CN209296280U - 多通道光学测试仪 - Google Patents

Abstract

本公开公开了一种多通道光学测试仪。多通道光学测试仪用于测试位于多根待测试跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量，并且包括光源、光学开关和一个插入损耗探测器。光源用于向待测试跳线发射测试光束。光学开关通过自动切换能够将光源光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根。所述一个插入损耗探测器能够光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根，用于测试光纤连接器的插入损耗。所述一个插入损耗探测器通过光纤束连接到所述多根待测试跳线，所述光纤束由多根光纤构成，并且所述多根光纤在第一端束缚在一起，并且在第二端分散成单独的光纤线。多通道光学测试降低了插入损耗探测器的成本。

Description

多通道光学测试仪

技术领域

本公开总体上涉及光学测试领域。更具体来说，本公开涉及一种用于测试光纤连接器的多通道光学测试仪。

背景技术

光纤连接器用于将一根光纤与另一根光纤光学相连，而多通道光学测试仪用于测量跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量，包括插入损耗(IL)和回波损耗(RL)等性能参数。光纤连接器的插入损耗是指光从一根光纤通过一个连接部(即，一对光纤连接器的互相连接部)到达另一根光纤、并从另一根光纤输出时发生的损耗增加值，而光纤连接器的回波损耗是指光在通过一个连接部时向后反射的损耗增加值。

图1示出当前的多通道光学测试仪1’，包括光源11’、光学开关12’、n个输出接口13’、n条标准测试跳线3’、n个输入接口19’、n个插入损耗探测器16’、以及回波损耗探测器14’。光源11’通过光学开关12’的切换连接到其中一个输出接口13’。回波损耗探测器14’通过光纤耦合器15’连接在光源11’和光学开关12’之间。多通道光学测试仪1’可以容纳n条跳线2’进行测试，其中光纤连接器21’和22’分设在跳线20’两端。

在光纤连接器21’测试期间，将光纤连接器21’连接至标准测试跳线3’，并将光纤连接器22’连接至插入损耗探测器16’，在n个输出接口13’之间切换光学开关12’，完成n个光纤连接器21’的测试。其后，利用类似的方法完成光纤连接器22’的测试。

现有的多通道光学测试仪需要使用多个插入损耗探测器。众所周知，插入损耗探测器的价格高昂，从而导致多通道光学测试仪的成本居高不下。

实用新型内容

本公开的目的之一是提供一种能够克服现有技术中至少一个缺陷的多通道光学测试仪。

本公开的一个方面公开了一种多通道光学测试仪。所述多通道光学测试仪用于测试位于多根待测试跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量。所述多通道光学测试仪包括：光源，所述光源用于向待测试跳线发射测试光束；光学开关，所述光学开关通过自动切换能够将光源光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根；和一个插入损耗探测器，所述一个插入损耗探测器能够光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根，用于测试光纤连接器的插入损耗。所述一个插入损耗探测器通过光纤束连接到所述多根待测试跳线，所述光纤束由多根光纤构成，并且所述多根光纤在第一端束缚在一起，并且在第二端分散成单独的光纤线。

