KR20200018274A - Liquid ejection device, cleaning apparatus and cleaning method for module substrate - Google Patents

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KR20200018274A
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노리야스 하세가와
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Abstract

Provided are a liquid discharge device, a module substrate cleaning apparatus and a cleaning method, which can remove foreign substances on a surface of a discharge opening part and in a flowing path connected to the discharge opening part. To this end, the surface of the discharge opening part is covered by liquid, cleaning is implemented by driving the device formed to vibrate the liquid, and then the liquid is collected.

Description

액체 토출 디바이스, 모듈 기판의 세정 장치 및 세정 방법{LIQUID EJECTION DEVICE, CLEANING APPARATUS AND CLEANING METHOD FOR MODULE SUBSTRATE}Liquid discharge device, cleaning device and module cleaning method for module substrate {LIQUID EJECTION DEVICE, CLEANING APPARATUS AND CLEANING METHOD FOR MODULE SUBSTRATE}

본 발명은 임프린트 재료(imprint material)를 토출하기 위한 액체 토출 디바이스, 모듈 기판을 세정하기 위한 세정 장치, 및 모듈 기판의 세정 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid discharge device for discharging an imprint material, a cleaning apparatus for cleaning a module substrate, and a cleaning method for a module substrate.

일본 특허 공개 제2015-120332호에서, 토출 개구부의 근접부 내에서 고착물을 수집하기 위한 방법이 개시되며, 여기에서, 액체를 이동시키도록 구성된 디바이스로서, 액체를 토출 개구부 면과 액체-유지 부분의 하나의 표면 사이에서 유지하며 토출 개구부 면을 따라서 이동시키는 디바이스가 토출 개구부 면 상에서 액체를 흡인하고 이동시키고, 액체를 수집하도록 구성된 디바이스가 액체를 수집한다.In Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2015-120332, a method for collecting a deposit in the vicinity of a discharge opening is disclosed, wherein the device is configured to move the liquid, whereby the liquid is discharged and the liquid-retaining portion A device configured to hold and move liquid on the discharge opening face while holding between one surface of the device and collect the liquid.

[특허문헌 1] 일본 특허 공개 제2015-120332호[Patent Document 1] Japanese Patent Laid-Open No. 2015-120332

따라서, 본 발명의 액체 토출 디바이스는, 액체를 저장하기 위한 저장 용기; 저장 용기 내에 저장된 액체를 토출 개구부 면에 제공된 토출 개구부로부터 토출하는, 액체를 토출하도록 구성된 디바이스; 액체를 유지하도록 구성된 디바이스로서, 액체를 자신과 토출 개구부 면 사이에서 유지할 수 있는, 액체 유지 디바이스; 및 액체를 수집하도록 구성된 디바이스로서, 액체를 유지하도록 구성된 디바이스에 의해 유지되는 액체를 수집하는 액체 수집 디바이스를 포함하는 액체 토출 디바이스이고, 액체 토출 디바이스는 액체를 진동시키기 위한 액체 진동 디바이스를 더 포함하고, 이러한 액체 진동 디바이스는 액체 유지 디바이스에 의해 유지되는 액체를 진동시킨다.Thus, the liquid discharge device of the present invention comprises: a storage container for storing liquid; A device configured to discharge the liquid, which discharges the liquid stored in the storage container from the discharge opening provided in the discharge opening face; A device configured to hold a liquid, comprising: a liquid holding device capable of holding a liquid between itself and a discharge opening face; And a device configured to collect liquid, the liquid discharge device comprising a liquid collection device for collecting liquid held by the device configured to hold the liquid, the liquid discharge device further comprising a liquid vibration device for vibrating the liquid; This liquid vibration device vibrates the liquid held by the liquid holding device.

첨부된 도면을 참조한 예시적인 실시예에 관한 이하의 설명으로부터 본 발명의 추가적인 특징이 명확해질 것이다.Further features of the present invention will become apparent from the following description of exemplary embodiments with reference to the attached drawings.

도 1은 액체 토출 디바이스의 주요 부분의 구성을 보여주는 도면을 도시한다.
도 2a는 토출 부분 내에 남아 있는 토출물을 수집하기 위한 수집 유닛을 보여주는 개략도를 도시한다.
도 2b는 토출 부분 내에 남아 있는 토출물을 수집하기 위한 수집 유닛을 보여주는 개략도를 도시한다.
도 2c는 토출 부분 내에 남아 있는 토출물을 수집하기 위한 수집 유닛을 보여주는 개략도를 도시한다.
도 2d는 토출 부분 내에 남아 있는 토출물을 수집하기 위한 수집 유닛을 보여주는 개략도를 도시한다.
도 2e는 토출 부분 내에 남아 있는 토출물을 수집하기 위한 수집 유닛을 보여주는 개략도를 도시한다.
도 3은 토출 부분의 일부를 확대하여 보여주는 횡단면도를 도시한다.
도 4는 모듈 기판의 세정 공정의 흐름도를 도시한다.
도 5는 액체 토출 디바이스의 토출 부분 및 유지 부재를 보여주는 횡단면도를 도시한다.
도 6은 다른 실시예에 따른 액체 토출 디바이스의 토출 부분 및 유지 부재를 보여주는 횡단면도를 도시한다.
도 7은 토출 부분을 보여주는 횡단면도를 도시한다.
도 8은 모듈 기판 세정 장치를 보여주는 도면을 도시한다.
도 9는 세정 공정을 보여주는 흐름도를 도시한다.
도 10은 세정 공정을 보여주는 흐름도를 도시한다.
도 11은 토출 디바이스의 주요 부분의 구성을 보여주는 도면을 도시한다.
도 12는 세정 공정의 흐름도를 도시한다.
도 13은 모듈 기판 세정 장치를 보여주는 도면을 도시한다.
1 shows a view showing a configuration of a main part of a liquid discharge device.
2A shows a schematic diagram showing a collecting unit for collecting the discharge remaining in the discharge portion.
2B shows a schematic diagram showing a collecting unit for collecting the discharge remaining in the discharge portion.
2C shows a schematic view showing a collecting unit for collecting the discharge remaining in the discharge portion.
2D shows a schematic diagram showing a collecting unit for collecting the discharge remaining in the discharge portion.
2E shows a schematic view showing a collecting unit for collecting the discharge remaining in the discharge portion.
3 shows an enlarged cross sectional view of a part of the discharge portion.
4 shows a flowchart of a cleaning process of a module substrate.
5 shows a cross-sectional view showing the discharge portion and the holding member of the liquid discharge device.
6 shows a cross-sectional view showing a discharge portion and a holding member of a liquid discharge device according to another embodiment.
7 shows a cross-sectional view showing the discharge portion.
8 shows a diagram showing a module substrate cleaning apparatus.
9 shows a flow chart showing a cleaning process.
10 shows a flow chart showing a cleaning process.
11 shows a view showing a configuration of a main part of the discharge device.
12 shows a flowchart of a cleaning process.
13 shows a diagram showing a module substrate cleaning apparatus.

특허 문헌 1에 개시된 방법에서, 비록 토출 개구부 면에 고착된 이물질이 수집될 수 있지만, 토출 개구부와 연결된 유동 경로 내의 이물질은 제거되지 않을 수 있다.In the method disclosed in Patent Document 1, although foreign matters stuck to the ejection opening face can be collected, the foreign matter in the flow path connected with the ejection opening may not be removed.

따라서, 본 발명은, 토출 개구부 면 상의 그리고 토출 개구부와 연결된 유동 경로 내의 이물질을 제거할 수 있는, 액체 토출 디바이스, 모듈 기판의 세정 장치 및 세정 방법을 제공한다.Accordingly, the present invention provides a liquid discharge device, a cleaning apparatus for a module substrate, and a cleaning method capable of removing foreign matter on a discharge opening face and in a flow path connected to the discharge opening.

(제1 실시예)(First embodiment)

이하에서, 도면을 참조하여 제1 실시예를 설명할 것이다. 도 1은 액체 토출 디바이스(10)의 주요 부분의 구성을 보여주는 도면을 도시한다. 액체 토출 디바이스(10)는 주로 토출 부분(11), 저장 용기(12), 압력 제어 부분(13), 저장 용기(12) 내의 임프린트 재료와 같은 토출물(이하에서 또한 액체로 지칭됨)(8)을 순환시키기 위한 순환 부분(40), 및 제어기(60)를 포함한다. 액체 토출 디바이스(10)는 저장 용기(12) 내의 액체(8)를 토출 부분(11)의 모듈 기판(57)에 제공된 토출 개구부로부터 기판(4)으로 토출시킬 수 있다. 토출 개구부는 모듈 기판(57)의 토출 개구부 면(58)에 제공된다. 유체를 저장할 수 있는 저장 용기(12)의 내측부에서, 내측부 내의 공간을 분리하고 가요성 부재로 형성되는 분리 막(14)이 제공된다. 분리 막(14)은 바람직하게, 10 ㎛ 이상으로부터 200 ㎛ 이하의 두께를 가지며, 바람직하게, 액체 및 가스에 대한 낮은 투과성을 갖는 재료로 형성된다.In the following, a first embodiment will be described with reference to the drawings. 1 shows a view showing a configuration of a main part of the liquid discharge device 10. The liquid discharge device 10 mainly comprises discharges (hereinafter also referred to as liquids) 8, such as the discharge portion 11, the storage container 12, the pressure control portion 13, and the imprint material in the storage container 12. Circulating portion 40, and controller 60 to circulate. The liquid discharge device 10 can discharge the liquid 8 in the storage container 12 from the discharge opening provided in the module substrate 57 of the discharge portion 11 to the substrate 4. The discharge openings are provided on the discharge opening surface 58 of the module substrate 57. At the inner side of the storage container 12 capable of storing the fluid, a separation membrane 14 is provided which separates the space in the inner side and is formed of a flexible member. Separation membrane 14 is preferably formed of a material having a thickness of 10 µm or more to 200 µm or less and preferably having low permeability to liquids and gases.

분리 막(14)은 PFA와 같은 플루오로카본 수지 재료의 필름, 또는 플루오로카본 수지 재료 및 플라스틱 재료를 조합함으로써 얻어지는 복합 다층 필름으로 형성될 수 있다. 분리 막(14)으로 분할되는 저장 용기(12)의 제1 저장 부분(15)에 액체(8)가 저장되고, 다른 제2 저장 부분(16)에 충진 액체가 저장된다. 제1 저장 부분(15)은 분리 막(14)으로 제2 저장 부분(16)으로부터 분리된다. 제2 저장 부분(16)은 연결 파이프(17)로 압력 제어 부분(13)과 연결되고, 제1 저장 부분(15)은 토출 부분(11)과 연결된다.The separation membrane 14 may be formed of a film of a fluorocarbon resin material such as PFA, or a composite multilayer film obtained by combining a fluorocarbon resin material and a plastic material. The liquid 8 is stored in the first storage part 15 of the storage container 12, which is divided into the separation membrane 14, and the filling liquid is stored in the other second storage part 16. The first storage portion 15 is separated from the second storage portion 16 by a separation membrane 14. The second storage part 16 is connected to the pressure control part 13 by a connecting pipe 17, and the first storage part 15 is connected to the discharge part 11.

압력 제어 부분(13)은 충진 액체 탱크, 파이프 배열체, 압력 센서, 펌프, 밸브 등을 포함하고, 제2 저장 부분(16) 내측의 압력을 제어할 수 있도록 구성된다. 제2 저장 부분(16) 내의 충진 액체의 압력을 압력 제어 부분(13)으로 제어하는 것에 의해, 제1 저장 부분(15) 내의 액체(8)의 압력이 분리 막(14)을 통해서 제어될 수 있다. 결과적으로, 토출 부분(11) 내의 가스-액체 계면의 형상을 안정화시킬 수 있고, 충분한 재현가능성으로 액체(8)를 토출할 수 있다.The pressure control portion 13 comprises a filling liquid tank, a pipe arrangement, a pressure sensor, a pump, a valve and the like, and is configured to be able to control the pressure inside the second storage portion 16. By controlling the pressure of the filling liquid in the second storage portion 16 to the pressure control portion 13, the pressure of the liquid 8 in the first storage portion 15 can be controlled through the separation membrane 14. have. As a result, the shape of the gas-liquid interface in the discharge portion 11 can be stabilized, and the liquid 8 can be discharged with sufficient reproducibility.

순환 부분(40)은, 저장 용기(12)의 외부 측면 상에서, 양 단부에서 저장 용기(12)와 연결된 통로(45)가 제공되도록 하고 필터(41) 및 펌프(44)가 통로(45)에 대해서 배열되도록 하는 구성을 갖는다. 순환 부분(40)은 저장 용기(12)의 제1 저장 부분(15)과 연결되고, 통로(45)는 제1 저장 부분(15) 내로 개방된 제1 개구부(43) 및 제2 개구부(42)를 통해서 제1 저장 부분(15)과 연통된다. 제1 개구부(43)는 제1 저장 부분(15) 내의 액체(8)를 통로(45)의 내측에 공급하기 위한 개구부이고, 제2 개구부(42)는 액체(8) - 이 액체(8)는 제1 개구부(43)로부터 통로(45)에 공급된 것임 - 를 제1 저장 부분(15)에 다시 공급하기 위한 개구부이다. 펌프(44) 및 액체(8)를 여과하기 위한 필터(41)가, 제1 개구부(43)와 제2 개구부(42)를 연결하는 통로(45)에 배열된다. 펌프(44)로부터의 분진 방출로 인한 액체(8)에서의 이물질 발생 가능성이 있는 경우를 고려하면, 액체(8)가 제1 개구부(43)로부터 제2 개구부(42)로 유동될 때, 필터(41)는 바람직하게 펌프(44) 하류측의 위치에 배열된다.Circulating portion 40 allows passage 45 connected to storage vessel 12 at both ends, on the outer side of storage vessel 12, and filter 41 and pump 44 to passage 45. Have a configuration such that The circulation portion 40 is connected with the first storage portion 15 of the storage container 12, and the passage 45 is the first opening 43 and the second opening 42 opened into the first storage portion 15. Is communicated with the first storage portion 15. The first opening 43 is an opening for supplying the liquid 8 in the first storage portion 15 to the inside of the passage 45, and the second opening 42 is the liquid 8-this liquid 8. Is an opening for supplying the first storage portion 15 back to the passage 45 from the first opening 43. A filter 41 for filtering the pump 44 and the liquid 8 is arranged in the passage 45 connecting the first opening 43 and the second opening 42. Considering the possibility of foreign matter generation in the liquid 8 due to dust emission from the pump 44, when the liquid 8 flows from the first opening 43 to the second opening 42, the filter 41 is preferably arranged at a position downstream of the pump 44.

