KR20190022266A - 지문 수집 방법, 장치, 다이 및 단말 장치 - Google Patents

지문 수집 방법, 장치, 다이 및 단말 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명의 실시예는 주변광, 온도 및 다이 암전류 등 요인으로 인한 간섭을 감소시킬 수 있는 지문 수집 방법, 장치, 다이 및 단말 장치를 제공하고, 상기 방법은 제1 지문 이미지 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 단계, 상기 제1 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기보다 높음; 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하는 단계, 상기 제3 지문 이미지는 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 간섭 이미지임; 상기 제3 지문 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 제4 지문 이미지를 얻는 단계를 포함한다.

Description

지문 수집 방법, 장치, 다이 및 단말 장치
본 발명은 광학 지문 기술분야에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 지문 수집 방법, 장치, 다이 및 단말 장치에 관한 것이다.
광학 지문 시스템에서, 주변광, 다이 암전류, 온도 등 요인의 간섭으로 인해, 지문 이미징 효과에 크게 영향을 미쳐, 광학 지문 시스템의 안정성 및 안전성에 심각한 영향을 준다.
현재, 광학 지문 시스템의 간섭방지 능력을 증가시키기 위한, 주요한 해결방안은 다이 디자인을 최적화하고, 다이 암전류의 영향을 줄이거나, 또는 전형적인 환경에서 이러한 외부 간섭의 영향을 얻은 후, 실제 이미징 과정에서 보정하거나, 암배경 광 경로를 디자인하는 등 방안을 포함한다.
그러나, 이러한 방법은 모두 일부 간섭요인으로 인한 영향을 감소시킬 수 있을 뿐이며, 예를 들어 다이 디자인을 최적화하는 것은 다이 암전류의 영향만을 감소시킬 뿐, 주변광의 영향을 줄일 수 없거나, 또는 전형적인 환경에서 외부 간섭의 영향에 따라 실제 지문 이미징을 보정할 경우, 전형적인 환경과 차이가 큰 환경에서는 보정이 정확하지 않은 문제가 존재할 수 있다.
따라서, 지문 이미지에 대한 주변광, 다이 암전류, 온도 등 요인의 간섭을 감소시킬 수 있는 지문 수집 방법이 필요하다.
본 발명의 실시예는 지문 이미지에 대한 주변광, 다이 암전류, 온도 등 요인의 간섭을 줄이는데 도움이 되는, 지문 수집 방법, 장치, 다이 및 단말 장치를 제공한다.
제1 방면에 따르면,
제1 지문 이미지 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 단계, 상기 제1 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기보다 높음;
상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하는 단계, 상기 제3 지문 이미지는 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 간섭 이미지임;
상기 제3 지문 이미지에 따라 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 제4 지문 이미지를 얻는 단계;를 포함하는 지문 수집 방법을 제공한다.
상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 시간 차이가 매우 작으므로, 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 환경, 온도 및 다이 암전류 등 간섭 요인은 동일하거나 유사한 것으로 볼 수 있다. 따라서 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라 결정된 제3 지문 이미지 및 상기 제1 지문 이미지의 간섭 요인은 동일하거나 유사하고, 또한 제3 지문 이미지 및 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간은 동일하므로, 노광 차이로 인한 편차를 추가로 해소하므로, 상기 제3 지문 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행할 경우, 주변광, 다이 암전류 및 온도 등 요인으로 인한 간섭을 줄이는데 도움이 되어, 광학 지문 시스템의 안정성을 향상시킬 수 있다.
간섭이 제거된 제4 지문 이미지는 제1 지문 이미지에 비해 실제 지문 이미지와 더 유사하므로, 상기 제4 지문 이미지에 따라, 지문 인식 또는 지문 인증 등 조작을 진행할 경우, 광학 지문 시스템의 안전성을 향상시킬 수 있다.
선택적으로, 본 발명의 실시예는 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지의 수집 순서에 대해 특별히 제한하지 않는다. 예를 들면, 먼저 제1 지문 이미지를 수집할 수도 있고, 먼저 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 수도 있다.
선택적으로, 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 노광 파라미터는 동일할 수도 있고, 상이할 수도 있으며, 본 발명의 실시예는 이에 대해 특별히 제한하지 않는다.
추가적으로, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지의 노광 파라미터는 동일하거나 상이할 수 있다. 즉, 동일한 노광 시간을 사용하여 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 수도 있고, 상이한 노광 시간을 사용하여, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 수도 있다.
제1 방면과 결합하면, 제1 방면의 일부 구현예에서, 상기 제1 지문 이미지 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 단계는,
제1 노광 파라미터 조건에서 제1 지문 이미지를 수집하는 단계; 및
제2 노광 파라미터 조건에서 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 단계;를 포함하되
상기 제1 노광 파라미터는 제1 노광 시간을 포함하고, 상기 제2 노광 파라미터는 제2 노광 시간을 포함한다.
제1 방면과 결합하면, 제1 방면의 일부 구현예에서, 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하는 상기 단계는,
상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 대해 평균값을 취하여 제5 지문 이미지를 얻는 단계;
상기 제1 지문 이미지 및 상기 제5 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라, 상기 제3 지문 이미지를 결정하는 단계;를 포함한다.
제1 방면과 결합하면, 제1 방면의 일부 구현예에서, 상기 제1 지문 이미지 및 상기 제5 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라, 상기 제3 지문 이미지를 결정하는 단계는,
상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 동일한 경우, 상기 제5 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계; 또는
상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 상이한 경우, 상기 제5 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하고 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계;를 포함하되, 상기 보정 계수는 상기 제1 노광 파라미터 및 상기 제2 노광 파라미터에 따라 결정된다.
선택적으로, 상기 특정 오프셋 이미지 중의 각 픽셀의 픽셀 값은 0이다.
즉, 제5 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정할 수 있다.
선택적으로, 상기 보정 계수는 상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간의 비이다.
선택적으로, 본 발명의 실시예에서, 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 동일한 상황에서, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지 중 임의의 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하거나, 또는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지 중의 일부 지문 이미지에 대해 평균값을 취하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정할 수도 있고,
또는, 상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 상이한 상황에서, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지 중 임의의 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제1 지문 이미지의 간섭 이미지로 결정할 수도 있다.
제1 방면과 결합하면, 제1 방면의 일부 구현예에서, 제1 지문 이미지 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 상기 단계는,
제1 노광 파라미터 조건에서 제1 지문 이미지를 수집하는 단계; 및
적어도 하나의 제2 노광 파라미터 조건에서 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 단계;를 포함하되,
상기 적어도 하나의 제2 노광 파라미터와 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 일일이 대응한다.
제1 방면과 결합하면, 제1 방면의 일부 구현예에서, 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하는 단계는,
상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 보간 또는 피팅 처리하여 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 상기 제3 지문 이미지를 얻는 단계를 포함한다.
제1 방면과 결합하면, 제1 방면의 일부 구현예에서, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 하나의 제2 지문 이미지를 포함하고, 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하는 단계는,
상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 시간이 동일한 경우, 상기 제2 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계; 또는
상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 시간이 상이한 경우, 상기 제2 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하고 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계;를 포함하되, 상기 보정 계수는 상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라 결정된다.
제1 방면과 결합하면, 제1 방면의 일부 구현예에서, 상기 방법은,
상기 제4 지문 이미지에 따라 지문 인식, 건습도 측정 또는 누름 영역 분할을 진행하는 단계를 더 포함한다.
상기 제4 지문 이미지는 간섭 이미지가 제거된 지문 이미지다. 즉, 상기 제4 지문 이미지는 주변광, 암전류 및 온도 등 요인의 영향을 받지 않으므로, 상기 제4 지문 이미지에 따라 지문 인식, 건습도 측정 및 누름 영역 분할 등 조작을 진행하면, 광학 지문 시스템의 정확성 및 안전성을 향상시키는데 도움이 된다.
