KR20200113385A - Switching circuit apparatus having current limit function - Google Patents

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KR20200113385A KR1020190033502A KR20190033502A KR20200113385A KR 20200113385 A KR20200113385 A KR 20200113385A KR 1020190033502 A KR1020190033502 A KR 1020190033502A KR 20190033502 A KR20190033502 A KR 20190033502A KR 20200113385 A KR20200113385 A KR 20200113385A
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김영원
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주식회사 레오엘에스아이
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Abstract

A switching circuit device includes: a switching circuit capable of switching on/off between an input node and an output node; a current level detection circuit connected between the input node and the output node to sense current flowing through the switching circuit; a controller which uses the level of the current flowing through the switching circuit sensed by the current level detection circuit to output a control signal; and a driving circuit which generates a driving signal for driving the switching circuit by using the control signal. In the event of a failure such as a short circuit of an electronic device during the test of an electronic device, the current can be limited so that overcurrent does not flow through the switching circuit.

Description

전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치{SWITCHING CIRCUIT APPARATUS HAVING CURRENT LIMIT FUNCTION} Switching circuit device with current limiting function {SWITCHING CIRCUIT APPARATUS HAVING CURRENT LIMIT FUNCTION}

본 발명은 전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a switching circuit device having a current limiting function.

도 1은 일반적인 테스터(T)에 의한 전자 디바이스(ED)의 테스트 시스템의 구성도를 나타낸다. 1 shows a configuration diagram of a test system of an electronic device ED using a general tester T.

도 1로부터 알 수 있는 바와 같이, 테스터(T)에 의한 전자 디바이스(ED)의 테스트 시스템은 테스터(T)와 전자 디바이스(ED) 사이에 스위칭 회로를 포함하는 스위칭 회로 장치(100)가 삽입되어, 스위칭 회로의 온 또는 오프 동작에 의해, 테스터(T)와 전자 디바이스(ED) 사이가 연결 또는 분리되게 된다.As can be seen from FIG. 1, in the test system of the electronic device ED by the tester T, a switching circuit device 100 including a switching circuit is inserted between the tester T and the electronic device ED. , By the ON or OFF operation of the switching circuit, the tester T and the electronic device ED are connected or disconnected.

그런데, 스위칭 회로의 온 동작에 의해 테스터(T)와 전자 디바이스(ED) 사이가 연결되어, 해당 전자 디바이스(ED)의 테스트의 실시 시 해당 전자 디바이스(ED)의 쇼트 등의 불량이 발생할 경우, 스위칭 회로를 통해 테스터(T)로 과전류가 흘러 스위칭 회로는 물론 테스터(T)에도 과전류가 흘러, 스위칭 회로 및 테스터(T)가 파괴되는 문제가 발생할 수 있다.However, when the tester (T) and the electronic device (ED) are connected by the ON operation of the switching circuit, and when the test of the electronic device (ED) is performed, a short circuit of the electronic device (ED) occurs, The overcurrent flows to the tester T through the switching circuit, and the overcurrent flows to the tester T as well as the switching circuit, and thus the switching circuit and the tester T may be destroyed.

국내공개특허공보 제10-2010-0021610호 : ＭＥＭＳ 마이크로-스위치 어레이 기반의 전류 제한 인에이블된 회로 인터럽트 장치 및 이것의 구현 방법(2010년 02월 25일 공개).Korean Patent Publication No. 10-2010-0021610: MEMS micro-switch array-based current limiting-enabled circuit interrupt device and its implementation method (published on February 25, 2010).

본 발명은 전술한 바와 같은 기술적 과제를 해결하는 데 목적이 있는 발명으로서, 전자 디바이스의 테스트의 실시 시 해당 전자 디바이스의 쇼트 등의 불량이 발생할 경우, 스위칭 회로에 과전류가 흐르지 않도록 전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치에 관한 것이다.The present invention is an invention aimed at solving the technical problems as described above, and has a current limiting function to prevent overcurrent from flowing in the switching circuit when a defect such as a short circuit of the corresponding electronic device occurs during the test of the electronic device. It relates to a switching circuit device.

