KR20180120828A - Protective film compound manufacturing method and transparent electrode manufacturing method - Google Patents

Protective film compound manufacturing method and transparent electrode manufacturing method Download PDF

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KR20180120828A
KR20180120828A KR1020170054173A KR20170054173A KR20180120828A KR 20180120828 A KR20180120828 A KR 20180120828A KR 1020170054173 A KR1020170054173 A KR 1020170054173A KR 20170054173 A KR20170054173 A KR 20170054173A KR 20180120828 A KR20180120828 A KR 20180120828A
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Abstract

The present invention relates to a method for producing a protective film composition, and a method for producing a protective film for metal fibers. According to an embodiment of the present invention, the method for producing the protective film composition comprises the following steps: preparing a solvent containing ethanol; adding an alkali metal salt and an ultraviolet resin to the solvent; and dispersing the alkali metal salt and the ultraviolet resin in the solvent. According to the present invention, it is possible to increase durability and lifespan of transparent electrodes.

Description

보호막 조성물의 제조방법 및 투명 전극의 제조방법{PROTECTIVE FILM COMPOUND MANUFACTURING METHOD AND TRANSPARENT ELECTRODE MANUFACTURING METHOD}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a transparent electrode composition,

본 발명은 보호막 조성물의 제조방법 및 투명 전극의 제조방법에 관한 것이다. The present invention relates to a process for producing a protective film composition and a process for producing a transparent electrode.

각종 제품, 전자기기, 전자부품 또는 그 밖의 다양한 산업에서 쓰이는 형태를 갖는 거의 모든 물질은 잦은 긁힘 환경, 물 또는 열 등과 같은 요소에 노출되어 있어, 스크래치 등으로 인한 마모, 충격 및 오염과 부식 등으로 인한 화학적 변화로 인하여 막대한 경제적 손실이 발생하는 문제가 있다. 따라서 내마모성, 내충격성, 내화학성, 내습성, 내염성, 내식성 및 내후성 등의 기능성을 갖는 도료 조성물을 보호하고자 하는 표면에 도포 또는 처리하여 상기의 문제를 최소화하는 방법들에 대한 연구는 상당한 수준에 이르고 있다.Almost all materials that are used in various products, electronic devices, electronic components or various industries are exposed to frequent scratching environment, water or heat elements, and are subject to wear, impact, contamination and corrosion due to scratches There is a problem in that a great economic loss occurs due to the chemical change due to the chemical change. Therefore, studies on methods for minimizing the above problems by applying or treating a coating composition having functions such as abrasion resistance, impact resistance, chemical resistance, moisture resistance, salt resistance, corrosion resistance and weather resistance to a surface to be protected have reached a considerable level have.

하지만 이러한 방법들 중 대부분은 고열의 공정 또는 장시간의 공정이 요구되는데, 특히 각종 저분자 및 고분자 물질을 포함하는 열에 취약한 수지 등을 포함하는 형태를 갖는 물질은 상기 고열의 공정 또는 장시간의 공정에 의하여 물성이 변성될 우려가 있다. 때문에 보다 낮은 온도에서 단시간에 종결할 수 있는 공정인 자외선 경화를 이용한 도포 방법이 최근에 많이 연구되고 있고, 따라서 점차 실용화 되고 있다.However, most of these methods require a high-temperature process or a long-time process. Particularly, a material having a form including a resin susceptible to heat, including various low-molecular and high-molecular substances, There is a fear that this is denatured. Therefore, a coating method using ultraviolet curing, which is a process which can be terminated at a lower temperature in a short time, has been studied in recent years, and it has been gradually put to practical use.

현재 디스플레이 산업의 터치패널 시장에서 투명 전극에 사용되는 투명 전도성 필름은 일반적으로 인듐 주석 산화물(indium tin oxide, ITO)을 사용한다. 그러나 ITO는 상대적으로 고가의 장비를 이용하여 합성되며 무기물 특유의 취성 특성을 가지고 있어 플라스틱 기판 위에 사용하는 것은 한계가 있다. 은 (Ag)은 현존하는 금속 중에서 전기전도도가 가장 높은 물질로써 은의 나노입자표면은 여러 개의 결정면으로 이루어져 있으며 이들의 반응성 차이를 이용하여 이등방성 성장을 유도하여 나노와이어 형태를 만들 수 있다. 이러한 은 나노와이어는 제조 단가가 저렴하고, 우수한 유연성을 지니며 ITO와 비슷한 전기적, 물리적 특성을 나타냄으로써 디스플레이, 태양전지 등의 다양한 전자소자에서 ITO를 대체할 투명전극으로 각광받고 있는 소재이다. 그러나 현재 개발된 은 나노와이어의 경우, 열에 매우 취약하여 전자소자의 고온 공정 및 다양한 후처리 공정에 적용할 수 없으며, 내열성 및 내구성 등의 향상을 위해 첨가제를 사용할 경우 소재의 전기적, 광학적 특성이 현저히 저하되는 한계가 있다. Transparent conductive films used for transparent electrodes in the touch panel market of the display industry generally use indium tin oxide (ITO). However, ITO is synthesized by using relatively expensive equipment, and has brittleness characteristic specific to inorganic materials, so that it is limited to use on a plastic substrate. Silver (Ag) is the material with the highest electrical conductivity among the existing metals. The surface of the silver nanoparticles is composed of several crystal planes. Using this difference in reactivity, the isotropic growth can be induced to form a nanowire. These silver nanowires are inexpensive manufacturing cost, have excellent flexibility, exhibit electrical and physical properties similar to those of ITO, and are attracting attention as transparent electrodes to replace ITO in various electronic devices such as displays and solar cells. However, the currently developed silver nanowires are very vulnerable to heat, so they can not be applied to high-temperature processes and various post-treatment processes of electronic devices. When additives are used to improve heat resistance and durability, the electrical and optical characteristics of the material There is a lowering limit.

한국 공개 특허 공보 10-2013-0132025Korean Patent Publication No. 10-2013-0132025

본 발명은 은 나노와이어 전극이 적용된 소자의 전기적 특성 및 광학적 특성을 유지하면서도, 상기 은 나노와이어 전극이 적용된 소자를 열 및 습기로부터 보호할 수 있는 보호막 조성물의 제조방법 및 투명 전극의 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention provides a method for manufacturing a protective film composition and a method for manufacturing a transparent electrode, which can protect an element to which the silver nanowire electrode is applied from heat and moisture while maintaining electrical characteristics and optical characteristics of the element to which the silver nanowire electrode is applied .

본 발명의 실시예를 따르는 보호막 조성물의 제조방법은 에탄올을 포함하는 용매를 준비하는 단계; 상기 용매에 알칼리 금속염을 첨가하는 단계; 및 상기 알칼리 금속염을 상기 용매에 분산하는 단계;를 포함한다. A method for preparing a protective film composition according to an embodiment of the present invention includes: preparing a solvent containing ethanol; Adding an alkali metal salt to the solvent; And dispersing the alkali metal salt in the solvent.

또한, 상기 용매에 알칼리 금속염을 첨가하는 단계에서, 자외선 레진을 더 첨가할 수 있다. Further, in the step of adding an alkali metal salt to the solvent, an ultraviolet resin may be further added.

또한, 상기 용매에 첨가되는 알칼리 금속염의 함량은 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 0.05 내지 1.0 wt%일 수 있다. Also, the content of the alkali metal salt added to the solvent may be 0.05 to 1.0 wt% with respect to the total mass of the protective film composition.

또한, 상기 알칼리 금속염의 양이온은 세슘(Cs), 루비듐(Rb), 칼륨(K) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. In addition, the cation of the alkali metal salt may include at least one of cesium (Cs), rubidium (Rb), and potassium (K).

또한, 상기 알칼리금속염은 알칼리금속 탄산염, 알칼리금속 요오드염, 알칼리금속 염화염 또는 알칼리금속 브롬화염 중 적어도 하나일 수 있다. The alkali metal salt may be at least one of an alkali metal carbonate, an alkali metal iodide, an alkali metal chloride or an alkali metal bromate.

또한, 상기 용매에 광개시제를 첨가하는 단계를 더 포함할 수 있다. The method may further include the step of adding a photoinitiator to the solvent.

또한, 상기 용매에 계면활성제를 첨가하는 단계를 더 포함할 수 있다. The method may further include adding a surfactant to the solvent.

본 발명의 다른 실시예를 따르는 보호막 조성물은 알칼리 금속;을 포함하고, 상기 알칼리 금속염의 양이온은 세슘(Cs), 루비듐(Rb), 칼륨(K) 중 적어도 하나를 포함한다. The protective film composition according to another embodiment of the present invention includes an alkali metal; and the cation of the alkali metal salt includes at least one of cesium (Cs), rubidium (Rb), and potassium (K).

또한, 상기 보호막 조성물에 포함된 알칼리 금속염의 함량은 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 0.05 내지 1.0 wt%일 수 있다. The content of the alkali metal salt contained in the protective film composition may be 0.05 to 1.0 wt% with respect to the total mass of the protective film composition.

또한, 상기 보호막 조성물은 광개시제, 계면활성제, 자외선 레진 중 적어도 하나를 포함하는 첨가제를 더 포함할 수 있다. In addition, the protective film composition may further include an additive including at least one of a photoinitiator, a surfactant, and an ultraviolet resin.

본 발명의 다른 실시예를 따르는 투명 전극의 제조방법은 투명 유연 기판 상에 금속 나노와이어 전극을 증착하는 단계; 및 상기 은 나노와이어 전극 상에 보호막을 도포하는 단계;를 포함하고, 상기 보호막은 에탄올을 포함하는 용매를 준비하는 단계; 상기 용매에 알칼리 금속염을 첨가하는 단계; 및 상기 알칼리 금속염을 상기 용매에 분산하는 단계;를 포함한다. A method of fabricating a transparent electrode according to another embodiment of the present invention includes: depositing a metal nanowire electrode on a transparent flexible substrate; And applying a protective film on the silver nanowire electrode, wherein the protective film comprises: preparing a solvent containing ethanol; Adding an alkali metal salt to the solvent; And dispersing the alkali metal salt in the solvent.

본 발명의 실시예를 따르는 보호막 조성물의 제조방법은 간단한 방법으로 내열성이 뛰어난 보호막 조성물을 제조할 수 있고, 본 발명의 다른 실시예를 따르는 투명 전극의 제조방법은 투명 전극의 전기적 특성 및 광학적 특성을 유지하면서도, 상기 투명 전극이 적용된 소자를 열 및 습기로부터 보호할 수 있는 보호막의 제조방법을 제공할 수 있어, 상기 투명 전극의 수명 및 내구성을 향상시킬 수 있다. The method for producing a protective film composition according to an embodiment of the present invention can produce a protective film composition having excellent heat resistance by a simple method and the method for manufacturing a transparent electrode according to another embodiment of the present invention is characterized in that the electrical characteristics and optical characteristics The transparent electrode can be protected from heat and moisture while the transparent electrode is applied, thereby improving the lifetime and durability of the transparent electrode.

