KR20210060133A - Coating Apparatus and manufacturing method of the Optical layer using the same - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a coating apparatus and a method for manufacturing an optical laminate using the same. More specifically, the present invention relates to: a coating apparatus which can real-time monitor the properties of a coating thin film, and thus can secure the uniformity of the coating thin film and reproducibility of the properties of a thermochromic thin film by controlling the coating process parameters in real time; and a method for manufacturing the optical laminate using the same.

Description

코팅 장치 및 이를 이용한 광학 적층체의 제조방법{Coating Apparatus and manufacturing method of the Optical layer using the same}Coating apparatus and manufacturing method of optical laminate using the same {Coating Apparatus and manufacturing method of the Optical layer using the same}

본 발명은 코팅 장치 및 이를 이용한 광학 적층체의 제조방법에 관한 것으로, 특히, 코팅 박막 특성에 대한 실시간 모니터링을 통해 코팅공정 변수를 실시간으로 제어함으로써, 코팅박막 균일화 및 열변색 박막 특성 재현성을 확보할 수 있는 코팅 장치 및 이를 이용한 광학 적층체의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a coating apparatus and a method of manufacturing an optical laminate using the same, and in particular, by controlling the coating process parameters in real time through real-time monitoring of the coating thin film properties, it is possible to ensure uniform coating thin film and reproducibility of thermochromic thin film properties. It relates to a possible coating device and a method of manufacturing an optical laminate using the same.

열변색성(thermochromism)을 가지는 열변색층을 유리에 코팅하여 적외선 투과율 제어를 통한 에너지 유입을 조절하는 열변색 유리(thermochromic glass)가 연구되고 있다.A thermochromic glass is being studied that controls the inflow of energy through infrared transmittance control by coating a thermochromic layer having thermochromism on glass.

열변색성은 어떤 천이 금속(transition metal)의 산화물 또는 황화물의 색이 천이온도(또는 임계온도)에서 가역적으로 변하는 현상으로서, 이러한 열변색성 재료를 유리에 코팅하면 특정 온도 이상에서는 가시광선은 들어오지만 근적외선 및 적외선이 차단되어 실내온도가 상승하지 않게 되는 열변색 유리를 제조할 수 있다. 이 특성을 이용함으로써, 여름철의 고온에서는 근적외광을 차폐해 실내의 온도 상승을 억제하고, 겨울철의 저온에서는 외부로부터의 빛 에너지를 가져올 수 있게 된다. 이러한 열변색 유리를 건물의 창호에 사용하면 큰 에너지 절약 효과를 기대할 수 있다. Thermochromic is a phenomenon in which the color of an oxide or sulfide of a certain transition metal changes reversibly at a transition temperature (or critical temperature). It is possible to manufacture a thermochromic glass that does not increase the indoor temperature by blocking near-infrared rays and infrared rays. By using this characteristic, it is possible to shield near-infrared light at high temperatures in summer to suppress an increase in indoor temperature, and to bring light energy from outside at low temperatures in winter. If such thermochromic glass is used for windows and doors of buildings, great energy savings can be expected.

대한민국 등록특허 제10-1955207호는 유무기 하이브리드 열변색층을 포함하는 광학 적층체 및 이의 제조방법를 개시하고 있으며, 산화바나듐 입자를 포함하는 용액을 기재 상에 도포하여 도포층을 형성하는 단계, 도포층으로부터 용매를 제거하는 단계, 및 도포층에 포함되어 있는 산화바나듐 입자를 광소결시키는 단계를 포함하는 광학 적층체의 제조방법을 개시하고 있다.Korean Patent Registration No. 10-1955207 discloses an optical laminate including an organic-inorganic hybrid thermochromic layer and a method for manufacturing the same, and forming a coating layer by applying a solution containing vanadium oxide particles on a substrate, applying Disclosed is a method of manufacturing an optical laminate comprising the step of removing the solvent from the layer and photo-sintering the vanadium oxide particles contained in the coating layer.

대면적을 위하여, 코팅박막을 균일하게 유지하고, 열변색 박막특성 재현성을 확보하기 위해서는, 코팅 공정 시 박막 특성에 대한 모니터링 및 코팅 공정 변수에 대한 제어가 필요하다.For a large area, in order to maintain the coating thin film uniformly and to secure the reproducibility of the thermochromic thin film characteristics, it is necessary to monitor the characteristics of the thin film during the coating process and control the parameters of the coating process.

본 발명은 코팅 박막 특성에 대한 실시간 모니터링을 통해 코팅공정 변수를 실시간으로 제어함으로써, 코팅박막 균일화 및 열변색 박막 특성 재현성을 확보할 수 있는 코팅 장치 및 이를 이용한 광학 적층체의 제조방법을 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.The present invention is to provide a coating apparatus capable of securing a coating thin film uniformity and reproducibility of thermochromic thin film characteristics by controlling a coating process variable in real time through real-time monitoring of a coating thin film characteristic, and a method of manufacturing an optical laminate using the same. Make it the task to be solved.

상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 잉크 공급부로부터 잉크를 공급받는 잉크 분사부 및 디플렉터를 포함하는 노즐부, 잉크 분사 시, 노즐부를 이동시키기 위한 이송부, 분사된 잉크로 형성된 박막 특성을 측정하기 위한 측정부 및 측정부의 측정된 결과에 기초하여, 노즐부 및 이송부를 제어하기 위한 제어부를 포함하며, 제어부는, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위를 벗어났을 때, 분사거리를 조절하고, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위 내에 있을 때, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위 내에 있는지 비교하며, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위를 벗어났을 때, 잉크 분사량을 조절하도록 마련된 코팅장치가 제공된다.In order to solve the above problems, according to an aspect of the present invention, a nozzle unit including an ink ejection unit and a deflector receiving ink from the ink supply unit, a transfer unit for moving the nozzle unit during ink injection, and formed of the jetted ink. A measurement unit for measuring thin film properties and a control unit for controlling the nozzle unit and the transfer unit based on the measured result of the measurement unit, and the control unit determines the spray distance when the measured area of the thin film is out of a predetermined area range. When the measured thin film area is within a predetermined area range, a coating device is provided to compare whether or not the measured thin film thickness is within a predetermined thickness range, and when the measured thin film thickness is out of a predetermined thickness range, a coating device provided to control the ink injection amount is provided. Is provided.