펌프(44)는 바람직하게 통로(45)의 통로 내에 제공되나, 통로(45)의 외측에 제공될 수도 있다. 펌프(44)가 구동될 때, 제1 저장 부분(15) 내측에 저장된 액체(8)가 제1 개구부(43)로부터 통로(45)에 공급된다. 제1 개구부(43)로부터 공급된 액체(8)는 통로 내측의 필터(41)를 통과하고 여과되며, 그 후에 제2 개구부(42)를 통해서 제1 저장 부분(15)의 내측으로 복귀된다. 이어서, 이는 다시 제1 개구부(43)로부터 공급된다. 다시 말해서, 제1 저장 부분(15) 내측의 액체(8)는 순환으로 필터(41)에 의해 여과된다.The pump 44 is preferably provided in the passage of the passage 45, but may be provided outside the passage 45. When the pump 44 is driven, the liquid 8 stored inside the first storage portion 15 is supplied from the first opening 43 to the passage 45. The liquid 8 supplied from the first opening 43 passes through the filter 41 inside the passage and is filtered, and then returns to the inside of the first storage portion 15 through the second opening 42. Then it is supplied again from the first opening 43. In other words, the liquid 8 inside the first storage portion 15 is filtered by the filter 41 in a circulation.

도 2a 내지 도 2e는, 액체 토출 디바이스(10)를 위해서 제공된, 액체(8)를 수집하기 위한 수집 유닛(70)을 보여주는 개략도를 도시한다. 도 2a는, 토출 부분(11)이 수집 유닛(70)의 수집 부분(73)에 대면되는 상태에서 액체(8)가 액체-유지 부분(59)에 의해 유지되는 상태를 보여주는 도면을 도시한다. 액체-유지 부분(59)은, 토출 부분(11)의 토출 개구부 면(58)이 수집 부분(73)에 또는 대안적으로 흡인 부분(71)에 대면되는 부분이며, 여기에서 액체(8)는 액체 기둥을 형성하는 방식으로 유지된다. 액체 기둥은 토출 개구부 면(58)의 전체 표면 상에 형성된다. 수집 유닛(70)은 액체를 유지할 수 있고, 수집을 실시할 수 있는 수집 부분(73), 수집 부분(73)과 연통되는 수집 유동 경로(74), 액체를 흡인할 수 있는 흡인 부분(71), 및 흡인 부분(71)과 연통되는 흡인 유동 경로(72)를 포함한다.2A-2E show schematic diagrams showing a collection unit 70 for collecting liquid 8, which is provided for the liquid discharge device 10. FIG. 2A shows a view showing a state in which the liquid 8 is held by the liquid-holding portion 59 in a state where the discharge portion 11 faces the collecting portion 73 of the collecting unit 70. The liquid-holding portion 59 is a portion where the discharge opening face 58 of the discharge portion 11 faces the collecting portion 73 or alternatively the suction portion 71, where the liquid 8 is It is maintained in a way to form a liquid column. The liquid column is formed on the entire surface of the discharge opening face 58. The collection unit 70 can hold a liquid and can collect the collection portion 73, a collection flow path 74 in communication with the collection portion 73, and a suction portion 71 that can suck the liquid. And a suction flow path 72 in communication with the suction portion 71.

또한, 수집 유닛(70)은, 수집 부분(73)과 연통되는 유동 경로와 흡인 부분(71)과 연통되는 유동 경로 사이의 스위칭을 위한 3-방향 밸브(75), 수집 부분(73) 및 흡인 부분(71)을 위한 음압을 생성하기 위한 음압-생성 메커니즘(76), 및 음압-생성 메커니즘(76)을 제어하기 위한 제어기(77)를 포함한다. 또한, 수집 유닛(70)은, 필요에 따라, 수집 부분(73) 및 흡인 부분(71)을 상승 및 하강시키기 위한 승강 부분(26), 수집 부분(73) 및 흡인 부분(71)을 이동시키기 위한 이동 부분(78), 및 수집 부분(73) 및 흡인 부분(71)으로부터 수집된 액체(8)를 저장하기 위한 저장 용기(79)를 포함한다.The collection unit 70 also includes a three-way valve 75, a collection portion 73 and a suction for switching between the flow path in communication with the collection portion 73 and the flow path in communication with the suction portion 71. A sound pressure-generating mechanism 76 for generating sound pressure for the portion 71, and a controller 77 for controlling the sound pressure-generating mechanism 76. In addition, the collection unit 70 moves the lifting portion 26, the collecting portion 73, and the suction portion 71 to raise and lower the collecting portion 73 and the suction portion 71 as necessary. Moving portion 78, and a storage container 79 for storing the liquid 8 collected from the collecting portion 73 and the suction portion 71.

토출 부분(11)의 토출 개구부 면(58)은 수집 부분(73) 및 흡인 부분(71) 모두와 접촉되지 않는다. 수집 유닛(70)은 이동 부분(78)에 의해 X 방향으로 왕복될 수 있고, 액체(8)를 유지, 수집 및 흡인하기 위해서 토출 부분(11)의 토출 개구부 면(58)에 대면되는 위치까지 이동될 수 있다. 또한, 필요에 따라, 승강 부분(26)을 이용하여 수집 부분(73) 또는 흡인 부분(71)을 Z 방향으로 이동시킴으로써, 토출 부분(11)에 대한 배치가 실시될 수 있다.The discharge opening face 58 of the discharge portion 11 is not in contact with both the collection portion 73 and the suction portion 71. The collection unit 70 can be reciprocated in the X direction by the moving portion 78 and up to a position facing the discharge opening face 58 of the discharge portion 11 for retaining, collecting and sucking the liquid 8. Can be moved. Further, if necessary, the arrangement with respect to the discharge portion 11 can be performed by moving the collecting portion 73 or the suction portion 71 in the Z direction using the lifting portion 26.

이러한 실시예의 액체 토출 디바이스(10)에서, 수집 유닛(70)의 수집 부분(73)은 복수의 빗살-유사 수집 부분(comb tooth-like collecting portion)(731)을 구비하고, 복수의 빗살-유사 수집 부분(731)은 미리 결정된 공간을 두고 통(bucket)(732) 내에 배치된다. 통(732)은, 통(732)의 내측을 수집 유동 경로(74)와/수집 유동 경로로부터 연통/차단시킬 수 있는 밸브(733)를 구비한다.In the liquid discharge device 10 of this embodiment, the collecting portion 73 of the collecting unit 70 has a plurality of comb tooth-like collecting portions 731 and a plurality of comb-like The collecting portion 731 is disposed within the bucket 732 with a predetermined space. The bin 732 has a valve 733 that can communicate / disconnect the inside of the bin 732 from the collection flow path 74 and / or the collection flow path.

도 2b는 복수의 빗살-유사 수집 부분(731) 중의 임의의 빗살-유사 수집 부분(731)을 보여주는 도면을 도시한다. 빗살-유사 수집 부분(731)에 대해서 빗살-유사 처리를 실시하였고, 빗살-유사 수집 부분(731)은 미리 결정된 공간을 두고 제공된 복수의 빗살을 구비한다. 빗살들 사이의 공간은 바람직하게 사용 액체의 점도에 따라서 설정된다. 수집 유닛(70)의 수집 부분(73)은, 토출 개구부 면(58)에 대면되는 것의 결과로서, 액체-유지 부분(59)을 형성한다. 액체-유지 부분(59)에서, 액체(8)는 모세관 작용에 의해 빗살-유사 수집 부분(731) 사이에서 그리고 빗살들 사이에서 유지된다. 액체는 점도를 가지며, 액체-유지 부분(59) 내에서, 액체(8)는 수집 부분(73)과 토출 부분(11) 사이에서 액체 기둥으로서 유지될 수 있다.FIG. 2B shows a diagram showing any comb-like collection portion 731 of a plurality of comb-like collection portions 731. The comb-like collection part 731 was subjected to the comb-like collection part 731, and the comb-like collection part 731 has a plurality of comb teeth provided with a predetermined space. The space between the combs is preferably set according to the viscosity of the liquid used. The collecting portion 73 of the collecting unit 70 forms a liquid-holding portion 59 as a result of facing the discharge opening face 58. In the liquid-retaining portion 59, the liquid 8 is held between the comb-like collection portions 731 and between the combs by capillary action. The liquid has a viscosity, and within the liquid-holding portion 59, the liquid 8 can be held as a liquid column between the collecting portion 73 and the discharge portion 11.

액체(8)가 유지될 때, 밸브(733)가 폐쇄되고 수집 부분(73)이 토출 개구부 면(58)에 대면되게 배열되며, 제2 저장 부분(16) 내의 충진 액체의 압력은 압력 제어 부분(13)으로 제어되며, 제1 저장 부분(15) 내의 액체(8)는 분리 막(14)을 통해서 토출 부분(11)으로부터 외측으로 밀리고, 액체(8)는 액체-유지 부분(59)에 의해 유지된다. 한편, 후술되는 에너지-생성 요소로, 액체(8)를 토출 부분(11)으로부터 토출시킬 수 있고, 그에 따라 액체(8)로 액체-유지 부분(59)을 충진할 수 있고 그러한 액체를 유지할 수 있다.When the liquid 8 is held, the valve 733 is closed and the collecting portion 73 is arranged facing the discharge opening face 58, and the pressure of the filling liquid in the second storage portion 16 is controlled by the pressure control portion. Controlled by (13), the liquid 8 in the first storage portion 15 is pushed outward from the discharge portion 11 through the separation membrane 14, and the liquid 8 in the liquid-retaining portion 59 Is maintained by. On the other hand, with the energy-generating element described below, it is possible to discharge the liquid 8 from the discharge portion 11, and thus to fill the liquid-holding portion 59 with the liquid 8 and to maintain such liquid. have.

도 2c는, 액체-유지 부분(59)에 의해 유지되는 액체가 수집되는 상황을 보여주는 도면을 도시한다. 액체 토출 디바이스(10) 내에서, 액체가 액체-유지 부분(59)에 의해 유지되는 상태에서, 모듈 기판(57) 내의 유동 경로 내의 이물질을 제거하기 위한 세정이 실시된다. 이러한 모듈 기판(57)을 위한 세정은 후술될 것이다. 모듈 기판(57)을 위한 세정 후에, 액체-유지 부분(59)에 의해 유지되는 액체(8)는 음압-생성 메커니즘(76)의 작용에 의해 수집 부분(73)과 연통되는 수집 유동 경로(74)를 통해서 수집되고, 저장 용기(79) 내에 저장된다. 액체-유지 부분(59)에 의해 유지되는 액체(8)를 수집하기 위해서, 첫 번째로, 통(732)에 제공된 밸브(733)가 개방되고, 음압-생성 메커니즘(76)으로 인한 음압이 수집 부분(73)에 작용하도록 3-방향 밸브(75)가 스위칭된다. 그 후에, 음압-생성 메커니즘(76)을 구동시킴으로써, 음압이 수집 부분(73)에 인가되어, 액체-유지 부분(59)에 의해 유지되는 액체(8)를 수집할 수 있게 하고 그러한 액체를 저장 용기(79) 내에 저장할 수 있게 한다.FIG. 2C shows a view showing a situation in which the liquid held by the liquid-holding portion 59 is collected. In the liquid discharge device 10, a cleaning is performed to remove foreign matter in the flow path in the module substrate 57, with the liquid held by the liquid-holding portion 59. Cleaning for such a module substrate 57 will be described later. After cleaning for the module substrate 57, the liquid 8 held by the liquid-holding portion 59 communicates with the collecting flow path 74 in communication with the collecting portion 73 by the action of the negative pressure-generating mechanism 76. ) And stored in storage container 79. In order to collect the liquid 8 held by the liquid-holding portion 59, firstly, the valve 733 provided in the keg 732 is opened and the negative pressure due to the negative pressure-generating mechanism 76 is collected. The three-way valve 75 is switched to act on the portion 73. Thereafter, by driving the negative pressure-generating mechanism 76, a negative pressure is applied to the collecting portion 73 to enable the collection of the liquid 8 held by the liquid-holding portion 59 and to store such liquid. To be stored in the container 79.

이러한 실시예에서, 액체-유지 부분(59)으로부터 복수의 빗살-유사 수집 부분(731)을 이용함으로써, 액체 기둥-유사 액체(8) 및 복수의 빗살-유사 수집 부분(731) 사이의 액체(8)가 수집될 때, 음압을 대략적으로 동시에 많은 양의 유지 액체(8)에 인가할 수 있고 짧은 기간 내에 액체(8)를 수집할 수 있다.In this embodiment, by using the plurality of comb-like collection portions 731 from the liquid-holding portion 59, the liquid between the liquid column-like liquid 8 and the plurality of comb-like collection portions 731 ( When 8) is collected, the negative pressure can be applied to a large amount of holding liquid 8 at about the same time and the liquid 8 can be collected within a short period of time.

