KR20190104289A - Substrate formed thin film transistor array and organic light emitting diode display - Google Patents
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 141
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title abstract description 18
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 66
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 109
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 43
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 33
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 33
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims description 24
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 13
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 22
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 20
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 18
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 10
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 10
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 10
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 10
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 10
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 8
- 101150037603 cst-1 gene Proteins 0.000 description 7
- 208000036971 interstitial lung disease 2 Diseases 0.000 description 7
- 208000036252 interstitial lung disease 1 Diseases 0.000 description 6
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 5
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 5
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 5
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 5
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 3
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/131—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
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- H01L27/3276—
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
- H01L27/124—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
- H01L27/1255—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs integrated with passive devices, e.g. auxiliary capacitors
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- H01L27/3265—
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
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Abstract
Description
본 발명은 박막 트랜지스터 어레이 기판 및 이를 포함하는 유기 발광 표시 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a thin film transistor array substrate and an organic light emitting display device including the same.
유기 발광 표시 장치는 자체 발광 특성을 가지며, 액정 표시 장치(liquid crystal display device)와 달리 별도의 광원을 필요로 하지 않으므로 두께와 무게를 줄일 수 있다. 또한, 유기 발광 표시 장치는 낮은 소비 전력, 높은 휘도 및 높은 반응 속도 등의 고품위 특성을 나타낸다.The organic light emitting diode display has a self-luminous property and, unlike a liquid crystal display device, does not require a separate light source, thereby reducing thickness and weight. In addition, the organic light emitting diode display exhibits high quality characteristics such as low power consumption, high luminance, and high response speed.
일반적으로 유기 발광 표시 장치는 기판 상에 위치하며 일 방향으로 연장된 게이트 배선들, 게이트 배선들과 교차하는 방향으로 연장된 데이터 배선들, 게이트 배선들 및 데이터 배선들 각각에 연결된 화소 회로 및 화소 회로와 연결된 유기 발광 소자를 포함한다. 최근 고해상도의 디스플레이를 추구함에 따라 화소 회로를 배치할 공간이 협소해지고 있다. In general, an organic light emitting display device includes a pixel circuit and a pixel circuit disposed on a substrate and connected to gate lines extending in one direction, data lines extending in a direction crossing the gate lines, and gate lines and data lines, respectively. It includes an organic light emitting device connected with. In recent years, with the pursuit of high resolution displays, the space for arranging pixel circuits has become narrow.
본 발명은 데이터선과 커패시터와의 커플링(coupling) 발생에 의한 크로스 토크(Cross talk) 불량을 억제하면서 구동 전압선을 메쉬 구조로 설계할 수 있는 박막 트랜지스터 어레이 기판 및 이를 포함하는 유기 발광 표시를 제공하고자 한다. SUMMARY The present invention provides a thin film transistor array substrate capable of designing a driving voltage line in a mesh structure while suppressing cross talk failure caused by coupling between a data line and a capacitor, and an organic light emitting display including the same. do.
본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판은, 복수의 화소를 포함하고, 각 화소는, 제1 전극 및 상기 제1 전극 상부의 제2 전극을 포함하는 커패시터; 상기 커패시터의 일부와 중첩하며 제1 방향으로 연장되고, 상기 화소에 데이터 신호를 공급하는 데이터선; 및 상기 커패시터와 상기 데이터선 사이에 배치되고, 상기 제1 방향으로 연장된 제1 라인과 상기 제1 방향과 수직인 제2 방향으로 연장된 제2 라인을 포함하고, 상기 화소에 구동 전압을 공급하는 구동 전압선;을 포함할 수 있다. A thin film transistor array substrate according to an exemplary embodiment of the present invention includes a plurality of pixels, each pixel including: a capacitor including a first electrode and a second electrode on the first electrode; A data line overlapping a portion of the capacitor and extending in a first direction and supplying a data signal to the pixel; And a first line disposed between the capacitor and the data line, the first line extending in the first direction and the second line extending in a second direction perpendicular to the first direction to supply a driving voltage to the pixel. It may include a driving voltage line.
상기 커패시터의 제2 전극은 상기 구동 전압선과 컨택홀을 통해 전기적으로 연결될 수 있다. The second electrode of the capacitor may be electrically connected to the driving voltage line through a contact hole.
상기 구동 전압선은 메쉬 구조로서, 상기 구동 전압선의 제1 라인은 상기 제1 방향으로 인접한 화소들 간에 연결되고, 상기 구동 전압선의 제2 라인은 상기 제2 방향으로 인접한 화소들 간에 연결될 수 있다. The driving voltage line may have a mesh structure, and a first line of the driving voltage line may be connected between pixels adjacent to the first direction, and a second line of the driving voltage line may be connected between pixels adjacent to the second direction.
상기 구동 전압선의 제2 라인은 상기 커패시터를 완전히 커버하는 면적을 가질 수 있다. The second line of the driving voltage line may have an area that completely covers the capacitor.
상기 박막 트랜지스터 어레이 기판은, 상기 커패시터와 상기 구동 전압선 사이에 차례로 적층된 제1 층간 절연막 및 제2 층간 절연막; 및 상기 구동 전압선과 상기 데이터선 사이에 적층된 제3 층간 절연막;을 더 포함할 수 있다.The thin film transistor array substrate may include: a first interlayer insulating film and a second interlayer insulating film sequentially stacked between the capacitor and the driving voltage line; And a third interlayer insulating layer stacked between the driving voltage line and the data line.
상기 화소는, 상기 구동 전압선 및 발광 소자 사이에 연결된 구동 박막 트랜지스터; 및 상기 데이터선 및 상기 구동 박막 트랜지스터 사이에 연결된 스위칭 박막 트랜지스터;를 더 포함할 수 있다. The pixel may include a driving thin film transistor connected between the driving voltage line and the light emitting device; And a switching thin film transistor connected between the data line and the driving thin film transistor.
상기 구동 박막 트랜지스터는, 반도체층; 상기 반도체층 상부에 상기 커패시터의 제2 전극과 동일층에 형성되고, 상기 커패시터의 제1 전극과 연결된 게이트 전극; 상기 구동 전압선과 연결된 소스 전극; 및 상기 발광 소자와 연결된 드레인 전극;을 포함할 수 있다. The driving thin film transistor may include a semiconductor layer; A gate electrode formed on the same layer as the second electrode of the capacitor and connected to the first electrode of the capacitor; A source electrode connected to the driving voltage line; And a drain electrode connected to the light emitting device.
상기 스위칭 박막 트랜지스터는, 반도체층; 상기 반도체층 상부에 상기 커패시터의 제1 전극과 동일층에 형성되고, 상기 제2 방향으로 연장된 제1 주사선과 연결된 게이트 전극; 상기 데이터선과 연결된 소스 전극; 및 상기 구동 박막 트랜지스터와 연결된 드레인 전극;을 포함할 수 있다. The switching thin film transistor may include a semiconductor layer; A gate electrode formed on the semiconductor layer on the same layer as the first electrode of the capacitor and connected to the first scan line extending in the second direction; A source electrode connected to the data line; And a drain electrode connected to the driving thin film transistor.
상기 화소는, 상기 커패시터의 제1 전극과 동일층에 형성되고, 상기 제2 방향으로 연장된 제1 주사선, 제2 주사선 및 발광 제어선; 및 상기 커패시터의 제2 전극과 상기 구동 전압선 사이에 배치되고, 상기 제2 방향으로 연장된 초기화 전압선;을 더 포함할 수 있다. The pixel may include: a first scan line, a second scan line, and a light emission control line formed on the same layer as the first electrode of the capacitor and extending in the second direction; And an initialization voltage line disposed between the second electrode of the capacitor and the driving voltage line and extending in the second direction.
