KR20170003251A - Organic light emitting diode display device and method for driving the same - Google Patents

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Abstract

The present invention provides an organic light emitting diode (OLED) display device and a method for driving the same. The OLED display device according to the present invention comprises: an image display panel having a plurality of pixel regions; a gate driver unit driving gate lines of the image display panel; a data driver unit driving data liens of the image display panel; a power supply unit applying first and second power signals to power lines of the image display panel; and a timing controller unit detecting current at each location of an OLED panel according to an image input, accumulating the detected current by reflecting an acceleration factor and a temperature acceleration factor by the current, predicting a degree of degradation of a device and applying a compensation value to the device according to the predicted degree of degradation.

Description

유기 발광 다이오드 표시장치 및 구동방법{ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING THE SAME} Technical Field [0001] The present invention relates to an organic light emitting diode (OLED) display device and a method of driving the same,

본 발명은 유기발광 다이오드 표시장치의 각 화소별로 입력 전류를 누적하여 열화 정도를 예측하고 이를 이용하여 어두워진 밝기를 보상하는 유기발광 다이오드 표시장치 및 그 구동방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an organic light emitting diode (OLED) display device and a driving method thereof, which compensates for darkness by accumulating input current for each pixel of an organic light emitting diode display device and estimating the degree of deterioration thereof.

최근에 널리 보편화되고 있는 평판형의 영상 표시장치 중에서는 유기 발광층의 발광량을 제어하여 영상을 표시하는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode: 이하 OLED) 표시장치가 각광받고 있다.2. Description of the Related Art In recent years, organic light emitting diodes (OLED) display devices for displaying images by controlling the amount of emitted light of an organic light emitting layer have been spotlighted in flat panel display devices, which are widely used.

OLED 표시장치는 다수의 화소들이 매트릭스 형태로 배열되어 화상을 표시하게 된다. 각 화소는 OLED와, OLED를 독립적으로 구동하는 화소 구동부를 구비하며, 화소 구동부는 OLED에 흐르는 전류량을 조절해 각 화소의 밝기를 조절한다.In an OLED display device, a plurality of pixels are arranged in a matrix form to display an image. Each pixel includes an OLED and a pixel driver for independently driving the OLED, and the pixel driver adjusts the brightness of each pixel by adjusting the amount of current flowing in the OLED.

하지만, OLED는 자체 발광 소자이기 때문에 구동 시간이 증가할수록 열화가 가속화되어 발광 능력이 감소하게 된다. 이에 따라, OLED 표시장치는 화소별로 OLED의 열화 속도가 달라 동일한 데이터 전압이 인가되더라도 휘도가 달라지는 문제점이 있다.However, since the OLED is a self-luminous device, the deterioration is accelerated as the driving time increases, and the emission capability is reduced. Accordingly, the OLED display device has a problem that the degradation rate of the OLED differs from one pixel to another, and the luminance varies even when the same data voltage is applied.

이러한 문제점을 보완하기 위해 종래에는 온도 감지 회로를 이용하여 OLED 패널의 온도를 검출하여 OLED 패널의 열화 정도를 판단하고, 열화 정도에 따라 전류량을 보상하는 기술이 소개되기도 하였다.In order to overcome such a problem, a technique has been introduced in which a temperature sensing circuit is used to detect the temperature of the OLED panel to determine the degree of deterioration of the OLED panel, and the current amount is compensated according to the degree of deterioration.

종래기술에 따른 온도 감지 보상방법은 온도를 감지하기 위한 온도 감지 회로 및 보상 회로가 더 구비되어야 하기 때문에 비용 증가가 불가피하고, 표시 영상의 특성이나 OLED 표시패널의 크기에 따라 검출 온도 또한 정확하지 않아 OLED의 열화 보상이 어려웠다.Since the temperature sensing compensation method according to the related art is required to further include a temperature sensing circuit and a compensation circuit for sensing the temperature, the cost is inevitably increased and the detection temperature is not accurate depending on the characteristics of the display image or the size of the OLED display panel It was difficult to compensate the deterioration of the OLED.

뿐만 아니라, 대화면의 OLED 표시패널이나 대화면 영상의 표시 특성에 따라 OLED 표시패널의 표시 영역별로 온도 불평형 상태가 발생 및 유지되기도 하기 때문에, 열화 보상 효율은 저하될 수밖에 없었다.In addition, the temperature unbalance state may be generated and maintained for each display region of the OLED display panel depending on the display characteristics of the OLED display panel or the large-screen image on the large screen.

한편, 입력 전압에 따라 투과율(transmittance)이 변하는 액정 소자와 달리, OLED는 입력 전류에 따라 빛을 직접 발생하는 발광소자이다. 이로 인해 액정 소자에 비해 다양한 장점들을 가지고는 있지만, 다른 발광소자와 같이 시간이 지나면서 점차 열화되어 전류에 따라 발생시키는 빛의 효율이 줄어드는 문제점이 있데, 이러한 문제점은 디스플레이에 활용할 때, 입력 영상에 잔상이 발생하는 현상으로 나타난다.On the other hand, unlike a liquid crystal device in which a transmittance varies according to an input voltage, an OLED is a light emitting device that directly generates light according to an input current. However, it has a problem that the efficiency of light generated according to the current is deteriorated gradually as time elapses like other light emitting devices. However, such a problem is caused when the input image A residual image appears.

특히, 동일 데이터를 누적시에 패널마다 열화 정도의 편차가 존재함은 물론, 패널 내의 위치마다 열화 정도의 편차가 존재하게 된다. 이러한 OLED의 열화는 각 OLED소자에 입력되는 전류가 가장 큰 주요 요인이 된다. Particularly, there is a variation in the degree of deterioration for each panel when accumulating the same data, and a variation in the degree of deterioration for each position in the panel. The deterioration of the OLED is a major factor in the current input to each OLED element.

그리고, OLED 패널별로 동일 영상에 대해서도 소자 효율 특성에 따라 입력 전류가 달라진다.Also, the input current varies depending on the device efficiency characteristic for the same image for each OLED panel.

더욱이, OLED 패널 내에서 동일한 입력 계조 레벨(Gray level)에 대해서도 다른 입력 전류를 가지게 됨으로 인해 입력 영상과 OLED의 열화 정도는 선형적이지 않아 누적 정확도가 떨어진다.Furthermore, since the input current is also different for the same input gray level in the OLED panel, the degree of deterioration of the input image and the OLED is not linear and the cumulative accuracy is lowered.

본 발명의 목적은 OLED패널의 각 화소별로 입력 전류를 누적하여 열화 정도를 예측하고 이를 이용하여 어두워진 밝기를 보상하고자 한 유기발광 다이오드 표시장치 및 그 구동방법을 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an organic light emitting diode display device and a driving method thereof that compensate for darkness by accumulating input current for each pixel of an OLED panel to predict the degree of deterioration and using the predicted degree of deterioration.

전술한 과제를 해결하기 위하여, 일 측면에서, 본 발명은, 영상 표시패널의 각 위치별로 입력 영상에 따른 전류를 검출한 후 전류별 가속 인자 및 온도 가속 인자를 반영하여 이를 누적하고 소자의 열화 정도를 예측하여 예측한 열화 정도에 따라 소자에 보상 값을 적용하는 타이밍 제어부를 포함하여 구성되는 유기 발광 다이오드 표시장치를 제공할 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided an image display apparatus including a video display panel that detects a current corresponding to an input video according to an input image, reflects an acceleration factor and a temperature acceleration factor for each current, accumulates the current, And a timing controller for applying a compensation value to the device according to a predicted degree of deterioration of the organic light emitting diode display device.

이러한 본 발명에 따른 유기 발광 다이오드 표시장치에 있어서, 상기 타이밍 제어부는 입력 영상부를 통해 외부로부터 입력 영상 데이터를 입력받아 각 화소 별로 열화 정도를 예측하는 열화 예측부와, 상기 열화 예측부로부터 예측한 열화 정도에 따라 열화를 보상하는 열화 보상부와, 상기 열화 보상부로부터 보상된 값을 적용하여 출력시키는 출력 영상부를 포함할 수 있다. In the organic light emitting diode display device according to the present invention, the timing control unit may include a deterioration prediction unit that receives input image data from the outside through an input image unit and predicts the degree of deterioration for each pixel, A deterioration compensating unit for compensating deterioration according to the degree of deterioration, and an output image unit for applying a compensated value from the deterioration compensating unit and outputting the compensated value.