도 1은 본 발명의 실시예를 따르는 보호막 조성물의 제조방법의 단계를 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 의해 제조된 투명 전극에 UV를 조사하는 것을 도시한 것이다.
도 3은 실시예 1 및 비교예 1에 의해 준비된 보호막의 0 내지 1400eV에서의 XPS 그래프를 나타낸 것이다.
도 4는 실시예 1 및 비교예 1에 의해 준비된 보호막의 725eV 주위의 XPS 그래프를 나타낸 것이다.
도 5a는 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 AFM 측정 사진을 나타낸 것이다.
도 5b는 비교예 1에 의해 준비된 보호막의 AFM 측정 사진을 나타낸 것이다.
도 5c는 실시예 l에 의해 준비된 보호막의 AFM 측정 사진을 나타낸 것이다.
도 6은 실시예 1 및 비교예 1에 의해 준비된 보호막의 열중량분석 그래프를 나타낸 것이다.
도 7은 실시예 1, 실시예 2, 실시예 3, 비교예 1에 의해 준비된 보호막 및 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 150℃/85% 상대 습도 조건에서 내열성 시험에 의한 면저항의 변화를 나타낸 것이다.
도 8은 실시예 1, 실시예 4, 실시예 5, 비교예 1에 의해 준비된 보호막 및 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 150℃/85% 상대 습도 조건에서 내열성 시험에 의한 면저항의 변화를 나타낸 것이다.
도 9는 실시예 1, 실시예 6, 실시예 7, 실시예 8, 비교예 1에 의해 준비된 보호막 및 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 150℃/85% 상대 습도 조건에서 내열성 시험에 의한 면저항의 변화를 나타낸 것이다.
도 10은 실시예 1 및 비교예 2에 의해 준비된 보호막의 150℃/85% 상대 습도 조건에서 내열성 시험에 의한 면저항의 변화를 나타낸 것이다.
도 11a는 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 150℃/85% 상대 습도 조건에서 내열성 시험 수행 전/후의 주사전자현미경 관찰 사진이다.
도 11b는 비교예 1에 의해 준비된 보호막의 150℃/85% 상대 습도 조건에서 내열성 시험 수행 전/후의 주사전자현미경 관찰 사진이다.
도 11c는 실시예 1에 의해 준비된 보호막의 150℃/85% 상대 습도 조건에서 내열성 시험 수행 전/후의 주사전자현미경 관찰 사진이다.
도 12는 실시예 1, 비교예 1에 의해 준비된 보호막 및 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 85℃/85% 상대 습도 조건에서 내열성 시험에 의한 면저항의 변화를 나타낸 것이다.
도 13a 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 85℃/85% 상대 습도 조건에서 내열성 시험 수행 전/후의 주사전자현미경 관찰 사진이다.
도 13b 비교예 1에 의해 준비된 보호막의 85℃/85% 상대 습도 조건에서 내열성 시험 수행 전/후의 주사전자현미경 관찰 사진이다.
도 13c 실시예 1에 의해 준비된 85℃/85% 상대 습도 조건에서 내열성 시험 수행 전/후의 주사전자현미경 관찰 사진이다.
도 14는 실시예 1, 비교예 1에 의해 준비된 보호막, PES 기판 및 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 200 내지 800nm에서의 UV-VIS 투과도를 나타낸 것이다.
도 15는 실시예 1, 비교예 1에 의해 준비된 보호막, PES 기판 및 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 400 내지 800nm에서의 UV-VIS 투과도를 나타낸 것이다.
FIG. 1 shows the steps of a method for producing a protective film composition according to an embodiment of the present invention.
Fig. 2 shows the application of UV to a transparent electrode fabricated according to another embodiment of the present invention.
3 is an XPS graph of the protective film prepared by Example 1 and Comparative Example 1 at 0 to 1400 eV.
4 is an XPS graph of the protective film prepared by Example 1 and Comparative Example 1 around 725 eV.
5A is a photograph of an AFM measurement of silver nanowires deposited on a transparent flexible substrate.
FIG. 5B is a photograph of AFM measurement of the protective film prepared according to Comparative Example 1. FIG.
5C is a photograph of AFM measurement of the protective film prepared according to Example 1. Fig.
6 is a graph showing a thermogravimetric analysis of the protective film prepared in Example 1 and Comparative Example 1. Fig.
7 is a graph showing changes in sheet resistance of a silver nanowire deposited on a protective film prepared by Example 1, Example 2, Example 3, and Comparative Example 1 and silver nanowires deposited on a transparent flexible substrate at 150 ° C / 85% .
8 is a graph showing changes in sheet resistance of a silver nanowire deposited on a protective film prepared by Example 1, Example 4, Example 5, and Comparative Example 1 and silver nanowires deposited on a transparent flexible substrate at 150 ° C / 85% .
FIG. 9 is a graph showing the heat resistance test of the silver nanowires deposited on the protective film and the transparent flexible substrate prepared in Example 1, Example 6, Example 7, Example 8, and Comparative Example 1 under conditions of 150 ° C./85% relative humidity The change of the sheet resistance is shown.
10 shows changes in sheet resistance of the protective film prepared in Example 1 and Comparative Example 2 by a heat resistance test under the conditions of 150 占 폚 / 85% relative humidity.
FIG. 11A is a scanning electron microscope (SEM) image of a silver nanowire deposited on a transparent flexible substrate before and after a heat resistance test at 150 ° C./85% relative humidity.
11B is a scanning electron microscopic photograph of the protective film prepared in Comparative Example 1 before and after the heat resistance test at 150 DEG C / 85% relative humidity.
FIG. 11C is a scanning electron microscopic photograph of the protective film prepared in Example 1 before and after the heat resistance test at 150 ° C / 85% relative humidity. FIG.
12 is a graph showing changes in sheet resistance of a silver nanowire deposited on a protective film prepared by Example 1 and Comparative Example 1 and a transparent flexible substrate according to a heat resistance test at 85 ° C / 85% relative humidity.
13A is a scanning electron microscope (SEM) image of silver nanowires deposited on a transparent flexible substrate before and after a heat resistance test at 85 ° C / 85% relative humidity.
Fig. 13B is a scanning electron microscopic photograph of the protective film prepared before and after the heat resistance test under the 85 占 폚 / 85% relative humidity condition of the protective film prepared in Comparative Example 1. Fig.
13C is a scanning electron microscope photograph before / after the heat resistance test under the 85 占 폚 / 85% relative humidity condition prepared in Example 1. Fig.
14 shows UV-VIS transmittance at 200 to 800 nm of silver nanowires deposited on a protective film, a PES substrate, and a transparent flexible substrate prepared according to Example 1 and Comparative Example 1. FIG.
FIG. 15 shows UV-VIS transmittance at 400 to 800 nm of silver nanowires deposited on a protective film prepared by Example 1 and Comparative Example 1, a PES substrate, and a transparent flexible substrate.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 다음과 같이 설명한다. 그러나 본 발명의 실시 형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시 형태는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도 상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도 전체에 걸쳐 동일한 부호를 사용한다. 덧붙여, 명세서 전체에서 어떤 구성요소를 "포함"한다는 것은 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. However, the embodiments of the present invention can be modified into various other forms, and the scope of the present invention is not limited to the embodiments described below. Further, the embodiments of the present invention are provided to more fully explain the present invention to those skilled in the art. Therefore, the shapes and sizes of the elements in the drawings and the like can be exaggerated for clarity, and the elements denoted by the same reference numerals in the drawings are the same elements. The same reference numerals are used throughout the drawings to denote like parts and functions. In addition, " including " an element throughout the specification does not exclude other elements unless specifically stated to the contrary.

보호막 조성물의 제조방법Method for producing protective film composition

도 1은 본 발명의 실시예를 따르는 보호막 조성물의 제조방법의 단계를 나타낸 것이고, 도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예를 따르는 보호막 조성물의 제조방법은 에탄올을 포함하는 용매를 준비하는 단계; 상기 용매에 알칼리 금속염 및 자외선 레진을 첨가하는 단계; 및 상기 알칼리 금속염 및 자외선 레진을 상기 용매에 분산하는 단계;를 포함한다. FIG. 1 shows the steps of a method for producing a protective film composition according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, a method for preparing a protective film composition according to an embodiment of the present invention includes: preparing a solvent containing ethanol; Adding an alkali metal salt and an ultraviolet resin to the solvent; And dispersing the alkali metal salt and the ultraviolet resin in the solvent.

상기 에탄올을 포함하는 용매를 준비하는 단계에서, 상기 에탄올을 포함하는 용매는 에탄올일 수 있고, 또는 에탄올 이외에 이종의 알콜 용매를 더 포함할 수 있다. In the step of preparing the solvent containing ethanol, the solvent containing ethanol may be ethanol, or may further include a different alcohol solvent in addition to ethanol.

상기 이종의 알콜 용매는 디아세톤 알콜 또는 이소프로필 알콜일 수 있다. The heterogeneous alcohol solvent may be diacetone alcohol or isopropyl alcohol.

상기 용매에 알칼리 금속염을 첨가하는 단계에서, 자외선 레진을 더 첨가할 수 있다. In the step of adding an alkali metal salt to the solvent, an ultraviolet resin may be further added.

상기 자외선 레진은 실리카 졸 또는 알루미나 졸일 수 있고, 이에 특별히 제한되는 것은 아니다. The ultraviolet resin may be silica sol or alumina sol, and is not particularly limited thereto.

상기 알칼리 금속염을 상기 용매에 분산하는 단계에서, 상기 알칼리 금속염의 고른 분산을 위해 교반기를 통해 분산될 수 있고, 적절한 온도를 가할 수 있다. In the step of dispersing the alkali metal salt in the solvent, it can be dispersed through an agitator for even dispersion of the alkali metal salt, and an appropriate temperature can be applied.

상기 용매에 첨가되는 알칼리 금속염의 함량은 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 0.05 내지 1.0 wt%일 수 있다. The content of the alkali metal salt added to the solvent may be 0.05 to 1.0 wt% with respect to the total mass of the protective film composition.

상기 금속의 함량이 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 0.05wt% 미만이면, 상기 보호막의 열 차단 성능이 저하될 수 있다. 상기 금속의 함량이 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 1.0wt% 초과하면, 헤이즈가 증가하여 광학적 특성이 저하될 수 있다. If the content of the metal is less than 0.05 wt% with respect to the total mass of the protective film composition, the heat shielding performance of the protective film may be deteriorated. If the content of the metal exceeds 1.0 wt% with respect to the total mass of the protective film composition, the haze may increase and the optical characteristics may be deteriorated.

상기 알칼리 금속염의 양이온은 세슘(Cs), 루비듐(Rb), 칼륨(K) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The cation of the alkali metal salt may include at least one of cesium (Cs), rubidium (Rb), and potassium (K).

상기 알칼리 금속염의 양이온은 세슘(Cs), 루비듐(Rb), 칼륨(K) 중 적어도 하나를 포함하여 제조된 보호막 조성물은 이에 의해 제조되는 보호막의 내열성 및 내습성을 향상시킬 수 있다. The protective film composition prepared by including at least one of cations of cesium (Cs), rubidium (Rb), and potassium (K) in the alkali metal salt can improve the heat resistance and moisture resistance of the protective film produced thereby.

상기 알칼리 금속염은 알칼리금속 탄산염, 알칼리금속 요오드염, 알칼리금속 염화염 또는 알칼리금속 브롬화염 중 적어도 하나일 수 있다.The alkali metal salt may be at least one of an alkali metal carbonate, an alkali metal iodide, an alkali metal chloride or an alkali metal bromide.

상기 알칼리금속 탄산염은 세슘탄산염(Cs2CO3), 루비듐탄산염(Rb2CO3) 또는 칼륨탄산염(K2CO3) 중 적어도 하나일 수 있다. 상기 알칼리금속 요오드염은 세슘 요오드염, 루비듐 요오드염 또는 칼륨 요오드염일 수 있다. 상기 알칼리금속 염화염은 세슘 염화염, 루비듐 염화염 또는 칼륨 염화염일 수 있다. 상기 알칼리금속 브롬화염은 세슘 브롬화염, 루비듐 브롬화염 또는 칼륨 브롬화염일 수 있다. The alkali metal carbonate may be at least one of cesium carbonate (Cs 2 CO 3 ), rubidium carbonate (Rb 2 CO 3 ), or potassium carbonate (K 2 CO 3 ). The alkali metal iodide salt may be a cesium iodide salt, a rubidium iodide salt or a potassium iodide salt. The alkali metal chloride flame may be a cesium chloride flame, a rubidium chloride flame or a potassium chloride salt. The alkali metal bromate may be cesium bromide, rubidium bromide or potassium bromide.

상기 용매에 광개시제를 첨가하는 단계를 더 포함할 수 있다. And adding a photoinitiator to the solvent.

상기 광개시제는 자외선에 의한 경화 과정에서 경화 반응을 개시하는 역할을 할 수 있다.The photoinitiator may act to initiate a curing reaction in the curing process by ultraviolet light.

