용 기재로 하는 예를 나타내고 있지만, 도 2∼7에 나타내는 투명 도전층 형성용 기재(20∼70)를 투명 도전층 형성용 기재로 하는 것이어도 좋다.In addition, as shown in FIG. 8, the transparent conductive film 80 has shown the example which uses the base material 10 for transparent conductive layer formation of 1st Embodiment shown in FIG. 1 as a base material for transparent conductive layer formation. The substrates 20 to 70 for forming the transparent conductive layer shown in 2 to 7 may be used as the substrate for forming the transparent conductive layer.

그리고, 기재 필름(12)의 표면에는, 각 층을 형성하기 전에, 가스 배리어성 향상층, 대전 방지층, 올리고머 블록층 등의 각종 기능층을 미리 마련하여도 좋다.And before forming each layer on the surface of the base film 12, you may provide in advance various functional layers, such as a gas barrier property improvement layer, an antistatic layer, and an oligomer block layer.

실시예Example

이하, 실시예 및 비교예를 이용하여 본 발명을 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail using Examples and Comparative Examples.

(제1 수지층 형성용의 경화성 조성물의 조제)(Preparation of curable composition for 1st resin layer formation)

표 1에 기재된 배합 조성(질량%)으로 각 성분을 배합함으로써, 제1 수지층 형성용의 경화성 조성물을 조제하였다.By mix|blending each component with the compounding composition (mass %) of Table 1, the curable composition for 1st resin layer formation was prepared.

(제2 수지층 형성용의 경화성 조성물의 조제)(Preparation of curable composition for 2nd resin layer formation)

표 1에 기재된 배합 조성(질량%)으로 각 성분을 배합함으로써, 제2 수지층 형성용의 경화성 조성물을 조제하였다.By mix|blending each component with the compounding composition (mass %) of Table 1, the curable composition for 2nd resin layer formation was prepared.

(제3 수지층 형성용 경화성 조성물의 조제)(Preparation of curable composition for 3rd resin layer formation)

표 1에 기재의 배합 조성(질량%)으로 각 성분을 배합함으로써, 제3 수지층 형성용의 경화성 조성물을 조제하였다.The curable composition for 3rd resin layer formation was prepared by mix|blending each component with the compounding composition (mass %) of description in Table 1.

(투명 도전층 형성용 기재의 제작)(Preparation of a base material for forming a transparent conductive layer)

(실시예 1∼3)(Examples 1-3)

기재 필름(도레이 제조 PET 필름 「루미라 UH1H」, 두께 50 ㎛)의 한쪽 면상에, #5의 와이어 바를 이용하여 제2 수지층 형성용의 경화성 조성물을 도공하고, 80℃에서 1분간 건조한 후, 고압 수은 램프를 이용하여, 광량 200 mJ/㎠로 도막에 자외선을 조사하여 도막을 자외선 경화시킴으로써, 제2 수지층을 형성하였다.On one side of the base film (PET film "Lumira UH1H" made by Toray, 50 µm thick), the curable composition for forming the second resin layer is coated using a #5 wire bar, and dried at 80° C. for 1 minute, Using a high-pressure mercury lamp, the coating film was UV-cured by irradiating the coating film with ultraviolet rays at a light quantity of 200 mJ/cm 2 , thereby forming a second resin layer.

계속해서, 제2 수지층의 면 상에, #4의 와이어 바를 이용하여 제1 수지층 형성용의 경화성 조성물을 도공하고, 80℃에서 1분간 건조한 후, 고압 수은 램프를 이용하여, 질소 분위기 하, 광량 200 mJ/㎠로 도막에 자외선을 조사하여 도막을 자외선 경화시킴으로써, 제1 수지층을 형성하였다.Then, on the surface of the second resin layer, the curable composition for forming the first resin layer is coated using a wire bar of #4, dried at 80° C. for 1 minute, and then using a high-pressure mercury lamp under a nitrogen atmosphere. , The first resin layer was formed by UV curing the coating film by irradiating the coating film with ultraviolet rays at a light amount of 200 mJ/cm 2 .

