KR20170008224A - Method for evaluating optical characteristic of transparent substrate, and transparent substrate - Google Patents

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KR20170008224A
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미노루 다마다
유스케 고바야시
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아사히 가라스 가부시키가이샤
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Abstract

투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법으로서, 안티글레어 처리된 투명 기체의 정량화된 방현성 지표치 (R) 를 파악하는 스텝과, 상기 투명 기체의 정량화된 번쩍거림 지표치 (G) 를 파악하는 스텝을 무순서로 갖는 방법.A method of evaluating an optical characteristic of a transparent gas, comprising the steps of: determining a quantified anti-glare index value (R) of an anti-glare-treated transparent gas; determining a quantified glare index value (G) .

Description

투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법 및 투명 기체{METHOD FOR EVALUATING OPTICAL CHARACTERISTIC OF TRANSPARENT SUBSTRATE, AND TRANSPARENT SUBSTRATE}METHOD FOR EVALUATING OPTICAL CHARACTERISTIC OF TRANSPARENT SUBSTRATE, AND TRANSPARENT SUBSTRATE,

본 발명은 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for evaluating optical properties of a transparent substrate.

일반적으로 화소를 갖는 LCD (Liquid Crystal Display) 장치와 같은 표시 장치 상에는, 그 표시 장치의 보호를 위해서 투명 기체로 구성된 보호 커버가 배치된다.In general, on a display device such as a liquid crystal display (LCD) device having pixels, a protective cover composed of a transparent substrate is disposed for protecting the display device.

그러나, 표시 장치 상에 이와 같은 투명 기체를 설치했을 경우, 투명 기체를 개재하여 표시 장치의 표시 영상을 시인하려고 했을 때, 종종 주변에 놓여져 있는 것의 비침이 발생하는 경우가 있다. 투명 기체에 그러한 비침이 발생하면, 표시 영상의 시인자는, 표시 영상을 시인하기가 어려워지는 데다 불쾌한 인상을 받게 된다.However, in the case where such a transparent substrate is provided on a display device, when the display image of the display device is intended to be viewed through a transparent substrate, there is a case where the ambient light often appears. If such visual impression occurs in the transparent gas, the viewer of the display image becomes difficult to visually recognize the display image, and the impression is unpleasant.

그래서, 이와 같은 비침을 억제하기 위해, 투명 기체의 표면에 대하여 안티글레어 처리가 적용되는 경우가 있다.Thus, in order to suppress such impurities, the anti-glare treatment may be applied to the surface of the transparent substrate.

또한, 특허문헌 1 에는, 특수한 장치를 사용하여, 표시 장치에 대한 비침을 평가하는 방법이 나타나 있다.Further, Patent Document 1 shows a method of evaluating the non-penetration of the display device by using a special device.

일본 공개특허공보 2007-147343호Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-147343

전술한 바와 같이, 주위 광의 비침을 억제하기 위해서, 투명 기체에는 종종 안티글레어 처리가 실시된다.As described above, the anti-glare treatment is often applied to the transparent substrate in order to suppress non-exposure of the ambient light.

그런데, 실제의 투명 기체에서는, 주위 광의 비침의 억제 효과 외에, 방현성 및 번쩍거림 등의 특성도 동시에 파악하고 싶은 경우가 있다.However, in an actual transparent substrate, it may be desired to simultaneously grasp characteristics such as flicker and flicker in addition to the effect of suppressing ambient light.

그러나, 지금까지 투명 기체의 방현성과 번쩍거림의 양방을 평가하는 방법은, 그다지 알려지지 않았다. 특히, 투명 기체의 번쩍거림에 대해서는, 지금까지 평가 수법이 충분히 확립되어 있다고는 하기 어렵고, 정량적으로 평가하는 것 자체가 어렵다는 문제가 있다.However, heretofore, the method of evaluating both the flash-time and the flashing of the transparent gas has not been known so far. Particularly, regarding the flashing of the transparent gas, it is difficult to say that the evaluation method has been sufficiently established so far, and it is difficult to quantitatively evaluate it.

또한, 투명 기체의 번쩍거림 평가 장치로서, 최근 SMS-1000 장치 (Display-Messtechnik & Systeme 사 제조) 가 주목받고 있다. 이 SMS-1000 장치에서는, 고체 촬상 소자를 개재하여 촬영된 투명 기체의 일부의 화상 (휘도) 의 해석에 의해, 투명 기체의 번쩍거림을 평가할 수 있다.In addition, as an apparatus for evaluating the glare of a transparent substrate, a recent SMS-1000 apparatus (manufactured by Display-Messtechnik & Systeme) has attracted attention. In this SMS-1000 apparatus, the glare of the transparent substrate can be evaluated by analyzing a part of the image (luminance) of the transparent substrate photographed via the solid-state image sensor.

그러나, 본원 발명자들의 지견에 의하면, SMS-1000 장치에 의한 평가에서는, 종종 적정한 번쩍거림의 측정 결과가 얻어지지 않는 것이 확인되고 있다. 즉, 육안 관찰에서는, 유의한 번쩍거림이 확인되지는 않지만, SMS-1000 장치에 의한 평가에서는, 투명 기체가 현저한 번쩍거림을 나타낸다고 판단되는 경우와, 그 반대의 결과가 생기는 경우가 존재한다.However, according to the findings of the present inventors, it has been confirmed that, in the evaluation by the SMS-1000 apparatus, measurement results of proper glare are sometimes not obtained. That is, in the visual observation, no significant flashing is confirmed, but in the evaluation by the SMS-1000 apparatus, there are cases in which the transparent gas is judged to exhibit remarkable flashing, and vice versa.

이와 같이, 현재도 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 양방을 적정하게 파악하는 기술을 필요로 하고 있다.As described above, there is still a need for a technique for properly grasping both the flashing property of the transparent substrate and the flashing.

본 발명은 이와 같은 배경을 감안하여 이루어진 것으로, 본 발명에서는, 안티글레어 처리된 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 양방을 적정하게 평가하는 것이 가능한 평가 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above background, and an object of the present invention is to provide an evaluation method capable of appropriately evaluating both the flashing property and flashing of an anti-glare-treated transparent substrate.

본 발명에서는, 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법으로서, In the present invention, as a method for evaluating the optical characteristics of a transparent substrate,

제 1 및 제 2 표면을 갖고, 상기 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체의 정량화된 방현성 지표치를 취득하는 스텝과, Obtaining a quantified anti-glare index value of the transparent substrate having the first and second surfaces, the anti-glare treatment of the first surface,

상기 투명 기체의 정량화된 번쩍거림 지표치를 취득하는 스텝을 무순서로 갖고,A step of acquiring a quantified glare index value of the transparent substrate in a non-sequential manner,

상기 정량화된 방현성 지표치는,The quantified anti-

(a) 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체의 상기 제 1 표면측으로부터, 상기 투명 기체의 두께 방향에 대하여 20˚의 방향으로 제 1 광을 조사하고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 20˚정반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,(a) irradiating first light from the first surface side of the transparent substrate having the first and second surfaces in a direction of 20 占 with respect to the thickness direction of the transparent substrate; A step of measuring a luminance of regularly reflected light,

(b) 상기 제 1 표면에 의해 반사되는 반사광의 수광 각도를 -20˚∼ +60˚의 범위에서 변화시키고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 전체 반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,(b) changing a light receiving angle of the reflected light reflected by the first surface in a range of -20 to +60 degrees, and measuring a luminance of the entire reflected light reflected by the first surface;

(c) 이하의 식 (1) 로부터, 방현성 지표치 (R) 를 산정하는 스텝과(c) a step of calculating the value D of the dazzling index from the following formula (1); and

방현성 지표치 (R) = Flammability Index (R) =

(전체 반사광의 휘도 -20˚정반사광의 휘도)/(전체 반사광의 휘도)(Luminance of total reflected light-luminance of regularly reflected light of -20 占 / luminance of total reflected light)

식 (1)Equation (1)

에 의해 얻어지고,Lt; / RTI >

상기 정량화된 번쩍거림 지표치는,The quantified glare indicator value

(A) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면이 표시 장치측이 되도록 하여, 상기 표시 장치 상에 배치하는 스텝과,(A) placing the transparent substrate on the display device so that the second surface is on the display device side, and

(B) 상기 표시 장치를 온으로 한 상태에서, 고체 촬상 소자를 사용하여 상기 투명 기체를 촬영하여, 제 1 화상을 취득하는 스텝으로서, 상기 고체 촬상 소자와 상기 투명 기체 사이의 거리를 d 로 하고, 상기 고체 촬상 소자의 초점 거리를 f 로 했을 때, 촬영시의 거리 지수 (r (=d/f)) 는, 8 이상인 스텝과,(B) obtaining a first image by photographing the transparent substrate using the solid-state image pickup element in a state in which the display device is turned on, wherein a distance between the solid-state image pickup element and the transparent substrate is d , And the distance index r (= d / f) at the time of photographing when the focal length of the solid-state image sensor is f,

(C) 상기 취득된 제 1 화상으로부터, 제 1 휘도 분포를 형성하는 스텝과,(C) forming a first luminance distribution from the acquired first image,

(D) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면과 대략 평행한 방향으로 움직이게 하여, 상기 투명 기체를 상기 표시 장치에 대하여 이동시키는 스텝과,(D) moving the transparent substrate with respect to the display device by moving the transparent substrate in a direction substantially parallel to the second surface,

(E) 상기 (B) 및 (C) 의 스텝을 반복하여, 취득된 제 2 화상으로부터, 제 2 휘도 분포를 형성하는 스텝과,(E) repeating the steps (B) and (C) to form a second luminance distribution from the acquired second image,

(F) 상기 제 1 휘도 분포와 상기 제 2 휘도 분포의 차분으로부터, 차분 휘도 분포 (ΔS) 를 구하는 스텝과,(F) obtaining a difference luminance distribution (? S) from a difference between the first luminance distribution and the second luminance distribution;

(G) 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 을 산정함과 함께, 이하의 식 (2) 로부터, 출력치 (A) 를 얻는 스텝과,(G) calculating an average luminance distribution (ΔS ave ) and a variance (σ) from the differential luminance distribution (ΔS) and obtaining an output value (A) from the following expression (2)

출력치 (A) = 분산 (σ)/평균 휘도 분포 (ΔSave) 식 (2)Output value (A) = dispersion (?) / Average luminance distribution (? S ave )

(H) 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝을, 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로 실시하고, 출력치 (A) 대신에 참조 출력치 (Q) 를 얻는 스텝으로서, 그 (H) 의 스텝은, 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝 전, 또는 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝과 병렬로 실시되는 스텝과,(H) A step of performing the above steps (A) to (G) with a transparent gas subjected to a reference anti-glare treatment to obtain a reference output value Q instead of the output value A, The step includes steps performed before the steps (A) to (G) or in parallel with the steps (A) to (G)

(I) 이하의 식 (3) 으로부터, 번쩍거림 지표치 (G) 를 구하는 스텝과,(I), a step of obtaining the flashing index value G from the following formula (3)

번쩍거림 지표치 (G) = (출력치 (A))/(참조 출력치 (Q)) 식 (3)(G) = (output value A) / (reference output value Q) Equation (3)

에 의해 얻어지는 것을 특징으로 하는 방법이 제공된다.Lt; RTI ID = 0.0 > a < / RTI >

또, 본 발명에서는, 제 1 및 제 2 표면을 갖고, 상기 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체로서, In the present invention, as the transparent substrate having the first and second surfaces and having the first surface subjected to the anti-glare treatment,

전술한 본 발명에 의한 방법으로 평가했을 때에, When evaluated by the above-described method according to the present invention,

상기 방현성 지표치 (R) 가 0.4 이상이고, (R) is 0.4 or more,

상기 번쩍거림 지표치 (G) 가 0.6 이하인 것을 특징으로 하는 투명 기체가 제공된다.And the flashing index value (G) is 0.6 or less.

본 발명에서는, 안티글레어 처리된 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 양방을 적정하게 평가하는 것이 가능한 평가 방법을 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide an evaluation method capable of appropriately evaluating both the anti-glare property and the flashing property of the anti-glare-treated transparent substrate.

