KR20190102338A - Continuous electron trap sputtering cathode, And the coating product including the same - Google Patents

Continuous electron trap sputtering cathode, And the coating product including the same Download PDF

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Abstract

A technology disclosed in the present specification relates to a vacuum deposition method using a continuous electron trap sputtering cathode and a coating product using the same, and more specifically relates to a sputtering deposition method in which various substrates or various components such as a glass, a metal, a polymer, a fiber, a paper, and the like are formed with a stable continuous electron trap in a thin film deposition process of a metal, an oxide, a compound, and the like to induce and provide a constant charge flow, and minimizes damage to a thermal substrate through control of a charge flow. By using the method, metal, oxide, and compound coating of display application products such as an organic light emitting device, an inorganic EL, and the like can be performed. In addition, a cover color coating can be performed for as various cases, a glove ball, inner and outer materials, an accessory, and the like.

Description

연속 전자 트랩 스퍼터링 캐소드 및 이를 사용한 코팅 제품{Continuous electron trap sputtering cathode, And the coating product including the same}Continuous electron trap sputtering cathode, And the coating product including the same}

본 명세서에서 개시하는 기술은 연속 전자 트랩 스퍼터링 캐소드를 적용한 진공 증착 방법 및 이를 사용한 코팅 제품에 관한 것으로, 보다 상세하게는 금속, 산화물, 화합물 등 박막 증착 과정에서 글라스, 금속, 고분자, 섬유, 종이 등 다양한 기판 또는 다양한 구성품에 안정된 연속 전자 트랩을 형성하여 일정한 전하 흐름을 유도하고 제공하면서, 전하 흐름의 제어를 통해 열적인 기판의 손상을 최소화한 스퍼터링 증착 방법이다. 이를 사용하여 유기발광소자, 무기이엘 등 디스플레이 소자 내의 금속, 산화물, 화합물 코팅을 할 수 있으며 또한, 다양한 케이스, 골프공, 내·외장재, 액세서리 등 커버 칼라 코팅에 적용한다.The technology disclosed herein relates to a vacuum deposition method using a continuous electron trap sputtering cathode and a coating product using the same, and more particularly, to glass, metal, polymer, fiber, paper, etc. in a thin film deposition process such as metal, oxide, and compound. It is a sputtering deposition method that minimizes damage to a thermal substrate by controlling charge flow while inducing and providing a constant charge flow by forming stable continuous electron traps on various substrates or various components. Metal, oxide, and compound coating in display devices such as organic light emitting diodes, inorganic ELs, and the like can be used, and they are applied to cover color coatings such as various cases, golf balls, interior and exterior materials, and accessories.

기판 상에 박막을 형성하기 위하여 PVD(physical vapor deposition), CVD(chemical vapor deposition) 등과 같은 다양한 방식이 사용되고 있다. 스퍼터 방식은 PVD 방식의 일례로 기판 상에 박막을 형성하기 위하여 많이 활용되는 기술이다. 스퍼터링 방식은 플라즈마 상의 양이온을 타겟과 충돌시켜서 타겟으로부터 비산되는 물질을 기판에 증착하여 기판 상에 박막을 형성하는 기술이다.Various methods such as physical vapor deposition (PVD) and chemical vapor deposition (CVD) are used to form a thin film on a substrate. Sputtering is an example of PVD and is a technique widely used to form a thin film on a substrate. Sputtering is a technique of forming a thin film on a substrate by colliding cations on the plasma with the target to deposit a material scattered from the target on the substrate.

최근 디스플레이, 태양전지, 터치패널, 윈도우 필름 등에 박막이 증착된 유연성 기판에 많이 사용된다. Recently, it is widely used in flexible substrates in which thin films are deposited on displays, solar cells, touch panels, and window films.

도 1에서 예로서 도시한 종래의 스퍼터링 장치는 증착되는 메인 드럼의 곡선으로 인하여 증착되는 입자의 배열도 곡선화 되는 형상을 초래하므로 이로 인하여 기판에 박막을 증착하는 과정에서 기판에 증착되는 박막의 품질이 나빠지는 문제가 있다. In the conventional sputtering apparatus illustrated as an example in FIG. 1, the arrangement of particles to be deposited also results in a curved shape due to the curve of the main drum being deposited, and thus, the quality of the thin film deposited on the substrate in the process of depositing the thin film on the substrate. There is a problem with this deterioration.