이러한 본 발명에 따른 유기 발광 다이오드 표시장치에 있어서, 상기 열화 예측부는 입력 영상부를 통해 외부로부터 입력 영상 데이터를 입력받아 각 계조 (gray) 값을 전류로 변환시키는 전류 변환부와, 변환된 전류에 전류 가속 인자 (factor)를 반영하여 스트레스(stress)로 변환시키는 스트레스 변환부와, 상기 전류 변환부를 통해 변환된 전류의 온도 분석을 통해 온도 가속인자를 반영하여 영상의 온도 분포를 계산하는 온도 분석부와, 상기 스트레스 변환부를 통한 전류 분포와 온도 분석부를 통한 온도 분포를 반영하여 OLED 소자에 가해지는 스트레스를 누적하는 누적 계산부를 포함할 수 있다. In the organic light emitting diode display according to the present invention, the deterioration prediction unit may include a current conversion unit that receives input image data from an external source through an input image unit and converts each gray value into a current, A stress transducer for converting an acceleration factor into a stress and a temperature analyzer for calculating a temperature distribution of the image by reflecting a temperature acceleration factor through a temperature analysis of the current converted through the current transducer, And a cumulative calculation unit for accumulating the stress applied to the OLED element by reflecting the current distribution through the stress conversion unit and the temperature distribution through the temperature analysis unit.

이러한 본 발명에 따른 유기 발광 다이오드 표시장치에 있어서, 상기 전류 변환부는 데이터 인에이블부의 신호를 이용하여 각 화소별 위치를 판단하는 위치 판단부와, 각 위치에 있는 화소별 전류를 검출하는 위치별 전류 LUT와, 계조부 및 감마부를 통한 전압에 의해 각 패널의 기준 전류를 정의하는 기준 전류 LUT와, 상기 패널의 기준 전류 LUT로부터의 전류 값과 상기 위치별 전류 LUT로부터의 전류 값을 계산하여 보상 값을 산출하는 전류 계산부와, 상기 전류 계산부를 통해 보상 전류 값을 생성하는 전류 생성부를 포함할 수 있다.In the organic light emitting diode display according to the present invention, the current converter may include a position determination unit for determining a position of each pixel using a signal of the data enable unit, A reference current LUT for defining a reference current of each panel by a voltage through the LUT, the gradation unit and the gamma unit, a current value from the reference current LUT of the panel and a current value from the current LUT for each position, And a current generator for generating a compensation current value through the current calculator.

이러한 본 발명에 따른 유기 발광 다이오드 표시장치는 상기 온도 분석부는 각 화소별로 입력되는 전류를 통해 각 서브 화소별로 온도를 분석하는 서브 화소 분석과, 서브-화소 분석을 통해 검출된 온도들을 각 블록별로 평균하여 계산하는 블록별 온도 평균 계산과, 시간에 따른 온도 차이를 분석하는 시간적 분석과, 패널 및 화소별 특성이 온도 영향력 변화에 따른 공간적 분석을 포함할 수 있다.In the organic light emitting diode display according to the present invention, the temperature analyzing unit includes sub-pixel analysis for analyzing the temperature of each sub-pixel through a current input to each pixel, and sub- A temporal analysis for analyzing the temperature difference over time, and a spatial analysis for the characteristics of the panel and the pixel according to the change in temperature influence.

전술한 과제를 해결하기 위하여, 다른 측면에서, 본 발명은, 영상 표시패널의 각 위치별로 입력 영상에 따른 전류를 검출하는 제1 단계와, 검출된 전류별 가속 인자 및 온도 가속 인자를 반영하여 이를 누적하는 제2 단계 및, 소자의 열화 정도를 예측하여 예측한 열화 정도에 따라 소자에 보상 값을 적용하는 제3 단계를 포함하여 구성되는 유기 발광 다이오드 표시장치의 구동방법을 제공할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided an image display apparatus including a first step of detecting a current according to an input image for each position of an image display panel, And a third step of applying a compensation value to the device in accordance with the degree of deterioration predicted by predicting the degree of deterioration of the device, according to an embodiment of the present invention.

이러한 본 발명에 따른 유기 발광 다이오드 표시장치의 구동방법에 있어서, 상기 제1 단계 및 제2 단계는 입력 영상부를 통해 외부로부터 입력 영상 데이터를 입력받아 각 계조(gray) 값을 전류로 변환시키는 단계와, 변환된 전류에 전류 가속 인자 (factor)를 반영하여 스트레스(stress)로 변환시키는 단계와, 상기 변환된 전류의 온도 분석을 통해 온도 가속인자를 반영하여 영상의 온도 분포를 계산하는 단계와, 상기 전류 분포와 온도 분석을 반영하여 OLED 소자에 가해지는 스트레스를 누적하는 단계를 포함할 수 있다.In the driving method of the organic light emitting diode display according to the present invention, the first and second steps may include receiving input image data from the outside through the input image unit and converting each gray value into a current, A step of converting the converted current into a stress reflecting a current acceleration factor, calculating a temperature distribution of the image by reflecting a temperature acceleration factor through temperature analysis of the converted current, And accumulating the stress applied to the OLED element by reflecting the current distribution and the temperature analysis.

이러한 본 발명에 따른 유기 발광 다이오드 표시장치의 구동방법에 있어서, 상기 계조(gray) 값을 전류로 변환시키는 단계는, 데이터 인에이블부의 신호를 이용하여 각 화소별 위치를 판단하는 단계와, 각 위치에 있는 화소별 전류를 위치별 전류 LUT로 검출하는 단계와, 계조부 및 감마부를 통한 전압에 의해 각 패널의 기준 전류를 정의하는 기준 전류 LUT을 정의하는 단계와, 상기 패널의 기준 전류 LUT로부터의 전류 값과 상기 위치별 전류 LUT로부터의 전류 값을 계산하여 보상 값을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.In the method of driving an organic light emitting diode display according to the present invention, the step of converting the gray value into a current includes the steps of: determining a position of each pixel using a signal of a data enable unit; The method comprising the steps of: detecting a pixel-by-pixel current in the panel with a current-based LUT; defining a reference current LUT defining a reference current of each panel by voltage across the gradation and gamma units; And calculating a compensation value by calculating a current value and a current value from the position-dependent current LUT.

이러한 본 발명에 따른 유기 발광 다이오드 표시장치 구동방법에 있어서, 상기 변환된 전류의 온도 분석을 통해 온도 가속인자를 반영하여 영상의 온도 분포를 계산하는 단계는, 각 화소별로 입력되는 전류를 통해 각 서브 화소별로 온도를 분석하는 단계와, 서브-화소 분석을 통해 검출된 온도들을 각 블록별로 평균하여 계산하는 단계와, 시간에 따른 온도 차이를 분석하는 단계와, 패널 및 화소별 특성이 온도 영향력 변화에 따라 분석하는 단계를 포함할 수 있다.In the method of driving the organic light emitting diode display device according to the present invention, the step of calculating the temperature distribution of the image by reflecting the temperature acceleration factor through the temperature analysis of the converted current may include: Calculating a temperature for each pixel by analyzing the temperatures detected by the sub-pixel analysis, analyzing a temperature difference with time, and analyzing the temperature dependency of the panel and pixel characteristics, And then analyzing it.

본 발명에 따른 유기발광 다이오드 표시장치 및 그 구동방법은 OLED 패널의 각 위치별로 입력 영상에 따른 전류를 검출한 후 전류별 가속 인자 및 온도 가속 인자를 반영하여 이를 누적하여 OLED 소자의 열화 정도를 예측함으로써 예측한 열화 정도에 따라 OLED 소자에 보상 값을 적용하여 OLED의 잔상을 제거할 수 있다. The organic light emitting diode display and the driving method thereof according to the present invention detect the current according to the input image for each position of the OLED panel and then reflect the acceleration factor and the temperature acceleration factor for each current, The residual image of the OLED can be removed by applying a compensation value to the OLED device according to the predicted degree of deterioration.