그리고, 기재 필름의 다른쪽 면상에, #4의 와이어 바를 이용하여 제3 수지층 형성용의 경화성 조성물을 도공하고, 80℃에서 1분간 건조한 후, 고압 수은 램프를 이용하여, 광량 200 mJ/㎠로 도막에 자외선을 조사하여 도막을 자외선 경화시킴으로써, 제3 수지층을 형성하였다.Then, on the other side of the base film, the curable composition for forming the third resin layer was coated using the wire bar of #4, dried at 80° C. for 1 minute, and then using a high-pressure mercury lamp, the amount of light 200 mJ/cm 2 The 3rd resin layer was formed by irradiating an ultraviolet-ray to the furnace coating film and making the coating film ultraviolet-curing.

이상에 의해, 실시예 1∼3에 따른 투명 도전층 형성용 기재를 제작하였다.As mentioned above, the base material for transparent conductive layer formation which concerns on Examples 1-3 was produced.

(실시예 4)(Example 4)

기재 필름을 닛폰제온 제조 COP 필름 「Zeonor Film ZF16-55」(두께 55 ㎛)으로 변경하고, 그 한쪽 면상에 코로나 처리를 실시한 후, 제2 수지층을 형성하지 않고, #5의 와이어 바를 이용하여 제1 수지층을 형성한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여, 실시예 4에 따른 투명 도전층 형성용 기재를 제작하였다. 기재 필름의 다른쪽 면상에는, 제3 수지층을 형성하지 않았다.The base film was changed to a Nippon Zeon COP film “Zeonor Film ZF16-55” (thickness 55 μm), and corona treatment was performed on one side thereof, without forming a second resin layer, using a #5 wire bar A base material for forming a transparent conductive layer according to Example 4 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the first resin layer was formed. On the other surface of the base film, the 3rd resin layer was not formed.

(실시예 5∼8)(Examples 5 to 8)

기재 필름을 닛폰제온 제조 COP 필름 「Zeonor Film ZF16-55」(두께 55 ㎛)로 변경하고, 그 한쪽 면상에 코로나 처리를 실시한 후, 제2 수지층을 형성하여, 제2 수지층의 면 상에 #5의 와이어 바를 이용하여 제1 수지층을 형성한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여, 실시예 5∼8에 따른 투명 도전층 형성용 기재를 제작하였다. 기재 필름의 다른쪽 면상에는, 제3 수지층을 형성하지 않았다.The base film was changed to a Nippon Zeon COP film "Zeonor Film ZF16-55" (thickness 55 µm), and corona treatment was performed on one side thereof, then a second resin layer was formed, and on the surface of the second resin layer A base material for forming a transparent conductive layer according to Examples 5 to 8 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the first resin layer was formed using the wire bar #5. On the other surface of the base film, the 3rd resin layer was not formed.

(비교예 1)(Comparative Example 1)

제1 수지층 형성용의 경화성 조성물이 다른 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여, 비교예 1에 따른 투명 도전층 형성용 기재를 제작하였다. 비교예 1의 제1 수지층 형성용의 경화성 조성물에는, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지가 포함되어 있지 않다.A base material for forming a transparent conductive layer according to Comparative Example 1 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the curable composition for forming the first resin layer was different. The ultraviolet curable resin which has a silsesquioxane skeleton is not contained in the curable composition for 1st resin layer formation of Comparative Example 1.

(비교예 2)(Comparative Example 2)

제1 수지층 형성용의 경화성 조성물이 다른 것 이외에는 실시예 3과 동일하게 하여, 비교예 2에 따른 투명 도전층 형성용 기재를 제작하였다. 비교예 2의 제1 수지층 형성용의 경화성 조성물에는, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지가 포함되어 있지 않다.A base material for forming a transparent conductive layer according to Comparative Example 2 was prepared in the same manner as in Example 3 except that the curable composition for forming the first resin layer was different. The curable composition for 1st resin layer formation of the comparative example 2 does not contain the ultraviolet curable resin which has a silsesquioxane skeleton.

(비교예 3)(Comparative Example 3)

제1 수지층 형성용의 경화성 조성물이 다른 것 이외에는 실시예 3과 동일하게 하여, 비교예 3에 따른 투명 도전층 형성용 기재를 제작하였다. 비교예 3의 제1 수지층 형성용의 경화성 조성물에는, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지가 포함되어 있지 않고, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 열경화성 에폭시 수지가 포함되어 있다.A base material for forming a transparent conductive layer according to Comparative Example 3 was prepared in the same manner as in Example 3 except that the curable composition for forming the first resin layer was different. The ultraviolet curable resin which has silsesquioxane skeleton is not contained in the curable composition for 1st resin layer formation of the comparative example 3, but the thermosetting epoxy resin which has silsesquioxane skeleton is contained.

