KR20180038705A

KR20180038705A - 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치 및 그 방법

Info

Publication number: KR20180038705A
Application number: KR1020160129668A
Authority: KR
Inventors: 유홍연; 임권섭; 김대선
Original assignee: 한국전자통신연구원
Priority date: 2016-10-07
Filing date: 2016-10-07
Publication date: 2018-04-17
Also published as: US20180100811A1

Abstract

광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치가 개시된다. 상기 검사 장치는 XY 이동 스테이지부; 상기 XY 이동 스테이지부에 의해 X축 및 Y축의 2축 방향으로 이동하고, XY평면 상에서 회전하고, 측면에 제1 및 제2 카메라가 설치된 마운트 헤드부; 상기 마운트 헤드부의 하부에 배치되고, 페룰이 내장된 다수의 광통신 모듈을 고정하는 지그부; 및 상기 제1 카메라가 촬영한 상기 지그부의 전체 영상으로부터 추출된 다수의 페룰 영역 중에서 검사 시작 위치에 존재하는 페룰 영역을 선정하고, 상기 검사 시작 위치로 이동된 상기 제2 카메라가 상기 페룰 영역을 촬영한 페룰 단면 영상을 분석하여 페룰 단면에 대한 결함 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.

Description

광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치 및 그 방법{DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING FERRULE ENDFACE FOR OPTICAL COMMUNICATION MODULE}

본 발명은 영상 처리를 이용하여 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면(ferrule endface)을 자동으로 검사하는 장치 및 방법에 관한 것이다.

일반적으로 광통신 시스템에 사용되는 광통신 모듈은 광 페룰을 포함한 receptacle 부품을 TOSA, ROSA, TO-CAN 등의 서브모듈 또는 상기 서브모듈을 포함하는 광 송수신(Optical Transceiver) 모듈을 포함한다. 모듈 형태로 제조되는 receptacle 부품들은 페룰 단면이 일정한 깊이에 존재하는 암놈(female) 형태로 제조되고, 제조된 receptacle 부품들은 다양한 부품들과 결합된다.

이러한 receptacle 부품들은 제조 공정 중 또는 제품 이송 중에 먼지, 파티클, 오일 등의 오염물질이 페룰의 단면에 흡착될 수 있다. 이러한 오염물질은 제품의 광 신호 전송 성능을 저하시키고, 결국 제품의 신뢰도를 저하시키는 주요한 원인을 제공한다.

따라서, 제조 공정 중 또는 제품 이송 후에 페룰의 단면에 흡착된 오염물질을 제거하는 공정이 필요하며, 대량의 모듈들을 적기에 생산이 가능하도록 정량적인 기준에 의한 자동화 전수검사 시스템이 필수적이다.

기존 자동화 전수검사 시스템은 페룰 단면이 페룰 단면이 외부로 돌출되어있는 수놈(male) 형태의 광 커넥터(FC, SC, ST, LC, MU, SMA 등)를 검사하는 시스템으로, 각 형상에 맞는 지그(Jig)에 검사 대상을 장착하여 다양한 광학계와 이동 스테이지를 통해 페룰의 단면 영상을 획득한다. 그리고 영상처리 기술을 이용하여 획득한 페룰의 단면 영상을 분석하여 페룰 단면의 오염 상태를 판별한다.

한편, receptacle 부품이 결합된 TOSA, ROSA, TO-CAN, Transceiver 등의 광통신 모듈은 혹은 서브 모듈은 페룰이 외부로 돌출되지 않으며, receptacle 부품의 하우징(housing) 내부의 일정한 깊이에 광 파이버를 포함한 페룰 단면이 존재한다. 또한, 하우징 내부의 페룰 단면의 위치는 제조하는 광통신 모듈 혹은 서브모듈의 형상에 따라 다양한 깊이에 존재한다.

따라서, 기존 자동화 전수검사 시스템은 페룰 단면이 외부로 돌출된 수놈 형태의 광 커넥터 검사를 위한 장치로, 암놈 형태의 다양한 광통신 모듈 혹은 서브모듈의 페룰 단면을 검사할 수 없는 문제점이 있다. 특히, 다양한 형상의 광통신 모듈 혹은 서브모듈을 자동으로 검사하기 위해서는 검사 대상이 장착된 지그로부터 검사 대상의 형상 식별, 개수(페룰 단면의 수 혹은 부품의 수)를 판별할 수 없기 때문에, 자동화 전수검사 시스템의 구축이 어렵고, 페룰 단면에 흡착된 오염물질을 정확하게 검출할 수 없다.

본 발명의 목적은 다양한 형상의 광통신 모듈(또는 서브모듈, 부품 등) 제조 과정에서 페룰 단면의 위치가 일정한 깊이에 존재하는 다양한 형태의 광통신 모듈 혹은 서브모듈(혹은 부품)에서 페룰 단면의 위치를 정확히 판단하고, 판단 위치에 존재하는 페룰 단면의 오염상태를 자동으로 검사하는 광 통신 모듈(또는 서브모듈, 부품 등)을 위한 페룰 단면의 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 데 있다.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일면에 따른 페룰 단면의 검사 장치는 XY 이동 스테이지부; 상기 XY 이동 스테이지부에 의해 X축 및 Y축의 2축 방향으로 이동하고, XY평면 상에서 회전하고, 측면에 제1 및 제2 카메라가 설치된 마운트 헤드부; 상기 마운트 헤드부의 하부에 배치되고, 페룰이 내장된 다수의 광통신 모듈을 고정하는 지그부; 및 상기 제1 카메라가 촬영한 상기 지그부의 전체 영상으로부터 추출된 다수의 페룰 영역 중에서 검사 시작 위치에 존재하는 페룰 영역을 선정하고, 상기 검사 시작 위치로 이동된 상기 제2 카메라가 상기 페룰 영역을 촬영한 페룰 단면 영상을 분석하여 페룰 단면에 대한 결함 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.

