CN112834170B - 一种长焦距非接触测试跳线装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了本发明的目的就是要提供一种长焦距非接触测试跳线装置，包括测试产品、测试套管，测试套管设于测试产品内、长焦非接触跳线器，光纤透镜采用胶固的方式在长焦插芯内固定，所述长焦非接触跳线器包括长焦插芯、长焦透镜单元，所述长焦透镜单元包括长焦距聚焦透镜、带尾柄测试跳线、聚焦透镜定位器、限位金属套管和透镜定位防护部。实际使用时，将测试线尾柄插芯插入测试器件，带尾柄测试跳线在前盖端定位焦距，通过激光透过光纤透镜聚焦,焦点落在光纤纤芯内，最终实现非接触测试作业。

Description

一种长焦距非接触测试跳线装置

技术领域：

本发明涉及通信技术领域，主要是涉及一种光纤跳线的测试，特别是一种长焦距非接触测试跳线装置。

背景技术：

光纤通信技术已广泛应用于各个领域，随着传输速率和距离的提高，光纤通质量和光纤端面质量的要求也越来越高。现有光纤对接与原有电缆对接有很大不同，电缆只要接触良好即可，而光纤端面对接需要在上下、左右、前后、倾角等方面做严格的控制，才能达到很好的插损要求。由于光纤真正用于通光的部分尺寸较小，基本在微米量级，不方便对接操作，实际使用中常需要在光纤外加装配对接装置。或者是采用接触式对接方式进行光纤测试跳线的对接。

传统的测试跳线在现实测试作业过程中，为保证测试损耗尽量小且可控,均采用接触测试的方法，但接触测试带来的现实管控风险非常高，受脏污等外界因素影响,往往容易因对接导致测试插芯端面损伤或测试产品端面损伤和脏污，如果采用其他的专用的测试设备，不仅设备价格高，且操作困难，难以保证产品质量和生产周期，并且也会大幅度增加加工成本，而且质量得不到保证。

在现实的实际生产和使用过程中，真正通光区域为光纤核心区域，陶瓷端面的损伤基本不影响光信号传输。而光纤端面的损伤主要有两种情况，一是光纤端面对接过程中造成通光区域损伤；二是由于操作或环境污染导致陶瓷端面附着有脏污，这种脏污可以随机无规则移动，当脏污移动到光纤端面时，会影响光信号传输，必须及时清洁，在对光纤端面擦拭或清洁脏污时，又会再次对光纤端面造成损伤。在拆卸返修中，当跳线与跳线的对接时，由于陶瓷端面外露，陶瓷端面损伤后的二次研磨的方式修复，造成成本较高，且返修后产品3D 指标，插拔重复性，四向性，互换性等品质均难以达到要求，因此质量不好，且返修次数有限，端面受损后基本做报废处理。还存在严重的可靠性和稳定性，导致测试结果不准，甚至导致光纤链路连接失效。

中国专利公告号为CN1106327019A《一种非接触式无损光纤跳线及制作方法》，具体公开了一种非接触式无损光纤跳线及制作方法，包括陶瓷插芯、适配器金属外壳、陶瓷套筒、适配器段插芯、光纤，所述陶瓷插芯和适配器段插芯的内部预埋光纤，陶瓷插芯和适配器段插芯的一端对接，所述陶瓷插芯和适配器段插芯对接处的外部套设有陶瓷套筒，所述陶瓷套筒置于适配器金属外壳内，其特征在于：所述陶瓷插芯的端面沿光纤的外围设置有环形凹槽。本可是实现了跳线与跳线，跳线与适配器中光纤端面之间的非接触式对准，避免了光纤端面的对接损伤。但从上述所公开的技术方案可以看出，其是不能实现光线的自动聚焦对接，且其仅是对现有的跳线对接设备的改进，不能从原理上与技术方法上对现有的跳线对接进行较彻底改进，且装置结构复杂，制备成本高。