본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 복수의 화소를 포함하는 유기 발광 표시 장치에 있어서, 각 화소는, 기판 상에 형성된 제1 박막 트랜지스터 및 제2 박막 트랜지스터; 상기 제1 박막 트랜지스터의 게이트 전극과 동일층에 형성된 제1 전극 및 상기 제2 박막 트랜지스터의 게이트 전극과 동일층에 형성된 상기 제1 전극 상부의 제2 전극을 포함하는 커패시터; 상기 커패시터의 일부와 중첩하며 제1 방향으로 연장되고, 상기 화소에 데이터 신호를 공급하는 데이터선; 및 상기 커패시터와 상기 데이터선 사이에 배치되고, 상기 제1 방향으로 연장된 제1 라인과 상기 제1 방향과 수직인 제2 방향으로 연장된 제2 라인을 포함하고, 상기 화소에 구동 전압을 공급하는 구동 전압선;을 포함할 수 있다.An organic light emitting display device including a plurality of pixels according to an exemplary embodiment of the present invention, each pixel comprising: a first thin film transistor and a second thin film transistor formed on a substrate; A capacitor including a first electrode formed on the same layer as the gate electrode of the first thin film transistor and a second electrode on the first electrode formed on the same layer as the gate electrode of the second thin film transistor; A data line overlapping a portion of the capacitor and extending in a first direction and supplying a data signal to the pixel; And a first line disposed between the capacitor and the data line, the first line extending in the first direction and the second line extending in a second direction perpendicular to the first direction to supply a driving voltage to the pixel. It may include a driving voltage line.
상기 제1 박막 트랜지스터는 상기 구동 전압선 및 발광 소자 사이에 연결되고, 상기 제2 박막 트랜지스터는 상기 데이터선 및 상기 제1 박막 트랜지스터 사이에 연결될 수 있다.The first thin film transistor may be connected between the driving voltage line and the light emitting device, and the second thin film transistor may be connected between the data line and the first thin film transistor.
상기 제1 박막 트랜지스터는, 반도체층; 상기 반도체층 상부에 상기 커패시터의 제2 전극과 동일층에 형성되고, 상기 커패시터의 제1 전극과 연결된 게이트 전극; 상기 구동 전압선과 연결된 소스 전극; 및 상기 발광 소자와 연결된 드레인 전극;을 포함할 수 있다. The first thin film transistor may include a semiconductor layer; A gate electrode formed on the same layer as the second electrode of the capacitor and connected to the first electrode of the capacitor; A source electrode connected to the driving voltage line; And a drain electrode connected to the light emitting device.
상기 제2 박막 트랜지스터는, 반도체층; 상기 반도체층 상부에 상기 커패시터의 제1 전극과 동일층에 형성되고, 상기 제2 방향으로 연장된 제1 주사선과 연결된 게이트 전극; 상기 데이터선과 연결된 소스 전극; 및 상기 제1 박막 트랜지스터와 연결된 드레인 전극;을 포함할 수 있다. The second thin film transistor may include a semiconductor layer; A gate electrode formed on the semiconductor layer on the same layer as the first electrode of the capacitor and connected to the first scan line extending in the second direction; A source electrode connected to the data line; And a drain electrode connected to the first thin film transistor.
본 발명은 데이터선과 구동 전압선을 적층 배선으로 형성함으로써 데이터선 과 중첩하며 커패시터를 배치할 수 있어, 데이터선과 커패시터와의 커플링 발생을 억제하고, 커패시터의 용량을 확보할 수 있다. According to the present invention, since the data line and the driving voltage line are formed as stacked wirings, the capacitors can be disposed to overlap the data lines, thereby suppressing the occurrence of coupling between the data lines and the capacitors and ensuring the capacitor capacity.
본 발명은 데이터선과 구동 전압선을 적층 배선으로 형성함으로써 구동 전압선을 메쉬 구조로 설계할 수 있어 구동 전압 강하를 방지하여 크로스 토크를 방지할 수 있다. According to the present invention, since the data line and the driving voltage line are formed in a laminated wiring, the driving voltage line can be designed in a mesh structure, thereby preventing the driving voltage drop and preventing cross talk.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 하나의 화소의 등가 회로도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 도 2의 화소를 나타낸 개략적인 평면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 각 신호선을 나타낸 단면도이다.
도 5는 도 4의 A-A'선, B-B'선, C-C'선을 따라 자른 단면도이다.
도 6은 도 5의 비교예를 개략적으로 도시한 단면도이다.1 is a block diagram schematically illustrating a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
2 is an equivalent circuit diagram of one pixel of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
3 is a schematic plan view illustrating the pixel of FIG. 2 according to an exemplary embodiment of the present invention.
4 is a cross-sectional view illustrating each signal line illustrated in FIG. 3.
5 is a cross-sectional view taken along line A-A ', line B-B' and line C-C 'of FIG. 4.
6 is a cross-sectional view schematically illustrating a comparative example of FIG. 5.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 여러 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.In order to clearly describe the present invention, parts irrelevant to the description are omitted, and like reference numerals designate like elements throughout the specification.
또한, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다.In addition, since the size and thickness of each component shown in the drawings are arbitrarily shown for convenience of description, the present invention is not necessarily limited to the illustrated.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 그리고 도면에서, 설명의 편의를 위해, 일부 층 및 영역의 두께를 과장되게 나타내었다. 층, 막,영역,판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다.In the drawings, the thickness of layers, films, panels, regions, etc., are exaggerated for clarity. In the drawings, the thicknesses of layers and regions are exaggerated for clarity. When a part such as a layer, film, region, plate, etc. is said to be "on" or "on" another part, this includes not only when the other part is "right over" but also when there is another part in the middle.
