KR20170074121A - Flip chip mounting appratus - Google Patents

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Abstract

본 발명은 플립칩 실장장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 웨이퍼에서 픽업된 소자를 플립 후 기판에 실장하는 플립칩 실장장치에 관한 것이다. 본 발명은, 로딩부재(60)를 수평방향으로 이동하는 로딩부재테이블(200)과; 로딩부재(60)에 적재된 소자(1)를 픽업위치 ①에서 픽업하고 픽업된 소자(1)를 플립하여 로딩부재테이블(200)의 일측에 위치된 전달위치 ②로 이동하는 플립모듈(400)과; 전달위치 ②와 간격을 두고 설치되며 전달위치 ②에 위치된 플립모듈(400)로부터 전달받은 소자(1)가 실장되는 기판(2)이 위치되는 실장부(500)와; 전달위치 및 실장부(500) 사이에 설치되며 실장부(500)에 위치된 기판(2)에 실장되기 전에 소자(1)의 저면이 디핑되는 플럭스가 담긴 플럭스디핑부(700)와; 전달위치 ②, 플럭스디핑부(700) 및 실장부(500)으로 순차적으로 이동된 후 다시 전달위치 ②로 이동되도록 설치되며, 전달위치 ②에서 하나 이상의 소자(1)의 픽업, 플럭스디핑부(700)에서 소자(1)의 플럭스 디핑, 실장부(500)에서 소자(1)의 실장을 수행하는 한 쌍의 소자이송툴(600)을 포함하며, 한 쌍의 소자이송툴(600)은, 전달위치 ②, 플럭스디핑부(700) 및 실장부(500)으로 순차적으로 이동된 후 다시 전달위치 ②로의 이동이 서로 순차적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 플립칩 실장장치를 개시한다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flip chip mounting apparatus, and more particularly, to a flip chip mounting apparatus for mounting an element picked up on a wafer onto a substrate after flip. The present invention includes a loading member table (200) for moving the loading member (60) in a horizontal direction; The flip module 400 picks up the element 1 loaded on the loading member 60 at the pickup position 1 and flips the picked up element 1 to move to the transfer position 2 located at one side of the loading member table 200, and; A mounting portion 500 spaced from the transfer position 2 and on which the substrate 2 to be mounted with the device 1 transferred from the flip module 400 located at the transfer position 2 is located; A flux dipping portion 700 provided between the transfer position and the mounting portion 500 and containing a flux to which the bottom surface of the element 1 is dipped before being mounted on the substrate 2 located in the mounting portion 500; The flux dipping unit 700 and the mounting unit 500 are sequentially moved to the transfer position 2, the flux dipping unit 700 and the mounting unit 500, And a pair of element transferring tools 600 for performing flux dipping of the element 1 in the mounting portion 500 and mounting of the element 1 in the mounting portion 500, Position 2, the flux dipping unit 700, and the mounting unit 500, and then moved back to the transfer position 2 sequentially.

Description

플립칩 실장장치 {Flip chip mounting appratus}Flip chip mounting appratus < RTI ID = 0.0 >

본 발명은 플립칩 실장장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 웨이퍼에서 픽업된 소자를 플립 후 기판(Substrate)에 실장하는 플립칩 실장장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a flip chip mounting apparatus, and more particularly, to a flip chip mounting apparatus for mounting an element picked up on a wafer onto a substrate after flipping.

반도체소자는, 나노공정 등 미세공정이 발전하면서 전체 크기가 기존에 비하여 현저히 작아지는 추세에 있다.In semiconductor devices, as microprocesses such as nano processes are developed, the overall size thereof is remarkably smaller than that of conventional semiconductor devices.

또한 스마트폰의 발전 및 스마트폰의 박형화 추세에 따라 스마트폰, 스마트시계 등에 사용되는 경우 소자의 크기는 물론 두께의 최소화가 요구되고 있다.In addition, according to the development of the smartphone and the trend of the thinning of the smartphone, when it is used in a smart phone, a smart watch, etc., it is required to minimize the thickness of the device as well as the size thereof.

이러한 추세 및 요구에 부응하여, 반도체 소자는 소잉공정 후 본더에 의하여 몰딩 등에 의한 패키징 공정을 수행하는 대신에 웨이퍼 수준에서 패키징 공정까지 수행한 후 소잉공정을 통하여 개별 소자로 패키지화하는 기술, 소위 WL-CSP (Wafer level chip scale pacake)이 등록특허 제10-1088205호에서와 같이 사용되고 있다.In response to such trends and demands, the semiconductor device is manufactured by a bonder after the sowing process, a technique of performing the packaging process from the wafer level to the packaging process by the molding process instead of the packaging process, A wafer level chip scale pacque (CSP) is used as in Patent No. 10-1088205.

한편, WL-CSP 소자를 형성함에 있어 소자가 소형인 경우 웨이퍼 수준에서 볼단자를 형성하는데 많은 제약이 있어 소자 제조공정이 어려운 문제점이 있다.On the other hand, when the device is small in forming a WL-CSP device, there is a problem that the device manufacturing process is difficult because there are many restrictions on forming a ball terminal at a wafer level.

이에, 반도체 공정을 마친 소자에 대하여, 소잉공정을 수행하고 개별소자를 몰딩, 단자 형성 등을 수행하는 소위 Fan-Out WLP 공정이 제안되고 있다.Thus, a so-called fan-out WLP process has been proposed in which a sowing process is performed on a semiconductor device, and an individual device is molded and terminals are formed.

한편 상기와 같은 WL-CSP 소자 또는 Fan-Out WLP 공정을 거친 소자는, 소잉공정 후에 바로 기판(Substrate)에 실장됨으로써 생산성 및 제조비용을 절감하고 있다.Meanwhile, a device that has undergone the WL-CSP device or the fan-out WLP process is mounted on a substrate immediately after the sowing process, thereby reducing productivity and manufacturing cost.

