KR20170100148A - 광경화식 3d 프린터의 광에너지 불균일 보상방법 - Google Patents

광경화식 3d 프린터의 광에너지 불균일 보상방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 목적은 비교적 저렴하면서도 효율적으로 광에너지를 조절할 수 있는 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법을 제공하는 것이다. 상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법은 적어도 일부의 노광영역을 다수의 세부테스트영역으로 구획하고, 각 상기 세부테스트영역에 형성될 소정의 테스트형상부를 갖도록 마련된 테스트출력데이터를 준비하는 단계와; 상기 테스트출력데이터에 기초하여 상기 테스트형상부를 노광성형하는 단계와; 상기 테스트 형상부들의 성형적정 여부를 확인하고, 부적정 성형된 상기 테스트형상부의 상기 세부테스트영역에 대한 광에너지를 조절하는 단계를 포함한다.

Description

광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법{METHOD FOR COMPENSATING 3D PRINTER FOR UNUNIFORMITY OF LIGHT-ENERGY}
본 발명은 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법에 관한 것이다.
광경화식 3D 프린터는 이미지광을 광경화성 수지에 노광 경화시켜 3D 성형물을 형성한다. 그런데 광원으로부터 노광면의 각 위치 간의 거리 차와 광원의 물리적 특성에 등에 따라 노광면에 도달하는 이미지광의 광에너지가 균일하지 못한 경우가 있다. 이러한 광에너지의 불균일은 결과적으로 3D 성형물의 품질에 부정적인 영향을 미친다.
종래의 광경화식 3D프린터에서는 광에너지를 조정하기 위하여, 노광면에 조사되는 빛의 광강도를 조도기를 이용하여 측정하고 조도가 균일하지 못한 영역에 대해서는 영역별로 광강도를 보정하였다. 그러나 이러한 종래의 광강도 보정방법은 고가의 조도기가 필요하고, 또 조도기의 감지 파장과 액상수지의 반응 파장이 서로 상이하여 영역별로 광강도 조절을 하더라도 광에너지의 불균일로 인해 3D성형물의 품질이 만족스러울 정도로 향상되지 못하는 문제가 있다.
본 발명의 목적은 비교적 저렴하면서도 효율적으로 광에너지를 조절할 수 있는 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법을 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법은 적어도 일부의 노광영역을 다수의 세부테스트영역으로 구획하고, 각 상기 세부테스트영역에 형성될 소정의 테스트형상부를 갖도록 마련된 테스트출력데이터를 준비하는 단계와; 상기 테스트출력데이터에 기초하여 상기 테스트형상부를 노광성형하는 단계와; 상기 테스트 형상부들의 성형적정 여부를 확인하고, 부적정 성형된 상기 테스트형상부의 상기 세부테스트영역에 대한 광에너지를 조절하는 단계를 포함한다.
여기서, 상기 테스트 형상부는 성형 표면을 따라 확장된 베이스 형상부와, 상기 베이스형상부로부터 돌출 형성된 기둥형상부와 상기 베이스 형상부에 관통 형성된 관통형상부 중 적어도 하나를 갖는 것이 바람직하다.
그리고 상기 테스트형상부는 상기 관통형상부와 상기 기둥형상부를 가지며, 상기 관통형상부는 상기 기둥형상부의 내부에 형성되는 것이 바람직하다.
한편, 상기 광에너지를 조절하는 단계는 상기 부적정 성형된 테스트 형상부가 과잉성형된 경우 상기 과잉형성된 테스트형상부의 상기 세부테스트영역에 대한 노광시간을 단축하고, 상기 부적정 성형된 테스트 형상부가 부족성형된 경우 상기 부족성형된 상기 테스트형상부의 상기 세부테스트영역에 대한 노광시간을 연장하는 것이 바람직하다.
한편, 상기 광에너지를 조절하는 단계는 상기 부적정 성형된 테스트 형상부가 과잉성형된 경우 상기 과잉형성된 테스트형상부의 상기 세부테스트영역에 대한 광강도를 감소시키고, 상기 부적정 성형된 테스트 형상부가 부족성형된 경우 상기 부족성형된 상기 테스트형상부의 상기 세부테스트영역에 대한 광강도를 증가시키는 것이 바람직하다.
