KR20180062733A - Case of electronic device and fabrication method thereof - Google Patents

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Abstract

A case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes a metal base material including at least one stepped region; a first oxide layer formed on the first surface of the metal base material; and a second oxide layer formed on the second surface of the metal base material. The first oxide layer is in an amorphous state. The second oxide layer is in a crystalline state. The at least one stepped region may be a radio wave transmitting region that is laminated with the first oxide layer and the second oxide layer and transmits radio waves. Various embodiments may be also possible.

Description

전자 장치의 케이스 및 그 제조 방법 {CASE OF ELECTRONIC DEVICE AND FABRICATION METHOD THEREOF}[0001] CASE OF ELECTRONIC DEVICE AND FABRICATION METHOD THEREOF [0002]

본 발명의 다양한 실시 예는 전자 장치의 케이스 및 그 제조 방법에 관한 것으로서, 예를 들면, 무선 통신 또는 무선 충전을 위한 전파가 투과되는 전자 장치의 케이스 및 그 제조 방법에 관한 것이다.Various embodiments of the present invention relate to a case of an electronic device and a method of manufacturing the same, and more particularly to a case of an electronic device through which a radio wave for wireless communication or wireless charging is transmitted and a method of manufacturing the same.

전자 장치라 함은, 가전제품으로부터, 전자 수첩, 휴대용 멀티미디어 재생기, 이동통신 단말기, 태블릿 PC, 영상/음향 장치, 데스크톱/랩톱 컴퓨터, 차량용 내비게이션 등, 탑재된 프로그램에 따라 특정 기능을 수행하는 장치를 의미할 수 있다. 예를 들면, 이러한 전자 장치들은 저장된 정보를 음향이나 영상으로 출력할 수 있다. 전자 장치의 집적도가 높아지고, 초고속, 대용량 무선통신이 보편화되면서, 최근에는, 이동통신 단말기와 같은 하나의 전자 장치에 다양한 기능이 탑재될 수 있다. 예를 들면, 통신 기능뿐만 아니라, 게임과 같은 엔터테인먼트 기능, 음악/동영상 재생과 같은 멀티미디어 기능, 모바일 뱅킹 등을 위한 통신 및 보안 기능, 일정 관리나 전자 지갑 등의 기능이 하나의 전자 장치에 집약되고 있는 것이다.The electronic device refers to a device that performs a specific function according to a loaded program such as an electronic notebook, an electronic notebook, a portable multimedia player, a mobile communication terminal, a tablet PC, a video / audio device, a desktop / laptop computer, It can mean. For example, such electronic devices may output stored information as sound or video. As the degree of integration of electronic devices increases, ultra-high-speed and large-capacity wireless communications become popular, and in recent years, various functions can be mounted on one electronic device such as a mobile communication terminal. For example, not only communication functions but also entertainment functions such as games, multimedia functions such as music / video playback, communication and security functions for mobile banking, and functions such as schedule management and electronic wallet are integrated into one electronic device It is.

전자 장치는 외관을 형성하면서 전자 장치의 내부를 보호하는 케이스를 포함할 수 있다. 전자 장치의 케이스는 디자인의 고급화 및 강도의 향상을 위해 금속으로 이루어질 수 있다.The electronic device may include a case that protects the interior of the electronic device while forming an appearance. The case of the electronic device may be made of metal to enhance the design and the strength.

금속 재질의 케이스는 전파를 반사/차단하는 특성을 가지므로, 케이스의 일부분이 수지로 형성하여, 케이스의 일부분을 통해 전자 장치의 무선통신 기능 또는 무선 충전 기능을 수행할 수 있다. 케이스의 일부분이 수지로 이루어지는 경우, 케이스의 디자인에 문제가 발생할 수 있다.Since the case made of the metal has the characteristic of reflecting / blocking the radio wave, a part of the case is formed of resin and can perform the wireless communication function or the wireless charging function of the electronic device through a part of the case. In the case where a part of the case is made of resin, a problem may arise in the design of the case.

금속 재질의 케이스의 광택 및 질감을 구현하기 위해, 케이스를 산화법을 통해 비금속화하여 금속 재질의 케이스의 전파 투과를 가능하게 하는 시도가 진행되고 있다. 케이스에 산화법 중 하나인 양극 산화법을 적용한 경우, 산화층이 형성되면서 크랙이 발생하며, 전기 저항이 높아지기 때문에 산화층의 생성 속도가 느려지면서 일정한 두께 이상의 산화층을 성장시키기 어려울 수 있다. 케이스에 산화법 중 다른 하나인 플라즈마 전해 산화법(Plasma Electrolytic Oxidation)을 적용한 경우, 표면 조도(Surface Roughness)가 크고, 도장 등의 장식 가공이 곤란할 수 있다.In order to realize the luster and texture of a metal case, attempts have been made to make the case nonmetallic by oxidation so as to allow radio wave transmission through a metal case. In the case of applying the anodic oxidation method, which is one of the oxidation methods, to the case, cracks are generated as the oxide layer is formed, and since the electrical resistance is increased, the formation rate of the oxide layer is slow and it may be difficult to grow an oxide layer having a certain thickness or more. When the plasma electrolytic oxidation (plasma electrolytic oxidation), which is another oxidation method, is applied to the case, the surface roughness is large and decorative processing such as painting can be difficult.

본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스는, 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재; 상기 금속 모재의 제1 표면에 형성되는 제1 산화층; 및 상기 금속 모재의 제2 표면에 형성되는 제2 산화층을 포함하고, 상기 제1 산화층은 비정질로 이루어지고, 상기 제2 산화층은 결정질로 이루어지고, 상기 적어도 하나의 단차 영역은, 상기 제1 산화층과 상기 제2 산화층으로 적층되어, 전파를 투과하는 전파 투과 영역을 포함일 수 있다.A case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes: a metal base material including at least one step region; A first oxide layer formed on a first surface of the metal base material; And a second oxide layer formed on a second surface of the metal base material, wherein the first oxide layer is made of an amorphous material, the second oxide layer is made of crystalline material, and the at least one stepped region And the second oxide layer, and includes a radio wave transmitting region through which radio waves are transmitted.

본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법은, 금속 모재의 일부분을 기계 가공 또는 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작; 상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작; 상기 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작; 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작; 및 상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 제1 산화층과 상기 제2 산화층으로 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작을 포함할 수 있다.A method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes: an operation of forming a metal base material including at least one step region by etching or removing a part of the base metal material by machining or laser or etching; Masking the first surface of the metal base material; Oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method to form a second oxide layer; Oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method to form a first oxide layer; And stacking the first oxide layer and the second oxide layer in at least one of the stepped regions to form a radio wave transmitting region.

본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스는, 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재; 상기 금속 모재의 제1 표면에 형성되는 제1 산화층; 상기 금속 모재의 제2 표면에 형성되는 제2 산화층; 및 상기 제2 산화층의 표면에 형성되는 레진층을 포함하고, 상기 적어도 하나의 단차 영역은, 상기 제1, 제2 산화층과 상기 레진층으로 적층되어, 전파를 투과하는 전파 투과 영역을 포함할 수 있다.A case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes: a metal base material including at least one step region; A first oxide layer formed on a first surface of the metal base material; A second oxide layer formed on a second surface of the metal base material; And a resin layer formed on a surface of the second oxide layer, wherein the at least one stepped region may include a radio wave transmitting region laminated with the first and second oxide layers and the resin layer to transmit radio waves have.

본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법은, 금속 모재의 일부분을 기계 가공 또는 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작; 상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작; 상기 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작; 상기 제2 산화층의 표면에 레진층을 형성하는 동작; 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작; 및 상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 제1, 제2 산화층과 상기 레진층으로 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작을 포함할 수 있다.A method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes: an operation of forming a metal base material including at least one step region by etching or removing a part of the base metal material by machining or laser or etching; Masking the first surface of the metal base material; Oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method to form a second oxide layer; Forming a resin layer on the surface of the second oxide layer; Oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method to form a first oxide layer; And stacking the first and second oxide layers and the resin layer in at least one of the stepped regions to form a radio wave transmitting region.

본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스는, 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재; 상기 금속 모재의 제1 표면에 형성되는 제1 산화층; 상기 금속 모재의 제2 표면에 형성되는 제2 산화층; 및 상기 제1 산화층의 표면에 형성되는 금속 코팅층을 포함하고, 상기 적어도 하나의 단차 영역은, 상기 금속 코팅층 및 상기 제1, 제2 산화층으로 적층되어, 전파를 투과하는 전파 투과 영역을 포함할 수 있다.A case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes: a metal base material including at least one step region; A first oxide layer formed on a first surface of the metal base material; A second oxide layer formed on a second surface of the metal base material; And a metal coating layer formed on a surface of the first oxide layer, wherein the at least one stepped region may include a radio wave transmitting region which is laminated with the metal coating layer and the first and second oxidation layers and transmits radio waves have.

본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법은, 금속 모재의 일부분을 기계 가공 또는 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작; 상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작; 상기 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작; 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작; 상기 제1 산화층의 표면에 금속 코팅층을 형성하는 동작; 및 상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 금속 코팅층 및 상기 제1, 제2 산화층으로 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작을 포함할 수 있다.A method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes: an operation of forming a metal base material including at least one step region by etching or removing a part of the base metal material by machining or laser or etching; Masking the first surface of the metal base material; Oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method to form a second oxide layer; Oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method to form a first oxide layer; Forming a metal coating layer on a surface of the first oxide layer; And laminating the metal coating layer and the first and second oxide layers on at least one of the stepped regions to form a radio wave transmitting region.

본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스는, 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재; 상기 금속 모재의 제1 표면에 형성되는 제1 산화층; 상기 금속 모재의 제2 표면에 형성되는 제2 산화층; 상기 제2 산화층의 표면에 형성되는 레진층; 및 상기 제1 산화층의 표면에 형성되는 금속 코팅층을 포함하고, 상기 적어도 하나의 단차 영역은, 상기 금속 코팅층, 상기 제1, 제2 산화층 및 상기 레진층으로 적층되어, 전파를 투과하는 전파 투과 영역을 포함할 수 있다.A case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes: a metal base material including at least one step region; A first oxide layer formed on a first surface of the metal base material; A second oxide layer formed on a second surface of the metal base material; A resin layer formed on a surface of the second oxide layer; And a metal coating layer formed on a surface of the first oxide layer, wherein the at least one stepped region is laminated with the metal coating layer, the first and second oxide layers, and the resin layer to form a radio wave transmission region . ≪ / RTI >

본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법은, 금속 모재의 일부분을 기계 가공 또는 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작; 상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작; 상기 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작; 상기 제2 산화층의 표면에 레진층을 형성하는 동작; 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작; 상기 제1 산화층의 표면에 금속 코팅층을 형성하는 동작; 및 상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 금속 코팅층, 상기 제1, 제2 산화층 및 상기 레진층으로 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작을 포함할 수 있다.A method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes: an operation of forming a metal base material including at least one step region by etching or removing a part of the base metal material by machining or laser or etching; Masking the first surface of the metal base material; Oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method to form a second oxide layer; Forming a resin layer on the surface of the second oxide layer; Oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method to form a first oxide layer; Forming a metal coating layer on a surface of the first oxide layer; And laminating the metal coating layer, the first and second oxide layers, and the resin layer on at least one of the stepped regions to form a radio wave transmitting region.

본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 외측면은 제1 산화층으로 형성됨에 따라, 전체적으로 금속 광택 및 질감을 구현할 수 있고, 제1 층의 전파 투과 영역에 제1, 제2 산화층이 존재하게 됨에 따라, 전파를 투과할 수 있다.Since the outer surface of the case of the electronic device according to various embodiments of the present invention is formed of the first oxide layer, the metal luster and texture can be realized as a whole and the first and second oxide layers are present in the radio wave transmitting region of the first layer The radio wave can be transmitted.

