KR20210000657A - Appearance inspection management system, appearance inspection management device, appearance inspection management method, and appearance inspection management program - Google Patents

Appearance inspection management system, appearance inspection management device, appearance inspection management method, and appearance inspection management program Download PDF

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KR20210000657A
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Abstract

Provided is a technology which increases the efficiency in determining a visual inspection in an appearance inspection of a subject to be inspected, and prevents inspection criteria from faltering in the use of visual inspection. According to the present invention, the appearance inspection management system comprises: a photographing means which photographs the subject to be inspected; an inspection means which inspects the subject to be inspected based on an image photographed by photographing means; a defect candidate extracting means which extracts a defect candidate image having a value of feature volume within a range of a certain difference from a certain threshold value from the image photographed by the photographing means; a display means; and a visual inspection assistant means which displays an image list and the threshold value which is obtained by placing one or more defect candidate images on the display means in accordance with the value of the feature volume of each image, and which divides the defect candidate image with the image list display by whether the image is determined as a defect by the threshold value or not.

Description

외관 검사 관리 시스템, 외관 검사 관리 장치, 외관 검사 관리 방법 및 프로그램{Appearance inspection management system, appearance inspection management device, appearance inspection management method, and appearance inspection management program}Appearance inspection management system, appearance inspection management device, appearance inspection management method, and appearance inspection management program}

본 발명은, 피검사물에 조명광을 조사하여 촬영된 피검사물의 화상에 기초하여 상기 피검사물의 검사를 행하는 외관 검사에 관한 것으로, 구체적으로는 외관 검사 관리 시스템, 외관 검사 관리 장치, 외관 검사 관리 방법 및 프로그램에 관한 것이다.The present invention relates to a visual inspection in which the inspection object is inspected based on an image of the inspected object photographed by irradiating illumination light to the inspection object, and specifically, an appearance inspection management system, an appearance inspection management device, and an appearance inspection management method And a program.

종래부터, 피검사물에 조명광을 조사하여 촬영된 피검사물의 화상에 기초하여 피검사물의 검사를 행하는 외관 검사 장치가 알려져 있다.BACKGROUND ART [0002] BACKGROUND ART [0002] A visual inspection apparatus has conventionally been known which performs an inspection of an inspection object based on an image of the inspection object photographed by irradiating illumination light to the inspection object.

예를 들어, 특허문헌 1에는, 가시광선이나 자외선을 시트에 조사하여 그 투과광 또는 반사광을 카메라로 촬영함으로써 얻어지는 화상을 분석함으로써, 시트에서의 이상(이물 혼입, 오물, 주름 등. 이하, 결함이라고도 함)을 검출하는 검사 장치가 개시되어 있다.For example, in Patent Document 1, an image obtained by irradiating a sheet with visible light or ultraviolet rays and photographing the transmitted or reflected light with a camera is analyzed, so that abnormalities in the sheet (foreign matter mixing, dirt, wrinkles, etc.. Hereinafter, also referred to as defects) A test device is disclosed for detecting).

이러한 외관 검사 장치에서는, 촬영 화상으로부터 추출되는 특징량의 값과, 미리 설정되어 있는 문턱값을 대조함으로써, 결함의 유무나 종류를 자동으로 판별하도록 되어 있다. 그러나, 이러한 결함 판정은 간과를 방지하는 의미에서도 엄격한 결과를 내도록 되어 있는 경우가 많고, 일단 결함으로서 검출된 부분의 화상에 대해, 육안에 의한 2차 검사를 행하는 것이 종래부터 이루어지고 있다. 또한, 이러한 육안에 의한 2차 검사에 입각하여, 외관 검사 장치에서의 검사 문턱값을 다시 설정하는 것도 일반적으로 행해지고 있다.In such an appearance inspection apparatus, the presence or absence of a defect or the type is automatically determined by comparing the value of the feature quantity extracted from the photographed image with a preset threshold value. However, in many cases, such a defect determination is designed to give a strict result even in the sense of preventing overlook, and it has been conventionally to perform a secondary inspection with the naked eye on an image of a portion once detected as a defect. Further, based on such a secondary inspection by the naked eye, it is also generally practiced to reset the inspection threshold in the visual inspection apparatus.

특허문헌 1: 일본공개특허 2015-172519호 공보Patent Document 1: Japanese Laid-Open Patent No. 2015-172519

그런데, 상기와 같이 육안에 의한 2차 검사를 행하는 경우에는, 결함의 판정이 비교적 곤란한 문턱값에 가까운 특징량을 갖는 화상과, 명백하게 결함이라고 판별할 수 있는 문턱값에서 크게 벗어난 특징량을 갖는 화상이 혼재한 모집단이 대상이 된다.However, in the case of performing the secondary inspection by the naked eye as described above, an image having a feature amount close to a threshold value for which it is relatively difficult to determine a defect, and an image having a feature amount largely deviating from the threshold value that can be clearly identified as a defect. This mixed population is targeted.

이 때문에, 원래 육안 검사의 필요성이 낮은 화상을 보는 시간에 대해 낭비가 발생한다는 문제가 있다. 또한, 이러한 대량의 화상을 보는 것에 있어서, 검사원이 내리는 판정에 흔들림이 발생한다(즉, 검사 기준이 흔들린다)는 문제도 존재한다. 그리고, 이러한 흔들림이 있는 결함 판정에 기초하여 검사 장치의 검사 문턱값을 설정(변경)하면, 언제까지나 1차 검사 기준이 정해지지 않고, 검사 정밀도가 향상되지 않는다는 문제가 있었다.For this reason, there is a problem that waste occurs in the time of viewing an image, which originally requires low visual inspection. Further, in viewing such a large amount of images, there is also a problem that shaking occurs in the judgment made by the inspector (that is, the inspection standard is shaken). And, if the inspection threshold value of the inspection apparatus is set (changed) based on such a flaky defect determination, there is a problem that the primary inspection standard is not always determined and inspection accuracy is not improved.

본 발명은, 상기와 같은 실정을 감안하여 이루어진 것으로, 피검사물의 외관 검사에서의 육안 검사의 판단을 효율화함과 아울러, 육안 검사를 원인으로 하는 검사 기준의 흔들림을 방지하는 기술을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a technology that improves the judgment of visual inspection in visual inspection of an object to be inspected, and prevents shaking of inspection standards caused by visual inspection. To do.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명은 이하의 구성을 채용한다.In order to achieve the above object, the present invention adopts the following configuration.

본 발명에 따른 외관 검사 관리 시스템은, 피검사물을 촬영하는 촬영 수단;Appearance inspection management system according to the present invention, a photographing means for photographing an inspection object;

상기 촬영 수단에 의해 촬영된 피검사물 화상으로부터 얻어지는 특징량을 소정의 문턱값과 대비함으로써 판정하여 상기 피검사물의 결함을 검출하는 검사 수단;Inspection means for determining a defect of the inspected object by making a determination by comparing a feature amount obtained from the inspected object image photographed by the photographing means with a predetermined threshold value;

상기 피검사물 화상으로부터, 상기 소정의 문턱값에 대해 소정의 차의 범위 내의 특징량의 값을 갖는 결함 후보 화상을 추출하는 결함 후보 추출 수단;Defect candidate extraction means for extracting a defect candidate image having a value of a feature amount within a range of a predetermined difference with respect to the predetermined threshold value from the inspected object image;

표시 수단; 및Display means; And

상기 표시 수단에, 하나 이상의 상기 결함 후보 화상을 각 화상이 갖는 특징량의 값에 따라 배열한 화상 일람 표시 및 상기 문턱값을 나타냄과 아울러, 상기 화상 일람 표시 중의 결함 후보 화상을 상기 문턱값에 의해 결함으로 판정되는지 여부로 구획하는 결함 판정선을 표시시키는 육안 검사 보조 수단;을 갖는 것을 특징으로 한다.In the display means, a list of images in which one or more defect candidate images are arranged according to a value of a feature amount of each image and the threshold value are displayed, and a defect candidate image in the image list display is determined by the threshold value. It characterized in that it comprises a; visual inspection auxiliary means for displaying a defect determination line divided by whether or not it is determined as a defect.

또, 여기서 말하는 특징량으로서는, 화상의 휘도(농담) 분포, 휘도의 피크 레벨, 면적, 폭, 길이, 최장 최단 페렛 직경비, 원형도 등 다양한 종류의 것을 적용할 수 있다. 또한, 이하에서는 상기 외관 검사 수단에서 촬영된 피검사물의 화상을 피검사물 화상이라고도 한다. 또, 상기 검사 수단이 상기 결함 후보 추출 수단을 겸하는, 즉 상기 소정의 문턱값에 대해 소정의 차의 범위 내의 특징량의 값을 갖는 부분을 결함으로서 검출하고, 그 결함 부분이 촬영되어 있는 화상을 결함 후보 화상으로서 추출하는 구성으로 되어 있어도 된다.In addition, as the feature quantity mentioned here, various kinds of things such as the luminance (darkness) distribution of the image, the luminance peak level, area, width, length, the shortest and shortest ferret diameter ratio, and circularity can be applied. In the following, an image of an object to be inspected taken by the visual inspection means is also referred to as an image of an object to be inspected. In addition, the inspection means also serves as the defect candidate extraction means, that is, a portion having a value of a feature amount within a range of a predetermined difference with respect to the predetermined threshold is detected as a defect, and an image in which the defective portion is photographed is obtained. It may be configured to extract as a defect candidate image.