본 발명의 스위칭 회로 장치는, 입력 노드와 출력 노드 사이를 온 또는 오프하는 스위칭 동작을 할 수 있는 스위칭 회로; 상기 입력 노드와 상기 출력 노드 사이에 연결되어, 상기 스위칭 회로에 흐르는 전류를 감지하는 전류 레벨 감지 회로; 상기 전류 레벨 감지 회로로부터 감지된 상기 스위칭 회로에 흐르는 전류 레벨을 이용하여, 제어 신호를 출력하는 제어기; 및 상기 제어 신호를 이용하여, 상기 스위칭 회로를 구동하는 구동 신호를 생성하는 구동 회로;를 포함한다.The switching circuit device of the present invention includes: a switching circuit capable of switching on or off between an input node and an output node; A current level sensing circuit connected between the input node and the output node to sense a current flowing through the switching circuit; A controller for outputting a control signal by using a current level flowing through the switching circuit sensed by the current level detection circuit; And a driving circuit for generating a driving signal for driving the switching circuit by using the control signal.

구체적으로, 상기 제어기는, 상기 전류 레벨 감지 회로로부터 감지된 상기 스위칭 회로에 흐르는 전류 레벨이 미리 설정된 일정값 이상이 경우, 상기 스위칭 회로의 제어 전압을 상기 스위칭 회로를 온 상태로 하기 위해 미리 설정된 제 1 전압값과 상기 스위칭 회로를 오프 상태로 하기 위해 미리 설정된 제 2 전압값의 사이의 값으로 설정하기 위한 제어 신호를 출력하는 것을 특징으로 한다.Specifically, the controller, when the current level flowing through the switching circuit sensed by the current level detection circuit is equal to or greater than a predetermined predetermined value, the control voltage of the switching circuit is set in advance to turn on the switching circuit. And outputting a control signal for setting to a value between a first voltage value and a second voltage value preset to turn off the switching circuit.

아울러, 상기 스위칭 회로의 제어 전압을 상기 스위칭 회로를 온 상태로 하기 위한 제 1 전압값과 상기 스위칭 회로를 오프 상태로 하기 위한 제 2 전압값의 사이의 값으로 설정하기 위한 제어 신호에 의해, 상기 스위칭 회로에 흐르는 전류 레벨이 일정 레벨 이하로 제한된다.In addition, by a control signal for setting the control voltage of the switching circuit to a value between a first voltage value for turning the switching circuit on and a second voltage value for turning the switching circuit off, the The level of current flowing through the switching circuit is limited below a certain level.

또한, 상기 제어기는, 상기 전류 레벨 감지 회로로부터 감지된 상기 스위칭 회로에 흐르는 전류 레벨이 미리 설정된 일정값 이상이 경우, 경고 신호를 활성화하는 것을 특징으로 한다.In addition, the controller may activate a warning signal when a current level flowing through the switching circuit sensed by the current level detection circuit is equal to or greater than a preset predetermined value.

바람직하게는, 본 발명의 스위칭 회로 장치는, 상기 전류 레벨 감지 회로; 상기 제어기; 및 상기 구동 회로;에의 전원 전압의 공급과, 상기 스위칭 회로에의 전원 전압의 공급은 별도의 단자를 이용하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the switching circuit device of the present invention comprises: the current level sensing circuit; The controller; And supplying a power supply voltage to the driving circuit and supplying a power supply voltage to the switching circuit using separate terminals.

또한, 상기 스위칭 회로는, 소오스 노드와 드레인 노드 사이를 온 또는 오프하는 스위칭 소자로서 동작하는 P-모스 전계 효과 트랜지스터;를 포함하는 것이 바람직하다.In addition, the switching circuit preferably includes a P-MOS field effect transistor operating as a switching element that turns on or off between a source node and a drain node.