제1 수지층, 제2 수지층, 제3 수지층의 재료로서 이용한 재료는 이하와 같다.The material used as a material of a 1st resin layer, a 2nd resin layer, and a 3rd resin layer is as follows.

·SQ 함유 UV 수지 <1>: 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지(도아고세이 제조 「MAC-SQ HDM」, 메타크릴 수지, 용제(PGB) 고형분 농도 50 질량%, 작용기; 메타크릴로일기, 작용기 당량 239 g/eq)-SQ-containing UV resin <1>: UV-curable resin having a silsesquioxane skeleton ("MAC-SQ HDM" manufactured by Toagosei, methacrylic resin, solvent (PGB) solid content concentration of 50% by mass, functional group; methacryloyl group) , functional group equivalent 239 g / eq)

·SQ 함유 UV 수지 <2>: 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지(도아고세이 제조 「MAC-SQ SI-20」, 메타크릴 수지, 고형분 농도 100 질량%, 작용기; 메타크릴로일기, 작용기 당량 224 g/eq)·SQ-containing UV resin <2>: UV-curable resin having a silsesquioxane skeleton (“MAC-SQ SI-20” manufactured by Toagosei, methacrylic resin, solid content concentration of 100% by mass, functional group; methacryloyl group, functional group equivalent 224 g/eq)

·UV 수지 <1>: 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지(도요켐 제조 「리오듀러스 TYZ59-10-S」, 지르코늄 입자 함유 (메트)아크릴 수지, 용제(PGM, MIBK, 지방족계 용제 및 시클로헥사논), 고형분 농도 40 질량%, 고굴절률 하드 코트제)UV resin <1>: UV-curable resin having no silsesquioxane skeleton (Toyochem "Riodurus TYZ59-10-S", zirconium particle-containing (meth)acrylic resin, solvent (PGM, MIBK, aliphatic) solvent and cyclohexanone), solid content concentration of 40 mass%, high refractive index hard coat agent)

·UV 수지 <2>: 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지(아라카와가가쿠고교 제조 「오프스타 Z7527」, 실리카 입자 함유 (메트)아크릴 수지, 용제(MEK), 고형분 농도 50 질량%)UV resin <2>: UV-curable resin having no silsesquioxane skeleton (Arakawa Chemical Co., Ltd. “Opstar Z7527”, silica particle-containing (meth)acrylic resin, solvent (MEK), solid content concentration of 50% by mass)

·UV 수지 <3>: 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지(도요켐 제조 「리오듀러스 TYZ65-01」, 지르코늄 입자 함유 (메트)아크릴 수지, 용제(PGM, MIBK, 지방족계 용제 및 시클로헥사논), 고형분 농도 40 질량%, 고굴절률 하드 코트제)UV resin <3>: UV-curable resin having no silsesquioxane skeleton (“Riodurus TYZ65-01” manufactured by Toyochem, (meth)acrylic resin containing zirconium particles, solvents (PGM, MIBK, aliphatic solvents and cyclohexanone), solid content concentration of 40 mass%, high refractive index hard coat agent)

·UV 수지 <4>: 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지(아이카고교 제조 「아이카아이트론 Z-735-35L」, (메트)아크릴 수지, 용제(아세트산에틸, 아세트산부틸 및 MEK), 고형분 농도 50 질량%)UV resin <4>: UV-curable resin having no silsesquioxane skeleton ("Aika Aitron Z-735-35L" manufactured by Aika Kogyo Co., Ltd., (meth)acrylic resin, solvent (ethyl acetate, butyl acetate and MEK); Solid content concentration 50% by mass)

·UV 수지 <5>: 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지(DIC 제조 「GRANDIC PC16-2291」, (메트)아크릴 수지, 용제(MEK, BuAc 및 MIBK), 고형분 농도 40 질량%)UV resin <5>: UV-curable resin having no silsesquioxane skeleton (DIC manufactured "GRANDIC PC16-2291", (meth)acrylic resin, solvent (MEK, BuAc and MIBK), solid content concentration of 40% by mass)

·수지 입자: 폴리메타크릴산메틸입자(소켄가가쿠 제조 「케미스노 MX-80H3wT」의 1 질량% MEK 분산액, 평균 입자 직경 800 ㎚)-Resin particle: polymethyl methacrylate particle (1 mass % MEK dispersion of "Chemiso MX-80H3wT" manufactured by Soken Chemical, average particle diameter of 800 nm)

·광중합 개시제: BASF 재팬 제조 「IRGACURE127」-Photoinitiator: BASF Japan "IRGACURE127"

·SQ 함유 EP 수지: 실세스퀴옥산 골격을 갖는 열경화성 에폭시 수지(아라카와가가쿠고교 제조 「콤포세란 SQ506」)·SQ-containing EP resin: thermosetting epoxy resin having a silsesquioxane skeleton (“Composeran SQ506” manufactured by Arakawa Chemical Industry Co., Ltd.)