상기 광개시제는 벤조페논, Irgacure 184(1-Hydroxy-cyclohexyl-phenyl ketone), Irgacure 1173(2-Hydroxy-2-methyl-1-phenyl-1-propanone), Irgacure 907(2-methyl-1-[4-(methylthio)phenyl]-2-(4-mor-pholinyl)-1-propanone), Darocure TPO(Diphenyl(2,4,6-trimethylbenzoyl)phos-phine oxide) 중 적어도 하나 이상인 것을 사용하여 자외선 조사파장과 일치하도록 하는 것이 바람직하다.The photoinitiator may be selected from the group consisting of benzophenone, Irgacure 184 (1-Hydroxy-cyclohexyl phenyl ketone), Irgacure 1173 (2-Hydroxy-2-methyl- - (methylthio) phenyl] -2- (4-morpholinyl) -1-propanone and Darocure TPO (2,4,6-trimethylbenzoyl) phos- And the like.

상기 용매에 계면활성제를 첨가하는 단계를 더 포함할 수 있다. And adding a surfactant to the solvent.

상기 계면활성제는 실리콘계 계면활성제 또는 불소계 계면활성제일 수 있으며, 구체적으로 실리콘계 계면활성제는 BYK-Chemie 사의 BYK-077, BYK-085, BYK-300, BYK-301, BYK-302, BYK-306, BYK-307, BYK-310, BYK-320, BYK-322, BYK-323, BYK-325, BYK-330, BYK-331, BYK-333, BYK-335, BYK-341v344, BYK-345v346, BYK-348, BYK-354, BYK-355, BYK-356, BYK-358, BYK-361, BYK-370, BYK-371, BYK-373, BYK-375, BYK-380, BYK-390 등을 사용할 수 있으며, 불소계 계면활성제로는 DIC(DaiNippon Ink & Chemicals) 사의 F-114, F-177, F-410, F-411, F-450, F-493, F-494, F-443, F-444, F-445, F-446, F-470, F-471, F-472SF, F-474, F-475, F-477, F-478, F-479, F-480SF, F-482, F-483, F-484, F-486, F-487, F-172D, MCF-350SF, TF-1025SF, TF-1117SF, TF-1026SF, TF-1128, TF-1127, TF-1129, TF-1126, TF-1130, TF-1116SF, TF-1131, TF1132, TF1027SF, TF-1441, TF-1442 등을 사용할 수 있으나, 특별히 이에 한정되는 것은 아니다.The surfactant may be a silicone type surfactant or a fluorine type surfactant. Specifically, the silicone type surfactant may be BYK-077, BYK-085, BYK-300, BYK-301, BYK-302, BYK- -307, BYK-310, BYK-320, BYK-322, BYK-323, BYK-325, BYK-330, BYK-331, BYK-333, BYK-335, BYK-341v344, BYK-345v346, , BYK-354, BYK-355, BYK-356, BYK-358, BYK-361, BYK-370, BYK-371, BYK- Examples of the fluorine surfactant include F-114, F-177, F-410, F-411, F-450, F-493, F-494, F-443, F- F-482, F-483, F-485, F-485, F-485, F-485, F-485, F- , F-484, F-486, F-487, F-172D, MCF-350SF, TF-1025SF, TF-1117SF, TF- 1026SF, TF- 1128, TF- 1127, TF- -1130, TF-1116SF, TF-1131, TF1132, TF1027SF, TF-1441, TF-1442 and the like.

보호막 조성물Protective film composition

본 발명의 다른 실시예를 따르는 보호막 조성물은 알칼리 금속;을 포함하고, 상기 알칼리 금속염의 양이온은 세슘(Cs), 루비듐(Rb), 칼륨(K) 중 적어도 하나를 포함한다. The protective film composition according to another embodiment of the present invention includes an alkali metal; and the cation of the alkali metal salt includes at least one of cesium (Cs), rubidium (Rb), and potassium (K).

상기 알칼리 금속염의 양이온은 세슘(Cs), 루비듐(Rb), 칼륨(K) 중 적어도 하나를 포함하여 제조된 보호막 조성물은 이에 의해 제조되는 보호막의 내열성 및 내습성을 향상시킬 수 있다. The protective film composition prepared by including at least one of cations of cesium (Cs), rubidium (Rb), and potassium (K) in the alkali metal salt can improve the heat resistance and moisture resistance of the protective film produced thereby.

상기 알칼리 금속염은 알칼리금속 탄산염, 알칼리금속 요오드염, 알칼리금속 염화염 또는 알칼리금속 브롬화염 중 적어도 하나일 수 있다.The alkali metal salt may be at least one of an alkali metal carbonate, an alkali metal iodide, an alkali metal chloride or an alkali metal bromide.

상기 알칼리금속 탄산염은 세슘탄산염(Cs2CO3), 루비듐탄산염(Rb2CO3) 또는 칼륨탄산염(K2CO3) 중 적어도 하나일 수 있다. 상기 알칼리금속 요오드염은 세슘 요오드염, 루비듐 요오드염 또는 칼륨 요오드염일 수 있다. 상기 알칼리금속 염화염은 세슘 염화염, 루비듐 염화염 또는 칼륨 염화염일 수 있다. 상기 알칼리금속 브롬화염은 세슘 브롬화염, 루비듐 브롬화염 또는 칼륨 브롬화염일 수 있다. The alkali metal carbonate may be at least one of cesium carbonate (Cs 2 CO 3 ), rubidium carbonate (Rb 2 CO 3 ), or potassium carbonate (K 2 CO 3 ). The alkali metal iodide salt may be a cesium iodide salt, a rubidium iodide salt or a potassium iodide salt. The alkali metal chloride flame may be a cesium chloride flame, a rubidium chloride flame or a potassium chloride salt. The alkali metal bromate may be cesium bromide, rubidium bromide or potassium bromide.

상기 보호막 조성물에 포함된 알칼리 금속염의 함량은 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 0.05 내지 1.0 wt%일 수 있다. The content of the alkali metal salt contained in the protective film composition may be 0.05 to 1.0 wt% with respect to the total mass of the protective film composition.

상기 알칼리 금속염의 함량이 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 0.05wt% 미만이면, 상기 보호막의 열 차단 성능이 저하될 수 있다. 상기 금속의 함량이 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 1.0wt% 초과하면, 헤이즈가 증가하여 광학적 특성이 저하될 수 있다. If the content of the alkali metal salt is less than 0.05 wt% with respect to the total mass of the protective film composition, the heat shielding performance of the protective film may be deteriorated. If the content of the metal exceeds 1.0 wt% with respect to the total mass of the protective film composition, the haze may increase and the optical characteristics may be deteriorated.

상기 보호막 조성물은 광개시제, 계면활성제 및 자외선 레진 중 적어도 하나를 포함하는 첨가제를 더 포함할 수 있다. The protective film composition may further include an additive including at least one of a photoinitiator, a surfactant, and an ultraviolet resin.

상기 광개시제는 자외선에 의한 경화 과정에서 경화 반응을 개시하는 역할을 할 수 있다.The photoinitiator may act to initiate a curing reaction in the curing process by ultraviolet light.

상기 광개시제는 벤조페논, Irgacure 184(1-Hydroxy-cyclohexyl-phenyl ketone), Irgacure 1173(2-Hydroxy-2-methyl-1-phenyl-1-propanone), Irgacure 907(2-methyl-1-[4-(methylthio)phenyl]-2-(4-mor-pholinyl)-1-propanone), Darocure TPO(Diphenyl(2,4,6-trimethylbenzoyl)phos-phine oxide) 중 적어도 하나 이상인 것을 사용하여 자외선 조사파장과 일치하도록 하는 것이 바람직하다.The photoinitiator may be selected from the group consisting of benzophenone, Irgacure 184 (1-Hydroxy-cyclohexyl phenyl ketone), Irgacure 1173 (2-Hydroxy-2-methyl- - (methylthio) phenyl] -2- (4-morpholinyl) -1-propanone and Darocure TPO (2,4,6-trimethylbenzoyl) phos- And the like.

상기 계면활성제는 실리콘계 계면활성제 또는 불소계 계면활성제일 수 있으며, 구체적으로 실리콘계 계면활성제는 BYK-Chemie 사의 BYK-077, BYK-085, BYK-300, BYK-301, BYK-302, BYK-306, BYK-307, BYK-310, BYK-320, BYK-322, BYK-323, BYK-325, BYK-330, BYK-331, BYK-333, BYK-335, BYK-341v344, BYK-345v346, BYK-348, BYK-354, BYK-355, BYK-356, BYK-358, BYK-361, BYK-370, BYK-371, BYK-373, BYK-375, BYK-380, BYK-390 등을 사용할 수 있으며, 불소계 계면활성제로는 DIC(DaiNippon Ink & Chemicals) 사의 F-114, F-177, F-410, F-411, F-450, F-493, F-494, F-443, F-444, F-445, F-446, F-470, F-471, F-472SF, F-474, F-475, F-477, F-478, F-479, F-480SF, F-482, F-483, F-484, F-486, F-487, F-172D, MCF-350SF, TF-1025SF, TF-1117SF, TF-1026SF, TF-1128, TF-1127, TF-1129, TF-1126, TF-1130, TF-1116SF, TF-1131, TF1132, TF1027SF, TF-1441, TF-1442 등을 사용할 수 있으나, 특별히 이에 한정되는 것은 아니다.The surfactant may be a silicone type surfactant or a fluorine type surfactant. Specifically, the silicone type surfactant may be BYK-077, BYK-085, BYK-300, BYK-301, BYK-302, BYK- -307, BYK-310, BYK-320, BYK-322, BYK-323, BYK-325, BYK-330, BYK-331, BYK-333, BYK-335, BYK-341v344, BYK-345v346, , BYK-354, BYK-355, BYK-356, BYK-358, BYK-361, BYK-370, BYK-371, BYK- Examples of the fluorine surfactant include F-114, F-177, F-410, F-411, F-450, F-493, F-494, F-443, F- F-482, F-483, F-485, F-485, F-485, F-485, F-485, F- , F-484, F-486, F-487, F-172D, MCF-350SF, TF-1025SF, TF-1117SF, TF- 1026SF, TF- 1128, TF- 1127, TF- -1130, TF-1116SF, TF-1131, TF1132, TF1027SF, TF-1441, TF-1442 and the like.

상기 자외선 레진은 실리카 졸 또는 알루미나 졸일 수 있고, 이에 특별히 제한되는 것은 아니다. The ultraviolet resin may be silica sol or alumina sol, and is not particularly limited thereto.

투명 전극의 제조방법Method for manufacturing transparent electrode

본 발명의 다른 실시예를 따르는 투명 전극의 제조방법은 투명 유연 기판 상에 금속 나노와이어 전극을 증착하는 단계; 및 상기 금속 나노와이어 전극 상에 보호막을 도포하는 단계;를 포함하고, 상기 보호막은 에탄올을 포함하는 용매를 준비하는 단계; 상기 용매에 알칼리 금속염을 첨가하는 단계; 및 상기 알칼리 금속염을 상기 용매에 분산하는 단계;를 포함한다. A method of fabricating a transparent electrode according to another embodiment of the present invention includes: depositing a metal nanowire electrode on a transparent flexible substrate; And applying a protective film on the metal nanowire electrode, wherein the protective film comprises: preparing a solvent containing ethanol; Adding an alkali metal salt to the solvent; And dispersing the alkali metal salt in the solvent.

본 발명에서 사용되는 투명유연기판은 특별한 제한없이 사용될 수 있으나, 바람직하게는 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리에틸렌나프탈레이트(PEN), 폴리에틸렌(PE), 폴리에테르설폰(PES), 폴리카보네이트(PC), 폴리아릴레이트(PAR) 및 폴리이미드(PI)로 이루어진 군으로부터 선택된 고분자이거나, 바람직하게는 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET, 이하 PET라 한다)일 수 있다.(PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyethylene (PE), polyethersulfone (PES), polycarbonate (PC), and the like. The transparent flexible substrate used in the present invention can be used without any particular limitation, , Polyarylate (PAR), and polyimide (PI), or preferably polyethylene terephthalate (PET).

상기 금속 나노와이어는 바람직하게는 은 나노와이어일 수 있다. The metal nanowire may preferably be a silver nanowire.

은(Ag)은 금속 중에서도 가장 전도성이 좋은 물질로써, 자체저항값이 80 내지 120 으로, 200 내지 400 인 ITO 보다 낮아 대형화에 유리할 뿐만 아니라, 곡면 제작이 가능해 플렉서블 디스플레이에 적용할 수 있다. 또한, 은 나노와이어는 거의 무색에 가까워 디스플레이 영상의 왜곡시키지 않을 수 있다.Silver (Ag) is the most conductive material among metals and has a self resistance value of 80 to 120, which is lower than that of ITO having a thickness of 200 to 400, which is not only advantageous for enlargement but also can be applied to a flexible display. In addition, the silver nanowire is almost colorless and can not distort the display image.