아울러, 상기 스위칭 회로 장치는, 적어도 하나의 전자 디바이스와 상기 적어도 하나의 전자 디바이스를 테스트하기 위한 테스터 사이를 연결하는 것을 특징으로 한다.In addition, the switching circuit arrangement is characterized in that a connection between at least one electronic device and a tester for testing the at least one electronic device.

본 발명의 전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치에 따르면, 전자 디바이스의 테스트의 실시 시 해당 전자 디바이스의 쇼트 등의 불량이 발생할 경우, 스위칭 회로에 과전류가 흐르지 않도록 전류를 제한할 수 있다.According to the switching circuit device having a current limiting function of the present invention, when a failure such as a short circuit of the corresponding electronic device occurs during a test of the electronic device, the current can be limited so that an overcurrent does not flow through the switching circuit.

도 1은 일반적인 테스터에 의한 전자 디바이스의 테스트 시스템의 구성도.
도 2는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치의 구성도.
도 3은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 스위칭 회로의 구성도.1 is a configuration diagram of a test system for an electronic device using a general tester.
2 is a block diagram of a switching circuit device having a current limiting function according to a preferred embodiment of the present invention.
3 is a configuration diagram of a switching circuit according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 실시예에 따른 전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치에 대해 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, a switching circuit device having a current limiting function according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 하기의 실시예는 본 발명을 구체화하기 위한 것일 뿐 본 발명의 권리 범위를 제한하거나 한정하는 것이 아님은 물론이다. 본 발명의 상세한 설명 및 실시예로부터 본 발명이 속하는 기술 분야의 전문가가 용이하게 유추할 수 있는 것은 본 발명의 권리 범위에 속하는 것으로 해석된다.It goes without saying that the following examples of the present invention are intended to embody the present invention and do not limit or limit the scope of the present invention. What can be easily inferred by experts in the technical field to which the present invention belongs from the detailed description and examples of the present invention is interpreted as belonging to the scope of the present invention.

먼저, 도 2는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치(200)의 구성도를 나타낸다.First, FIG. 2 shows a configuration diagram of a switching circuit device 200 having a current limiting function according to an exemplary embodiment of the present invention.

본 발명의 전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치(200)도, 도 1에 나타낸 바와 같이 적어도 하나의 전자 디바이스(ED)와 적어도 하나의 전자 디바이스(ED)를 테스트하기 위한 테스터(T) 사이를 연결한다. The switching circuit device 200 having a current limiting function of the present invention also connects between at least one electronic device (ED) and a tester (T) for testing at least one electronic device (ED) as shown in FIG. do.

도 2로부터 알 수 있는 바와 같이, 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치(200)는, 스위칭 회로(210), 전류 레벨 감지 회로(220), 제어기(230) 및 구동 회로(240)를 포함하여 구성된다.As can be seen from FIG. 2, the switching circuit device 200 having a current limiting function according to a preferred embodiment of the present invention includes a switching circuit 210, a current level sensing circuit 220, a controller 230, and It is configured to include a driving circuit 240.

스위칭 회로(210)는, 입력 노드(IN)와 출력 노드(OUT) 사이를 온 또는 오프하는 스위칭 동작을 할 수 있다. 아울러, 스위칭 회로(210)의 입력 노드(IN)에는 테스터(T)가 연결되고, 스위칭 회로(210)의 출력 노드(OUT)에는 전자 디바이스(ED)가 연결되게 된다. The switching circuit 210 may perform a switching operation of turning on or off between the input node IN and the output node OUT. In addition, the tester T is connected to the input node IN of the switching circuit 210, and the electronic device ED is connected to the output node OUT of the switching circuit 210.

도 3은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 스위칭 회로(210)의 구성도를 나타낸다. 도 3으로부터 알 수 있는 바와 같이, 스위칭 회로(210)는, 소오스 노드와 드레인 노드 사이를 온 또는 오프하는 스위칭 소자로서 동작하는 P-모스 전계 효과 트랜지스터(P)를 이용하여 구성될 수 있다.3 shows a configuration diagram of a switching circuit 210 according to an embodiment of the present invention. As can be seen from FIG. 3, the switching circuit 210 may be configured using a P-MOS field effect transistor P that operates as a switching element that turns on or off between a source node and a drain node.