도 1 은 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체의 방현성을 평가하는 방법의 플로우를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2 는 방현성 지표치를 취득할 때에 사용되는, 측정 장치의 일례를 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 3 은 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법의 플로우를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 4 는 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법의 일 공정에 있어서 얻어진, 제 1 화상을 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 5 는 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법의 일 공정에 있어서 얻어진, 제 1 휘도 분포를 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 6 은 각종 투명 기체에 있어서 얻어진, 방현성 지표치 (R) (가로축) 와 번쩍거림 지표치 (G) (세로축) 의 관계의 일례를 플롯한 도면이다.
도 7 은 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체를 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 8 은 각 투명 기체에 있어서 얻어진, 육안에 의한 방현성의 레벨 (세로축) 과, 방현성 지표치 (R) (가로축) 사이의 관계의 일례를 나타낸 그래프이다.
도 9 는 각 투명 기체에 있어서 얻어진, 번쩍거림 지표치 (G) (세로축) 와, 육안에 의한 번쩍거림의 레벨 (가로축) 사이의 관계의 일례를 나타낸 그래프이다.
BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a view schematically showing a flow of a method for evaluating the scattering property of a transparent gas according to an embodiment of the present invention. FIG.
Fig. 2 is a diagram schematically showing an example of a measuring apparatus used when acquiring the value of the gas turbidity index. Fig.
3 is a view schematically showing a flow of a method of evaluating flashing of a transparent substrate according to an embodiment of the present invention.
4 is a diagram schematically showing a first image obtained in a step of a method for evaluating flashing of a transparent substrate.
5 is a diagram schematically showing a first luminance distribution obtained in a step of a method for evaluating flashing of a transparent substrate.
Fig. 6 is a diagram showing an example of the relationship between the scattering index value R (horizontal axis) and the flashing index value G (vertical axis) obtained in various transparent substrates.
7 is a diagram schematically showing a transparent substrate according to an embodiment of the present invention.
Fig. 8 is a graph showing an example of the relationship between the level (vertical axis) of visually observable scattering property obtained on each transparent substrate and the scattering index value R (horizontal axis).
9 is a graph showing an example of the relationship between the flashing index value G (vertical axis) and the level of flashing by the naked eye (horizontal axis) obtained for each transparent substrate.

이하, 본 발명에 대하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail.

전술한 바와 같이, 안티글레어 처리된 투명 기체에 있어서, 방현성과 번쩍거림의 양 특성을 파악하고 싶은 경우가 있다. 그러나, 현상황에서는, 투명 기체의 방현성과 번쩍거림의 양방을 객관적으로 평가할 수 있는 방법은 거의 확인되지 않는다.As described above, there is a case where it is desired to grasp the characteristics of the anti-glare and transparency of the transparent substrate. However, in the present situation, a method of objectively evaluating both the flash-time and the flashing of the transparent gas is scarcely confirmed.

특히, 투명 기체에 안티글레어 처리를 시공하는 수단으로는, 다양한 방법이 존재하기 때문에, 안티글레어 처리된 투명 기체의 표면도, 다양한 형태의 것이 존재한다. 이와 같은 다양한 표면을 갖는 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림을 동일한 지표로 일률적으로 평가하기는 매우 어렵다.In particular, since there are various methods for applying the anti glare treatment to the transparent substrate, there are various types of surfaces of the anti-glare treated transparent substrate. It is very difficult to uniformly evaluate the flicker and flicker of the transparent gas having various surfaces with the same index.

예를 들어, 최근 투명 기체의 번쩍거림 평가 장치로서, SMS-1000 장치가 주목받고 있다. 그러나, 본원 발명자들의 지견에 의하면, SMS-1000 장치에 의한 평가에서는, 종종 적정한 번쩍거림의 측정 결과가 얻어지지 않는 것이 확인되고 있다. 즉, 육안 관찰에서는, 유의한 번쩍거림이 확인되지 않는 투명 기체라도, SMS-1000 장치에 의한 평가에서는, 투명 기체가 큰 번쩍거림을 나타낸다고 판단되는 경우와, 그 반대의 결과가 생기는 경우가 존재한다.For example, recently, as an apparatus for evaluating flashing of a transparent gas, an SMS-1000 apparatus has attracted attention. However, according to the findings of the present inventors, it has been confirmed that, in the evaluation by the SMS-1000 apparatus, measurement results of proper glare are sometimes not obtained. That is, even in the case of a transparent gas whose significant glare is not confirmed in the visual observation, there are cases in which the transparent gas is judged to show a large flashing in the evaluation by the SMS-1000 apparatus, and vice versa .

이와 같이, 투명 기체의 번쩍거림에만 주목해도, 아직 충분히 유효한 측정 수법이 확립되어 있다고는 하기 어렵다. 또한, 투명 기체의 방현성과 번쩍거림의 양방에 주목한 평가 수법에 관해서는, 거의 존재하지 않는 것이 실정이다.Thus, even if attention is paid only to the flashing of the transparent substrate, it is difficult to say that a sufficiently effective measurement method has yet to be established. In addition, there is almost no evaluation method that focuses on both the flash-time and the flashing of the transparent gas.

이에 대하여, 본 발명에서는, 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법으로서, On the other hand, in the present invention, as a method for evaluating the optical characteristics of the transparent substrate,

제 1 및 제 2 표면을 갖고, 상기 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체의 정량화된 방현성 지표치를 취득하는 스텝과, Obtaining a quantified anti-glare index value of the transparent substrate having the first and second surfaces, the anti-glare treatment of the first surface,

상기 투명 기체의 정량화된 번쩍거림 지표치를 취득하는 스텝을 무순서로 갖고,A step of acquiring a quantified glare index value of the transparent substrate in a non-sequential manner,

상기 정량화된 방현성 지표치는,The quantified anti-

(a) 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체의 상기 제 1 표면측으로부터, 상기 투명 기체의 두께 방향에 대하여 20˚의 방향으로 제 1 광을 조사하고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 20˚정반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,(a) irradiating first light from the first surface side of the transparent substrate having the first and second surfaces in a direction of 20 占 with respect to the thickness direction of the transparent substrate; A step of measuring a luminance of regularly reflected light,

(b) 상기 제 1 표면에 의해 반사되는 반사광의 수광 각도를 -20˚∼ +60˚의 범위에서 변화시키고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 전체 반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,(b) changing a light receiving angle of the reflected light reflected by the first surface in a range of -20 to +60 degrees, and measuring a luminance of the entire reflected light reflected by the first surface;

(c) 이하의 식 (1) 로부터, 방현성 지표치 (R) 를 산정하는 스텝과(c) a step of calculating the value D of the dazzling index from the following formula (1); and

방현성 지표치 (R) = Flammability Index (R) =

(전체 반사광의 휘도 -20˚정반사광의 휘도)/(전체 반사광의 휘도) 식 (1)(Luminance of all reflected light-luminance of regularly reflected light of -20 DEG) / (luminance of total reflected light)

에 의해 얻어지고,Lt; / RTI >

상기 정량화된 번쩍거림 지표치는,The quantified glare indicator value

(A) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면이 표시 장치측이 되도록 하여, 상기 표시 장치 상에 배치하는 스텝과,(A) placing the transparent substrate on the display device so that the second surface is on the display device side, and

(B) 상기 표시 장치를 온으로 한 상태에서, 고체 촬상 소자를 사용하여 상기 투명 기체를 촬영하여, 제 1 화상을 취득하는 스텝으로서, 상기 고체 촬상 소자와 상기 투명 기체 사이의 거리를 d 로 하고, 상기 고체 촬상 소자의 초점 거리를 f 로 했을 때, 촬영시의 거리 지수 (r (=d/f)) 는, 8 이상인 스텝과,(B) obtaining a first image by photographing the transparent substrate using the solid-state image pickup element in a state in which the display device is turned on, wherein a distance between the solid-state image pickup element and the transparent substrate is d , And the distance index r (= d / f) at the time of photographing when the focal length of the solid-state image sensor is f,

(C) 상기 취득된 제 1 화상으로부터, 제 1 휘도 분포를 형성하는 스텝과,(C) forming a first luminance distribution from the acquired first image,

(D) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면과 대략 평행한 방향으로 움직이게 하여, 상기 투명 기체를 상기 표시 장치에 대하여 이동시키는 스텝과,(D) moving the transparent substrate with respect to the display device by moving the transparent substrate in a direction substantially parallel to the second surface,

(E) 상기 (B) 및 (C) 의 스텝을 반복하여, 취득된 제 2 화상으로부터, 제 2 휘도 분포를 형성하는 스텝과,(E) repeating the steps (B) and (C) to form a second luminance distribution from the acquired second image,

(F) 상기 제 1 휘도 분포와 상기 제 2 휘도 분포의 차분으로부터, 차분 휘도 분포 (ΔS) 를 구하는 스텝과,(F) obtaining a difference luminance distribution (? S) from a difference between the first luminance distribution and the second luminance distribution;

(G) 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 을 산정함과 함께, 이하의 식 (2) 로부터, 출력치 (A) 를 얻는 스텝과,(G) calculating an average luminance distribution (ΔS ave ) and a variance (σ) from the differential luminance distribution (ΔS) and obtaining an output value (A) from the following expression (2)

출력치 (A) = 분산 (σ)/평균 휘도 분포 (ΔSave) 식 (2)Output value (A) = dispersion (?) / Average luminance distribution (? S ave )

(H) 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝을, 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로 실시하고, 출력치 (A) 대신에 참조 출력치 (Q) 를 얻는 스텝으로서, 그 (H) 의 스텝은, 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝 전, 또는 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝과 병렬로 실시되는 스텝과,(H) A step of performing the above steps (A) to (G) with a transparent gas subjected to a reference anti-glare treatment to obtain a reference output value Q instead of the output value A, The step includes steps performed before the steps (A) to (G) or in parallel with the steps (A) to (G)

(I) 이하의 식 (3) 으로부터, 번쩍거림 지표치 (G) 를 구하는 스텝과,(I), a step of obtaining the flashing index value G from the following formula (3)

번쩍거림 지표치 (G) = (출력치 (A))/(참조 출력치 (Q)) 식 (3)(G) = (output value A) / (reference output value Q) Equation (3)

에 의해 얻어지는 것을 특징으로 하는 방법이 제공된다.Lt; RTI ID = 0.0 > a < / RTI >

본 발명에 의한 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법에서는, 이하에 상세하게 나타내는 바와 같이, 안티글레어 처리의 방법에 의하지 않고, 안티글레어 처리된 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 양방을 적정하게 평가하는 것이 가능해진다.In the method of evaluating the optical characteristics of the transparent substrate according to the present invention, as described in detail below, the anti-glare-treated transparent substrate is properly evaluated for both the scattering property and the flashing property, .

또, 본 발명에 의한 방법에서는, 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림으로서, 수치화된 값이 사용된다. 이 때문에, 방현성 및 번쩍거림에 관해서, 관찰자의 주관이나 선입관에 구애되지 않고, 이들 광학 특성을 객관적이고 또한 정량적으로 판단 가능하다.Further, in the method according to the present invention, the numerical value is used as the scattering property and the flashing of the transparent substrate. Therefore, with respect to the flashing property and the flashing, it is possible to objectively and quantitatively judge these optical characteristics without regard to the subjective or preconstructed view of the observer.

(본 발명에 의한 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법의 일 실시형태에 대하여) (Regarding one embodiment of the method for evaluating the optical characteristics of the transparent substrate according to the present invention)

다음에 도면을 참조하여, 본 발명에 의한 방법에 사용될 수 있는, 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 각각을 평가하는 방법의 일 실시형태에 대하여 설명한다.Next, with reference to the drawings, one embodiment of a method for evaluating each of the opacity and flashing of the transparent gas which can be used in the method according to the present invention will be described.

(방현성 평가 방법)(Evaluation method of flammability)

도 1 에는 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체의 방현성을 평가하는 방법의 플로우를 개략적으로 나타낸다.Fig. 1 schematically shows a flow of a method for evaluating the scattering property of a transparent gas according to an embodiment of the present invention.