도 1은 본 발명에 따른 OLED 표시장치의 구성도이다.
도 2는 도 1에 도시된 타이밍 제어부를 구체적으로 나타낸 구성도이다.
도 3은 본 발명에 따른 전류 누적을 이용한 OLED 열화 예측 보상 시스템을 구체적으로 나타낸 구성도이다.
도 4는 본 발명에 따른 전류 누적을 이용한 OLED 열화 예측 보상 시스템의 전류 변환부를 개략적으로 나타낸 구성도이다.
도 5는 본 발명에 따른 전류 누적을 이용한 OLED 열화 예측 보상 시스템의 전류변환부를 구체적으로 도시한 구성도이다.
도 6은 본 발명에 따른 OLED 패널에서의 전류 및 휘도 분포를 개략적으로 나타낸 그래프이다.
도 7은 본 발명에 따른 전류 누적을 이용한 OLED 열화 예측 보상 시스템의 전류 가속 인자의 반영에 의한 효율과 스트레스(stress)의 관계 그래프이다.
도 8은 본 발명에 따른 OLED 열화 예측 보상 시스템의 온도 분석부를 개략적으로 나타낸 구성도이다.
도 9a는 본 발명에 따른 OLED 패널의 위치별 영상 온도 분포를 개략적으로 나타낸 도면이며, 도 9b는 본 발명에 따른 OLED 패널의 재생 영상을 개략적으로 나타낸 사진이다.
도 10은 본 발명에 따른 OLED 열화 보상 시스템의 온도 분석부의 시간적 분석을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 11a는 본 발명에 따른 OLED 패널에 온도 분포에서의 온도 영향력 변화를 나타낸 도면이며, 도 11b는 본 발명에 따른 OLED 패널의 각 화소별로 나타나는 온도 분포에서의 온도 영향력 변화를 나타낸 도면이다.
1 is a configuration diagram of an OLED display device according to the present invention.
2 is a block diagram specifically showing the timing control unit shown in FIG.
3 is a block diagram specifically illustrating an OLED deterioration prediction / compensation system using current accumulation according to the present invention.
4 is a block diagram schematically illustrating a current transformer of an OLED deterioration prediction / compensation system using current accumulation according to the present invention.
5 is a configuration diagram specifically illustrating a current conversion unit of the OLED deterioration prediction / compensation system using current accumulation according to the present invention.
6 is a graph schematically showing the current and luminance distribution in an OLED panel according to the present invention.
FIG. 7 is a graph showing the relationship between the efficiency and the stress due to reflection of the current acceleration factor of the OLED deterioration prediction and compensation system using current accumulation according to the present invention.
8 is a block diagram schematically illustrating a temperature analysis unit of the OLED deterioration prediction / compensation system according to the present invention.
FIG. 9A is a schematic view showing an image temperature distribution according to positions of an OLED panel according to the present invention, and FIG. 9B is a photograph schematically showing a reproduced image of an OLED panel according to the present invention.
10 is a schematic diagram illustrating a temporal analysis of the temperature analysis unit of the OLED deterioration compensation system according to the present invention.
FIG. 11A is a graph showing a change in temperature influence in a temperature distribution on an OLED panel according to the present invention, and FIG. 11B is a graph showing a change in temperature influence in a temperature distribution of each pixel of an OLED panel according to the present invention.

이하, 본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode) 표시장치 및 그 구동방법을 첨부된 도면을 참조하여보다 상세히 설명한다.Hereinafter, an organic light emitting diode (OLED) display device and a driving method thereof according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 OLED 표시장치의 구성도이다.1 is a configuration diagram of an OLED display device according to the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 유기 발광 다이오드 표시장치는 복수의 화소영역을 구비하여 형성된 영상 표시패널(110), 영상 표시패널(110)의 게이트 라인(GL1 내지 GLn)들을 구동하는 게이트 구동부(120), 영상 표시패널(110)의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)들을 구동하는 데이터 구동부(130), 상기 영상 표시패널 (110)의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)을 구동하는 데이터 구동부(130), 상기 영상 표시패널 (110)의 전원라인(PLn 내지 PLm)들에 제1 및 제2 전원신호(VDD, GND)을 인가하는 전원 공급부(140), 입력 영상부(RGB) (200)를 통해 외부로부터 입력 영상 데이터를 각 화소별로 전류를 검출한 후 전류별 가속 인자 및 온도 가속 인자를 반영하여 이를 누적하여 OLED 소자의 열화 정도를 예측하고 예측한 열화 정도에 따라 OLED 소자에 보상 값을 적용하여 상기 입력 영상 데이터의 계조 값을 유지 또는 갱신시켜 열화 보상을 수행하는 타이밍 제어부(150)를 구비한다.1, an organic light emitting diode display device according to the present invention includes an image display panel 110 having a plurality of pixel regions, a plurality of gate lines GL1 to GLn of the image display panel 110, A gate driver 120, a data driver 130 for driving the data lines DL1 to DLm of the image display panel 110, a data driver for driving the data lines DL1 to DLm of the image display panel 110, A power supply unit 140 for applying first and second power supply signals VDD and GND to the power supply lines PLn to PLm of the image display panel 110, And the OLED element is predicted to be degraded by accumulating the current acceleration factor and the temperature acceleration factor by accumulating the current and the compensation factor for the OLED element according to the predicted deterioration degree. The input image data To maintain or update of the gray level value having a timing controller 150 for performing the deterioration compensation.

영상 표시패널(110)은 복수의 서브 화소(P)들이 각각의 화소 영역에 매트릭스 형태로 배열되어 영상을 표시하게 되는데, 각 서브 화소(P)는 유기 발광 다이오드와 그 유기 발광 다이오드를 독립적으로 구동하는 다이오드 구동회로를 구비한다. In the image display panel 110, a plurality of sub-pixels P are arranged in a matrix form in each pixel region to display an image. Each sub-pixel P independently drives the organic light emitting diode and the organic light emitting diode And a diode driver circuit.

한 서브 화소(P)는 어느 한 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL) 및 전원 라인(PL)에 접속된 다이오드 구동회로, 다이오드 구동회로와 제2 전원신호 (GND)의 사이에 접속된 유기 발광 다이오드를 구비한다.One subpixel P is a diode driving circuit connected to a gate line GL and a data line DL and a power supply line PL and a second driving circuit GND connected between the diode driving circuit and the second power supply signal GND. And a light emitting diode.

다이오드 구동회로들은 각각 연결된 데이터 라인(DL)으로부터의 아날로그 데이터 신호를 유기 발광 다이오드로 공급하면서도 아날로그 데이터 신호가 충전되도록 하여 발광 상태가 유지되도록 한다.The diode driving circuits supply the analog data signals from the data lines DL connected to the organic light emitting diodes, respectively, so that the analog data signals are charged to maintain the light emitting state.

게이트 구동부(120)는 타이밍 제어부(150)로부터의 게이트 제어신호(GVS) (164) 예를 들어, 게이트 스타트 펄스(GSP; Gate Start Pulse)와 게이트 쉬프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock)에 응답하여 게이트 온 신호를 순차적으로 생성하고, 게이트 출력 인에이블(GOE: Gate Output Enable) 신호에 따라 게이트 온 신호의 펄스 폭을 제어한다.The gate driver 120 responds to a gate control signal GVS 164 from the timing controller 150 in response to a Gate Start Pulse (GSP) and a Gate Shift Clock (GSC) Sequentially generates a gate-on signal, and controls the pulse width of the gate-on signal in accordance with a gate output enable (GOE) signal.

그리고, 게이트 온 신호들을 게이트 라인들(GL1 내지 GLn)에 순차적으로 공급한다. 여기서, 게이트 라인들(GL1 내지 GLn)에 게이트 온 전압이 공급되지 않는 기간에는 게이트 오프 전압이 공급된다.Then, the gate-on signals are sequentially supplied to the gate lines GL1 to GLn. Here, the gate-off voltage is supplied during a period in which the gate-on voltage is not supplied to the gate lines GL1 to GLn.

데이터 구동부(130)는 타이밍 제어부(150)로부터의 데이터 제어신호(DVS) (166) 중 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse)와 소스 쉬프트 클럭(SSC: Source Shift Clock) 등을 이용하여 타이밍 컨트롤러(150)로부터 매 프레임 단위로 변조된 보상 데이터(MDATA)(162)를 아날로그 전압 즉, 아날로그의 영상 신호로 변환한다.The data driver 130 receives the data control signal DVS 166 from the timing controller 150 using a source start pulse SSP and a source shift clock SSC, (MDATA) 162 modulated on a frame-by-frame basis from the input unit 150 into an analog voltage, that is, an analog video signal.

그리고, 소스 출력 인에이블(SOE: Source Output Enable) 신호에 응답하여 영상 신호를 각 데이터 라인(DL1 내지 DLm)에 공급한다. 데이터 구동부(130)는 SSC에 따라 입력되는 보상 데이터(MDATA)(162)를 래치한 후, SOE 신호에 응답하여 각 게이트 라인(GL1 내지 GLn)에 스캔 펄스가 공급되는 1 수평 주기마다 1 수평 라인분의 영상 신호를 각 데이터 라인(DL1 내지 DLm)에 공급한다.In response to a source output enable (SOE) signal, a video signal is supplied to each data line DL1 to DLm. The data driver 130 latches the compensation data (MDATA) 162 inputted in accordance with the SSC and then outputs one horizontal line per one horizontal period in which the scan pulses are supplied to the gate lines GL1 to GLn in response to the SOE signal. To each of the data lines DL1 to DLm.

