KR20190107556A - Replacement type test device for flexible printed circuit board with flexure portion and test method using that - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 모듈기판이나 보호회로로 사용되는 FPCB 중에 굴곡부가 구비되는 FPCB를 기판본체에 안착시킬 때에 굴곡부가 변형되는 것을 방지할 수 있고, FPCB의 단자부를 검사장치의 접속검사부에 밀착시켜 정확한 검사작업을 행할 수 있으며, FPCB가 안착되는 설치플레이트를 안착플레이트로부터 분리하여 교체할 수 있는 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to an FPCB replaceable inspection device having a bent portion and an FPCB inspection method using the same, and more particularly, when the FPCB having the bent portion is mounted on the substrate body in a FPCB used as a module substrate or a protection circuit. The bending part can be prevented from being deformed, the terminal part of the FPCB can be brought into close contact with the connection inspection part of the inspection device, and accurate inspection work can be carried out. The present invention relates to an FPCB replaceable inspection device and an FPCB inspection method using the same.
일반적으로 스마트폰 제조 기술은 세계 각국의 전자 업체가 손쉽게 개발할 수 있는 전자제품으로 보편화되었고, 이러한 보편화가 가능해진 이유 중의 하나는 부품의 모듈화라고 할 수 있다.In general, smart phone manufacturing technology has become popular as an electronic product that can be easily developed by electronic companies around the world, and one of the reasons for this universalization is the modularization of parts.
종래에는 각 제조업체마다 회로를 독자적으로 설계하고 부품을 실장하는 기술 등의 제조기술이 필요하였으나 현재는 필요한 부품이 대부분 모듈화되어 외부 전문업체로부터 공급받을 수 있으므로 메인보드에 모듈화된 부품이 실장된 기판을 접속핀단자를 통해 접속시키면 제조가 완료된다.Conventionally, each manufacturer needed manufacturing technology such as circuit design and component mounting. However, since most of the necessary parts are modularized and can be supplied from an external specialist company, a board mounted with modular components on the main board is required. When the connection is made through the connecting pin terminal, the manufacturing is completed.
예를 들어 카메라가 필요하면 외부 전문업체로부터 공급되는 카메라 모듈이 구비된 모듈 기판을 메인보드에 접속핀단자를 통해 접속시키면 되는 것이다. 이렇게 메인보드에 접속핀단자를 통해 접속되며 인아웃 접속핀이 구비되는 카메라 모듈, 스피커 모듈, 또는 마이크 모듈 등이 각각 구비되는 기판을 본 발명에서는 '모듈 기판'이라고 부르기로 한다.For example, if a camera is required, a module board equipped with a camera module supplied from an external specialist may be connected to the main board through a connection pin terminal. As described above, a substrate which is connected to the main board through a connection pin terminal and provided with a camera module, a speaker module, or a microphone module provided with an in-out connection pin will be referred to as a module module in the present invention.
모듈 기판은 리드선이 인쇄되어 있는 FPCB(Flexible Printed Circuit Board) 상에, 반도체칩, 스마트폰 기능버튼 모듈, 안테나 모듈 등과 같은 적어도 하나 이상의 모듈이 리드선을 통해 전기적으로 연결되며 하나의 기판 형태를 이루고 있다. 이러한 모듈 기판은 전기 전자 장치(예컨대 스마트폰 등)에 탑재되어 있는 메인 회로 기판에 접속되어 하나의 장치를 완성하게 된다.The module substrate is formed on a flexible printed circuit board (FPCB) on which a lead wire is printed, and at least one module such as a semiconductor chip, a smartphone function button module, an antenna module, and the like is electrically connected through the lead wire to form a single board. . Such a module substrate is connected to a main circuit board mounted in an electric and electronic device (for example, a smartphone) to complete one device.
한편으로는 이렇게 부품이 모듈화됨에 따라 스마트폰을 완제품으로 제조하는 업체의 경우 외부 업체로부터 공급받는 모듈 기판의 종류가 다양해지고 수량이 증가되어 이를 검사하는데 소요되는 시간이 증가하고 검사 장비를 제조하고 유지 보수하는데 많은 비용이 소요되게 되었다. 특히 모듈 기판의 종류마다 형상이나 기능이 달라서 검사장비를 모듈 기판별로 별도로 제조하고 이를 유지해야되는 문제점이 발생되었다.On the other hand, as the components are modularized, companies that manufacture smartphones as finished products vary in the number of types of module boards supplied from external companies and their quantity increases, increasing the time required to inspect them and manufacturing and maintaining inspection equipment. Repairs have become expensive. In particular, since the shape or function of each module substrate is different, there is a problem in that the inspection equipment must be manufactured and maintained separately for each module substrate.
또한 스마트폰 모델이 해마다 다양해지고 모델당 수명이 짧아지면서 새로운 모델이 나올 때마다 검사 장비를 별도로 제조하고 유지해야하는 부담이 가중되었다.In addition, as smartphone models are diversified year by year and life per model is shortened, the burden of separately manufacturing and maintaining inspection equipment is added to each new model.
예를 들어 삼성전자에서 생산하는 갤럭시 3, 갤럭시 4 및 갤럭시 5라는 모델의 경우 형상과 크기가 다르고 해당 모델에 사용되는 카메라 모듈도 각각 다른 사양을 사용하기 때문에 각각의 스마트폰 모델(기종)별로 카메라 모듈이 구비된 모듈 기판을 검사하는 장비를 별도로 제조하고 유지해야 하는 문제점이 있었다.For example, the models Galaxy 3, Galaxy 4, and Galaxy 5 produced by Samsung Electronics have different shapes and sizes, and the camera modules used in the models use different specifications, so each smartphone model (model) has a camera. There has been a problem of separately manufacturing and maintaining equipment for inspecting a module substrate provided with a module.
카메라 모듈만을 설명하였으나, 실질적으로 스마트폰 하나(예를 들어, 갤럭시 5)만을 예로 들더라도 마이크 기능을 제공하는 모듈 기판, 안테나 기능을 제공하는 모듈 기판, 홈 버튼을 제공하는 모듈 기판 등 다양한 기능을 제공하는 복수 개 모듈 기판을 사용하므로 각 모듈 기판을 검사하기 위한 검사 장비를 별도로 구비하여야 하는 문제점이 있었다.Although only the camera module has been described, in fact, even if only one smartphone (for example, the Galaxy 5) is used as an example, a module board providing a microphone function, a module board providing an antenna function, a module board providing a home button, etc. Since there is a plurality of module substrates to be provided, there is a problem that a separate inspection equipment for inspecting each module substrate should be provided.
스마트폰 기종별, 각 기종별로 사용하는 모듈 기판별로 별도의 검사 장치를 구비하여야 하고 대부분의 구성이 하드웨어 중심으로 구현되어 스마트폰의 기종 및 모듈 기판이 변경될 때마다 새롭게 제작하여야 하는 문제점이 있었다.There must be a separate inspection device for each module substrate used for each smartphone model, each model has a problem that must be newly produced whenever the model and module substrate of the smartphone is changed because most of the configuration is implemented by hardware.
또한 각 검사 장비마다 한 명 내지는 두 명 정도의 검사 인력이 필요하다는 문제점이 있었다.In addition, there was a problem that one or two inspection personnel are required for each inspection equipment.
또한, 동일한 모델에 사용되는 스피커 기능을 제공하는 모듈 기판을 검사할 때 통상적으로 한 가지 기능만을 검사하지 않고 몇 가지 검사를 순차적으로 수행해야 하는 모듈 기판이 있다. 예를 들어 갤럭시 5에 적용되며, 마이크 기능을 제공하는 모듈 기판을 예를 들어 설명하면, 입력핀에 특정 신호를 인가할 때 출력핀에서 정상적인 신호가 출력되는 지 여부를 검사하는 인/아웃핀 테스트와 마이크가 정상적인 동작을 수행하는지 여부를 검사하는 마이크 기능 검사를 각각 별개의 검사 장비를 이용하여 수행하고 있다.In addition, when inspecting a module substrate that provides a speaker function used in the same model, there is a module substrate that typically requires several tests to be performed sequentially instead of only one function. For example, a module board that is applied to the Galaxy 5 and provides a microphone function, for example, is described as an in / out pin test that checks whether a normal signal is output from an output pin when a specific signal is applied to the input pin. The microphone function test, which checks whether the and microphones perform normal operation, is performed using separate test equipment.
따라서 동일한 모듈 기판의 다른 기능을 검사할 때에도 매번 모듈 기판을 지그에 접속하여야 되므로 테스트에 많은 시간이 소요되는 문제점이 있었다.Therefore, even when checking the other functions of the same module substrate, the module substrate must be connected to the jig every time, so there was a problem that the test takes much time.