본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법은, 제1 산화법에 의해 제1 산화층을 형성함에 따라, 케이스의 외측면을 형성하는 제1 산화층에 도장 등의 장식 가공이 용이하면서도, 제2 산화법에 의해 제2 산화층을 형성함에 따라, 제2 산화층에 크랙이 발생되는 것을 방지할 수 있다.A method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention is a method of manufacturing a case of an electronic device in which a first oxidation layer is formed by a first oxidation method, By forming the second oxide layer by the second oxidation method, generation of cracks in the second oxide layer can be prevented.

도 1은 본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치의 케이스를 나타내는 사시도이다.
도 2는 도 1의 A-A'부분을 절단된 단면도이다.
도 3은 본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법에 적용되는 제1, 제2 산화법을 나타내는 도면이다
도 5는 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 지그를 사시도이다.
도 6은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 9는 본 발명의 다양한 실시 예 중 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.
도 10은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.
도 11은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.
도 12는 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스를 나타내는 단면도이다.
도 13은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 14는 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.
도 15는 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.
도 16은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 17은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.
도 18은 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.
1 is a perspective view illustrating a case of an electronic device according to one of various embodiments of the present invention.
2 is a cross-sectional view taken along the line A-A 'in FIG.
3 is a diagram illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to one of the various embodiments of the present invention.
4 is a diagram illustrating first and second oxidation methods applied to a method of manufacturing a case of an electronic device according to one of various embodiments of the present invention
5 is a perspective view of a jig masking a first surface of a metal base material in a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention.
6 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.
7 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.
8 is a flow chart illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to another of the various embodiments of the present invention.
9 is a diagram illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to another of the various embodiments of the present invention.
10 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.
11 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.
12 is a cross-sectional view illustrating a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.
Figure 13 is a flow chart illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to yet another of the various embodiments of the present invention.
14 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.
15 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.
Figure 16 is a flow diagram illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to yet another of the various embodiments of the present invention.
17 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.
18 is a flow chart illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention.

이하, 본 발명의 다양한 실시 예들이 첨부된 도면을 참조하여 기재된다. 실시 예 및 이에 사용된 용어들은 본 발명에 기재된 기술을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시 예의 다양한 변경, 균등물, 및/또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다. 본 발명에서, "A 또는 B" 또는 "A 및/또는 B 중 적어도 하나" 등의 표현은 함께 나열된 항목들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제 1," "제 2," "첫째," 또는 "둘째,"등의 표현들은 해당 구성요소들을, 순서 또는 중요도에 상관없이 수식할 수 있고, 한 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위해 사용될 뿐 해당 구성요소들을 한정하지 않는다. 어떤(예: 제 1) 구성요소가 다른(예: 제 2) 구성요소에 "(기능적으로 또는 통신적으로) 연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나, 다른 구성요소(예: 제 3 구성요소)를 통하여 연결될 수 있다.Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. It is to be understood that the embodiments and terminology used herein are not intended to limit the invention to the particular embodiments, but are to be construed to cover various modifications, equivalents, and / or alternatives of the embodiments. In connection with the description of the drawings, like reference numerals may be used for similar components. The singular expressions may include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In the present invention, the expression "A or B" or "at least one of A and / or B" and the like may include all possible combinations of items listed together. Expressions such as " first, "" second," " first, "or" second, " But is not limited to those components. When it is mentioned that some (e.g., first) component is "(functionally or communicatively) connected" or "connected" to another (second) component, May be connected directly to the component, or may be connected through another component (e.g., a third component).

본 발명에서, "~하도록 구성된(또는 설정된)(configured to)"은 상황에 따라, 예를 들면, 하드웨어적 또는 소프트웨어적으로 "~에 적합한," "~하는 능력을 가지는," "~하도록 변경된," "~하도록 만들어진," "~를 할 수 있는," 또는 "~하도록 설계된"과 상호 호환적으로(interchangeably) 사용될 수 있다. 어떤 상황에서는, "~하도록 구성된 장치"라는 표현은, 그 장치가 다른 장치 또는 부품들과 함께 "~할 수 있는" 것을 의미할 수 있다. 예를 들면, 문구 "A, B, 및 C를 수행하도록 구성된(또는 설정된) 프로세서"는 해당 동작을 수행하기 위한 전용 프로세서(예: 임베디드 프로세서), 또는 메모리 장치에 저장된 하나 이상의 소프트웨어 프로그램들을 실행함으로써, 해당 동작들을 수행할 수 있는 범용 프로세서(예: CPU 또는 application processor)를 의미할 수 있다. In the present invention, the term " configured to ", as used herein, refers to a situation in which, depending on the situation, for example, , "" Made to "," can do ", or" designed to ". In some situations, the expression "a device configured to" may mean that the device can "do " with other devices or components. For example, a processor configured (or configured) to perform the phrases "A, B, and C" may be implemented by executing one or more software programs stored in a memory device or a dedicated processor (e.g., an embedded processor) , And a general purpose processor (e.g., a CPU or an application processor) capable of performing the corresponding operations.

본 발명의 다양한 실시 예들에 따른 전자 장치는, 예를 들면, 스마트폰, 태블릿 PC, 이동 전화기, 영상 전화기, 전자책 리더기, 데스크탑 PC, 랩탑 PC, 넷북 컴퓨터, 워크스테이션, 서버, PDA, PMP(portable multimedia player), MP3 플레이어, 의료기기, 카메라, 또는 웨어러블 장치 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 웨어러블 장치는 액세서리형(예: 시계, 반지, 팔찌, 발찌, 목걸이, 안경, 콘택트 렌즈, 또는 머리 착용형 장치(head-mounted-device(HMD)), 직물 또는 의류 일체형(예: 전자 의복), 신체 부착형(예: 스킨 패드 또는 문신), 또는 생체 이식형 회로 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 어떤 실시 예들에서, 전자 장치는, 예를 들면, 텔레비전, DVD(digital video disk) 플레이어, 오디오, 냉장고, 에어컨, 청소기, 오븐, 전자레인지, 세탁기, 공기 청정기, 셋톱 박스, 홈 오토매이션 컨트롤 패널, 보안 컨트롤 패널, 미디어 박스(예: 삼성 HomeSyncTM, 애플TVTM, 또는 구글 TVTM), 게임 콘솔(예: XboxTM, PlayStationTM), 전자 사전, 전자 키, 캠코더, 또는 전자 액자 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.Electronic devices in accordance with various embodiments of the present invention may be used in various applications such as, for example, smart phones, tablet PCs, mobile phones, videophones, electronic book readers, desktop PCs, laptop PCs, netbook computers, workstations, servers, PDAs, a portable multimedia player, an MP3 player, a medical device, a camera, or a wearable device. Wearable devices may be of the type of accessories (eg, watches, rings, bracelets, braces, necklaces, glasses, contact lenses or head-mounted-devices (HMD) (E.g., a skin-pads or tattoo), or a bio-implantable circuit. In some embodiments, the electronic device may be, for example, a television, a digital video disk (Such as Samsung HomeSync , Apple TV , or Google TV ), a refrigerator, air conditioner, vacuum cleaner, oven, microwave oven, washing machine, air purifier, set top box, home automation control panel, A game console (e.g., Xbox TM , PlayStation TM ), an electronic dictionary, an electronic key, a camcorder, or an electronic frame.

다른 실시 예에서, 전자 장치는, 각종 의료기기(예: 각종 휴대용 의료측정기기(혈당 측정기, 심박 측정기, 혈압 측정기, 또는 체온 측정기 등), MRA(magnetic resonance angiography), MRI(magnetic resonance imaging), CT(computed tomography), 촬영기, 또는 초음파기 등), 네비게이션 장치, 위성 항법 시스템(GNSS(global navigation satellite system)), EDR(event data recorder), FDR(flight data recorder), 자동차 인포테인먼트 장치, 선박용 전자 장비(예: 선박용 항법 장치, 자이로 콤파스 등), 항공 전자기기(avionics), 보안 기기, 차량용 헤드 유닛(head unit), 산업용 또는 가정용 로봇, 드론(drone), 금융 기관의 ATM, 상점의 POS(point of sales), 또는 사물 인터넷 장치 (예: 전구, 각종 센서, 스프링클러 장치, 화재 경보기, 온도조절기, 가로등, 토스터, 운동기구, 온수탱크, 히터, 보일러 등) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 어떤 실시 예에 따르면, 전자 장치는 가구, 건물/구조물 또는 자동차의 일부, 전자 보드(electronic board), 전자 사인 수신 장치(electronic signature receiving device), 프로젝터, 또는 각종 계측 기기(예: 수도, 전기, 가스, 또는 전파 계측 기기 등) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 다양한 실시 예에서, 전자 장치는 플렉서블하거나, 또는 전술한 다양한 장치들 중 둘 이상의 조합일 수 있다. 본 발명의 실시 예에 따른 전자 장치는 전술한 기기들에 한정되지 않는다. 본 발명에서, 사용자라는 용어는 전자 장치를 사용하는 사람 또는 전자 장치를 사용하는 장치(예: 인공지능 전자 장치)를 지칭할 수 있다. In an alternative embodiment, the electronic device may be any of a variety of medical devices (e.g., various portable medical measurement devices such as a blood glucose meter, a heart rate meter, a blood pressure meter, or a body temperature meter), magnetic resonance angiography (MRA) A navigation system, a global navigation satellite system (GNSS), an event data recorder (EDR), a flight data recorder (FDR), an automobile infotainment device, a marine electronic equipment (For example, marine navigation systems, gyro compasses, etc.), avionics, security devices, head units for vehicles, industrial or domestic robots, drones, ATMs at financial institutions, of at least one of the following types of devices: a light bulb, a fire detector, a fire alarm, a thermostat, a streetlight, a toaster, a fitness device, a hot water tank, a heater, a boiler, . According to some embodiments, the electronic device may be a piece of furniture, a building / structure or part of an automobile, an electronic board, an electronic signature receiving device, a projector, or various measuring devices (e.g., Gas, or radio wave measuring instruments, etc.). In various embodiments, the electronic device is flexible or may be a combination of two or more of the various devices described above. The electronic device according to the embodiment of the present invention is not limited to the above-mentioned devices. In the present invention, the term user may refer to a person using an electronic device or an apparatus using an electronic device (e.g., an artificial intelligence electronic device).

도 1은 본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치의 케이스를 나타내는 사시도이다. 1 is a perspective view illustrating a case of an electronic device according to one of various embodiments of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치(100)는 케이스(101), 무선 통신 모듈(미도시) 및 무선 충전 모듈(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 케이스(101)는 상기 전자 장치(100)의 외형을 형성하면서 상기 전자 장치(100)의 내부를 보호할 수 있다. 상기 무선 통신 모듈은 상기 케이스(101)의 내부에 구비되어 무선 통신 기능을 수행할 수 있다. 상기 무선 충전 모듈은 상기 케이스(101)의 내부에 구비되어 외부 충전기의 무선 전파에 의해 전류를 발생시킬 수 있다.Referring to FIG. 1, an electronic device 100 according to one of various embodiments of the present invention may include a case 101, a wireless communication module (not shown), and a wireless charging module (not shown). The case 101 can protect the inside of the electronic device 100 while forming the contour of the electronic device 100. The wireless communication module may be provided inside the case 101 to perform a wireless communication function. The wireless charging module may be provided inside the case 101 to generate a current by the radio wave of the external charger.

도 2는 도 1의 A-A'부분을 절단된 단면도이다.2 is a cross-sectional view taken along the line A-A 'in FIG.

도 2를 참조하면, 본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치의 케이스(101)는 금속 모재(103), 제1 산화층(104) 및 제2 산화층(105)를 포함할 수 있다.2, a case 101 of an electronic device according to one of various embodiments of the present invention may comprise a metal matrix 103, a first oxide layer 104, and a second oxide layer 105.