아울러, P-모스 전계 효과 트랜지스터(P)의 게이트 단자로는, 제어 전압(V(CON))이 입력되어 P-모스 전계 효과 트랜지스터(P)를 온 또는 오프로 제어하거나, P-모스 전계 효과 트랜지스터(P)에 흐르는 전류를 제한할 수 있다.In addition, a control voltage (V(CON)) is input to the gate terminal of the P-MOS field effect transistor P to control the P-MOS field effect transistor P on or off, or the P-MOS field effect The current flowing through the transistor P can be limited.

전류 레벨 감지 회로(220)는, 입력 노드(IN)와 출력 노드(OUT) 사이에 연결되어, 상기 스위칭 회로(210)에 흐르는 전류를 감지하는 역할을 한다. 전류 레벨 감지 회로(220)는, 저항 소자를 이용하여, 입력 노드(IN)와 출력 노드(OUT) 사이의 전류를 측정하는 것에 의해 구현될 수 있다.The current level detection circuit 220 is connected between the input node IN and the output node OUT, and serves to sense a current flowing through the switching circuit 210. The current level sensing circuit 220 may be implemented by measuring a current between the input node IN and the output node OUT using a resistance element.

제어기(230)는, 전류 레벨 감지 회로(220)로부터 감지된 스위칭 회로(210)에 흐르는 전류 레벨을 이용하여, 제어 신호(S(CON))를 출력하는 역할을 한다. 제어기(230)는 MCU를 이용할 수도 있고, 커스텀 로직 회로를 이용할 수도 있다.The controller 230 serves to output a control signal S(CON) by using a current level flowing through the switching circuit 210 sensed from the current level detection circuit 220. The controller 230 may use an MCU or a custom logic circuit.

아울러, 제어기(230)로부터 출력된 제어 신호(S(CON))의 전류 용량은 작아서, 스위칭 회로(210)를 구동하기에 충분하지 않다. 구동 회로(240)는, 제어기(230)로부터의 제어 신호(S(CON))를 이용하여, 스위칭 회로(210)를 구동하는 구동 신호(V(CON))를 생성하는 역할을 한다. 구동 회로(240)로부터 출력되는 구동 신호(V(CON))는 스위칭 회로(210)를 구동하기에 충분한 전류 용량을 갖게 된다. 참고로, 구동 회로(240)는, 인버터를 이용하여 구현될 수 있다.In addition, since the current capacity of the control signal S(CON) output from the controller 230 is small, it is not sufficient to drive the switching circuit 210. The driving circuit 240 serves to generate a driving signal V(CON) for driving the switching circuit 210 by using the control signal S(CON) from the controller 230. The driving signal V(CON) output from the driving circuit 240 has sufficient current capacity to drive the switching circuit 210. For reference, the driving circuit 240 may be implemented using an inverter.

하기에 제어기(230)의 동작에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.Hereinafter, the operation of the controller 230 will be described in detail.

스위칭 회로(210)를 온 상태로 절환하기 위해서는, 스위칭 회로(210)의 온 상태로 하기 위한 제어 전압(V(CON))의 값인 제 1 전압값으로 설정하기 위한 제어 신호(S(CON))를 출력할 필요가 있다. 즉, 스위칭 회로(210)를 온 상태로 절환하라는 신호가 외부로부터 입력되면, 제어기(230)는 제어 전압(V(CON))의 값을 제 1 전압값으로 설정하기 위한 제어 신호(S(CON))를 출력한다.In order to switch the switching circuit 210 to the ON state, a control signal S(CON) for setting the first voltage value, which is the value of the control voltage V(CON) for turning the switching circuit 210 on, Need to print. That is, when a signal to switch the switching circuit 210 to the ON state is input from the outside, the controller 230 sets the control voltage V(CON) to the first voltage value (S(CON)). )).