또한, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서 전체에서, "~상에”라 함은 대상 부분의 위 또는 아래에 위치함을 의미하는 것이며, 반드시 중력 방향을 기준으로 상 측에 위치하는 것을 의미하는 것은 아니다.In addition, throughout the specification, when a part is said to "include" a certain component, it means that it may further include other components, without excluding the other components unless otherwise stated. In addition, throughout the specification, "on" means to be located above or below the target portion, and does not necessarily mean to be located above the gravity direction.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram schematically illustrating a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치(100)는 복수의 화소를 포함하는 표시부(10), 주사 구동부(20), 데이터 구동부(30), 발광 제어 구동부(40), 및 제어부(50)를 포함한다.The
표시부(10)는 복수의 주사선(SL1 내지 SLn), 복수의 데이터선(DL1 내지 DLm), 및 복수의 발광 제어선(EL1 내지 ELn)의 교차부에 위치되어, 대략 행렬 형태로 배열된 복수의 화소(1)를 포함한다. 복수의 주사선(SL1 내지 SLn) 및 복수의 발광 제어선(EL1 내지 ELn)은 행 방향인 제2 방향으로 연장되고, 복수의 데이터선(DL1 내지 DLm)은 열 방향인 제1 방향으로 연장되어 있다. 구동 전압선(ELVDDL)은 제1 방향으로 연장된 수직 라인(VL)과 제2 방향으로 연장된 수평 라인(HL)으로 구성되어 메쉬(mesh) 구조를 가진다. 하나의 화소 라인에서 복수의 주사선(SL1 내지 SLn)의 n 값은 복수의 발광 제어선(EL1 내지 ELn)의 n 값과 상이할 수 있다. The
각 화소(1)는 표시부(10)에 전달되는 복수의 주사선(SL1 내지 SLn) 중 두 개의 주사선에 연결되어 있다. 주사 구동부(20)는 복수의 주사선(SL1 내지 SLn)을 통해 각 화소에 두 개의 주사 신호를 생성하여 전달한다. 즉, 주사 구동부(20)는 제1 주사선(SL2~SLn) 또는 제2 주사선(SL1~SLn-1)으로 주사 신호를 순차적으로 공급한다. 도 1에서 화소(1)는 해당 화소 라인에 두 개의 주사선이 연결되어 있으나, 본 발명은 반드시 이에 제한되는 것은 아니며, 본 발명의 다른 실시예에서 화소(1)는 대응하는 화소 라인의 주사선과 그 이전 화소 라인의 주사선에 연결될 수 있다. Each
본 발명의 실시예에서는 초기화 전압선(IL)이 주사 구동부(20)에 연결되어 주사 구동부(20)로부터 초기화 전압을 인가받으나, 본 발명의 다른 실시예에서는 초기화 전압선(IL)이 외부의 전원 공급원으로부터 초기화 전압을 인가받을 수 있다.In the embodiment of the present invention, the initialization voltage line IL is connected to the
또한 각 화소(1)는 표시부(10)에 전달되는 복수의 데이터선(DL1 내지 DLm) 중 하나의 데이터선, 표시부(10)에 전달되는 복수의 발광 제어선(EL1 내지 ELn) 중 하나의 발광 제어선에 연결되어 있다.Each
데이터 구동부(30)는 복수의 데이터선(DL1 내지 DLm)을 통해 각 화소에 데이터 신호를 전달한다. 데이터 신호는 제1 주사선(SL2~SLn)으로 주사 신호가 공급될 때마다 주사 신호에 의해 선택된 화소(1)로 공급된다. The
발광 제어 구동부(40)는 복수의 발광 제어선(EL1 내지 ELn)을 통해 각 화소에 발광 제어 신호를 생성하여 전달한다. 발광 제어 신호는 화소(1)의 발광 시간을 제어한다. 발광 제어 구동부(40)는 화소(1)의 내부 구조에 따라 생략될 수도 있다.The
제어부(50)는 외부에서 전달되는 복수의 영상 신호(R, G, B)를 복수의 영상 데이터 신호(DR, DG, DB)로 변경하여 데이터 구동부(30)에 전달한다. 또한 제어부(50)는 수직동기신호(Vsync), 수평동기신호(Hsync), 및 클럭신호(MCLK)를 전달받아 상기 주사 구동부(20), 데이터 구동부(30), 및 발광 제어 구동부(40)의 구동을 제어하기 위한 제어 신호를 생성하여 각각에 전달한다. 즉, 제어부(50)는 주사 구동부(20)를 제어하는 주사 구동 제어 신호(SCS), 데이터 구동부(30)를 제어하는 데이터 구동 제어 신호(DCS), 및 발광 제어 구동부(40)를 제어하는 발광 구동 제어 신호(ECS)를 각각 생성하여 전달한다.The
복수의 화소(1) 각각은 외부의 제1 전원전압(ELVDD) 및 제2 전원전압(ELVSS)을 공급받는다. 제1 전원전압(ELVDD)은 소정의 하이 레벨 전압일 수 있고, 제2 전원전압(ELVSS)은 상기 제1 전원전압(ELVDD)보다 낮은 전압이거나 접지 전압일 수 있다. 제1 전원전압(ELVDD)은 구동 전압선(ELVDDL)을 통해 각 화소(1)로 공급된다. Each of the
복수의 화소(1) 각각은 복수의 데이터선(DL1 내지 DLm)을 통해 전달된 데이터 신호에 따라 발광 소자로 공급되는 구동 전류에 의해 소정 휘도의 빛을 발광한다.Each of the plurality of
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 하나의 화소의 등가 회로도이다. 2 is an equivalent circuit diagram of one pixel of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)의 하나의 화소(1)는 복수의 박막 트랜지스터(T1 내지 T6) 및 스토리지 캐패시터(storage capacitor, Cst)를 포함하는 화소 회로(2)를 포함한다. 그리고 화소(1)는 화소 회로(2)를 통해 구동 전류를 전달받아 발광하는 유기 발광 소자(organic light emitting diode, OLED)를 포함한다.One
박막 트랜지스터는 구동 박막 트랜지스터(T1), 스위칭 박막 트랜지스터(T2), 보상 박막 트랜지스터(T3), 초기화 박막 트랜지스터(T4), 제1 발광 제어 박막 트랜지스터(T5) 및 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)를 포함한다.The thin film transistors include a driving thin film transistor T1, a switching thin film transistor T2, a compensation thin film transistor T3, an initialization thin film transistor T4, a first emission control thin film transistor T5, and a second emission control thin film transistor T6. It includes.
화소(1)는 스위칭 박막 트랜지스터(T2) 및 보상 박막 트랜지스터(T3)에 제1 주사 신호(Sn)를 전달하는 제1 주사선(24), 초기화 박막 트랜지스터(T4)에 제2 주사 신호(Sn-1)를 전달하는 제2 주사선(14), 제1 발광 제어 박막 트랜지스터(T5) 및 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)에 발광 제어 신호(En)를 전달하는 발광 제어선(34), 제1 주사선(SLn)과 교차하며 데이터 신호(Dm)를 전달하는 데이터선(16), 제1전원전압(ELVDD)을 전달하는 구동 전압선(26), 구동 박막 트랜지스터(T1)를 초기화하는 초기화 전압(VINT)을 전달하는 초기화 전압선(20)을 포함한다. The
구동 박막 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)은 스토리지 커패시터(Cst)의 제1전극(Cst1)과 연결되어 있다. 구동 박막 트랜지스터(T1)의 소스 전극(S1)은 제1 발광 제어 박막 트랜지스터(T5)를 경유하여 구동 전압선(26)과 연결되어 있다. 구동 박막 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1)은 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)를 경유하여 유기 발광 소자(OLED)의 애노드(anode) 전극과 전기적으로 연결되어 있다. 구동 박막 트랜지스터(T1)는 스위칭 박막 트랜지스터(T2)의 스위칭 동작에 따라 데이터 신호(Dm)를 전달받아 유기 발광 소자(OLED)에 구동 전류(Ioled)를 공급한다.The gate electrode G1 of the driving thin film transistor T1 is connected to the first electrode Cst1 of the storage capacitor Cst. The source electrode S1 of the driving thin film transistor T1 is connected to the driving