상기 방법에 의해 제조된 투명 전극 상의 보호막은 자외선 조사에 의해 경화될 수 있다. The protective film on the transparent electrode prepared by the above method can be cured by ultraviolet irradiation.

상기 자외선 조사는, 예를 들면, 고압 수은 램프, 무전극 램프 또는 크세논 램프(xenon lamp) 등의 수단을 사용하여 수행할 수 있다. 자외선 경화 방식에서 조사량은, 점착제층의 제반 물성을 훼손하지 않으면서 충분한 경화가 이루어질 정도로 제어된다면 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면, 조도가 50 mW/cm2 내지 1,000 mW/cm2이고, 광량 50 mJ/cm2 내지 1,000 mJ/cm2일 수 있다.The ultraviolet ray irradiation can be carried out by means of, for example, a high-pressure mercury lamp, an electrodeless lamp, or a xenon lamp. The irradiation dose in the ultraviolet curing system is not particularly limited as long as it is controlled so as to sufficiently cure without compromising the physical properties of the pressure-sensitive adhesive layer. For example, when the illuminance is 50 mW / cm 2 to 1,000 mW / cm 2 , mJ / cm < 2 > to 1,000 mJ / cm < 2 >.

본 발명의 실시예에 의해 제조된 보호막은 터치스크린, 디스플레이 및 태양전지 등의 전자 제품 등의 보호막, 내열 방지막 등을 형성하는데 바람직하게 사용될 수 있다. The protective film manufactured according to an embodiment of the present invention can be preferably used to form a protective film, a heat resistant film, and the like of an electronic product such as a touch screen, a display, and a solar cell.

상기 금속 나노와이어 전극 상에 보호막을 도포하는 단계에서, 상기 보호막을 도포하는 방법은 예를 들면 이하 방법을 들 수 있다.In the step of applying the protective film on the metal nanowire electrode, a method of applying the protective film may be, for example, the following method.

예를 들면 우선 기체 상에 실리카계 피막 형성용 조성물을 소정의 막 두께가 되도록 회전 도포, 캐스팅 도포, 롤 도포 등의 도포 방법에 의해 도포해 도막을 형성한다. 이어서 핫 플레이트 상에서 베이크한다. 이때의 베이크 온도는 예를 들면 80 내지 300℃정도이다. 베이크 처리는 베이크 온도를 바꾸면서 복수 단계에 의해서 수행될 수 있다. For example, a coating film is formed by applying a composition for forming a silica-based coating film on a substrate by a coating method such as spin coating, cast coating or roll coating so as to have a predetermined film thickness. It is then baked on a hot plate. The bake temperature at this time is, for example, about 80 to 300 占 폚. The bake treatment can be performed by a plurality of steps while changing the bake temperature.

상기 에탄올을 포함하는 용매를 준비하는 단계에서, 상기 에탄올을 포함하는 용매는 에탄올일 수 있고, 또는 에탄올 이외에 이종의 알콜 용매를 더 포함할 수 있다. In the step of preparing the solvent containing ethanol, the solvent containing ethanol may be ethanol, or may further include a different alcohol solvent in addition to ethanol.

상기 이종의 알콜 용매는 디아세톤 알콜 또는 이소프로필 알콜일 수 있다. The heterogeneous alcohol solvent may be diacetone alcohol or isopropyl alcohol.

상기 용매에 알칼리 금속염을 첨가하는 단계에서, 자외선 레진을 더 첨가할 수 있다. In the step of adding an alkali metal salt to the solvent, an ultraviolet resin may be further added.

상기 자외선 레진은 실리카 졸 또는 알루미나 졸일 수 있고, 이에 특별히 제한되는 것은 아니다. The ultraviolet resin may be silica sol or alumina sol, and is not particularly limited thereto.

상기 알칼리 금속염을 상기 용매에 분산하는 단계에서, 상기 알칼리 금속염의 고른 분산을 위해 교반기를 통해 분산될 수 있고, 적절한 온도를 가할 수 있다. In the step of dispersing the alkali metal salt in the solvent, it can be dispersed through an agitator for even dispersion of the alkali metal salt, and an appropriate temperature can be applied.

상기 용매에 첨가되는 알칼리 금속염의 함량은 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 0.05 내지 1.0 wt%일 수 있다. The content of the alkali metal salt added to the solvent may be 0.05 to 1.0 wt% with respect to the total mass of the protective film composition.

상기 알칼리 금속염의 함량이 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 0.05wt% 미만이면, 상기 보호막의 열 차단 성능이 저하될 수 있다. 상기 금속의 함량이 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 1.0wt% 초과하면, 헤이즈가 증가하여 광학적 특성이 저하될 수 있다. If the content of the alkali metal salt is less than 0.05 wt% with respect to the total mass of the protective film composition, the heat shielding performance of the protective film may be deteriorated. If the content of the metal exceeds 1.0 wt% with respect to the total mass of the protective film composition, the haze may increase and the optical characteristics may be deteriorated.

상기 알칼리 금속염의 양이온은 세슘(Cs), 루비듐(Rb), 칼륨(K) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The cation of the alkali metal salt may include at least one of cesium (Cs), rubidium (Rb), and potassium (K).

상기 알칼리 금속염의 양이온은 세슘(Cs), 루비듐(Rb), 칼륨(K) 중 적어도 하나를 포함하여 제조된 보호막 조성물은 이에 의해 제조되는 보호막의 내열성 및 내습성을 향상시킬 수 있다. The protective film composition prepared by including at least one of cations of cesium (Cs), rubidium (Rb), and potassium (K) in the alkali metal salt can improve the heat resistance and moisture resistance of the protective film produced thereby.

상기 알칼리 금속염은 알칼리금속 탄산염, 알칼리금속 요오드염, 알칼리금속 염화염 또는 알칼리금속 브롬화염 중 적어도 하나일 수 있다.The alkali metal salt may be at least one of an alkali metal carbonate, an alkali metal iodide, an alkali metal chloride or an alkali metal bromide.

상기 알칼리 금속염은 알칼리금속 탄산염, 알칼리금속 요오드염, 알칼리금속 염화염 또는 알칼리금속 브롬화염 중 적어도 하나일 수 있다.The alkali metal salt may be at least one of an alkali metal carbonate, an alkali metal iodide, an alkali metal chloride or an alkali metal bromide.

상기 알칼리금속 탄산염은 세슘탄산염(Cs2CO3), 루비듐탄산염(Rb2CO3) 또는 칼륨탄산염(K2CO3) 중 적어도 하나일 수 있다. 상기 알칼리금속 요오드염은 세슘 요오드염, 루비듐 요오드염 또는 칼륨 요오드염일 수 있다. 상기 알칼리금속 염화염은 세슘 염화염, 루비듐 염화염 또는 칼륨 염화염일 수 있다. 상기 알칼리금속 브롬화염은 세슘 브롬화염, 루비듐 브롬화염 또는 칼륨 브롬화염일 수 있다. The alkali metal carbonate may be at least one of cesium carbonate (Cs 2 CO 3 ), rubidium carbonate (Rb 2 CO 3 ), or potassium carbonate (K 2 CO 3 ). The alkali metal iodide salt may be a cesium iodide salt, a rubidium iodide salt or a potassium iodide salt. The alkali metal chloride flame may be a cesium chloride flame, a rubidium chloride flame or a potassium chloride salt. The alkali metal bromate may be cesium bromide, rubidium bromide or potassium bromide.

상기 용매에 광개시제를 첨가하는 단계를 더 포함할 수 있다. And adding a photoinitiator to the solvent.

상기 광개시제는 자외선에 의한 경화 과정에서 경화 반응을 개시하는 역할을 할 수 있다.The photoinitiator may act to initiate a curing reaction in the curing process by ultraviolet light.

상기 광개시제는 벤조페논, Irgacure 184(1-Hydroxy-cyclohexyl-phenyl ketone), Irgacure 1173(2-Hydroxy-2-methyl-1-phenyl-1-propanone), Irgacure 907(2-methyl-1-[4-(methylthio)phenyl]-2-(4-mor-pholinyl)-1-propanone), Darocure TPO(Diphenyl(2,4,6-trimethylbenzoyl)phos-phine oxide) 중 적어도 하나 이상인 것을 사용하여 자외선 조사파장과 일치하도록 하는 것이 바람직하다.The photoinitiator may be selected from the group consisting of benzophenone, Irgacure 184 (1-Hydroxy-cyclohexyl phenyl ketone), Irgacure 1173 (2-Hydroxy-2-methyl- - (methylthio) phenyl] -2- (4-morpholinyl) -1-propanone and Darocure TPO (2,4,6-trimethylbenzoyl) phos- And the like.

상기 용매에 계면활성제를 첨가하는 단계를 더 포함할 수 있다. And adding a surfactant to the solvent.

상기 계면활성제는 실리콘계 계면활성제 또는 불소계 계면활성제일 수 있으며, 구체적으로 실리콘계 계면활성제는 BYK-Chemie 사의 BYK-077, BYK-085, BYK-300, BYK-301, BYK-302, BYK-306, BYK-307, BYK-310, BYK-320, BYK-322, BYK-323, BYK-325, BYK-330, BYK-331, BYK-333, BYK-335, BYK-341v344, BYK-345v346, BYK-348, BYK-354, BYK-355, BYK-356, BYK-358, BYK-361, BYK-370, BYK-371, BYK-373, BYK-375, BYK-380, BYK-390 등을 사용할 수 있으며, 불소계 계면활성제로는 DIC(DaiNippon Ink & Chemicals) 사의 F-114, F-177, F-410, F-411, F-450, F-493, F-494, F-443, F-444, F-445, F-446, F-470, F-471, F-472SF, F-474, F-475, F-477, F-478, F-479, F-480SF, F-482, F-483, F-484, F-486, F-487, F-172D, MCF-350SF, TF-1025SF, TF-1117SF, TF-1026SF, TF-1128, TF-1127, TF-1129, TF-1126, TF-1130, TF-1116SF, TF-1131, TF1132, TF1027SF, TF-1441, TF-1442 등을 사용할 수 있으나, 특별히 이에 한정되는 것은 아니다.The surfactant may be a silicone type surfactant or a fluorine type surfactant. Specifically, the silicone type surfactant may be BYK-077, BYK-085, BYK-300, BYK-301, BYK-302, BYK- -307, BYK-310, BYK-320, BYK-322, BYK-323, BYK-325, BYK-330, BYK-331, BYK-333, BYK-335, BYK-341v344, BYK-345v346, , BYK-354, BYK-355, BYK-356, BYK-358, BYK-361, BYK-370, BYK-371, BYK- Examples of the fluorine surfactant include F-114, F-177, F-410, F-411, F-450, F-493, F-494, F-443, F- F-482, F-483, F-485, F-485, F-485, F-485, F-485, F- , F-484, F-486, F-487, F-172D, MCF-350SF, TF-1025SF, TF-1117SF, TF- 1026SF, TF- 1128, TF- 1127, TF- -1130, TF-1116SF, TF-1131, TF1132, TF1027SF, TF-1441, TF-1442 and the like.

실시예 1 Example 1

보호막 조성물의 제조Preparation of protective film composition

자외선 레진으로 실리카 졸(RANCO) 0.05g, 알칼리 금속염으로 Cs2CO3(시그마 알드리치)0.05g을 에탄올(99.5%, 동우화인켐) 49.2g 및 디아세톤 알콜(4-Hydroxy-4-methyl-2-pentanone, 99%, 시그마 알드리치) 49.3g 혼합 용매에 투입한 후 추가 첨가제로 표면 활성제 BYK-310(BYK Additives & Instruments) 0.1g, 광개시제 I-184(1-Hydroxycyclohexyl phenyl ketone 99%, 시그마 알드리치) 0.3g 및 TPO(Diphenyl(2,4,6-trimethylbenzoyl)phosphine oxide 97%, 시그마 알드리치) 0.1g을 함께 용매에 투입한 후, 교반기를 통해 상온에서 약 60분 교반하여, Cs 함유 보호막 조성물을 제조하였다. 0.05 g of silica sol (RANCO) as an ultraviolet resin and 0.05 g of Cs 2 CO 3 (Sigma Aldrich) as an alkali metal salt were mixed with 49.2 g of ethanol (99.5%, Dongwha Fine Chem) and 4-hydroxy- (1-Hydroxycyclohexyl phenyl ketone 99%, Sigma Aldrich), 0.1 g of surface active agent BYK-310 (BYK Additives & Instruments) as a further additive, , And 0.1 g of TPO (97% of diphenyl (2,4,6-trimethylbenzoyl) phosphine oxide, Sigma Aldrich) were added to the solvent, and the mixture was stirred at room temperature for about 60 minutes through a stirrer to prepare a Cs- Respectively.

