KR102243081B1 - 광커넥터용 페룰의 불량 검출장치 및 방법 - Google Patents

광커넥터용 페룰의 불량 검출장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

광커넥터용 페룰의 불량 검출장치 및 방법을 개시한다.
본 실시예의 일 측면에 의하면, 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량을 검출하는 장치에 있어서, 상기 복수 개의 관통공 내 이물질을 제거하는 클리닝부, 상기 클리닝부에서 세정된 페룰을 고정하는 페룰 고정부, 상기 페룰 내 복수 개의 관통공으로 복수 개의 레이저 빔을 조사하는 발광부, 상기 페룰 내 복수 개의 관통공을 통과한 레이저 빔을 센싱하고, 전기적 신호로 변환하는 수광부 및 상기 수광부가 센싱한 데이터를 분석하여, 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 페룰 불량 검출장치를 제공한다.

Description

광커넥터용 페룰의 불량 검출장치 및 방법{Apparatus and Method for Detecting Defects in Ferrule for Optical Connector}
본 발명은 간편한 방법으로 광커넥터용 페룰의 불량 여부를 검출하는 장치 및 방법에 관한 것이다.
이 부분에 기술된 내용은 단순히 본 실시예에 대한 배경 정보를 제공할 뿐 종래기술을 구성하는 것은 아니다.
광커넥터는 페룰(Ferrule)에 결합되는 광섬유의 갯수에 따라 단심형과 다심형으로 구분된다. 즉, 단심형 광커넥터는 페룰 내에 하나의 광섬유가 삽입되는 형태로 구성되며, 연결형태에 따라 SC, FC, MU 및 LC 타입(Type) 등으로 구현된다. 다심형 광커넥터는 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰 내에 복수 개의 광섬유가 삽입되는 형태로서, MTP, MPO, MPX 및 SMC 타입 등으로 구성된다.
특히, MT 페룰을 구비하는 MTP 광커넥터는 고속의 대용량 광전송(Gigabit Ethernet, ATM-LAN, WDM, 전광통신망 등)을 기반으로 하는 광전송 시스템에서 광 신호를 전달하는데 사용된다. MTP 광커넥터는 전송 손실이 낮고, BER(Bit Error Rate)이 낮으며, 장거리에서도 대용량 전송이 가능하다. 또한, MTP 광커넥터는 다채널로 수십 Gbps 이상의 전송이 가능하고, 0.1km 이상의 전송거리를 가지기 때문에, 고속·대용량 접속 시스템에 적용될 차세대 핵심 부품으로 각광받고 있다.
이러한 장점을 갖는 다심형 광커넥터의 광 특성은 페룰의 정밀도에 의존하므로, 페룰의 불량 여부를 검출하는 것이 매우 중요하다. 예를 들어, 페룰 내 구비된 관통공의 내경 및 외경이 오차 범위를 충족하는지, 관통공의 중심으로부터 이웃한 관통공의 중심까지의 각 거리가 일정한지, 동일한 열에 존재하는 복수 개의 관통공이 일직선상에 위치하는지 등이 페룰 내 불량 존재 여부의 기준이 될 수 있다.
종래에는 광섬유가 페룰 내에 삽입됨에 따라, 광섬유로부터 출력된 빛을 검출하여 페룰의 불량 여부를 판별하였다. 그러나 페룰과 광섬유가 조립된 후에 페룰의 불량을 검출함에 따라 페룰 이외의 부품이 소모된다는 점에서 매우 비효율적이며, 번거롭다는 단점이 있다.
