KR20170081415A - X선 영상에 근거한 촬영 자세/조건 오류 분석 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
X선 영상에 근거하여 촬영 자세/조건 오류를 분석하는 장치가 제공된다. 본 장치는, X선 영상을 분석하여 촬영 자세 및/또는 촬영 조건이 잘못되었음을 나타내는 오류 데이터를 출력하도록 구성된 오류 데이터 출력부 및 상기 오류 데이터를 기록하도록 구성된 오류 데이터 기록부를 포함할 수 있다. 상기 오류 데이터 출력부는, 상기 X선 영상에 근거하여 수평 정렬 오류를 분석하도록 구성된 수평 정렬 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 수직 정렬 오류를 분석하도록 구성된 수직 정렬 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 견치 정렬 오류를 분석하도록 구성된 견치 정렬 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 조사 조건 선택 오류를 분석하도록 구성된 조사 조건 선택 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 납복 착용 오류를 분석하도록 구성된 납복 착용 오류 분석부 및 상기 X선 영상에 근거하여 프랑크포르트 라인 정렬 오류를 분석하도록 구성된 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
Description
본 발명은 의료 영상 분석 기술에 관한 것으로, 더 구체적으로 X선 영상을 분석하여 X선 촬영시의 환자의 자세 또는 촬영 조건이 적절하였는지를 판별하는 기술에 관한 것이다.
치과 진단 및 치료 용으로 X선 영상이 널리 활용되고 있다. 다양한 방식으로 촬영된 다양한 X선 영상이 알려져 있는데, 이 중에서 2차원의 파노라마 영상(panorama image)과 세펄로우 영상(cephalo image)은 구강 구조를 전체적으로 확인할 수 있고 해부학적 기준점을 보다 잘 식별할 수 있다는 장점이 있어 치료계획 수립과 치아 교정 등에 유리하게 사용되고 있다. 그런데 파노라마 영상과 세펄로우 영상은 2차원 영상이므로 3차원 방향 전환이 가능한 3차원 CT 영상 대비 X선 촬영 시 환자의 자세 및 조건이 보다 엄격하게 지켜져야 한다.
그러나 실제 X선 촬영 시에는 환자의 움직임이 일어날 수 있는 확률도 크고 환자가 부정확한 자세를 취한 상태로 촬영이 이루어지는 경우도 적지 않다. 예컨대, 환자가 고개를 들거나 숙이고 촬영한 경우, 고개를 좌우로 기울이고 촬영한 경우 그리고 견치 정렬이 이루어지지 않은 채로 촬영한 경우가 있을 수 있다. 다른 예로, 환자가 납복 착용을 잘못하여 납복이 X선 빔의 조사 경로 상에 드러나 결과 영상에 납복이 나타나거나, 예컨대 적절한 X선 조사량 등의 촬영 조건을 맞추지 않은 상태로 촬영을 함으로써 치아 판독에 장애가 되는 어둡거나 너무 밝은 영상을 얻게 되기도 한다. 이에 따라, X선 장비의 운용자 입장에서는 X선 장비의 고장을 의심하게 되고 고객 서비스(CS)를 요청하게 되는 경우가 비일비재하다.
본 발명의 과제는 촬영된 X선 영상을 분석하여 촬영 시의 오류, 즉 환자 자세의 오류 및/또는 촬영 조건 상의 오류를 식별하는 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제들은 이상에서 언급한 과제들에 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 실시예들에 따르면, X선 영상에 근거하여 촬영 자세/조건 오류를 분석하는 장치가 제공된다. 이 장치는, X선 영상을 분석하여 촬영 자세 및/또는 촬영 조건이 잘못되었음을 나타내는 오류 데이터를 출력하도록 구성된 오류 데이터 출력부 및 상기 오류 데이터를 기록하도록 구성된 오류 데이터 기록부를 포함할 수 있다. 여기서, 상기 오류 데이터 출력부는, 상기 X선 영상에 근거하여 수평 정렬 오류를 분석하도록 구성된 수평 정렬 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 수직 정렬 오류를 분석하도록 구성된 수직 정렬 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 견치 정렬 오류를 분석하도록 구성된 견치 정렬 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 조사 조건 선택 오류를 분석하도록 구성된 조사 조건 선택 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 납복 착용 오류를 분석하도록 구성된 납복 착용 오류 분석부 및 상기 X선 영상에 근거하여 프랑크포르트 라인 정렬 오류를 분석하도록 구성된 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 수평 정렬 오류 분석부는, 상기 X선 영상에서 치아의 교합면을 나타내는 교합면 선을 검출하고, 상기 검출된 교합면 선을 표준 교합면 선과 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 수직 정렬 오류 분석부는, 상기 X선 영상에서 좌측 턱선 및 우측 턱선을 검출하여 제1 및 제2 턱선을 각각 생성하고 상기 생성된 제1 및 제2 턱선과 표준 좌우 턱선을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 견치 정렬 오류 분석부는, 상기 X선 영상에서 견치를 나타내는 영역을 검출하고 상기 검출된 견치를 나타내는 영역의 크기와 표준 견치 크기를 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 조사 조건 선택 오류 분석부는, 상기 X선 영상의 휘도 값을 기초로 상기 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 납복 착용 오류 분석부는, 상기 X선 영상에서 납복을 나타내는 영역을 검출하고 상기 검출에 응답하여 상기 오류 데이터를 출력하도록 더 구성될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부는, 상기 X선 영상에서 프랑크포르트 라인(Frankfort line)을 검출하여 검출된 프랑크포르트 라인과 가상의 수평선을 비교하거나, 이마자와 이마 간의 영역을 검출하여 상기 검출된 이마자와 이마 간의 영역과 표준 면적을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하도록 더 구성될 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따르면, X선 영상에 근거하여 촬영 자세/조건 오류를 분석하는 방법이 또한 제공된다. 이 방법은, X선 영상을 분석하여 촬영 자세 및/또는 촬영 조건이 잘못되었음을 나타내는 오류 데이터를 출력하는 단계 및 상기 오류 데이터를 기록하는 단계를 포함할 수 있다. 여기서, 상기 오류 데이터를 출력하는 단계는, 상기 X선 영상에 근거하여 수평 정렬 오류를 분석하는 단계, 상기 X선 영상에 근거하여 수직 정렬 오류를 분석하는 단계, 상기 X선 영상에 근거하여 견치 정렬 오류를 분석하는 단계, 상기 X선 영상에 근거하여 조사 조건 선택 오류를 분석하는 단계, 상기 X선 영상에 근거하여 납복 착용 오류를 분석하는 단계 및 상기 X선 영상에 근거하여 프랑크포르트 라인 정렬 오류를 분석하는 단계 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 수평 정렬 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상에서 치아의 교합면을 나타내는 교합면 선을 검출하고 상기 검출된 교합면 선과 표준 교합면 선을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 수직 정렬 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상에서 좌측 턱선 및 우측 턱선을 검출하여 제1 및 제2 턱선을 각각 생성하고 상기 생성된 제1 및 제2 턱선과 표준 좌우 턱선을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 견치 정렬 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상에서 견치를 나타내는 영역을 검출하고 상기 검출된 견치를 나타내는 영역과 표준 견치 크기값을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 조사 조건 선택 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상의 