도 2d는 흡인 부분(71)으로 토출 개구부 면(58) 상에 남아 있는 액체(8)를 흡인하는 상황을 보여주는 도면을 도시한다. 흡인 부분(71) 및 수집 부분(73) 중에서, 흡인 부분(71)은 개구부 직경을 갖고, 흡인 부분(71)은 수집 부분(73)보다 효과적으로 토출 개구부 면(58)으로부터 액체(8)를 흡인할 수 있다. 액체-유지 부분(59)에 의해 유지되는 액체(8)를 수집 부분(73)으로 수집한 후에, 수집 부분(73)으로 완전히 수집되지 않은 액체(8)가 고착 상태로 토출 개구부 면(58) 상에 남을 수 있다. 액체(8)가 이러한 방식으로 토출 개구부 면(58) 상에 남는 경우에, 흡인 부분(71)은, 도 2d에서와 같이, 토출 부분(11)에 대면되는 위치로 이동되고, 음압-생성 메커니즘(76)으로 인한 음압이 흡인 부분(71)에 작용하도록 3-방향 밸브(75)가 스위칭된다. 그 후에, 음압-생성 메커니즘(76)을 구동시킴으로써, 음압을 흡인 부분(71)에 인가할 수 있고, 토출 개구부 면(58) 상에 남아 있는 액체(8)를 흡인할 수 있고, 그러한 액체를 저장 용기(79) 내에 저장할 수 있다. 결과적으로, 토출 개구부 면(58) 상의 액체(8)가 수집될 수 있다.FIG. 2D shows a view showing a situation in which the liquid 8 remaining on the discharge opening face 58 is sucked into the suction portion 71. Of the suction portion 71 and the collection portion 73, the suction portion 71 has an opening diameter, and the suction portion 71 sucks the liquid 8 from the discharge opening surface 58 more effectively than the collecting portion 73. can do. After collecting the liquid 8 held by the liquid-holding portion 59 into the collecting portion 73, the liquid 8, which has not been completely collected into the collecting portion 73, adheres to the discharge opening face 58. May remain on the phase. In the case where the liquid 8 remains on the discharge opening face 58 in this manner, the suction portion 71 is moved to a position facing the discharge portion 11, as in FIG. 2D, and the negative pressure-generating mechanism The three-way valve 75 is switched so that the negative pressure due to 76 acts on the suction portion 71. Thereafter, by driving the negative pressure-generating mechanism 76, the negative pressure can be applied to the suction portion 71, and the liquid 8 remaining on the discharge opening face 58 can be sucked, and the liquid Can be stored in storage container 79. As a result, the liquid 8 on the discharge opening face 58 can be collected.

한편, 또한, 토출 개구부 면(58)과 흡인 부분(71) 사이에 액체 기둥을 형성할 수 있고, 승강 부분(26)을 이용하여 흡인 부분(71)을 Z 방향으로 이동시킴으로써 그리고 토출 개구부 면(58)으로부터의 거리를 미리 결정된 거리로 설정함으로써, 도 2e에 도시된 바와 같이, 액체(8)를 유지할 수 있다. 토출 개구부 면(58)에 대면되는 흡인 부분(71)의 표면은 토출 개구부 면(58)에 대면되는 수집 부분(73)의 표면보다 작게 설정되고, 그에 따라 흡인 부분(71)은 수집 부분(73)에 비해서 더 좁은 액체 기둥을 형성할 수 있고, 토출 개구부 면(58)을 위한 액체 기둥을 부분적으로(일부) 형성할 수 있다. 따라서, 모듈 기판(57)이 부분적으로 세정되는 경우에, 흡인 부분(71)으로 액체 기둥을 형성하는 것이 더 효과적인 세정을 실시할 수 있다.On the other hand, it is also possible to form a liquid column between the discharge opening surface 58 and the suction portion 71, and by using the lifting portion 26 to move the suction portion 71 in the Z direction and the discharge opening surface ( By setting the distance from 58 to a predetermined distance, the liquid 8 can be held, as shown in FIG. 2E. The surface of the suction portion 71 facing the discharge opening surface 58 is set smaller than the surface of the collecting portion 73 facing the discharge opening surface 58, whereby the suction portion 71 is the collection portion 73. It is possible to form a narrower liquid column as compared to, and to form (partly) a liquid column for the discharge opening face 58. Therefore, in the case where the module substrate 57 is partially cleaned, forming a liquid column with the suction portion 71 can perform more effective cleaning.

도 3은 토출 부분(11)의 일부를 확대하여 보여주는 횡단면도를 도시한다. 토출 부분(11)은 공통 액체 챔버(56) 및 모듈 기판(57)을 포함하고, 공통 액체 챔버(56) 내의 액체(8)를 모듈 기판(57)의 토출 개구부(19)로부터 토출할 수 있다. 모듈 기판(57)은 액체(8)를 모듈 기판(57)에 공급하기 위한 공급 개구부(21), 액체(8)를 토출하기 위한 토출 에너지를 생성하기 위한 에너지-생성 요소(18), 압력 챔버(20), 및 액체(8)를 토출할 수 있는 토출 개구부(19)를 포함한다. 토출 개구부(19)의 개구부 면적은 공급 개구부(21)의 개구부 면적보다 작고, 공급 개구부(21)로부터 토출 개구부(19)까지의 유동 경로 내에서 가장 작은 횡단면을 갖는다.3 shows an enlarged cross sectional view of a part of the discharge part 11. The discharge portion 11 includes a common liquid chamber 56 and a module substrate 57, and can discharge the liquid 8 in the common liquid chamber 56 from the discharge opening 19 of the module substrate 57. . The module substrate 57 includes a supply opening 21 for supplying the liquid 8 to the module substrate 57, an energy-generating element 18 for generating discharge energy for discharging the liquid 8, and a pressure chamber. 20 and a discharge opening 19 capable of discharging the liquid 8. The opening area of the discharge opening 19 is smaller than the opening area of the supply opening 21 and has the smallest cross section in the flow path from the supply opening 21 to the discharge opening 19.

액체(8)가 토출될 때, 구동원(미도시)으로 에너지-생성 요소(18)를 구동시킴으로써, 압력 챔버(20) 내의 액체(8)가 토출 개구부(19)로부터 토출된다. 에너지-생성 요소(18)으로서 사용되는 요소는 압전 요소 및 가열 저항기를 포함한다. 액체(8)에 대해 수지를 포함하는 것이 빈번하게 사용되기 때문에, 에너지-생성 요소(18)에 대해 압전 요소를 사용하는 것이 바람직하다는 것을 주목하여야 한다. 또한, 토출 부분(11)은 바람직하게 잉크젯 헤드 등을 위해서 이용되는 토출 헤드이다. 한편, 액체(8)의 공급 및 정지가 또한 제어 밸브 또는 기타를 이용하여 제어될 수 있다.When the liquid 8 is discharged, by driving the energy-generating element 18 with a drive source (not shown), the liquid 8 in the pressure chamber 20 is discharged from the discharge opening 19. The element used as the energy-generating element 18 includes a piezoelectric element and a heating resistor. It should be noted that it is desirable to use piezoelectric elements for the energy-generating element 18 since it is frequently used to include resins for the liquid 8. Further, the discharge portion 11 is preferably a discharge head used for an ink jet head or the like. On the other hand, the supply and stop of the liquid 8 can also be controlled using a control valve or the like.

이러한 실시예의 액체 토출 디바이스(10)에서, 모듈 기판(57)이 세정될 때, 도 2a에서와 같이, 액체 기둥을 형성하기 위해서 액체(8)로 액체-유지 부분(59)을 충진하는 것에 의해 액체(8)가 유지된다. 액체 기둥이 형성될 때, 전술한 바와 같이, 액체 기둥은 압력 제어 부분(13)에 의한 제어에 의해 형성될 수 있거나, 액체 기둥은 에너지-생성 요소(18)의 구동에 의해 형성될 수 있다. 이러한 실시예에서, 이러한 방식으로 액체 기둥을 형성하는 것에 의해 액체(8)를 유지하는 동안, 에너지-생성 요소(18)가 구동된다. 전술한 바와 같은 세정 시에 토출 개구부 면(58)이 액체 기둥에 의해 액체와 접촉되는 상태에서 에너지-생성 요소(18)를 구동시킴으로써, 토출 개구부(19) 부근에 위치된 유동 경로 내의 점도 증가 액체(8) 및 토출 개구부 면(58)에 고착된 이물질이 제거되고 수집될 수 있다. 이러한 원리에 대해서는 후술할 것이다.In the liquid discharge device 10 of this embodiment, when the module substrate 57 is cleaned, by filling the liquid-holding portion 59 with the liquid 8 to form a liquid column, as in FIG. 2A. The liquid 8 is retained. When the liquid column is formed, as described above, the liquid column may be formed by control by the pressure control portion 13, or the liquid column may be formed by driving the energy-generating element 18. In this embodiment, the energy-generating element 18 is driven while holding the liquid 8 by forming a liquid column in this manner. By driving the energy-generating element 18 in a state in which the discharge opening face 58 is in contact with the liquid by the liquid column during cleaning as described above, the viscosity increasing liquid in the flow path located near the discharge opening 19 8 and the foreign matter stuck to the ejection opening face 58 can be removed and collected. This principle will be described later.

액체 기둥의 형성의 결과로서, 토출 개구부 면(58)은 토출 개구부(19) 부근의 유동 경로 내의 점도 증가 액체와 접촉된다. 접촉이 실시될 때, 점도가 증가되지 않은 액체가, 액체 기둥 내의 액체로부터의 유동 경로 내의 점도 증가 액체에 공급되어 유동 경로 내의 액체의 점도를 감소시킨다. 결과적으로, 유동 경로 내의 액체의 점도가 증가된 상태가 완화된다. 액체 점도 증가의 원인은, 액체의 증발로 인한 액체 조성의 변화 및 액체의 중합으로 인한 겔화(gelation)를 포함할 수 있다. 그에 따라, 유동 경로 내의 액체의 점도가 증가된 상태의 완화는, 세정 액체로서, 많은 부피의 휘발성 성분을 포함하고 액체 조성의 변화로 인한 점도의 증가를 제공하지 않는 액체, 또는 점도 증가를 유발하는 성분이 제거된 액체를 이용하는 것에 의해 촉진될 수 있다.As a result of the formation of the liquid column, the discharge opening face 58 is in contact with the viscosity increasing liquid in the flow path near the discharge opening 19. When the contact is made, a liquid having no increased viscosity is supplied to the viscosity increasing liquid in the flow path from the liquid in the liquid column to reduce the viscosity of the liquid in the flow path. As a result, the increased viscosity of the liquid in the flow path is alleviated. The cause of the liquid viscosity increase may include a change in liquid composition due to evaporation of the liquid and gelation due to polymerization of the liquid. Thus, the relaxation of the increased viscosity of the liquid in the flow path is a cleaning liquid, which contains a large volume of volatile components and which does not provide an increase in viscosity due to a change in liquid composition, or which leads to an increase in viscosity. This can be facilitated by using a liquid from which the components have been removed.

예를 들어, 유동 경로의 일부 내의 액체의 점도가 증가될 때에도 다른 유동 경로 내의 액체의 점도가 증가되지 않는 경우가 있다. 그에 따라, 형성되는 액체 기둥은 점도가 증가되지 않은 액체를 포함한다. 이러한 방식으로 점도가 증가되지 않은 액체를 포함하는 액체 기둥과 유동 경로 내의 점도가 증가된 액체가 접촉하는 것의 결과로서, 증가된 점도의 상태가 완화된다. 점도 증가 상태가 이러한 방식으로 완화된 상태에서 에너지-생성 요소(18)로 액체 기둥을 형성하는 액체에 진동이 인가될 때, 증가된 점도가 완화된 상태에 있고 더 용이하게 제거될 수 있는 액체가 유동 경로로부터 분리되고 토출 개구부(19)로부터 액체 기둥 내로 이동된다.For example, there is a case where the viscosity of the liquid in the other flow path does not increase even when the viscosity of the liquid in the part of the flow path increases. Thus, the liquid column formed contains a liquid whose viscosity is not increased. In this way, the state of the increased viscosity is alleviated as a result of the contact of the liquid column containing the liquid with no increased viscosity with the increased viscosity in the flow path. When vibration is applied to the liquid forming the column of liquid with the energy-generating element 18 with the viscosity increasing state relaxed in this way, the liquid with the increased viscosity in the relaxed state and which can be more easily removed It is separated from the flow path and moved from the discharge opening 19 into the liquid column.

또한, 압력 챔버(20)를 포함하는 유동 경로 내의 이물질이 또한 유동 경로로부터 분리되고 토출 개구부(19)로부터 액체 기둥 내로 이동된다. 또한, 토출 개구부 면(58)이 액체 기둥으로 인해서 액체와 접촉되는 결과로서, 토출 개구부 면(58)에 고착된 이물질이 또한 액체의 점도에 의해 토출 개구부 면(58)으로부터 분리되고 액체 기둥 내로 이동된다. 그 후에, 전술한 바와 같이, 음압-생성 메커니즘(76)의 작용에 의해 수집 부분(73)으로부터 액체 기둥으로서 유지되는 액체를 수집함으로써, 토출 개구부 면(58)에 고착된 이물질 및 점도가 증가된 유동 경로 내의 액체가 액체와 함께 제거될 수 있다.In addition, foreign matter in the flow path including the pressure chamber 20 is also separated from the flow path and moved from the discharge opening 19 into the liquid column. Further, as a result of the discharge opening face 58 being in contact with the liquid due to the liquid column, foreign matter stuck to the discharge opening face 58 is also separated from the discharge opening face 58 by the viscosity of the liquid and moved into the liquid column. do. Thereafter, as described above, by collecting the liquid held as the liquid column from the collecting portion 73 by the action of the negative pressure-generating mechanism 76, the foreign matter and the viscosity fixed to the discharge opening face 58 are increased. Liquid in the flow path may be removed with the liquid.