투명 전극 제조Transparent electrode manufacturing

PES 기판 상에 은 나노와이어를 포함하는 분산액을 스핀 코팅 장치를 이용하여 3000rpm에서 약 1분간 코팅하여 도포한 후, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여, 은 나노와이어 전극을 형성하였다. 상기 은 나노와이어 전극 상에 앞서 전술한 보호막 조성물을 1000rpm에서 약 1분간 스핀코팅하여 보호막 코팅을 실시하였고, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여 Cs 함유 보호막을 제조하였고, 동일 과정을 반복하여 2개의 샘플을 제작하였다. A dispersion containing silver nanowires was coated on a PES substrate at 3000 rpm for about 1 minute using a spin coating apparatus and then subjected to heat treatment at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to form silver nanowire electrodes. The above protective film composition was spin-coated on the silver nanowire electrode at 1000 rpm for about 1 minute to form a protective film coating, and the protective film was subjected to heat treatment at a temperature of 130 ° C for about 1 minute to prepare a Cs-containing protective film. To prepare two samples.

실시예 2 Example 2

보호막 조성물의 제조Preparation of protective film composition

자외선 레진으로 실리카 졸 0.05g, 알칼리 금속염으로 Rb2CO3 0.05g을 에탄올 49.2g 및 디아세톤 알콜 49.3g 혼합 용매에 투입한 후 추가 첨가제로 표면 활성제 BYK-310 0.1g, 광개시제 I-184 0.3g 및 TPO 0.1g을 함께 용매에 투입한 후, 교반기를 통해 상온에서 약 60분 교반하여, Rb 함유 보호막 조성물을 제조하였다. 0.05 g of silica sol as an ultraviolet resin and 0.05 g of Rb 2 CO 3 as an alkali metal salt were added to a mixed solvent of 49.2 g of ethanol and 49.3 g of diacetone alcohol and then 0.1 g of surface active agent BYK-310 and 0.3 g of photoinitiator I-184 And 0.1 g of TPO were put into a solvent together and stirred for about 60 minutes at room temperature through a stirrer to prepare an Rb-containing protective film composition.

투명 전극 제조Transparent electrode manufacturing

PES 기판 상에 은 나노와이어를 포함하는 분산액을 스핀 코팅 장치를 이용하여 3000rpm에서 약 1분간 코팅하여 도포한 후, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여, 은 나노와이어 전극을 형성하였다. 상기 은 나노와이어 전극 상에 앞서 전술한 보호막 조성물을 1000rpm에서 약 1분간 스핀코팅하여 보호막 코팅을 실시하였고, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여 Rb 함유 보호막을 제조하였고, 동일 과정을 반복하여 2개의 샘플을 제작하였다.A dispersion containing silver nanowires was coated on a PES substrate at 3000 rpm for about 1 minute using a spin coating apparatus and then subjected to heat treatment at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to form silver nanowire electrodes. The above-described protective film composition was spin-coated on the silver nanowire electrode at 1000 rpm for about 1 minute to form a protective film coating, and heat treatment was performed at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to prepare a protective film containing Rb. To prepare two samples.

실시예 3Example 3

보호막 조성물의 제조Preparation of protective film composition

자외선 레진으로 실리카 졸 0.05g, 알칼리 금속염으로 K2CO3 0.05g을 에탄올 49.2g 및 디아세톤 알콜 49.3g 혼합 용매에 투입한 후 추가 첨가제로 표면 활성제 BYK-310 0.1g, 광개시제 I-184 0.3g 및 TPO 0.1g을 함께 용매에 투입한 후, 교반기를 통해 상온에서 약 60분 교반하여, K 함유 보호막 조성물을 제조하였다. 0.05 g of silica sol as an ultraviolet resin and 0.05 g of K 2 CO 3 as an alkali metal salt were added to a mixed solvent of 49.2 g of ethanol and 49.3 g of diacetone alcohol. Then, 0.1 g of surface active agent BYK-310 and 0.3 g of photoinitiator I-184 And 0.1 g of TPO were put into a solvent together and stirred for about 60 minutes at room temperature through a stirrer to prepare a K-containing protective film composition.

투명 전극 제조Transparent electrode manufacturing

PES 기판 상에 은 나노와이어를 포함하는 분산액을 스핀 코팅 장치를 이용하여 3000rpm에서 약 1분간 코팅하여 도포한 후, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여, 은 나노와이어 전극을 형성하였다. 상기 은 나노와이어 전극 상에 앞서 전술한 보호막 조성물을 1000rpm에서 약 1분간 스핀코팅하여 보호막 코팅을 실시하였고, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여 K 함유 보호막을 제조하였고, 동일 과정을 반복하여 2개의 샘플을 제작하였다.A dispersion containing silver nanowires was coated on a PES substrate at 3000 rpm for about 1 minute using a spin coating apparatus and then subjected to heat treatment at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to form silver nanowire electrodes. The above-described protective film composition was spin-coated on the silver nanowire electrode at 1000 rpm for about 1 minute, and a protective film was coated thereon. Heat treatment was performed at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to prepare a K-containing protective film. To prepare two samples.

실시예 4 Example 4

보호막 조성물의 제조Preparation of protective film composition

자외선 레진으로 실리카 졸 0.05g, 알칼리 금속염으로 Cs2CO3 0.1g을 에탄올 49.2g 및 디아세톤 알콜 49.3g 혼합 용매에 투입한 후 추가 첨가제로 표면 활성제 BYK-310 0.1g, 광개시제 I-184 0.3g 및 TPO 0.1g을 함께 용매에 투입한 후, 교반기를 통해 상온에서 약 60분 교반하여, Cs 함유 보호막 조성물을 제조하였다. 0.05 g of silica sol as an ultraviolet resin and 0.1 g of Cs 2 CO 3 as an alkali metal salt were added to a mixed solvent of 49.2 g of ethanol and 49.3 g of diacetone alcohol. Then, 0.1 g of surface active agent BYK-310 and 0.3 g of photoinitiator I-184 And 0.1 g of TPO were put into a solvent together and stirred for about 60 minutes at room temperature through a stirrer to prepare a Cs-containing protective film composition.

투명 전극 제조Transparent electrode manufacturing

PES 기판 상에 은 나노와이어를 포함하는 분산액을 스핀 코팅 장치를 이용하여 3000rpm에서 약 1분간 코팅하여 도포한 후, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여, 은 나노와이어 전극을 형성하였다. 상기 은 나노와이어 전극 상에 앞서 전술한 보호막 조성물을 1000rpm에서 약 1분간 스핀코팅하여 보호막 코팅을 실시하였고, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여 Cs 함유 보호막을 제조하였고, 동일 과정을 반복하여 2개의 샘플을 제작하였다.A dispersion containing silver nanowires was coated on a PES substrate at 3000 rpm for about 1 minute using a spin coating apparatus and then subjected to heat treatment at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to form silver nanowire electrodes. The above protective film composition was spin-coated on the silver nanowire electrode at 1000 rpm for about 1 minute to form a protective film coating, and the protective film was subjected to heat treatment at a temperature of 130 ° C for about 1 minute to prepare a Cs-containing protective film. To prepare two samples.

실시예 5 Example 5

보호막 조성물의 제조Preparation of protective film composition

자외선 레진으로 실리카 졸 0.05g, 알칼리 금속염으로 Cs2CO3 1g을 에탄올 49.2g 및 디아세톤 알콜 49.3g 혼합 용매에 투입한 후 추가 첨가제로 표면 활성제 BYK-310 0.1g, 광개시제 I-184 0.3g 및 TPO 0.1g을 함께 용매에 투입한 후, 교반기를 통해 상온에서 약 60분 교반하여, Cs 함유 보호막 조성물을 제조하였다. 0.05 g of silica sol and 1 g of Cs 2 CO 3 as an ultraviolet resin were added to a mixed solvent of 49.2 g of ethanol and 49.3 g of diacetone alcohol. Then, 0.1 g of surface active agent BYK-310, 0.3 g of photoinitiator I-184 And 0.1 g of TPO were put in a solvent together and stirred for about 60 minutes at room temperature through a stirrer to prepare a protective film composition containing Cs.

투명 전극 제조Transparent electrode manufacturing

PES 기판 상에 은 나노와이어를 포함하는 분산액을 스핀 코팅 장치를 이용하여 3000rpm에서 약 1분간 코팅하여 도포한 후, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여, 은 나노와이어 전극을 형성하였다. 상기 은 나노와이어 전극 상에 앞서 전술한 보호막 조성물을 1000rpm에서 약 1분간 스핀코팅하여 보호막 코팅을 실시하였고, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여 Cs 함유 보호막을 제조하였고, 동일 과정을 반복하여 2개의 샘플을 제작하였다.A dispersion containing silver nanowires was coated on a PES substrate at 3000 rpm for about 1 minute using a spin coating apparatus and then subjected to heat treatment at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to form silver nanowire electrodes. The above protective film composition was spin-coated on the silver nanowire electrode at 1000 rpm for about 1 minute to form a protective film coating, and the protective film was subjected to heat treatment at a temperature of 130 ° C for about 1 minute to prepare a Cs-containing protective film. To prepare two samples.

실시예 6 Example 6

보호막 조성물의 제조Preparation of protective film composition

자외선 레진으로 실리카 졸 0.05g, 알칼리 금속염으로 CsCl 0.05g을 에탄올 49.2g 및 디아세톤 알콜 49.3g 혼합 용매에 투입한 후 추가 첨가제로 표면 활성제 BYK-310 0.1g, 광개시제 I-184 0.3g 및 TPO 0.1g을 함께 용매에 투입한 후, 교반기를 통해 상온에서 약 60분 교반하여, Cs 함유 보호막 조성물을 제조하였다. 0.05 g of silica sol as an ultraviolet resin and 0.05 g of CsCl as an alkali metal salt were added to a mixed solvent of 49.2 g of ethanol and 49.3 g of diacetone alcohol. Then, 0.1 g of surface active agent BYK-310, 0.3 g of photoinitiator I-184 and 0.1 g of TPO 0.1 g were put in a solvent together and stirred for about 60 minutes at room temperature through a stirrer to prepare a protective film composition containing Cs.

투명 전극 제조Transparent electrode manufacturing

PES 기판 상에 은 나노와이어를 포함하는 분산액을 스핀 코팅 장치를 이용하여 3000rpm에서 약 1분간 코팅하여 도포한 후, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여, 은 나노와이어 전극을 형성하였다. 상기 은 나노와이어 전극 상에 앞서 전술한 보호막 조성물을 1000rpm에서 약 1분간 스핀코팅하여 보호막 코팅을 실시하였고, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여 Cs 함유 보호막을 제조하였고, 동일 과정을 반복하여 2개의 샘플을 제작하였다.A dispersion containing silver nanowires was coated on a PES substrate at 3000 rpm for about 1 minute using a spin coating apparatus and then subjected to heat treatment at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to form silver nanowire electrodes. The above protective film composition was spin-coated on the silver nanowire electrode at 1000 rpm for about 1 minute to form a protective film coating, and the protective film was subjected to heat treatment at a temperature of 130 ° C for about 1 minute to prepare a Cs-containing protective film. To prepare two samples.