상기 금속 모재(103)는 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 이루어질 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 금속 모재(103)는 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 이루어지는 것에 한정되지 않고, 마그네슘 또는 마그네슘 합금 등 다양한 금속 또는 다양한 합금일 수 있다. 상기 금속 모재(103)는 적어도 하나의 단차 영역을 포함할 수 있다. 상기 적어도 단차 영역 중 하나(T)는, 전파를 투과하는 전파 투과 영역(T)일 수 있다. 상기 전파 투과 영역(T)은 상기 금속 모재(103)에 형성된 단차홈(131)을 포함할 수 있다.The metal base material 103 may be made of aluminum or an aluminum alloy. According to various embodiments of the present invention, the metal base material 103 is not limited to aluminum or an aluminum alloy but may be various metals or various alloys such as magnesium or a magnesium alloy. The metal base material 103 may include at least one stepped region. One of the at least stepped regions (T) may be a radio wave transmitting region (T) that transmits radio waves. The radio wave transmission region T may include a stepped groove 131 formed in the metal base material 103.

상기 제1 산화층(104)은 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에 형성될 수 있다. 상기 제1 산화층(104)은 알루미늄 또는 알루미늄 합금의 상기 금속 모재(103)의 제1 표면이 산화되는 경우, 산화알루미늄일 수 있다. 상기 제1 산화층(104)은 비정질로 이루어질 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 제1 산화층(104)은 케이스(101)의 외측면을 형성하면서 장식 가공될 수 있다.The first oxide layer 104 may be formed on the first surface of the metal base material 103. The first oxide layer 104 may be aluminum oxide when the first surface of the metal base material 103 of aluminum or an aluminum alloy is oxidized. The first oxide layer 104 may be amorphous. According to various embodiments of the present invention, the first oxide layer 104 may be decorated while forming the outer surface of the case 101.

상기 제2 산화층(105)은 상기 금속 모재(103)의 제2 표면에 형성될 수 있다. 상기 제2 산화층(105)은 알루미늄 또는 알루미늄 합금의 상기 금속 모재(103)의 제2 표면이 산화되는 경우, 산화알루미늄일 수 있다. 상기 제2 산화층(105)은 결정질로 이루어질 수 있다. 상기 제2 산화층(105)의 표면은 상기 제1 산화층(104)의 표면보다 거칠 수 있다. The second oxide layer 105 may be formed on the second surface of the metal base material 103. The second oxide layer 105 may be aluminum oxide when the second surface of the metal base material 103 of aluminum or an aluminum alloy is oxidized. The second oxide layer 105 may be crystalline. The surface of the second oxide layer 105 may be rougher than the surface of the first oxide layer 104.

상기 제2 산화층(105)은 상기 전파 투과 영역(T)에서 상기 제1 산화층(104)과 결합될 수 있다. 상기 전파 투과 영역(T)은 상기 제1, 제2 산화층(104, 105)으로 적층되어, 무선 통신 또는 무선 충전을 위한 전파를 투과할 수 있다. The second oxide layer 105 may be combined with the first oxide layer 104 in the radio wave transmission region T. [ The radio wave transmission region T may be laminated with the first and second oxide layers 104 and 105 to transmit radio waves for wireless communication or wireless charging.

본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 전자 장치는 전파를 방사하는 방사체를 포함할 수 있다. 상기 방사체는 상기 전파 투과 영역에 인접하게 배치될 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 전파 투과 영역(T)이 일면에 인접한 상기 금속 모재(103)는 전파를 방사하는 방사체로 사용될 수 있다.According to various embodiments of the present invention, the electronic device may include a radiator that radiates radio waves. The radiator may be disposed adjacent to the radio wave transmission region. According to various embodiments of the present invention, the metal base material 103 adjacent to one surface of the radio wave transmitting region T may be used as a radiator that radiates radio waves.

도 3은 본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.3 is a diagram illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to one of the various embodiments of the present invention.

도 3을 참조하여, 본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치의 케이스(100)의 제조 방법을 살펴보기로 한다.3, a method of manufacturing a case 100 of an electronic device according to one of various embodiments of the present invention will be described.

금속 모재(103)의 제2 표면(133)의 일부분은 기계적 가공 또는 화학적 가공에 의해 식각 또는 제거되어, 상기 금속 모재(103)에는 단차홈(131)을 형성할 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)는 적어도 하나의 단차 영역을 포함할 수 있다.A part of the second surface 133 of the metal base material 103 may be etched or removed by mechanical or chemical processing to form the stepped groove 131 in the metal base material 103. [ For example, the metal base material 103 may include at least one stepped region.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면은 마스킹될 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에는 테이프가 부착되거나 마스크(107)가 도장 될 수 있다.상기 금속 모재(103)의 제2 표면(133)은 제2 산화법에 의해 산화되어, 제2 산화층(105)으로 형성될 수 있다. 상기 제2 산화법은 플라즈마 전해 산화법(PEO; Plasma Electrolytic Oxidation)일 수 있다. 상기 제2 산화법이 플라즈마 전화 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)의 두께는 50μm 이상일 수 있다. 상기 마스크(107)는 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에서 제거될 수 있다.The first surface of the metal base material 103 may be masked. For example, a tape may be adhered to the first surface of the metal base material 103 or a mask 107 may be coated on the first surface of the metal base material 103. The second surface 133 of the metal base material 103 is oxidized by a second oxidation method , And a second oxide layer (105). The second oxidation method may be a plasma electrolytic oxidation (PEO) method. When the second oxidation method is the plasma oxidation method, the thickness of the second oxide layer 105 may be 50 탆 or more. The mask 107 may be removed from the first surface of the metal base material 103.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 제1 산화법에 의해 산화되어, 제1 산화층(104)으로 형성될 수 있다. 상기 제1 산화법은 양극 산화법(Anodizing)일 수 있다. 상기 제1 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제1 산화층(104)의 두께는 대략 150μm 이하일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 양극 산화법에 비해 크랙(Crack) 발생 빈도를 줄일 수 있다.The first surface 135 of the metal base material 103 may be oxidized by the first oxidation method and formed into the first oxide layer 104. The first oxidation method may be anodizing. When the first oxidation method is anodic oxidation, the thickness of the first oxide layer 104 may be about 150 탆 or less. The plasma phone oxidation method can reduce the frequency of occurrence of cracks as compared with the anodic oxidation method.

상기 제1 산화층(104)은, 상기 전파 투과 영역(T)에서 상기 제2 산화층(105)과 접할 수 있다. 예를 들면, 상기 전파 투과 영역(T)에서는, 상기 제1 산화층(104)의 두께가 50 μm이면서 상기 제2 산화층(105)의 두께가 100 μm로, 상기 전파 투과 영역(T)의 총 두께가 150 μm일 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스(100)는 상기 제1 산화층(104)과 상기 제2 산화층(105)을 형성하는 제1, 제2 산화법을 달리하면서 두께를 적절히 조절함에 따라, 상기 케이스의 표면의 금속 질감을 유지하면서도 상기 제1, 제2 산화층(104, 105)에 크랙이 발생하는 것을 방지할 수 있다.The first oxide layer 104 may be in contact with the second oxide layer 105 in the radio wave transmission region T. [ For example, in the radio wave transmission region T, the thickness of the first oxide layer 104 is 50 占 퐉 and the thickness of the second oxide layer 105 is 100 占 퐉, and the total thickness of the radio wave transmission region T Can be 150 [mu] m. The case 100 of the electronic device according to various embodiments of the present invention can be fabricated by suitably adjusting the thickness while varying the first and second oxidation methods of forming the first oxide layer 104 and the second oxide layer 105, It is possible to prevent cracks from occurring in the first and second oxide layers 104 and 105 while maintaining the metal texture of the surface of the case.

도 4는 본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법에 적용되는 제1, 제2 산화법을 나타내는 도면이다.4 is a diagram illustrating first and second oxidation methods applied to a method of manufacturing a case of an electronic device according to one of various embodiments of the present invention.

도 4를 참조하면, 케이스(101)의 금속 모재는, 적어도 하나의 단차 영역을 포함할 수 있다. 상기 케이스(101)의 금속 모재는 제1 전극(11)과 결합될 수 있다. 상기 제1 전극(11)은 산화 영역, 예를 들면, 상기 금속 모재의 제1, 제2 표면을 벗어난 상기 금속 모재에 결합되어, 제1 산화층의 또는 제2 산화층의 성장시, 전기 저항이 증가되는 것을 방지하면서 제1 산화층의 또는 제2 산화층의 성장속도가 감소되는 방지할 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 케이스(101)의 금속 모재는 제1 전극(11)과 일체로 제작될 수 있다. Referring to FIG. 4, the metal base material of the case 101 may include at least one stepped region. The metal base material of the case 101 may be combined with the first electrode 11. The first electrode 11 is bonded to the metal base material which is out of the oxidation area, for example, the first and second surfaces of the base metal material, so that when the first oxidation layer or the second oxidation layer grows, The growth rate of the first oxide layer or the second oxide layer can be prevented from being reduced. According to various embodiments of the present invention, the metal base material of the case 101 may be fabricated integrally with the first electrode 11.

상기 케이스(101)의 금속 모재는 음극(Cathode)와 도선(15)을 통해 연결된 후, 반응기(13)에 수용될 수 있다. 제1, 제2 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 반응기(13)는 황산, 옥살산 등 산성 용액을 포함할 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 제1, 제2 산화법이 플라즈마 전해 산화법(PEO)인 경우, 상기 반응기(13)는 수산화나트륨(NaOH), 인산플루오르화나트륨(Na3PO4) 등 알카리성 용액을 포함할 수 있다.The metal base material of the case 101 may be accommodated in the reactor 13 after it is connected to the cathode through a wire 15. When the first and second oxidation methods are anodic oxidation, the reactor 13 may include an acidic solution such as sulfuric acid or oxalic acid. According to various embodiments of the present invention, when the first and second oxidation methods are plasma electrolytic oxidation (PEO), the reactor 13 is made of an alkaline solution such as sodium hydroxide (NaOH), sodium phosphate (Na 3 PO 4 ) Solution.

상기 케이스(101)의 금속 모재의 제1 표면 또는 제2 표면은 반응기(13)에서 양극 산화법 또는 플라즈마 전해 산화법(PEO)을 적용하여 제1 산화층 또는 제2 산화층으로 형성될 수 있다.The first surface or the second surface of the metal base material of the case 101 may be formed into a first oxide layer or a second oxide layer by anodic oxidation or plasma electrolytic oxidation (PEO) in the reactor 13.

상기 케이스(101)의 금속 모재의 제1 표면 또는 제2 표면이 상기 제1 산화층 또는 상기 제2 산화층으로 형성된 후, 상기 전극(11)을 상기 케이스의 금속 모재와 분리될 수 있다.After the first surface or the second surface of the metal base material of the case 101 is formed into the first oxide layer or the second oxide layer, the electrode 11 may be separated from the metal base material of the case.

도 5는 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 지그를 사시도이다.5 is a perspective view of a jig masking a first surface of a metal base material in a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention.

도 5를 참조하면, 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 지그(20)에 의해 밀봉될 수 있다. 상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)는 상기 지그(20)에 의해 밀봉 상태에서, 도 4에 도시된 반응기(13) 내에 수용될 수 있다. 상기 지그(20)는 금속 모재(103)를 양극 산화법(Anodizing) 또는 플라즈마 전해 산화법(PEO)에 의해 산화시킬 때, 금속 모재(103)의 제1 표면(135)을 마스킹하는 수단으로 활용될 수 있다. Referring to FIG. 5, the first surface 135 of the metal base material 103 may be sealed by the jig 20. The first surface 135 of the metal base material 103 can be received in the reactor 13 shown in Fig. 4, in a sealed state by the jig 20. The jig 20 can be utilized as a means for masking the first surface 135 of the metal base material 103 when the metal base material 103 is oxidized by anodizing or plasma electrolytic oxidation (PEO) have.