전원 공급부(140)는 영상 표시패널(110)에 제1 전원신호(VDD)와 제2 전원신호(GND)를 공급한다. 여기서, 제1 전원신호(VDD)는 발광 셀(OEL)을 구동하기 위한 구동전압을 의미하며, 제2 전원신호(VDD)와 제2 전원신호(GND)의 차이에 의해 각 서브 화소(P)에서는 영상 신호에 대응되는 전류가 흐르기도 한다.The power supply unit 140 supplies the first power supply signal VDD and the second power supply signal GND to the image display panel 110. The first power supply signal VDD denotes a driving voltage for driving the light emitting cell OEL and the second power supply signal VDD is different from the second power supply signal GND, A current corresponding to the video signal may flow.

타이밍 제어부(150)는 외부로부터 입력 영상부(RGB)(200)를 통해 입력 영상 데이터를 각 화소별로 전류를 검출한 후 전류별 가속 인자 및 온도 가속 인자를 반영하여 이를 누적하여 OLED 소자의 열화 정도를 예측한다. 그리고, 예측한 열화 정도에 따라 OLED 소자에 미리 설정된 보상 값을 적용하여 상기 입력 영상 데이터의 계조 값을 유지 또는 갱신시켜 보상 데이터(MDATA)(162)를 생성한다.The timing controller 150 detects the current for each pixel of the input image data from the outside through the input image portion (RGB) 200, reflects the acceleration factor and the temperature acceleration factor for each current, accumulates the current, . The compensation data (MDATA) 162 is generated by maintaining or updating the tone value of the input image data by applying a preset compensation value to the OLED element according to the predicted deterioration degree.

이와 아울러, 타이밍 제어부(150)는 보상 데이터(MDATA)(162)를 영상 표시패널(110)의 구동에 알맞도록 정렬하여 데이터 구동부(130)로 공급한다. 또한, 타이밍 제어부(150)의 외부로부터 입력되는 동기신호들(Dclk, DE, Hsync, Vsync)을 이용하여 게이트 및 데이터 제어신호(GVS, VDS)를 생성하고, 이를 게이트 구동부 (120)와 데이터 구동부(130)에 공급하여 게이트 및 데이터 구동부(120, 130)를 제어한다.In addition, the timing controller 150 aligns the compensation data (MDATA) 162 so as to be suitable for driving the image display panel 110, and supplies the data to the data driver 130. The gate control unit 150 generates gate and data control signals GVS and VDS using the synchronization signals Dclk, DE, Hsync and Vsync input from the outside of the timing controller 150, (130) to control the gate and data drivers (120, 130).

도 2는 도 1에 도시된 타이밍 제어부를 구체적으로 나타낸 구성도이다.2 is a block diagram specifically showing the timing control unit shown in FIG.

도 2에 도시된 타이밍 제어부(150)는 외부로부터 입력 영상부(RGB)(200)를 통해 입력 영상 데이터를 각 화소별로 전류를 검출한 후 전류별 가속 인자 및 온도 가속 인자를 반영하고 이를 누적하여 OLED 소자의 열화 정도를 예측한 다음 예측한 열화 정도에 따라 OLED 소자에 미리 설정된 보상 값을 적용하여 상기 입력 영상 데이터의 계조 값을 유지 또는 갱신시켜 보상 데이터 (MDATA)(162)를 생성하는 데이터 보상 처리부(152)와, 외부로부터의 동기신호들 (Dclk, DE, Hsync, Vsync) 중 적어도 하나의 신호를 이용하여 데이터 구동부(130)의 구동 타이밍을 제어하기 위한 데이터 제어신호(GVS)(164)를 생성 및 출력하는 게이트 제어신호 생성부(154), 및 동기신호들(Dclk, DE, Hsync, Vsync) 중 적어도 하나의 신호를 이용하여 데이터 구동부(130)의 구동 타이밍을 제어하기 위한 데이터 제어신호(DVS)(166)를 생성 및 출력하는 데이터 제어신호 생성부(156)를 구비한다.The timing controller 150 shown in FIG. 2 detects the current for each pixel of the input image data from the outside through the input image portion (RGB) 200, reflects the acceleration factor and the temperature acceleration factor for each current, (MDATA) 162 by maintaining or updating the gradation value of the input image data by applying a preset compensation value to the OLED element according to the predicted degree of deterioration after predicting the degree of deterioration of the OLED element, A data control signal (GVS) 164 for controlling the driving timing of the data driver 130 using at least one of the synchronization signals Dclk, DE, Hsync, and Vsync from the outside, A gate control signal generator 154 for generating and outputting a data signal for controlling the driving timing of the data driver 130 using at least one of the synchronization signals Dclk, DE, Hsync, and Vsync, And a signal (DVS) (166) generates and outputs the data control signal generator 156 for the.

데이터 보상 처리부(152)는 외부로부터 입력 영상부(200)를 통해 입력 영상 데이터를 각 화소별로 분할구분한다.The data compensation processing unit 152 divides the input image data for each pixel through the input image unit 200 from the outside.

그리고, 분할 구분된 각 화소별 영상 데이터의 전류를 순차적으로 검출하고 전류별 가속 인자 및 온도 가속 인자를 반영한다.Then, the current of the image data for each pixel is sequentially detected, and the current-dependent acceleration factor and temperature acceleration factor are reflected.

이를 누적하여 OLED 소자의 열화 정도를 예측한 다음 예측한 열화 정도에 따라 OLED 소자에 미리 설정된 보상 값을 적용하여 상기 입력 영상 데이터의 계조 값을 유지 또는 갱신시켜 보상 데이터(MDATA)(162)를 생성하게 된다.Accumulates and predicts the degree of deterioration of the OLED element, and then applies a preset compensation value to the OLED element according to the predicted degree of deterioration to maintain or update the gradation value of the input image data to generate compensation data (MDATA) .

이렇게 생성된 보상 데이터(MDATA)(162)는 데이터 구동부(130)에 적어도 한 수평 라인 단위로 순차 공급한다. The thus generated compensation data (MDATA) 162 is supplied to the data driver 130 in units of at least one horizontal line.

한편, 게이트 제어신호 생성부(154)는 입력되는 동기신호들(Dclk, DE, Hsync, Vsync) 중 적어도 하나의 신호 예를 들어, 데이터 인에이블 신호(DE) 및 수평 동기신호(Hsync)를 이용하여 게이트 구동부(120)의 구동 타이밍을 제어하기 위한 게이트 제어신호들(GVS)(164)을 생성 및 출력한다.The gate control signal generating unit 154 generates at least one of the input synchronizing signals Dclk, DE, Hsync and Vsync by using a data enable signal DE and a horizontal synchronizing signal Hsync, for example. And generates and outputs gate control signals (GVS) 164 for controlling the driving timing of the gate driver 120. [

데이터 제어 생성부(156)는 입력되는 동기신호들(Dclk, DE, Hsync, Vsync) 중 적어도 하나의 신호 예를 들어, 데이터 인에이블 신호(DE) 및 수직 동기신호 (Vsync)를 이용하여 데이터 구동부(130)의 구동 타이밍을 제어하기 위한 데이터 제어 신호(DVS)(166)들을 생성 및 출력한다. The data control generating unit 156 generates at least one of the input synchronizing signals Dclk, DE, Hsync and Vsync using the data enable signal DE and the vertical synchronizing signal Vsync, (DVS) 166 for controlling the driving timing of the data driver 130.

도 3은 본 발명에 따른 전류 누적을 이용한 OLED 열화 예측 보상 시스템을 구체적으로 나타낸 구성도이다.3 is a block diagram specifically illustrating an OLED deterioration prediction / compensation system using current accumulation according to the present invention.

본 발명에 따른 전류 누적을 이용한 OLED 열화 예측 보상 시스템은, 도 3에 도시된 바와 같이, 입력 영상부(200)를 통해 외부로부터 입력 영상 데이터를 입력받아 각 화소 별로 열화 정도를 예측하는 열화 예측부(300)와, 상기 열화 예측부 (300)로부터 예측한 열화 정도에 따라 열화를 보상하는 열화 보상부(400)와, 상기 열화 보상부(400)로부터 보상된 값을 적용하여 출력시키는 출력 영상부(500)를 포함한다.As shown in FIG. 3, the OLED deterioration prediction and compensation system using current accumulation according to the present invention includes a deterioration prediction unit for receiving input image data from the outside through the input image unit 200 and for predicting the degree of deterioration for each pixel, A deterioration compensator 400 for compensating deterioration in accordance with the degree of deterioration predicted by the deterioration predictor 300, an output image compensator 400 for applying a compensated value from the deterioration compensator 400, (500).

