KR20210042620A

KR20210042620A - 검사 장치용 소켓

Info

Publication number: KR20210042620A
Application number: KR1020190125393A
Authority: KR
Inventors: 김민지
Original assignee: 엘지이노텍 주식회사
Priority date: 2019-10-10
Filing date: 2019-10-10
Publication date: 2021-04-20

Abstract

실시 예는 제1 플레이트; 제1 캐비티; 및 상기 제1 캐비티와 마주보게 배치되는 제2 캐비티;를 포함하는 제2 플레이트; 상기 제1 플레이트와 상기 제2 플레이트 사이에서 상기 제1 캐비티 내에 배치되는 복수의 핀; 및 상기 제2 캐비티에 내에 배치되는 형상 프레임;을 포함하고, 상기 복수의 핀은 상기 형상 프레임에 대응하여 제1 방향으로 상기 제1 플레이트를 관통하고, 상기 제1 방향은 상기 제1 플레이트에서 상기 제2 플레이트를 향한 방향인 검사 장치용 소켓을, 개시한다.

Description

검사 장치용 소켓{SOCKET FOR TEST DEVICE}

실시 예는 검사 장치용 소켓에 관한 것이다.

근래 타블렛 컴퓨터, 카메라 폰, PDA, 스마트 폰, 장난감(toy)등의 다양한 멀티미디어 분야, 나아가서는 감시 카메라나 비디오 테이프 레코더의 정보 단말 등의 화상입력기기용으로 소형의 카메라 모듈의 수요가 높아지고 있다. 특히, 스마트 폰은 소형화된 디자인을 선호하는 소비자의 수요 증가에 따라 작은 사이즈의 카메라 모듈을 개발하는 추세에 있다.

이러한 카메라 모듈은 CCD나 CMOS의 이미지 센서 칩을 이용하여 제조하며, 이미지 센서 칩에 렌즈를 통하여 사물을 집광하여, 광 신호를 전기 신호로 변환하여 LCD 디스플레이 장치 등의 디스플레이 매체에 사물이 표시될 수 있도록 영상을 전달한다.

상기한 카메라 모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short)테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 된다. 모듈의 성능 평가 시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하기 때문에, 실제로 카메라 모듈이 장착되는 전자부품과 동일간 작동신호 및 전원을 공급하여, 카메라 모듈의 이상유무를 체크한다.

이와 같은 검사는 카메라 모듈이 안착될 수 있는 소켓을 마련하고, 이 소켓 내부에 카메라 모듈을 안착시킨 후, 카메라 모듈의 전원 및 제어신호를 전달 받기 위한 핀들을 통전 가능한 상기 소켓의 단자들과 연결하여 테스트를 진행한다. 상기 소켓은 개폐 가능한 구조로 구성하여, 상기 카메라 모듈을 테스트 할 경우에는 소켓을 오픈하여, 내부에 마련된 카메라 모듈 안착부에 테스트할 카메라 모듈을 안착시킨 후, 소켓을 닫아 상기 카메라 모듈의 핀과 소켓의 단자들을 연결하는 것이 일반적이다.

한편, 카메라 모듈 등 검사체의 형상에 따라 다양한 종류의 소켓을 구비해야 하는 문제가 있다.

실시 예는 다양한 형상의 검사체에 대해 용이하게 검사를 수행하는 검사 장치용 소켓을 제공한다.

또한, 검사체의 종류가 변경되더라도 일부 구성요소의 교체만으로 검사를 수행할 수 있는 검사 장치용 소켓을 제공한다.

실시 예에서 해결하고자 하는 과제는 이에 한정되는 것은 아니며, 아래에서 설명하는 과제의 해결수단이나 실시 형태로부터 파악될 수 있는 목적이나 효과도 포함된다고 할 것이다.

실시예에 따른 검사 장치용 소켓은 제1 플레이트; 제1 캐비티; 및 상기 제1 캐비티와 마주보게 배치되는 제2 캐비티;를 포함하는 제2 플레이트; 상기 제1 플레이트와 상기 제2 플레이트 사이에서 상기 제1 캐비티 내에 배치되는 복수의 핀; 및 상기 제2 캐비티에 내에 배치되는 형상 프레임;을 포함하고, 상기 복수의 핀은 상기 형상 프레임에 대응하여 제1 방향으로 상기 제1 플레이트를 관통하고, 상기 제1 방향은 상기 제1 플레이트에서 상기 제2 플레이트를 향한 방향이다.

상기 형상 프레임은 개구 영역 및 비개구 영역을 포함하고, 상기 복수의 핀은 상기 개구 영역에서 상기 제1 플레이트를 관통하고, 상기 비개구 영역에서 상기 제2 플레이트를 관통할 수 있다.

상기 제1 플레이트는, 상기 개구 영역과 상기 제1 방향으로 중첩되는 비안착부와 상기 비개구 영역과 상기 제1 방향으로 중첩되어 검사체가 수용되는 안착부를 포함할 수 있다.

상기 비안착부와 상기 안착부는 상기 형상 프레임에 대응하여 가변할 수 있다.

상기 제1 플레이트는 복수의 제1 홀을 포함하고, 상기 제2 플레이트는 복수의 제2 홀을 포함하고, 상기 복수의 핀은 상기 제1 홀 및 상기 제2 홀과 상기 제1 방향으로 중첩 배치될 수 있다.

상기 복수의 제2 홀은 상기 제1 캐비티 내측에 위치할 수 있다.

상기 제1 캐비티는, 상기 복수의 핀이 배치되는 제1 영역; 및 상기 제1 영역 내측에 배치되는 제2 영역;을 포함하고, 상기 제2 영역은 상기 복수의 제1 홀 및 상기 복수의 제2 홀과 상기 제1 방향으로 중첩되지 않을 수 있다.

상기 복수의 핀은 상기 복수의 제1 홀 및 상기 복수의 제2 홀 중 적어도 하나를 관통할 수 있다.