본 발명에 따른 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법은 비교적 저렴하면서도 효율적으로 광에너지를 보정할 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 광경화식 3D프린터의 광에너지 불균일 보상방법을 나타낸 순서도이고,
도 2는 본 발명에 따른 테스트출력데이터를 나타낸 사시도이고,
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트출력데이터를 나타낸 사시도이고,
도 4 (A) 내지 (D)는 본 발명의 일실시예에 따른 노광시간을 조절함으로써 광에너지를 보상하는 방법을 나타낸 설명도이고,
도 5 (A) 내지 (D)는 본 발명의 다른 실시예에 따른 노광시간을 조절함으로써 광에너지를 보상하는 방법을 나타낸 설명도이며,
도 6 (A) 내지 (D)는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 노광시간을 조절함으로써 광에너지를 보상하는 방법을 나타낸 설명도이다.
도 1은 본 발명에 따른 광경화식 3D프린터의 광에너지 불균일 보상방법을 나타낸 순서도이고, 도 2는 본 발명에 따른 테스트출력데이터를 나타낸 사시도이다. 이들 도면에서 볼 수 있는 바와 같이, 본 광경화식 3D프린터의 광에너지 불균일 보상방법은 먼저 소정의 테스트형상부(20)를 갖는 테스트출력데이터를 준비한다(S1). 여기서, 테스트출력데이터는 격자상의 다수의 세부테스트영역(10)으로 구획되며, 테스트형상부(20)는 각 세부테스트영역(10)마다 마련된다.
테스트형상부(20)는 성형 표면을 따라 확장된 베이스형상부(21)와, 베이스형상부(21)의 중심영역에서 관통 형성되는 관통형상부(23)와, 베이스형상부(21)의 표면으로부터 돌출 형성되는 적어도 하나의 기둥형상부(25)로 이루어진다. 여기서, 테스트형상부(20)는 관통형상부(23)와 기둥형상부(25) 중 어느 하나만을 가질 수 있다. 관통형상부(23)는 관통되지 않고 함몰형성될 수도 있다. 테스트형상부(20)는 이외에도 일정 두께의 테두리를 갖는 다양한 형상을 포함할 수 있다. 각 세부테스트영역(10)마다 형성되는 베이스형상부(21)는 서로 이어지는 것이 바람직하지만 서로 분리된 형태로 마련될 수도 있다. 한편, 도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트출력데이터를 나타낸 사시도이다. 도 3에서 볼 수 있는 바와 같이, 세부테스트영역(10a)은 파이프형태의 테스트형상부(20a)를 가질 수 있다. 여기서, 테스트형상부(20a)는 성형 표면을 따라 확장된 베이스형상부(21a)와, 베이스형상부(21a)의 표면으로부터 돌출 형성되는 적어도 하나의 기둥형상부(25a)와, 기둥형상부(25a)의 내부에서 관통형성되는 관통형상부(23a)로 이루어진다.
관통형상부(23)와 기둥형상부(25)는 DLP(Digital Light Processing)방식 광조사유니트의 단위 픽셀 크기에 비례하는 사이즈로 설정된다. 예를 들어, DLP 방식 광조사유니트의 단위 픽셀 크기가 100μm이상인 경우 관통형상부(23) 및 기둥형상부(25)는 0.8 내지 2mm의 사이즈로 설정되며, DLP 방식 광조사유니트의 단위 픽셀 크기가 50μm이상인 경우에는 관통형상부(23) 및 기둥형상부(25)의 사이즈가 0.4 내지 1mm로 설정된다.
다음으로, 준비된 테스트출력데이터를 기초로 다수의 세부테스트영역(10)이 갖는 테스트형상부(20)를 노광성형한다(S2).