실시예 7 Example 7

보호막 조성물의 제조Preparation of protective film composition

자외선 레진으로 실리카 졸 0.05g, 알칼리 금속염으로 CsBr 0.05g을 에탄올 49.2g 및 디아세톤 알콜 49.3g 혼합 용매에 투입한 후 추가 첨가제로 표면 활성제 BYK-310 0.1g, 광개시제 I-184 0.3g 및 TPO 0.1g을 함께 용매에 투입한 후, 교반기를 통해 상온에서 약 60분 교반하여, Cs 함유 보호막 조성물을 제조하였다. 0.05 g of silica sol as an ultraviolet resin and 0.05 g of CsBr as an alkali metal salt were added to a mixed solvent of 49.2 g of ethanol and 49.3 g of diacetone alcohol. Then, 0.1 g of surface active agent BYK-310, 0.3 g of photoinitiator I-184 and 0.1 g of TPO 0.1 g were put in a solvent together and stirred for about 60 minutes at room temperature through a stirrer to prepare a protective film composition containing Cs.

투명 전극 제조Transparent electrode manufacturing

PES 기판 상에 은 나노와이어를 포함하는 분산액을 스핀 코팅 장치를 이용하여 3000rpm에서 약 1분간 코팅하여 도포한 후, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여, 은 나노와이어 전극을 형성하였다. 상기 은 나노와이어 전극 상에 앞서 전술한 보호막 조성물을 1000rpm에서 약 1분간 스핀코팅하여 보호막 코팅을 실시하였고, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여 Cs 함유 보호막을 제조하였고, 동일 과정을 반복하여 2개의 샘플을 제작하였다.A dispersion containing silver nanowires was coated on a PES substrate at 3000 rpm for about 1 minute using a spin coating apparatus and then subjected to heat treatment at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to form silver nanowire electrodes. The above protective film composition was spin-coated on the silver nanowire electrode at 1000 rpm for about 1 minute to form a protective film coating, and the protective film was subjected to heat treatment at a temperature of 130 ° C for about 1 minute to prepare a Cs-containing protective film. To prepare two samples.

실시예 8Example 8

보호막 조성물의 제조Preparation of protective film composition

자외선 레진으로 실리카 졸 0.05g, 알칼리 금속염으로 CsI 0.05g을 에탄올 49.2g 및 디아세톤 알콜 49.3g 혼합 용매에 투입한 후 추가 첨가제로 표면 활성제 BYK-310 0.1g, 광개시제 I-184 0.3g 및 TPO 0.1g을 함께 용매에 투입한 후, 교반기를 통해 상온에서 약 60분 교반하여, Cs 함유 보호막 조성물을 제조하였다. 0.05 g of silica sol as an ultraviolet resin and 0.05 g of CsI as an alkali metal salt were added to a mixed solvent of 49.2 g of ethanol and 49.3 g of diacetone alcohol. Then, 0.1 g of surface active agent BYK-310, 0.3 g of photoinitiator I-184 and 0.1 g of TPO 0.1 g were put in a solvent together and stirred for about 60 minutes at room temperature through a stirrer to prepare a protective film composition containing Cs.

투명 전극 제조Transparent electrode manufacturing

PES 기판 상에 은 나노와이어를 포함하는 분산액을 스핀 코팅 장치를 이용하여 3000rpm에서 약 1분간 코팅하여 도포한 후, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여, 은 나노와이어 전극을 형성하였다. 상기 은 나노와이어 전극 상에 앞서 전술한 보호막 조성물을 1000rpm에서 약 1분간 스핀코팅하여 보호막 코팅을 실시하였고, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여 Cs 함유 보호막을 제조하였고, 동일 과정을 반복하여 2개의 샘플을 제작하였다.A dispersion containing silver nanowires was coated on a PES substrate at 3000 rpm for about 1 minute using a spin coating apparatus and then subjected to heat treatment at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to form silver nanowire electrodes. The above protective film composition was spin-coated on the silver nanowire electrode at 1000 rpm for about 1 minute to form a protective film coating, and the protective film was subjected to heat treatment at a temperature of 130 ° C for about 1 minute to prepare a Cs-containing protective film. To prepare two samples.

비교예 1Comparative Example 1

보호막 조성물의 제조Preparation of protective film composition

상기 실시예 1에서 알칼리 금속염으로 Cs2CO3는 추가하지 않고, 용매로써 에탄올 및 디아세톤 알콜의 혼합이 아닌 이소프로필 알콜 49.2g 및 디아세톤 알콜 49.3g을 사용한 것을 제외하고는 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 보호막 조성물을 제조하였다.Example 1 was repeated except that Cs 2 CO 3 was not added as an alkali metal salt in Example 1 but 49.2 g of isopropyl alcohol and 49.3 g of diacetone alcohol were used instead of the mixture of ethanol and diacetone alcohol as a solvent. A protective film composition was prepared in the same manner.

투명 전극 제조Transparent electrode manufacturing

PES 기판 상에 은 나노와이어를 포함하는 분산액을 스핀 코팅 장치를 이용하여 3000rpm에서 약 1분간 코팅하여 도포한 후, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여, 은 나노와이어 전극을 형성하였다. 상기 은 나노와이어 전극 상에 앞서 전술한 보호막 조성물을 1000rpm에서 약 1분간 스핀코팅하여 보호막 코팅을 실시하였고, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여 보호막을 제조하였고, 동일 과정을 반복하여 2개의 샘플을 제작하였다.A dispersion containing silver nanowires was coated on a PES substrate at 3000 rpm for about 1 minute using a spin coating apparatus and then subjected to heat treatment at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to form silver nanowire electrodes. The protective layer composition was spin-coated on the silver nanowire electrode at 1000 rpm for about 1 minute to form a protective layer coating. The protective layer was heat treated at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to form a protective layer. Were prepared.

비교예 2 Comparative Example 2

보호막 조성물의 제조Preparation of protective film composition

상기 실시예 1에서, 용매로써 에탄올 및 디아세톤 알콜의 혼합이 아닌 이소프로필 알콜 49.2g 및 디아세톤 알콜 49.3g을 사용한 것을 제외하고는 상기 실시예 1과 동일한 방법으로 보호막 조성물을 제조하였다.In Example 1, a protective film composition was prepared in the same manner as in Example 1, except that 49.2 g of isopropyl alcohol and 49.3 g of diacetone alcohol were used instead of the mixture of ethanol and diacetone alcohol as a solvent.

투명 전극 제조Transparent electrode manufacturing

PES 기판 상에 은 나노와이어를 포함하는 분산액을 스핀 코팅 장치를 이용하여 3000rpm에서 약 1분간 코팅하여 도포한 후, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여, 은 나노와이어 전극을 형성하였다. 상기 은 나노와이어 전극 상에 앞서 전술한 보호막 조성물을 1000rpm에서 약 1분간 스핀코팅하여 보호막 코팅을 실시하였고, 130℃의 온도에서 약 1분간 열처리를 수행하여 Cs 함유 보호막을 제조하였고, 동일 과정을 반복하여 2개의 샘플을 제작하였다.A dispersion containing silver nanowires was coated on a PES substrate at 3000 rpm for about 1 minute using a spin coating apparatus and then subjected to heat treatment at a temperature of 130 캜 for about 1 minute to form silver nanowire electrodes. The above protective film composition was spin-coated on the silver nanowire electrode at 1000 rpm for about 1 minute to form a protective film coating, and the protective film was subjected to heat treatment at a temperature of 130 ° C for about 1 minute to prepare a Cs-containing protective film. To prepare two samples.

실험예 - XPS 측정Experimental Example - XPS Measurement

실시예 1에 의해 준비된 Cs를 포함하는 보호막의 Cs의 존재를 확인하기 위해서, XPS 분석을 수행하였고, 이를 도 3 및 도 4에 나타내었다. In order to confirm the presence of Cs in the protective film containing Cs prepared according to Example 1, an XPS analysis was carried out, which is shown in FIG. 3 and FIG.

도 3 및 도 4를 참조하면, 비교예 1에서 관찰되지 않은 Cs 3d3, 3d5 피크가 확인되었고, 이를 통해 Cs를 포함하는 보호막에 Cs가 존재하는 것을 확인하였다. Referring to FIGS. 3 and 4, Cs 3d3 and 3d5 peaks which were not observed in Comparative Example 1 were confirmed, and it was confirmed that Cs was present in a protective film containing Cs.

실험예 - AFM 분석Experimental Example - AFM analysis

AFM 장치를 이용하여 실시예1, 비교예 1에 의해 준비된 보호막 및 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 표면 사진을 촬영하였고, 이를 도 5a, 도 5b, 도 5c 및 표 1에 나타내었다. Surface photographs of silver nanowires deposited on the protective film and the transparent flexible substrate prepared in Example 1 and Comparative Example 1 were taken using an AFM apparatus, which are shown in FIGS. 5A, 5B, 5C and Table 1. FIG.

도 5a, 도 5b, 도 5c를 참조하면, 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 AFM 결과, 실시예 1 및 비교예 1에 의해 준비된 보호막에 비교하여 표면 조도의 분포가 큰 것을 알 수 있다. 5A, 5B, and 5C, it can be seen that the AFM results of the silver nanowires deposited on the transparent flexible substrate show a larger surface roughness distribution than the protective film prepared by Example 1 and Comparative Example 1 .

상기 AFM 측정 결과의 수치상에서도 실시예 1에 의한 보호막의 평균 조도(Ra)는 2.902 nm이고, 비교예 1에 의한 보호막의 평균 조도(Ra)는 4.110 nm이고, 투명 유연 기판 상에 증착된 은 나노와이어의 평균 조도(Ra)는 6.933 nm로 측정되었다. 상기 AFM 측정 결과 본 발명의 실시예를 따르는 보호막은 평균 조도가 개선되는 것을 알 수 있다. Also in the numerical values of the AFM measurement results, the average roughness (R a ) of the protective film according to Example 1 was 2.902 nm, the average roughness (R a ) of the protective film according to Comparative Example 1 was 4.110 nm, The average roughness (R a ) of the silver nanowires was measured to be 6.933 nm. As a result of the AFM measurement, it can be seen that the average roughness of the protective film according to the embodiment of the present invention is improved.

Min(nm)Min (nm) Max(nm)Max (nm) Mid(nm)Mid (nm) Mean(nm)Mean (nm) Ra(nm)Ra (nm) Ag NWAg NW -22.123-22.123 51.06951.069 14.49314.493 0.7710.771 6.9336.933 비교예 1Comparative Example 1 -19.559-19.559 61.37261.372 20.90620.906 0.2380.238 4.1104.110 실시예 1Example 1 -16.090-16.090 58.97358.973 21.44121.441 0.2040.204 2.9022.902

실험예 - 열중량 분석 Experimental Example - Thermogravimetric analysis

상기 제조된 보호막의 온도 상승에 따른 열 분해 경향 평가를 위해서, 실시예 1 및 비교예 1에 의해 준비된 보호막의 열중량 분석을 실시하였고 이를 도 6에 나타내었다. The thermogravimetric analysis of the protective film prepared according to Example 1 and Comparative Example 1 was carried out in order to evaluate the thermal decomposition tendency according to the temperature rise of the prepared protective film.

도 6을 참조하면, 실시예 1의 보호막의 5% 중량 감소 온도(Td)는 173℃이고, 비교예 1의 보호막의 5% 중량 감소 온도(Td)는 104℃로 측정되었다. 이를 통해, 본 발명의 실시예에 의해 제조된 투명 전극 상의 보호막은 알칼리 금속 또는 Cs를 포함하지 않는 보호막과 비교하여 내열성이 크게 개선된 것을 알 수 있다. Referring to FIG. 6, the 5% weight reduction temperature (T d ) of the protective film of Example 1 was 173 ° C and the 5% weight reduction temperature (T d ) of the protective film of Comparative Example 1 was measured at 104 ° C. It can be seen from the above that the protective film on the transparent electrode manufactured according to the embodiment of the present invention is significantly improved in heat resistance as compared with the protective film containing no alkali metal or Cs.