상기 복수의 핀은, 본체부; 상기 본체부에서 상기 제1 플레이트를 향해 연장되는 제1 연장부; 및 상기 본체부에서 상기 제2 플레이트를 향해 연장되는 제2 연장부;를 포함할 수 있다.

상기 제1 연장부의 제2 방향으로 길이는 상기 제2 연장부의 상기 제2 방향으로 길이와 동일하고, 상기 제2 방향은 상기 제1 방향에 수직한 방향일 수 있다.

상기 제1 연장부와 상기 제2 연장부는 상기 제1 방향으로 길이가 상이할 수 있다.

상기 제1 연장부는 상기 제1 홀을 관통하고, 상기 제2 연장부는 상기 제2 홀을 관통할 수 있다.

제1 플레이트와 상기 제2 플레이트 사이에 배치되고 복수의 제3 홀을 포함하는 제3 플레이트;를 더 포함할 수 있다.

상기 복수의 제3 홀은 상기 복수의 제1 홀 및 상기 복수의 제2 홀과 상기 제1 방향으로 중첩될 수 있다.

상기 복수의 핀은 내측에 배치되는 제1 핀; 및 외측에 배치되는 제2 핀을 포함하고, 상기 제1 핀과 상기 제2 핀은 직경이 상이할 수 있다.

실시 예에 따르면, 다양한 형상의 검사체에 대해 용이하게 검사를 수행하는 검사 장치용 소켓을 구현할 수 있다.

또한, 검사체의 종류가 변경되더라도 일부 구성요소의 교체만으로 검사를 용이하게 수행할 수 있는 검사 장치용 소켓을 구현할 수 있다.

본 발명의 다양하면서도 유익한 장점과 효과는 상술한 내용에 한정되지 않으며, 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하는 과정에서 보다 쉽게 이해될 수 있을 것이다.

도 1은 실시예에 따른 검사 장치용 소켓에 대한 사시도이고,
도 2는 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 분해 사시도이고,
도 3은 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 상면도이고,
도 4는 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 측면도이고,
도 5는 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 저면도이고,
도 6은 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 단면도이고,
도 7 내지 도 10은 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 구체적인 예를 설명하는 도면이고,
도 11 내지 도 12는 실시예에 따른 검사 장치용 소켓을 이용한 검사를 설명하는 도면이고,
도 13은 다른 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 도면이고,
도 14는 또 다른 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 도면이고,
도 15는 변형예에 따른 검사 장치용 소켓의 도면이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.

다만, 본 발명의 기술 사상은 설명되는 일부 실시 예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있고, 본 발명의 기술 사상 범위 내에서라면, 실시 예들간 그 구성 요소들 중 하나 이상을 선택적으로 결합, 치환하여 사용할 수 있다.

또한, 본 발명의 실시예에서 사용되는 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는, 명백하게 특별히 정의되어 기술되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해될 수 있는 의미로 해석될 수 있으며, 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥상의 의미를 고려하여 그 의미를 해석할 수 있을 것이다.

또한, 본 발명의 실시예에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다.

본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함할 수 있고, "A 및(와) B, C 중 적어도 하나(또는 한 개 이상)"로 기재되는 경우 A, B, C로 조합할 수 있는 모든 조합 중 하나 이상을 포함할 수 있다.

또한, 본 발명의 실시 예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다.

이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등으로 한정되지 않는다.

그리고, 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 '연결', '결합' 또는 '접속'된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성 요소에 직접적으로 연결, 결합 또는 접속되는 경우뿐만 아니라, 그 구성 요소와 그 다른 구성 요소 사이에 있는 또 다른 구성 요소로 인해 '연결', '결합' 또는 '접속' 되는 경우도 포함할 수 있다.

또한, 각 구성 요소의 "상(위) 또는 하(아래)"에 형성 또는 배치되는 것으로 기재되는 경우, 상(위) 또는 하(아래)는 두 개의 구성 요소들이 서로 직접 접촉되는 경우뿐만 아니라 하나 이상의 또 다른 구성 요소가 두 개의 구성 요소들 사이에 형성 또는 배치되는 경우도 포함한다. 또한, "상(위) 또는 하(아래)"으로 표현되는 경우 하나의 구성 요소를 기준으로 위쪽 방향뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.

도 1은 실시예에 따른 검사 장치용 소켓에 대한 사시도이고, 도 2는 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 분해 사시도이고, 도 3은 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 상면도이고, 도 4는 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 측면도이고, 도 5는 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 저면도이고, 도 6은 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 단면도이다.

먼저, 도 1 및 도 2를 참조하면, 실시예에 따른 검사 장치용 소켓(10)은 제1 플레이트(110), 제2 플레이트(120), 제1 플레이트(110)와 제2 플레이트(120) 사이에 배치되는 복수의 핀(130), 제2 플레이트(120) 내에 배치되는 형상 프레임(140)을 포함한다.

그리고 실시예에 따른 검사 장치용 소켓(10)은 제1 플레이트(110)와 제2 플레이트(120) 사이에 배치되는 제3 플레이트(150) 및 하우징(160)을 더 포함할 수 있다. 이에 대한 구체적인 설명은 후술한다.

또한, 이 중 일부의 구성을 제외하고 실시될 수도 있고, 이외 추가적인 구성을 배제하지도 않는다는 점을 이해해야 한다.

그리고 제1 방향(Z 방향)은 제2 플레이트(120)에서 제1 플레이트(110)를 향한 방향이고, 제2 방향(Y 방향)은 제1 방향(Z 방향)에 수직한 방향이며, 제3 방향(X 방향)은 제1 방향(Z 방향)과 제2 방향(Y 방향)에 모두 수직한 방향이다. 본 명세서에서는 이를 기준으로 이하 설명한다.

제1 플레이트(110)는 제1 방향(Z 방향)으로 일측에 배치될 수 있다. 예컨대, 제1 플레이트(110)는 검사 장치용 소켓(10)에서 상부에 위치할 수 있다.