다음으로, 테스트출력데이터의 테스트형상부(20)와 노광성형으로 출력된 테스트형상부를 비교하여 성형적정 여부를 확인(S3)하고, 부적정 성형된 테스트형상부에 해당하는 세부테스트영역(10)에 대한 광에너지를 조절(S31)한다.
구체적으로, 부적정 성형된 테스트형상부가 과잉성형된 경우에는 해당 테스트형상부의 세부테스트영역(10)에 대한 광에너지를 감소시키고, 부적정 성형된 테스트형상부가 부족성형된 경우에는 해당 테스트형상부의 세부테스트영역(10)에 대한 광에너지를 증가시킨다.
여기서, 과잉성형은 테스트출력데이터의 관통형상부(23)에 대응하는 목표형상보다 노광성형으로 출력된 관통형상부의 형상이 작을 때로 판단하거나, 테스트출력데이터의 기둥형상부(25)의 사이즈보다 노광성형으로 출력된 기둥형상부의 사이즈가 클 때로 판단한다. 한편, 부족성형은 테스트출력데이터의 관통형상부(25)에 대응하는 목표형상보다 노광성형으로 출력된 관통형상부의 형상이 클 때로 판단하거나, 테스트출력데이터의 기둥형상부(25)의 사이즈보다 노광성형으로 출력된 기둥형상부의 사이즈가 작을 때로 판단한다. 물론, 크기 차이의 허용범위를 둘 수 있다. 출력된 테스트형상부의 측정은 버니어캘리퍼스 및/또는 스캐너 등을 이용하는 것이 바람직하다.
광에너지는 광강도와 노광시간에 비례한다. 그래서 광에너지를 감소시키고자 하는 경우에는 광강도 및/또는 노광시간을 감소시키고, 광에너지를 증가시키고자 하는 경우에는 광강도 및/또는 노광시간을 증가시킨다. 한편, 광강도는 광조사유니트의 명도 및/또는 채도를 조절하거나 광조사유니트의 출력전압을 조절함으로써 제어할 수 있다.
도 4 (A) 내지 (D)는 본 발명의 일실시예에 따른 노광시간을 조절함으로써 광에너지를 보상하는 방법을 나타낸 설명도이다. 도 4 (A)에는 다수의 적정성형된 세부테스트영역(100)과 과잉성형된 세부테스트영역(101a, 101b, 101c)이 표시되어 있다. 여기서, 과잉성형된 세부테스트영역(101a, 101b, 101c)은 서로 과잉성형된 정도가 다르다고 가정한다. 구체적으로, 우하단에 표시된 세부테스트영역(101c)이 가장 과잉성형된 상태이고, 좌하단에 표시된 세부테스트영역(101b)가 두 번째로 과잉성형된 상태이며, 좌상단에 표시된 세부테스트영역(101a)이 가장 미미하게 과잉성형된 상태인 것으로 가정한다.
이렇게 적정성형된 세부테스트영역(100)에 비해 과잉성형된 세부테스트영역(101a, 101b, 101c)에 대한 광에너지를 조절하기 위해, 본 발명에 따른 광에너지 보상방법은 도 4 (B)에서와 같이 가장 과잉성형된 세부테스트영역(101c)에 대한 노광을 우선적으로 소정시간동안 차단한 후 도 4 (C)에서와 같이 두 번째로 과잉성형된 세부테스트영역(101b)에 대한 노광을 차단한다. 다음으로, 도 4 (D)에서와 같이, 좌상단에 표시된 가장 미미하게 과잉성형된 세부테스트영역(101a)에 대한 노광을 소정시간동안 차단한 후 적정성형된 세부테스트영역(100)에 대한 노광을 차단하는 식으로 세부테스트영역별 광에너지 불균일을 보상한다.