아울러, 스위칭 회로(210)를 오프 상태로 절환하기 위해서는, 스위칭 회로(210)의 오프 상태로 하기 위한 제어 전압(V(CON))의 값인 제 2 전압값으로 설정하기 위한 제어 신호(S(CON))를 출력할 필요가 있다. 즉, 스위칭 회로(210)를 오프 상태로 절환하라는 신호가 외부로부터 입력되면, 제어기(230)는 제어 전압(V(CON))의 값을 제 2 전압값으로 설정하기 위한 제어 신호(S(CON))를 출력한다.In addition, in order to switch the switching circuit 210 to the off state, the control signal S(CON) for setting the second voltage value, which is the value of the control voltage V(CON) for turning the switching circuit 210 off, )) needs to be printed. That is, when a signal to switch the switching circuit 210 to the off state is input from the outside, the controller 230 sets the control voltage V(CON) to the second voltage value (S(CON) )).

아울러, 스위칭 회로(210)가 온 상태를 유지하는 상태에서, 전류 레벨 감지 회로(220)로부터 감지된 스위칭 회로(210)에 흐르는 전류 레벨이 미리 설정된 일정값 이상이 경우, 스위칭 회로(210)의 제어 전압(V(CON))을 스위칭 회로(210)를 온 상태로 하기 위해 미리 설정된 제 1 전압값과 스위칭 회로(210)를 오프 상태로 하기 위해 미리 설정된 제 2 전압값 사이로 설정하기 위한 제어 신호(S(CON))를, 제어기(230)는 출력하게 된다.In addition, in a state in which the switching circuit 210 is kept on, when the current level flowing through the switching circuit 210 sensed by the current level detection circuit 220 is equal to or greater than a preset predetermined value, the switching circuit 210 A control signal for setting the control voltage V(CON) between a preset first voltage value to turn on the switching circuit 210 and a second voltage value preset to turn off the switching circuit 210 (S(CON)), the controller 230 outputs.

아울러, 스위칭 회로(210)의 제어 전압(V(CON))을 제 1 전압값과 제 2 전압값의 사이의 값으로 설정하기 위한 제어 신호(S(CON))에 의해, 스위칭 회로(210)에 흐르는 전류 레벨이 일정 레벨 이하로 제한되게 된다.In addition, by a control signal S(CON) for setting the control voltage V(CON) of the switching circuit 210 to a value between the first voltage value and the second voltage value, the switching circuit 210 The level of the current flowing through it is limited below a certain level.

예를 들어, 제 1 전압값이 0V이고, 제 2 전압값이 5V 인 경우, 스위칭 회로(210)에 과전류가 흐를 경우, 제어 전압(V(CON))은 제 1 전압값과 제 2 전압값의 사이의 값, 즉 0V와 5V의 사이의 값으로 설정되게 된다.For example, when the first voltage value is 0V and the second voltage value is 5V, when an overcurrent flows through the switching circuit 210, the control voltage V(CON) is the first voltage value and the second voltage value. It is set to a value between 0V and 5V.

즉, 스위칭 회로(210)에 과전류가 흐를 경우, 제어기(230)는 스위칭 회로(210)에 흐르는 과전류를 제한하되, 완전하게 오프 상태로 하지는 않고 약간의 전류를 흘려서, 계속적으로 테스트를 실시할 수 있도록 한다. 참고로, 스위칭 회로(210)에 과전류가 흐른다는 것은 테스트 중인 전자 디바이스(ED)에 쇼트 등의 불량이 발생하였음을 의미한다.That is, when an overcurrent flows through the switching circuit 210, the controller 230 limits the overcurrent flowing through the switching circuit 210, but does not turn off completely, but passes a slight current, so that the test can be continuously conducted. To be. For reference, the overcurrent flowing through the switching circuit 210 means that a defect such as a short circuit has occurred in the electronic device ED under test.