본 명세서에서는 종래의 원통형상의 증착 메인 드럼을 캐소드에 평행한 구조로 대체한 안정된 연속 전자 트랩을 형성하여 일정한 전하 흐름을 유도하는 증착장치를 이용한 스퍼터링 방법을 제안한다. 본 명세서에서 개시하는 안정된 연속 전자 트랩을 형성하는 스퍼터링 방법을 통하여 수평형의 필름, 섬유, 종이 등 유연 기판을 시트(Sheet) 또는 롤(Roll)을 포함하여 다양한 구성품을 커버하는 스퍼터링이 가능하다. 이를 통하여 종래의 메인 드럼을 사용한 증착장치로 파생된 박막의 증착 입자의 곡선화 형상을 최소화할 수 있다.In the present specification, a sputtering method using a deposition apparatus for inducing a constant charge flow by forming a stable continuous electron trap in which a conventional cylindrical deposition main drum is replaced with a structure parallel to the cathode is proposed. Through the sputtering method of forming a stable continuous electron trap disclosed herein, it is possible to sputter a flexible film such as a horizontal film, fiber, paper, or the like to cover various components including sheets or rolls. Through this, it is possible to minimize the curved shape of the deposition particles of the thin film derived by the deposition apparatus using the conventional main drum.

본 명세서에서 개시하는 기술은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 도출된 것으로서, 본 명세서에서 개시하는 증착장치를 이용한 스퍼터링 방법은 종래의 원통형상의 증착 메인 드럼을 사용하지 않고 캐소드에 평행한 구조로 대체한 안정된 연속 전자 트랩을 형성하여 일정한 전하 흐름을 유도하는 증착장치를 이용한 스퍼터링 방법을 제안한다. 개발 기술은 필름, 섬유, 종이 등 유연 기판을 시트(Sheet) 또는 롤(Roll) 공정을 적용할 수 있으며 다양한 케이스, 골프공, 내·외장재, 액세서리 등 구성품을 커버하는 색상을 구현하는 진공 증착 스퍼터링이 가능하다.The technique disclosed in this specification is derived to solve the above problems of the prior art, and the sputtering method using the deposition apparatus disclosed in this specification has a structure parallel to the cathode without using a conventional cylindrical deposition main drum. We propose a sputtering method using a deposition apparatus that induces a constant charge flow by forming an alternative stable continuous electron trap. Development technology can apply sheet or roll process to flexible substrates such as film, fiber, paper, etc., and vacuum deposition sputtering to realize colors covering components such as various cases, golf balls, interior and exterior materials, and accessories. This is possible.

일 실시 예에 있어서, 증착장치를 이용한 스퍼터링 방법이 개시 (disclosure)된다. 상기 증착장치를 이용한 스퍼터링 방법은 기판배치과정, 플라즈마생성과정을 포함한다.In one embodiment, a sputtering method using a deposition apparatus is disclosed. The sputtering method using the deposition apparatus includes a substrate arrangement process and a plasma generation process.

상기 기판배치과정에서는 서로 대향하여 배치되는 스퍼터링 챔버 내에 유연성 기판과 타겟을 서로 대향 배치시킨다. 상기 기판이 상기 타겟과 소정의 거리를 유지하도록 한다. 상기 플라즈마생성과정에서는 상기 챔버로 스퍼터링 가스를 주입하고, 전원부를 통하여 상기 기판과 상기 타겟 사이에 전압을 인가하여 상기 챔버 내부에 플라즈마를 생성한다.In the substrate placement process, the flexible substrate and the target are disposed to face each other in the sputtering chamber disposed to face each other. The substrate is kept at a distance from the target. In the plasma generation process, a sputtering gas is injected into the chamber, and a plasma is generated inside the chamber by applying a voltage between the substrate and the target through a power supply unit.

자석배열에 따른 안정된 연속 전자 트랩을 형성하여 전자밀도를 통한 플라즈마 밀도와 온도를 조절할 수 있는 장점을 지닌다.Forming a stable continuous electron trap according to the magnet array has the advantage of controlling the plasma density and temperature through the electron density.

상기 타겟은 일면이 상기 기판에 대향하여 배치되며, 상기 플라즈마에 의한 스퍼터링에 의하여 상기 기판의 일면에 막을 증착한다.One surface of the target is disposed to face the substrate, and a film is deposited on one surface of the substrate by sputtering by the plasma.

본 명세서에서 개시하는 기술은 자석 배열체를 통한 자기장인가과정을 통하여 기판에 대향하는 타겟의 일면에 인접한 영역에 전자밀도를 증가시킬 수 있어 박막증착속도를 높일 수 있는 효과를 제공해 줄 수 있다.The technique disclosed herein may increase the electron density in a region adjacent to one surface of the target facing the substrate through a magnetic field application process through the magnet array, thereby providing an effect of increasing the thin film deposition rate.

또한, 본 명세서에서 개시하는 기술은 사행 형상의 고정 자석 배열체를 사용함으로써 대면적 캐소드를 위한 유효자계의 범위를 용이하게 확보할 수 있으며, 동일한 자석 배열의 반복 형태를 증가시키면 증착률이 증가 된다. In addition, the technique disclosed herein can easily secure a range of effective magnetic fields for large area cathodes by using meandering fixed magnet arrays, and increasing the repetition form of the same magnet array increases the deposition rate. .