휘도 값을 기초로 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 납복 착용 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상에서 납복을 나타내는 영역을 검출하고 상기 검출에 응답하여 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상에서 프랑크포르트 라인(Frankfort line)을 검출하여 상기 검출된 프랑크포르트 라인과 가상의 수평선을 비교하거나, 이마자와 이마 간의 영역을 검출하여 상기 검출된 이마자와 이마 간의 영역과 표준 면적값을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 촬영된 X선 영상을 분석하여 촬영 시 환자 자세의 오류 및/또는 촬영 조건 상의 오류를 식별 및 기록하고, 이러한 기록을 X선 장비의 운용자에게 제시함으로써 장비 사용법에 대한 효율적인 교육을 도모하고, 나아가 장비 운용자의 부주의로 인한 불필요한 고객 서비스 요청을 방지할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따라 X선 영상에 근거하여 촬영 자세/조건 오류를 분석하는 장치의 일 실시예를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명에 따라 X선 영상에 근거하여 촬영 자세/조건 오류를 분석하는 방법을 설명하기 위한 흐름도의 일 실시예를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 수평 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제1 실시예를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 수평 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제2 실시예를 도시한 도면이다.
도 5는 오류가 없는 X선 영상의 일 실시예를 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따라 수직 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제1 실시예를 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따라 수직 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제2 실시예를 도시한 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따라 프랑크포르트 라인 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제1 실시예를 도시한 도면이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따라 프랑크포르트 라인 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제2 실시예를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명에 따라 X선 영상에 근거하여 촬영 자세/조건 오류를 분석하는 방법을 설명하기 위한 흐름도의 일 실시예를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 수평 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제1 실시예를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 수평 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제2 실시예를 도시한 도면이다.
도 5는 오류가 없는 X선 영상의 일 실시예를 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따라 수직 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제1 실시예를 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따라 수직 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제2 실시예를 도시한 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따라 프랑크포르트 라인 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제1 실시예를 도시한 도면이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따라 프랑크포르트 라인 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 제2 실시예를 도시한 도면이다.
본 발명의 이점들과 특징들 그리고 이들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해 질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 본 실시예들은 단지 본 발명의 개시가 완전하도록 하며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려 주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 명세서에서 사용되는 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용되는 것으로 본 발명을 한정하려는 의도에서 사용된 것이 아니다. 예를 들어, 단수로 표현된 구성 요소는 문맥상 명백하게 단수만을 의미하지 않는다면 복수의 구성 요소를 포함하는 개념으로 이해되어야 한다. 또한, 본 발명의 명세서에서, '포함하다' 또는 '가지다' 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것일 뿐이고, 이러한 용어의 사용에 의해 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성이 배제되는 것은 아니다. 또한, 본 명세서에 기재된 실시예에 있어서 '모듈' 혹은 '부'는 적어도 하나의 기능이나 동작을 수행하는 기능적 부분을 의미할 수 있다.
덧붙여, 다르게 정의되지 않는 한 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미가 있는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명의 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 보다 상세히 설명한다. 다만, 이하의 설명에서는 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 우려가 있는 경우, 널리 알려진 기능이나 구성에 관한 구체적 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 발명에 따라 X선 영상에 근거하여 촬영 자세/조건 오류를 분석하는 장치의 일 실시예를 도시한 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 장치(100)는 입력 인터페이스(110), 영상 처리부(120), 저장부(130) 및 디스플레이부(140)를 포함할 수 있다. 입력 인터페이스(110)는 본 발명의 다양한 실시예들에 따른 영상 분석/처리를 수행하기 위하여 사용자 명령을 입력하기 위한 하드웨어 및 소프트웨어 모듈로 구성될 수 있다. 입력 인터페이스(110)는 필요한 다양한 명령을 영상 처리부(120)로 입력하거나, 예컨대 파노라마 영상(panorama image)과 세펄로우 영상(cephalo image)과 같은, X선 촬영 장치에서 획득한 2차원 X선 영상을 저장부(130)로 입력하거나, 디스플레이된 영상의 일부 또는 전부를 지시하여 이에 따른 다양한 영상 처리를 수행하기 위해 유리하게 사용될 수 있다. 일 실시예에서, 입력 인터페이스(110)는 컴퓨터의 키보드(keyboard), 키패드(keypad), 터치패드(touchpad), 마우스(mouse) 등을 포함할 수 있으나, 입력 인터페이스의 종류가 이에 제한되는 것은 아니다. 예컨대, 입력 인터페이스(110)는 전술한 입력 장치들을 이용하여 제어 가능한 그래픽 사용자 인터페이스(Graphic User Interface)를 포함할 수도 있다. 디스플레이부(140)는 본 발명의 다양한 실시예에 따라 형성된 영상들을 디스플레이하기 위한 것으로, LCD 디스플레이, LED 디스플레이, AMOLED 디스플레이, CRT 디스플레이 등의 다양한 디스플레이 장치를 포함할 수 있다.