일반적으로는 하나의 스위칭 회로 장치(200)에 다수의 전자 디바이스(ED)가 연결될 수 있는 데, 일부 전자 디바이스(ED)에 불량이 발생하였을 지라도 나머지 전자 디바이스(ED)의 테스트는 제한된 조건하에서도 계속적으로 실시힐 필요가 있기 때문이다.In general, a number of electronic devices (ED) can be connected to one switching circuit device (200). Even if some electronic devices (ED) have a defect, testing of the remaining electronic devices (ED) is performed under limited conditions. This is because it needs to be carried out continuously.

아울러, 제어기(230)는, 전류 레벨 감지 회로(220)로부터 감지된 상기 스위칭 회로(210)에 흐르는 전류 레벨이 미리 설정된 일정값 이상이 경우, 경고 신호(S(A))를 활성화한다. 이 경고 신호(S(A))는 테스터(T)로 피드백 되어, 테스터(T)에서 테스트 중인 전자 디바이스(ED)에서 불량과 같은 이상 상태가 발생하였음을 알 수 있도록 한다.In addition, the controller 230 activates the warning signal S(A) when the current level flowing through the switching circuit 210 sensed by the current level detection circuit 220 is equal to or greater than a preset predetermined value. This warning signal S(A) is fed back to the tester T, so that the tester T knows that an abnormal condition such as a defect has occurred in the electronic device ED under test.

또한, 본 발명에서, 스위칭 회로(210)에 흐르는 전류만을 감지하기 위해서는, 스위칭 회로(210)와 전류 레벨 감지 회로(220); 제어기(230); 및 구동 회로(240)의 전원 전압은 별도로 분리될 필요가 있다.In addition, in the present invention, in order to detect only the current flowing through the switching circuit 210, the switching circuit 210 and the current level detection circuit 220; Controller 230; And the power voltage of the driving circuit 240 needs to be separated.

이를 위해 본 발명의 전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치(200)에서는, 전류 레벨 감지 회로(220); 제어기(230); 및 구동 회로(240);에의 전원 전압(VDD(1))의 공급과, 스위칭 회로(210)에의 전원 전압(VDD(2))의 공급은 분리된 별도의 단자를 이용하는 것이 바람직하다.To this end, in the switching circuit device 200 having a current limiting function of the present invention, a current level detection circuit 220; Controller 230; And the supply of the power voltage VDD(1) to the driving circuit 240 and the supply of the power voltage VDD(2) to the switching circuit 210 are preferably separated by separate terminals.

상술한 바와 같이, 본 발명의 전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치(200)에 따르면, 전자 디바이스(ED)의 테스트의 실시 시 해당 전자 디바이스(ED)의 쇼트 등의 불량이 발생할 경우, 스위칭 회로(210)에 과전류가 흐르지 않도록 전류를 제한할 수 있음을 알 수 있다.As described above, according to the switching circuit device 200 having a current limiting function of the present invention, when a defect such as a short circuit of the electronic device ED occurs when the electronic device ED is tested, the switching circuit ( It can be seen that the current can be limited so that the overcurrent does not flow in 210).

T : 테스터
ED : 전자 디바이스
100, 200 : 스위칭 회로 장치
210 : 스위칭 회로
220 : 전류 레벨 감지 회로
230 : 제어기
240 : 구동 회로T: tester
ED: electronic device
100, 200: switching circuit device
210: switching circuit
220: current level detection circuit
230: controller
240: drive circuit

Claims (7)