스위칭 박막 트랜지스터(T2)의 게이트 전극(G2)은 제1 주사선(24)과 연결되어 있다. 스위칭 박막 트랜지스터(T2)의 소스 전극(S2)은 데이터선(16)과 연결되어 있다. 스위칭 박막 트랜지스터(T2)의 드레인 전극(D2)은 구동 박막 트랜지스터(T1)의 소스 전극(S1)과 연결되어 있으면서 제1 발광 제어 박막 트랜지스터(T5)를 경유하여 구동 전압선(26)과 연결되어 있다. 이러한 스위칭 박막 트랜지스터(T2)는 제1 주사선(24)을 통해 전달받은 제1 주사 신호(Sn)에 따라 턴 온되어 데이터선(16)으로 전달된 데이터 신호(Dm)를 구동 박막 트랜지스터(T1)의 소스 전극(S1)으로 전달하는 스위칭 동작을 수행한다.The gate electrode G2 of the switching thin film transistor T2 is connected to the
보상 박막 트랜지스터(T3)의 게이트 전극(G3)은 제1 주사선(24)에 연결되어 있다. 보상 박막 트랜지스터(T3)의 소스 전극(S3)은 구동 박막 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1)과 연결되어 있으면서 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)를 경유하여 유기 발광 소자(OLED)의 애노드(anode) 전극과 연결되어 있다. 보상 박막 트랜지스터(T3)의 드레인 전극(D3)은 스토리지 커패시터(Cst)의 제1 전극(Cst1), 초기화 박막 트랜지스터(T4)의 드레인 전극(D4) 및 구동 박막 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)과 함께 연결되어 있다. 보상 박막 트랜지스터(T3)는 제1 주사선(24)을 통해 전달받은 제1 주사 신호(Sn)에 따라 턴 온되어 구동 박막 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)과 드레인 전극(D1)을 서로 연결하여 구동 박막 트랜지스터(T1)를 다이오드 연결시킨다. The gate electrode G3 of the compensation thin film transistor T3 is connected to the
초기화 박막 트랜지스터(T4)의 게이트 전극(G4)은 제2 주사선(14)과 연결되어 있다. 초기화 박막 트랜지스터(T4)의 소스 전극(S4)은 초기화 전압선(20)과 연결되어 있다. 초기화 박막 트랜지스터(T4)의 드레인 전극(D4)은 스토리지 커패시터(Cst)의 제1 전극(Cst1), 보상 박막 트랜지스터(T3)의 드레인 전극(D3) 및 구동 박막 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)과 함께 연결되어 있다. 초기화 박막 트랜지스터(T4)는 제2 주사선(14)을 통해 전달받은 제2 주사 신호(Sn-1)에 따라 턴 온되어 초기화 전압(VINT)을 구동 박막 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)에 전달하여 구동 박막 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1)의 전압을 초기화시키는 초기화 동작을 수행한다.The gate electrode G4 of the initialization thin film transistor T4 is connected to the
제1 발광 제어 박막 트랜지스터(T5)의 게이트 전극(G5)은 발광 제어선(34)과 연결되어 있다. 제1 발광 제어 박막 트랜지스터(T5)의 소스 전극(S5)은 구동 전압선(26)과 연결되어 있다. 제1 발광 제어 박막 트랜지스터(T5)의 드레인 전극(D5)은 구동 박막 트랜지스터(T1)의 소스 전극(S1) 및 스위칭 박막 트랜지스터(T2)의 드레인 전극(D2)과 연결되어 있다.The gate electrode G5 of the first emission control thin film transistor T5 is connected to the
제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)의 게이트 전극(G6)은 발광 제어선(34)과 연결되어 있다. 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)의 소스 전극(S6)은 구동 박막 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(D1) 및 보상 박막 트랜지스터(T3)의 소스 전극(S3)과 연결되어 있다. 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)의 드레인 전극(D6)은 유기 발광 소자(OLED)의 애노드(anode) 전극과 전기적으로 연결되어 있다. 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T5) 및 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)는 발광 제어선(34)을 통해 전달받은 발광 제어 신호(EMn)에 따라 동시에 턴 온되어 제1 전원전압(ELVDD)이 유기 발광 소자(OLED)에 전달되어 유기 발광 소자(OLED)에 구동 전류(Ioled)가 흐르게 된다.The gate electrode G6 of the second emission control thin film transistor T6 is connected to the
스토리지 커패시터(Cst)의 제2 전극(Cst2)은 구동 전압선(26)과 연결되어 있다. 스토리지 커패시터(Cst)의 제1 전극(Cst1)은 구동 박막 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(G1), 보상 박막 트랜지스터(T3)의 드레인 전극(D3) 및, 초기화 박막 트랜지스터(T4)의 드레인 전극(D4)에 함께 연결되어 있다. The second electrode Cst2 of the storage capacitor Cst is connected to the driving
유기 발광 소자(OLED)의 캐소드(cathode) 전극은 제2 전원전압(ELVSS)과 연결되어 있다. 유기 발광 소자(OLED)는 구동 박막 트랜지스터(T1)로부터 구동 전류(Ioled)를 전달받아 발광함으로써 화상을 표시한다.The cathode of the organic light emitting diode OLED is connected to the second power supply voltage ELVSS. The organic light emitting diode OLED receives the driving current Ioled from the driving thin film transistor T1 and emits light to display an image.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 도 2의 화소를 나타낸 개략적인 평면도이다. 도 4는 도 3에 도시된 각 신호선을 나타낸 단면도이다. 도 3에서는 인접하는 두 개의 화소(1)를 도시한다.3 is a schematic plan view illustrating the pixel of FIG. 2 according to an exemplary embodiment of the present invention. 4 is a cross-sectional view illustrating each signal line illustrated in FIG. 3. 3 shows two
도 3에 도시한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 화소(1)는 제1 주사 신호(Sn), 제2 주사 신호(Sn-1), 발광 제어 신호(En) 및 초기화 전압(VINT)을 각각 인가하며 제2 방향을 따라 형성되어 있는 제1 주사선(24), 제2 주사선(14), 발광 제어선(34) 및 초기화 전압선(20)을 포함하고, 제1 주사선(24), 제2 주사선(14), 발광 제어선(34) 및 초기화 전압선(20) 모두와 교차하며 제1 방향을 따라 형성되고 있으며 화소에 데이터 신호(Dm)를 인가하는 데이터선(16)을 포함한다. 그리고, 화소(1)는 제1 전원전압(ELVDD)을 인가하는 구동 전압선(26)을 포함한다. As illustrated in FIG. 3, the
구동 전압선(26)은 데이터선(16)과 거의 평행하게 제1 방향을 따라 형성된 수직 라인(VL)과 데이터선(16)과 수직하게 제2 방향을 따라 형성된 수평 라인(HL)을 포함한다. 구동 전압선(26)의 수직 라인(VL)은 제1 방향으로 인접하는 화소들의 수직 라인(VL)과 연결되고, 수평 라인(HL)은 데이터선(16)을 가로지르며 제2 방향으로 인접하는 화소들의 수평 라인(HL)과 연결되어, 전체적으로 메쉬(mesh) 구조를 갖는다. 구동 전압선(26)은 스토리지 커패시터(Cst)와 데이터선(16) 사이의 층에 배치되어 차폐용 금속 실드(metal shield)로서 기능한다. 또한 구동 전압선(26)의 수평 라인(HL)은 스토리지 커패시터(Cst)를 완전히 커버하는 면적을 가짐으로써 스토리지 커패시터(Cst)의 전부와 중첩한다. The driving
도 4를 참조하면, 제1 주사선(24), 제2 주사선(14)과 발광 제어선(34)은 기판(101) 상부의 제1 게이트 절연막(GI1) 상부에 형성되고, 제1 게이트 배선(GL1)에 포함된다. 초기화 전압선(20)은 제1 게이트 절연막(GI1) 상부의 제2 게이트 절연막(GI2)과 제1 층간 절연막(ILD1) 상부에 형성되고, 제2 게이트 배선(GL2)에 포함된다. 게이트 배선들인 제1 게이트 배선들(GL1) 및 제2 게이트 배선들(GL2) 각각이 제2 게이트 절연막(GI2)과 제1 층간 절연막(ILD1)을 사이에 두고 서로 다른 층에 위치함으로써, 서로 다른 층에 위치하는 이웃하는 게이트 배선들 간의 거리를 좁게 형성할 수 있기 때문에, 동일한 면적에 보다 많은 화소(1)를 형성할 수 있다. 즉, 고해상도의 표시 장치(100)를 형성할 수 있다.Referring to FIG. 4, the
게이트 배선들인 제1 게이트 배선들(GL1) 및 제2 게이트 배선들(GL2) 상부에는 제2 층간 절연막(ILD2)이 적층된다. A second interlayer insulating layer ILD2 is stacked on the first gate lines GL1 and the second gate lines GL2, which are gate lines.