실험예 - 보호막 내열성/내습성 시험Experimental Example - Protective film heat resistance / moisture resistance test

150℃/85% 상대 습도 보호막 내열성/내습성 시험150 ℃ / 85% relative humidity Protection film heat resistance / moisture resistance test

각 실시예 및 각 비교예에 의해 준비된 보호막의 내열성을 측정하기 위하여, 상기 실시예 1 내지 8 및 비교예 1, 비교예 2에 의해 준비된 보호막과 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극을 준비하여 비접촉식 면저항 측정기를 사용하여 초기 면저항을 측정한 후, 150℃에서 120시간 방치하면서 동일한 방법으로 면저항을 측정하였고, 이를 도 7, 도 8, 도 9 및 도 10에 나타내었다. In order to measure the heat resistance of the protective film prepared according to each example and each comparative example, silver nanowire electrodes deposited on the protective film and the PES substrate prepared according to Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 and 2 were prepared The sheet resistance was measured by the same method while measuring the initial sheet resistance using a non-contact sheet resistance measuring device, and then left at 150 캜 for 120 hours. The sheet resistance was measured in FIGS. 7, 8, 9 and 10.

도 7을 참조하면, 실시예 1 내지 3에 의해 준비된 각각 Cs, Rb 및 K를 포함하는 보호막의 내열성은 상기 알칼리 금속을 포함하지 않는 비교예 1에 의해 준비된 보호막에 비교하여 내열성이 향상된 것을 확인할 수 있고, 특히, Cs 및 Rb의 첨가에 따라 종래의 보호막에 비교하여 증가된 내열성을 확인할 수 있다. 7, it was confirmed that the heat resistance of the protective film comprising Cs, Rb and K prepared in Examples 1 to 3 was improved as compared with the protective film prepared in Comparative Example 1 containing no alkali metal In particular, the increased heat resistance can be confirmed by adding Cs and Rb to the conventional protective film.

도 8을 참조하면, 실시예 1, 실시예 4 및 실시예 5에 의해 준비된 Cs를 포함하는 보호막은 보호막 조성물의 제조시에 추가된 탄산 세슘의 중량부의 변화에 따른 내열성 경향은 특별히 관찰되지 않았으나, 실시예 1, 실시예 4 및 실시예 5에 의해 준비된 Cs를 포함하는 보호막은 비교예 1에 의해 준비된 Cs를 포함하지 않는 보호막과 비교하여 크게 내열성이 증가된 것을 확인할 수 있다. 8, the protective film containing Cs prepared according to Example 1, Example 4 and Example 5 had no particular heat resistance tendency depending on the change in the weight part of cesium carbonate added at the time of manufacturing the protective film composition, It can be confirmed that the protective film comprising Cs prepared by Example 1, Example 4 and Example 5 greatly improved in heat resistance as compared with the protective film containing no Cs prepared by Comparative Example 1. [

도 9를 참조하면, 실시예 1, 실시예 6 내지 실시예 8에 의해 준비된 Cs를 포함하는 보호막은 보호막 조성물의 제조시에 추가되는 탄산 화합물의 변화에 따라 보호막의 내열 특성이 일부 변화하는 것을 확인하였다. 여러 Cs 화합물 중에 염화 세슘, 요오드 세슘, 브롬화 세슘 및 탄산 세슘을 보호막에 첨가하였을 때, 시간의 경과에 따른 내열성은 염화 세슘, 요오드 세슘, 브롬화 세슘 및 탄산 세슘 순서로 우수한 것을 알 수 있다.9, it was confirmed that the protective film containing Cs prepared according to Example 1 and Examples 6 to 8 showed some change in the heat resistance characteristics of the protective film according to the change of the carbonic acid compound added at the time of production of the protective film composition Respectively. When cesium chloride, cesium iodide, cesium bromide and cesium carbonate are added to the protective film in various Cs compounds, it is found that the heat resistance over time is superior in order of cesium chloride, cesium iodide, cesium bromide and cesium carbonate.

도 10을 참조하면, 실시예 1 및 비교예 2에 의해 준비된 Cs를 포함하는 보호막은 상기 보호막의 제조시에 동일함량의 알칼리 금속염이 추가되었지만 용매를 달리하는 조건으로, 상기 보호막은 150℃에서 48시간 노출한 결과 면저항의 변화의 경향은 거의 동일한 것으로 관찰되었다. 하지만 72시간으로 넘어가는 구간에서 비교예 2에 의해 준비된 보호막의 면저항은 크게 증가하였다. 이를 통해, 보호막의 조성물을 제조하는 단계에서 에탄올을 포함하는 용매가 이에 의해 제조되는 보호막의 내열성에 큰 영향을 미치는 것을 알 수 있다. 10, the protective film containing Cs prepared according to Example 1 and Comparative Example 2 was prepared by adding the same amount of alkali metal salt at the time of production of the protective film, but under the condition that the solvent was different, As a result of time exposure, the tendency of changes in sheet resistance was observed to be almost the same. However, in the section over 72 hours, the sheet resistance of the protective film prepared by Comparative Example 2 was greatly increased. As a result, it can be seen that the solvent containing ethanol greatly affects the heat resistance of the protective film produced by the step of preparing the composition of the protective film.

내열성/내습성 시험에 의한 표면 변화를 확인하기 위해서, 실시예 1, 비교예 1 및 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극을 150℃에서 방치한 후 표면을 주사전자현미경으로 관찰하였고, 이를 도 11a, 도 11b 및 도 11c에 나타내었다. In order to confirm the surface change by the heat resistance / moisture resistance test, silver nanowire electrodes deposited on the PES substrate of Example 1 and Comparative Example 1 were left at 150 DEG C and their surfaces were observed with a scanning electron microscope. 11a, 11b and 11c.

도 11a, 도 11b 및 도 11c를 참조하면, 비교예 1 및 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극은 내열성 테스트 후(도 11a 및 11b 하단 도면) 상기 은 나노와이어가 분해되고 구형 입자가 생성된 것을 관찰할 수 있었고, 실시예 1에 의해 준비된 보호막(도 11c 하단 도면)은 은 나노와이어 전극의 분해 또는 열화가 거의 없이 양호한 모습이 관찰되었다. 이를 통해, 본 발명의 실시예에 의해 제조된 보호막은 150℃/85%의 내열성/내습성 시험 조건에서 비교예1에 의해 준비된 보호막에 비교하여 보호특성이 크게 개선된 것을 알 수 있다. Referring to FIGS. 11A, 11B, and 11C, the silver nanowire electrodes deposited on the Comparative Example 1 and the PES substrate were subjected to a heat resistance test (FIGS. 11A and 11B) And the protective film prepared in Example 1 (FIG. 11C, bottom view) was observed to have a good appearance with almost no decomposition or deterioration of the silver nanowire electrode. It can be seen from the results that the protective film prepared according to the embodiment of the present invention is greatly improved in the protective characteristics as compared with the protective film prepared according to the comparative example 1 under the heat / moisture resistance test conditions of 150 ° C / 85%.

85℃/85% 상대 습도 보호막 내열성/내습성 시험85 ℃ / 85% relative humidity Protection film heat resistance / moisture resistance test

실시예 1 및 비교예 1에 의해 준비된 보호막과 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어를 준비하여 비접촉식 면저항 측정기를 사용하여 초기 면저항을 측정한 후, 85에서 55일간 방치하면서 동일한 방법으로 면저항을 측정하였고, 이를 도 12에 나타내었다. The protective film prepared according to Example 1 and Comparative Example 1 and silver nanowires deposited on the PES substrate were prepared and the initial sheet resistance was measured using a non-contact type sheet resistance measuring device. The sheet resistance was measured in the same manner while the sheet resistance was maintained for 85 to 55 days This is shown in Fig.

도 12를 참조하면, 본 발명의 실시예를 다르는 보호막을 포함하는 은 나노와이어 전극은 비교예 1에 의한 보호막과 비교하여 내열성이 개선된 것을 알 수 있다. Referring to FIG. 12, it can be seen that the silver nanowire electrode including the protective film, which differs from the embodiment of the present invention, has improved heat resistance as compared with the protective film of Comparative Example 1.

내열성 및 내습성 테스트에 의한 표면 변화를 확인하기 위해서, 실시예 1, 비교예 1 및 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극을 85에서 55일간 방치한 후 표면을 주사전자현미경으로 관찰하였고 이를 도 13a, 도 13b 및 도 13c에 나타내었다. In order to confirm the surface change by the heat resistance and moisture resistance test, the silver nanowire electrode deposited on the PES substrate of Example 1, Comparative Example 1 and the PES substrate was left for 85 to 55 days, and the surface was observed with a scanning electron microscope 13a, 13b and 13c.

도 13a, 도 13b 및 도 13c를 참조하면, PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극은 도 12의 크게 증가된 면저항에서 보여지듯이, 내열성 및 내습성 테스트 후에(도 13a, 도 13b 및 도 13c 하단 도면) 은 나노와이어의 길이가 짧아지고 분해된 모습을 관찰할 수 있다. 13A, 13B, and 13C, the silver nanowire electrode deposited on the PES substrate is subjected to a heat resistance and humidity resistance test (as shown in FIGS. 13A, 13B, and 13C In the drawing, the length of the nanowire is shortened and the disassembled state can be observed.

실험예 - 광학특성 분석 Experimental Example - Optical Characterization

UV-VIS 스펙트럼의 측정Measurement of UV-VIS spectra

상기 실시예 1 및 비교예 1에 의해 준비된 보호막과 PES 기판, 상기 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극을 준비하여 UV-VIS 장치를 이용하여 200nm 내지 800nm 범위의 파장에서 투과도를 측정하였고, 이를 도 14, 도 15 및 표 2, 표 3, 표 4에 나타내었다. A protective film prepared according to Example 1 and Comparative Example 1, a PES substrate, and a silver nanowire electrode deposited on the PES substrate were prepared and measured for transmittance at a wavelength ranging from 200 nm to 800 nm using a UV-VIS apparatus. 14, 15 and Table 2, Table 3 and Table 4.

도 14 및 도 15를 참조하면, 실시예 1에 의해 준비된 보호막은 200nm 내지 800nm 파장 전 범위에서 투과도 감소가 최소화 되었으며, 500 nm 이상의 파장에서는 PES 기판에 비교하여 오히려 투과도가 높은 수치를 나타냈다. 이를 통해 본 발명의 실시예를 따르는 보호막은 투과도의 저하 또는 광학 특성에 큰 영향을 주지 않는 것으로 판단된다. 하기의 표 2, 표 3 및 표 4에는 550nm 파장에서 측정한 투과도의 수치를 기재하였다. Referring to FIG. 14 and FIG. 15, the protective film prepared according to Example 1 exhibited a minimum transmittance reduction over a wavelength range of 200 nm to 800 nm, and a higher transmittance than a PES substrate at a wavelength of 500 nm or more. Accordingly, it is judged that the protective film according to the embodiment of the present invention does not greatly affect the lowering of the transmittance or the optical characteristics. The following Tables 2, 3 and 4 show the values of the transmittance measured at a wavelength of 550 nm.

헤이즈 측정Haze measurement

헤이즈미터를 사용하여 실시예 1 내지 실시예 8 및 비교예 1, PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극 2개의 샘플에 대해 각 2회 헤이즈 값을 측정하였고, 이를 표 2, 표 3 및 표 4에 나타내었다. Haze values were measured twice for each sample of silver nanowire electrodes deposited on a PES substrate in Examples 1 to 8 and Comparative Example 1 using a haze meter, Respectively.

SampleSample T.T (%)T.T (%) HazeHaze 면 저항Surface resistance
Ag NW


Ag NW

1
One
87.3887.38 0.750.75 7878
87.5987.59 0.720.72 7777 2
2
87.3387.33 0.790.79 6969
87.3787.37 0.720.72 6868
비교예 1


Comparative Example 1

1
One
90.0290.02 0.770.77 6969
90.1290.12 0.740.74 6868 2
2
89.9589.95 0.720.72 7070
90.1290.12 0.770.77 7070
실시예 1


Example 1

1
One
90.0590.05 0.780.78 6969
90.2090.20 0.790.79 6868 2
2
90.1090.10 0.790.79 7676
90.1290.12 0.780.78 7474
실시예 2


Example 2

1
One
90.1290.12 0.750.75 7272
90.1090.10 0.730.73 6868 2
2
90.1390.13 0.820.82 7474
90.1690.16 0.830.83 7373
실시예 3


Example 3

1
One
90.1690.16 0.820.82 7171
90.0490.04 0.770.77 6969 2
2
90.1990.19 0.790.79 7373
90.0390.03 0.760.76 6969

표 2를 참조하면, 실시예 1, 실시예 2 및 실시예 3에 의해 준비된 보호막의 투과도는 비교예 1에 의해 준비된 보호막 또는 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극의 수치와 비교하여 거의 동일한 수치를 보였고, 또한 Cs, Rb 또는 K 중 적어도 하나를 포함하는 알칼리 금속염의 추가를 통해서 헤이즈 값의 저하는 관찰되지 않았다. 실시예 1, 실시예 2 및 실시예 3에 의해 준비된 보호막의 면저항도 평균 70Ω/□ 전후의 수치로 관찰되었고, 이는 비교예 1에 의해 준비된 보호막 또는 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극의 수치와 큰 차이가 없는 값이다. Referring to Table 2, the transmittance of the protective film prepared by Example 1, Example 2, and Example 3 was almost the same as that of silver nanowire electrodes deposited on the protective film or PES substrate prepared by Comparative Example 1 And no decrease in haze value was observed through the addition of an alkali metal salt containing at least one of Cs, Rb or K. [ The sheet resistance of the protective film prepared by Examples 1, 2 and 3 was also observed at an average of about 70? /?, Which is a numerical value of the silver nanowire electrode deposited on the protective film or the PES substrate prepared by Comparative Example 1 Is a value that does not make a big difference.

