KR20190040767A - Electroluminescence light emitting display device and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

Provided are an electroluminescent display device and a method of manufacturing the electroluminescent display device. The electroluminescent display device comprises: a substrate; a thin film transistor disposed on the substrate, and including a source and a drain; an oxidation preventing layer disposed on the source and the drain of the thin film transistor; a light emitting element on the thin film transistor; a first electrode formed between the oxidation preventing layer and the light emitting element; and a second electrode on the light emitting element. An objective of the present invention is to solve a problem of an oxide layer generated on an upper part of the source and the drain of the thin film transistor by adding an oxidation preventing layer.

Description

전계 발광 표시 장치 및 전계 발광 표시 장치 제조 방법{ELECTROLUMINESCENCE LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electroluminescent display device and an electroluminescent display device,

본 발명은 전계 발광 표시 장치 및 전계 발광 표시 장치 제조 방법 에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 산화 방지층을 포함하는 전계 발광 표시 장치 및 전계 발광 표시 장치 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an electroluminescent display device and a method of manufacturing an electroluminescent display device, and more particularly, to an electroluminescent display device including an antioxidant layer and a method of manufacturing an electroluminescent display device.

최근, 본격적인 정보화 시대로 접어듦에 따라 전기적 정보 신호를 시각적으로 표현하는 디스플레이 분야가 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응하여 박형화, 경량화, 저 소비전력화의 우수한 성능을 지닌 여러 가지 다양한 평판 표시 장치(Flat Display Device)가 개발되어 기존의 브라운관(Cathode Ray Tube: CRT)을 빠르게 대체하고 있다.In recent years, as the information age has come to a full-fledged information age, a display field that visually expresses electrical information signals has been rapidly developed. In response to this demand, various flat display devices having excellent performance such as thinning, light- Devices have been developed and are rapidly replacing existing cathode ray tubes (CRTs).

이와 같은 평판 표시 장치의 구체적인 예로는 액정 표시 장치(LCD), 유기 발광 표시 장치(OLED) 및 퀀텀닷 발광 표시 장치(QLED)와 같은 전계 발광 표시장치 전기 영동 표시 장치(EPD), 및 전기 습윤 표시 장치(EWD) 등을 들 수 있다. 특히, 전계 발광 표시 장치는 자체 발광 특성을 갖는 차세대 표시 장치로서, 액정 표시 장치에 비해 시야각, 콘트라스트(contrast), 응답 속도, 소비 전력 등의 측면에서 우수한 특성을 갖는다. Specific examples of such a flat panel display include an electroluminescent display electrophoretic display (EPD) such as a liquid crystal display (LCD), an organic light emitting display (OLED) and a quantum dot light emitting display (QLED) Device (EWD) and the like. In particular, an electroluminescence display device is a next generation display device having self-emission characteristics, and has excellent characteristics in terms of a viewing angle, a contrast, a response speed, and a power consumption as compared with a liquid crystal display device.

전계 발광 표시 장치는 영상을 표시하기 위한 발광 소자와 발광 소자를 구동하기 위한 화소 회로가 배치되는 표시 영역 및 표시 영역에 인접하고 구동 회로가 배치되는 비표시 영역을 포함한다. 특히, 화소 회로 및 구동 회로에는 복수의 박막 트랜지스터가 위치하여 복수의 화소의 발광 소자를 구동시킨다.The electroluminescent display device includes a display region in which a light emitting element for displaying an image, a pixel circuit for driving the light emitting element are arranged, and a non-display region adjacent to the display region and in which a driving circuit is disposed. In particular, a plurality of thin film transistors are placed in the pixel circuit and the driving circuit to drive the light emitting elements of a plurality of pixels.

박막 트랜지스터는 액티브층을 구성하는 물질에 따라 분류될 수 있다. 그 중 저온 폴리 실리콘(Low Temperature Poly-Silicon; LTPS) 박막 트랜지스터 및 산화물 반도체 박막 트랜지스터가 가장 널리 사용되고 있다. The thin film transistor can be classified according to the material constituting the active layer. Among them, low temperature poly-silicon (LTPS) thin film transistors and oxide semiconductor thin film transistors are most widely used.

일반적으로, 산화물 반도체 박막 트랜지스터 및 LTPS 박막 트랜지스터의 소스 전극들 및 드레인 전극들은 소스 및 드레인을 드라이 에칭(dry etching) 또는 에싱(ashing)하여 패터닝하는 방식으로 형성된다. Generally, the source and drain electrodes of the oxide semiconductor thin film transistor and the LTPS thin film transistor are formed by patterning the source and drain by dry etching or ashing.

그러나, LTPS 박막 트랜지스터 및 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인은 티타늄(Ti), 알루미늄(Al) 또는 티타늄(Ti) 등의 금속 물질이 사용될 수 있다. 이에, 에칭 또는 에싱을 통해 패터닝되는 과정에서 소스 및 드레인 상부는 육불화황(SF6) 또는 프레온(CF4) 등과 같은 가스에 반응하거나 산소(O2) 가스에 반응하여 TiFx 또는 TiOx 등의 균일하지 않은 산화막이 형성될 수 있다. 이러한 산화막은 제품에 얼룩이 생기거나 소스 및 드레인 상부의 저항 값이 증가되도록 하여 드레인과 발광 다이오드 내 애노드간의 접합이 쉽게 이루어지지 않도록 하는 문제점이 있다.However, as the source and drain of the LTPS thin film transistor and the oxide semiconductor thin film transistor, a metal material such as titanium (Ti), aluminum (Al), or titanium (Ti) may be used. Thus, the source and drain top in the course of patterning through etching or ashing is in response to a reaction or oxygen (O 2) gas in the gas such as sulfur hexafluoride (SF 6) or Freon (CF 4) TiF x Or TiO x Or the like can be formed. This oxide film has a problem that the product is uneven or the resistance value of the source and the drain are increased so that the junction between the drain and the anode in the light emitting diode is not easily performed.

본 발명의 해결하고자 하는 과제는 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위한 전계 발광 표시 장치의 새로운 구조 및 전계 발광 표시 장치의 새로운 제조 방법을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a new structure of an electroluminescent display device and a new method of manufacturing an electroluminescent display device for solving the above problems.