전술한 바와 같이, 이러한 실시예에서, 액체 기둥이 수집 부분(73)과 토출 개구부 면(58) 사이에 형성된 상태에서 에너지-생성 요소(18)를 구동시키는 동안 모듈 기판(57)의 세정이 실시되고, 그 후에 액체 기둥으로서 유지되는 액체(8)가 수집 부분(73)으로부터 수집된다.As described above, in this embodiment, cleaning of the module substrate 57 is carried out while driving the energy-generating element 18 with the liquid column formed between the collecting portion 73 and the discharge opening face 58. The liquid 8, which is then retained as a liquid column, is collected from the collecting portion 73.

도 4는 이러한 실시예의 액체 토출 디바이스(10) 내의 모듈 기판(57)에 대한 세정 공정의 흐름도를 도시한다. 이하에서, 이러한 흐름도로, 액체 토출 디바이스(10) 내의 모듈 기판(57)에 대한 세정 공정을 설명할 것이다. 한편, 세정 공정에서의 각각의 시퀀스의 제어는 액체 토출 디바이스 내에 설치된 CPU로 실시되나, 액체 토출 디바이스에 연결된 컴퓨터가 그러한 제어를 실시할 수 있다.4 shows a flowchart of a cleaning process for the module substrate 57 in the liquid discharge device 10 of this embodiment. In the following, with this flowchart, the cleaning process for the module substrate 57 in the liquid discharge device 10 will be described. On the other hand, the control of each sequence in the cleaning process is performed by a CPU provided in the liquid discharge device, but a computer connected to the liquid discharge device can perform such control.

모듈 기판(57)에 대한 세정 공정이 시작될 때, 제어기(60)는 S1에서 수집 유닛(70)을 이동시키고, 수집 부분(73)을 토출 개구부 면(58)에 대면되는 위치에 배열한다. 그 후에, S2에서, 제어기(60)는 액체(8)가 토출 부분(11)의 토출 개구부(19)로부터 토출되게 한다. 여기에서, 압력 제어 부분(13)이 제2 저장 부분(16) 내의 충진 액체의 압력을 제어하여, 액체(8)를 토출 부분(11)으로부터 외측으로 밀어낸다. 액체(8)를 밀어 내는 것에 의해, 액체-유지 부분(59)이 액체(8)로 충진되고, 액체 기둥이 액체-유지 부분(59) 내에 형성된다. 이러한 상태에서, 액체-유지 부분(59) 내에, 그리고 토출 개구부(19)로부터 토출 개구부(19)까지 모듈 기판(57)의 내측에 그리고 압력 챔버(20)를 포함하는 공급 개구부(21)까지 유동 경로의 내측에 형성된 액체 기둥이 액체(8)로 충진되는 상태가 제공된다. 또한, 토출 개구부 면(58)과 액체 기둥의 접촉의 결과로서, 토출 개구부 면(58)에 고착된 이물질은 액체(8)의 점도로 인해서 액체 기둥 내로 이동된다.When the cleaning process for the module substrate 57 is started, the controller 60 moves the collection unit 70 at S1 and arranges the collection portion 73 at a position facing the discharge opening face 58. After that, in S2, the controller 60 causes the liquid 8 to be discharged from the discharge opening 19 of the discharge portion 11. Here, the pressure control part 13 controls the pressure of the filling liquid in the second storage part 16 to push the liquid 8 outward from the discharge part 11. By pushing the liquid 8, the liquid-holding portion 59 is filled with the liquid 8, and a liquid column is formed in the liquid-holding portion 59. In this state, flow into the liquid-holding portion 59 and from the discharge opening 19 to the discharge opening 19 inside the module substrate 57 and to the supply opening 21 including the pressure chamber 20. A state in which a liquid column formed inside the passage is filled with liquid 8 is provided. Further, as a result of the contact of the discharge opening face 58 with the liquid column, foreign matter stuck to the discharge opening face 58 is moved into the liquid column due to the viscosity of the liquid 8.

다음에, S3에서, 제어기(60)는, 토출 개구부(19) 및 유동 경로의 내측부를 세정하기 위한 미리 결정된 기간 동안 에너지-생성 요소(18)를 구동시킨다. 이러한 세정은 토출 개구부(19)를 통해서 유동 경로 내의 이물질을 액체 기둥의 내측으로 이동시킨다. 그 후에, S4에서, 제어기(60)는, 액체 기둥을 형성하는 액체(8)가, 음압-생성 메커니즘(76)의 작용으로 인해서, 통(732) 및 수집 유동 경로(74)를 통해서 액체-유지 부분(59)으로부터 수집되게 하고, 모듈 기판(57)을 위한 세정 공정이 종료된다.Next, in S3, the controller 60 drives the energy-generating element 18 for a predetermined period for cleaning the discharge opening 19 and the inner side of the flow path. This cleaning moves foreign matter in the flow path through the discharge opening 19 to the inside of the liquid column. Then, in S4, the controller 60 causes the liquid 8, which forms the liquid column, to pass through the keg 732 and the collection flow path 74 due to the action of the negative pressure-generating mechanism 76. After being collected from the retaining portion 59, the cleaning process for the module substrate 57 is finished.

S4에서 액체(8)를 수집한 후에 액체(8)가 토출 개구부 면(58) 상에 남아 있는 경우에, S4 후에, 수집 유닛(70)은 흡인 부분(71)이 토출 개구부 면(58)에 대면되는 위치로 이동되고, 흡인 부분(71)은 토출 개구부 면(58) 상에 남아 있는 액체(8)를 흡인한다는 것을 주목하여야 한다.In the case where the liquid 8 remains on the discharge opening face 58 after collecting the liquid 8 in S4, after S4, the collection unit 70 has a suction portion 71 at the discharge opening face 58. It should be noted that the moving portion 71 is moved to the facing position, and the suction portion 71 sucks the liquid 8 remaining on the discharge opening face 58.

이러한 실시예에서와 같이, 액체-유지 부분(59) 내에서 액체 기둥을 형성함으로써 액체(8)를 유지하는 동안 에너지-생성 요소(18)를 구동시키는 것 그리고 세정을 실시하는 것에 의해, 토출 개구부 면(58) 상의 그리고 토출 개구부(19) 내의 그리고 압력 챔버(20)를 포함하는 유동 경로 내의 이물질이 제거될 수 있다.As in this embodiment, by opening the energy-generating element 18 while holding the liquid 8 by forming a liquid column in the liquid-holding portion 59 and by performing cleaning, the discharge opening Foreign matter on the face 58 and in the discharge opening 19 and in the flow path including the pressure chamber 20 can be removed.

한편, 이러한 실시예에서, 세정시 에너지-생성 요소(18)를 구동시킴으로써 토출 개구부(19) 내의 그리고 유동 경로 내의 액체(8)를 진동시키는 것에 의해 세정이 실시되지만, 이러한 것은 제한적인 것이 아니다. 즉, 액체를 진동시키도록 구성된 디바이스로 액체(8)에 진동을 제공하는 동안 세정이 실시될 수 있고, 그러한 디바이스는 진동을 유동 경로 내의 액체에 직접적으로 또는 간접적으로 인가한다. 여기에서, "진동을 간접적으로 인가하는, 액체를 진동시키도록 구성된 디바이스"는 액체 기둥을 통해서 외측으로부터 진동을 인가하는 것을 포함한다. 또한, 토출 부분(11)은, 에너지-생성 요소(18) 이외의, 액체를 진동시키도록 구성된 디바이스를 구비할 수 있다. 예를 들어, 초음파 발생기 등이 액체를 진동시키도록 구성된 디바이스로서 이용될 수 있다.On the other hand, in this embodiment, the cleaning is performed by vibrating the liquid 8 in the discharge opening 19 and in the flow path by driving the energy-generating element 18 in the cleaning, but this is not limiting. That is, cleaning may be performed while providing vibration to the liquid 8 with a device configured to vibrate the liquid, which device applies the vibration directly or indirectly to the liquid in the flow path. Here, “a device configured to vibrate liquid, which indirectly applies vibration” includes applying vibration from the outside through the liquid column. The discharge portion 11 may also have a device configured to vibrate the liquid, in addition to the energy-generating element 18. For example, an ultrasonic generator or the like can be used as the device configured to vibrate the liquid.

또한, 이러한 실시예에서, 비록 동일 디바이스가 액체(8)를 유지하도록 구성된 디바이스 및 액체(8)를 수집하도록 구성된 디바이스로서의 역할을 하는 예가 설명되었지만, 이는 제한적인 것이 아니다. 액체(8)를 유지하도록 구성된 디바이스 및 액체(8)를 수집하도록 구성된 디바이스가 별개로 제공될 수 있다.In addition, in this embodiment, although the example in which the same device serves as the device configured to hold the liquid 8 and the device configured to collect the liquid 8 has been described, this is not limiting. The device configured to hold the liquid 8 and the device configured to collect the liquid 8 can be provided separately.

또한, 이러한 실시예에서, 액체 토출 디바이스(10)가 설명에서 예시되지만, 그러한 실시예는 모듈 기판(57)을 세정하기 위한 세정 장치에 적용될 수 있다.In addition, in this embodiment, although the liquid discharge device 10 is illustrated in the description, such an embodiment may be applied to a cleaning apparatus for cleaning the module substrate 57.

또한, 액체 기둥이 도 2e에 도시된 토출 개구부 면(58)에 대해서 부분적으로 형성된 상태에서, 액체를 진동시키도록 구성된 디바이스를 구동함으로써 세정이 실시될 수 있다.Further, with the liquid column partially formed with respect to the discharge opening face 58 shown in Fig. 2E, cleaning can be performed by driving a device configured to vibrate the liquid.

전술한 바와 같이, 액체(8)로 토출 개구부 면(58)을 덮도록 액체 기둥을 형성하는 것 그리고 액체를 진동시키도록 구성된 디바이스를 구동하는 것에 의해, 세정이 실시되고, 그 후에 액체 기둥을 형성하는 액체(8)가 수집된다. 결과적으로, 토출 개구부(19) 및 토출 개구부(19)에 연결된 유동 경로 내의 이물질을 제거할 수 있는 세정 방법, 세정 장치 및 모듈 기판(57)용 액체 토출 디바이스가 실현될 수 있다.As described above, cleaning is performed by forming a liquid column to cover the discharge opening face 58 with the liquid 8 and by driving a device configured to vibrate the liquid, after which the liquid column is formed. The liquid 8 is collected. As a result, a cleaning method, a cleaning apparatus, and a liquid discharge device for the module substrate 57 that can remove the foreign matter in the discharge opening 19 and the flow path connected to the discharge opening 19 can be realized.

(제2 실시예)(2nd Example)

이하에서, 도면을 참조하여 제2 실시예를 설명할 것이다. 한편, 이러한 실시예의 기본 구성은 제1 실시예의 기본 구성과 동일하고, 그에 따라 특징적인 구성만을 이하에서 설명할 것이다.In the following, a second embodiment will be described with reference to the drawings. On the other hand, the basic configuration of this embodiment is the same as the basic configuration of the first embodiment, and therefore only the characteristic configuration will be described below.

도 5는 이러한 실시예의 액체 토출 디바이스(10)의 토출 부분(11) 및 유지 부재(80)를 보여주는 횡단면도를 도시한다. 제1 실시예에서, 액체 기둥은, 수집 부분(73)을 토출 부분(11)의 토출 개구부 면(58)에 대면되는 위치에 배열하는 것 그리고 액체(8)를 토출 부분(11)으로부터 외측으로 밀어내는 것에 의해, 액체-유지 부분(59) 내에 형성된다. 이러한 실시예에서, 통-유사 형상의 유지 부재(80)가 토출 부분(11)의 토출 개구부 면(58)에 대면되는 위치에 배열되고, 액체 기둥이 토출 개구부 면(58)과 유지 부재(80) 사이에 형성된다.FIG. 5 shows a cross-sectional view showing the discharge portion 11 and the retaining member 80 of the liquid discharge device 10 of this embodiment. In the first embodiment, the liquid column arranges the collecting portion 73 at a position facing the discharge opening face 58 of the discharge portion 11 and moves the liquid 8 outward from the discharge portion 11. By extruding, it is formed in the liquid-retaining portion 59. In this embodiment, a cylindrical-like retaining member 80 is arranged at a position facing the ejection opening face 58 of the ejection portion 11, and a liquid column is provided with the ejection opening face 58 and the retaining member 80. Formed between).

유지 부재(80)는 이동 가능하게 구성되고, 세정에서, 토출 부분(11)의 토출 개구부 면(58)에 대면되는 위치로 이동된다. 유지 부재(80)는 3-방향 밸브(83)를 통해서 액체-공급 용기부(81) 및 액체 수집 개구부 용기부(82)와 연결된다. 제어 메커니즘(미도시)은, 액체-공급 용기부(81) 내의 액체(84)를 유지 부재(80)에 공급하기 위해서, 유지 부재(80)가 3-방향 밸브(83)를 통해서 액체-공급 용기부(81)와 연통되게 한다. 여기에서, 액체(84)는 세정 액체이고, 토출 개구부(19) 부근의 유동 경로 내의 액체(8)의 점도 증가 상태를 완화시킬 수 있는, 점도를 높이는 성분을 액체(8)로부터 제거함으로써 얻어지는 액체, 또는 액체(8)와 동일한 종류의 세정 액체의 이용이 바람직하다. 액체 점도 증가의 원인은, 예를 들어, 액체의 증발로 인한 액체 조성의 변화 및 액체의 중합으로 인한 겔화를 포함할 수 있다. 그에 따라, 유동 경로 내의 액체의 점도가 증가된 상태의 완화는, 세정 액체로서, 많은 부피의 휘발성 성분을 포함하고 액체 조성의 변화로 인한 점도의 증가를 제공하지 않는 액체, 또는 점도 증가를 유발하는 성분이 제거된 액체를 이용하는 것에 의해 촉진될 수 있다. 액체(8)와 상이한 세정 액체가 사용되는 경우에, 세정 후에 남아 있는 세정 액체를 제거하는 공정이 필요하다. 대조적으로, 동일한 종류의 액체의 이용은 세정 액체를 제거하는 공정을 생략할 수 있고, 그에 따라 세정에 필요한 기간을 단축할 수 있다.The holding member 80 is configured to be movable, and is moved to a position facing the discharge opening face 58 of the discharge portion 11 in cleaning. The retaining member 80 is connected with the liquid-supply container portion 81 and the liquid collection opening container portion 82 through the three-way valve 83. The control mechanism (not shown) is such that the holding member 80 supplies the liquid 84 through the three-way valve 83 to supply the liquid 84 in the liquid-supply container portion 81 to the holding member 80. In communication with the container portion 81. Here, the liquid 84 is a cleaning liquid, and the liquid obtained by removing the viscosity increasing component from the liquid 8 which can alleviate the viscosity increase state of the liquid 8 in the flow path near the discharge opening 19. Or the use of the same kind of cleaning liquid as the liquid 8 is preferable. The cause of the increase in liquid viscosity may include, for example, a change in liquid composition due to evaporation of the liquid and gelation due to polymerization of the liquid. Thus, the relaxation of the increased viscosity of the liquid in the flow path is a cleaning liquid, which contains a large volume of volatile components and which does not provide an increase in viscosity due to a change in liquid composition, or which leads to an increase in viscosity. This can be facilitated by using a liquid from which the components have been removed. If a cleaning liquid different from the liquid 8 is used, a process of removing the cleaning liquid remaining after the cleaning is necessary. In contrast, the use of the same kind of liquid can omit the process of removing the cleaning liquid, thereby shortening the period required for cleaning.

