KR20200050766A - Light emitting device - Google Patents

Light emitting device Download PDF

Info

Publication number
KR20200050766A
KR20200050766A KR1020180133792A KR20180133792A KR20200050766A KR 20200050766 A KR20200050766 A KR 20200050766A KR 1020180133792 A KR1020180133792 A KR 1020180133792A KR 20180133792 A KR20180133792 A KR 20180133792A KR 20200050766 A KR20200050766 A KR 20200050766A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
layer
electrode
semiconductor layer
type semiconductor
conductive
Prior art date
Application number
KR1020180133792A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김영훈
김환교
이대희
Original Assignee
엘지이노텍 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지이노텍 주식회사 filed Critical 엘지이노텍 주식회사
Priority to KR1020180133792A priority Critical patent/KR20200050766A/en
Publication of KR20200050766A publication Critical patent/KR20200050766A/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • H01L33/22Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape

Abstract

According to an embodiment of the present invention, disclosed is a light emitting element which comprises: a conductive substrate; a light emitting structure disposed on the conductive substrate and including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer; a first electrode electrically connected to the first conductive semiconductor layer; and a second electrode electrically connected to the second conductive semiconductor layer. The light emitting structure includes a plurality of recesses passing through a part of the second conductive semiconductor layer, the active layer, and the first conductive semiconductor layer. The second electrode includes a plurality of closed loops extended in a line shape and surrounding each of the plurality of recesses. The plurality of closed loops have a polygonal shape.

Description

발광소자{LIGHT EMITTING DEVICE}Light emitting device {LIGHT EMITTING DEVICE}

실시 예는 발광 소자에 관한 것이다.The embodiment relates to a light emitting device.

GaN, AlGaN 등의 화합물을 포함하는 반도체 소자는 넓고 조정이 용이한 밴드 갭 에너지를 가지는 등의 많은 장점을 가져서 발광 소자, 수광 소자 및 각종 다이오드 등으로 다양하게 사용될 수 있다.Semiconductor devices including compounds such as GaN and AlGaN have many advantages such as having a wide and easily adjustable band gap energy, and thus can be used in various ways as light emitting devices, light receiving devices, and various diodes.

특히, 반도체의 3-5족 또는 2-6족 화합물 반도체 물질을 이용한 발광 다이오드(Light Emitting Diode)나 레이저 다이오드(Laser Diode)와 같은 발광소자는 박막 성장 기술 및 소자 재료의 개발로 적색, 녹색, 청색 및 자외선 등 다양한 색을 구현할 수 있으며, 형광 물질을 이용하거나 색을 조합함으로써 효율이 좋은 백색 광선도 구현이 가능하며, 형광등, 백열등 등 기존의 광원에 비해, 저소비전력, 반영구적인 수명, 빠른 응답속도, 안전성, 환경 친화성의 장점을 가진다. In particular, light emitting devices such as light emitting diodes or laser diodes using semiconductor group 3 or 2-6 compound semiconductor materials of semiconductors are red, green, and green due to the development of thin film growth technology and device materials. Various colors such as blue and ultraviolet light can be realized, and white light with high efficiency can be realized by using fluorescent materials or combining colors. Compared with conventional light sources such as fluorescent and incandescent lamps, low power consumption, semi-permanent life, and quick response It has the advantages of speed, safety and environmental friendliness.

뿐만 아니라, 광검출기나 태양 전지와 같은 수광 소자도 반도체의 3-5족 또는 2-6족 화합물 반도체 물질을 이용하여 제작하는 경우 소자 재료의 개발로 다양한 파장 영역의 빛을 흡수하여 광 전류를 생성함으로써 감마선부터 라디오 파장 영역까지 다양한 파장 영역의 빛을 이용할 수 있다. 또한 빠른 응답속도, 안전성, 환경 친화성 및 소자 재료의 용이한 조절의 장점을 가져 전력 제어 또는 초고주파 회로나 통신용 모듈에도 용이하게 이용할 수 있다.In addition, when a light-receiving device such as a photodetector or a solar cell is manufactured using a semiconductor group 3 or 2-6 compound semiconductor material of a semiconductor, development of the device material absorbs light in various wavelength ranges to generate a photocurrent. By doing so, it is possible to use light in various wavelength ranges from gamma rays to radio wavelength ranges. In addition, it has the advantages of fast response speed, safety, environmental friendliness, and easy adjustment of device materials, and thus can be easily used in power control or microwave circuits or communication modules.

따라서, 반도체 소자는 광 통신 수단의 송신 모듈, LCD(Liquid Crystal Display) 표시 장치의 백라이트를 구성하는 냉음극관(CCFL: Cold Cathode Fluorescence Lamp)을 대체하는 발광 다이오드 백라이트, 형광등이나 백열 전구를 대체할 수 있는 백색 발광 다이오드 조명 장치, 자동차 헤드 라이트 및 신호등 및 Gas나 화재를 감지하는 센서 등에까지 응용이 확대되고 있다. 또한, 반도체 소자는 고주파 응용 회로나 기타 전력 제어 장치, 통신용 모듈에까지 응용이 확대될 수 있다.Therefore, the semiconductor device can replace a light emitting diode backlight, a fluorescent lamp, or an incandescent light bulb that replaces a cold cathode tube (CCFL) constituting a backlight of a transmission module of an optical communication means and a backlight of a liquid crystal display (LCD) display device. Applications are expanding to white light-emitting diode lighting devices, automobile headlights and traffic lights, and sensors that detect gas or fire. In addition, the application of the semiconductor device can be expanded to high-frequency application circuits, other power control devices, and communication modules.

특히, 자외선 파장 영역의 광을 방출하는 발광소자는 경화작용이나 살균 작용을 하여 경화용, 의료용, 및 살균용으로 사용될 수 있다In particular, a light emitting device that emits light in the ultraviolet wavelength range can be used for curing, medical, and sterilization by curing or sterilizing.

최근 자외선 발광소자에 대한 연구가 활발하나, 아직까지 자외선 발광소자는 수직형으로 구현하기 어려운 문제가 있으며, 발광 효율이 낮은 문제가 있다.Recently, research on ultraviolet light-emitting devices has been actively conducted, but there are still problems in that ultraviolet light-emitting devices are difficult to implement in a vertical type, and there is a problem of low light emission efficiency.

실시 예는 발광 효율이 우수한 발광소자를 제공할 수 있다.The embodiment may provide a light emitting device having excellent light emission efficiency.

또한, 동작 전압이 낮아진 발광소자를 제공할 수 있다.In addition, it is possible to provide a light emitting device with a low operating voltage.

실시 예에서 해결하고자 하는 과제는 이에 한정되는 것은 아니며, 아래에서 설명하는 과제의 해결수단이나 실시 형태로부터 파악될 수 있는 목적이나 효과도 포함된다고 할 것이다.The problem to be solved in the embodiment is not limited to this, and it will be said that the object or effect that can be grasped from the solution means or the embodiment of the problem described below is also included.

실시 예에 따른 발광소자는, 도전성 기판; 상기 도전성 기판 상에 배치되고, 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 배치되는 활성층을 포함하는 발광 구조물; 상기 제1 도전형 반도체층과 전기적으로 연결되는 제1 전극; 및 상기 제2 도전형 반도체층과 전기적으로 연결되는 제2 전극을 포함하고, 상기 발광 구조물은 상기 제2 도전형 반도체층, 상기 활성층, 및 상기 제1 도전형 반도체층의 일부까지 관통하는 복수 개의 리세스를 포함하고, 상기 제2 전극은 라인 형상으로 연장되어 상기 복수 개의 리세스를 각각 둘러싸는 복수 개의 폐루프를 포함하고, 상기 복수 개의 폐루프는 다각 형상을 갖는다.The light emitting device according to the embodiment includes a conductive substrate; A light emitting structure disposed on the conductive substrate and including a first conductivity type semiconductor layer, a second conductivity type semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductivity type semiconductor layer and the second conductivity type semiconductor layer; A first electrode electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer; And a second electrode electrically connected to the second conductivity type semiconductor layer, wherein the light emitting structure penetrates a portion of the second conductivity type semiconductor layer, the active layer, and a portion of the first conductivity type semiconductor layer. It includes a recess, and the second electrode includes a plurality of closed loops extending in a line shape and surrounding the plurality of recesses, and the plurality of closed loops has a polygonal shape.

실시 예에 따르면, 제2 도전형 반도체층이 얇아져 자외선 광 흡수율이 떨어지므로 발광 효율을 개선할 수 있다.According to the embodiment, since the second conductivity type semiconductor layer becomes thinner and the UV light absorption rate is lowered, the luminous efficiency can be improved.

또한, 제2 전극에 의해 제2 도전층이 산화되는 것을 방지하여 동작 전압을 낮출 수 있다.In addition, it is possible to lower the operating voltage by preventing the second conductive layer from being oxidized by the second electrode.

본 발명의 다양하면서도 유익한 장점과 효과는 상술한 내용에 한정되지 않으며, 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하는 과정에서 보다 쉽게 이해될 수 있을 것이다.Various and beneficial advantages and effects of the present invention are not limited to the above, and will be more easily understood in the course of describing specific embodiments of the present invention.

도 1은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 발광소자의 개념도이고,
도 2는 도 1의 A 부분 확대도이고,
도 3은 도 2의 B 부분 확대도이고,
도 4a는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 발광소자의 평면도이고,
도 4b는 도 4a의 일부 확대도이고,
도 5는 도 3의 변형예이고,
도 6은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 발광소자의 개념도이고,
도 7은 도 6의 C 부분 확대도이고,
도 8은 도 7의 A-A 단면도이고,
도 9는 도 8의 변형예이고,
도 10은 본 발명의 제3 실시 예에 따른 발광소자의 단면도이고,
도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 개념도이고,
도 12는 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 평면도이다.
1 is a conceptual diagram of a light emitting device according to a first embodiment of the present invention,
2 is an enlarged view of part A of FIG. 1,
3 is an enlarged view of part B of FIG. 2,
4A is a plan view of a light emitting device according to a first embodiment of the present invention,
Figure 4b is a partially enlarged view of Figure 4a,
Figure 5 is a modification of Figure 3,
6 is a conceptual diagram of a light emitting device according to a second embodiment of the present invention,
7 is an enlarged view of part C of FIG. 6,
8 is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 7,
9 is a modification of FIG. 8,
10 is a cross-sectional view of a light emitting device according to a third embodiment of the present invention,
11 is a conceptual diagram of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention,
12 is a plan view of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

다만, 본 발명의 기술 사상은 설명되는 일부 실시 예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있고, 본 발명의 기술 사상 범위 내에서라면, 실시 예들간 그 구성 요소들 중 하나 이상을 선택적으로 결합, 치환하여 사용할 수 있다.However, the technical spirit of the present invention is not limited to some embodiments described, but may be implemented in various different forms, and within the scope of the technical spirit of the present invention, one or more of its components between embodiments may be selectively selected. It can be used by bonding and substitution.