구체적으로, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인의 상부에 산화 방지층을 더 추가하여, 소스 및 드레인 상부에 산화막이 형성되지 않도록 할 수 있는 전계 발광 표시 장치 및 전계 발광 표시 장치의 제조 방법을 제공하는 것이다.More specifically, an object of the present invention is to provide an electroluminescent display device and an electroluminescent display device capable of preventing an oxide film from being formed on a source and a drain by further adding an antioxidant layer on top of a source and a drain of the thin film transistor And a method for manufacturing the same.

또한, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 산화 방지층과 제1 전극(예: 애노드)간의 접합이 잘 이루어지도록 할 수 있는 전계 발광 표시 장치 및 전계 발광 표시 장치의 제조 방법을 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide an electroluminescent display device and a method of manufacturing an electroluminescent display device which can achieve a good junction between an antioxidant layer and a first electrode (e.g., an anode).

본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems of the present invention are not limited to the above-mentioned problems, and other problems not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

전술한 바와 같은 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치가 제공된다. 전계 발광 표시 장치는 기판, 소스 및 드레인을 포함하는, 기판 상에 배치된 박막 트랜지스터, 발광 소자, 산화 방지층과 발광 소자 사이에 형성된 제1 전극 및 발광 소자 상의 제2 전극을 포함한다. 박막 트랜지스터의 드레인 상부에는 산화 방지층이 배치된다. According to an aspect of the present invention, there is provided an electroluminescent display according to an embodiment of the present invention. An electroluminescent display includes a thin film transistor disposed on a substrate, including a substrate, a source and a drain, a light emitting element, a first electrode formed between the antioxidant layer and the light emitting element, and a second electrode on the light emitting element. An oxidation preventing layer is disposed on the drain of the thin film transistor.

전술한 바와 같은 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치 제조 방법은 기판 상에 박막 트랜지스터의 액티브층을 형성하는 단계, 박막 트랜지스터의 액티브층 상에 게이트 절연층을 형성하는 단계, 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인을 게이트 절연층 상에 형성하고, 소스 또는 드레인 상에 산화 방지층을 형성하는 단계, 박막 트랜지스터 상에 제1 전극을 형성하는 단계, 제1 전극 상에 발광 소자를 형성하는 단계, 및 발광 소자 상에 제2 전극을 형성하는 단계를 포함하고, 산화 방지층은 구리(Cu) 또는 몰리브덴(Mo)으로 이루어지는 금속층을 포함한다. 기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of fabricating an electroluminescent display device including forming an active layer of a thin film transistor on a substrate, forming a gate insulating layer on the active layer of the thin film transistor, Forming a source and a drain of a thin film transistor on the gate insulating layer and forming an antioxidant layer on the source or drain; forming a first electrode on the thin film transistor; forming a light emitting element on the first electrode; And forming a second electrode on the light emitting element, wherein the oxidation preventing layer includes a metal layer made of copper (Cu) or molybdenum (Mo). The details of other embodiments are included in the detailed description and drawings.

본 발명은 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 상부에 산화막이 형성되는 문제를 해결할 수 있는 전계 발광 표시 장치 및 전계 발광 표시 장치의 제조 방법을 제공할 수 있다.The present invention can provide an electroluminescent display device and a method of manufacturing an electroluminescent display device which can solve the problem of forming an oxide film on the source and drain of a thin film transistor.

구체적으로, 본 발명은 전계 발광 표시 장치 내 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 상부에 산화 방지층을 형성하여 소스 및 드레인 상부의 저항 값이 균일하게 형성되도록 하여 산화막에 의해 제품에 얼룩이 생기는 불량을 방지할 수 있다.Specifically, the present invention forms an anti-oxidation layer on a source and a drain of a thin film transistor in an electroluminescence display device to uniformly form a resistance value on a source and a drain, thereby preventing a defective product from being stained by an oxide film .

본 발명은 산화 방지층 상부에 금속 산화물로 이루어진 도전성 접착층을 형성하여 산화 방지층과 발광 소자의 애노드 사이의 접착력을 높일 수 있다.The present invention can increase the adhesion between the antioxidant layer and the anode of the light emitting device by forming a conductive adhesive layer made of metal oxide on the antioxidant layer.

본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.The effects according to the present invention are not limited by the contents exemplified above, and more various effects are included in the specification.

도 1a은 본 발명의 일 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치의 일 화소의 구조를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 1b는 본 발명의 일 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치를 설명하기 위한 단면도이다.
도 2a는 본 발명의 다른 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치의 일 화소의 구조를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 2b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치를 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다.
도 3 내지 도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치를 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 박막 트랜지스터 제조 방법을 설명하기 위한 개략적인 흐름도이다.
FIG. 1A is a schematic plan view illustrating a structure of one pixel of an electroluminescent display device according to an exemplary embodiment of the present invention. Referring to FIG.
1B is a cross-sectional view illustrating an electroluminescent display device according to an embodiment of the present invention.
2A is a schematic plan view for explaining the structure of one pixel of an electroluminescent display device according to another embodiment of the present invention.
FIG. 2B is a schematic cross-sectional view illustrating an electroluminescent display device according to another embodiment of the present invention.
3 to 8 are schematic cross-sectional views illustrating an electroluminescent display device according to another embodiment of the present invention.
9 is a schematic flow chart for explaining a method of manufacturing a thin film transistor according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention and the manner of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as being limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. Is provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims.

본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 명세서 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다. The shapes, sizes, ratios, angles, numbers, and the like disclosed in the drawings for describing the embodiments of the present invention are illustrative, and thus the present invention is not limited thereto. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail. Where the terms "comprises", "having", "done", and the like are used in this specification, other portions may be added unless "only" is used. Unless the context clearly dictates otherwise, including the plural unless the context clearly dictates otherwise.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.In interpreting the constituent elements, it is construed to include the error range even if there is no separate description.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다. In the case of a description of the positional relationship, for example, if the positional relationship between two parts is described as 'on', 'on top', 'under', and 'next to' Or " direct " is not used, one or more other portions may be located between the two portions.

소자 또는 층이 다른 소자 또는 층 "위 (on)"로 지칭되는 것은 다른 소자 바로 위에 또는 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다.An element or layer is referred to as being another element or layer " on ", including both intervening layers or other elements directly on or in between.