在一个实施例中，所述多通道光学测试仪还包括回波损耗探测器，用于测试光纤连接器的回波损耗。

在一个实施例中，回波损耗探测器连接在光源和光学开关之间的光路上。

在一个实施例中，所述多通道光学测试仪还包括用于对多通道光学测试仪进行归零的多根标准测试跳线。

在一个实施例中，标准测试跳线的一端设有普通连接器，用于光学连接光学开关，而另一端设有主连接器，用于光学连接位于待测试跳线两端的光纤连接器中的一个。

在一个实施例中，所述多根光纤是裸光纤或涂覆光纤。

在一个实施例中，所述多根光纤是涂覆有环氧树脂的涂覆光纤。

在一个实施例中，所述光纤束包括用于将束缚的光纤分成单独的光纤线的分散位置。

在一个实施例中，所述光纤束具有外壳，所述外壳具有敞开的一端和由中空塞闭合的一端。

在一个实施例中，外壳插入所述一个插入损耗探测器的适配器中。

在一个实施例中，中空塞具有用于通过所述多根光纤的通孔。

在一个实施例中，所述多根光纤在第一端束缚在一起、固定在外壳内并且通过外壳的敞开的一端露出，并且所述多根光纤在第二端穿过中空塞的通孔并且分成单独的光纤线。

在一个实施例中，所述多根光纤的第一端通过胶束缚在一起，并且通过胶固定在外壳内。

在一个实施例中，所述多根光纤的第一端通过机械捆绑件束缚在一起，并且通过胶固定在外壳内。

在一个实施例中，每根光纤线的终端为光纤连接器，并且每根光纤线的光纤连接器被构造成连接到在位于待测试跳线两端的光纤连接器中的一个。

在一个实施例中，每根光纤线均包括覆盖其相应光纤的保护性护皮。

在一个实施例中，光纤束的光纤的模场直径大于所述多根待测试跳线的光纤的模场直径。

在一个实施例中，光纤束的光纤是多模光纤，并且所述多根待测试跳线的光纤是单模光纤。

在一个实施例中，所述多根光纤的第一端在光纤束内按层堆叠，从而相邻光纤的圆形横截面之间彼此相切。

在一个实施例中，光纤线的数量和待测试跳线的数量相同。

附图说明

在结合附图阅读下文的具体实施方式后，将更好地理解本公开的多个方面，在附图中：

图1是现有多通道光学测试仪的示意图；

图2是根据本公开的多通道光学测试仪的示意图；

图3是根据本公开的多通道光学测试仪的待测试跳线的立体图；

图4是根据本公开的多通道光学测试仪的光纤束的局部示意图；

图5是根据本公开的多通道光学测试仪的光纤束和插入损耗探测器之间配合的示意图；

图6是根据本公开的多通道光学测试仪的光纤束内的光纤排布的示意图。

具体实施方式

以下将参照附图描述本公开，其中的附图示出了本公开的若干实施例。然而应当理解的是，本公开可以以多种不同的方式呈现出来，并不局限于下文描述的实施例；事实上，下文描述的实施例旨在使本公开的公开更为完整，并向本领域技术人员充分说明本公开的保护范围。还应当理解的是，本文公开的实施例能够以各种方式进行组合，从而提供更多额外的实施例。

应当理解的是，在所有附图中，相同的附图标记表示相同的元件。在附图中，为清楚起见，某些特征的尺寸可以进行变形。

应当理解的是，说明书中的用辞仅用于描述特定的实施例，并不旨在限定本公开。说明书使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)除非另外定义，均具有本领域技术人员通常理解的含义。为简明和/或清楚起见，公知的功能或结构可以不再详细说明。

说明书使用的单数形式“一”、“所述”和“该”除非清楚指明，均包含复数形式。说明书使用的用辞“包括”、“包含”和“含有”表示存在所声称的特征，但并不排斥存在一个或多个其它特征。说明书使用的用辞“和/或”包括相关列出项中的一个或多个的任意和全部组合。说明书使用的用辞“在X和Y之间”和“在大约X和Y之间”应当解释为包括X和Y。本说明书使用的用辞“在大约X和Y之间”的意思是“在大约X和大约Y之间”，并且本说明书使用的用辞“从大约X至Y”的意思是“从大约X至大约Y”。

在说明书中，称一个元件位于另一元件“上”、“附接”至另一元件、“连接”至另一元件、“耦合”至另一元件、或“接触”另一元件等时，该元件可以直接位于另一元件上、附接至另一元件、连接至另一元件、联接至另一元件或接触另一元件，或者可以存在中间元件。相对照的是，称一个元件“直接”位于另一元件“上”、“直接附接”至另一元件、“直接连接”至另一元件、“直接耦合”至另一元件或、或“直接接触”另一元件时，将不存在中间元件。在说明书中，一个特征布置成与另一特征“相邻”，可以指一个特征具有与相邻特征重叠的部分或者位于相邻特征上方或下方的部分。

在说明书中，诸如“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“高”、“低”等的空间关系用辞可以说明一个特征与另一特征在附图中的关系。应当理解的是，空间关系用辞除了包含附图所示的方位之外，还包含装置在使用或操作中的不同方位。例如，在附图中的装置倒转时，原先描述为在其它特征“下方”的特征，此时可以描述为在其它特征的“上方”。装置还可以以其它方式定向(旋转90度或在其它方位)，此时将相应地解释相对空间关系。

图2示出根据本公开的多通道光学测试仪1，用于测试跳线的光纤连接器的光纤连接质量，包括例如插入损耗和回波损耗等参数。如图3所示，待测试跳线2包括光缆20和连接至光缆20两端的光纤连接器21和22。

返回图2，多通道光学测试仪1包括壳体10、位于壳体10内的光源11和光学开关12、以及位于壳体10上的多个输出接口13。通过光学开关12的自动切换，光源11可以光学连接到多个输出接口13中的任一个，用于向光纤连接器21或22发射测试光束。

输出接口13通过标准测试跳线3连接至待测试跳线2。标准测试跳线3的一端设有普通连接器31，用于连接输出接口13，而另一端设有主连接器32，用于连接待测试跳线2的光纤连接器21或22。

多通道光学测试仪1还包括位于壳体10内的回波损耗探测器14。回波损耗探测器14通过光纤耦合器15连接在光源11和光学开关12之间的光路上，用于测试光纤连接器21或22的回波损耗。

