KR20190021588A

KR20190021588A - Digital transducer

Info

Publication number: KR20190021588A
Application number: KR1020170106501A
Authority: KR
Inventors: 구치욱; 김민재; 송운식; 강해권; 김태희
Original assignee: 주식회사 비츠로테크
Priority date: 2017-08-23
Filing date: 2017-08-23
Publication date: 2019-03-06
Also published as: KR101968627B1

Abstract

The present invention relates to a digital converter and, more specifically, to a digital converter which can secure stability in measurement due to errors in processing digital data by verifying errors in processing data when analog signals measured in a direct current system are converted into digital signals and transmitted by network communication.

Description

[0001] DIGITAL TRANSDUCER [0002] BACKGROUND OF THE INVENTION [0003]

본 발명은 디지털 변환기에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 직류계통에서 계측된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하고 네트워크 통신으로 전송할 때, 데이터 처리 오류를 검증함으로써 디지털 데이터 처리 오류에 의한 계측 안정성을 확보할 수 있는 디지털 변환기에 관한 것이다. The present invention relates to a digital converter, and more particularly, to a digital converter that converts an analog signal measured in a DC system to a digital signal and verifies data processing errors when transmitting the digital signal through a network communication. To a digital converter.

기존 직류계통에서 계통의 전압/전류 계측 시 직류 전류변류기 및 전압변성기(DC CT/PT)에 대한 기준 정격이 없어, DC CT/PT와 직류계통 지능형 전자장치(IED: Intelligent Electronic Device) 제품마다 계측 출력 및 입력 정격이 상이하여 아날로그 변환기(Transducer)를 통해 DC CT/PT의 아날로그 출력 계측 신호를 크기 변환 또는 신호 변환(전압을 전류, 전류를 전압으로 변환)하여 직류계통 IED의 계측 입력 정격에 맞추어 입력하게 되는데, 이러한 아날로그 신호 변환 과정 시 계측 오차가 포함될 수 있는 문제점을 가지고 있다.DC CT / PT and DC system Intelligent Electronic Device (IED: Intelligent Electronic Device) measurement for each product, because there is no standard reference for DC current transformer and voltage transformer (DC CT / PT) Because the output and input ratings are different, the analog output measurement signal of DC CT / PT is converted into size or signal conversion (voltage is converted into current and current is converted into voltage) through an analog transducer to match the measurement input rating of DC system IED And the measurement error may be included in the analog signal conversion process.

또한, 기존 현장설비에서는 계측신호 전송 시, 변류기 및 변성기와 변환기가 동축케이블에 의해 결선되어 아날로그 계측 신호를 IED로 전송하게 되는데, 동축케이블에 의한 결선으로 현장 노이즈 및 서지에 의해 계측 정밀도가 떨어질 수 있으며, 변환기에 의한 계측 오차가 포함될 수 있는 문제점을 가지고 있다. In addition, in the existing field facilities, when transmitting the measurement signal, the current transformer and the transformer are connected by the coaxial cable and the analog measurement signal is transmitted to the IED. Due to the connection by the coaxial cable, measurement accuracy may be deteriorated by the field noise and surge And there is a problem that the measurement error due to the converter can be included.

이때, 변성기 한 대당 변환기가 한 대가 필요하기 때문에, 전압, 전류 계측지점이 늘어나게 되면 배전반에서 변환기가 다수 필요하게 된다. 다시 말해, 한 대의 변환기가 계측 신호를 여러 대의 IED에 병렬로 신호를 전송할 수 없기 때문에 동일한 지점의 계측 신호를 다른 개소에서 사용하기 위해서는 추가적인 DC CT/PT와 변환기가 필요하며 동축케이블의 길이가 길어져 계측 정밀도에 영향을 미칠 수 있다. In this case, since one transformer is required per transformer, when the voltage and current measurement points increase, a plurality of transformers are required in the switchboard. In other words, since one transducer can not transmit a measurement signal in parallel to several IEDs, additional DC CT / PT and transducer are required to use the same measurement signal at another location, and the length of the coaxial cable becomes longer It may affect measurement accuracy.