비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.Although the first, second, etc. are used to describe various components, these components are not limited by these terms. These terms are used only to distinguish one component from another. Therefore, the first component mentioned below may be the second component within the technical spirit of the present invention.

명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.

도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 도시된 것이며, 본 발명이 도시된 구성의 크기 및 두께에 반드시 한정되는 것은 아니다.The sizes and thicknesses of the individual components shown in the figures are shown for convenience of explanation and the present invention is not necessarily limited to the size and thickness of the components shown.

본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하며, 당업자가 충분히 이해할 수 있듯이 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시 가능할 수도 있다.It is to be understood that each of the features of the various embodiments of the present invention may be combined or combined with each other partially or entirely and technically various interlocking and driving is possible as will be appreciated by those skilled in the art, It may be possible to cooperate with each other in association.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다.Various embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1a은 본 발명의 일 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치의 일 화소의 구조를 설명하기 위한 개략적인 평면도이고, 도 1b는 본 발명의 일 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치를 설명하기 위한 단면도이다.1A is a schematic plan view illustrating a structure of one pixel of an electroluminescent display device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view illustrating an electroluminescent display device according to an embodiment of the present invention .

도 1a 및 도 1b를 참조하면, 전계 발광 표시 장치(100)는 기판(110), 기판(110) 상에서 제1 방향으로 연장되도록 배치된 제1 배선(113), 제1 배선(113)과 교차하여 제2 방향으로 연장되도록 배치된 제2 배선(114), 버퍼층(111), 발광 소자(EL)를 구동하기 위한 박막 트랜지스터(120), 박막 트랜지스터(120)의 게이트 절연층(112), 층간 절연층(130), 패시베이션층(150), 평탄화층(160), 애노드(170), 뱅크(180), 발광 소자(EL) 및 캐소드(190)를 포함한다. 상기 박막 트랜지스터(120)는 LTPS 박막 트랜지스터 또는 산화물 반도체 박막 트랜지스터를 포함한다. 도 1a 및 도 1b에서는 산화물 반도체 박막 트랜지스터를 예로 설명하도록 한다.1A and 1B, an electroluminescent display 100 includes a substrate 110, a first wiring 113 extending in a first direction on the substrate 110, a first wiring 113, A buffer layer 111, a thin film transistor 120 for driving the light emitting device EL, a gate insulating layer 112 of the thin film transistor 120, An insulating layer 130, a passivation layer 150, a planarization layer 160, an anode 170, a bank 180, a light emitting device EL, and a cathode 190. The thin film transistor 120 includes an LTPS thin film transistor or an oxide semiconductor thin film transistor. 1A and 1B, an oxide semiconductor thin film transistor will be described as an example.

기판(110)은 발광 표시 장치(100)의 다양한 구성요소들을 지지하고, 유리 또는 플렉서빌리티(flexibility)를 갖는 플라스틱 물질로 이루어질 수 있다.The substrate 110 supports various elements of the light emitting display 100 and may be made of a plastic material having glass or flexibility.

제1 배선(113)은 박막 트랜지스터(120)에 스캔 신호를 인가하기 위한 스캔 배선이고, 제2 배선(114)은 박막 트랜지스터(120)에 데이터 신호를 인가하기 위한 데이터 배선일 수 있다. 제1 배선(113)과 제2 배선(114)은 교차되어 매트릭스 형태의 화소 영역을 정의한다. 각각의 화소 영역은 발광 소자(EL)가 배치되어 서브 픽셀로서 정의될 수 있고, 서브 픽셀들 3개 또는 4개는 하나의 단위로 하여 픽셀로 정의될 수 있다. The first wiring 113 may be a scan wiring for applying a scan signal to the thin film transistor 120 and the second wiring 114 may be a data wiring for applying a data signal to the thin film transistor 120. The first wiring 113 and the second wiring 114 are intersected to define a matrix-shaped pixel region. Each pixel region may be defined as a subpixel in which a light emitting device EL is disposed, and three or four subpixels may be defined as pixels in one unit.

기판(110)의 전체 표면 위에 버퍼층(111)이 형성된다. 버퍼층(111)은 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 단일층 또는 질화 실리콘(SiNx)과 산화 실리콘(SiOx)의 다중층으로 이루어질 수 있다. 버퍼층(111)은 버퍼층(111) 상에 형성되는 층들과 기판(110) 간의 접착력을 향상시키고, 기판(110)으로부터 유출되는 알칼리 성분 등을 차단하는 역할 등을 수행한다. 다만, 버퍼층(111)은 필수적인 구성요소는 아니며, 기판(110)의 종류 및 물질, 박막 트랜지스터의 구조 및 타입 등에 기초하여 생략될 수도 있다.A buffer layer 111 is formed on the entire surface of the substrate 110. The buffer layer 111 may be formed of a single layer of silicon nitride (SiNx) or silicon oxide (SiOx), or multiple layers of silicon nitride (SiNx) and silicon oxide (SiOx). The buffer layer 111 improves adhesion between the layers formed on the buffer layer 111 and the substrate 110 and blocks alkaline components and the like flowing out from the substrate 110. However, the buffer layer 111 is not an essential component, and may be omitted based on the type and material of the substrate 110, the structure and type of the thin film transistor, and the like.

버퍼층(111) 상에는 박막 트랜지스터(120)가 형성된다. 박막 트랜지스터(120)는 액티브층(121), 게이트 전극(122), 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124)을 포함한다.A thin film transistor 120 is formed on the buffer layer 111. The thin film transistor 120 includes an active layer 121, a gate electrode 122, a source electrode 123, and a drain electrode 124. [

버퍼층(111)과 액티브층(121) 상에 게이트 절연층(112)이 배치된다. 게이트 절연층(112)은 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 단일층 또는 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 다중층으로 구성될 수 있다. 게이트 절연층(112)에는 박막 트랜지스터(120)의 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124) 각각이 액티브층(121)의 소스 영역 및 드레인 영역 각각에 컨택하기 위한 컨택홀이 형성된다.A gate insulating layer 112 is disposed on the buffer layer 111 and the active layer 121. The gate insulating layer 112 may be composed of a single layer of silicon nitride (SiNx) or silicon oxide (SiOx) or multiple layers of silicon nitride (SiNx) or silicon oxide (SiOx). The source and drain electrodes 123 and 124 of the thin film transistor 120 are formed with contact holes for contacting the source region and the drain region of the active layer 121, respectively.