전술한 내용은 이후 보다 자세하게 기술되는 사항에 대해 간략화된 형태로 선택적인 개념만을 제공한다. 본 내용은 특허 청구 범위의 주요 특징 또는 필수적 특징을 한정하거나, 특허청구범위의 범위를 제한할 의도로 제공되는 것은 아니다.The foregoing provides only optional concepts in a simplified form for the details that follow. This disclosure is not intended to limit the main or essential features of the claims or to limit the scope of the claims.

도 1은 종래의 스퍼터 장치를 보여주는 도면이다.
도 2는 본 명세서에서 개시하는 안정된 연속 전자 트랩을 형성하여 일정한 전하 흐름을 유도하는 스퍼터건과 기판이 서로 대향하여 배치되는 스퍼터링 방법에 사용되는 기본 장치의 일 실시 예를 나타내는 도면이다.
도 3 및 도 4는 본 명세서에서 개시하는 스퍼터링 방법에 사용되는 자석 배열체의 구조를 설명하기 위한 도면이다.
1 is a view showing a conventional sputtering device.
FIG. 2 is a diagram illustrating an embodiment of a basic apparatus used in a sputtering method in which a sputter gun and a substrate are disposed to face each other to form a stable continuous electron trap disclosed herein to induce a constant charge flow.
3 and 4 are diagrams for explaining the structure of the magnet arrangement used in the sputtering method disclosed herein.

이하, 본 명세서에 개시된 실시 예들을 도면을 참조하여 상세하게 설명하고 자 한다. 본문에서 달리 명시하지 않는 한, 도면의 유사한 참조번호들은 유사한 구성요소들을 나타낸다. 상세한 설명, 도면들 및 청구항들에서 상술하는 예시적인 실시 예들은 한정을 위한 것이 아니며, 다른 실시 예들이 이용될 수 있으며, 여기서 개시되는 기술의 사상이나 범주를 벗어나지 않는 한 다른 변경들도 가능하다. 당업자는 본 개시의 구성요소들, 즉 여기서 일반적으로 기술되고, 도면에 기재되는 구성요소들을 다양하게 다른 구성으로 배열, 구성, 결합, 도안할 수 있으며, 이것들의 모두는 명백하게 고안되어지며, 본 개시의 일부를 형성하고 있음을 용이하게 이해할 수 있을 것이다. Hereinafter, exemplary embodiments disclosed herein will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Unless otherwise indicated in the text, like reference numerals in the drawings indicate like elements. The illustrative embodiments described above in the detailed description, drawings, and claims are not meant to be limiting, other embodiments may be utilized, and other changes may be made without departing from the spirit or scope of the technology disclosed herein. Those skilled in the art can arrange, configure, combine, and designate the components of the present disclosure, that is, the components generally described herein and described in the figures, in a variety of different configurations, all of which are expressly devised and It will be readily understood that they form part of.

개시된 기술에 관한 설명은 구조적 내지 기능적 설명을 위한 실시 예에 불과하므로, 개시된 기술의 권리범위는 본문에 설명된 실시 예에 의하여 제한되는 것으로 해석되어서는 아니된다. 즉, 실시 예는 다양한 변경이 가능하고 여러 가지 형태를 가질 수 있으므로 개시된 기술의 권리범위는 기술적 사상을 실현할 수 있는 균등물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.Description of the disclosed technology is only an embodiment for structural or functional description, the scope of the disclosed technology should not be construed as limited by the embodiments described in the text. That is, the embodiments may be variously modified and may have various forms, and thus, the scope of the disclosed technology should be understood to include equivalents capable of realizing the technical idea.

본 명세서에서 개시하는 롤투롤 증착장치를 이용한 스퍼터링 방법을 설명하기에 도 1 내지 도 4를 활용하여 앞서 종래의 롤투롤 스퍼터 장치와 본 기술에서 사용한 스퍼터 장치의 구조를 먼저 설명하기로 한다.In order to explain the sputtering method using the roll-to-roll deposition apparatus disclosed herein, the structure of the conventional roll-to-roll sputtering apparatus and the sputtering apparatus used in the present technology will be described first with reference to FIGS. 1 to 4.

도 1은 종래의 스퍼터 기본 장치를 보여주는 도면이다. 도 1을 참조하면, 종래의 스퍼터 장치는 스퍼터건(1), 증착 메인 드럼(2), 플라즈마 분포(3)로 구성된다. 1 is a view showing a conventional sputter base apparatus. Referring to FIG. 1, the conventional sputtering apparatus is composed of a sputter gun 1, a deposition main drum 2, and a plasma distribution 3.

종래의 스퍼터 장치는 기판이 증착 메인 드럼(2)에 밀착되어진다. In the conventional sputtering apparatus, the substrate is in close contact with the deposition main drum 2.