여기서 WL-CSP 소자 또는 Fan-Out WLP 공정을 거친 소자는, 웨이퍼 상태로 기판 상의 단자와 연결되는 연결단자가 범프로서 범핑공정 등을 거쳐 상면에 형성됨이 일반적이다.Here, in a device that has undergone a WL-CSP device or a fan-out WLP process, a connection terminal, which is connected to a terminal on a substrate in a wafer state, is generally formed as a bump on a top surface through a bumping process.

그리고 기판은, 두께 및 크기가 최소화된 WL-CSP 소자 또는 Fan-Out WLP 공정을 거친 소자가 플럭스를 이용하여 실장되는 구성으로, 리드프레임, 스트립부재 등 박형의 소자가 실장될 수 있는 기판이면 어떠한 기판도 가능하다.The substrate may be a WL-CSP device in which the thickness and size are minimized, or a device that has been subjected to a fan-out WLP process is mounted using flux. If the substrate is a substrate on which thin elements such as a lead frame and a strip member can be mounted, Substrates are also possible.

한편 상기와 같이 상면에 연결단자가 형성된 소자들은, 소잉공정을 거쳐 웨이퍼로부터 개별소자로 분리되고, 기판 상에 실장하기 위해서, 소잉공정에 의하여 개별 소자로 분리된 웨이퍼링 상에서 소자의 픽업과정, 플립과정, 플럭스 디핑과정 및 기판 상에 소자의 실장과정을 수행하는 실장장치에 의하여 기판에 실장된다.On the other hand, the devices having the connection terminals formed on the upper surface as described above are separated from the wafer into individual devices through the sowing process. In order to mount the devices on the substrate, the device is picked up on the wafer ring separated by individual devices by the soaking process, A flux dipping process, and a mounting apparatus for performing a process of mounting an element on a substrate.

그런데 각 과정에서의 소자당 처리속도가 달라 일부 과정에서 병목이 발생되는 경우 장치의 처리속도, 즉 UPH(Unit Per Hour)의 속도가 결정된다.However, if the bottleneck occurs in some process due to the difference in processing speed per device in each process, the processing speed of the device, that is, the rate of UPH (unit per hour), is determined.

따라서, 실장장치의 처리속도를 향상시키기 위해서는 각 공정을 수행하는 구성들에 대한 적절한 속도 조정이 필요하다.Therefore, in order to improve the processing speed of the mounting apparatus, it is necessary to adjust the speeds appropriately for the structures that perform each step.

본 발명의 목적은 상기와 같은 추세 및 필요성을 인식하여 특정공정을 수행하는 각 영역에서의 소자핸들링을 최적화함으로써 장치의 처리속도를 최대화할 수 있는 플립칩 실장장치를 제공하는데 있다.It is an object of the present invention to provide a flip chip mounting apparatus capable of maximizing the processing speed of an apparatus by optimizing the handling of elements in each region for performing a specific process by recognizing the trend and necessity as described above.

본 발명은 상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 창출된 것으로서, 본 발명은, 다수의 소자(1)들이 부착된 복수의 로딩부재(60)들이 적재된 로딩부재카세트부(100)로부터 로딩부재(60)를 공급받아 상기 로딩부재(60)를 수평방향으로 이동하는 로딩부재테이블(200)과; 상기 로딩부재(60)에 적재된 소자(1)를 픽업위치 ①에서 픽업하고 픽업된 소자(1)를 플립하여 상기 로딩부재테이블(200)의 일측에 위치된 전달위치 ②로 이동하는 플립모듈(400)과; 상기 전달위치 ②와 간격을 두고 설치되며 상기 전달위치 ②에 위치된 플립모듈(400)로부터 전달받은 소자(1)가 실장되는 기판(2)이 위치되는 실장부(500)와; 상기 전달위치 및 상기 실장부(500) 사이에 설치되며 상기 실장부(500)에 위치된 기판(2)에 실장되기 전에 소자(1)의 저면이 디핑되는 플럭스가 담긴 플럭스디핑부(700)와; 상기 전달위치 ②, 상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500)으로 순차적으로 이동된 후 다시 상기 전달위치 ②로 이동되도록 설치되며, 상기 전달위치 ②에서 하나 이상의 소자(1)의 픽업, 상기 플럭스디핑부(700)에서 소자(1)의 플럭스 디핑, 상기 실장부(500)에서 소자(1)의 실장을 수행하는 한 쌍의 소자이송툴(600)을 포함하며, 상기 한 쌍의 소자이송툴(600)은, 상기 전달위치 ②, 상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500)으로 순차적으로 이동된 후 다시 상기 전달위치 ②로의 이동이 서로 순차적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 플립칩 실장장치를 개시한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to achieve the above-mentioned object of the present invention, and it is an object of the present invention to provide a loading unit cassette unit 100 in which a plurality of loading members 60, A loading member table (200) receiving the member (60) and moving the loading member (60) in a horizontal direction; The flip module (1) picks up the element (1) loaded on the loading member (60) at the pickup position (1) and flips the picked up element (1) to move to the transfer position (2) located on one side of the loading member table 400); A mounting part 500 spaced from the transfer position 2 and on which a substrate 2 to be mounted with the device 1 transferred from the flip module 400 located at the transfer position 2 is located; A flux dipping unit 700 disposed between the transfer position and the mounting unit 500 and containing a flux to which the bottom surface of the device 1 is dipped before being mounted on the substrate 2 placed in the mounting unit 500; ; The flux dipping unit 700 and the mounting unit 500 and then moved to the transfer position 2, and at the transfer position 2, the at least one device 1 is picked up, And a pair of element transfer tools 600 for performing flux dipping of the element 1 in the flux dipping unit 700 and mounting of the element 1 in the mounting unit 500, Wherein the transfer tool (600) is sequentially moved to the transfer position (2), the flux dipping section (700) and the mounting section (500), and then moved to the transfer position Thereby starting the mounting apparatus.