도 1 에 나타내는 바와 같이, 이 투명 기체의 방현성을 평가하는 방법 (이하, 「제 1 방법」이라고도 칭한다) 은,As shown in Fig. 1, a method (hereinafter also referred to as " first method ") for evaluating the light-

(a) 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체의 상기 제 1 표면측으로부터, 상기 투명 기체의 두께 방향에 대하여 20˚의 방향으로 제 1 광을 조사하고, 상기 제 1 표면에서 정반사하는 광 (이하, 「20˚정반사광」이라고도 한다) 의 휘도를 측정하는 스텝 (스텝 S110) 과,(a) irradiating first light from the first surface side of the transparent substrate having the first and second surfaces in a direction of 20 占 with respect to the thickness direction of the transparent substrate, and (Hereinafter also referred to as " 20 ° regular reflection light ") (step S110)

(b) 상기 제 1 표면에 의해 반사되는 반사광의 수광 각도를 -20˚∼ +60˚의 범위에서 변화시키고, 상기 제 1 표면에 의해 반사되는 제 1 광 (이하, 「전체 반사광」이라고도 한다) 의 휘도를 측정하는 스텝 (스텝 S120) 과,(b) a light receiving angle of the reflected light reflected by the first surface is changed in a range of -20 to +60 degrees, and the first light reflected by the first surface (hereinafter also referred to as " total reflected light " A step of measuring luminance (step S120)

(c) 이하의 식 (1) 로부터, 방현성 지표치 (R) 를 산정하는 스텝 (스텝 S130)(c) From the following equation (1), the step of calculating the dazzling index value R (step S130)

방현성 지표치 (R) = Flammability Index (R) =

(전체 반사광의 휘도 -20˚정반사광의 휘도)/(전체 반사광의 휘도) 식 (1) (Luminance of all reflected light-luminance of regularly reflected light of -20 DEG) / (luminance of total reflected light)

을 갖는다.Respectively.

이하, 각 스텝에 대하여 설명한다.Hereinafter, each step will be described.

(스텝 S110)(Step S110)

우선, 서로 대향하는 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체가 준비된다.First, a transparent substrate having first and second surfaces facing each other is prepared.

투명 기체는 투명하기만 하면, 어떠한 재료로 구성되어도 된다. 투명 기체는, 예를 들어 유리 또는 플라스틱 등이어도 된다.The transparent substrate may be made of any material as long as it is transparent. The transparent gas may be, for example, glass or plastic.

투명 기체가 유리로 구성되는 경우, 유리의 조성은 특별히 한정되지 않는다. 유리는, 예를 들어 소다라임 유리 또는 알루미노실리케이트 유리여도 된다.When the transparent gas is composed of glass, the composition of the glass is not particularly limited. The glass may be, for example, soda lime glass or aluminosilicate glass.

또, 투명 기체가 유리로 구성되는 경우, 제 1 및/또는 제 2 표면은 화학 강화 처리되어도 된다.When the transparent gas is made of glass, the first and / or second surfaces may be chemically strengthened.

여기서, 화학 강화 처리란, 알칼리 금속을 포함하는 용융염 중에 유리 기판을 침지시켜, 유리 기판의 최표면에 존재하는 이온 반경이 작은 알칼리 금속 (이온) 을, 용융염 중에 존재하는 이온 반경이 큰 알칼리 금속 (이온) 으로 치환하는 기술의 총칭을 말한다. 화학 강화 처리법에서는, 처리된 유리 기판의 표면에는 원래의 원자보다 이온 반경이 큰 알칼리 금속 (이온) 이 배치된다. 이 때문에, 유리 기판의 표면에 압축 응력을 부여할 수 있고, 이로써 유리 기판의 강도 (특히 균열 강도) 가 향상된다.Here, the chemical strengthening treatment refers to a treatment of immersing a glass substrate in a molten salt containing an alkali metal to remove an alkali metal (ion) having a small ionic radius present on the outermost surface of the glass substrate, Metal (ion). In the chemical strengthening treatment method, alkali metal (ion) having a larger ionic radius than the original atom is disposed on the surface of the processed glass substrate. Therefore, compressive stress can be applied to the surface of the glass substrate, whereby the strength (in particular, the crack strength) of the glass substrate is improved.

예를 들어, 유리 기판이 나트륨 이온 (Na) 을 포함하는 경우, 화학 강화 처리에 의해, 이 나트륨 이온은 예를 들어 칼륨 이온 (K) 으로 치환된다. 또는, 예를 들어 유리 기판이 리튬 이온 (Li) 을 포함하는 경우, 화학 강화 처리에 의해, 이 리튬 이온은, 예를 들어 나트륨 이온 (Na) 및/또는 칼륨 이온 (K) 으로 치환되어도 된다.For example, when the glass substrate comprises sodium ions (Na < + & gt ; ), the sodium ions are replaced by, for example, potassium ions (K < + & gt ; ) by chemical strengthening treatment. Or, for example, in the case that the glass substrate comprises a lithium ion (Li +), by the chemical strengthening treatment, a lithium ion, for example, replaced with sodium ions (Na +) and / or a potassium ion (K +) .

한편, 투명 기체가 플라스틱으로 구성되는 경우, 플라스틱의 조성은 특별히 한정되지 않는다. 투명 기체는, 예를 들어 폴리카보네이트 기판이어도 된다.On the other hand, when the transparent substrate is made of plastic, the composition of the plastic is not particularly limited. The transparent substrate may be, for example, a polycarbonate substrate.

또한, 스텝 S110 전에, 투명 기체의 제 1 표면을 안티글레어 처리하는 스텝이 실시된다. 안티글레어 처리의 방법은 특별히 한정되지 않는다. 안티글레어 처리는, 예를 들어 프로스트 처리, 에칭 처리, 샌드 블라스트 처리, 랩핑 처리, 또는 실리카 코트 처리 등이어도 된다.Also, before step S110, a step of anti-glare processing the first surface of the transparent substrate is performed. The method of anti-glare treatment is not particularly limited. The anti-glare treatment may be, for example, a frost treatment, an etching treatment, a sandblasting treatment, a lapping treatment, a silica coating treatment or the like.

본 발명의 일 실시형태에 의한 방현성 측정 방법에서는, 투명 기체의 방현성을 나타내는 정량적인 지표치 (방현성 지표치 (R)) 를 사용하여, 각종 투명 기체를 일률적으로 평가할 수 있다. 따라서, 안티글레어 처리의 방법으로서 각종 방법을 채용할 수 있다.In the method of measuring the gas turbidity according to the embodiment of the present invention, various transparent gases can be uniformly evaluated by using a quantitative index value (ruggedness index value R) indicating the gas turbidity of the transparent gas. Therefore, various methods can be employed as the anti-glare processing method.

안티글레어 처리 후의 투명 기체의 제 1 표면은, 예를 들어 0.05 ㎛ ∼ 1.0 ㎛ 의 범위의 표면 조도 (산술 평균 조도 (Ra)) 를 가져도 된다.The first surface of the transparent substrate after the anti-glare treatment may have a surface roughness (arithmetic mean roughness (Ra)) in the range of 0.05 mu m to 1.0 mu m, for example.

다음으로, 준비된 투명 기체의 제 1 표면측으로부터, 투명 기체의 두께 방향에 대하여 20˚±0.5˚의 방향을 향해, 제 1 광이 조사된다. 제 1 광은, 투명 기체의 제 1 표면에서 반사된다. 이 반사광 중, 20˚정반사광을 수광하고, 그 휘도를 측정하여, 「20˚정반사광의 휘도」라고 한다.Next, from the first surface side of the prepared transparent substrate, the first light is irradiated toward the direction of 20 占 0.5 占 with respect to the thickness direction of the transparent substrate. The first light is reflected at the first surface of the transparent substrate. Among the reflected light, 20 ° regularly reflected light is received, and its luminance is measured to be referred to as " luminance of 20 ° regularly reflected light ".

(스텝 S120)(Step S120)

다음으로, 제 1 표면에서 반사되는 반사광의 수광 각도를 -20˚∼ +60˚의 범위에서 변화시키고, 동일한 조작을 실시한다. 이 때, 투명 기체의 제 1 표면에서 반사되어, 제 1 표면으로부터 출사되는 제 1 광의 휘도 분포를 측정하고 합계내어, 「전체 반사광의 휘도」라고 한다.Next, the light receiving angle of the reflected light reflected from the first surface is changed in the range of -20 to +60, and the same operation is performed. At this time, the luminance distribution of the first light reflected from the first surface of the transparent substrate and emitted from the first surface is measured and summed to be referred to as " luminance of the entire reflected light ".

(스텝 S130)(Step S130)

다음으로, 이하의 식 (1) 로부터, 방현성 지표치 (R) 를 산정한다 : Next, from the following equation (1), the value of the non-uniformity index R is calculated:

방현성 지표치 (R) = Flammability Index (R) =

(전체 반사광의 휘도 -20˚정반사광의 휘도)/(전체 반사광의 휘도) 식 (1)(Luminance of all reflected light-luminance of regularly reflected light of -20 DEG) / (luminance of total reflected light)

이 방현성 지표치 (R) 는, 후술하는 바와 같이, 관찰자의 육안에 의한 방현성의 판단 결과와 상관되며, 사람의 시감 (視感) 에 가까운 거동을 나타내는 것이 확인되어 있다. 예를 들어, 방현성 지표치 (R) 가 큰 값 (1 에 가까운 값) 을 나타내는 투명 기체는, 방현성이 우수하고, 반대로 방현성 지표치 (R) 가 작은 값을 나타내는 투명 기체는, 방현성이 떨어지는 경향이 있다. 따라서, 이 방현성 지표치 (R) 는, 투명 기체의 방현성을 판단할 때의 정량적 지표로서 사용 가능하다.As described later, the gauges index R correlates with the judgment result of the visibility of the observer's eyesight, and it is confirmed that the gauges index R exhibits a behavior close to that of a person's sight. For example, a transparent gas having a large value (a value close to 1) of the zigzagging index value R is excellent in the retardation property and the transparent gas having a small value of the zigzagging index value R, There is a tendency to lose sight. Therefore, the anti-glare index value R can be used as a quantitative indicator in determining the anti-glare properties of the transparent gas.

도 2 에는, 전술한 식 (1) 로 나타내는 방현성 지표치 (R) 를 취득할 때에 사용되는, 측정 장치의 일례를 모식적으로 나타낸다.Fig. 2 schematically shows an example of a measuring apparatus used when acquiring the ruggedness index R shown in the above-mentioned equation (1).

도 2 에 나타내는 바와 같이, 측정 장치 (300) 는, 광원 (350) 및 검출기 (370) 를 갖고, 측정 장치 (300) 내에 투명 기체 (210) 가 배치된다. 투명 기체 (210) 는, 제 1 표면 (212) 및 제 2 표면 (214) 을 갖는다. 광원 (350) 은, 투명 기체 (210) 를 향해, 제 1 광 (362) 을 방사한다. 검출기 (370) 는, 제 1 표면 (212) 에 있어서 반사되는 반사광 (364) 을 수광하고, 그 휘도를 검출한다.2, the measuring apparatus 300 has a light source 350 and a detector 370, and the transparent substrate 210 is disposed in the measuring apparatus 300. As shown in Fig. The transparent substrate 210 has a first surface 212 and a second surface 214. The light source 350 emits the first light 362 toward the transparent substrate 210. The detector 370 receives the reflected light 364 reflected at the first surface 212 and detects the luminance.