저장부(130)는, 예컨대 파노라마 영상과 세펄로우 영상과 같은, X선 촬영 장치에서 획득한 2차원 X선 영상을 저장하기 위해 사용될 수 있다. 저장부(130)는 본 발명의 다양한 실시예들에 따른 영상 처리를 수행함에 따른 중간 결과의 영상 데이터, 본 발명의 다양한 실시예들에 따른 영상 처리를 수행함으로써 얻어진, 결과 영상 데이터, 본 발명의 다양한 실시예들에 따른 영상 처리를 수행하는데 필요한 변수값들을 저장하기 위해 사용될 수 있다. 저장부(130)는 영상 처리부(120)의 구현에 필요한 소프트웨어/펌웨어 등을 더 저장할 수 있다. 저장부(130)는 플래시 메모리 타입(flash memory type), 하드 디스크 타입(hard disk type), 멀티미디어 카드(MultiMedia Card: MMC), 카드 타입의 메모리(예를 들어, SD(Secure Digital) 카드 또는 XD(eXtream Digital) 카드 등), RAM(Random Access Memory), SRAM(Static Random Access Memory), ROM(Read-Only Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), PROM(Programmable Read-Only Memory), 자기 메모리, 자기 디스크 및 광 디스크 중 어느 하나의 저장 매체로 구현될 수 있으나, 당업자라면 저장부(130)의 구현 형태가 이에 한정되는 것이 아님을 알 수 있을 것이다.
영상 처리부(120)는 저장부(130)로부터 X선 영상 데이터의 전부 또는 일부를 독출하여 본 발명의 다양한 실시예들에 따라 X선 영상에 근거하여 촬영 자세/조건 오류를 분석하는 방법을 수행하도록 구성될 수 있다. 도 1에 도시된 바와 같이, 영상 처리부(120)는 오류 데이터 출력부(122) 및 오류 데이터 기록부(129)를 포함할 수 있다. 오류 데이터 출력부(122)는 X선 영상을 분석하여 촬영 자세 및/또는 촬영 조건이 잘못되었음을 나타내는 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수 있다. 오류 데이터 기록부(129)는 오류 데이터 출력부(122)에서 출력된 오류 데이터를 기록하도록 구성될 수 있다.
오류 데이터 출력부(122)는, X선 영상에 근거하여 수평 정렬 오류를 분석하도록 구성된 수평 정렬 오류 분석부(123), X선 영상에 근거하여 수직 정렬 오류를 분석하도록 구성된 수직 정렬 오류 분석부(124), X선 영상에 근거하여 견치 정렬 오류를 분석하도록 구성된 견치 정렬 오류 분석부(125), X선 영상에 근거하여 조사 조건 선택 오류를 분석하도록 구성된 조사 조건 선택 오류 분석부(126), X선 영상에 근거하여 납복 착용 오류를 분석하도록 구성된 납복 착용 오류 분석부(127) 및 X선 영상에 근거하여 프랑크포르트 라인 정렬 오류를 분석하도록 구성된 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)를 포함할 수 있다. 도 1의 실시예에서는 오류 데이터 출력부(122)가 수평 정렬 오류 분석부(123), 수직 정렬 오류 분석부(124), 견치 정렬 오류 분석부(125), 조사 조건 선택 오류 분석부(126), 납복 착용 오류 분석부(127) 및 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)의 모두를 포함하는 것으로 도시되어 있으나, 상기 구성부들 중의 어느 하나 또는 몇몇만을 포함시켜 오류 데이터 출력부(122)를 구성하는 것도 가능하다.
참고로, 수평 정렬 오류 분석부(123) 및 수직 정렬 오류 분석부(124)는 파노라마 영상과 PA(Posteroanterior) 세펄로우 영상에 대해 각각의 오류를 분석하고, 견치 정렬 오류 분석부(125)는 파노라마 영상에 대해 그 오류를 분석하며, 조사 조건 선택 오류 분석부(126) 및 납복 착용 오류 분석부(127)는 파노라마 영상과 PA 및 LAT(Lateral) 세펄로우 영상에 대해 각각의 오류를 분석하며, 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)는 LAT 세펄로우 영상에 대해 그 오류를 분석할 수 있으나, 각 분석부의 오류 분석 대상 영상이 반드시 여기에 한정되지는 않는다.
수평 정렬 오류 분석부(123)는, X선 영상에서 치아의 교합면을 나타내는 교합면 선을 검출하고, 검출된 교합면 선의 분석에 기초하여 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 수평 정렬 오류 분석부(123)는, 검출된 교합면 선을 표준 교합면 선과 비교하도록 더 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 수평 정렬 오류 분석부(123)는, 검출된 교합면 선의 곡률과 표준 교합면 선의 곡률 간의 차이가 제1 임계값 이상인지를 판단하도록 구성될 수 있다. 여기서, 표준 교합면 선의 곡률은 수평 정렬이 이루어진 상태에서 촬영된 전형적인 X선 영상들에서의 교합면 선의 곡률들의 평균치와 같이 실험적으로 결정된 값일 수 있고, 제1 임계값은 통계적으로 결정된 값일 수 있다. 검출된 교합면 선의 곡률과 표준 교합면 선의 곡률 간의 차이가 제1 임계값 이상인 경우, 수평 정렬 오류 분석부(123)는 분석 대상의 X선 영상이 수평 정렬이 안된 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단하고 이에 따라 오류 데이터를 출력할 수 있다.