상기 한 쌍의 소자이송툴(600)들 중 하나는, 소자픽업 후 상기 전달위치 ② 상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500) 상을 이동하며, 나머지 하나는, 소자(1)를 픽업한 상기 소자이송툴(600)의 이동에 간섭되지 않도록 우회하여 상기 실장부(500)로부터 상기 전달위치 ②로 이동되도록 설치될 수 있다.One of the pair of element transferring tools 600 is moved on the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500 after the element is picked up and the other one is transferred to the element 1 And may be installed to move from the mounting portion 500 to the transfer position (2) so as not to interfere with the movement of the picked-up element transfer tool (600).

상기 실장부(500)는, 상기 한 쌍의 소자이송툴(600)의 이송방향과 수직인 방향으로 기판(2)이 선형이동가능하게 구성될 수 있다.The mounting portion 500 may be configured such that the substrate 2 is linearly movable in a direction perpendicular to the transport direction of the pair of element transfer tools 600.

상기 전달위치 ②, 상기 플럭스디핑부(700), 상기 실장부(500), 상기 플립모듈(400), 상기 한 쌍의 소자이송툴(600)은, 상기 로딩부재테이블(200)을 중심으로 서로 대향되게 한 쌍으로 설치될 수 있다.The transfer position 2, the flux dipping unit 700, the mounting unit 500, the flip module 400, and the pair of element transferring tools 600 are disposed on the loading member table 200, They can be installed in pairs as opposed to each other.

상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500) 사이에는, 비전검사 및 기판(2) 상의 소자(1) 정렬을 위하여 상기 소자이송툴(600)에 의하여 픽업된 하나 이상의 소자(1)의 저면에 대한 이미지를 획득하는 언더비전부(800)이 설치될 수 있다.Between the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500 there is provided a plurality of elements 1 that are picked up by the element transfer tool 600 for vision inspection and alignment of the elements 1 on the substrate 2. [ An under vision unit 800 for acquiring an image of the bottom surface may be installed.

상기 한 쌍의 소자이송툴(600)들 중 하나는, 소자픽업 후 상기 전달위치 ②, 상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500) 상을 이동하며, 나머지 하나는, 소자(1)를 픽업한 상기 소자이송툴(600)의 이동에 간섭되지 않도록 우회하여 상기 실장부(500)로부터 상기 전달위치 ②로 이동되도록 설치될 수 있다.One of the pair of element transferring tools 600 moves on the transfer position 2, the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500 after element pick-up, So as not to interfere with the movement of the element transfer tool 600 picked up by the transfer unit 500 and to be transferred from the mounting unit 500 to the transfer position 2.

상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500) 사이에는, 비전검사 및 기판(2) 상의 소자(1) 정렬을 위하여 상기 소자이송툴(600)에 의하여 픽업된 하나 이상의 소자(1)의 저면에 대한 이미지를 획득하는 언더비전부(800)이 설치될 수 있다.Between the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500 there is provided a plurality of elements 1 that are picked up by the element transfer tool 600 for vision inspection and alignment of the elements 1 on the substrate 2. [ An under vision unit 800 for acquiring an image of the bottom surface may be installed.

본 발명에 따른 플립칩 실장장치는, 웨이퍼링과 같은 로딩부재에서 플립모듈에 의한 소자의 픽업 및 플립 후, 플립모듈로부터 소자가 실장될 기판이 위치되는 실장부로의 소자의 픽업 및 이송을 수행하는 소자이송툴을 한 쌍으로 구성함으로써, 플립모듈의 처리속도 및 소자이송툴 간의 소자 핸들링 속도를 최적화함으로써, 장치의 처리속도를 최대화할 수 있는 이점이 있다.The flip chip mounting apparatus according to the present invention performs pick-up and flip of a device by a flip module in a loading member such as a wafer ring and performs pick-up and transfer of a device from the flip module to a mounting unit in which a substrate to be mounted is placed By constructing a pair of element transferring tools, there is an advantage that the processing speed of the apparatus can be maximized by optimizing the processing speed of the flip module and the element handling speed between the element transferring tools.

특히, 플립모듈의 처리속도에 비하여 상대적으로 소자이송툴의 처리속도가 낮음을 고려하여, 웨이퍼링 상의 소자 픽업 및 플립을 하나의 플립모듈에 위하여 수행하고, 플립모듈로부터 실장부로의 소자의 픽업 및 이송을 한 쌍의 소자이송툴들에 의하여 수행함으로써, 플립모듈의 처리속도 및 소자이송툴 처리속도의 편차를 최적화함으로써, 장치의 처리속도를 최대화할 수 있는 이점이 있다.Particularly, in consideration of the fact that the processing speed of the element transfer tool is relatively low in comparison with the processing speed of the flip module, element pick-up and flip on the wafer ring are performed for one flip module, By performing the transfer by a pair of element transfer tools, there is an advantage that the processing speed of the apparatus can be maximized by optimizing the deviation of the processing speed of the flip module and the processing speed of the element transfer tool.