도 5 (A) 내지 (D)는 본 발명의 다른 실시예에 따른 노광시간을 조절함으로써 광에너지를 보상하는 방법을 나타낸 설명도이다. 도 5 (A)에는 다수의 적정성형된 세부테스트영역과 부족성형된 세부테스트영역(102a, 102b, 102c)이 표시되어 있다. 여기서, 부족성형된 세부테스트영역(102a, 102b, 102c)은 서로 부족성형된 정도가 다르다고 가정한다. 구체적으로, 우하단에 표시된 세부테스트영역(102c)이 가장 부족성형된 상태이고, 좌하단에 표시된 세부테스트영역(102b)가 두 번째로 부족성형된 상태이며, 좌상단에 표시된 세부테스트영역(102a)이 가장 미미하게 부족성형된 상태인 것으로 가정한다.
이렇게 적정성형된 세부테스트영역(100)에 비해 부족성형된 세부테스트영역(102a, 102b, 102c)에 대한 광에너지를 조절하기 위해, 본 발명에 따른 광에너지 보상방법은 도 5 (B)에서와 같이 부족성형된 세부테스트영역(102a, 102b, 102c)을 제외한 나머지 적정성형된 세부테스트영역(100)에 대한 노광을 우선적으로 소정시간동안 차단한 후 도 5 (C)에서와 같이 가장 미미하게 부족성형된 세부테스트영역(102a)에 대한 노광을 차단한다. 다음으로, 도 5 (D)에서와 같이 좌하단에 표시된 두 번째로 부족성형된 세부테스트영역(102b)에 대한 노광을 소정시간동안 차단한 후 우하단에 표시된 가장 부족성형된 세부테스트영역(102c)에 대한 노광을 차단하는 식으로 세부테스트영역별 광에너지 불균일을 보상한다.
도 6 (A) 내지 (D)는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 노광시간을 조절함으로써 광에너지를 보상하는 방법을 나타낸 설명도이다. 도 6 (A)에는 다수의 적정성형된 세부테스트영역(100)과 과잉성형된 세부테스트영역(101d) 및 부족성형된 세부테스트영역(102d, 102e)이 표시되어 있다. 여기서, 부족성형된 세부테스트영역들(102d, 102e)은 서로 부족성형된 정도가 다르다고 가정한다. 구체적으로, 좌상단 부족성형된 세부테스트영역(102d)보다 우하단 부족성형된 세부테스트영역(102e)이 더 부족성형된 상태라고 가정한다.
이렇게 적정성형된 세부테스트영역(100)에 비해 부적정 성형된 세부테스트영역(101d, 102d, 102e)에 대한 광에너지를 조절하기 위해, 본 발명에 따른 광에너지 보상방법은 도 6 (B)에서와 같이 과잉성형된 세부테스트영여(101d)에 대한 노광을 우선적으로 소정시간동안 차단한 후 도 6 (C)에서와 같이 적정성형된 세부테스트영역(100)에 대한 노광을 차단한다. 다음으로, 도 6 (D)에서와 같이, 좌상단 부족성형된 세부테스트영역(102d)에 대한 노광을 소정시간동안 차단한 후 우하단 부족성형된 세부테스트영역(102e)에 대한 노광을 차단하는 식으로 세부테스트영역별 광에너지 불균일을 보상한다.
상술한 세부테스트영역별 노광시간의 차별은 테스트출력데이터를 이루는 다수의 이미지 프레임 각각마다 적용되도록 하는 것이 바람직하다. 그리고 이러한 노광시간의 차별은 일련의 이미지 프레임을 통해 실시하거나, 이미지 프레임마다 세부테스트영역별 노광시간이 차등 적용되도록 하는 제어 프로그램을 통해 실시할 수 있다.
이렇게 부적정 성형된 테스트형상부의 세부테스트영역(10)에 대한 광에너지 보상이 완료되면, 준비된 테스트출력데이터를 기초로 테스트형상부(20)를 다시 노광성형하여 3D 출력한다. 그리고 재출력된 테스트형상부와 테스트출력데이터의 테스트형상부(20)를 다시 비교하여 적정 성형되었는지 여부를 확인하고 부적정 성형된 테스트형상부의 세부테스트영역(10)에 해당하는 광에너지를 조절하는 과정을 반복하고, 전체 세부테스트영역(10)의 테스트형상부(20)가 적정 성형되었을 때 본 발명에 따른 광에너지 불균일 보상방법을 종료한다.