또한, 본 발명의 실시 예에서 사용되는 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는, 명백하게 특별히 정의되어 기술되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해될 수 있는 의미로 해석될 수 있으며, 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥상의 의미를 고려하여 그 의미를 해석할 수 있을 것이다.In addition, terms (including technical and scientific terms) used in the embodiments of the present invention, unless specifically defined and specifically described, can be generally understood by those skilled in the art to which the present invention pertains. It can be interpreted as meaning, and commonly used terms, such as predefined terms, may interpret the meaning in consideration of the contextual meaning of the related technology.

또한, 본 발명의 실시 예에서 사용된 용어는 실시 예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다.In addition, the terms used in the embodiments of the present invention are for describing the embodiments and are not intended to limit the present invention.

본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함할 수 있고, "A 및(와) B, C 중 적어도 하나(또는 한 개 이상)"로 기재되는 경우 A, B, C로 조합할 수 있는 모든 조합 중 하나 이상을 포함할 수 있다.In the present specification, a singular form may also include a plural form unless specifically stated in the phrase, and is combined with A, B, and C when described as "at least one (or more than one) of A and B, C". It can contain one or more of all possible combinations.

또한, 본 발명의 실시 예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다.In addition, in describing the components of the embodiments of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used.

이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등으로 한정되지 않는다.These terms are only for distinguishing the component from other components, and the term is not limited to the nature, order, or order of the component.

그리고, 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 '연결', '결합' 또는 '접속'된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성 요소에 직접적으로 연결, 결합 또는 접속되는 경우뿐만 아니라, 그 구성 요소와 그 다른 구성 요소 사이에 있는 또 다른 구성 요소로 인해 '연결', '결합' 또는 '접속' 되는 경우도 포함할 수 있다.And, when a component is described as being 'connected', 'coupled' or 'connected' to another component, the component is not only directly connected to, coupled to, or connected to the other component, but also to the component It may also include the case of 'connected', 'coupled' or 'connected' due to another component between the other components.

또한, 각 구성 요소의 "상(위) 또는 하(아래)"에 형성 또는 배치되는 것으로 기재되는 경우, 상(위) 또는 하(아래)는 두 개의 구성 요소들이 서로 직접 접촉되는 경우뿐만 아니라, 하나 이상의 또 다른 구성 요소가 두 개의 구성 요소들 사이에 형성 또는 배치되는 경우도 포함한다. 또한, "상(위) 또는 하(아래)"로 표현되는 경우 하나의 구성 요소를 기준으로 위쪽 방향뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.Further, when described as being formed or disposed in the "top (top) or bottom (bottom)" of each component, the top (top) or bottom (bottom) is not only when the two components are in direct contact with each other, Also included is the case where one or more other components are formed or disposed between the two components. In addition, when expressed as "up (up) or down (down)", it may include the meaning of the downward direction as well as the upward direction based on one component.

본 발명의 실시 예에 따른 발광 구조물은 자외선 파장대의 광을 출력할 수 있다. 예시적으로 발광 구조물은 근자외선 파장대의 광(UV-A)을 출력할 수도 있고, 원자외선 파장대의 광(UV-B)을 출력할 수 도 있고, 심자외선 파장대의 광(UV-C)을 출력할 수 있다. 파장범위는 발광 구조물의 Al의 조성비에 의해 결정될 수 있다. 또한, 발광 구조물은 광의 세기가 서로 다른 다양한 파장의 광을 출력할 수 있고, 발광하는 광의 파장 중 다른 파장의 세기에 비해 상대적으로 가장 강한 세기를 갖는 광의 피크 파장이 근자외선, 원자외선, 또는 심자외선일 수 있다.The light emitting structure according to an embodiment of the present invention may output light in the ultraviolet wavelength range. Illustratively, the light emitting structure may output light (UV-A) in the near ultraviolet wavelength range, may output light (UV-B) in the far ultraviolet wavelength range, and may output light (UV-C) in the deep ultraviolet wavelength range. Can print The wavelength range can be determined by the composition ratio of Al in the light emitting structure. In addition, the light emitting structure can output light of various wavelengths having different light intensities, and the peak wavelength of light having the strongest intensity relative to the intensity of other wavelengths among the wavelengths of light that emits light is near-ultraviolet, far-ultraviolet, or deep It can be ultraviolet.

예시적으로, 근자외선 파장대의 광(UV-A)은 320nm 내지 420nm 범위에서 메인 피크를 가질 수 있고, 원자외선 파장대의 광(UV-B)은 280nm 내지 320nm 범위에서 메인 피크를 가질 수 있으며, 심자외선 파장대의 광(UV-C)은 100nm 내지 280nm 범위에서 메인 피크를 가질 수 있다. 발광 구조물은 100nm 내지 420nm의 파장에서 최대 피크 파장을 갖는 자외선 광을 생성할 수 있다.For example, light (UV-A) in the near ultraviolet wavelength band may have a main peak in the range of 320 nm to 420 nm, and light (UV-B) in the far ultraviolet wavelength band may have a main peak in the range of 280 nm to 320 nm, Light (UV-C) of the deep ultraviolet wavelength band may have a main peak in a range of 100 nm to 280 nm. The light emitting structure may generate ultraviolet light having a maximum peak wavelength at a wavelength of 100 nm to 420 nm.

도 1은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 발광소자의 개념도이고, 도 2는 도 1의 A 부분 확대도이고, 도 3은 도 2의 B 부분 확대도이고, 도 4a는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 발광소자의 평면도이고, 도 4b는 도 4a의 일부 확대도이고, 도 5는 도 3의 변형예이다. 1 is a conceptual diagram of a light emitting device according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is an enlarged view of part A of FIG. 1, FIG. 3 is an enlarged view of part B of FIG. 2, and FIG. 4A is a first view of the present invention. 4B is a partially enlarged view of FIG. 4A, and FIG. 5 is a modified example of FIG. 3.

도 1 및 도 2를 참조하면, 실시 예에 따른 발광 소자는 도전성 기판(170), 제1 도전형 반도체층(124), 제2 도전형 반도체층(127), 및 활성층(126)을 포함하는 발광 구조물(120), 제1 도전형 반도체층(124)과 전기적으로 연결되는 제1 전극(142), 제2 도전형 반도체층(127)과 전기적으로 연결되는 제2 전극(146)을 포함할 수 있다.1 and 2, a light emitting device according to an embodiment includes a conductive substrate 170, a first conductivity type semiconductor layer 124, a second conductivity type semiconductor layer 127, and an active layer 126 It may include a light emitting structure 120, a first electrode 142 electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer 124, and a second electrode 146 electrically connected to the second conductivity type semiconductor layer 127. Can be.

제1 도전형 반도체층(124)은 Ⅲ-Ⅴ족, Ⅱ-Ⅵ족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제1 도펀트가 도핑될 수 있다. 제1 도전형 반도체층(124)은 Inx1Aly1Ga1 -x1-y1N(0≤x1≤1, 0≤y1≤1, 0≤x1+y1≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 AlGaN, InGaN, InAlGaN 등에서 선택될 수 있다. 그리고, 제1 도펀트는 Si, Ge, Sn, Se, Te와 같은 n형 도펀트일 수 있다. 제1 도펀트가 n형 도펀트인 경우, 제1 도펀트가 도핑된 제1 도전형 반도체층(124)은 n형 반도체층일 수 있다.The first conductivity-type semiconductor layer 124 may be formed of a compound semiconductor such as a III-V group or a II-VI group, and the first dopant may be doped. The first conductivity type semiconductor layer 124 is a semiconductor material having a composition formula of In x1 Al y1 Ga 1 -x1 -y1 N (0≤x1≤1, 0≤y1≤1, 0≤x1 + y1≤1), for example For example, it may be selected from AlGaN, InGaN, InAlGaN, and the like. Further, the first dopant may be an n-type dopant such as Si, Ge, Sn, Se, or Te. When the first dopant is an n-type dopant, the first conductive semiconductor layer 124 doped with the first dopant may be an n-type semiconductor layer.

활성층(126)은 제1 도전형 반도체층(124)과 제2 도전형 반도체층(127) 사이에 배치될 수 있다. 활성층(126)은 제1 도전형 반도체층(124)을 통해서 주입되는 전자(또는 정공)와 제2 도전형 반도체층(127)을 통해서 주입되는 정공(또는 전자)이 재결합되는 층일 수 있다.The active layer 126 may be disposed between the first conductivity type semiconductor layer 124 and the second conductivity type semiconductor layer 127. The active layer 126 may be a layer in which electrons (or holes) injected through the first conductivity type semiconductor layer 124 and holes (or electrons) injected through the second conductivity type semiconductor layer 127 are recombined.

활성층(126)은 전자와 정공이 재결합함에 따라, 전자가 낮은 에너지 준위로 천이하며, 활성층(126)이 포함하는 후술될 우물층의 밴드갭 에너지에 대응하는 파장을 가지는 빛을 생성할 수 있다. 상기 발광 소자가 방출하는 광의 파장 중 상대적으로 가장 큰 세기를 갖는 광의 파장은 자외선일 수 있고, 상기 자외선은 상술한 근자외선, 원자외선, 심자외선일 수 있다.The active layer 126 may generate light having a wavelength corresponding to the bandgap energy of the well layer to be described later included in the active layer 126, as the electrons and holes recombine and the electrons transition to a low energy level. The wavelength of light having a relatively greatest intensity among the wavelengths of light emitted by the light emitting device may be ultraviolet rays, and the ultraviolet rays may be the above-mentioned near ultraviolet rays, far ultraviolet rays, or deep ultraviolet rays.

활성층(126)은 단일 우물 구조, 다중 우물 구조, 단일 양자 우물 구조, 다중 양자 우물(Multi Quantum Well; MQW) 구조, 양자점 구조 또는 양자선 구조 중 어느 하나의 구조를 가질 수 있으며, 활성층(126)의 구조는 이에 한정하지 않는다.The active layer 126 may have any one structure of a single well structure, a multi well structure, a single quantum well structure, a multi quantum well (MQW) structure, a quantum dot structure or a quantum wire structure, and the active layer 126 The structure of is not limited to this.