게이트 절연층(112) 상부에는 게이트 전극(122)이 배치되고, 게이트 전극(122) 상에 층간 절연층(130)이 배치된다. 층간 절연층(130)은 질화 실리콘(SiNx)으로 이루어질 수 있다. 층간 절연층(130)에는 액티브층(121)의 소스 영역 및 드레인 영역을 노출시키기 위한 컨택홀이 형성된다.A gate electrode 122 is disposed on the gate insulating layer 112 and an interlayer insulating layer 130 is disposed on the gate electrode 122. The interlayer insulating layer 130 may be made of silicon nitride (SiNx). A contact hole for exposing the source region and the drain region of the active layer 121 is formed in the interlayer insulating layer 130.

게이트 전극(122)은 제1 배선(113)과 접속되고, 제1 배선(113) 및 게이트 전극(122) 상부에는 박막 트랜지스터(120)의 소스 전극(123)이 형성되어 제2 배선(114)과 접속될 수 있다. 박막 트랜지스터(120)의 액티브층(121) 및 게이트 전극(122) 위에는 드레인 전극(124)이 형성되어 애노드 전극(170)과 접속될 수 있다. 그러나 이에 한정되지는 않으며, 캐소드 전극(190)이 드레인 전극(124)과 접속될 수도 있다. The gate electrode 122 is connected to the first wiring 113 and the source electrode 123 of the thin film transistor 120 is formed on the first wiring 113 and the gate electrode 122 to form the second wiring 114, Lt; / RTI > A drain electrode 124 may be formed on the active layer 121 and the gate electrode 122 of the thin film transistor 120 to be connected to the anode electrode 170. However, the present invention is not limited thereto, and the cathode electrode 190 may be connected to the drain electrode 124.

소스 전극(123) 및 드레인 전극(124) 각각은 게이트 절연층(112) 및 층간 절연층(130)에 형성된 컨택홀을 통해 액티브층(121)의 소스 영역 및 드레인 영역 각각에 연결된다. 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124) 각각은 티타늄(Ti), 알루미늄(Al)으로 구성된 삼중층으로 형성될 수 있다. 예를 들면, 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124) 각각의 상부층과 하부층은 티타늄(Ti)으로 구성되고 상부층과 하부층 사이에 알루미늄(Al)이 형성되어, 티타늄(Ti) / 알루미늄(Al) / 티타늄(Ti)과 같은 삼중층으로 형성될 수 있다. 그러나 이에 한정되지는 않으며, 소스 전극(12 3) 및 드레인 전극(124)은 단일층 또는 이중층으로 형성될 수 있다. Each of the source electrode 123 and the drain electrode 124 is connected to each of the source region and the drain region of the active layer 121 through the contact hole formed in the gate insulating layer 112 and the interlayer insulating layer 130. [ Each of the source electrode 123 and the drain electrode 124 may be formed of a triple layer composed of titanium (Ti) and aluminum (Al). For example, the upper and lower layers of the source electrode 123 and the drain electrode 124 are made of titanium (Ti), and aluminum (Al) is formed between the upper layer and the lower layer to form titanium (Ti) / Titanium < / RTI > (Ti). However, the present invention is not limited thereto, and the source electrode 12 3 and the drain electrode 124 may be formed as a single layer or a double layer.

소스 전극(123) 및 드레인 전극(124) 상부에는 산화막 생성을 방지하기 위해 구리(Cu) 또는 몰리브덴(Mo)으로 이루어진 금속층인 산화 방지층(140, 141)이 형성될 수 있다. 이러한 산화 방지층(140, 141)은 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124)의 최상부층이 티타늄(Ti) 또는 알루미늄(Al)등의 금속이 사용된 경우, 드라이 에칭 공정 또는 에싱(Ashing) 공정에서 생성되는 산화막의 생성을 방지할 수 있다. 예를 들면, 티타늄(Ti) / 알루미늄(Al) / 티타늄(Ti)과 같은 삼중층으로 형성된 경우, 평탄화층(160)의 컨택홀을 형성하기 위하여 드라이 에칭 공정이나 에싱(Ashing) 공정을 거치게 된다. 이러한 경우, 상부층의 티타늄(Ti)은 드라이 에칭 공정에서 사용되는 육불화황(SF6) 또는 프레온(CF4) 등과 같은 가스와 반응하여 TiFx가 생성될 수 있으며, 에싱(Ashing) 공정에서 산소(O2) 가스에 반응하여 TiOx 등과 같은 산화막이 생성될 수 있다. 이와 같은 산화막은 절연막으로 작용하여 전계 발광 표시장치의 패널내에 균일하지 못한 저항을 생성시킬수 있다. 따라서, 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124) 상부에 형성되는 산화 방지층(140,141)은 제조 공정에서 TiFx 또는 TiOx등과 같은 산화막이 형성되는 것을 방지하기 위해 형성될 수 있다.The oxidation preventing layers 140 and 141 may be formed on the source electrode 123 and the drain electrode 124. The oxidation preventing layers 140 and 141 may be a metal layer made of copper (Cu) or molybdenum (Mo) When the uppermost layer of the source electrode 123 and the drain electrode 124 is made of a metal such as titanium (Ti) or aluminum (Al), the oxidation preventing layers 140 and 141 may be formed by a dry etching process or an ashing process It is possible to prevent the generation of an oxide film generated in the oxide film. For example, in the case of a triple layer such as titanium (Ti) / aluminum (Al) / titanium (Ti), a dry etching process or an ashing process is performed to form a contact hole of the planarization layer 160 . In this case, titanium (Ti) in the upper layer reacts with a gas such as sulfur hexafluoride (SF 6 ) or freon (CF 4 ) used in the dry etching process to generate TiF x. In the ashing process, O 2 ) gas to generate TiO x And the like can be produced. Such an oxide film acts as an insulating film to generate an uneven resistance in the panel of the electroluminescence display device. Therefore, the anti-oxidation layers 140 and 141 formed on the source electrode 123 and the drain electrode 124 may be formed to prevent an oxide film such as TiFx or TiOx from being formed in the manufacturing process.