또 한편, 종래의 스퍼터 장치는 증착 메인 드럼(2)의 표면 굴곡에 대응되는 면을 가지는 복수의 스퍼터건(1)에 의하여 기판의 표면에 박막을 증착한다. 이 경우, 고정된 스퍼터건(1) 사이의 간격에 의하여 회전하는 기판의 표면에 증착되는 박막은 특정한 방향으로 휘어지는 입자 배열 성장이 이루어지며 이는 정밀하게 제어하기 어려운 문제가 있다.On the other hand, the conventional sputtering apparatus deposits a thin film on the surface of a board | substrate by the several sputter gun 1 which has the surface corresponding to the surface curvature of the deposition main drum 2. As shown in FIG. In this case, the thin film deposited on the surface of the rotating substrate due to the spacing between the fixed sputter gun 1 is made to grow the particle array is bent in a specific direction, which is difficult to control precisely.

도 2는 본 명세서에서 개시하는 장치의 일 실시 예를 나타내는 도면이다. 도 2는 본 명세서에서 개시하는 스퍼터건에 대향 배치되는 기판 동작을 설명하기 위한 도면이다. 도 3 및 도 4는 본 명세서에서 개시하는 장치에 적용 가능한 타겟의 다양한 배열을 설명하기 위한 도면이다.2 is a diagram illustrating an embodiment of an apparatus disclosed herein. FIG. 2 is a view for explaining a substrate operation opposed to a sputter gun disclosed in the present specification. 3 and 4 are diagrams for explaining various arrangements of targets applicable to the apparatus disclosed herein.

몇몇 또 다른 실시 예들에 있어서, 도 2는 선택적으로 자석 배열체(190)를 더 포함할 수 있다. 몇몇 또 다른 실시 예들에 있어서, 도 2장치는 선택적으로 지지부를 더 포함할 수 있다. In some other embodiments, FIG. 2 may optionally further include a magnet arrangement 190. In some other embodiments, the device of FIG. 2 may optionally further include a support.

유연성 기판(flexible substrate)은 합성수지, 플라스틱 등 고분자소재, 섬유, 종이를 지칭한다. 일례로, 상기 유연성 기판은 플렉시블(flexible) 특성을 가지는 디스플레이, 태양전지, 터치패널, 윈도우 필름 등에 사용되는 유연성 기판이 예로서 사용될 수 있다. 상기 유연성 기판의 소재로는 예로서 PET(polyethylene terephthalate), PEN(polyethylene naphthalate), PC(polycarbonate), PES(polyethersulphone), PAR(polyarylate), PI(polyimide) 등 고분자로 이루어진 다양한 소재가 사용될 수 있다. 상기의 예시는 이해를 위한 예시로서 상기한 예시 이외에 도2 장치에 적용될 수 있는 유연한 성질을 가지는 소재를 상기 기판으로서 사용 가능하다.A flexible substrate refers to a polymer material such as synthetic resin, plastic, fiber, or paper. For example, the flexible substrate may be a flexible substrate used for a display, a solar cell, a touch panel, a window film, or the like having a flexible property. As a material of the flexible substrate, various materials including polymers such as polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polycarbonate (PC), polyethersulphone (PES), polyarylate (PAR), and polyimide (PI) may be used. . The above example is an example for understanding, in addition to the above example, a material having a flexible property applicable to the apparatus of FIG. 2 may be used as the substrate.

타겟(180)의 소재로는 다양한 금속 소재, 합금 소재, 산화물 소재 등이 사용될 수 있다. 스퍼터링에 의하여 비산되는 타겟 원자들은 상기 유연성 기판의 상기 일면에 증착되어 막을 형성하거나, 챔버로 주입되는 반응성 기체 이온과 반응하여 상기 유연성 기판의 상기 일면에 증착되어 막을 형성할 수도 있다. 일례로, 타겟(180)의 소재로 알루미늄(Al)을 사용하고, 챔버로 아르곤(Ar) 기체를 주입할 경우에 상기 유연성 기판에는 알루미늄(Al) 막이 형성될 수 있다. 다른 예로, 타겟(180)의 소재로 알루미늄(Al)을 사용하고, 챔버로 아르곤(Ar) 기체와 산소(O2) 기체를 주입할 경우에 상기 유연성 기판에는 산화알루미늄(AlxOy) 막이 형성될 수 있다. 상기의 예시는 이해를 위한 예시로서 상기한 예시 이외에 다양한 소재 및 기체가 각각 타겟(180)의 소재 및 반응성·비반응성 기체로 사용될 수도 있다.As the material of the target 180, various metal materials, alloy materials, oxide materials, and the like may be used. Target atoms scattered by sputtering may be deposited on the one surface of the flexible substrate to form a film, or may be deposited on the one surface of the flexible substrate by reaction with reactive gas ions injected into the chamber. For example, when aluminum (Al) is used as the material of the target 180 and argon (Ar) gas is injected into the chamber, an aluminum (Al) film may be formed on the flexible substrate. As another example, when aluminum (Al) is used as the material of the target 180 and argon (Ar) gas and oxygen (O 2 ) gas are injected into the chamber, an aluminum oxide (Al x O y ) film is formed on the flexible substrate. Can be formed. The above examples are examples for understanding, and in addition to the above examples, various materials and gases may be used as the materials of the target 180 and the reactive and non-reactive gases, respectively.