따라서, 본 발명의 실시예의 지문 수집 방법에 있어서, 동일한 간섭 조건에서, 밝은 화면 이미지 및 적어도 하나의 어두운 화면 이미지를 수집하여, 상기 적어도 하나의 어두운 화면 이미지에 따라 상기 밝은 화면 이미지의 노광 시간과 동일한 간섭 이미지를 결정하면, 상기 제1 지문 이미지 및 간섭 이미지에 포함된 간섭 이미지 성분은 동일하거나 유사하므로, 상기 간섭 이미지에 따라 밝은 화면 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하면, 지문 이미지에 대한 주변광, 암전류 및 온도 등 요인의 영향을 줄이는데 도움이 된다.
제2 방면에 따르면, 상기 제1 방면 또는 제1 방면의 임의의 가능한 구현예 중의 방법을 실행하기 위한 기능 모듈을 포함하는 지문 수집 장치를 제공한다.
제3 방면에 따르면, 입출력 인터페이스, 적어도 하나의 프로세서, 적어도 하나의 메모리 및 버스를 포함하는 다이를 제공하고, 상기 적어도 하나의 메모리는 명령을 저장하고, 상기 적어도 하나의 프로세서는 제1 방면 또는 제1 방면의 임의의 가능한 구현예 중의 방법을 실행하도록 상기 적어도 하나의 메모리의 명령을 호출한다.
제4 방면에 따르면, 지문 수집 모듈 및 프로세서를 포함하는 단말 장치를 제공한다. 상기 프로세서 및 상기 지문 수집 모듈 사이는 내부 연결 통로를 통해 상호 통신하고, 상기 단말 장치가 상기 제1 방면 또는 제1 방면의 임의의 가능한 구현예 중의 방법을 실행하도록 제어 및/또는 데이터 신호를 전송한다.
제5 방면에 따르면, 상기 제1 방면 또는 제1 방면의 임의의 가능한 구현예를 실행하는 명령을 포함하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능 매체를 제공한다.
제6 방면에 따르면, 명령을 포함한 컴퓨터 프로그램 제품을 제공하고, 컴퓨터가 상기 컴퓨터 프로그램 제품의 상기 명령을 실행하면, 상기 컴퓨터는 상기 제1 방면 또는 제1 방면의 임의의 가능한 구현예 중의 지문 인식 방법을 실행한다.
구체적으로, 상기 컴퓨터 프로그램 제품은 상기 제4 방면의 단말 장치에서 실행될 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예의 단말 장치의 구조 개략도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 지문 수집 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 지문 수집 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 4는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 지문 수집 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 지문 수집 방법의 후속 조작 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 지문 수집 장치의 개략적인 블록도이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 단말 장치의 개략적인 블록도이다.
이하에서는 도면을 결합하여, 본 발명의 실시예 중의 기술방안에 대해 설명한다.
이해해야 할 것은, 본 발명의 실시예는 광학 지문 시스템에 이용될 수 있고, 광학 지문 인식 시스템 및 광학 지문 이미징에 기초한 의료 진단 제품을 포함하나 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 실시예는 단지 광학 지문 시스템을 예로서 설명하지만, 본 발명의 실시예를 한정하는 것으로 해석해서는 안 되고, 본 발명의 실시예는 동일하게 기타 광학 이미징 기술을 사용한 시스템 등에 적용된다.
일반적인 응용 시나리오로서, 본 발명의 실시예에서 제공한 광학 지문 시스템은 스마트폰, 태블릿PC 및 기타 표시 화면이 구비된 이동 단말기 또는 기타 단말 장치에 응용될 수 있고, 보다 구체적으로, 상기 단말 장치에서, 지문 수집 장치는 구체적으로 광학 지문 장치일 수 있고, 언더 디스프레이(Under-display)광학 지문 시스템을 형성하도록 표시 화면 아래의 일부 영역 또는 모든 영역에 설치될 수 있다.
도 1은 도시된 바와 같이 본 발명의 실시예를 적용할 수 있는 단말 장치의 구조 개략도이고, 상기 단말 장치(700)는 표시 화면(720) 및 광학 지문 장치(730)를 포함하고, 상기 광학 지문 장치(730)는 상기 표시 화면(720) 아래의 일부 영역에 설치된다. 상기 광학 지문 장치(730)는 다수 개의 광학 감지부를 포함하는 감지 어레이를 포함하고, 상기 감지 어레이가 위치한 영역은 상기 광학 지문 장치(730)의 지문 검출 영역(703)이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 지문 검출 영역(703)은 상기 표시 화면(720)의 표시 영역(702) 내에 있으므로, 사용자가 상기 단말 장치에 대해 잠금 해제 또는 기타 지문 인증을 해야 할 경우, 손가락을 상기 표시 화면(720)에 위치한 지문 검출 영역(703)에 누르기만 하면, 지문 입력을 실현할 수 있다. 지문 검출은 화면 내에서 실현할 수 있으므로, 상기 구조의 단말 장치(700)를 사용하면 그 정면에 지문 버튼(예컨대 Home 버튼)을 설치하기 위해 특별히 공간을 미리 남겨둘 필요가 없어, 전체 화면 방안을 사용할 수 있다. 즉, 상기 표시 화면(720)의 표시 영역(702)은 거의 전체 단말 장치(700)의 정면으로 확장될 수 있다.
바람직한 실시예에서, 상기 표시 화면(720)은 유기 발광다이오드(Organic Light-Emitting Diode, OLED) 표시 화면 또는 마이크로 발광다이오드(Micro-LED) 표시 화면 등 자체 발광 표시부가 구비된 표시 화면을 사용할 수 있다. OLED표시 화면을 사용하는 것을 예로 들면, 상기 광학 지문 장치(730)는 상기 OLED표시 화면(720)의 상기 지문 검출 영역(703)에 위치한 표시부(즉 OLED광원)를 이용하여 광학 지문 검출의 여기 광원으로 할 수 있다. 또한, 상기 광학 지문 장치(730)의 감지 어레이는 구체적으로 광 검출기(Photo detector) 어레이고, 상기 광 검출기 어레이는 다수 개의 어레이식으로 분포된 광 검출기를 포함하고, 상기 광 검출기는 상술한 광학 감지부로 작용할 수 있다. 손가락을 상기 지문 검출 영역(703)에 누르면, 상기 지문 검출 영역(703)의 표시부가 방출한 광선은 손가락 표면의 지문에서 반사가 일어나 반사광을 형성하고, 상기 손가락 지문의 융선과 골의 반사광은 상이하고, 반사광은 상기 표시 화면(720)으로부터 입사되어 상기 광 검출기 어레이에 의해 수신되어 상응한 전기 신호, 즉 지문 검출 신호로 전환되고, 상기 지문 검출 신호에 기초하여 지문 이미지 데이터를 얻을 수 있고, 또한 지문 일치 검증을 추가로 진행하여, 상기 단말 장치(700)에서 광학 지문 인식 기능을 실현할 수 있다.
이해해야 할 것은, 구체적인 실현에서, 상기 단말 장치(700)는 투명 보호 커버(710)를 더 포함하고, 상기 커버(710)는 유리 커버 또는 사파이어 커버일 수 있고, 상기 표시 화면(720)의 상부에 위치하고 상기 단말 장치(700)의 정면을 커버한다. 왜냐하면, 본 발명의 실시예에서, 손가락을 상기 표시 화면(720)에 누른다고 하는 것은 실질적으로 상기 표시 화면(720) 상부의 커버(710)에 누르거나 또는 상기 커버(710)의 보호층 표면을 덮어 가리는 것이기 때문이다.