물론 이러한 문제는 삼성전자가 최종 제품의 조립 및 생산을 담당하지 않고 삼성전자와 사전에 협약된 협력업체에서 검사를 하도록 지시할 수 있는데 해당 협력업체에도 동일한 문제가 발생하게 되었다.Of course, this problem may instruct Samsung to inspect the supplier in advance with Samsung without having to assemble and produce the final product.
다른 문제점으로는 종래 검사장비의 경우는 네트워크로 연결되지 않는 자립형(stand alone)으로 사용되고 있어 일부 작업자들의 경우에는 입고되는 부품 모듈 중에 양품이라고 판정되는 부품 모듈을 불량으로 처리하고 몰래 외부업체에 판매하여 부당한 이득을 취하는 경우도 발생하였다.Another problem is that the conventional inspection equipment is used as stand alone, which is not connected to the network. Some workers deal with defective parts modules that are judged to be good among the received parts modules and sell them to outside companies without notice. Unjust gains have also occurred.
상기한 문제점을 해결하기 위해 모듈 기판 검사 장치가 개발되었으며, 종래기술에 따른 모듈 기판 검사 장치는, 다수 개의 접속핀을 가지며, 검사 시 다수 개의 전압을 요하는 모듈 기판을 검사하는 장치에서, 내부에 수납공간을 구비하고, 상면에 개구면 또는 개구부가 형성된 몸체와, 몸체의 상면 상에 고정되고, 일부 영역은 상하 방향으로 관통되는 관통부가 형성된 상부덮개와, 관통부에 설치되며 상면 상에는 접속핀과 접속되는 핀블록이 구비되고, 하면 상에는 하면접속구를 구비하며, 핀블록을 구성하는 모든 핀은 하면접속구와 각각 연결되는 인터페이스 보드와, 상부덮개의 상부에 설치되고, 모듈 기판을 안착시키는 안착부가 구비되는 검사용 지그와, 인터페이스 보드의 핀블록에 접속된 모듈 기판의 접속핀을 상부에게 가압하는 검사핀 접속장치와, 핀블록을 구성하는 일부 핀과 전기적으로 연결되는 복수 개의 접속핀을 갖는 접속구를 구비하며, CPU, 메모리, 유선 통신부 및 무선 통신부를 구비하는 메인 보드와, 핀블록을 구성하는 일부 핀과 전기적으로 연결되는 복수 개의 접속핀을 갖는 접속구를 구비하며, CPU, 메모리, 및 유선 통신부를 구비하며, 핀블록에 접속된 다수 개의 접속핀 중에서 검사하고자 하는 핀을 선택하는 인아웃 검사 보드와, 핀블록을 구성하는 일부 핀과 전기적으로 연결되는 복수 개의 접속핀을 갖는 접속구를 구비하며, CPU, 메모리, 및 유선통신부를 구비하고, 인아웃 검사 보드에 의해 선택되는 핀에 전압을 인가하는 전원제공 보드와, 핀블록을 구성하는 일부 핀과 전기적으로 연결되는 복수 개의 접속핀을 갖는 접속구를 구비하며, CPU, 메모리, 및 유선통신부를 구비하고, 마이크를 갖는 모듈 기판을 검사하는 마이크 검사 보드를 포함한다.In order to solve the above problems, a module substrate inspection apparatus has been developed, and a module substrate inspection apparatus according to the prior art has a plurality of connection pins, and in an apparatus for inspecting a module substrate requiring a plurality of voltages during inspection, A body having an accommodating space and having an opening surface or an opening formed on an upper surface thereof, a top cover having a through portion fixed on an upper surface of the body, and having a through portion penetrating in a vertical direction; A pin block to be connected is provided, and a lower surface connector is provided on the lower surface, and all the pins constituting the pin block are provided on an interface board connected to the lower surface connector, respectively, and a seating portion for mounting the module substrate. Inspection pin connection to press the test jig to be pressed and the connection pin of the module board connected to the pin block of the interface board to the upper part A main board having a plurality of connection pins electrically connected to some pins constituting the pin block, the main board including a CPU, a memory, a wired communication unit and a wireless communication unit, and some pins constituting the pin block; An in-out inspection board having a connection port having a plurality of connection pins electrically connected to each other, having a CPU, a memory, and a wired communication unit, and selecting a pin to be inspected among a plurality of connection pins connected to the pin block; A power supply board having a connection port having a plurality of connection pins electrically connected to some pins constituting the wire, and having a CPU, a memory, and a wired communication unit, and applying a voltage to a pin selected by the inout test board; It has a connector having a plurality of connection pins electrically connected to some pins constituting the pin block, and has a CPU, a memory, and a wired communication unit. And, a microphone board inspection for inspecting the module substrate with the microphone.
본 발명의 배경기술은 대한민국 공개특허공보 10-2016-0092408호(2016년 08월 04일 공개, 발명의 명칭 : 모듈 기판 검사 장치)에 개시되어 있다.Background art of the present invention is disclosed in Republic of Korea Patent Publication No. 10-2016-0092408 (August 04, 2016, the name of the invention: module substrate inspection apparatus).
종래기술에 따른 검사장치는, FPCB를 검사장치에 안착시켜 검사할 때에 다양한 형상의 FPCB를 지지할 수 있는 별도의 안착구조가 구비되지 않기 때문에 굴곡부를 구비하는 FPCB를 검사할 때에 FPCB의 단자부를 검사장치의 핀부재에 접속시키기 어려운 문제점이 있다.The inspection apparatus according to the prior art inspects the terminal portion of the FPCB when inspecting the FPCB having the bent portion because no separate mounting structure for supporting the FPCB of various shapes is provided when the FPCB is mounted on the inspection apparatus for inspection. There is a problem that is difficult to connect to the pin member of the device.
또한, 종래기술에 따른 검사장치는, 다수 개의 FPCB를 안착시켜 동시에 검사작업을 진행할 수 있는 별도의 기술구성이 구비되지 않기 때문에 양산되는 FPCB의 검사작업에 소요되는 시간 및 비용을 절감하기 어려운 문제점이 있고, 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 다수 개의 FPCB가 안착되어 동시에 검사작동을 행하는 기술구성을 제공하는 경우에 다수 개의 안착부위 중에 어느 하나의 안착부위에 고장이 발생되면 다수 개의 FPCB가 안착되어 동시에 검사작동을 행하는 기술구성을 모두 교체해야 하기 때문에 다수 개의 FPCB를 안착시키는 기술구성에 고장이 발생되면 이를 교체하기 위해 소요되는 시간 및 비용을 절감하기 어려운 문제점이 있다.In addition, the inspection apparatus according to the prior art has a problem that it is difficult to reduce the time and cost required for mass production of FPCB inspection work because it is not equipped with a separate technical configuration that can be carried out at the same time by mounting a plurality of FPCB In order to solve the problems described above, when a plurality of FPCBs are seated and provide a technical configuration for performing an inspection operation at the same time, when a failure occurs in any one of the seating sites, a plurality of FPCBs are seated. At the same time, it is difficult to reduce the time and cost required to replace a technical configuration that seats a plurality of FPCBs because the technical configuration that performs the inspection operation must be replaced.
따라서 이를 개선할 필요성이 요청된다.Therefore, there is a need for improvement.
본 발명은 모듈기판이나 보호회로로 사용되는 FPCB 중에 굴곡부가 구비되는 FPCB를 기판본체에 안착시킬 때에 굴곡부가 변형되는 것을 방지할 수 있고, FPCB의 단자부를 검사장치의 접속검사부에 밀착시켜 정확한 검사작업을 행할 수 있으며, FPCB가 안착되는 설치플레이트를 안착플레이트로부터 분리하여 교체할 수 있는 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention can prevent the bent portion from deforming when the FPCB having the bent portion is mounted on the substrate body in the FPCB used as the module substrate or the protection circuit, and the terminal portion of the FPCB is closely attached to the connection inspection portion of the inspection device for accurate inspection work. The purpose of the present invention is to provide a replaceable inspection device for FPCB and an FPCB inspection method using the same, in which an installation plate on which the FPCB is seated can be separated and replaced from the seating plate.