도 6은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.6 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.

도 6을 참조하여, 본 발명의 다양한 실시 예 중 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스(101b)의 제조 방법을 살펴보기로 한다.Referring to FIG. 6, a method of manufacturing a case 101b of an electronic device according to another embodiment of the present invention will be described.

금속 모재(103)의 제2 표면(133)의 일부분은 기계적 가공 또는 화학적 가공에 의해 식각 또는 제거되어, 상기 금속 모재(103)에는 단차홈(131)을 형성할 수 있다.A part of the second surface 133 of the metal base material 103 may be etched or removed by mechanical or chemical processing to form the stepped groove 131 in the metal base material 103. [

상기 금속 모재(103)의 제1 표면은 마스킹될 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에는 테이프가 부착되거나 마스크(107)가 도장될 수 있다.The first surface of the metal base material 103 may be masked. For example, a tape may be attached to the first surface of the metal base material 103 or a mask 107 may be coated.

상기 금속 모재(103)의 제2 표면(133)은 제2 산화법에 의해 산화되어, 제2 산화층(105)으로 형성될 수 있다. 상기 제2 산화법은 플라즈마 전해 산화법(PEO; Plasma Electrolytic Oxidation)일 수 있다. The second surface 133 of the metal base material 103 may be oxidized by the second oxidation method to form the second oxide layer 105. [ The second oxidation method may be a plasma electrolytic oxidation (PEO) method.

상기 마스크(107)는 상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)에서 제거될 수 있다.The mask 107 may be removed from the first surface 135 of the metal matrix 103.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 기계적 연마 또는 화학적 연마에 의해 식각 또는 제거될 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)는 상기 금속 모재의 제1 표면(135)으로부터 상기 제2 산화층(103)의 내측면 사이의 제1 두께(d1)를 가질 수 있다. 상기 금속 모재(103)는 기계적 연마 또는 화학적 연마에 의해 상기 금속 모재의 제1 표면(135a)으로 상기 제2 산화층(103)의 내측면 사이의 제2 두께(d2)를 가지게 되어, 상기 제1 두께(d1)와 상기 제2 두께(d2)의 차이에 해당되는 부분이 제거될 수 있다.The first surface 135 of the metal base material 103 may be etched or removed by mechanical polishing or chemical polishing. For example, the metal matrix 103 may have a first thickness d1 between the first surface 135 of the metal matrix and the inner surface of the second oxide layer 103. [ The metal base material 103 has a second thickness d2 between the inner surface of the second oxide layer 103 and the first surface 135a of the metal base material by mechanical polishing or chemical polishing, The portion corresponding to the difference between the thickness d1 and the second thickness d2 may be removed.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 제1 산화법에 의해 산화되어, 제1 산화층(104)으로 형성될 수 있다. 상기 제1 산화법은 양극 산화법(Anodizing)일 수 있다. 상기 제1 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제1 산화층(104)의 두께는 대략 150μm 이하일 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 제1 산화법은 양극 산화법에 한정되지 않고, 상기 제1 산화층(104)의 표면에 장식 가공이 용이하도록 처리되는 플라즈마 전해 산화법(PEO)일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 양극 산화법에 비해 크랙(Crack) 발생 빈도를 줄일 수 있다.The first surface 135 of the metal base material 103 may be oxidized by the first oxidation method and formed into the first oxide layer 104. The first oxidation method may be anodizing. When the first oxidation method is anodic oxidation, the thickness of the first oxide layer 104 may be about 150 탆 or less. According to various embodiments of the present invention, the first oxidation method is not limited to the anodic oxidation method, and may be a plasma electrolytic oxidation method (PEO) in which the surface of the first oxidation layer 104 is processed to facilitate decoration processing. The plasma phone oxidation method can reduce the frequency of occurrence of cracks as compared with the anodic oxidation method.

상기 제1 산화층(104)은, 상기 전파 투과 영역(T)에서 상기 제2 산화층(105)과 접할 수 있다.The first oxide layer 104 may be in contact with the second oxide layer 105 in the radio wave transmission region T. [

도 7은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.7 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.

도 7을 참조하여, 본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치의 케이스(100i)의 제조 방법을 살펴보기로 한다.Referring to FIG. 7, a method of manufacturing a case 100i of an electronic device according to one of various embodiments of the present invention will be described.

금속 모재(103)의 제2 표면의 일부분은 기계적 가공 또는 화학적 가공에 의해 식각 또는 제거됨에 따라, 상기 금속 모재(103a)는 복수의 단차홈(131a, 131b 131c)들을 형성할 수 있다. 상기 금속 모재(103)의 제2 표면은 복수의 단차 영역들을 포함하고, 복수의 단차 영역들 중에 단차홈(131a, 131b, 131c)이 형성된 영역은 전파가 투과되는 전파 투과 영역일 수 있다.As a part of the second surface of the metal base material 103 is etched or removed by mechanical processing or chemical processing, the metal base material 103a can form a plurality of stepped grooves 131a and 131b 131c. The second surface of the metal base material 103 includes a plurality of stepped regions, and an area where the stepped grooves 131a, 131b, and 131c are formed in the plurality of stepped regions may be a radio wave transmitting region through which radio waves are transmitted.

상기 금속 모재(103a)의 제1 표면은 마스킹될 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103a)의 제1 표면에는 테이프 또는 도장된 마스크가 부착될 수 있다.The first surface of the metal base material 103a may be masked. For example, a tape or a painted mask may be attached to the first surface of the metal base material 103a.

상기 금속 모재(103a)의 제2 표면은 제2 산화법에 의해 산화되어, 제2 산화층(105a)으로 형성될 수 있다. 상기 제2 산화법은 양극 산화법(Anodizing) 또는 플라즈마 전해 산화법(PEO; Plasma Electrolytic Oxidation) 중 하나일 수 있다. 상기 제2 산화법이 플라즈마 전화 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105a)의 두께는 50μm 이상일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 제2 산화층(105a)에 크랙(crack)이 발생되는 것을 방지할 수 있다. 상기 제2 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105a)은 대략 50μm의 두께로 제작되어, 크랙이 발생되는 것을 방지할 수 있다.The second surface of the metal base material 103a may be oxidized by the second oxidation method to form the second oxide layer 105a. The second oxidation method may be one of anodizing and plasma electrolytic oxidation (PEO). When the second oxidation method is the plasma oxidation method, the thickness of the second oxide layer 105a may be 50 占 퐉 or more. The plasma oxidation method can prevent a crack from being generated in the second oxide layer 105a. When the second oxidation method is anodic oxidation, the second oxide layer 105a is formed to have a thickness of approximately 50 mu m, thereby preventing occurrence of cracks.

상기 마스크는 상기 금속 모재(103a)의 제1 표면에서 제거될 수 있다.The mask may be removed from the first surface of the metal base material 103a.

상기 금속 모재(103a)의 제1 표면은 제1 산화법에 의해 산화되어, 제1 산화층(104a)으로 형성될 수 있다. 상기 제1 산화법은 양극 산화법(Anodizing)일 수 있다. 상기 제1 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제1 산화층(104a)의 두께는 대략 150μm 이하일 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 제1 산화법은 양극 산화법에 한정되지 않고, 상기 제1 산화층(104a)의 표면에 장식 가공이 용이하도록 처리되는 플라즈마 전해 산화법(PEO)일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 양극 산화법에 비해 크랙(Crack) 발생 빈도를 줄일 수 있다.The first surface of the metal base material 103a may be oxidized by the first oxidation method and formed into the first oxidation layer 104a. The first oxidation method may be anodizing. When the first oxidation method is anodic oxidation, the thickness of the first oxide layer 104a may be about 150 mu m or less. According to various embodiments of the present invention, the first oxidation method is not limited to the anodic oxidation method, and may be a plasma electrolytic oxidation method (PEO) in which the surface of the first oxide layer 104a is processed to facilitate decoration processing. The plasma phone oxidation method can reduce the frequency of occurrence of cracks as compared with the anodic oxidation method.

상기 제1 산화층(104a)은, 상기 복수의 전파 투과 영역에서 상기 제2 산화층(105a)과 접할 수 있다.The first oxide layer 104a may be in contact with the second oxide layer 105a in the plurality of radio wave transmission regions.

도 8은 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.8 is a flow chart illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention.

도 8을 참조하면, 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법은 금속 모재의 일부분을 CNC(computer numerical control) 공작기계 가공 또는 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작(S11), 상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작(S13), 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작(S15), 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작(S17) 및 상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 제1 산화층과 상기 제2 산화층을 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작(S19)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 8, a method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes etching a portion of a metal base material by CNC (computer numerical control) machine tool machining, laser etching, (S13) of masking the first surface of the metal base material (S13), an operation of forming the second oxide layer by oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method (S15), oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method to form a first oxide layer (S17), and stacking the first oxide layer and the second oxide layer in at least one of the stepped regions, (S19) of forming a transparent region.

본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 케이스의 제조 방법은, 상기 금속 모재의 제1 표면을 식각 또는 제거하여 상기 금속 모재의 두께를 감소하는 동작(S21) 및 상기 제1 산화층의 표면을 착색하는 동작(S23)을 더 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present invention, the method of manufacturing the case may further include: an operation (S21) of reducing the thickness of the metal base material by etching or removing the first surface of the metal base material; Operation S23.

상기 제1 산화층의 표면을 착색하는 동작(S23)은, 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작(S17) 이후에, 염색법이나 전해착색법 등에 의해 상기 제1 산화층의 표면을 착색할 수 있다.The operation (S23) of coloring the surface of the first oxide layer may be performed after the operation (S17) of oxidizing the first surface of the metal base material by the first oxidation method to form the first oxide layer by a dyeing method or an electrolytic coloring method The surface of the first oxide layer can be colored.

본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 케이스의 제조 방법은, 상기 제1 산화층을 형성하는 동작(S17) 이전에, 상기 제1 산화층을 형성하는 동작 이전에, 상기 제2 산화층의 표면에 마스킹을 하는 동작을 더 포함할 수 있다. 상기 제2 산화층이 마스킹됨에 따라, 상기 제1 산화층을 제1 산화법에 의해 산화시, 상기 제2 산화층이 산화되는 것을 방지할 수 있다.According to various embodiments of the present invention, the method of fabricating the case further comprises, prior to the operation (S17) of forming the first oxide layer, masking on the surface of the second oxide layer prior to the operation of forming the first oxide layer May be further included. As the second oxide layer is masked, oxidation of the first oxide layer by the first oxidation method can prevent the second oxide layer from being oxidized.

도 9는 본 발명의 다양한 실시 예 중 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.9 is a diagram illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to another of the various embodiments of the present invention.

도 9를 참조하여, 본 발명의 다양한 실시 예 중 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스(101a)의 제조 방법을 살펴보기로 한다.Referring to FIG. 9, a method of manufacturing a case 101a of an electronic device according to another embodiment of the present invention will be described.

금속 모재(103)의 제2 표면(133)의 일부분은 기계적 가공 또는 화학적 가공에 의해 식각 또는 제거되어, 상기 금속 모재(103)에는 단차홈(131)을 형성할 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)는 적어도 하나의 단차 영역을 포함할 수 있다.A part of the second surface 133 of the metal base material 103 may be etched or removed by mechanical or chemical processing to form the stepped groove 131 in the metal base material 103. [ For example, the metal base material 103 may include at least one stepped region.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면은 마스킹될 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에는 테이프가 부착되거나 마스크(107)가 도장될 수 있다.The first surface of the metal base material 103 may be masked. For example, a tape may be attached to the first surface of the metal base material 103 or a mask 107 may be coated.