제1 플레이트(110)는 복수의 제1 홀(h1)을 포함할 수 있다. 복수의 제1 홀(h1)은 제2 플레이트(120) 내에 위치하는 복수의 핀(130)과 대응하여 배치될 수 이다. 실시예로 복수의 제1 홀(h1)은 복수의 핀(130)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되도록 배치될 수 있다. 이에 따라, 복수의 핀(130)이 승강함에 따라 제1 홀(h1)을 통해 관통할 수 있다. 예컨대, 상승 시에, 복수의 핀(130)은 일단이 제1 홀(h1)을 관통하여 제1 플레이트(110)의 상면보다 상부에 위치할 수 있다.

도 3을 참조하면, 제1 플레이트(110)는 복수의 핀(130)에 의해 후술하는 형상 프레임(140)의 개구 영역(141)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되는 비안착부와, 비개구 영역(142)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되며 검사체(미도시됨)가 수용되는 안착부를 포함할 수 있다.

구체적으로, 제1 홀(h1) 상에는 검사체(미도시됨)가 배치될 수 있다. 실시예로, 제1 홀(h1)은 핀(130)이 관통하는 제1-1 홀(111)과 핀(130)이 관통하지 않는 제1-2 홀(112)을 포함할 수 있다. 그리고 제1-1 홀(111)은 비안착부와 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되고, 제1-2 홀(112)은 안착부를 형성하므로 안착부와 제1 방향(Z 방향)으로 중첩될 수 있다.

또한, 검사체(미도시됨)는 안착부에 수용될 수 있다. 다시 말해 검사체(미도시됨)가 제1-2 홀(112) 상에 배치될 수 있다. 또한, 검사체(미도시됨)가 제1-2 홀(112)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩될 수 있다. 다만, 제1-1 홀(111)에는 핀(130)이 관통하므로, 비안착부로서 검사체가 수용되지 않는다.

또한, 비안착부에서는 핀(130)이 검사체(미도시됨)를 일부 둘러싸도록 배치될 수 있다. 이러한 구성에 의하여, 검사체(미도시됨)는 안착부에 안착됨과 동시에 비안착부의 핀(130)에 의해 고정 및 지지될 수 있다. 이로써, 검사에 의한 신뢰성 저하를 방지할 수 있다. 다만, 제1-1 홀(111)과 제1-2 홀(112)은 형상 프레임(140)에 따라 변경될 수 있음을 이해해야 한다.

그리고 제1 플레이트(110)는 일측에 체결부(113)를 포함할 수 있다. 체결부(113)는 체결홀(113a) 및 체결홀(113a)에 배치되는 체결부재(113b)를 포함할 수 있다. 체결부(113)는 복수 개일 수 있으며, 제1 플레이트(110)는 체결부(113)를 통해 후술하는 제2 플레이트(120), 제3 플레이트(150)와 결합할 수 있다. 체결 방식은 도시된 바와 같이 나사 결합을 포함하나, 이에 한정되는 것은 아니다.

다시 도 1 및 도 2를 참조하면, 제1 플레이트(110)는 다양한 형상을 가질 수 있다. 예컨대, 제1 플레이트(110)는 도시한 바와 같이 사각형 형상일 수 있다. 다만, 이에 한정하지 않으며 원형, 다각형 등의 형상일 수도 있다.

또한, 핀(130)이 제1 플레이트(110)에서 평면(XY) 상 중앙을 관통하지 않을 수 있다. 즉, 제1 플레이트(110)는 제1 홀(h1)이 평면(XY) 상 중앙에 위치하지 않을 수 있다.

이와 같이, 실시예에 따르면 제1 플레이트(110)는 검사체(미도시됨)의 기본적인 크기(최소 크기)만큼 제1 홀(h1)을 제거할 수 있다. 이에 따라, 제조 비용 절감 및 제1 플레이트의 신뢰성이 개선될 수 있다.

또한, 제1 플레이트(110)는 상술한 검사체(미도시됨)의 기본적인 크기(최소 크기)에 대응하는 영역에 관통홀이 위치할 수 있다. 관통홀은 복수의 핀(130)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되지 않으므로 핀(130)이 배치되지 않을 수 있다. 다만, 검사체(미도시됨)가 상기 영역에 배치되어 검사가 시행되는 경우에 발생하는 열을 외부로 용이하게 배출할 수 있다. 이에 따라, 검사체 및 제1 플레이트의 신뢰성을 개선할 수 있다. 그리고 상술한 관통홀에 대응하여 후술하는 제2 플레이트(120)와 제3 플레이트(140)도 관통홀을 더 포함할 수 있다.

제2 플레이트(120)는 제1 플레이트(110)와 제1 방향(Z 방향)으로 이격되어 배치될 수 있다. 제2 플레이트(120)는 제1 플레이트(110) 하부에 배치될 수 있다.

또한, 제2 플레이트(120)는 제1 플레이트(110)의 형상에 대응할 수 있다. 예컨대, 제2 플레이트(120)는 제1 플레이트(110)와 동일하게 사각형일 수 있다. 다만, 상술한 바와 같이 제1 플레이트(110)의 형상이 변형됨에 따라 제2 플레이트(120)의 형상도 변경될 수 있다.

또한, 제2 플레이트(120)는 제1 캐비티(CV1)와 제2 캐비티(CV2)를 포함할 수 있다. 제1 캐비티(CV1)는 제2 플레이트(120)의 일측에 위치하고, 제2 캐비티(CV2)는 제2 플레이트(120)의 타측에 위치할 수 있다. 즉, 제1 캐비티(CV1)는 제2 플레이트(120)에서 제2 캐비티(CV2)와 마주보게 배치될 수 있다. 또한, 제1 캐비티(CV1)와 제2 캐비티(CV2)는 평면(XY) 상 면적이 동일할 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니나, 제1 캐비티(CV1)는 평면(XY) 상 면적이 제2 캐비티(CV2)의 평면(XY) 상 면적보다 작을 수 있다.