액체 기둥이 토출 개구부 면(58)과 유지 부재(80) 사이에 형성된 상태에서, 제어 메커니즘(미도시)은, 유지 부재(80)가 3-방향 밸브(83)를 통해서 액체 수집 개구부 용기부(82)와 연통되게 한다. 이러한 상태에서 에너지-생성 요소(18)를 구동시킴으로써, 토출 개구부(19) 및 유동 경로 내의 액체(84)가 유지 부재(80)를 통해서 진동되고, 그에 따라 토출 개구부(19)를 통해서 토출 개구부(19) 및 유동 경로 내의 이물질을 액체 기둥 내로 이동시킨다. 그 후에, 액체 기둥으로서 유지되는 액체(84)가 액체 수집 개구부 용기부(82) 내에서 수집된다. 결과적으로, 액체(84)와 함께, 토출 개구부 면(58)에 고착된 이물질 및 유동 경로 내의 이물질이 제거 및 수집될 수 있다.With the liquid column formed between the discharge opening face 58 and the retaining member 80, the control mechanism (not shown) allows the retaining member 80 through the three-way valve 83 to collect the liquid collection opening container portion ( 82). By driving the energy-generating element 18 in this state, the discharge opening 19 and the liquid 84 in the flow path are vibrated through the holding member 80, and thus through the discharge opening 19 the discharge opening ( 19) and the foreign matter in the flow path is moved into the liquid column. Thereafter, the liquid 84 that is maintained as a liquid column is collected in the liquid collection opening container portion 82. As a result, foreign matter stuck to the discharge opening face 58 and the foreign matter in the flow path together with the liquid 84 can be removed and collected.

한편, 3-방향 밸브(83)와 액체 수집 개구부 용기부(82) 사이에서 펌프와 같이 음압을 생성하도록 구성된 디바이스를 구비하는 구성이 또한 이루어질 수 있다.On the other hand, a configuration may also be made having a device configured to generate a negative pressure, such as a pump, between the three-way valve 83 and the liquid collection opening vessel 82.

(제3 실시예)(Third Embodiment)

이하에서, 도면을 참조하여 제3 실시예를 설명할 것이다. 한편, 이러한 실시예의 기본 구성은 제1 실시예의 기본 구성과 동일하고, 그에 따라 특징적인 구성만을 이하에서 설명할 것이다.In the following, a third embodiment will be described with reference to the drawings. On the other hand, the basic configuration of this embodiment is the same as the basic configuration of the first embodiment, and therefore only the characteristic configuration will be described below.

도 6은 제3 실시예를 보여주는 도면을 도시하고, 액체 토출 디바이스의 토출 부분(11) 및 유지 부재(80)를 보여주는 횡단면도를 도시한다. 유지 부재(80)는 에너지를 생성하도록 구성된 디바이스(85)를 포함한다. 세정에서, 액체 기둥이 토출 개구부 면(58)과 유지 부재(80) 사이에 형성되고, 유지 부재(80)를 위해서 구비된 에너지를 생성하도록 구성된 디바이스(85)는 유지 부재(80)에 의해 유지되는 액체(84)를 진동시키고, 그에 따라 토출 개구부(19) 및 유동 경로 내의 이물질을 토출 개구부(19)를 통해서 액체 기둥 내로 이동시킨다. 유지 부재(80)를 위해서 구비된 에너지를 생성하도록 구성된 디바이스(85)가 이러한 방식으로 액체(84)를 진동시키는 상황은 또한 전술한 실시예에 의해 주어진 것과 유사한 효과를 제공한다. 에너지를 생성하도록 구성된 디바이스(85)의 예는 초음파를 생성하도록 구성된 디바이스 등을 포함한다.FIG. 6 shows a view showing the third embodiment and shows a cross-sectional view showing the discharge part 11 and the holding member 80 of the liquid discharge device. The retaining member 80 includes a device 85 configured to generate energy. In the cleaning, a liquid column is formed between the discharge opening face 58 and the retaining member 80, and the device 85 configured to generate energy provided for the retaining member 80 is retained by the retaining member 80. The liquid 84 to be vibrated, thereby causing the foreign matter in the discharge opening 19 and the flow path to move through the discharge opening 19 into the liquid column. The situation in which the device 85 configured to generate energy provided for the retaining member 80 vibrates the liquid 84 in this manner also provides an effect similar to that given by the above-described embodiment. Examples of device 85 configured to generate energy include a device configured to generate ultrasound, and the like.

(제4 실시예)(Example 4)

이하에서, 도면을 참조하여 제4 실시예를 설명할 것이다. 한편, 이러한 실시예의 기본 구성은 제1 실시예의 기본 구성과 동일하고, 그에 따라 특징적인 구성만을 이하에서 설명할 것이다.In the following, a fourth embodiment will be described with reference to the drawings. On the other hand, the basic configuration of this embodiment is the same as the basic configuration of the first embodiment, and therefore only the characteristic configuration will be described below.

도 7은 토출 부분(11)을 확대하여 보여주는 횡단면도를 도시한다. 모듈 기판(57)에 대해, 액체(이하에서, 토출물로 지칭됨)를 모듈 기판(57)에 공급하기 위한 공급 개구부(21) 및 토출물을 토출할 수 있는 토출 개구부(19)를 구비한 복수의 노즐(54)이 제공된다. 노즐(54)의 내측에서, 토출물을 토출하기 위한 에너지를 생성하는 에너지-생성 요소(18)가 제공된다. 여기에서, 공급 개구부(21)를 구비하는 모듈 기판(57)의 표면이 공급 개구부-측 표면(59)에 의해 표시되고, 토출 개구부(19)를 구비한 표면이 토출 개구부-측 표면(58)에 의해 표시된다.7 shows a cross-sectional view showing an enlarged discharge part 11. With respect to the module substrate 57, there is provided a supply opening 21 for supplying a liquid (hereinafter referred to as ejection) to the module substrate 57 and a ejection opening 19 for ejecting the ejection. A plurality of nozzles 54 is provided. Inside the nozzle 54, an energy-generating element 18 is provided that generates energy for ejecting the discharge. Here, the surface of the module substrate 57 having the supply opening 21 is represented by the supply opening-side surface 59, and the surface having the discharge opening 19 is the discharge opening-side surface 58. Is indicated by.

도 8은 이러한 실시예의 모듈 기판 세정 장치(100)를 도시한다. 모듈 기판 세정 장치(100)는 토출 디바이스(10), 공급 탱크(63), 공급 파이프(62), 세정 캡(61), 방출 파이프(65), 방출 탱크(66), 압력 제어기(64) 등을 포함한다. 공급 탱크(63)는 액체를 세정 캡(61)에 공급하기 위한 탱크이고, 세정 캡(61)은 공급 파이프(62)로 공급 탱크(63)와 연결된다. 세정 캡(61)에 공급되는 액체는 바람직하게 토출물과 유사하다.8 shows a module substrate cleaning apparatus 100 of this embodiment. The module substrate cleaning apparatus 100 includes a discharge device 10, a supply tank 63, a supply pipe 62, a cleaning cap 61, a discharge pipe 65, a discharge tank 66, a pressure controller 64, and the like. It includes. The supply tank 63 is a tank for supplying liquid to the cleaning cap 61, and the cleaning cap 61 is connected to the supply tank 63 by a supply pipe 62. The liquid supplied to the cleaning cap 61 is preferably similar to the discharge.

대안적으로, 세정 액체는 세정 캡(61)에 공급하고자 하는 액체로서 이용되고, 세정 액체의 이용 후에, 토출물과 유사한 액체로 세정이 실시될 수 있다. 이러한 경우에, 유동 경로 및 모듈 기판 내의 세정 액체가 토출물과 유사한 액체로 충분히 대체될 때까지, 퍼지가 실시된다. 모듈 기판에 고착된 유기 재료를 용해하기 위한 액체가 세정 액체로서 이용될 수 있다. 구체적으로, 모듈 기판에 고착될 수 있는 유기 재료의 예는 아크릴계 또는 실리콘계 접착제를 포함한다. 그에 따라, 이러한 유기 재료를 용해하기 위한 액체의 예는, 이소프로필렌 알코올 및 에탄올과 같은 알코올, 및 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르 아세테이트(PGMEA)와 같은 에테르를 포함한다. 세정 액체를 위해서, 토출물 내에 포함된 재료 중 하나가 이용될 수 있다. 이하에서, 토출물이 공급 탱크(63) 내의 액체로서 이용되는 경우가 설명될 것이다.Alternatively, the cleaning liquid is used as the liquid to be supplied to the cleaning cap 61, and after use of the cleaning liquid, cleaning can be performed with a liquid similar to the discharge. In this case, purging is performed until the cleaning liquid in the flow path and the module substrate is sufficiently replaced with a liquid similar to the discharge. Liquid for dissolving the organic material adhered to the module substrate can be used as the cleaning liquid. Specifically, examples of organic materials that can be fixed to the module substrate include acrylic or silicone based adhesives. Thus, examples of liquids for dissolving such organic materials include alcohols such as isopropylene alcohol and ethanol, and ethers such as propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA). For the cleaning liquid, one of the materials contained in the discharge can be used. In the following, the case where the discharge is used as the liquid in the supply tank 63 will be described.

모듈 기판 세정 장치(100)는, 토출 개구부(19)로부터 공통 액체 챔버(56)를 향하는 토출물의 유동(제1 세정 공정) 및 공통 액체 챔버(56)로부터 토출 개구부(19)를 향하는 토출물의 유동(제2 세정 공정)을 교번적으로 복수의 횟수로 생성함으로써, 모듈 기판(57)의 세정을 실시한다. 이러한 방식으로, 상이한 유동들에 의한 복수의 횟수의 세정을 실시함으로써, 토출 개구부의 내측부(노즐의 내측부)에 또는 헤드 표면에 고착된 이물질은, 토출 개구부(19)보다 큰 경우에도, 적절히 제거될 수 있다. 이하에서, 모듈 기판 세정 장치(100)를 이용한 세정 방법을 구체적으로 설명할 것이다.The module substrate cleaning apparatus 100 includes a flow of discharges from the discharge opening 19 toward the common liquid chamber 56 (first cleaning step) and a flow of discharges from the common liquid chamber 56 toward the discharge opening 19. The module substrate 57 is cleaned by alternately generating (second cleaning step) a plurality of times. In this way, by performing a plurality of times of cleaning by different flows, foreign matters stuck to the inner side of the discharge opening (inner side of the nozzle) or to the head surface can be properly removed even when larger than the discharge opening 19. Can be. Hereinafter, a cleaning method using the module substrate cleaning apparatus 100 will be described in detail.

세정 캡(61)은 모듈 기판(57)에 접경되고, 결과적으로, 토출 개구부-측 표면(58) 및 세정 캡(61)으로부터 제1 공간(68)을 형성하도록, 모듈 기판(57)의 토출 개구부-측 표면(58)(헤드 표면) 내에 위치된 모든 토출 개구부(19)를 덮는다. 방출 탱크(66)는, 제1 공간(68)으로부터 방출된 토출물을 방출하기 위한 탱크이고, 제1 공간(68)은 방출 파이프(65)를 통해서 방출 탱크(66)와 연결된다. 방출 파이프(65)를 위해서, 압력 제어기(64)가 제공되고, 압력 제어기(64)로 제1 공간(68) 내측의 압력을 제어함으로써, 토출물은 공급 탱크(63)로부터 제1 공간(68)에 공급된다. 전술한 바와 같이, 저장 부분(15) 내측의 압력은 압력 제어 부분(13)으로 제어될 수 있다. 저장 부분(15)이, 토출 부분(11) 내측 및 저장 용기(12) 내측(55)의 공통 액체 챔버(56)의 조합된 공간인 제2 공간(67)과 연통되기 때문에, 제2 공간(67) 내측의 압력이 또한 압력 제어 부분(13)으로 제어된다.The cleaning cap 61 borders the module substrate 57, and as a result, the ejection of the module substrate 57 to form the first space 68 from the discharge opening-side surface 58 and the cleaning cap 61. It covers all the discharge openings 19 located in the opening-side surface 58 (head surface). The discharge tank 66 is a tank for discharging the discharge discharged from the first space 68, and the first space 68 is connected to the discharge tank 66 through the discharge pipe 65. For the discharge pipe 65, a pressure controller 64 is provided and by controlling the pressure inside the first space 68 with the pressure controller 64, the discharge is discharged from the supply tank 63 to the first space 68. Is supplied. As described above, the pressure inside the storage portion 15 can be controlled by the pressure control portion 13. Since the storage portion 15 communicates with the second space 67, which is a combined space of the common liquid chamber 56 inside the discharge portion 11 and the inside 55 of the storage container 12, the second space ( 67) The pressure inside is also controlled by the pressure control part 13.