또한, 투명 기체 (210) 는, 제 1 표면 (212) 이 광원 (350) 및 검출기 (370) 측이 되도록 배치된다. 따라서, 검출기 (370) 가 검출하는 제 1 광은, 투명 기체 (210) 에서 반사된 반사광 (364) 이다. 또, 투명 기체 (210) 의 일방의 표면이 안티글레어 처리되어 있는 경우, 이 안티글레어 처리되어 있는 표면이, 투명 기체 (210) 의 제 1 표면 (212) 이 된다. 즉, 이 경우, 투명 기체 (210) 는, 안티글레어 처리되어 있는 표면이 광원 (350) 및 검출기 (370) 측이 되도록 하여, 측정 장치 (300) 내에 배치된다.The transparent substrate 210 is disposed such that the first surface 212 is on the light source 350 and the detector 370 side. Therefore, the first light detected by the detector 370 is the reflected light 364 reflected by the transparent substrate 210. [ When the surface of one side of the transparent substrate 210 is anti-glare-treated, the anti-glare-treated surface becomes the first surface 212 of the transparent substrate 210. That is, in this case, the transparent substrate 210 is placed in the measuring apparatus 300 so that the surface on which the anti-glare treatment is performed becomes the light source 350 and the detector 370 side.

또, 제 1 광 (362) 은, 투명 기체 (210) 의 두께 방향에 대하여, 20˚경사진 각도로 조사된다. 또한, 본원에서는, 측정 장치의 오차를 고려하여, 20˚±0.5˚의 범위를, 각도 20˚로 정의한다.The first light 362 is irradiated at an angle inclined by 20 DEG with respect to the thickness direction of the transparent substrate 210. [ Also, in the present application, a range of 20 deg. 0.5 deg. Is defined as an angle of 20 deg. In consideration of the error of the measuring apparatus.

이와 같은 측정 장치 (300) 에 있어서, 광원 (350) 으로부터 투명 기체 (210) 를 향해 제 1 광 (362) 을 조사하고, 수광 각도 (φ) 가 20˚가 되도록 배치된 검출기 (370) 를 사용하여, 투명 기체 (210) 의 제 1 표면 (212) 에서 반사되는 정반사광 (364) 을 검출한다. 이로써, 「20˚정반사광」이 검출된다.In this measuring apparatus 300, the first light 362 is irradiated from the light source 350 toward the transparent substrate 210, and the detector 370 arranged so that the light receiving angle? And detects the regularly reflected light 364 reflected from the first surface 212 of the transparent substrate 210. Thus, " 20 ° regular reflection light " is detected.

다음으로, 검출기 (370) 에 있어서, 반사광 (364) 을 측정하는 수광 각도 (φ) 를, -20˚∼ +60˚의 범위에서 변화시키고, 동일한 조작을 실시한다.Next, in the detector 370, the light receiving angle [phi] for measuring the reflected light 364 is changed in the range of -20 [deg.] To + 60 [deg.], And the same operation is performed.

그리고, 수광 각도 (φ) = -20˚∼ +60˚의 범위에서, 투명 기체 (210) 의 제 1 표면 (212) 에서 반사된 반사광 (364) (전체 반사광이라고 한다) 의 휘도 분포를 검출하여, 합계낸다.The luminance distribution of the reflected light 364 (referred to as total reflected light) reflected by the first surface 212 of the transparent substrate 210 is detected in the range of the light receiving angle? = -20 to +60 degrees, Sum up.

여기서, 수광 각도 (φ) 의 마이너스 (-) 는, 당해 수광 각도가, 평가 대상이 되는 대상 표면 (상기 예에서는 제 1 표면) 의 법선보다, 입사광측에 있는 것을 나타내고, 플러스 (+) 는, 당해 수광 각도가, 대상 표면의 법선에 비해 입사광측에 없는 것을 나타낸다.Here, the negative (-) of the light receiving angle? Indicates that the light receiving angle is on the incident light side with respect to the object surface (the first surface in this example) to be evaluated and the plus (+ Indicates that the light receiving angle is not on the incident light side as compared with the normal line of the object surface.

얻어진 20˚정반사광의 휘도 및 전체 반사광의 휘도로부터, 전술한 식 (1) 에 의해, 투명 기체 (210) 의 방현성 지표치 (R) 를 취득할 수 있다. 또한, 이와 같은 측정은, 시판되는 고니오미터 (변각 광도계) 를 사용함으로써 용이하게 실시할 수 있다.From the luminance of the obtained 20 ° regular reflection light and the luminance of the totally reflected light, it is possible to obtain the anti-scattering index value R of the transparent substrate 210 by the above-mentioned equation (1). Such a measurement can be easily carried out by using a commercially available goniometer (a goniometer).

또한, 제 1 광의 조사 각도는 60˚∼ 5˚의 범위에서 적절히 선택할 수 있다. 단, 본원에서는, 육안 관찰에 의한 방현성 평가와 정량 평가가 양호한 상관을 나타내는 관점에서, 제 1 광의 조사 각도로서 20˚를 선택하고 있다.Also, the irradiation angle of the first light can be suitably selected in the range of 60 DEG to 5 DEG. However, in the present application, 20 占 is selected as the irradiation angle of the first light from the viewpoint of showing a good correlation between the blurring evaluation by visual observation and the quantitative evaluation.

(번쩍거림 지표치에 대하여)(Against glare indicator)

도 3 에는, 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법의 플로우를 개략적으로 나타낸다.Fig. 3 schematically shows a flow of a method for evaluating flashing of a transparent gas according to an embodiment of the present invention.

도 3 에 나타내는 바와 같이, 이 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법 (이하, 「제 2 방법」이라고도 칭한다) 은,As shown in Fig. 3, a method (hereinafter referred to as " second method ") for evaluating the flashing of the transparent substrate,

(A) 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체를, 제 2 표면이 표시 장치측이 되도록 하여, 상기 표시 장치 상에 배치하는 스텝 (스텝 S210) 과,(A) a step of placing a transparent substrate having first and second surfaces on the display device so that the second surface is on the display device side (step S210)

(B) 상기 표시 장치를 온으로 한 상태에서, 고체 촬상 소자를 사용하여 상기 투명 기체를 촬영하여, 제 1 화상을 취득하는 스텝으로서, 상기 고체 촬상 소자와 상기 투명 기체 사이의 거리를 d 로 하고, 상기 고체 촬상 소자의 초점 거리를 f 로 했을 때, 촬영시의 거리 지수 (r (=d/f)) 는, 8 이상인 스텝 (스텝 S220) 과,(B) obtaining a first image by photographing the transparent substrate using the solid-state image pickup element in a state in which the display device is turned on, wherein a distance between the solid-state image pickup element and the transparent substrate is d (Step S220) in which the distance index r (= d / f) at the time of photographing is 8 or more when the focal length of the solid-state image sensor is f,

(C) 상기 취득된 제 1 화상으로부터, 제 1 휘도 분포를 형성하는 스텝 (스텝 S230) 과,(C) a step of forming a first luminance distribution from the acquired first image (step S230)

(D) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면과 대략 평행한 방향으로 움직이게 하여, 상기 투명 기체를 상기 표시 장치에 대하여 이동시키는 스텝 (스텝 S240) 과,(D) moving the transparent substrate in a direction substantially parallel to the second surface to move the transparent substrate relative to the display device (step S240); and

(E) 상기 (B) 및 (C) 의 스텝을 반복하여, 취득된 제 2 화상으로부터, 제 2 휘도 분포를 형성하는 스텝 (스텝 S250) 과,(E) repeating the steps (B) and (C) to form a second luminance distribution from the acquired second image (step S250)

(F) 상기 제 1 휘도 분포와 상기 제 2 휘도 분포의 차분으로부터, 차분 휘도 분포 (ΔS) 를 구하는 스텝 (스텝 S260) 과,(F) a step of obtaining a differential luminance distribution (? S) from the difference between the first luminance distribution and the second luminance distribution (step S260)

(G) 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 을 산정함과 함께, 이하의 식 (2) 로부터, 출력치 (A) 를 얻는 스텝 (스텝 S270) 과,(G) A step (step S270) of calculating the average luminance distribution (? S ave ) and the variance (?) From the differential luminance distribution (? S) and obtaining the output value (A) and,

출력치 (A) = 분산 (σ)/평균 휘도 분포 (ΔSave) 식 (2)Output value (A) = dispersion (?) / Average luminance distribution (? S ave )

(H) 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝을, 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로 실시하고, 출력치 (A) 대신에 참조 출력치 (Q) 를 얻는 스텝 (스텝 S280) 과,(H) a step (S280) of performing the steps (A) to (G) with a transparent gas subjected to reference anti-glare treatment to obtain a reference output value Q instead of the output value A,

(I) 이하의 식 (3) 으로부터, 번쩍거림 지표치 (G) 를 구하는 스텝 (스텝 S290) 과,(Step S290) of obtaining the flashing index value G from the following equation (3)

번쩍거림 지표치 (G) = (출력치 (A))/(참조 출력치 (Q)) 식 (3)(G) = (output value A) / (reference output value Q) Equation (3)

를 갖는다..

이하, 각 스텝에 대하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, each step will be described in detail.

(스텝 S210)(Step S210)

우선, 서로 대향하는 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체가 준비된다. 투명 기체는, 제 1 표면이 안티글레어 처리되어 있다.First, a transparent substrate having first and second surfaces facing each other is prepared. The transparent substrate has an anti-glare treatment on the first surface.

또한, 투명 기체의 재질, 조성 등은, 전술한 스텝 S110 에 있어서 나타낸 것과 동일하기 때문에, 여기서는 더 이상 설명하지 않는다.The material, composition, and the like of the transparent substrate are the same as those shown in step S110 described above, and will not be described here.

단, 전술한 바와 같이, 종래, 예를 들어 에칭 처리 내에서의 조건 변경과 같은, 단일의 안티글레어 처리 방법간뿐만 아니라, 복수 존재하는 안티글레어 처리 방법에 따라 상이한 다양한 표면을 갖는 투명 기체의 번쩍거림을 동일한 지표로 일률적으로 평가하기는 어려웠다.However, as described above, there has been conventionally a problem in that, not only between a single anti-glare treatment method, such as a change in conditions in an etching treatment, but also a flashing of a transparent substrate having various different surfaces according to a plurality of existing anti- It was difficult to evaluate uniformly with the same index.

그러나, 본 발명의 일 실시형태에 의한 번쩍거림 평가 방법에서는, 이후에 나타내는 바와 같이, 투명 기체의 번쩍거림을 나타내는 정량적인 지표치 (번쩍거림 지표치 (G)) 를 사용하여, 각종 투명 기체를 일률적으로 평가 가능하다. 따라서, 본 발명의 일 실시형태에 의한 번쩍거림 평가 방법은, 안티글레어 처리의 처리 방법을 선택하는 수단으로도 유용한 것에 유의할 필요가 있다.However, in the flashing evaluation method according to the embodiment of the present invention, as will be described later, by using a quantitative index value (flashing index value G) indicating the flashing of the transparent substrate, It can be evaluated uniformly. Therefore, it should be noted that the flashing evaluation method according to the embodiment of the present invention is also useful as a means for selecting a processing method of anti-glare processing.

다음으로, 표시 장치가 준비된다. 표시 장치는, 화소 (픽셀) 를 갖는 것이기만 하면, 특별히 한정되지 않는다. 표시 장치는, 예를 들어 LCD 장치, OLED (Organic Light Emitting Diode) 장치, PDP (Plasma Display Panel) 장치, 또는 태블릿형 표시 장치 등이어도 된다. 표시 장치의 해상도는, 예를 들어 132 ppi 이상이 바람직하고, 186 ppi 이상이 보다 바람직하고, 264 ppi 이상이 더욱 바람직하다.Next, a display device is prepared. The display device is not particularly limited as long as it has pixels (pixels). The display device may be, for example, an LCD device, an OLED (Organic Light Emitting Diode) device, a PDP (Plasma Display Panel) device, or a tablet type display device. The resolution of the display device is preferably, for example, 132 ppi or higher, more preferably 186 ppi or higher, and more preferably 264 ppi or higher.

다음으로, 표시 장치 상에 투명 기체가 배치된다. 이 때는, 투명 기체는 제 2 표면이 표시 장치측이 되도록 하여, 표시 장치 상에 배치된다.Next, a transparent substrate is disposed on the display device. At this time, the transparent substrate is disposed on the display device so that the second surface is the display device side.