전원이 타겟(180)과 연계하여 상기 유연성 기판의 상기 일면에 막을 증착하는 과정을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.The process of depositing a film on the one surface of the flexible substrate in connection with the target 180 will be described in detail as follows.

챔버 내부에 진공 분위기가 형성된 상황에서 전원을 통하여 타겟(180)에 전압이 인가되면 타겟(180) 주위에는 플라즈마가 생성된다. 플라즈마는 챔버에 주입되는 기체에 의하여 형성된다. 상기 기체로는 아르곤(Ar) 등의 불활성 기체를 포함하는 비반응성 기체와 산소(O2), 질소(N2) 등을 포함하는 반응성 기체가 사용될 수 있다. 반응성 기체를 챔버에 주입할 경우에는 반응성 스퍼터링을 수행할 수 있다.When a voltage is applied to the target 180 through a power source in a vacuum atmosphere formed inside the chamber, plasma is generated around the target 180. The plasma is formed by the gas injected into the chamber. As the gas, a non-reactive gas including an inert gas such as argon (Ar) and a reactive gas including oxygen (O 2 ), nitrogen (N 2 ), or the like may be used. In the case of injecting the reactive gas into the chamber, reactive sputtering may be performed.

플라즈마 방전 영역 내의 양이온들, 예를 들면 Ar 양이온은 상기 유연성 기판과 타겟(180) 사이에 형성되는 전기장에 의하여 가속되어 타겟(180)과 출동한다. 이에 따라 타겟(180)으로부터 타겟 원자가 방출되며, 상기 유연성 기판의 상기 일면에는 타겟 원자가 코팅되어 막이 형성된다. 타겟(180)의 뒷면에 자석을 설치하는 마그네트론 스퍼터링(magnetron sputtering) 방식이 사용될 수 있다. 스퍼터링 과정에서 전자를 타겟(180)의 상기 일면에 인접한 영역에 포획하여 양이온들, 예를 들면 Ar 양이온의 생성을 촉진할 수 있다. 이하 설명의 편의상 타겟(180)의 상기 일면에 인접한 상기 영역을 전자트랩영역이라 칭하기로 한다. 상기 전자트랩영역에서 양이온들의 생성이 촉진되면, 양이온들과 충돌하여 비산되는 타겟(180) 원자들의 생성을 촉진하여 이를 통하여 상기 유연성 기판에 형성되는 막의 증착 속도를 향상시킬 수 있다. 또한, 자석의 적절한 배열을 통하여 상기 유연성 기판에 형성되는 막의 균일도를 용이하게 제어할 수 있다.The cations in the plasma discharge region, for example Ar cations, are accelerated by the electric field formed between the flexible substrate and the target 180 to move with the target 180. Accordingly, target atoms are emitted from the target 180, and the target atoms are coated on the surface of the flexible substrate to form a film. A magnetron sputtering method of installing a magnet on the back of the target 180 may be used. In the sputtering process, electrons may be trapped in a region adjacent to one surface of the target 180 to promote the generation of cations, for example, an Ar cation. For convenience of explanation, the area adjacent to the one surface of the target 180 will be referred to as an electronic trap area. When the formation of cations in the electron trap region is promoted, the formation of target 180 atoms that collide with the cations and scattered may be promoted to thereby increase the deposition rate of the film formed on the flexible substrate. In addition, it is possible to easily control the uniformity of the film formed on the flexible substrate through the proper arrangement of the magnets.

자석 배열체(190)는 타겟(180)의 타면에 대향하여 배치되며, 자계를 생성하여 플라즈마 중의 전자를 상기 전자트랩영역으로 포획하여 상기 전자트랩영역에서의 전자밀도를 증가시켜 상기 전자트랩영역에서의 상기 플라즈마의 밀도를 증가시킬 수 있다. 상기 전자트랩영역에 포획된 전자는 자석 배열에(190)에 의한 자계와 상기 유연성 기판과 타겟(180) 사이에 형성되는 전기장에 의하여 와류운동을 한다. 와류운동에 의하여 전자는 상기 전자트랩영역에 포획되며, 포획된 전자는 챔버 내의 기체와 충돌하며, 이를 통하여 상기 전자트랩영역에서의 상기 플라즈마 밀도를 증가시킬 수 있다. 이를 통하여 스퍼터링 속도를 증가시킬 수 있다.The magnet array 190 is disposed to face the other surface of the target 180, generates a magnetic field to capture electrons in the plasma to the electron trap region to increase the electron density in the electron trap region to increase the electron trap region. It is possible to increase the density of the plasma. Electrons trapped in the electron trap region are vortexed by a magnetic field generated by the magnet array 190 and an electric field formed between the flexible substrate and the target 180. The electrons are trapped in the electron trap region by the vortex motion, and the trapped electrons collide with the gas in the chamber, thereby increasing the plasma density in the electron trap region. This can increase the sputtering speed.