제2 도전형 반도체층(127)은 활성층(126) 상에 형성되며, Ⅲ-Ⅴ족, Ⅱ-Ⅵ족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제2 도전형 반도체층(127)에 제2 도펀트가 도핑될 수 있다. 제2 도전형 반도체층(127)은 Inx5Aly2Ga1 -x5- y2N (0≤x5≤1, 0≤y2≤1, 0≤x5+y2≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질 또는 AlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 중 선택된 물질로 형성될 수 있다. 제2 도펀트가 Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등과 같은 p형 도펀트인 경우, 제2 도펀트가 도핑된 제2 도전형 반도체층(127)은 p형 반도체층일 수 있다.The second conductivity-type semiconductor layer 127 is formed on the active layer 126, and may be formed of a compound semiconductor such as a III-V group or a II-VI group, and is second to the second conductivity-type semiconductor layer 127. The dopant can be doped. The second conductive semiconductor layer 127 is a semiconductor material or AlGaN having a composition formula of In x5 Al y2 Ga 1 -x5- y2 N (0≤x5≤1, 0≤y2≤1, 0≤x5 + y2≤1) , AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP. When the second dopant is a p-type dopant such as Mg, Zn, Ca, Sr, or Ba, the second conductivity-type semiconductor layer 127 doped with the second dopant may be a p-type semiconductor layer.

활성층(126)과 제2 도전형 반도체층(127) 사이에는 전자 차단층(미도시됨)이 배치될 수 있다. 전자 차단층(미도시됨)은 제1 도전형 반도체층(124)에서 활성층(126)으로 공급되는 전자(electron)가 활성층(126)에서 재결합하여 발광하지 않고, 제2 도전형 반도체층(127)으로 빠져나가는 흐름을 차단하여, 활성층(126) 내에서 전자와 정공이 재결합할 확률을 높일 수 있다. 전자 차단층(미도시됨)의 에너지 밴드갭은 활성층(126) 및/또는 제2 도전형 반도체층(127)의 에너지 밴드갭보다 클 수 있다.An electron blocking layer (not shown) may be disposed between the active layer 126 and the second conductivity-type semiconductor layer 127. The electron blocking layer (not shown) does not emit electrons supplied from the first conductivity type semiconductor layer 124 to the active layer 126 by recombination in the active layer 126, and the second conductivity type semiconductor layer 127 ) To block the flow exiting, thereby increasing the probability of recombination of electrons and holes in the active layer 126. The energy band gap of the electron blocking layer (not shown) may be larger than the energy band gap of the active layer 126 and / or the second conductivity type semiconductor layer 127.

제1 도전형 반도체층(124), 활성층(126), 및 제2 도전형 반도체층(127)은 모두 알루미늄(Al)을 포함할 수 있다. 따라서, 제1 도전형 반도체층(124), 활성층(126), 및 제2 도전형 반도체층(127)의 조성은 모두 AlGaN일 수 있다. 그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 반도체층의 조성은 출력 파장에 따라 적절히 조절될 수 있다.The first conductivity type semiconductor layer 124, the active layer 126, and the second conductivity type semiconductor layer 127 may all include aluminum (Al). Accordingly, the compositions of the first conductivity type semiconductor layer 124, the active layer 126, and the second conductivity type semiconductor layer 127 may all be AlGaN. However, the composition of the semiconductor layer is not necessarily limited thereto, and may be appropriately adjusted according to the output wavelength.

발광 구조물(120)은 제2 도전형 반도체층(127), 활성층(126), 제1 도전형 반도체층(124)의 일부 영역까지 관통하는 리세스(128)를 포함할 수 있다. 발광 구조물(120)은 자외선 광을 생성하는 경우, 높은 밴드갭 에너지를 갖기 때문에 발광 구조물(120)의 전류 분산 특성이 떨어질 수 있다. 따라서, 발광 면적을 희생하더라도 복수 개의 리세스(128) 형성하여 제1 전극(142)을 더 많이 배치함으로써 광 출력을 향상시킬 수 있다.The light emitting structure 120 may include a second conductive semiconductor layer 127, an active layer 126, and a recess 128 penetrating to a portion of the first conductive semiconductor layer 124. In the case where the light emitting structure 120 generates ultraviolet light, current distribution characteristics of the light emitting structure 120 may be deteriorated because it has high bandgap energy. Therefore, even if the light emitting area is sacrificed, the plurality of recesses 128 may be formed to increase the light output by arranging more of the first electrode 142.

제2 도전형 반도체층(127)은 도전성 기판(170)을 향해 돌출된 복수 개의 돌출부(127a) 및 복수 개의 돌출부(127a) 사이에 배치되는 평탄부(127b)를 포함할 수 있다. 평탄부(127b)의 구성은 돌출부(127a)가 형성된 영역을 제외한 나머지 영역일 수 있다. 실시 예에 따르면, 평탄부(127b)가 상대적으로 얇게 형성되어 자외선 광의 흡수율을 줄일 수 있다. The second conductivity-type semiconductor layer 127 may include a plurality of protrusions 127a protruding toward the conductive substrate 170 and a flat portion 127b disposed between the plurality of protrusions 127a. The configuration of the flat portion 127b may be a region other than the region where the protrusion 127a is formed. According to the embodiment, the flat portion 127b is formed to be relatively thin to reduce the absorption rate of ultraviolet light.

제2 도전형 반도체층(127)은 제2 전극(146)과의 접촉 저항을 낮추기 위해 상대적으로 알루미늄 조성이 낮아질 수 있다. 그 결과, 제2 도전형 반도체층(127)에서 자외선 광을 일부 흡수할 수 있다. 따라서, 제2 전극(146)이 접촉하지 않는 평탄부(127b)는 두께를 얇게 하여 자외선 광 흡수율을 줄이는 것이 바람직하다.The second conductive semiconductor layer 127 may have a relatively low aluminum composition in order to lower the contact resistance with the second electrode 146. As a result, the second conductivity type semiconductor layer 127 can partially absorb ultraviolet light. Therefore, it is preferable to reduce the ultraviolet light absorption rate by making the thickness of the flat portion 127b that the second electrode 146 does not contact thin.

제2 전극(146)이 접촉하는 돌출부(127a)는 알루미늄 조성이 상대적으로 낮아질 수 있다. 평탄부(127b)는 전체적으로 제2 도전형 반도체층(127)을 성장시킨 후 일부를 식각하여 제작할 수 있다. 그 결과, 평탄부(127b)의 하면(127b-1)의 알루미늄 조성은 돌출부(127a)의 하면(127a-1)의 알루미늄 조성보다 높을 수 있다.The aluminum composition may be relatively lower in the protrusion 127a in contact with the second electrode 146. The flat portion 127b may be manufactured by growing a portion of the second conductive semiconductor layer 127 as a whole and then etching a portion. As a result, the aluminum composition of the lower surface 127b-1 of the flat portion 127b may be higher than the aluminum composition of the lower surface 127a-1 of the protruding portion 127a.

제1 전극(142)은 리세스(128)의 내부에 배치되어 제1 도전형 반도체층(124)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제2 전극(146)은 제2 도전형 반도체층(127)의 하면에 배치되어 전기적으로 연결될 수 있다.The first electrode 142 is disposed inside the recess 128 and can be electrically connected to the first conductive semiconductor layer 124. Further, the second electrode 146 may be disposed on the lower surface of the second conductivity-type semiconductor layer 127 to be electrically connected.

제1 전극(142)과 제2 전극(146)은 오믹전극일 수 있다. 제1 전극(142)과 제2 전극(146)은 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IZON(IZO Nitride), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 또는 Ni/IrOx/Au/ITO, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Sn, In, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하여 형성될 수 있으나, 이러한 재료에 한정되는 않는다. 예시적으로, 제1 전극(142)은 복수의 금속층(예: Cr/Al/Ni)을 갖고, 제2 전극(146)은 ITO일 수 있다.The first electrode 142 and the second electrode 146 may be ohmic electrodes. The first electrode 142 and the second electrode 146 are indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), indium zinc tin oxide (IZTO), indium aluminum zinc oxide (IZAO), indium gallium zinc oxide (IGZO) ), Indium gallium tin oxide (IGTO), aluminum zinc oxide (AZO), antimony tin oxide (ATO), gallium zinc oxide (GZO), IZON (IZO Nitride), AGZO (Al-Ga ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx / ITO, Ni / IrOx / Au, or Ni / IrOx / Au / ITO, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Sn, In, It may be formed of at least one of Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf, but is not limited to these materials. For example, the first electrode 142 may have a plurality of metal layers (eg, Cr / Al / Ni), and the second electrode 146 may be ITO.

제2 도전층(150)은 제2 전극(146) 및 본딩패드(166)와 전기적으로 연결될 수 있다. 따라서, 본딩패드(166)와, 제2 도전층(150), 및 제2 전극(146)은 하나의 전기적 채널을 형성할 수 있다. The second conductive layer 150 may be electrically connected to the second electrode 146 and the bonding pad 166. Accordingly, the bonding pad 166, the second conductive layer 150, and the second electrode 146 may form one electrical channel.

제2 도전층(150)은 제1 절연층(131)과 접착력이 좋은 물질로 이루어지며, Cr, Ti, Ni, Au 등의 물질로 구성되는 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 물질 및 이들의 합금으로 이루어질 수 있으며, 단일층 혹은 복수의 층으로 이루어질 수 있다.The second conductive layer 150 is made of a material having good adhesion with the first insulating layer 131, and is made of at least one material selected from the group consisting of materials such as Cr, Ti, Ni, Au, and alloys thereof. It may be made of a single layer or a plurality of layers.

커버층(147)은 제2 전극(146)과 제2 도전층(150) 사이에 배치될 수도 있다. 커버층(147)은 제2 도전층(150)이 제2 전극(146)에서 확산되는 산소에 의해 산화되는 것을 방지할 수 있다. 커버층(147)은 Cr, Ni, Au, Ti 등을 포함할 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다. 예시적으로 커버층(147)은 Cr/Ni/Au/Ti층을 포함할 수 있다.The cover layer 147 may be disposed between the second electrode 146 and the second conductive layer 150. The cover layer 147 may prevent the second conductive layer 150 from being oxidized by oxygen diffused from the second electrode 146. The cover layer 147 may include Cr, Ni, Au, Ti, etc., but is not limited thereto. For example, the cover layer 147 may include a Cr / Ni / Au / Ti layer.

제2 절연층(132)은 제1 도전층(165)과 제2 도전층(150)을 전기적으로 절연시킬 수 있다. 제1 절연층(131)과 제2 절연층(132)은 서로 동일한 물질로 이루어질 수 있고, 서로 다른 물질로 이루어질 수 있다. The second insulating layer 132 may electrically insulate the first conductive layer 165 from the second conductive layer 150. The first insulating layer 131 and the second insulating layer 132 may be made of the same material as each other, or may be made of different materials.