한편, 한국등록특허 제10-1443202호(선행문헌 1)에서는 다수의 아날로그 계측 신호를 하나의 머징유닛(Merging Unit)에서 입력 받아, 디지털 계측 신호로 변환하고, 지능형 전자장치로 데이터를 전송하는 기술에 대해 개시하고 있다. Korean Patent No. 10-1443202 (Prior Art 1) discloses a technique of receiving a plurality of analog measurement signals from one merging unit, converting the analog measurement signals into digital measurement signals, and transmitting the data to the intelligent electronic device .

도1을 참조하여 설명하면, 머징유닛은 변전소 내 프로세스 레벨(Process Level)에 적용되며 전압, 전류변성기(CT/PT: Current Transformer, Potential Transformer)의 아날로그 신호를 입력 받아 아날로그-디지털(A/D) 변환 후 IEC 61850 9-2 Sampled Value의 형태로 프로세스 버스를 통해 베이 레벨(Bay Level)의 보호제어용 지능형 전자장치(IED, Intelligent Electronic Device)로 전송하는 장치이다.1, the merging unit is applied to a process level in a substation and receives an analog signal of a voltage / current transformer (CT / PT: current transformer, potential transformer) ) After conversion, IEC 61850 9-2 is a device for transferring to Bay Level Intelligent Electronic Device (IED) for protection control through process bus in the form of sampled value.

그러나, 상기 머징유닛은 데이터를 처리하는 과정에서 오류가 발생할 때, 이를 검증할 수 있는 기술에 대해 개시되지 않으며, 장치의 성능을 확인하기 위해서는 실제 계측을 통해 확인해야하는 단점을 가지고 있다. However, the merging unit does not disclose a technique for verifying an error when data is processed, and has a disadvantage in that it must be verified through actual measurement to check the performance of the device.

한국등록특허 제10-1443202호(2014.09.22. 공고)Korean Registered Patent No. 10-1443202 (Announced 2014.09.22)

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 직류계통 전압/전류 계측을 위해 동축 케이블을 사용하는 아날로그 변환기(Transducer)에서 광케이블을 사용하는 네트워크 통신 기반의 SV(Sampled Value) 데이터 전송 방식의 직류용 디지털 변환기를 제공하는 것을 목적으로 한다. DISCLOSURE Technical Problem Accordingly, the present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide a system and method for transmitting a sampled value (SV) data based on a network communication using an optical cable in an analog transducer using a coaxial cable for DC system voltage / And to provide a DC-to-DC converter of the present invention.

또한, 본 발명은 아날로그 데이터 입력, 디지털 데이터 변환 및 처리, 디지털 데이터 통신 기능을 하나의 디바이스로 통합 처리 할 수 있는 디지털 변환기를 제공함에 있다. The present invention also provides a digital converter capable of integrating analog data input, digital data conversion and processing, and digital data communication functions into one device.

또한, 본 발명은 메모리를 다중화하여, 디지털 계측 데이터의 오류를 검증함으로써, 계측 안정성을 확보할 수 있는 디지털 변환기를 제공함에 있다. The present invention also provides a digital converter capable of securing measurement stability by multiplexing memories and verifying errors in digital measurement data.

또한, 본 발명은 샘플링부에서 가상의 계측 데이터 생성 기능을 통해 현장에서 실제 아날로그 전압/전류 입력 없이도 디지털 변환기의 데이터 전송 건전성 시험 및 IED의 계측/계전 시험이 가능한 디지털 변환기를 제공함에 있다. In addition, the present invention provides a digital converter capable of performing a data transmission integrity test of a digital converter and a measurement / relay test of an IED without actually inputting an analog voltage / current through a virtual measurement data generating function in a sampling unit.