일 실시 예에 있어서, 자석 배열체(190)는 내측자석(190a), 외측자석(190b) 및 비자성부재(190c)를 포함할 수 있다. 내측자석(190a)은 타겟(180)의 상기 일면에 실질적으로 수직인 방향으로 연장되며, N극 또는 S극이 타겟(180)에 대향되도록 배치될 수 있다. 외측자석(190b)은 타겟(180)의 상기 일면에 실질적으로 수직인 방향으로 연장되며, 내측자석(190a)으로부터 이격되어 내측자석(190a)을 둘러싸고, 내측자석(190a)과는 역의 자극이 타겟(180)에 대향되도록 배치될 수 있다. 비자성부재(190c)는 내측자석(190a)과 외측자석(190b) 사이에 배치되며, 내측자석(190a)과 외측자석(190b)의 간격을 유지하는 기능을 수행할 수 있다. 내측자석(190a)과 외측자석(190b)은 도 3의 (b)에서 예로서 도시한 바와 같이, 복수개의 원형상의 영구자석을 배열하여 얻어지거나, 복수개의 네모 형상의 영구자석을 배열하여 얻어지거나, 하나의 덩어리 영구자석을 배열하여 구현될 수 있다. 상기의 예시는 이해를 위한 예시로서 내측자석(190a)과 외측자석(190b)은 다양한 형상의 자석 및 이들의 조합으로 구현될 수 있다.In one embodiment, the magnet array 190 may include an inner magnet 190a, an outer magnet 190b and a nonmagnetic member 190c. The inner magnet 190a may extend in a direction substantially perpendicular to the one surface of the target 180, and may be disposed such that the N pole or the S pole faces the target 180. The outer magnet 190b extends in a direction substantially perpendicular to the one surface of the target 180, is spaced apart from the inner magnet 190a, surrounds the inner magnet 190a, and has an inverse magnetic pole with the inner magnet 190a. It may be disposed to face the target 180. The nonmagnetic member 190c may be disposed between the inner magnet 190a and the outer magnet 190b and may maintain a gap between the inner magnet 190a and the outer magnet 190b. The inner magnet 190a and the outer magnet 190b are obtained by arranging a plurality of circular permanent magnets, or by arranging a plurality of square-shaped permanent magnets, as shown by way of example in FIG. For example, it can be implemented by arranging one lump permanent magnet. The above example is for the sake of understanding, and the inner magnet 190a and the outer magnet 190b may be implemented by magnets having various shapes and a combination thereof.

도 3은 자석 배열체(190)의 구조가 예로서 표현되어 있다. 도 3의 (a)는 종래의 자석 배열체의 구조의 일례를 보여주는 도면이며, (b)는 본 명세서에서 개시하는 도 2 증착장치에 적용되는 자석 배열체(190)의 구조의 일례를 보여주는 도면이다. 도 3의 (a) 및 (b)는 각각 본 명세서에서 개시하는 자석 배열체(190)의 구조 및 자석 배열체(190)를 구성하는 단위 자석의 형태의 예시를 보여주는 도면이다.3 illustrates the structure of the magnet arrangement 190 as an example. Figure 3 (a) is a view showing an example of the structure of the conventional magnet arrangement, (b) is a view showing an example of the structure of the magnet arrangement 190 applied to the vapor deposition apparatus of Figure 2 disclosed herein. to be. 3A and 3B are diagrams illustrating examples of the structure of the magnet array 190 disclosed herein and the form of unit magnets constituting the magnet array 190.

도 3, 도 4를 참조하면, 타겟(180)에 대향되는 자극이 서로 다른 내측자석(190a) 및 외측자석(190b) 사이에는 자계가 형성된다.Referring to FIGS. 3 and 4, magnetic fields are formed between the inner magnet 190a and the outer magnet 190b having different magnetic poles opposed to the target 180.