다양한 실시 예에서, 산화 방지층(140, 141)은 도 1a 및 도 1b와 같이 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124)의 전면에 형성될 수 있지만, 도 2a 및 도 2b와 같이 드레인 전극(124)과 애노드 전극(170)이 접촉하는 영역에만 형성될 수도 있다. 다양한 실시 예에서, 산화 방지층은 소스 또는 드레인 상에 형성될 수도 있다.The anti-oxidation layers 140 and 141 may be formed on the entire surfaces of the source electrode 123 and the drain electrode 124 as shown in FIGS. 1A and 1B. However, as shown in FIGS. 2A and 2B, And the anode electrode 170 are in contact with each other. In various embodiments, an antioxidant layer may be formed on the source or drain.

다양한 실시 예에서, 산화 방지층(140, 141)의 상부에는 애노드(170)와의 접착력을 높이기 위해 ITO(Indium tin Oxide) 등의 금속 산화물로 이루어진 도전성 접착층이 더 형성될 수 있다. 이에 관련하여 도 3 및 도 4를 참조하여 설명하도록 한다. A conductive adhesive layer made of a metal oxide such as ITO (Indium Tin Oxide) may be further formed on the oxidation preventing layers 140 and 141 in order to increase the adhesion to the anode 170. [ This will be described with reference to FIG. 3 and FIG.

도 3 및 도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치를 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다. 도 3을 참조하면 산화 방지층(140, 141)은 산화 방지층(140, 141)의 전면 상부에 ITO 등의 금속 산화물로 이루어진 도전성 접착층(142, 143)이 형성될 수 있다. 도 4를 참조하면, 도전성 접착층(142)은 드레인 전극(124)과 애노드(170)가 접촉하는 영역에 형성된 산화 방지층(140) 상부에 형성될 수도 있다.3 and 4 are schematic cross-sectional views illustrating an electroluminescent display device according to another embodiment of the present invention. Referring to FIG. 3, the oxidation preventing layers 140 and 141 may include conductive adhesion layers 142 and 143 formed of a metal oxide such as ITO on the front surfaces of the oxidation preventing layers 140 and 141. Referring to FIG. 4, the conductive adhesive layer 142 may be formed on the anti-oxidation layer 140 formed in a region where the drain electrode 124 and the anode 170 are in contact with each other.

다시, 도 1b를 참조하면, 박막 트랜지스터(120)의 상부에는 패시베이션층(150)이 형성된다. 패시베이션층(150)은 박막 트랜지스터(220)를 보호하기 위한 절연층으로, 박막 트랜지스터(120)의 드레인 전극(124)을 노출시키기 위한 컨택홀이 형성된다. Referring again to FIG. 1B, a passivation layer 150 is formed on the TFT 120. The passivation layer 150 is an insulating layer for protecting the thin film transistor 220 and a contact hole for exposing the drain electrode 124 of the thin film transistor 120 is formed.

패시베이션층(150) 상에는 평탄화층(160)이 배치된다. 평탄화층(160)은 박막 트랜지스터(120) 상부를 평탄화하기 위한 절연층으로서, 유기물로 이루어질 수 있다. 평탄화층(160)에는 박막 트랜지스터(120)의 드레인 전극(124)을 노출시키기 위한 컨택홀이 형성된다.A planarization layer 160 is disposed on the passivation layer 150. The planarization layer 160 is an insulating layer for planarizing the upper portion of the thin film transistor 120, and may be formed of an organic material. A contact hole for exposing the drain electrode 124 of the thin film transistor 120 is formed in the planarization layer 160.

평탄화층(160) 상에는 애노드(170)가 배치되고, 애노드(170)는 박막 트랜지스터(120)의 드레인 전극(124) 상에 형성된 산화 방지층(140)과 평탄화층(160)의 컨택홀을 통해 전기적으로 연결된다. 상기 애노드(170)는 발광 소자(EL)에서 발광된 광을 반사시키기 위한 반사층 및 발광소자(EL)에 정공을 공급하기 위한 투명 도전층을 포함할 수 있다.The anode 170 is disposed on the planarization layer 160 and the anode 170 is electrically connected to the oxidation prevention layer 140 formed on the drain electrode 124 of the thin film transistor 120 and the contact hole of the planarization layer 160. [ Lt; / RTI > The anode 170 may include a reflective layer for reflecting light emitted from the light emitting device EL and a transparent conductive layer for supplying holes to the light emitting device EL.

애노드(170) 및 평탄화층(160) 상에는 유기물로 이루어지는 뱅크(180)가 배치되고, 뱅크(180) 및 애노드(170) 상에는 발광 소자(EL)가 배치된다. 발광 소자(EL)상에는 캐소드(190)가 배치된다. 그러나 이에 한정되지는 않으며, 평탄화층(160) 상에 캐소드(190)가 배치되고, 평탄화층(160)의 컨택홀을 통해 캐소드(190)가 박막트랜지스터(120)의 드레인 전극(124)과 전기적으로 연결될 경우에는 애노드(170)가 발광소자(EL)상에 배치될 수 있다. A bank 180 made of an organic material is disposed on the anode 170 and the planarization layer 160 and a light emitting device EL is disposed on the bank 180 and the anode 170. A cathode 190 is disposed on the light emitting element EL. The cathode 190 is disposed on the planarization layer 160 and the cathode 190 is electrically connected to the drain electrode 124 of the thin film transistor 120 through the contact hole of the planarization layer 160 The anode 170 may be disposed on the light emitting device EL.

도 5 내지 도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치를 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다. 도 5 내지 도 8은 산화물 반도체 박막 트랜지스터를 예로 설명하도록 한다.5 to 8 are schematic cross-sectional views illustrating an electroluminescent display device according to another embodiment of the present invention. 5 to 8 illustrate an oxide semiconductor thin film transistor as an example.