스위칭 회로 장치에 있어서,
입력 노드와 출력 노드 사이를 온 또는 오프하는 스위칭 동작을 할 수 있는 스위칭 회로;
상기 입력 노드와 상기 출력 노드 사이에 연결되어, 상기 스위칭 회로에 흐르는 전류를 감지하는 전류 레벨 감지 회로;
상기 전류 레벨 감지 회로로부터 감지된 상기 스위칭 회로에 흐르는 전류 레벨을 이용하여, 제어 신호를 출력하는 제어기; 및
상기 제어 신호를 이용하여, 상기 스위칭 회로를 구동하는 구동 신호를 생성하는 구동 회로;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스위칭 회로 장치.In the switching circuit device,
A switching circuit capable of switching on or off between the input node and the output node;
A current level sensing circuit connected between the input node and the output node to sense a current flowing through the switching circuit;
A controller for outputting a control signal by using a current level flowing through the switching circuit sensed by the current level detection circuit; And
And a driving circuit for generating a driving signal for driving the switching circuit by using the control signal. 제1항에 있어서,
상기 제어기는,
상기 전류 레벨 감지 회로로부터 감지된 상기 스위칭 회로에 흐르는 전류 레벨이 미리 설정된 일정값 이상이 경우, 상기 스위칭 회로의 제어 전압을 상기 스위칭 회로를 온 상태로 하기 위해 미리 설정된 제 1 전압값과 상기 스위칭 회로를 오프 상태로 하기 위해 미리 설정된 제 2 전압값의 사이의 값으로 설정하기 위한 제어 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 스위칭 회로 장치.The method of claim 1,
The controller,
When the current level flowing through the switching circuit sensed by the current level detection circuit is equal to or greater than a predetermined predetermined value, a first voltage value and the switching circuit set in advance to turn the switching circuit on the control voltage of the switching circuit And outputting a control signal for setting to a value between a second voltage value set in advance in order to turn off. 제2항에 있어서,
상기 스위칭 회로의 제어 전압을 상기 스위칭 회로를 온 상태로 하기 위한 제 1 전압값과 상기 스위칭 회로를 오프 상태로 하기 위한 제 2 전압값의 사이의 값으로 설정하기 위한 제어 신호에 의해,
상기 스위칭 회로에 흐르는 전류 레벨이 일정 레벨 이하로 제한되는 것을 특징으로 하는 스위칭 회로 장치.The method of claim 2,
By a control signal for setting the control voltage of the switching circuit to a value between a first voltage value for turning the switching circuit on and a second voltage value for turning the switching circuit off,
A switching circuit device, characterized in that the current level flowing through the switching circuit is limited to a predetermined level or less. 제2항에 있어서,
상기 제어기는,
상기 전류 레벨 감지 회로로부터 감지된 상기 스위칭 회로에 흐르는 전류 레벨이 미리 설정된 일정값 이상이 경우, 경고 신호를 활성화하는 것을 특징으로 하는 스위칭 회로 장치.The method of claim 2,
The controller,
When the current level flowing through the switching circuit sensed by the current level detection circuit is equal to or greater than a predetermined value, a warning signal is activated. 제1항에 있어서,
상기 스위칭 회로 장치는,
상기 전류 레벨 감지 회로; 상기 제어기; 및 상기 구동 회로;에의 전원 전압의 공급과, 상기 스위칭 회로에의 전원 전압의 공급은 별도의 단자를 이용하는 것을 특징으로 하는 스위칭 회로 장치.The method of claim 1,
The switching circuit device,
The current level sensing circuit; The controller; And supplying the power supply voltage to the driving circuit and supplying the power supply voltage to the switching circuit using separate terminals. 제1항에 있어서,
상기 스위칭 회로는,
소오스 노드와 드레인 노드 사이를 온 또는 오프하는 스위칭 소자로서 동작하는 P-모스 전계 효과 트랜지스터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스위칭 회로 장치.The method of claim 1,
The switching circuit,
A switching circuit device comprising: a P-MOS field effect transistor operating as a switching element that turns on or off between the source node and the drain node. 제1항 내지 제6항 중 어느 한항에 있어서,
상기 스위칭 회로 장치는,
적어도 하나의 전자 디바이스와 상기 적어도 하나의 전자 디바이스를 테스트하기 위한 테스터 사이를 연결하는 것을 특징으로 하는 스위칭 회로 장치.The method according to any one of claims 1 to 6,
The switching circuit device,
A switching circuit arrangement, characterized in that a connection between at least one electronic device and a tester for testing the at least one electronic device.
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