본 발명은 직류계통으로부터 계측된 아날로그 신호를 입력받는 아날로그 입력부(100); 상기 아날로그 신호를 양자화하여 디지털 계측 데이터로 변환하는 샘플링부(200); 양자화된 상기 디지털 계측 데이터를 저장하는 메모리부(300); 네트워크 통신 기반의 프로세스 버스를 통하여, 상기 메모리부(300)에 저장된 디지털 계측 데이터를 지능형 전자장치(500)로 전송하는 통신부(400); 를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to an analog input unit (100) for receiving an analog signal measured from a DC system; A sampling unit 200 for quantizing the analog signal and converting the digital signal into digital measurement data; A memory unit 300 for storing the quantized digital measurement data; A communication unit 400 for transmitting the digital measurement data stored in the memory unit 300 to the intelligent electronic device 500 via a process bus based on a network communication; And a control unit.

또한, 상기 메모리부(300)는 적어도 2개 이상의 데이터 메모리로 구성되는 것을 특징으로 한다. In addition, the memory unit 300 may include at least two data memories.

또한, 상기 통신부(400)는 상기 적어도 2개 이상의 데이터 메모리 중 하나를 기본 데이터 메모리로 설정하는 것을 특징으로 한다. In addition, the communication unit 400 may set one of the at least two data memories as a basic data memory.

또한, 상기 통신부(400)는 상기 기본 데이터 메모리에서 계측 데이터를 읽어 들인 후, 데이터 처리 오류를 검증하는 것을 특징으로 한다. In addition, the communication unit 400 reads the measurement data from the basic data memory, and then verifies a data processing error.

또한, 상기 통신부(400)는 상기 기본 데이터 메모리의 계측 데이터 오류 발견 시, 또 다른 하나의 데이터 메모리에서 상기 기본 데이터 메모리에 저장된 동일한 계측 데이터를 읽어 들여 데이터 처리 오류를 검증하는 것을 특징으로 한다.The communication unit 400 reads the same measurement data stored in the basic data memory in another data memory and verifies a data processing error when a measurement data error in the basic data memory is detected.

또한, 상기 통신부(400)는 상기 기본 데이터 메모리의 데이터 처리 오류가 기 설정된 횟수 이상 발생한 경우, 상기 기본 데이터 메모리를 에러로 표시하고, 보조 데이터 메모리로 전환하고, 또 다른 하나의 데이터 메모리를 기본 데이터 메모리로 재설정하는 것을 특징으로 한다. If the data processing error of the basic data memory occurs more than a predetermined number of times, the communication unit 400 displays the basic data memory as an error, switches to the auxiliary data memory, And resetting to the memory.

또한, 상기 샘플링부(200)는 가상의 계측 데이터를 생성하는 가상 계측 데이터 생성부(210);를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the sampling unit 200 may further include a virtual measurement data generation unit 210 for generating virtual measurement data.

또한, 상기 메모리부(300)는 상기 가상 계측 데이터 생성부(210)에서 생성된 가상의 계측 데이터를 저장하며, 상기 통신부(400)는 상기 메모리부(300)에 저장된 가상의 계측 데이터를 읽어 들여, 데이터 처리 오류를 검증하는 것을 특징으로 한다.The memory unit 300 stores virtual measurement data generated by the virtual measurement data generation unit 210 and the communication unit 400 reads virtual measurement data stored in the memory unit 300 , And verifies a data processing error.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명의 실시 예에 따르면, 디지털변환기는 DC CT/PT 출력 신호를 입력 받아 곧바로 양자화 하여 광케이블을 통한 통신을 이용하여 직류용 IED로 전송함에 따라, 기존의 아날로그 변환기가 DC CT/PT 출력 신호를 또 다시 아날로그 신호 변환하는 과정에서 발생하는 계측 오차를 개선하는 효과가 있다.As described above, according to the embodiment of the present invention, the digital converter receives the DC CT / PT output signal, directly quantizes the DCT / PT output signal, and transmits it to the DC IED using the communication via the optical cable. It is possible to improve the measurement error generated in the process of converting the analog / PT output signal again.

또한, 본 발명은 메모리를 다중화하여, 디지털 계측 데이터의 오류를 검증함으로써, 계측 안정성을 확보할 수 있는 효과가 있다. Further, the present invention has an effect of securing measurement stability by multiplexing memories and verifying errors of digital measurement data.