열화 예측부(300)는 입력 영상부(200)를 통해 외부로부터 입력 영상 데이터를 입력받아 각 계조(gray) 값을 전류로 변환시키는 전류 변환부(310)와, 변환된 전류에 전류 가속 인자(factor)(330)를 반영하여 스트레스(stress)로 변환시키는 스트레스 변환부(320)와, 상기 전류 변환부(310)를 통해 변환된 전류의 온도 분석을 통해 온도 가속인자(350)를 반영하여 영상의 온도 분포를 계산하는 온도 분석부 (330)와, 상기 스트레스 변환부(320)를 통한 전류 분포와 온도 분석부(330)를 통한 온도 분포를 반영하여 OLED에 가해지는 스트레스를 누적하는 누적 계산부(360)를 포함한다.The deterioration prediction unit 300 includes a current transform unit 310 that receives input image data from the outside through the input image unit 200 and converts each gray value into a current, a stress conversion unit 320 for converting the temperature of the current transformed through the current transform unit 310 into a stress to reflect the temperature of the current transformed by the current transform unit 310, And a temperature accumulation unit 330 for accumulating the stress applied to the OLED by reflecting the temperature distribution through the temperature distribution unit 330 and the current distribution through the stress conversion unit 320. [ (360).

이와 같이, OLED 패널에 동일 전류를 입력하여 위치별 열화 정도에 대해 검출해 보면, 위치에 따른 소자 효율 편차가 온도가 높은 화면 중앙부를 제외하고 매우 적게 나타난다. 즉, 온도가 동일할 때, 전류를 이용하여 편차가 적은 열화 예측이 가능하게 된다. In this way, when the same current is input to the OLED panel and the degree of deterioration is detected for each position, the device efficiency variation according to the position is very small except for the center portion of the screen where the temperature is high. That is, when the temperature is the same, deterioration prediction with little deviation can be performed using the current.

따라서, 입력 영상이 아닌 전류를 누적한 후 온도를 반영하게 되면 열화 정도를 예측가능하게 된다.Therefore, if the current is accumulated rather than the input image and the temperature is reflected, the degree of deterioration can be predicted.

도 4는 본 발명에 따른 전류 누적을 이용한 OLED 열화 예측 보상 시스템의 전류 변환부를 개략적으로 나타낸 구성도이다.4 is a block diagram schematically illustrating a current transformer of an OLED deterioration prediction / compensation system using current accumulation according to the present invention.

도 5는 본 발명에 따른 전류 누적을 이용한 OLED 열화 예측 보상 시스템의 전류변환부를 구체적으로 도시한 구성도이다.5 is a configuration diagram specifically illustrating a current conversion unit of the OLED deterioration prediction / compensation system using current accumulation according to the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 전류 누적을 이용한 OLED 열화 예측 보상 시스템의 전류 변환부(310)는 입력 영상부(200)를 통해 외부로부터 입력 영상 데이터를 입력받아 각 계조(gray) 값을 전류로 변환시키기 위해 감마부(220) 및 전류 LUT(314)을 통해 전류 변환(316)을 이루어지도록 한다.4, the current transform unit 310 of the OLED deterioration prediction / compensation system using current accumulation according to the present invention receives input image data from the outside through the input image unit 200 and outputs each gray value Current conversion 316 through the gamma unit 220 and the current LUT 314 for conversion to current.

도 5를 참조하면, 동기신호들(Dclk, DE, Hsync, Vsync) 중 적어도 하나, 예를 들어 데이터 인에이블부(230)의 신호를 이용하여 각 화소별 위치를 판단하는 위치 판단부(312)와, 각 위치에 있는 화소별 전류를 검출하는 위치별 전류 LUT(313)와, 계조부(210) 및 감마부(220)를 통한 전압에 의해 각 패널의 기준 전류를 정의하는 기준 전류 LUT(311)와, 상기 패널의 기준 전류 LUT(311)로부터의 전류 값과 상기 위치별 전류 LUT(313)로부터의 전류 값을 계산하여 보상 값을 산출하는 전류 계산부(314)와, 상기 전류 계산부(314)를 통해 보상 전류 값을 생성하는 전류 생성부(315)를 포함한다.5, a position determiner 312 for determining the position of each pixel using at least one of the synchronization signals Dclk, DE, Hsync, and Vsync, for example, a signal of the data enable unit 230, A reference current LUT 311 for defining a reference current of each panel by a voltage through the gradation unit 210 and the gamma unit 220, A current calculator 314 for calculating a compensation value by calculating a current value from the reference current LUT 311 of the panel and a current value from the current LUT 313 for each position, And a current generation unit 315 that generates a compensation current value through the current detection unit 314.

이와 같이, 동일 패널 내에서 위치마다 동일 계조(gray)에서 입력 전류가 달라지게 된다. 예를 들어, 255 계조(gray) 출력시에 위치별 전류 및 휘도에 대한 값을 취득한 후 관계성을 파악하게 된다. As described above, the input current varies at the same gray level for each position in the same panel. For example, at the output of gray (255 gray), values for current and luminance for each position are obtained and the relationship is grasped.

도 6은 본 발명에 따른 OLED 패널에서의 전류 및 휘도 분포를 개략적으로 나타낸 그래프이다.6 is a graph schematically showing the current and luminance distribution in an OLED panel according to the present invention.

도 6에 도시된 바와 같이, OLED 패널에서의 전류 및 휘도 분포가 불균일하기 때문에, 패널 초기의 휘도 촬영을 통해 패널 및 위치별 전류 편차를 반영하게 된다.As shown in FIG. 6, since the current and luminance distribution in the OLED panel are not uniform, the luminance deviation of the panel and the position is reflected through the luminance photographing at the initial stage of the panel.

도 7은 본 발명에 따른 전류 누적을 이용한 OLED 열화 예측 보상 시스템의 전류 가속 인자의 반영에 의한 효율과 스트레스(stress)의 관계 그래프이다.FIG. 7 is a graph showing the relationship between the efficiency and the stress due to reflection of the current acceleration factor of the OLED deterioration prediction and compensation system using current accumulation according to the present invention.

도 7에 도시된 바와 같이, 누적 전류(즉, 전류×시간)가 동일하여도 소자 효율이 다른 경우가 발생한다. 그러나, 동일한 전류의 누적값을 가지면 동일한 소자 효율이 나오도록 전류를 변환한다. 이때, 시간에 따른 전류 가속 인자를 반영함으로써 일정한 패턴의 스트레스(stress)(즉, 전류×전류 가속 인자)로 변환하게 된다.As shown in Fig. 7, even when the accumulated current (i.e., current x time) is the same, the device efficiency may differ. However, if the cumulative value of the same current is present, the current is converted so that the same device efficiency is obtained. At this time, by reflecting the current acceleration factor with time, it is converted into a certain pattern of stress (that is, current × current acceleration factor).

이를 통해, 스트레스(stress)와 소자 효율 간의 관계가 자연적인 열화 모델 (model)을 대표하는 지수 함수형 붕괴(exponential decay) 함수와 매우 높은 관계성을 가지도록 만들 수 있다.This allows the relationship between stress and device efficiency to have a very high relationship with the exponential decay function representing the natural deterioration model.

한편, 열화 예측 정도를 파악하기 위해, 전술한 OLED 패널의 각 위치별로 입력 영상에 따른 전류를 검출한 후 전류별 가속 인자를 반영함과 더불어 온도 가속 인자를 반영하여 누적해야 한다.On the other hand, in order to grasp the degree of deterioration prediction, the current according to the input image must be detected for each position of the OLED panel described above, and the current acceleration factor should be reflected and the temperature acceleration factor must be reflected and accumulated.

도 8은 본 발명에 따른 OLED 열화 예측 보상 시스템의 온도 분석부를 개략적으로 나타낸 구성도이다.8 is a block diagram schematically illustrating a temperature analysis unit of the OLED deterioration prediction / compensation system according to the present invention.

도 8을 참조하면, 온도 분석부(340)는 각 화소별로 입력되는 전류를 통해 각 서브 화소별로 온도를 분석하는 서브 화소 분석(332)과, 서브-화소 분석을 통해 검출된 온도들을 각 블록별로 평균하여 계산하는 블록별 온도 평균 계산(334)과, 시간에 따른 온도 차이를 분석하는 시간적 분석(336)과, 패널 및 화소별 특성이 온도 영향력 변화에 따른 공간적 분석(338)을 포함한다.Referring to FIG. 8, the temperature analysis unit 340 includes a sub-pixel analysis unit 332 for analyzing the temperature of each sub-pixel through a current input to each pixel, A temporal analysis 336 for analyzing the temperature difference over time, and a spatial analysis 338 for the characteristics of the panel and the pixel depending on the change in temperature influence.