또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 상기 코팅 장치를 이용한 광학 적층체의 제조방법으로서, 산화바나듐 입자를 포함하는 잉크를 기재 상에 도포하여, 소정 박막면적, 박막 두께, 표면 거칠기 및 두께 균일도를 갖는 도포층을 형성하는 단계를 포함하며, 도포층을 형성하는 단계에서, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위를 벗어났을 때, 분사거리를 조절하고, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위 내에 있을 때, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위 내에 있는지 비교하며, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위를 벗어났을 때, 잉크 분사량을 조절하는 단계를 포함하는 광학 적층체의 제조방법이 제공된다.In addition, according to another aspect of the present invention, as a method of manufacturing an optical laminate using the coating device, an ink containing vanadium oxide particles is applied on a substrate to provide a predetermined thin film area, thin film thickness, surface roughness and thickness uniformity. Including the step of forming a coating layer having, in the step of forming the coating layer, when the measured thin film area is out of the predetermined area range, the spray distance is adjusted, and the measured thin film area is within the predetermined area range , Comparing whether or not the measured thin film thickness is within a predetermined thickness range, and when the measured thin film thickness is out of the predetermined thickness range, there is provided a method of manufacturing an optical laminate comprising the step of adjusting an ink ejection amount.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 적어도 일 실시예와 관련된 코팅장치 및 이를 이용한 광학 적층체의 제조방법에 따르면, 코팅 박막 특성에 대한 실시간 모니터링을 통해 코팅공정 변수를 실시간으로 제어함으로써, 코팅박막 균일화 및 열변색 박막 특성 재현성을 확보할 수 있다.As described above, according to the coating apparatus related to at least one embodiment of the present invention and the manufacturing method of the optical laminate using the same, by controlling the coating process parameters in real time through real-time monitoring of the properties of the coating thin film, uniform coating thin film And it is possible to secure the reproducibility of the thermochromic thin film characteristics.

도 1은 본 발명의 일 실시예와 관련된 코팅장치를 나타내는 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예와 관련된 광학 적층체의 제조방법을 나타내는 플로우차트이다.
1 is a block diagram showing a coating apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a flowchart showing a method of manufacturing an optical laminate according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 코팅장치 및 이를 이용한 광학 적층체의 제조방법을 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a coating apparatus according to an embodiment of the present invention and a method of manufacturing an optical laminate using the same will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

또한, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응되는 구성요소는 동일 또는 유사한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 하며, 설명의 편의를 위하여 도시된 각 구성 부재의 크기 및 형상은 과장되거나 축소될 수 있다.In addition, regardless of the reference numerals, the same or corresponding components are given the same or similar reference numbers, and redundant descriptions thereof will be omitted, and the size and shape of each component member shown for convenience of explanation are exaggerated or reduced. Can be.

도 1은 본 발명의 일 실시예와 관련된 코팅장치(1)를 나타내는 구성도이며, 도 2는 본 발명의 일 실시예와 관련된 광학 적층체의 제조방법을 나타내는 플로우차트이다.1 is a block diagram showing a coating apparatus 1 related to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flowchart showing a method of manufacturing an optical laminate according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예와 관련된 코팅장치(1)는 스프레이 코팅장치(1)로서, 초음파 노즐 스프레이 코팅장치(1)일 수 있다. The coating apparatus 1 related to an embodiment of the present invention is a spray coating apparatus 1, and may be an ultrasonic nozzle spray coating apparatus 1.

도 1을 참조하면, 상기 코팅장치(1)는 노즐부(20), 이송부(30), 측정부(40) 및 제어부(50)를 포함한다. Referring to FIG. 1, the coating apparatus 1 includes a nozzle unit 20, a transfer unit 30, a measurement unit 40, and a control unit 50.

본 문서에서, 잉크는 산화바나듐을 포함하는 용액 조성물을 의미하고, 상기 산화바나듐을 포함하는 용액 조성물은 산화바나듐 입자, 용매, 고분자 분산제 및 바인더를 포함할 수 있다. 있다. 일 실시태양으로, 산화바나듐 입자는 루틸형 이산화 바나듐(VO2) 입자를 포함할 수 있다. 이산화바나듐 입자의 함량은 예를 들어 용액 조성물 총 중량에 대하여 1 내지 50 중량%, 예를 들어 5 내지 40 중량%, 10 내지 35중량%, 15 내지 30 중량%이다. 또한 이산화바나듐 입자의 평균 직경은 1 내지 1000nm, 예를 들어 10 내지 500nm일 수 있으며, 이산화바나듐 입자 함량과 평균 직경을 상기 범위로 제어하는 경우 우수한 박막 형성, 균일한 분산성과 원하는 기능성을 얻을 수 있다. 상기 용액 조성물은 용매 내에 이산화바나듐 입자, 고분자 분산제 및 바인더를 혼합하여 균일하게 교반하여 제조할 수 있다. 용액 조성물(잉크)의 제조방법은 고분자 분산제를 제1용매와 혼합하여 고분자 분산제 용액을 제조하는 단계, 바인더를 제2용매와 혼합하여 바인더 용액을 제조하는 단계, 및 이산화바나듐 입자에 상기 고분자 분산제 용액과 바인더 용액을 혼합하여 잉크 용액을 제조하는 단계를 포함하고, 임의로 또는 선택적으로 도펀트를 추가로 혼합하는 단계를 포함할 수 있다 In this document, ink means a solution composition containing vanadium oxide, and the solution composition containing vanadium oxide may include vanadium oxide particles, a solvent, a polymer dispersant, and a binder. have. In one embodiment, the vanadium oxide particles may include rutile type vanadium dioxide (VO2) particles. The content of the vanadium dioxide particles is, for example, 1 to 50% by weight, for example 5 to 40% by weight, 10 to 35% by weight, 15 to 30% by weight based on the total weight of the solution composition. In addition, the average diameter of the vanadium dioxide particles may be 1 to 1000 nm, for example, 10 to 500 nm, and when the vanadium dioxide particle content and the average diameter are controlled within the above range, excellent thin film formation, uniform dispersibility and desired functionality can be obtained. . The solution composition may be prepared by mixing vanadium dioxide particles, a polymer dispersant, and a binder in a solvent, and stirring uniformly. The method of preparing a solution composition (ink) includes preparing a polymer dispersant solution by mixing a polymer dispersant with a first solvent, preparing a binder solution by mixing a binder with a second solvent, and the polymer dispersant solution in vanadium dioxide particles. And preparing an ink solution by mixing a binder solution and optionally or optionally further mixing a dopant.

각 단계별로 제조된 용액의 균일한 분산을 위하여 용액에 초음파를 인가할 수 있다. 일 예를 들어, 상기 제조방법은 고분자 분산제 용액에 초음파를 인가하는 단계, 바인더 용액에 초음파를 인가하는 단계, 잉크 용액에 초음파를 인가하는 단계로부터 이루어진 그룹 중에서 하나 이상의 단계를 추가로 포함할 수 있다. 초음파 인가 조건은 특별히 제한되지 않으나, 각 단계별로 30분 내지 2시간 동안 인가할 수 있다. Ultrasound may be applied to the solution for uniform dispersion of the solution prepared in each step. For example, the manufacturing method may further include one or more steps from the group consisting of applying ultrasonic waves to a polymer dispersant solution, applying ultrasonic waves to a binder solution, and applying ultrasonic waves to an ink solution. . The ultrasonic application conditions are not particularly limited, but may be applied for 30 minutes to 2 hours in each step.