본 발명의 다른 일면에 따른 페룰 단면의 검사 방법은, 지그 이송 로봇에 의해, 페룰이 내장된 다수의 광통신 모듈을 고정하는 지그부가 지그 고정대로 이송되는 단계; XY 이동 스테이지부에 의해 X축 및 Y축 방향으로 이동 가능한 마운트 헤드부가 상기 지그부의 상부로 이동하는 단계; 상기 마운트 헤드부에 설치된 제1 카메라가 상기 지그부의 전체 영역을 촬영한 전체 영상을 획득하는 단계; 제어부가 상기 지그부의 전체 영상으로부터 다수의 페룰 영역을 추출하고, 추출된 다수의 페룰 영역 중에서 검사 시작 위치에 존재하는 페룰 영역을 선정하는 단계; 상기 제2 카메라가 상기 마운트 헤드부에 의해 상기 검사 시작 위치로 이동하여, 상기 페룰 영역을 촬영하는 단계; 및 상기 제어부가 상기 페룰 영역을 촬영한 페룰 단면 영상을 분석하여 페룰 단면에 대한 결함 여부를 판단하는 단계를 포함한다.

본 발명에 따르면, 원형(circle)의 페룰 영역을 검출하기 때문에, 페룰이 내장된 광통신 모듈(또는 서브모듈, 부품 등)의 형태 및 사이즈에 관계없이, 페룰이 내장된 다양한 광통신 모듈(또는 서브모듈, 부품 등)을 검사 대상으로 설정할 수 있다.

또한, 지그의 전체 영역을 촬영한 전체 영상으로부터 검사 대상인 페룰 영역을 미리 추출하고, 추출된 페룰 영역에 대해서만 결함 여부를 판단하기 때문에, 결함 여부를 판단하기 위한 영상 처리 시간의 단축으로 고속 자동화 전수검사가 가능하다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 광 통신 모듈(또는 서브모듈, 부품 등)을 위한 페룰 단면의 검사 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시한 검사 장비의 정면도이다.
도 3은 도 1에 도시한 검사 장비의 측면도이다.
도 4는 도 1에 도시한 지그부를 도시한 평면도이다.
도 5는 도 1에 도시한 제어 장비의 블록 구성도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 제1 영상 처리부의 검사 대상 후보 영역 추출 절차를 나타내는 흐름도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 제2 영상 처리부의 오염물질 검출 방법의 절차를 나타내는 흐름도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 페룰 단면의 검사 방법의 절차를 나타내는 흐름도이다.

이하, 본 발명의 다양한 실시예가 첨부된 도면과 연관되어 기재된다. 본 발명의 다양한 실시 예는 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들이 도면에 예시되고 관련된 상세한 설명이 기재되어 있다. 그러나 이는 본 발명의 다양한 실시 예를 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 다양한 실시 예의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경 및/또는 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용되었다.

본 발명의 다양한 실시 예에서 사용될 수 있는 "포함한다" 또는 "포함할 수 있다" 등의 표현은 개시(disclosure)된 해당 기능, 동작 또는 구성요소 등의 존재를 가리키며, 추가적인 하나 이상의 기능, 동작 또는 구성요소 등을 제한하지 않는다. 또한, 본 발명의 다양한 실시 예에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

본 발명의 실시예에서 "또는" 등의 표현은 함께 나열된 단어들의 어떠한, 그리고 모든 조합을 포함한 다. 예를 들어, "A 또는 B"는, A를 포함할 수도, B를 포함할 수도, 또는 A 와 B 모두를 포함할 수도 있다.

본 발명의 실시예에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명의 실시 예를 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 광통신 모듈(서브 모듈 또는 부품)을 위한 페룰 단면의 검사 장치를 나타내는 블록도이다.

도 1을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 광통신 모듈(서브 모듈 또는 부품)을 위한 페룰 단면의 검사 장치(300)는 페룰 단면(ferrule endface)의 결함을 검사하는 장치로서, 크게 페룰 검사 장비(100)과 제어 장비(200)을 포함한다.

상기 검사 장비(100)는 공급부(110), 지그 이송 로봇(120), 지그부(130), 지그 고정부(140), XY 이동 스테이지부(150), 마운트 헤드부(160, mount head) 및 수납부(170)를 포함할 수 있다.

상기 공급부(110)는 검사 대상인 지그부(130)를 공급한다.

상기 지그 이송 로봇(120)은 상기 제어 장비(200)의 제어에 따라, 상기 공급부(110)에 수납된 지그부(130)를 지그부 고정부(140)로 이송하고, 검사가 완료된 지그부(130)를 상기 수납부(170)로 이송하여 수납한다.

상기 지그부(130)는 검사 대상에 해당하는 다수의 광 통신 모듈이 어레이 형태로 배열되도록 고정하는 지그를 포함한다. 여기서, 검사 대상에 해당하는 광 통신 모듈은 페룰(ferrule)이 외부로 돌출되지 않은 암놈 타입으로 제조된 리셉터클(receptacle) 부품, 이러한 부품을 포함하는 서브 모듈 및 상기 서브 모듈을 포함하는 광 송수신 모듈(optical transceiver module) 중 어느 하나일 수 있다. 상기 페룰(ferrule)이 암놈 타입으로 임베딩된 리셉터클(receptacle) 부품으로, TOSA, ROSA, TO-CAN 타입 등의 리셉터클 부품을 예로 들 수 있다. 따라서, 상기 지그는 다양한 종류의 광 통신 모듈을 삽입 고정하도록 형상과 사이즈가 서로 다른 다수의 삽입홈을 갖도록 구성될 수 있다.

상기 지그 고정부(140)는 상기 지그부(130)의 검사 위치를 제공하는 구성으로, 검사 과정에서 움직이지 않도록 상기 지그부(130)를 고정한다.

상기 XY 이동 스테이지부(150)는 상기 제어 장비(200)의 제어에 따라, 상기 지그(120)의 상부에서 상기 마운트 헤드부(160)를 X축 방향 및 Y축 방향을 포함하는 2축 방향으로 이동시킨다.

상기 마운트 헤드부(160)는 상기 제어 장비(200)의 제어에 따라, 상기 지그부(130)의 전면과 상기 지그부(130)에 배열된 각 광통신 모듈에 구비된 페룰 단면을 촬영하도록 상기 지그부(130)의 상부에서 상기 2축 방향 및 수직 상하(Z축)로 이동하고, 회전 가능하도록 구성된다.

상기 제어 장비(200)는 상기 마운트 헤드부(160)로부터 제공된 전면 영상으로부터 다수의 페룰 영역을 검출하고, 검출된 다수의 페룰 영역 중 첫 번째 검사 대상에 해당하는 페룰 영역을 선정하고, 선정된 페룰 영역의 페룰 단면으로부터 오염물질을 제거하도록 상기 마운트 헤드부(160)를 제어한다.