본 발명에 따른 광경화식 3D프린터의 광에너지 불균일 보상방법은 DLP(Digital Light Processing) 타입을 포함하여, 빛과 광경화성 수지를 이용하는 다양한 종류의 3D 프린터에 적용가능하다. 특히 면 노광방식의 3D 프린터에 유리하다.
10, 10a: 세부테스트영역 20, 20a: 테스트형상부
21, 21a: 베이스형상부 23, 23a: 관통형상부
25, 25a: 기둥형상부 100: 적정성형영역
101a, 101b, 101c, 101d: 과잉성형영역
102a, 102b, 102c, 102d, 102e: 부족성형영역

Claims (5)

  1. 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법에 있어서,
    적어도 일부의 노광영역을 다수의 세부테스트영역으로 구획하고, 각 상기 세부테스트영역에 형성될 소정의 테스트형상부를 갖도록 마련된 테스트출력데이터를 준비하는 단계와;
    상기 테스트출력데이터에 기초하여 상기 테스트형상부를 노광성형하는 단계와;
    상기 테스트 형상부들의 성형적정 여부를 확인하고, 부적정 성형된 상기 테스트형상부의 상기 세부테스트영역에 대한 광에너지를 조절하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 테스트 형상부는 성형 표면을 따라 확장된 베이스 형상부와, 상기 베이스형상부로부터 돌출 형성된 기둥형상부와 상기 베이스 형상부에 관통 형성된 관통형상부 중 적어도 하나를 갖는 것을 특징으로 하는 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 테스트형상부는 상기 관통형상부와 상기 기둥형상부를 모두 가지며,
    상기 관통형상부는 상기 기둥형상부의 내부에 형성되는 것을 특징으로 하는 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광에너지를 조절하는 단계는,
    상기 부적정 성형된 테스트 형상부가 과잉성형된 경우 상기 과잉형성된 테스트형상부의 상기 세부테스트영역에 대한 노광시간을 단축하고,
    상기 부적정 성형된 테스트 형상부가 부족성형된 경우 상기 부족성형된 상기 테스트형상부의 상기 세부테스트영역에 대한 노광시간을 연장하는 것을 특징으로 하는 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법.
  5. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광에너지를 조절하는 단계는,
    상기 부적정 성형된 테스트 형상부가 과잉성형된 경우 상기 과잉형성된 테스트형상부의 상기 세부테스트영역에 대한 광강도를 감소시키고,
    상기 부적정 성형된 테스트 형상부가 부족성형된 경우 상기 부족성형된 상기 테스트형상부의 상기 세부테스트영역에 대한 광강도를 증가시키는 것을 특징으로 하는 광경화식 3D 프린터의 광에너지 불균일 보상방법.
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CN109435229B (zh) * 2018-11-21 2024-08-02 广州恒锐电子技术有限公司 一种3d打印用光敏树脂的测试件及其打印方法
CN110434330A (zh) * 2019-06-28 2019-11-12 上海电气集团股份有限公司 一种铺粉式增材制造目标金属材料的工艺参数开发方法
CN114559653B (zh) * 2022-01-07 2024-01-19 宁波智造数字科技有限公司 利用立方体矩阵的光固化3d打印均匀度调整方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001166809A (ja) * 1999-02-19 2001-06-22 Sanyo Electric Co Ltd 実立体モデル作成装置、立体データ作成装置、疑似立体データ作成装置並びにその方法
TWI274161B (en) * 2005-08-29 2007-02-21 Mjc Probe Inc Electrical contact device of probe card
KR20100055980A (ko) * 2008-11-18 2010-05-27 주식회사 하이닉스반도체 웨이퍼 노광 방법
KR101407048B1 (ko) * 2013-11-07 2014-06-12 비즈텍코리아 주식회사 3차원 라인 스캔 조형장치 및 이를 이용한 조형방법
KR20150108532A (ko) * 2014-03-18 2015-09-30 이병극 3d 프린팅 장치 및 직접 노광 이미지광 조사장치

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