본 발명은, 복수 개의 FPCB가 동시에 공급되는 투입패널을 구비하는 베이스블록; 상기 투입패널 측으로 전진 또는 후진되게 상기 베이스블록에 설치되고, 복수 개의 FPCB를 동시에 가압하는 구동부가 구비되는 이동블록; 상기 투입패널에 공급되고, 다수 개의 FPCB가 안착되는 안착플레이트; 상기 안착플레이트에 돌출되게 설치되고, 굴곡부를 구비하는 FPCB의 굴곡부가 변형되지 않게 지지하는 지지블록; 상기 지지블록에 구비되고, 상기 단자부와 접속되어 전기적인 신호를 송수신하며 검사작동을 행하는 접속검사부; 상기 이동블록에 구비되고, 상기 구동부의 작동에 의해 복수 개의 상기 단자부를 상기 탄성지지부 및 상기 접속검사부 측으로 동시에 가압하여 복수 개의 FPCB의 검사를 한 번의 작동에 의해 완료하는 가압검사부; 및 상기 접속검사부 또는 상기 지지블록이 설치되는 복수 개의 결합홈부와, FPCB가 안착되는 검사홈부가 1조의 홈부를 이루고, 복수 조의 홈부가 연속되게 형성되며, 고장이 발생되는 홈부를 교체할 수 있도록 상기 안착플레이트에 착탈 가능하게 설치되는 복수 개의 설치플레이트를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention, a base block having an input panel to which a plurality of FPCB is supplied at the same time; A moving block installed at the base block so as to move forward or backward toward the input panel and having a driving unit for simultaneously pressing a plurality of FPCBs; A seating plate supplied to the input panel and having a plurality of FPCBs seated thereon; A support block protruding from the seating plate and supporting the curved portion of the FPCB including the curved portion so as not to be deformed; A connection inspection unit provided in the support block and connected to the terminal unit to transmit and receive an electrical signal and perform an inspection operation; A pressure inspection unit provided in the moving block and simultaneously pressing the plurality of terminal portions toward the elastic support portion and the connection inspection portion by the operation of the driving unit to complete the inspection of the plurality of FPCBs by one operation; And a plurality of coupling grooves in which the connection inspection unit or the support block is installed, and an inspection groove in which the FPCB is seated, constitute a set of grooves, and a plurality of grooves are continuously formed, and the grooves in which a failure occurs can be replaced. It characterized in that it comprises a plurality of installation plates detachably installed on the seating plate.
또한, 본 발명의 상기 가압검사부는, 상기 이동블록에 설치되고, 상기 구동부가 구비되는 작동블록에 상기 구동부에 의해 전진 또는 후진 가능하게 설치되는 가압대; 상기 가압대로부터 분기되고, 복수 개의 상기 접속검사부에 대향되게 배치되는 복수 개의 설치대; 및 상기 설치대에 구비되고, 상기 단자부에 탄성력을 제공하며 상기 접속검사부 측으로 가압하는 가압블록를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the pressure inspection unit of the present invention, the pressing block is installed on the movable block, the driving unit is provided to be moved forward or backward by the drive unit provided with the drive unit; A plurality of mounting tables branched from the pressing table and disposed to face the plurality of connection inspection units; And a pressing block provided on the mounting table and providing an elastic force to the terminal portion and pressurizing toward the connection inspection portion.
또한, 본 발명의 상기 가압블록은, 상기 설치대에 설치되고, 출몰홈부 및 작동홀부를 구비하는 블록본체; 상기 작동홀부에 설치되는 가이드축; 상기 가이드축을 따라 슬라이딩 가능하게 설치되고, 상기 단자부를 상기 접속검사부 측으로 가압하는 접촉블록; 및 상기 블록본체와 상기 접촉블록 사이에 개재되는 제2탄성부재를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the pressure block of the present invention, the block body is installed on the mounting table, having a recessed groove portion and the operation hole; A guide shaft installed at the operation hole; A contact block slidably installed along the guide shaft and configured to press the terminal part toward the connection test part; And a second elastic member interposed between the block body and the contact block.
또한, 본 발명은, (a) 복수 개의 지지블록이 돌출되게 구비되는 안착플레이트에 복수 개의 FPCB를 안착시켜 FPCB의 단자부를 상기 지지블록의 접속검사부에 대향되게 배치시키는 안착단계; (b) 상기 안착플레이트를 베이스블록의 투입패널에 공급하고, 상기 베이스블록에 이동 가능하게 설치되는 이동블록을 구동시켜 상기 이동블록에 구비되는 가압대를 상기 지지블록 사이의 간격에 배치시키는 배치단계; (c) 상기 가압대로부터 분기되어 상기 지지블록의 접속검사부에 대향되게 배치되는 설치대를 상기 단자부 측으로 이동시키는 이동단계; 및 (d) 상기 설치대에 구비되는 가압블록이 상기 단자부를 상기 접속검사부에 밀착시키면서 복수 개의 상기 단자부가 각각 상기 접속검사부에 접속되면서 동시에 검사작동이 진행되는 검사단계를 포함하고, 상기 (a)단계는, 상기 접속검사부 또는 상기 지지블록이 설치되는 복수 개의 결합홈부와, FPCB가 안착되는 검사홈부가 1조의 홈부를 이루고, 복수 조의 홈부가 연속되게 형성되는 설치플레이트의 상기 결합홈부에 상기 접속검사부 및 지지블록을 설치한 후에 상기 검사홈부에 FPCB를 안착시켜 이루어지는 것을 특징으로 한다.In addition, the present invention, (a) a seating step of placing a plurality of FPCB on the seating plate is provided with a plurality of supporting blocks protruding so that the terminal portion of the FPCB facing the connection inspection portion of the support block; (b) an arranging step of supplying the seating plate to an input panel of the base block and driving a moving block installed to be movable in the base block so as to arrange a pressing table provided in the moving block at intervals between the support blocks; ; (c) a moving step of branching from the pressing table to move the mounting table disposed opposite to the connection inspection part of the support block toward the terminal part; And (d) an inspection step in which the pressing block provided on the mounting table adheres the terminal portion to the connection inspection portion while the plurality of terminal portions are connected to the connection inspection portion, respectively, and the inspection operation is performed at the same time. The connection inspection unit and the connection inspection unit or the plurality of coupling grooves in which the support block is installed, and the inspection groove in which the FPCB is seated form a set of grooves, and the connection inspection unit in the coupling groove of the installation plate in which a plurality of grooves are continuously formed. After installing the support block is characterized in that the FPCB seated on the inspection groove.
본 발명에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법은, FPCB가 안착되는 안착플레이트에 돌출되게 설치되는 지지블록이 구비되므로 안착플레이트와 지지블록에 의해 형성되는 굴곡부위에 FPCB의 굴곡된 연장부를 안착시키면서 굴곡부를 구비하는 FPCB를 용이하게 안착시켜 정확한 검사작업을 행할 수 있는 이점이 있다.FPCB replacement inspection apparatus having a bent portion according to the present invention and the FPCB inspection method using the same, because the support block is provided to protrude to the mounting plate on which the FPCB is seated in the bent portion formed by the mounting plate and the support block While seating the curved extension of the FPCB, there is an advantage that it is possible to easily seat the FPCB having the bent portion to perform accurate inspection work.
또한, 본 발명에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법은, 반도체소자로부터 굴곡되어 연장되는 연장부가 지지블록에 안착되고, 연장부에 구비되는 단자부를 지지블록에 구비되는 접속검사부에 가압하며 밀착시키는 가압검사부가 구비되므로 반도체소자로부터 굴곡된 방향으로 간격을 유지하며 배치되는 단자부를 지지블록의 접속검사부에 밀착시키면서 정확한 검사작업을 행할 수 있어 검사장치의 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 굴곡부를 구비하는 FPCB의 검사작업에 소요되는 시간 및 비용을 절감할 수 있는 이점이 있다.In addition, the FPCB replaceable inspection device having a bent portion according to the present invention and the FPCB inspection method using the same, an extension portion that is bent and extended from the semiconductor element is seated on the support block, the terminal portion provided on the extension portion provided on the support block Since the pressure inspection unit is provided to press and close the connection inspection unit to be in close contact with the connection inspection unit of the support block while maintaining the gap in the bent direction from the semiconductor device, it is possible to perform accurate inspection work to improve the reliability of the inspection apparatus. It can be, and there is an advantage that can reduce the time and cost required for the inspection work of the FPCB having the bent portion.
또한, 본 발명에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법은, 접속검사부를 감싸도록 배치되고, 가압검사부의 작동에 의해 단자부가 접속검사부에 밀착될 때에 가압검사부에 탄성력을 제공하는 탄성지지부가 구비되고, 접속검사부를 탄력적으로 지지하는 탈거부가 구비되므로 단자부가 핀부재에 가압될 때에 핀부재와 단자부의 연결부위에 탄성력을 제공하여 핀부재 및 단자부가 변형되거나 파손되지 않고, 밀착된 상태를 효과적으로 유지할 수 있어 보다 더 정확한 검사작업을 행할 수 있는 이점이 있다.In addition, the FPCB replaceable inspection device having a bent portion according to the present invention and the FPCB inspection method using the same is arranged to surround the connection inspection portion, the elastic force in the pressure inspection portion when the terminal portion is in close contact with the connection inspection portion by the operation of the pressure inspection portion It is provided with an elastic support for providing, and the removal part for elastically supporting the connection inspection part is provided so that the pin member and the terminal portion is not deformed or damaged by providing an elastic force to the connecting portion of the pin member and the terminal portion when the terminal portion is pressed against the pin member. As a result, it is possible to effectively maintain the close contact state and thus it is possible to perform more accurate inspection work.