도 5 내지 도 8을 참조하면, 전계 발광 표시 장치(100)는 기판(110), 버퍼층(111), 박막 트랜지스터(120), 박막 트랜지스터(120)의 게이트 절연층(112), 패시베이션층(150), 평탄화층(160), 애노드(170), 뱅크(180), 발광 소자(EL) 및 캐소드(190)를 포함한다.5 to 8, an electroluminescent display 100 includes a substrate 110, a buffer layer 111, a thin film transistor 120, a gate insulating layer 112 of the thin film transistor 120, a passivation layer 150 A planarization layer 160, an anode 170, a bank 180, a light emitting device EL, and a cathode 190. [

기판(110)은 도 1a 내지 도 1b 및 도 2a 내지 도 2b에서 상술한 바와 같이 전계 발광 표시 장치(100)의 다양한 구성요소들을 지지한다. 기판(110)의 전체 표면 위에는 버퍼층(111)이 형성되고, 버퍼층(111)의 상부에는 박막 트랜지스터(120)가 형성된다. The substrate 110 supports various components of the electroluminescent display device 100 as described above with reference to Figs. 1A to 1B and Figs. 2A to 2B. A buffer layer 111 is formed on the entire surface of the substrate 110 and a thin film transistor 120 is formed on the buffer layer 111.

박막 트랜지스터(120)는 게이트 전극(121), 산화물 반도체로 이루어지는 액티브층(122), 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124)을 포함한다. The thin film transistor 120 includes a gate electrode 121, an active layer 122 made of an oxide semiconductor, a source electrode 123, and a drain electrode 124.

게이트 절연층(112)은 게이트 전극(121) 및 버퍼층(111) 상에 배치된다. The gate insulating layer 112 is disposed on the gate electrode 121 and the buffer layer 111.

게이트 절연층(112) 상부에는 금속 산화물로 이루어지는 액티브층(122)이 배치되고, 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124) 각각은 액티브층(122)의 양측에 연결된다.An active layer 122 made of a metal oxide is disposed on the gate insulating layer 112 and each of the source electrode 123 and the drain electrode 124 is connected to both sides of the active layer 122.

소스 전극(123) 및 드레인 전극(124) 상부에는 도 1a 내지 도 1b에서 상술한 바와 같이 산화 방지층(140, 141)이 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124)의 전면에 형성될 수 있다. 이러한 산화 방지층(140, 141)은 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124)이 SF6 또는 CF4 등과 같은 가스에 반응하거나 O2 가스에 반응하여 TiFx 또는 TiOx 등의 균일하지 않은 산화막이 형성되는 것을 방지하기 위해 형성될 수 있다.The anti-oxidation layers 140 and 141 may be formed on the source electrode 123 and the drain electrode 124, as described above with reference to FIGS. 1A and 1B. The antioxidant layers 140 and 141 are formed in such a manner that the source electrode 123 and the drain electrode 124 react with gas such as SF 6 or CF 4 or react with O 2 gas to form TiF x Or an uneven oxide film such as TiO x may be formed.

도 6을 참조하면, 다양한 실시 예에서 산화 방지층(140)은 도 2a 및 도 2b에서 상술한 바와 같이 드레인 전극(124)의 일부 영역, 예를 들어 애노드(170)와 접속되는 영역의 상부에 형성될 수 있다. 도 7을 참조하면, 다양한 실시 예에서 산화 방지층(140, 141)은 도 3에서 상술한 바와 같이 산화 방지층(140, 141)의 전면 상부에 ITO 등의 금속 산화물로 이루어진 도전성 접착층(142, 143)이 형성될 수 있다. 이러한 도전성 접착층(142, 143)은 산화 방지층(140, 141)과 애노드(170)간의 접착력을 높이기 위해 형성될 수 있다. 도 8을 참조하면, 다양한 실시 예에서 도전성 접착층(142)은 도 4에서 상술한 바와 같이 드레인 전극(124)의 일부 영역에 형성된 산화 방지층(140) 상부에 형성될 수도 있다.Referring to FIG. 6, in various embodiments, the anti-oxidation layer 140 is formed on a portion of the drain electrode 124, for example, an upper portion of the region connected to the anode 170, as described above with reference to FIGS. 2A and 2B. . Referring to FIG. 7, the oxidation preventing layers 140 and 141 may include conductive adhesive layers 142 and 143 formed of a metal oxide such as ITO on the front surfaces of the oxidation preventing layers 140 and 141, Can be formed. The conductive adhesive layers 142 and 143 may be formed to increase the adhesion between the anti-oxidation layers 140 and 141 and the anode 170. Referring to FIG. 8, in various embodiments, the conductive adhesive layer 142 may be formed on the anti-oxidation layer 140 formed on a portion of the drain electrode 124 as described above with reference to FIG.

박막 트랜지스터(120)의 상부에는 패시베이션층(150)이 형성된다. 패시베이션층(150)은 박막 트랜지스터(120)의 드레인 전극(124)을 노출시키기 위한 컨택홀이 형성된다.A passivation layer 150 is formed on the upper portion of the thin film transistor 120. The passivation layer 150 is formed with a contact hole for exposing the drain electrode 124 of the thin film transistor 120.

패시베이션층(150) 상에는 평탄화층(160)이 배치된다. 평탄화층(160)에는 박막 트랜지스터(120)의 드레인 전극(124)을 노출시키기 위한 컨택홀이 형성된다.A planarization layer 160 is disposed on the passivation layer 150. A contact hole for exposing the drain electrode 124 of the thin film transistor 120 is formed in the planarization layer 160.

평탄화층(160) 상에는 애노드(170)가 배치되고, 애노드(170)는 박막 트랜지스터(120)의 드레인 전극(124) 상에 형성된 산화 방지층(141)과 평탄화층(160)의 컨택홀을 통해 전기적으로 연결된다.The anode 170 is disposed on the planarization layer 160 and the anode 170 is electrically connected to the oxidation prevention layer 141 formed on the drain electrode 124 of the thin film transistor 120 through the contact hole of the planarization layer 160. [ Lt; / RTI >

애노드(170) 및 평탄화층(160) 상에는 유기물로 이루어지는 뱅크(180)가 배치되고, 뱅크(180) 및 애노드(170) 상에는 발광 소자(EL)가 배치된다. 발광 소자(EL)상에는 캐소드(190)가 배치된다.A bank 180 made of an organic material is disposed on the anode 170 and the planarization layer 160 and a light emitting device EL is disposed on the bank 180 and the anode 170. A cathode 190 is disposed on the light emitting element EL.

도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 박막 트랜지스터 제조 방법을 설명하기 위한 개략적인 흐름도이다.9 is a schematic flow chart for explaining a method of manufacturing a thin film transistor according to an embodiment of the present invention.

