KR20190109709A - 표시 장치, 그 구동 방법 및 그 스트레스 보상 시스템 - Google Patents

표시 장치, 그 구동 방법 및 그 스트레스 보상 시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 구동 방법은, 제1 부호화 스트레스 프로파일 및 제1 심볼 통계 자료 집합을 메모리에서 읽어내는 단계, 제1 디코더에 의하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일을 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 제1 복호화 스트레스 프로파일과 제2 심볼 통계 자료 집합을 형성하는 단계, 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 증가시켜 제2 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 인코더에 의하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 상기 제2 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 제2 부호화 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 그리고 상기 제2 부호화 스트레스 프로파일을 상기 메모리에 저장하는 단계를 포함한다.

Description

표시 장치, 그 구동 방법 및 그 스트레스 보상 시스템 {DISPLAY, DISPLAY DRIVING METHOD, AND SYSTEM OF COMPENSATING STRESS ON DISPLAY}
본 발명은 표시 장치, 그 구동 방법 및 그 스트레스 보상 시스템에 관한 것이다.
본 출원은 2018년 3월 15일에 미국 특허청에 출원한 미국 특허출원번호 제62/643,622호를 우선권 주장하며, 여기에 인용함으로써 이 출원의 전체 내용을 본원에 포함한다.
유기 발광 다이오드 표시 장치 등과 같은 영상 표시 장치에서 수명 시간 종안 화질을 유지하기 위하여 출력 감소(output decline)에 대한 보상을 사용한다. 그러나 이러한 보상을 실행하는 데 사용되는 데이터 양이 방대하기 때문에 비용과 표시 장치의 전력 사용량이 높아진다.
따라서 스트레스 보상 시스템과 방법을 개선할 필요가 있다.
본 발명은 표시 장치의 스트레스를 보상하는 것이다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 구동 방법은, 제1 부호화 스트레스 프로파일 및 제1 심볼 통계 자료 집합을 메모리에서 읽어내는 단계, 제1 디코더에 의하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일을 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 제1 복호화 스트레스 프로파일과 제2 심볼 통계 자료 집합을 형성하는 단계, 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 증가시켜 제2 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 인코더에 의하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 상기 제2 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 제2 부호화 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 그리고 상기 제2 부호화 스트레스 프로파일을 상기 메모리에 저장하는 단계를 포함한다.
한 실시예에 따르면, 상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성 단계는 엔트로피 부호화를 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화하는 단계를 포함할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성 단계는 산술 인코딩을 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화하는 단계를 포함할 수 있다.
한 실시예에 따른 구동 방법은, 제2 디코더에 의하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일을 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 제1 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제1 조정 구동 전류를 계산하는 단계, 그리고 상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동하는 단계를 더 포함할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 제2 스트레스 프로파일 형성 단계는 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일의 원소(element)에 상기 제1 조정 구동 전류에 비례하는 숫자를 더하는 단계를 포함할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동한 다음에, 제2 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제2 조정 구동 전류를 계산하는 단계, 그리고 상기 제2 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동하는 단계를 더 포함할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 제2 스트레스 프로파일 형성 단계는 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일의 원소(element)에 상기 제2 조정 구동 전류에 비례하는 숫자를 더하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 스트레스 보상 시스템은, 메모리, 그리고 제1 디코더 및 인코더를 포함하는 처리 회로를 포함하며, 상기 처리 회로는, 제1 부호화 스트레스 프로파일 및 제1 심볼 통계 자료 집합을 상기 메모리로부터 읽어내고, 상기 제1 디코더를 통하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 제1 복호화 스트레스 프로파일 및 제2 심볼 통계 자료 집합을 형성하고, 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 증가시켜 제2 스트레스 프로파일을 형성하고, 상기 인코더를 통하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 상기 제2 심볼 통계 자료 집합과 처리하여 제2 부호화 스트레스 프로파일을 형성하고, 상기 제2 부호화 스트레스 프로파일을 상기 메모리에 저장한다.