상기 금속 모재(103)의 제2 표면(133)은 제2 산화법에 의해 산화되어, 제2 산화층(105)으로 형성될 수 있다. 상기 제2 산화법은 양극 산화법(Anodizing) 또는 플라즈마 전해 산화법(PEO; Plasma Electrolytic Oxidation) 중 하나일 수 있다. 상기 제2 산화법이 플라즈마 전화 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)의 두께는 50μm 이상일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 제2 산화층(105)에 크랙(crack)이 발생되는 것을 방지할 수 있다. 상기 제2 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)은 대략 50μm의 두께로 제작되어, 크랙이 발생되는 것을 방지할 수 있다.The second surface 133 of the metal base material 103 may be oxidized by the second oxidation method to form the second oxide layer 105. [ The second oxidation method may be one of anodizing and plasma electrolytic oxidation (PEO). When the second oxidation method is the plasma oxidation method, the thickness of the second oxide layer 105 may be 50 탆 or more. The plasma oxidation method can prevent a crack from being generated in the second oxide layer 105. When the second oxidation method is anodic oxidation, the second oxide layer 105 is formed to have a thickness of about 50 mu m to prevent cracks from being generated.

상기 제2 산화층(105)의 표면에는, 레진층(Resin)(106)이 형성될 수 있다. 상기 레진층(106)은 상기 제2 산화층(105)을 보호하여 상기 제2 산화층(105)에서 크랙이 발생되는 것을 방지할 수 있고, 상기 케이스(101a)의 강도를 향상시킬 수 있다.A resin layer 106 may be formed on the surface of the second oxide layer 105. The resin layer 106 protects the second oxide layer 105 to prevent cracks from occurring in the second oxide layer 105 and the strength of the case 101a can be improved.

상기 마스크(107)는 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에서 제거될 수 있다.The mask 107 may be removed from the first surface of the metal base material 103.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 제1 산화법에 의해 산화되어, 제1 산화층(104)으로 형성될 수 있다. 상기 제1 산화법은 양극 산화법(Anodizing)일 수 있다.The first surface 135 of the metal base material 103 may be oxidized by the first oxidation method and formed into the first oxide layer 104. The first oxidation method may be anodizing.

상기 제1 산화층(104)은, 상기 전파 투과 영역(T)에서 상기 제2 산화층(105)과 접할 수 있다.The first oxide layer 104 may be in contact with the second oxide layer 105 in the radio wave transmission region T. [

이와 같이, 본 발명의 다양한 실시 예 중 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스(101a)는 상기 전파 투과 영역(T)에 상기 제1 산화층(104), 상기 제2 산화층(105) 및 레진층(106)이 적층되는 구조를 가지게 되어, 전파가 상기 전파 투과 영역(T)을 통해 투과될 수 있다.As described above, the case 101a of the electronic device according to another embodiment of the present invention includes the first oxide layer 104, the second oxide layer 105, and the resin layer 106 ), So that radio waves can be transmitted through the radio wave transmitting region (T).

도 10은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.10 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.

도 10을 참조하여, 본 발명의 다양한 실시 예 중 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스(101c)의 제조 방법을 살펴보기로 한다.Referring to FIG. 10, a method of manufacturing a case 101c of an electronic device according to another embodiment of the present invention will be described.

금속 모재(103)의 제2 표면(133)의 일부분은 기계적 가공 또는 화학적 가공에 의해 식각 또는 제거되어, 상기 금속 모재(103)에는 단차홈(131)을 형성할 수 있다.A part of the second surface 133 of the metal base material 103 may be etched or removed by mechanical or chemical processing to form the stepped groove 131 in the metal base material 103. [

상기 금속 모재(103)의 제1 표면은 마스킹될 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에는 테이프가 부착되거나 마스크(107)가 도장될 수 있다.The first surface of the metal base material 103 may be masked. For example, a tape may be attached to the first surface of the metal base material 103 or a mask 107 may be coated.

상기 금속 모재(103)의 제2 표면(133)은 제2 산화법에 의해 산화되어, 제2 산화층(105)으로 형성될 수 있다. 상기 제2 산화법은 양극 산화법(Anodizing) 또는 플라즈마 전해 산화법(PEO; Plasma Electrolytic Oxidation) 중 하나일 수 있다. 상기 제2 산화법이 플라즈마 전화 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)의 두께는 50μm 이상일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 제2 산화층(105)에 크랙(crack)이 발생되는 것을 방지할 수 있다. 상기 제2 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)은 대략 50μm의 두께로 제작되어, 크랙이 발생되는 것을 방지할 수 있다.The second surface 133 of the metal base material 103 may be oxidized by the second oxidation method to form the second oxide layer 105. [ The second oxidation method may be one of anodizing and plasma electrolytic oxidation (PEO). When the second oxidation method is the plasma oxidation method, the thickness of the second oxide layer 105 may be 50 탆 or more. The plasma oxidation method can prevent a crack from being generated in the second oxide layer 105. When the second oxidation method is anodic oxidation, the second oxide layer 105 is formed to have a thickness of about 50 mu m to prevent cracks from being generated.

상기 제2 산화층(105)의 표면에는, 레진층(Resin)(106)이 형성될 수 있다. A resin layer 106 may be formed on the surface of the second oxide layer 105.

상기 마스크(107)는 상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)에서 제거될 수 있다.The mask 107 may be removed from the first surface 135 of the metal matrix 103.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 기계적 연마 또는 화학적 연마에 의해 식각 또는 제거될 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)는 상기 금속 모재의 제1 표면(135)으로부터 상기 제2 산화층(103)의 내측면 사이의 제1 두께(d1)를 가질 수 있다. 상기 금속 모재(103)는 기계적 연마 또는 화학적 연마에 의해 상기 금속 모재의 제1 표면(135a)으로 상기 제2 산화층(103)의 내측면 사이의 제2 두께(d2)를 가지게 되어, 상기 제1 두께(d1)와 상기 제2 두께(d2)의 차이에 해당되는 부분이 제거될 수 있다.The first surface 135 of the metal base material 103 may be etched or removed by mechanical polishing or chemical polishing. For example, the metal matrix 103 may have a first thickness d1 between the first surface 135 of the metal matrix and the inner surface of the second oxide layer 103. [ The metal base material 103 has a second thickness d2 between the inner surface of the second oxide layer 103 and the first surface 135a of the metal base material by mechanical polishing or chemical polishing, The portion corresponding to the difference between the thickness d1 and the second thickness d2 may be removed.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 제1 산화법에 의해 산화되어, 제1 산화층(104)으로 형성될 수 있다. 상기 제1 산화법은 양극 산화법(Anodizing)일 수 있다. 상기 제1 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제1 산화층(104)의 두께는 대략 150μm 이하일 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 제1 산화법은 양극 산화법에 한정되지 않고, 상기 제1 산화층(104)의 표면에 장식 가공이 용이하도록 처리되는 플라즈마 전해 산화법(PEO)일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 양극 산화법에 비해 크랙(Crack) 발생 빈도를 줄일 수 있다.The first surface 135 of the metal base material 103 may be oxidized by the first oxidation method and formed into the first oxide layer 104. The first oxidation method may be anodizing. When the first oxidation method is anodic oxidation, the thickness of the first oxide layer 104 may be about 150 탆 or less. According to various embodiments of the present invention, the first oxidation method is not limited to the anodic oxidation method, and may be a plasma electrolytic oxidation method (PEO) in which the surface of the first oxidation layer 104 is processed to facilitate decoration processing. The plasma phone oxidation method can reduce the frequency of occurrence of cracks as compared with the anodic oxidation method.

상기 제1 산화층(104)은, 상기 전파 투과 영역(T)에서 상기 제2 산화층(105)과 접할 수 있다.The first oxide layer 104 may be in contact with the second oxide layer 105 in the radio wave transmission region T. [

도 11은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.11 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.

도 11을 참조하여, 본 발명의 다양한 실시 예 중 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스(101d)의 제조 방법을 살펴보기로 한다.Referring to FIG. 11, a method of manufacturing a case 101d of an electronic device according to another embodiment of the present invention will be described.

금속 모재(103)의 제2 표면(133)의 일부분은 기계적 가공 또는 화학적 가공에 의해 식각 또는 제거되어, 상기 금속 모재(103)에는 단차홈(131)을 형성할 수 있다.A part of the second surface 133 of the metal base material 103 may be etched or removed by mechanical or chemical processing to form the stepped groove 131 in the metal base material 103. [

상기 금속 모재(103)의 제1 표면은 마스킹될 수 있다. The first surface of the metal base material 103 may be masked.

상기 금속 모재(103)의 제2 표면(133)은 제2 산화법에 의해 산화되어, 제2 산화층(105)으로 형성될 수 있다. 상기 제2 산화법은 양극 산화법(Anodizing) 또는 플라즈마 전해 산화법(PEO; Plasma Electrolytic Oxidation) 중 하나일 수 있다. 상기 제2 산화법이 플라즈마 전화 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)의 두께는 50μm 이상일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 제2 산화층(105)에 크랙(crack)이 발생되는 것을 방지할 수 있다. 상기 제2 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)은 대략 50μm의 두께로 제작되어, 크랙이 발생되는 것을 방지할 수 있다.The second surface 133 of the metal base material 103 may be oxidized by the second oxidation method to form the second oxide layer 105. [ The second oxidation method may be one of anodizing and plasma electrolytic oxidation (PEO). When the second oxidation method is the plasma oxidation method, the thickness of the second oxide layer 105 may be 50 탆 or more. The plasma oxidation method can prevent a crack from being generated in the second oxide layer 105. When the second oxidation method is anodic oxidation, the second oxide layer 105 is formed to have a thickness of about 50 mu m to prevent cracks from being generated.

상기 마스크(107)는 상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)에서 제거될 수 있다.The mask 107 may be removed from the first surface 135 of the metal matrix 103.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 기계적 연마 또는 화학적 연마에 의해 식각 또는 제거될 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)는 상기 금속 모재의 제1 표면(135)으로부터 상기 제2 산화층(103)의 내측면 사이의 제1 두께(d1)를 가질 수 있다. 상기 금속 모재(103)는 기계적 연마 또는 화학적 연마에 의해 상기 금속 모재의 제1 표면(135a)으로 상기 제2 산화층(103)의 내측면 사이의 제2 두께(d2)를 가지게 되어, 상기 제1 두께(d1)와 상기 제2 두께(d2)의 차이에 해당되는 부분이 제거될 수 있다.The first surface 135 of the metal base material 103 may be etched or removed by mechanical polishing or chemical polishing. For example, the metal matrix 103 may have a first thickness d1 between the first surface 135 of the metal matrix and the inner surface of the second oxide layer 103. [ The metal base material 103 has a second thickness d2 between the inner surface of the second oxide layer 103 and the first surface 135a of the metal base material by mechanical polishing or chemical polishing, The portion corresponding to the difference between the thickness d1 and the second thickness d2 may be removed.

상기 제2 산화층(105)의 표면에는, 레진층(Resin)(106)이 형성될 수 있다. A resin layer 106 may be formed on the surface of the second oxide layer 105.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 제1 산화법에 의해 산화되어, 제1 산화층(104)으로 형성될 수 있다. 상기 제1 산화법은 양극 산화법(Anodizing)일 수 있다. 상기 제1 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제1 산화층(104)의 두께는 대략 150μm 이하일 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 제1 산화법은 양극 산화법에 한정되지 않고, 상기 제1 산화층(104)의 표면에 장식 가공이 용이하도록 처리되는 플라즈마 전해 산화법(PEO)일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 양극 산화법에 비해 크랙(Crack) 발생 빈도를 줄일 수 있다.The first surface 135 of the metal base material 103 may be oxidized by the first oxidation method and formed into the first oxide layer 104. The first oxidation method may be anodizing. When the first oxidation method is anodic oxidation, the thickness of the first oxide layer 104 may be about 150 탆 or less. According to various embodiments of the present invention, the first oxidation method is not limited to the anodic oxidation method, and may be a plasma electrolytic oxidation method (PEO) in which the surface of the first oxidation layer 104 is processed to facilitate decoration processing. The plasma phone oxidation method can reduce the frequency of occurrence of cracks as compared with the anodic oxidation method.