도 1은, 본 발명에 따른 플립칩 실장장치의 일예를 보여주는 배치도이다.
도 2는, 도 1의 플립칩 실장장치에서 소자이송툴에 의한 소자의 이송과정을 보여주는 개념도이다.
도 3은, 도 1의 플립칩 실장장치 중 전달위치로부터 실장부까지의 부분을 확대한 일부확대도이다.
도 4a는, 플립모듈이 픽업위치에서 소자를 픽업하는 상태를, 도 4b는, 플립모듈이 소자 픽업 및 반전 후의 상태를 보여주는 개념도들이다.
도 5a 및 도 5b는, 각각 도 1의 플립칩 실장장치에서 사용되는 로딩부재의 일 예를 보여주는 사시도 및 단면도이다.
도 6는, 도 1의 소자핸들러에서 사용되는 로딩부재의 다른 예를 보여주는 사시도이다.
1 is a layout diagram showing an example of a flip chip mounting apparatus according to the present invention.
2 is a conceptual diagram showing a process of transferring a device by a device transfer tool in the flip chip mounting apparatus of FIG.
Fig. 3 is a partially enlarged view of a portion from the delivery position to the mounting portion of the flip-chip mounting apparatus of Fig. 1; Fig.
4A is a conceptual diagram showing a state in which the flip module picks up a device at a pick-up position, and FIG. 4B is a conceptual diagram showing a state after the device is picked up and inverted by the flip module.
5A and 5B are a perspective view and a cross-sectional view showing an example of a loading member used in the flip chip mounting apparatus of FIG. 1, respectively.
Fig. 6 is a perspective view showing another example of a loading member used in the element handler of Fig. 1; Fig.

이하 본 발명에 따른 플립칩 실장장치에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a flip chip mounting apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 플립칩 실장장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 로딩부재테이블(200)과; 플립모듈(400)과; 실장부(500)와; 플럭스디핑부(700)와; 한 쌍의 소자이송툴(600)을 포함한다.As shown in FIG. 1, the flip chip mounting apparatus according to the present invention includes a loading member table 200; A flip module 400; A mounting portion 500; A flux dipping unit 700; Includes a pair of element transfer tool (600).

여기서 상기 로딩부재테이블(200)에 의하여 수평이동되는 로딩부재(60)는, 다수의 소자(1)들이 부착된 구성으로서, 소잉공정을 마친 웨이퍼가 부착된 웨이퍼링이 될 수 있다.The loading member 60, which is horizontally moved by the loading member table 200, may be a wafer ring having a wafer after the soaking process, in which a plurality of devices 1 are attached.

또한 상기 로딩부재(60)는, 반도체 공정 및 소자공정 후 개별소자를 다시 몰딩, 단자 형성 등을 수행하는 소위 Fan-Out WLP 공정 및 소잉공정을 마친 웨이퍼가 부착된 웨이퍼링이 될 수 있다.In addition, the loading member 60 may be a wafer ring with a wafer after the so-called fan-out WLP process and sowing process for performing the molding and terminal formation of the individual devices after the semiconductor process and the device process.

그리고 상기 로딩부재(60)는, 도 5a 및 도 5b에 도시된 바와 같이, 소잉공정을 마친 소자(1)가 적재되는 구성으로서, 소자(1)가 부착되는 테이프(61) 및 테이프(61)를 고정하는 프레임부재(62)를 포함하여 구성될 수 있다.5A and 5B, the loading member 60 includes a tape 61 and a tape 61 to which the element 1 is attached, in which the element 1 after the sowing process is loaded, And a frame member 62 for fixing the frame member 62.

그리고 상기 테이프(61)는 소자(1)들이 부착될 수 있는 부재이면 어떠한 부재도 가능하며 소위 부착테이프가 사용될 수 있다.The tape 61 can be any member as long as the elements 1 can be attached thereto, and a so-called adhesive tape can be used.

상기 프레임부재(62)는 소자(1)들이 부착된 테이프(61)를 고정하기 위한 구성으로서 도 5a 및 도 5b에 도시된 바와 같이, 원형링, 도 6에 도시된 바와 같이 사각링 등 다양한 구성이 가능하다.The frame member 62 is configured to fix the tape 61 to which the elements 1 are attached, as shown in Figs. 5A and 5B. The frame member 62 has a circular ring, a square ring as shown in Fig. 6, This is possible.

상기 로딩부재테이블(200)은, 로딩부재카세트부(100)로부터 다수의 소자(1)들이 부착된 복수의 로딩부재(60)를 공급받아 로딩부재(60)를 수평방향으로 이동하는 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.The loading member table 200 is configured to receive a plurality of loading members 60 attached with a plurality of elements 1 from the loading member cassette unit 100 and to move the loading member 60 in the horizontal direction Configuration is possible.

예로서, 상기 로딩부재테이블(200)은 웨이퍼링로딩부(미도시)에 의하여 로딩부재카세트부(100)로부터 로딩부재(60)를 전달받아 플립모듈(400)이 픽업위치 ①에서 소자(1)를 픽업할 수 있도록 로딩부재(60)를 수평방향으로 이동시키는 구성으로서, X-Y테이블, X-Y-θ테이블 등 다양한 구성이 가능하다.For example, the loading member table 200 receives the loading member 60 from the loading member cassette unit 100 by a wafer ring loading unit (not shown) so that the flip module 400 can move from the pick- The XY table, the XY-theta table, and the like can be used as the configuration for moving the loading member 60 in the horizontal direction so that the loading member 60 can be picked up.

또한 상기 로딩부재테이블(200)은, 상하방향 즉, Z축방향으로 이동될 수도 있다.Further, the loading member table 200 may be moved in the vertical direction, i.e., the Z-axis direction.

상기 로딩부재카세트부(100)는, 복수의 로딩부재(60)들의 적재를 위한 구성으로서 로딩부재(60)들이 상하로 적층될 수 있는 구성이면 어떠한 구성도 가능하다.The loading member cassette unit 100 can have any configuration as long as the loading members 60 can be stacked up and down as a configuration for loading a plurality of loading members 60. [

상기 플립모듈(400)은, 로딩부재(60)에 적재된 소자(1)를 픽업위치 ①에서 픽업하고 픽업된 소자(1)를 플립하여 로딩부재테이블(200)의 일측에 위치된 전달위치 ②로 이동하는 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.The flip module 400 picks up the element 1 loaded on the loading member 60 at the pickup position 1 and flips the picked up element 1 to transfer the element 1 to the transfer position 2 located at one side of the loading member table 200 So that various configurations are possible.