선택 가능한 구현예로서, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 광학 지문 장치(730)는 광 검출부(734) 및 광학 어셈블리(732)를 포함하고, 상기 광 검출부(734)는 상기 감지 어레이 및 상기 감지 어레이와 전기적으로 연결된 판독 회로 및 기타 보조 회로를 포함하되, 반도체 공정을 통해 하나의 다이(Die)에 제작될 수 있고; 상기 광학 어셈블리(732)는 상기 광 검출부(734)의 감지 어레이의 상부에 설치될 수 있고, 구체적으로 필터층(Filter), 도광층 및 기타 광학 소자를 포함할 수 있고, 상기 필터층은 손가락을 통과하는 주변광을 걸러낼 수 있고, 상기 도광층은 주로 광학 검출을 진행하도록 손가락 표면에서 반사되어 돌아오는 반사광을 상기 감지 어레이로 유도한다.
구체적인 실현에서, 상기 광학 어셈블리(732)는 상기 광 검출부(734)와 함께 동일한 광학 지문 다이에 패키징될 수 있다. 상기 도광층은 구체적으로 반도체 웨이퍼 제작 과정에서 만들어진 시준기(Collimator)층 또는 렌즈(Lens)층일 수 있고, 다수 개의 시준부 또는 렌즈부가 구비되고, 상기 시준부는 구체적으로 소공(小孔)일 수 있고, 손가락에서 반사되어 돌아오는 반사광 중, 상기 시준부에 수직으로 입사되는 광선은 그 하부의 광학 감지부를 통과하면서 수신될 있고, 경사지게 입사되는 광선은 상기 시준부 내부에서 수회 반사를 거쳐 약화되므로, 각각의 광학 감지부는 바로 위의 지문 무늬에서 반사되어 돌아오는 반사광만을 수신함으로써, 상기 감지 어레이는 손가락의 지문 이미지를 검출해 낼 수 있다.
상기 광학 지문 장치(730)에서, 각각의 시준부 또는 렌즈부는 각각 상기 감지 어레이 중 하나의 광학 감지부에 대응할 수 있고, 대체 가능하게, 상기 시준부 또는 렌즈부와 상기 감지 어레이의 광학 감지부 사이는 일일이 대응되지 않는 관계를 이용하여 모아레 무늬 간섭이 발생하는 것을 감소시킬 수도 있으며, 예컨대 하나의 광학 감지부는 다수 개의 시준부 또는 렌즈부에 대응할 수 있거나, 상기 시준부 또는 렌즈부는 불규칙적으로 배열되는 방식을 사용할 수도 있고, 불규칙적으로 배열된 시준부 또는 렌즈부는 후속 소프트웨어 알고리즘을 통해 각각의 감지부에 의해 검출된 반사광을 보정한다.
기타 대체 구현예에서, 상기 표시 화면(720)은 백라이트 액정 표시 화면 등 비자체 발광 표시 화면을 사용할 수도 있고, 이 경우, 상기 광학 검출 장치(730)는 상기 표시 화면(720)의 표시부를 여기 광원으로 사용할 수 없게 되므로, 상기 광학 검출 장치(730) 내부에 여기 광원을 집적하거나 또는 광학 검출 장치(730) 외부에 여기 광원을 설치하는 것을 통해 광학 지문 검출을 실현하고, 검출 원리는 상술한 설명과 일치한다.
본 발명의 실시예의 지문 수집 방법을 소개하기 전에, 먼저 본 발명의 실시예와 관련된 기술을 소개한다.
지문 수집 장치, 예를 들면 도 1에 도시된 바와 같은 광학 지문 장치(730)에 의해 수집된 손가락의 지문 이미지는 주로 다음과 같은 몇 가지 이미지 성분을 포함한다:
1, 여기 광원에 의해 방출된 광 신호가 손가락의 반사를 거치지 않고 직접 광학 이미징 광 경로를 통과하여 지문 수집 장치에 의해 수집된 이미지 성분(1);
2, 여기 광원에 의해 방출된 광 신호가 손가락 반사를 거친 후 광학 이미징 광 경로를 통과하여 지문 수집 장치에 의해 수집된 이미지 성분(2);
3, 주변광이 광학 이미징 광 경로를 통과한 후 지문 수집 장치에 의해 수집된 이미지 성분(3);
4, 다이 암전류에 의해 생성된 이미지 성분(4).
여기서, 이미지 성분(1)은 여기 광원에 의해 형성된 로컬 이미지이고, 이미지 성분(2)은 지문 정보를 포함하는 이미지 성분이고, 이미지 성분(3) 및 이미지 성분(4)은 간섭 이미지이고, 또한 사용 환경, 사용 빈도, 누름 손가락, 누름 영역 등 요인의 변화에 따라 변화한다.
상술한 설명을 통해 알 수 있듯이, 다이 디자인을 최적화하거나 또는 전형적인 환경에서의 보정 파라미터로 보정하는 방식은 모두 지문 이미지에 대한 주변광, 다이 암전류, 온도 등 요인의 간섭을 효과적으로 제거할 수 없다.
이를 감안하여, 본 발명의 실시예는 지문 이미지에 대한 주변광, 다이 암전류, 온도 등 요인의 간섭을 감소시키는데 도움이 되는 지문 수집 방법을 제공한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 지문 수집 방법(100)의 개략적인 흐름도이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 방법(100)은 다음과 같은 내용을 포함한다:
단계(S101), 제1 지문 이미지 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하며, 상기 제1 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기보다 높다.
다시 말하면, 본 발명의 실시예에서, 제1 지문 이미지를 수집할 때의 여기 광원의 밝기는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 때의 여기 광원의 밝기보다 높거나, 또는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 때, 여기 광원은 소멸된 상태이다.
여기서, 상기 제1 지문 이미지는 밝은 화면 이미지로 칭할 수도 있고, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 어두운 화면 이미지로 칭할 수도 있다. 즉 상기 제1 지문 이미지는 밝은 화면에서 수집한 지문 이미지이고, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 어두운 화면 또는 소멸된 화면에서 수집된 지문 이미지이다.
이해해야 할 것은, 본 발명의 실시예에서, 먼저 제1 지문 이미지를 수집하거나, 또는 먼저 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 수도 있고, 본 발명의 실시예는 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지의 수집 순서를 특별히 제한하지 않는다.
예를 들면, 먼저 노광 파라미터를 제1 노광 파라미터로 설정하고, 제1 노광 파라미터 조건에서 상기 제1 지문 이미지를 수집하거나, 또는 먼저 노광 파라미터를 제2 노광 파라미터로 설정하고, 상기 제2 노광 파라미터 조건에서 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 수도 있으며, 또는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 상이한 노광 파라미터에 대응하고, 상이한 노광 파라미터 조건에서 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 수도 있다.
이해해야 할 것은, 본 발명의 실시예에서, 지문 이미지를 수집할 때 사용한 노광 파라미터는 하나 또는 다수 개일 수 있다. 예를 들면, 노광 파라미터는 노광 시간을 포함하거나, 또는 기타 노광 파라미터를 포함할 수도 있다. 이하, 주로 상기 노광 파라미터가 노광 시간을 포함하는 것을 예로 들어 본 발명의 실시예를 소개하지만, 본 발명의 실시예를 한정하는 것으로 해석해서는 안 되고, 본 발명의 실시예는 기타 노광 파라미터에 따라 어두운 화면 이미지를 보정하여, 간섭 이미지를 얻을 수도 있다.
선택적으로, 본 발명의 실시예에서, 상기 제1 지문 이미지가 대응하는 노광 시간과 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지가 대응하는 노광 시간은 동일할 수 있거나, 상이할 수도 있다. 즉, 동일한 노광 시간을 사용하여 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 수 있다. 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지가 대응하는 노광 시간은 동일할 수 있거나, 상이할 수도 있다. 즉, 동일한 노광 시간을 사용하여 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 수도 있고, 상이한 노광 시간을 사용하여, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 수도 있으며, 본 발명의 실시예는 이에 대해 특별히 제한하지 않는다.