수직 정렬 오류 분석부(124)는, X선 영상에서 좌측 턱선 및 우측 턱선을 검출하여 제1 및 제2 턱선을 각각 생성하고, 생성된 제1 및 제2 턱선의 분석에 근거하여 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 수직 정렬 오류 분석부(124)는, 제1 턱선의 곡률과 제2 턱선의 곡률 간의 차이가 표준 좌우 턱선 곡률 차이값으로부터 제2 임계값 이상 벗어나는지를 판단하도록 구성될 수 있다. 표준 좌우 턱선 곡률 차이값은 수직 정렬이 이루어진 상태에서 촬영된 전형적인 X선 영상들에서의 좌우 턱선 곡률 차이값들의 평균치와 같이 실험적으로 결정된 값일 수 있고, 제2 임계값은 통계적으로 결정된 값일 수 있다. 제1 턱선의 곡률과 제2 턱선의 곡률 간의 차이가 표준 좌우 턱선 곡률 차이값으로부터 제2 임계값 이상 벗어나는 경우, 수직 정렬 오류 분석부(124)는 분석 대상의 X선 영상이 수직 정렬이 안된 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단하고 이에 따라 오류 데이터를 출력할 수 있다.
견치 정렬 오류 분석부(125)는, X선 영상에서 견치를 나타내는 영역을 검출하고 검출된 견치를 나타내는 영역의 분석에 기초하여 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 견치 정렬 오류 분석부(125)는, 검출된 견치를 나타내는 영역의 크기가 표준 견치 크기 값으로부터 제3 임계값 이상 벗어나는지를 판단하도록 더 구성될 수 있다. 여기서, 표준 견치 크기 값은 견치 정렬이 이루어진 상태에서 촬영된 전형적인 X선 영상들에서의 견치 크기 값들의 평균치와 같이 실험적으로 결정된 값일 수 있고, 제3 임계값은 통계적으로 결정된 값일 수 있다. 검출된 견치를 나타내는 영역의 크기가 표준 견치 크기 값으로부터 제3 임계값 이상 벗어나는 경우, 견치 정렬 오류 분석부(125)는 분석 대상의 X선 영상이 견치 정렬이 안된 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단하고 이에 따라 오류 데이터를 출력할 수 있다.
조사 조건 선택 오류 분석부(126)는, X선 영상의 대표 휘도 값을 계산하고 계산된 대표 휘도 값의 분석에 기초하여 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 대표 휘도 값은 X선 영상의 픽셀들의 휘도 값들의 평균 또는 합일 수 있으나, 대표 휘도 값이 이에 제한되는 것은 아니다. 일 실시예에서, 조사 조건 선택 오류 분석부(126)는, 상기 평균 또는 합이 표준 조사 조건 값으로부터 제4 임계값 이상 벗어나는지를 판단하도록 더 구성될 수 있다. 여기서, 표준 조사 조건 값은 해당 X선 촬영 장치의 제조자에 의해 권고된 값일 수 있고, 제4 임계값은 통계적으로 결정된 값 또는 제조자에 의해 권고된 편차 값일 수 있다. 상기 평균 또는 합이 표준 조사 조건 값으로부터 제4 임계값 이상 벗어나는 경우, 조사 조건 선택 오류 분석부(126)는 분석 대상의 X선 영상이, 노출 부족 또는 노출 과다로 조사 조건이 맞지 않은 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단하고 이에 따라 오류 데이터를 출력할 수 있다.
납복 착용 오류 분석부(127)는, X선 영상에서 납복을 나타내는 영역을 검출하고 이러한 검출에 응답하여 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수 있다.
프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)는, X선 영상에서 프랑크포르트 라인(Frankfort line)을 검출하여 검출된 프랑크포르트 라인의 분석에 기초하여 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수 있다. 이를 위해, 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)는, 검출된 프랑크포르트 라인이 X선 영상에서의 가상의 수평선에 대해 기울어진 각도가 제5 임계값 이상인지를 판단할 수 있다. 여기서, 제5 임계값은 통계적으로 결정된 값일 수 있다. 검출된 프랑크포르트 라인이 X선 영상에서의 가상의 수평선에 대해 기울어진 각도가 제5 임계값 이상인 경우, 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)는 분석 대상의 X선 영상이 프랑크포르트 라인 정렬이 안된 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단하고 이에 따라 오류 데이터를 출력할 수 있다.
이와 달리, 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)는, X선 영상에서 이마자와 이마 간의 영역을 검출하여 검출된 이마자와 이마 간의 영역의 분석에 기초하여 오류 데이터를 출력하도록 구성될 수도 있다. 이를 위해, 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)는, 검출된 이마자와 이마 간의 영역의 면적이 표준 면적 값으로부터 제5 임계값 이상 벗어나는지를 판단할 수 있다. 여기서, 표준 면적 값은 프랑크포르트 라인 정렬이 이루어진 상태에서 촬영된 전형적인 X선 영상들에서의 이마자와 이마 간의 영역의 면적 값들의 평균치와 같이 실험적으로 결정된 값일 수 있고, 제5 임계값은 통계적으로 결정된 값일 수 있다. 검출된 이마자와 이마 간의 영역의 면적이 표준 면적 값으로부터 제5 임계값 이상 벗어나는 경우, 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)는 분석 대상의 X선 영상이 프랑크포르트 라인 정렬이 안된 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단하고 이에 따라 오류 데이터를 출력할 수 있다.