제1 도전층(165)은 리세스(128) 및 제2 절연층(132)을 관통하여 복수 개의 제1 전극(142)과 전기적으로 연결되는 복수 개의 돌출 전극(165a)을 포함할 수 있다. 따라서, 제1 도전층(165)과 복수 개의 제1 전극(142)은 제1 채널 전극으로 정의할 수 있다.The first conductive layer 165 may include a plurality of protruding electrodes 165a that penetrate through the recess 128 and the second insulating layer 132 and are electrically connected to the plurality of first electrodes 142. Accordingly, the first conductive layer 165 and the plurality of first electrodes 142 may be defined as first channel electrodes.

제1 도전층(165)은 반사율이 우수한 물질로 이루어질 수 있다. 예시적으로 제1 도전층(165)은 Ti, Ni, Al 등의 금속을 포함할 수 있다. 예시적으로 제1 도전층(165)이 알루미늄을 포함하는 경우 활성층(126)에서 출사된 자외선 광을 상부로 반사시킬 수 있다.The first conductive layer 165 may be made of a material having excellent reflectance. For example, the first conductive layer 165 may include metal such as Ti, Ni, and Al. For example, when the first conductive layer 165 includes aluminum, ultraviolet light emitted from the active layer 126 may be reflected upward.

접합층(160)은 발광 구조물(120)의 하면과 리세스(128)의 형상을 따라 배치될 수 있다. 접합층(160)은 도전성 재료를 포함할 수 있다. 예시적으로 접합층(160)은 금, 주석, 인듐, 알루미늄, 실리콘, 은, 니켈, 및 구리로 구성되는 군으로부터 선택되는 물질 또는 이들의 합금을 포함할 수 있다.The bonding layer 160 may be disposed along the shape of the bottom surface of the light emitting structure 120 and the recess 128. The bonding layer 160 may include a conductive material. For example, the bonding layer 160 may include a material selected from the group consisting of gold, tin, indium, aluminum, silicon, silver, nickel, and copper, or alloys thereof.

도전성 기판(170)은 금속 또는 반도체 물질을 포함할 수 있다. 도전성 기판(170)은 전기 전도도 및/또는 열 전도도가 우수한 금속일 수 있다. 이 경우 발광 소자 동작시 발생하는 열을 신속이 외부로 방출할 수 있다. 또한 도전성 기판(170)을 통해 제1 전극(142)은 외부에서 전류를 공급받을 수 있다.The conductive substrate 170 may include a metal or semiconductor material. The conductive substrate 170 may be a metal having excellent electrical conductivity and / or thermal conductivity. In this case, heat generated during operation of the light emitting device can be quickly discharged to the outside. In addition, the first electrode 142 may be supplied with a current from the outside through the conductive substrate 170.

도전성 기판(170)은 실리콘, 몰리브덴, 실리콘, 텅스텐, 구리 및 알루미늄으로 구성되는 군으로부터 선택되는 물질 또는 이들의 합금을 포함할 수 있다.The conductive substrate 170 may include a material selected from the group consisting of silicon, molybdenum, silicon, tungsten, copper, and aluminum or alloys thereof.

발광 구조물(120)의 상면과 측면에는 패시베이션층(180)이 배치될 수 있다. 패시베이션층(180)의 두께는 200㎚ 이상 내지 500㎚ 이하일 수 있다. 200㎚이상일 경우, 소자를 외부의 수분이나 이물질로부터 보호하여 소자의 전기적, 광학적 신뢰성을 개선할 수 있고, 500㎚ 이하일 경우 발광 소자에 인가되는 스트레스를 줄일 수 있고, 상기 발광 소자의 광학적, 전기적 신뢰성이 저하되거나 발광 소자의 공정 시간이 길어짐에 따라 발광 소자의 단가가 높아지는 문제점을 개선할 수 있다.The passivation layer 180 may be disposed on the top and side surfaces of the light emitting structure 120. The passivation layer 180 may have a thickness of 200 nm or more and 500 nm or less. In the case of 200 nm or more, the device can be protected from external moisture or foreign matter to improve the electrical and optical reliability of the device, and in the case of 500 nm or less, stress applied to the light emitting device can be reduced, and the optical and electrical reliability of the light emitting device As this decreases or the process time of the light emitting device increases, a problem that the unit price of the light emitting device increases is improved.

발광 구조물(120)의 상면에는 요철이 형성될 수 있다. 이러한 요철은 발광 구조물(120)에서 출사되는 광의 추출 효율을 향상시킬 수 있다. 요철은 자외선 파장에 따라 평균 높이가 다를 수 있으며, UV-C의 경우 300㎚ 내지 800㎚ 정도의 높이를 갖고, 평균 500㎚ 내지 600㎚ 정도의 높이를 가질 때 광 추출 효율이 향상될 수 있다.Unevenness may be formed on the top surface of the light emitting structure 120. Such irregularities may improve the extraction efficiency of light emitted from the light emitting structure 120. The unevenness may have a different average height depending on the ultraviolet wavelength, and in the case of UV-C, the light extraction efficiency may be improved when it has a height of about 300 nm to 800 nm and an average of about 500 nm to 600 nm.

도 3을 참조하면, 커버층(147)과 제2 도전층(150) 사이에는 금속결합층(148)이 형성될 수 있다. 금속결합층(148)은 커버층(147) 상에 제2 도전층(150)을 형성하는 과정에서 계면에서 확산이 일어나 형성될 수 있다. 금속결합층(148)에 의해 커버층(147)과 제2 도전층(150) 사이의 접착력이 향상될 수 있다. 따라서, 신뢰성이 향상될 수 있다. 이때, 금속결합층(148)은 돌출부(127a)의 측면(127a-2)으로 연장될 수 있다. LLO 공정 전에 형성된 금속결합층(148)은 커버층(147)과 제2 도전층(150) 사이의 모든 영역으로 확산될 수 있다. 따라서, 일부는 에피쪽으로 확산될 수도 있다. 따라서, 금속결합층(148)은 돌출부(127a)의 측면(127a-2)에도 형성될 수 있다. 또한, 경우에 따라 금속결합층(148)은 평탄부(127b)의 하면(127b-1)으로 연장될 수도 있다.Referring to FIG. 3, a metal bonding layer 148 may be formed between the cover layer 147 and the second conductive layer 150. The metal bonding layer 148 may be formed by diffusion at an interface in the process of forming the second conductive layer 150 on the cover layer 147. The adhesion between the cover layer 147 and the second conductive layer 150 may be improved by the metal bonding layer 148. Therefore, reliability can be improved. At this time, the metal bonding layer 148 may extend to the side surface 127a-2 of the protrusion 127a. The metal bonding layer 148 formed before the LLO process may be diffused into all regions between the cover layer 147 and the second conductive layer 150. Therefore, some may spread toward the epi. Therefore, the metal bonding layer 148 may be formed on the side surface 127a-2 of the protrusion 127a. Also, in some cases, the metal bonding layer 148 may extend to the lower surface 127b-1 of the flat portion 127b.

금속결합층(148)은 커버층(147)의 조성과 제2 도전층(150)의 조성을 포함할 수 있다. 예시적으로 금속결합층(148)은 Cr, Ni, 및 Al 조성을 가질 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다.The metal bonding layer 148 may include the composition of the cover layer 147 and the composition of the second conductive layer 150. Exemplarily, the metal bonding layer 148 may have a composition of Cr, Ni, and Al, but is not limited thereto.

돌출부(127a)의 두께(T2)는 평탄부(127b)의 두께(T1)보다 두꺼울 수 있다. 평탄부(127b)는 자외선 광의 흡수율을 낮추기 위해 얇게 형성하는 것이 바람직하며, 돌출부(127a)는 제2 전극(146)과의 접촉 저항을 낮추기 위해 상대적으로 두껍게 형성하는 것이 바람직하기 때문이다. 제2 도전형 반도체층(127)은 제2 전극(146)에 가까워질수록 알루미늄 조성이 낮아지도록 설계되므로 돌출부(127a)의 하면(127a-1)은 제2 도전형 반도체층(127) 중에서 알루미늄 조성이 가장 낮을 수 있다. 필요에 따라 오믹 성능을 높이기 위해 돌출부(127a)의 하면은 GaN층으로 형성될 수도 있다.The thickness T2 of the protrusion 127a may be thicker than the thickness T1 of the flat portion 127b. This is because the flat portion 127b is preferably formed thin to lower the absorption rate of ultraviolet light, and the protrusion 127a is preferably formed relatively thick to lower the contact resistance with the second electrode 146. Since the second conductive semiconductor layer 127 is designed to have a lower aluminum composition as it approaches the second electrode 146, the lower surface 127a-1 of the protrusion 127a is aluminum among the second conductive semiconductor layers 127. The composition may be the lowest. If necessary, the lower surface of the protrusion 127a may be formed of a GaN layer to improve ohmic performance.

돌출부(127a)의 두께와 평탄부(127b)의 두께의 비(T2:T1)는 1:0.16 내지 1:0.75일 수 있다. 두께의 비가 1:0.16보다 작은 경우(예1: 0.05), 평탄부(127b)의 두께가 너무 얇아져 식각 과정에서 활성층(126)이 손상될 수 있다. 또한, 돌출부(127a)의 두께가 1:0.75보다 큰 경우 평탄부(127b)의 두께가 두꺼워져 광 흡수량이 증가하여 발광 효율이 낮아질 수 있다. 예시적으로 돌출부(127a)의 두께는 40㎛ 내지 60㎛일 수 있고, 평탄부의 두께는 10㎛ 내지 30㎛일 수 있다.The ratio (T2: T1) of the thickness of the protrusion 127a and the thickness of the flat portion 127b may be 1: 0.16 to 1: 0.75. When the ratio of the thickness is less than 1: 0.16 (Example 1: 0.05), the thickness of the flat portion 127b becomes too thin, and the active layer 126 may be damaged during the etching process. In addition, when the thickness of the protruding portion 127a is greater than 1: 0.75, the thickness of the flat portion 127b becomes thick, so that the amount of light absorption increases, so that the luminous efficiency may be lowered. For example, the thickness of the protruding portion 127a may be 40 μm to 60 μm, and the thickness of the flat portion may be 10 μm to 30 μm.