상기 단계에서 제1용매와 제2용매는 각각 분산제와 바인더를 용해시킬 수 있는 용매라면 제한 없이 사용할 있으나, 예를 들어 제1 용매는 물, 제2용매는 에탄올을 사용할 수 있다.In the above step, the first solvent and the second solvent may be used without limitation as long as they are solvents capable of dissolving a dispersant and a binder, respectively. For example, water may be used as the first solvent and ethanol may be used as the second solvent.

한편, 코팅 장치(1)는 잉크 공급부(10)로부터 잉크를 공급받는 잉크 분사부 및 디플렉터를 포함하는 노즐부(20)를 포함한다. 상기 노즐부(20)는 잉크 공급부(10)로부터 공급된 잉크를 분사하여 기재 상에 도포하는 기능을 수행한다. 상기 노즐부(20)는 잉크가 분사되는 잉크 분사부를 포함하고, 잉크 분사부는 초음파 스프레이 방식으로 구성될 수 있다. 또한, 디플렉터는 잉크 분사부 측으로 공기 흐름을 인가하여 잉크 분사부로부터 분사되는 잉크의 분사 패턴(형태 등)을 조절시키는 기능을 수행한다. 구체적으로, 디플렉터는 초음파 노즐에서 떨어지는 잉크 입자들을 모아주는 기능을 수행하며, 잉크 분사부 양측에 각각 위치한 기체 분사구를 포함한다. 이때, 기체 분사구는 초음파 노즐에서 떨어지는 잉크 입자들 측으로 기체를 분사하도록 마련된다. 디플렉터 유량이 증가하게 되면, 노즐에서 떨어지는 잉크 입자를 더욱 미립화시키고, 넓은 면적에 분사되도록 유도된다. 이와는 다르게, 디플렉터 유량이 감소하게 되면, 노즐에서 떨어지는 분사 면적이 좁아지며, 박막 두께가 증가하게 된다.Meanwhile, the coating apparatus 1 includes a nozzle unit 20 including an ink ejection unit and a deflector receiving ink from the ink supply unit 10. The nozzle unit 20 performs a function of spraying ink supplied from the ink supply unit 10 and applying the ink onto the substrate. The nozzle unit 20 may include an ink ejection portion through which ink is ejected, and the ink ejection portion may be configured by an ultrasonic spray method. In addition, the deflector applies an air flow toward the ink ejection portion to adjust the ejection pattern (shape, etc.) of the ink ejected from the ink ejection portion. Specifically, the deflector performs a function of collecting ink particles falling from the ultrasonic nozzle, and includes gas injection ports respectively located on both sides of the ink injection unit. At this time, the gas injection port is provided to inject gas toward the ink particles falling from the ultrasonic nozzle. When the deflector flow rate is increased, ink particles falling from the nozzle are further atomized and are induced to be sprayed over a large area. On the contrary, when the deflector flow rate decreases, the spray area falling from the nozzle becomes narrower, and the thin film thickness increases.

또한, 코팅장치(1)는 잉크 분사 시, 노즐부(20)를 이동시키기 위한 이송부(30) 및 분사된 잉크로 형성된 박막 특성을 측정하기 위한 측정부(40)를 포함할 수 있다. 이송부(30)는 소정 경로(예를 들어, "ㄹ"자 형태 등)를 따라서 노즐부(20)를 이동시킬 수 있도록 구성될 수 있고, 이송부(30)는 노즐부(20) 및 기재 사이의 간격이 조절되도록 노즐부(20)를 이동시킬 수 있으며, 상기 간격에 따라, 분사 거리가 조절될 수 있다.In addition, the coating apparatus 1 may include a transfer unit 30 for moving the nozzle unit 20 when spraying ink, and a measurement unit 40 for measuring characteristics of a thin film formed of the sprayed ink. The transfer unit 30 may be configured to move the nozzle unit 20 along a predetermined path (for example, in the form of a “D” shape, etc.), and the transfer unit 30 may be formed between the nozzle unit 20 and the substrate. The nozzle unit 20 may be moved so that the spacing is adjusted, and the spraying distance may be adjusted according to the spacing.

또한, 본 문서에서, "분사 패턴 거리"라 함은 예를 들어, 노즐부(20)가 박막을 평면에서 바라볼 때, "ㄹ"자 형태의 이송경로를 따라 박막 상에서 이송될 때, 첫 번째 이송 라인("ㅡ")에서 두 번째 이송라인("ㅡ")과의 폭을 의미하며, 분사 패턴의 조정은 상기 폭의 조정을 의미한다. 또한, 분사 패턴 거리가 너무 넓으면, 박막 사이에 공백이 생길 수 있고, 분사 패턴 거리가 너무 짧으면, 커피 링 효과(coffee ring effect)가 발생하면서, 얼룩무늬가 발생할 수 있다. 이때, "분사 패턴 거리"를 조정한다는 의미는, 첫 번째 이송 라인("ㅡ")을 따라 이송되면서 도포된 도포층과 두 번째 이송 라인("ㅡ")을 따라 이송되면서 도포된 도포층이 중첩되되, 그 중첩 영역이 최소화되도록 조정함을 의미한다.In addition, in this document, the term "injection pattern distance" refers to the first It means the width of the conveying line ("-") to the second conveying line ("-"), and the adjustment of the spray pattern means the adjustment of the width. In addition, if the spray pattern distance is too wide, a void may occur between the thin films, and if the spray pattern distance is too short, a coffee ring effect may occur and a spot pattern may occur. At this time, the meaning of adjusting the "spray pattern distance" means that the applied layer is transferred while being transferred along the first transfer line ("ㅡ") and the coated layer applied while being transferred along the second transfer line ("ㅡ"). However, it means that the overlapping area is adjusted so that it is minimized.

또한, 측정부(40)는 코팅 박막 특성, 예를 들어, 코팅 박막의 면적, 두께, 표면거칠기 및 균일도를 측정할 수 있도록 마련되며, 코팅 공정에서 사용되는 공지의 센서를 통해 구성될 수 있다. 상기 측정부(40)는 코팅 박막의 도포 공정에서 실시간으로 코팅 박막의 특성을 측정하도록 마련된다In addition, the measuring unit 40 is provided to measure the properties of the coating thin film, for example, the area, thickness, surface roughness and uniformity of the coating thin film, and may be configured through a known sensor used in the coating process. The measuring unit 40 is provided to measure the properties of the coating thin film in real time in the coating process of the coating thin film.