한 실시예에 따르면, 상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성은 엔트로피 부호화를 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성은 산술 인코딩을 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 처리 회로는 제2 디코더를 더 포함하고, 상기 처리 회로는, 제2 디코더에 의하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일을 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 형성하고, 제1 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제1 조정 구동 전류를 계산하고, 상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 제2 스트레스 프로파일 형성은 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일의 원소(element)에 상기 제1 조정 구동 전류에 비례하는 숫자를 더할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 처리 회로는, 상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동한 다음에, 제2 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제2 조정 구동 전류를 계산하고, 상기 제2 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 제2 스트레스 프로파일 형성은 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일의 원소(element)에 상기 제2 조정 구동 전류에 비례하는 숫자를 더할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치는, 표시 패널, 메모리, 그리고 제1 디코더 및 인코더를 포함하는 처리 회로를 포함하며, 상기 처리 회로는, 제1 부호화 스트레스 프로파일 및 제1 심볼 통계 자료 집합을 상기 메모리로부터 읽어내고, 상기 제1 디코더를 통하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 제1 복호화 스트레스 프로파일 및 제2 심볼 통계 자료 집합을 형성하고, 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 증가시켜 제2 스트레스 프로파일을 형성하고, 상기 인코더를 통하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 상기 제2 심볼 통계 자료 집합과 처리하여 제2 부호화 스트레스 프로파일을 형성하고, 상기 제2 부호화 스트레스 프로파일을 상기 메모리에 저장한다.
한 실시예에 따르면, 상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성은 엔트로피 부호화를 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성은 산술 인코딩을 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 처리 회로는 제2 디코더를 더 포함하고, 상기 처리 회로는, 제2 디코더에 의하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일을 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 형성하고, 제1 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제1 조정 구동 전류를 계산하고, 상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 처리 회로는, 상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동한 다음에, 제2 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제2 조정 구동 전류를 계산하고, 상기 제2 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동할 수 있다.
한 실시예에 따르면, 상기 제2 스트레스 프로파일 형성은 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일의 원소(element)에 상기 제2 조정 구동 전류에 비례하는 숫자를 더할 수 있다.
이와 같이 함으로써 표시 장치의 스트레스를 효과적으로 보상할 수 있다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 블록도이다.
도2는 본 발명의 한 실시예에 따른 비압축 스트레스 보상 시스템의 블록도이다.
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 압축 스트레스 보상 시스템의 블록도이다.
도 4는 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 일부를 나타낸 개략도이다.
도 5는 본 발명의 한 실시예에 따른 스트레스 보상 시스템의 블록도이다.
이제 첨부한 도면을 참고하여 뒤에서 설명할 상세한 설명은 스트레스 프로파일 압축 시스템 및 방법의 실시예에 관한 것으로서, 본 발명에 의하여 구현 또는 이용될 형태를 모두 표현한 것은 아니다. 이제 첨부한 도면을 참고하여 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명한다. 그러나 서로 다른 실시예에서 구현되는 것과 동일한 또는 균등한 기능과 구조도 본 발명의 범위 내에 포함된다. 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다.
특정 종류의 영상 표시 장치는 사용에 따라서 변화하는 특성을 가지고 있다. 예를 들면, 유기 발광 다이오드(OLED: 유기 발광 다이오드) 표시 장치는 복수의 화소(pixel)를 가지고 있는 표시 패널을 포함할 수 있다. 각 화소는 다소의 부화소(subpixel)(보기: 적색 부화소, 녹색 부화소, 청색 부화소)로 이루어질 수 있으며, 각 부화소는 해당 색상의 빛을 발광하는 유기 발광 다이오드를 포함할 수 있다. 각각의 유기 발광 다이오드의 광효율은 사용에 따라 떨어져서, 예를 들면, 유기 발광 다이오드가 얼마 동안 동작한 후에는 특정 전류에 대한 광학적 출력이 새 것일 때보다 줄어든다.
광효율이 떨어지면 표시 장치의 수명 기간 동안 평균적으로 다른 부분보다 밝은 부분을 표시한 부분에 디밍(dimming)이 발생한다. 예를 들면, 보안 카메라로부터 받은, 거의 변하지 않는 영상을 보는 데 사용되는 표시 장치에서, 카메라의 시야가 하루의 대부분 빛이 들어와 상대적으로 밝은 제1 부분과 그늘에 있어서 상대적으로 어두운 제2 부분을 포함하는 장면을 포함한다면, 결국 나중에는 제2 부분보다 제1 부분에서 광효율이 훨씬 더 떨어질 것이다. 이러한 장치에서는 영상 재생의 정확도가 시간이 지날수록 결국 떨어지게 될 것이다. 다른 예를 들면, 영상의 아래 쪽에 위치하고 영상의 다른 부분과는 검은 경계로 분리된 백색의 글자를 표시하는 데 사용되는 표시 장치의 경우 검은 경계 부분에서는 광효율의 저하 정도가 다른 부분에 비해서 적을 것이고, 나중에 이 표시 장치의 패널 전체가 하나의 장면을 표시하는 데 사용된다면 예전에 검은 경계를 표시 하던 부분에 밝은 띠가 나타날 수 있다(잔상).