도 4a 및 도 4b를 참조하면, 제2 전극(146)은 라인 형상으로 연장되어 복수 개의 리세스(128)를 각각 둘러싸는 복수 개의 폐루프(146-1)를 포함할 수 있다. 복수 개의 폐루프(146-1)는 서로 연결될 수도 있으나 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 서로 이격 배치될 수도 있다. 복수 개의 리세스(128)는 복수 개의 폐루프(146-1)의 중심에 각각 배치될 수 있다.4A and 4B, the second electrode 146 may include a plurality of closed loops 146-1 extending in a line shape and surrounding the plurality of recesses 128, respectively. The plurality of closed loops 146-1 may be connected to each other, but are not limited thereto, and may be disposed apart from each other. The plurality of recesses 128 may be disposed at the centers of the plurality of closed loops 146-1, respectively.

복수 개의 폐루프(146-1)는 각각 이웃한 리세스들(128) 사이에 배치되는 복수 개의 선형 전극(146a)을 포함할 수 있다. 복수 개의 선형 전극(146a)은 길이방향으로 폭(W1)이 일정할 수 있다. 선형 전극(146a)의 폭(W1)은 2㎛ 내지 10㎛일 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다. 이러한 구성에 의하면, 이웃한 리세스(128) 사이에 배치되는 제2 전극(146)의 면적이 일정해져 전류 분산 효율이 개선될 수 있다.The plurality of closed loops 146-1 may include a plurality of linear electrodes 146a disposed between neighboring recesses 128, respectively. The plurality of linear electrodes 146a may have a constant width W1 in the longitudinal direction. The width W1 of the linear electrode 146a may be 2 μm to 10 μm, but is not limited thereto. According to this configuration, the area of the second electrode 146 disposed between the adjacent recesses 128 becomes constant, so that the current dispersion efficiency can be improved.

폐루프(146-1)는 복수 개의 선형 전극(146a)에 의해 독립적인 공간을 갖는 영역으로 정의할 수 있다. 즉, 복수 개의 폐루프(146-1)를 구성하는 선형 전극(146a)은 모두 연결될 수 있으나 독립적인 공간을 형성하는 6개의 선형 전극들(146a)만을 하나의 폐루프(146-1)로 정의할 수 있다.The closed loop 146-1 may be defined as a region having an independent space by a plurality of linear electrodes 146a. That is, all of the linear electrodes 146a constituting the plurality of closed loops 146-1 may be connected, but only six linear electrodes 146a forming an independent space are defined as one closed loop 146-1. can do.

복수 개의 리세스(128) 중에서 어느 하나의 리세스(128)는 복수 개의 리세스(128)들에 둘러싸일 수 있다. 이때, 어느 하나의 리세스(128)를 둘러싸는 가장 인접한 리세스(128)들의 중심을 연결한 선(Y1)은 다각 형상을 가질 수 있다. Any one of the plurality of recesses 128 may be surrounded by the plurality of recesses 128. In this case, the line Y1 connecting the centers of the closest recesses 128 surrounding one of the recesses 128 may have a polygonal shape.

예시적으로 복수 개의 리세스(128)는 하나의 리세스(128)를 둘러싸는 6 개의 최인접 리세스(128)를 포함할 수 있다. 따라서, 복수 개의 선형 전극(146a)은 인접한 6개의 리세스(128)를 따라 육각형으로 배치될 수 있다.For example, the plurality of recesses 128 may include six adjacent recesses 128 surrounding one recess 128. Accordingly, the plurality of linear electrodes 146a may be arranged in a hexagonal shape along six adjacent recesses 128.

그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고, 폐루프(146-1)의 형상은 사각형, 팔각형과 같이 다양한 다각 형상으로 구현될 수도 있다. 즉, 폐루프(146-1)의 형상은 리세스(128)의 개수 및 위치에 따라 변형될 수 있다.However, the shape of the closed loop 146-1 is not necessarily limited thereto, and may be implemented in various polygonal shapes such as a square shape or an octagonal shape. That is, the shape of the closed loop 146-1 may be deformed according to the number and location of the recesses 128.

제1 전극(142)과 제2 전극(146)의 면적비는 1: 1.28 내지 1: 1.68일 수 있다. 면적비가 1:1.28 보다 작은 경우 제2 전극(146)의 면적이 줄어들어 제2 도전형 반도체층에 균일하게 전류를 주입하기 어려울 수 있다. 또한, 면적비가 1:1.68보다 큰 경우 상대적으로 제1 전극(142)의 면적이 감소하여 제1 도전형 반도체층(124)에 주입되는 전류의 분산 효율이 감소할 수 있다. 즉, 제1 전극(142)의 면적과 제2 전극(146)의 면적은 서로 트레이드 오프 관계에 있으므로 발광 효율을 높이기 위해 적절히 조절할 필요가 있다.The area ratio between the first electrode 142 and the second electrode 146 may be 1: 1.28 to 1: 1.68. When the area ratio is smaller than 1: 1.28, the area of the second electrode 146 is reduced, so it may be difficult to uniformly inject current into the second conductivity type semiconductor layer. In addition, when the area ratio is greater than 1: 1.68, the area of the first electrode 142 is relatively reduced, so that the dispersion efficiency of the current injected into the first conductivity type semiconductor layer 124 may be reduced. That is, since the area of the first electrode 142 and the area of the second electrode 146 are in a trade-off relationship with each other, it is necessary to appropriately adjust the light emission efficiency.

커버층(147)은 제2 전극(146)을 둘러싸도록 배치될 수 있다. 따라서, 커버층(147)은 평면상 복수 개의 리세스(128) 사이로 연장되어 복수 개의 리세스(128)를 각각 둘러싸도록 배치될 수 있다. 커버층의 폭(W2)은 선형 전극(146a)의 폭(W1)보다 클 수 있다.The cover layer 147 may be disposed to surround the second electrode 146. Therefore, the cover layer 147 may be disposed to extend between the plurality of recesses 128 in a plane, and surround the plurality of recesses 128, respectively. The width W2 of the cover layer may be greater than the width W1 of the linear electrode 146a.

돌출부(127a)는 평면상 복수 개의 리세스(128) 사이로 연장되어 복수 개의 리세스(128)를 각각 둘러싸도록 배치될 수 있다. 돌출부(127a)의 형상은 제2 전극(146)의 형상과 대응되는 다각 형상을 가질 수 있다. 즉, 돌출부(127a)는 리세스를 둘러싸는 복수 개의 폐루프를 가질 수 있다. 돌출부(127a)의 폭(W3)은 선형 전극(146a)의 폭(W1)보다 클 수 있다. 돌출부(127a)에는 제2 전극(146)과 커버층(147)이 배치될 수 있다.The protrusions 127a may extend between a plurality of recesses 128 in a plane to surround the plurality of recesses 128, respectively. The shape of the protrusion 127a may have a polygonal shape corresponding to the shape of the second electrode 146. That is, the protrusion 127a may have a plurality of closed loops surrounding the recess. The width W3 of the protrusion 127a may be greater than the width W1 of the linear electrode 146a. The second electrode 146 and the cover layer 147 may be disposed on the protrusion 127a.

돌출부(127a)와 평탄부(127b)의 면적의 비는 1:2.7 내지 1:4.7일 수 있다. 즉, 돌출부(127a)의 면적은 평탄부(127b)의 면적보다 작을 수 있다. 면적비가 1:2.7보다 작은 경우(예: 1:2.1), 돌출부(127a)의 면적이 증가하여 자외선 광의 흡수량이 커지므로 발광 효율이 낮아질 수 있다. 또한, 면적비가 1:4.7보다 큰 경우 돌출부(127a)의 면적이 줄어들어 제2 전극(146)의 면적이 줄어들 수 있다. 따라서, 전류 주입 효율이 떨어져 발광 효율이 낮아질 수 있다.The ratio of the area of the protruding portion 127a and the flat portion 127b may be 1: 2.7 to 1: 4.7. That is, the area of the protruding portion 127a may be smaller than the area of the flat portion 127b. When the area ratio is smaller than 1: 2.7 (for example, 1: 2.1), the area of the protruding portion 127a increases, and thus the absorption amount of ultraviolet light increases, so that the luminous efficiency may be lowered. In addition, when the area ratio is greater than 1: 4.7, the area of the protrusion 127a is reduced, so that the area of the second electrode 146 may be reduced. Therefore, the current injection efficiency is lowered and the luminous efficiency may be lowered.

도 5를 참조하면, 제1 전극(142)은 Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Sn, In, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하여 형성될 수 있다. 이 경우 제1 전극(142)과 커버층은 동일한 재질로 형성되므로 하나의 전극을 형성할 수 있다. 예시적으로 제1 전극(142)은 Cr/Ni.Au/Ti 층으로 구성될 수 있다. 이러한 구성에 의하면 열 처리 이후에도 낮은 동작 전압을 유지할 수 있는 장점이 있다. 이때에도 제1 전극(142)과 제2 도전층(150) 사이에 금속결합층(148)이 형성될 수 있다.Referring to FIG. 5, the first electrode 142 includes at least one of Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Sn, In, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf Can be formed. In this case, since the first electrode 142 and the cover layer are formed of the same material, one electrode can be formed. For example, the first electrode 142 may be formed of a Cr / Ni.Au / Ti layer. According to this configuration, there is an advantage of maintaining a low operating voltage even after heat treatment. At this time, a metal bonding layer 148 may be formed between the first electrode 142 and the second conductive layer 150.

도 6은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 발광소자의 개념도이고, 도 7은 도 6의 C 부분 확대도이고, 도 8은 도 7의 A-A 단면도이고, 도 9는 도 8의 변형예이다.6 is a conceptual view of a light emitting device according to a second embodiment of the present invention, FIG. 7 is an enlarged view of part C of FIG. 6, FIG. 8 is a cross-sectional view taken along line A-A of FIG. 7, and FIG. 9 is a modification of FIG.

도 6 및 도 7을 참조하면, 실시 예에 따른 발광소자는 제1 도전형 반도체층(124), 제2 도전형 반도체층(127), 및 제1 도전형 반도체층(124)과 제2 도전형 반도체층(127) 사이에 배치되는 활성층(126)을 포함하고, 제2 도전형 반도체층(127), 활성층(126), 및 제1 도전형 반도체층(124)의 일부까지 관통하는 복수 개의 리세스(128)를 포함하는 발광 구조물(120), 복수 개의 리세스(128) 내에 배치되어 제1 도전형 반도체층(124)과 전기적으로 연결되는 복수 개의 제1 전극(142), 및 제2 도전형 반도체층(127)과 전기적으로 연결되는 복수 개의 제2 전극(146a)을 포함한다.6 and 7, a light emitting device according to an embodiment includes a first conductivity type semiconductor layer 124, a second conductivity type semiconductor layer 127, and a first conductivity type semiconductor layer 124 and a second conductivity A plurality of second conductive semiconductor layers 127, the active layer 126, and a portion of the first conductive semiconductor layer 124 including the active layer 126 disposed between the type semiconductor layers 127 The light emitting structure 120 including the recess 128, the plurality of first electrodes 142 disposed in the plurality of recesses 128 and electrically connected to the first conductive semiconductor layer 124, and the second It includes a plurality of second electrodes 146a electrically connected to the conductive semiconductor layer 127.