제어부(50)는 측정부(40)의 측정된 결과에 기초하여, 노즐부(20) 및 이송부(30)를 제어하도록 마련된다. 본 문서에서, The control unit 50 is provided to control the nozzle unit 20 and the transfer unit 30 based on the measured result of the measurement unit 40. In this document,

상기 제어부(50)는 박막 면적 및 소정 면적범위(타겟 면적범위)를 1차로 비교하고, 박막 두께 및 소정 두께범위(타겟 두께범위)를 2차로 비교하며, 박막의 표면 거칠기 및 소정 거칠기 범위(타겟 거칠기범위)를 3차로 비교하고, 박막의 두께 균일도 및 소정 균일도 범위(타겟 균일도 범위)를 4차로 비교하도록 마련된다. 즉, 제어부(50)는 박막 면적, 박막 두께, 표면 거칠기 및 두께 균일도가 소정 범위 내에 있는지 차례로 비교하도록 마련된다.The control unit 50 first compares the thin film area and a predetermined area range (target area range), and secondly compares the thin film thickness and a predetermined thickness range (target thickness range), and the surface roughness and a predetermined roughness range (target area range) of the thin film. The roughness range) is compared in a third order, and the thickness uniformity of the thin film and a predetermined uniformity range (target uniformity range) are compared in a fourth order. That is, the control unit 50 is provided to sequentially compare whether the thin film area, the thin film thickness, the surface roughness, and the thickness uniformity are within a predetermined range.

구체적으로, 제어부(50)는 측정된 박막 면적이 소정 면적범위를 벗어났을 때, 분사거리를 조절하고, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위 내에 있을 때, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위 내에 있는지 비교하며, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위를 벗어났을 때, 잉크 분사량을 조절하도록 마련된다. Specifically, when the measured thin film area is out of a predetermined area range, the control unit 50 adjusts the spray distance, and when the measured thin film area is within a predetermined area range, the control unit 50 compares whether the measured thin film thickness is within a predetermined thickness range. And, when the measured thickness of the thin film is out of a predetermined thickness range, it is provided to control the ink injection amount.

한편, 분사거리 조정을 통해, 분사거리가 증가하면 더 넓은 면적에 박막 코팅이 되고, 분사거리가 좁을수록 분사각이 줄어들기 때문에 분사 면적이 줄어들게 된다.On the other hand, by adjusting the spraying distance, as the spraying distance increases, a thin film coating is formed on a wider area, and as the spraying distance decreases, the spraying angle decreases, so that the spraying area decreases.

또한, 잉크 분사량을 조절한다는 의미는 잉크 내 포함된 VO2 분말의 양을 조절하는 것을 의미한다. 따라서, VO2 입자가 적은 상태의 박막(잉크 분사량이 적은 상태로 코팅된 박막)의 경우에는 광소결 효과를 온전히 얻을 수 없으며, 나아가 광학적/기계적 특성 또한 얻을 수 없게 된다. In addition, controlling the ink injection amount means controlling the amount of VO2 powder contained in the ink. Therefore, in the case of a thin film having a small amount of VO2 particles (a thin film coated with a low ink injection amount), the light sintering effect cannot be fully obtained, and further, optical/mechanical properties cannot be obtained.

일 실시태양으로, 박막 면적이, 소정 면적 범위 보다 작은 값을 가질 때, 분사거리를 증가시키고, 박막 면적이, 소정 면적 범위 보다 큰 값을 가질 때, 분사거리를 감소시킬 수 있다.In one embodiment, when the thin film area has a value smaller than the predetermined area range, the spraying distance may be increased, and when the thin film area has a value larger than the predetermined area range, the spraying distance may be reduced.

또한, 박막 두께가, 소정 두께 범위 보다 작은 값을 가질 때, 잉크 분사량을 증가시키고, 박막 두께가, 소정 두께 범위 보다 큰 값을 가질 때, 분사량을 감소시킬 수 있다.In addition, when the thin film thickness has a value smaller than the predetermined thickness range, the ink ejection amount can be increased, and when the thin film thickness has a value larger than the predetermined thickness range, the ejection amount can be reduced.

또한, 제어부(50)는, 측정된 박막두께가 소정 두께범위 내에 있을 때, 측정된 박막의 표면 거칠기가 소정 거칠기 범위 내에 있는지 비교하며, 박막의 표면 거칠기가 소정 거칠기 범위를 벗어났을 때, 디플렉터 유량을 조절하도록 마련될 수 있다. 디플렉터 유랑이 감소하면 초음파 노즐에서 분사되는 잉크는 용매가 상대적으로 많이 잔존한 상태로 기재에 코팅되며, 반대로 디플렉터 유량이 증가하면 초음파 노즐에서 기재로 분사되는 동안 용매의 일부가 증발하여 잉크가 아닌 입자에 가까워진 상태로 코팅된다. 따라서 박막의 표면 거칠기가 증가하게 되며, 이에 따라 디플렉터 유량의 조절이 통해 박막의 표면 거칠기를 조정할 수 있다. In addition, when the measured thin film thickness is within a predetermined thickness range, the control unit 50 compares whether the measured surface roughness of the thin film is within a predetermined roughness range, and when the surface roughness of the thin film is outside the predetermined roughness range, the deflector flow rate It can be provided to adjust. When the deflector flow decreases, the ink sprayed from the ultrasonic nozzle is coated on the substrate with a relatively large amount of solvent remaining. On the contrary, when the deflector flow rate increases, a part of the solvent evaporates while spraying from the ultrasonic nozzle to the substrate, resulting in particles other than ink. It is coated in a state close to. Accordingly, the surface roughness of the thin film is increased, and accordingly, the surface roughness of the thin film can be adjusted by adjusting the deflector flow rate.

일 실시태양으로, 박막의 표면 거칠기가, 소정 거칠기 범위 보다 큰 값을 가질 때, 디플렉터 유량을 감소시킬 수 있다. 디플렉터 유량이 감소할수록 초음파 노즐에서 분사되는 잉크가 상대적으로 많은 용매가 잔존한 상태로 기재에 코팅되며, 용매가 유지되는 경우에는 레벨링 현상으로 박막 거칠기가 개선된다.In one embodiment, when the surface roughness of the thin film has a value greater than a predetermined roughness range, the deflector flow rate may be reduced. As the deflector flow rate decreases, the ink sprayed from the ultrasonic nozzle is coated on the substrate with a relatively large amount of solvent remaining, and when the solvent is maintained, the thin film roughness is improved by leveling.