또한, 제1 캐비티(CV1)는 제2 캐비티(CV2)와 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되도록 배치될 수 있다. 그리고 제1 캐비티(CV1)에는 복수의 핀(130)이 배치될 수 있다. 이와 달리, 제2 캐비티(CV2)에는 형상 프레임(140)이 배치될 수 있다.

이러한 구성에 의하여, 제2 캐비티(CV2) 내에 배치되는 형상 프레임(140)에 따라 제1 플레이트(110) 상에 검사체가 안착할 수 있는 공간이 마련될 수 있다. 다시 말해, 검사체의 형상(예컨대, 크기, 모양)이 변하더라도 형상 프레임(140)의 형상을 변경하는 것만으로 검사체의 안착이 용이하게 이루어질 수 있다. 이에 대한 자세한 설명은 후술한다.

또한, 제1 캐비티(CV1)는 복수의 핀(130)이 배치되는 제1 영역(S1) 및 제1 영역(S1) 내측에 배치되는 제2 영역(S2)을 포함할 수 있다. 제2 영역(S2)은 복수의 제1 홀(h1) 및 복수의 제2 홀(h2)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되지 않을 수 있다. 제2 영역(S2)은 상술한 검사체(미도시됨)의 기본적인 위치 또는 크기에 대응한 영역일 수 있다. 이에 따라, 상술한 관통홀이 제2 영역(S2)에 위치할 수 있다. 이에 대한 자세한 설명은 도 6에서 후술한다.

또한, 제2 플레이트(120)는 복수의 제2 홀(h2)을 포함할 수 있다. 복수의 제2 홀(h2)은 상술한 바와 같이 복수의 제1 홀(h1)과 대응하여 배치될 수 있다. 실시예로, 복수의 제2 홀(h2)은 복수의 제1 홀(h1)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되도록 배치될 수 있다. 또한, 복수의 제2 홀(h2)은 복수의 핀(130)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되도록 배치될 수 있다. 이에 따라, 복수의 핀(130)이 제2 홀(h2)을 통해 제2 플레이트(120)를 관통할 수 있다. 예컨대, 복수의 핀(130)은 타단이 제2 홀(h2)을 관통하여 제2 플레이트(120)의 하면보다 하부에 위치할 수 있다.

또한, 복수의 제2 홀(h2)은 제1 캐비티(CV1) 또는 제2 캐비티(CV2)의 내측에 위치할 수 있다.

복수의 핀(130)은 상기 제1 캐비티(CV1) 내에 위치할 수 있다. 복수의 핀(130)은 제2 플레이트(120)와 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 적어도 일부 중첩될 수 있다.

복수의 핀(130) 각각은 본체부(131), 본체부(131)에서 제1 플레이트(110) 향해 연장되는 제1 연장부(132), 본체부(131)에서 제2 플레이트(120)를 향해 연장되는 제2 연장부(133)를 포함할 수 있다.

먼저, 본체부(131)는 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 길이가 제1 연장부(132)의 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 길이보다 작을 수 있다. 또한, 본체부(131)는 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 길이가 제2 연장부(133)의 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 길이보다 작을 수 있다.

이러한 구성에 의하여, 제1 연장부(132)는 핀(130)이 제1 방향(Z 방향)으로 이동(예컨대, 상하 이동)함에 따라 제1 플레이트(110) 상에 위치하는 검사체의 형상에 따른 안착부를 제공할 수 있다. 이로써, 검사체를 용이하게 홀딩함과 동시에 검사체의 형상에 구애받지 않고 용이하게 검사를 수행할 수 있다.

또한, 이러한 경우에 본체부(131)는 안착부의 하부에서 제1 플레이트의 제1 홀(h1) 또는 제3 플레이트의 제3 홀(h3)의 하면과 접하도록 위치할 수 있다. 또한, 본체부(131)는 비안착부읜 하부에서 제2 플레이트의 제2 홀(h2)의 상면과 접하도록 위치할 수 있다.

그리고 제1 연장부(132)는 본체부(131)에서 제1 홀(h1) 또는 제3 홀(h3)을 향해 돌출된 구조일 수 있다. 제1 연장부(132)는 형상이 제1 홀(h1) 또는 제3 홀(h3)의 형상에 대응할 수 있다. 이에, 복수의 핀(130)은 제1 홀(h1) 또는 제3 홀(h3)을 용이하게 관통할 수 있다.

제2 연장부(133)는 본체부(131)에서 제2 플레이트(120)를 향해 돌출될 수 있다. 즉, 제2 연장부(133)는 본체부(131)에서 제2 홀(h2)을 향해 연장되어 제2 홀(h2)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩될 수 있다.

제2 연장부(133)는 개구 영역(141)과 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 적어도 일부 중첩될 수 있다. 다만, 제2 연장부(133)는 비개구 영역(142)과 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 중첩되지 않을 수 있다.

이에 따라, 제2 연장부(133)는 비개구 영역(142) 상부에 위치할 수 있다. 이로써, 상술한 바와 같이 형상 프레임(140)에 의해 비안착부와 안착부가 제1 플레이트(110)에 형성될 수 있다.

형상 프레임(140)은 제2 캐비티(CV2) 내에 배치될 수 있다. 그리고 형상 프레임(140)은 제2 홀(h2)과 제1 방향(Z 방향)으로 적어도 일부 중첩될 수 있다.

실시예로, 형상 프레임(140)은 개구 영역(141) 및 비개구 영역(142)을 포함할 수 있다. 개구 영역(141)에는 제2 홀(h2)을 관통한 핀(130)이 위치할 수 있다. 비개구 영역(142)은 핀(130)의 하단이 제2 캐비티(CV2)에 위치하지 않도록 핀(130)을 지지할 수 있다. 즉, 비개구 영역(142)은 핀(130)을 상승시킬 수 있다.