영상 처리부(120)는, 하드웨어적 측면에서 응용 주문형 집적 회로(Application Specific Integrated Circuits: ASICs), 디지털 신호 처리기(Digital Signal Processors: DSPs), 디지털 신호 처리 소자(Digital Signal Processing Devices: DSPDs), 프로그램 가능 논리 소자(Programmable Logic Devices: PLDs), 현장 프로그램 가능 게이트 어레이(Field-Programmable Gate Arrays: FPGAs), 프로세서(processors), 제어기(controllers), 마이크로 컨트롤러(micro-controllers) 및 마이크로 프로세서 (microprocessors) 중 적어도 하나를 이용하여 구현될 수 있다. 영상 처리부(120)는 또한 전술한 하드웨어 플랫폼(platform) 상에서 실행 가능한 펌웨어(firmware)/소프트웨어 모듈로 구현될 수 있다. 이 경우, 펌웨어/소프트웨어 모듈은 적절한 프로그램(program) 언어로 쓰여진 하나 또는 그 이상의 소프트웨어 애플리케이션(software applications)에 의해 구현될 수 있다.
도 2는 본 발명에 따라 X선 영상에 근거하여 촬영 자세/조건 오류를 분석하는 방법을 설명하기 위한 흐름도의 일 실시예를 도시한 도면이다.
본 발명에 따른 촬영 자세/조건 오류 분석 방법의 일 실시예는 X선 영상에 근거하여 수평 정렬 오류를 분석하는 단계(S210)로부터 시작된다. 이 단계에서는 수평 정렬 오류 분석부(123)에서 X선 영상에서 치아의 교합면을 나타내는 교합면 선을 검출하고 검출된 교합면 선을 분석한다. 일 실시예에서, 교합면 선의 검출은 치아 부분을 나타내는 영역에 대해 투사 데이터(projection data)를 생성하고 투사 데이터에서 밸리 점들을 찾음으로써 이루어질 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따라 수평 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 실시예들을 도시한 도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따라 검출된 X선 영상에서의 치아 교합면 선들이 도면부호 310 및 410으로 지시되어 있다. 교합면 선이 검출되면 검출된 교합면 선을 표준 교합면 선과 비교한다. 일 실시예에서, 검출된 교합면 선의 곡률과 표준 교합면 선의 곡률 간의 차이가 제1 임계값 이상인지를 판단하여, 검출된 교합면 선의 곡률과 표준 교합면 선의 곡률 간의 차이가 제1 임계값 이상인 경우, 분석 대상의 X선 영상이 수평 정렬이 안된 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단할 수 있다. 여기서, 표준 교합면 선의 곡률은 수평 정렬이 이루어진 상태에서 촬영된 전형적인 X선 영상들에서의 교합면 선의 곡률들의 평균치와 같이 실험적으로 결정된 값일 수 있고, 제1 임계값은 통계적으로 결정된 값일 수 있다.
검출된 교합면 선의 곡률과 표준 교합면 선의 곡률 간의 차이가 제1 임계값 이상인 경우, 수평 정렬 오류 분석부(123)는 오류 데이터를 출력한다. 일 실시예에서, 오류 데이터는 오류의 종류(수평 정렬 오류), 해당 X선 영상의 일련번호, 해당 X선 영상이 촬영된 날자 및/또는 시간 등을 포함할 수 있다. 오류가 없는 X선 영상의 일 실시예를 도시한 도 5와 도 3 및 도 4를 비교하면, 도 3의 교합면 선(310)이 도 5의 교합면 선(510)에 비해 위로 만곡된 정도가 심하고, 도 4의 교합면 선(410)도 5의 교합면 선(510)에 비해 아래로 만곡된 정도가 심한 것을 확인할 수 있다.
단계(S220)에서는, X선 영상에 근거하여 수직 정렬 오류를 분석한다. 이 단계에서는 수직 정렬 오류 분석부(124)가 X선 영상에서 좌측 턱선 및 우측 턱선을 검출한다. 일 실시예에서, 좌측 턱선과 우측 턱선의 검출은 윤곽선 검출 기법 등의 영상 처리 기법을 이용하여 수행될 수 있다. 좌측 턱선이 검출되면 검출된 좌측 턱선을 반대편 우측으로 미러링(mirroring)하여 제1 턱선을 생성한다. 일 실시예에서, 미러링은 외삽법(extrapolation) 등의 커브 피팅(curve fitting) 알고리즘을 이용하여 수행될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따라 수직 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 실시예들을 도시한 도 6 및 도 7을 참조하면, 검출된 좌측 턱선이 도면부호 610 및 710으로 그리고 제1 턱선이 도면 부호 620 및 720으로 지시되어 있다. 마찬가지로, 우측 턱선이 검출 되면 검출된 우측 턱선을 반대편 좌측으로 미러링하여 제2 턱선을 생성한다. 전술한 바와 같이, 미러링은 커브 피팅 알고리즘을 이용하여 수행될 수 있다. 도 6 및 도 7을 참조하면, 검출된 우측 턱선이 도면부호 630 및 730으로 그리고 제2 턱선이 도면부호 640 및 740으로 지시되어 있다.
다음으로, 수직 정렬 오류 분석부(124)에서, 제1 턱선(620, 720)의 곡률과 제2 턱선(640, 740)의 곡률 간의 차이가 표준 좌우 턱선 곡률 차이값으로부터 제2 임계값 이상 벗어나는지를 판단한다. 여기서, 표준 좌우 턱선 곡률 차이값은 수직 정렬이 이루어진 상태에서 촬영된 전형적인 X선 영상들에서의 좌우 턱선 곡률 차이값들의 평균치와 같이 실험적으로 결정된 값일 수 있고, 제2 임계값은 통계적으로 결정된 값일 수 있다. 제1 턱선(620, 720)의 곡률과 제2 턱선(640, 740)의 곡률 간의 차이가 표준 좌우 턱선 곡률 차이값으로부터 제2 임계값 이상 벗어나는 경우, 수직 정렬 오류 분석부(124)는 분석 대상의 X선 영상이 수직 정렬이 안된 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단하고 이에 따라 오류 데이터를 출력한다. 일 실시예에서, 오류 데이터는 오류의 종류(수직 정렬 오류), 해당 X선 영상의 일련번호, 해당 X선 영상이 촬영된 날자 및/또는 시간 등을 포함할 수 있다. 도 5와 도 6 및 도 7을 비교하면, 도 6에서의 제1 턱선(620)과 제2 턱선(640) 간의 곡률 차가 도 5의 제1 턱선(530)과 제2 턱선(570) 간의 곡률 차 보다 현격히 크고, 도 7에서의 제1 턱선(720)과 제2 턱선(740) 간의 곡률 차가 도 5의 제1 턱선(530)과 제2 턱선(570) 간의 곡률 차 보다 적은 것을 확인할 수 있다.