·EP 경화제: 1-벤질-2-메틸이미다졸·EP curing agent: 1-benzyl-2-methylimidazole

·용제 <1>: 메틸에틸케톤(MEK)Solvent <1>: methyl ethyl ketone (MEK)

·용제 <2>: 아세트산부틸(BuAc)Solvent <2>: butyl acetate (BuAc)

·용제 <3>: 프로필렌글리콜노르말부틸에테르(PGB)Solvent <3>: propylene glycol n-butyl ether (PGB)

·용제 <4>: 프로필렌글리콜모노메틸에테르(PGM)Solvent <4>: propylene glycol monomethyl ether (PGM)

·용제 <5>: 메틸이소부틸케톤(MIBK)Solvent <5>: methyl isobutyl ketone (MIBK)

제작한 투명 도전층 형성용 기재의 제1 수지층, 제2 수지층, 제3 수지층의 두께는, 필름메트릭스 제조 「Filmetrics F20 막 두께 측정 시스템」을 이용하여 분광 간섭법에 따라 측정하였다. 또한, 수지 입자를 포함하는 층의 두께는, 두께 방향에 있어서 수지 입자가 존재하지 않는 부분의 두께로 하였다.The thickness of the 1st resin layer, 2nd resin layer, and 3rd resin layer of the produced base material for transparent conductive layer formation was measured according to the spectral interference method using the "Filmetrics F20 film thickness measurement system" manufactured by Filmmetrics. In addition, the thickness of the layer containing a resin particle was made into the thickness of the part in which a resin particle does not exist in the thickness direction.

제작한 각 투명 도전층 형성용 기재를 이용하여, 제1 수지층의 면 상에, 산화인듐주석을 20 ㎚의 두께로 스퍼터링하여 ITO층을 형성하고, 이 ITO층의 면 상에 구리를 200 ㎚의 두께로 스퍼터링하여 구리층을 형성한 후, 항온조에서 150℃×1시간 정치하여, ITO층을 결정화시켰다. 이상에 의해, 투명 도전성 필름을 제작하였다.Using each prepared base material for forming a transparent conductive layer, on the surface of the first resin layer, indium tin oxide was sputtered to a thickness of 20 nm to form an ITO layer, and on the surface of the ITO layer, copper was coated with 200 nm After forming a copper layer by sputtering to a thickness of , the ITO layer was crystallized by standing at 150° C. × 1 hour in a constant temperature bath. As described above, a transparent conductive film was produced.

(ITO 밀착성)(ITO adhesion)

제작한 투명 도전성 필름의 구리면측으로부터 ITO층과 제1 수지층의 계면까지 격자형으로 단절을 넣고, JIS K5400-8.5(JIS D0202)에 기초한 밀착 시험을 실시하였다. 100 매스 중, 전부에 박리가 보이지 않은 것을 양호 「○」, 1 매스라도 박리가 보인 것을 불량 「×」로 하였다. 양호한 것 중에, 100 매스의 외측의 절입 주변에도 박리가 보이지 않은 것을 특히 양호 「◎」로 하였다.From the copper surface side of the produced transparent conductive film to the interface of the ITO layer and the 1st resin layer, the cut|disconnection was put in grid|lattice form, and the adhesion test based on JISK5400-8.5 (JIS D0202) was implemented. The thing in which peeling was not seen in all 100 masses was made into "good|favorableness (circle)", and the thing in which peeling was seen even in 1 mass was made into defectiveness "x". Among the good things, the thing in which peeling was not seen also in the cut periphery of the outer side of 100 pieces was made into especially favorable "double-circle".