표시 장치의 이러한 광효율 불균일성 효과를 줄이기 위해서, 표시 장치의 사용에 따른 광효율 감소를 보상하는 기구를 표시 장치에 포함시킬 수 있다. 도 1을 참고하면, 이러한 표시 장치는 표시 패널(110), 처리 회로(115) (뒤에서 상세하게 설명 예정) 및 메모리(120)를 포함할 수 있다. 메모리(120)에 포함된 내용은 “스트레스 프로파일” 또는 “스트레스 테이블”이라는 것으로서, 표시 장치의 수명 기간 동안 각 부화소가 받은 스트레스 양을 나타내는 (또는 스트레스 양을 추론할 수 있는) 숫자(또는 “스트레스값”)의 테이블일 수 있다. “스트레스”는 표시 장치의 수명 동안 부화소를 통하여 흐른 총 (시간 합계) 구동 전류, 즉 총 전하일 수 있다. 예를 들면, 메모리(120)는 각 부화소가 새로운 이미지(image)를 표시할 때마다 그 부화소에 대하여 숫자 하나를 더할 수 있다. 여기에서 이미지는 함께 모여서 표시 영상(video)을 이루는 연속적인 이미지 스트림의 일부이다. 해당 이미지에서 각 부화소에 대한 구동 전류를 측정하고 그 전류 또는 부화소의 밝기를 나타내는 숫자를 메모리(120)에 더할 수도 있다. 타이밍 제어기와 복수의 구동 집적 회로가 있는 표시 장치에서는, 처리 회로(115)가 하나 이상의 구동 집적 회로 또는 그 일부일 수 있다. 일부 실시예에 따르면, 각각의 구동 집적 회로는 표시 패널(110)의 일부를 구동하는 데 사용될 수 있으며, 다른 구동 집적 회로와 별개로 해당 부분에 스트레스 추적 및 스트레스 보상을 수행할 수 있다.
동작하는 동안, 각 부화소에 대한 구동 전류를 조절하여 광효율 예측 손실(estimated loss)을 보상할 수 있으며, 광효율 예측 손실은 부화소의 총 스트레스(lifetime stress)에 근거한다. 예를 들면, 메모리(120)에 축적된 부화소의 광효율 예측 손실에 맞춰 (또는 그에 비례하여) 각 부화소에 대한 구동 전류를 증가시킴으로써, 광효율이 떨어지지 않고 구동 전류를 증가시키지 않은 상태와 마찬가지의 광학적 출력을 낼 수 있다. 부화소의 물리 모델 또는 실험적 데이터에 기반한 비선형 함수를 사용하여 부화소의 총 스트레스에 기초한 광효율 손실을 추론 또는 예측할 수 있다. 광효율 예측 손실 및 그에 따른 구동 전류 조절량은 처리 회로(115)가 계산할 수 있다.
도2는 본 발명의 한 실시예에 따른 비압축 스트레스 보상 시스템의 블록도이다. 스트레스 테이블은 메모리(205)에 저장된다. 동작 중에, 스트레스 테이블에서 스트레스값을 읽어내고, 이 스트레스값은 구동 전류 조절 회로(210)(“보상 블록”)가 구동 전류 조절값을 계산하는 데 사용한다. 구동 전류 조절값은 (부화소의 희망 광학 출력에 기초한) 구동 전류 원시값을 부화소의 축적 스트레스에 따라 조절한 것이다. 구동 전류 조절값은 (표시될 부화소의 현재 스트레스 축적률을 나타내며) 부화소 스트레스 샘플링 회로(215)(“스트레스 포획 블록”)에 입력되고, 덧셈 회로(220)에서 기존에 저장된 각 스트레스값은 현재 스트레스 축적률(즉, 구동 전류 조절값에 비례하는 숫자)만큼 증가한 후 다시 메모리(205)에 저장된다. 메모리 제어기(225)는 메모리(205)에서의 읽기/쓰기 동작을 제어하고, 필요한 경우 스트레스값을 메모리(205)로부터 구동 전류 조절 회로(210) 및 덧셈 회로(220)에 입력하며, (현재 스트레스 축적률을 더함으로써) 증가된 스트레스값을 메모리(205)에 다시 저장한다.