그리고, 이러한 온도 분석부(340)을 통해 생성된 온도 가속 인자(350)를 열화 정도를 예측하기 위해 전류 가속 인자와 함께 반영하여 누적하게 된다.The temperature acceleration factor 350 generated through the temperature analysis unit 340 is reflected and accumulated together with the current acceleration factor to predict the degree of deterioration.

도 9a는 본 발명에 따른 OLED 패널의 위치별 영상 온도 분포를 개략적으로 나타낸 도면이며, 도 9b는 본 발명에 따른 OLED 패널의 재생 영상을 개략적으로 나타낸 사진이다.FIG. 9A is a schematic view showing an image temperature distribution according to positions of an OLED panel according to the present invention, and FIG. 9B is a photograph schematically showing a reproduced image of an OLED panel according to the present invention.

도 9a에 도시된 바와 같이, 영상에 따라 OLED패널의 위치에 따른 온도 분포가 다르다. 즉, OLED 패널의 중앙부로 갈수록 온도가 높아 밝게 나타나고, 외곽으로 갈수록 온도가 낮아 약간 어둡게 나타난다. As shown in FIG. 9A, the temperature distribution according to the position of the OLED panel differs depending on the image. That is, the temperature becomes higher and higher as it goes toward the center of the OLED panel, and the temperature becomes lower as it goes to the outside.

이와 같이, OLED패널의 온도 분포는 영상과 일치하지 않기 때문에, 영상의 온도 분석으로 그 경향성을 예측하여 보상해 준다.Thus, since the temperature distribution of the OLED panel does not coincide with the image, it is predicted and compensated by the temperature analysis of the image.

도 9b에 도시된 바와 같이, OLED 패널의 온도 분포가 불 균일하기 때문에, 온도 분석을 통해 그 경향성을 예측하여 보상해 줌으로써 재생 영상에서는 온도 분포가 대체로 양호하게 이루어지는 것을 알 수 있다.As shown in FIG. 9B, since the temperature distribution of the OLED panel is uneven, it can be seen that the temperature distribution is substantially good in the reproduced image by predicting and compensating the tendency thereof through the temperature analysis.

그리고, 도면에는 도시하지 않았지만, 온도 분석부(미도시, 도 8의 340 참조)를 구성하는 서브 화소 분석(미도시, 도 8의 332 참조)에서는 OLED 소자 특성에 따라 발열량이 다르기 때문에, 패널별 특성을 반영하여 서브 화소별(R, G, B, W)로 온도를 반영한다.Although not shown in the drawings, since the calorific value differs depending on the characteristics of the OLED element in the sub-pixel analysis (refer to 332 in FIG. 8) constituting the temperature analysis unit (see 340 in FIG. 8) (R, G, B, W) according to the characteristics of the sub-pixels.

예를 들어, 적색 화소(R), 녹색 화소(G), 청색 화소(B), 백색 화소(W) 별 발열량이 다르기 때문에, 도면에는 도시하지 않았지만, 이들 적색 화소(R), 녹색 화소(G), 청색 화소(B), 백색 화소(W)에 예를 들어 1.3, 0.7, 1.5, 0.5 비율로 전류를 각각 반영하여 이들 적색 화소(R), 녹색 화소(G), 청색 화소(B), 백색 화소(W)에 동일한 발열이 이루어지도록 한다. 이때, 동일한 전류가 흘러도 서브 화소 종류에 따라 보상 값이 다르게 적용된다.For example, since the amounts of heat generated by the red pixel R, the green pixel G, the blue pixel B, and the white pixel W are different from each other, The red pixel R, the green pixel G, the blue pixel B, and the blue pixel B, respectively, by reflecting currents at a ratio of, for example, 1.3, 0.7, 1.5, So that the same heat is generated in the white pixel W. At this time, even if the same current flows, the compensation value is applied differently according to the type of sub-pixel.

그리고, 온도 분석부(340)를 구성하는 블록별 평균 계산(미도시, 도 8의 334 참조)에서는 OLED 패널의 각 화소별로 온도를 분석한 다음 설정된 블록별로 평균 온도를 계산한다.In the average calculation for each block (refer to 334 in FIG. 8) constituting the temperature analysis unit 340, the temperature is analyzed for each pixel of the OLED panel, and then the average temperature is calculated for each set block.

도 10은 본 발명에 따른 OLED 열화 보상 시스템의 온도 분석부의 시간적 분석을 개략적으로 나타낸 도면이다.10 is a schematic diagram illustrating a temporal analysis of the temperature analysis unit of the OLED deterioration compensation system according to the present invention.

도 10에 도시된 바와 같이, 온도 분석부(340)를 구성하는 시간적 분석(미도시, 도 8의 336 참조)에서는 OLED패널의 각 화소 특성에 따라 발열량, 즉 전류량이 다르기 때문에, 시간에 따른 온도 변화 속도가 다르게 나타난다.As shown in FIG. 10, in the temporal analysis (see 336 in FIG. 8) constituting the temperature analysis unit 340, since the amount of heat generation, that is, the amount of current varies depending on the pixel characteristics of the OLED panel, The rate of change is different.

따라서, OLED 패널별 특성을 반영하여 시간에 따른 온도 변화 속도를 반영한다. 즉, 무한 임펄스 응답 필터(IIR Filter)를 적용하여 전류 변화 속도를 온도 변화 속도에 맞게 천천히 변화하도록 계산할 수 있다.Therefore, it reflects the temperature change rate over time reflecting the characteristics of each OLED panel. That is, the infinite impulse response filter (IIR filter) can be applied to calculate the current change rate to change slowly according to the temperature change rate.

도 11a는 본 발명에 따른 OLED 패널에 온도 분포에서의 온도 영향력 변화를 나타낸 도면이며, 도 11b는 본 발명에 따른 OLED 패널의 각 화소별로 나타나는 온도 분포에서의 온도 영향력 변화를 나타낸 도면이다. FIG. 11A is a graph showing a change in temperature influence in a temperature distribution on an OLED panel according to the present invention, and FIG. 11B is a graph showing a change in temperature influence in a temperature distribution of each pixel of an OLED panel according to the present invention.

도 11a 및 11b에 도시된 바와 같이, 온도 분석부(340)를 구성하는 공간적 분석(미도시, 도 8의 338 참조)에서는 OLED패널의 각 화소별로 주변 화소에 미치는 온도 영향이 다르게 나타난다. 즉, 도 11a 및 11b에 도시된 바와 같이, OLED 패널의 가로 방향(X) 및 세로 방향(Y)에 따라 온도 영향력의 변화가 나타난다.11A and 11B, in the spatial analysis (not shown, see 338 in FIG. 8) of the temperature analyzer 340, the temperature influence on the surrounding pixels differs for each pixel of the OLED panel. That is, as shown in Figs. 11A and 11B, a change in the temperature influence is shown in the transverse direction X and the longitudinal direction Y of the OLED panel.

따라서, OLED 패널별 특성을 반영하여 공간에 따른 온도 분포(Heat Transer Function)를 반영한다. 즉, 도 11b에 도시된 바와 같이, 하얀 부분에서는 높은 온도 분포가 나타나지만, 약간 흐른 부분에서는 온도가 낮은 분포가 나타난다.Therefore, it reflects the heat transfer function according to the space by reflecting the characteristics of each OLED panel. That is, as shown in Fig. 11B, a high temperature distribution appears in the white portion, but a low temperature distribution appears in the slightly flowing portion.

도 8에서 계산한 블록별 온도 평균이 완전히 동일하더라도 도 11a에서와 같이 HTF를 변경하면 도 11b에서와 같이 각 화소 별로 온도의 분포 형태를 다르게 조정할 수 있다.Even if the temperature averages for each block calculated in FIG. 8 are completely the same, if the HTF is changed as shown in FIG. 11A, the temperature distribution can be adjusted differently for each pixel as shown in FIG. 11B.

이를 통해 패널의 기구 구성이 완제품으로 변경될 때 온도가 공간적으로 달라지는 형태의 변화를 반영할 수 있다.This can reflect changes in the shape of the spatially varying temperature when the instrument configuration of the panel is changed to the finished product.

한편, 전류 누적을 이용하여 열화 예측 및 보상하기 위한 유기발광 다이오드 표시장치의 구동방법에 대해 간략하게 설명하면 다음과 같다.A driving method of an organic light emitting diode display device for predicting and compensating for deterioration using current accumulation will be briefly described as follows.