상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 시간 차이가 매우 작으므로, 상기 제1 지문 이미지를 수집하는 환경, 온도 및 다이 암전류 등 간섭 요인 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 환경, 온도 및 다이 암전류 등 간섭 요인은 동일하거나 유사한 것으로 볼 수 있다. 따라서, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 현재의 간섭 조건에서 상기 제1 지문 이미지의 간섭 이미지를 결정한 다음, 상기 간섭 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행함으로써, 환경, 온도 및 다이 암전류 등 요인으로 인한 간섭을 효과적으로 제거할 수 있다.
단계(S102), 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하며, 상기 제3 지문 이미지는 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 간섭 이미지이다.
단계(S103), 상기 제3 지문 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 제4 지문 이미지를 얻는다.
단계(S101)에서의 설명을 통해 알 수 있듯이, 상기 제1 지문 이미지를 수집하는 간섭 요인과 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 간섭 요인이 동일하거나 유사하므로, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제1 지문 이미지의 간섭 이미지, 즉 제3 지문 이미지를 결정한 다음, 상기 제3 지문 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 간섭이 제거된 제4 지문 이미지를 얻을 수 있다.
상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 노광 파라미터와 상기 제1 지문 이미지를 수집하는 노광 파라미터는 불일치할 수 있다는 것을 고려했을 때, 노광 파라미터의 차이에 따라 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 보정하여, 상기 제1 지문 이미지의 노광 파라미터와 동일한 간섭 이미지, 즉 제3 지문 이미지를 결정할 수 있고, 보정 후 얻은 제3 지문 이미지는 노광 차이로 인한 편차가 제거되었고, 이때, 상기 제3 지문 이미지 및 상기 제1 지문 이미지는 동일하거나 유사한 이미지 성분(3) 및 이미지 성분(4)을 포함하는 것으로 판단할 수 있고, 제3 지문 이미지는 이미지 성분(2)을 포함하지 않거나 아주 적게 포함하므로, 상기 제3 지문 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대한 간섭 제거를 진행하면, 주변광, 다이 암전류 및 온도 등 요인으로 인한 간섭을 효과적으로 감소시킬 수 있다. 다시 말하면, 간섭이 제거된 제4 지문 이미지는 실제 지문 이미지에 더 근접한다.
따라서, 본 발명의 실시예의 지문 수집 방법에 따라 수집한 지문 이미지는, 주변광, 다이 암전류 및 온도 등 요인으로 인한 간섭을 감소시키는데 도움이 되어, 광학 지문 시스템의 안정성을 향상시킬 수 있다. 추가적으로, 간섭이 제거된 제4 지문 이미지는 실제 지문 이미지에 더 근접하므로, 상기 제4 지문 이미지에 따라, 지문 인식 또는 지문 인증 등 조작을 진행할 경우, 광학 지문 시스템의 안전성을 향상시킬 수 있다.
선택적으로, 하나의 실시예로서, 단계(S102)는,
상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 대해 평균값을 취하여 제5 지문 이미지를 얻는 단계;
상기 제1 지문 이미지 및 상기 제5 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라, 상기 제3 지문 이미지를 결정하는 단계;를 포함할 수 있다.
본 실시예에서, 상기 제1 지문 이미지는 제1 노광 파라미터를 사용하여 수집한 것이고, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 제2 노광 파라미터를 사용하여 수집한 것이고, 즉, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 동일한 노광 파라미터를 사용하여 수집한 것이고, 상기 제1 노광 파라미터는 제1 노광 시간을 포함하고, 상기 제2 노광 파라미터는 제2 노광 시간을 포함하고, 상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간은 동일하거나 상이하다.
이 경우, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 대해 평균값을 구하여, 신호 대 잡음비가 더 높은 제5 지문 이미지를 얻은 후, 상기 제5 지문 이미지 및 상기 제1 지문 이미지의 노광 파라미터의 차이에 따라, 상기 제3 지문 이미지, 즉 간섭 이미지를 결정할 수 있다.
본 발명의 실시예에서, 신호 대 잡음비가 높은 제5 지문 이미지에 따라, 상기 제3 지문 이미지를 결정하면, 결정된 간섭 이미지의 정확도 및 신뢰도를 높이는데 도움이 된다.
추가적으로, 상기 제1 지문 이미지 및 상기 제5 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라, 상기 제3 지문 이미지를 결정하는 단계는,
상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 동일한 경우, 상기 제5 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계; 또는
상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 상이한 경우, 상기 제5 지문에 이미지 보정 계수를 곱셈하고 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계;를 포함하되, 상기 보정 계수는 상기 제1 노광 파라미터 및 상기 제2 노광 파라미터에 따라 결정된다.
상기 제5 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하는 것은 상기 제5 지문 이미지 중의 각 픽셀의 픽셀 값에 모두 하나의 보정 계수를 곱셈하는 것으로 볼 수 있고, 여기서, 보정 계수를 곱셈한 제5 지문 이미지는 제6 지문 이미지로 한 후, 제6 지문 이미지에서 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하여 제3 지문 이미지를 얻다. 다시 말하면, 제3 지문 이미지 중의 각 픽셀의 픽셀 값은 상기 제6 지문 이미지 중의 픽셀에 대응하는 픽셀 값에서 상기 특정 오프셋 이미지 중 대응하는 픽셀의 픽셀 값을 뺄셈한 것이다.
다시 말하면, 상기 제5 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하는 것은, 상기 제5 지문 이미지 중의 각 픽셀의 픽셀 값에 대해 동일한 비율의 비율 조정을 진행하는 것이고, 제6 지문 이미지에서 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하는 것은 상기 제6 지문 이미지 중의 각 픽셀의 픽셀 값에 대해 특정 오프셋을 진행하는 것이고, 각 픽셀의 오프셋 량은 동일할 수 있고, 상이할 수도 있다.
선택적으로, 본 발명의 실시예에서, 먼저 상기 제5 지문 이미지에서 특정 오프셋 이미지를 뺄셈한 다음, 보정 계수를 곱셈한 후 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정할 수도 있다. 간단히 말하면, 먼저 제1 보정 계수를 곱셈한 후, 제1 오프셋 이미지를 오프셋할 수 있고, 먼저 제2 오프셋 이미지를 오프셋 한 후, 제2 보정 계수를 곱셈할 수도 있고, 또는, 먼저 제3 오프셋 이미지를 오프셋 한 후, 제3 보정 계수를 곱셈하고, 마지막으로 제4 오프셋 이미지를 오프셋할 수도 있다. 본 발명의 실시예는 상기 제5 지문 이미지의 처리과정에 대해 특별히 제한하지 않으며, 각각의 오프셋 이미지 및 각각의 보정 계수는 상기 제5 지문 이미지 및 상기 제1 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라 결정될 수 있다.
선택적으로, 상기 보정 계수는 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간의 비일 수 있으며, 또는 상기 제1 노광 파라미터 및 상기 제2 노광 파라미터 중 기타 노광 파라미터에 따라 결정될 수도 있고, 본 발명의 실시예는 이에 대해 제한하지 않는다.
결론적으로, 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 때 사용한 노광 시간이 동일하면, 상기 제5 지문 이미지를 간섭 이미지로 결정할 수 있으며, 또는 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집할 때 사용한 노광 시간이 상이하면, 상기 제5 지문 이미지를 보정하여, 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 간섭 이미지를 얻을 수 있다.
이해해야 할 것은, 제3 지문 이미지를 결정하는 상술한 예시는 바람직한 구현예일 뿐이며, 본 발명의 실시예는 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 동일한 상황에서, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지 중의 임의의 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하거나, 또는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지 중의 일부 지문 이미지에 대해 평균값을 취하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정할 수도 있으며; 또는 상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 상이한 상황에서, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지 중의 임의의 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제1 지문 이미지의 간섭 이미지로 결정할 수 있으며, 본 발명의 실시예에는 제한을 받지 않는다.