각 부화소의 총 스트레스를 추적하려면 방대한 양의 메모리가 필요할 수 있다. 예를 들면, 1920 x 1080 화소의 표시 장치에서, 화소 당 3개의 부화소가 있고 각 부화소에 4-바이트(32 비트)의 스트레스가 있다면, 필요한 메모리 크기는 약 25 메가바이트이다. 또한, 영상의 각 프레임(즉, 각 표시 이미지)에 대한 스트레스 양을 갱신하는 데 필요한 계산 부담도 크다.
부화소 스트레스에 기인한 광효율 감소를 추적하고 수정하는 부담을 줄이기 위하여 여러 가지 방법을 사용할 수 있다. 예를 들면, 부화소 스트레스 샘플링 회로(215)가 각 이미지(즉, 영상의 각 프레임)의 구동 전류 조절값 일부만을 샘플링할 수 있다. 예를 들면, 1080 화소 라인 (또는 열)을 가지는 표시 장치에서 영상 한 프레임 당 스트레스 테이블의 한 열만을 갱신하는 실시예가 있다. 예를 들어 표시 영상 중의 장면이 비교적 천천히 변화하는 경우에는, 각 부화소에 대해서 한 쌍의 구동 전류 조절값만을 취하고 그 사이에 있는 1079개의 값을 버리더라도 (부화소의 총 스트레스의 척도로서) 결과적인 스트레스값의 정확도에 작은, 허용가능한 손실만이 생기도록 할 수 있다.
다른 실시예에 따르면, 부화소 스트레스 샘플링 회로(215)는 또한 프레임의 일부만을 샘플링할 수 있다. 예를 들면, 1080 화소 라인 (또는 열)을 가지는 표시 장치에서 갱신율이 60 Hz(1분당 60 프레임)라면, 스트레스 샘플링 회로(215)는 매 10 프레임마다 한 번씩 이미지의 구동 전류값 전체 또는 일부를 샘플링하고 스트레스 테이블도 이에 맞춰 갱신한다.
부화소 스트레스를 스트레스 테이블에 저장하는 데 필요한 메모리 크기를 줄이는 여러 가지 방법이 있다. 예를 들면, 스트레스 프로파일 칩세트 위에 있는 메모리는 메모리에 저장되는 데이터를 압축함으로써 줄일 수 있다. 도 3을 참고하면, 본 발명의 일부 실시예에 따르면, 스트레스 테이블의 압축판을 메모리(205)에 저장한다. 압축된 스트레스 데이터는 제1 디코더(305)에 의하여 압축 해제된 후에 구동 전류 조절 회로(210)에 입력된다. 압축된 스트레스 데이터는 또한 제2 디코더(310)에 의하여 압축 해제된 후에 덧셈 회로(220)에 입력되고, 증가된 스트레스값은 인코더(315)에 의하여 부호화 또는 압축된 후 메모리(205)에 저장된다. 인코더(315)는 수신한 데이터를 압축하는 방식으로 부호화하고, 제1 및 제2 디코더(305, 310) 각각은 인코더(315)가 수행한 동작의 역동작을 수행한다. 즉 제1 및 제2 디코더(305, 310) 각각은 수신한 데이터를 압축 해제한다. 따라서, 여기에서는 “부호화(암호화, coding, encoding)”와 “압축(compressing)”을 동일한 의미로 사용하고 “복호화(암호 해제, decoding, unencoding)”와 “압축 해제(decompressing, uncompressing)”을 동일한 의미로 사용한다. 허프만 코딩(Huffman coding), 산술 코딩(arithmatic coding) 등의 엔트로피 코딩(entropy coding)을 포함하는 여러 가지 압축 방법을 사용할 수 있다.