또한 상기 제어 장비(200)는 상기 마운트 헤드부(160)로부터 제공된 상기 페룰 단면 영상을 분석하여, 페룰의 코어(core) 영역, 크래딩(cradding) 영역, 버퍼(buffer) 영역을 검출하고, 검출된 영역의 밝기(intensity) 값 분포를 분석하여 결함 여부를 판별한다.

또한 상기 제어 장비(200)는 상기 결함 여부를 판별한 결과를 시각화된 map 형태의 리포트를 검사자에게 제공하도록 구성된다.

상기 지그부(130)에 구비된 모든 페룰 단면의 결함에 대한 검사가 완료되면, 지그 이송 로봇(120)이, 상기 제어 장비(200)의 제어에 따라, 검사가 완료된 해당 지그부(130)를 수납부(170)로 이송하여 수납한다.

이하, 도 2 내지 도 4를 참조하여, 도 1에 도시한 검사 장비의 주요 구성에 대해 더욱 상세히 설명하기로 한다.

지그 이송 로봇(120)

도 2 및 도 3을 참조하면, 상기 지그 이송 로봇(120)은 하부 프레임(10) 상에 설치되고, 상기 하부 프레임(10) 상에 설치된 공급부(110)로부터 지그부(130)를 인출하고, 인출된 지그부(130)를 지그 고정부(130)로 이송하고, 검사가 완료된 지그부(130)를 상기 수납부(170)로 이송하여 수납한다.

이를 위해, 상기 지그 이송 로봇(120)은 측면에 레일이 구비된 베이스부(121), 상기 베이스부(121)의 측면에 설치된 레일(12)을 X축 방향으로 직선 왕복 이동하도록 수직하게 결합된 X축 이동체(123), 상기 X축 이동체(123)에 결합되어 상하 방향(Z축 방향)으로 이동 가능하게 설치되는 슬라이딩 부재(125), 일단부가 슬라이딩 부재(125)에 회전 가능하게 결합되는 암부(127), 암부(127)의 타단부에 회전 가능하게 결합되는 핸드부(129)를 포함하도록 구성된다.

상기 베이스부(121)의 측면에 설치되는 레일(12)은 X축 방향으로 형성되어 상기 이동체(123)가 상기 레일(12) 위를 직선 왕복 이동하면서 지그부(130)를 X축 방향으로 이송할 수 있도록 한다.

상기 X축 이동체(123)에 결합되는 상기 슬라이딩 부재(125)는 베이스부(10)에 설치된 레일(12) 위를 X축 방향으로 직선 왕복 이동하면서 지그부(130)를 Z축 방향으로 이송하게 된다.

상기 X축 이동체(123)에도 상기 베이스부(121)와 마찬가지로 레일(123-1)이 설치된다. 상기 이동체(123)에 설치된 레일(123-1)은 Z축 방향으로 형성되어 슬라이딩 부재(125)가 Z축 방향으로 상하 이동될 수 있도록 한다.

상기 슬라이딩 부재(125)가 X축 이동체(123)에 설치된 레일(123-1) 위를 Z축 방향으로 상하 이동하게 되면, 슬라이딩 부재(125)에 결합되는 암부(127)와, 암부(127)에 결합되는 핸드부(129)도 함께 Z축 방향으로 상하 이동하게 된다. 이에 따라 상기 핸드부(129)에 고정, 지지된 지그부(130)가 상하로 이동될 수 있게 된다.

도시하지는 않았으나, 상기 암부(127)의 일단부가 슬라이딩 부재(125) 위에서 회전 가능하게 하는 모터와 상기 핸드부(129)가 상기 암부(127)의 타단부 위에서 회전 가능하게 하는 모터가 적절한 위치에 배치될 수 있다. 이러한 모터들에 의한 상기 암부(127)의 회전과 상기 핸드부(129)의 회전에 따라 상기 핸드부(129)는 Y축 방향으로 자유롭게 이동할 수 있다. 상기 모터들의 동작은 제어 장비(200)에 의해 제어될 수 있다.

도면에서는 간략한 형태로 도시하였으나, 상기 핸드부(129)는 상기 공급부(110)의 내측으로 이동하여 상기 공급부(110)에 수납된 지그부(130)의 특정 위치를 그립하도록 다양한 형상을 가질 수 있다.

XY 이동 스테이지부 (150)

도 2 및 도 3을 참조하면, 상기 XY 이동 스테이지부(150)는 서피스 플레이트(151, surface plate), X축 이동체(153) 및 Y축 이동체(155)를 포함한다.

상기 서피스 플레이트(151)은 상부 프레임(20)에 설치되며, 직육면체의 형상일 수 있다. 상기 서피스 플레이트(151)의 표면은 평면 가공에 의해 높은 평면도를 갖도록 구성된다.

상기 X축 이동체(153)는 X축 샤프트 모터(153A)와 상기 X축 샤프트 모터(153A)에 고정 결합된 마운트 헤드 안착부(153B)를 포함하며, 상기 마운트 헤드 안착부(153B)는 상기 X축 샤프트 모터(153A)의 구동에 따라 상기 서피스 플레이트(151) 상에서 X축 방향으로 이동한다.

상기 X축 샤프트 모터(153A)는 고정자(stator)로 기능하는 X축 샤프트부(153A-1)와 가동자(actuator)로 기능하는 X축 코일부(153A-2)를 포함한다.

상기 X축 샤프트부(153A-1)는 내부에 자력을 발생하는 자성체를 구비하며, X축 방향으로 연장되고, 양쪽 끝단부가 상기 Y축 이동체(155)에 고정 결합되도록 구성된다.

상기 X축 코일부(153A-2)는 상기 X축 샤프트부(153A-1)의 외측에 삽입 결합되어, 상기 X축 샤프트부(153A-1)의 연장 방향인 X축 방향으로 이동하고, 상기 마운트 헤드 안착부(153B)가 상기 X축 코일부(153A-2)에 고정 결합된다.

상기 X축 코일부(153A-2)에 전류가 인가되면, 상기 X축 코일부(153A-2)와 상기 X축 샤프트부(153A-1) 간에 발생하는 상호 전자기력에 의해, 상기 X축 코일부(153A-2)가 X축 방향으로 이동한다. 그 결과, 상기 X축 코일부(153A-2)에 고정 결합된 상기 마운트 헤드 안착부(153B)가 X축 방향으로 이동한다.