본 발명의 일 실시예는, 간단한 구성으로도 광커넥터용 페룰의 불량 여부를 검출할 수 있는 광커넥터용 페룰의 불량 검출장치 및 방법을 제공하는 데 일 목적이 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예는, 광커넥터용 페룰의 불량 여부를 검출함에 있어, 페룰 내에 광섬유가 삽입되기 전에 페룰의 불량 여부를 검출할 수 있는 광커넥터용 페룰의 불량 검출장치 및 방법을 제공하는 데 일 목적이 있다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량을 검출하는 장치에 있어서, 상기 복수 개의 관통공 내 이물질을 제거하는 클리닝부; 상기 클리닝부에서 세정된 페룰을 고정하는 페룰 고정부; 상기 페룰 내 복수 개의 관통공으로 복수 개의 레이저 빔을 조사하는 발광부; 상기 페룰 내 복수 개의 관통공을 통과한 레이저 빔을 센싱하고, 전기적 신호로 변환하는 수광부; 및 상기 수광부가 센싱한 데이터를 분석하여, 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 페룰 불량 검출장치를 제공한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 발광부는, 복수 개의 광원을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 복수 개의 광원은 VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser)로 구성되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 발광부는, 복수 개의 렌즈를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 복수 개의 렌즈는, 콜리메이터 렌즈로 구현되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 발광부로부터 조사된 레이저 빔의 폭과 상기 복수 개의 관통공의 직경의 차이는 5 내지 15%로 구성되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 제어부는, 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰이 상기 페룰 불량 검출장치 내에 존재하지 않을 경우 조사된 레이저 빔의 센싱값과 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰이 상기 페룰 불량 검출장치 내에 존재할 경우의 센싱값을 비교하여, 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량 여부를 검출하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량을 검출하는 방법에 있어서, 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰로 기 설정된 폭을 갖는 레이저 빔을 조사하는 조사과정; 상기 복수 개의 관통공을 통과한 기 설정된 폭을 갖는 레이저 빔을 센싱하는 센싱과정; 센싱된 레이저 빔을 전기적 신호로 변환하는 변환과정; 및 센싱값을 분석하여 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량 여부를 판단하는 판단과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 페룰 불량 검출 방법을 제공한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 일 측면에 따르면, 페룰의 불량 여부를 간단하게 검출할 수 있는 장점이 있다.
또한, 본 발명의 일 측면에 따르면, 페룰 내에 광섬유가 삽입되기 전 페룰의 불량 여부를 검출함으로써, 제조공정 상 발생 비용을 감소시킬 수 있는 장점이 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광커넥터용 페룰의 단면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광커넥터용 페룰의 불량 검출장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광커넥터용 페룰의 불량 검출장치가 레이저 빔을 조사하고 센싱하는 모습을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 발광부가 레이저 빔을 조사하는 모습을 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 페룰의 불량 검출방법을 도시한 순서도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다.
제1, 제2, A, B 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에서, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서 "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해서 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다.
일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
또한, 본 발명의 각 실시예에 포함된 각 구성, 과정, 공정 또는 방법 등은 기술적으로 상호간 모순되지 않는 범위 내에서 공유될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광커넥터용 페룰의 단면도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광커넥터용 페룰의 불량 검출장치의 구성을 도시한 도면이다.
광커넥터는 복수 개의 광섬유가 삽입되는 페룰을 포함한다. 여기서, 페룰은 복수 개의 관통공을 구비하며, 관통공 내로 복수 개의 광섬유가 삽입된다. 페룰 내로 광섬유가 삽입됨에 따라, 광섬유는 광커넥터와 연결되는 다른 광학 부품과 연결될 수 있다.
배경기술에서 언급하였듯이, 광커넥터의 광 특성은 페룰의 정밀도와 상관관계를 가지기 때문에, 광커넥터가 조립되기 이전에 페룰 내에 존재하는 불량을 검출하는 것은 매우 중요하다. 따라서, 본 발명에서는 페룰 내로 광섬유가 결합되기 이전에 페룰의 불량 여부를 검출할 수 있는 장치 및 방법을 제공하고자 한다.
도 1을 참조하면, 페룰 하우징(110)은 내부에 중공을 구비함으로써, 페룰(120)을 수용한다. 페룰 하우징(110)은 결합부재(미도시) 등을 구비함으로써, 페룰(120) 내로 삽입되는 광섬유가 어댑터, 광케이블 등과 같은 광학 부품과 접속될 수 있도록 한다.
페룰(120)은 광섬유를 고정시킴으로써, 페룰 하우징(110)이 다른 광학 부품과 결합되어도 페룰(120) 내 삽입된 광섬유가 정렬을 유지할 수 있도록 한다.
페룰(120)은 가이드공(122a, 122b) 및 복수 개의 관통공(124)을 포함한다.
가이드공(122a, 122b) 내에는 가이드 핀(미도시)이 삽입된다. 가이드공(122a, 122b) 내로 가이드 핀(미도시)이 삽입됨에 따라 광커넥터는 별도의 광학 부품과 결합될 수 있다.