단계(S230)는 X선 영상에 근거하여 견치 정렬 오류를 분석하는 단계이다. 이 단계에서는, 견치 정렬 오류 분석부(125)에서 X선 영상에서 견치를 나타내는 영역을 검출하고 검출된 견치를 나타내는 영역의 분석에 기초하여 오류 데이터를 출력한다. 이를 위해, 검출된 견치를 나타내는 영역의 크기가 표준 견치 크기 값으로부터 제3 임계값 이상 벗어나는지를 판단할 수 있다. 여기서, 표준 견치 크기 값은 견치 정렬이 이루어진 상태에서 촬영된 전형적인 X선 영상들에서의 견치 크기 값들의 평균치와 같이 실험적으로 결정된 값일 수 있고, 제3 임계값은 통계적으로 결정된 값일 수 있다. 일 실시예에서, X선 영상에서 견치를 나타내는 영역의 분리는 투사 데이터를 생성하는 등의 영상 처리 과정을 통해서 이루어질 수 있다. 검출된 견치를 나타내는 영역의 크기가 표준 견치 크기 값으로부터 제3 임계값 이상 벗어나는 경우, 견치 정렬 오류 분석부(125)는 분석 대상의 X선 영상이 견치 정렬이 안된 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단하고 이에 따라 오류 데이터를 출력한다. 일 실시예에서, 오류 데이터는 오류의 종류(견치 정렬 오류), 해당 X선 영상의 일련번호, 해당 X선 영상이 촬영된 날자 및/또는 시간 등을 포함할 수 있다.
단계(S240)에서는, X선 영상에 근거하여 조사 조건 선택 오류를 분석한다. 이 단계에서는, 조사 조건 선택 오류 분석부(126)에서 X선 영상의 대표 휘도 값을 계산하고 계산된 대표 휘도 값의 분석에 기초하여 오류 데이터를 출력한다. 일 실시예에서, 대표 휘도 값은 X선 영상의 픽셀들의 휘도 값들의 평균 또는 합일 수 있으나, 대표 휘도 값이 이에 제한되는 것은 아니다. 전술한 분석을 위해, 조사 조건 선택 오류 분석부(126)는 상기 평균 또는 합이 표준 조사 조건 값으로부터 제4 임계값 이상 벗어나는지를 판단할 수 있다. 여기서, 표준 조사 조건 값은 해당 X선 촬영 장치의 제조자에 의해 권고된 값일 수 있고, 제4 임계값은 통계적으로 결정된 값 또는 제조자에 의해 권고된 편차 값일 수 있다. 상기 평균 또는 합이 표준 조사 조건 값으로부터 제4 임계값 이상 벗어나는 경우, 조사 조건 선택 오류 분석부(126)는 분석 대상의 X선 영상이, 노출 부족 또는 노출 과다로 조사 조건이 맞지 않은 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단하고 이에 따라 오류 데이터를 출력한다. 일 실시예에서, 오류 데이터는 오류의 종류(조사 조건 선택 오류), 해당 X선 영상의 일련번호, 해당 X선 영상이 촬영된 날자 및/또는 시간 등을 포함할 수 있다.
단계(S250)에서는, X선 영상에 근거하여 납복 착용 오류를 분석한다. 이 단계에서는, 납복 착용 오류 분석부(127)에서 X선 영상에서 납복을 나타내는 영역을 검출하고 이러한 검출에 응답하여 오류 데이터를 출력한다. 일 실시예에서, X선 영상의 하단부에 어두운 휘도 값을 가지는 영역(클러스터)이 있고 그 면적이 선정된 값 이상일 경우, 해당 영역이 납복을 올바로 착용하지 않고 촬영한 결과로 나타난 것이라 판단할 수 있다. 일 실시예에서, 오류 데이터는 오류의 종류(납복 착용 오류), 해당 X선 영상의 일련번호, 해당 X선 영상이 촬영된 날자 및/또는 시간 등을 포함할 수 있다.
단계(S260)에서는, X선 영상에 근거하여 프랑크포르트 라인 정렬 오류를 분석한다. 이 단계에서는, 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)에서 X선 영상에서 프랑크포르트 라인을 검출하여 검출된 프랑크포르트 라인의 분석에 기초하여 오류 데이터를 출력한다. 이를 위해, 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)에서는, 검출된 프랑크포르트 라인이 X선 영상에서의 가상의 수평선에 대해 기울어진 각도가 제5 임계값 이상인지를 판단할 수 있다. 여기서, 제5 임계값은 통계적으로 결정된 값일 수 있다. 검출된 프랑크포르트 라인이 X선 영상에서의 가상의 수평선에 대해 기울어진 각도가 제5 임계값 이상인 경우, 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)에서는 분석 대상의 X선 영상이 프랑크포르트 라인 정렬이 안된 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따라 프랑크포르트 라인 정렬 오류가 있는 것으로 분석된 X선 영상의 실시예들을 도시한 도 8 및 도 9를 참조하면, 도 8의 프랑크포르트 라인(810)의 경우 가상의 수평선에 대해 위 쪽으로 기울어져 있는데, 이는 고개를 든 상태에서 해당 X선 영상이 촬영된 것을 의미한다. 반면, 도 9의 프랑크포르트 라인(910)은 가상의 수평선에 대해 아래 쪽으로 기울어져 있는데, 이는 고개를 숙인 상태에서 해당 X선 영상이 촬영된 것을 의미한다. 어느 경우나 프랑크포르트 라인 정렬이 안된 상태에서 X선 촬영을 한 경우이다.