도 4 및 도 5를 참조하면, 개구 영역(141)은 제2 홀(h2)을 관통한 핀(130)이 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 중첩될 수 있다. 이와 달리, 비개구 영역(142)은 제2 홀(h2) 내에 배치된 핀(130)이 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 중첩되지 않고, 제1 방향(Z 방향)으로 중첩될 수 있다. 즉, 복수의 핀(130)은 형상 프레임(140)에 대응하여 제1 방향(Z 방향)으로 제1 플레이트(110)를 관통할 수 있다. 또한, 복수의 핀(130)은 형상 프레임(140)의 개구 영역(141)과 비개구 영역(142)에 따라 복수의 제1 홀(h1) 및 복수의 제2 홀(h2) 중 적어도 하나를 관통할 수 있다.

이러한 구성에 의하여, 비개구 영역(142) 상의 핀(130)은 제1 플레이트(110)의 상부로 돌출되어 비안착부를 형상할 수 있다. 이와 달리, 개구 영역(141) 상의 핀(130)은 제2 플레이트(120)의 하부로 돌출되고, 제1 플레이트(110)의 상부로 돌출되지 않으므로 안착부를 형상할 수 있다.

형상 프레임(140)에 의해 핀(130)이 제1 플레이트(110) 상부로 상승될 수 있다. 또한, 형상 프레임(140)에 의해 핀(130)이 제2 플레이트(120) 하부로 하강될 수 있다. 상술한 승강에 의하여, 안착부의 형상이 개구 영역(141)의 형상에 대응하여 이루어질 수 있다. 다시 말해, 개구 영역(141)의 형상을 검사체(미도시됨)에 대응하도록 형성하면 안착부의 형상이 검사체(미도시됨)의 형상에 대응할 수 있다. 즉, 검사체(미도시됨)의 형상이 다양하더라도 개구 영역(141)의 형상을 검사체의 형상에 대응하여 변경하면 다른 구성요소(제1 플레이트, 제2 플레이트, 제3 플레이트, 핀 등)의 변경 없이도 검사체를 제1 플레이트 상에 용이하게 안착할 수 있다.

다시 도 1 및 도 2를 참조하면, 제3 플레이트(150)는 제1 플레이트(110)와 제2 플레이트(120) 사이에 배치될 수 있다. 또한, 제3 플레이트(150)는 제1 플레이트(110)와 핀(130)의 본체부(131) 사이에 배치될 수 있다.

제3 플레이트(150)는 복수의 제3 홀(h3)을 포함할 수 있다. 복수의 제3 홀(h3)은 제1 홀(h1), 제2 홀(h2) 및 핀(130)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩될 수 있다. 제3 홀(h3)은 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 길이가 본체부(131)의 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 길이보다 작을 수 있다. 이러한 구성에 의하여, 본체부(131)는 제3 홀(h3) 하부에 위치할 수 있다.

그리고 제3 플레이트(150)는 본체부(131)와 제1 플레이트(110) 사이에 배치되어 핀(130)이 승강하더라도 제3 홀(h3)을 통해 핀(130)이 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 틸팅(tilting)되지 않도록 핀(130)의 위치를 유지할 수 있다. 이에 따라, 실시예에 따른 검사 장치용 소켓은 비안착부 또는 안착부의 형상이 핀(130)의 틸트에 의해 변경되는 것을 방지하여 검사체의 안착 및 고정을 개선할 수 있다.

도 6을 참조하면, 상술한 바와 같이 형상 프레임(140)의 개구 영역(141)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되는 영역에서 핀(130)은 하강할 수 있다(k2). 그리고 형상 프레임(140)의 비개구 영역(142)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되는 영역에서 핀(130)은 상승할 수 있다(k1).

그리고 검사체(200)가 핀(130)이 하강한 영역 상에 안착할 수 있다. 즉, 안착부(SR)는 개구 영역(141)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되어, 핀(130)이 하강하므로 제1 연장부(132)가 제1 플레이트(110)의 상면 하부에 위치할 수 있다. 다시 말해, 안착부(SR)에서 핀(130)은 제1 플레이트(110)를 관통하지 않을 수 있다. 또한, 제1 플레이트(110)의 상면이 평탄화되어 검사체(200)를 용이하게 지지할 수 있다.

이와 달리, 비안착부(VSR)는 비개구 영역(142)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되어, 형상 프레임(140)에 의해 핀(130)이 상승하므로 제1 연장부(132)가 제1 플레이트(110)의 상면 상에 위치하고 제2 연장부(133)가 제2 플레이트(120)의 하면 상에 위치할 수 있다. 즉, 비안착부(VSR)에서 핀(130)은 제2 플레이트(120)를 관통하지 않을 수 있다. 그리고 비안착부(VSR)에서 핀(130)은 제1 플레이트(110)를 관통할 수 있다.

이로써, 실시예에 따른 검사 장치용 소켓은 검사체(200)가 변경되더라도 하부의 형상 프레임(140)의 변경 또는 교체만으로 검사를 수행할 수 있다. 즉, 실시예에 따른 검사 장치용 소켓은 카메라 모듈에 따른 부품 교체가 신속하고 용이하게 이루어져 검사에 대한 작업 능률성을 향상시킬 수 있다.

또한, 상기와 같이 핀(130)의 제2 연장부(133)의 일부는 개구 영역(141)과 제2 방향(Y 방향) 또는 제3 방향(X 방향)으로 중첩될 수 있다. 또한, 핀(130)의 제1 연장부(132)의 일부는 제1 플레이트(110)를 관통하여 일단이 제1 플레이트(110)의 상면 상에 위치할 수 있다. 다만, 핀(130)의 제2 연장부(133)는 안착부(SR) 하부에서 제2 플레이트(120)를 관통하지 않고 제2 플레이트(120)의 제2 홀(h2) 내에 타단이 위치할 수 있다. 이에 따라, 검사 장치용 소켓의 하면이 플랫(flat)하도록 유지하여 후술하는 하우징 내에서 위치 이동을 최소화할 수 있다.