또한, 제어부(50)는, 디플렉터 유량이 조절된 후, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위를 벗어났을 때, 분사거리를 조절하고, 박막면적이 소정 면적범위 내에 있을 때, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위 내에 있는지 비교하도록 마련될 수 있다. 즉, 표면 거칠기가 소정 거칠기 범위 내로 조정된 경우, 제어부(50)는 다시, 박막 면적이 소정 면적범위 내에 있는지 비교하게 된다. 박막의 표면 거칠기가 소정 거칠기 범위 내로 조정되는 경우는, 기재의 일부 면적에 집중된 상태로 코팅된 경우도 해당될 수 있으며, 따라서 코팅이 온전하게 되고 있는 것이 맞는지 확인하기 위해 박막 면적 비교 단계로 돌아갈 수 있다 In addition, after the deflector flow rate is adjusted, when the measured thin film area is out of a predetermined area range, the control unit 50 adjusts the spray distance, and when the thin film area is within a predetermined area range, the measured thin film thickness is predetermined. It may be provided to compare whether it is within the thickness range. That is, when the surface roughness is adjusted within the predetermined roughness range, the control unit 50 again compares whether the thin film area is within the predetermined area range. If the surface roughness of the thin film is adjusted within the predetermined roughness range, it may also be the case that the coating is concentrated in a partial area of the substrate, and therefore, it is possible to return to the thin film area comparison step to confirm that the coating is intact. have

또한, 제어부(50)는, 잉크 분사량이 조절된 후, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위를 벗어났을 때, 분사거리를 조절하고, 박막면적이 소정 면적범위 내에 있을 때, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위 내에 있는지 비교하도록 마련될 수 있다. 즉, 박막 두께가 소정 두께 범위 내로 조정된 경우, 제어부(50)는 다시, 박막 면적이 소정 면적범위 내에 있는지 비교하게 된다.In addition, after the ink injection amount is adjusted, when the measured thin film area is out of a predetermined area range, the control unit 50 adjusts the injection distance, and when the thin film area is within a predetermined area range, the measured thin film thickness is predetermined. It may be provided to compare whether it is within the thickness range. That is, when the thin film thickness is adjusted within the predetermined thickness range, the control unit 50 again compares whether the thin film area is within the predetermined area range.

또한, 제어부(50)는, 측정된 박막의 표면 거칠기가 소정 범위 내에 있을 때, 측정된 박막의 두께 균일도가 소정 균일도 범위 내에 있는지 비교하고, 측정된 박막의 두께 균일도가 소정 균일도 범위를 벗어났을 때, 분사 패턴 거리를 조절하도록 마련될 수 있다. In addition, when the measured surface roughness of the thin film is within a predetermined range, the control unit 50 compares whether the measured thickness uniformity of the thin film is within a predetermined uniformity range, and when the measured thickness uniformity of the thin film is outside the predetermined uniformity range. , It may be provided to adjust the spray pattern distance.

일 실시태양으로, 박막 두께 균일도가, 소정 균일도 범위 보다 큰 값을 가질 때, 분사 패턴 거리를 조정시킬 수 있다. 박막 두께 균일도가 소정 균일도 범위보다 큰 값을 갖는 것은 박막 두께가 불균일함을 의미한다. 이러한 경우는 분사 패턴거리가 너무 좁거나 너무 넓은 경우에 발생할 수 있다. 분사 패턴 거리가 너무 좁은 경우에는 앞서 설명한 얼룩무늬가 남아 균일도 측정 시 박막 두께 편차가 커지며 두께 균일도가 높은 값을 가지게 되고, 넓은 경우에는 코팅이 온전히 되지 못한 상태로 두께 편차가 커지며 표면 균일도가 높은 값을 가지게 된다. In one embodiment, when the thin film thickness uniformity has a value greater than a predetermined uniformity range, the spray pattern distance may be adjusted. The thin film thickness uniformity having a value greater than the predetermined uniformity range means that the thin film thickness is non-uniform. This may occur when the spray pattern distance is too narrow or too wide. If the spray pattern distance is too narrow, the above-described spot pattern remains, and when the uniformity is measured, the thickness deviation of the thin film increases and the thickness uniformity has a high value.If the spray pattern distance is too narrow, the thickness deviation increases as the coating is not intact, and the surface uniformity is high. Will have.

도 2를 참조하여, 상기와 같은 구조를 갖는 코팅 장치를 이용한 광학 적층체의 제조방법(이하, 제조방법이라고 함)을 설명한다.Referring to FIG. 2, a method of manufacturing an optical laminate (hereinafter referred to as a manufacturing method) using a coating device having the above structure will be described.

본 발명의 일 실시예와 관련된 광학 적층체의 제조방법은, 상기 코팅 장치(1)를 이용한 광학 적층체의 제조방법으로서, 산화바나듐 입자를 포함하는 잉크를 기재 상에 도포하여, 소정 박막면적, 박막 두께, 표면 거칠기 및 두께 균일도를 갖는 도포층을 형성하는 단계를 포함한다.A method of manufacturing an optical layered product according to an embodiment of the present invention is a method of manufacturing an optical layered product using the coating device 1, wherein an ink containing vanadium oxide particles is applied on a substrate to obtain a predetermined thin film area, And forming a coating layer having a thin film thickness, surface roughness, and thickness uniformity.

이때, 제조방법은, 도포층을 형성하는 단계에서, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위 내에 있는지 비교(S101)하고, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위를 벗어났을 때, 분사거리를 조절(S105)하고, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위 내에 있을 때, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위 내에 있는지 비교(S102)하며, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위를 벗어났을 때, 잉크 분사량을 조절(S106)하는 단계를 포함한다.At this time, in the manufacturing method, in the step of forming the coating layer, it is compared whether the measured thin film area is within a predetermined area range (S101), and when the measured thin film area is out of the predetermined area range, the spray distance is adjusted (S105). And, when the measured thin film area is within the predetermined area range, it is compared whether the measured thin film thickness is within the predetermined thickness range (S102), and when the measured thin film thickness is out of the predetermined thickness range, the ink injection amount is adjusted (S106). It includes the step of.

또한, 제조방법은, 도포층을 형성하는 단계에서, 측정된 박막두께가 소정 두께범위 내에 있을 때, 측정된 박막의 표면 거칠기가 소정 거칠기 범위 내에 있는지 비교(S103)하며, 박막의 표면 거칠기가 소정 거칠기 범위를 벗어났을 때, 디플렉터 유량을 조절(S107)하는 단계를 포함한다.In addition, in the manufacturing method, in the step of forming the coating layer, when the measured thickness of the thin film is within a predetermined thickness range, a comparison is made to see if the surface roughness of the measured thin film is within a predetermined roughness range (S103), and the surface roughness of the thin film is predetermined. When out of the roughness range, including the step of adjusting the deflector flow rate (S107).

또한, 제조방법은, 도포층을 형성하는 단계에서, 측정된 박막의 표면 거칠기가 소정 범위 내에 있을 때, 측정된 박막의 두께 균일도가 소정 균일도 범위 내에 있는지 비교(S104)하고, 측정된 박막의 두께 균일도가 소정 균일도 범위를 벗어났을 때, 분사 패턴 거리를 조절(S108)하는 단계를 포함한다.In addition, in the manufacturing method, in the step of forming the coating layer, when the surface roughness of the measured thin film is within a predetermined range, the thickness uniformity of the measured thin film is compared (S104), and the measured thickness of the thin film is within a predetermined uniformity range. When the uniformity is out of the predetermined uniformity range, adjusting the spray pattern distance (S108).