먼저, 제1 단계로서, OLED 패널의 각 위치별로 입력 영상에 따른 전류를 검출한다. First, as a first step, a current corresponding to an input image is detected for each position of an OLED panel.

그런 다음, 제2 단계로서, 검출된 전류별 가속 인자(도 3의 330 참조) 및 온도 가속 인자(도 3의 350 참조)를 반영하여 이를 누적한다.  Then, as a second step, the detected acceleration factors (see 330 in FIG. 3) and the temperature acceleration factors (see 350 in FIG. 3) are reflected and accumulated.

이후에, 제3 단계로서, 소자의 열화 정도를 예측하여 예측한 열화 정도에 따라 소자에 보상 값을 적용한다. Thereafter, as a third step, the compensation value is applied to the device in accordance with the degree of deterioration predicted by estimating the degree of deterioration of the device.

여기서, 상기 제1, 2 단계에서, 입력 영상부(200)를 통해 외부로부터 입력 영상 데이터를 입력받아 각 계조(gray) 값을 전류로 변환시키고, 이어 변환된 전류에 전류 가속 인자(도 3의 330 참조)를 반영하여 스트레스(stress)로 변환시키며, 이후에 상기 변환된 전류의 온도 분석을 통해 온도 가속인자(도 3의 350 참조)를 반영하여 영상의 온도 분포를 계산한 다음, 상기 전류 분포와 온도 분석을 반영하여 OLED 소자에 가해지는 스트레스를 누적한다. In the first and second steps, input image data is inputted from the outside through the input image unit 200, and each gray value is converted into a current, and a current acceleration factor (see FIG. 3 330). Then, the temperature distribution of the image is calculated by reflecting the temperature acceleration factor (refer to 350 in FIG. 3) through the temperature analysis of the converted current, And accumulates the stress applied to the OLED element by reflecting the temperature analysis.

그리고, 상기 계조(gray) 값을 전류로 변환시키는 단계에서, 데이터 인에이블부(도 5의 230 참조)의 신호를 이용하여 각 화소별 위치를 판단한 후, 각 위치에 있는 화소별 전류를 위치별 전류 LUT(도 5의 313 참조)로 검출하고, 이어 계조부 (도 5의 210 참조) 및 감마부(도 5의 220 참조)를 통한 전압에 의해 각 패널의 기준 전류를 정의하는 기준 전류 LUT(도 5의 311 참조)을 정의하며, 그 이후에 상기 패널의 기준 전류 LUT(311)로부터의 전류 값과 상기 위치별 전류 LUT(313)로부터의 전류 값을 계산하여 보상 값을 산출한다. Then, in the step of converting the gray value into a current, the position of each pixel is determined using the signal of the data enable unit (see 230 in FIG. 5) The reference current LUT (see FIG. 5) which detects the reference current of each panel by the voltage through the gradation portion (see 210 in FIG. 5) and the gamma portion (see 220 in FIG. 5) (See 311 in FIG. 5). Thereafter, a current value from the reference current LUT 311 of the panel and a current value from the current-based LUT 313 are calculated to calculate a compensation value.

또한, 상기 변환된 전류의 온도 분석을 통해 온도 가속인자(도 3의 350 참조)를 반영하여 영상의 온도 분포를 계산하는 단계에서, 각 화소별로 입력되는 전류를 통해 각 서브 화소별로 온도를 분석하고, 이어 서브-화소 분석을 통해 검출된 온도들을 각 블록별로 평균하여 계산한 다음, 시간에 따른 온도 차이를 분석하고, 이어 패널 및 화소별 특성이 온도 영향력 변화에 따라 분석한다.Further, in the step of calculating the temperature distribution of the image by reflecting the temperature acceleration factor (refer to 350 in FIG. 3) through the temperature analysis of the converted current, the temperature is analyzed for each sub-pixel through the current inputted for each pixel Then, the temperatures detected by the sub-pixel analysis are averaged for each block, and then the temperature difference is analyzed according to the time, and the characteristics of the panel and the pixel are analyzed according to the change of the temperature influence.

이와 같이, 온도 분석부(340)의 서브 화소 분석(332)과, 서브-화소 분석을 통해 검출된 온도들을 각 블록별로 평균하여 계산하는 블록별 온도 평균 계산(334)과, 시간에 따른 온도 차이를 분석하는 시간적 분석(336)과, 패널 및 화소별 특성이 온도 영향력 변화에 따른 공간적 분석(338)을 통해 OLED패널의 각 화소별 온도를 분석한 후 온도 가속 인자(350)를 열화 정도를 예측하기 위해 생성한다.As described above, the sub-pixel analysis 332 of the temperature analysis unit 340, the block-by-block temperature average calculation 334 for calculating the temperatures detected by the sub-pixel analysis for each block, The temperature of each pixel of the OLED panel is analyzed through a spatial analysis 338 of the characteristics of the panel and the pixel according to the change of the temperature influence and then the temperature acceleration factor 350 is predicted .

이러한 온도 분석부(340)을 통해 생성된 온도 가속 인자(350)를 열화 정도를 예측하기 위해 전류 가속 인자와 함께 반영하여 누적하게 된다.The temperature acceleration factor 350 generated through the temperature analysis unit 340 is reflected and accumulated together with the current acceleration factor to predict the degree of deterioration.

이와 같이, 본 발명에 따른 전류 누적을 이용하여 열화 정도를 예측하여 보상하기 위해, 외부로부터 입력 영상부(RGB)(미도시, 도 3의 200 참조)를 통해 입력 영상 데이터를 각 화소별로 전류를 검출한 후 전류별 가속 인자(미도시, 도 3의 330 참조) 및 온도 가속 인자(미도시, 도 3의 350 참조)를 반영하고 이를 누적한다.In order to predict and compensate for the degree of deterioration using the current accumulation according to the present invention, the input image data (RGB) (not shown, refer to 200 in FIG. 3) (See FIG. 3, FIG. 3) and a temperature acceleration factor (not shown in FIG. 3, 350).

이후에, OLED 소자의 열화 정도를 예측한 다음 예측한 열화 정도에 따라 OLED 소자에 미리 설정된 보상 값을 적용하여 상기 입력 영상 데이터의 계조 값을 유지 또는 갱신시켜 보상을 해주게 된다. Thereafter, the OLED element predicts the degree of deterioration of the OLED element, and then compensates the OLED element by maintaining or updating the gray level of the input image data by applying a predetermined compensation value to the OLED element according to the predicted deterioration degree.

이와 같이, 본 발명에 따른 유기발광 다이오드 표시장치 및 그 구동방법은 OLED 패널의 각 위치별로 입력 영상에 따른 전류를 검출한 후 전류별 가속 인자 및 온도 가속 인자를 반영하여 이를 누적하여 OLED 소자의 열화 정도를 예측함으로써 예측한 열화 정도에 따라 OLED 소자에 보상 값을 적용하여 OLED의 잔상을 제거할 수 있다.As described above, the organic light emitting diode display device and the driving method thereof according to the present invention detect a current according to an input image for each position of an OLED panel, reflect an acceleration factor and a temperature acceleration factor for each current, The residual image of the OLED can be removed by applying a compensation value to the OLED device according to the predicted degree of deterioration.

이상 도면을 참조하여 실시 예들을 설명하였으나 본 발명은 이에 제한되지 않는다.Although the embodiments have been described with reference to the drawings, the present invention is not limited thereto.

이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재될 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.It is to be understood that the terms "comprises", "comprising", or "having" as used in the foregoing description mean that the constituent element can be implanted unless specifically stated to the contrary, But should be construed as further including other elements. All terms, including technical and scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs, unless otherwise defined. Commonly used terms, such as predefined terms, should be interpreted to be consistent with the contextual meanings of the related art, and are not to be construed as ideal or overly formal, unless expressly defined to the contrary.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시 예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The foregoing description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents should be construed as falling within the scope of the present invention.