상기 제1 산화층(104)은, 상기 전파 투과 영역(T)에서 상기 제2 산화층(105)과 접할 수 있다.The first oxide layer 104 may be in contact with the second oxide layer 105 in the radio wave transmission region T. [

도 12은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스를 나타내는 단면도이다.12 is a cross-sectional view illustrating a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.

도 12을 참조하면, 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스(101h)는 금속 모재(103), 제1 산화층(104), 제2 산화층(105) 및 레진층(106a)을 포함할 수 있고, 선행 실시예와 동일하거나 유사한 구성요소에 대한 자세한 설명은 생략하기로 한다.12, a case 101h of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention includes a metal base material 103, a first oxide layer 104, a second oxide layer 105, and a resin layer 106a ), And detailed description of the same or similar components to those of the preceding embodiment will be omitted.

상기 단차 영역들 중 하나는 전파 투과 영역을 포함하고, 상기 전파 투과 영역에서는, 제1 산화층(104)과 제2 산화층(105) 사이에 금속층(139)이 구비될 수 있다. 상기 금속층(139)은 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 이루어질 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 금속층(139)은 알루미늄 또는 알루미늄 합금에 한정되지 않고, 마그네슘 또는 마그네슘 합금 등 다양한 금속 또는 합금일 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 전파 투과 영역(T)에 형성된 상기 제2 산화층(105)은 상기 제1 산화층(104) 사이에 단차부 두께보다 얇은 금속 모재(예: 상기 금속층(139))가 배치될 수 있다.One of the stepped regions includes a radio wave transmitting region, and in the radio wave transmitting region, a metal layer 139 may be provided between the first oxide layer 104 and the second oxide layer 105. The metal layer 139 may be made of aluminum or an aluminum alloy. According to various embodiments of the present invention, the metal layer 139 is not limited to aluminum or an aluminum alloy, but may be various metals or alloys such as magnesium or a magnesium alloy. According to various embodiments of the present invention, the second oxide layer 105 formed in the radio wave transmission region T may include a metal base material (for example, the metal layer 139) thinner than the step difference thickness between the first oxide layers 104, May be disposed.

상기 금속층(139)의 두께는 대략 1 μm 이하일 수 있다. 예를 들면, 상기 금속층(139)의 두께가 1 μm인 경우, 대략 100 MHz대역의 전파를 대략 90% 투과시킬 수 있다. 예를 들면, 상기 금속층(139)의 두께가 1 nm인 경우, 100 MHz대역보다 높은 고주파 대역의 전파를 투과시킬 수 있다.The thickness of the metal layer 139 may be about 1 μm or less. For example, when the thickness of the metal layer 139 is 1 占 퐉, it is possible to transmit approximately 90% of radio waves in a band of approximately 100 MHz. For example, when the thickness of the metal layer 139 is 1 nm, it is possible to transmit radio waves having a higher frequency band than the band of 100 MHz.

본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치의 케이스(101h)는 전파 투과 영역에 상기 금속층(139)을 포함하여, 케이스의 디자인의 금속 질감을 향상시킬 수 있다.The case 101h of the electronic device according to one of the various embodiments of the present invention may include the metal layer 139 in the radio wave transmitting region to improve the metal texture of the case design.

도 13은 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.13 is a flow chart illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention.

도 13을 참조하면, 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법은 금속 모재의 일부분을 CNC(computer numerical control) 공작기계 가공, 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작(S31), 상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작(S33), 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작(S35), 상기 제2 산화층의 표면에 레진층을 형성하는 동작(S37), 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작(S39) 및 상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 제1, 제2 산화층과 상기 레진층으로 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작(S41)을 포함할 수 있다.13, a method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes etching or removing a portion of a metal base material by CNC (machine numerical control) machine tool machining, laser or etching, (S33) of masking the first surface of the metal base material (S33), an operation of forming the second oxide layer by oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method (S37) forming an oxide layer on the first oxide layer (S35), forming a resin layer on the surface of the second oxide layer (S37), an operation (S39) of oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method to form a first oxide layer (S41) of laminating the first and second oxide layers and the resin layer on at least one of the first and second oxide layers to form a radio wave transmission region.

본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 케이스의 제조 방법은, 상기 금속 모재의 제1 표면을 식각 또는 제거하여 상기 금속 모재의 두께를 감소하는 동작(S43) 및 상기 제1 산화층의 표면을 착색하는 동작(S45)을 더 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present invention, the method of manufacturing the case may further include: an operation (S43) of reducing the thickness of the metal base material by etching or removing the first surface of the metal base material; Operation S45.

상기 제1 산화층의 표면을 착색하는 동작(S45)은, 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작 이후에, 염색법이나 전해착색법 등에 의해 상기 제1 산화층의 표면을 착색할 수 있다.The operation (S45) of coloring the surface of the first oxide layer may be performed after the operation of oxidizing the first surface of the metal base material by the first oxidation method to form the first oxide layer by a dyeing method, an electrolytic coloring method, The surface of the oxide layer can be colored.

도 14는 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.14 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.

도 14를 참조하여, 본 발명의 다양한 실시 예 중 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스(101f)의 제조 방법을 살펴보기로 한다.Referring to Fig. 14, a method of manufacturing a case 101f of an electronic device according to another embodiment of the present invention will be described.

금속 모재(103)의 제2 표면(133)의 일부분은 기계적 가공 또는 화학적 가공에 의해 식각 또는 제거되어, 상기 금속 모재(103)에는 단차홈(131)을 형성할 수 있다.A part of the second surface 133 of the metal base material 103 may be etched or removed by mechanical or chemical processing to form the stepped groove 131 in the metal base material 103. [

상기 금속 모재(103)의 제1 표면은 마스킹될 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에는 테이프가 부착되거나 마스크(107)가 도장될 수 있다.The first surface of the metal base material 103 may be masked. For example, a tape may be attached to the first surface of the metal base material 103 or a mask 107 may be coated.

상기 금속 모재(103)의 제2 표면(133)은 제2 산화법에 의해 산화되어, 제2 산화층(105)으로 형성될 수 있다. 상기 제2 산화법은 양극 산화법(Anodizing) 또는 플라즈마 전해 산화법(PEO; Plasma Electrolytic Oxidation) 중 하나일 수 있다. 상기 제2 산화법이 플라즈마 전화 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)의 두께는 50μm 이상일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 제2 산화층(105)에 크랙(crack)이 발생되는 것을 방지할 수 있다. 상기 제2 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)은 대략 50μm의 두께로 제작되어, 크랙이 발생되는 것을 방지할 수 있다.The second surface 133 of the metal base material 103 may be oxidized by the second oxidation method to form the second oxide layer 105. [ The second oxidation method may be one of anodizing and plasma electrolytic oxidation (PEO). When the second oxidation method is the plasma oxidation method, the thickness of the second oxide layer 105 may be 50 탆 or more. The plasma oxidation method can prevent a crack from being generated in the second oxide layer 105. When the second oxidation method is anodic oxidation, the second oxide layer 105 is formed to have a thickness of about 50 mu m to prevent cracks from being generated.

상기 마스크(107)는 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에서 제거될 수 있다.The mask 107 may be removed from the first surface of the metal base material 103.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 제1 산화법에 의해 산화되어, 제1 산화층(104)으로 형성될 수 있다. 상기 제1 산화법은 양극 산화법(Anodizing)일 수 있다.The first surface 135 of the metal base material 103 may be oxidized by the first oxidation method and formed into the first oxide layer 104. The first oxidation method may be anodizing.

상기 제1 산화층(104)은, 상기 전파 투과 영역(T)에서 상기 제2 산화층(105)과 접할 수 있다.The first oxide layer 104 may be in contact with the second oxide layer 105 in the radio wave transmission region T. [

상기 제1 산화층(104)의 표면에는, 금속 코팅층(108)이 형성될 수 있다. 상기 금속 코팅층(108)은 PVD(Physical Vapor Deposition), CVD(Chemical Vapor Deposition) 또는 금속 용사법(metal spraying) 등에 의해 상기 제1 산화층(104)의 표면에 형성될 수 있다.On the surface of the first oxide layer 104, a metal coating layer 108 may be formed. The metal coating layer 108 may be formed on the surface of the first oxide layer 104 by physical vapor deposition (PVD), chemical vapor deposition (CVD), or metal spraying.

상기 금속 코팅층(108)은 상기 케이스(101f)의 외측면에 금속 질감을 향상시킬 수 있다. 상기 금속 코팅층(108)는 전파가 상기 전파 투과 영역(T)에서 투과되는 간섭하지 않는 두께를 가질 수 있다.The metal coating layer 108 can improve the metal texture on the outer surface of the case 101f. The metal coating layer 108 may have a thickness that does not interfere with radio waves transmitted through the radio wave transmission region T.

본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스(101f)는 상기 전파 투과 영역(T)에서 상기 금속 코팅층(108), 상기 제1 산화층(104) 및 상기 제2 산화층(106)으로 적층되어, 전파를 투과시킬 수 있다.The case 101f of the electronic device according to another of the various embodiments of the present invention is characterized in that the metal coating layer 108, the first oxide layer 104 and the second oxide layer 106 in the radio wave transmitting region T, So that radio waves can be transmitted.

도 15는 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.15 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.

도 15를 참조하여, 본 발명의 다양한 실시 예 중 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스(101g)의 제조 방법을 살펴보기로 한다.Referring to FIG. 15, a method of manufacturing a case 101g of an electronic device according to another embodiment of the present invention will be described.

금속 모재(103)의 제2 표면(133)의 일부분은 기계적 가공 또는 화학적 가공에 의해 식각 또는 제거되어, 상기 금속 모재(103)에는 단차홈(131)을 형성할 수 있다.A part of the second surface 133 of the metal base material 103 may be etched or removed by mechanical or chemical processing to form the stepped groove 131 in the metal base material 103. [

상기 금속 모재(103)의 제1 표면은 마스킹될 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에는 테이프가 부착되거나 마스크(107)가 도장될 수 있다.The first surface of the metal base material 103 may be masked. For example, a tape may be attached to the first surface of the metal base material 103 or a mask 107 may be coated.

상기 금속 모재(103)의 제2 표면(133)은 제2 산화법에 의해 산화되어, 제2 산화층(105)으로 형성될 수 있다. 상기 제2 산화법은 양극 산화법(Anodizing) 또는 플라즈마 전해 산화법(PEO; Plasma Electrolytic Oxidation) 중 하나일 수 있다. 상기 제2 산화법이 플라즈마 전화 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)의 두께는 50μm 이상일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 제2 산화층(105)에 크랙(crack)이 발생되는 것을 방지할 수 있다. 상기 제2 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)은 대략 50μm의 두께로 제작되어, 크랙이 발생되는 것을 방지할 수 있다.The second surface 133 of the metal base material 103 may be oxidized by the second oxidation method to form the second oxide layer 105. [ The second oxidation method may be one of anodizing and plasma electrolytic oxidation (PEO). When the second oxidation method is the plasma oxidation method, the thickness of the second oxide layer 105 may be 50 탆 or more. The plasma oxidation method can prevent a crack from being generated in the second oxide layer 105. When the second oxidation method is anodic oxidation, the second oxide layer 105 is formed to have a thickness of about 50 mu m to prevent cracks from being generated.