여기에서, 모듈 기판(57) 내에서 유동을 생성하기 위해서, 모듈 기판(57)을 개재하는 제1 공간(68)과 제2 공간(67) 사이에서, 공간 중 어느 하나의 압력이 다른 공간의 압력보다 높게 설정될 수 있다. 다시 말해서, 제1 공간(68)의 압력(P1)과 제2 공간(67)의 압력(P2) 사이에 차이를 만드는 것에 의해, 토출물의 유동이 모듈 기판(57) 내에서(노즐 내에서) 생성될 수 있다.Here, in order to generate a flow in the module substrate 57, between the first space 68 and the second space 67 via the module substrate 57, the pressure of any one of the spaces It can be set higher than the pressure. In other words, by making a difference between the pressure P1 of the first space 68 and the pressure P2 of the second space 67, the flow of the discharge is within the module substrate 57 (in the nozzle). Can be generated.

압력(P1)이 압력(P2)보다 높고 순환 부분(40)이 토출물을 저장 부분(15) 내측에서 순환시키는 경우에, 생성되는 유동에 2가지 패턴이 존재한다. 압력(P1)과 압력(P2) 사이의 차이가 작은 경우(P1 > P2)에, 토출 개구부(19)로부터 공급 개구부(21)를 향하는 유동 및 공통 액체 챔버(56) 내의 공급 개구부-측 표면(59)을 따른 유동이 생성된다. 압력(P1)과 압력(P2) 사이의 차이가 큰 경우(P1 >> P2)에, 토출 개구부(19)로부터 공급 개구부(21)를 향하는 유동이 생성된다.When the pressure P1 is higher than the pressure P2 and the circulation portion 40 circulates the discharge inside the storage portion 15, there are two patterns in the resulting flow. When the difference between the pressure P1 and the pressure P2 is small (P1> P2), the flow from the discharge opening 19 toward the supply opening 21 and the supply opening-side surface in the common liquid chamber 56 ( Flow along 59) is created. When the difference between the pressure P1 and the pressure P2 is large (P1 >> P2), a flow is generated from the discharge opening 19 toward the supply opening 21.

역으로, 압력(P1)이 압력(P2)보다 낮은 경우에, 또한, 생성 유동에서 2가지 패턴이 존재한다. 압력(P1)과 압력(P2) 사이의 차이가 작은 경우(P1 < P2)에, 공급 개구부(21)로부터 토출 개구부(19)를 향하는 유동 및 토출 개구부-측 표면(58)을 따른 토출물의 유동이 생성된다. 압력(P1)과 압력(P2) 사이의 차이가 큰 경우(P1 << P2)에, 공급 개구부(21)로부터 토출 개구부(19)를 향하는 유동이 생성된다. 이러한 방식으로 압력(P1)과 압력(P2)의 조합을 기초로 모듈 기판(57) 내에서 상이한 유동들을 생성함으로써, 하나의 세정 장치로 공급 개구부-측 표면(59), 토출 개구부-측 표면(58) 및 노즐 내측부(20)를 세정하는 것이 가능해진다. 전술한 토출 개구부(19)로부터 공급 개구부(21)를 향하는 전술한 유동 및 공급 개구부(21)로부터 토출 개구부(19)를 향하는 유동으로 토출물을 진동시킴으로써, 세정이 실시된다.Conversely, when pressure P1 is lower than pressure P2, there are also two patterns in the product flow. When the difference between the pressure P1 and the pressure P2 is small (P1 <P2), the flow from the supply opening 21 toward the discharge opening 19 and the flow of the discharge along the discharge opening-side surface 58 Is generated. When the difference between the pressure P1 and the pressure P2 is large (P1 << P2), a flow is generated from the supply opening 21 toward the discharge opening 19. In this way, by generating different flows in the module substrate 57 based on the combination of pressure P1 and pressure P2, the supply opening-side surface 59, the discharge opening-side surface ( 58 and the nozzle inner part 20 can be cleaned. Cleaning is performed by vibrating the discharge with the above-described flow from the discharge opening 19 to the supply opening 21 and the flow from the supply opening 21 to the discharge opening 19.

다음에, 피세정 부분의 순서를 설명할 것이다. 본 발명에서, 먼저 공급 개구부-측 표면(59) 및 토출 개구부-측 표면(58)의 세정이 실시되고, 그 후에 노즐 내측부(20)의 세정이 실시된다. 그 이유는, 노즐 내측부(20)의 세정을 더 먼저 실시하는 경우에, 공급 개구부-측 표면(59) 및 토출 개구부-측 표면(58)에 고착된 이물질이 공급 개구부(21) 및/또는 토출 개구부(19)로부터 노즐 내측부(20)내로 진입할 수 있기 때문이다. 유입되는 이물질이 큰 경우에, 이는 노즐(54)의 막힘을 유발할 수 있다. 그에 따라, 공급 개구부-측 표면(59) 및 토출 개구부-측 표면(58)가 더 먼저 세정된다.Next, the order of the parts to be cleaned will be explained. In the present invention, cleaning of the supply opening-side surface 59 and the discharge opening-side surface 58 is performed first, followed by cleaning of the nozzle inner portion 20. The reason for this is that in the case where the nozzle inner portion 20 is cleaned earlier, the foreign matter stuck to the supply opening-side surface 59 and the discharge opening-side surface 58 is supplied to the supply opening 21 and / or the discharge. This is because the inside of the nozzle 20 can enter from the opening 19. If the incoming foreign matter is large, this may cause clogging of the nozzle 54. Thus, the supply opening-side surface 59 and the discharge opening-side surface 58 are cleaned first.

도 9는 이러한 실시예의 세정 공정을 보여주는 흐름도를 도시한다. 이하에서, 이러한 흐름도로, 이러한 실시예의 세정 공정에서의 처리를 설명할 것이다. 세정 캡(61)이 토출 부분(11)에 접경되는 상태에서 세정 공정이 시작될 때, S1에서, 모듈 기판의 세정에 앞서서, 세정 캡(61) 내의 제1 공간(68), 그리고 모듈 기판 세정 장치(100)의 공급 파이프(62) 및 방출 파이프(65)가 토출물로 충진된다. 그러한 목적을 위해서, 압력 제어기(64)의 압력(P1)이 0 kPa로부터 음의 값으로 전환된다. 결과적으로, 제1 공간(68) 내의 압력이 감소되어 제1 공간(68)을 통해서 공급 탱크(63)로부터 방출 탱크(66)를 향하는 토출물의 유동을 생성하고, 제1 공간(68), 공급 파이프(62) 및 방출 파이프(65)가 토출물로 충진된다. 그러나, 이러한 과정만으로 제1 공간(68)의 상부 부분을 토출물로 충진하지 않을 수 있다. 그에 따라, 다음에, 압력 제어 부분(13)으로 제2 공간(67)의 압력(P2)이 0 kPa로부터 양의 값으로 증가되어 압력(P2)>압력(P1)(P1 < 0 kPa, P2 > 0 kPa)이 되게 하며, 그에 따라 토출 개구부(19)로부터 제1 공간(68)을 향하는 토출물의 유동이 생성된다. 결과적으로, 토출물이 제1 공간(68)의 상부 부분으로 충진되고, 토출물은 전체 제1 공간(68) 내에서 위까지 충진된다.9 shows a flow chart showing the cleaning process of this embodiment. In the following, with this flowchart, the processing in the cleaning process of this embodiment will be described. When the cleaning process is started in a state where the cleaning cap 61 is in contact with the discharge portion 11, in S1, before the cleaning of the module substrate, the first space 68 in the cleaning cap 61, and the module substrate cleaning apparatus. Supply pipe 62 and discharge pipe 65 of 100 are filled with discharge. For that purpose, the pressure P1 of the pressure controller 64 is switched from 0 kPa to a negative value. As a result, the pressure in the first space 68 is reduced to produce a flow of discharge from the supply tank 63 toward the discharge tank 66 through the first space 68, and to supply the first space 68, the supply. Pipe 62 and discharge pipe 65 are filled with discharge. However, this process may not fill the upper portion of the first space 68 with discharge. Accordingly, the pressure P2 of the second space 67 is then increased to a positive value from 0 kPa to the pressure control part 13 so that pressure P2> pressure P1 (P1 <0 kPa, P2). > 0 kPa), thereby creating a flow of discharge from the discharge opening 19 towards the first space 68. As a result, the discharge is filled into the upper portion of the first space 68, and the discharge is filled up to the top in the entire first space 68.

그 후에, S2에서, 공급 개구부-측 표면(공급 개구부 면)(59)의 세정(공급 개구부 면 세정)이 실시된다. 여기에서, 먼저 압력 제어 부분(13)은 제2 공간(67)의 압력(P2)을 감소시켜, 제2 공간(67)의 압력(P2)이 제1 공간(68)의 압력(P1)보다 낮아지게 설정한다(P1 > P2, P1 < 0 kPa, P2 < 0 kPa). 결과적으로, 토출 개구부(19)로부터 공급 개구부(21)를 향하는 토출물의 유동이 모듈 기판(57) 내에서 생성된다. 또한, 순환 부분(40)으로 토출물을 저장 부분(15) 내측에서 순환시킴으로써, 공급 개구부-측 표면(59)을 따른 토출물의 유동이 유도되어, 공급 개구부-측 표면(59)에 고착된 이물질을 제거한다.After that, in S2, cleaning (feed opening surface cleaning) of the supply opening-side surface (feed opening surface) 59 is performed. Here, the pressure control part 13 first reduces the pressure P2 of the second space 67 so that the pressure P2 of the second space 67 is less than the pressure P1 of the first space 68. Set to lower (P1> P2, P1 <0 kPa, P2 <0 kPa). As a result, a flow of discharge from the discharge opening 19 toward the supply opening 21 is generated in the module substrate 57. Further, by circulating the discharge into the storage portion 15 inside the circulation portion 40, the flow of the discharge along the supply opening-side surface 59 is induced, so that foreign matter adhered to the supply opening-side surface 59. Remove it.

이어서, S3에서, 토출 개구부-측 표면(58)(토출 개구부 면)의 세정(토출 개구부 면 세정)이 실시된다. 압력 제어 부분(13)은 제2 공간(67)의 압력(P2)을 증가시켜, 제2 공간(67)의 압력(P2)이 제1 공간(68)의 압력(P1)보다 높아지게 설정한다(P1 < P2, P1 < 0 kPa, P2 > 0 kPa). 결과적으로, 공급 개구부(21)로부터 토출 개구부(19)를 향하는 토출물의 유동이 모듈 기판(57) 내에서 생성되어, 토출 개구부-측 표면(58)에 고착된 이물질을 제거한다.Next, in S3, cleaning (discharge opening surface cleaning) of the discharge opening-side surface 58 (discharge opening surface) is performed. The pressure control part 13 increases the pressure P2 of the second space 67, and sets the pressure P2 of the second space 67 to be higher than the pressure P1 of the first space 68 ( P1 <P2, P1 <0 kPa, P2> 0 kPa). As a result, a flow of discharge from the supply opening 21 toward the discharge opening 19 is generated in the module substrate 57 to remove foreign matter stuck to the discharge opening-side surface 58.

그 후에, S4에서, 토출물이 토출 개구부(19)로부터 공급 개구부(21)로 유동되는, 노즐 내측 세정(A)이 실시된다. 여기에서, 압력 제어 부분(13)은 제2 공간(67)의 압력(P2)을 감소시켜, 제2 공간(67)의 압력(P2)이 제1 공간(68)의 압력(P1)보다 낮아지게 설정한다(P2 << P1, P1 < 0 kPa, P2 < 0 kPa). 결과적으로, 토출 개구부(19)로부터 공급 개구부(21)를 향하는 토출물의 유동을 생성함으로써, 노즐 내측부(20)의 벽에 고착된 이물질이 공급 개구부(21)로부터 씻겨 나간다. 이러한 경우에, 바람직하게, 에너지-생성 요소(18)를 동시에 구동하면서, 세정이 실시된다. 여기에서, S4에서 공급 개구부(21)로부터 외측으로 유동되는 이물질이 공급 개구부-측 표면(59)에 고착될 수 있다는 것이 고려된다. 그에 따라, S5에서, 공급 개구부-측 표면(59)을 따른 유동이 생성된다.Subsequently, in S4, nozzle inside cleaning A is performed in which the discharge is flowed from the discharge opening 19 to the supply opening 21. Here, the pressure control part 13 reduces the pressure P2 of the second space 67 so that the pressure P2 of the second space 67 is lower than the pressure P1 of the first space 68. Set the height (P2 << P1, P1 <0 kPa, P2 <0 kPa). As a result, by generating a flow of the discharge from the discharge opening 19 toward the supply opening 21, the foreign matter stuck to the wall of the nozzle inner portion 20 is washed off from the supply opening 21. In this case, cleaning is preferably performed while simultaneously driving the energy-generating element 18. Here, it is contemplated that foreign matter flowing outward from the supply opening 21 in S4 may be stuck to the supply opening-side surface 59. Thus, in S5, flow along the feed opening-side surface 59 is produced.