(내찰상성)(scratch resistance)

제작한 각 투명 도전층 형성용 기재를 이용하여, 테스터산교 제조의 학진식 마찰 결뢰도 시험기에 셋트하고, 니혼스틸울 제조 「스틸울 #0000」으로 200 g의 하중으로 제1 수지층의 표면을 20회 문질렀다. 그 후, 제1 수지층의 표면을 형광등 아래에서 바로 위로부터 눈으로 보아 관찰하여, 찰상이 보이지 않은 것을 양호 「○」, 찰상이 보인 것을 불량 「×」로 하였다.Using each prepared base material for forming a transparent conductive layer, it was set in a Hakjin type friction solidity tester manufactured by Tester Sangyo, and the surface of the first resin layer was tested with "Steel Wool #0000" manufactured by Nippon Steel Wool under a load of 200 g. rubbed 20 times. Thereafter, the surface of the first resin layer was visually observed under a fluorescent lamp from directly above, and the thing in which abrasion was not observed was made into good "(circle)" and the thing in which abrasion was seen was made into bad "x".

Figure pct00001
Figure pct00001

실시예 및 비교예로부터, 제1 수지층이 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함함으로써, 투명 도전층의 밀착성이 우수하며, 제1 수지층의 내찰상성이 우수한 것을 알았다. 비교예 1, 2는, 제1 수지층을 형성하기 위한 경화성 조성물이, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하지 않기 때문에, 투명 도전층의 밀착성이 뒤떨어진다. 비교예 3은, 제1 수지층을 형성하기 위한 경화성 조성물이, 실세스퀴옥산 골격을 갖지만 자외선 경화성 수지가 아니라 열경화성 에폭시 수지를 포함할 뿐이기 때문에, 막 두께가 두꺼움에도 불구하고, 제1 수지층의 내찰상성이 뒤떨어진다. 그리고, 실시예끼리의 비교로부터, 제1 수지층의 SQ 함유 UV 수지의 함유량이 5 질량% 이상이면, ITO와의 밀착성이 특히 우수한 것을 알았다. From Examples and Comparative Examples, since the first resin layer contains a cured product of a curable composition containing an ultraviolet curable resin having a silsesquioxane skeleton, the adhesiveness of the transparent conductive layer is excellent, and the scratch resistance of the first resin layer is excellent. I found this excellent. In Comparative Examples 1 and 2, since the curable composition for forming the first resin layer does not contain the ultraviolet curable resin having a silsesquioxane skeleton, the adhesiveness of the transparent conductive layer is inferior. In Comparative Example 3, since the curable composition for forming the first resin layer has a silsesquioxane skeleton but only contains a thermosetting epoxy resin instead of an ultraviolet curable resin, despite the thick film thickness, the first number The scratch resistance of the strata is inferior. And it turned out that adhesiveness with ITO was especially excellent as content of SQ containing UV resin of a 1st resin layer was 5 mass % or more from a comparison between Examples.

이상, 본 발명의 실시예에 대해서 설명하였지만, 본 발명은 상기 실시예에 조금도 한정되지 않으며, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위 내에서 여러 가지의 개변이 가능하다.As mentioned above, although the embodiment of this invention was described, this invention is not limited in any way to the said embodiment, and various changes are possible within the range which does not deviate from the meaning of this invention.

10, 20, 30, 40, 50, 60, 70 투명 도전층 형성용 기재
12 기재 필름
14 제1 수지층
16 제2 수지층
18 제3 수지층
22 점착제층
24 보호 필름
26 투명 도전층
28 점착제층
32 점착제층
34 이형 필름
80 투명 도전층성 필름
10, 20, 30, 40, 50, 60, 70 Substrate for forming a transparent conductive layer
12 base film
14 first resin layer
16 second resin layer
18 third resin layer
22 adhesive layer
24 protective film
26 transparent conductive layer
28 adhesive layer
32 adhesive layer
34 release film
80 Transparent Conductive Layer Film

Claims (12)