상기 마스크(107)는 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에서 제거될 수 있다.The mask 107 may be removed from the first surface of the metal base material 103.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 제1 산화법에 의해 산화되어, 제1 산화층(104)으로 형성될 수 있다. 상기 제1 산화법은 양극 산화법(Anodizing)일 수 있다.The first surface 135 of the metal base material 103 may be oxidized by the first oxidation method and formed into the first oxide layer 104. The first oxidation method may be anodizing.

상기 제1 산화층(104)은, 상기 전파 투과 영역(T)에서 상기 제2 산화층(105)과 접할 수 있다.The first oxide layer 104 may be in contact with the second oxide layer 105 in the radio wave transmission region T. [

상기 제1 산화층(104)의 표면에는, 금속 코팅층(108)이 형성될 수 있다.On the surface of the first oxide layer 104, a metal coating layer 108 may be formed.

상기 금속 코팅층(108)은 양극 산화법(Anodizing) 또는 플라즈마 전해 산화법(PEO)을 통해 제3 산화층(108a)으로 형성될 수 있다.The metal coating layer 108 may be formed as a third oxide layer 108a through anodizing or plasma electrolytic oxidation (PEO).

상기 전파 투과 영역은 상기 제3 산화층(108a), 상기 제1 산화층(104) 및 상기 제2 산화층(106)으로 적층되어, 전파를 투과시킬 수 있다.The radio wave transmission region can be laminated with the third oxide layer 108a, the first oxidation layer 104, and the second oxidation layer 106 to transmit radio waves.

도 16은 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.16 is a flow chart illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention.

도 16을 참조하면, 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법은 금속 모재의 일부분을 CNC(computer numerical control) 공작기계 가공 또는 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작(S51), 상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작(S55), 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작(S55), 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작(S57), 상기 제1 산화층의 표면에 금속 코팅층을 형성하는 동작(S59) 및 상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 금속 코팅층 및 상기 제1, 제2 산화층으로 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작(S61)을 포함할 수 있다.16, a method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes etching a portion of a metal base material by a CNC (computer numerical control) machine tool machining, laser etching, or the like to remove at least one step (S51) of masking the first surface of the metal base material (S55), an operation of forming the second oxide layer by oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method (S57) of forming a first oxide layer by oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method (S57), an operation (S59) of forming a metal coating layer on the surface of the first oxide layer (S61) forming a radio wave transmission region by laminating the metal coating layer and the first and second oxide layers on at least one of the first and second oxide layers.

본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 케이스의 제조 방법은, 상기 제1 산화층의 표면을 착색하는 동작을 더 포함할 수 있고, 상기 제1 산화층의 표면을 착색하는 동작은 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작 이후에, 염색법이나 전해착색법 등에 의해 상기 제1 산화층의 표면을 착색할 수 있다.According to various embodiments of the present invention, the case manufacturing method may further include an operation of coloring a surface of the first oxide layer, and an operation of coloring a surface of the first oxide layer may include a step of coloring a surface of the first oxide layer, After the surface is oxidized by the first oxidation method to form the first oxide layer, the surface of the first oxide layer can be colored by a staining method, an electrolytic coloring method or the like.

본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 케이스의 제조 방법은, 상기 금속 코팅층을 상기 제1 산화법 또는 상기 제2 산화법 중 하나에 의해 산화시켜, 제3 산화층을 형성하는 동작을 더 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present invention, the method of manufacturing the case may further include the step of oxidizing the metal coating layer by one of the first oxidation method or the second oxidation method to form the third oxide layer.

도 17은 본 발명의 다양한 실시 예 중 또 다른 하나에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 도면이다.17 is a view showing a method of manufacturing a case of an electronic device according to another one of various embodiments of the present invention.

도 17을 참조하여, 본 발명의 다양한 실시 예 중 하나에 따른 전자 장치의 케이스(100j)의 제조 방법을 살펴보기로 한다.Referring to Fig. 17, a method of manufacturing the case 100j of the electronic device according to one of the various embodiments of the present invention will be described.

금속 모재(103)의 제2 표면(133)의 일부분은 기계적 가공 또는 화학적 가공에 의해 식각 또는 제거되어, 상기 금속 모재(103)에는 단차홈(131)을 형성할 수 있다.A part of the second surface 133 of the metal base material 103 may be etched or removed by mechanical or chemical processing to form the stepped groove 131 in the metal base material 103. [

상기 금속 모재(103)의 제1 표면은 마스킹될 수 있다. 예를 들면, 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에는 테이프가 부착되거나 마스크(107)가 도장될 수 있다.The first surface of the metal base material 103 may be masked. For example, a tape may be attached to the first surface of the metal base material 103 or a mask 107 may be coated.

상기 금속 모재(103)의 제2 표면(133)은 제2 산화법에 의해 산화되어, 제2 산화층(105)으로 형성될 수 있다. 상기 제2 산화법은 양극 산화법(Anodizing) 또는 플라즈마 전해 산화법(PEO; Plasma Electrolytic Oxidation) 중 하나일 수 있다. 상기 제2 산화법이 플라즈마 전화 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)의 두께는 50μm 이상일 수 있다. 상기 플라즈마 전화 산화법은 상기 제2 산화층(105)에 크랙(crack)이 발생되는 것을 방지할 수 있다. 상기 제2 산화법이 양극 산화법인 경우, 상기 제2 산화층(105)은 대략 50μm의 두께로 제작되어, 크랙이 발생되는 것을 방지할 수 있다.The second surface 133 of the metal base material 103 may be oxidized by the second oxidation method to form the second oxide layer 105. [ The second oxidation method may be one of anodizing and plasma electrolytic oxidation (PEO). When the second oxidation method is the plasma oxidation method, the thickness of the second oxide layer 105 may be 50 탆 or more. The plasma oxidation method can prevent a crack from being generated in the second oxide layer 105. When the second oxidation method is anodic oxidation, the second oxide layer 105 is formed to have a thickness of about 50 mu m to prevent cracks from being generated.

상기 제2 산화층(105)의 표면에는, 레진층(Resin)(106)이 형성될 수 있다. 상기 레진층(106)은 상기 제2 산화층(105)을 보호하여 상기 제2 산화층(105)에서 크랙이 발생되는 것을 방지할 수 있고, 상기 케이스(101a)의 강도를 향상시킬 수 있다.A resin layer 106 may be formed on the surface of the second oxide layer 105. The resin layer 106 protects the second oxide layer 105 to prevent cracks from occurring in the second oxide layer 105 and the strength of the case 101a can be improved.

상기 마스크(107)는 상기 금속 모재(103)의 제1 표면에서 제거될 수 있다.The mask 107 may be removed from the first surface of the metal base material 103.

상기 금속 모재(103)의 제1 표면(135)은 제1 산화법에 의해 산화되어, 제1 산화층(104)으로 형성될 수 있다. 상기 제1 산화법은 양극 산화법(Anodizing)일 수 있다.The first surface 135 of the metal base material 103 may be oxidized by the first oxidation method and formed into the first oxide layer 104. The first oxidation method may be anodizing.

상기 제1 산화층(104)은, 상기 전파 투과 영역(T)에서 상기 제2 산화층(105)과 접할 수 있다.The first oxide layer 104 may be in contact with the second oxide layer 105 in the radio wave transmission region T. [

상기 제1 산화층(104)의 표면에는, 금속 코팅층(108)이 형성될 수 있다.On the surface of the first oxide layer 104, a metal coating layer 108 may be formed.

상기 전파 투과 영역은 상기 금속 코팅층(108), 상기 제1 산화층(104), 상기 제2 산화층(106) 및 레진층(106)으로 적층되어, 전파를 투과시킬 수 있다.The radio wave transmission region may be laminated with the metal coating layer 108, the first oxidation layer 104, the second oxidation layer 106, and the resin layer 106 to transmit radio waves.

도 18은 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.18 is a flow chart illustrating a method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention.

도 18을 참조하면, 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자 장치의 케이스의 제조 방법은 금속 모재의 일부분을 CNC(computer numerical control) 공작기계 가공 또는 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작(S71), 상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작(S73), 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작(S75), 상기 제2 산화층의 표면에 레진층을 형성하는 동작(S77), 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작(S79), 상기 제1 산화층의 표면에 금속 코팅층을 형성하는 동작(S81) 및 상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 금속 코팅층 및 상기 제1, 제2 산화층으로 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작(S83)을 포함할 수 있다.18, a method of manufacturing a case of an electronic device according to various embodiments of the present invention includes etching a portion of a metal base material by a CNC (computer numerical control) machine tool process, laser etching, or the like to remove at least one step (S71) of masking the first surface of the metal base material (S73), an operation of forming the second oxide layer by oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method (S75), an operation (S77) of forming a resin layer on the surface of the second oxide layer (S77), an operation (S79) of oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method to form a first oxide layer An operation (S81) of forming a metal coating layer on the surface of the oxide layer, and an operation (S83) of forming a radio wave transmission region by laminating the metal coating layer and the first and second oxide layers on at least one of the step regions Can.

본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 케이스의 제조 방법은, 상기 제1 산화층의 표면을 착색하는 동작을 더 포함할 수 있고, 상기 제1 산화층의 표면을 착색하는 동작은 상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작 이후에, 염색법이나 전해착색법 등에 의해 상기 제1 산화층의 표면을 착색할 수 있다.According to various embodiments of the present invention, the case manufacturing method may further include an operation of coloring a surface of the first oxide layer, and an operation of coloring a surface of the first oxide layer may include a step of coloring a surface of the first oxide layer, After the surface is oxidized by the first oxidation method to form the first oxide layer, the surface of the first oxide layer can be colored by a staining method, an electrolytic coloring method or the like.

본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 상기 케이스의 제조 방법은, 상기 금속 코팅층을 상기 제1 산화법 또는 상기 제2 산화법 중 하나에 의해 산화시켜, 제3 산화층을 형성하는 동작을 더 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present invention, the method of manufacturing the case may further include the step of oxidizing the metal coating layer by one of the first oxidation method or the second oxidation method to form the third oxide layer.

이상, 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해서 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서 자명하다 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments.

100: 전자 장치 101: 케이스
103: 금속 모재 104: 제1 산화층
105: 제2 산화층 106: 레진층
108: 금속 코팅층 T: 전파 투과 영역
100: electronic device 101: case
103: metal base material 104: first oxide layer
105: second oxidation layer 106: resin layer
108: metal coating layer T: radio wave transmission region

Claims (28)