스트레스 테이블 데이터는 여기에서 “박편(slice)”이라고 하는 블록 단위로 부호화 및 복호화되는데, 각 박편은 일반적으로 스트레스 테이블의 임의의 부분 집합일 수 있다. 실시예에 따르면, 각 박편은 스트레스 테이블의 정사각 또는 직사각 영역에 해당하고, 표시 패널(110)의 정사각 또는 직사각 영역에 해당한다. 표시 패널(110)의 정사각 또는 직사각 영역은 표시 장치 박편이라고 할 수 있고, 스트레스 테이블 의 해당 박편은 표시 장치 박편의 스트레스 프로파일이라고 할 수 있다. 별다른 언급이 없는 한 여기에서 “박편”은 스트레스 프로파일의 박편이라는 의미로 사용한다. 박편에 대응하는 표시 패널(110)의 영역의 수평 방향 치수는 “박편 폭”이라 하고 수직 방향 치수는 “박편 높이” 또는 “라인 치수(line dimension)”이라 한다. 예를 들면, 도 4에 도시한 바와 같이, 박편은 표시 장치의 4 줄 24 행에 해당하는데, 이 경우 박편 폭이 24이고, 라인 치수가 4가 된다.
각 박편의 압축판에 할당되는 메모리 영역 크기는 사용하는 압축 알고리듬에 따라 고정될 수도 있고 변화할 수도 있다. 한 실시예에 다르면, 사용하는 부호화 방법의 예측 압축률에 기초하여 고정 및 선택될 수 있다. 그러나 동작 중에 얻어진 압축률은 예를 들면, 비압축 데이터에서 심볼이 반복되는 범위에 따라 달라질 수 있다. 동작에서 얻어지는 압축률이 충분히 높지 않아서 압축된 박편이 박편의 압축판을 저장하는 데 할당된 메모리 영역에 맞지 않으면, 압축을 수행하기 전에 원본 데이터를 잘라(truncate) (즉, 각 데이터 워드의 최하위 비트 중 하나 이상을 제거하여) 메모리에 들어갈 박편 압축판의 크기를 줄임으로써 해당 메모리 영역에 맞춘다. 다른 실시예에 따르면, 최악의 상황을 포괄할 수 있도록 필요한 메모리 길이를 계산할 수 있다. 다른 실시예에 따르면, 압축판의 길이가 변화할 수 있으며, 이 경우 압축판의 길이는 테이블에 저장되거나 압축 데이터에 첨부된다.
앞서 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따르면, 부호화와 복호화는 엔트로피 코딩을 사용하여 수행될 수 있다. 사용되는 부호화는 적응형(adaptive)일 수 있으며, 비압축 박편을 부호화하고 압축 박편을 복호화하는 데 사용되는 통계 자료(statistics)는 주기적으로 갱신될 수 있다. 본 발명의 실시예에 따르면, 인코더(315)와 제2 디코더(310)가 병치되어(collocated) 있기 때문에 이 두 회로가 통계 자료를 공유할 수 있는데, 예를 들면, 제2 디코더(310)가 생성한 복호화된 심볼 통계 자료가 인코더(315)를 시드(seed)하는 데 사용될 수 있다. 동작할 때에는, 제1 부호화 스트레스 프로파일과 제1 심볼 통계 자료 집합을 메모리(205)에서 읽어온다. 제1 부호화 스트레스 프로파일은 제2 디코더(310)에 입력되는 입력 비트 스트림(510)으로 사용할 수 있고, 제1 심볼 통계 자료 집합은 복호화될 심볼 통계 자료(515)로서 제2 디코더(310)에 입력될 수 있다.
제2 디코더(310)는 제1 부호화 스트레스 프로파일을 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 (i) 제1 복호화 스트레스 프로파일 (제2 디코더(310)의 출력단(520)), (ii) (갱신된) 제2 심볼 통계 자료 집합(525)을 생성하고, 이를 인코더(315)와 공유하는 레지스터 집합 또는 국지 메모리에 저장할 수 있다. 제1 복호화 스트레스 프로파일이 덧셈 회로(220)로 의하여 증가되어 제2 스트레스 프로파일이 형성된 후에(도 3), 제2 스트레스 프로파일은 인코더(315)의 입력(530)으로 제공되고, 제2 디코더(310)가 생성하고 인코더(315)와 공유하는 제2 심볼 통계 자료 집합(525)을 사용하여 부호화된다. 결과적인 제2 부호화 스트레스 프로파일(535)은 인코더(315)로부터 출력되어 메모리 제어기(225)로 입력되고 메모리(205)에 저장된다. 박편이 갱신될 때마다 이 과정을 반복할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 인코더(315)는 엔트로피 부호화 회로에 더하여 예측 및 양자화 회로를 포함할 수 있다. 예측 및 양자화 회로는 예를 들면, 박편의 선행 부화소의 증가된 스트레스값을 부호화될 부화소의 증가된 스트레스값의 예측값으로 사용할 수 있다. 인코더(315)는 부호화될 부화소의 증가된 스트레스값을 직접 부호화하는 대신 증가된 스트레스값과 그 예측값의 차이를 부호화할 수 있다. 양자화 회로는 앞서 설명한 바와 같은 자르기(truncation)를 수행할 수 있다.