S5에서, 압력 제어 부분(13)은 제2 공간(67)의 압력(P2)을 증가시켜, 제2 공간(67)의 압력(P2)이 제1 공간(68)의 압력(P1)보다 낮아지게 설정한다(P2 < P1, P1 < 0 kPa, P2 < 0 kPa). 결과적으로, 토출 개구부(19)로부터 공급 개구부(21)를 향하는 토출물의 유동이 생성되어 공급 개구부-측 표면(59)을 따른 토출물의 유동을 유도하고, 이물질이 공급 개구부-측 표면(59)으로부터 제거된다. 동시에, 순환 부분(40)은 저장 부분(15) 내측의 토출물을 순환시키고, 공급 개구부-측 표면(59)으로부터 분리된 이물질이 필터(41)로 여과된다.In S5, the pressure control portion 13 increases the pressure P2 of the second space 67 such that the pressure P2 of the second space 67 is lower than the pressure P1 of the first space 68. Set the height (P2 <P1, P1 <0 kPa, P2 <0 kPa). As a result, a flow of discharge from the discharge opening 19 toward the supply opening 21 is generated to induce a flow of the discharge along the supply opening-side surface 59, and foreign matter is removed from the supply opening-side surface 59. Removed. At the same time, the circulation portion 40 circulates the discharge inside the storage portion 15, and foreign matter separated from the supply opening-side surface 59 is filtered by the filter 41.

그 후에, S6에서, 토출물이 공급 개구부(19)로부터 토출 개구부(21)로 유동되는, 노즐 내측 세정(B)이 실시된다. 압력 제어 부분(13)은 제2 공간(67)의 압력(P2)을 증가시켜, 제2 공간(67)의 압력(P2)을 제1 공간(68)의 압력(P1)보다 높아지게 설정한다(P2 >> P1, P1 < 0 kPa, P2 > 0 kPa). 결과적으로, 공급 개구부(21)로부터 토출 개구부(19)를 향하는 토출물의 유동이 생성되어, 노즐 내측부(20)의 벽에 고착된 이물질을 토출 개구부(19)로부터 씻어낸다. 여기에서, S6에서 토출 개구부(19)로부터 외측으로 유동되는 이물질이 토출 개구부-측 표면(58)에 고착될 수 있다는 것이 고려된다. 그에 따라, S7에서, 토출 개구부-측 표면(58)을 따른 유동이 생성된다.After that, in S6, nozzle inside cleaning B, in which the discharged object flows from the supply opening 19 to the discharge opening 21, is performed. The pressure control part 13 increases the pressure P2 of the 2nd space 67, and sets the pressure P2 of the 2nd space 67 higher than the pressure P1 of the 1st space 68 ( P2 >> P1, P1 <0 kPa, P2> 0 kPa). As a result, a flow of discharge from the supply opening 21 toward the discharge opening 19 is generated, and the foreign matter stuck to the wall of the nozzle inner portion 20 is washed away from the discharge opening 19. Here, it is contemplated that foreign matter flowing outward from the discharge opening 19 in S6 may be stuck to the discharge opening-side surface 58. Thus, in S7 a flow along the discharge opening-side surface 58 is created.

S7에서, 압력 제어 부분(13)은 제2 공간(67)의 압력(P2)을 감소시켜, 제2 공간(67)의 압력(P2)이 제1 공간(68)의 압력(P1)보다 높아지게 설정한다(P2 > P1, P1 < 0 kPa, P2 > 0 kPa). 결과적으로, 공급 개구부(21)로부터 토출 개구부(19)를 향하는 토출물의 유동이 생성되어 토출 개구부-측 표면(58)을 따른 토출물의 유동을 유도하고, 이물질이 토출 개구부-측 표면(58)으로부터 제거된다.In S7, the pressure control portion 13 reduces the pressure P2 of the second space 67 so that the pressure P2 of the second space 67 becomes higher than the pressure P1 of the first space 68. (P2> P1, P1 <0 kPa, P2> 0 kPa). As a result, a flow of discharge from the supply opening 21 toward the discharge opening 19 is generated to induce a flow of the discharge along the discharge opening-side surface 58, and foreign matter is discharged from the discharge opening-side surface 58. Removed.

그 후에, S8에서, S4로부터 S7까지의 처리가 N 횟수(N > 0)로 반복되었는지의 여부가 결정된다. 처리가 N 횟수로 반복되지 않은 경우에, 공정은 S4로 복귀한다. S8에서, S4로부터 S7까지의 처리가 N 횟수로 완료되었다는 것이 결정될 때, 세정 공정이 종료된다.Then, in S8, it is determined whether or not the processes from S4 to S7 have been repeated N times (N> 0). If the processing is not repeated N times, the process returns to S4. In S8, when it is determined that the processing from S4 to S7 has been completed N times, the cleaning process is finished.

한편, 전술한 세정에서, 압력 제어 부분(13) 및 압력 제어기(64) 모두를 이용하여 압력(P1) 및 압력(P2)을 변경함으로써 세정이 실시되나, 이는 제한적인 것이 아니다. 즉, 토출물로 제1 공간(68), 그리고 공급 파이프(62) 및 방출 파이프(65)를 충진한 후에, 압력 제어 부분(13) 또는 압력 제어기(64) 중 어느 하나로 압력을 고정하는 것 그리고 다른 것으로 압력을 조절하는 것에 의해 압력(P1)과 압력(P2) 사이에 차이를 생성함으로써, 세정이 실시될 수 있다.On the other hand, in the above-described cleaning, the cleaning is performed by changing the pressure P1 and the pressure P2 using both the pressure control part 13 and the pressure controller 64, but this is not limiting. That is, after filling the first space 68 and the supply pipe 62 and the discharge pipe 65 with the discharge, fixing the pressure with either the pressure control portion 13 or the pressure controller 64 and The cleaning can be carried out by creating a difference between the pressure P1 and the pressure P2 by regulating the pressure with another.

세정 공정의 종료를 결정하기 위한 기술(종료 결정)로서, 토출 평가 디바이스를 이용한 토출 평가 결과(토출 결과)가 이용될 수 있거나, 입자 측정 디바이스를 이용한 입자 측정 결과가 이용될 수 있다. 도 10 및 도 12는, S1로부터 S7까지 도 9와 유사한, 그러나 세정 공정의 종료 결정 공정이 상이한, 이러한 실시예에서의 세정 공정을 보여주는 흐름도를 도시한다. 이하에서, 토출 평가 디바이스를 이용한 토출 평가 결과를 기초로 세정 공정의 종료가 결정되는 경우가 도 10의 흐름도로 설명될 것이고, 입자 측정 디바이스를 이용한 입자 측정 결과를 기초로 세정 공정의 종료가 결정되는 경우가 도 12의 흐름도로 설명될 것이다.As a technique (end determination) for determining the end of the cleaning process, the discharge evaluation result (discharge result) using the discharge evaluation device can be used, or the particle measurement result using the particle measurement device can be used. 10 and 12 show flow charts showing the cleaning process in this embodiment, similar to FIG. 9 from S1 to S7 but with different end determination processes of the cleaning process. In the following, the case where the end of the cleaning process is determined based on the discharge evaluation result using the discharge evaluation device will be described with the flowchart of FIG. The case will be explained with the flowchart of FIG.

도 10에서, S8에서, 토출 평가를 실시하는 처리(S8-1) 및 토출 평가의 결과가 양호한지의 여부를 결정하는 처리(S8-2)가 실시된다. 도 11에서, S8-1에서 이용하기 위한 토출 디바이스의 예가 도시되어 있다. 도 11에 도시된 토출 검출 메커니즘(71)에 의해, 토출물(8)이 검출된다. 토출 검출 메커니즘(71)은, 토출 디바이스(10)로부터 토출되는 토출물(8)에 관한 정보를 획득할 수 있는 위치에 배치된다. 토출물(8)에 관한 정보는 카메라 등으로 획득된 화상을 처리하기 위한 것, 또는 방출 부분(미도시)으로부터 방출된 광을 검출하고 토출된 액적이 방출된 광을 통과하였는지의 여부를 검출하기 위한 것일 수 있다. S8-2에서, 예를 들어, 토출 검출 메커니즘(71)에 의해 얻어진 정보를 기초로, 액체가 의도된 속력 및 부피로 토출 홀로부터 토출되었다는 것을 확인함으로써, 그리고 토출 평가의 결과가 양호하다는 것을 결정함으로써, 세정 공정이 종료된다.In FIG. 10, in S8, a process for performing discharge evaluation (S8-1) and a process (S8-2) for determining whether the result of the discharge evaluation are good are performed. In Fig. 11, an example of the discharge device for use in S8-1 is shown. The discharge object 8 is detected by the discharge detection mechanism 71 shown in FIG. The discharge detection mechanism 71 is disposed at a position where information on the discharged object 8 discharged from the discharge device 10 can be obtained. Information about the discharge 8 is for processing an image acquired by a camera or the like, or detecting light emitted from an emission portion (not shown) and detecting whether the discharged droplet has passed through the emitted light. It may be for. In S8-2, for example, based on the information obtained by the discharge detection mechanism 71, by confirming that the liquid was discharged from the discharge hole at the intended speed and volume, and determining that the result of the discharge evaluation is good. By this, the washing process is completed.

도 12에서, S8에서, 입자 평가를 실시하는 처리(S8-1), 및 입자 측정의 결과가 양호한지의 여부를 결정하는 처리(S8-2)가 실시된다. 도 13에서, S8-1에서 이용하기 위한 입자 측정 디바이스의 예가 도시되어 있다. 도 13에 도시된 입자 측정 디바이스(72)로, 세정 액체 내의 입자 측정을 실시한다. S8-2에서 입자 측정의 결과가 0.1/ml 이하라는 결과를 확인함으로써 그리고 입자 측정의 결과가 양호하다는 것을 결정함으로써, 세정 공정이 종료된다. 입자 측정을 실시하기 위한 세정 액체를 위해서, 유기물을 용해하기 위한 액체에 더하여, 일반적으로 높은 입자 측정 감도를 갖는 물이 이용될 수 있다.In FIG. 12, in S8, the process of performing particle evaluation (S8-1), and the process (S8-2) of determining whether the result of particle measurement is favorable are performed. In FIG. 13, an example of a particle measuring device for use in S8-1 is shown. With the particle measuring device 72 shown in FIG. 13, particle measurement in the cleaning liquid is performed. The cleaning process is terminated by confirming that the result of the particle measurement is 0.1 / ml or less in S8-2 and determining that the result of the particle measurement is good. For the cleaning liquid for performing the particle measurement, in addition to the liquid for dissolving the organic matter, water having generally high particle measurement sensitivity can be used.

여기에서, 전술한 세정 공정의 노즐 내측부(20)의 세정에서, 토출 개구부(19)로부터 공급 개구부(21)로의 유동을 생성하는 동안 실시되는 처리(S4)가, 왜 공급 개구부(21)로부터 토출 개구부(19)로의 유동을 생성하는 동안 실시되는 처리(S6)에 앞서서 실시되는지에 관한 이유를 설명할 것이다. 토출 개구부(19)는, 토출물이 통과하여 유동되는 유동 경로 내에서 가장 작은 횡단면을 갖는다. 그에 따라, 공급 개구부(21)로부터 토출 개구부(19)로의 유동이 먼저 유도되는 경우에, 토출 개구부(19)의 개구부 면적보다 큰 이물질이 노즐 내측부(20)의 벽에 고착된다면, 토출 개구부(19)에서 막힘이 발생될 수 있다. 결과적으로, 이러한 실시예에서, 토출 개구부(19)로부터 공급 개구부(21)로의 유동을 생성하는 처리를 먼저 실시함으로써, 노즐 내측부(20)의 벽에 고착된 이물질이 공급 개구부(21)로부터 방출되어, 토출 개구부(19)에서의 막힘을 방지한다.Here, in the cleaning of the nozzle inner portion 20 of the cleaning process described above, the process S4 performed while generating a flow from the discharge opening portion 19 to the supply opening portion 21 is why the discharge from the supply opening portion 21 is performed. The reason as to whether it is carried out prior to the process S6 performed while generating flow to the opening 19 will be explained. The discharge opening 19 has the smallest cross section in the flow path through which the discharge flows. Thus, when a flow from the supply opening 21 to the discharge opening 19 is first induced, if foreign matter larger than the opening area of the discharge opening 19 is stuck to the wall of the nozzle inner portion 20, the discharge opening 19 Blockage may occur. As a result, in this embodiment, by first performing a process of generating a flow from the discharge opening 19 to the supply opening 21, foreign matter stuck to the wall of the nozzle inner portion 20 is discharged from the supply opening 21. The blockage at the discharge opening 19 is prevented.

이러한 방식으로, 토출 개구부로부터 공급 개구부로의 유동 및 공급 개구부로부터 토출 개구부로의 유동을 교번적으로 생성함으로써 토출물을 진동시키는 것에 의해, 모듈 기판의 세정이 실시된다. 결과적으로, 토출 개구부 내의 그리고 헤드 표면 상의 이물질을 더 신뢰 가능하게 제거할 수 있는 모듈 기판의 세정 방법 및 세정 장치가 실현되었다.In this manner, cleaning of the module substrate is performed by vibrating the discharged product by alternately generating the flow from the discharge opening to the supply opening and the flow from the supply opening to the discharge opening. As a result, a cleaning method and a cleaning apparatus for a module substrate capable of more reliably removing foreign matter in the discharge opening and on the head surface have been realized.

(제5 실시예)(Example 5)

이하에서, 제5 실시예를 설명할 것이다. 한편, 이러한 실시예의 기본 구성은 제1 실시예의 기본 구성과 동일하고, 그에 따라 특징적인 구성만을 이하에서 설명할 것이다.In the following, a fifth embodiment will be described. On the other hand, the basic configuration of this embodiment is the same as the basic configuration of the first embodiment, and therefore only the characteristic configuration will be described below.

이러한 실시예의 모듈 기판 세정 장치(100)에서, 제4 실시예와 유사한 방식으로, 토출 개구부(19)로부터 공통 액체 챔버(56)를 향하는 토출물의 유동 및 공통 액체 챔버(56)로부터 토출 개구부(19)를 향하는 토출물의 유동을 교번적으로 복수의 횟수로 생성함으로써, 모듈 기판(57)의 세정이 실시된다.In the module substrate cleaning apparatus 100 of this embodiment, in a similar manner to the fourth embodiment, the flow of the discharge from the discharge opening 19 toward the common liquid chamber 56 and the discharge opening 19 from the common liquid chamber 56 The cleaning of the module substrate 57 is performed by alternately generating a flow of discharges toward the plurality of times.