도 9를 참조하면, 기판위에 박막 트랜지스터가 생성되고(S900), 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인(소스 및 드레인 전극) 상부에 산화 방지층이 형성된다(S910). 산화 방지층은 에칭 또는 에싱 공정에서 SF6 또는 CF4 등과 같은 가스 또는 O2 가스의 접촉에 의한 산화물 절연층의 형성을 방지할 수 있다. 이에, 소스 및 드레인과 애노드사이에 일정한 저항값이 유지되므로, 제품의 얼룩 등과 같은 불량을 줄일 수 있다. 다양한 실시 예에서 산화 방지층 상부에 산화 방지층과 애노드사이의 접착력을 높이기 위한 도전성 접착층이 더 형성될 수 있다. Referring to FIG. 9, a thin film transistor is formed on a substrate (S900), and an anti-oxidation layer is formed on the source and drain (source and drain electrodes) of the thin film transistor (S910). The antioxidant layer can prevent the formation of the oxide insulating layer by contact with a gas such as SF 6 or CF 4 or O 2 gas in an etching or ashing process. Thus, since a constant resistance value is maintained between the source and the drain and the anode, defects such as unevenness of the product can be reduced. In various embodiments, a conductive adhesive layer may be further formed on the antioxidant layer to increase the adhesion between the antioxidant layer and the anode.

다음으로, 박막 트랜지스터 상부에 패시베이션층 및 평탄화층이 형성되고(S920), 평탄화층 상부에 애노드, 발광 소자 및 캐소드가 형성된다(S930). 애노드는 산화 방지층이 형성된 드레인과 연결되고, 발광 소자 상부에는 캐소드가 형성될 수 있다. Next, a passivation layer and a planarization layer are formed on the thin film transistor (S920), and an anode, a light emitting device, and a cathode are formed on the planarization layer (S930). The anode may be connected to the drain where the oxidation preventing layer is formed, and a cathode may be formed on the light emitting element.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치 및 전계발광 표시 장치의 제조 방법은 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 상부에 산화 방지층을 형성하여 에칭 또는 에싱 공정 시 제품에 얼룩 등의 불량을 발생시키는 산화물 절연층의 생성을 방지할 수 있다.The electroluminescent display device and the method of fabricating the electroluminescent display device according to various embodiments of the present invention include forming an oxidation prevention layer on the source and the drain of the thin film transistor to form an oxide insulating layer which causes defects such as stains on the product during the etching or ashing process. The generation of the layer can be prevented.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치 및 전계 발광 표시 장치의 제조 방법은 산화 방지층 상부에 도전성 접착층을 더 형성하여 산화 방지층과 발광 소자의 애노드 사이의 접착력을 높일 수 있다.The electroluminescent display device and the method of fabricating the electroluminescent display device according to various embodiments of the present invention may further include a conductive adhesive layer on the oxidation prevention layer to increase the adhesion between the oxidation prevention layer and the anode of the light emitting device.

본 발명의 예시적인 실시예는 다음과 같이 설명될 수 있다.An exemplary embodiment of the present invention can be described as follows.

본 발명의 일 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치가 제공된다. 전계 발광 표시 장치는 기판, 소스 및 드레인을 포함하는, 기판 상에 배치된 박막 트랜지스터, 발광 소자, 산화 방지층과 발광 소자 사이에 형성된 제1 전극(예: 애노드) 및 발광 소자 상의 제2 전극(예: 캐소드)을 포함한다. 박막 트랜지스터의 드레인 상부에는 산화 방지층이 배치된다. An electroluminescent display device according to an embodiment of the present invention is provided. The electroluminescent display device includes a thin film transistor arranged on a substrate, including a substrate, a source and a drain, a light emitting element, a first electrode (e.g., an anode) formed between the antioxidant layer and the light emitting element, : Cathode). An oxidation preventing layer is disposed on the drain of the thin film transistor.

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 산화 방지층은 구리(Cu) 또는 몰리브덴(Mo)으로 이루어지는 금속층을 포함한다.According to another aspect of the present invention, the antioxidant layer includes a metal layer made of copper (Cu) or molybdenum (Mo).

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 산화 방지층은 소스 및 드레인과 제1 전극이 접촉하는 영역에만 형성된다.According to still another aspect of the present invention, the antioxidant layer is formed only in a region where the source and the drain are in contact with the first electrode.

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 산화 방지층의 상부에는 도전성 접착층이 형성되고, 도전성 접착층은 ITO(Indium tin Oxide)로 이루어진다.According to another aspect of the present invention, a conductive adhesive layer is formed on the oxidation preventing layer and the conductive adhesive layer is formed of ITO (Indium Tin Oxide).

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 소스 및 드레인의 최상부층은 티타늄(Ti) 또는 알루미늄(Al)을 포함한다.According to another aspect of the present invention, the top layer of the source and drain comprises titanium (Ti) or aluminum (Al).

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 소스 및 드레인은 티타늄(Ti) / 알루미늄(Al) / 티타늄(Ti)으로 구성된다.According to another aspect of the present invention, the source and the drain are made of titanium (Ti) / aluminum (Al) / titanium (Ti).

전술한 바와 같은 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전계 발광 표시 장치 제조 방법은 기판 상에 박막 트랜지스터의 액티브층을 형성하는 단계, 박막 트랜지스터의 액티브층 상에 게이트 절연층을 형성하는 단계, 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인을 게이트 절연층 상에 형성하고, 소스 또는 드레인 상에 산화 방지층을 형성하는 단계, 박막 트랜지스터 상에 제1 전극을 형성하는 단계, 제1 전극 상에 발광 소자를 형성하는 단계, 및 발광 소자 상에 제2 전극을 형성하는 단계를 포함하고, 산화 방지층은 구리(Cu) 또는 몰리브덴(Mo)으로 이루어지는 금속층을 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of fabricating an electroluminescent display device including forming an active layer of a thin film transistor on a substrate, forming a gate insulating layer on the active layer of the thin film transistor, Forming a source and a drain of a thin film transistor on the gate insulating layer and forming an antioxidant layer on the source or drain; forming a first electrode on the thin film transistor; forming a light emitting element on the first electrode; And forming a second electrode on the light emitting element, wherein the oxidation preventing layer includes a metal layer made of copper (Cu) or molybdenum (Mo).

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 소스 및 드레인의 최상부층은 티타늄(Ti) 또는 알루미늄(Al)을 포함한다.According to another aspect of the present invention, the top layer of the source and drain comprises titanium (Ti) or aluminum (Al).

