KR20170076955A - 특허 침해 리스크 분석 시스템 및 방법 - Google Patents

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Abstract

특허 침해 리스크 분석 시스템 및 방법이 개시된다. 상기 특허 침해 리스크 분석 방법은, 수치 구성을 포함하는 발명의 침해 리스크 분석 방법에 있어서, 대상 발명의 구성 성분 및 상기 구성 성분의 수치 범위를 입력받는 단계; 기 구축된 특허 데이터베이스에서 상기 구성 성분 및 수치 범위를 포함하는 하나 이상의 특허 문헌을 검색하는 단계; 상기 하나 이상의 특허 문헌에 개시된 발명에 대한 침해 리스크를 평가하는 단계; 및 상기 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이하는 단계를 포함할 수 있다.

Description

특허 침해 리스크 분석 시스템 및 방법 {SYSTEM AND METHOD OF ANALYZING RISKS OF PATENT INFRINGEMENT}
본 출원은 특허 침해 리스크 분석 시스템 및 방법에 관한 것이다.
기술 발전과 더불어 특허에 대한 관심이 높아지고 있으며, 특허와 관련된 분쟁도 증가하고 있는 실정이다. 특허침해가 문제되면, 해당 기업은 소모적인 쟁송에 휘말리게 되고, 특허침해행위 중단과 더불어 막대한 배상금을 지급하게 될 수도 있어, 큰 피해를 입을 수 있다.
따라서, 새로운 제품 또는 기술을 개발 또는 실시코자 하는 경우, 이에 대한 특허 침해 리스크를 사전에 분석하여 검증할 필요성이 있다. 그러나, 비전문가의 입장에서 특허 침해 리스크를 정확하게 분석하는 것은 어려움이 있고, 이를 전문가에게 의뢰하는 것은 시간과 비용 측면에서 큰 부담이 될 수 있다.
당해 기술분야에서는 수치 구성을 포함하는 발명에 대한 침해 리스크를 보다 용이하면서도 정확하게 분석하기 위한 방안이 요구되고 있다.
상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명의 일 실시예는 특허 침해 리스크 분석 시스템을 제공한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 특허 침해 리스크 분석 시스템은, 수치 구성을 포함하는 대상 발명의 구성 성분 및 상기 구성 성분의 수치 범위를 입력받는 입력부; 기 구축된 특허 데이터베이스에서 상기 구성 성분 및 수치 범위를 포함하는 하나 이상의 특허 문헌을 검색하는 검색부; 상기 하나 이상의 특허 문헌에 개시된 발명에 대한 침해 리스크를 평가하는 리스크 평가부; 및 상기 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이하는 디스플레이부를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예는 특허 침해 리스크 분석 방법을 제공한다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 특허 침해 리스크 분석 방법은, 수치 구성을 포함하는 발명의 침해 리스크 분석 방법에 있어서, 대상 발명의 구성 성분 및 상기 구성 성분의 수치 범위를 입력받는 단계; 기 구축된 특허 데이터베이스에서 상기 구성 성분 및 수치 범위를 포함하는 하나 이상의 특허 문헌을 검색하는 단계; 상기 하나 이상의 특허 문헌에 개시된 발명에 대한 침해 리스크를 평가하는 단계; 및 상기 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이하는 단계를 포함할 수 있다.
덧붙여 상기한 과제의 해결수단은, 본 발명의 특징을 모두 열거한 것이 아니다. 본 발명의 다양한 특징과 그에 따른 장점과 효과는 아래의 구체적인 실시형태를 참조하여 보다 상세하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 수치 구성을 포함하는 발명에 대한 침해 리스크를 보다 용이하면서도 정확하게 분석할 수 있게 된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 특허 침해 리스크 분석 방법의 흐름도이다.
도 2는 도 1에 도시된 S10 단계의 상세 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 특허 침해 리스크 분석 시스템의 구성도이다.