如中国专利公告CN 15974526 A《一种FC型硫系玻璃光纤连接器的加工方法》，具体公开了一种FC型硫系玻璃光纤连接器的加工方法，抛光前只去除光纤两端表面的有机塑料涂覆层，且在光纤上套上一根塑料套管，以确保在加工及使用过程中光纤不会断裂或者折损；其方法是通过陶瓷插芯固定裸光纤，该陶瓷插芯的对接端面呈球面，可采用石英光纤跳线常用的陶瓷插芯，元件易得、来源广；可有效克服硫系玻璃光纤机械强度差、易折断、难加工的弊端，快速、简便加工FC型硫系玻璃光纤连接器，加工制备的FC型硫系玻璃光纤连接器端面质量高，插入损耗低，可以方便地与其他光纤设备耦合连接。

还有如专利公告号为CN111089706A《多通道光学测试仪》，其具体公开的多通道光学测试仪用于测试位于多根待测试跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量，并且包括光源、光学开关和一个插入损耗探测器。光源用于向待测试跳线发射测试光束。光学开关通过自动切换能够将光源光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根。所述一个插入损耗探测器能够光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根，用于测试光纤连接器的插入损耗。所述一个插入损耗探测器通过光纤束连接到所述多根待测试跳线，所述光纤束由多根光纤构成，并且所述多根光纤在第一端束缚在一起，并且在第二端分散成单独的光纤线。

从上述所公开的光纤跳线的技术方案可以看出，现有的技术要么就是增加一个跳线对接的测试设备，要么就是对现有的跳线进行改进，但是其均不能提供对跳线的测试既可防止对插芯端面损伤或测试产品端面损伤，同时又能防止对对跳线的接触面污损的技术方案。

因此，如何来提供一种长焦距非接触测试跳线装置，在光纤跳线对接过程中，采用非接触测试跳线的方法，从而防止从为操作对因对接导致测试插芯端面损伤或测试产品端面损伤与污损的现实问题。且测试跳线测试方法简单，实用性强，成本低。

发明内容：

本发明的目的就是要提供一种长焦距非接触测试跳线装置，包括测试产品、测试套管，测试套管设于测试产品内、长焦非接触跳线器，光纤透镜采用胶固的方式在长焦插芯内固定. 实际使用时，将测试线尾柄插芯插入测试器件，带尾柄测试跳线在前盖端定位焦距，通过激光透过光纤透镜聚焦,焦点落在光纤纤芯内，最终实现非接触测试作业。

本发明公开的一种长焦距非接触测试跳线装置，包括测试产品、测试套管，于测试产品内设有测试套管、长焦非接触跳线器，其所述长焦非接触跳线器包括长焦插芯、长焦透镜单元，所述长焦透镜单元包括长焦距聚焦透镜、带尾柄测试跳线、聚焦透镜定位器、限位金属套管和透镜定位防护部；所述长焦插芯一端套装于聚焦透镜定位器的一端上，聚焦透镜定位器的另一端连接于限位金属套管的一端上，限位金属套管的另一端则与带尾柄测试跳线的一端相连接。

所述的一种长焦距非接触测试跳线装置，其所述长焦距聚焦透镜固定设于限位金属套管与聚焦透镜定位器相连接的一端的限位金属套管上，并与连接于聚焦透镜定位器上的长焦插芯的一端相连接通，所述长焦距聚焦透镜的另一端与设于限位金属套管内的准直透镜相对应。

进一步的，是所述透镜定位防护部包括准直透镜、固定尾胶、毛细通管、透明防护管；所述准直透镜和毛细通管相连接通并设于透明防护管内腔，所述毛细通管与准直透镜相连接的另一端通过固定尾胶固定封装并与带尾柄测试跳线的一端相连接通，准直透镜与毛细通管相连接的另一端则与同设于限位金属套管内的长焦距聚焦透镜相对应连通；透明防护管设于限位凸台内。