(스텝 S220)(Step S220)

다음으로, 표시 장치를 ON 으로 한 상태 (즉 화상을 표시시킨 상태) 에서, 고체 촬상 소자를 사용하여, 투명 기체를 제 1 표면측으로부터 촬영하여, 표시 장치 상에 배치된 투명 기체의 화상 (제 1 화상) 을 취득한다.Next, the transparent substrate is photographed from the first surface side using the solid-state image pickup device in a state in which the display device is turned ON (i.e., the image is displayed), and the image of the transparent substrate 1 image).

고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d) 는, 소정의 값으로 설정된다.The distance d between the solid-state image sensor and the transparent substrate is set to a predetermined value.

또한, 본원에서는, 고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d) 에 대응하는 지표로서 거리 지수 (r) 를 사용한다. 여기서, 거리 지수 (r) 는, 고체 촬상 소자의 초점 거리 (f) 및 고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d) 를 사용하여, 이하의 식 (4) 로 나타내어진다 : Further, in the present application, the distance index r is used as an index corresponding to the distance d between the solid-state image pickup device and the transparent substrate. Here, the distance index r is represented by the following formula (4) using the focal length f of the solid-state image pickup element and the distance d between the solid-state image pickup element and the transparent substrate:

거리 지수 (r) = (고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d))/(고체 촬상 소자의 초점 거리 (f)) 식 (4)(Distance d between the solid-state imaging element and the transparent substrate) / (focal length f of the solid-state imaging element) Equation (4)

또한, 본원에서는, 거리 지수 (r) 는 8 이상이다.Further, in the present application, the distance index r is 8 or more.

이는 거리 지수 (r) 가 8 보다 작아지면, 고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d) 가 작아져, 투명 기체의 안티글레어 처리된 제 1 표면의 형태의 영향을 받기 쉬워지기 때문이다. 따라서, 거리 지수 (r) 를 8 이상으로 함으로써, 적용된 안티글레어 처리 방법의 상이에 의한 제 1 표면의 형태의 차이의 영향을 유의하게 억제한 상태에서, 각종 방법으로 안티글레어 처리된 투명 기체의 번쩍거림을 일률적으로 평가하는 것이 가능해진다.This is because if the distance index r is smaller than 8, the distance d between the solid-state image sensing device and the transparent substrate becomes small, and the transparent gas becomes susceptible to the shape of the first anti-glare surface. Therefore, by setting the distance index r to 8 or more, the influence of the difference in the shape of the first surface due to the difference in the applied anti-glare treatment method is significantly suppressed, It becomes possible to uniformly evaluate the stuttering.

거리 지수 (r) 는 9 이상인 것이 바람직하고, 10 이상인 것이 보다 바람직하다.The distance index r is preferably 9 or more, more preferably 10 or more.

표시 장치에 표시시키는 이미지는, 단일 색 (예를 들어 녹색) 이미지로서, 표시 장치의 표시 화면 전체에 표시되는 것이 바람직하다. 표시 색의 차이에 의한 시인 방식의 차이 등의 영향을 최대한 작게 하기 위해서이다.The image to be displayed on the display device is preferably a single color (for example, green) image and displayed on the entire display screen of the display device. And the influence of the difference in the viewing method due to the difference in display color is minimized.

고체 촬상 소자로는, 예를 들어 전하 결합 소자 (CCD) 나 상보성 금속 산화막 반도체 (CMOS) 를 이용할 수 있다. 어느 것을 채용하는 경우에도, 고화소수를 갖는 디지털 카메라 등을 사용하는 것이 바람직하다.As the solid-state image pickup device, for example, a charge coupled device (CCD) or a complementary metal oxide semiconductor (CMOS) can be used. In either case, it is preferable to use a digital camera or the like having a high number of pixels.

이 스텝에 의해, 예를 들어 도 4 에 모식적으로 나타내는 바와 같은 제 1 화상 (410) 이 얻어진다. 도 4 에 나타내는 예에서는, 제 1 화상 (410) 에 있어서, 표시 장치의 일부의 3 행 × 3 열에 배열된 9 개의 픽셀에 대응한 영역 (이하, 대응 영역 (420-1 ∼ 420-9) 이라고 한다) 이 밝게 시인되고 있다.By this step, for example, a first image 410 schematically shown in Fig. 4 is obtained. In the example shown in Fig. 4, in the first image 410, regions corresponding to nine pixels arranged in 3 rows x 3 columns (hereinafter referred to as corresponding regions 420-1 to 420-9) It is brightly admitted.

또한, 도 4 에서는, 명확화를 위해, 각 대응 영역 (420-1 ∼ 420-9) 끼리가 충분히 이간된 상태로 나타나 있다. 그러나, 실제의 화상에서는, 각 대응 영역 (420-1 ∼ 420-9) 간의 거리는 보다 좁아, 인접하는 대응 영역끼리에서 밝은 부분이 일부 서로 겹치는 경우도 있는 것에 유의할 필요가 있다.In Fig. 4, for the sake of clarity, the corresponding regions 420-1 to 420-9 are shown to be sufficiently separated from each other. However, it should be noted that, in the actual image, the distances between the corresponding regions 420-1 to 420-9 are narrower, and the bright portions in the adjacent corresponding regions may partially overlap each other.

(스텝 S230)(Step S230)

다음으로, 스텝 S220 에 있어서 촬영된 제 1 화상 (410) 이 화상 해석되어, 제 1 휘도 분포가 형성된다. 제 1 휘도 분포는, XY 평면 상에 입체적인 맵으로서 형성된다.Next, in step S220, the photographed first image 410 is subjected to image analysis to form a first luminance distribution. The first luminance distribution is formed as a three-dimensional map on the XY plane.

도 5 에는, 이 스텝에서 얻어지는 제 1 휘도 분포의 일례를 모식적으로 나타낸다.Fig. 5 schematically shows an example of the first luminance distribution obtained in this step.

도 5 에 나타내는 바와 같이, 제 1 휘도 분포 (430) 는, 제 1 화상 (410) 의 각 대응 영역 (420-1 ∼ 420-9) 에 대응하는 영역의 각각에, 대략 정규 분포 형상의 휘도 분포 성분 (q1 ∼ q9) 을 갖는다. 보다 일반적으로는 제 1 휘도 분포 (430) 는, i 개의 복수의 휘도 분포 성분 (qi) 의 집합으로 표시된다 (i 는 2 이상의 정수).5, the first luminance distribution 430 has a luminance distribution of a substantially normal distribution in each of the regions corresponding to the corresponding regions 420-1 to 420-9 of the first image 410 (Q 1 to q 9 ). More generally, the first luminance distribution 430 is represented by a set of i number of luminance distribution components q i (i is an integer of 2 or more).

도 5 에서는, 묘사가 복잡해지는 것을 피하기 위해서, 휘도 분포 성분 (q1 ∼ q9) 은, 2 차원적으로 (즉 비입체적으로) 나타나 있는 것에 유의할 필요가 있다.It should be noted in Fig. 5 that the luminance distribution components (q 1 to q 9 ) appear two-dimensionally (i.e., non-stereoscopically) in order to avoid complication of description.

또한, 제 1 휘도 분포 (430) 의 정밀도를 높이기 위해서, 스텝 S220 에 있어서 촬영되는 제 1 화상 (410) 의 장수를 늘리고, 이 스텝 S230 에서는, 각각의 제 1 화상 (410) 에 대하여 동일한 화상 해석을 실시해도 된다. 이 경우, 그 후 각 화상 해석 결과를 평균화함으로써, 보다 정밀도가 높은 제 1 휘도 분포 (430) 가 얻어진다.In order to increase the accuracy of the first luminance distribution 430, the number of first images 410 photographed in step S220 is increased. In step S230, the same image analysis . In this case, after the respective image analysis results are averaged, the first luminance distribution 430 with higher accuracy is obtained.

(스텝 S240)(Step S240)

다음으로, 투명 기체를 제 2 표면과 평행한 방향으로 슬라이드시켜, 투명 기체를 표시 장치에 대하여 상대 이동시킨다. 이동 거리는, 10 ㎜ 미만인 것이 바람직하고, 예를 들어 수 ㎜ 여도 된다.Next, the transparent substrate is slid in a direction parallel to the second surface, and the transparent substrate is moved relative to the display device. The moving distance is preferably less than 10 mm, and may be, for example, several millimeters.

(스텝 S250)(Step S250)

다음으로, 상기 스텝 S220 ∼ 스텝 S230 을 반복한다. 즉, 표시 장치를 ON 으로 한 상태에서, 고체 촬상 소자에 의해 제 2 화상을 취득함과 함께, 제 2 화상으로부터 제 2 휘도 분포를 형성한다.Next, steps S220 to S230 are repeated. That is, in a state in which the display device is turned on, the second image is acquired by the solid-state image pickup device, and the second luminance distribution is formed from the second image.

이 스텝에 있어서도, 제 2 휘도 분포의 정밀도를 높이기 위해서, 고체 촬상 소자로 촬영되는 제 2 화상의 장수를 늘려도 된다. 그 후, 각각의 제 2 화상에 대하여 화상 해석을 실시하여, 각 화상 해석 결과를 평균화함으로써, 보다 정밀도가 높은 제 2 휘도 분포가 얻어진다.Also in this step, the number of second images photographed by the solid-state image sensor may be increased in order to increase the accuracy of the second luminance distribution. Thereafter, image analysis is performed on each second image, and the respective image analysis results are averaged to obtain a second luminance distribution with higher accuracy.

이로써, 복수의 휘도 분포 성분 (si) (여기서 i 는 2 이상의 정수) 의 집합으로 표현되는 제 2 휘도 분포가 얻어진다. 또한, 휘도 분포 성분 (si) 은, 휘도 분포 성분 (qi) 과 동일한 수로 구성된다.In this way, the second luminance distribution is represented by a set of a plurality of luminance distribution components (s i) (where i is an integer of 2 or greater) can be obtained. Further, the luminance distribution components (s i) is made up of the same number as the luminance distribution component (i q).

(스텝 S260)(Step S260)

다음으로, 제 1 휘도 분포와 제 2 휘도 분포의 차분으로부터, 차분 휘도 분포 (ΔS) 가 산정된다. 차분 휘도 분포 (ΔS) 는, 제 1 휘도 분포 및 제 2 휘도 분포와 마찬가지로, 대략 정규 분포 형상의 휘도 분포 성분 (ti) (여기서 i 는 2 이상의 정수) 의 집합으로 표현된다.Next, the differential luminance distribution? S is calculated from the difference between the first luminance distribution and the second luminance distribution. Luminance distribution difference (ΔS), the first luminance distribution, and like the second luminance distribution is represented by a set of approximate luminance distribution component of the normal distribution shape (t i) (where i is an integer of 2 or more).

(스텝 S270)(Step S270)

다음으로, 스텝 S260 에서 얻어진 차분 휘도 분포 (ΔS) 를 사용하여, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 이 산정된다.Next, the average luminance distribution (? S ave ) and the variance (?) Are calculated using the differential luminance distribution (? S) obtained in step S260.

여기서, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 는, 차분 휘도 분포 (ΔS) 에 포함되는 i 개의 휘도 분포 성분 (ti) 의 절대치를 평균화함으로써 구할 수 있다. 또, 분산 (σ) 은, 차분 휘도 분포 (ΔS) 에 포함되는 i 개의 휘도 분포 성분 (ti) 과 평균 휘도 분포 (ΔSave) 를 사용하여, 이하의 식 (5) 로부터 구할 수 있다.Here, the average luminance distribution (ΔS ave ) can be obtained by averaging the absolute values of the i luminance distribution components (t i ) included in the differential luminance distribution (ΔS). The dispersion can be obtained from the following equation (5) using the i luminance distribution components (t i ) and the average luminance distribution (? S ave ) included in the differential luminance distribution (? S).