이상에서 스트레스 프로파일 압축 시스템 및 방법과 관련된 실시예에 대하여 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 인코더와 디코더가 병치된 유사한 시스템 및 방법도 사용될 수 있다.
“처리 회로”는 하드웨어, 펌웨어, 소프트웨어 또는 이들의 조합을 사용하여 구현할 수 있다. 처리 회로는 예를 들면, 응용 주문형 집적 회로(ASIC), 범용 또는 전용 중앙 처리 장치(CPU), 디지털 신호 처리기(DSP), 그래픽 처리 장치(GPU), FPGA 등의 프로그램가능 논리 장치를 포함할 수 있다. 처리 회로에서 각각의 함수는 그 기능을 수행하는 유선 하드웨어 또는 비순간(non-transitory) 저장 매체에 저장된 명령을 수행하는 CPU 등의 범용 하드웨어로 수행될 수 있다. 처리 회로는 하나의 인쇄 회로 기판(PCB)에 제작되거나 서로 연결된 PCB에 분산 배치될 수 있다. 처리 회로는 다른 처리 회로를 포함할 수 있는데, 예를 들면 PCB 상에서 서로 연결된 FPGA와 CPU를 포함할 수 있다.
“제1”, “제2”, “제3” 등의 용어를 여러 가지 원소, 성분, 영역, 층, 부분 등에 사용하지만, 이들은 이런 수식어에 의하여 한정되지 않는다. 이러한 용어는 어떤 원소, 성분, 영역, 층, 부분을 다른 원소, 성분, 영역, 층, 부분과 구별하기 위하여 사용하는 것이며 본 발명의 취지와 범위를 벗어나지 않는다.
설명의 편의를 위하여 도면에 도시한 어떤 부분 또는 특성에 대한 다른 부분 또는 특성의 관계를 나타내기 위하여 “아래”, “밑”, “위” 등 공간 관계 용어를 사용할 수 있다. 이러한 공간 관계 용어는 도면에 도시한 사용 또는 동작하는 장치의 서로 다른 위치 및/또는 방향을 나타내기 위한 것이다. 예를 들면, 도면에서 어떤 부분의 “아래” 또는 “밑”에 있는 것으로 도시한된 부분은 장치가 뒤집히면 반대로 “위”에 있는 것이 된다. 그러므로 예를 들어 “아래” 및 “밑”은 위와 아래를 모두 나타낼 수 있다. 장치가 예를 들면 90도 회전하거나 다른 방향을 향할 수 있으며, 이 경우 공간 관계 용어는 이에 맞게 해석되어야 한다. 또한, 어떤 층이 다른 두 층 “사이”에 있다고 표현했을 때, 두 층 사이에 해당 층만 있을 수도 있지만 하나 이상의 다른 층이 더 있을 수 있다.
여기에서 사용된 용어는 특정 실시예를 설명할 목적으로 사용할 뿐이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 여기에서 “실질적으로”, “약”, “대체로” 및 이와 비슷한 표현은 근사를 나타내는 표현일 뿐 “정도”를 나타내는 것이 아니며, 당업자가 알 수 있는 측정값 또는 계산값의 고유 오차를 나타내는 데 사용한다. 여기에서 “주 성분(major component)”이라는 용어는 조성물, 폴리머 또는 결과물(product)에 포함된 성분으로서 다른 성분보다 양이 많은 성분을 나타낸다. 이와는 달리, “1차 성분(primary component)”은 조성물, 폴리머 또는 결과물에서 50중량% 이상인 성분을 뜻한다. 여기에서 복수의 품목에 대하여 사용하는 “주 부분(major portion)”이라는 용어는 품목의 반 이상을 의미한다.