복수 개의 관통공(124) 내에는 광섬유가 삽입된다. 복수 개의 관통공(124)은 광섬유의 직경보다 크게 구성됨으로써, 관통공(124) 내로 광섬유가 삽입될 수 있다. 광커넥터의 제조과정 상, 광섬유는 -z축 방향으로부터 페룰(120) 내로 삽입됨으로써, 복수 개의 관통공(124)에 고정된다. 복수 개의 관통공(124)으로 삽입된 광섬유는 페룰(120)에 의해 다른 광학 부품 내 구성요소와 정렬되도록 구성된다. 이때, 페룰(120)에 불량이 존재할 경우, 페룰(120)과 결합된 광섬유의 정렬은 어긋날 수 있다. 페룰(120) 내에 불량이 존재할 경우, 제조되는 광커넥터에서는 접속 손실이 발생할 수 있으므로 페룰(120)의 불량 여부를 검출하는 것은 매우 중요하다.
페룰(120)의 불량을 판별하는 기준은 다음과 같다. 즉, 페룰(120) 내 복수 개의 관통공(124)의 내경 및 외경의 크기는 모두 동일해야 하며, 관통공(124)의 중심으로부터 이웃한 관통공(124)의 중심까지의 각 거리는 일정해야 하고, 관통공(124)의 중심을 지나며 x축에 대하여 수직인 방향으로 형성된 가상의 선에 대하여 복수 개의 관통공(124)이 동일선상에 위치해야 한다. 그러나 페룰(120) 불량의 원인을 모두 파악하는 것은 매우 비효율적이며, 제조공정에 소요되는 시간을 증가시킨다. 이에, 본 발명에서는 단시간 내에 페룰(120)의 불량을 검출할 수 있는 장치 및 방법을 제공하고자 한다.
도 2를 참조하면, 광커넥터용 페룰의 불량 검출장치(200, 이하, '페룰 불량 검출장치'로 약칭함)는 기 설정된 폭(w)을 갖는 레이저 빔(L)을 페룰(120) 내 복수 개의 관통공(124)으로 조사하고, 센싱함으로써 페룰(120)의 불량을 검출할 수 있다.
페룰 불량 검출장치(200)는 클리닝부(210), 이동부(220), 페룰 고정부(230), 발광부(240), 수광부(250), 제어부(260) 및 표시부(270)를 포함한다.
클리닝부(210)는 페룰(120)을 세정한다.
클리닝부(210)는 제어부(260)의 제어에 따라 페룰(120) 내 복수 개의 관통공(124)으로 침투된 먼지, 이물질 등을 제거한다. 클리닝부(210)가 페룰(120)을 세정함에 따라, 후술할 발광부(240)로부터 조사되는 레이저 빔(L)이 복수 개의 관통공(124)을 원활하게 투과할 수 있도록 한다. 클리닝부(210)는 노즐, 초음파 발생기, 진공 발생 장치 등을 구비함으로써, 페룰(120)을 세정할 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
이동부(220)는 페룰 고정부(230)를 이동시킨다.
이동부(220)는 제어부(260)의 제어에 따라 페룰 고정부(230)를 상·하·좌·우로 이동시킴으로써, 페룰 고정부(230)에 고정된 페룰(120)이 기 설정된 위치로 이동할 수 있도록 한다.
페룰 고정부(230)는 페룰(120)을 고정한다.
페룰 고정부(230)는 페룰(120)의 형상과 대응되는 기 설정된 형태의 홈(미도시)을 구비함으로써, 페룰(120)을 안정적으로 고정한다.
발광부(240)는 페룰(120) 내 관통공(124)으로 레이저 빔(L)을 조사한다.
이동부(220)에 의해 페룰 고정부(230)에 고정된 페룰(120)이 기 설정된 위치로 이동되면, 발광부(240)는 제어부(260)의 제어에 따라 페룰(120)이 위치한 방향으로 레이저 빔(L)을 조사한다. 발광부(240)는 관통공(124)의 갯수와 대응되는 복수 개의 광원(미도시) 및 렌즈(미도시)를 포함함으로써, 레이저 빔(L)을 페룰(120) 내 복수 개의 관통공(124)으로 조사한다. 발광부(240)의 구조에 대해서는 도 4를 참조하여 후술하도록 한다.
한편, 발광부(240)는 제어부(260)의 제어에 따라 페룰(120)이 페룰 불량 검출장치(200) 내 구성요소에 존재하지 않는 경우에도 기 설정된 폭(w)을 갖는 레이저 빔(L)을 조사한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 발광부가 레이저 빔을 조사하는 모습을 도시한 도면이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 발광부(240)는 복수 개의 광원(410) 및 렌즈(420)를 포함한다.