所述聚焦透镜定位器与测试产品相对应的一端面设为限位端面，所述限位端面与测试产品的端面之间设有防接触器；所述防接触器为限位凸台和/或防接触卡件。

优选的，是控制所述长焦插芯的外径D为：1.250-2.500mm，控制其内孔d>0.33mm；且与测试产品相对应的一端的端面进行倒角处理。

所述的一种长焦距非接触测试跳线装置，其所述长焦插芯的一端过盈配合的套设于聚焦透镜定位器一端并与设于限位金属套管一端上的准直透镜相对应连通。

优选的，所述透明防护管为透明玻璃管或透明塑料管。

所述限位凸台固定的设于限位端面上，于限位凸台的中心设有与长焦插芯相对应的通孔及与通孔相连通的通孔开口。

所述防接触卡件上设有开口槽，所述开口槽的大小与长焦插芯1的外径相对应，使防接触卡件11方便卡设于测试产品6与聚焦透镜定位器4的限位端面8之间的长焦插芯1外周圈上。

本发明的长焦距非接触测试跳线装置，采用上述结构，将准直透镜5和长焦距聚焦透镜 2通过固胶固定于限位金属套管401内的相应位置上，而在准直透镜5与聚焦透镜定位器4 和长焦插芯1相对应的一端连接，使由带尾柄测试跳线3的一端发出的光线经准直透镜5后转换为平行光线10，平行光线10经长焦距聚焦透镜2后，形成光束7经长焦插芯1内孔射向测试产品6的指定的相应位置上，从而确保从带尾柄测试跳线3发射过来的光纤光线，形成直光聚焦，使光斑焦点落于指定位置，进而保证了短焦距透镜测试的一致性。也能确保每次插拨测试时，使跳线与测试产品6精准对位，从而保证控制对位精度小于0.5um，IL测试误差小于0.3dB。

本发明公开的一种长焦距非接触测试跳线装置，采用上述结构还具有以下优点：一是本发明的一种长焦距非接触测试跳线装置，实现跳线与跳线的端面之间的非接触自动的对焦对准对接，避免了接触时的损伤；二是本发明提供的一种长焦距非接触测试跳线装置，其光纤透镜长焦插芯1或是陶瓷插芯,采用研磨工艺制作光纤长焦距聚焦透镜2、准直透镜5，通过控制长焦距聚焦透镜2射出的光聚焦，使光斑焦点落于指定位置，从而确保重复测试的一致性，且保证了测试的良率及效果。

本发明的长焦距非接触测试跳线装置，通过光纤的3D管控测试，实现了光纤的焦距光斑可控，准直透镜5、长焦距聚焦透镜2、透明防护管14均采用胶固的方式固定于限位金属套管401内，毛细通管13测套装于透明防护管14内，同时透明防护套管14采用透明玻璃管或透明塑料管，这样即能确保毛细通管13等精密器件的定位固定安装操作，进而保证了跳线的产品质量；在实际使用时，将测试线尾柄插芯插入测试器件,尾柄在前盖端定位焦距,激光透过光纤透镜聚焦,焦点落在光纤插芯内,最终实现非接触测试作业；三是本发明可有效的解决传统对接测试过程中出现的测试损伤问题，由于在聚焦透镜定位器4的前端面图1、2中为左端面与测试产品6相对应的一端之间设有防接触卡件11或限位凸台402，使测试跳线产品6的插芯与长焦插芯1之间留有间隙S，所述间隙S的距离与防接触卡件11或限位凸台402的长度相对应；测试作业时，激光从带尾柄的测试跳线3射出，通过准直透镜5变成平行光线10，射入长焦距聚焦透镜2，从长焦距聚焦透镜2再形成光束7射出，通过聚焦透镜定位器4在限位接触面的焦距定位，透过聚焦透镜的光，汇聚成的光斑落在测试跳线产品6的光纤纤芯，从而实现非接触测试。且结构简单，操作简单，对作业过程中的良率有明显改善，有效降低了产品的制作成本。

附图说明：

图1所示，为本发明的长焦距非接触测试跳线装置结构示意图，

图2所示，为本发明长焦距非接触测试跳线装置测试跳线一实施方式的工作显示示意图，

图3所示，为本发明图2中的限位凸台402的结构示意图，

图4所示，为本发明长焦距非接触测试跳线装置另一实施方式的工作示意图，

图5所示，图4中的防接触卡件11的结构示意图；

图中，1、长焦插芯，2、长焦距聚焦透镜，3、带尾柄测试跳线，4、聚焦透镜定位器，401、限位金属套管，402、限位凸台，403、通孔，404、通孔开口，5、准直透镜，6、测试产品，601、测试套管，7、光束，8、限位端面，9、固定尾胶，10、平行光线，11、防接触卡件， 12、长焦非接触跳线器，13、毛细通管，14、透明防护套管。