상기 Y축 이동체(155)는 상기 서피스 플레이트(151) 상에서 X축 방향으로 이격되어 배치되며, 상기 서피스 플레이트(151) 상에서 상기 X축 이동체(153)를 Y축 방향으로 이동시키는 구성으로, Y축 샤프트 모터(155A)와 고정부(155B)를 포함한다.

상기 Y축 샤프트 모터(155A)는 고정자(stator)로 기능하는 Y축 샤프트부(155A-1)와 가동자(actuator)로 기능하는 Y축 코일부(153A-2)를 포함한다.

상기 Y축 샤프트부(155A-1)는 내부에 자력을 발생하는 자성체를 구비하며, Y축 방향으로 연장되고, 서피스 플레이트(151)의 네 모서리에 구비된 상기 고정부(155B)에 각각 고정 결합된다.

상기 Y축 코일부(155A-2)는 상기 Y축 샤프트부(155A-1)의 외측에 삽입 결합되어, 상기 Y축 샤프트부(155A-1)의 연장 방향인 Y축 방향으로 이동한다. 이때, 상기 X축 샤프트부(153A-1)의 양쪽 끝단부가 X축 방향으로 이격 배치된 상기 Y축 코일부(155A-2)에 각각 고정 결합된다.

상기 Y축 코일부(155A-2)에 전류가 인가되면, 상기 Y축 코일부(155A-2)와 상기 Y축 샤프트부(155A-1) 간에 발생하는 상호 전자기력에 의해, 상기 Y축 코일부(153A-2)가 Y축 방향으로 이동한다. 그 결과, 상기 Y축 코일부(155A-2)의 이동에 의해, 상기 X축 샤프트부(153A-1)가 Y축 방향으로 이동하므로, 상기 X축 이동체(153)가 Y축 방향으로 이동하게 된다.

마운트 헤드부 (160)

도 2 및 도 3을 참조하면, 상기 마운트 헤드부(160)는 상기 마운트 헤드 안착부(153B)에 결합되어, 상기 지그부(130)의 상부에서 X축 방향 및 Y축 방향으로 이동하면서, 상기 지그부(130)를 촬영하는 구성으로, 회전 구동부(161), 몸체부(163), 제1 카메라(165A), 제2 카메라(165B), 오염 물질 제거부(167) 및 조명부(169)를 포함한다.

상기 회전 구동부(161)는 상기 몸체부(163)를 회전시키는 구성으로, 회전 모터부(161A)와 회전축(161B)을 포함한다.

상기 회전 모터부(161A)는 상기 마운트 헤드 안착부(153B)에 결합되어, 회전력을 생성한다. 상기 회전축(161B)은 상기 회전 모터부(161A)에서 생성된 회전력을 상기 몸체부(163)로 전달한다.

상기 몸체부(163)는 상기 회전축(161B)에 고정 결합되어, 회전 가능하게 구성되고, 그 측면에 제1 카메라(165A), 제2 카메라(165B) 및 오염 물질 제거부(167)가 설치된다. 예를 들면, 제1 카메라(165A), 제2 카메라(165B) 및 오염 물질 제거부(167)는 상기 측면에 90도 간격으로 설치될 수 있다.

상기 몸체부(163)의 측면에 설치된 제1 카메라(165A), 제2 카메라(165B) 및 오염 물질 제거부(167)는 상기 측면을 따라 상하방향(Z축 방향)으로 이동 가능하도록 구성될 수 있다. 이를 위해, 도 2 및 도 3에는 도시하지는 않았으나, 상기 몸체부(163)의 내부에는 제1 카메라(165A), 제2 카메라(165B) 및 오염 물질 제거부(167)를 상하방향(Z축 방향)으로 이동시키기 위한 적어도 하나의 구동 모터부가 구비될 수 있다.

따라서, 제1 카메라(165A), 제2 카메라(165B) 및 오염 물질 제거부(167)는 상기 지그부(130) 상에서 X축, Y축 및 Z축 방향으로 이동가능하며, 동시에 XY평면 상에서 회전 가능하다.

상기 제1 카메라(165A)는 지그 고정부(140)에 고정된 지그부(130)의 상부에서 상기 지그부(130)의 전체 영역을 촬영하여, 상기 지그부(130)의 전체 영상을 획득한다.

상기 제1 카메라(165A)는 상기 지그부(130)의 전체 영상을 획득하기 위해, 상기 제어 장비(200)로부터의 제어 신호에 따라, 상기 지그부(130)의 전체 영역이 상기 제1 카메라(165A)의 FOV(Field Of View) 내에 위치하도록 3축 방향으로 이동하고, 동시에 오토포커싱 동작을 수행한다. 상기 오토포커싱 동작을 위해, 상기 제1 카메라(165A)에 배율 렌즈가 탑재된다.

상기 제1 카메라(165A)에서 획득된 상기 지그부(130)의 전체 영상은 상기 제어 장비(200)로 제공되고, 상기 제어 장비(200)는 상기 지그부(130)의 전체 영상으로부터 페룰 단면이 존재할 수 있는 페룰 후보 영역 검출하고, 동시에 검사 대상에 해당하는 페룰의 수를 계수(카운트)하고, 페룰 후보 영역의 초기 검사 대상 위치값을 계산한다.

상기 제2 카메라(165B)는 상기 제어 장비(200)로부터의 제어 신호에 따라, 상기 제어 장비(200)에서 검출한 페룰 영역 위치로 이동하여, 상기 페룰 영역 내의 페룰 단면을 촬영하도록 구성된다.

상기 제2 카메라(165B)는 상기 제1 카메라(165A)와 같이 상기 제어 장비(200)로부터의 제어 신호에 따라, 상기 지그부(130)의 전체 영역 중에서 상기 페룰 영역이 상기 제2 카메라(165B)의 FOV 내에 위치하도록 3축 방향으로 이동하고, 동시에 오토포커싱 동작을 수행한다. 상기 오토포커싱 동작을 위해, 상기 제1 카메라(165A)와 같이, 상기 제2 카메라(165B)도 배율 렌즈를 구비한다. 다만, 제2 카메라(165B)에 의해 촬영된 페룰 단면 영상은 페룰 단면의 결함을 정밀하게 판단하는 정보로 활용되기 때문에, 상기 제1 카메라(165A)에 구비된 배율 렌즈보다 그 성능이 우수한 고해상도의 배율 렌즈를 구비하는 것이 바람직하다.