구동 전압선(26)은 제2 층간 절연막(ILD2) 상부에 위치하고, 데이터선(16)은 구동 전압선(26)의 일부와 중첩하며 제2 층간 절연막(ILD2) 상부의 제3 층간 절연막(ILD3) 상부에 위치한다. 데이터선(16) 상부에는 보호막(PL)이 적층된다.The driving
다시 도 3을 참조하면, 화소(1)에는 구동 박막 트랜지스터(T1), 스위칭 박막 트랜지스터(T2), 보상 박막 트랜지스터(T3), 초기화 박막 트랜지스터(T4), 제1 발광 제어 박막 트랜지스터(T5), 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6), 스토리지 커패시터(Cst)가 형성되어 있다. 도 3에서는 유기 발광 소자(OLED)는 생략되어 있다. Referring back to FIG. 3, the
구동 박막 트랜지스터(T1)는 구동 반도체층(A1), 구동 게이트 전극(G1), 구동 소스 전극(S1) 및 구동 드레인 전극(D1)을 포함한다. 구동 소스 전극(S1)은 구동 반도체층(A1)에서 불순물이 도핑된 구동 소스 영역에 해당하고, 구동 드레인 전극(D1)은 구동 반도체층(A1)에서 불순물이 도핑된 구동 드레인 영역에 해당한다. 구동 게이트 전극(G1)은 컨택홀(41 내지 44)을 통해 연결 부재(40)에 의해 스토리지 커패시터의 제1전극(Cst), 보상 박막 트랜지스터(T3)의 보상 드레인 전극(D3), 및 초기화 박막 트랜지스터(T4)의 초기화 드레인 전극(D4)과 연결된다. 구동 박막 트랜지스터(T1)의 구동 게이트 전극(G1) 상부에는 구동 전압선(26)의 수직 라인(VL)에서 돌출된 돌출부가 배치되어 있다. The driving thin film transistor T1 includes a driving semiconductor layer A1, a driving gate electrode G1, a driving source electrode S1, and a driving drain electrode D1. The driving source electrode S1 corresponds to a driving source region doped with impurities in the driving semiconductor layer A1, and the driving drain electrode D1 corresponds to a driving drain region doped with impurities in the driving semiconductor layer A1. The driving gate electrode G1 is connected to the first electrode Cst of the storage capacitor, the compensation drain electrode D3 of the compensation thin film transistor T3, and the initialization thin film by the
스위칭 박막 트랜지스터(T2)는 스위칭 반도체층(A2), 스위칭 게이트 전극(G2), 스위칭 소스 전극(S2) 및 스위칭 드레인 전극(D2)을 포함한다. 스위칭 소스 전극(S2)은 스위칭 반도체층(A2)에서 불순물이 도핑된 스위칭 소스 영역에 해당하고, 스위칭 드레인 전극(D2)은 스위칭 반도체층(A2)에서 불순물이 도핑된 스위칭 드레인 영역(D2)에 해당한다. 스위칭 소스 전극(S2)은 컨택홀(45)을 통해 데이터선(16)과 연결된다. 스위칭 드레인 전극(D2)은 구동 박막 트랜지스터(T1) 및 동작 제어 박막 트랜지스터(T5)와 연결되어 있다. 스위칭 게이트 전극(G2)은 제1 주사선(24)의 일부로 형성된다. The switching thin film transistor T2 includes a switching semiconductor layer A2, a switching gate electrode G2, a switching source electrode S2, and a switching drain electrode D2. The switching source electrode S2 corresponds to a switching source region doped with impurities in the switching semiconductor layer A2, and the switching drain electrode D2 is connected to a switching drain region D2 doped with impurities in the switching semiconductor layer A2. Corresponding. The switching source electrode S2 is connected to the
보상 박막 트랜지스터(T3)는 보상 반도체층(A3), 보상 게이트 전극(G3), 보상 소스 전극(S3) 및 보상 드레인 전극(D3)을 포함한다. 보상 소스 전극(S3)은 보상 반도체층(A3)에서 불순물이 도핑된 보상 소스 영역에 해당하고, 보상 드레인 전극(D3)은 보상 반도체층(A3)에서 불순물이 도핑된 보상 드레인 영역에 해당한다. 보상 게이트 전극(G3)은 제1 주사선(24)의 일부와 제1 주사선(24)으로부터 돌출되어 연장된 배선의 일부에 의해 듀얼 게이트 전극을 형성하여 누설 전류(leakage current)를 방지한다. The compensation thin film transistor T3 includes a compensation semiconductor layer A3, a compensation gate electrode G3, a compensation source electrode S3, and a compensation drain electrode D3. The compensation source electrode S3 corresponds to a compensation source region doped with impurities in the compensation semiconductor layer A3, and the compensation drain electrode D3 corresponds to a compensation drain region doped with impurities in the compensation semiconductor layer A3. The compensation gate electrode G3 forms a dual gate electrode by a part of the
초기화 박막 트랜지스터(T4)는 초기화 반도체층(A4), 초기화 게이트 전극(G4), 초기화 소스 전극(S4) 및 초기화 드레인 전극(D4)을 포함한다. 초기화 소스 전극(S4)은 초기화 반도체층(A4)에서 불순물이 도핑된 초기화 소스 영역에 해당하고, 초기화 드레인 전극(D4)은 초기화 반도체층(A4)에서 불순물이 도핑된 초기화 드레인 영역(D4)에 해당한다. 초기화 소스 전극(S4)은 컨택홀(46)을 통해 초기화 전압선(20)과 연결될 수 있다. 초기화 게이트 전극(G4)은 제2 주사선(14)의 일부로 형성된다. The initialization thin film transistor T4 includes an initialization semiconductor layer A4, an initialization gate electrode G4, an initialization source electrode S4, and an initialization drain electrode D4. The initialization source electrode S4 corresponds to an initialization source region doped with impurities in the initialization semiconductor layer A4, and the initialization drain electrode D4 is formed in the initialization drain region D4 doped with impurities in the initialization semiconductor layer A4. Corresponding. The initialization source electrode S4 may be connected to the
제1 발광 제어 박막 트랜지스터(T5)는 제1 발광 제어 반도체층(A5), 제1 발광 제어 게이트 전극(G5), 제1 발광 제어 소스 전극(S5) 및 제1 발광 제어 드레인 전극(D5)을 포함한다. 제1 발광 제어 소스 전극(S5)은 제1 발광 제어 반도체층(A5)에서 불순물이 도핑된 제1 발광 제어 소스 영역에 해당하고, 제1 발광 제어 드레인 전극(D5)은 제1 발광 제어 반도체층(A5)에서 불순물이 도핑된 제1 발광 제어 드레인 영역에 해당한다. 제1 발광 제어 소스 전극(S5)은 컨택홀(47)을 통해 구동 전압선(20)과 연결될 수 있다. 제1 발광 제어 게이트 전극(G5)은 발광 제어선(34)의 일부로 형성된다. The first emission control thin film transistor T5 includes the first emission control semiconductor layer A5, the first emission control gate electrode G5, the first emission control source electrode S5, and the first emission control drain electrode D5. Include. The first emission control source electrode S5 corresponds to the first emission control source region doped with impurities in the first emission control semiconductor layer A5, and the first emission control drain electrode D5 is the first emission control semiconductor layer. It corresponds to the first light emission control drain region doped with an impurity in (A5). The first emission control source electrode S5 may be connected to the driving
제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)는 제2 발광 제어 반도체층(A6), 제2 발광 제어 게이트 전극(G6), 제2 발광 제어 소스 전극(S6) 및 제2 발광 제어 드레인 전극(D6)을 포함한다. 제2 발광 제어 소스 전극(S6)은 제2 발광 제어 반도체층(A6)에서 불순물이 도핑된 발광 제어 소스 영역에 해당하고, 제2 발광 제어 드레인 전극(D6)은 제2 발광 제어 반도체층(A6)에서 불순물이 도핑된 발광 제어 드레인 영역에 해당한다. 제2 발광 제어 드레인 전극(D6)은 컨택홀(48)과 연결된 컨택 금속(CM)과 컨택 금속(CM)과 연결된 비아홀(VIA)을 통해 유기 발광 소자(OLED)의 애노드 전극과 연결된다. 제2 발광 제어 게이트 전극(G6)은 발광 제어선(34)의 일부로 형성된다. The second emission control thin film transistor T6 may include the second emission control semiconductor layer A6, the second emission control gate electrode G6, the second emission control source electrode S6, and the second emission control drain electrode D6. Include. The second emission control source electrode S6 corresponds to the emission control source region doped with impurities in the second emission control semiconductor layer A6, and the second emission control drain electrode D6 is the second emission control semiconductor layer A6. ) Corresponds to the emission control drain region doped with impurities. The second emission control drain electrode D6 is connected to the anode electrode of the OLED through the contact metal CM connected to the
스토리지 커패시터(Cst)의 제1 전극(Cst1)은 연결 부재(40)에 의해 보상 박막 트랜지스터(T3)의 보상 드레인 전극(D3), 초기화 박막 트랜지스터(T4)의 초기화 드레인 전극(D4), 구동 박막 트랜지스터(T1)의 구동 게이트 전극(G1)과 함께 연결되어 있다. The first electrode Cst1 of the storage capacitor Cst is connected to the compensation drain electrode D3 of the compensation thin film transistor T3, the initialization drain electrode D4 of the initialization thin film transistor T4, and the driving thin film by the
스토리지 커패시터(Cst)의 제2 전극(Cst2)은 컨택홀(49)에 형성된 컨택 금속(CM)에 의해 구동 전압선(26)과 연결되어, 구동 전압선(26)으로부터 구동 전압(ELVDD)을 인가받는다. The second electrode Cst2 of the storage capacitor Cst is connected to the driving
도 5는 도 4의 A-A'선, B-B'선, C-C'선을 따라 자른 단면도이다. 도 5에서는 복수의 박막 트랜지스터 중 구동 박막 트랜지스터(T1), 스위칭 박막 트랜지스터(T2), 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6), 및 스토리지 커패시터(Cst)를 도시하고 있다. 5 is a cross-sectional view taken along line A-A ', line B-B' and line C-C 'of FIG. 4. In FIG. 5, the driving thin film transistor T1, the switching thin film transistor T2, the second emission control thin film transistor T6, and the storage capacitor Cst are illustrated.