예로서, 상기 플립모듈(400)은, 도 1 내지 도 4b, 특히 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 소자(1)를 픽업하는 복수의 픽커(410)들과, 소자(1)를 픽업한 픽커(410)들을 픽업위치 ①에서 전달위치 ②로 이동시키는 선형이동부와, 소자(1)를 픽업한 픽커(410)들을 상측을 향하여 반전시키는 반전부를 포함할 수 있다.By way of example, the flip module 400 may include a plurality of pickers 410 for picking up the element 1, as shown in Figs. 1 to 4B, particularly Figs. 4A and 4B, A linear moving part that moves the pickers 410 picked up from the pickup position 1 to the transfer position 2 and an inversion part that inverts the pickers 410 picking up the device 1 upward.

상기 픽커(410)는, 진공압에 의하여 로딩부재(60)로부터 소자(1)를 픽업하도록 구성될 수 있다.The picker 410 may be configured to pick up the element 1 from the loading member 60 by vacuum pressure.

일 예로서, 상기 픽커(410)는, 외부로부터 공압을 전달받은 공압연결부와, 끝단에 설치되어 공압연결부에 의하여 전달된 공압에 의하여 소자(1)를 픽업하거나 픽업을 해제하는 픽업헤드를 포함할 수 있다.As one example, the picker 410 includes a pneumatic connection unit that receives air pressure from the outside, and a pick-up head that is installed at an end and picks up the device 1 by a pneumatic pressure transmitted by the pneumatic connection unit or releases the pick- .

여기서 상기 픽업위치 ①는, 로딩부재테이블(200) 상에 설정되며, 니들핀조립체(490)와 함께 플립모듈(400)의 픽커(410)에 의하여 픽업되는 위치로 정의된다.The pickup position 1 is set on the loading member table 200 and defined as a position where the picker 410 of the flip module 400 is picked up together with the needle pin assembly 490.

상기 니들핀조립체(490)는, 플립모듈(400)이 픽업위치 ①에서 소자(1)를 픽업할 때 로딩부재(60), 예를 들면 로딩부재(60)의 테이프(61)의 저면을 가압하여 소자(1)가 부착된 테이프(61)를 플립모듈(400) 쪽으로 밀어올리는 구성으로 다양한 구성이 가능하다.The needle pin assembly 490 is configured to press the bottom surface of the loading member 60, for example the tape 61 of the loading member 60, when the flip module 400 picks up the element 1 at the pick- So that the tape 61 to which the element 1 is attached is pushed up toward the flip module 400. In this case,

한편 상기 플립모듈(400)이 픽업위치 ①에서 소자(1)를 픽업할 때, 로딩부재(60) 상의 소자(1)의 위치, 정렬상태를 확인하기 위하여 픽업위치 ①의 직상부에는 로딩부재(60) 전부 또는 일부분에 대한 이미지를 획득하는 이미지획득부가 설치된다.On the other hand, when the flip module 400 picks up the element 1 at the pick-up position 1, a loading member (not shown) is mounted directly above the pickup position 1 to confirm the position and alignment of the element 1 on the loading member 60 An image acquiring unit for acquiring an image of all or a part of the image is acquired.

상기 이미지획득부는, 픽업위치 ①의 직상부에서 로딩부재(60) 전부 또는 일부분에 대한 이미지를 획득하는 구성으로서, 카메라 등으로 구성되며, 획득된 이미지는, 로딩부재(60) 상의 소자(1)의 위치, 정렬상태를 확인하기 위하여 제어부로 전달된다.The image acquiring section is constituted by a camera or the like for acquiring an image of all or a part of the loading member 60 immediately above the pickup position 1, The position and alignment state of the display device.

여기서 상기 제어부는, 이미지획득부는 물론 플립소자 핸들러의 작동 등을 제어하기 위한 구성으로서 물리적 구성보다는 회로적 구성으로 다양한 구성이 가능하다.Here, the control unit may be configured in a circuit configuration rather than a physical configuration in order to control the operation of the flip device handler as well as the image obtaining unit.

상기 전달위치 ②는, 플립모듈(400)에 의하여 픽업 및 플립된 소자(1)를 적재툴(500)에 전달하기 위하여 설정된 위치로서 플립모듈(400) 및 소자이송툴(700)의 소자전달에 따라서 다양하게 설정될 수 있다.The transfer position 2 is connected to the flip module 400 and the element transfer tool 700 as a set position for transferring the element 1 picked up and flipped by the flip module 400 to the stacking tool 500 Therefore, various settings can be made.

한편 상기 전달위치 ②의 상부에는, 플립모듈(400)에 의하여 픽업 및 플립된 소자(1)들에 대한 이미지를 이미지획득부가 설치될 수 있다.On the other hand, at the upper portion of the transfer position (2), an image acquiring unit may be provided for images of the devices (1) picked up and flipped by the flip module (400).

상기 이미지획득부는, 획득된 이미지를 분석하여 플립모듈(400)로부터 소자이송툴(500)로 소자(1)가 전달되기 전에 소자(1)의 표면상태, 정렬상태 등을 확인하기 위하여 플립모듈(400)에 의하여 픽업되고 상측을 향하여 반전된 소자(1)에 대한 이미지를 획득하는 구성으로서 카메라 등으로 구성될 수 있다.The image obtaining unit analyzes the obtained image and analyzes the obtained image to detect the surface state, the alignment state, etc. of the element 1 before the element 1 is transferred from the flip module 400 to the element transfer tool 500, 400 and a camera or the like as a configuration for acquiring an image of the element 1 inverted toward the upper side.

여기서 상기 이미지획득부는, 플립모듈(400)에 의하여 픽업되고 상측을 향하여 반전된 소자(1)에 대한 이미지를 제어부에 전달하고, 제어부는 이미지 분석을 통하여 소자(1)의 표면상태, 정렬상태 등을 확인할 수 있다.Here, the image obtaining unit transmits the image of the device 1 picked up by the flip module 400 and inverted upward, to the control unit, and the control unit controls the surface state, the alignment state, etc. of the device 1 can confirm.