상기 제2 카메라(165B)는 상기 고해상도의 페룰 단면 영상을 상기 제어 장비(200)로 전송하고, 상기 제어 장비(200)는 상기 페룰 단면 영상을 분석하여, 페룰 단면의 결함 여부를 판단하게 된다.

상기 오염 물질 제거부(167)는 상기 제어 장비(200)로부터의 제어 신호에 따라, 상기 제어 장비(200)에서 검출한 페룰 영역 위치로 이동하여, 상기 페룰 영역 내의 페룰 단면으로부터 오염물질을 제거한다. 도면에 도시하지는 않았으나, 상기 오염 물질 제거부(167)의 끝단부에는 페룰 단면의 오염물질을 제거하기 위한 초미세 브러시를 갖는 진동 브러시가 설치되어, 초미세 브러시가 페룰 단면에 접촉된 상태에서 진동하여 페룰 단면에 존재하는 오염물질을 제거할 수 있다.

상기 조명부(169)는 상기 몸체부(163)의 저면에 설치되어, 상기 지그부(130)의 상부에서 상기 지그부(130)에 배열된 모듈 혹은 부품을 조명(illumination)한다. 상기 제1 카메라(165A)는 상기 조명에 의해 투영된 페룰 단면 영역을 포함하는 모듈 혹은 부품과 함께 지그부의 전체 영역을 촬영한다.

또한, 도면에는 도시하지 않았으나 상기 조명부(169)는 상기 제 2카메라(165B)의 측면에 설치된 동축 조명부(coaxial light)를 더 포함할 수 있다. 상기 동축 조명부는 상기 광통신 모듈의 일정 깊이에 임베딩된 페룰 단면의 영역을 조명하고, 상기 조명에 의해 투영된 페룰 단면을 촬영하게 된다.

지그부 (130)

도 4를 참조하면, 상기 지그부(130)는 도 4에 도시한 바와 같이, 다수의 삽입홈(13)을 갖는 지그(131)와 상기 지그(131) 상에 어레이 형태로 배열되는 다수의 광통신 모듈(133)을 포함한다.

상기 지그(131) 상에는 다수의 광통신 모듈(133)이 삽입 고정되도록 어레이 형태로 배열된 다수의 삽입홈이 구비될 수 있다. 도 4에서는 각 삽입홈의 형상을 사각 형상으로 도시하였으나, 광통신 모듈의 형상 및 사이즈에 다양한 형태를 가질 수 있다.

상기 지그(131) 상에 배열된 각 광통신 모듈(133)은 암놈형의 페룰이 임베딩되며, 상부에서 바라본 페룰의 단면 형상은 원형(circle)이다.

상기 지그(131) 상의 특정 위치에는 검사 시작 위치를 선정하기 위한 식별 마커(135)가 구비된다.

상기 식별 마커(135)에 가장 인접한 삽입홈(13)은 첫 번째 검사 대상에 해당하는 광통신 모듈(133)이 삽입되는 홈으로 설정될 수 있다.

상기 식별 마커(135)와 상기 식별 마커(135)에 가장 인접한 삽입홈(13) 간의 수직 간격과 인접한 삽입홈(13)들 간의 수직 간격은 d1으로 설정되고, 인접한 삽입홈들 간의 수평 간격은 d2으로 설정될 수 있다. d1, d2은 제2 카메라(165B)가 각 삽입홈(13)에 삽입된 모듈의 검사 위치 및 상기 오염 물질 제거부(167)의 위치를 보정하기 위한 보정값으로 사용된다.

이하, 도 5, 도 6 및 도 7를 참조하여 도 1에 도시한 제어 장비에 대해 상세히 설명하기로 한다.

도 5는 도 1에 도시한 제어 장비의 블록 구성도이다.

도 5를 참조하면, 상기 제어 장비(200)는 제1 영상 처리부(210), 제2 영상 처리부(220), 제어부(230), 출력부(240) 및 저장부(250)를 포함한다.

상기 제1 영상 처리부(210)는 제1 카메라(165A)로부터 입력된 지그(131, 도 4에 도시됨)의 전체 영상 내에서 마커 영역의 위치와 검사 대상에 해당하는 페룰 단면이 존재할 수 있는 후보 영역의 위치를 인식하고, 인식된 상기 마커 영역의 위치와 상기 후보 영역의 위치를 기반으로 페룰 단면이 존재할 수 있는 후보 영역의 개수를 계수하여 이를 제어부(230)로 전송한다.

상기 제어부(230)는 상기 제1 영상 처리부(210)로부터 전송된 상기 후보 영역의 위치 및 상기 마커 영역의 위치가 상기 제2 카메라(165B)의 촬영 영역 및 상기 오염물질 제거부(167)의 제거 영역의 중앙에 위치하도록 중심 좌표 값을 구하고, 상기 마커 영역을 기준으로 지그재그(progressive scan) 순으로 상기 후보 영역에 식별 인덱스를 할당하여 상기 식별 인덱스와 상기 중심 좌표 값으로 이루어진 위치 맵 값을 생성한다.

또한, 상기 제1 영상 처리부(210)는 상기 제어부(230)로부터 피드백된 상기 위치 맵 값과 상기 제1 카메라(165A)의 물리적 특성 및 렌즈 배율에 따라 산출된 도 4의 d1, d2 값과의 차이 값을 계산하고, 계산된 차이값을 이용하여 상기 후보 영역 및 상기 마커 영역의 위치를 보정하고, 그 보정 결과를 상기 제어부로(230)로 전송하고, 상기 제어부(230)는 수신된 상기 보정 결과를 상기 위치 맵 값에 반영하여 상기 위치 맵 값을 보정한다.

즉, 상기 제1 영상 처리부(210)을 통해 생성한 검사 대상 위치 맵의 후보 영역 및 마커 영역이 실제 지그(131) 상의 위치 값으로 변환하여 생성된 위치 맵 값을 전송한다.

상기 제어부(230)는 상기 제1 영상 처리부(210)로부터 획득한 상기 위치 맵 값 및 상기 후보 영역의 개수에 따라 검사를 수행한다.

상기 제어부(230)는 상기 식별 인덱스을 기준으로 다수의 후보 영역들 중에서 상기 마커 영역에 가장 인접한 후보 영역을 첫 번째 검사 대상으로 선정한다.