또한, 본 발명은 샘플링부에서 가상의 계측 데이터 생성 기능을 통해 현장에서 실제 아날로그 전압/전류 입력 없이도 디지털 변환기의 데이터 전송 건전성 시험 및 IED의 계측/계전 시험이 가능한 효과가 있다. Further, the present invention has an effect that the data transmission integrity test of the digital converter and the measurement / relay test of the IED can be performed without the actual analog voltage / current input in the field through the virtual measurement data generation function in the sampling unit.

도1은 종래의 머징유닛에 관한 도면
도2는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 네트워크 통신기반의 직류계통 계측용 디지털 변환기에 관한 도면1 is a view of a conventional merging unit
2 is a diagram of a digital converter for measuring a DC system based on a network communication according to a preferred embodiment of the present invention;

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.While the invention is susceptible to various modifications and alternative forms, specific embodiments thereof are shown by way of example in the drawings and will herein be described in detail. It should be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular embodiments, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention.

각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may also be referred to as a first component.

및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.And / or < / RTI > includes any combination of a plurality of related listed items or any of a plurality of related listed items.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.It is to be understood that when an element is referred to as being "connected" or "connected" to another element, it may be directly connected or connected to the other element, .

반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.On the other hand, when an element is referred to as being "directly connected" or "directly connected" to another element, it should be understood that there are no other elements in between.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다.The terminology used in this application is used only to describe a specific embodiment and is not intended to limit the invention.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, the terms "comprises" or "having" and the like are used to specify that there is a feature, a number, a step, an operation, an element, a component or a combination thereof described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다.Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs.

일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Terms such as those defined in commonly used dictionaries are to be interpreted as having a meaning consistent with the contextual meaning of the related art and are to be interpreted as either ideal or overly formal in the sense of the present application Do not.

이하에서는 도면을 참조하여, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 네트워크 통신기반의 직류계통 계측용 디지털 변환기에 대하여 상세히 설명하기로 한다. 또한, 이하에서 종래 주지된 사항에 대한 설명은 본 발명의 요지를 명확히하기 위해 생략하거나 간단히 한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a digital communication system based on a network communication according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following description of the present invention, reference will be made to the accompanying drawings.

도2는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 네트워크 통신기반의 직류계통 계측용 디지털 변환기에 관한 도면에 관한 것이다. 2 is a diagram illustrating a digital communication system for measuring a DC system based on a network communication according to a preferred embodiment of the present invention.

도2에서 보는 바와 같이, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 디지털 변환기는 아날로그 입력부(100), 샘플링부(200), 메모리부(300) 및 통신부(400)로 이루어진다. 2, the digital converter according to an exemplary embodiment of the present invention includes an analog input unit 100, a sampling unit 200, a memory unit 300, and a communication unit 400.

아날로그 입력부(100)는 직류계통으로부터 계측된 아날로그 신호를 입력받는다. 더욱 상세하게 설명하면, 상기 아날로그 입력부(100)는 직류계통에서 전압/전류 변성기(DC CT/PT: Current Transformer, Potential Transformer)을 통해 아날로그 신호가 다수의 채널로 입력된다. 또한, 아날로그 입력부(100)는 제품마다 상이한 DC CT/PT의 다양한 출력 신호를 수용 할 수 있다.The analog input unit 100 receives the analog signal measured from the DC system. More specifically, the analog input unit 100 receives analog signals through a plurality of channels through a DC / PT (Current Transformer, Potential Transformer) in a DC system. Also, the analog input unit 100 can receive various output signals of different DC CT / PT for each product.

상기 아날로그 입력부(100)로 입력된 아날로그 신호는 상기 절연(Isolation)을 통해 직류계통과 연결된 아날로그 입력부(100)와 샘플링부(200)를 포함한 전자회로 부분이 전기적으로 분리되고, 필터(Filter)를 통해 고조파가 제거된 후 샘플링부(200)로 전달된다. 이때, 상기 아날로그 입력부(100)는 2개 이상의 아날로그 신호를 동시 입력 및 처리가 가능하다. 상기 필터는 Low Pass Filter를 사용하여, 노이즈 신호(Burst, Surge)를 제거하여, 지능형 전자장치의 노이즈 신호에 의한 오작동을 방지할 수 있다. The analog signal input to the analog input unit 100 is electrically separated from the electronic circuit unit including the analog input unit 100 connected to the DC system through the isolation and the sampling unit 200, After the harmonics are removed, the harmonics are transferred to the sampling unit 200. At this time, the analog input unit 100 can simultaneously input and process two or more analog signals. The filter can eliminate a noise signal (Burst, Surge) by using a low pass filter to prevent a malfunction caused by a noise signal of the intelligent electronic device.