전자 장치의 케이스에 있어서,
적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재;
상기 금속 모재의 제1 표면에 형성되는 제1 산화층; 및
상기 금속 모재의 제2 표면에 형성되는 제2 산화층을 포함하고,
상기 제1 산화층은 비정질로 이루어지고,
상기 제2 산화층은 결정질로 이루어지고,
상기 적어도 하나의 단차 영역은, 상기 제1 산화층과 상기 제2 산화층으로 적층되어, 전파를 투과하는 전파 투과 영역을 포함하는 전자 장치의 케이스.
In the case of the electronic device,
A metal base material including at least one stepped region;
A first oxide layer formed on a first surface of the metal base material; And
And a second oxide layer formed on a second surface of the metal base material,
Wherein the first oxide layer is made of amorphous,
Wherein the second oxide layer is made of crystalline material,
Wherein the at least one stepped region includes a radio wave transmitting region that is laminated with the first oxide layer and the second oxide layer and transmits radio waves.
제1 항에 있어서, 상기 제2 산화층의 표면은 상기 제1 산화층의 표면보다 거친 전자 장치의 케이스.
The case of claim 1, wherein the surface of the second oxide layer is rougher than the surface of the first oxide layer.
제1 항에 있어서, 상기 전파 투과 영역에 전파를 방사하는 방사체가 인접한 전자장치 케이스.
The electronic device case according to claim 1, wherein a radiator for radiating radio waves is adjacent to said radio wave transmitting region.
제1 항에 있어서, 상기 금속 모재는, 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 이루어지고,
상기 제1, 제2 산화층은 산화알루미늄으로 이루어지는 전자 장치의 케이스.
The metal base material according to claim 1, wherein the metal base material is made of aluminum or an aluminum alloy,
Wherein the first and second oxide layers are made of aluminum oxide.
제1 항에 있어서, 상기 전파 투과 영역이 일면에 인접한 상기 금속 모재는 전파를 방사하는 방사체로 사용되는 전자장치의 케이스.
The case of an electronic device according to claim 1, wherein the metal base material adjacent to the one side of the radio wave transmitting region is used as a radiator for radiating radio waves.
제1 항에 있어서, 상기 전파 투과 영역에 형성된 상기 제2 산화층은, 상기 제1 산화층 사이에 단차부 두께보다 얇은 금속 모재가 배치되는 전자장치 케이스.
The electronic device case according to claim 1, wherein the second oxide layer formed in the radio wave transmitting region is disposed between the first oxide layer and a metal base material thinner than the stepped portion.
전자 장치의 케이스의 제조 방법에 있어서,
금속 모재의 일부분을 기계가공 또는 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작;
상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작;
상기 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작;
상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작; 및
상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 제1 산화층과 상기 제2 산화층으로 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작을 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
A method of manufacturing a case of an electronic device,
Etching or removing a part of the metal base material by machining or laser or etching to form a metal base material including at least one stepped region;
Masking the first surface of the metal base material;
Oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method to form a second oxide layer;
Oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method to form a first oxide layer; And
And stacking the first oxide layer and the second oxide layer in at least one of the stepped regions to form a radio wave transmitting region.
제7 항에 있어서, 상기 제1 산화법은 양극 산화법 또는 플라즈마 전해 산화법(Plasma Electrolytic Oxidation)인 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
The method of claim 7, wherein the first oxidation method is an anodic oxidation method or a plasma electrolytic oxidation method.
제7 항에 있어서, 상기 제2 산화법은, 양극 산화법 또는 플라즈마 전해 산화법(Plasma Electrolytic Oxidation)인 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
The method according to claim 7, wherein the second oxidation method is an anodic oxidation method or a plasma electrolytic oxidation method.
제7 항에 있어서,
상기 제1 산화층을 형성하는 동작 이전에, 상기 제2 산화층의 표면에 마스킹을 하는 동작을 더 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
8. The method of claim 7,
Further comprising masking the surface of the second oxide layer prior to the operation of forming the first oxide layer.
제7 항에 있어서,
상기 제1 산화층을 형성하는 동작 이전에, 상기 금속 모재의 제1 표면을 식각 또는 제거하는 동작을 더 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
8. The method of claim 7,
Further comprising the step of etching or removing the first surface of the metal base material prior to the operation of forming the first oxide layer.
제7 항에 있어서,
상기 제1 산화층의 표면에 염색법 또는 전해착색법 등에 의해 착색되는 동작을 더 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
8. The method of claim 7,
Wherein the surface of the first oxide layer is colored by a dyeing method or an electrolytic coloring method.
전자 장치의 케이스에 있어서,
적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재;
상기 금속 모재의 제1 표면에 형성되는 제1 산화층;
상기 금속 모재의 제2 표면에 형성되는 제2 산화층; 및
상기 제2 산화층의 표면에 형성되는 레진층을 포함하고,
상기 적어도 하나의 단차 영역은, 상기 제1, 제2 산화층과 상기 레진층으로 적층되어, 전파를 투과하는 전파 투과 영역을 포함하는 전자 장치의 케이스.
In the case of the electronic device,
A metal base material including at least one stepped region;
A first oxide layer formed on a first surface of the metal base material;
A second oxide layer formed on a second surface of the metal base material; And
And a resin layer formed on a surface of the second oxide layer,
Wherein the at least one stepped region includes a radio wave transmitting region which is laminated with the first and second oxide layers and the resin layer and transmits radio waves.
제13 항에 있어서, 상기 전파 투과 영역은, 상기 금속 모재에 형성되는 단차홈을 포함하는 전자 장치의 케이스.
The case of an electronic device according to claim 13, wherein the radio wave transmitting region includes a stepped groove formed in the metal base material.
제13 항에 있어서, 상기 전파 투과 영역은, 상기 제1 산화층과 상기 제2 산화층 사이에 금속을 포함하는 전자 장치의 케이스.
14. The electronic device according to claim 13, wherein the radio wave transmitting region includes a metal between the first oxide layer and the second oxide layer.
전자 장치의 케이스의 제조 방법에 있어서,
금속 모재의 일부분을 기계가공 또는 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작;
상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작;
상기 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작;
상기 제2 산화층의 표면에 레진층을 형성하는 동작;
상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작; 및
상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 제1, 제2 산화층과 상기 레진층으로 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작을 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
A method of manufacturing a case of an electronic device,
Etching or removing a part of the metal base material by machining or laser or etching to form a metal base material including at least one stepped region;
Masking the first surface of the metal base material;
Oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method to form a second oxide layer;
Forming a resin layer on the surface of the second oxide layer;
Oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method to form a first oxide layer; And
And stacking the first and second oxide layers and the resin layer in at least one of the stepped regions to form a radio wave transmitting region.
제16 항에 있어서,
상기 제1 산화층을 형성하는 동작 이전에, 상기 금속 모재의 제1 표면을 식각 또는 제거하는 동작을 더 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
17. The method of claim 16,
Further comprising the step of etching or removing the first surface of the metal base material prior to the operation of forming the first oxide layer.
제16 항에 있어서,
상기 제1 산화층의 표면에 염색법 또는 전해착색법 등에 의해 착색되는 동작을 더 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
17. The method of claim 16,
Wherein the surface of the first oxide layer is colored by a dyeing method or an electrolytic coloring method.
전자 장치의 케이스에 있어서,
적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재;
상기 금속 모재의 제1 표면에 형성되는 제1 산화층;
상기 금속 모재의 제2 표면에 형성되는 제2 산화층; 및
상기 제1 산화층의 표면에 형성되는 금속 코팅층을 포함하고,
상기 적어도 하나의 단차 영역은, 상기 금속 코팅층 및 상기 제1, 제2 산화층으로 적층되어, 전파를 투과하는 전파 투과 영역을 포함하는 전자 장치의 케이스.
In the case of the electronic device,
A metal base material including at least one stepped region;
A first oxide layer formed on a first surface of the metal base material;
A second oxide layer formed on a second surface of the metal base material; And
And a metal coating layer formed on a surface of the first oxide layer,
Wherein the at least one stepped region includes a radio wave transmitting region that is laminated with the metal coating layer and the first and second oxide layers and transmits radio waves.
제19 항에 있어서, 상기 전파 투과 영역은, 상기 금속 모재에 형성되는 단차홈을 포함하는 전자 장치의 케이스.
The case of an electronic device according to claim 19, wherein the radio wave transmitting region includes a stepped groove formed in the metal base material.
전자 장치의 케이스의 제조 방법에 있어서,
금속 모재의 일부분을 기계가공 또는 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작;
상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작;
상기 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작;
상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작;
상기 제1 산화층의 표면에 금속 코팅층을 형성하는 동작; 및
상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 금속 코팅층 및 상기 제1, 제2 산화층으로 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작을 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
A method of manufacturing a case of an electronic device,
Etching or removing a part of the metal base material by machining or laser or etching to form a metal base material including at least one stepped area;
Masking the first surface of the metal base material;
Oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method to form a second oxide layer;
Oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method to form a first oxide layer;
Forming a metal coating layer on a surface of the first oxide layer; And
And laminating the metal coating layer and the first and second oxide layers on at least one of the stepped regions to form a radio wave transmitting region.
제21 항에 있어서,
상기 금속 코팅층을 상기 제1 산화법 또는 상기 제2 산화법 중 하나에 의해 산화시켜, 제3 산화층을 형성하는 동작을 더 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
22. The method of claim 21,
And oxidizing the metal coating layer by one of the first oxidation method and the second oxidation method to form a third oxide layer.
제21 항에 있어서,
상기 제1 산화층의 표면에 염색법 또는 전해착색법 등에 의해 착색되는 동작을 더 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
22. The method of claim 21,
Wherein the surface of the first oxide layer is colored by a dyeing method or an electrolytic coloring method.
전자 장치의 케이스에 있어서,
적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재;
상기 금속 모재의 제1 표면에 형성되는 제1 산화층;
상기 금속 모재의 제2 표면에 형성되는 제2 산화층;
상기 제2 산화층의 표면에 형성되는 레진층; 및
상기 제1 산화층의 표면에 형성되는 금속 코팅층을 포함하고,
상기 적어도 하나의 단차 영역은, 상기 금속 코팅층, 상기 제1, 제2 산화층 및 상기 레진층으로 적층되어, 전파를 투과하는 전파 투과 영역을 포함하는 전자 장치의 케이스.
In the case of the electronic device,
A metal base material including at least one stepped region;
A first oxide layer formed on a first surface of the metal base material;
A second oxide layer formed on a second surface of the metal base material;
A resin layer formed on a surface of the second oxide layer; And
And a metal coating layer formed on a surface of the first oxide layer,
Wherein the at least one stepped region includes a radio wave transmitting region that is laminated with the metal coating layer, the first and second oxide layers, and the resin layer and transmits radio waves.
제24 항에 있어서, 상기 전파 투과 영역은, 상기 금속 모재에 형성되는 단차홈을 포함하는 전자 장치의 케이스.
The case of an electronic device according to claim 24, wherein the radio wave transmitting region includes a stepped groove formed in the metal base material.
전자 장치의 케이스의 제조 방법에 있어서,
금속 모재의 일부분을 기계가공 또는 레이저 또는 에칭 등에 의해 식각 또는 제거하여 적어도 하나의 단차 영역을 포함하는 금속 모재를 형성하는 동작;
상기 금속 모재의 제1 표면을 마스킹하는 동작;
상기 금속 모재의 제2 표면을 제2 산화법에 의해 산화시켜 제2 산화층을 형성하는 동작;
상기 제2 산화층의 표면에 레진층을 형성하는 동작;
상기 금속 모재의 제1 표면을 제1 산화법에 의해 산화시켜 제1 산화층을 형성하는 동작;
상기 제1 산화층의 표면에 금속 코팅층을 형성하는 동작; 및
상기 단차 영역 중 적어도 하나에 상기 금속 코팅층, 상기 제1, 제2 산화층 및 상기 레진층으로 적층하여 전파 투과 영역을 형성하는 동작을 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
A method of manufacturing a case of an electronic device,
Etching or removing a part of the metal base material by machining or laser or etching to form a metal base material including at least one stepped region;
Masking the first surface of the metal base material;
Oxidizing the second surface of the metal base material by a second oxidation method to form a second oxide layer;
Forming a resin layer on the surface of the second oxide layer;
Oxidizing the first surface of the metal base material by a first oxidation method to form a first oxide layer;
Forming a metal coating layer on a surface of the first oxide layer; And
And laminating the metal coating layer, the first and second oxide layers, and the resin layer on at least one of the stepped regions to form a radio wave transmitting region.
제26 항에 있어서,
상기 금속 코팅층을 제1 산화법 또는 제2 산화법 중 하나에 의해 산화시켜, 제3 산화층을 형성하는 동작을 더 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
27. The method of claim 26,
And oxidizing the metal coating layer by one of a first oxidation method and a second oxidation method to form a third oxide layer.
제26 항에 있어서,
상기 제1 산화층의 표면에 염색법 또는 전해착색법 등에 의해 착색되는 동작을 더 포함하는 전자 장치의 케이스의 제조 방법.
27. The method of claim 26,
Wherein the surface of the first oxide layer is colored by a dyeing method or an electrolytic coloring method.
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