또한, 본 발명에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법은, 검사작업이 종료된 후에 지지블록의 접속검사부로부터 FPCB의 단자부를 분리시키는 탈거부가 구비되므로 검사작업이 종료된 FPCB를 검사장치로부터 용이하게 배출시킬 수 있어 탈거작업 중에 발생되는 FPCB의 변형 및 파손을 방지할 수 있고, 검사장치로부터 FPCB가 분리되지 않는 오작동을 방지할 수 있어 FPCB 검사작동에 소요되는 시간 및 비용을 절감할 수 있는 이점이 있다.In addition, the FPCB replaceable inspection device having a bent portion according to the present invention and the FPCB inspection method using the same, the inspection operation is terminated because the removal part for separating the terminal portion of the FPCB from the connection inspection portion of the support block after the inspection operation is finished The FPCB can be easily discharged from the inspection device to prevent deformation and breakage of the FPCB generated during the removal operation, and to prevent malfunctions that do not separate the FPCB from the inspection device. This has the advantage of reducing costs.
또한, 본 발명에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체용 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법은, FPCB가 안착되는 검사홈부와, FPCB의 단자부와 전기적으로 연결되는 PCB가 안착되는 제1결합홈부와, FPCB의 굴곡부가 지지되는 지지블록이 안착되는 제2결합홈부가 1조를 이루고, 다수 조의 홈부가 일정한 간격을 유지하는 설치플레이트가 구비되고, 다수 개의 설치플레이트가 연속되게 안착되는 안착플레이트가 구비되므로 다수 개의 FPCB를 하나의 안착플레이트에 일정한 간격을 유지하며 안착시켜 동시에 검사작업을 행할 수 있고, 어느 한 조의 검사홈부, 제1결합홈부 및 제2결합홈부에 고장이 발생되는 경우에 고장이 발생되는 부위의 설치플레이트만을 안착플레이트로부터 분리시켜 교체할 수 있어 안착플레이트의 수리작업에 소요되는 시간 및 비용을 절감할 수 있고, 교체작업에 소요되는 시간 및 비용을 단축시킬 수 있어 FPCB의 생산성을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.In addition, the replacement inspection apparatus for FPCB having a bent portion according to the present invention and the FPCB inspection method using the same, the first groove and the test groove to which the FPCB is seated, the PCB is electrically connected to the terminal portion of the FPCB seated; Since the second coupling groove to which the support block on which the bent portion of the FPCB is supported forms a set, a plurality of grooves are provided with an installation plate that maintains a constant interval, and a plurality of installation plates are provided with a mounting plate that is continuously seated. At the same time, a plurality of FPCBs may be placed on one seating plate at a predetermined interval, and inspection may be performed at the same time. When a failure occurs in any one of the inspection groove, the first coupling groove, and the second coupling groove, Only the installation plate of the site can be separated from the mounting plate and replaced, thereby reducing the time and cost of repairing the mounting plate. Can be reduced, there is an advantage that can shorten the time and cost of replacement operations have improved the productivity of the FPCB.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치가 도시된 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치가 도시된 안착플레이트 투입공정이 도시된 작동 상태도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 안착플레이트 및 가압검사부가 도시된 사시도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가압검사부 및 지지블록이 도시된 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가압검사부 및 지지블로깅 도시된 작동상태도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 핀부재가 도시된 작동 상태도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 지지블록 설치구조가 도시된 사시도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 출몰블록이 도시된 정면도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 접속검사부 및 탄성지지부가 도시된 구성도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 접속검사부 및 탄성지지부가 도시된 단면도이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가압블록이 도시된 분해도이다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가압블록이 도시된 사시도이다.
도 13은 본 발명의 일 실시에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 설치플레이트 및 지지블록이 도시된 사시도이다.
도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 지지블록이 도시된 분해 사시도이다.
도 15는 본 발명의 다른 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가이드고정부가 도시된 사시도이다.
도 16은 본 발명의 다른 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가이드고정부가 도시된 분해 사시도이다.
도 17은 본 발명의 다른 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가이드고정부 작동 상태가 도시된 단면도이다.1 is a block diagram showing a replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
Figure 2 is an operating state diagram showing the seating plate input process is shown a replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a perspective view of the seating plate and pressure inspection of the replacement inspection apparatus for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
Figure 4 is a cross-sectional view showing the pressure inspection unit and the support block of the replacement inspection apparatus for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a diagram illustrating an operation state of the pressure inspection unit and the support blogging of the replaceable inspection apparatus for the FPCB having the bent portion according to the embodiment of the present invention.
6 is an operation state diagram showing the pin member of the replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
7 is a perspective view showing a support block installation structure of the replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
8 is a front view showing the appearance block of the replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
9 is a block diagram showing the connection inspection portion and the elastic support of the replacement inspection apparatus for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating a connection inspection unit and an elastic support unit of a replaceable inspection device for an FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present disclosure.
Figure 11 is an exploded view showing the pressure block of the replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
12 is a perspective view showing a pressing block of the replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
Figure 13 is a perspective view of the installation plate and the support block of the replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
14 is an exploded perspective view showing a support block of a replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
15 is a perspective view showing a guide fixing part of the replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to another embodiment of the present invention.
16 is an exploded perspective view illustrating a guide fixing part of the replaceable inspection device for an FPCB having a bent portion according to another embodiment of the present invention.
17 is a cross-sectional view showing a guide fixing operation state of the replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to another embodiment of the present invention.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법의 일 실시예를 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described an embodiment of a replaceable inspection device for FPCB having a bent portion according to the invention and an FPCB inspection method using the same.
이러한 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다.In this process, the thickness of the lines or the size of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of description.
또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로써, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다.In addition, terms to be described later are terms defined in consideration of functions in the present invention, which may vary according to a user's or operator's intention or custom.
그러므로 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.Therefore, the definitions of these terms should be made based on the contents throughout the specification.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치가 도시된 구성도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치가 도시된 안착플레이트 투입공정이 도시된 작동 상태도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 안착플레이트 및 가압검사부가 도시된 사시도이다.1 is a block diagram showing a replaceable inspection apparatus for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a replacement inspection apparatus for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention Figure 3 is a state diagram showing the operation of the mounting plate shown, Figure 3 is a perspective view of the mounting plate and pressure test of the replacement inspection apparatus for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
또한, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가압검사부 및 지지블록이 도시된 단면도이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가압검사부 및 지지블로깅 도시된 작동상태도이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 핀부재가 도시된 작동 상태도이다.In addition, Figure 4 is a cross-sectional view showing the pressure inspection unit and the support block of the FPCB replaceable inspection apparatus having a bent portion according to an embodiment of the present invention, Figure 5 is provided with a bent portion according to an embodiment of the present invention Figure 6 is an operational state diagram of the pressure inspection unit and the support blogging of the replaceable inspection device for FPCB, Figure 6 is an operational state diagram showing the pin member of the replacement inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
또한, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 지지블록 설치구조가 도시된 사시도이고, 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 출몰블록이 도시된 정면도이고, 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 접속검사부 및 탄성지지부가 도시된 구성도이다.In addition, Figure 7 is a perspective view showing a support block installation structure of the replacement inspection apparatus for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention, Figure 8 is a FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention Figure 9 is a front view showing the appearance block of the replaceable inspection device for, Figure 9 is a block diagram showing the connection inspection unit and the elastic support of the replacement inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
또한, 도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 접속검사부 및 탄성지지부가 도시된 단면도이고, 도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가압블록이 도시된 분해도이고, 도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가압블록이 도시된 사시도이다.FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating a connection test unit and an elastic support unit of a replaceable inspection device for an FPCB having a bent part according to an embodiment of the present invention, and FIG. 11 is provided with a bent part according to an embodiment of the present invention. Figure 12 is an exploded view showing the pressure block of the replacement inspection device for FPCB, Figure 12 is a perspective view of the pressure block of the replacement inspection device for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention.
또한, 도 13은 본 발명의 일 실시에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 설치플레이트 및 지지블록이 도시된 사시도이고, 도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPC용 검사장치의 지지블록이 도시된 분해 사시도이다.FIG. 13 is a perspective view illustrating an installation plate and a support block of a replaceable inspection apparatus for an FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention, and FIG. 14 is an FPC having a bent portion according to an embodiment of the present invention. An exploded perspective view of the supporting block of the inspection device for the present.