상기와 같은 구성을 갖는 외관 검사 관리 시스템에 의하면, 외관 검사의 2차 검사로서 육안 검사를 행하는 사용자는, 복수의 결함 후보 화상과 객관적인 지표인 문턱값을 나타내는 결함 판정선을 비교하여 육안 검사를 행할 수 있기 때문에, 검사 기준에 흔들림이 발생하는 것을 방지할 수 있다.According to the visual inspection management system having the above configuration, a user performing visual inspection as a secondary inspection of the visual inspection can perform visual inspection by comparing a plurality of defect candidate images with a defect determination line indicating a threshold value, which is an objective indicator. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of shaking in the inspection standard.

또한, 상기 문턱값은 복수 설정되어 있고, 상기 육안 검사 보조 수단은, 상기 결함 판정선을 그 문턱값의 수만큼 표시시키도록 해도 된다. 또한, 상기 검사 수단은, 상기 피검사물 화상으로부터 복수 종류의 특징량을 취득하고, 각각의 특징량에 대응하는 문턱값에 의해, 상기 피검사물의 결함을 검출하도록 해도 된다. 이와 같이 하면 복수의 관점에서 결함을 좁힐 수 있고, 결함의 내용을 세분화하는 것이 가능해진다.Further, a plurality of the threshold values are set, and the visual inspection auxiliary means may display the defect determination lines by the number of the threshold values. Further, the inspection means may acquire a plurality of types of feature quantities from the inspected object image, and detect defects of the inspected object by threshold values corresponding to the respective feature quantities. In this way, defects can be narrowed down from a plurality of viewpoints, and the contents of the defects can be subdivided.

또한, 상기 화상 일람 표시는, 하나 이상의 상기 결함 후보 화상을, 특징량의 종류마다 각 화상이 갖는 특징량의 값에 따라 배열한 것이어도 된다. 이러한 구성이면, 복수의 특징량을 이용하는 경우에, 일람 표시의 시인성(視認性)을 높일 수 있다.In addition, the image list display may be performed by arranging one or more of the defect candidate images according to the value of the feature amount of each image for each type of feature amount. With such a configuration, when a plurality of feature quantities are used, the visibility of the list display can be improved.

또한, 상기 피검사물로부터 결함이 검출되었을 때에, 그 결함의 종류를 분류하는 결함 종별 분류 수단을 더 가지고 있어도 된다. 또한, 상기 육안 검사 보조 수단은, 상기 결함 종별 분류 수단이 분류한 결함의 종류마다, 상기 결함의 개수를 상기 표시 수단에 표시시키도록 해도 된다. 이러한 구성이면, 결함의 종류를 분류하여 화상 데이터를 관리 가능해지고, 보다 상세한 정보에 기초하여 검사의 관리를 행할 수 있다.Further, when a defect is detected from the object to be inspected, it may further include a defect type classification means for classifying the type of the defect. Further, the visual inspection auxiliary means may cause the display means to display the number of defects for each type of defect classified by the defect type classification means. With such a configuration, image data can be managed by classifying defect types, and inspection management can be performed based on more detailed information.

또한, 상기 외관 검사 관리 시스템은, 입력 수단과, 상기 입력 수단을 통해, 상기 결함 판정선과, 상기 화상 일람 표시에서의 결함 후보 화상 중 적어도 하나를 상대적으로 이동시키는 조작을 접수하는 검사 결과 수정 수단을 더 가지고 있어도 된다. 이러한 구성을 가짐으로써, 대화적인 조작으로 특정 화상의 판정 결과를 수정할 수 있다.In addition, the visual inspection management system includes an input means and, through the input means, an inspection result correction means for accepting an operation of relatively moving at least one of the defect determination line and the defect candidate image in the image list display. You may have more. By having such a configuration, it is possible to correct the determination result of a specific image by interactive operation.

또한, 상기 검사 결과 수정 수단은, 상기 조작에 의해, 조작 전과 비교하여 상기 결함 판정선의 반대측으로 이동한 상기 결함 후보 화상을 나타내기 위한 주목 표시를 상기 표시 수단에 표시시키는 것이어도 된다. 이러한 구성이면, 검사 결과가 수정된 경우에, 그 수정된 것 및 그 내용을 용이하게 시인하는 것이 가능해진다.Further, the inspection result correcting means may cause the display means to display an attention display for indicating the defect candidate image that has moved to the opposite side of the defect determination line by the operation compared to before the operation. With such a configuration, when the inspection result is corrected, it becomes possible to easily visually recognize the corrected one and its contents.

또한, 상기 검사 결과 수정 수단은, 상기 결함 판정선과, 상기 화상 일람 표시에서의 결함 후보 화상 중 적어도 하나를 상대적으로 이동시키는 조작을 접수함으로써, 상기 소정의 문턱값을 설정 및/또는 변경하도록 해도 된다. 이러한 구성을 가짐으로써, 대화적인 조작으로 문턱값의 변경을 행할 수 있다.In addition, the inspection result correcting means may set and/or change the predetermined threshold value by receiving an operation of relatively moving at least one of the defect determination line and the defect candidate image in the image list display. . By having such a configuration, it is possible to change the threshold value by interactive operation.

또한, 상기 육안 검사 보조 수단은, 소정의 특징량에 의해 정의되는 좌표계에, 하나 이상의 상기 피검사물 화상으로부터 얻어지는 특징량의 값을 상기 좌표계의 좌표로서 배치한 특징량 분포도를, 상기 일람 표시와 동시 또는 전환 가능하게 상기 표시 수단에 표시시키도록 해도 된다. 또한, 상기 검사 관리 시스템은, 상기 소정의 문턱값을 설정 및/또는 변경하는 문턱값 설정 수단을 더 구비하고, 상기 특징량 분포도에는, 상기 소정의 문턱값을 나타내는 문턱값 표시선이 표시되며, 상기 문턱값 설정 수단에 의해 상기 소정의 문턱값이 변경된 경우에는, 그 문턱값의 변경이 상기 문턱값 표시선의 표시에 반영되도록 해도 된다.In addition, the visual inspection assistant means, at the same time as the list display, a feature quantity distribution diagram in which values of feature quantities obtained from at least one object image to be inspected are arranged as coordinates of the coordinate system in a coordinate system defined by a predetermined feature quantity. Alternatively, it may be displayed on the display means so as to be switchable. In addition, the inspection management system further includes a threshold value setting means for setting and/or changing the predetermined threshold value, and a threshold value display line indicating the predetermined threshold value is displayed on the characteristic quantity distribution map, and the When the predetermined threshold value is changed by the threshold value setting means, the change in the threshold value may be reflected on the display of the threshold value display line.

또, 상기 문턱값 설정 수단은 상기 검사 결과 수정 수단을 겸하는 구성이어도 된다. 이러한 구성이면, 피검사물 화상에서의 특징량의 분포 및 검사 문턱값과의 관계를 한눈에 확인할 수 있다. 또한, 문턱값 표시선과 특징량의 분포를 비교하면서, 결함 후보 화상을 추출하는 차분의 영역을 검토하는 것이 가능해진다.Further, the threshold value setting means may be configured to also serve as the inspection result correcting means. With such a configuration, it is possible to check at a glance the distribution of feature quantities in the image to be inspected and the relationship between the inspection threshold. Further, while comparing the distribution of the threshold value display line and the feature quantity, it becomes possible to examine a region of difference from which a defect candidate image is extracted.

또한, 상기 외관 검사 관리 시스템에서의 상기 피검사물은 시트형상의 물품이어도 된다. 또한, 상기 외관 검사 관리 시스템은, 적어도 상기 육안 검사 보조 수단을 갖는 검사 관리 장치를 구성 요소로 해도 된다.Further, the object to be inspected in the visual inspection management system may be a sheet-shaped article. In addition, the visual inspection management system may include an inspection management device having at least the visual inspection auxiliary means as a component.

또한, 본 발명에 관한 외관 검사의 관리 방법은, 피검사물의 외관 검사를 관리하는 외관 검사 관리 방법으로서, 피검사물을 촬영하는 촬영 단계; 상기 촬영 단계에서 촬영된 피검사물의 화상으로부터 얻어지는 특징량이, 소정의 문턱값에 대해 소정의 차의 범위 내에 들어가는 결함 후보 화상을 추출하는 결함 후보 추출 단계; 및 상기 결함 후보 추출 단계에서 추출한, 하나 이상의 상기 결함 후보 화상을 각 화상이 갖는 특징량의 값에 따라 배열한 화상 일람 표시 및 상기 문턱값을 나타내고, 상기 화상 일람 표시 중의 결함 후보 화상을 상기 문턱값과의 관계로 결함으로 판정되는지 여부로 구획하는 결함 판정선을 동일 화면상에 표시시키는 육안 검사 보조 단계;를 갖는 것을 특징으로 한다.In addition, the visual inspection management method according to the present invention comprises: a photographing step of photographing the inspected object; A defect candidate extraction step of extracting a defect candidate image in which a feature amount obtained from the image of the inspected object photographed in the photographing step falls within a range of a predetermined difference with respect to a predetermined threshold value; And displaying a list of images in which the one or more defect candidate images extracted in the defect candidate extraction step are arranged according to a value of a feature amount of each image and the threshold value, and indicating a defect candidate image in the image list display as the threshold value. And a visual inspection auxiliary step of displaying on the same screen a defect determination line divided by whether or not it is determined as a defect in relation to

또한, 본 발명은, 상기 방법을 정보 처리 장치에 실행시키기 위한 프로그램, 이러한 프로그램을 비일시적으로 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체로서 파악할 수도 있다.Further, the present invention can also be understood as a program for causing the information processing apparatus to execute the above method, and a computer-readable recording medium in which such a program is non-temporarily recorded.