대안적으로, 이 단계에서는 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)에서 X선 영상에서 이마자와 이마 간의 영역을 검출하여 검출된 이마자와 이마 간의 영역의 분석에 기초하여 오류 데이터를 출력할 수 있다. 이를 위해, 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)에서는, 검출된 이마자와 이마 간의 영역의 면적이 표준 면적 값으로부터 제5 임계값 이상 벗어나는지를 판단할 수 있다. 여기서, 표준 면적 값은 프랑크포르트 라인 정렬이 이루어진 상태에서 촬영된 전형적인 X선 영상들에서의 이마자와 이마 간의 영역의 면적 값들의 평균치와 같이 실험적으로 결정된 값일 수 있고, 제5 임계값은 통계적으로 결정된 값일 수 있다. 검출된 이마자와 이마 간의 영역의 면적이 표준 면적 값으로부터 제5 임계값 이상 벗어나는 경우, 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부(128)에서는 분석 대상의 X선 영상이 프랑크포르트 라인 정렬이 안된 상태로 촬영된 X선 영상인 것으로 판단하고 이에 따라 오류 데이터를 출력할 수 있다. 일 실시예에서, 오류 데이터는 오류의 종류(프랑크포르트 라인 정렬 오류), 해당 X선 영상의 일련번호, 해당 X선 영상이 촬영된 날자 및/또는 시간 등을 포함할 수 있다. 도 8 및 도 9를 다시 참조하면, 도 8의 이마자와 이마 간의 영역(830)의 면적은 표준 면적 값보다 크고, 도 9의 이마자와 이마 간의 영역(930)의 면적은 표준 면적 값보다 적은 것을 확인할 수 있다. 어느 경우나 프랑크포르트 라인 정렬이 안된 상태에서 X선 촬영을 한 경우이다.
이상으로, 단계(S210) 내지 단계(S260)를 통해, X선 촬영 시에 환자가 올바른 자세를 취하지 않았는지의 여부, 납복 착용을 올바로 하지 않았는지의 여부 그리고 촬영 조건 선택을 잘못하였는지의 여부를 촬영된 X선 영상으로부터 식별해 내는 것에 대해 설명하였으나, 단계(S210) 내지 단계(S260)가 반드시 위에서 설명한 순서대로 수행되어야 하는 것이 아님을 인식하여야 한다. 당업자는 단계(S210) 내지 단계(S260)를 임의의 순서로 수행하여도 본 발명의 사상을 그대로 이용하는 것임을 이해할 수 있을 것이다. 또한 단계(S210) 내지 단계(S260)의 모든 단계가 반드시 수행되어야 하는 것이 아님을 인식하여야 한다. 본 발명의 범위는 단계(S210) 내지 단계(S260)의 적어도 하나의 단계를 수행하는 경우를 포괄하는 것으로 이해되어야 한다.
다음으로, 단계(S270)에서는 단계(S210) 내지 단계(S260)의 적어도 한 단계에서 오류 데이터가 출력되는 경우, 오류 데이터 기록부(129)에 의해 해당 오류 데이터를 저장부(130)에 기록한다. 오류 데이터는 수평 정렬 오류 데이터, 수직 정렬 오류 데이터, 견치 정렬 오류 데이터, 조사 조건 선택 오류 데이터, 납복 착용 오류 데이터 및 프랑크포르트 라인 정렬 오류 데이터를 포함할 수 있다. 전술한 바와 같이, 각 오류 데이터는 해당 오류가 검출된 X선 영상의 일련번호, 해당 X선 영상이 촬영된 날자 및/또는 시간 등을 포함할 수 있다. X선 장비의 운용자는 이와 같이 기록된 오류 데이터를 참조함으로써 특정 일자/시간에 촬영된 특정 X선 영상이 어떠한 오류로 인해 잘못 촬영되었는지를 확인할 수 있게 된다.
본원에 개시된 실시예들에 있어서, 도시된 구성 요소들의 배치는 발명이 구현되는 환경 또는 요구 사항에 따라 달라질 수 있다. 예컨대, 일부 구성 요소가 생략되거나 몇몇 구성 요소들이 통합되어 하나로 실시될 수 있다. 또한 일부 구성 요소들의 배치 순서 및 연결이 변경될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 다양한 실시예들에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예들에 한정되지 아니하며, 상술한 실시예들은 첨부하는 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양하게 변형 실시될 수 있음은 물론이고, 이러한 변형 실시예들이 본 발명의 기술적 사상이나 범위와 별개로 이해되어져서는 아니 될 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 오직 첨부된 특허청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.