도 1 내지도 14를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치는, 복수 개의 FPCB가 동시에 공급되는 투입패널(12)을 구비하는 베이스블록(10)과, 투입패널(12) 측으로 전진 또는 후진되게 베이스블록(10)에 설치되고, 복수 개의 FPCB를 동시에 가압하는 구동부가 구비되는 이동블록(14)과, 투입패널(12)에 공급되고, 다수 개의 FPCB가 안착되는 안착플레이트(20)와, 안착플레이트(20)에 돌출되게 설치되고, 굴곡부(3)를 구비하는 FPCB의 굴곡부(3)가 변형되지 않게 지지하는 지지블록(30)과, 지지블록(30)에 구비되고, 단자부(7)와 접속되어 전기적인 신호를 송수신하며 검사작동을 행하는 접속검사부(38)와, 이동블록(14)에 구비되고, 구동부의 작동에 의해 복수 개의 단자부(7)를 접속검사부(38) 측으로 동시에 가압하여 복수 개의 FPCB의 검사를 한 번의 작동에 의해 완료하는 가압검사부(50)를 포함한다.1 to 14, the FPCB replacement inspection apparatus having a bent portion according to an embodiment of the present invention, the
따라서 다수 개의 FPCB를 안착플레이트(20)에 안착시킨 후에 안착플레이트(20)를 베이스블록(10)의 투입패널(12)에 안착플레이트(20)를 공급하면 이동블록(14)이 하강하여 가압검사부(50)를 FPCB의 단자부(7)에 대향되게 배치시키고, 구동부의 작동에 의해 가압검사부(50)가 단자부(7)를 접속검삽부 측으로 가압하면 단자부(7)와 접속검사부(38)가 접속되면서 전기적으로 연결되어 FPCB로 이루어지는 보호회로, 즉 검사대상물(1)을 검사하게 된다.Therefore, after seating a plurality of FPCB to the
본 실시예는, FPCB로 이루어지는 보호회로의 검사에 대하여 설명하지만, 검사대상물(1)을 보호회로 외에 FPCB로 이루어지는 다양한 부품에 적용될 수 있고, 본 실시예의 검사대상물(1)은 반도체소자(8)로부터 분기되고, 상측으로 굴곡되는 굴곡부(3)를 구비하고, 굴곡부(3)의 상단에는 단자부(7)가 설치되며, 단자부(7)에 인접하는 굴곡부(3)에는 다른 부품들과의 간섭을 방지하는 우회부(5)가 구비된다.Although the present embodiment describes the inspection of the protection circuit made of FPCB, the
본 실시예의 검사대상물(1)은 반도체소자(8)로부터 상측으로 굴곡되어 연장되는 굴곡부(3)가 구비되므로 평면 형상으로 이루어지는 종래의 검사장치의 안착부에 본 실시에의 검사대상물(1)이 안착되는 경우에는 단자부(7)와 접속검사부(38)가 쉽게 접속되지 않게 되는데, 본 실시예는 안착플레이트(20)로부터 상측으로 돌출되게 설치되는 지지블록(30)에 검사대상물(1)의 굴곡부(3)가 안착되므로 'ㄴ'모양으로 굴곡되는 검사대상물(1)이 안착플레이트(20)로부터 돌출되는 지지블록(30)에 밀착되면서 안착될 수 있게 된다.Since the
따라서 굴곡부(3)를 구비하는 검사대상물(1)의 검사작업을 진행할 때에 검사대상물(1)의 굴곡부(3)가 변형되는 것을 방지하면서 단자부(7)와 접속검사부(38)를 밀착시키면서 정확한 검사작업을 행할 수 있게 된다.Therefore, during the inspection operation of the
본 실시예의 안착플레이트(20)는, 다수 개의 안착홈부(22)가 형성되고, 각각의 안착홈부(22)에는 설치플레이트(24)가 삽입되며, 설치플레이트(24)에는 제1PCB(38b)가 설치되는 제1결합홈부(24a)와, 지지블록(30)이 설치되는 제2결합홈부(24b)와, 검사대상물(1)이 안착되는 검사홈부(24c)가 형성된다.In the
제1결합홈부(24a)에 설치되는 제1PCB(38b)는, 제2결합홈부(24b)까지 연장되어 지지블록(30)의 배면에 수직방향으로 설치되는 제2PCB(38c)와 연결되어 전기적으로 결합되고, 검사홈부(24c)에 검사대상물(1)의 반도체소자(8)가 안착되면 반도체소자(8)로부터 상측으로 굴곡되어 연장되는 굴곡부(3)는, 지지블록(30)의 전면에 안착되어 지지블록(30)에 설치되는 접속검사부(38)와 단자부(7)가 서로 대향되게 배치된다.The
상기한 바와 같이 설치플레트에는 제1결합홈부(24a), 제2결합홈부(24b) 및 검사홈부(24c)가 1조를 이루고, 4조가 일정한 간격을 유지하며 형성되므로 1개의 설치플레이트(24)에 4개의 지지블록(30)을 설치할 수 있고, 각각의 지지블록(30)에 검사대상물(1)을 안착시켜 한 번의 공정에 의해 검사작업을 진행할 수 있게 된다.As described above, since the
따라서 어느 하나의 지지블록(30), 제1PCB(38b), 제2PCB(38c) 또는 접속검사부(38)가 변형되거나 파손되는 경우에 다수 개의 설치플레이트(24) 중 어느 하나의 설치플레이트(24)만을 안착플레이트(20)로부터 분리시켜 수리작업 또는 교체작업을 행할 수 있게 되어 수리작업 또는 교체작업에 소요되는 시간 및 비용을 절감할 수 있게 된다.Therefore, when any one of the
본 실시예의 접속검사부(38)는, 지지블록(30)의 일면으로 돌출되게 설치되는 복수 개의 핀부재(38a)와, 베이스블록(10)에 구비되는 케이블과 연결되어 검사작동에 요구되는 전기적 신호를 전달하도록 안착플레이트(20)에 구비되는 제1PCB(38b)와, 제1PCB(38b)와 전기적으로 연결되도록 지지블록(30)에 설치되고, 핀부재(38a)가 접속되는 제2PCB(38c)를 포함한다.In this embodiment, the
작업자 또는 공급장치에 의해 검사홈부(24c)에 검사대상물(1)의 반도체소자(8)가 안착되면 지지블록(30)의 전면에 검사대상물(1)의 굴곡부(3)가 안착되고, 굴곡부(3)의 단부에 설치되는 단자부(7)는 핀부재(38a)에 대향되게 배치된다.When the
이후에 가압검사부(50)가 단자부(7)를 핀부재(38a) 측으로 가압하면 단자부(7)와 핀부재(38a)가 접속되고, 핀부재(38a)와 전기적으로 연결되는 제2PCB(38c) 및 제1PCB(38b)를 통해 베이스블록(10)에 설치되는 검사장치에 신호를 전송하면서 검사작업이 이루어지게 된다.Thereafter, when the
접속검사부(38) 일측에는 FPCB의 연장부가 안착되도록 가이드홈부(34)가 구비되고, 가이드홈부(34)는, 지지블록(30)에 설치되는 제1돌출부(34a)와 제2돌출부(34b) 사이에 형성되므로 반도체소자(8)로부터 상측으로 굴곡되어 연장되는 굴곡부(3)는, 제1돌출부(34a)와 제2돌출부(34b) 사이에 형성되는 가이드홈부(34)를 따라 지지블록(30)의 상측까지 연장되어 굴곡부(3)가 변형되기 않고 지지블록(30)의 전면에 밀착된 상태를 이루게 된다.One side of the
제2돌출부(34b)의 상단에는 상측 방향으로 더 연장되는 돌출가이드(34c)가 형성되어 굴곡부(3) 상단에 구비되는 우회부(5)가 돌출가이드(34c) 내벽에 지지되어 굴곡부(3) 및 우회부(5)가 지지블록(30) 전면에 밀착된 상태를 유지하게 되고, 가압검사부(50)에 의해 단자부(7)가 접속검사부(38)에 밀착될 때에 우회부(5) 및 굴곡부(3)가 변형되거나 파손되는 것을 방지할 수 있게 된다.A protruding