제2 전극(146a)은 제1 전극(142)의 직경보다 작을 수 있다. 예시적으로 제1 전극(142)의 직경은 약 20㎛ 내지 40㎛인 반면, 제2 전극(146a)의 직경은 5㎛ 내지 15㎛일 수 있다.The second electrode 146a may be smaller than the diameter of the first electrode 142. For example, the diameter of the first electrode 142 is about 20 μm to 40 μm, while the diameter of the second electrode 146a may be 5 μm to 15 μm.

제1 전극(142)과 상기 제2 전극(146a)의 직경비는 1: 0.12 내지 1:0.75일 수 있다. 직경비가 1:0.12보다 작은 경우(예: 1: 0.08), 제2 전극(146a)의 직경이 작아져 제2 도전형 반도체층(127)에 주입되는 전류 주입 효율이 낮아질 수 있다. 또한, 직경비가 1:0.75보다 커지는 경우 제2 전극(146a)의 직경이 커져 많을 개수의 제2 전극(146)을 배치하는 것이 어려워 전류 주입 효율이 낮아질 수 있다.The diameter ratio of the first electrode 142 and the second electrode 146a may be 1: 0.12 to 1: 0.75. When the diameter ratio is smaller than 1: 0.12 (for example, 1: 0.08), the diameter of the second electrode 146a becomes small, so that the current injection efficiency injected into the second conductivity type semiconductor layer 127 may be lowered. In addition, when the diameter ratio is greater than 1: 0.75, the diameter of the second electrode 146a becomes large, so that it is difficult to arrange a large number of second electrodes 146, and thus the current injection efficiency may be lowered.

제1 전극(142)과 제2 전극(146a)의 면적비는 1: 1.1 내지 1:1.4일 수 있다. 면적비가 1:1.1보다 작은 경우(예: 1: 1.05), 제2 전극(146a)의 면적이 작아져 제2 도전형 반도체층(127)에 주입되는 전류 효율이 낮아질 수 있다. 또한, 면적비가 1:1.4보다 커지는 경우 제1 전극(142)의 면적이 작아져 전류 주입 효율이 낮아질 수 있다.The area ratio between the first electrode 142 and the second electrode 146a may be 1: 1.1 to 1: 1.4. When the area ratio is smaller than 1: 1.1 (for example, 1: 1.05), the area of the second electrode 146a becomes small, so that the current efficiency injected into the second conductivity type semiconductor layer 127 may be lowered. In addition, when the area ratio is greater than 1: 1.4, the area of the first electrode 142 becomes small, so that the current injection efficiency may be lowered.

이때, 각각의 제2 전극(146a)은 커버층(147a)에 둘러싸일 수 있다. 따라서, 커버층(147a)의 일부는 돌출부(127a)의 하면(127a-1)과 접촉할 수 있다. At this time, each second electrode 146a may be surrounded by a cover layer 147a. Therefore, a part of the cover layer 147a may contact the lower surface 127a-1 of the protrusion 127a.

도 8을 참조하면, 복수 개의 제2 전극(146a)은 돌출부(127a)의 하면(127a-1)에 배치될 수 있다. 또한, 각각의 커버층(147a)은 제2 전극(146a)을 둘러싸도록 배치될 수 있다. Referring to FIG. 8, a plurality of second electrodes 146a may be disposed on the lower surface 127a-1 of the protrusion 127a. Also, each cover layer 147a may be disposed to surround the second electrode 146a.

복수 개의 커버층(147a)과 제2 도전층(150) 사이에는 금속결합층(148)이 형성될 수 있다. 이때, 금속결합층(148)은 커버층(147a)의 측면에서 연장되어 돌출부(127a)의 측면으로 연장될 수도 있다. 또한, 금속결합층(148)은 이웃한 커버층(147a) 사이의 돌출부(127a)의 하면(127a-1)으로 연장될 수도 있다.A metal bonding layer 148 may be formed between the plurality of cover layers 147a and the second conductive layer 150. At this time, the metal bonding layer 148 may extend from the side of the cover layer 147a and extend to the side of the protrusion 127a. Further, the metal bonding layer 148 may extend to the lower surface 127a-1 of the protrusion 127a between the adjacent cover layers 147a.

도 10은 본 발명의 제3 실시 예에 따른 발광소자의 단면도이다.10 is a cross-sectional view of a light emitting device according to a third embodiment of the present invention.

도 10을 참조하면, 실시 예에 따른 발광소자는 투광 기판(110), 기판 상에 배치되는 발광 구조물(120), 제1 도전형 반도체층(124)과 전기적으로 연결되는 제1 전극(142), 제2 도전형 반도체층(127)과 전기적으로 연결되는 제2 전극(146), 제2 전극 상에 배치되는 커버층(147), 커버층 상에 배치되는 도전층(150)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 10, the light emitting device according to the embodiment includes a transparent substrate 110, a light emitting structure 120 disposed on the substrate, and a first electrode 142 electrically connected to the first conductive semiconductor layer 124. , A second electrode 146 electrically connected to the second conductive semiconductor layer 127, a cover layer 147 disposed on the second electrode, and a conductive layer 150 disposed on the cover layer. have.

투광 기판(110)은 사파이어(Al2O3), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP 및 Ge 중 선택된 물질로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 기판(110)은 자외선 파장대의 광을 투과할 수 있다.The transparent substrate 110 may be formed of a material selected from sapphire (Al 2 O 3 ), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, and Ge, but is not limited thereto. The substrate 110 may transmit light in an ultraviolet wavelength band.

버퍼층(미도시)은 투광 기판(110)과 반도체층들 사이의 격자 부정합을 완화할 수 있다. 버퍼층은 Ⅲ족과 Ⅴ족 원소가 결합된 형태이거나 AlN, AlGaN, InAlGaN, AlInN 중에서 어느 하나를 포함할 수 있다. 본 실시 예는 버퍼층은 AlN일 수 있으나 이에 한정하지 않는다. 버퍼층은 도펀트를 포함할 수도 있으나 이에 한정하지 않는다.The buffer layer (not shown) may mitigate lattice mismatch between the transparent substrate 110 and the semiconductor layers. The buffer layer may be a combination of group III and group V elements, or may include any one of AlN, AlGaN, InAlGaN, and AlInN. In this embodiment, the buffer layer may be AlN, but is not limited thereto. The buffer layer may include a dopant, but is not limited thereto.

제1 도전형 반도체층(124), 활성층(126) 및 제2 도전형 반도체층(127)의 구성은 전술한 바와 동일할 수 있다. 제2 도전형 반도체층(127)은 도전성 기판(170)과 반대 방향으로 돌출된 돌출부(127a) 및 돌출부(127a) 주변에 배치되는 평탄부(127b)를 포함할 수 있다. 평탄부(127b)의 구성은 돌출부(127a)가 형성된 영역을 제외한 나머지 영역일 수 있다. 실시 예에 따르면, 평탄부(127b)가 상대적으로 얇게 형성되어 자외선 광의 흡수율을 줄일 수 있다. The structures of the first conductivity type semiconductor layer 124, the active layer 126, and the second conductivity type semiconductor layer 127 may be the same as described above. The second conductivity-type semiconductor layer 127 may include a protrusion 127a protruding in a direction opposite to the conductive substrate 170 and a flat portion 127b disposed around the protrusion 127a. The configuration of the flat portion 127b may be a region other than the region where the protrusion 127a is formed. According to the embodiment, the flat portion 127b is formed to be relatively thin to reduce the absorption rate of ultraviolet light.

제2 도전형 반도체층(127)은 제2 전극(146)과의 접촉 저항을 낮추기 위해 상대적으로 알루미늄 조성이 낮아질 수 있다. 그 결과, 제2 도전형 반도체층(127)에서 자외선 광을 일부 흡수할 수 있다. 따라서, 제2 전극(146)이 접촉하지 않는 평탄부(127b)는 두께를 얇게 하여 자외선 광 흡수율을 줄이는 것이 바람직하다.The second conductive semiconductor layer 127 may have a relatively low aluminum composition in order to lower the contact resistance with the second electrode 146. As a result, the second conductivity type semiconductor layer 127 can partially absorb ultraviolet light. Therefore, it is preferable to reduce the ultraviolet light absorption rate by making the thickness of the flat portion 127b that the second electrode 146 does not contact thin.

제2 전극(146)이 접촉하는 돌출부(127a)는 알루미늄 조성이 상대적으로 낮아질 수 있다. 평탄부(127b)는 전체적으로 제2 도전형 반도체층(127)을 성장시킨 후 일부를 식각하여 제작할 수 있다. 그 결과, 평탄부(127b)의 알루미늄 조성은 돌출부(127a)의 알루미늄 조성보다 높을 수 있다.The aluminum composition may be relatively lower in the protrusion 127a in contact with the second electrode 146. The flat portion 127b may be manufactured by growing a portion of the second conductive semiconductor layer 127 as a whole and then etching a portion. As a result, the aluminum composition of the flat portion 127b may be higher than that of the protrusion 127a.

제1 전극(142)은 제1 도전형 반도체층(124)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제2 전극(146)은 돌출부(127a)와 전기적으로 연결될 수 있다.The first electrode 142 may be electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer 124. Also, the second electrode 146 may be electrically connected to the protrusion 127a.

제1 전극(142)과 제2 전극(146)은 오믹전극일 수 있다. 제1 전극(142)과 제2 전극(146)은 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IZON(IZO Nitride), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 또는 Ni/IrOx/Au/ITO, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Sn, In, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하여 형성될 수 있으나, 이러한 재료에 한정되는 않는다. 예시적으로, 제1 전극(142)은 복수의 금속층(예: Cr/Al/Ni)을 갖고, 제2 전극(146)은 ITO일 수 있다.The first electrode 142 and the second electrode 146 may be ohmic electrodes. The first electrode 142 and the second electrode 146 are indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), indium zinc tin oxide (IZTO), indium aluminum zinc oxide (IZAO), indium gallium zinc oxide (IGZO) ), Indium gallium tin oxide (IGTO), aluminum zinc oxide (AZO), antimony tin oxide (ATO), gallium zinc oxide (GZO), IZON (IZO Nitride), AGZO (Al-Ga ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx / ITO, Ni / IrOx / Au, or Ni / IrOx / Au / ITO, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Sn, In, It may be formed of at least one of Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf, but is not limited to these materials. For example, the first electrode 142 may have a plurality of metal layers (eg, Cr / Al / Ni), and the second electrode 146 may be ITO.