상기 제어부(230)는 상기 위치 맵 값에 따라 상기 XY 이동 스테이지부(150)와 상기 마운트 헤드부(160)를 제어하여, 상기 지그(131) 상에 첫 번째 검사 대상 후보 영역으로 상기 제1 카메라(165A)를 이동시킨다.

상기 제1 카메라(165A)가 첫 번째 후보 영역의 위치로 이동하면, 상기 제어부(230)는 상기 마운트 헤드부(160)의 몸체부(163)를 90도 회전시키고, 동시에 상기 XY 이동 스테이지부(150)를 정밀하게 제어하여, 오염물질 제거부(167)를 첫 번째 검사 대상에 해당하는 페룰 영역의 위치로 이동시킨다.

상기 페룰 영역의 위치로 이동된 오염물질 제거부(167)는 첫 번째 검사 대상에 해당하는 페룰 단면의 오염물질을 제거하는 작업을 기 설정된 시간 동안 진행한 후, 오염 물질 제거 작업이 완료되면, 상기 마운트 헤드부(160)를 다시 90도 회전시키고, 동시에 상기 XY 이동 스테이지부(150)를 정밀하게 제어하여, 상기 제2 카메라(165B)를 첫 번째 후보 영역 상의 위치로 이동시킨다.

상기 첫 번째 후보 영역의 상의 위치로 이동된 상기 제2 카메라(165B)는 상기 페룰 단면 영상을 촬영하고, 촬영에 의해 획득한 페룰 단면 영상을 상기 제2 영상 처리부(220)로 출력한다.

상기 제2 영상 처리부(220)는 상기 제2 카메라(165B)로부터 입력된 페룰 단면 영상에 대해 원형(circle) 검출을 수행하여 페룰의 버퍼(buffer) 영역, 크래딩(cradding) 영역, 코어(core) 영역을 분류한다. 그리고 상기 코어 영역을 포함하는 크래딩 영역을 워터쉐드(watershed) 알고리즘 기반의 영상 처리를 이용하여 유사한 밝기값으로 구성된 다수의 영역으로 분할하고 각 영역별로 인덱스를 할당한다.

상기 제어부(230)는 상기 워터쉐드 알고리즘 기반으로 분할된 각 영역의 평균 밝기값과 기준 평균 밝기값 간의 차이값을 계산하고, 계산된 차이값에 따라 결함 여부를 판단한다. 여기서, 기준 평균 밝기값은 오염물질이 없는 정상적인 페룰 단면의 크래딩 영역을 구성하는 화소들의 밝기값을 의미한다.

상기 결함 여부를 판단하는 과정에서, 상기 코어 영역은 페룰 단면의 중심 영역이고, 상기 버퍼 영역은 페룰 단면의 최외곽 영역이고, 상기 크래딩 영역은 상기 코어 영역과 상기 버퍼 영역 사이의 영역으로 정의되는데, 상기 버퍼 영역에서의 결함은 광 전송특성에 큰 영향을 끼치지 않기 때문에, 상기 코어 영역와 상기 크래딩 영역에 대한 결함여부를 판단하는 것으로 상기 페룰 단면의 결함 여부를 판단할 수 있다.

상기 제어부(230)는 상기 페룰 단면의 결함 여부를 판단한 판단 결과에 결과 리포트를 생성하고, 생성된 결과 리포트를 상기 검사 대상 맵에 결합한 최종 결과 리포트를 생성하고, 최종 결과 리포트를 출력부(240)를 통해 출력하고, 동시에 최종 결과 리포트를 저장부(250)에 저장한다.

상기 출력부(240)는 상기 최종 결과 리포트를 시각 또는 청각적인 데이터로 변환하여 출력하는 구성으로서, 상기 최종 결과 리포트를 그래프 및 텍스트 데이터 등과 같은 시각적인 데이터로 출력하는 영상 표시부와 상기 최종 결과 리포트를 청각적인 데이터로 출력하는 오디오 출력부를 포함한다.

이와 같이, 첫 번째 검사 대상에 해당하는 페룰 단면에 대한 검사가 완료되면, 두 번째 페룰 단면에 대한 검사를 진행한다. 검사의 순서는 지그 상에서 배열된 광통신 모듈에 대해 지그재그 순으로 진행하여 모든 광통신 모듈에 대한 전수 검사를 진행한다. 매 검사 결과는 상기 최종 결과 리포트에 반영되어 저장부(250)에 저장되고 동시에 출력부(240)를 통해 출력될 수 있다.

도 6은 본 발명의 일 실시 에 따른 상기 제1 영상 처리부(210)에서 수행하는 동작 절차를 나타내는 흐름도이다.

도 6을 참조하면, 단계 S610에서, 상기 제1 카메라(165A)로부터 입력된 상기 지그부(130)의 전체 영상을 추출 대상에 해당하는 객체 특징을 잘 나타낼 수 있는 계조 영상으로 변환한다.

이어, 단계 S620에서, 하프토닝(halftoning) 알고리즘에 따른 이진화(binarization)하는 과정을 통해 상기 계조 영상을 제1 이진 영상으로 변환하고, 상기 제1 이진 영상으로부터 상기 지그(131, 도 4에 도시됨)에 해당하는 사각형 형상의 마스크 영역을 탐색하고, 탐색된 마스크 영역을 제1 관심영역으로 추출한다.

이어, 단계 S630에서, 상기 추출된 관심 영역을 포함하는 영상을 다시 제2 이진 영상으로 변환하고, 상기 제2 이진 영상 내에서 페룰 단면이 존재할 수 있는 다수의 후보 영역과 상기 다수의 후보 영역에서 첫 번째 검사 대상에 해당하는 페룰 단면이 존재할 수 있는 후보 영역을 식별하기 위한 마커 영역을 추출한다. 상기 다수의 후보 영역은, 예를 들면, 에지를 검출하는 에지 검출 알고리즘과 원형 객체를 검출하는 호프 변환(hough transform) 알고리즘으로부터 추출될 수 있고, 상기 마커 영역은, 예를 들면, 템플릿 매칭(template matching) 알고리즘을 기반으로 추출될 수 있다.

이어 단계 S640에서, 마커로 식별된 마커 영역을 기준으로 지그재그 순으로 상기 다수의 후보 영역에 인덱스를 할당하고, 각 후보 영역의 중심 위치 값을 산출하고, 상기 인덱스와 상기 중심 위치 값을 이용하여 다수의 후보 영역 및 마커 영역을 표시한 위치 맵을 생성한다. 이때, 각 후보 영역들 및 마커 영역의 중심 위치 값 산출과정에서 각 영역의 사이즈 값 및 최외각(boundary) 좌표 값을 산출한다.