샘플링부(200)는 상기 아날로그 입력부(100)에 입력된 상기 아날로그 신호를 양자화하여, 디지털 계측 데이터로 변환한다. 더욱 상세하게 설명하면, 상기 샘플링부(200)는 다수 채널의 아날로그 신호를 고속의 데이터 처리 기술을 통해 동시에 정주기로 양자화하여 디지털 신호로 변환한다. 또한, 상기 샘플링부(200)는 양자화된 디지털 신호를 통신부(400)에 전달하기 위해 다수의 데이터 메모리에 모두 병렬 저장한다.The sampling unit 200 quantizes the analog signal input to the analog input unit 100 and converts the quantized analog signal into digital measurement data. More specifically, the sampling unit 200 simultaneously quantizes the analog signals of a plurality of channels through a high-speed data processing technique at regular intervals to convert the quantized analog signals into digital signals. In addition, the sampling unit 200 stores the quantized digital signals in parallel in a plurality of data memories in order to transmit them to the communication unit 400.

즉, 상기 샘플링부(200)는 직류 전압/전류 아날로그 계측 신호를 고속의 데이터 처리 기술을 통해 정주기로 양자화하여 디지털 신호로 변환하고, 메모리부(300)에 상기 디지털 신호를 저장한다.That is, the sampling unit 200 quantizes the DC voltage / current analog measurement signals at regular intervals through a high-speed data processing technique, converts the DC voltage / current analog measurement signals into digital signals, and stores the digital signals in the memory unit 300.

메모리부(300)는 양자화된 상기 디지털 신호가 저장된다. 여기서, 상기 메모리부(300)는 적어도 2개 이상의 데이터 메모리로 구성될 수 있으며, 상기 데이터 메모리가 2개로 구성되는 것이 바람직하다. 이때, 각각의 데이터 메모리는 상기 디지털 신호가 각각 저장된다. 이는 데이터 처리에 오류를 검증하기 위한 것으로, 하기에서 상술한다. The memory unit 300 stores the quantized digital signal. Here, the memory unit 300 may include at least two data memories, and the data memories may include two data memories. At this time, each of the data memories stores the digital signals. This is for verifying errors in data processing, which will be described later.

통신부(400)는 네트워크 통신 기반의 프로세스 버스를 통하여, 상기 메모리부(300)에 저장된 디지털 신호를 지능형 전자장치(500)로 전송한다. The communication unit 400 transmits the digital signal stored in the memory unit 300 to the intelligent electronic device 500 through a process bus based on a network communication.

또한, 상기 통신부(400)는 상기 적어도 2개 이상의 데이터 메모리 중 하나를 기본 데이터 메모리로 설정할 수 있다. Also, the communication unit 400 may set one of the at least two data memories as a basic data memory.

더욱 상세하게 설명하면, 상기 통신부(400)는 상기 메모리부(300)에서 다수의 데이터 메모리 중 하나의 데이터 메모리를 기본 데이터 메모리로 설정한 후, 상기 기본 데이터 메모리에 저장된 디지털 신호를 읽어 들인다. 이때, 상기 통신부(400)는 상기 기본 데이터 메모리에서 디지털 신호를 읽어 들인 후, 데이터 처리 오류를 검증하기 위해 Checksum 기능을 수행한다. More specifically, the communication unit 400 sets one of a plurality of data memories as a basic data memory in the memory unit 300, and then reads the digital signals stored in the basic data memory. At this time, the communication unit 400 reads a digital signal from the basic data memory and performs a checksum function to verify a data processing error.