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 소스 및 드레인은 티타늄(Ti) / 알루미늄(Al) / 티타늄(Ti)으로 구성된다.According to another aspect of the present invention, the source and the drain are made of titanium (Ti) / aluminum (Al) / titanium (Ti).

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 산화 방지층은 소스 및 드레인과 제1 전극이 접촉하는 영역에만 형성된다.이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예로 국한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.According to still another aspect of the present invention, the anti-oxidation layer is formed only in a region where the source and the drain are in contact with the first electrode. While the embodiments of the present invention have been described in detail with reference to the accompanying drawings, The present invention is not limited to these embodiments, and various modifications may be made without departing from the scope of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents should be construed as falling within the scope of the present invention.

100: 전계 발광 표시 장치
110: 기판
113: 제1 배선
114: 제2 배선
120: 박막 트랜지스터
111: 버퍼층
112: 게이트 절연층
121: 액티브층
122: 게이트층
123: 소스 전극
124: 드레인 전극
130: 층간 절연층
140, 141: 산화 방지층
142, 143: 도전성 접착층
150: 패시베이션층
160: 평탄화층
170: 애소드
180: 뱅크
190: 캐소드
EL: 발광 소자
100: electroluminescence display
110: substrate
113: first wiring
114: second wiring
120: thin film transistor
111: buffer layer
112: gate insulating layer
121: active layer
122: gate layer
123: source electrode
124: drain electrode
130: interlayer insulating layer
140, 141: oxidation prevention layer
142, 143: conductive adhesive layer
150: Passivation layer
160: planarization layer
170: Assos
180: Bank
190: cathode
EL: Light emitting element

Claims (10)

전계 발광 표시 장치에 있어서,
기판;
소스 및 드레인을 포함하는, 상기 기판 상에 배치된 박막 트랜지스터;
상기 박막 트랜지스터의 상기 소스 및 드레인의 상부에 배치된 산화 방지층;
상기 박막 트랜지스터 상의 발광 소자;
상기 산화 방지층과 상기 발광 소자 사이에 형성된 제1 전극; 및
상기 발광 소자 상의 제2 전극을 포함하는 전계 발광 표시 장치.
In an electroluminescent display,
Board;
A thin film transistor disposed on the substrate, the thin film transistor including a source and a drain;
An anti-oxidation layer disposed on the source and the drain of the thin film transistor;
A light emitting element on the thin film transistor;
A first electrode formed between the antioxidant layer and the light emitting element; And
And a second electrode on the light emitting element.
제1항에 있어서,
상기 산화 방지층은 구리(Cu) 또는 몰리브덴(Mo)으로 이루어지는 금속층을 포함하는 전계발광 표시 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the antioxidant layer includes a metal layer made of copper (Cu) or molybdenum (Mo).
제1항에 있어서,
상기 산화 방지층은, 상기 소스 및 드레인과 상기 제1 전극이 접촉하는영역에만 형성되는 전계 발광 표시 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the anti-oxidation layer is formed only in a region where the source and the drain are in contact with the first electrode.
제1항에 있어서,
상기 산화 방지층의 상부에는 도전성 접착층이 형성되고,
상기 도전성 접착층은 ITO(Indium tin Oxide)로 이루어지는, 전계 발광 표시 장치.
The method according to claim 1,
A conductive adhesive layer is formed on the oxidation preventing layer,
Wherein the conductive adhesive layer is made of ITO (Indium Tin Oxide).
제1항에 있어서,
상기 소스 및 드레인은 최상부층은 티타늄(Ti) 또는 알루미늄(Al)인 전계 발광 표시 장치.
The method according to claim 1,
And the uppermost layer of the source and drain is titanium (Ti) or aluminum (Al).
제5항에 있어서,
상기 소스 및 드레인은 티타늄(Ti) / 알루미늄(Al) / 티타늄(Ti)으로 구성된 전계 발광 표시 장치.
6. The method of claim 5,
Wherein the source and the drain are made of titanium (Ti) / aluminum (Al) / titanium (Ti).
기판 상에 박막 트랜지스터의 액티브층을 형성하는 단계;
상기 박막 트랜지스터의 액티브층 상에 게이트 절연층을 형성하는 단계;
상기 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인을 상기 게이트 절연층 상에 형성하고, 상기 소스 또는 상기 드레인 상에 산화 방지층을 형성하는 단계;
상기 박막 트랜지스터 상에 제1 전극을 형성하는 단계;
상기 제1 전극 상에 발광 소자를 형성하는 단계; 및
상기 발광 소자상에 제2 전극을 형성하는 단계를 포함하고,
상기 산화 방지층은 구리(Cu) 또는 몰리브덴(Mo)으로 이루어지는 금속층을 포함하는, 전계 발광 표시 장치 제조 방법.
Forming an active layer of a thin film transistor on a substrate;
Forming a gate insulating layer on the active layer of the thin film transistor;
Forming a source and a drain of the thin film transistor on the gate insulating layer and forming an antioxidant layer on the source or the drain;
Forming a first electrode on the thin film transistor;
Forming a light emitting device on the first electrode; And
And forming a second electrode on the light emitting device,
Wherein the antioxidant layer comprises a metal layer made of copper (Cu) or molybdenum (Mo).
제7항에 있어서,
상기 소스 및 드레인의 최상부층은 티타늄(Ti) 또는 알루미늄(Al)인 전계 발광 표시 장치 제조 방법.
8. The method of claim 7,
Wherein the uppermost layer of the source and the drain is titanium (Ti) or aluminum (Al).
제8항에 있어서,
상기 소스 및 드레인은 티타늄(Ti)/ 알루미늄(Al) / 티타늄(Ti)의 삼중층으로 형성된 전계 발광 표시 장치 제조 방법.
9. The method of claim 8,
Wherein the source and the drain are formed of a triple layer of titanium (Ti) / aluminum (Al) / titanium (Ti).
제7항에 있어서,
상기 산화 방지층은, 상기 소스 및 드레인과 상기 제1 전극이 접촉하는 영역에만 형성되는 전계 발광 표시 장치 제조 방법.
8. The method of claim 7,
Wherein the anti-oxidation layer is formed only in a region where the source and the drain are in contact with the first electrode.
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