Figure pct00001
Figure pct00001

얻어진 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 으로부터, 이하의 식 (2) 에 의해 출력치 (A) 가 산정된다The output value A is calculated from the obtained average luminance distribution (? S ave ) and dispersion (?) By the following expression (2)

출력치 (A) = 분산 (σ)/평균 휘도 분포 (ΔSave) 식 (2)Output value (A) = dispersion (?) / Average luminance distribution (? S ave )

(스텝 S280)(Step S280)

다음으로, 기준 (레퍼런스) 용 안티글레어 처리된 투명 기체를 사용하여, 전술한 스텝 S210 ∼ 스텝 S270 까지의 스텝을 실시한다. 이로써, 상기 식 (2) 의 출력치 (A) 대신에 참조 출력치 (Q) 가 취득된다.Next, the steps from step S210 to step S270 are performed using the reference (reference) anti-glare processed transparent substrate. Thus, the reference output value Q is acquired instead of the output value A of the formula (2).

번쩍거림 지표치는 후술하는 식 (3) 대로 얻어진 참조 출력치 (Q) 와의 비율로 나타내어지기 때문에, 참조 출력치 (Q) 는 측정 재현성이 강하게 요구되고, 측정마다의 오차보다 충분히 큰 것이 필요하게 된다. 적절한 참조 출력치 (Q) 를 부여하는 기준 (레퍼런스) 용 안티글레어 처리된 투명 기체를 간편하게 준비하려면, 소다라임 유리를 프로스트·에칭에 의한 안티글레어 처리를 한 평판상의 유리이고, 60 도 그로스치가 가능한 한 크고, 또한 조도 곡선 요소의 평균 길이 (RSm) 가 70 ㎛ 이상 120 ㎛ 미만인 것으로서, 시판품으로서 입수 가능한 것을 선정하면 된다.The reference output value Q is required to have a high measurement reproducibility and sufficiently larger than the error per measurement because the flashing index value is represented by the ratio with the reference output value Q obtained in accordance with the below-described formula (3) . In order to easily prepare an anti-glare processed transparent substrate for reference (reference) for giving an appropriate reference output value Q, soda lime glass is a flat glass which is subjected to anti-glare treatment by frost etching, And the mean length (RSm) of the roughness curve elements is not less than 70 占 퐉 and less than 120 占 퐉, and those available as commercial products may be selected.

여기서 60 도 그로스치는 JIS-Z8741 에 준거한 방법에 의해 경면 광택도로서 측정할 수 있다. 60 도 그로스치는 예를 들어 110 이상이며, 120 이상이 보다 바람직하다. 조도 곡선 요소의 평균 길이 (RSm) 는 JIS B0601 (2001) 에 준거한 방법에 의해 측정할 수 있다. 조도 곡선 요소의 평균 길이 (RSm) 는 예를 들어 70 ㎛ 이상이며, 80 ㎛ 이상이 보다 바람직하고, 또한 120 ㎛ 미만이며, 110 ㎛ 미만이 바람직하다.Here, the 60 degree gloss can be measured as a mirror gloss by a method in accordance with JIS-Z8741. The 60 degree gross value is, for example, 110 or more, and more preferably 120 or more. The average length (RSm) of the roughness curve elements can be measured by a method in accordance with JIS B0601 (2001). The average length RSm of the roughness curve elements is, for example, 70 mu m or more, more preferably 80 mu m or more, further preferably 120 mu m or less and preferably 110 mu m or less.

본 발명의 일 실시형태에 있어서는, 상기와 같은 조건을 만족하는 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로서, 60 도 글로스치가 140 %, 또한 표면 조도 곡선 요소의 평균 길이 (RSm) 가 85 ㎛ 인, VRD140 안티글레어 처리 유리 (아사히 가라스 주식회사 제조) 를 선정하였다.In one embodiment of the present invention, the reference anti-glare treated transparent substrate satisfying the above-mentioned conditions is a VRD 140 (having a 60 degree gloss value of 140% and an average length RSm of the surface roughness curve element of 85 m) Anti-glare treatment glass (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) was selected.

또한, 이 스텝 S280 은, 평가용 안티글레어 처리된 투명 기체를 사용하여, 전술한 스텝 S210 ∼ 스텝 S270 을 실시하기 전에 실시되어도 된다. 또는, 이 스텝 S280 은, 평가용 안티글레어 처리된 투명 기체에 있어서의 스텝 S210 ∼ 스텝 S270 의 실시와 병렬로 실시되어도 된다.The step S280 may be performed before the above-described steps S210 to S270 are performed using the transparent substrate subjected to the anti-glare treatment for evaluation. Alternatively, this step S280 may be performed in parallel with the execution of the steps S210 to S270 in the transparent substrate subjected to the evaluation anti-glare treatment.

(스텝 S290)(Step S290)

다음으로, 출력치 (A) 및 참조 출력치 (Q) 를 사용하여, 이하의 식 (3) 으로부터, 번쩍거림 지표치 (G) 가 구해진다 : Next, using the output value A and the reference output value Q, the flashing index value G is obtained from the following expression (3): " (1) "

번쩍거림 지표치 (G) = (출력치 (A))/(참조 출력치 (Q)) 식 (3)(G) = (output value A) / (reference output value Q) Equation (3)

이 번쩍거림 지표치 (G) 는, 후술하는 바와 같이, 관찰자의 육안에 의한 번쩍거림의 판단 결과와 상관되며, 사람의 시감에 가까운 거동을 나타내는 것이 확인되어 있다. 예를 들어, 번쩍거림 지표치 (G) 가 큰 투명 기체는, 번쩍거림이 현저하고, 반대로 번쩍거림 지표치 (G) 가 작은 투명 기체는, 번쩍거림이 억제되는 경향이 있다. 따라서, 이 번쩍거림 지표치 (G) 는, 투명 기체의 번쩍거림을 판단할 때의 정량적 지표로서 사용할 수 있다.The glare index value G is correlated with the judgment result of the glare by the naked eye of the observer as described later, and it is confirmed that the glaze G For example, a transparent substrate having a large glare index value (G) tends to be flashing, while a transparent substrate having a small glare index value (G) tends to be suppressed from flashing. Therefore, the glare index value G can be used as a quantitative index when judging whether or not the transparent gas is flashing.

이상, 도 3 ∼ 도 5 를 참조하여, 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법의 일례에 대하여 설명하였다. 단, 본 발명에 있어서, 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법은, 이것에 한정되는 것은 아니다.An example of a method of evaluating the flashing of the transparent substrate has been described above with reference to Figs. 3 to 5. Fig. However, in the present invention, the method of evaluating the flickering of the transparent substrate is not limited to this.

예를 들어, 전술한 플로우에 있어서, 스텝 S260 과 스텝 S270 사이에, 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 상기 표시 장치에서 유래하는 성분을 필터 제거하는 스텝 (스텝 S265) 을 실시해도 된다. 차분 휘도 분포 (ΔS) 대신에, 이 조작에 의해 얻어지는 실효 차분 휘도 분포 (ΔSe) 를 사용하여, 스텝 S270 을 실시함으로써, 얻어지는 번쩍거림 지표치 (G) 의 정밀도를 더 한층 향상시킬 수 있다.For example, in the above-described flow, between step S260 and step S270, a step of removing a filter derived from the display device from the differential luminance distribution? S (step S265) may be performed. The accuracy of the obtained glare index value G can be further improved by performing the step S270 by using the effective differential luminance distribution (ΔS e ) obtained by this operation instead of the differential luminance distribution ΔS.

단, 이 스텝 S265 는, 필요할 때에 행해지면 되고, 반드시 실시할 필요는 없다.However, this step S265 may be performed when necessary, and is not necessarily required to be performed.

또한, 이상 설명한 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법은, 예를 들어 SMS-1000 장치 (Display-Messtechnik & Systeme 사 제조) 를 사용함으로써 용이하게 실시할 수 있다.Further, the above-described method for evaluating the glare of the transparent substrate can be easily carried out by using, for example, an SMS-1000 apparatus (manufactured by Display-Messtechnik & Systeme).

이상 설명한 바와 같은 방현성 지표치 (R), 번쩍거림 지표치 (G) 를 사용함으로써, 안티글레어 처리된 투명 기체의 광학 특성을 정량적으로 평가하는 것이 가능해진다.By using the above-described flicker-suppressing index value R and the flashing index value G as described above, it becomes possible to quantitatively evaluate the optical characteristics of the anti-glare-treated transparent substrate.

(2 개의 지표에 의한 평가)(Evaluation by two indicators)

다음으로, 투명 기체의 2 개의 광학 특성을 동시에 평가하는 방법 및 그 효과에 대하여 설명한다.Next, a method of evaluating two optical characteristics of the transparent substrate at the same time and effects thereof will be described.

도 6 에는, 각종 방법으로 안티글레어 처리된 투명 기체에 있어서 얻어진, 방현성 지표치 (R) (가로축) 와 번쩍거림 지표치 (G) (세로축) 의 관계를 플롯한 도면의 일례를 나타낸다. 여기서, 본 데이터 취득을 위한 번쩍거림 평가에 있어서의 촬영시의 거리 지수 (r) = 10.8 이다.Fig. 6 shows an example of a diagram plotting the relationship between the anti-flammability index R (horizontal axis) and the flashing index value G (vertical axis) obtained in the anti-glare-treated transparent substrate by various methods. Here, the distance index (r) at the time of photographing in the flashing evaluation for obtaining this data is 10.8.

도 6 에 있어서, 가로축의 방현성 지표치 (R) 가 클수록, 또 세로축의 번쩍거림 지표치가 작을수록, 투명 기체의 방현성은 향상되어 투명 기체의 번쩍거림은 억제된다.In Fig. 6, as the diastolicity index value R of the horizontal axis is larger and the index value of the vertical axis is smaller, the transparency of the transparent substrate is improved and the flickering of the transparent substrate is suppressed.

또한, 도 6 에는, 참고를 위해, 양호한 방현성과 양호한 번쩍거림 방지성을 겸비한, 이상적인 투명 기체의 영역이 ideal 로 표시된 ○ 표시로 나타내어져 있다.In Fig. 6, for reference, an ideal transparent gas region having a good flame retardancy and a good anti-flashing property is indicated by a mark " ideal ".

여기서, 단일의 광학적 특성, 예를 들어 번쩍거림 방지성만을 고려하여, 각종 투명 기체 중에서 후보 투명 기체를 선정했을 경우, 도 6 의 해칭으로 나타내어진 영역 (C) 에 포함되는 투명 기체가 고르게 선정되게 된다. 즉, 그러한 방법에서는, 방현성이 떨어지는 투명 기체가 선정 후보 투명 기체에 포함되어 버린다. 마찬가지로, 방현성만을 고려하여, 투명 기체를 선정했을 경우, 도 6 의 해칭으로 나타내어진 영역 (D) 에 포함되는 투명 기체가 고르게 선정되어, 번쩍거림 방지성이 떨어지는 투명 기체가 선정 후보에 포함되어 버린다.Here, when a candidate transparent substrate is selected from among various transparent substrates in consideration of a single optical property, for example, anti-flashing property, the transparent substrate contained in the region C indicated by the hatched portion in FIG. do. That is, in such a method, a transparent gas having a low resistance to scattering is included in the selected transparent substrate. Similarly, when a transparent substrate is selected in consideration of only the intumescence property, the transparent substrate included in the region D indicated by the hatching in FIG. 6 is evenly selected, and the transparent substrate having a low anti- Throw away.

이에 대하여, 도 6 과 같은 번쩍거림 지표치 (G) 와 방현성 (R) 의 상관도를 사용했을 경우, 한 번에 양방의 광학 특성을 고려하여, 적정한 투명 기체를 선정하는 것이 가능해진다. 즉, 이와 같은 선정 방법에서는, 목적 및 용도 등에 따라 투명 기체를 적정하게 선정할 수 있어, 즉 번쩍거림 방지성과 방현성에 관해서, 가장 양호한 특성을 발휘할 수 있도록 투명 기체를 선정하는 것이 가능해진다.On the other hand, when the correlation between the flashing index value G and the flashing resistance R as shown in Fig. 6 is used, it is possible to select an appropriate transparent gas in consideration of both optical characteristics at one time. That is, in such a selection method, it is possible to appropriately select the transparent substrate according to the purpose and the use purpose, that is, to select the transparent substrate so as to exhibit the best characteristics with respect to the anti-flicker property and the anti-scattering property.