도 4는 본 명세서에 개진된 하나 이상의 실시예가 구현될 수 있는 예시적인 컴퓨팅 환경을 도시하는 도면이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 다만, 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도면 전체에 걸쳐 동일한 부호를 사용한다.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 '연결'되어 있다고 할 때, 이는 '직접적으로 연결'되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 '간접적으로 연결'되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 어떤 구성요소를 '포함'한다는 것은, 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 특허 침해 리스크 분석 방법의 흐름도이고, 도 2는 도 1에 도시된 S10 단계의 상세 흐름도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 특허 침해 리스크 분석 방법은, 대상 발명의 구성 성분 및 이의 수치 범위를 입력받는 단계(S10), 특허 데이터베이스에서 입력된 구성 성분 및 수치 범위를 포함하는 하나 이상의 특허 문헌을 검색하는 단계(S20), 검색된 하나 이상의 특허 문헌에 개시된 발명에 대한 침해 리스크를 평가하는 단계(S30) 및 검색된 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이하는 단계(S40)를 포함할 수 있다.
구체적으로, 대상 발명의 구성 성분 및 이의 수치 범위를 입력받는 단계(S10)에서, 대상 발명은 개발 또는 실시하고자 하여 특허 침해 리스크의 분석이 필요한 기술일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 대상 발명의 구성 성분 및 이의 수치 범위를 입력받기 위해서, 도 2에 도시된 바와 같이, 하나 이상의 구성 성분 및 이의 수치 범위을 하나의 문자열로 입력받은 후(S11), 입력된 문자열에서 하나 이상의 구성 성분 및 수치 범위를 추출할 수 있다(S12). 이를 위해, 일단 입력된 문자열에서 하나 이상의 구성 성분을 추출하고, 추출된 구성 성분을 기준으로 하여 문자열에서 기 설정된 거리(예를 들어, 수 글자 등) 이내에서 추출된 수치 범위를 상기 추출된 구성 성분의 수치 범위로 추출할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 대상 발명의 구성 성분 및 이의 수치 범위를 입력받기 위해서, 하나 이상의 구성 성분 및 이의 수치 범위를 각각 입력받을 수도 있다.
또한, 도 1에 도시되지는 않았지만, 대상 발명의 구성 성분 및 이의 수치 범위에 더하여, 대상 발명의 기술 범주 정보를 추가로 입력받을 수도 있다.
이후, 특허 데이터베이스에서 입력된 구성 성분 및 수치 범위를 포함하는 하나 이상의 특허 문헌을 검색하는 단계(S20)에서, 특허 데이터베이스는 본 발명의 실시 주체에 의해 후술하는 특허 침해 리스크 분석 시스템(30) 내에 또는 이와 별도로 기 구축된 특허 데이터베이스일 수 있다. 또한, 특허 데이터베이스는 별도의 주체(예를 들어, 특허 정보를 제공하는 기관 또는 업체)에 의해 구축된 특허 데이터베이스일 수도 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 하나 이상의 특허 문헌을 검색하는 단계(S20)는 특허 데이터베이스에 저장된 특허문헌의 특허청구범위가 상기 입력된 구성 성분 및 수치 범위를 포함하는지 여부를 판단하여 이를 포함하는 하나 이상의 특허 문헌을 검색할 수 있다.
이후, 검색된 하나 이상의 특허 문헌에 개시된 발명에 대한 침해 리스크를 평가하는 단계(S30)에서는, 검색된 하나 이상의 특허 문헌에 개시된 각각의 발명에 대한 침해 리스크를 평가할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 다음의 수식에 의해 각 발명에 대한 침해 리스크를 평가할 수 있다.
[수식]
침해 리스크 점수 = n * R * S / N
여기서, n은 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 구성 요소 중에서 입력된 대상 발명의 구성 성분 또는 수치 범위와 일치하는 구성 요소의 개수를 의미하고, R은 검색된 특허 문헌에 개시된 발명과 대상 발명의 기술 분류 유사도(사전 설정된 값)를 의미하고, S는 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 권리 상태에 따라 기 설정된 값을 의미하고, N은 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 총 구성 요소의 개수를 의미한다.