또한, 제조방법은, 도포가 완료된 상태에서, 상기 도포층에 광을 조사하여 도포층의 유기물을 제거하는 광증발 단계 및 광을 조사하여 도포층에 포함되어 있는 산화바나듐 입자를 광소결시켜 산화 바나듐 클러스터를 포함하는 열변색층을 제조하는 광소결 단계를 포함할 수 있다.In addition, the manufacturing method includes a photoevaporation step of irradiating light to the coating layer to remove organic matter from the coating layer, and vanadium oxide particles included in the coating layer by irradiating light to photo-sinter vanadium oxide. It may include a photosintering step of manufacturing a thermochromic layer including clusters.

상기 광증발 단계 및 광소결 단계를 이용한 제조방법은, 특히, 고분자 필름과 같이 열에 민감한 재질의 기재 상에 열변색층을 형성하고자 할 때 효과적인 방법일 수 있다. 상기 제조 방법은 2 스텝(광증발 단계 및 광소결 단계)으로 광을 조사함에 따라, 기재의 물리적 변형이 일어나지 않으면서도, 제어된 가시광 투과율 및 적외선 투과/차단 특성을 가지는 열변색층을 기재 상에 형성시킬 수 있다.The manufacturing method using the light evaporation step and the light sintering step may be an effective method, in particular, when it is desired to form a thermochromic layer on a substrate made of a material sensitive to heat such as a polymer film. In the above manufacturing method, by irradiating light in two steps (photoevaporation step and light sintering step), a thermochromic layer having controlled visible light transmittance and infrared transmission/blocking properties is formed on the base material without causing physical deformation of the base material. Can be formed.

상기 광증발 단계에서 광 조사에 의해 대부분의 유기물이 제거되며, 광소결 단계에서 광 조사에 의해 산화 바나듐 입자 간 결합이 발생하면서 (neck growth) 산화 바나듐 클러스터가 형성된다. In the light evaporation step, most of the organic matter is removed by light irradiation, and in the light sintering step, vanadium oxide clusters are formed as bonds between vanadium oxide particles occur (neck growth) by light irradiation.

한편 이러한 광증발 및 광소결 단계에서 고온의 열이 수반된다. 따라서, 고분자 필름과 같이 열에 민감한 재질로 기재를 구성하는 경우, 광증발 및 광소결 단계의 구체적인 조건, 예를 들어, 광의 종류, 인가되는 전압(출력 전압), 펄스 폭, 펄스 수(광의 반복 조사 횟수), 펄스 간격(진동수)를 제어하여 고분자 필름의 물리적 변형이 일어나지 않으면서 목적하는 물성을 가지는 열변색층을 제조할 수 있다. 예를 들어, 광은 제논 램프에서 인가되는 백색광을 사용할 수 있고, 전압은 1000 내지 3000V, 펄스 수는 1 내지 500 회, 펄스 간격은 1 내지 10Hz, 펄스 폭은 1ms 내지 10ms일 수 있다.On the other hand, high-temperature heat is involved in the steps of photoevaporation and photo-sintering. Therefore, when the substrate is composed of a heat-sensitive material such as a polymer film, specific conditions of the photoevaporation and photo-sintering steps, for example, the type of light, the applied voltage (output voltage), the pulse width, and the number of pulses (repetitive irradiation of light) The number of times) and pulse interval (frequency) can be controlled to prepare a thermochromic layer having desired physical properties without physical deformation of the polymer film. For example, the light may be white light applied from the xenon lamp, the voltage may be 1000 to 3000V, the number of pulses may be 1 to 500 times, the pulse interval may be 1 to 10 Hz, the pulse width may be 1 ms to 10 ms.

먼저 광증발 단계에서, 펄스 수가 증가할수록 총 에너지가 증가하여 용매의 제거가 효과적으로 일어나지만, 펄스 수가 지나치게 높은 경우 총 에너지(Total energy)가 증가하여 고분자 필름의 물리적 변형이 발생될 수 있다. 상기 총 에너지는 출력 전압, 펄스 폭, 펄스 간격, 펄스 수에 의해 결정된다. 상기 펄스 수는 예를 들어 200 내지 400회, 250 내지 350 회, 또는 약 300회가 적절할 수 있다. First, in the photoevaporation step, as the number of pulses increases, the total energy increases to effectively remove the solvent. However, if the number of pulses is too high, the total energy increases, thereby causing physical deformation of the polymer film. The total energy is determined by the output voltage, pulse width, pulse interval, and number of pulses. The number of pulses may be appropriate, for example, 200 to 400 times, 250 to 350 times, or about 300 times.

펄스 간격이 감소할수록 초당 인가되는 평균 전력(average power)의 증가로 공정시간이 감소될 수 있다. 상기 평균 전력은 출력 전압, 펄스 폭, 펄스 간격에 의해 결정된다. 다만, 펄스 간격이 1Hz 이상부터 용매의 증발이 이루어질 수 있고, 1Hz 미만인 경우 베드 온도가 급격히 상승하게 되어 고분자 필름의 물리적 변형이 발생될 수 있다. As the pulse interval decreases, the processing time may decrease due to an increase in average power applied per second. The average power is determined by the output voltage, pulse width, and pulse interval. However, evaporation of the solvent may occur from a pulse interval of 1 Hz or more, and if the pulse interval is less than 1 Hz, the bed temperature may rise rapidly, thereby causing physical deformation of the polymer film.

또한, 출력 전압이 증가할수록 유기물의 제거가 효과적으로 일어나지만, 고분자 필름의 물리적 변형이 발생될 수 있으며, 물리적 변형이 일어나지 않는 적정 전압은 1000V 내지 1500V, 1100V 내지 1400V 또는 1200V 내지 1300V 범위 내일 수 있다.In addition, as the output voltage increases, organic matters are effectively removed, but physical deformation of the polymer film may occur, and an appropriate voltage at which physical deformation does not occur may be in the range of 1000V to 1500V, 1100V to 1400V, or 1200V to 1300V.

또한 출력 전압이 증가할수록 열변색층과 기재 사이에 형성된 접촉면에서의 유기물(탄소 또는 질소)의 농도가 감소하였고, 예를 들어, 1200V에서 유기물의 농도가 급감하며, 1100V에서 최초 유기물 제거가 일어난다.In addition, as the output voltage increases, the concentration of organic matter (carbon or nitrogen) at the contact surface formed between the thermochromic layer and the substrate decreases.For example, the concentration of organic matter rapidly decreases at 1200V, and the initial organic matter removal occurs at 1100V.