상기 실장부(500)는, 전달위치 ②와 간격을 두고 설치되며 전달위치 ②에 위치된 플립모듈(400)로부터 전달받은 소자(1)가 실장되는 기판(2)이 위치되는 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.The mounting portion 500 is configured such that the substrate 2 on which the element 1 transferred from the flip module 400 located at the transfer position 2 is mounted is disposed at an interval from the transfer position 2, It is possible.

예로서, 상기 실장부(500)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 기판(2)이 후술하는 한 쌍의 소자이송툴(600)의 이송방향과 수직인 방향으로 기판(2)이 선형이동가능하게 구성되는 등 다양한 구성이 가능하다.1, the mounting portion 500 may be configured such that the substrate 2 is moved in a linear direction in a direction perpendicular to the transport direction of the pair of device transporting tools 600, which will be described later, And various configurations are possible.

그리고 기판(2)은, 소자(1)의 저면이 플럭스에 디핑된 후 소자(1)가 실장되는 구성으로서, Fan-Out WLP 공정을 수행하기 위하여 복수의 소자(1)들이 부착되는 웨이퍼링, 리드프레임, 스트립, WLCSP 칩이 실장되는 PCB기판 등 반도체 공정을 마친 소자(1)가 실장될 수 있는 구성이면 어떠한 기판도 가능하다.The substrate 2 is a configuration in which the element 1 is mounted after the bottom surface of the element 1 is dipped in the flux and includes a wafer ring to which a plurality of elements 1 are attached in order to perform a Fan- Any substrate can be used as long as the semiconductor device 1 can be mounted, such as a lead frame, a strip, and a PCB substrate on which the WLCSP chip is mounted.

여기서 소자(1)의 저면이 디핑되는 플럭스는, 소자(1)의 실장 전 산화막의 제거, 솔더계면 텐션의 감소, 재산화의 방지 등 소자(1)의 실장을 위한 물질로서 소자(1)의 종류 및 실장방식에 따라서 다양한 물질이 사용될 수 있다.Here, the flux to which the bottom surface of the element 1 is dipped is used as a material for mounting the element 1, such as removal of the oxide film to be mounted on the element 1, reduction of the solder interface tension, Various materials can be used depending on the type and mounting method.

상기 플럭스디핑부(700)는, 전달위치 및 상기 실장부(500) 사이에 설치되며 실장부(500)에 위치된 기판(2)에 실장되기 전에 소자(1)의 저면이 디핑되는 플럭스가 담긴 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.The flux dipping unit 700 includes a flux dipping unit 700 disposed between the transfer position and the mounting unit 500 and containing the flux dipping the bottom surface of the element 1 before being mounted on the substrate 2 placed in the mounting unit 500 Various configurations are possible as the configuration.

여기서 상기 플럭스디핑부(700)에서의 소자(1)의 디핑은, 다른 구성에 비하여 상대적으로 긴 시간 동안 이루어지며, 소자이송툴(600)에 의하여 픽업된 상태로 디핑(dipping)이 이루어진다.Here, the dipping of the element 1 in the flux dipping unit 700 is performed for a relatively long period of time compared with other configurations, and the dipping is performed in a state that the element transfer tool 600 is picked up.

상기 한 쌍의 소자이송툴(600)은, 전달위치 ②, 플럭스디핑부(700) 및 실장부(500), 즉 실장위치 ③로 순차적으로 이동된 후 다시 전달위치 ②로 이동되도록 설치되며, 전달위치 ②에서 하나 이상의 소자(1)의 픽업, 플럭스디핑부(700)에서 소자(1)의 플럭스 디핑, 실장부(500)에서 소자(1)의 실장을 수행하는 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.The pair of element transfer tools 600 are sequentially moved to the transfer position 2, the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500, that is, the mounting position 3, and then moved to the transfer position 2, Various configurations are possible as a configuration for picking up at least one element 1 at a position 2, flux dipping of the element 1 at the flux dipping section 700, and mounting the element 1 at the mounting section 500.

특히 상기 한 쌍의 소자이송툴(600)은, 전달위치 ②, 플럭스디핑부(700) 및 실장부(500)으로 순차적으로 이동된 후 다시 전달위치 ②로의 이동이 서로 순차적으로 이루어지는 것이 바람직하다.Particularly, it is preferable that the pair of element transfer tools 600 are sequentially moved to the transfer position 2, the flux dipping portion 700, and the mounting portion 500, and then moved to the transfer position 2 sequentially.

그리고 상기 한 쌍의 소자이송툴(600)들 중 하나는, 소자픽업 후 전달위치 ②, 플럭스디핑부(700) 및 실장부(500)로 순차적으로 이동하며, 나머지 하나는, 소자(1)를 픽업한 소자이송툴(600)의 이동에 간섭되지 않도록 우회하여 실장부(500)로부터 전달위치 ②로 이동되도록 설치될 수 있다.One of the pair of element transferring tools 600 sequentially moves to the transfer position 2, the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500 after element pickup, Can be installed so as to be detoured from the mounting portion 500 to the transfer position 2 so as not to interfere with the movement of the picked-up element transfer tool 600.

한편 상기 실장위치 ③는, 소자이송툴(600)에 의하여 실장부(500)에 소자(1)의 실장되는 위치로서 소자(1)의 종류, 기판 등의 종류, 크기 등에 따라서 다양한게 설정될 수 있다.On the other hand, the mounting position 3 can be variously set depending on the type of the element 1, the type of the substrate, the size, etc., as the position where the element 1 is mounted on the mounting portion 500 by the element transfer tool 600 have.

그리고 상기 실장부(500)에서 실장위치 ③의 상부에는 기판(2) 전부 또는 일부분에 대한 이미지를 획득하는 이미지획득부(미도시)가 설치될 수 있다.An image acquisition unit (not shown) for acquiring images of all or a part of the substrate 2 may be installed on the mounting position 3 in the mounting unit 500.