여기서, 상기 통신부(400)는 상기 기본 데이터 메모리의 디지털 신호 데이터 오류 발견 시, 즉시 또 다른 하나의 데이터 메모리에서 상기 기본 데이터 메모리에 저장된 것과 동일한 디지털 신호 데이터를 읽어 들여 데이터 처리 오류를 검증하기도 한다. 또한, 상기 통신부(400)는 오류가 발생한 기본 데이터 메모리에 대해서는 해당 메모리의 Checksum 에러를 로깅하고, 사용자가 인지할 수 있도록 표시한다. When the digital signal data error of the basic data memory is detected, the communication unit 400 reads the same digital signal data stored in the basic data memory in another data memory immediately to verify a data processing error. Also, the communication unit 400 logs a Checksum error of the memory in the basic data memory in which an error has occurred, and displays it so that the user can recognize it.

또한, 상기 통신부(400)는 상기 기본 데이터 메모리의 데이터 처리 오류가 기 설정된 횟수 이상 발생한 경우, 상기 기본 데이터 메모리를 에러로 표시하고, 보조 데이터 메모리로 전환한다. 또한, 상기 통신부(400)는 또 다른 하나의 데이터 메모리를 기본 데이터 메모리로 재설정한다. 만약, 상기 메모리부(300)의 데이터 메모리가 모두 문제가 발생하는 경우, 제품에 기능이 불가능하다고 표시한다.In addition, when the data processing error of the basic data memory occurs more than a predetermined number of times, the communication unit 400 displays the basic data memory as an error and switches to the auxiliary data memory. In addition, the communication unit 400 resets another data memory to the basic data memory. If all of the data memories of the memory unit 300 have a problem, it indicates that the function of the product is impossible.

상기 통신부(400)는 취득한 디지털 신호 데이터를 IEC 61850-9-2 프로토콜 기반의 통신 프레임으로 변환하고, 프로세스 버스 네트워크를 통해 데이터를 정주기로 전송한다. 이때, 데이터 전송 주기는 기본적으로 IEC 61850-9-2 프로토콜에 명시된 250us 주기로 전송하는 것이 바람직하다. 또한, 상기 통신부(400)는 샘플링부(200)의 샘플링 주기가 250us 보다 정밀한 경우, 다수의 샘플링 데이터를 동일한 프레임으로 변환하여 전송한다. 이러한, 상기 통신부(400)는 네트워크 통신을 통해 디지털 계측 데이터를 다수의 IED(500)에 병렬 전송을 할 수 있다. 상기 IEC 61850-9-2 프로토콜 기반의 통신 기술은 종래에 널리 사용되고 있는 기술이기 때문에, 상세한 설명은 생략한다.The communication unit 400 converts the acquired digital signal data into a communication frame based on the IEC 61850-9-2 protocol, and transmits the data through the process bus network at regular intervals. At this time, it is preferable that the data transmission period is basically transmitted in a period of 250us specified in the IEC 61850-9-2 protocol. In addition, when the sampling period of the sampling unit 200 is more precise than 250 us, the communication unit 400 converts a plurality of sampling data into the same frame and transmits the same. The communication unit 400 can transmit the digital measurement data to the plurality of IEDs 500 in parallel through the network communication. Since the communication technology based on the IEC 61850-9-2 protocol is widely used in the art, a detailed description thereof will be omitted.

본 발명의 또 다른 일 실시예의 디지털 변환기는 샘플링부(200)에 가상 계측 데이터 생성부(210)가 더 구성될 수 있다. The digital converter according to another embodiment of the present invention may further include a virtual measurement data generation unit 210 in the sampling unit 200.

상기 가상 계측 데이터 생성부(210)는 가상의 계측 데이터를 생성하여, 메모리부(300)에 전달한다. The virtual measurement data generation unit 210 generates virtual measurement data and transmits the virtual measurement data to the memory unit 300.