또한, 상기 구성 및 처리 각각은 기술적인 모순이 발생하지 않는 한 서로 조합하여 본 발명을 구성할 수 있다.In addition, each of the above configurations and treatments can be combined with each other to constitute the present invention unless technical contradictions arise.

본 발명에 의하면, 피검사물의 외관 검사에서의 육안 검사의 판단을 효율화함과 아울러, 육안 검사를 원인으로 하는 검사 기준의 흔들림을 방지하는 기술을 제공할 수 있다.Advantageous Effects of Invention According to the present invention, it is possible to provide a technique that improves the judgment of visual inspection in the visual inspection of an object to be inspected, and prevents shaking of the inspection standard caused by the visual inspection.

도 1은, 본 발명의 적용예에 관한 외관 검사 관리 시스템의 구성을 나타내는 모식도이다.
도 2는, 적용예에 관한 육안 검사 보조부가 표시 수단에 표시하는 화면예를 나타내는 도면이다.
도 3은, 실시형태에 관한 외관 검사 관리 시스템의 구성을 나타내는 모식도이다.
도 4는, 실시형태에 관한 외관 검사 관리 시스템의 처리의 흐름을 나타내는 흐름도이다.
도 5는, 실시형태에 관한 육안 검사 보조부가 표시 장치에 표시하는 화면예를 나타내는 제1 도면이다.
도 6의 (A)는, 실시형태에 관한 육안 검사 보조부가 표시 장치에 표시하는 화면예를 나타내는 제2 도면이다. 도 6의 (B)는, 실시형태에 관한 육안 검사 보조부가 표시 장치에 표시하는 화면예를 나타내는 제3 도면이다.
도 7은, 실시형태에 관한 육안 검사 보조부가 표시 장치에 표시하는 화면예를 나타내는 제4 도면이다.
도 8은, 실시형태에 관한 육안 검사 보조부가 표시 장치에 표시하는 화면예를 나타내는 제5 도면이다.1 is a schematic diagram showing a configuration of a visual inspection management system according to an application example of the present invention.
Fig. 2 is a diagram showing an example of a screen displayed on a display means by a visual inspection assistant according to an application example.
3 is a schematic diagram showing a configuration of an appearance inspection management system according to an embodiment.
4 is a flowchart showing the flow of processing of the visual inspection management system according to the embodiment.
5 is a first diagram showing an example of a screen displayed on a display device by a visual inspection assistant according to the embodiment.
6A is a second diagram showing an example of a screen displayed on a display device by a visual inspection assistant according to the embodiment. 6B is a third diagram illustrating an example of a screen displayed on the display device by the visual inspection assistant according to the embodiment.
7 is a fourth diagram showing an example of a screen displayed on the display device by the visual inspection assistant according to the embodiment.
8 is a fifth diagram illustrating an example of a screen displayed on the display device by the visual inspection assistant according to the embodiment.

이하, 도면을 참조하여, 본 발명의 실시형태에 대해 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described with reference to drawings.

<적용예><Application example>

(시스템 구성)(System configuration)

본 발명은 예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같은 외관 검사 관리 시스템(9)에 적용할 수 있다. 도 1은 본 적용예에 관한 외관 검사 관리 시스템(9)의 개략적인 구성을 나타내는 개략 모식도이다. 외관 검사 관리 시스템(9)은, 외관 검사 장치(91)와 검사 관리 장치(92)를 포함하여 구성된다.The present invention can be applied to, for example, the visual inspection management system 9 as shown in FIG. 1. 1 is a schematic schematic diagram showing a schematic configuration of a visual inspection management system 9 according to the present application example. The exterior inspection management system 9 is configured to include an exterior inspection device 91 and an inspection management device 92.

외관 검사 장치(91)는, 검사 대상물(도시생략)의 화상을 촬영하고, 그 화상에 기초하여 검사 대상물의 결함의 유무를 검사하는 장치로서, 도 1에 도시된 바와 같이 주요 구성으로서 조명 수단으로서의 광원(911), 촬영 수단으로서의 카메라(912), 제어 단말(913)을 가지고 있다. 또, 제어 단말(913)이 본 발명에서의 검사 수단 및 결함 후보 추출 수단에 해당한다.The visual inspection device 91 is a device that photographs an image of an inspection object (not shown) and inspects the presence or absence of a defect of the inspection object based on the image. As shown in FIG. It has a light source 911, a camera 912 as a photographing means, and a control terminal 913. Further, the control terminal 913 corresponds to the inspection means and the defect candidate extraction means in the present invention.

광원(911)은, 검사 대상물 및 교정용 표준판(95)에 대해 조명광을 조사 가능하게 구성되어 있다. 카메라(912)는, 조명광이 조사된 상태의 검사 대상물을 촬영하여, 디지털 화상을 출력하는 촬영 수단이다. 또, 이하에서는, 촬영 수단에 의해 촬영된 검사 대상물의 화상을 피검사물 화상이라고도 표기한다. 카메라(912)는 예를 들어, 광학계와 이미지 센서를 가지고 구성된다.The light source 911 is configured to be capable of irradiating illumination light to the inspection object and the calibration standard plate 95. The camera 912 is a photographing means for photographing an inspection object in a state irradiated with illumination light, and outputting a digital image. In the following, the image of the inspection object photographed by the photographing means is also referred to as the inspection object image. The camera 912 is configured with, for example, an optical system and an image sensor.

제어 단말(913)은, 광원(911) 및 카메라(912)의 제어, 카메라(912)로부터 도입된 화상에 대한 처리 등의 기능을 가지고 있고, 본 발명에서의 검사 수단에 해당한다. 제어 단말(913)은, CPU(Central Processing Unit), RAM(Random Access Memory), 비휘발성의 기억 장치(예를 들어, 하드 디스크 드라이브, 플래시 메모리 등), 입력 장치(예를 들어, 키보드, 마우스, 터치 패널 등)를 구비하는 컴퓨터에 의해 구성할 수 있다.The control terminal 913 has functions such as controlling the light source 911 and the camera 912, processing images introduced from the camera 912, and the like, and corresponds to the inspection means in the present invention. The control terminal 913 includes a CPU (Central Processing Unit), a RAM (Random Access Memory), a nonvolatile memory device (eg, a hard disk drive, a flash memory, etc.), an input device (eg, a keyboard, a mouse, etc.). , A touch panel, etc.).

이상과 같은 구성을 갖는 외관 검사 장치(91)에서 검사 대상물의 외관 검사를 행할 때에는, 광원(911)으로부터 조명광이 조사된 상태의 검사 대상물의 화상을 카메라(912)에 의해 촬영하고, 촬영된 화상을 제어 단말(913)이 화상 처리하여, 얻어진 특징량의 값과 미리 설정되어 있는 검사 문턱값의 대비에 의해, 문턱값에서 벗어나는 특징량을 갖는 부분이 결함으로서 판정된다.When performing the visual inspection of the inspection object in the visual inspection apparatus 91 having the above configuration, an image of the inspection object in a state in which illumination light is irradiated from the light source 911 is photographed by the camera 912, and the captured image The control terminal 913 image-processes and is determined as a defect by the comparison between the value of the obtained feature quantity and the preset inspection threshold value.

이어서, 제어 단말(913)이 갖는 기능에 대해 설명한다. 제어 단말(913)은, 외관 검사에 관한 기능 모듈로서, 화상 취득부(9131), 특징량 산출부(9132), 결함 판정부(9133), 결함 후보 추출부(9134)를 포함하고 있다.Next, functions of the control terminal 913 will be described. The control terminal 913 includes an image acquisition unit 9131, a feature quantity calculation unit 9132, a defect determination unit 9133, and a defect candidate extraction unit 9134 as a functional module related to visual inspection.

화상 취득부(9131)는 카메라(912)로부터 화상을 캡처하는 기능으로, 예를 들어, 조명광이 조사된 상태의 검사 대상물의 피검사물 화상을 취득한다. 특징량 산출부(9132)는, 피검사물 화상에 기초하여, 외관 검사에 이용하는 특징량을 산출하는 기능이다. 또, 특징량은 하나에 한정되지 않고, 예를 들어 화상의 휘도(농담) 분포, 휘도의 피크 레벨, 면적, 폭, 길이, 최장 최단 페렛 직경비, 원형도 등 다양한 종류의 것을 산출하도록 해도 된다.The image acquisition unit 9131 has a function of capturing an image from the camera 912, and acquires, for example, an image of the inspection object of the inspection object irradiated with illumination light. The feature amount calculation unit 9132 is a function that calculates a feature amount used for visual inspection based on the image of the object to be inspected. In addition, the feature quantity is not limited to one, and for example, various kinds of things such as the luminance (darkness) distribution of the image, the luminance peak level, area, width, length, the shortest and shortest ferret diameter ratio, and circularity may be calculated. .

결함 판정부(9133)는, 특징량 산출부(9132)가 산출한 특징량을 미리 설정되어 있는 문턱값과 대비시켜, 문턱값에서 벗어나는 특징량을 갖는 부분을 결함으로서 판정한다. 또한, 결함 후보 추출부(9134)는, 피검사물 화상으로부터, 결함 판정을 위한 문턱값에 대해 일정한 차의 범위 내의 특징량의 값을 갖는 결함 후보 화상을 추출하는 기능이다.The defect determining unit 9133 compares the feature amount calculated by the feature amount calculating unit 9132 with a preset threshold value, and determines a portion having a feature amount deviating from the threshold value as a defect. Further, the defect candidate extracting unit 9134 is a function of extracting a defect candidate image having a value of a feature amount within a range of a constant difference with respect to a threshold value for defect determination from the inspected object image.