이러한 세정 동작에 더하여, 이러한 실시예에서, 에너지-생성 요소(18)가 구동된다. 이러한 방식으로 모듈 기판(57)의 세정 동작에서 에너지-생성 요소(18)를 구동함으로써, 진동이 토출물에 제공되고, 그에 따라 이물질을 토출 개구부(19)로부터 씻어낸다. 결과적으로, 모듈 기판(57)이 세정될 수 있다.In addition to this cleaning operation, in this embodiment, the energy-generating element 18 is driven. By driving the energy-generating element 18 in the cleaning operation of the module substrate 57 in this manner, vibration is provided to the discharge, thus cleaning the foreign matter from the discharge opening 19. As a result, the module substrate 57 can be cleaned.

예시적인 실시예를 참조하여 본 발명을 설명하였지만, 본 발명이 개시된 예시적인 실시예로 제한되지 않는다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 이하의 청구항의 범위는 가장 광의의 해석에 따르며, 그에 따라 모든 그러한 수정예 및 균등한 구조 및 기능을 포함한다.While the invention has been described with reference to exemplary embodiments, it will be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. The scope of the following claims is to be accorded the broadest interpretation and therefore includes all such modifications and equivalent structures and functions.

Claims (20)

액체 토출 디바이스이며:
액체를 저장하는 저장 용기;
상기 저장 용기 내에 저장된 액체를 토출 개구부 면에 제공된 토출 개구부로부터 토출하는, 액체를 토출하도록 구성된 디바이스;
액체를 유지하도록 구성된 액체 유지 디바이스로서, 액체를 자신과 상기 토출 개구부 면 사이에서 유지할 수 있는, 액체 유지 디바이스; 및
액체를 수집하도록 구성된 액체 수집 디바이스로서, 상기 액체 유지 디바이스에 의해 유지되는 상기 액체를 수집하는, 액체 수집 디바이스를 포함하고,
상기 액체 토출 디바이스는 액체를 진동시키도록 구성된 액체 진동 디바이스를 더 포함하고, 상기 액체 진동 디바이스는 상기 액체 유지 디바이스에 의해 유지되는 상기 액체를 진동시키는, 액체 토출 디바이스.
Liquid discharge device:
A storage container for storing the liquid;
A device configured to discharge the liquid, which discharges the liquid stored in the storage container from the discharge opening provided in the discharge opening face;
A liquid holding device configured to hold a liquid, the liquid holding device capable of holding a liquid between itself and the discharge opening face; And
A liquid collection device configured to collect liquid, the liquid collection device comprising a liquid collection device for collecting the liquid held by the liquid holding device,
The liquid ejecting device further comprises a liquid vibrating device configured to vibrate liquid, the liquid vibrating device vibrating the liquid held by the liquid holding device.
제1항에 있어서,
상기 액체 진동 디바이스는, 상기 액체를 토출하도록 구성된 디바이스가 구비하는, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 1,
And the liquid vibration device is provided by a device configured to discharge the liquid.
제2항에 있어서,
상기 액체 진동 디바이스는, 상기 액체를 토출하도록 구성된 디바이스가 액체를 토출할 때 이용되는 토출 에너지에 의해 액체를 진동시키는, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 2,
And the liquid vibration device vibrates the liquid by the discharge energy used when the device configured to discharge the liquid discharges the liquid.
제1항에 있어서,
상기 액체 진동 디바이스는 초음파를 생성하도록 구성된 초음파 생성 디바이스이고, 상기 초음파 생성 디바이스는 상기 액체 유지 디바이스 내에 구비되고, 상기 초음파 생성 디바이스에 의해 생성된 초음파는 상기 액체 유지 디바이스에 의해 유지되는 상기 액체를 진동시키는, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 1,
The liquid vibration device is an ultrasonic wave generation device configured to generate ultrasonic waves, the ultrasonic wave generation device being provided in the liquid holding device, and the ultrasonic waves generated by the ultrasonic wave generating device vibrate the liquid held by the liquid holding device. Liquid discharge device.
제1항에 있어서,
상기 액체를 토출하도록 구성된 디바이스는 공급 개구부를 갖고, 상기 공급 개구부는 상기 토출 개구부 면에 대면되는 표면을 위해서 제공되며 상기 토출 개구부와 연통되고;
상기 액체 진동 디바이스는, 액체를 상기 공급 개구부로부터 상기 토출 개구부로 유동시키고, 액체를 상기 토출 개구부로부터 상기 공급 개구부로 유동시키는, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 1,
The device configured to discharge the liquid has a supply opening, the supply opening being provided for a surface facing the discharge opening surface and in communication with the discharge opening;
The liquid vibrating device flows a liquid from the supply opening to the discharge opening, and flows a liquid from the discharge opening to the supply opening.
제5항에 있어서,
상기 액체를 토출하도록 구성된 디바이스를 위해 구비된 액체를 토출하기 위한 메커니즘은, 상기 액체 진동 디바이스에 의해, 상기 공급 개구부로부터 상기 토출 개구부로의 액체의 유동 및 상기 토출 개구부로부터 상기 공급 개구부로의 액체의 유동과 함께 구동되는, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 5,
A mechanism for discharging liquid provided for the device configured to discharge the liquid includes, by the liquid vibration device, the flow of liquid from the supply opening to the discharge opening and of the liquid from the discharge opening to the supply opening. A liquid discharge device driven with the flow.
제1항에 있어서,
상기 액체 유지 디바이스는, 또한, 상기 액체 수집 디바이스로서의 역할을 하고, 미리 결정된 공간을 두고 배치된 복수의 빗살을 구비하며, 빗살들 사이로부터 액체를 수집하는, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 1,
The liquid holding device also serves as the liquid collecting device, has a plurality of comb teeth arranged with a predetermined space, and collects liquid from between the comb teeth.
제1항에 있어서,
상기 액체 토출 디바이스는, 상기 토출 개구부 면과 상기 액체 유지 디바이스 사이에 액체를 공급하기 위한 액체를 공급하도록 구성된 액체 공급 디바이스를 포함하고, 상기 액체 토출 디바이스는, 상기 액체 공급 디바이스에 의해 액체를 공급함으로써, 상기 토출 개구부 면과 상기 액체 유지 디바이스 사이에서 액체 기둥을 형성하는, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 1,
The liquid discharge device includes a liquid supply device configured to supply a liquid for supplying liquid between the discharge opening face and the liquid holding device, wherein the liquid discharge device is supplied by supplying a liquid by the liquid supply device. And forming a liquid column between the discharge opening face and the liquid holding device.
제8항에 있어서,
상기 액체 공급 디바이스는, 상기 액체를 토출하도록 구성된 디바이스 또는 상기 액체 유지 디바이스와 연결되어 액체를 공급하도록 구성된 제2 디바이스인, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 8,
And the liquid supply device is a device configured to discharge the liquid or a second device connected to the liquid holding device and configured to supply liquid.
제9항에 있어서,
상기 액체를 토출하도록 구성된 디바이스는 제1 액체를 토출하고, 상기 액체를 공급하도록 구성된 제2 디바이스는 제2 액체를 공급하며, 상기 제2 액체는 상기 제1 액체와의 접촉에 의해 상기 제1 액체의 점도를 감소시키는 액체인, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 9,
The device configured to discharge the liquid discharges a first liquid, the second device configured to supply the liquid supplies a second liquid, and the second liquid is brought into contact with the first liquid by the first liquid. A liquid discharge device, which is a liquid that reduces the viscosity of the liquid.
제9항에 있어서,
상기 액체를 토출하도록 구성된 디바이스는 제1 액체를 토출하고, 상기 액체 공급 디바이스는 제2 액체를 공급하며, 상기 제1 액체와 상기 제2 액체가 동일한 종류의 액체인, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 9,
And the device configured to discharge the liquid discharges a first liquid, the liquid supply device supplies a second liquid, and wherein the first liquid and the second liquid are liquids of the same kind.
제1항에 있어서,
상기 액체 수집 디바이스는, 상기 액체 유지 디바이스와 연결된 음압을 발생시키도록 구성된 음압 생성 디바이스에 의해 발생한 음압에 의해 액체를 수집하는, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 1,
And the liquid collecting device collects the liquid by the sound pressure generated by the sound pressure generating device configured to generate a sound pressure connected with the liquid holding device.
제1항에 있어서,
상기 액체가 임프린트 재료인, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 1,
And the liquid is an imprint material.
제1항에 있어서,
상기 토출 개구부 면이 상기 액체 유지 디바이스와 접촉되지 않는, 액체 토출 디바이스.
The method of claim 1,
And the liquid discharge device is not in contact with the liquid holding device.
액체를 토출 개구부로부터 토출하기 위한 모듈 기판을 세정하기 위한 세정 장치이며:
액체를 유지하도록 구성된 액체 유지 디바이스로서, 자신과, 상기 모듈 기판의, 상기 토출 개구부가 형성되는, 토출 개구부 면 사이에서 액체를 유지하는 것이 가능한, 액체 유지 디바이스;
상기 토출 개구부 면과 상기 액체 유지 디바이스 사이에 액체를 공급하도록 구성된, 액체 공급 디바이스;
상기 액체 유지 디바이스에 의해 유지되는 액체를 진동시키도록 구성된 액체 진동 디바이스; 및
상기 액체 유지 디바이스에 의해 유지되는 액체를 수집하도록 구성된 액체 수집 디바이스를 포함하는, 세정 장치.
A cleaning device for cleaning a module substrate for discharging liquid from a discharge opening:
A liquid holding device configured to hold a liquid, comprising: a liquid holding device capable of holding a liquid between itself and a discharge opening surface on which the discharge opening is formed;
A liquid supply device, configured to supply liquid between the discharge opening face and the liquid holding device;
A liquid vibration device configured to vibrate the liquid held by the liquid holding device; And
And a liquid collecting device configured to collect liquid held by the liquid holding device.
제15항에 있어서,
상기 모듈 기판은 상기 토출 개구부 면에 대면되는 표면 내에서 상기 토출 개구부와 연통되는 공급 개구부를 갖고;
상기 액체 진동 디바이스는 액체를 상기 공급 개구부로부터 상기 토출 개구부로 유동시키며;
상기 액체 진동 디바이스는 액체를 상기 토출 개구부로부터 상기 공급 개구부로 유동시키는, 세정 장치.
The method of claim 15,
The module substrate has a supply opening in communication with the discharge opening in a surface facing the discharge opening surface;
The liquid vibration device flows liquid from the supply opening to the discharge opening;
And the liquid vibration device flows liquid from the discharge opening to the supply opening.
제16항에 있어서,
상기 모듈 기판이 구비하는 액체를 토출하기 위한 메커니즘은, 상기 액체 진동 디바이스에 의해, 상기 공급 개구부로부터 상기 토출 개구부로의 액체의 유동 및 상기 토출 개구부로부터 상기 공급 개구부로의 액체의 유동과 함께 구동되는, 세정 장치.
The method of claim 16,
The mechanism for discharging the liquid included in the module substrate is driven by the liquid vibration device together with the flow of liquid from the supply opening to the discharge opening and the flow of liquid from the discharge opening to the supply opening. , Cleaning device.
토출 개구부로부터 액체를 토출하기 위한 모듈 기판의 세정 방법이며:
상기 토출 개구부가 형성된 상기 모듈 기판의 토출 개구부 면, 및 자신과 상기 토출 개구부 면 사이에서 액체를 유지할 수 있는 유지 부재의 유지 부분을, 미리 결정된 공간을 두고 서로 대면되도록, 정렬시키는 정렬 공정;
상기 토출 개구부 면과 상기 유지 부분 사이에서 액체를 공급하고 유지하는 유지 공정;
상기 유지 공정에서 유지되는 액체를 진동시키는 진동 공정; 및
상기 토출 개구부 면과 상기 유지 부분 사이에 공급된 액체를 수집하는 수집 공정을 포함하는, 세정 방법.
A method of cleaning a module substrate for discharging liquid from a discharge opening:
An alignment step of aligning the ejection opening face of the module substrate on which the ejection opening is formed and the retaining portions of the retaining member capable of retaining liquid between itself and the ejection opening face so as to face each other with a predetermined space;
A holding step of supplying and holding a liquid between the discharge opening face and the holding portion;
A vibration step of vibrating the liquid held in the holding step; And
And a collecting step of collecting the liquid supplied between the discharge opening face and the holding portion.
제18항에 있어서,
상기 진동 공정이:
액체를 공급 개구부로부터 상기 토출 개구부로 유동시키는 제1 세정 공정으로서, 상기 공급 개구부는 상기 모듈 기판의 상기 토출 개구부 면에 대면되는 표면을 위해서 구비되며 상기 토출 개구부와 연통되는, 제1 세정 공정; 및
액체를 상기 토출 개구부로부터 상기 공급 개구부로 유동시키는 제2 세정 공정을 포함하는, 세정 방법.
The method of claim 18,
The vibration process is:
A first cleaning process for flowing a liquid from a supply opening to the discharge opening, the supply opening being provided for a surface facing the discharge opening surface of the module substrate and in communication with the discharge opening; And
And a second cleaning step of flowing a liquid from the discharge opening to the supply opening.
제19항에 있어서,
상기 모듈 기판이 구비하는 액체를 토출하기 위한 메커니즘이, 상기 제1 세정 공정과 상기 제2 세정 공정의 세정 공정들 중 적어도 하나에서 구동되는, 세정 방법.
The method of claim 19,
And a mechanism for discharging the liquid included in the module substrate is driven in at least one of cleaning processes of the first cleaning process and the second cleaning process.
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