이와 같이, 본 발명의 일 실시예에 의한 방법에서는, 2 개의 광학적 특성을 한 번에 정량적으로 고려할 수 있기 때문에, 사용 목적이나 용도 등에 따라 투명 기체를 보다 적정하게 선정하는 것이 가능해진다.As described above, in the method according to the embodiment of the present invention, since the two optical characteristics can be quantitatively considered at a time, it becomes possible to more appropriately select the transparent substrate according to the purpose of use, the use, and the like.

또, 본 발명에 의한 방법에서는, 투명 기체의 방현성 지표치 (R), 번쩍거림 지표치 (G) 로서 수치화된 값이 사용된다. 이 때문에, 방현성 및 번쩍거림에 관해서, 관찰자의 주관이나 선입관에 구애되지 않고, 이들 광학 특성을 객관적이고 또한 정량적으로 판단 가능하다.Further, in the method according to the present invention, numerical values are used as the scattering index value R and the flashing index value G of the transparent gas. Therefore, with respect to the flashing property and the flashing, it is possible to objectively and quantitatively judge these optical characteristics without regard to the subjective or preconstructed view of the observer.

(본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체)(A transparent substrate according to an embodiment of the present invention)

다음으로, 도 7 을 참조하여, 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체에 대하여 설명한다.Next, a transparent substrate according to an embodiment of the present invention will be described with reference to Fig.

도 7 에는, 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체 (이하, 간단히 「투명 기체」라고 칭한다) (900) 를 모식적으로 나타낸다.7 schematically shows a transparent substrate 900 (hereinafter, simply referred to as a "transparent substrate") according to an embodiment of the present invention.

투명 기체 (900) 는, 유리로 구성된다. 유리의 조성은 특별히 한정되지 않고, 유리는, 예를 들어 소다라임 유리 또는 알루미노실리케이트 유리여도 된다.The transparent base body 900 is made of glass. The composition of the glass is not particularly limited, and the glass may be, for example, soda lime glass or aluminosilicate glass.

투명 기체 (900) 는, 제 1 표면 (902) 및 제 2 표면 (904) 을 갖고, 제 1 표면 (902) 은 안티글레어 처리되어 있다.The transparent substrate 900 has a first surface 902 and a second surface 904 and the first surface 902 is anti-glare treated.

안티글레어 처리의 방법은 특별히 한정되지 않는다. 안티글레어 처리는, 예를 들어 프로스트 처리, 에칭 처리, 샌드 블라스트 처리, 랩핑 처리, 또는 실리카 코트 처리 등이어도 된다. 투명 기체의 제 1 표면 (902) 은, 예를 들어 0.05 ㎛ ∼ 1.0 ㎛ 의 범위의 표면 조도 (산술 평균 조도 (Ra)) 를 가져도 된다.The method of anti-glare treatment is not particularly limited. The anti-glare treatment may be, for example, a frost treatment, an etching treatment, a sandblasting treatment, a lapping treatment, a silica coating treatment or the like. The first surface 902 of the transparent gas may have a surface roughness (arithmetic mean roughness (Ra)) in the range of, for example, 0.05 mu m to 1.0 mu m.

또, 투명 기체 (900) 는, 제 1 표면 (902) 및/또는 제 2 표면 (904) 이 화학 강화 처리되어 있어도 된다.Further, the transparent substrate 900 may have the first surface 902 and / or the second surface 904 chemically strengthened.

투명 기체 (900) 의 치수 및 형상은 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 투명 기체 (900) 는, 정방 형상, 사각 형상, 원 형상, 또는 타원 형상 등이어도 된다.The dimensions and shape of the transparent substrate 900 are not particularly limited. For example, the transparent substrate 900 may be square, rectangular, circular, elliptical, or the like.

또한, 투명 기체 (900) 를 표시 장치의 보호 커버로서 사용하는 경우, 투명 기체 (900) 의 두께는 얇은 것이 바람직하다. 예를 들어, 투명 기체 (900) 의 두께는, 0.2 ㎜ ∼ 2.0 ㎜ 의 범위여도 된다.When the transparent substrate 900 is used as a protective cover of a display device, the thickness of the transparent substrate 900 is preferably small. For example, the thickness of the transparent substrate 900 may be in the range of 0.2 mm to 2.0 mm.

여기서, 투명 기체 (900) 는, 전술한 제 1 방법 (스텝 S110 ∼ 스텝 S130) 을 사용하여 측정되는 방현성 지표치 (R) 가 0.4 이상이라는 특징을 갖는다. 또, 이 투명 기체 (900) 는, 전술한 제 2 방법 (스텝 S210 ∼ 스텝 S290. 스텝 S265 를 포함한다) 을 사용하여, 거리 지수 (r) = 8 로서 측정되는 번쩍거림 지표치 (G) 가, 0.6 이하라는 특징을 갖는다.Here, the transparent base body 900 has a characteristic that the value of the diastrophism index R measured using the first method (steps S110 to S130) is 0.4 or more. The transparent base body 900 is provided with a flashing index value G measured as a distance index r = 8 using the above-described second method (including steps S210 to S290, step S265) , And 0.6 or less.

방현성 지표치 (R) 는, 0.6 이상인 것이 바람직하고, 0.8 이상인 것이 보다 바람직하다.The ruggedness index value R is preferably 0.6 or more, more preferably 0.8 or more.

또, 번쩍거림 지표치 (G) 는, 0.5 이하인 것이 바람직하고, 0.4 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.3 이하인 것이 더욱 바람직하다.Further, the glare index value G is preferably 0.5 or less, more preferably 0.4 or less, and further preferably 0.3 or less.

실시예Example

다음으로, 각종 투명 기체를 사용하여 실시한, 방현성 평가 및 번쩍거림 평가의 결과에 대하여 설명한다.Next, the results of the flicker-resistance evaluation and flashing evaluation performed using various transparent substrates will be described.

(방현성 평가에 대하여)(About the evaluation of flammability)

각종 방법으로 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체의 방현성을 이하와 같은 방법으로 평가하였다.The anti-glare properties of the transparent substrate on which the first surface was anti-glare treated by various methods were evaluated in the following manner.

안티글레어 처리로서, 프로스트 처리, 에칭 처리, 샌드 블라스트 처리, 랩핑 처리, 또는 실리카 코트 처리를 채용하였다. 또, 투명 기체에는 알루미노실리케이트 유리를 사용하였다.As the anti-glare treatment, a frost treatment, an etching treatment, a sandblasting treatment, a lapping treatment, or a silica coat treatment was employed. Aluminosilicate glass was used for the transparent substrate.

우선, 각 투명 기체를, 제 1 표면 (즉 안티글레어 처리된 표면) 측으로부터 육안으로 관찰하여, 방현성을 레벨 1 ∼ 레벨 12 까지의 12 단계로 평가하였다. 또한, 관찰 방향은, 투명 기체의 두께 방향에 대하여, 20˚의 방향으로 하였다.First, each of the transparent substrates was visually observed from the first surface (i.e., the surface subjected to anti-glare treatment), and the anti-glare properties were evaluated in 12 steps from level 1 to level 12. [ In addition, the observation direction was 20 占 with respect to the thickness direction of the transparent substrate.

다음으로, 변각 광도계 (GC5000L : 니혼 덴쇼쿠 공업사 제조) 를 사용하여, 전술한 스텝 S110 ∼ 스텝 S130 에 나타낸 바와 같은 조작을 실시하고, 식 (1) 로부터 각 투명 기체의 방현성 지표치 (R) 를 산정하였다.Next, an operation as shown in the above-mentioned steps S110 to S130 is performed using a goniophotometer (GC5000L: manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd.), and the divergence index value R of each transparent substrate is calculated from the equation (1) Respectively.

도 8 에는, 각 투명 기체에 있어서 얻어진, 육안에 의한 방현성의 평가 레벨 (세로축) 과, 방현성 지표치 (R) (가로축) 사이의 관계의 일례를 나타낸다.Fig. 8 shows an example of the relationship between the evaluation level (vertical axis) of visually observable scattering property obtained on each transparent substrate and the scattering index value R (horizontal axis).

도 8 로부터, 양자간에는 정 (正) 의 상관 관계가 있는 것을 알 수 있다.From FIG. 8, it can be seen that there is a positive correlation between them.

이 결과는, 방현성 지표치 (R) 가 관찰자의 육안에 의한 반사 이미지 확산성의 평가 레벨의 경향과 대응되고, 따라서 방현성 지표치 (R) 를 사용하여, 투명 기체의 반사 이미지 확산성을 판단할 수 있는 것을 시사한다. 바꾸어 말하면, 방현성 지표치 (R) 를 사용함으로써, 투명 기체의 반사 이미지 확산성을 객관적이고 또한 정량적으로 판단할 수 있다고 할 수 있다.This result shows that the diffusive index value R corresponds to the tendency of the evaluation level of the reflection image diffusibility by the naked eye of the observer and thus the diffusive index value R is used to judge the reflection image diffusibility of the transparent substrate I suggest that you can. In other words, by using the diffusing index value R, it can be said that the reflection image diffusibility of the transparent substrate can be judged objectively and quantitatively.

(번쩍거림의 평가에 대하여)(About evaluation of flashing)

다음으로, 전술한 방현성 평가에서 사용한 각종 투명 기체를 사용하여, 이들 투명 기체의 번쩍거림을 이하와 같은 방법으로 평가하였다.Next, using various transparent substrates used in the above-mentioned evaluation of the diffusibility, the flashing of these transparent substrates was evaluated by the following method.

우선, 각 투명 기체를 표시 장치 (iPad (등록상표), 해상도 264 ppi) 상에 직접 배치한다. 이 때는, 각 투명 기체의 제 1 표면 (즉 안티글레어 처리된 표면) 이 관찰자측이 되도록 하여, 투명 기체를 표시 장치 상에 배치하였다. 또한, 표시 장치로부터 표시되는 이미지는, 녹색 단색의 이미지로 하고, 이미지의 치수는 19.6 ㎝ × 14.6 ㎝ 로 하였다.First, each transparent substrate is placed directly on a display device (iPad (registered trademark), resolution 264 ppi). At this time, the transparent substrate was placed on the display so that the first surface (i.e., the anti-glare treated surface) of each transparent substrate was on the observer side. The image displayed from the display device was a green monochromatic image, and the dimensions of the image were 19.6 cm x 14.6 cm.

다음으로, 이 상태에서, 각 투명 기체를 제 1 표면측으로부터 육안으로 관찰하여, 번쩍거림을 레벨 0 ∼ 레벨 10 까지의 11 단계로 평가하였다. 레벨 0 은, 번쩍거림이 거의 관찰되지 않는 것을 나타내고, 레벨 10 은, 번쩍거림이 매우 현저한 것을 나타낸다. 또, 이 사이의 레벨치는, 수치가 클수록 번쩍거림이 커지는 경향이 있다.Next, in this state, each of the transparent substrates was visually observed from the first surface side, and the flashing was evaluated in 11 levels from level 0 to level 10. Level 0 indicates that the flashing is hardly observed, and Level 10 indicates that the flashing is very conspicuous. In addition, the level value between these values tends to increase as the numerical value increases.

다음으로, SMS-1000 장치 (Display-Messtechnik & Systeme 사 제조) 를 사용하여, 전술한 스텝 S210 ∼ 스텝 S290 (스텝 S265 를 포함한다) 에 나타낸 바와 같은 조작을 실시하고, 식 (3) 으로부터 각 투명 기체의 번쩍거림 지표치 (G) 를 산정하였다. 또한, 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로는, VRD140 안티글레어 처리 유리 (아사히 가라스 주식회사 제조) 를 사용하였다.Next, operations as shown in the above-described steps S210 to S290 (including step S265) are performed using an SMS-1000 apparatus (manufactured by Display-Messtechnik & Systeme) The glare index (G) of the gas was calculated. VRD140 anti-glare treated glass (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) was used as the reference transparent glaze treated anti-glare substrate.