도전층(150)은 제2 전극(146)과 전기적으로 연결될 수 있다. 도전층(150)은 제1 절연층(131)과 접착력이 좋은 물질로 이루어지며, Cr, Ti, Ni, Au 등의 물질로 구성되는 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 물질 및 이들의 합금으로 이루어질 수 있으며, 단일층 혹은 복수의 층으로 이루어질 수 있다.The conductive layer 150 may be electrically connected to the second electrode 146. The conductive layer 150 is made of a material having good adhesion with the first insulating layer 131, and may be made of at least one material selected from the group consisting of materials such as Cr, Ti, Ni, Au, and alloys thereof. And may consist of a single layer or multiple layers.

커버층(147)은 제2 전극(146)과 도전층(150) 사이에 배치될 수도 있다. 커버층(147)은 도전층(150)이 제2 전극(146)에서 확산되는 산소에 의해 산화되는 것을 방지할 수 있다. 커버층(147)은 Cr, Ni, Au, Ti 등을 포함할 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다. 예시적으로 커버층(147)은 Cr/Ni/Au/Ti층을 포함할 수 있다.The cover layer 147 may be disposed between the second electrode 146 and the conductive layer 150. The cover layer 147 may prevent the conductive layer 150 from being oxidized by oxygen diffused from the second electrode 146. The cover layer 147 may include Cr, Ni, Au, Ti, etc., but is not limited thereto. For example, the cover layer 147 may include a Cr / Ni / Au / Ti layer.

커버층(147)과 도전층(150) 사이에는 금속결합층(148)이 형성될 수 있다. 금속결합층(148)은 커버층(147) 상에 도전층(150)을 형성하는 과정에서 계면에서 확산이 일어나 형성될 수 있다. 이때, 금속결합층(148)은 돌출부(127a)의 측면으로 연장될 수 있다.A metal bonding layer 148 may be formed between the cover layer 147 and the conductive layer 150. The metal bonding layer 148 may be formed by diffusion at an interface in the process of forming the conductive layer 150 on the cover layer 147. At this time, the metal bonding layer 148 may extend to the side of the protrusion 127a.

금속결합층(148)은 커버층(147)의 조성과 도전층(150)의 조성을 포함할 수 있다. 예시적으로 금속결합층(148)은 Cr, Ni, 및 Al 조성을 가질 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다.The metal bonding layer 148 may include the composition of the cover layer 147 and the composition of the conductive layer 150. Exemplarily, the metal bonding layer 148 may have a composition of Cr, Ni, and Al, but is not limited thereto.

제1 절연층(131)은 제1 전극(142)과 제2 전극(146) 사이에 배치될 수 있고, 제2 절연층(132)은 도전층(150), 제1 절연층(131) 및 제1 전극(142) 상에 배치될 수 있다.The first insulating layer 131 may be disposed between the first electrode 142 and the second electrode 146, and the second insulating layer 132 may include a conductive layer 150, a first insulating layer 131, and It may be disposed on the first electrode 142.

제1 패드(171)는 제2 절연층(132)을 관통하여 제1 전극(142)과 전기적으로 연결되고, 제2 패드(172)는 제2 절연층(132)을 관통하여 도전층(150)과 전기적으로 연결될 수 있다.The first pad 171 penetrates the second insulating layer 132 and is electrically connected to the first electrode 142, and the second pad 172 penetrates the second insulating layer 132 to pass the conductive layer 150 ).

도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 개념도이고, 도 12는 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 평면도이다.11 is a conceptual diagram of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention, and FIG. 12 is a plan view of the light emitting device package according to an embodiment of the present invention.

도 11 및 도 12를 참고하면, 발광소자 패키지는 홈(3)이 형성된 몸체(2), 몸체(2)에 배치되는 발광소자(10), 및 몸체(2)에 배치되어 발광소자(10)와 전기적으로 연결되는 한 쌍의 리드 프레임(5a, 5b)을 포함할 수 있다. 발광소자(10)는 전술한 구성을 모두 포함할 수 있다.11 and 12, the light emitting device package is a light emitting device 10 disposed on a body 2 having a groove 3, a light emitting device 10 disposed on the body 2, and a body 2 It may include a pair of lead frames (5a, 5b) that are electrically connected to. The light emitting device 10 may include all of the above-described configurations.

몸체(2)는 자외선 광을 반사하는 재질 또는 코팅층을 포함할 수 있다. 몸체(2)는 복수의 층(2a, 2b, 2c, 2d, 2e)을 적층하여 형성할 수 있다. 복수의 층(2a, 2b, 2c, 2d, 2e)은 동일한 재질일 수도 있고 상이한 재질을 포함할 수도 있다.The body 2 may include a material or coating layer that reflects ultraviolet light. The body 2 may be formed by stacking a plurality of layers 2a, 2b, 2c, 2d, and 2e. The plurality of layers 2a, 2b, 2c, 2d, and 2e may be the same material or may include different materials.

홈(3)은 발광소자(10)에서 멀어질수록 넓어지게 형성되고, 경사면에는 단차(3a)가 형성될 수 있다.The groove 3 may be formed to be wider as it is farther from the light emitting device 10, and a step 3a may be formed on the inclined surface.

발광소자(10)는 제1 리드프레임(5a)상에 배치되고, 제2 리드프레임(5b)과 와이어에 의해 연결될 수 있다. 이때, 제1 리드프레임(5a)과 제2 리드프레임(5b)은 발광소자(10)의 측면을 둘러싸도록 배치될 수 있다.The light emitting device 10 is disposed on the first lead frame 5a and may be connected to the second lead frame 5b by a wire. At this time, the first lead frame 5a and the second lead frame 5b may be arranged to surround the side surfaces of the light emitting device 10.

투광층(4)은 홈(3)을 덮을 수 있다. 투광층(4)은 글라스 재질일 있으나, 반드시 이에 한정하지 않는다. 투광층(4)은 자외선 광을 유효하게 투과할 수 있는 재질이면 특별히 제한하지 않는다. 홈(3)의 내부는 빈 공간일 수 있다.The light-transmitting layer 4 may cover the groove 3. The light-transmitting layer 4 is made of glass, but is not necessarily limited thereto. The light-transmitting layer 4 is not particularly limited as long as it is a material capable of effectively transmitting ultraviolet light. The interior of the groove 3 may be an empty space.

발광소자는 다양한 종류의 광원 장치에 적용될 수 있다. 예시적으로 광원장치는 살균 장치, 경화 장치, 조명 장치, 및 표시 장치 및 차량용 램프 등을 포함하는 개념일 수 있다. 즉, 발광소자는 케이스에 배치되어 광을 제공하는 다양한 전자 디바이스에 적용될 수 있다.The light emitting device can be applied to various types of light source devices. Illustratively, the light source device may be a concept including a sterilizing device, a curing device, a lighting device, and a display device and a vehicle lamp. That is, the light emitting device can be applied to various electronic devices that are disposed in a case and provide light.

살균 장치는 실시 예에 따른 발광소자를 구비하여 원하는 영역을 살균할 수 있다. 살균 장치는 정수기, 에어컨, 냉장고 등의 생활 가전에 적용될 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다. 즉, 살균 장치는 살균이 필요한 다양한 제품(예: 의료 기기)에 모두 적용될 수 있다.The sterilizing device may include a light emitting device according to an embodiment to sterilize a desired area. The sterilization device may be applied to household appliances such as water purifiers, air conditioners, and refrigerators, but is not limited thereto. That is, the sterilization device can be applied to all of various products (eg, medical devices) that require sterilization.

예시적으로 정수기는 순환하는 물을 살균하기 위해 실시 예에 따른 살균 장치를 구비할 수 있다. 살균 장치는 물이 순환하는 노즐 또는 토출구에 배치되어 자외선을 조사할 수 있다. 이때, 살균 장치는 방수 구조를 포함할 수 있다.Illustratively, the water purifier may include a sterilizing device according to an embodiment to sterilize circulating water. The sterilizing device may be disposed on a nozzle or discharge port through which water circulates to irradiate ultraviolet rays. At this time, the sterilization device may include a waterproof structure.

경화 장치는 실시 예에 따른 발광소자를 구비하여 다양한 종류의 액체를 경화시킬 수 있다. 액체는 자외선이 조사되면 경화되는 다양한 물질을 모두 포함하는 개념일 수 있다. 예시적으로 경화장치는 다양한 종류의 레진을 경화시킬 수 있다. 또는 경화장치는 매니큐어와 같은 미용 제품을 경화시키는 데 적용될 수도 있다.The curing device may be equipped with a light emitting device according to an embodiment to cure various types of liquids. The liquid may be a concept including all of various materials that are cured when irradiated with ultraviolet rays. Illustratively, a curing device can cure various types of resins. Alternatively, the curing device may be applied to cure beauty products such as nail polish.

조명 장치는 기판과 실시 예의 발광소자를 포함하는 광원 모듈, 광원 모듈의 열을 발산시키는 방열부 및 외부로부터 제공받은 전기적 신호를 처리 또는 변환하여 광원 모듈로 제공하는 전원 제공부를 포함할 수 있다. 또한, 조명 장치는, 램프, 해드 램프, 또는 가로등 등을 포함할 수 있다. The lighting device may include a light source module including a substrate and a light emitting device of the embodiment, a heat dissipation unit that emits heat from the light source module, and a power supply unit that processes or converts an electrical signal received from the outside and provides the light source module. Further, the lighting device may include a lamp, a head lamp, or a street light.

표시 장치는 바텀 커버, 반사판, 발광 모듈, 도광판, 광학 시트, 디스플레이 패널, 화상 신호 출력 회로 및 컬러 필터를 포함할 수 있다. 바텀 커버, 반사판, 발광 모듈, 도광판 및 광학 시트는 백라이트 유닛(Backlight Unit)을 구성할 수 있다.The display device may include a bottom cover, a reflector, a light emitting module, a light guide plate, an optical sheet, a display panel, an image signal output circuit, and a color filter. The bottom cover, the reflector, the light emitting module, the light guide plate, and the optical sheet may constitute a backlight unit.