검사 관리 장치(92)는, 외관 검사 장치(91)에서 결함으로서 판정된 부분의 화상을 2차 판정을 위해 표시하는 기능, 외관 검사 장치(91)에서의 검사에서 이용하는 특징량의 종류 및 그 문턱값의 설정 기능 등을 가지고 있다. 검사 관리 장치(92)는, CPU, RAM, 비휘발성의 기억 장치, 입력 장치, 표시 수단(예를 들어, 액정 디스플레이 등)(93)을 구비하는 컴퓨터에 의해 구성할 수 있다.The inspection management device 92 has a function of displaying an image of a portion determined as a defect in the visual inspection device 91 for secondary determination, the type of characteristic quantity used in the inspection in the visual inspection device 91 and its threshold. It has a value setting function. The inspection management device 92 can be configured by a computer including a CPU, a RAM, a nonvolatile memory device, an input device, and a display means (eg, a liquid crystal display) 93.

검사 관리 장치(92)는, 기능 모듈로서, 결함 후보 화상 취득부(921), 육안 검사 보조부(922)를 가지고 있다. 결함 후보 화상 취득부(921)는, 결함 후보 추출부(9134)가 추출한 결함 후보 화상을 외관 검사 장치(91)로부터 취득하는 기능이다. 육안 검사 보조부(922)는, 결함 후보 화상을 각 화상이 갖는 특징량의 값에 따라 배열한 일람 표시한 화상 일람 및 상기 문턱값을 나타냄과 아울러, 상기 일람 표시된 결함 후보 화상을 상기 문턱값에 의해 결함으로 판정되는지 여부로 구획하는 결함 판정선을 표시 수단(93)에 표시시키는 기능이다.The inspection management device 92 includes a defect candidate image acquisition unit 921 and a visual inspection auxiliary unit 922 as functional modules. The defect candidate image acquisition unit 921 is a function of acquiring the defect candidate image extracted by the defect candidate extraction unit 9134 from the visual inspection apparatus 91. The visual inspection assistance unit 922 displays a list of displayed images in which defect candidate images are arranged according to the value of the feature amount of each image and the threshold value, and determines the displayed defect candidate images in the list by the threshold value. It is a function of displaying on the display means 93 a defect determination line divided by whether or not it is determined as a defect.

도 2에, 육안 검사 보조부(922)가 표시 수단(93)에 표시시키는 화면의 일례를 나타낸다. 도 2는, 농담이 다른 부분의 면적을 특징량으로 한 경우에, 그 특징량의 값이 문턱값에 가까운 결함 후보 화상이, 특징량의 값이 높은 순으로 좌측부터 차례대로 나열되어 있는 상태를 나타내고 있다. 도 2 중의 점선이 문턱값을 나타내는 결함 판정선이며, 이보다 좌측에 있는 화상이 나타내는 부분이, 외관 검사 장치(91)에서 결함으로서 검출된다. 즉, 결함 판정선이 좌측 3개의 화상과 우측 2개의 화상을 문턱값에 의해 결함으로 판정되는지 여부로 구획하고 있다.2 shows an example of a screen that the visual inspection assistant 922 displays on the display means 93. FIG. 2 shows a state in which defect candidate images having a value of the feature amount close to a threshold value are sequentially arranged from the left in order of the highest value of the feature amount when the area of the portion having different shades is used as a feature amount. Is shown. The dotted line in FIG. 2 is a defect determination line indicating a threshold value, and a portion indicated by an image to the left of this is detected as a defect by the visual inspection apparatus 91. That is, the defect determination line divides the left three images and the right two images by whether or not they are determined as defects by the threshold value.

상기와 같은 본 적용에 관한 외관 검사 관리 시스템(9)에 의하면, 외관 검사의 2차 검사로서 육안 검사를 행하는 사용자는, 문턱값에 가까운 값의 특징량을 갖는 화상만을 일람으로 참조할 수 있다. 이 때문에, 명백한 결함의 검사를 생략할 수 있고, 또한 하나의 화면에서 많은 화상을 확인할 수 있기 때문에, 육안 검사를 효율화할 수 있다. 또한, 문턱값을 나타내는 결함 판정선이 표시되기 때문에, 객관적인 지표에 기초하여 화상의 결함 판정을 행할 수 있다. 이에 의해, 판정의 흔들림을 방지할 수 있다.According to the visual inspection management system 9 according to the present application as described above, a user who performs visual inspection as a secondary inspection of the visual inspection can refer only to images having a feature quantity close to a threshold value in a list. For this reason, since inspection of obvious defects can be omitted and many images can be confirmed on one screen, visual inspection can be made more efficient. Further, since a defect determination line indicating a threshold value is displayed, defect determination of an image can be performed based on an objective index. Thereby, it is possible to prevent the judgment from shaking.

<실시형태 1><Embodiment 1>

다음에, 본 발명을 실시하기 위한 형태의 다른 예인 외관 검사 관리 시스템(1)에 대해 설명한다. 단, 이 실시형태에 기재되어 있는 구성 부품의 치수, 재질, 형상, 그 상대 배치 등은, 특별히 기재가 없는 한은 본 발명의 범위를 이들에만 한정하는 취지의 것은 아니다.Next, the visual inspection management system 1 which is another example of the form for implementing this invention is demonstrated. However, dimensions, materials, shapes, relative arrangements, etc. of the constituent parts described in this embodiment are not intended to limit the scope of the present invention only to these unless otherwise specified.

(시스템 구성)(System configuration)

도 3을 참조하여, 본 발명의 실시형태에 관한 외관 검사 관리 시스템의 전체 구성에 대해 설명한다. 도 3은 외관 검사 관리 시스템(1)의 시스템 구성을 나타내는 모식도이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 본 실시형태에 관한 외관 검사 관리 시스템(1)은, 주요 구성으로서 외관 검사 장치(2) 및 검사 관리 장치(3)를 가지고 있다.Referring to Fig. 3, an overall configuration of the visual inspection management system according to the embodiment of the present invention will be described. 3 is a schematic diagram showing the system configuration of the visual inspection management system 1. As shown in FIG. 3, the visual inspection management system 1 according to the present embodiment includes an external appearance inspection device 2 and an inspection management device 3 as main configurations.

(외관 검사 장치)(Appearance inspection device)

외관 검사 장치(2)는, 시트형상의 물품의 외관 화상을 취득하고, 이 화상에 기초하여 결함의 검출을 행하기 위한 장치로서, 주요 구성으로서 조명계, 측정계, 반송 기구(도시생략), 제어 단말(23)을 구비하고 있다.Appearance inspection apparatus 2 is a device for acquiring an external image of a sheet-like article and detecting defects based on this image. As main components, an illumination system, a measurement system, a conveyance mechanism (not shown), and a control terminal (23) is provided.

피검사물(T)은, 도시하지 않은 반송 기구에 의해, 수평 방향(화살표 방향)으로 반송되고, 그 반송 중에 측정계에 의해 피검사물(T)의 외관 화상이 연속적으로 취득되며, 이에 기초하여 검사가 실시된다. 피검사물(T)은, 시트형상으로 형성되어 있고, 예를 들어 종이, 천, 필름 등을 예시할 수 있다. 또한, 단일 소재에 한정되지 않고, 필름과 부직포를 맞추어붙인 포장지 등과 같이 복수의 층을 갖는 시트체이어도 된다. 또한, 건조 김 등의 식품이어도 된다.The inspected object T is conveyed in the horizontal direction (arrow direction) by a conveying mechanism (not shown), and the external image of the inspected object T is continuously acquired by the measuring system during the conveyance, and the inspection is performed based on this. Implemented. The object to be inspected T is formed in a sheet shape, and, for example, paper, cloth, film, and the like can be illustrated. Further, it is not limited to a single material, and may be a sheet body having a plurality of layers, such as a wrapping paper in which a film and a nonwoven fabric are put together. Moreover, foods, such as dried laver, may be sufficient.

조명계는, 피검사물(T)의 표면에 가시광(예를 들어 백색광)을 조사하는 광원(211)을 구비하고 있다. 이들 광원에는, 예를 들어 LED 조명 등을 이용해도 된다.The illumination system is provided with a light source 211 that irradiates visible light (for example, white light) on the surface of the inspection object T. For these light sources, for example, you may use LED lighting or the like.

측정계는, 광원(211)으로부터 조사되어 피검사물(T)의 표면에서 반사된 광(이하, 표면 반사광이라고 함)을 촬영하는 카메라(221)를 구비하고 있다. 이 카메라가, 본 발명에서의 촬영 수단에 해당한다. 또, 카메라는, 각각이 촬영하는 광을 검지 가능한 수광 센서와, 렌즈와, 신호 출력부를 구비하고 있고, 렌즈를 통해 수광 센서에서 검지한 광을 전기 신호로서 출력한다. 센서로서는, 예를 들어 CCD 센서 또는 CMOS 센서 등을 이용할 수 있다.The measurement system includes a camera 221 that photographs light (hereinafter referred to as surface reflected light) that is irradiated from the light source 211 and reflected from the surface of the inspection object T. This camera corresponds to the photographing means in the present invention. Further, the camera includes a light-receiving sensor capable of detecting light photographed by each, a lens, and a signal output unit, and outputs the light detected by the light-receiving sensor through the lens as an electric signal. As the sensor, for example, a CCD sensor or a CMOS sensor can be used.