투명 도전층을 형성하기 위한 기재가 되는 투명 도전층 형성용 기재로서,
기재 필름과, 상기 기재 필름의 면 상에 형성된 제1 수지층을 가지고,
상기 제1 수지층이, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 것을 특징으로 하는 투명 도전층 형성용 기재.
A base material for forming a transparent conductive layer serving as a base material for forming a transparent conductive layer, comprising:
Having a base film and a first resin layer formed on the surface of the base film,
The said 1st resin layer contains the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which has a silsesquioxane skeleton, The base material for transparent conductive layer formation characterized by the above-mentioned.
제1항에 있어서, 상기 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지가, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 (메트)아크릴레이트인 것을 특징으로 하는 투명 도전층 형성용 기재.The substrate for forming a transparent conductive layer according to claim 1, wherein the ultraviolet curable resin having a silsesquioxane skeleton is (meth)acrylate having a silsesquioxane skeleton. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지의 함유량이, 경화성 조성물의 고형분 전량 기준으로, 1 질량% 이상인 것을 특징으로 하는 투명 도전층 형성용 기재.The substrate for forming a transparent conductive layer according to claim 1 or 2, wherein the content of the ultraviolet curable resin having a silsesquioxane skeleton is 1 mass% or more based on the total solid content of the curable composition. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 기재 필름과 상기 제1 수지층 사이에, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제2 수지층을 갖는 것을 특징으로 하는 투명 도전층 형성용 기재.2nd containing the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which does not have a silsesquioxane skeleton between the said base film and the said 1st resin layer in any one of Claims 1-3 It has a resin layer, The base material for transparent conductive layer formation characterized by the above-mentioned. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 수지층은, 상기 기재 필름의 한쪽의 면 상에만 가지고, 상기 기재 필름의 다른쪽의 면 상에, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제3 수지층을 갖는 것을 특징으로 하는 투명 도전층 형성용 기재.The said 1st resin layer has only on one side of the said base film, On the other side of the said base film, it does not have a silsesquioxane skeleton in any one of Claims 1-4. A base material for forming a transparent conductive layer, comprising a third resin layer comprising a cured product of a curable composition comprising a non-UV curable resin. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 수지층은, 상기 기재 필름의 한쪽의 면 상에만 가지고, 상기 기재 필름의 다른쪽의 면 상에, 점착제층을 통해 보호 필름을 갖는 것을 특징으로 하는 투명 도전층 형성용 기재.The said 1st resin layer has only on one side of the said base film, On the other side of the said base film, a protective film through an adhesive layer in any one of Claims 1-5. A base material for forming a transparent conductive layer, characterized in that it has. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 수지층은, 상기 기재 필름의 양쪽의 면 상에 가지고 있는 것을 특징으로 하는 투명 도전층 형성용 기재.The said 1st resin layer has on both surfaces of the said base film, The base material for transparent conductive layer formation in any one of Claims 1-4 characterized by the above-mentioned. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 기재된 투명 도전층 형성용 기재의 제1 수지층의 면 상에 투명 도전층을 갖는 것을 특징으로 하는 투명 도전성 필름.It has a transparent conductive layer on the surface of the 1st resin layer of the base material for transparent conductive layer formation in any one of Claims 1-7, The transparent conductive film characterized by the above-mentioned. 제8항에 있어서, 상기 투명 도전층이 터치 패널의 전극에 이용되는 것을 특징으로 하는 투명 도전성 필름.The transparent conductive film according to claim 8, wherein the transparent conductive layer is used for an electrode of a touch panel. 제8항에 기재된 투명 도전층이 전극에 이용되고 있는 것을 특징으로 하는 터치 패널.The transparent conductive layer of Claim 8 is used for an electrode, The touch panel characterized by the above-mentioned. 투명 도전층을 형성하기 위한 기재가 되는 투명 도전층 형성용 기재의 제조 방법으로서,
기재 필름의 면 상에, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제1 수지층을 형성하는 것을 특징으로 하는 투명 도전층 형성용 기재의 제조 방법.
A method for manufacturing a substrate for forming a transparent conductive layer, which becomes a substrate for forming a transparent conductive layer, comprising:
The manufacturing method of the base material for transparent conductive layer formation characterized by forming on the surface of a base film the 1st resin layer containing the hardened|cured material of the curable composition containing the ultraviolet curable resin which has silsesquioxane skeleton.
제11항에 있어서, 기재 필름의 면 상에, 실세스퀴옥산 골격을 갖지 않는 자외선 경화성 수지를 포함하는 경화성 조성물의 경화물을 포함하는 제2 수지층을 형성한 후, 상기 제2 수지층의 면 상에 상기 제1 수지층을 형성하는 것을 특징으로 하는 투명 도전층 형성용 기재의 제조 방법.The method according to claim 11, after forming a second resin layer containing a cured product of a curable composition containing an ultraviolet curable resin having no silsesquioxane skeleton on the surface of the base film, the second resin layer A method of manufacturing a base material for forming a transparent conductive layer, characterized in that the first resin layer is formed on a surface thereof.
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