도 5를 참조하면, 기판(101) 상부에 구동 박막 트랜지스터(T1)의 구동 반도체층(A1), 스위칭 박막 트랜지스터(T2)의 스위칭 반도체층(A2), 및 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)의 제2 발광 제어 반도체층(A6)이 형성된다. 반도체층(A1, A2, 및 A6)은 폴리 실리콘으로 이루어지며, 불순물이 도핑되지 않은 채널 영역과, 채널 영역의 양 옆으로 불순물이 도핑되어 형성된 소스 영역 및 드레인 영역을 포함한다. 여기서, 불순물은 박막 트랜지스터의 종류에 따라 달라지며, N형 불순물 또는 P형 불순물이 가능하다. 도시되지 않았으나, 보상 박막 트랜지스터(T3)의 보상 반도체층(A3), 초기화 박막 트랜지스터(T4)의 초기화 반도체층(A4), 제1 발광 제어 박막 트랜지스터(T5)의 제1 발광 제어 반도체층(A5) 또한 구동 반도체층(A1), 스위칭 반도체층(A2), 및 제2 발광 제어 반도체층(A6)과 동시에 형성될 수 있다. Referring to FIG. 5, the driving semiconductor layer A1 of the driving thin film transistor T1, the switching semiconductor layer A2 of the switching thin film transistor T2, and the second emission control thin film transistor T6 are disposed on the
도시되지 않았으나, 기판(101)과 반도체층 사이에는 버퍼층을 더 형성할 수 있다. 버퍼층은 불순물 이온이 확산되는 것을 방지하고, 수분이나 외기의 침투를 방지하며, 표면을 평탄화하기 위한 베리어층, 및/또는 블록킹층으로 역할한다. Although not shown, a buffer layer may be further formed between the
반도체층(A1 내지 A6) 상부에 제1 게이트 절연막(GI1)이 기판(101) 전면에 적층된다. 제1 게이트 절연막(GI1)은 유기 절연 물질 또는 무기 절연 물질, 또는 유기 절연 물질과 무기 절연 물질이 교번하는 다층 구조로 형성될 수도 있다. The first gate insulating layer GI1 is stacked on the entire surface of the
제1 게이트 절연막(GI1) 상부에 스위칭 박막 트랜지스터(T2)의 스위칭 게이트 전극(G2) 및 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)의 제2 발광 제어 게이트 전극(G6)이 형성된다. 또한 스토리지 커패시터(Cst)의 제1 전극(Cst1)이 형성된다. 도시되지 않았으나, 보상 박막 트랜지스터(T3)의 보상 게이트 전극(G3), 초기화 박막 트랜지스터(T4)의 초기화 게이트 전극(G4), 제1 발광 제어 박막 트랜지스터(T5)의 제1 발광 제어 게이트 전극(G5)이 스위칭 게이트 전극(G2) 및 제2 발광 제어 게이트 전극(G6)과 동시에 동일층에 형성된다. 스위칭 게이트 전극(G2), 보상 게이트 전극(G3), 초기화 게이트 전극(G4), 제1 발광 제어 게이트 전극(G5), 제2 발광 제어 게이트 전극(G6) 및 스토리지 커패시터(Cst)의 제1 전극(Cst1)은 제1 게이트 배선(GL1) 물질로 형성되며, 이하에서는 제1 게이트 전극이라 한다. 제1 게이트 배선(GL1) 물질은 알루미늄(Al), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 은(Ag), 마그네슘(Mg), 금(Au), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 크롬(Cr), 니켈(Li), 칼슘(Ca), 몰리브덴(Mo), 타이타늄(Ti), 텅스텐(W), 구리(Cu) 가운데 선택된 하나 이상의 금속을 포함할 수 있다. 제1 주사선(24), 제2 주사선(14)과 발광 제어선(34) 또한 제1 게이트 배선(GL1) 물질로 제1 게이트 전극들과 동시에 동일층에 형성될 수 있다. The switching gate electrode G2 of the switching thin film transistor T2 and the second emission control gate electrode G6 of the second emission control thin film transistor T6 are formed on the first gate insulating layer GI1. In addition, the first electrode Cst1 of the storage capacitor Cst is formed. Although not shown, the compensation gate electrode G3 of the compensation thin film transistor T3, the initialization gate electrode G4 of the initialization thin film transistor T4, and the first emission control gate electrode G5 of the first emission control thin film transistor T5. ) Is formed on the same layer as the switching gate electrode G2 and the second emission control gate electrode G6. The first electrode of the switching gate electrode G2, the compensation gate electrode G3, the initialization gate electrode G4, the first emission control gate electrode G5, the second emission control gate electrode G6, and the storage capacitor Cst. Cst1 is formed of a first gate line GL1 material, hereinafter referred to as a first gate electrode. The material of the first gate line GL1 is aluminum (Al), platinum (Pt), palladium (Pd), silver (Ag), magnesium (Mg), gold (Au), nickel (Ni), neodymium (Nd), or iridium It may include one or more metals selected from (Ir), chromium (Cr), nickel (Li), calcium (Ca), molybdenum (Mo), titanium (Ti), tungsten (W), and copper (Cu). The
제1 게이트 전극들 상부에 제2 게이트 절연막(GI2)이 기판(101) 전면에 적층된다. 제2 게이트 절연막(GI2)은 유기 절연 물질 또는 무기 절연 물질, 또는 유기 절연 물질과 무기 절연 물질이 교번하는 다층 구조로 형성될 수도 있다. The second gate insulating layer GI2 is stacked on the entire surface of the
제2 게이트 절연막(GI2) 상부에 구동 박막 트랜지스터(T1)의 구동 게이트 전극(G1)이 형성된다. 또한, 스토리지 커패시터(Cst)의 제2 전극(Cst2)이 형성된다. 구동 게이트 전극(G1), 및 스토리지 커패시터(Cst)의 제2 전극(Cst2)은 제2 게이트 배선(GL2) 물질로 형성되며, 이하에서는 제2 게이트 전극이라 한다. 제2 게이트 배선(GL2) 물질 또한 제1 게이트 배선(GL1) 물질과 유사하게 알루미늄(Al), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 은(Ag), 마그네슘(Mg), 금(Au), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 크롬(Cr), 니켈(Li), 칼슘(Ca), 몰리브덴(Mo), 타이타늄(Ti), 텅스텐(W), 구리(Cu) 가운데 선택된 하나 이상의 금속을 포함할 수 있다. The driving gate electrode G1 of the driving thin film transistor T1 is formed on the second gate insulating layer GI2. In addition, the second electrode Cst2 of the storage capacitor Cst is formed. The driving gate electrode G1 and the second electrode Cst2 of the storage capacitor Cst are formed of a second gate wiring GL2 material, hereinafter referred to as a second gate electrode. Similar to the first gate line GL1 material, the second gate line GL2 material may include aluminum (Al), platinum (Pt), palladium (Pd), silver (Ag), magnesium (Mg), gold (Au), Among nickel (Ni), neodymium (Nd), iridium (Ir), chromium (Cr), nickel (Li), calcium (Ca), molybdenum (Mo), titanium (Ti), tungsten (W), copper (Cu) It may comprise one or more metals selected.