광원(410)은 복수 개로 구성되며, 기 설정된 파장 대역을 갖는 레이저 빔(L)을 페룰(120)이 위치한 방향으로 조사한다. 여기서, 광원(410)으로부터 조사된 레이저 빔(L)은 렌즈(420)에 의해 기 설정된 폭(w)을 갖고, 페룰(120) 내 관통공(124)을 통과하도록 구성된다. 또한, 광원(410)으로부터 조사된 레이저 빔(L)은 발산광의 형태로 구현된다. 광원(410)은 광을 수직방향으로 발광하는 VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser)로 구현될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 레이저 다이오드(Laser Diode)로도 구성될 수도 있다.
렌즈(420)는 복수 개로 구성되며, 광원(410)으로부터 조사된 레이저 빔(L)이 기 설정된 폭(w)을 갖고 관통공(124)을 통과할 수 있도록 한다. 이때, 렌즈(420)를 통과한 레이저 빔(L)의 폭(w)과 페룰(120) 내 관통공(124)의 직경과의 차이는 5 내지 15%의 차이를 갖도록 구성될 수 있다. 레이저 빔(L)은 광원(410)에 의해 발산광의 형태로 구현되나, 렌즈(420)를 통과하면서 수평광의 형태로 구현된다. 렌즈(420)는 콜리메이터 렌즈(Collimator Lens)로 구성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 나아가, 렌즈(420)는 슬릿(Slit)을 더 포함하도록 구성될 수도 있다.
다시, 도 2를 참조하면, 수광부(250)는 광원(410)으로부터 조사된 레이저 빔(L)을 수광하여 센싱한다.
수광부(250)는 페룰(120) 내 복수 개의 관통공(124)을 통과한 각각의 레이저 빔(L)을 수광하여 센싱한다. 수광부(250)는 페룰(120) 내 복수 개의 관통공(124)을 통과한 각각의 레이저 빔(L)의 광량을 센싱하고, 이를 전기적 신호로 변환하여 제어부(260)로 제공한다. 수광부(250)는 복수 개의 광센서(미도시)로 구성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 광량을 센싱하고 이를 전기적 신호로 변환할 수 있는 구성이라면 어떠한 것으로 구성되어도 무방하다.
나아가, 수광부(250)는 제어부(260)의 제어에 따라 페룰 불량 검출장치(200) 내 구성요소에 페룰(120)이 존재하지 않는 경우에도 발광부(240)로부터 조사된 기 설정된 폭(w)을 갖는 레이저 빔(L)을 수광하고 센싱하여, 이를 전기적 신호로 변환한다. 수광부(250)에 의해 전기적 신호로 변환된 데이터는 제어부(260)로 제공된다.
페룰 불량 검출장치(200)가 레이저 빔(L)을 조사하고 센싱하는 모습에 대해서는 도 3을 참조하여 상세하게 설명하도록 한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광커넥터용 페룰의 불량 검출장치가 레이저 빔을 조사하고 센싱하는 모습을 도시한 도면이다.
도 3을 참조하면, 발광부(240)는 복수 개의 광원(410)을 이용하여 기 설정된 파장 대역의 레이저 빔(L)을 발진하다. 광원(410)으로부터 발진된 레이저 빔(L)은 렌즈(420)에 의해 기 설정된 폭(w)을 갖고, 페룰(120) 내 관통공(124)을 통과한다. 이때, 레이저 빔(L)의 폭(w)은 관통공(124)의 직경과 거의 동일한 크기를 갖도록 구성된다. 관통공(124)을 통과한 레이저 빔(w)은 수광부(250)로 입사된다. 수광부(250)는 입사된 레이저 빔(w)의 광량을 센싱하고 이를 전기적 신호로 변환하여 제어부(260)로 제공한다.
다시, 도 2를 참조하면, 제어부(260)는 페룰 불량 검출장치(200)의 각 구성요소를 제어함과 동시에, 페룰(120)의 불량 여부를 판단한다.
제어부(260)는 별도의 전원공급장치(미도시)를 제어함으로써, 페룰 불량 검출장치(200)의 전원을 제어한다.