또한, 본 실시예는, 접속검사부(38)가 노출되지 않게 감싸도록 지지블록(30)에 설치되고, 단자부(7)가 접속검사부(38) 측으로 가압되면 접속검사부(38)를 노출시켜 단자부(7)와 접속검사부(38)가 접속되게 하는 탄성지지부(36)와, 가압검사부(50)의 작동에 의해 단자부(7)가 가압검사부(50) 측으로 가압되면서 단자부(7)와 핀부재(38a)가 접속되면서 이루어지는 검사작동이 종료되면 FPCB를 지지블록(30)으로부터 분리시키도록 단자부(7)와 핀부재(38a) 사이에 간격을 형성하는 탈거부(50)를 더 포함한다.In addition, the present embodiment is provided on the
따라서 가압검사부(50)에 의해 단자부(7)가 접속검사부(38)에 밀착될 때에 탄성지지부(36)에 의해 감싸지게 배치되던 핀부재(38a)가 탄성지지부(36) 외측으로 돌출되면서 단자부(7)와 접속되어 검사작업이 이루어지고, 검사작업이 종료되면 탈거부(50)의 작동에 의해 핀부재(38a)가 탄성지지부(36) 내측으로 삽입되면서 핀부재(38a)와 단자부(7) 사이에 간격을 형성하면서 분리작업이 이루어지게 된다.Therefore, when the
본 실시예의 가압검사부(50)는, 이동블록(14)에 설치되고, 구동부가 구비되는 작동블록(18)에 구동부에 의해 전진 또는 후진 가능하게 설치되는 가압대(52)와, 가압대(52)로부터 분기되고, 복수 개의 접속검사부(38)에 대향되게 배치되는 복수 개의 설치대와, 설치대에 구비되고, 단자부(7)에 탄성력을 제공하며 접속검사부(38) 측으로 가압하는 가압블록(54)를 포함한다.The
가압대(52)는 작동블록(18)의 저면에 수평방향으로 길게 설치되고, 가압대(52)의 양측면에서 측 방향으로 다수 개의 설치대가 분기되어 각각의 설치대에 단자부(7)를 핀부재(38a) 측으로 가압하는 가압블록(54)이 설치된다.Pressing
설치대는, 가압대(52)의 일측으로부터 측 방향으로 연장되는 제1설치대(52a)와, 가압대(52)의 타측으로부터 측 방향으로 연장되고, 굴곡되게 형성되는 제2설치대(52b)를 포함하고, 제1설치대(52a) 및 제2설치대(52b) 단부에는 가압블록(54)이 설치되며, 제2설치대(52b)가 굴곡되게 형성되는 것은 작동블록(18) 내부에 설치되는 다른 부품들과 제2설치대(52b)가 간섭되는 것을 방지하기 위한 것이다.The mounting table includes a first mounting table 52a extending laterally from one side of the pressing table 52, and a second mounting table 52b extending laterally from the other side of the pressing table 52 and formed to be bent. In addition, the
본 실시예의 가압블록(54)은, 설치대에 설치되고, 출몰홈부(56a) 및 작동홀부(56b)를 구비하는 블록본체(56)와, 작동홀부(56b)에 설치되는 가이드축(57)과, 가이드축(57)을 따라 슬라이딩 가능하게 설치되고, 단자부(7)를 접속검사부(38) 측으로 가압하는 접촉블록(58)과, 블록본체(56)와 접촉블록(58) 사이에 개재되는 제2탄성부재(59)를 포함한다.The
제1설치대(52a) 및 제2설치대(52b) 단부에 설치되는 블록본체(56)에는, 접촉블록(58)이 슬라이딩 가능하게 안착되는 출몰홈부(56a)와, 가이드축(57)이 설치되는 작동홀부(56b)와, 제2탄성부재(59)가 압입되는 제1탄성홈부(56c)가 형성된다.The block
가이드축(57)에는 접촉블록(58)이 슬라이딩 가능하게 설치되고, 접촉블록(58)에는 제2탄성부재(59)가 압입되는 제2탄성홈부(58a)가 형성되어 접촉블록(58)은 블록본체(56)에 제2탄성부재(59)에 의해 유동 가능하게 결합된다.The
따라서 제1설치대(52a) 및 제2설치대(52b)가 단자부(7) 측으로 이동되면 접촉블록(58)이 단자부(7)의 배면을 핀부재(38a) 측으로 가압하면서 접촉블록(58)이 후퇴되면서 제2탄성부재(59)를 압축시키고, 제2탄성부재(59)가 압축되는 동안에 접촉블록(58)이 핀부재(38a)를 보다 더 가압하면서 접속되므로 단자부(7)와 핀부재(38a)를 효과적으로 밀착시키면서 검사작업을 행할 수 있게 된다.Therefore, when the
또한, 본 실시예의 탄성지지부(36)는, 지지블록(30)의 제3결합홈부(32)에 배치되도록 지지블록(30)에 설치되는 제2PCB(38c)에 설치되고, 핀부재(38a)가 안착되는 지지패널(36f)과, 지지패널(36f)에 설치되고, 핀부재(38a)가 관통되는 관통패널(36g)과, 관통패널(36g)에 설치되고, 관통홀부(36d)가 구비되는 마감블록(36c)과, 마감블록(36c)과 관통패널(36g) 사이에 개재되고, 관통홀부(36d)를 통해 출몰 가능하게 설치되며, 핀부재(38a)가 관통되는 출몰블록(36a)을 포함한다.In addition, the
따라서 접촉블록(58)이 단자부(7)를 핀부재(38a) 측으로 가압하면 출몰블록(36a)이 관통패널(36g) 측으로 이동되면서 출몰블록(36a)에 감싸지게 배치되던 핀부재(38a)가 출몰블록(36a) 외측으로 돌출되면서 단자부(7)와 접속되어 전기적으로 연결된다.Therefore, when the
이후에, 검사작업이 종료되면 구동부의 작동에 의해 가압대(52) 및 설치대가 단자부(7)로부터 멀어지게 후퇴하게 되므로 탈거부(50)의 작동에 의해 접촉블록(58)이 핀부재(38a)와 간격이 형성되고, 출몰블록(36a)이 마감블록(36c) 외측으로 외측으로 돌출되면서 핀부재(38a)를 다시 감싸게 된다.Subsequently, when the inspection operation is completed, the pressing table 52 and the mounting table are retracted away from the
본 실시예의 탈거부(50)는, 출몰블록(36a)과 관통패널(36g) 사이에 개재되는 제1탄성부재(39a)를 포함하므로 출몰블록(36a)을 가압하던 접촉블록(58)이 후퇴하면 제1탄성부재(39a)가 원상태로 팽창하면서 출몰블록(36a)을 마감블록(36c) 외측으로 돌출시키게 된다.Since the stripping
또한, 본 실시예의 탈거부(50)는, 출몰블록(36a)과 접촉블록(58) 사이에 유체를 공급하여 출몰볼록과 접속블록 사이의 간격에 유체를 공급하는 탈거홈부(39b)가 형성되므로 작동블록(18)으로부터 분사되는 공기가 출몰블록(36a)에 형성되는 탈거홈부(39b)를 따라 단시간 내에 설정치 이상의 속도로 공기가 분사되면 출몰블록(36a)과 접촉블록(58)을 용이하게 분리시킬 수 있게 된다.In addition, since the stripping
상기와 같이 구성된 본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치를 이용하는 FPCB 검사방법을 살펴보면 다음과 같다.Looking at the FPCB inspection method using a replacement inspection apparatus for FPCB having a bent portion according to an embodiment of the present invention configured as described above are as follows.