제2 게이트 전극들 상부에 제1 층간 절연막(ILD1)이 기판(101) 전면에 적층된다. 제1 층간 절연막(ILD1)은 유기 절연 물질 또는 무기 절연 물질, 또는 유기 절연 물질과 무기 절연 물질이 교번하는 다층 구조로 형성될 수도 있다. The first interlayer insulating layer ILD1 is stacked on the entire surface of the
제1 층간 절연막(ILD1) 상부에는 제1 컨택 금속(CM1)이 컨택홀(45, 48, 49)에 각각 형성되어 스토리지 커패시터(Cst)의 제2 전극(Cst2), 스위칭 박막 트랜지스터(T2)의 스위칭 소스 전극(S2) 및 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)의 제2 발광 제어 드레인 전극(D6)과 각각 연결된다. 제1 컨택 금속(CM1)은 알루미늄(Al), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 은(Ag), 마그네슘(Mg), 금(Au), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 크롬(Cr), 니켈(Li), 칼슘(Ca), 몰리브덴(Mo), 타이타늄(Ti), 텅스텐(W), 구리(Cu) 가운데 선택된 하나 이상의 금속을 포함할 수 있다. 제1 컨택 금속(CM1)은 다층의 금속층을 포함할 수 있는데, 본 실시예에서는 알루미늄(Al)을 중심으로 상하부에 타이타늄(Ti)이 형성된 3층 구조(Ti/Al/Ti)가 채용되었다. 그러나 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 다양한 재료 및 다양한 층으로 제1 컨택 금속(CM1)을 형성할 수 있다. 이때 초기화 전압선(20)이 제1 컨택 금속(CM1)으로 제1 층간 절연막(ILD1) 상부에 형성될 수 있다. The first contact metal CM1 is formed in the contact holes 45, 48, and 49, respectively, on the first interlayer insulating layer ILD1, so that the second electrode Cst2 and the switching thin film transistor T2 of the storage capacitor Cst are formed. The switching source electrode S2 and the second emission control drain electrode D6 of the second emission control thin film transistor T6 are respectively connected. The first contact metal CM1 includes aluminum (Al), platinum (Pt), palladium (Pd), silver (Ag), magnesium (Mg), gold (Au), nickel (Ni), neodymium (Nd), and iridium ( It may include one or more metals selected from Ir, chromium (Cr), nickel (Li), calcium (Ca), molybdenum (Mo), titanium (Ti), tungsten (W), and copper (Cu). The first contact metal CM1 may include a multi-layered metal layer. In this embodiment, a three-layer structure (Ti / Al / Ti) in which titanium (Ti) is formed above and below the aluminum (Al) is employed. However, the present invention is not limited thereto, and the first contact metal CM1 may be formed of various materials and various layers. In this case, the
제1 컨택 금속(CM1) 상부에는 제2 층간 절연막(ILD2)이 기판(101) 전면에 적층된다. 제2 층간 절연막(ILD2)은 유기 절연 물질 또는 무기 절연 물질, 또는 유기 절연 물질과 무기 절연 물질이 교번하는 다층 구조로 형성될 수도 있다. The second interlayer insulating layer ILD2 is stacked on the entire surface of the
제2 층간 절연막(ILD2) 상부에는 구동 전압선(26)이 형성되며, 제1 컨택 금속(CM1)에 의해 제2 전극(Cst2)과 연결된다. 또한 제2 층간 절연막(ILD2) 상부에는 제2 컨택 금속(CM2)이 컨택홀(45, 48)에 각각 형성되어 스위칭 박막 트랜지스터(T2)의 스위칭 소스 전극(S2) 및 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)의 제2 발광 제어 드레인 전극(D6)과 각각 연결된다. 구동 전압선(26)과 제2 컨택 금속(CM2)은 알루미늄(Al), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 은(Ag), 마그네슘(Mg), 금(Au), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 크롬(Cr), 니켈(Li), 칼슘(Ca), 몰리브덴(Mo), 타이타늄(Ti), 텅스텐(W), 구리(Cu) 가운데 선택된 하나 이상의 금속을 포함할 수 있다. 제2 컨택 금속(CM2)은 다층의 금속층을 포함할 수 있는데, 본 실시예에서는 알루미늄(Al)을 중심으로 상하부에 타이타늄(Ti)이 형성된 3층 구조(Ti/Al/Ti)가 채용되었다. 그러나 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 다양한 재료 및 다양한 층으로 제2 컨택 금속(CM2)을 형성할 수 있다. The driving
구동 전압선(26) 및 제2 컨택 금속(CM2) 상부에는 제3 층간 절연막(ILD3)이 기판(101) 전면에 적층된다. 제3 층간 절연막(ILD3)은 유기 절연 물질 또는 무기 절연 물질, 또는 유기 절연 물질과 무기 절연 물질이 교번하는 다층 구조로 형성될 수도 있다. A third interlayer insulating layer ILD3 is stacked on the entire surface of the
제3 층간 절연막(ILD3) 상부에는 데이터선(16)이 형성된다. 데이터선(16)은 컨택홀(45)의 제1 컨택 금속(CM1) 및 제2 컨택 금속(CM2)에 의해 스위칭 박막 트랜지스터(T2)의 스위칭 소스 전극(S2)과 연결된다. 스토리지 커패시터(Cst)의 일부는 데이터선(16)과 중첩하며, 중첩하는 데이터선(16)과 스토리지 커패시터(Cst) 사이에 구동 전압선(26)이 위치한다. 또한 제3 층간 절연막(ILD3) 상부에는 제3 컨택 금속(CM3)이 컨택홀(48)에 형성되어 제2 발광 제어 박막 트랜지스터(T6)의 제2 발광 제어 드레인 전극(D6)과 연결된다. 데이터선(16)과 제3 컨택 금속(CM3)은 알루미늄(Al), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 은(Ag), 마그네슘(Mg), 금(Au), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 크롬(Cr), 니켈(Li), 칼슘(Ca), 몰리브덴(Mo), 타이타늄(Ti), 텅스텐(W), 구리(Cu) 가운데 선택된 하나 이상의 금속을 포함할 수 있다. 제3 컨택 금속(CM3)은 다층의 금속층을 포함할 수 있는데, 본 실시예에서는 알루미늄(Al)을 중심으로 상하부에 타이타늄(Ti)이 형성된 3층 구조(Ti/Al/Ti)가 채용되었다. 그러나 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 다양한 재료 및 다양한 층으로 제3 컨택 금속(CM3)을 형성할 수 있다. The
데이터선(16) 및 제3 컨택 금속(CM3) 상부에는 평탄화막(PL)이 형성된다. 평탄화막(PL)은 복수의 박막 트랜지스터가 구비된 기판(101)의 표면을 평탄화하기 위한 것으로, 단일 층 또는 복수 층의 절연막으로 형성될 수 있다. 평탄화막(PL)은 폴리이미드, 폴리아마이드, 아크릴 수지, 벤조사이클로부텐 및 페놀 수지로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상의 물질을 사용할 수 있다. The planarization layer PL is formed on the
평탄화막(PL) 상부에는 애노드 전극(120)이 형성된다. 애노드 전극(120)은 비아홀(VIA)을 통해 컨택홀(48)에 형성된 제3 컨택 금속(CM3)과 연결되어, 제2 발광 제어 드레인 전극(D6)과 연결된다. An
한편, 도 5에서는 박막 트랜지스터의 소스 전극 및 드레인 전극 중 타 배선과 연결되지 않는 소스 전극 및 드레인 전극은 반도체층 각각과 동일한 층으로 형성되고 있다. 즉, 각 박막 트랜지스터의 소스 전극 및 드레인 전극은 선택적으로 도핑 물질이 도핑된 폴리 실리콘으로 형성될 수 있다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 본 발명의 다른 실시예에 따른 박막 트랜지스터의 소스 전극 및 드레인 전극 각각은 반도체층 각각과 다른 층으로 형성되고, 컨택홀에 의해 반도체층의 소스 영역 및 드레인 영역과 연결될 수 있다. Meanwhile, in FIG. 5, source and drain electrodes not connected to other wirings among the source and drain electrodes of the thin film transistor are formed of the same layer as each of the semiconductor layers. That is, the source electrode and the drain electrode of each thin film transistor may be selectively formed of polysilicon doped with a doping material. However, the present invention is not limited thereto, and each of the source electrode and the drain electrode of the thin film transistor according to another exemplary embodiment of the present invention is formed of a layer different from each of the semiconductor layers, and the source and drain regions of the semiconductor layer are formed by contact holes. It can be connected with.
도 6은 도 5의 비교예를 개략적으로 도시한 단면도이다.6 is a cross-sectional view schematically illustrating a comparative example of FIG. 5.