반사판은 바텀 커버 상에 배치되고, 발광 모듈은 광을 방출할 수 있다. 도광판은 반사판의 전방에 배치되어 발광 모듈에서 발산되는 빛을 전방으로 안내하고, 광학 시트는 프리즘 시트 등을 포함하여 이루어져 도광판의 전방에 배치될 수 있다. 디스플레이 패널은 광학 시트 전방에 배치되고, 화상 신호 출력 회로는 디스플레이 패널에 화상 신호를 공급하며, 컬러 필터는 디스플레이 패널의 전방에 배치될 수 있다.The reflector is disposed on the bottom cover, and the light emitting module can emit light. The light guide plate is disposed in front of the reflector to guide the light emitted from the light emitting module to the front, and the optical sheet may include a prism sheet or the like to be disposed in front of the light guide plate. The display panel is disposed in front of the optical sheet, an image signal output circuit supplies an image signal to the display panel, and a color filter can be disposed in front of the display panel.

이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The embodiments have been mainly described above, but this is merely an example and does not limit the present invention, and those skilled in the art to which the present invention pertains are not exemplified above in the range that does not depart from the essential characteristics of the present embodiment. It will be appreciated that various modifications and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiments can be implemented by modification. And differences related to these modifications and applications should be construed as being included in the scope of the invention defined in the appended claims.

Claims (15)

도전성 기판;
상기 도전성 기판 상에 배치되고, 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 배치되는 활성층을 포함하는 발광 구조물;
상기 제1 도전형 반도체층과 전기적으로 연결되는 제1 전극; 및
상기 제2 도전형 반도체층과 전기적으로 연결되는 제2 전극을 포함하고,
상기 발광 구조물은 상기 제2 도전형 반도체층, 상기 활성층, 및 상기 제1 도전형 반도체층의 일부까지 관통하는 복수 개의 리세스를 포함하고,
상기 제2 전극은 라인 형상으로 연장되어 상기 복수 개의 리세스를 각각 둘러싸는 복수 개의 폐루프를 포함하고,
상기 복수 개의 폐루프는 다각 형상을 갖는 발광소자.
Conductive substrates;
A light emitting structure disposed on the conductive substrate and including a first conductivity type semiconductor layer, a second conductivity type semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductivity type semiconductor layer and the second conductivity type semiconductor layer;
A first electrode electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer; And
And a second electrode electrically connected to the second conductivity type semiconductor layer,
The light emitting structure includes the second conductive type semiconductor layer, the active layer, and a plurality of recesses penetrating through a portion of the first conductive type semiconductor layer,
The second electrode includes a plurality of closed loops extending in a line shape and surrounding the plurality of recesses,
The plurality of closed loops are light emitting devices having a polygonal shape.
제1항에 있어서,
상기 복수 개의 폐루프는 각각 이웃한 리세스들 사이에 배치되는 복수 개의 선형 전극을 포함하는 발광소자.
According to claim 1,
The plurality of closed loops each include a plurality of linear electrodes disposed between adjacent recesses.
제1항에 있어서,
상기 복수 개의 리세스는 상기 복수 개의 폐루프의 중심에 각각 배치되는 발광소자.
According to claim 1,
The plurality of recesses are light emitting devices respectively disposed at the centers of the plurality of closed loops.
제2항에 있어서,
상기 복수 개의 리세스는 하나의 리세스를 둘러싸는 6 개의 최인접 리세스를 포함하고,
상기 선형 전극은 상기 6 개의 최인접 리세스를 따라 육각형으로 배치되는 발광소자.
According to claim 2,
The plurality of recesses includes six adjacent recesses surrounding one recess,
The linear electrode is a light emitting device that is arranged in a hexagon along the six nearest recesses.
제1항에 있어서,
상기 제1 전극과 제2 전극의 면적비는 1: 1.28 내지 1: 1.68인 발광소자.
According to claim 1,
An area ratio of the first electrode and the second electrode is 1: 1.28 to 1: 1.68.
제1항에 있어서,
상기 제1 전극과 전기적으로 연결되는 제1 도전층;
상기 제2 전극과 전기적으로 연결되는 제2 도전층; 및
상기 제2 전극과 상기 제2 도전층 사이에 배치되는 커버층을 포함하고,
상기 커버층은 평면상 상기 복수 개의 리세스 사이로 연장되어 상기 복수 개의 리세스를 각각 둘러싸는 발광소자.
According to claim 1,
A first conductive layer electrically connected to the first electrode;
A second conductive layer electrically connected to the second electrode; And
And a cover layer disposed between the second electrode and the second conductive layer,
The cover layer extends between the plurality of recesses on a plane, and surrounds the plurality of recesses, respectively.
제6항에 있어서,
상기 제2 도전형 반도체층은 상기 도전성 기판을 향해 돌출된 돌출부 및 상기 돌출부와 상기 리세스 사이에 배치되는 평탄부를 포함하는 발광소자.
The method of claim 6,
The second conductivity-type semiconductor layer is a light emitting device including a protrusion protruding toward the conductive substrate and a flat portion disposed between the protrusion and the recess.
제7항에 있어서,
상기 돌출부는 평면상 상기 복수 개의 리세스 사이로 연장되어 상기 복수 개의 리세스를 각각 둘러싸는 발광소자.
The method of claim 7,
The protruding portion extends between the plurality of recesses on a plane and surrounds the plurality of recesses, respectively.
제7항에 있어서,
상기 돌출부와 평탄부의 면적비는 1: 2.7 내지 1: 4.7인 발광소자.
The method of claim 7,
The area ratio of the protrusion and the flat portion is 1: 2.7 to 1: 4.7.
제7항에 있어서,
상기 돌출부와 상기 평탄부의 두께비는 1: 0.16 내지 1:0.75인 발광소자.
The method of claim 7,
The thickness ratio of the protrusion and the flat portion is 1: 0.16 to 1: 0.75.
제7항에 있어서,
상기 커버층과 상기 제2 도전층 사이에는 금속결합층이 형성되고,
상기 금속결합층은 상기 돌출부의 측면으로 연장되는 발광소자.
The method of claim 7,
A metal bonding layer is formed between the cover layer and the second conductive layer,
The metal coupling layer is a light emitting device extending to the side of the protrusion.
제6항에 있어서,
상기 제2 전극은 ITO를 포함하고,
상기 커버층은 Cr, Ni, Au, Ti 중 적어도 하나를 포함하는 발광소자.
The method of claim 6,
The second electrode includes ITO,
The cover layer is a light emitting device comprising at least one of Cr, Ni, Au, Ti.
제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 배치되는 활성층을 포함하고, 상기 제2 도전형 반도체층, 상기 활성층, 및 상기 제1 도전형 반도체층의 일부까지 관통하는 복수 개의 리세스를 포함하는 발광 구조물;
상기 복수 개의 리세스 내에 배치되어 상기 제1 도전형 반도체층과 전기적으로 연결되는 복수 개의 제1 전극; 및
상기 제2 도전형 반도체층과 전기적으로 연결되는 복수 개의 제2 전극을 포함하고,
상기 제1 전극과 상기 제2 전극의 직경비는 1: 12 내지 1:0.76이고,
상기 제1 전극과 상기 제2 전극의 면적비는 1: 1.1 내지 1:1.4인 발광소자.
A first conductive type semiconductor layer, a second conductive type semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductive type semiconductor layer and the second conductive type semiconductor layer, wherein the second conductive type semiconductor layer, the active layer, And a plurality of recesses penetrating through a portion of the first conductivity type semiconductor layer.
A plurality of first electrodes disposed in the plurality of recesses and electrically connected to the first conductive type semiconductor layer; And
And a plurality of second electrodes electrically connected to the second conductivity type semiconductor layer,
The diameter ratio of the first electrode and the second electrode is 1: 12 to 1: 0.76,
An area ratio of the first electrode and the second electrode is 1: 1.1 to 1: 1.4.
제13항에 있어서,
상기 제1 전극과 전기적으로 연결되는 제1 도전층;
상기 제2 전극과 전기적으로 연결되는 제2 도전층; 및
상기 제2 전극과 상기 제2 도전층 사이에 배치되는 커버층을 포함하는 발광소자.
The method of claim 13,
A first conductive layer electrically connected to the first electrode;
A second conductive layer electrically connected to the second electrode; And
A light emitting device including a cover layer disposed between the second electrode and the second conductive layer.
제14항에 있어서,
상기 제2 도전형 반도체층은 상기 도전층을 향해 돌출된 돌출부 및 상기 돌출부와 상기 리세스 사이에 배치되는 평탄부를 포함하고,
상기 돌출부는 평면상 상기 복수 개의 리세스 사이로 연장되어 상기 복수 개의 리세스를 각각 둘러싸는 발광소자.
The method of claim 14,
The second conductivity-type semiconductor layer includes a protrusion projecting toward the conductive layer and a flat part disposed between the protrusion and the recess,
The protruding portion extends between the plurality of recesses on a plane and surrounds the plurality of recesses, respectively.
KR1020180133792A 2018-11-02 2018-11-02 Light emitting device KR20200050766A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180133792A KR20200050766A (en) 2018-11-02 2018-11-02 Light emitting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180133792A KR20200050766A (en) 2018-11-02 2018-11-02 Light emitting device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20200050766A true KR20200050766A (en) 2020-05-12

Family

ID=70679658

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180133792A KR20200050766A (en) 2018-11-02 2018-11-02 Light emitting device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20200050766A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10593838B2 (en) Semiconductor device
EP3474337A1 (en) Semiconductor device
US10868228B2 (en) Semiconductor device
US11227973B2 (en) Semiconductor device
US11075321B2 (en) Semiconductor device
KR102656815B1 (en) Smeiconductor device
KR20190116827A (en) Semiconductor device
KR102478996B1 (en) Semiconductor divece and package including same
EP3490012B1 (en) Semiconductor device
KR20200086488A (en) Light emitting device
KR102608517B1 (en) Semiconductor device
KR102648472B1 (en) Semiconductor device and semiconductor device package including the same
KR20200092694A (en) Semiconductor device
KR20200050766A (en) Light emitting device
KR20200050763A (en) Light emitting device
KR102631075B1 (en) Smeiconductor device
KR102603255B1 (en) Semiconductor device
KR20180025733A (en) Semiconductor device and semiconductor device package including the same
US11437555B2 (en) Semiconductor device
KR102628787B1 (en) Light emitting device
KR102430086B1 (en) Semiconductor device
US20210273136A1 (en) Semiconductor device
KR20200048778A (en) Light emitting device
KR20200044467A (en) Semiconductor devie
KR20200087576A (en) Semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
E902 Notification of reason for refusal
E90F Notification of reason for final refusal