광원(211)으로부터 조명광이 조사된 상태의 검사 대상물의 화상을 카메라(221)에 의해 촬영하고, 촬영된 화상을 제어 단말(23)이 화상 처리하여, 얻어진 특징량의 값과 미리 설정되어 있는 검사 문턱값의 대비에 의해, 문턱값에서 벗어나는 특징량을 갖는 부분이 결함으로서 판정된다.An image of an object to be inspected in a state in which illumination light is irradiated from the light source 211 is photographed by the camera 221, and the captured image is image-processed by the control terminal 23, and the value of the obtained feature quantity and the preset inspection By contrast of the threshold value, a portion having a feature amount deviating from the threshold value is determined as a defect.

제어 단말(23)은, 화상 취득부(231), 특징량 산출부(232), 결함 판정부(233), 결함 종별 분류부(234), 결함 후보 추출부(235)의 각 기능 모듈을 가지고 있는데, 그 중 결함 종별 분류부(234) 이외의 기능 모듈에 대해서는, 적용예에서 설명한 것과 거의 동일하기 때문에, 상세한 설명은 생략한다.The control terminal 23 has each functional module of an image acquisition unit 231, a feature amount calculation unit 232, a defect determination unit 233, a defect classification unit 234, and a defect candidate extraction unit 235. However, among them, functional modules other than the defect type classification unit 234 are substantially the same as those described in the application example, and thus detailed descriptions are omitted.

결함 종별 분류부(234)는, 결함 판정부(233)의 판정에 의해 피검사물로부터 결함이 검출되었을 때에, 이 결함의 종류를, 미리 정해진 문턱값과 이 결함을 나타내는 화상의 특징량에 기초하여 분류한다. 또한, 결함 후보 추출부(235)에 의해 추출된 결함 후보 화상에 대해서도, 마찬가지의 분류를 행하도록 해도 된다. 또, 분류되는 결함의 종별은 사용자에 있어서 임의로 설정할 수 있고, 예를 들어 이물 혼입, 오물, 주름, 구멍이라는 종별을 마련해도 되고, 더욱 미세한 종별(예를 들어 벌레, 나뭇조각, 금속 이물, 기름때, 물때, 큰 구멍, 작은 구멍 등)로 분류하는 것이어도 된다.When a defect is detected from an object to be inspected by the defect determination unit 233, the defect type classification unit 234 determines the type of the defect based on a predetermined threshold value and a feature amount of an image representing the defect. Classify. Also, similar classification may be performed on the defect candidate image extracted by the defect candidate extraction unit 235. In addition, the types of defects to be classified can be arbitrarily set by the user, and for example, foreign matter mixing, dirt, wrinkles, and holes may be provided, and finer types (e.g., insects, wood chips, metal foreign matter, oil stains) , Scale, large hole, small hole, etc.).

(검사 관리 장치)(Inspection management device)

상술한 외관 검사 장치(2)는, 네트워크(LAN)를 통해 검사 관리 장치(3)에 접속되어 있고, 외관 검사 장치(2)와 검사 관리 장치(3)는 정보의 쌍방향 통신을 행한다. 검사 관리 장치(3)는, 외관 검사 장치(2)로부터 수신한 정보의 처리를 행함과 아울러, 검사에 관한 정보를 외관 검사 장치(2)에 송신한다. 검사 관리 장치(3)는 CPU, 주요 기억 장치, 보조 기억 장치(모두 도시생략), 입력 장치(34), 표시 장치(35) 등을 구비하는 범용적인 컴퓨터 시스템에 의해 구성된다.The above-described visual inspection apparatus 2 is connected to the inspection management apparatus 3 via a network (LAN), and the visual inspection apparatus 2 and the inspection management apparatus 3 perform two-way communication of information. The inspection management device 3 processes the information received from the exterior inspection device 2 and transmits the information related to the inspection to the exterior inspection device 2. The inspection management device 3 is constituted by a general-purpose computer system including a CPU, a main memory device, an auxiliary memory device (all not shown), an input device 34, a display device 35, and the like.

또, 검사 관리 장치(3)는, 1대의 컴퓨터에 의해 구성해도 되고, 복수의 컴퓨터에 의해 구성해도 된다. 혹은, 외관 검사 장치(2)의 제어 단말(23)에, 검사 관리 장치(3)의 기능의 전부 또는 일부를 실장하는 것도 가능하다. 혹은, 검사 관리 장치(3)의 기능의 일부를 네트워크 상의 서버(클라우드 서버 등)에 의해 실현해도 된다.In addition, the inspection management device 3 may be configured by one computer, or may be configured by a plurality of computers. Alternatively, it is also possible to mount all or part of the functions of the inspection management device 3 on the control terminal 23 of the visual inspection device 2. Alternatively, some of the functions of the inspection management device 3 may be realized by a server on the network (such as a cloud server).

본 실시형태의 검사 관리 장치(3)는, 기능 모듈로서, 결함 후보 화상 취득부(31)와, 육안 검사 보조부(32)와, 검사 기준 설정부(33)를 구비하고 있다.The inspection management apparatus 3 according to the present embodiment includes a defect candidate image acquisition unit 31, a visual inspection auxiliary unit 32, and an inspection standard setting unit 33 as functional modules.

결함 후보 화상 취득부(31)는, 외관 검사 장치(2)로부터 결함 후보 화상을 취득하는 기능이다. 또한, 네트워크 상의 다른 장소로부터 결함 후보 화상을 취득하도록 해도 된다. 육안 검사 보조부(32)는, 육안 검사의 보조를 위한 화면을 표시 장치(35)에 표시시키는 기능이다. 육안 검사 보조부(32)에 의해, 표시 장치(35)에 표시되는 화면에 대해서는 후술한다. 검사 기준 설정부(33)는, 입력 장치(34)를 통해 사용자로부터의 입력을 접수하고, 외관 검사 장치(2)에서의 외관 검사에 이용되는 특징량의 종류 및 그 문턱값을 설정하는 기능이다. 또, 본 실시형태에서의 검사 기준 설정부(33)는, 본 발명에서의 문턱값 설정 수단 및 검사 결과 수정 수단에 해당한다. 즉, 본 실시형태에 관한 외관 검사 관리 시스템에서는, 검사 기준 설정부가 문턱값 설정 수단과 검사 결과 수정 수단을 겸하는 구성으로 되어 있다.The defect candidate image acquisition unit 31 is a function of acquiring a defect candidate image from the visual inspection device 2. Further, a defect candidate image may be acquired from another location on the network. The visual inspection assistant 32 is a function of displaying a screen for assisting the visual inspection on the display device 35. A screen displayed on the display device 35 by the visual inspection assistant 32 will be described later. The inspection criterion setting unit 33 is a function of receiving an input from a user through the input device 34, and setting a type of characteristic quantity used for visual inspection in the visual inspection device 2 and a threshold value thereof. . In addition, the inspection standard setting unit 33 in this embodiment corresponds to a threshold value setting means and an inspection result correcting means in the present invention. That is, in the visual inspection management system according to the present embodiment, the inspection reference setting unit is configured to serve as both a threshold value setting unit and an inspection result correction unit.

(검사 관리 시스템에서의 처리의 흐름)(Flow of processing in the inspection management system)

다음에, 도 4를 참조하여, 본 실시형태에 있어서 외관 검사 관리 시스템(1)이 행하는 처리의 흐름을 설명한다. 우선, 외관 검사 장치(2)에서 피검사물(T)이 촬영되고, 제어 단말(23)이 화상 취득부(231)를 통해 피검사물 화상을 취득한다(단계 S101). 다음에, 특징량 산출부(232)에 의해 피검사물 화상으로부터 소정의 특징량의 값이 산출되고(단계 S102), 결함 판정부(233) 및 결함 종별 분류부(234)에 의해, 산출된 특징량의 값과 미리 설정되어 있는 검사 문턱값의 대비에 의한 1차 검사가 실행된다(단계 S103). 즉, 단계 S103에서 결함의 유무 및 결함의 종류에 대한 1차적인 판정이 내려진다. 또, 이 판정의 정보는, 피검사물 화상 데이터와 함께 검사 관리 장치(3)에 송신되도록 해도 된다.Next, with reference to FIG. 4, the flow of the processing performed by the visual inspection management system 1 in this embodiment is demonstrated. First, the inspection subject T is photographed by the visual inspection apparatus 2, and the control terminal 23 acquires an inspection subject image through the image acquisition unit 231 (step S101). Next, a value of a predetermined characteristic quantity is calculated from the inspected object image by the characteristic quantity calculation unit 232 (step S102), and the calculated characteristic value by the defect determination unit 233 and the defect type classification unit 234 The primary inspection is performed by contrasting the value of the quantity and the predetermined inspection threshold (step S103). That is, in step S103, a primary determination is made as to the presence or absence of a defect and the type of the defect. Further, this determination information may be transmitted to the inspection management device 3 together with the inspection object image data.