100: 촬영 자세/조건 오류 분석 장치
110: 입력 인터페이스
120: 영상 처리부
130: 저장부
140: 디스플레이부
122: 오류 데이터 출력부
123: 수평 정렬 오류 분석부
124: 수직 정렬 오류 분석부
125: 견치 정렬 오류 분석부
126: 조사 조건 선택 오류 분석부
127: 납복 착용 오류 분석부
128: 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부
129: 오류 데이터 기록부
110: 입력 인터페이스
120: 영상 처리부
130: 저장부
140: 디스플레이부
122: 오류 데이터 출력부
123: 수평 정렬 오류 분석부
124: 수직 정렬 오류 분석부
125: 견치 정렬 오류 분석부
126: 조사 조건 선택 오류 분석부
127: 납복 착용 오류 분석부
128: 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부
129: 오류 데이터 기록부
Claims (14)
- X선 영상에 근거하여 촬영 자세/조건 오류를 분석하는 장치로서,
X선 영상을 분석하여 촬영 자세 및/또는 촬영 조건이 잘못되었음을 나타내는 오류 데이터를 출력하도록 구성된 오류 데이터 출력부, 및
상기 오류 데이터를 기록하도록 구성된 오류 데이터 기록부를 포함하고,
상기 오류 데이터 출력부는, 상기 X선 영상에 근거하여 수평 정렬 오류를 분석하도록 구성된 수평 정렬 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 수직 정렬 오류를 분석하도록 구성된 수직 정렬 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 견치 정렬 오류를 분석하도록 구성된 견치 정렬 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 조사 조건 선택 오류를 분석하도록 구성된 조사 조건 선택 오류 분석부, 상기 X선 영상에 근거하여 납복 착용 오류를 분석하도록 구성된 납복 착용 오류 분석부 및 상기 X선 영상에 근거하여 프랑크포르트 라인 정렬 오류를 분석하도록 구성된 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부 중 적어도 하나를 포함하는, 촬영 자세/조건 오류 분석 장치. - 제1항에 있어서,
상기 수평 정렬 오류 분석부는, 상기 X선 영상에서 치아의 교합면을 나타내는 교합면 선을 검출하고, 상기 검출된 교합면 선을 표준 교합면 선과 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하도록 구성되는, 촬영 자세/조건 오류 분석 장치. - 제1항에 있어서,
상기 수직 정렬 오류 분석부는, 상기 X선 영상에서 좌측 턱선 및 우측 턱선을 검출하여 제1 및 제2 턱선을 각각 생성하고 상기 생성된 제1 및 제2 턱선과 표준 좌우 턱선을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하도록 구성되는, 촬영 자세/조건 오류 분석 장치. - 제1항에 있어서,
상기 견치 정렬 오류 분석부는, 상기 X선 영상에서 견치를 나타내는 영역을 검출하고 상기 검출된 견치를 나타내는 영역의 크기와 표준 견치 크기를 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하도록 구성되는, 촬영 자세/조건 오류 분석 장치. - 제1항에 있어서,
상기 조사 조건 선택 오류 분석부는, 상기 X선 영상의 휘도 값을 기초로 상기 오류 데이터를 출력하도록 구성되는, 촬영 자세/조건 오류 분석 장치. - 제1항에 있어서,
상기 납복 착용 오류 분석부는, 상기 X선 영상에서 납복을 나타내는 영역을 검출하고 상기 검출에 응답하여 상기 오류 데이터를 출력하도록 더 구성되는, 촬영 자세/조건 오류 분석 장치. - 제1항에 있어서,
상기 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석부는, 상기 X선 영상에서 프랑크포르트 라인(Frankfort line)을 검출하여 검출된 프랑크포르트 라인과 가상의 수평선을 비교하거나, 이마자와 이마 간의 영역을 검출하여 상기 검출된 이마자와 이마 간의 영역과 표준 면적을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하도록 더 구성되는, 촬영 자세/조건 오류 분석 장치. - X선 영상에 근거하여 촬영 자세/조건 오류를 분석하는 방법으로서,
X선 영상을 분석하여 촬영 자세 및/또는 촬영 조건이 잘못되었음을 나타내는 오류 데이터를 출력하는 단계, 및
상기 오류 데이터를 기록하는 단계를 포함하고,
상기 오류 데이터를 출력하는 단계는, 상기 X선 영상에 근거하여 수평 정렬 오류를 분석하는 단계, 상기 X선 영상에 근거하여 수직 정렬 오류를 분석하는 단계, 상기 X선 영상에 근거하여 견치 정렬 오류를 분석하는 단계, 상기 X선 영상에 근거하여 조사 조건 선택 오류를 분석하는 단계, 상기 X선 영상에 근거하여 납복 착용 오류를 분석하는 단계 및 상기 X선 영상에 근거하여 프랑크포르트 라인 정렬 오류를 분석하는 단계 중 적어도 하나를 포함하는, 촬영 자세/조건 오류 분석 방법. - 제8항에 있어서,
상기 수평 정렬 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상에서 치아의 교합면을 나타내는 교합면 선을 검출하고 상기 검출된 교합면 선과 표준 교합면 선을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함하는, 촬영 자세/조건 오류 분석 장치. - 제8항에 있어서,
상기 수직 정렬 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상에서 좌측 턱선 및 우측 턱선을 검출하여 제1 및 제2 턱선을 각각 생성하고 상기 생성된 제1 및 제2 턱선과 표준 좌우 턱선을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함하는, 촬영 자세/조건 오류 분석 방법. - 제8항에 있어서,
상기 견치 정렬 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상에서 견치를 나타내는 영역을 검출하고 상기 검출된 견치를 나타내는 영역과 표준 견치 크기값을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함하는, 촬영 자세/조건 오류 분석 방법. - 제8항에 있어서,
상기 조사 조건 선택 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상의 휘도 값을 기초로 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함하는, 촬영 자세/조건 오류 분석 방법. - 제8항에 있어서,
상기 납복 착용 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상에서 납복을 나타내는 영역을 검출하고 상기 검출에 응답하여 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함하는, 촬영 자세/조건 오류 분석 방법. - 제8항에 있어서,
상기 프랑크포르트 라인 정렬 오류 분석 단계는, 상기 X선 영상에서 프랑크포르트 라인(Frankfort line)을 검출하여 상기 검출된 프랑크포르트 라인과 가상의 수평선을 비교하거나, 이마자와 이마 간의 영역을 검출하여 상기 검출된 이마자와 이마 간의 영역과 표준 면적값을 비교하여 상기 오류 데이터를 출력하는 단계를 포함하는, 촬영 자세/조건 오류 분석 방법.
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