선택적으로, 다른 실시예로서, 상기 단계(S102)는,
상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 보간 또는 피팅 처리하여 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 상기 제3 지문 이미지를 얻는 단계를 포함할 수 있다.
본 실시예에서, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 상이한 노광 파라미터를 사용하여 수집된 것이며, 또는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지가 상이한 노광 시간에 대응하는 경우, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 보간 또는 피팅 등 처리 방식으로 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 제3 지문 이미지를 얻을 수 있다.
특별히, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지가 하나의 제2 지문 이미지를 포함할 경우, 단계(S102)는,
상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 시간이 동일한 경우, 상기 제2 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계; 또는
상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 시간이 상이한 경우, 상기 제2 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하고 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계;를 포함하되, 상기 보정 계수는 상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라 결정된다.
이 경우, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 하나의 제2 지문 이미지만을 포함하고, 예를 들면, 상기 제2 지문 이미지는 긴 노광 시간 또는 짧은 노광 시간의 지문 이미지이면, 상기 제2 지문 이미지 및 제1 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라, 상기 제3 지문 이미지를 결정할 수 있고, 구체적이 실현과정은 상술한 실시예 중의 관련 설명을 참고할 수 있다.
설명드릴 것은, 본 발명의 실시예에 나열된 제1 지문 이미지의 간섭 이미지, 즉 제3 지문 이미지를 결정하는 구현예는, 본 발명의 실시예를 보다 잘 이해하기 위한 것일 뿐, 본 발명의 실시예를 한정하는 것으로 해석해서는 안 되고, 밝은 화면에서 제1 지문 이미지를 수집하고, 또한 어두운 화면 또는 소멸 화면에서 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하고, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 제3 지문 이미지를 결정한 후, 상기 제3 지문 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 간섭 이미지가 제거된 제4 지문 이미지를 얻은 것이기만 하면, 모두 본 발명의 실시예의 보호범위에 해당한다.
선택적으로, 상기 제3 지문 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 제4 지문 이미지를 얻는 단계는,
상기 제1 지문 이미지에서 상기 제3 지문 이미지를 뺄셈한 디퍼렌셜 이미지를, 상기 제4 지문 이미지로 결정하는 단계를 포함한다.
예를 들면, 상기 제1 지문 이미지 중의 각 픽셀의 픽셀 값에서 상기 제3 지문 이미지 중의 대응하는 픽셀의 픽셀 값을 뺄셈할 수 있고, 상기 제4 지문 이미지는 상술한 방법에 따라 얻은 디퍼렌셜 이미지일 수 있다. 즉, 상기 제4 지문 이미지 중의 각 픽셀의 픽셀 값은 상기 제1 지문 이미지 및 상기 제3 지문 이미지 중의 대응하는 픽셀의 픽셀 값의 차이이다.
이하, 도 3 내지 도 4에 도시된 구체적인 실시예를 결합하여, 본 발명의 실시예의 지문 수집 방법을 상세하게 소개한다.
도 3 및 도 4에 도시된 실시예의 구별점은, 도 3에 도시된 실시예에서, 어두운 화면 이미지는 동일한 노광 파라미터 조건에서 수집된 것이고, 즉 N개 어두운 화면 이미지는 동일한 노광 파라미터에 대응하고, 도 4에 도시된 실시예에서, N개 어두운 화면 이미지는 상이한 노광 파라미터에 대응한다.
이해해야 할 것은, 도 3 및 도 4는 본 발명의 실시예의 지문 수집 방법의 상세한 단계 또는 조작을 보여줬고, 이러한 단계 또는 조작은 예시일 뿐, 본 발명의 실시예는 기타 조작을 실행할 수도 있거나 도 3 및 도 4의 다양한 조작에 대한 변형을 실행할 수도 있다. 또한, 도 3 및 도 4 중의 각 단계는 도 3 및 도 4에 나타낸 상이한 순서에 따라 각각 실행될 수 있고, 또한 도 3 및 도 4 중의 모든 조작을 반드시 실행해야 하는 것은 아니다.
도 3에 도시된 바와 같은 지문 수집 방법(200)은 다음과 같은 단계를 포함할 수 있다:
단계(S201), 사람의 손가락으로 광학 이미징 시스템 상의 누름 영역, 예를 들면 핸드폰 화면을 누른다.
단계(S202), 노광 파라미터를 노광 파라미터 0으로 설정하되, 상기 노광 파라미터0은 제1 노광 시간을 포함할 수 있다.
단계(S203), 노광 파라미터 0인 조건에서, 밝은 화면 이미지를 수집한다. 즉, 제1 지문 이미지를 수집한다.
그 중, 상기 밝은 화면 이미지의 노광 시간은 제1 노광 시간이다.
단계(S204), 노광 파라미터를 노광 파라미터 1로 설정하되, 상기 노광 파라미터 1은 제2 노광 시간을 포함할 수 있다.
그 중, 상기 제1 노광 시간은 상기 제2 노광 시간과 동일하거나 상이하다.
단계(S205), 상기 노광 파라미터 1인 조건에서, 어두운 화면 이미지를 수집한다.
예를 들면, 수집된 어두운 화면 이미지는 어두운 화면 이미지(1), 어두운 화면 이미지(2), …, 어두운 화면 이미지(N)를 포함할 수 있고, 그 중, N≥1이고, N개 어두운 화면 이미지의 노광 시간은 상기 제2 노광 시간이고, 여기서 N개 어두운 화면 이미지는 상술한 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 대응한다.
이해해야 할 것은, 본 발명의 실시예에서, 먼저 단계(S204) 및 단계(S205)를 실행한 후, 단계(S202) 및 단계(S203)를 실행할 수도 있다. 즉 먼저 어두운 화면 이미지를 수집한 후, 밝은 화면 이미지를 수집할 수도 있다.
단계(S206)에서, N개 어두운 화면 이미지에 대해 평균값을 취하여, 평균값 이미지를 얻는다.
여기서 평균값 이미지는 상술한 제5 지문 이미지에 대응한다.
단계(S207)에서, 노광 파라미터 0 및 노광 파라미터 1에 따라, 보정 계수를 결정한다.
예를 들면, 상기 보정 계수는 상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간의 비일 수 있다.
단계(S208)에서, 상기 보정 계수에 따라, 상기 평균값 이미지에 대해 노광 보정을 진행하여, 간섭 이미지를 얻는다.
여기서 간섭 이미지는 상술한 제3 지문 이미지에 대응한다. 예를 들면, 상기 평균값 이미지에 보정 계수를 곱셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 간섭 이미지로 결정할 수 있다.
단계(S209)에서, 상기 간섭 이미지에 따라 상기 밝은 화면 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 간섭 이미지가 제거된 지문 이미지, 즉 상술한 제4 지문 이미지를 얻는다.
예를 들면, 밝은 화면 이미지에서 상기 간섭 이미지를 뺄셈한 디퍼렌셜 이미지를, 상기 제4 지문 이미지로 결정할 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예의 지문 수집 방법(300)은 단계(S301)~단계(S306)을 포함할 수 있고, 단계(S301)~단계(S303)의 구체적인 실행 과정은 방법(200) 중 단계(S201)~단계(S203)의 구체적인 실행 과정과 유사하므로, 여기서는 설명을 생략한다.
단계(S304)에서, 노광 파라미터 1~노광 파라미터 N과 같이 N그룹의 노광 파라미터를 설정하고, 각 그룹의 노광 파라미터가 대응하는 노광 시간은 상이하고, N그룹의 상이한 노광 파라미터 조건에서, N개 어두운 화면 이미지, 예를 들면, 어두운 화면 이미지(1), 어두운 화면 이미지(2), …, 어두운 화면 이미지(N)를 수집하고, 그 중 N≥1이다.