具体实施方式：

下面根据具体实施例及附图对发明作进一步的详细说明。

如图1-4所示，本发明公开的一种长焦距非接触测试跳线装置的技术方案是：包括测试产品6、测试套管601，测试套管601设于测试产品6内、长焦非接触跳线器12，其所述长焦非接触跳线器12包括长焦插芯1、长焦透镜单元，所述长焦透镜单元包括长焦距聚焦透镜2、带尾柄测试跳线3、聚焦透镜定位器4、限位金属套管401和透镜定位防护部；所述长焦插芯1一端套装于聚焦透镜定位器4的一端上，优选的是长焦插芯1一端套采用过盈配合方式装于聚焦透镜定位器4的一端上，聚焦透镜定位器4的另一端连接于限位金属套管401 的一端上，限位金属套管401的另一端则与带尾柄测试跳线3的一端相连接。

如图1-2所示，所述长焦距聚焦透镜2固定设于限位金属套管401与聚焦透镜定位器4 相连接的一端的限位金属套管401上，并与连接于聚焦透镜定位器4上的长焦插芯1的一端相连接通，所述长焦距聚焦透镜2的另一端与设于限位金属套管401内的准直透镜5相对应。

所述透镜定位防护部包括准直透镜5、固定尾胶9、毛细通管13、透明防护管14；所述准直透镜5和毛细通管13相连接通并通过固定尾胶设于透明防护管14内腔，所述毛细通管 13与准直透镜5相连接的另一端通过固定尾胶9固定封装并与带尾柄测试跳线3的一端相连接通，准直透镜5与毛细通管13相连接的另一端则与同设于限位金属套管401内的长焦距聚焦透镜2相对应连通；透明防护管14设于限位套管402内所述透明防护管14为透明玻璃管或透明塑料管。

如图2、3所示，所述聚焦透镜定位器4与测试产品6相对应的一端面设为限位端面8，所述限位端面8与测试产品6的端面之间设有防接触器；所述防接触器为限位凸台402和/或防接触卡件11。控制所述长焦插芯1的外径D为：1.250-2.500mm，控制其内孔d>0.33mm；且与测试产品6相对应的一端的端面进行倒角处理。

所述长焦插芯1的一端过盈配合的套设于聚焦透镜定位器4一端并与设于限位金属套管401一端上的准直透镜5相对应连通。

如图2、3所示，本发明聚焦透镜定位器4的限位端面8上固定的设有限位凸台402，即所述限位凸台402固定的设于限位端面8上，于限位凸台402的中心设有与长焦插芯1相对应的通孔403及通孔开口404，这样方便的将长焦插芯1固定的连接于聚焦透镜定位器4上，并与长焦距聚焦透镜2相对应；并与测试产品6相对接测试是不会出现相接触，实现非接触对接测试。

如图4、5所示，所述防接触卡件11上设有开口槽1101，所述开口槽1101的大小与长焦插芯1的外径相对应，使防接触卡件11方便卡设于测试产品6与聚焦透镜定位器4的限位端面8之间的长焦插芯1外周圈上。

本发明的一种长焦距非接触测试跳线装置，测试工作方式是将长焦非接触跳线器12，与测试产品6相套接，将长焦插芯1插入测试套管601孔内，并于限位金属管体或叫聚焦透镜定位器 4的前端面，如图1、2中为左端面与测试产品6相对应的端面即限位端面8之间插入防接触卡件 11，或将防接触器设为限位凸台402，使测试跳线产品6的插芯与长焦插芯1的相对应的端面即限位接触面8之间留有间隙S，所述的间隙S的大小与防接触器的限位凸台402或防接触卡件11 尺寸相对应。测试作业时，激光从带尾柄测试跳线3射出，通过准直透镜5变成平行光线10，射入长焦距聚焦透镜2，通过聚焦透镜定位器4在限位接触面8的焦距定位，透过长焦距聚焦透镜2射出的光束7的光焦点落于相应的指定位置，汇聚成的光斑落在测试产品6的光纤纤芯，从而实现非接触测试激光光源在带尾柄测试跳线3传输并从带尾柄测试跳线3射出激光光线，进而确保重复测试的一致性；实现非接触测试。每次插拨测试跳线时使跳线与测试产品6的精准对位，从而达到了控制测试精度小于0.5um，IL测试误差小于0.3dB。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，而可依照说明书的内容予以实施，仅为本发明的较佳实施例，并非对本发明做任何形式上的限制。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述所述技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术对以上实施例所做的任何改动修改、等同变化及修饰，均属于本技术方案的保护范围。本发明与现有技术相比,可有效的解决传统对接测试过程中出现的测试损伤问题, 且结构简单,对作业过程中的良率有明显改善,有效降低了产品的制作成本。