이후, 검색된 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이하는 단계(S40)에서, 검색된 하나 이상의 특허 문헌 각각에 대한 서지사항, 침해 리스크 점수 및 발명의 구성 요소를 포함하는 각종 정보를 디스플레이할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 검색된 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이함에 있어서, 평가된 침해 리스크가 높은 순으로 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이할 수 있다.
상술한 바와 같은 특허 침해 리스크 분석 방법은 도 3을 참조하여 후술하는 특허 침해 리스크 분석 시스템(30)에 의해 수행될 수 있다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 특허 침해 리스크 분석 시스템의 구성도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 특허 침해 리스크 분석 시스템(30)은 입력부(31), 검색부(32), 리스크 평가부(33) 및 디스플레이부(34)를 포함할 수 있다.
입력부(31)는 수치 구성을 포함하는 대상 발명의 구성 성분 및 이의 수치 범위를 입력받기 위한 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 입력부(31)는 하나 이상의 구성 성분 및 이의 수치 범위을 하나의 문자열로 입력받고, 입력된 문자열에서 하나 이상의 구성 성분 및 수치 범위를 추출할 수 있다. 이를 위해, 일단 입력된 문자열에서 하나 이상의 구성 성분을 추출하고, 추출된 구성 성분을 기준으로 하여 문자열에서 기 설정된 거리(예를 들어, 수 글자 등) 이내에서 추출된 수치 범위를 상기 추출된 구성 성분의 수치 범위로 추출할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 입력부(31)는 대상 발명의 구성 성분 및 이의 수치 범위를 입력받기 위해서, 하나 이상의 구성 성분 및 이의 수치 범위를 각각 입력받을 수도 있다.
또한, 입력부(31)는 대상 발명의 구성 성분 및 이의 수치 범위에 더하여, 대상 발명의 기술 범주 정보를 추가로 입력받을 수도 있다.
검색부(32)는 특허 데이터베이스(40)에서 입력부(31)에 의해 입력된 대상 발명의 구성 성분 및 이의 수치 범위를 포함하는 하나 이상의 특허 문헌을 검색하기 위한 것이다.
여기서, 특허 데이터베이스(40)는 본 발명의 실시 주체에 의해 특허 침해 리스크 분석 시스템(30) 내에 또는 이와 별도로 기 구축된 특허 데이터베이스일 수 있다. 또한, 특허 데이터베이스(40)는 별도의 주체(예를 들어, 특허 정보를 제공하는 기관 또는 업체)에 의해 구축된 특허 데이터베이스일 수도 있다. 이처럼 특허 데이터베이스(40)가 특허 침해 리스크 분석 시스템(30)과 별도로 구축된 경우, 특허 침해 리스크 분석 시스템(30)와 특허 데이터베이스(40)는 네트워크를 통해 연결되어 특허 검색을 수행할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 검색부(32)는 특허 데이터베이스(40)에 저장된 특허문헌의 특허청구범위가 상기 입력된 구성 성분 및 수치 범위를 포함하는지 여부를 판단하여 이를 포함하는 하나 이상의 특허 문헌을 검색할 수 있다.
리스크 평가부(33)는 검색부(32)에 의해 검색된 하나 이상의 특허 문헌에 개시된 발명에 대한 침해 리크스를 평가하기 위한 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 리스크 평가부(33)는 다음의 수식에 의해 각 발명에 대한 침해 리스크를 평가할 수 있다.
[수식]
침해 리스크 점수 = n * R * S / N
여기서, n은 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 구성 요소 중에서 입력된 대상 발명의 구성 성분 또는 수치 범위와 일치하는 구성 요소의 개수를 의미하고, R은 검색된 특허 문헌에 개시된 발명과 대상 발명의 기술 분류 유사도(사전 설정된 값)를 의미하고, S는 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 권리 상태에 따라 기 설정된 값을 의미하고, N은 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 총 구성 요소의 개수를 의미한다.