본 발명의 일 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 검사장치를 이용하는 FPCB 검사방법은, 복수 개의 지지블록(30)이 돌출되게 구비되는 안착플레이트(20)에 복수 개의 FPCB를 안착시켜 FPCB의 단자부(7)를 지지블록(30)의 접속검사부(38)에 대향되게 배치시키는 안착단계와, 안착플레이트(20)를 베이스블록(10)의 투입패널(12)에 공급하고, 베이스블록(10)에 이동 가능하게 설치되는 이동블록(14)을 구동시켜 이동블록(14)에 구비되는 가압대(52)를 지지블록(30) 사이의 간격에 배치시키는 배치단계와, 가압대(52)로부터 분기되어 지지블록(30)의 접속검사부(38)에 대향되게 배치되는 설치대를 단자부(7) 측으로 이동시키는 이동단계와, 설치대에 구비되는 가압블록(54)이 단자부(7)를 접속검사부(38)에 밀착시키면서 복수 개의 단자부(7)가 각각 접속검사부(38)에 접속되면서 동시에 검사작동이 진행되는 검사단계를 포함한다.In the FPCB inspection method using the FPCB inspection apparatus having a bent portion according to an embodiment of the present invention, the terminal portion of the FPCB by mounting a plurality of FPCB on the
먼저, 다수 개의 설치플레이트(24)가 안착되는 안착플레이트(20)에 다수 개의 검사대상물(1)을 안착시키는데, 안착플레이트(20)에 형성되는 다수 개의 안착홈부(22)에 각각 설치플레이트(24)를 설치한다.First, a plurality of inspection objects 1 are seated on a
여기서, 본 실시예의 설치플레이트(24) 제1결합홈부(24a)에는 제1PCB(38b)를 설치하고, 제2결합홈부(24b)에는 지지블록(30)을 설치하며, 지지블록(30)의 배면에 설치되는 제2PCB(38c)는 제1PCB(38b)와 전기적으로 연결되어 핀부재(38a)에 의해 전달되는 전기적 신호가 제2PCB(38c) 및 제1PCB(38b)를 통해 베이스블록(10)의 검사장치에 전달된다.Here, the
상기한 바와 같이 다수 개의 지지블록(30) 및 접속검사부(38)가 설치되는 다수 개의 설치플레이트(24)를 하나의 안착플레이트(20)에 설치하여 다수 개의 검사대상물(1)이 안착되는 안착플레이트(20)를 이루고, 이 안착플레이트(20)를 베이스블록(10)의 투입패널(12)에 공급한다.As described above, a plurality of
이때, 검사홈부(24c)에 안착되는 검사대상물(1)의 굴곡부(3)는, 지지블록(30)의 전면에 밀착되어 지지되고, 단자부(7)는 핀부재(38a)에 대향되게 배치된다.At this time, the
이후에, 구동부의 작동에 의해 이동블록(14)이 하강하고, 가압대(52)가 전진하게 되면 접촉블록(58)이 단자부(7)를 출몰블록(36a) 측으로 가압하면서 제1탄성부재(39a) 및 제2탄성부재(59)가 압축되면서 핀부재(38a)가 출몰블록(36a) 외측으로 돌출되면서 단자부(7)와 접속되고, 핀부재(38a)와 연결되는 제2PCB(38c) 및 제1PCB(38b)에 의해 베이스블록(10)에 설치되는 검사장치와 전기적으로 연결되어 검사대상물(1)을 이루는 FPCB의 검사작업이 이루어지게 된다.Subsequently, when the moving
상기한 바와 같이 검사작업이 종료되면 구동부의 작동에 의해 가압대(52) 및 설치대가 후퇴하게 되는데, 이때, 제1탄성부재(39a) 및 제2탄성부재(59)가 원상태로 팽창되면서 출몰블록(36a) 및 접속블록을 외측으로 밀어내면서 단자부(7)와 핀부재(38a) 사이에 간격이 형성되면서 단자부(7) 및 검사대상물(1)을 설치패널 및 지지블록(30)으로부터 손쉽게 분리할 수 있게 된다.As described above, when the inspection operation is completed, the pressing table 52 and the mounting table are retracted by the operation of the driving unit. At this time, the first
상기한 바와 같은 검사작업이 장기가 반복되어 설치플레이트(24)에 구비되는 접속검사부(38), 탄성지지부(36) 또는 탈거부(39) 등의 부품이 파손되는 경우에는 파손된 해당 부품이 설치되는 설치플레이트(24)를 안착플레이트(20)로부터 분리시켜 파손된 부품만을 교체하여 설치플레이트(24)를 다시 안착플레이트(20)에 설치하거나 새로운 설치플레이트(24)를 안착플레이트(20)에 설치하여 수리작업을 짧은 시간 내에 종료할 수 있게 된다.When the inspection operation as described above is repeated for a long time and the parts such as the
도 15는 본 발명의 다른 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가이드고정부가 도시된 사시도이고, 도 16은 본 발명의 다른 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가이드고정부가 도시된 분해 사시도이고, 도 17은 본 발명의 다른 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치의 가이드고정부 작동 상태가 도시된 단면도이다.15 is a perspective view showing a guide fixing part of the replacement inspection apparatus for FPCB having a bent portion according to another embodiment of the present invention, Figure 16 is a replacement inspection for FPCB having a bent portion according to another embodiment of the present invention Figure 17 is an exploded perspective view showing the guide fixing of the device, Figure 17 is a cross-sectional view showing the guide fixing operation state of the replacement inspection device for FPCB having a bent portion according to another embodiment of the present invention.
도 15 내지 도 17을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치는, 가압검사부(50)가 검사대상물(1)의 단자부(7)에 대향되게 배치되면 지지블록(30)을 구속하고, 가압블록(54)의 이동경로를 제공하는 가이드고정부(70)를 더 포함한다.15 to 17, when the FPCB replaceable inspection device having a bent portion according to another embodiment of the present invention is disposed to face the
따라서 검사작동이 개시되어 이동블록(14)이 베이스블록(10) 측으로 하강하게 되면 작동블록(18)에 연결되는 가이드고정부(70)가 하강하면서 지지블록(30)을 구속하여 고정시키고, 가압블록(54)이 이동되면서 단자부(7)를 핀부재(38a)에 가압시키는 작동이 이루어지는 경로를 제공하게 된다.Therefore, when the inspection operation is started and the moving
상기한 바와 같이 구동부의 작동에 의해 가압대(52) 및 설치대(52a, 52b)가 검사대상물(1) 측으로 이동하게 되고, 이때, 본 실시예는, 지지블록(30)을 구속하여 고정시키고, 가압블록(54)이 단자부(7) 측으로 이동하는 경로가 제공되어 가압블록(54)이 단자부(7)를 정확히 접속검사부(38) 측으로 가압하면서 단자부(7)와 핀부재(38a) 및 제2PCB(38c)가 전기적으로 연결되게 하며, 가압블록(54)이 측 방향으로 이격되는 것을 방지하므로 정확한 검사작업을 행할 수 있게 된다.As described above, the pressing table 52 and the mounting tables 52a and 52b are moved toward the
본 실시예의 가이드고정부(70)는, 작동블록(18)에 설치되고, 하측 방향으로 연장되며, 지지블록(30)이 관통되는 통과홀부(72a), 및 가압블록(54)의 일부분이 슬라이딩 가능하게 삽입되는 장착홈부(72b)를 구비하는 가이드블록(72)과, 가이드블록(72)의 상면에 배치되도록 작동블록(18)에 설치되고, 이동블록(14) 및 작동블록(18)이 하강하면 지지블록(30)의 상단이 삽입되어 구속되는 구속홈부(74a)를 구비하는 고정블록(74)을 포함한다.
따라서 가이드블록(72) 및 고정블록(74)이 하강하면 가이드블록(72)의 통과홀부(72a)를 관통하여 지지블록(30)이 통과되고, 지지블록(30)의 상단은 고정블록(74)의 구속홈부(74a) 후방 측 단부에 삽입되어 지지블록(30)의 배면 상단이 구속된다.Therefore, when the
이때, 지지블록(30)에 간격을 유지하며 대향되게 배치되는 가압블록(54)은, 가이드블록(72)의 통과홀부(72a) 일측 단부에 형성되는 장착홈부(72b)에 삽입되어 가압블록(54)의 배면 및 양측면이 구속되고, 장착홈부(72b)로부터 지지블록(30)까지 연장되는 통과홀부(72a)에 의해 가압블록(54)이 슬라이딩되며 지지블록(30) 측으로 이동되는 경로를 제공하게 된다.At this time, the
따라서 구동부의 작동에 의해 가압블록(54)이 지지블록(30) 측으로 이동되면 통과홀부의 내벽을 따라 이동되어 지지블록(30)에 안착되는 검사대상물(1)의 단자부를 접속검사부(38) 측으로 가압하면서 검사작동을 행하게 된다.Therefore, when the
이로써, 모듈기판이나 보호회로로 사용되는 FPCB 중에 굴곡부가 구비되는 FPCB를 기판본체에 안착시킬 때에 굴곡부가 변형되는 것을 방지할 수 있고, FPCB의 단자부를 검사장치의 접속검사부에 밀착시켜 정확한 검사작업을 행할 수 있으며, FPCB가 안착되는 설치플레이트를 안착플레이트로부터 분리하여 교체할 수 있는 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법을 제공할 수 있게 된다.As a result, the bending part can be prevented from being deformed when the FPCB including the bent part is seated on the main body of the FPCB used as the module substrate or the protection circuit. It can be done, it is possible to provide a replaceable inspection device for the FPCB and a FPCB inspection method using the same having a bent portion that can be replaced by replacing the installation plate on which the FPCB is seated from the mounting plate.
본 발명은 도면에 도시되는 일 실시예를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다.Although the present invention has been described with reference to one embodiment shown in the drawings, this is merely exemplary, and various modifications and equivalent other embodiments are possible to those skilled in the art. Will understand.
또한, 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법을 예로 들어 설명하였으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치 및 이를 이용하는 FPCB 검사방법이 아닌 다른 제품에도 본 발명의 검사장치 및 이를 이용하는 검사방법이 사용될 수 있다.In addition, the FPCB replaceable inspection device having a bent portion and the FPCB inspection method using the same, but described as an example, but this is merely illustrative, and other than the FPCB inspection method using a FPCB having a bent portion and the same The inspection apparatus of the present invention and the inspection method using the same can also be used for the product.
따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the claims below.