본 명세서에서 개시하는 도 2 증착장치에 사용되는 자석 배열체(190)은 도 3의 (b)에 예로서 도시된 바와 같이, 내측자석(190a) 방향으로 돌출된 패턴을 가지는 외측자석(190b)과 외측자석(190b)의 상기 돌출된 패턴과 이격되며, 외측자석(190b)의 상기 돌출된 패턴을 중심으로 교호적으로 연결되어 사행(蛇行, meander)의 형상을 가지는 내측자석(190a)을 포함할 수 있다. 이 경우, 자석 배열체(190)는 상기 사행의 형상을 통하여 상기 전자트랩영역의 면적을 증가시킬 수 있어 대면적 캐소드를 구현할 수 있다. 다시 말하면, 상기 사행의 형상의 자석 배열체(190)를 사용하면 타겟(180)에 인접한 영역 또는 상기 전자트랩영역에서 전자가 연속적인 싸이클론 운동을 할 수 있다. 이를 통하여 스퍼터링에 활용되는 양이온들을 제공하는 플라즈마의 밀도를 높일 수 있다. 또한, 상기 사행의 형상을 가지는 자석 배열체(190)는 여러 개의 레이스 트랙 형상의 자석 배열을 통하여 구현된 자석 배열체와 달리 코너부를 최소화 할 수 있어 코너부 근방에서의 전자밀도 저하에 따른 문제점을 줄일 수 있다. 또한, 또한, 상기 사행의 형상을 가지는 자석 배열체(190)는 내측자석(190a) 및 외측자석(190b)의 형상 또는 간격 등을 조절할 수 있어 대면적 캐소드를 위한 유효자계의 범위를 용이하게 확보할 수 있다.The magnet array 190 used in the vapor deposition apparatus of FIG. 2 disclosed herein has an outer magnet 190b having a pattern protruding in the direction of the inner magnet 190a, as shown by way of example in FIG. And an inner magnet 190a spaced apart from the protruding pattern of the outer magnet 190b and alternately connected to the protruding pattern of the outer magnet 190b to have a meander shape. can do. In this case, the magnet array 190 may increase the area of the electronic trap region through the shape of the meandering line to implement a large area cathode. In other words, when the magnet array 190 having a meander shape is used, electrons may continuously perform cyclone movement in an area adjacent to the target 180 or in the electron trap area. This can increase the density of the plasma providing the cations utilized for sputtering. In addition, the magnet array 190 having a meandering shape can minimize corners unlike a magnet array implemented through a plurality of race track-shaped magnet arrays, thereby reducing problems of electron density in the vicinity of corners. Can be reduced. In addition, the magnet array 190 having the meandering shape can adjust the shape or spacing of the inner magnet 190a and the outer magnet 190b to easily secure a range of effective magnetic fields for a large area cathode. can do.

상술한 장점을 가지는 본 명세서에서 개시하는 증착장치는 기존의 터치스크린, 디스플레이, 플렉시블 디스플레이, 반도체, 항공, 건축, 태양전지, 인쇄분야 등 다양한 산업분야에 적용이 가능하다. 또한, 본 명세서에서 개시하는 연속 전자 트랩 캐소드를 적용한 진공 증착장치는 동일한 공간의 전자 밀도를 증가시켜 플라즈마 밀도를 높일 수 있으며 상대적으로 증착되는 기판 상의 온도는 낮으며, 또한 낮은 온도로 인하여 열적 기판 변형도 낮아진다. 상기 플라즈마 밀도를 증가시켜 높은 증착두께와 막 균일도를 제공하는 스퍼터링 공정이 가능한 장치를 제공할 수 있다. 증착되는 재료는 금속, 산화물, 화합물 등 다양한 재료를 사용할 수 있다. 낮은 온도와 막 균일도로 인한 유기발광소자, 무기이엘 등 디스플레이용 무기 봉지 공정 기술 적용이 가능하고 다양한 케이스, 골프공, 내·외장재, 액세서리 등 커버 하드 코팅 및 커버 칼라 코팅도 가능하다. 또한, 본 명세서에서 개시하는 증착장치는 펄스 직류 스퍼터링 방식에 적용이 가능하다. 또한, 본 명세서에서 개시하는 롤투롤 증착장치는 교류 스퍼터링 방식에도 적용이 가능하다. 또한, 본 명세서에서 개시하는 롤투롤 증착장치는 자석 배열체(190)를 활용함으로써 막 증착률을 높일 수 있다.The deposition apparatus disclosed herein having the above-described advantages is applicable to various industrial fields, such as existing touch screens, displays, flexible displays, semiconductors, aviation, architecture, solar cells, and printing. In addition, the vacuum deposition apparatus using the continuous electron trap cathode disclosed herein can increase the plasma density by increasing the electron density in the same space, and the temperature on the substrate to be deposited is relatively low, and the thermal substrate is deformed due to the low temperature. Also lowers. It is possible to provide an apparatus capable of a sputtering process that increases the plasma density to provide high deposition thickness and film uniformity. The material to be deposited may be various materials such as metals, oxides, and compounds. It is possible to apply inorganic sealing process technology for display such as organic light emitting device and inorganic EL due to low temperature and film uniformity, and cover hard coating and cover color coating such as various cases, golf balls, interior and exterior materials, and accessories. In addition, the deposition apparatus disclosed in the present specification is applicable to a pulse direct current sputtering method. In addition, the roll-to-roll deposition apparatus disclosed herein can be applied to the AC sputtering method. In addition, the roll-to-roll deposition apparatus disclosed herein can increase the film deposition rate by utilizing the magnet array 190.