디스플레이부(34)는 검색부(32)에 의해 검색된 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이하기 위한 것이다.
예를 들어, 디스플레이부(34)는 검색된 하나 이상의 특허 문헌 각각에 대한 서지사항, 침해 리스크 점수 및 발명의 구성 요소를 포함하는 각종 정보를 디스플레이할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 디스플레이부(34)는 검색된 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이함에 있어서, 평가된 침해 리스크가 높은 순으로 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이할 수 있다.
도 4는 본 명세서에 개진된 하나 이상의 실시예가 구현될 수 있는 예시적인 컴퓨팅 환경을 도시하는 도면으로, 상술한 하나 이상의 실시예를 구현하도록 구성된 컴퓨팅 디바이스(1100)를 포함하는 시스템(1000)의 예시를 도시한다. 예를 들어, 컴퓨팅 디바이스(1100)는 개인 컴퓨터, 서버 컴퓨터, 핸드헬드 또는 랩탑 디바이스, 모바일 디바이스(모바일폰, PDA, 미디어 플레이어 등), 멀티프로세서 시스템, 소비자 전자기기, 미니 컴퓨터, 메인프레임 컴퓨터, 임의의 전술된 시스템 또는 디바이스를 포함하는 분산 컴퓨팅 환경 등을 포함하지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다.
컴퓨팅 디바이스(1100)는 적어도 하나의 프로세싱 유닛(1110) 및 메모리(1120)를 포함할 수 있다. 여기서, 프로세싱 유닛(1110)은 예를 들어 중앙처리장치(CPU), 그래픽처리장치(GPU), 마이크로프로세서, 주문형 반도체(Application Specific Integrated Circuit, ASIC), Field Programmable Gate Arrays(FPGA) 등을 포함할 수 있으며, 복수의 코어를 가질 수 있다. 메모리(1120)는 휘발성 메모리(예를 들어, RAM 등), 비휘발성 메모리(예를 들어, ROM, 플래시 메모리 등) 또는 이들의 조합일 수 있다.
또한, 컴퓨팅 디바이스(1100)는 추가적인 스토리지(1130)를 포함할 수 있다. 스토리지(1130)는 자기 스토리지, 광학 스토리지 등을 포함하지만 이것으로 한정되지 않는다. 스토리지(1130)에는 본 명세서에 개진된 하나 이상의 실시예를 구현하기 위한 컴퓨터 판독 가능한 명령이 저장될 수 있고, 운영 시스템, 애플리케이션 프로그램 등을 구현하기 위한 다른 컴퓨터 판독 가능한 명령도 저장될 수 있다. 스토리지(1130)에 저장된 컴퓨터 판독 가능한 명령은 프로세싱 유닛(1110)에 의해 실행되기 위해 메모리(1120)에 로딩될 수 있다.
또한, 컴퓨팅 디바이스(1100)는 입력 디바이스(들)(1140) 및 출력 디바이스(들)(1150)을 포함할 수 있다. 여기서, 입력 디바이스(들)(1140)은 예를 들어 키보드, 마우스, 펜, 음성 입력 디바이스, 터치 입력 디바이스, 적외선 카메라, 비디오 입력 디바이스 또는 임의의 다른 입력 디바이스 등을 포함할 수 있다. 또한, 출력 디바이스(들)(1150)은 예를 들어 하나 이상의 디스플레이, 스피커, 프린터 또는 임의의 다른 출력 디바이스 등을 포함할 수 있다. 또한, 컴퓨팅 디바이스(1100)는 다른 컴퓨팅 디바이스에 구비된 입력 디바이스 또는 출력 디바이스를 입력 디바이스(들)(1140) 또는 출력 디바이스(들)(1150)로서 사용할 수도 있다.