제어부(260)는 클리닝부(210)의 동작을 제어함으로써, 페룰(120) 내 관통공(124)에 존재하는 각종 먼지, 이물질 등이 제거될 수 있도록 한다.
제어부(260)는 이동부(220)의 동작을 제어함으로써, 페룰 고정부(230)에 고정된 페룰(120)이 기 설정된 위치로 이동될 수 있도록 한다.
제어부(260)는 발광부(240)의 동작을 제어함으로써, 페룰(120)이 위치한 방향으로 레이저 빔(w)이 조사될 수 있도록 한다.
제어부(260)는 자체적으로 페룰 불량 검출장치(200) 내에 페룰(120)이 존재하지 않는 상태에서 수광부(250)에 의해 센싱된 데이터를 저장함으로써, 이를 기준치로 설정한다.
그리고 제어부(260)는 페룰 불량 검출장치(200) 내 구성요소에 페룰(120)이 고정되어 기 설정된 위치에 존재할 경우의 수광부(250)로부터 센싱된 데이터를 수신하여, 페룰(120)이 페룰 불량 검출장치(200) 내에 존재하지 않는 경우의 센싱값과 비교함으로써 페룰(120)의 불량 여부를 판단한다. 페룰(120) 내 구비된 복수 개의 관통공(124)의 내경 및 외경이 동일하지 않고, 관통공(124)의 중심으로부터 이웃한 관통공(124)의 중심까지의 각 거리가 일정하지 않으며, 동일한 열에 존재하는 복수 개의 관통공(124)이 일직선상에 위치하지 않을 경우에 수광부(250)에 의해 센싱된 센싱값은 페룰(120)이 페룰 불량 검출장치(200) 내에 존재하지 않는 경우의 센싱값보다 작거나 큰 값을 갖는다. 따라서, 제어부(260)는 페룰 불량 검출장치(200) 내 구성요소에 페룰(120)이 존재할 경우에 센싱된 센싱값과 페룰(120)이 페룰 불량 검출장치(200) 내에 존재하지 않는 경우의 센싱값을 비교함으로써 페룰(120)의 불량 여부를 판단할 수 있다.
제어부(260)는 페룰(120)의 불량 여부를 표시부(270)로 제공함으로써, 작업자 등이 불량인 페룰을 선별할 수 있도록 한다.
표시부(270)는 페룰(120)의 불량 여부를 디스플레이한다.
표시부(270)는 제어부(260)로부터 데이터를 수신하여 페룰(120)의 불량 여부를 디스플레이한다. 표시부(270)는 LCD, LED 등으로 구현될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 선별자 등이 불량 여부를 확인할 수 있는 수단이라면 어떠한 것으로 구성되어도 무관한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 페룰의 불량 검출방법을 도시한 순서도이다.
페룰 불량 검출장치(200)가 페룰(120)의 불량 여부를 판단하는 방법에 대해서는 도 1 내지 도 4에서 상세히 설명하였으므로, 자세한 설명은 생략하도록 한다.
페룰 불량 검출장치(200)는 기 설정된 폭(w)을 갖는 레이저 빔(L)을 페룰(120)이 위치한 방향으로 조사한다(S510).
페룰 불량 검출장치(200)는 페룰(120) 내 복수 개의 관통공(124)을 통과한 레이저 빔(L)을 센싱한다(S520).
페룰 불량 검출장치(200)는 센싱된 데이터를 전기적 신호로 변환한다(S530).
페룰 불량 검출장치(200)는 수광부(250)로부터 수신한 데이터를 분석하여 페룰(120)의 불량 여부를 판단한다(S540).
도 5에서는 각 과정을 순차적으로 실행하는 것으로 기재하고 있으나, 이는 본 발명의 일 실시예의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것이다. 다시 말해, 본 발명의 일 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 일 실시예의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 도 5에 기재된 순서를 변경하여 실행하거나 각 과정 중 하나 이상의 과정을 병렬적으로 실행하는 것으로 다양하게 수정 및 변형하여 적용 가능할 것이므로, 도 5는 시계열적인 순서로 한정되는 것은 아니다.
한편, 도 5에 도시된 과정들은 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 즉, 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 마그네틱 저장매체(예를 들면, 롬, 플로피 디스크, 하드디스크 등) 및 광학적 판독 매체(예를 들면, 시디롬, 디브이디 등)와 같은 저장매체를 포함한다. 또한 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다.