150: 타이밍 제어부 200: 입력 영상부
300: 열화 예측부 310: 전류 변환부
320: 스트레스 변환부 330: 전류 가속인자
340: 온도 분석부 350: 온도 가속인자
360: 누적 계산부 400: 열화 보상부
500: 출력 영상부
150: a timing control unit 200:
300: deterioration prediction unit 310: current conversion unit
320: Stress conversion unit 330: Current acceleration factor
340: Temperature analysis unit 350: Temperature acceleration factor
360: cumulative calculation unit 400: deterioration compensation unit
500: output image portion

Claims (9)

복수의 화소영역을 구비하는 영상 표시패널;
상기 영상 표시패널의 게이트 라인들을 구동하는 게이트 구동부;
상기 영상 표시패널의 데이터 라인들을 구동하는 데이터 구동부;
상기 영상 표시패널의 전원라인들에 제1 및 제2 전원신호를 인가하는 전원공급부;
영상 표시패널의 각 위치별로 입력 영상에 따른 전류를 검출한 후 전류별 가속 인자 및 온도 가속 인자를 반영하여 이를 누적하고 소자의 열화 정도를 예측하여 예측한 열화 정도에 따라 소자에 보상 값을 적용하는 타이밍 제어부를 포함하여 구성되는 유기 발광 다이오드 표시장치.
An image display panel having a plurality of pixel regions;
A gate driver for driving gate lines of the image display panel;
A data driver driving data lines of the image display panel;
A power supply unit for applying first and second power supply signals to power supply lines of the image display panel;
After detecting the current according to the input image for each position of the image display panel, the compensation factor is applied to the device according to the degree of deterioration predicted by accumulating the acceleration factor and the temperature acceleration factor according to the current and estimating the degree of deterioration of the device And an organic light emitting diode (OLED) display device.
제1 항에 있어서, 상기 타이밍 제어부는
입력 영상부를 통해 외부로부터 입력 영상 데이터를 입력받아 각 화소 별로 열화 정도를 예측하는 열화 예측부와, 상기 열화 예측부로부터 예측한 열화 정도에 따라 열화를 보상하는 열화 보상부와, 상기 열화 보상부로부터 보상된 값을 적용하여 출력시키는 출력 영상부를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 다이오드 표시장치.
The apparatus of claim 1, wherein the timing controller
A deterioration prediction unit for receiving input image data from an external source through an input image unit and for predicting a degree of deterioration for each pixel; a deterioration compensation unit for compensating deterioration according to the degree of deterioration predicted by the deterioration prediction unit; And an output image portion for applying the compensated value and outputting the compensated value.
제1 항에 있어서, 상기 열화 예측부는
입력 영상부를 통해 외부로부터 입력 영상 데이터를 입력받아 각 계조(gray) 값을 전류로 변환시키는 전류 변환부와, 변환된 전류에 전류 가속 인자(factor)를 반영하여 스트레스(stress)로 변환시키는 스트레스 변환부와, 상기 전류 변환부를 통해 변환된 전류의 온도 분석을 통해 온도 가속인자를 반영하여 영상의 온도 분포를 계산하는 온도 분석부와, 상기 스트레스 변환부를 통한 전류 분포와 온도 분석부를 통한 온도 분포를 반영하여 OLED 소자에 가해지는 스트레스를 누적하는 누적 계산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 다이오드 표시장치.
The apparatus of claim 1, wherein the degradation prediction unit
A current converter for receiving input image data from the outside through an input image unit and converting each gray value into a current, a stress conversion unit for converting the current into a stress by reflecting a current acceleration factor, A temperature analyzer for calculating a temperature distribution of an image by reflecting a temperature acceleration factor through a temperature analysis of the current converted through the current converter, and a temperature distribution through a current distribution and a temperature analyzer through the stress converter And an accumulation unit for accumulating the stress applied to the OLED element.
제3 항에 있어서, 상기 전류 변환부는
데이터 인에이블부의 신호를 이용하여 각 화소별 위치를 판단하는 위치 판단부와, 각 위치에 있는 화소별 전류를 검출하는 위치별 전류 LUT와, 계조부 및 감마부를 통한 전압에 의해 각 패널의 기준 전류를 정의하는 기준 전류 LUT와, 상기 패널의 기준 전류 LUT로부터의 전류 값과 상기 위치별 전류 LUT로부터의 전류 값을 계산하여 보상 값을 산출하는 전류 계산부와, 상기 전류 계산부를 통해 보상 전류 값을 생성하는 전류 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 다이오드 표시장치.
4. The apparatus of claim 3, wherein the current converter
A position determination unit for determining the position of each pixel using the signal of the data enable unit, a current LUT for each position for detecting a current for each pixel at each position, and a reference current for each panel by a voltage through the gradation unit and the gamma unit. A current calculator for calculating a compensation value by calculating a current value from the reference current LUT of the panel and a current value from the current LUT for each position; Wherein the organic light emitting diode display comprises a current generator for generating a current.
제3 항에 있어서, 상기 온도 분석부는
각 화소별로 입력되는 전류를 통해 각 서브 화소별로 온도를 분석하는 서브 화소 분석과, 서브-화소 분석을 통해 검출된 온도들을 각 블록별로 평균하여 계산하는 블록별 온도 평균 계산과, 시간에 따른 온도 차이를 분석하는 시간적 분석과, 패널 및 화소별 특성이 온도 영향력 변화에 따른 공간적 분석을 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 다이오드 표시장치.
4. The apparatus of claim 3, wherein the temperature analyzer
A sub-pixel analysis for analyzing the temperature of each sub-pixel through the current input to each pixel, a temperature average calculation for each block that averages the temperatures detected by the sub-pixel analysis for each block, And a spatial analysis according to a change in a temperature influence of the panel and pixel characteristics.
영상 표시패널의 각 위치별로 입력 영상에 따른 전류를 검출하는 제1 단계;
검출된 전류별 가속 인자 및 온도 가속 인자를 반영하여 이를 누적하는 제2 단계; 및
소자의 열화 정도를 예측하여 예측한 열화 정도에 따라 소자에 보상 값을 적용하는 제3 단계를 포함하여 구성되는 유기 발광 다이오드 표시장치의 구동방법.
A first step of detecting a current according to an input image for each position of the image display panel;
A second step of reflecting the detected acceleration factors and temperature acceleration factors of the detected currents and accumulating them; And
And a third step of applying a compensation value to the device in accordance with the degree of deterioration predicted by predicting the degree of deterioration of the device.
제6 항에 있어서, 상기 제1 단계 및 제2 단계는,
입력 영상부를 통해 외부로부터 입력 영상 데이터를 입력받아 각 계조(gray) 값을 전류로 변환시키는 단계와,
변환된 전류에 전류 가속 인자(factor)를 반영하여 스트레스(stress)로 변환시키는 단계와,
상기 변환된 전류의 온도 분석을 통해 온도 가속인자를 반영하여 영상의 온도 분포를 계산하는 단계와,
상기 전류 분포와 온도 분석을 반영하여 OLED 소자에 가해지는 스트레스를 누적하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 다이오드 표시장치의 구동방법.
7. The method of claim 6, wherein the first step and the second step comprise:
Receiving input image data from an outside through an input image unit and converting each gray value into a current,
Converting the converted current into a stress by reflecting a current acceleration factor,
Calculating a temperature distribution of the image by reflecting a temperature acceleration factor through temperature analysis of the converted current,
And accumulating the stress applied to the OLED element by reflecting the current distribution and the temperature analysis.
제7 항에 있어서, 상기 계조(gray) 값을 전류로 변환시키는 단계는,
데이터 인에이블부의 신호를 이용하여 각 화소별 위치를 판단하는 단계와,
각 위치에 있는 화소별 전류를 위치별 전류 LUT로 검출하는 단계와,
계조부 및 감마부를 통한 전압에 의해 각 패널의 기준 전류를 정의하는 기준 전류 LUT을 정의하는 단계와,
상기 패널의 기준 전류 LUT로부터의 전류 값과 상기 위치별 전류 LUT로부터의 전류 값을 계산하여 보상 값을 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 다이오드 표시장치 구동방법.
8. The method of claim 7, wherein the step of converting the gray value into a current comprises:
Determining a position of each pixel using a signal of a data enable unit;
Detecting a current for each pixel in each position by a current-based LUT;
Defining a reference current LUT that defines a reference current of each panel by a voltage through the gradation portion and the gamma portion;
And calculating a compensation value by calculating a current value from the reference current LUT of the panel and a current value from the current-dependent current LUT.
제7 항에 있어서, 상기 변환된 전류의 온도 분석을 통해 온도 가속인자를 반영하여 영상의 온도 분포를 계산하는 단계는,
각 화소별로 입력되는 전류를 통해 각 서브 화소별로 온도를 분석하는 단계와,
서브-화소 분석을 통해 검출된 온도들을 각 블록별로 평균하여 계산하는 단계와,
시간에 따른 온도 차이를 분석하는 단계와,
패널 및 화소별 특성이 온도 영향력 변화에 따라 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 다이오드 표시장치의 구동방법.
The method as claimed in claim 7, wherein the step of calculating the temperature distribution of the image by reflecting the temperature acceleration factor through the temperature analysis of the converted current comprises:
Analyzing the temperature of each sub-pixel through a current input to each pixel;
Averaging the temperatures detected by the sub-pixel analysis for each block,
Analyzing a temperature difference over time,
And analyzing characteristics of the panel and the pixel according to a change in temperature influence.
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