다음에, 결함 후보 추출부(235)에 의해, 특징량 산출부(232)에 의해 산출된 피검사물 화상의 특징량의 값과 검사 문턱값의 대비가 행해지고, 특징량의 값이 검사 문턱값에 대해 설정되어 있는 소정의 마진의 범위 내가 되는 부분이 있는 경우에는, 그 부분을 포함하는 화상이 결함 후보 화상으로서 추출된다(단계 S104). 추출된 화상은, 검사 관리 장치(3)에 송신되고, 결함 후보 화상 취득부(31)에 의해 기억 장치에 기억된다. 또, 결함 후보 화상 취득부(31)가 결함 후보 화상을 취득하는 것은, 결함 후보 화상이 추출될 때마다이어도 되고, 소정 단위(예를 들어, 제품 1롤, 1로트 등)의 검사가 종료된 후에, 그 소정 단위마다의 결함 후보 화상을 모아 취득하는 것이어도 된다.Next, by the defect candidate extraction unit 235, the value of the feature amount of the inspected object image calculated by the feature amount calculating unit 232 and the inspection threshold value are compared, and the value of the feature amount is compared to the inspection threshold value. In the case where there is a portion within the range of the predetermined margin set for this, an image including the portion is extracted as a defect candidate image (step S104). The extracted image is transmitted to the inspection management device 3 and is stored in the storage device by the defect candidate image acquisition unit 31. In addition, the defect candidate image acquisition unit 31 may acquire a defect candidate image each time a defect candidate image is extracted, and inspection of a predetermined unit (e.g., 1 roll of product, 1 lot, etc.) is completed. After that, the defect candidate images for each predetermined unit may be collected and acquired.

그리고, 소정 단위의 피검사물(T)의 검사가 종료된 단계에서, 기억된 결함 후보 화상이, 육안 검사 보조부(32)에 의해, 소정의 배열 룰에 따라 표시 장치(35)에 일람 표시된다(단계 S105). 또한, 검사 문턱값을 나타냄과 아울러 검사 문턱값을 초과하는지 여부로 일람 표시된 결함 후보 화상을 구분하는 결함 판정선도 아울러 표시된다(단계 106).Then, at the stage in which the inspection of the inspected object T in a predetermined unit is completed, the stored defect candidate images are displayed as a list on the display device 35 according to a predetermined arrangement rule by the visual inspection assistant 32 ( Step S105). In addition to indicating the inspection threshold, a defect determination line for separating the list of displayed defect candidate images by whether or not the inspection threshold is exceeded is also displayed (step 106).

또, 일람 표시의 배열은, 예를 들어, 검사에 이용되는 특징량의 종류마다, 그 특징량의 문턱값과의 차분이 큰 화상부터 내림차순으로 배치되도록 할 수 있다. 도 5는, 결함 후보 화상이 일람 표시된 상태의 화면예를 나타내는 도면이다. 도 5 중의 점선은 결함 판정선을 나타내고 있다. 도 5에 도시된 바와 같이, 휘도값의 명암 피크 레벨(바탕의 휘도값으로부터 벗어난 정도)과, 바탕과 다른 휘도를 나타내는 부분의 면적의 2가지 특징량의 관점에서, 결함 후보 화상이 격자형상으로 배열되어 있다. 도 5에서는, 피크 레벨의 특징량에 대해, 상측에 위치하는 화상일수록 바탕으로부터 벗어난 정도가 크고, 면적의 특징량에 대해, 좌측에 위치하는 화상일수록 바탕과 다른 휘도값을 나타내는 부분의 면적이 큰 것을 나타내고 있다.In addition, the arrangement of the list display can be arranged in descending order from an image having a large difference from the threshold value of the feature quantity for each type of feature quantity used for inspection. 5 is a diagram illustrating an example of a screen in a state in which a list of defect candidate images is displayed. The dotted line in Fig. 5 represents a defect determination line. As shown in Fig. 5, from the viewpoint of two feature quantities: the contrast peak level of the luminance value (the degree of deviation from the luminance value of the background) and the area of a portion showing a luminance different from the background, the defect candidate image is in a grid shape. Are arranged. In FIG. 5, with respect to the peak-level feature amount, an image positioned on the upper side has a greater degree of deviation from the background, and with respect to the feature amount of the area, an image positioned on the left has a larger area of a portion representing a luminance value different from the background. Shows that.

또한, 결함의 종류의 구별과 그 종류마다의 결함 개수를 시인할 수 있는 표시를 행해도 된다. 도 5에 도시된 바와 같이, 결함 후보 화상 일람의 우측에, 결함의 종류마다의 개수를 나타내는 표가 표시되어 있다. 도면 중의 O로 나타나는 영역의 결함 후보 화상은 결함종 1의 결함, 도면 중의 P로 나타나는 영역의 결함 후보 화상은 결함종 2의 결함, 도면 중의 Q로 나타나는 영역의 결함 후보 화상은 결함종 3의 결함, 도면 중의 R로 나타나는 영역의 결함 후보 화상은 결함종 4의 결함에 각각 해당한다.In addition, a display capable of distinguishing the types of defects and visually recognizing the number of defects for each type may be performed. As shown in Fig. 5, on the right side of the list of defect candidate images, a table showing the number of defects for each type is displayed. The defect candidate image in the area indicated by O in the drawing is a defect of defect type 1, the defect candidate image in the area indicated by P in the drawing is a defect of defect type 2, and the defect candidate image in the area indicated by Q in the drawing is defect type 3 , The defect candidate images in the region indicated by R in the drawing correspond to defects of defect type 4, respectively.

외관 검사의 2차 검사를 행하는 검사원은, 도 5에 도시된 바와 같은 화면 표시를 보면서 결함 후보 화상의 육안 검사를 실시한다. 이 때에, 검사원은 검사 문턱값을 변경할 수 있다. 구체적으로는, 결함 후보 화상의 일람과 결함 판정선의 관계로부터, 검사 문턱값을 변경해야 한다고 판단한 경우에는, 결함 판정선과 결함 후보 화상 중 적어도 하나를 상대적으로 이동시키는 조작을 입력 장치(34)를 통해 행함으로써, 문턱값을 변경할 수 있다.The inspector who performs the secondary inspection of the appearance inspection performs visual inspection of the defect candidate image while viewing the screen display as shown in FIG. 5. At this time, the inspector can change the inspection threshold. Specifically, when it is determined that the inspection threshold should be changed from the relationship between the list of defect candidate images and the defect determination line, an operation of relatively moving at least one of the defect determination line and the defect candidate image is performed through the input device 34. By doing so, the threshold value can be changed.

도 6은, 이러한 조작이 행해진 경우의 화상 일람 표시의 화면예를 나타내고 있다. 도 6의 (A) 및 (B)에 나타내는 점선은 각각 결함 판정선을 나타내고 있다. 도 6의 (A)는, 결함 후보 화상을 문턱값을 나타내는 결함 판정선의 반대측으로 이동시키는 경우의 화면예를 나타내고 있다. 한편, 도 6의 (B)는, 결함 판정선을 이동시키는 경우의 화면예를 나타내고 있다.6 shows an example of a screen for displaying an image list when such an operation is performed. Dotted lines shown in Figs. 6A and 6B represent defect determination lines, respectively. Fig. 6A shows an example of a screen in the case of moving the defect candidate image to the opposite side of the defect determination line indicating the threshold value. On the other hand, Fig. 6B shows an example of a screen when the defect determination line is moved.

외관 검사 관리 시스템(1)이 행하는 처리의 흐름으로 설명을 되돌리면, 검사 관리 장치(3)는, 입력 장치(34)를 통해, 상기 문턱값 변경의 조작이 있었는지 여부를 판정한다(단계 S107). 여기서, 조작이 되지 않은 경우에는, 그대로 일련의 처리를 종료한다. 혹은, 검사 결과의 추인을 위한 입력을 사용자에게 요구하여, 사용자의 입력을 가지고 처리를 종료하도록 해도 된다.Returning the description to the flow of processing performed by the visual inspection management system 1, the inspection management device 3 determines whether or not there has been an operation of changing the threshold value through the input device 34 (step S107). ). Here, if the operation is not performed, the series of processing ends as it is. Alternatively, an input for confirming the inspection result may be requested from the user, and the processing may be terminated with the user's input.

한편, 단계 S107에서 문턱값 변경의 조작이 행해진 경우에는, 화상 일람 표시에서 변경이 있었음을 주의 환기하기 위한 주목 표시를 행한다(단계 S108). 예를 들어, 도 6의 (A), (B)에 도시된 바와 같이, 문턱값 변경에 의해, 결함 판정의 결과에 변동이 발생한 결함 후보 화상의 표시색을 변경하도록 해도 되고, 화상을 굵고 진한 색의 테두리로 둘러싸도록 해도 된다. 그리고, 검사 기준 설정부(33)에 의해 검사 문턱값의 변경을 행하고, 이러한 설정을 외관 검사 장치(2)에 송신하여(단계 S109), 일련의 처리를 종료한다.On the other hand, when the operation of changing the threshold value has been performed in step S107, attention is displayed to call attention that there has been a change in the image list display (step S108). For example, as shown in (A) and (B) of Fig. 6, the display color of the defect candidate image in which fluctuation has occurred in the result of defect determination may be changed by changing the threshold value, and the image is made thick and dark. It may be surrounded by a colored border. Then, the inspection threshold value is changed by the inspection standard setting unit 33, and this setting is transmitted to the visual inspection apparatus 2 (step S109), and a series of processing is ended.

상기와 같은 검사 관리 시스템에 의해, 외관 검사의 2차 검사를 행할 때에, 효율적으로 육안 검사를 행할 수 있을 뿐만 아니라, 복수의 화상과, 이들에 대한 문턱값의 라인을 비교하면서, 검사 문턱값의 수정을 행하는 것이 가능해진다. 이에 의해, 문턱값의 변경에서의 흔들림을 억제할 수 있다.With the above inspection management system, not only can the visual inspection be efficiently performed when performing the secondary inspection of the visual inspection, but also a plurality of images and lines of the threshold values thereof are compared, while It becomes possible to make corrections. Thereby, it is possible to suppress the shaking in the change of the threshold value.