또한, 실시예로, 본체부(131)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W1)이 제1 연장부(132)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W2)보다 클 수 있다. 또한, 본체부(131)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W1)이 제2 연장부(133)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W3)보다 클 수 있다. 이러한 구성에 의하여, 핀(130)이 승강하더라도 최고점과 최저점이 고정되어 안착부와 비안착부의 형성이 용이하게 이루어질 수 있다.

또한, 제1 연장부(132)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W2)이 제2 연장부(133)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W3)과 동일할 수 있다. 이러한 구성에 의하여, 형상 프레임(140)의 형상에 대응하여 안착부의 형상을 용이하게 제공할 수 있으며, 형상 프레임과 안착부 간의 오차를 최소화할 수 있다.

본체부(131)는 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L1)가 제1 연장부(132)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L2)보다 작을 수 있다. 또한, 본체부(131)는 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L1)가 제2 연장부(133)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L3)와 상이할 수 있다. 실시예로, 본체부(131)는 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L1)가 제2 연장부(133)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L3)보다 작을 수 있다. 이에 따라, 본체부(131)는 제1 캐비티(CV1)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이가 작더라도 핀(130)의 승강 범위를 향상시킬 수 있다.

실시예로, 본체부(131)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L1)와 상기 핀(130)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L0) 간의 비는 1:2 내지 1:3.5일 수 있다. 상기 비가 1:2 내지 1:3.5임에 의하여, 핀(130)의 승강에 따른 안착부/비안착부의 형성이 용이하게 변경됨과 동시에 핀(130)의 신뢰성이 개선될 수 있다.

또한, 제1 연장부(132)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L2)는 제2 연장부(133)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L3)보다 클 수 있다. 이에 따라, 핀(130)이 형상 프레임(140)의 지지에 의해 승강하더라도 하부에 가해지는 강도가 개선되므로 핀의 신뢰성이 개선될 수 있다.

또한, 제2 연장부(133)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L3)는 제2 플레이트(120)의 제1 방향(Z 방향)으로 최소 길이(L4)보다 클 수 있다. 제2 플레이트(120)의 제1 방향(Z 방향)으로 최소 길이(L4)는 제2 홀(h2)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이와 동일할 수 있다.

또한, 제2 연장부(133)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L3)는 제2 홀(h2) 및 제2 캐비티(CV2)의 제1 방향(Z 방향)으로 길이(L4+L5)보다 작을 수 있다. 이에 따라, 제2 연장부9133)의 최하부가 제2 캐비티(CV2) 내에 위치하고 제2 플레이트(120)의 최하면의 하부에 위치하지 않을 수 있다. 이로써, 검사 장치용 소켓이 플랫한(flat) 평면 상에 용이하게 안착하고 하우징 내에서 가압되더라도 핀(130)이 가압으로부터 손상을 받지 않을 수 있다.

그리고 상술한 바와 같이, 제1 캐비티(CV1)는 복수의 핀(130)이 배치되는 제1 영역(S1) 및 제1 영역(S1) 내측에 배치되는 제2 영역(S2)을 포함할 수 있다. 제2 영역(S2)은 복수의 제1 홀(h1) 및 복수의 제2 홀(h2)과 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되지 않을 수 있다. 제2 영역(S2)은 검사체(200)의 기본적인 위치 또는 크기에 대응한 영역일 수 있다.

그리고 제1 영역(S1)과 비안착부(VSR)는 제1 방향(Z 방향)으로 적어도 일부가 중첩될 수 있다. 또한, 제2 영역(S2)과 안착부(SR)는 제1 방향(Z 방향)으로 적어도 일부가 중첩될 수 있다. 다만, 제1 영역(S1)과 제2 영역(S2)은 형상 프레임(140)의 형상에 따라, 안착부(SR) 및 비안착부(VSR)와 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되지 않을 수도 있음을 이해해야 한다.

그리고 제2 영역(S2)은 상술한 바와 같이 검사체(200)의 기본 크기에 따라 가변적으로 변경될 수 있다. 예컨대, 검사체의 형상에 따라 제2 영역(S2)은 제1 영역(S1)의 외측에도 위치할 수 있다.

도 7 내지 도 10은 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 구체적인 예를 설명하는 도면이다.

구체적으로, 도 7(a)는 검사 장치용 소켓의 상면도로 안착부(SR2)와 비안착부(VSR2)를 도시하고, 도 7(b)는 형상 프레임(140)의 평면도로 개구 영역(141b)과 비개구 영역(142b)을 도시한다.

도 7(a)와 도 7(b)를 살펴보면, 개구 영역(141b)은 안착부(SR2)의 형상에 대응하고, 비개구 영역(142b)은 비안착부(VSR2)의 형상에 대응함을 알 수 있다. 그리고 비안착부(VSR2)에는 핀(130)이 제1 플레이트(110)를 관통하여 상부로 돌출되며, 안착부(SR2)에는 핀(130)이 제1 플레이트(110)를 관통하지 않는다.

마찬가지로, 도 8(a)는 검사 장치용 소켓의 상면도로 안착부(SR3)와 비안착부(VSR3)를 도시하고, 도 8(b)는 형상 프레임(140)의 평면도로 개구 영역(141c)과 비개구 영역(142c)을 도시한다. 또한, 도 9(a)는 검사 장치용 소켓의 상면도로 안착부(SR4)와 비안착부(VSR4)를 도시하고, 도 9(b)는 형상 프레임(140)의 평면도로 개구 영역(141d)과 비개구 영역(142d)을 도시한다. 또한, 도 10(a)는 검사 장치용 소켓의 상면도로 안착부(SR1)와 비안착부(VSR1)를 도시하고, 도 10(b)는 형상 프레임(140)의 평면도로 개구 영역(141a)과 비개구 영역(142a)을 도시한다.