더욱 상세하게 설명하면, 상기 가상 계측 데이터 생성부(210)는 가상 데이터 테스트 기능을 활성화하기 위해, 샘플링 주기와 동일한 가상의 계측 데이터를 생성한다. 이후, 상기 가상 계측 데이터 생성부(210)는 상기 가상의 계측 데이터를 통신부(400)에 전달하기 위해 메모리부(300)에 저장한다. 이때, 상기 메모리부(300)는 상기 가상 계측 데이터 생성부(210)에서 생성된 가상의 계측 데이터를 저장하며, 상기 통신부(400)는 상기 메모리부(300)에 저장된 가상의 계측 데이터를 읽어 들여, 데이터 처리 오류를 검증한다. 즉, 상기 통신부(400)는 상기 데이터 메모리에 저장된 가상의 계측 데이터를 읽어 들여, 데이터 처리 오류를 검증하기 위해 Checksum 기능을 수행한다. 이때, 상기 통신부(400)는 오류가 발생한 데이터 메모리에 대해서는 해당 메모리의 Checksum 에러를 로깅하고, 사용자가 인지할 수 있도록 표시한다. More specifically, the virtual measurement data generation unit 210 generates virtual measurement data equal to the sampling period in order to activate the virtual data test function. Then, the virtual measurement data generation unit 210 stores the virtual measurement data in the memory unit 300 in order to deliver the virtual measurement data to the communication unit 400. At this time, the memory unit 300 stores virtual measurement data generated by the virtual measurement data generation unit 210, and the communication unit 400 reads virtual measurement data stored in the memory unit 300 , And verifies data processing errors. That is, the communication unit 400 reads virtual measurement data stored in the data memory and performs a checksum function to verify a data processing error. At this time, the communication unit 400 logs a Checksum error of the corresponding memory in the data memory in which the error has occurred, and displays it so that the user can recognize it.

이러한, 본 발명의 가상 계측 데이터 생성부(210)는 실제 아날로그 계측 데이터 입력 없이도, 가상 계측 데이터 전송을 통해 디지털 변환기와 IED(500) 간의 통신 건전성 시험 및 IED(500)의 계측/계전 시험을 가능하게 할 수 있다. The virtual measurement data generation unit 210 of the present invention can perform the communication integrity test between the digital converter and the IED 500 and the measurement / relay test of the IED 500 through the virtual measurement data transmission without inputting the actual analog measurement data. .

[도면부호][Reference Numerals]

100 : 아날로그 입력부100: analog input section

200 : 샘플링부200: Sampling unit

210 : 가상 계측 데이터 생성부210: virtual measurement data generation unit

300 : 메모리부300:

400 : 통신부400:

500 : 지능형 전자장치500: Intelligent electronic device

Claims

An analog input unit 100 receiving an analog signal measured from a DC system;
A sampling unit 200 for quantizing the analog signal and converting the digital signal into digital measurement data;
A memory unit 300 for storing the quantized digital measurement data;
A communication unit 400 for transmitting the digital measurement data stored in the memory unit 300 to the intelligent electronic device 500 via a process bus based on a network communication;
And a digital-to-analog converter for DC-based measurement based on the network communication.

The method according to claim 1,
The memory unit 300
Wherein the at least two data memories comprise at least two data memories.

3. The method of claim 2,
The communication unit 400
Wherein one of said at least two data memories is set as a basic data memory.

The method of claim 3,
The communication unit 400
Reads the measurement data from the basic data memory, and verifies a data processing error. The digital-to-analog converter for DC system measurement based on network communication.

5. The method of claim 4,
The communication unit 400
And when the measurement data error of the basic data memory is found, the same measurement data stored in the basic data memory is read from another data memory to verify a data processing error, .

6. The method of claim 5,
The communication unit 400
Wherein when the data processing error of the basic data memory occurs more than a predetermined number of times, the basic data memory is displayed as an error, the main data memory is switched to the auxiliary data memory, and the other data memory is reset to the basic data memory Digital converter for measurement of DC system based on network communication.

The method according to claim 1,
The sampling unit 200
A virtual measurement data generation unit 210 for generating virtual measurement data;
Further comprising: a digital-to-analog converter for DC-based measurement based on network communication.

8. The method of claim 7,
The memory unit 300
Stores the virtual measurement data generated by the virtual measurement data generation unit 210,
The communication unit 400
Reads the virtual measurement data stored in the memory unit (300), and verifies a data processing error. The digital converter for a DC system measurement based on network communication.