상기 이미지획득부는, 실장위치 ③의 상부에서 기판(2) 전부 또는 일부분에 대한 이미지를 획득하는 구성으로서, 카메라 등으로 구성되며, 획득된 이미지는, 기판(2) 상의 소자(1)의 표면상태, 부착상태 등을 확인하기 위하여 제어부로 전달된다.The image acquiring unit is configured to acquire an image of all or a part of the substrate 2 at an upper portion of the mounting position ③ and is constituted by a camera or the like and the acquired image is displayed on the surface state of the element 1 on the substrate 2 , The attachment state, and so on.

한편 상기 플럭스디핑부(700) 및 실장부(500) 사이에는, 비전검사 및 기판(2) 상의 소자(1) 정렬을 위하여 소자이송툴(600)에 의하여 픽업된 하나 이상의 소자(1)의 저면에 대한 이미지를 획득하는 언더비전부(800)이 설치될 수 있다.Between the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500 is formed a bottom surface of at least one element 1 picked up by the element transfer tool 600 for vision inspection and alignment of the element 1 on the substrate 2 An under vision unit 800 may be installed to acquire an image of the image.

상기 언더비전부(800)는, 소자이송툴(600)에 의하여 픽업된 하나 이상의 소자(1)의 저면에 대한 이미지를 획득하여 제어부(미도시)에 전송함으로써, 제어부에 의한 비전검사 및 기판(2) 상의 소자(1) 정렬을 수행할 수 있게 된다.The under vision unit 800 acquires an image of the bottom surface of at least one element 1 picked up by the element transfer tool 600 and transmits the acquired image to a control unit Lt; / RTI > 2).

한편 상기 플립모듈(400)은, 복수의 소자(1)들이 하나 이상의 열로 배치된 복수의 픽커(410)들에 의하여 픽업하는바, 이때 소자이송툴(600)은, 플립모듈(400)의 픽커(410)들에 픽업된 복수의 소자(1)들의 위치에 대응되어 복수의 픽커(710)들을 포함할 수 있다.The flip module 400 picks up a plurality of devices 1 by a plurality of pickers 410 arranged in one or more rows. At this time, And may include a plurality of pickers 710 corresponding to positions of the plurality of elements 1 picked up by the plurality of pickers 410.

상기 복수의 픽커(710)들은, 소자(1)를 픽업 및 플레이스(부착)할 수 있는 구성으로서, 진공압 등 다양한 방식에 의하여 소자(1)를 픽업하도록 구성될 수 있다.The plurality of pickers 710 are configured to pick up and place (attach) the element 1, and can be configured to pick up the element 1 by various methods such as vacuum pressure.

한편 소자(1)의 실장공정의 처리속도를 향상시키기 위하여, 전달위치 ②, 플럭스디핑부(700), 실장부(500), 플립모듈(400), 한 쌍의 소자이송툴(600)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 로딩부재테이블(200)을 중심으로 서로 대향되게 한 쌍으로 설치될 수 있다.On the other hand, in order to improve the processing speed of the mounting process of the element 1, the transfer position 2, the flux dipping portion 700, the mounting portion 500, the flip module 400 and the pair of element transferring tools 600, As shown in FIG. 1, the loading member table 200 may be installed in pairs so as to be opposed to each other.

상기와 같이, 전달위치 ②, 플럭스디핑부(700), 실장부(500), 플립모듈(400), 한 쌍의 소자이송툴(600)이 로딩부재테이블(200)을 중심으로 서로 대향되게 한 쌍으로 설치되면, 로딩부재테이블(200) 상의 로딩부재(60)로부터 소자(1)의 픽업이 연속적으로 수행되어, 소자(1)의 실장공정의 처리속도를 크게 향상시킬 수 있다.As described above, the transfer position 2, the flux dipping section 700, the mounting section 500, the flip module 400, and the pair of element transferring tools 600 are opposed to each other with respect to the loading member table 200 Pickup of the element 1 from the loading member 60 on the loading member table 200 is continuously performed so that the processing speed of the mounting process of the element 1 can be greatly improved.

이상은 본 발명에 의해 구현될 수 있는 바람직한 실시예의 일부에 관하여 설명한 것에 불과하므로, 주지된 바와 같이 본 발명의 범위는 위의 실시예에 한정되어 해석되어서는 안 될 것이며, 위에서 설명된 본 발명의 기술적 사상과 그 근본을 함께 하는 기술적 사상은 모두 본 발명의 범위에 포함된다고 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It is to be understood that both the technical idea and the technical spirit of the invention are included in the scope of the present invention.

100 : 로딩부재카세트부 200 : 로딩부재테이블
400 : 플립모듈 500 : 실장부
600 : 플럭스디핑부 700 : 소자이송툴
100: loading member cassette part 200: loading member table
400: flip module 500: mounting part
600 flux dipping unit 700 device transfer tool

Claims (7)