이상의 설명은 본 실시예의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 실시예들은 본 실시예의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 실시예의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 실시예의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 실시예의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
110: 페룰 하우징
120: 페룰
122a, 122b: 가이드공
124: 관통공
200: 광커넥터용 페룰의 불량 검출장치
210: 클리닝부
220: 이동부
230: 페룰 고정부
240: 발광부
250: 수광부
260: 제어부
270: 표시부
410: 광원
420: 렌즈
L: 레이저 빔
w: 레이저 빔의 폭

Claims (8)

  1. 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량을 검출하는 장치에 있어서,
    상기 복수 개의 관통공 내 이물질을 제거하는 클리닝부;
    상기 클리닝부에서 세정된 페룰을 고정하는 페룰 고정부;
    상기 페룰 내 복수 개의 관통공과 대응되도록 기 설정된 폭(w)을 갖는 복수 개의 레이저 빔을 조사하는 발광부;
    상기 페룰 내 복수 개의 관통공을 통과한 레이저 빔을 수광하여 각 레이저빔의 광량을 센싱하고, 전기적 신호로 변환하는 수광부;
    상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰이 상기 페룰 불량 검출장치 내에 존재하지 않을 경우에 상기 수광부에 의해 센싱된 레이저 빔의 광량에 대한 센싱 데이터를 기준치로 설정하고, 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰이 상기 페룰 불량 검출장치 내에 존재할 경우에 상기 수광부로부터 센싱된 센싱값을 수신하여 상기 수신된 센싱값과 상기 기준치를 비교하여, 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량 여부를 검출하는 제어부; 및
    상기 페룰 고정부에 고정된 페룰이 기 설정된 위치로 이동되도록 상기 제어부의 제어에 따라 상기 페룰 고정부를 상하좌우로 이동시키는 이동부를 포함하되,
    상기 발광부는, 기 설정된 파장 대역을 갖는 레이저빔을 상기 페룰이 위치한 방향으로 조사하는 복수 개의 광원; 및 상기 복수 개의 광원으로부터 조사된 레이저빔이 기설정된 폭을 갖는 수평광 형태로 구현되어 상기 복수 개의 관통공을 각각 통과할 수 있도록 하는 복수 개의 렌즈를 포함하고,
    상기 발광부로부터 조사된 각 레이저 빔의 폭(w)은 해당 레이저 빔이 대응되는 관통공의 직경보다 작고, 상기 각 레이저 빔의 폭이 상기 각 관통공의 직경의 차이가 5 내지 15% 이하로 구성되는 것을 특징으로 하는 페룰 불량 검출장치.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 복수 개의 광원은 VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser)로 구성되는 것을 특징으로 하는 페룰 불량 검출장치.
  4. 삭제
  5. 제1항에 있어서,
    상기 복수 개의 렌즈는,
    콜리메이터 렌즈로 구현되는 것을 특징으로 하는 페룰 불량 검출장치.
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량을 검출하는 방법에 있어서,
    상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰로 상기 관통공의 갯수와 대응되면서, 기 설정된 폭을 갖는 수평광 형태로 구현되는 복수 개의 레이저 빔을 조사하는 조사과정;
    상기 복수 개의 관통공을 통과한 기 설정된 폭을 갖는 각 레이저 빔을 수광하여 각 레이저빔의 광량을 센싱하는 센싱과정;
    센싱된 레이저 빔을 전기적 신호로 변환하는 변환과정; 및
    센싱값을 분석하여 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량 여부를 판단하는 판단과정을 포함하되,
    상기 조사 과정은 상기 각 레이저 빔의 폭이 해당 레이저 빔이 대응되는 관통공의 직경보다 작고, 상기 각 레이저 빔의 폭이 상기 각 관통공의 직경의 차이가 5 내지 15% 이하가 되도록 하고,
    상기 판단 과정은, 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰이 상기 페룰 불량 검출장치 내에 존재하지 않을 경우에 상기 센싱 과정에서 센싱된 레이저 빔의 광량에 대한 센싱 데이터를 기준치로 설정하고, 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰이 상기 페룰 불량 검출장치 내에 존재할 경우에 상기 센싱 과정에서 센싱된 센싱값을 수신하여 상기 수신된 센싱값과 상기 기준치를 비교하여, 상기 복수 개의 관통공을 구비하는 페룰의 불량 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 페룰 불량 검출 방법.
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