多通道光学测试仪1另外包括位于壳体10内的插入损耗探测器16和光纤束17。插入损耗探测器16可以是基于光电效应原理的光电探测器。该光电探测器可以是从外部制造商购买的半导体光电探测器。插入损耗探测器16用于测试光纤连接器21或22的插入损耗，并且和回波损耗探测器14一起均连接至多通道光学测试仪1的控制器(未示出)。光纤束17连接至插入损耗探测器16，并且由多根光纤构成。光纤可以是裸光纤或涂覆光纤。在一些实施例中，光纤涂覆有例如环氧树脂。

这些光纤在第一端束缚在一起，并且在相对的第二端分散成单独的光纤线18。光纤束17包括用于将束缚的光纤分离/分散成单独的光纤线18的分散位置。在一些实施例中，如图4所示，光纤束17具有刚性外壳171。刚性外壳171在一端敞开，并且在另一端由中空塞172闭合。中空塞172比外壳171软，并且具有穿过其中的通孔173。光纤的第一端通过胶(比如硅胶)束缚在一起，并通过胶(比如硅胶)固定在外壳171内且通过外壳171的敞开端露出。在另一个示例中，光纤的第一端通过机械捆绑件(比如螺旋缠绕件或通用套筒)束缚在一起，并通过胶固定在外壳171内。光纤的第二端穿过中空塞172的通孔173，并且分成单独的光纤线18。每根光纤线18终端为光纤连接器18A，该光纤连接器18A被构造成连接到待测试跳线一端的光纤连接器22。每根光纤线18均可以包括覆盖其相应光纤的保护性护皮。

如图5所示，光纤束17的刚性外壳171插入到插入损耗探测器16的适配器161内，以与插入损耗探测器16配合。外壳171和适配器161限定出光纤束17的所有光纤发射的光能由插入损耗探测器16接收的一个区域。插入损耗探测器16具有较大的探测区域，从而插入损耗探测器16能够接收和探测光纤束17的每根光纤传输的光。当依次切换光学开关12时，插入损耗探测器能够确定探测到了哪根光纤。

在一些实施例中，光纤束17的光纤具有比待测试跳线2更大的模场直径。在一个示例中，光纤束17的光纤是多模光纤，而待测试跳线2的光纤是单模光纤。当光纤线18的光纤连接器18A与待测试跳线2的光纤连接器22配合时，待测试跳线2的光纤与光纤束17的光纤同轴对准。

在一些实施例中，如图6所示，光纤束17的圆形横截面的光纤在光纤束17内按层堆叠。同一层的光纤两两相抵、并且上下层的光纤以错开的方式相抵，从而相邻光纤的圆形横截面之间彼此相切，并且圆心之间形成等边三角形。这种布置方案能够在最小的区域中布置最多数量的光纤，从而充分利用插入损耗探测器16的端口区域。

返回图2，在一些实施例中，多通道光学测试仪1的输出接口13的数量、光纤束17的光纤线18的数量、以及标准测试跳线3的数量相同(设定为n)，从而多通道光学测试仪1具有n条测试光路，相应地可以同时容纳n根待测试跳线2。每条测试光路依次通过光源11、光学开关12、其中的一个输出接口13、一根标准测试跳线3、一根待测试跳线2、一根光纤线18、以及插入损耗探测器16，并且从光纤连接器21或22反射的光在光源11和光学开关12之间通过光纤耦合器15发射到回波损耗探测器14。

下面介绍多通道光学测试仪1的操作过程。首先，将第一根标准测试跳线3一端的普通连接器31连接至多通道光学测试仪1的第一个输出接口13，并将第一根标准测试跳线3另一端的主连接器32连接至光纤束16中的第一根光纤线18，从而建立第一条归零光路；随后将第二至第n根标准测试跳线3依次连接至多通道光学测试仪1的相应输出接口13和光纤束16的相应光纤线18，从而建立第二至第n条归零光路。利用多通道光学测试仪1对第1至第n条归零光路进行归零。在归零完毕后，将标准测试跳线3的主连接器32从相应光纤线18拔出。

将第1至第n根待测试跳线2一端的光纤连接器21连接至相应标准测试跳线3的主连接器32，并将另一端的光纤连接器22连接至光纤束17的相应光纤线18的光纤连接器18A。通过光纤测试仪1的光学开关12在输出接口13之间的自动切换，利用插入损耗探测器16和回波损耗探测器14依次测试第1至第n根待测试跳线2的光纤连接器21的插入损耗和回波损耗。测试完毕后，将待测试跳线2的光纤连接器21和22分别从主连接器32和的光纤连接器18A拔出。