다수의 소자(1)들이 부착된 복수의 로딩부재(60)들이 적재된 로딩부재카세트부(100)로부터 로딩부재(60)를 공급받아 상기 로딩부재(60)를 수평방향으로 이동하는 로딩부재테이블(200)과;
상기 로딩부재(60)에 적재된 소자(1)를 픽업위치 ①에서 픽업하고 픽업된 소자(1)를 플립하여 상기 로딩부재테이블(200)의 일측에 위치된 전달위치 ②로 이동하는 플립모듈(400)과;
상기 전달위치 ②와 간격을 두고 설치되며 상기 전달위치 ②에 위치된 플립모듈(400)로부터 전달받은 소자(1)가 실장되는 기판(2)이 위치되는 실장부(500)와;
상기 전달위치 및 상기 실장부(500) 사이에 설치되며 상기 실장부(500)에 위치된 기판(2)에 실장되기 전에 소자(1)의 저면이 디핑되는 플럭스가 담긴 플럭스디핑부(700)와;
상기 전달위치 ②, 상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500)으로 순차적으로 이동된 후 다시 상기 전달위치 ②로 이동되도록 설치되며, 상기 전달위치 ②에서 하나 이상의 소자(1)의 픽업, 상기 플럭스디핑부(700)에서 소자(1)의 플럭스 디핑, 상기 실장부(500)에서 소자(1)의 실장을 수행하는 한 쌍의 소자이송툴(600)을 포함하며,
상기 한 쌍의 소자이송툴(600)은, 상기 전달위치 ②, 상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500)으로 순차적으로 이동된 후 다시 상기 전달위치 ②로의 이동이 서로 순차적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 플립칩 실장장치.
A loading member 60 is loaded from a loading member cassette unit 100 loaded with a plurality of loading members 60 to which a plurality of devices 1 are attached and a loading member table 60 for moving the loading member 60 in a horizontal direction (200);
The flip module (1) picks up the element (1) loaded on the loading member (60) at the pickup position (1) and flips the picked up element (1) to move to the transfer position (2) located on one side of the loading member table 400);
A mounting part 500 spaced from the transfer position 2 and on which a substrate 2 to be mounted with the device 1 transferred from the flip module 400 located at the transfer position 2 is located;
A flux dipping unit 700 disposed between the transfer position and the mounting unit 500 and containing a flux to which the bottom surface of the device 1 is dipped before being mounted on the substrate 2 placed in the mounting unit 500; ;
The flux dipping unit 700 and the mounting unit 500 and then moved to the transfer position 2, and at the transfer position 2, the at least one device 1 is picked up, And a pair of element transferring tools 600 for performing flux dipping of the element 1 in the flux dipping unit 700 and mounting of the element 1 in the mounting unit 500,
The pair of element transfer tools 600 are sequentially moved to the transfer position 2, the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500, and then moved to the transfer position 2 sequentially with each other A flip chip mounting apparatus characterized by:
청구항 1에 있어서,
상기 한 쌍의 소자이송툴(600)들 중 하나는, 소자픽업 후 상기 전달위치 ② 상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500) 상을 이동하며,
나머지 하나는, 소자(1)를 픽업한 상기 소자이송툴(600)의 이동에 간섭되지 않도록 우회하여 상기 실장부(500)로부터 상기 전달위치 ②로 이동되도록 설치된 것을 특징으로 하는 플립칩 실장장치.
The method according to claim 1,
One of the pair of element transferring tools 600 moves on the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500 after the element is picked up,
And the other is installed so as to be detoured from the mounting portion (500) to the transfer position (2) so as not to interfere with the movement of the element transfer tool (600) picking up the element (1).
청구항 1에 있어서,
상기 실장부(500)는, 상기 한 쌍의 소자이송툴(600)의 이송방향과 수직인 방향으로 기판(2)이 선형이동가능하게 구성된 것을 특징으로 하는 플립칩 실장장치.
The method according to claim 1,
Wherein the mounting portion (500) is configured so that the substrate (2) is linearly movable in a direction perpendicular to the conveying direction of the pair of element transfer tools (600).
청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 전달위치 ②, 상기 플럭스디핑부(700), 상기 실장부(500), 상기 플립모듈(400), 상기 한 쌍의 소자이송툴(600)은, 상기 로딩부재테이블(200)을 중심으로 서로 대향되게 한 쌍으로 설치된 것을 특징으로 하는 플립칩 실장장치.
The method according to any one of claims 1 to 3,
The transfer position 2, the flux dipping unit 700, the mounting unit 500, the flip module 400, and the pair of element transferring tools 600 are disposed on the loading member table 200, The flip chip mounting device being mounted in a pair.
청구항 4에 있어서,
상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500) 사이에는,
비전검사 및 기판(2) 상의 소자(1) 정렬을 위하여 상기 소자이송툴(600)에 의하여 픽업된 하나 이상의 소자(1)의 저면에 대한 이미지를 획득하는 언더비전부(800)이 설치된 것을 특징으로 하는 플립칩 실장장치.
The method of claim 4,
Between the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500,
Characterized in that an under vision portion (800) is provided for acquiring an image of the bottom surface of at least one element (1) picked up by the element transfer tool (600) for vision inspection and alignment of the element (1) The flip chip mounting apparatus comprising:
청구항 5에 있어서,
상기 한 쌍의 소자이송툴(600)들 중 하나는, 소자픽업 후 상기 전달위치 ②, 상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500) 상을 이동하며,
나머지 하나는, 소자(1)를 픽업한 상기 소자이송툴(600)의 이동에 간섭되지 않도록 우회하여 상기 실장부(500)로부터 상기 전달위치 ②로 이동되도록 설치된 것을 특징으로 하는 플립칩 실장장치.
The method of claim 5,
One of the pair of element transferring tools 600 moves on the transfer position 2, the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500 after element pick-up,
And the other is installed so as to be detoured from the mounting portion (500) to the transfer position (2) so as not to interfere with the movement of the element transfer tool (600) picking up the element (1).
청구항 1에 있어서,
상기 플럭스디핑부(700) 및 상기 실장부(500) 사이에는,
비전검사 및 기판(2) 상의 소자(1) 정렬을 위하여 상기 소자이송툴(600)에 의하여 픽업된 하나 이상의 소자(1)의 저면에 대한 이미지를 획득하는 언더비전부(800)이 설치된 것을 특징으로 하는 플립칩 실장장치.
The method according to claim 1,
Between the flux dipping portion 700 and the mounting portion 500,
Characterized in that an under vision portion (800) is provided for acquiring an image of the bottom surface of at least one element (1) picked up by the element transfer tool (600) for vision inspection and alignment of the element (1) The flip chip mounting apparatus comprising:
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