단계(S305)에서, 수집된 N개 어두운 화면 이미지에 따라 밝은 화면 이미지의 노광 시간과 동일한 간섭 이미지를 결정한다.
예를 들면, 보간 또는 피팅 방식으로 상기 밝은 화면 이미지의 노광 시간과 동일한 간섭 이미지를 결정할 수 있다.
추가적으로, 단계(S306)에서는, 단계(S305)에서 결정한 간섭 이미지에 따라 밝은 화면 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 간섭 이미지가 제거된 지문 이미지를 얻는다.
예를 들면, 밝은 화면 이미지에서 상기 간섭 이미지를 뺄셈한 디퍼렌셜 이미지를, 상기 제4 지문 이미지로 결정할 수 있다.
선택적으로, 간섭이 제거된 지문 이미지, 즉 제4 지문 이미지는 후속 지문 인식에 사용되거나, 또는 건습도 측정, 또는 누름 영역 분할 등 조작에 사용될 수 있고, 본 발명의 실시예는 상기 제4 지문 이미지의 응용 시나리오에 대해 제한하지 않는다.
도 5는 본 발명의 실시예의 지문 수집 방법의 후속 조작의 개략적인 흐름도이다.
도 5 중의 단계(S401)는 도 3에 도시된 방법(200) 중의 단계(S201), 및 도 4에 도시된 방법(300) 중의 단계(S301)에 대응할 수 있으므로, 여기서는 설명을 생략한다.
단계(S402)에서, 간섭 이미지가 제거된 지문 이미지를 결정한다.
구체적으로, 단계(S402)의 실행과정은 상술한 실시예 중의 관련 설명을 참고할 수 있으므로, 여기서는 설명을 생략한다.
응용 시나리오 1:
단계(S403)에서는, 단계(S402)에서 얻은 지문 이미지를 추가적으로 처리할 수 있다. 예를 들면, 상기 지문 이미지에 대해 보정, 증강 처리 등 조작을 진행할 수 있다.
단계(S404)에서, 처리 후의 지문 이미지를 지문 인식 모듈에 입력하여 지문 인식 또는 지문 등록을 진행한다.
즉 본 발명의 실시예의 지문 수집 방법에 따라 간섭이 제거된 제4 지문 이미지를 얻을 수 있고, 상기 제4 지문 이미지는 제1 지문 이미지에 비해 실제 지문 이미지에 더 근접하므로, 상기 제4 지문 이미지에 따라 지문 인식을 하면, 지문 인식 시스템의 안전성을 향상시키는데 도움이 된다.
응용 시나리오 2:
단계(S405)에서, 간섭 이미지가 제거된 지문 이미지에 대해 추가적으로 처리할 수 있다. 예를 들면, 상기 지문 이미지를 보정하여, 여기 광원의 밝기가 각각 균일하지 않은 등 요인이 지문 이미지에 주는 영향을 제거할 수 있다.
추가적으로, 단계(S406)에서, 처리된 지문 이미지에 대해 누름 영역 분할을 진행한다.
예를 들면, 특정 임계값에 따라 누름 영역의 분할을 진행하고, 누름 영역을 지문 정보를 포함하는 영역, 및 지문 정보를 포함하지 않는 영역으로 분할한다. 상기 지문 이미지는 주변광, 암전류 및 온도 등 요인의 영향을 받지 않으므로, 상기 지문 이미지에 따라 영역 분할을 하면, 영역 분할의 정확성 및 견고성을 향상시키는데 도움이 된다.
응용 시나리오 3:
단계(S407)에서, 상기 간섭 이미지가 제거된 지문 이미지에 대해 건습도 측정을 진행한다.
구체적으로, 간섭 이미지가 제거된 지문 이미지를 건습도 측정 모듈에 입력할 수 있고, 상기 지문 이미지는 주변광, 암전류 및 온도 등 요인의 영향을 받지 않으므로, 상기 지문 이미지에 따라 건습도 측정을 하면, 건습도 측정의 정확성을 향상시킬 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시예의 지문 수집 방법은, 동일한 간섭 조건에서, 밝은 화면 이미지 및 적어도 하나의 어두운 화면 이미지를 수집하고, 상기 적어도 하나의 어두운 화면 이미지에 따라 상기 밝은 화면 이미지의 노광 시간과 동일한 간섭 이미지를 결정하고, 상기 제1 지문 이미지 및 간섭 이미지에 포함된 간섭 이미지 성분이 동일하거나 유사하므로, 상기 간섭 이미지에 따라 밝은 화면 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하면, 주변광, 암전류 및 온도 등 요인이 지문 이미지에 주는 영향을 감소시키는데 도움이 된다.
이상, 도 2 내지 도 5를 결합하여, 본 발명의 방법 실시예에 대해 상세하게 설명했고, 이하, 도 6 내지 도 7을 결합하여, 본 발명의 장치 실시예를 상세하게 설명하며, 이해해야 할 것은, 장치 실시예와 방법 실시예는 서로 대응하고, 유사한 설명은 방법 실시예를 참고할 수 있다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 지문 수집 장치(500)의 개략적인 블록도이고, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 장치(500)는 수집 모듈(510), 결정 모듈(520)을 포함하고,
상기 수집 모듈(510)은, 제1 지문 이미지 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하며, 상기 제1 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기보다 높고;
상기 결정 모듈(520)은, 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하고, 상기 제3 지문 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 제4 지문 이미지를 얻으며, 상기 제3 지문 이미지는 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 간섭 이미지이다.
선택적으로, 일부 실시예에서, 상기 수집 모듈(510)은 구체적으로,
제1 노광 파라미터 조건에서 제1 지문 이미지를 수집하고; 및
제2 노광 파라미터 조건에서 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하고;
상기 제1 노광 파라미터는 제1 노광 시간을 포함하고, 상기 제2 노광 파라미터는 제2 노광 시간을 포함한다.
선택적으로, 일부 실시예에서, 상기 결정 모듈(520)은 구체적으로,
상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 대해 평균값을 취하여 제5 지문 이미지를 얻고;
상기 제1 지문 이미지 및 상기 제5 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라, 상기 제3 지문 이미지를 결정한다.
선택적으로, 일부 실시예에서, 상기 결정 모듈(520)은 또한,
상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 동일한 경우, 상기 제5 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하고; 또는
상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 상이한 경우, 상기 제5 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하고 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하고, 상기 보정 계수는 상기 제1 노광 파라미터 및 상기 제2 노광 파라미터에 의해 결정된다.
선택적으로, 일부 실시예에서, 상기 특정 오프셋 이미지 중의 각 픽셀의 픽셀 값은 0이다
선택적으로, 일부 실시예에서, 상기 보정 계수는 상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간의 비다.
선택적으로, 일부 실시예에서, 상기 수집 모듈(510)은 또한,
제1 노광 파라미터 조건에서 제1 지문 이미지를 수집하고; 및
적어도 하나의 제2 노광 파라미터 조건에서 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하고,
상기 적어도 하나의 제2 노광 파라미터는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와 일일이 대응한다.
선택적으로, 일부 실시예에서, 상기 결정 모듈(520)은 구체적으로,
상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 보간 또는 피팅 처리하여 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 상기 제3 지문 이미지를 얻는다.
선택적으로, 일부 실시예에서, 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 하나의 제2 지문 이미지를 포함하고, 상기 결정 모듈(520)은 구체적으로,
상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 시간이 동일한 경우, 상기 제2 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하고; 또는
상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 시간이 상이한 경우, 상기 제2 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하고 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하고, 상기 보정 계수는 상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라 결정된다.
선택적으로, 일부 실시예에서, 상기 장치(500)는,
상기 제4 지문 이미지에 따라 지문 인식, 건습도 측정 또는 누름 영역 분할을 진행하는 처리 모듈을 더 포함한다.