이어, 단계 S650에서, 상기 산출된 중심 위치 값, 사이즈 값 및 최외각 좌표 값을 상기 지그(131)에 실제 설정된 수직 간격 d1, 수평 간격 d2를 이용하여 상기 위치 맵을 보정한다. 이와 같이, 보정된 위치 맵은 제2 카메라(165B)의 회전 이동을 제어하는 데 사용된다.

도 7은 본 발명의 일 실시 에 따른 제2 영상 처리부에서 수행하는 동작 절차를 나타내는 흐름도이다.

도 7을 참조하면, 단계 S710에서 상기 제2 카메라(165B)로부터 입력된 페룰 단면 영상을 추출 대상에 해당하는 객체 특징을 잘 나타낼 수 있는 계조 영상으로 변환한다.

이어, 단계 S720에서 하프토닝(halftoning) 알고리즘에 따라 상기 계조 영상을 이진 영상으로 변환하고, 상기 변환된 이진 영상에서 나타나는 밝기값을 이용하여 상기 페룰 단면의 크래딩 영역을 추출한다. 또한, 상기 추출된 크래딩 영역 내에서 상기 크래딩 영역의 에지 성분인 최외각 화소들을 추출하여 결함 영역 검출을 위한 검사 제한 영역을 설정하고, 상기 설정된 검사 제한 영역을 결함 영역이 존재할 수 있는 관심 영역으로 추출한다.

이어, 단계 S730에서, 워터쉐드(watershed) 알고리즘을 이용하여 상기 추출한 관심 영역을 다수의 결함 후보 영역들로 분할한다. 여기서, 워터쉐드 알고리즘은 S720 단계에서 추출한 크래딩 영역의 에지(edge)까지만 영역 확장을 수행하여 상기 크래딩 영역의 외부 영역의 분할을 제한한다. 또한, 워터쉐드 알고리즘은 분할된 영역들의 유사성(예를 들면, 밝기값의 유사한 정도)을 통해 영역들을 병합하여 최종 결함이 존재할 수 있는 후보 영역을 추출한다.

이어, 단계 S740에서, S730 단계에서 각 결함 후보 영역을 구성하는 화소들의 평균값을 산출하고, 결함 후보 영역의 표준편차가 큰 영역이 존재할 경우 페룰 단면에 결함이 존재하는 것으로 판단한다.

도 8은 본 발명의 일 실시 에 따른 페룰 단면의 검사 방법의 절차를 나타내는 흐름도이다. 아래의 각 단계를 설명하는 과정에서 앞서 설명된 부분과 중복된 부분은 간단하게 설명한다.

도 8을 참조하면, 먼저, 단계 S810에서, 전체 시스템을 초기화하는 과정이 수행된다. 구체적으로, 지그 이송 로봇(120)이 공급부(110)에 수납된 지그부(130)를 인출하여 지그 고정대(140)로 이송한다.

상기 지그부(130)가 상기 지그 고정대(140)에 이송되면, 마운트 헤드부(160)에 설치된 제1 카메라(165A)의 FOV 내에 상기 지그부(130)의 전체 영역이 존재하도록 상기 마운트 헤드부(160)가 이동 및 회전한다. 이때, 제1 카메라(165A)가 상기 마운트 헤드부(160)의 측면 상에서 상하 방향으로 이동할 수 있다.

이어, 단계 S820에서, 상기 제1 카메라(165A)가 상기 지그부(130)의 전체 영역을 촬영하고, 상기 전체 영역을 촬영한 상기 지그부(130)의 전체 영상을 제어 장비(200)로 출력한다.

이어, 단계 S830에서, 상기 제어 장비(200)가 상기 제1 카메라(165A)로부터 입력된 상기 지그부(130)의 전체 영상을 분석하여 검사 시작 위치를 선정한다.

구체적으로, 상기 전체 영상을 이진 영상으로 변환하고, 변환된 이진 영상으로부터 마커 영역과 다수의 후보 영역을 추출한다. 이후, 상기 이진 영상 내에서의 상기 마커 영역의 위치값과 상기 지그(131) 상에서의 상기 식별 마커의 위치값 간의 차이값을 이용하여 마커 영역 및 후보 영역의 위치를 보정한다. 이후, 상기 검출된 다수의 후보 영역 중에서 상기 마커 영역에 가장 인접한 페룰 영역의 위치를 검사 시작 위치로 선정한다.

이어, 단계 S840에서, 상기 마운트 헤드부(160)가 제1 회전 방향으로 90도 회전하여, 오염 물질 제거부(167)가 상기 검사 시작 위치로 이동하고, 상기 오염 물질 제거부(167)가 상기 검사 시작 위치에 존재하는 페룰 단면쪽으로 하강하여 페룰 단면의 오염 물질을 제거한다. 여기서, 오염 물질 제거 작업은 일정 시간 동안 진행될 수 있다.

이후, 단계 S850에서, 상기 오염 물질 제거 작업이 완료되면, 상기 오염 물질 제거부(167)가 상승한 후, 상기 마운트 헤드부(160)가 상기 제1 회전 방향과 동일한 방향으로 다시 90도 회전하여, 상기 제2 카메라(165B)가 상기 검사 시작 위치에 해당하는 페룰 단면으로 이동하고, 상기 제2 카메라(165B)가 상기 페룰 단면을 촬영하여 페룰 단면 영상을 획득한다. 이후, 획득된 페룰 단면 영상은 상기 제어 장비(200)로 출력된다.

이후, 단계 S860에서, 상기 페룰 단면 영상을 분석하여 상기 페룰 단면의 결함 여부를 검사한다.

구체적으로, 상기 페룰 단면 영상에 대해 워터쉐드(watershed) 알고리즘 기반의 영상 처리를 수행하여, 결함이 존재할 수 있는 워터쉐드 영역을 분할하고, 분할된 각 영역의 평균 밝기값과 표준편차를 계산하여 각 영역별 결함 여부에 대한 검사를 진행한다.

이후, 단계 S870에서, 상기 결함 여부에 대한 결과 리포트를 생성 및 저장하고, 동시에 상기 결과 리포트를 영상 표시부 또는 오디오 출력부를 통해 사용자에게 제공한다.