한편 출력 전압은 적층체의 가시광 투과율 및 적외선 투과율과 연관성이 있고, 전압이 증가할수록 고분자 필름의 물리적 변형이 일어나 가시광 투과율이 떨어지며, 적외선 투과율은, 낮은 전압 예를 들어, 1200 V까지 적외선 투과율이 증가하나, 1400V 이상에서 열변색층의 크랙 형성에 의해 떨어진다.On the other hand, the output voltage is related to the visible light transmittance and infrared transmittance of the laminate, and as the voltage increases, the polymer film physically deforms, resulting in a decrease in the visible light transmittance, and the infrared transmittance increases to a low voltage, e.g., 1200 V. However, at 1400V or higher, it falls due to the formation of cracks in the thermochromic layer.

상기 광소결 단계는, 광증발 단계에서 구체적인 광 조사 조건을 후술하는 광소결 조건으로 변형하는 단계이고, 따라서, 광증발 단계와 광소결 단계는 연속적으로 수행될 수 있다.The light sintering step is a step of transforming a specific light irradiation condition from the light evaporation step to a light sintering condition to be described later, and thus, the light evaporation step and the light sintering step may be performed continuously.

상기 광소결 단계에서 광의 출력 전압은 광증발 단계에서 광의 출력 전압 보다 높을 수 있다. 광소결 단계에서 광의 출력 전압은 산화 바나듐 입자의 소결이 이루어지는 동시에 기재의 변형이 발생되지 않는 범위 내에서 선택되어야 하며, 예를 들어, 1500V 내지 3000V, 1600 내지 2500V, 1700V 내지 1800V, 또는 약 1700V일 수 있다. The output voltage of light in the photo-sintering step may be higher than the output voltage of light in the photoevaporation step. In the photosintering step, the output voltage of light should be selected within a range in which the vanadium oxide particles are sintered and the substrate is not deformed, for example, 1500V to 3000V, 1600 to 2500V, 1700V to 1800V, or about 1700V. I can.

또한, 광증발 단계 및 광소결 단계는 일정한 펄스 폭을 갖고 반복적으로 광을 조사하되, 광소결 단계에서 광의 반복 조사 횟수는, 광증발 단계에서 광의 반복 횟수 이하일 수 있다. 광소결 단계에서, 조사 횟수가 증가할수록 산화 바나듐 입자간 간격이 좁아져 산화 바나듐 클러스터가 형성될 수 있다. 광소결 단계에서 조사 횟수가 증가할수록 가시광 투과율 및 적외선 투과율이 향상되지만, 일정 횟수를 넘어서면 기재의 변형이 발생되어 감소하게 된다. 예를 들어, 200회까지 적외선 투과율이 향상되고, 250회 이상에서 가시광 투과율 및 적외선 투과율이 떨어진다. 따라서, 광소결 단계에서 조사 횟수는 50 내지 300회, 100회 내지 250회, 150 내지 200회 또는 약 200회가 적절할 수 있다.In addition, the light evaporation step and the light sintering step are repeatedly irradiated with light having a constant pulse width, but the number of repeated light irradiation in the light sintering step may be less than or equal to the number of repetitions of light in the light evaporation step. In the photosintering step, as the number of irradiation increases, the spacing between the vanadium oxide particles narrows, so that vanadium oxide clusters may be formed. In the light sintering step, as the number of irradiations increases, the visible light transmittance and the infrared transmittance are improved, but when the number of times of irradiation is increased, the substrate is deformed and decreased. For example, infrared transmittance is improved up to 200 times, and visible light transmittance and infrared transmittance are deteriorated at 250 times or more. Therefore, the number of irradiation times in the photosintering step may be appropriate 50 to 300 times, 100 to 250 times, 150 to 200 times, or about 200 times.

또한, 광소결 단계에서 광의 펄스 폭은, 광증발 단계에서 광의 펄스 폭보다 작을 수 있다. 예를 들어, 광증발 단계에서 펄스 폭은 1 내지 10ms, 2 내지 8ms 또는 3 내지 5ms일 수 있고, 광소결 단계에서 펄스 폭은 0.1 내지 5ms, 0.5 내지 3ms 또는 1 내지 2ms일 수 있다. In addition, the pulse width of light in the photo-sintering step may be smaller than the pulse width of light in the photoevaporation step. For example, in the photoevaporation step, the pulse width may be 1 to 10 ms, 2 to 8 ms, or 3 to 5 ms, and in the photo sintering step, the pulse width may be 0.1 to 5 ms, 0.5 to 3 ms, or 1 to 2 ms.

하나의 예시에서, 광증발 단계 및 광소결 단계는 대기 분위기 하에서 수행될 수 있다. 특히, 광증발 단계에서 분위기는 유기물 제거와 연관성이 있으며, 예를 들어 배드 내 산소 농도가 유기물 제거에 주요한 요인으로 작용한다. 특히 질소 또는 아르곤과 같은 비활성 분위기 또는 진공 분위기에서 진행되는 경우 대부분의 유기물이 제거되지 않아 표면에서의 유기물 농도가 증가한다. 표면에서의 유기물 농도는 적외선 투과율과 연관성이 있으며, 예를 들어, 대기 분위기, 비활성 분위기, 진공 분위기 순으로 표면에서의 유기물 농도가 증가하며, 적외선 투과율은 대기 분위기, 비활성 분위기, 진공 분위기 순으로 떨어진다.In one example, the light evaporation step and the light sintering step may be performed under an atmospheric atmosphere. In particular, the atmosphere in the photoevaporation step is related to the removal of organic matter, and, for example, the oxygen concentration in the bed acts as a major factor in the removal of organic matter. In particular, when proceeding in an inert atmosphere such as nitrogen or argon or in a vacuum atmosphere, most of the organic matter is not removed, so that the concentration of the organic matter on the surface increases. The concentration of organic matter on the surface is related to the infrared transmittance, for example, the concentration of organic matter on the surface increases in the order of atmospheric atmosphere, inert atmosphere, and vacuum atmosphere, and infrared transmittance decreases in the order of atmospheric atmosphere, inert atmosphere, and vacuum atmosphere. .

위에서 설명된 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.Preferred embodiments of the present invention described above are disclosed for the purpose of illustration, and those skilled in the art having ordinary knowledge of the present invention will be able to make various modifications, changes, and additions within the spirit and scope of the present invention. And additions should be seen as falling within the scope of the following claims.