도 8(a), (b), 도 9(a), (b), 도 10(a), (b)를 살펴보면, 개구 영역(141c, 141d, 141a)은 안착부(SR3, SR4, SR1)의 형상에 대응하고, 비개구 영역(142c, 142d, 142a)은 비안착부(VSR3, VSR4, VSR1)의 형상에 대응함을 알 수 있다. 그리고 비안착부(VSR3, VSR4, VSR1)에는 핀(130)이 제1 플레이트(110)를 관통하여 상부로 돌출되며, 안착부(SR3, SR4, SR1)에는 핀(130)이 제1 플레이트(110)를 관통하지 않는다.

이와 같이, 형상 프레임(140)의 형상 특히, 개구 영역과 비개구 영역에 따라 안착부와 비안착부의 형상이 가변될 수 있다.

도 11 내지 도 12는 실시예에 따른 검사 장치용 소켓을 이용한 검사를 설명하는 도면이다.

도 11 및 도 12를 참조하면, 실시예에 따른 검사 장치용 소켓은 하우징(160)을 더 포함할 수 있다.

구체적으로, 하우징(160)은 제1 커버(161), 제2 커버(162) 및 제1 커버(161)와 제2 커버(162)를 연결하는 연결부(163)를 포함할 수 있다.

제1 커버(161)는 상측에 배치되고, 검사체가 장착될 수 있다. 그리고 제1 커버(161)는 오픈홀(Ph)을 포함할 수 있다. 이에 따라, 검사체가 이동 단말기에 장착된 카메라 모듈인 경우에 오픈홀(Ph)을 통해 광이 카메라 모듈로 제공될 수 있다. 이에 따라, 오픈홀(Ph)은 검사체의 개수에 따라 복수 개일 수 있다. 예컨대, 이동 단말기 내에 2개의 카메라 모듈이 장착되는 경우 도시한 바와 같이 오픈홀(Ph)은 2개일 수 있다. 다만, 상술한 바와 같이 검사체에 따라 변경될 수 있다.

그리고 제1 커버(161)에서 오픈홀(Ph)은 이동 단말기에서 카메라 모듈과 동일한 위치에 배치될 수 있다. 또한, 제1 커버(161)에는 카메라 모듈이 장착된 이동 단말기가 장착되도록 장착홈이 형성될 수도 있다. 그리고 장착홈(161a) 상에 이동 단말기 또는 카메라 모듈의 형상에 대응하는 지그(161a)가 위치할 수 있다.

또한, 제1 커버(161)는 카메라 모듈의 구동을 위해 커넥터부(161b)가 배치될 수 있다. 다만, 커넥터부(161b)는 제1 커버(161)에 위치하는 것으로 한정되지 않으며, 커넥터부(161b)는 제1 커버(161) 또는 제2 커버(162)에 위치할 수 있다.

또한, 커넥터부(161b)는 이동 단말기 또는 카메라 모듈과 전기적으로 연결되며, 카메라 모듈이 정확하게 동작하는지 검사를 위한 전기 신호가 통과될 수 있다. 또한, 커넥터부(161b)는 상술한 위치에 한정되는 것은 아니며 다양한 위치에 배치될 수 있다.

제2 커버(162)는 제1 커버(161)에 마주보게 위치할 수 있다. 예컨대, 제2 커버(162)는 제1 커버(161)의 하부에 위치할 수 있다.

그리고 제2 커버(162)는 상술한 소켓(제1 플레이트, 제2 플레이트, 핀, 제3 플레이트를 포함하는 구성)이 안착할 수 있는 안착홈(SV)을 포함할 수 있다. 안착홈(SV)은 제1 커버(161)의 오픈홀(Ph)과 대응되는 위치에 배치될 수 있다.

연결부(163)는 제1 커버(161)와 제2 커버(162)와 접하여, 제1 커버(161)와 제2 커버(162)를 결합할 수 있다. 예컨대, 연결부(163)는 회동 가능한 구조로 이루어질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.

도 13은 다른 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 도면이다.

다른 실시예에 따른 검사 장치용 소켓에서 제1 홀(h1)은 위치에 따라 직경이 상이할 수 있다. 제1 플레이트에서 내측에 위치하는 제1-1 홀(h1a)의 직경(r1)은 외측에 위치하는 제1-2 홀(h1b)의 직경(r2)보다 클 수 있다. 이러한 구성에 의하여, 안착부가 내측에 형성되는 경우에 비안착부와 검사체 간의 이격 거리를 최소화하여 검사체가 비안착부의 핀에 의해 용이하게 지지 및 고정될 수 있다.

여기서, 내측은 제1 플레이트의 중심점(C1)을 향한 방향이고, 외측은 내측의 반대 방향으로 제1 플레이트의 중심점(C1)에서 멀어지는 방향이다.

그리고 제1 플레이트의 중심점(C1)은 서로 마주보는 제1 측면(SF1)과 제2 측면(SF2)을 이등분하는 제1 가상선(OL1) 및 서로 마주보는 제3 측면(SF3)과 제4 측면(SF4)을 이등분하는 제2 가상선(OL2)의 교점으로, 제1 플레이트의 평면(XY)상 무게 중심일 수 있다. 예컨대, 제1 플레이트가 원인 경우 원의 중심이 중심점일 수 있으며, 제1 플레이트의 형상이 변경되면 중심점도 그에 대응하여 변경될 수 있다.

또한, 다른 실시예에 따른 검사 장치용 소켓에서 제1 홀(h1)뿐만 아니라, 제1 홀(h1)에 제1 방향(Z 방향)으로 중첩되는 제2 홀(h2), 제3 홀(h3)도 동일하게 위치에 따라 직경이 변경될 수 있음을 이해해야 한다.

또한, 여기서 설명하지 않는 제2 플레이트, 핀, 제3 플레이트 등의 구성은 상술한 내용이 동일하게 적용될 수 있다.