Claims (7)

1.一种长焦距非接触测试跳线装置，包括测试产品（6），于测试产品（6）内设有测试套管（601）、长焦非接触跳线器（12），其特征是所述长焦非接触跳线器（12）包括长焦插芯（1）、长焦透镜单元，所述长焦透镜单元包括长焦距聚焦透镜（2）、带尾柄测试跳线（3）、聚焦透镜定位器（4）、限位金属套管（401）和透镜定位防护部；所述长焦插芯（1）一端套装于聚焦透镜定位器（4）的一端上，聚焦透镜定位器（4）的另一端连接于限位金属套管（401）的一端上，限位金属套管（401）的另一端则与带尾柄测试跳线（3）的一端相连接；

所述长焦距聚焦透镜（2）固定设于限位金属套管（401）与聚焦透镜定位器（4）相连接的一端的限位金属套管（401）上，并与连接于聚焦透镜定位器（4）上的长焦插芯（1）的一端相连接通，所述长焦距聚焦透镜（2）的另一端与设于限位金属套管（401）内的准直透镜（ 5）相对应；

所述透镜定位防护部包括准直透镜（5）、固定尾胶（9）、毛细通管（13）、透明防护管（14）；所述准直透镜（5）和毛细通管（13）相连接通并设于透明防护管（14）内腔，所述毛细通管（13）与准直透镜（5）相连接的另一端通过固定尾胶（9）固定封装并与带尾柄测试跳线（3）的一端相连接通，准直透镜（5）与毛细通管（13）相连接的另一端则与同设于限位金属套管（401）内的长焦距聚焦透镜（2）相对应连通；透明防护管（14）设于限位凸台（402）内。

2.根据权利要求1所述的一种长焦距非接触测试跳线装置，其特征是所述聚焦透镜定位器（4）与测试产品（6）相对应的一端面设为限位端面（8），所述限位端面（8）与测试产品（6）的端面之间设有防接触器；所述防接触器为限位凸台（402）和/或防接触卡件（11）。

3.根据权利要求1所述的一种长焦距非接触测试跳线装置，其特征是控制所述长焦插芯（1）的外径D为：1.250-2.500mm，控制其内孔d>0.33mm；且与测试产品（6）相对应的一端的端面进行倒角处理。

4.根据权利要求1所述的一种长焦距非接触测试跳线装置，其特征是所述长焦插芯（1）的一端过盈配合的套设于聚焦透镜定位器（4）一端并与设于限位金属套管（401）一端上的准直透镜5相对应连通。

5.根据权利要求1所述的一种长焦距非接触测试跳线装置，其特征是所述透明防护管（14）为透明玻璃管或透明塑料管。

6.根据权利要求1或2所述的一种长焦距非接触测试跳线装置，其特征是所述限位凸台（402）固定的设于限位端面（8）上，于限位凸台（402）的中心设有与长焦插芯（1）相对应的通孔（403）及通孔开口（404）。

7.根据权利要求2所述的一种长焦距非接触测试跳线装置，其特征是所述防接触卡件（11）上设有开口槽（1101），所述开口槽（1101）的大小与长焦插芯（1）的外径相对应，使防接触卡件（11）方便卡设于测试产品（6）与聚焦透镜定位器（4）的限位端面（8）之间的长焦插芯（1）外周圈上。

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