(변형예)(Modification example)

또, 육안 검사 보조부(32)는 상기한 바와 같은 화면 이외의 화면을 표시하는 것도 가능하다. 예를 들어, 육안 검사 보조부(32)는, 소정의 특징량에 의해 정의되는 좌표계에, 하나 이상의 피검사물 화상으로부터 얻어지는 특징량의 값을 그 좌표계의 좌표로서 배치한 특징량 분포도를 표시시킬 수 있다. 도 7은, 육안 검사 보조부(32)가 표시 장치(35)에 표시하는 특징량 분포도의 일례이다. 도 7이 나타내는 화면은, X축에 피크 계조의 값, Y축에 면적을 각각 특징량의 항목으로서 설정한 것이고, 각 좌표에 위치하는 특징량을 갖는 피검사물 화상을 매핑한 것으로 되어 있다.Further, the visual inspection assistant 32 can also display screens other than the screens described above. For example, the visual inspection assistant 32 may display a feature quantity distribution diagram in which values of feature quantities obtained from one or more inspection object images are arranged as coordinates of the coordinate system in a coordinate system defined by a predetermined feature quantity. . 7 is an example of a feature quantity distribution diagram displayed by the visual inspection assistant 32 on the display device 35. In the screen shown in FIG. 7, values of peak gradation on the X-axis and area on the Y-axis are set as items of feature quantities, respectively, and an inspection object image having feature quantities positioned at each coordinate is mapped.

도 7 중의 점선은, 각각의 특징량의 검사 문턱값을 나타내는 문턱값 표시선이다. 문턱값 표시선은, 검사 기준 설정부(33)에 의한 문턱값의 변경이 있는 경우에는, 이와 연동하여 그 변경을 반영한 위치에 나타난다.The dotted line in Fig. 7 is a threshold value display line indicating an inspection threshold value of each characteristic quantity. When there is a change in the threshold value by the inspection reference setting unit 33, the threshold value display line is interlocked with it and appears at a position reflecting the change.

이러한 표시에 의해, 피검사물 화상에서의 특징량의 분포 및 검사 문턱값과의 관계를 한눈에 확인할 수 있다. 또한, 문턱값 표시선과 특징량의 분포를 비교하면서, 결함 후보 화상을 추출하는 차분의 영역을 검토하는 것이 가능해진다.By this display, the distribution of the feature quantity in the image to be inspected and the relationship between the inspection threshold value can be confirmed at a glance. Further, while comparing the distribution of the threshold value display line and the feature quantity, it becomes possible to examine a region of difference from which a defect candidate image is extracted.

<기타><Other>

상기 실시형태는, 본 발명을 예시적으로 설명하는 것에 불과하며, 본 발명은 상기 구체적인 형태에는 한정되지 않는다. 본 발명은 그 기술적 사상의 범위 내에서 여러 가지 변형이 가능하다. 예를 들어, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 특징량 분포도는, 결함 후보 화상의 일람 표시와 동시에 표시되도록 해도 된다.The above embodiments are merely illustrative of the present invention, and the present invention is not limited to the above specific form. The present invention can be variously modified within the scope of the technical idea. For example, as shown in Fig. 8, the feature quantity distribution diagram may be displayed simultaneously with display of a list of defect candidate images.

또한, 상기의 각 예에서는, 결함 판정부와 결함 후보 추출부를 다른 기능 모듈로서 설명하였지만, 이들은 일체로 되어 있어도 된다. 즉, 피검사물 화상의 특징량의 값이 검사 문턱값에 대해 설정되어 있는 소정의 마진의 범위 내가 되는 부분이 있는 경우에는, 그 부분을 결함으로서 판정하고, 그 결함으로 판정된 부분을 포함하는 화상을 결함 후보 화상으로서 추출하도록 해도 된다. 이 경우에는, 상기 실시형태 1의 처리 흐름에서는, 단계 S103과 단계 S104가 동시에 실행되게 된다.In addition, in each of the above examples, the defect determination unit and the defect candidate extraction unit have been described as different functional modules, but they may be integrated. In other words, when there is a portion in which the value of the feature amount of the image to be inspected falls within the range of the predetermined margin set for the inspection threshold value, the portion is determined as a defect, and an image including the portion determined as the defect May be extracted as a defect candidate image. In this case, in the processing flow of the first embodiment, steps S103 and S104 are simultaneously executed.

또한, 상기 실시형태에서는, 시트형상의 피검사물을 검사하는 장치가 대상이었지만, 이에 한정하지 않고, 화상 처리를 행하는 외관 검사 장치에 널리 적용할 수 있다.Further, in the above embodiment, an apparatus for inspecting a sheet-shaped object to be inspected was the target, but the present invention is not limited thereto, and it can be widely applied to an external appearance inspection apparatus for performing image processing.

본 발명의 하나의 태양은,One aspect of the present invention,

피검사물을 촬영하는 촬영 수단(221);A photographing means 221 for photographing an object to be inspected;

상기 촬영 수단에 의해 촬영된 피검사물 화상으로부터 얻어지는 특징량을 소정의 문턱값에 의해 판정함으로써 상기 피검사물의 결함을 검출하는 검사 수단(233);Inspection means (233) for detecting a defect of the inspected object by determining a feature amount obtained from the inspected object image photographed by the photographing means by a predetermined threshold value;

상기 피검사물 화상으로부터, 상기 소정의 문턱값에 대해 소정의 차의 범위 내의 특징량의 값을 갖는 결함 후보 화상을 추출하는 결함 후보 추출 수단(235);Defect candidate extraction means (235) for extracting a defect candidate image having a value of a feature amount within a range of a predetermined difference with respect to the predetermined threshold value from the inspected object image;

표시 수단(35); 및Display means 35; And

상기 표시 수단에, 하나 이상의 상기 결함 후보 화상을 각 화상이 갖는 특징량의 값에 따라 배열한 화상 일람 표시 및 상기 문턱값을 나타내고, 상기 화상 일람 표시 중의 결함 후보 화상을 상기 문턱값에 의해 결함으로 판정되는지 여부로 구획하는 결함 판정선을 표시시키는 육안 검사 보조 수단(32);을 갖는 외관 검사 관리 시스템이다.In the display means, a list of images in which one or more defect candidate images are arranged according to a value of a feature amount of each image and the threshold value are displayed, and a defect candidate image in the image list display is converted to a defect by the threshold value. It is an external appearance inspection management system having a visual inspection auxiliary means 32 for displaying a defect determination line divided by whether or not it is determined.

또한, 본 발명의 다른 하나의 태양은,In addition, another aspect of the present invention,

피검사물의 외관 검사를 관리하는 외관 검사 관리 방법으로서,As a visual inspection management method for managing the visual inspection of an object to be inspected,

피검사물을 촬영하는 촬영 단계(S101);A photographing step (S101) of photographing an object to be inspected;

상기 촬영 단계에서 촬영된 피검사물의 화상으로부터 얻어지는 특징량이, 소정의 문턱값에 대해 소정의 차의 범위 내에 들어가는 결함 후보 화상을 추출하는 결함 후보 추출 단계(S104); 및A defect candidate extraction step (S104) of extracting a defect candidate image in which a feature amount obtained from the image of the inspected object photographed in the photographing step falls within a range of a predetermined difference with respect to a predetermined threshold value; And

상기 결함 후보 추출 단계에서 추출한, 하나 이상의 상기 결함 후보 화상을 각 화상이 갖는 특징량의 값에 따라 배열한 화상 일람 표시 및 상기 문턱값을 나타냄과 아울러, 상기 화상 일람 표시 중의 결함 후보 화상을 상기 문턱값과의 관계로 결함으로 판정되는지 여부로 구획하는 결함 판정선을 동일 화면상에 표시시키는 육안 검사 보조 단계(S105; S106);를 갖는 외관 검사 관리 방법이다.In addition to displaying a list of images in which one or more defect candidate images extracted in the defect candidate extraction step are arranged according to the value of the feature amount of each image and the threshold value, a defect candidate image in the image list display is set to the threshold. It is a visual inspection management method having a visual inspection auxiliary step (S105; S106) of displaying on the same screen a defect determination line divided by whether or not it is determined as a defect in relation to the value.