여기에서 수를 특별히 언급하지 않으면 단수 또는 복수의 경우를 모두 포함한다. 어떤 특징, 단계, 동작, 부분, 성분 등을 “포함”한다는 표현은 해당 부분 외에 다른 특징, 단계, 동작, 부분, 성분 등도 포함할 수 있다는 것을 의미한다. “및/또는"이라는 표현은 나열된 것들 중 하나 또는 둘 이상의 모든 조합을 포함한다. 나열 목록 앞에 기재한 “적어도 하나” 등의 표현은 목록 전체를 수식하는 것이지 목록 내의 각각의 것을 수식하는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시예를 설명할 때 사용하는 “수 있다”는 표현은 “본 발명의 하나 이상의 실시예”에 적용가능하다는 것을 뜻한다. “예시적인”이라는 용어는 예 또는 도면을 나타낸다. “사용”, “이용” 등은 이와 유사한 다른 표현과 함께 비슷한 의미로 사용될 수 있다.
부분, 층, 영역, 성분 등이 다른 부분, 층, 영역, 성분의 “위에” 있거나 “연결되어” 있는 것으로 기재하는 경우 “바로” 위에 있거나 또는 “직접” 연결되어 있는 경우뿐 아니라 중간에 다른 부분, 층, 영역, 성분 등이 더 끼어 있는 경우도 포함한다. 그러나 “바로 위에” 있거나 “직접 연결”되어 있는 것으로 기재하면 중간에 다른 부분이 없다는 것을 뜻한다.
여기에 기재한 수치 범위는 해당 범위 안에 포함되는 동일한 정확도의 모든 부분 범위(sub-range)를 포함한다. 예를 들면, “1.0 내지 10.0”의 범위는 최소값 1.0과 최대값 10.0 및 그 사이에 있는 모든 부분 범위, 즉, 1.0 이상의 최소값과 10.0 이하의 최대값을 가지는 부분 범위, 예를 들면 2.4 내지 7.6을 포함한다. 여기에서 언급한 최대값은 그 안에 포함되고 그보다 작은 모든 수치 한계를 포함하고, 본 명세서에 기재한 최소값은 그 안에 포함되고 그보다 큰 모든 수치 한계를 포함한다.
이상에서 스트레스 프로파일 압축 시스템 및 방법의 실시예에 대하여 설명 및 도시하였지만, 당업자라면 이러한 실시예를 변경 및 수정할 수도 있다. 따라서 여기에서 제시한 원리에 따라 구성된 다른 스트레스 프로파일 압축 시스템 및 방법도 본 발명에 포함된다. 본 발명은 다음의 청구범위 및 그 등가물에 의하여 정의된다.
110: 표시 패널
115: 처리 회로
120, 205: 메모리
210: 전류 조절 회로
215: 스트레스 샘플링 회로
220: 덧셈 회로
225: 메모리 제어기
305, 310: 디코더
315: 인코더

Claims (20)

  1. 제1 부호화 스트레스 프로파일 및 제1 심볼 통계 자료 집합을 메모리에서 읽어내는 단계,
    제1 디코더에 의하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일을 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 제1 복호화 스트레스 프로파일과 제2 심볼 통계 자료 집합을 형성하는 단계,
    상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 증가시켜 제2 스트레스 프로파일을 형성하는 단계,
    인코더에 의하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 상기 제2 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 제2 부호화 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 그리고
    상기 제2 부호화 스트레스 프로파일을 상기 메모리에 저장하는 단계
    를 포함하는 표시 장치 구동 방법.
  2. 제1항에서,
    상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성 단계는 엔트로피 부호화를 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화하는 단계를 포함하는 표시 장치 구동 방법.
  3. 제2항에서,
    상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성 단계는 산술 인코딩을 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화하는 단계를 포함하는 표시 장치 구동 방법.
  4. 제1항에서,
    제2 디코더에 의하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일을 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 형성하는 단계,
    제1 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제1 조정 구동 전류를 계산하는 단계, 그리고
    상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동하는 단계
    를 더 포함하는 표시 장치 구동 방법.
  5. 제4항에서,
    상기 제2 스트레스 프로파일 형성 단계는 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일의 원소(element)에 상기 제1 조정 구동 전류에 비례하는 숫자를 더하는 단계를 포함하는 표시 장치 구동 방법.
  6. 제4항에서,
    상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동한 다음에,
    제2 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제2 조정 구동 전류를 계산하는 단계, 그리고
    상기 제2 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동하는 단계
    를 더 포함하는 표시 장치 구동 방법.