도 6의 비교예는, 도 5에 도시된 본 발명의 실시예와 비교하여 데이터선(16")과 구동 전압선(26")이 동일층에 형성되어 있고, 스토리지 커패시터(Cst)는 구동 전압선(26")과 중첩하나, 데이터선(16")과는 중첩하지 않는 점이 상이하다. 따라서, 도 5의 실시예와 중복하는 구성의 상세한 설명은 생략하겠다.In the comparative example of FIG. 6, the
도 6의 비교에와 같이, 데이터선(16")과 스토리지 커패시터(Cst)가 중첩하게 되면 데이터선(16")과 스토리지 커패시터(Cst) 간에 커플링(coupling)이 발생하여 크로스 토크(cross talk) 불량이 발생한다. 따라서, 스토리지 커패시터(Cst)를 데이터선(16")과 중첩하지 않게 형성한다. 그러나, 스토리지 커패시터(Cst)를 데이터선(16")과 중첩하지 않게 형성하게 되면 스토리지 커패시터(Cst)의 용량 확보가 어렵다. 또한 데이터선(16")과 구동 전압선(26")이 동일층에 형성됨으로 인해 배선 간의 공간(space) 확보에 취약하며, 구동 전압선(26")을 수평 라인으로 형성할 수 없어 메쉬 구조 구현이 어려워, 제1 전원전압(ELVDD)의 전압 강하에 의한 크로스 토크(cross talk) 불량이 발생할 수 있다. As in the comparison of FIG. 6, when the
반면, 본 발명의 실시예는 도 5에 도시된 바와 같이, 데이터선(16)과 구동 전압선(26)을 다른 층에 분리하여 형성하면서, 구동 전압선(26)을 데이터선(16)과 스토리지 커패시터(Cst)의 사이에 위치시킨다. 이에 따라, 구동 전압선(26)은 행 방향(제1 방향)으로 이웃하는 화소 간에 연결될 수 있기 때문에 메쉬 구조로 구현할 수 있다. 이에 따라 메쉬 구조의 구동 전압선(26)에 의해 제1 전원전압(ELVDD)의 전압 강하를 방지할 수 있다. 또한, 구동 전압선(26)의 수평 라인(HL)은 스토리지 커패시터(Cst)를 완전히 커버하는 면적을 가짐으로써 스토리지 커패시터(Cst)를 데이터선(16)에 대해 차폐시킬 수 있어, 데이터선(16)과 스토리지 커패시터(Cst) 사이의 커플링을 억제하면서 스토리지 커패시터(Cst)의 용량을 확보할 수 있다. On the other hand, according to the embodiment of the present invention, as shown in FIG. 5, the
본 명세서에서는 본 발명을 한정된 실시예를 중심으로 설명하였으나, 본 발명의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능하다. 또한 설명되지는 않았으나, 균등한 수단도 또한 본 발명에 그대로 결합되는 것이라 할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의하여 정해져야 할 것이다.In the present specification, the present invention has been described with reference to limited embodiments, but various embodiments are possible within the scope of the present invention. In addition, although not described, equivalent means will also be referred to as incorporated in the present invention. Therefore, the true scope of the present invention will be defined by the claims below.
Claims (10)
제1 전극 및 상기 제1 전극 상부의 제2 전극을 포함하는 커패시터;
상기 커패시터 상부에 상기 커패시터의 일부와 중첩하며 제1 방향으로 연장되고, 데이터 신호를 공급하는 데이터선;
상기 커패시터와 상기 데이터선 사이에 배치되고, 구동 전압을 공급하는 금속 실드인 구동 전압선;
상기 구동 전압선에 전기적으로 연결되고, 제1 반도체층 및 상기 제1 반도체층 상부의 게이트 전극을 포함하는 제1 박막 트랜지스터; 및
상기 제1 박막 트랜지스터에 전기적으로 연결되고, 제3 반도체층 및 상기 제3 반도체층 상부의 듀얼 게이트 전극을 포함하는 제3 박막 트랜지스터;를 포함하는 표시장치.In the display device including a plurality of pixels, each of the plurality of pixels,
A capacitor including a first electrode and a second electrode on the first electrode;
A data line overlapping a portion of the capacitor and extending in a first direction on the capacitor to supply a data signal;
A driving voltage line disposed between the capacitor and the data line, the driving voltage line being a metal shield for supplying a driving voltage;
A first thin film transistor electrically connected to the driving voltage line, the first thin film transistor including a first semiconductor layer and a gate electrode on the first semiconductor layer; And
And a third thin film transistor electrically connected to the first thin film transistor, the third thin film transistor including a third semiconductor layer and a dual gate electrode on the third semiconductor layer.
상기 커패시터의 제2 전극은 상기 구동 전압선과 전기적으로 연결된, 표시장치.The method of claim 1,
And a second electrode of the capacitor is electrically connected to the driving voltage line.
상기 구동 전압선은 메쉬 구조인, 표시장치.The method of claim 1,
And the driving voltage line has a mesh structure.
상기 구동 전압선은 상기 제1 방향의 제1 라인 및 상기 제1 방향과 상이한 제2 방향의 제2 라인을 포함하는, 표시장치.The method of claim 1,
And the driving voltage line includes a first line in the first direction and a second line in a second direction different from the first direction.
상기 커패시터와 상기 구동 전압선 사이에 차례로 적층된 제1 층간 절연막 및 제2 층간 절연막; 및
상기 구동 전압선과 상기 데이터선 사이에 적층된 제3 층간 절연막;을 더 포함하는 표시장치.The method of claim 1,
A first interlayer insulating film and a second interlayer insulating film sequentially stacked between the capacitor and the driving voltage line; And
And a third interlayer insulating layer stacked between the driving voltage line and the data line.
상기 데이터선 및 상기 제1 박막 트랜지스터 사이에 연결된 제2 박막 트랜지스터;를 더 포함하는 표시장치.The method of claim 1, wherein each of the plurality of pixels,
And a second thin film transistor connected between the data line and the first thin film transistor.
상기 커패시터의 제1 전극과 동일층에 형성되고, 상기 제2 방향으로 연장된 제1 주사선, 제2 주사선 및 발광 제어선을 더 포함하는, 표시장치.The method of claim 4, wherein each of the plurality of pixels,
And a first scan line, a second scan line, and a light emission control line formed on the same layer as the first electrode of the capacitor and extending in the second direction.
상기 커패시터의 제1 전극은 상기 제3 박막 트랜지스터의 듀얼 게이트 전극과 동일층에 배치되고,
상기 커패시터의 제2 전극은 상기 제1 전극과 상기 구동 전압선 사이의 층에 배치된, 표시장치. The method of claim 1,
The first electrode of the capacitor is disposed on the same layer as the dual gate electrode of the third thin film transistor,
And a second electrode of the capacitor is disposed in a layer between the first electrode and the driving voltage line.
초기화 전압선과 상기 제1 박막 트랜지스터에 전기적으로 연결된 제4 박막 트랜지스터;를 더 포함하는 표시장치.The method of claim 1,
And a fourth thin film transistor electrically connected to an initialization voltage line and the first thin film transistor.
상기 초기화 전압선은 상기 제1 박막 트랜지스터의 게이트 전극과 상기 데이터선 사이의 층에 배치된, 표시장치.The method of claim 9,
And the initialization voltage line is disposed in a layer between the gate electrode and the data line of the first thin film transistor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190106862A KR102084622B1 (en) | 2019-08-29 | 2019-08-29 | Substrate formed thin film transistor array and organic light emitting diode display |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190106862A KR102084622B1 (en) | 2019-08-29 | 2019-08-29 | Substrate formed thin film transistor array and organic light emitting diode display |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020130022444A Division KR102018284B1 (en) | 2013-02-28 | 2013-02-28 | Substrate formed thin film transistor array and organic light emitting diode display |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020200024556A Division KR102213224B1 (en) | 2020-02-27 | 2020-02-27 | Substrate formed thin film transistor array and organic light emitting diode display |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20190104289A true KR20190104289A (en) | 2019-09-09 |
KR102084622B1 KR102084622B1 (en) | 2020-03-05 |
Family
ID=67951595
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020190106862A KR102084622B1 (en) | 2019-08-29 | 2019-08-29 | Substrate formed thin film transistor array and organic light emitting diode display |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102084622B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US12080223B2 (en) | 2022-04-06 | 2024-09-03 | Samsung Display Co., Ltd. | Emissive display device |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100076603A (en) * | 2008-12-26 | 2010-07-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | Organic electro luminescent device and method of fabricating the same |
-
2019
- 2019-08-29 KR KR1020190106862A patent/KR102084622B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR20100076603A (en) * | 2008-12-26 | 2010-07-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | Organic electro luminescent device and method of fabricating the same |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US12080223B2 (en) | 2022-04-06 | 2024-09-03 | Samsung Display Co., Ltd. | Emissive display device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102084622B1 (en) | 2020-03-05 |
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A107 | Divisional application of patent | ||
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