도 14는 또 다른 실시예에 따른 검사 장치용 소켓의 도면이다.

도 14를 참조하면, 또 다른 실시예에 따른 검사 장치용 소켓에서 제1 홀(h1) 간의 이격 거리가 위치에 따라 상이할 수 있다. 제1 플레이트에서 내측에 위치하는 제1 홀(h1) 간의 이격 거리(d2)는 외측에 위치하는 제1 홀(h1) 간의 이격 거리(d1)보다 작을 수 있다. 이러한 구성에 의하여, 안착부가 내측에 형성되는 경우에 안착부의 형상을 세밀하게 조절하여 검사체와 비안착부 간의 이격 거리를 최소화할 수 있다. 이로써, 검사체가 안착부에서 인접한 비안착부 상의 핀에 의해 용이하게 지지 및 고정될 수 있다.

상술한 바와 같이, 내측은 제1 플레이트의 중심점(C1)을 향한 방향이고, 외측은 내측의 반대 방향으로 제1 플레이트의 중심점(C1)에서 멀어지는 방향이다.

도 15는 변형예에 따른 검사 장치용 소켓의 도면이다.

도 15를 참조하면, 변형예에 따른 검사 장치용 소켓에서 제1 연장부(132)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W2')이 제2 연장부(133)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W3')과 상이할 수 있다.

제1 연장부(132)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W2')이 제2 연장부(133)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W3')보다 큰 경우, 형상 프레임(140)의 형상을 세밀하게 제어가 이루어질 수 있다. 즉, 형상 프레임(140)과 접하는 제2 연장부(133)의 개수를 보다 정밀하게 제어할 수 있다.

또한, 반대로 제1 연장부(132)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W2')이 제2 연장부(133)의 제2 방향(Y 방향)(또는 제3 방향, X)으로 폭(W3')보다 작을 수 있다. 이 경우에, 안착부의 공차를 크게 가져감으로써 검사체의 사이즈의 소폭 변경되는 경우에도 안착이 이루어질 수 있다.

Claims

제1 플레이트;
제1 캐비티; 및 상기 제1 캐비티와 마주보게 배치되는 제2 캐비티;를 포함하는 제2 플레이트;
상기 제1 플레이트와 상기 제2 플레이트 사이에서 상기 제1 캐비티 내에 배치되는 복수의 핀; 및
상기 제2 캐비티에 내에 배치되는 형상 프레임;을 포함하고,
상기 복수의 핀은 상기 형상 프레임에 대응하여 제1 방향으로 상기 제1 플레이트를 관통하고,
상기 제1 방향은 상기 제1 플레이트에서 상기 제2 플레이트를 향한 방향인 검사 장치용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 형상 프레임은 개구 영역 및 비개구 영역을 포함하고,
상기 복수의 핀은 상기 개구 영역에서 상기 제1 플레이트를 관통하고, 상기 비개구 영역에서 상기 제2 플레이트를 관통하는 검사 장치용 소켓.
제2항에 있어서,
상기 제1 플레이트는,
상기 개구 영역과 상기 제1 방향으로 중첩되는 비안착부와 상기 비개구 영역과 상기 제1 방향으로 중첩되어 검사체가 수용되는 안착부를 포함하는 검사 장치용 소켓.
제3항에 있어서,
상기 비안착부와 상기 안착부는 상기 형상 프레임에 대응하여 가변하는 검사 장치용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 제1 플레이트는 복수의 제1 홀을 포함하고,
상기 제2 플레이트는 복수의 제2 홀을 포함하고,
상기 복수의 핀은 상기 제1 홀 및 상기 제2 홀과 상기 제1 방향으로 중첩 배치되는 검사 장치용 소켓.
제5항에 있어서,
상기 복수의 제2 홀은 상기 제1 캐비티 내측에 위치하는 검사 장치용 소켓.
제5항에 있어서,
상기 제1 캐비티는,
상기 복수의 핀이 배치되는 제1 영역; 및
상기 제1 영역 내측에 배치되는 제2 영역;을 포함하고,
상기 제2 영역은 상기 복수의 제1 홀 및 상기 복수의 제2 홀과 상기 제1 방향으로 중첩되지 않는 검사 장치용 소켓.
제5항에 있어서,
상기 복수의 핀은 상기 복수의 제1 홀 및 상기 복수의 제2 홀 중 적어도 하나를 관통하는 검사 장치 용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 복수의 핀은,
본체부;
상기 본체부에서 상기 제1 플레이트를 향해 연장되는 제1 연장부; 및
상기 본체부에서 상기 제2 플레이트를 향해 연장되는 제2 연장부;를 포함하는 검사 장치용 소켓.
제9항에 있어서,
상기 제1 연장부의 제2 방향으로 길이는 상기 제2 연장부의 상기 제2 방향으로 길이와 동일하고,
상기 제2 방향은 상기 제1 방향에 수직한 방향인 검사 장치용 소켓.
제9항에 있어서,
상기 제1 연장부와 상기 제2 연장부는 상기 제1 방향으로 길이가 상이한 검사 장치용 소켓.
제5항에 있어서,
상기 제1 연장부는 상기 제1 홀을 관통하고,
상기 제2 연장부는 상기 제2 홀을 관통하는 검사 장치용 소켓.
제12항에 있어서,
제1 플레이트와 상기 제2 플레이트 사이에 배치되고 복수의 제3 홀을 포함하는 제3 플레이트;를 더 포함하는 검사 장치용 소켓.
제13항에 있어서,
상기 복수의 제3 홀은 상기 복수의 제1 홀 및 상기 복수의 제2 홀과 상기 제1 방향으로 중첩되는 검사 장치용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 복수의 핀은 내측에 배치되는 제1 핀; 및 외측에 배치되는 제2 핀을 포함하고,
상기 제1 핀과 상기 제2 핀은 직경이 상이한 검사 장치용 소켓.