1 : 스퍼터건
2 : 메인 증착 드럼
3 : 플라즈마 분포 영역
180 : 타겟
190 : 자석 배열체
190a : 내측자석
190b : 외측자석
190c :비자성부재
200 : 기판
1: Sputter Gun
2: main deposition drum
3: plasma distribution region
180: target
190 magnetic array
190a: inner magnet
190b: Outside magnet
190c : Nonmagnetic member
200: substrate

Claims (8)

서로 대향하여 배치되는 스퍼터링 챔버 내에 유연한 기판과 타겟이 구성되어 지며, 연속 전자 트랩을 형성하여 일정한 전하 흐름을 유도 할 수 있는 자석 배열 형태를 포함하는 캐소드건으로 인한 공정과정;
상기 챔버로 스퍼터링 가스를 주입하고, 전원부를 통하여 상기 기판과 상기 타겟 사이에 전압을 인가하여 상기 챔버 내부에 플라즈마를 생성하는 플라즈마생성과정을 포함하며,
상기 타겟은 금속, 산화물, 화합물 등을 포함하는 챔버 내부에 플라즈마를 생성하는 플라즈마생성과정을 포함하며,
상기 자석배열은 타겟 하부에 배치되며, 상기 자석배열 및 반복적인 자석배열 형태를 포함하는 챔버 내부에 플라즈마를 생성하는 플라즈마생성과정을 포함하며,
상기 타겟은 일면이 상기 기판에 대향하여 배치되며, 상기 플라즈마에 의한 스퍼터링에 의하여 상기 기판의 일면에 막을 증착하는 스퍼터링 증착 방법.
A process in which a flexible substrate and a target are formed in a sputtering chamber disposed to face each other, the cathode gun including a magnet array form inducing a constant charge flow by forming a continuous electron trap;
Injecting a sputtering gas into the chamber and applying a voltage between the substrate and the target through a power supply unit to generate a plasma inside the chamber,
The target includes a plasma generation process for generating a plasma inside the chamber containing a metal, oxide, compound, etc.,
The magnet array is disposed below the target, and includes a plasma generation process for generating a plasma inside the chamber including the magnet array and the repetitive magnet array form,
The target is disposed on the surface facing the substrate, the sputtering deposition method for depositing a film on one surface of the substrate by the sputtering by the plasma.
제1항에 있어서,
상기 기판에 대향하여 배치되며, 상기 플라즈마에 의한 스퍼터링에 의하여 상기 유기발광소자의 일면에 봉지막을 증착하는 스퍼터링 증착 방법
The method of claim 1,
A sputtering deposition method disposed opposite the substrate and depositing an encapsulation film on one surface of the organic light emitting device by sputtering by the plasma.
제1항에 있어서,
상기 기판에 대향하여 배치되며, 상기 플라즈마에 의한 스퍼터링에 의하여 상기 무기이엘소자의 일면에 봉지막을 증착하는 스퍼터링 증착 방법
The method of claim 1,
A sputtering deposition method disposed opposite the substrate and depositing an encapsulation film on one surface of the inorganic EL element by sputtering by the plasma.
제1항에 있어서,
상기 기판에 대향하여 배치되며, 상기 플라즈마에 의한 스퍼터링에 의하여 상기 다양한 디스플레이 소자의 일면에 봉지막을 증착하는 스퍼터링 증착 방법
The method of claim 1,
A sputtering deposition method disposed opposite the substrate and depositing an encapsulation film on one surface of the various display elements by sputtering by the plasma.
제1항에 있어서,
상기 기판에 대향하여 배치되며, 상기 플라즈마에 의한 스퍼터링에 의하여 상기 다양한 전자 소자의 일면에 봉지막을 증착하는 스퍼터링 증착 방법
The method of claim 1,
A sputtering deposition method disposed opposite the substrate and depositing an encapsulation film on one surface of the various electronic devices by sputtering by the plasma.
제1항에 있어서,
상기 기판에 대향하여 배치되며, 상기 플라즈마에 의한 스퍼터링에 의하여 상기 다양한 케이스, 골프공, 내·외장재, 액세서리 등 다양한 구성품들 상에 금속, 산화물, 화합물 등을 증착하여 다양한 색상을 구현하는 스퍼터링 증착 방법
The method of claim 1,
Sputtering deposition method disposed to face the substrate, by depositing a metal, oxide, compound, etc. on various components such as the case, golf ball, interior / exterior materials, accessories by sputtering by the plasma to implement a variety of colors
제1항에 있어서,
상기 기판에 대향하여 배치되며, 상기 플라즈마에 의한 스퍼터링에 의하여 상기 다양한 고분자, 글라스, 섬유, 종이, 금속 등 기판 상에 금속, 산화물, 화합물 등을 증착하는 스퍼터링 증착 방법
The method of claim 1,
A sputtering deposition method disposed opposite the substrate and depositing a metal, an oxide, a compound, or the like on the various polymers, glasses, fibers, papers, metals, etc. by sputtering by the plasma.
제1항에 있어서,
상기 기판에 대향하여 배치되며, 상기 플라즈마에 의한 스퍼터링에 의하여 상기 다양한 고분자, 글라스, 섬유, 종이, 금속 등을 기판으로 하는 다양한 디스플레이 소자 및 전자 소자 내에 구성되는 금속, 산화물, 화합물 등을 증착하는 스퍼터링 증착 방법
The method of claim 1,
Sputtering is disposed to face the substrate, and the deposition of metals, oxides, compounds, etc. in the various display devices and electronic devices based on the various polymers, glass, fibers, paper, metal, etc. by the sputtering by the plasma Deposition method
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