10 : 베이스블록
12 : 투입패널
14 : 이동블록
16 : 가이드부재
18 : 작동블록
20 : 안착플레이트
22 : 안착홈부
24 : 설치플레이트
24a : 제1결합홈부
24b : 제2결합홈부
24c : 검사홈부
30 : 지지블록
32 : 제3결합홈부
34 : 가이드홈부
34a : 제1돌출부
34b : 제2돌출부
34c : 돌출가이드
36 : 탄성지지부
36a : 출몰블록
36b : 통과홀부
36c : 마감블록
36d : 관통홀부
36e : 돌출가이드
36f : 지지패널
36g : 관통패널
36h : 통과돌출부
38 : 접속검사부
38a : 핀부재
38b ; 제1PCB
38c : 제2PCB
39 : 탈거부
39a : 제1탄성부재
39b : 탈거홈부
50 : 가압검사부
52 : 가압대
52a : 제1설치대
52b : 제2설치대
54 : 가압블록
56 : 블록본체
56a : 출몰홈부
56b : 작동홀부
56c : 제1탄성홈부
57 : 가이드축
58 : 접촉블록
58a : 제2탄성홈부
59 : 제2탄성부재
70 : 가이드고정부
72 : 가이드블록
72a : 통과홀부
72b : 장착홈부
74 : 고정블록
74a ; 구속홈부10: Baseblock 12: Input Panel
14: moving block 16: guide member
18: operation block 20: seating plate
22: seating groove 24: mounting plate
24a:
24c: inspection groove 30: support block
32: third coupling groove 34: guide groove
34a:
34c: protrusion guide 36: elastic support
36a: Block of
36c: finishing
36e:
36g: through
38:
38b;
39:
39b: stripping groove 50: pressure test
52: pressurizing table 52a: first mounting table
52b: second mounting table 54: pressure block
56:
56b: operating
57: guide shaft 58: contact block
58a: second elastic groove 59: second elastic member
70: guide station 72: guide block
72a: Passing
74: fixed
Claims (4)
상기 투입패널 측으로 전진 또는 후진되게 상기 베이스블록에 설치되고, 복수 개의 FPCB를 동시에 가압하는 구동부가 구비되는 이동블록;
상기 투입패널에 공급되고, 다수 개의 FPCB가 안착되는 안착플레이트;
상기 안착플레이트에 돌출되게 설치되고, 굴곡부를 구비하는 FPCB의 굴곡부가 변형되지 않게 지지하는 지지블록;
상기 지지블록에 구비되고, 상기 단자부와 접속되어 전기적인 신호를 송수신하며 검사작동을 행하는 접속검사부;
상기 이동블록에 구비되고, 상기 구동부의 작동에 의해 복수 개의 상기 단자부를 상기 탄성지지부 및 상기 접속검사부 측으로 동시에 가압하여 복수 개의 FPCB의 검사를 한 번의 작동에 의해 완료하는 가압검사부; 및
상기 접속검사부 또는 상기 지지블록이 설치되는 복수 개의 결합홈부와, FPCB가 안착되는 검사홈부가 1조의 홈부를 이루고, 복수 조의 홈부가 연속되게 형성되며, 고장이 발생되는 홈부를 교체할 수 있도록 상기 안착플레이트에 착탈 가능하게 설치되는 복수 개의 설치플레이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치.
A base block having an input panel to which a plurality of FPCBs are simultaneously supplied;
A moving block installed at the base block so as to move forward or backward toward the input panel and having a driving unit for simultaneously pressing a plurality of FPCBs;
A seating plate supplied to the input panel and having a plurality of FPCBs seated thereon;
A support block protruding from the seating plate and supporting the curved portion of the FPCB including the curved portion so as not to be deformed;
A connection inspection unit provided in the support block and connected to the terminal unit to transmit and receive an electrical signal and perform an inspection operation;
A pressure inspection unit provided in the moving block and simultaneously pressing the plurality of terminal portions toward the elastic support portion and the connection inspection portion by the operation of the driving unit to complete the inspection of the plurality of FPCBs by one operation; And
A plurality of coupling grooves in which the connection inspection unit or the support block is installed, and an inspection groove in which the FPCB is seated, constitute a set of grooves, and a plurality of grooves are continuously formed, and the seating can be replaced to replace a groove in which a failure occurs. Replaceable inspection device for FPCB having a bent portion characterized in that it comprises a plurality of mounting plates detachably installed on the plate.
상기 이동블록에 설치되고, 상기 구동부가 구비되는 작동블록에 상기 구동부에 의해 전진 또는 후진 가능하게 설치되는 가압대;
상기 가압대로부터 분기되고, 복수 개의 상기 접속검사부에 대향되게 배치되는 복수 개의 설치대; 및
상기 설치대에 구비되고, 상기 단자부에 탄성력을 제공하며 상기 접속검사부 측으로 가압하는 가압블록를 포함하는 것을 특징으로 하는 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치.
According to claim 1, wherein the pressure inspection unit,
A pressing table installed on the moving block and installed on the operation block provided with the driving unit so as to be moved forward or backward by the driving unit;
A plurality of mounting tables branched from the pressing table and disposed to face the plurality of connection inspection units; And
And a pressurizing block provided on the mounting table and providing an elastic force to the terminal part and pressurizing toward the connection test part.
상기 설치대에 설치되고, 출몰홈부 및 작동홀부를 구비하는 블록본체;
상기 작동홀부에 설치되는 가이드축;
상기 가이드축을 따라 슬라이딩 가능하게 설치되고, 상기 단자부를 상기 접속검사부 측으로 가압하는 접촉블록; 및
상기 블록본체와 상기 접촉블록 사이에 개재되는 제2탄성부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치.
The method of claim 2, wherein the pressure block,
A block body installed on the mounting table, the block body having a recess and an operation hole;
A guide shaft installed at the operation hole;
A contact block slidably installed along the guide shaft and configured to press the terminal part toward the connection test part; And
Replaceable inspection apparatus for FPCB having a bent portion characterized in that it comprises a second elastic member interposed between the block body and the contact block.
(b) 상기 안착플레이트를 베이스블록의 투입패널에 공급하고, 상기 베이스블록에 이동 가능하게 설치되는 이동블록을 구동시켜 상기 이동블록에 구비되는 가압대를 상기 지지블록 사이의 간격에 배치시키는 배치단계;
(c) 상기 가압대로부터 분기되어 상기 지지블록의 접속검사부에 대향되게 배치되는 설치대를 상기 단자부 측으로 이동시키는 이동단계; 및
(d) 상기 설치대에 구비되는 가압블록이 상기 단자부를 상기 접속검사부에 밀착시키면서 복수 개의 상기 단자부가 각각 상기 접속검사부에 접속되면서 동시에 검사작동이 진행되는 검사단계를 포함하고,
상기 (a)단계는,
상기 접속검사부 또는 상기 지지블록이 설치되는 복수 개의 결합홈부와, FPCB가 안착되는 검사홈부가 1조의 홈부를 이루고, 복수 조의 홈부가 연속되게 형성되는 설치플레이트의 상기 결합홈부에 상기 접속검사부 및 지지블록을 설치한 후에 상기 검사홈부에 FPCB를 안착시켜 이루어지는 것을 특징으로 하는 굴곡부를 구비하는 FPCB용 교체형 검사장치를 이용하는 FPCB 검사방법.(a) a seating step of placing a plurality of FPCBs on a seating plate on which a plurality of support blocks protrude so as to face terminal portions of the FPCBs facing the connection inspection part of the support block;
(b) an arranging step of supplying the seating plate to an input panel of the base block and driving a moving block installed to be movable in the base block so as to arrange a pressing table provided in the moving block at intervals between the support blocks; ;
(c) a moving step of branching from the pressing table to move the mounting table disposed opposite to the connection inspection part of the support block toward the terminal part; And
(d) a pressing block provided on the mounting table includes an inspection step in which a plurality of terminal portions are respectively connected to the connection inspection portion while the inspection operation proceeds at the same time while closely contacting the terminal portion to the connection inspection portion,
In step (a),
The connection inspection unit and the support block are provided with a plurality of coupling grooves in which the connection inspection unit or the support block is installed, and an inspection groove in which the FPCB is mounted, constitute a set of grooves, and the coupling grooves of the installation plate in which a plurality of grooves are continuously formed. FPCB inspection method using a replaceable inspection apparatus for FPCB having a bent portion characterized in that the FPCB seated on the inspection groove after the installation.
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980030401A (en) * | 1996-10-29 | 1998-07-25 | 김광호 | Test Tray for Horizontal Handler |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980030401A (en) * | 1996-10-29 | 1998-07-25 | 김광호 | Test Tray for Horizontal Handler |
KR101308741B1 (en) * | 2013-06-04 | 2013-09-17 | 김광일 | Camera module test socket |
KR101406033B1 (en) * | 2014-04-15 | 2014-06-11 | 위드시스템 주식회사 | Socket for testing capable of exchange pin block |
KR101579090B1 (en) * | 2014-06-26 | 2015-12-21 | 주식회사 맥사이언스 | Device for Testing Display Panel |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102191902B1 (en) * | 2019-12-04 | 2020-12-16 | 주식회사 파워로직스 | Jig module and test method using the same |
CN113030699A (en) * | 2021-03-03 | 2021-06-25 | 珠海市精实测控技术有限公司 | Bending type board card function test fixture and device |
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