또한, 컴퓨팅 디바이스(1100)는 컴퓨팅 디바이스(1100)가 다른 디바이스(예를 들어, 컴퓨팅 디바이스(1300))와 통신할 수 있게 하는 통신접속(들)(1160)을 포함할 수 있다. 여기서, 통신 접속(들)(1160)은 모뎀, 네트워크 인터페이스 카드(NIC), 통합 네트워크 인터페이스, 무선 주파수 송신기/수신기, 적외선 포트, USB 접속 또는 컴퓨팅 디바이스(1100)를 다른 컴퓨팅 디바이스에 접속시키기 위한 다른 인터페이스를 포함할 수 있다. 또한, 통신 접속(들)(1160)은 유선 접속 또는 무선 접속을 포함할 수 있다.
상술한 컴퓨팅 디바이스(1100)의 각 구성요소는 버스 등의 다양한 상호접속(예를 들어, 주변 구성요소 상호접속(PCI), USB, 펌웨어(IEEE 1394), 광학적 버스 구조 등)에 의해 접속될 수도 있고, 네트워크(1200)에 의해 상호접속될 수도 있다.
본 명세서에서 사용되는 "구성요소", "모듈", "시스템", "인터페이스" 등과 같은 용어들은 일반적으로 하드웨어, 하드웨어와 소프트웨어의 조합, 소프트웨어, 또는 실행중인 소프트웨어인 컴퓨터 관련 엔티티를 지칭하는 것이다. 예를 들어, 구성요소는 프로세서 상에서 실행중인 프로세스, 프로세서, 객체, 실행 가능물(executable), 실행 스레드, 프로그램 및/또는 컴퓨터일 수 있지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 컨트롤러 상에서 구동중인 애플리케이션 및 컨트롤러 모두가 구성요소일 수 있다. 하나 이상의 구성요소는 프로세스 및/또는 실행의 스레드 내에 존재할 수 있으며, 구성요소는 하나의 컴퓨터 상에서 로컬화될 수 있고, 둘 이상의 컴퓨터 사이에서 분산될 수도 있다.
본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니다. 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명에 따른 구성요소를 치환, 변형 및 변경할 수 있다는 것이 명백할 것이다.
30: 특허 침해 리스크 분석 시스템
31: 입력부
32: 검색부
33: 리스크 평가부
34: 디스플레이부
40: 특허 DB
1100: 컴퓨팅 디바이스
1110: 프로세싱 유닛
1120: 메모리
1130: 스토리지
1140: 입력 디바이스
1150: 출력 디바이스
1160: 통신 접속
1200: 네트워크

Claims (16)

  1. 수치 구성을 포함하는 발명의 침해 리스크 분석 방법에 있어서,
    대상 발명의 구성 성분 및 상기 구성 성분의 수치 범위를 입력받는 단계;
    기 구축된 특허 데이터베이스에서 상기 구성 성분 및 수치 범위를 포함하는 하나 이상의 특허 문헌을 검색하는 단계;
    상기 하나 이상의 특허 문헌에 개시된 발명에 대한 침해 리스크를 평가하는 단계; 및
    상기 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이하는 단계를 포함하는 특허 침해 리스크 분석 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 입력받는 단계는,
    하나 이상의 구성 성분 및 상기 하나 이상의 구성 성분의 수치 범위을 하나의 문자열로 입력받는 단계; 및
    상기 문자열에서 상기 하나 이상의 구성 성분 및 수치 범위를 추출하는 단계를 포함하는 특허 침해 리스크 분석 방법.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 추출하는 단계는,
    상기 하나 이상의 구성 성분을 추출하고, 상기 문자열에서 추출된 구성 성분을 기준으로 기 설정된 거리 이내에서 추출된 수치 범위를 상기 추출된 구성 성분의 수치 범위로 추출하는 특허 침해 리스크 분석 방법.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 입력받는 단계는,
    하나 이상의 구성 성분 및 상기 하나 이상의 구성 성분의 수치 범위을 각각 입력받는 특허 침해 리스크 분석 방법.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 입력받는 단계는,
    상기 대상 발명의 기술 범주 정보를 더 입력받는 특허 침해 리스크 분석 방법.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 침해 리스크를 평가하는 단계는,
    다음의 수식
    침해 리스크 점수 = n * R * S / N
    에 따라 검색된 각각의 특허 문헌에 개시된 발명에 대한 침해 리스크를 평가하며, n은 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 구성 요소 중에서 입력된 상기 대상 발명의 구성 성분 또는 수치 범위와 일치하는 구성 요소의 개수, R은 상기 검색된 특허 문헌에 개시된 발명과 상기 대상 발명의 기술 분류 유사도, S는 상기 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 권리 상태에 따라 기 설정된 값, 그리고 N은 상기 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 총 구성 요소의 개수를 의미하는 특허 침해 리스크 분석 방법.