도 7에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예는 도 6의 장치(500)일 수 있고, 도 2 내지 도 5의 방법 실시예 중의 내용을 실행할 수 있는 단말 장치(600)를 더 제공한다. 상기 단말 장치(600)는, 지문 수집 모듈(610) 및 프로세서(620)를 포함한다.
상기 지문 수집 모듈(610) 및 상기 프로세서(620)는 내부 연결 통로를 통해 상호 통신하고, 상기 지문 수집 모듈(610)은 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집한다. 상기 프로세서(620)는 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하고, 상기 제3 지문 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 제4 지문 이미지를 얻는다.
구체적으로, 상기 지문 수집 모듈(610)은 본 발명의 실시예의 장치(500) 중의 수집 모듈(510)에 대응할 수 있고, 상기 프로세서(620)는 본 발명의 실시예의 장치(500) 중의 결정 모듈(520) 및 처리 모듈에 대응할 수 있으므로, 간결함을 위해, 여기서는 설명을 생략한다.
이해해야 할 것은, 본 발명의 실시예의 프로세서(620)는 신호 처리 능력을 갖는 집적 회로 다이일 수 있다. 실현과정에서, 상술한 방법 실시예의 각 단계는 프로세서 중의 하드웨어의 집적 로직 회로 또는 하드웨어 형식의 명령을 통해 완성될 수 있다. 상술한 프로세서는 범용 프로세서, DSP(Digital Signal Processor), ASIC(Application Specific Integrated Circuit), FPGA(Field Programmable Gate Array) 또는 기타 프로그래머블 로직 디바이스, 별도의 게이트 또는 트랜지스터 로직 디바이스, 별도의 하드웨어 컴포넌트일 수 있다. 본 발명의 실시예에서 공개된 각 방법, 단계 및 로직 블록도를 실현하거나 실행할 수 있다. 범용 프로세서는 마이크로 프로세서일 수 있거나 또는 상기 프로세서는 모든 통상의 프로세서일 수도 있다. 본 발명의 실시예에 공개된 방법의 단계는 하드웨어 프로세서에 의해 실행되어 완성되거나 또는 프로세서 중의 하드웨어 및 소프트웨어의 조합에 의해 실행되어 완성되는 것으로 직접 구현될 수 있다. 소프트웨어는 랜덤 액세스 메모리, 플래시, 리드-온리 메모리, PROM 또는 EEPROM, 레지스터 등 해당 분야에서 잘 알려진 저장 매체에 위치할 수 있다. 상기 저장 매체는 메모리에 위치하며, 프로세서는 메모리의 명령을 실행하고, 하드웨어와 결합하여 상기 방법의 단계를 완성한다.
이해할 수 있는 바, 본 발명의 실시예의 단말 장치(600)는 메모리를 더 포함할 수 있고, 메모리는 휘발성 메모리 또는 비휘발성 메모리일 수 있거나, 또는 휘발성 및 비휘발성 메모리 양자를 포함할 수 있다. 그 중, 비휘발성 메모리는 ROM(Read-Only Memory, ROM), PROM(Programmable ROM), EPROM(Erasable PROM), EEPROM(Electrically EPROM) 또는 플래시 메모리일 수 있다. 휘발성 메모리는 외부 캐시로 사용되는 RAM(Random Access Memory)일 수 있다. 예시적이나 제한적이 아닌 설명에 의하면, 많은 형식의 RAM을 사용될 수 있고, 예를 들면 SRAM(Static RAM), DRAM(Dynamic RAM), SDRAM(Synchronous DRAM), DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM,), ESDRAM(Enhanced SDRAM), SLDRAM(Synchlink DRAM) 및 DR RAM(Direct Rambus RAM)이다. 주의해야 할 것은, 본문에서 설명한 시스템 및 방법의 메모리는 이러한 및 임의의 기타 적절한 종류의 메모리를 포함하나 이에 한하지 않는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 실시예는 하나 또는 다수 개의 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능 저장매체를 더 제공하고, 상기 하나 또는 다수 개의 프로그램은 명령을 포함하고, 상기 명령이 다수 개의 응용 프로그램을 포함하는 휴대용 전자설비에 의해 실행될 경우, 휴대용 전자설비가 도 2 내지 도 5에 도시된 바와 같은 실시예의 방법을 실행할 수 있도록 한다.
본 발명의 실시예는 명령을 포함하는 컴퓨터 프로그램을 더 제공하고, 상기 컴퓨터 프로그램이 컴퓨터에 의해 실행될 경우, 컴퓨터가 도 2 내지 도 5에 도시된 바와 같은 실시예의 방법을 수행할 수 있도록 한다.
본 발명의 실시예는 입출력 인터페이스, 적어도 하나의 프로세서, 적어도 하나의 메모리 및 버스를 포함하는 다이를 더 제공하고, 상기 적어도 하나의 메모리는 명령을 저장하고, 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 적어도 하나의 메모리 중의 명령을 호출함으로써, 도 2 내지 도 5에 도시된 바와 같은 실시예의 방법을 실행한다.
본 발명의 다양한 실시예에서, 상기 각 과정의 순번의 크기는 실행 순서의 선후를 의미하지 않으며, 각 과정의 실행 순서는 그 기능과 내재적 논리에 따라 결정되며, 본 발명의 실시예의 실시 과정에 대해 어떠한 한정도 해서는 안 된다는 점을 이해해야 한다.
당업자는 본문에서 공개한 실시예에서 설명한 각 예시의 유닛 및 연산 단계를 결합하면, 전자식 하드웨어, 또는 컴퓨터 소프트웨어와 전자 하드웨어의 조합으로 실현할 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 이러한 기능을 하드웨어 방식 아니면 소프트웨어 방식으로 실행할지는 기술방안의 특정 응용 및 설계 규제 조건에 의해 결정된다. 당업자는 각각의 특정 응용에 따라 서로 다른 방법으로 상기 기능을 실현할 수 있으나, 이러한 실현을 본 발명의 범위를 초과한 것으로 판단해서는 안 된다.
설명의 편의 및 간결함을 위해, 상술한 시스템, 장치 및 유닛의 구체적인 작동 과정은, 상기 방법의 실시예의 대응 과정을 참조할 수 있음을 당업자는 이해할 것이며, 이에 대해서는 더 이상 설명하지 않는다.
본 발명에서 제공한 여러 실시예에서 개시된 시스템, 장치 및 방법은 다른 방식으로도 실행될 수 있음은 물론이다. 예를 들어 상술한 장치의 실시예는 단지 예시적인 것이며, 예를 들어 상기 유닛의 구분은 단지 논리적 기능을 구분한 것이며, 실제 실현할 때 다르게 구분할 수 있다. 예를 들어, 복수의 유닛 또는 구성 요소는 다른 시스템에 결합시키거나 또는 통합시킬 수 있거나, 또는 일부 특징을 생략하거나 또는 실행하지 않을 수도 있다. 또한, 도시되었거나 또는 논의된 상호 결합 또는 직접 결합 또는 통신 접속은 일부의 인터페이스를 통해 실현될 수 있으며, 장치 또는 유닛 간의 간접 결합 또는 통신 접속은, 전기적으로, 기계적으로 또는 다른 형태로 실현될 수 있다.
상기 분리 부재로 설명되는 유닛은, 물리적으로 분리되는 것일 수도 있고, 아닐 수도 있으며, 유닛으로 도시된 부재들은 물리적 유닛일 수도 있고 아닐 수도 있으며, 한 곳에 위치하거나 또는 복수의 네트워크 유닛 상에 분포될 수도 있다. 실제의 필요에 따라 이러한 유닛 중 일부 또는 전체를 선택하여 본 실시예 방안의 목적을 실현할 수 있다.
또한, 본 발명의 각 실시예에서의 각 기능 유닛은 하나의 처리 유닛에 통합시킬 수 있으며, 또한 각 유닛은 물리적으로 단독으로 존재할 수도 있으며, 또한 2개 이상의 유닛을 하나의 유닛에 통합시킬 수도 있다.