표시 장치에는, 전술한 iPad (등록상표) 를 사용하고, 고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d) 는, 540 ㎜ 로 하였다. 이 거리 (d) 는, 거리 지수 (r) 로 나타내면, r = 10.8 에 상당한다.The above-mentioned iPad (registered trademark) was used for the display device, and the distance d between the solid-state image sensor and the transparent substrate was 540 mm. This distance d corresponds to r = 10.8 when expressed by a distance index r.

도 9 에는, 각 투명 기체에 있어서 얻어진, 번쩍거림 지표치 (G) (세로축) 와, 육안에 의한 번쩍거림의 레벨 (가로축) 사이의 관계의 일례를 나타낸다.Fig. 9 shows an example of the relationship between the flashing index value G (vertical axis) and the level of glare (horizontal axis) obtained by the naked eye, which is obtained in each transparent substrate.

도 9 로부터, 양자간에는 정의 상관 관계가 있는 것을 알 수 있다.From FIG. 9, it can be seen that there is a positive correlation between the two.

이 결과는, 번쩍거림 지표치 (G) 가 관찰자의 육안에 의한 번쩍거림의 판정 결과의 경향과 대응되고, 따라서 번쩍거림 지표치 (G) 를 사용하여, 투명 기체의 번쩍거림을 판단할 수 있는 것을 시사한다. 바꾸어 말하면, 번쩍거림 지표치 (G) 를 사용함으로써, 투명 기체의 번쩍거림을 객관적이고 또한 정량적으로 판단할 수 있다고 할 수 있다.This result shows that the flashing index value G corresponds to the tendency of the judgment result of the glare caused by the naked eye of the observer, and therefore the glare indicator value G can be used to determine the flashing of the transparent gas . In other words, by using the flashing index value G, the flickering of the transparent gas can be judged objectively and quantitatively.

이와 같이, 방현성 지표치 (R) 및 번쩍거림 지표치 (G) 를, 각각 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 정량적인 지표로서 사용 가능한 것이 확인되었다.As described above, it was confirmed that the dust-repelling index value R and the flashing index value G can be used as quantitative indices of the scattering property and the flashing of the transparent gas, respectively.

산업상 이용가능성Industrial availability

본 발명은, 예를 들어 LCD 장치, OLED 장치, PDP 장치, 및 태블릿형 표시 장치와 같은, 각종 표시 장치 등에 설치되는 투명 기체의 광학 특성 평가에 이용할 수 있다.INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used for evaluating the optical characteristics of a transparent substrate provided on various display devices such as an LCD device, an OLED device, a PDP device, and a tablet-type display device.

또, 본원은 2014년 5월 14일에 출원한 일본국 특허출원 2014-100343호에 기초하는 우선권을 주장하는 것으로, 동 일본국 출원의 전체 내용을 본원에 참조에 의해 원용한다.The present application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2014-100343 filed on May 14, 2014, the entire contents of which are incorporated herein by reference.

210 투명 기체
212 제 1 표면
214 제 2 표면
300 측정 장치
350 광원
362 제 1 광
364 반사광
370 검출기
410 제 1 화상
420-1 ∼ 420-9 대응 영역
430 제 1 휘도 분포
900 투명 기체
902 제 1 표면
904 제 2 표면
qi 휘도 분포 성분
210 transparent gas
212 First surface
214 Second surface
300 measuring device
350 light source
362 First Light
364 Reflected light
370 detector
410 first picture
420-1 to 420-9 corresponding area
430 First luminance distribution
900 transparent gas
902 First surface
904 Second surface
q i luminance distribution component

Claims (10)

투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법으로서,
제 1 및 제 2 표면을 갖고, 상기 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체의 정량화된 방현성 지표치를 취득하는 스텝과,
상기 투명 기체의 정량화된 번쩍거림 지표치를 취득하는 스텝을 무순서로 갖고,
상기 정량화된 방현성 지표치는,
(a) 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체의 상기 제 1 표면측으로부터, 상기 투명 기체의 두께 방향에 대하여 20˚의 방향으로 제 1 광을 조사하고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 20˚정반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,
(b) 상기 제 1 표면에 의해 반사되는 반사광의 수광 각도를 -20˚∼ +60˚의 범위에서 변화시키고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 전체 반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,
(c) 이하의 식 (1) 로부터, 방현성 지표치 (R) 를 산정하는 스텝
방현성 지표치 (R) =
(전체 반사광의 휘도 -20˚정반사광의 휘도)/(전체 반사광의 휘도) 식 (1)
에 의해 얻어지고,
상기 정량화된 번쩍거림 지표치는,
(A) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면이 표시 장치측이 되도록 하여, 상기 표시 장치 상에 배치하는 스텝과,
(B) 상기 표시 장치를 온으로 한 상태에서, 고체 촬상 소자를 사용하여 상기 투명 기체를 촬영하여, 제 1 화상을 취득하는 스텝으로서, 상기 고체 촬상 소자와 상기 투명 기체 사이의 거리를 d 로 하고, 상기 고체 촬상 소자의 초점 거리를 f 로 했을 때, 촬영시의 거리 지수 (r (=d/f)) 는, 8 이상인 스텝과,
(C) 상기 취득된 제 1 화상으로부터, 제 1 휘도 분포를 형성하는 스텝과,
(D) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면과 대략 평행한 방향으로 움직이게 하여, 상기 투명 기체를 상기 표시 장치에 대하여 이동시키는 스텝과,
(E) 상기 (B) 및 (C) 의 스텝을 반복하여, 취득된 제 2 화상으로부터, 제 2 휘도 분포를 형성하는 스텝과,
(F) 상기 제 1 휘도 분포와 상기 제 2 휘도 분포의 차분으로부터, 차분 휘도 분포 (ΔS) 를 구하는 스텝과,
(G) 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 을 산정함과 함께, 이하의 식 (2) 로부터, 출력치 (A) 를 얻는 스텝과,
출력치 (A) = 분산 (σ)/평균 휘도 분포 (ΔSave) 식 (2)
(H) 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝을, 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로 실시하고, 출력치 (A) 대신에 참조 출력치 (Q) 를 얻는 스텝으로서, 그 (H) 의 스텝은, 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝 전, 또는 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝과 병렬로 실시되는 스텝과,
(I) 이하의 식 (3) 으로부터, 번쩍거림 지표치 (G) 를 구하는 스텝
번쩍거림 지표치 (G) = (출력치 (A))/(참조 출력치 (Q)) 식 (3)
에 의해 얻어지는 것을 특징으로 하는 방법.
As a method for evaluating the optical characteristics of a transparent substrate,
Obtaining a quantified anti-glare index value of the transparent substrate having the first and second surfaces, the anti-glare treatment of the first surface,
A step of acquiring a quantified glare index value of the transparent substrate in a non-sequential manner,
The quantified anti-
(a) irradiating first light from the first surface side of the transparent substrate having the first and second surfaces in a direction of 20 占 with respect to the thickness direction of the transparent substrate; A step of measuring a luminance of regularly reflected light,
(b) changing a light receiving angle of the reflected light reflected by the first surface in a range of -20 to +60 degrees, and measuring a luminance of the entire reflected light reflected by the first surface;
(c) From the following equation (1), the step of calculating the anti-scattering index value R
Flammability Index (R) =
(Luminance of all reflected light-luminance of regularly reflected light of -20 DEG) / (luminance of total reflected light)
Lt; / RTI >
The quantified glare indicator value
(A) placing the transparent substrate on the display device so that the second surface is on the display device side, and
(B) obtaining a first image by photographing the transparent substrate using the solid-state image pickup element in a state in which the display device is turned on, wherein a distance between the solid-state image pickup element and the transparent substrate is d , And the distance index r (= d / f) at the time of photographing when the focal length of the solid-state image sensor is f,
(C) forming a first luminance distribution from the acquired first image,
(D) moving the transparent substrate with respect to the display device by moving the transparent substrate in a direction substantially parallel to the second surface,
(E) repeating the steps (B) and (C) to form a second luminance distribution from the acquired second image,
(F) obtaining a difference luminance distribution (? S) from a difference between the first luminance distribution and the second luminance distribution;
(G) calculating an average luminance distribution (ΔS ave ) and a variance (σ) from the differential luminance distribution (ΔS) and obtaining an output value (A) from the following expression (2)
Output value (A) = dispersion (?) / Average luminance distribution (? S ave )
(H) A step of performing the above steps (A) to (G) with a transparent gas subjected to a reference anti-glare treatment to obtain a reference output value Q instead of the output value A, The step includes steps performed before the steps (A) to (G) or in parallel with the steps (A) to (G)
(I) From the following equation (3), the step of obtaining the flashing index value G
(G) = (output value (A)) / (reference output value (Q)) Expression (3)
≪ / RTI >
제 1 항에 있어서,
상기 (G) 의 스텝 전에, 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 상기 표시 장치에서 유래하는 성분을 필터 제거하여, 실효 차분 휘도 분포 (ΔSe) 를 얻는 스텝이 실시되고,
상기 (G) 의 스텝에서는, 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 대신에, 상기 실효 차분 휘도 분포 (ΔSe) 가 사용되는 방법.
The method according to claim 1,
Before the step of (G), a step of removing a component derived from the display device from the differential luminance distribution (? S) to obtain an effective differential luminance distribution (? S e )
In the step of the (G), in place of the difference between the luminance distribution (ΔS), wherein the method is effective luminance distribution difference (ΔS e) is used.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 방현성 지표치는, 고니오미터를 사용하여 취득되는 것을 특징으로 하는 방법.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the zigzagging index value is obtained using a goniometer.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 표시 장치는, LCD 장치, OLED 장치, PDP 장치, 및 태블릿형 표시 장치로 이루어지는 군에서 선택된 하나인 것을 특징으로 하는 방법.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
Wherein the display device is one selected from the group consisting of an LCD device, an OLED device, a PDP device, and a tablet-type display device.
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 표시 장치는, 132 ppi 이상의 해상도를 갖는 것을 특징으로 하는 방법.
5. The method according to any one of claims 1 to 4,
Wherein the display device has a resolution of 132 ppi or more.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 투명 기체는, 소다라임 유리 또는 알루미노실리케이트 유리로 구성되는 것을 특징으로 하는 방법.
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
Wherein the transparent gas is composed of soda lime glass or aluminosilicate glass.
제 6 항에 있어서,
상기 투명 기체는, 제 1 및 제 2 표면 중 적어도 일방이 화학 강화 처리되어 있는 것을 특징으로 하는 방법.
The method according to claim 6,
Characterized in that at least one of the first and second surfaces is chemically strengthened.
제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 안티글레어 처리는, 상기 투명 기체의 제 1 표면에 프로스트 처리, 에칭 처리, 샌드 블라스트 처리, 랩핑 처리, 및 실리카 코트 처리로 이루어지는 군에서 선택된 적어도 하나의 처리 방법을 적용함으로써 실시되는 방법.
8. The method according to any one of claims 1 to 7,
Wherein the anti-glare treatment is performed by applying at least one treatment method selected from the group consisting of a frost treatment, an etching treatment, a sandblasting treatment, a lapping treatment, and a silica coat treatment to the first surface of the transparent substrate.
제 1 및 제 2 표면을 갖고, 상기 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체로서,
상기 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 기재된 방법으로 평가했을 때에,
상기 방현성 지표치 (R) 가 0.4 이상이고,
상기 번쩍거림 지표치 (G) 가 0.6 이하인 것을 특징으로 하는 투명 기체.
1. A transparent substrate having first and second surfaces, the first surface being anti-glare treated,
When evaluated by the method according to any one of claims 1 to 5,
(R) is 0.4 or more,
And the flashing index value (G) is 0.6 or less.
제 1 및 제 2 표면을 갖고, 상기 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체로서,
상기 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 기재된 방법으로 평가했을 때에,
상기 방현성 지표치 (R) 가 0.4 이상이고,
상기 번쩍거림 지표치 (G) 가 0.3 이하인 것을 특징으로 하는 투명 기체.
1. A transparent substrate having first and second surfaces, the first surface being anti-glare treated,
When evaluated by the method according to any one of claims 1 to 5,
(R) is 0.4 or more,
Wherein the flashing index value (G) is 0.3 or less.
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