1: 코팅장치
10: 잉크 공급부
20: 노즐부
30: 이송부
40: 측정부
50: 제어부
1: coating device
10: ink supply
20: nozzle part
30: transfer unit
40: measuring unit
50: control unit

Claims (9)

잉크 공급부로부터 잉크를 공급받는 잉크 분사부 및 디플렉터를 포함하는 노즐부;
잉크 분사 시, 노즐부를 이동시키기 위한 이송부;
분사된 잉크로 형성된 박막 특성을 측정하기 위한 측정부; 및
측정부의 측정된 결과에 기초하여, 노즐부 및 이송부를 제어하기 위한 제어부를 포함하며,
제어부는, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위를 벗어났을 때, 분사거리를 조절하고, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위 내에 있을 때, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위 내에 있는지 비교하며, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위를 벗어났을 때, 잉크 분사량을 조절하도록 마련된 코팅장치.
A nozzle unit including an ink ejection unit and a deflector receiving ink from the ink supply unit;
A transfer unit for moving the nozzle unit during ink injection;
A measuring unit for measuring characteristics of a thin film formed of the jetted ink; And
Based on the measured result of the measurement unit, it includes a control unit for controlling the nozzle unit and the transfer unit,
When the measured thin film area is out of a predetermined area range, the control unit adjusts the spray distance, and when the measured thin film area is within a predetermined area range, the control unit compares whether the measured thin film thickness is within a predetermined thickness range, and the measured thin film When the thickness is out of the predetermined thickness range, a coating device provided to control the ink injection amount.
제 1 항에 있어서,
제어부는, 측정된 박막두께가 소정 두께범위 내에 있을 때, 측정된 박막의 표면 거칠기가 소정 거칠기 범위 내에 있는지 비교하며, 박막의 표면 거칠기가 소정 거칠기 범위를 벗어났을 때, 디플렉터 유량을 조절하도록 마련된 코팅장치.
The method of claim 1,
The control unit compares whether or not the measured surface roughness of the thin film is within a predetermined roughness range when the measured thickness of the thin film is within a predetermined thickness range, and when the surface roughness of the thin film is out of the predetermined roughness range, the coating provided to adjust the deflector flow rate Device.
제 2 항에 있어서,
제어부는, 디플렉터 유량이 조절된 후, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위를 벗어났을 때, 분사거리를 조절하고, 박막면적이 소정 면적범위 내에 있을 때, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위 내에 있는지 비교하도록 마련된 코팅장치.
The method of claim 2,
After the deflector flow rate is adjusted, when the measured thin film area is out of a predetermined area range, the control unit adjusts the spray distance, and when the thin film area is within a predetermined area range, the measured thin film thickness is within a predetermined thickness range. Coating device prepared to be.
제 1 항에 있어서,
제어부는, 잉크 분사량이 조절된 후, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위를 벗어났을 때, 분사거리를 조절하고, 박막면적이 소정 면적범위 내에 있을 때, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위 내에 있는지 비교하도록 마련된 코팅장치.
The method of claim 1,
After the ink injection amount is adjusted, the control unit adjusts the injection distance when the measured thin film area is out of a predetermined area range, and compares whether the measured thin film thickness is within a predetermined thickness range when the thin film area is within a predetermined area range. Coating device prepared to be.
제 2 항에 있어서,
제어부는, 측정된 박막의 표면 거칠기가 소정 범위 내에 있을 때, 측정된 박막의 두께 균일도가 소정 균일도 범위 내에 있는지 비교하고, 측정된 박막의 두께 균일도가 소정 균일도 범위를 벗어났을 때, 분사 패턴 거리를 조절하도록 마련된 코팅장치.
The method of claim 2,
When the measured surface roughness of the thin film is within a predetermined range, the control unit compares whether the measured thickness uniformity of the thin film is within a predetermined uniformity range, and when the measured thickness uniformity of the thin film is outside the predetermined uniformity range, the spray pattern distance is determined. Coating device provided to adjust.
제 1 항에 따른 코팅 장치를 이용한 광학 적층체의 제조방법으로서,
산화바나듐 입자를 포함하는 잉크를 기재 상에 도포하여, 소정 박막면적, 박막 두께, 표면 거칠기 및 두께 균일도를 갖는 도포층을 형성하는 단계를 포함하며,
도포층을 형성하는 단계에서, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위를 벗어났을 때, 분사거리를 조절하고, 측정된 박막 면적이 소정 면적범위 내에 있을 때, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위 내에 있는지 비교하며, 측정된 박막 두께가 소정 두께범위를 벗어났을 때, 잉크 분사량을 조절하는 단계를 포함하는 광학 적층체의 제조방법.
As a method of manufacturing an optical laminate using the coating device according to claim 1,
Comprising the step of forming a coating layer having a predetermined thin film area, thin film thickness, surface roughness, and thickness uniformity by applying an ink containing vanadium oxide particles on a substrate,
In the step of forming the coating layer, when the measured thin film area is out of the predetermined area range, the spraying distance is adjusted, and when the measured thin film area is within the predetermined area range, the measured thin film thickness is within the predetermined thickness range. And, when the measured thickness of the thin film is out of the predetermined thickness range, the method of manufacturing an optical laminate comprising the step of adjusting the ink injection amount.
제 6 항에 있어서,
도포층을 형성하는 단계에서, 측정된 박막두께가 소정 두께범위 내에 있을 때, 측정된 박막의 표면 거칠기가 소정 거칠기 범위 내에 있는지 비교하며, 박막의 표면 거칠기가 소정 거칠기 범위를 벗어났을 때, 디플렉터 유량을 조절하는 단계를 포함하는 광학 적층체의 제조방법.
The method of claim 6,
In the step of forming the coating layer, when the measured thickness of the thin film is within a predetermined thickness range, it is compared whether the surface roughness of the measured thin film is within a predetermined roughness range, and when the surface roughness of the thin film is out of the predetermined roughness range, the deflector flow rate Method of manufacturing an optical laminate comprising the step of controlling.
제 7 항에 있어서,
도포층을 형성하는 단계에서, 측정된 박막의 표면 거칠기가 소정 범위 내에 있을 때, 측정된 박막의 두께 균일도가 소정 균일도 범위 내에 있는지 비교하고, 측정된 박막의 두께 균일도가 소정 균일도 범위를 벗어났을 때, 분사 패턴 거리를 조절하는 단계를 포함하는, 광학 적층체의 제조방법.
The method of claim 7,
In the step of forming the coating layer, when the surface roughness of the measured thin film is within a predetermined range, it is compared whether the measured thickness uniformity of the thin film is within a predetermined uniformity range, and when the measured thickness uniformity of the thin film is out of the predetermined uniformity range. , A method of manufacturing an optical laminate comprising the step of adjusting the spray pattern distance.
제 6 항에 있어서,
도포가 완료된 상태에서, 상기 도포층에 광을 조사하여 도포층의 유기물을 제거하는 광증발 단계; 및
광을 조사하여 도포층에 포함되어 있는 산화바나듐 입자를 광소결시켜 산화 바나듐 클러스터를 포함하는 열변색층을 제조하는 광소결 단계를 추가로 포함하는 광학 적층체의 제조방법.
The method of claim 6,
A photoevaporation step of removing organic substances in the coating layer by irradiating light to the coating layer in a state in which coating is completed; And
A method of manufacturing an optical laminate, further comprising a photo-sintering step of producing a thermochromic layer including vanadium oxide clusters by irradiating light to photosinter vanadium oxide particles included in the coating layer.
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