接下来，将第1至第n根待测试跳线2一端的光纤连接器22连接至相应标准测试跳线3的主连接器32，并将另一端的光纤连接器21连接至光纤束17的相应光纤线18的光纤连接器18A。通过光纤测试仪1的光学开关12在输出接口13之间的自动切换，利用插入损耗探测器16和回波损耗探测器14依次测试第1至第n根待测试跳线2的光纤连接器22的插入损耗和回波损耗。测试完毕后，将待测试跳线2的光纤连接器22和21分别从主连接器32和光纤连接器18A拔出。

重复以上步骤，可以完成下一批待测试跳线的光纤连接器的光学测试。

根据本实用新型的多通道光学测试仪仅需使用一个插入损耗探测器，从而降低了插入损耗探测器的成本。

虽然已经描述了本公开的示范实施例，但是本领域技术人员应当理解的是，在本质上不脱离本公开的精神和范围的情况下能够对本公开的示范实施例进行多种变化和改变。因此，所有变化和改变均包含在权利要求所限定的本公开的保护范围内。本公开由附加的权利要求限定，并且这些权利要求的等同物也包含在内。

Claims (20)

1.一种多通道光学测试仪，其特征在于，所述多通道光学测试仪用于测试位于多根待测试跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量，所述多通道光学测试仪包括：

光源，所述光源用于向待测试跳线发射测试光束；

光学开关，所述光学开关通过自动切换能够将光源光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根；和

一个插入损耗探测器，所述一个插入损耗探测器能够光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根，用于测试光纤连接器的插入损耗；

其中，所述一个插入损耗探测器通过光纤束连接到所述多根待测试跳线，所述光纤束由多根光纤构成，并且所述多根光纤在第一端束缚在一起，并且在第二端分散成单独的光纤线。

2.根据权利要求1所述的多通道光学测试仪，其特征在于，所述多通道光学测试仪还包括回波损耗探测器，用于测试光纤连接器的回波损耗。

3.根据权利要求2所述的多通道光学测试仪，其特征在于，回波损耗探测器连接在光源和光学开关之间的光路上。

4.根据权利要求1所述的多通道光学测试仪，其特征在于，所述多通道光学测试仪还包括用于对多通道光学测试仪进行归零的多根标准测试跳线。

5.根据权利要求4所述的多通道光学测试仪，其特征在于，标准测试跳线的一端设有普通连接器，用于光学连接光学开关，而另一端设有主连接器，用于光学连接位于待测试跳线两端的光纤连接器中的一个。

6.根据权利要求1所述的多通道光学测试仪，其特征在于，所述多根光纤是裸光纤或涂覆光纤。

7.根据权利要求1所述的多通道光学测试仪，其特征在于，所述多根光纤是涂覆有环氧树脂的涂覆光纤。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的多通道光学测试仪，其特征在于，所述光纤束包括用于将束缚的光纤分成单独的光纤线的分散位置。

9.根据权利要求1至7中任一项所述的多通道光学测试仪，其特征在于，所述光纤束具有外壳，所述外壳具有敞开的一端和由中空塞闭合的一端。

10.根据权利要求9所述的多通道光学测试仪，其特征在于，外壳插入所述一个插入损耗探测器的适配器中。

11.根据权利要求9所述的多通道光学测试仪，其特征在于，中空塞具有用于通过所述多根光纤的通孔。

12.根据权利要求11所述的多通道光学测试仪，其特征在于，所述多根光纤在第一端束缚在一起、固定在外壳内并且通过外壳的敞开的一端露出，并且所述多根光纤在第二端穿过中空塞的通孔并且分成单独的光纤线。

13.根据权利要求12所述的多通道光学测试仪，其特征在于，所述多根光纤的第一端通过胶束缚在一起，并且通过胶固定在外壳内。

14.根据权利要求12所述的多通道光学测试仪，其特征在于，所述多根光纤的第一端通过机械捆绑件束缚在一起，并且通过胶固定在外壳内。

15.根据权利要求1至7中任一项所述的多通道光学测试仪，其特征在于，每根光纤线的终端为光纤连接器，并且每根光纤线的光纤连接器被构造成连接到在位于待测试跳线两端的光纤连接器中的一个。

16.根据权利要求1至7中任一项所述的多通道光学测试仪，其特征在于，每根光纤线均包括覆盖其相应光纤的保护性护皮。

17.根据权利要求1至7中任一项所述的多通道光学测试仪，其特征在于，光纤束的光纤的模场直径大于所述多根待测试跳线的光纤的模场直径。

18.根据权利要求1至7中任一项所述的多通道光学测试仪，其特征在于，光纤束的光纤是多模光纤，并且所述多根待测试跳线的光纤是单模光纤。

19.根据权利要求1至7中任一项所述的多通道光学测试仪，其特征在于，所述多根光纤的第一端在光纤束内按层堆叠，从而相邻光纤的圆形横截面之间彼此相切。

20.根据权利要求1至7中任一项所述的多通道光学测试仪，其特征在于，光纤线的数量和待测试跳线的数量相同。