한편, 상기 단계 S860에서, 검사 결과 페룰 단면에서 결함이 확인되면, 상기 단계 S860 이후에, 오염 물질 제거부(167)에 의한 오염 물질 제거 작업이 다시 수행될 수 있다. 즉, 마운트 헤드부의 90도 회전에 의해, 상기 오염물질 제거부(167)가 결함이 확인된 페룰 단면으로 다시 이동된 후, 페룰 단면 쪽으로 하강하여, 페룰 단면의 오염 물질을 제거하게 된다.

이상에서 본 발명에 대하여 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 본 발명의 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims

XY 이동 스테이지부;
상기 XY 이동 스테이지부에 의해 X축 및 Y축의 2축 방향으로 이동하고, XY평면 상에서 회전하고, 측면에 제1 및 제2 카메라가 설치된 마운트 헤드부;
상기 마운트 헤드부의 하부에 배치되고, 페룰이 내장된 다수의 광통신 모듈을 고정하는 지그부; 및
상기 제1 카메라가 촬영한 상기 지그부의 전체 영상으로부터 추출된 다수의 페룰 영역 중에서 검사 시작 위치에 존재하는 페룰 영역을 선정하고, 상기 검사 시작 위치로 회전 이동된 상기 제2 카메라가 상기 페룰 영역을 촬영한 페룰 단면 영상을 분석하여 페룰 단면에 대한 결함 여부를 판단하는 제어부
를 포함하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치.
제1항에서, 상기 제어부는,
객체 추출 알고리즘 기반의 영상 처리에 따라, 상기 지그부의 전체 영상으로부터 상기 다수의 페룰 영역을 추출함을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치.
제1항에서, 상기 제어부는,
상기 페룰 단면 영상에 대해 워터쉐드(watershed) 알고리즘 기반의 영상 처리를 수행하여, 페룰 단면에 대한 결함 여부를 판단함을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치.
제1항에서, 상기 지그부는,
상기 다수의 광통신 모듈을 어레이 형태로 고정하는 지그;
상기 검사 시작 위치를 선정하기 위해, 상기 지그의 특정 위치에 구비된 식별 마커를 포함함을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치.
제4항에서, 상기 제어부는,
상기 제1 카메라가 촬영한 상기 지그부의 전체 영상으로부터 상기 식별 마커에 대응하는 마커 영역을 추출하고, 추출된 마커 영역의 위치값을 기준으로 상기 검사 시작 위치에 존재하는 페룰 영역을 선정함을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치.
제5항에서, 상기 제어부는,
상기 지그 상에서의 상기 식별 마커와 상기 광통신 모듈이 삽입되는 삽입홈 간의 간격을 기반으로 상기 마커 영역의 위치와 상기 페룰 영역의 위치를 보정함을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치.
제6항에서, 상기 제어부는,
상기 제2 카메라가 상기 마커 영역과 상기 페룰 영역의 위치가 보정된 위치로 이동하도록 상기 마운트 헤드부의 회전을 제어함을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치.
제5항에서, 상기 제어부는,
상기 다수의 페룰 영역 중에서 상기 추출된 마커 영역에 가장 인접한 페룰 영역의 위치를 상기 검사 시작 위치로 선정함을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치.
제1항에서, 상기 페룰은,
상기 광통신 모듈에 암놈 타입으로 내장된 것임을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치.
제1항에서, 상기 마운트 헤드부의 측면에는,
상기 페룰 단면의 오염물질을 제거하기 위해, 끝단부에 미세 브러쉬가 형성된 오염 물질 제거부가 설치되고,
상기 오염 물질 제거부는,
상기 측면을 따라 상하방향으로 이동함을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 장치.
지그 이송 로봇에 의해, 페룰이 내장된 다수의 광통신 모듈을 고정하는 지그부가 지그 고정대로 이송되는 단계;
XY 이동 스테이지부에 의해 X축 및 Y축 방향으로 이동 가능한 마운트 헤드부가 상기 지그부의 상부로 이동하는 단계;
상기 마운트 헤드부에 설치된 제1 카메라가 상기 지그부의 전체 영역을 촬영한 전체 영상을 획득하는 단계;
제어부가 상기 지그부의 전체 영상으로부터 다수의 페룰 영역을 추출하고, 추출된 다수의 페룰 영역 중에서 검사 시작 위치에 존재하는 페룰 영역을 선정하는 단계;
상기 제2 카메라가 상기 마운트 헤드부에 의해 상기 검사 시작 위치로 회전 이동하여, 상기 페룰 영역을 촬영하는 단계; 및
상기 제어부가 상기 페룰 영역을 촬영한 페룰 단면 영상을 분석하여 페룰 단면에 대한 결함 여부를 판단하는 단계
를 포함하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 방법.
제11항에서, 상기 페룰 영역을 선정하는 단계에서, 상기 다수의 페룰 영역은,
상기 지그부의 전체 영상으로부터 추출됨을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 방법.
제11항에서, 상기 페룰 영역을 선정하는 단계는,
상기 지그부의 전체 영상으로부터 상기 지그부의 특정 위치에 구비된 식별 마커에 대응하는 마커 영역과 상기 다수의 페룰 영역을 추출하는 단계; 및
상기 다수의 페룰 영역 중에서, 상기 마커 영역에 가장 인접한 페룰 영역을 상기 검사 시작 위치에 존재하는 페룰 영역으로 선정하는 단계
를 포함함을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 방법.
제11항에서, 상기 페룰 영역을 선정하는 단계와 상기 페룰 영역을 촬영하는 단계 사이에,
상기 마운트 헤드부가 회전하여, 상기 마운트 헤드부에 설치된 오염 물질 제거부가 상기 선정된 페룰 영역으로 이동하는 단계;
상기 오염 물질 제거부 상기 마운트 헤드부의 측면을 따라 하강하는 단계; 및
상기 하강한 오염 물질 제거부의 끝단부에 구비된 미세브러시를 이용하여 상기 페룰 영역 내의 페룰 단면으로부터 오염물질을 제거하는 단계를 더 포함함을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 방법.
제11항에서, 상기 페룰 영역을 촬영하는 단계는,
상기 제2 카메라가 상기 마운트 헤드부의 회전에 의해 상기 검사 시작 위치로 이동하는 단계; 및
상기 검사 시작 위치로 이동한 상기 제2 카메라가 상기 페룰 영역을 촬영하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 광 통신 모듈을 위한 페룰 단면의 검사 방법.