  7. 제6항에서,
    상기 제2 스트레스 프로파일 형성 단계는 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일의 원소(element)에 상기 제2 조정 구동 전류에 비례하는 숫자를 더하는 단계를 포함하는 표시 장치 구동 방법.
  8. 메모리, 그리고
    제1 디코더 및 인코더를 포함하는 처리 회로
    를 포함하며,
    상기 처리 회로는,
    제1 부호화 스트레스 프로파일 및 제1 심볼 통계 자료 집합을 상기 메모리로부터 읽어내고,
    상기 제1 디코더를 통하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 제1 복호화 스트레스 프로파일 및 제2 심볼 통계 자료 집합을 형성하고,
    상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 증가시켜 제2 스트레스 프로파일을 형성하고,
    상기 인코더를 통하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 상기 제2 심볼 통계 자료 집합과 처리하여 제2 부호화 스트레스 프로파일을 형성하고
    상기 제2 부호화 스트레스 프로파일을 상기 메모리에 저장하는
    표시 장치의 스트레스 보상 시스템.
  9. 제8항에서,
    상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성은 엔트로피 부호화를 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화하는 스트레스 보상 시스템.
  10. 제9항에서,
    상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성은 산술 인코딩을 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화하는 스트레스 보상 시스템.
  11. 제8항에서,
    상기 처리 회로는 제2 디코더를 더 포함하고,
    상기 처리 회로는,
    제2 디코더에 의하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일을 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 형성하고,
    제1 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제1 조정 구동 전류를 계산하고,
    상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동하는
    스트레스 보상 시스템.
  12. 제11항에서,
    상기 제2 스트레스 프로파일 형성은 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일의 원소(element)에 상기 제1 조정 구동 전류에 비례하는 숫자를 더하는 스트레스 보상 시스템.
  13. 제11항에서,
    상기 처리 회로는
    상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동한 다음에,
    제2 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제2 조정 구동 전류를 계산하고,
    상기 제2 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동하는
    스트레스 보상 시스템.
  14. 제13항에서,
    상기 제2 스트레스 프로파일 형성은 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일의 원소(element)에 상기 제2 조정 구동 전류에 비례하는 숫자를 더하는 스트레스 보상 시스템.
  15. 표시 패널,
    메모리, 그리고
    제1 디코더 및 인코더를 포함하는 처리 회로
    를 포함하며,
    상기 처리 회로는,
    제1 부호화 스트레스 프로파일 및 제1 심볼 통계 자료 집합을 상기 메모리로부터 읽어내고,
    상기 제1 디코더를 통하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 제1 복호화 스트레스 프로파일 및 제2 심볼 통계 자료 집합을 형성하고,
    상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 증가시켜 제2 스트레스 프로파일을 형성하고,
    상기 인코더를 통하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 상기 제2 심볼 통계 자료 집합과 처리하여 제2 부호화 스트레스 프로파일을 형성하고
    상기 제2 부호화 스트레스 프로파일을 상기 메모리에 저장하는
    표시 장치.
  16. 제15항에서,
    상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성은 엔트로피 부호화를 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화하는 표시 장치.
  17. 제16항에서,
    상기 제2 부호화 스트레스 프로파일 형성은 산술 인코딩을 사용하여 상기 제2 스트레스 프로파일을 부호화하는 표시 장치.
  18. 제15항에서,
    상기 처리 회로는 제2 디코더를 더 포함하고,
    상기 처리 회로는,
    제2 디코더에 의하여 상기 제1 부호화 스트레스 프로파일을 상기 제1 심볼 통계 자료 집합과 함께 처리하여 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일을 형성하고,
    제1 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제1 조정 구동 전류를 계산하고,
    상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동하는
    표시 장치.
  19. 제18항에서,
    상기 처리 회로는
    상기 제1 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동한 다음에,
    제2 원본 구동 전류 및 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일에 기초하여 제2 조정 구동 전류를 계산하고,
    상기 제2 조정 구동 전류와 동일한 전류로 상기 표시 장치의 부화소를 구동하는
    표시 장치.
  20. 제19항에서,
    상기 제2 스트레스 프로파일 형성은 상기 제1 복호화 스트레스 프로파일의 원소(element)에 상기 제2 조정 구동 전류에 비례하는 숫자를 더하는 표시 장치.
KR1020190011391A 2018-03-15 2019-01-29 표시 장치, 그 구동 방법 및 그 스트레스 보상 시스템 KR102666533B1 (ko)

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