  7. 제 1 항에 있어서, 디스플레이하는 단계는,
    상기 하나 이상의 특허 문헌 각각에 대한 서지사항, 침해 리스크 점수 및 발명의 구성 요소를 디스플레이하는 특허 침해 리스크 분석 방법.
  8. 제 1 항에 있어서, 디스플레이하는 단계는,
    평가된 침해 리스크가 높은 순으로 상기 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이하는 특허 침해 리스크 분석 방법.
  9. 수치 구성을 포함하는 대상 발명의 구성 성분 및 상기 구성 성분의 수치 범위를 입력받는 입력부;
    기 구축된 특허 데이터베이스에서 상기 구성 성분 및 수치 범위를 포함하는 하나 이상의 특허 문헌을 검색하는 검색부;
    상기 하나 이상의 특허 문헌에 개시된 발명에 대한 침해 리스크를 평가하는 리스크 평가부; 및
    상기 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이하는 디스플레이부를 포함하는 특허 침해 리스크 분석 시스템.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 입력부는 하나 이상의 구성 성분 및 상기 하나 이상의 구성 성분의 수치 범위을 하나의 문자열로 입력받고, 상기 문자열에서 상기 하나 이상의 구성 성분 및 수치 범위를 추출하는 특허 침해 리스크 분석 시스템.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 입력부는 상기 하나 이상의 구성 성분을 추출하고 상기 문자열에서 추출된 구성 성분을 기준으로 기 설정된 거리 이내에서 추출된 수치 범위를 상기 추출된 구성 성분의 수치 범위로 추출하는 특허 침해 리스크 분석 시스템.
  12. 제 9 항에 있어서,
    상기 입력부는 하나 이상의 구성 성분 및 상기 하나 이상의 구성 성분의 수치 범위을 각각 입력받는 특허 침해 리스크 분석 시스템.
  13. 제 9 항에 있어서,
    상기 입력부는 상기 대상 발명의 기술 범주 정보를 더 입력받는 특허 침해 리스크 분석 시스템.
  14. 제 9 항에 있어서,
    상기 리스크 평가부는 다음의 수식
    침해 리스크 점수 = n * R * S / N
    에 따라 검색된 각각의 특허 문헌에 개시된 발명에 대한 침해 리스크를 평가하며, n은 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 구성 요소 중에서 입력된 상기 대상 발명의 구성 성분 또는 수치 범위와 일치하는 구성 요소의 개수, R은 상기 검색된 특허 문헌에 개시된 발명과 상기 대상 발명의 기술 분류 유사도, S는 상기 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 권리 상태에 따라 기 설정된 값, 그리고 N은 상기 검색된 특허 문헌에 개시된 발명의 총 구성 요소의 개수를 의미하는 특허 침해 리스크 분석 시스템.
  15. 제 9 항에 있어서,
    상기 디스플레이부는 상기 하나 이상의 특허 문헌 각각에 대한 서지사항, 침해 리스크 점수 및 발명의 구성 요소를 디스플레이하는 특허 침해 리스크 분석 시스템.
  16. 제 9 항에 있어서,
    상기 디스플레이부는 상기 리스크 평가부에 의해 평가된 침해 리스크가 높은 순으로 상기 하나 이상의 특허 문헌을 디스플레이하는 특허 침해 리스크 분석 시스템.
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