SampleSample T.T (%)T.T (%) HazeHaze 면 저항Surface resistance
Ag NW


Ag NW

1
One
87.2987.29 0.830.83 6666
87.3987.39 0.790.79 6464 2
2
87.4387.43 0.770.77 7070
87.4087.40 0.790.79 6868
비교예 1


Comparative Example 1

1
One
89.9089.90 0.770.77 6666
90.0990.09 0.840.84 6565 2
2
90.0590.05 0.810.81 6565
90.0890.08 0.820.82 6464
실시예 1


Example 1

1
One
89.9589.95 0.880.88 6161
89.9389.93 0.850.85 6161 2
2
89.8189.81 0.830.83 6262
89.8589.85 0.860.86 6161
실시예 4


Example 4

1
One
89.7989.79 0.820.82 6464
89.8189.81 0.790.79 6262 2
2
89.8789.87 0.830.83 6464
90.0590.05 0.870.87 6363
실시예 5


Example 5

1
One
89.5889.58 5.125.12 6363
89.6089.60 5.095.09 6363 2
2
89.8189.81 5.075.07 6565
89.4989.49 4.904.90 6464

표 3을 참조하면, 실시예 1, 실시예 4 및 실시예 5에 의해 준비된 보호막의 투과도는 비교예 1에 의해 준비된 보호막 또는 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극의 수치와 비교하여 거의 동일한 수치를 보였다. 실시예 4에 의해 준비된 보호막의 헤이즈 수치는 실시예 1 및 비교예 1에 의해 준비된 보호막 또는 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극과 비교하여 큰 차이가 없었다. 하지만 실시예 5에 의해 준비된 보호막의 헤이즈 수치는 평균 5.02로 실시예 1 및 비교예 1에 의해 준비된 보호막 또는 ES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극의 수치와 비교하여 크게 증가한 값을 나타냈다. 실시예 1, 실시예 4 및 실시예 5에 의해 준비된 보호막의 면저항은 각각 평균 61.25 Ω/□, 63.25 Ω/□ 및 63.75 Ω/□의 수치로 측정되었고, 이는 비교예 1에 의해 준비된 보호막 또는 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극의 수치와 큰 차이가 없는 값이다.Referring to Table 3, the transmittance of the protective film prepared according to Example 1, Example 4, and Example 5 was almost the same as that of silver nanowire electrodes deposited on the protective film or PES substrate prepared by Comparative Example 1 Respectively. The haze value of the protective film prepared according to Example 4 was not much different from the protective film prepared according to Example 1 and Comparative Example 1 or the silver nanowire electrode deposited on the PES substrate. However, the haze value of the protective film prepared in Example 5 averaged 5.02, which was greatly increased as compared with the values of the silver nanowire electrodes deposited on the protective film or ES substrate prepared in Example 1 and Comparative Example 1. The sheet resistances of the protective films prepared according to Examples 1, 4 and 5 were measured at an average of 61.25? / ?, 63.25? / ?, and 63.75? /?, Respectively, It is a value that does not greatly differ from the value of the silver nanowire electrode deposited on the substrate.

SampleSample T.T (%)T.T (%) HazeHaze 면 저항Surface resistance
Ag NW


Ag NW

1
One
87.3887.38 0.750.75 7878
87.5987.59 0.720.72 7777 2
2
87.3387.33 0.790.79 6969
87.3787.37 0.820.82 6868
실시예 1


Example 1

1
One
90.0590.05 0.780.78 6969
90.2090.20 0.790.79 6868 2
2
90.1090.10 0.790.79 7676
90.1290.12 0.780.78 7474
실시예 6


Example 6

1
One
98.8798.87 1.911.91 7272
90.0690.06 1.911.91 6969 2
2
89.9189.91 2.052.05 7575
89.9789.97 2.062.06 7373
실시예 7


Example 7

1
One
90.0090.00 1.131.13 7373
89.9089.90 1.101.10 7575 2
2
90.0390.03 1.191.19 7171
90.1390.13 1.211.21 7575
실시예 8


Example 8

1
One
90.0090.00 0.810.81 8484
89.8989.89 0.760.76 8989 2
2
89.7889.78 0.860.86 8484
89.7989.79 0.800.80 9090

표 4를 참조하면, 실시예 1, 실시예 6, 실시예 7 및 실시예 8에 의해 준비된 보호막의 투과도는 비교예 1에 의해 준비된 보호막 또는 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극의 수치와 비교하여 거의 동일한 수치를 보였다. 실시예 8에 의해 준비된 보호막의 헤이즈 수치는 실시예 1 및 비교예 1에 의해 준비된 보호막 또는 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극과 비교하여 큰 차이가 없었다. 하지만 실시예 6 및 실시예 7에 의해 준비된 보호막의 헤이즈 수치는 각각 2.00 및 1.16으로 측정되어, 실시예 1 및 비교에 1에 의해 준비된 보호막 및 또는 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극의 수치와 비교하여 크게 증가한 값을 나타냈다. 실시예 1, 실시예 6, 실시예 7 및 실시예 8에 의해 준비된 보호막의 면저항은 각각 평균 71.75 Ω/□, 72.25 Ω/□, 73.5 Ω/□ 및 86.75 Ω/□의 수치로 측정되었고, 이는 실시예 8에 의한 보호막의 면저항을 제외하고는 비교예 1에 의해 준비된 보호막 또는 PES 기판 상에 증착된 은 나노와이어 전극의 수치와 큰 차이가 없는 값이다.Referring to Table 4, the transmittance of the protective film prepared by Example 1, Example 6, Example 7, and Example 8 is compared with the value of the silver nanowire electrode deposited on the protective film or the PES substrate prepared in Comparative Example 1 Respectively. The haze value of the protective film prepared according to Example 8 was not much different from the protective film prepared according to Example 1 and Comparative Example 1 or the silver nanowire electrode deposited on the PES substrate. However, the haze values of the protective films prepared by Example 6 and Example 7 were measured to be 2.00 and 1.16, respectively, and the values of silver nanowire electrodes deposited on the protective film and / or PES substrate prepared by Example 1 and Comparative Example 1 And the value increased greatly. The sheet resistances of the protective films prepared according to Example 1, Example 6, Example 7 and Example 8 were measured at an average of 71.75? / ?, 72.25? / ?, 73.5? / And 86.75? /? The values of the silver nanowire electrodes deposited on the protective film or the PES substrate prepared in Comparative Example 1 are not significantly different from those of the silver nanowire electrode except for the sheet resistance of the protective film according to Example 8. [

본 발명은 상술한 실시 형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다.The present invention is not limited to the above-described embodiment and the accompanying drawings, but is intended to be limited by the appended claims. It will be apparent to those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. something to do.

Claims (12)

에탄올을 포함하는 용매를 준비하는 단계;
상기 용매에 알칼리 금속염을 첨가하는 단계; 및
상기 알칼리 금속염을 상기 용매에 분산하는 단계;를 포함하는 보호막 조성물의 제조방법.
Preparing a solvent comprising ethanol;
Adding an alkali metal salt to the solvent; And
And dispersing the alkali metal salt in the solvent.
제1항에 있어서,
상기 용매에 첨가되는 알칼리 금속염의 함량은 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 0.05 내지 1.0 wt%인 보호막 조성물의 제조방법.
The method according to claim 1,
Wherein the content of the alkali metal salt added to the solvent is 0.05 to 1.0 wt% with respect to the total mass of the protective film composition.
제1항에 있어서,
상기 알칼리 금속염의 양이온은 세슘(Cs), 루비듐(Rb) 또는 칼륨(K) 중 적어도 하나를 포함하는 보호막 조성물의 제조방법.
The method according to claim 1,
Wherein the cation of the alkali metal salt comprises at least one of cesium (Cs), rubidium (Rb), and potassium (K).
제1항에 있어서,
상기 알칼리금속염은 알칼리금속 탄산염, 알칼리금속 요오드염, 알칼리금속 염화염 또는 알칼리금속 브롬화염 중 적어도 하나인 보호막 조성물의 제조방법.
The method according to claim 1,
Wherein the alkali metal salt is at least one of an alkali metal carbonate, an alkali metal iodide, an alkali metal chloride or an alkali metal bromate.
제4항에 있어서,
상기 알칼리금속 탄산염은 세슘탄산염(Cs2CO3), 루비듐탄산염(Rb2CO3) 또는 칼륨탄산염(K2CO3) 중 적어도 하나를 포함하는 보호막 조성물의 제조방법.
5. The method of claim 4,
Wherein the alkali metal carbonate comprises at least one of cesium carbonate (Cs 2 CO 3 ), rubidium carbonate (Rb 2 CO 3 ) or potassium carbonate (K 2 CO 3 ).
제1항에 있어서,
상기 용매에 광개시제를 첨가하는 단계를 더 포함하는 보호막 조성물의 제조방법.
The method according to claim 1,
And adding a photoinitiator to the solvent.
제1항에 있어서,
상기 용매에 계면활성제를 첨가하는 단계를 더 포함하는 보호막 조성물의 제조방법.
The method according to claim 1,
And adding a surfactant to the solvent.
제1항에 있어서,
상기 용매에 자외선 레진을 첨가하는 단계를 더 포함하는 보호막 조성물의 제조방법.
The method according to claim 1,
And adding ultraviolet resin to the solvent.
알칼리 금속염;을 포함하고, 상기 알칼리 금속염의 양이온은 세슘(Cs), 루비듐(Rb) 또는 칼륨(K) 중 적어도 하나를 포함하는 보호막 조성물.
Wherein the cation of the alkali metal salt comprises at least one of cesium (Cs), rubidium (Rb), and potassium (K).
제9항에 있어서,
상기 보호막 조성물에 포함된 알칼리 금속염의 함량은 상기 보호막 조성물 전체 질량에 대하여 0.05 내지 1.0 wt%인 보호막 조성물.
10. The method of claim 9,
Wherein the content of the alkali metal salt contained in the protective film composition is 0.05 to 1.0 wt% with respect to the total mass of the protective film composition.
제 9항에 있어서,
상기 보호막 조성물은 광개시제, 계면활성제, 자외선 레진 중 적어도 하나를 포함하는 첨가제를 더 포함하는 보호막 조성물.
10. The method of claim 9,
Wherein the protective film composition further comprises an additive comprising at least one of a photoinitiator, a surfactant, and an ultraviolet resin.
투명 유연 기판 상에 금속 나노와이어 전극을 증착하는 단계; 및
상기 은 나노와이어 전극 상에 보호막을 도포하는 단계;를 포함하고,
상기 보호막은 에탄올을 포함하는 용매를 준비하는 단계; 상기 용매에 알칼리 금속염을 첨가하는 단계; 및 상기 알칼리 금속염을 상기 용매에 분산하는 단계;를 포함하는 투명 전극의 제조방법.

Depositing a metal nanowire electrode on a transparent flexible substrate; And
And applying a protective film on the silver nanowire electrode,
Wherein the protective film comprises: preparing a solvent containing ethanol; Adding an alkali metal salt to the solvent; And dispersing the alkali metal salt in the solvent.

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