1, 9…외관 검사 관리 시스템
2, 91…외관 검사 장치
211, 912…광원
221, 911…카메라
23, 913…제어 단말
3, 92…검사 관리 장치
34…입력 장치
35…표시 장치
T…피검사물1, 9... Visual inspection management system
2, 91... Visual inspection device
211, 912... Light source
221, 911... camera
23, 913... Control terminal
3, 92... Inspection management device
34... Input device
35... Display device
T... Object to be inspected

Claims (15)

피검사물을 촬영하는 촬영 수단;
상기 촬영 수단에 의해 촬영된 피검사물 화상으로부터 얻어지는 특징량을 소정의 문턱값과 대비함으로써 판정하여 상기 피검사물의 결함을 검출하는 검사 수단;
상기 피검사물 화상으로부터, 상기 소정의 문턱값에 대해 소정의 차의 범위 내의 특징량의 값을 갖는 결함 후보 화상을 추출하는 결함 후보 추출 수단;
표시 수단; 및
상기 표시 수단에, 하나 이상의 상기 결함 후보 화상을 각 화상이 갖는 특징량의 값에 따라 배열한 화상 일람 표시 및 상기 문턱값을 나타냄과 아울러, 상기 화상 일람 표시 중의 결함 후보 화상을 상기 문턱값에 의해 결함으로 판정되는지 여부로 구획하는 결함 판정선을 표시시키는 육안 검사 보조 수단;을 갖는 것을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.Photographing means for photographing an object to be inspected;
Inspection means for determining a defect of the inspected object by making a determination by comparing a feature amount obtained from the inspected object image photographed by the photographing means with a predetermined threshold value;
Defect candidate extraction means for extracting a defect candidate image having a value of a feature amount within a range of a predetermined difference with respect to the predetermined threshold value from the inspected object image;
Display means; And
In the display means, a list of images in which one or more defect candidate images are arranged according to a value of a feature amount of each image and the threshold value are displayed, and a defect candidate image in the image list display is determined by the threshold value. Visual inspection auxiliary means for displaying a defect determination line divided by whether or not it is determined as a defect. 청구항 1에 있어서,
상기 문턱값은 복수 설정되어 있고,
상기 육안 검사 보조 수단은, 상기 결함 판정선을 그 문턱값의 수만큼 표시시키는 것을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.The method according to claim 1,
A plurality of the threshold values are set,
And the visual inspection auxiliary means displays the defect determination line by the number of the threshold value. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 검사 수단은, 상기 피검사물 화상으로부터 복수 종류의 특징량을 취득하고, 각각의 특징량에 대응하는 문턱값에 의해, 상기 피검사물의 결함을 검출하는 것을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.The method according to claim 1 or 2,
And the inspection means acquires a plurality of types of feature quantities from the inspected object image, and detects a defect of the inspected object based on a threshold value corresponding to each feature quantity. 청구항 3에 있어서,
상기 화상 일람 표시는, 하나 이상의 상기 결함 후보 화상을, 특징량의 종류마다 각 화상이 갖는 특징량의 값에 따라 배열한 것임을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.The method of claim 3,
The visual inspection management system, wherein the image list display is a method of arranging one or more defect candidate images according to a value of a feature amount of each image for each type of feature amount. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 피검사물로부터 결함이 검출되었을 때에, 그 결함의 종류를 분류하는 결함 종별 분류 수단을 더 갖는 것을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.The method according to claim 1 or 2,
And a defect type classification means for classifying the type of defect when a defect is detected from the inspection object. 청구항 5에 있어서,
상기 육안 검사 보조 수단은, 상기 결함 종별 분류 수단이 분류한 결함의 종류마다, 상기 결함의 개수를 상기 표시 수단에 표시시키는 것을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.The method of claim 5,
And the visual inspection auxiliary means displays the number of the defects on the display means for each type of defect classified by the defect classification means. 청구항 1에 있어서,
입력 수단과,
상기 입력 수단을 통해, 상기 결함 판정선과, 상기 화상 일람 표시에서의 결함 후보 화상 중 적어도 하나를 상대적으로 이동시키는 조작을 접수하는 검사 결과 수정 수단을 더 갖는 것을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.The method according to claim 1,
Input means,
And an inspection result correction means for accepting an operation of relatively moving at least one of the defect determination line and the defect candidate image in the image list display via the input means. 청구항 7에 있어서,
상기 검사 결과 수정 수단은, 상기 조작에 의해, 조작 전과 비교하여 상기 결함 판정선의 반대측으로 이동한 상기 결함 후보 화상을 나타내기 위한 주목 표시를 상기 표시 수단에 표시시키는 것을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.The method of claim 7,
And the inspection result correcting means causes the display means to display an attention display for indicating the defect candidate image that has moved to the opposite side of the defect determination line by the operation compared to before the operation. 청구항 7 또는 청구항 8에 있어서,
상기 검사 결과 수정 수단은, 상기 결함 판정선과, 상기 화상 일람 표시에서의 결함 후보 화상 중 적어도 하나를 상대적으로 이동시키는 조작을 접수함으로써, 상기 소정의 문턱값을 설정 및/또는 변경하는 것을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.The method according to claim 7 or 8,
Wherein the inspection result correcting means sets and/or changes the predetermined threshold value by receiving an operation of relatively moving at least one of the defect determination line and the defect candidate image in the image list display. Appearance inspection management system. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 육안 검사 보조 수단은, 소정의 특징량에 의해 정의되는 좌표계에, 하나 이상의 상기 피검사물 화상으로부터 얻어지는 특징량의 값을 상기 좌표계의 좌표로서 배치한 특징량 분포도를, 상기 화상 일람 표시와 동시 또는 전환 가능하게 상기 표시 수단에 표시시키는 것을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.The method according to claim 1 or 2,
The visual inspection assistant means, in a coordinate system defined by a predetermined feature quantity, a feature quantity distribution diagram in which values of feature quantities obtained from at least one object image to be inspected are arranged as coordinates of the coordinate system, at the same time as displaying the image list or The visual inspection management system, wherein the display is displayed on the display means in a switchable manner. 청구항 10에 있어서,
상기 소정의 문턱값을 설정 및/또는 변경하는 문턱값 설정 수단을 더 구비하고,
상기 특징량 분포도에는, 상기 소정의 문턱값을 나타내는 문턱값 표시선이 표시되며,
상기 문턱값 설정 수단에 의해 상기 소정의 문턱값이 변경된 경우에는, 그 문턱값의 변경이 상기 문턱값 표시선의 표시에 반영되는 것을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.The method of claim 10,
Further comprising a threshold value setting means for setting and/or changing the predetermined threshold value,
On the feature quantity distribution map, a threshold value display line indicating the predetermined threshold value is displayed,
When the predetermined threshold value is changed by the threshold value setting means, the change in the threshold value is reflected on the display of the threshold value display line. 적어도 상기 육안 검사 보조 수단을 구비하고,
청구항 1 또는 청구항 2에 기재된 외관 검사 관리 시스템의 적어도 일부를 구성하는 외관 검사 관리 장치.At least the visual inspection auxiliary means,
Appearance inspection management apparatus constituting at least a part of the appearance inspection management system according to claim 1 or 2. 시트형상의 피검사물을 연속적으로 반송하는 반송 수단;
반송 중인 상기 피검사물을 연속하여 촬영하는 촬영 수단;
상기 촬영 수단에 의해 촬영되는 피검사물 화상으로부터 얻어지는 특징량을 소정의 문턱값과 대비함으로써 판정하여, 상기 피검사물의 결함 부분을 검출하는 검사 수단;
상기 피검사물 화상으로부터, 상기 소정의 문턱값에 대해 소정의 차의 범위 내의 특징량의 값을 갖는 화상인 결함 후보 화상을 추출하는 결함 후보 추출 수단;
표시 수단; 및
상기 표시 수단에, 하나 이상의 상기 결함 후보 화상을 각 화상이 갖는 특징량의 값에 따라 배열한 화상 일람 표시 및 상기 문턱값을 나타냄과 아울러, 상기 화상 일람 표시 중의 결함 후보 화상을 상기 문턱값에 의해 결함으로 판정되는지 여부로 구획하는 결함 판정선을 표시시키는 육안 검사 보조 수단;을 갖는 것을 특징으로 하는 외관 검사 관리 시스템.Conveying means for continuously conveying the sheet-shaped inspection subject;
Photographing means for continuously photographing the object being conveyed;
Inspection means for determining by comparing a feature amount obtained from an inspection object image photographed by the photographing means with a predetermined threshold value, and detecting a defective portion of the inspection object;
Defect candidate extraction means for extracting a defect candidate image, which is an image having a value of a feature amount within a range of a predetermined difference with respect to the predetermined threshold value from the inspection object image;
Display means; And
In the display means, a list of images in which one or more defect candidate images are arranged according to a value of a feature amount of each image and the threshold value are displayed, and a defect candidate image in the image list display is determined by the threshold value. Visual inspection auxiliary means for displaying a defect determination line divided by whether or not it is determined as a defect. 피검사물의 외관 검사를 관리하는 외관 검사 관리 방법으로서,
피검사물을 촬영하는 촬영 단계;
상기 촬영 단계에서 촬영된 피검사물의 화상으로부터 얻어지는 특징량이, 소정의 문턱값에 대해 소정의 차의 범위 내에 들어가는 결함 후보 화상을 추출하는 결함 후보 추출 단계; 및
상기 결함 후보 추출 단계에서 추출한, 하나 이상의 상기 결함 후보 화상을 각 화상이 갖는 특징량의 값에 따라 배열한 화상 일람 표시 및 상기 문턱값을 나타냄과 아울러, 상기 화상 일람 표시 중의 결함 후보 화상을 상기 문턱값과의 관계로 결함으로 판정되는지 여부로 구획하는 결함 판정선을 동일 화면상에 표시시키는 육안 검사 보조 단계;를 갖는 외관 검사 관리 방법.As a visual inspection management method for managing the visual inspection of an object to be inspected,
A photographing step of photographing the test object;
A defect candidate extraction step of extracting a defect candidate image in which a feature amount obtained from the image of the inspected object photographed in the photographing step falls within a range of a predetermined difference with respect to a predetermined threshold value; And
In addition to displaying a list of images in which one or more defect candidate images extracted in the defect candidate extraction step are arranged according to the value of the feature amount of each image and the threshold value, a defect candidate image in the image list display is set to the threshold. Visual inspection management method having a; visual inspection auxiliary step of displaying on the same screen a defect determination line divided by whether or not it is determined as a defect in relation to the value. 청구항 14에 기재된 각 단계를 정보 처리 장치에 실행시키기 위한 프로그램.A program for causing an information processing device to execute each step of claim 14.
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