상기 기능을 소프트웨어 기능 유닛의 형태로 실현하거나 독립 제품으로서 판매 또는 사용할 경우, 컴퓨터 판독 가능 저장 매체에 저장할 수 있다. 이러한 이해를 바탕으로, 본 발명의 기술방안은 본질적으로 또는 종래 기술에 대해 기여하는 부분 또는 상기 기술방안의 일부는 소프트웨어 제품의 형태로 구현될 수 있다. 상기 컴퓨터 소프트웨어 제품은 저장 매체에 저장되며, 컴퓨터 장치(예를 들면 퍼스널 컴퓨터, 서버, 또는 네트워크 장치 등)가 본 발명의 각 실시예의 상기 방법의 일부 또는 전부 단계를 수행하도록 복수의 명령을 포함한다. 상술한 저장 매체는 USB플래시 디스크, 모바일 하드디스크, ROM(Read-Only-Memory), RAM(Random Access Memory), 자기 디스크 또는 광 디스크 등 각종 프로그램 코드를 저장할 수 있는 매체를 포함한다.
상술한 내용은 본 발명의 구체적 실시 방식에 불과하며, 본 발명의 보호범위는 이에 한정되지 않고, 당업자가 본 발명에 의해 공개된 기술 범위 내에서 다양한 등가 변경 또는 대체를 쉽게 생각해 낼 수 있고, 이러한 변경 또는 대체는 모두 본 발명의 보호범위에 포함되어야 한다. 따라서, 본 발명의 보호범위는 청구범위를 기준으로 해야 한다.

Claims (22)

  1. 제1 지문 이미지 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 단계 - 상기 제1 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기보다 높음 -;
    상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하는 단계 - 상기 제3 지문 이미지는 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 간섭 이미지임 -; 및
    상기 제3 지문 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 제4 지문 이미지를 얻는 단계
    를 포함하는 지문 수집 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 지문 이미지 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 단계는,
    제1 노광 파라미터 조건에서 상기 제1 지문 이미지를 수집하는 단계; 및
    제2 노광 파라미터 조건에서 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 단계
    를 포함하되,
    상기 제1 노광 파라미터는 제1 노광 시간을 포함하고, 상기 제2 노광 파라미터는 제2 노광 시간을 포함하는, 지문 수집 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하는 단계는,
    상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 대해 평균값을 취하여 제5 지문 이미지를 얻는 단계; 및
    상기 제1 지문 이미지 및 상기 제5 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라, 상기 제3 지문 이미지를 결정하는 단계
    를 포함하는, 지문 수집 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 지문 이미지 및 상기 제5 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라, 상기 제3 지문 이미지를 결정하는 단계는,
    상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 동일한 경우, 상기 제5 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계; 또는
    상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 상이한 경우, 상기 제5 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하고 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계
    를 포함하되,
    상기 보정 계수는 상기 제1 노광 파라미터 및 상기 제2 노광 파라미터에 따라 결정되는, 지문 수집 방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 특정 오프셋 이미지 중의 각 픽셀의 픽셀 값은 0인, 지문 수집 방법.
  6. 제4항 또는 제5항에 있어서,
    상기 보정 계수는 상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간의 비인, 지문 수집 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제1 지문 이미지 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 단계는,
    제1 노광 파라미터 조건에서 상기 제1 지문 이미지를 수집하는 단계; 및
    적어도 하나의 제2 노광 파라미터 조건에서 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 단계
    를 포함하되,
    상기 적어도 하나의 제2 노광 파라미터와 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 일일이 대응하는, 지문 수집 방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하는 단계는,
    상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 보간 또는 피팅 처리하여 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 상기 제3 지문 이미지를 얻는 단계를 포함하는, 지문 수집 방법.
  9. 제1항, 제2항 또는 제7항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 하나의 제2 지문 이미지를 포함하고,
    상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하는 단계는,
    상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 시간이 동일한 경우, 상기 제2 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계; 또는
    상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 시간이 상이한 경우, 상기 제2 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하고 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하는 단계
    를 포함하되,
    상기 보정 계수는 상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라 결정되는, 지문 수집 방법.
  10. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제4 지문 이미지에 따라 지문 인식, 건습도 측정 또는 누름 영역 분할을 진행하는 단계를 더 포함하는 지문 수집 방법.
  11. 수집 모듈, 결정 모듈을 포함하고,
    상기 수집 모듈은 제1 지문 이미지 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하며, 상기 제1 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하는 화면 밝기보다 높고;
    상기 결정 모듈은 상기 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 따라, 제3 지문 이미지를 결정하고, 상기 제3 지문 이미지에 따라 상기 제1 지문 이미지에 대해 간섭 제거를 진행하여, 제4 지문 이미지를 얻으며, 상기 제3 지문 이미지는 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 간섭 이미지인,
    지문 수집 장치.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 수집 모듈은 구체적으로,
    제1 노광 파라미터 조건에서 상기 제1 지문 이미지를 수집하고; 및
    제2 노광 파라미터 조건에서 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하고;
    상기 제1 노광 파라미터는 제1 노광 시간을 포함하고, 상기 제2 노광 파라미터는 제2 노광 시간을 포함하는, 지문 수집 장치.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 결정 모듈은 구체적으로,
    상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 대해 평균값을 취하여 제5 지문 이미지를 얻고;
    상기 제1 지문 이미지 및 상기 제5 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라, 상기 제3 지문 이미지를 결정하는, 지문 수집 장치.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 결정 모듈은,
    상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 동일한 경우, 상기 제5 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하거나; 또는
    상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간이 상이한 경우, 상기 제5 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하고 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하고,
    상기 보정 계수는 상기 제1 노광 파라미터 및 상기 제2 노광 파라미터에 의해 결정되는, 지문 수집 장치.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 특정 오프셋 이미지 중의 각 픽셀의 픽셀 값은 0인, 지문 수집 장치.
  16. 제14항 또는 제15항에 있어서,
    상기 보정 계수는 상기 제1 노광 시간 및 상기 제2 노광 시간의 비인, 지문 수집 장치.
  17. 제11항에 있어서,
    상기 수집 모듈은 또한,
    제1 노광 파라미터 조건에서 상기 제1 지문 이미지를 수집하고; 및
    적어도 하나의 제2 노광 파라미터 조건에서 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 수집하고,
    상기 적어도 하나의 제2 노광 파라미터는 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와 일일이 대응하는, 지문 수집 장치.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 결정 모듈은 구체적으로,
    상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지를 보간 또는 피팅 처리하여 상기 제1 지문 이미지의 노광 시간과 동일한 상기 제3 지문 이미지를 얻는, 지문 수집 장치.
  19. 제11항, 제12항 또는 제17항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 하나의 제2 지문 이미지를 포함하고,
    상기 결정 모듈은 구체적으로,
    상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 시간이 동일한 경우, 상기 제2 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하거나; 또는
    상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 시간이 상이한 경우, 상기 제2 지문 이미지에 보정 계수를 곱셈하고 특정 오프셋 이미지를 뺄셈하여 얻은 지문 이미지를 상기 제3 지문 이미지로 결정하고,
    상기 보정 계수는 상기 제1 지문 이미지 및 상기 제2 지문 이미지의 노광 파라미터에 따라 결정되는, 지문 수집 장치.
  20. 제11항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제4 지문 이미지에 따라 지문 인식, 건습도 측정 또는 누름 영역 분할을 진행하는 처리 모듈을 더 포함하는 지문 수집 장치.
  21. 제11항 내지 제20항 중 어느 한 항에 따른 상기 지문 수집 장치를 포함하는 다이.
  22. 제11항 내지 제20항 중 어느 한 항에 따른 상기 지문 수집 장치를 포함하는 단말 장치.
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