KR20160124089A

KR20160124089A - 공유 테스트 리소스를 이용하여 다수의 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버를 테스트하는 방법

Info

Publication number: KR20160124089A
Application number: KR1020167020821A
Authority: KR
Inventors: 조나단 배리 허스트; 애덤 마틴 스미스
Original assignee: 라이트포인트 코포레이션
Priority date: 2014-02-24
Filing date: 2015-01-21
Publication date: 2016-10-26
Also published as: CN105917600A; WO2015126558A1; TW201534064A; JP2017512978A; US20150244477A1; US10044451B2

Abstract

단일한 벡터 신호 생성기(VSG) 및 단일한 벡터 신호 분석기(VSA)를 가진 테스터와 같은 공유 DUT 테스트 리소스를 가지고 데이터 패킷 신호 트랜시버와 같은 다수의 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법. 테스터 리소스에 대한 액세스를 위한 DUT에 의한 요청(예를 들면, 신호 생성기로부터 신호를 수신하거나, 또는 신호를 신호 분석기로 제공하기 위한)은 테스터 가용성과 요청하는 DUT가 단독 액세스를 요청하는지 여부 또는 테스터에 대한 액세스를 공유할 수 있는지에 기초하여 우선 순위가 정해진다. 테스터가 가용하지 못하면, DUT 요청은 테스터가 사용가능하게 되도록 기다리며 그들 각각의 우선 순위에 따라 대기된다. 그 결과, 공유 테스터 리소스에 대한 액세스는 다수의 DUT를 동시에 테스트하면서 테스트 시간을 최소화하도록 동적으로 관리될 수 있다.

Description

공유 테스트 리소스를 이용하여 다수의 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버를 테스트하는 방법{METHOD FOR TESTING MULTIPLE WIRELESS DATA PACKET SIGNAL TRANSCEIVERS USING SHARED TESTING RESOURCES}

본 발명은 다수의 신호 트랜시버 테스트에 관한 것으로, 특히 공유 테스트 자원을 이용하여 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 자동 테스트하는 것에 관한 것이다.

오늘날의 전자 장치의 다수는 접속 및 통신 목적 모두를 위해 무선 신호 기술을 사용한다. 무선 장치가 전자기 에너지를 송수신하고, 2개 이상의 무선 장치가 자신의 신호 주파수 및 파워 스펙트럼 밀도에 의해 서로의 동작에 간섭할 가능성이 있기 때문에, 이들 장치들과 그 장치들의 무선 신호 기술은 다양한 무선 신호 기술 표준 규격을 준수해야 한다.

이러한 무선 장치들을 설계할 때, 엔지니어들은 장치들에 포함된 무선 신호 기술의 상술한 표준 기반 규격 각각을 이러한 장치들이 만족시키거나 또는 그것을 능가할 것을 보장하도록 특별히 유의한다. 추가로, 이들 장치가 추후에 대량으로 제조될 때, 이들 장치는, 장치들에 포함된 무선 신호 기술 표준 기반 규격에 대해 상기 장치들이 따르는 것을 포함하면서, 제조 결함이 부적절한 동작을 일으키지 않는 것을 보장하도록 테스트된다.

이들 장치의 제조 및 조립에 후속하는 이들 장치의 테스트에 대해, 현재 무선 장치 테스트 시스템은 일반적으로 각각의 피시험장치(DUT)로 테스트 신호들을 제공하고, 각각의 DUT로부터 수신된 신호들을 분석하는 테스트 서브시스템을 채용한다. 일부 서브시스템들(대개, "테스터"라고 하는)은 적어도 DUT에 전송될 소스 신호를 제공하는 벡터 신호 생성기(VSG) 및 DUT에 의해 산출된 신호들을 분석하기 위한 벡터 신호 분석기(VSA)를 포함한다. VSG에 의한 테스트 신호의 산출과 VSA에 의해 수행되는 신호 분석은 일반적으로 주파수 범위, 대역폭 및 신호 변조 특성을 변하게 하면서 다양한 무선 신호 기술 표준에 따라 다양한 장치를 테스트하는 데에 각각 이용될 수 있도록 프로그래밍 가능하다.(예를 들면, 내부 프로그래밍 가능한 컨트롤러, 또는 개인용 컴퓨터와 같은 외부 프로그래밍 가능한 컨트롤러를 이용하여)

무선 통신 장치 제조의 일부로서, 생산 비용 중 하나의 현저한 구성요소는 이들 제조 테스트에 연관된 비용이다. 일반적으로, 테스트 비용과 테스트를 수행하는 데에 요구되는 테스트 장비의 복잡도 사이에는 직접적인 상관관계가 있다. 따라서, 장비 비용(예를 들면, 필수적인 테스트 장비 또는 테스터의 복잡도 증가에 기인한 비용 증가)을 최소화하면서, 테스트의 정확도를 유지시킬 수 있는 개선이 중요하고, 특히 대량의 이러한 장치들이 제조되고 테스트 된다는 점에서 현저한 비용 절감을 제공할 수 있다.

테스트 비용에서의 또다른 주요 요소는 테스트 시간의 비용, 특히 장치 테스트 시간 당의 비용이며, 이는 테스트 완전성을 손상시키지 않으면서 최소화되어야 한다. 전체 테스트 시간은 실제 DUT 테스트 활동(예를 들면, 내재한 시스템 및 DUT 표준에 따른 DUT 성능 테스트), DUT 핸들링 활동(예를 들면, DUT의 연결, 연결 해제, 이동), 및 테스트 준비 활동(예를 들면, DUT를 시작 및/또는 테스트 시스템과 동기화)에 의해 결정된다. 테스트 시간이 단일한 장치에 대해 최적으로 감소되면, 테스트 시간과 비용을 감소시키는 다음 단계는 파이프라이닝 방식으로(in pipeline)(예를 들면 분산된 테스트를 오버랩핑하는 순서) 또는 병렬의(예를 들면, 다수의 DUT의 동시 테스트) 다수의 DUT 테스트에 대해서이다. 이는 하나 이상의 테스터를 수신(RX) 신호를 DUT로 제공하고 DUT에 의해 산출된 전송(TX) 신호를 수신 및 분석하기 위해 필요한 추가적인 신호 라우팅 회로(예를 들면, 신호 디바이더, 결합기, 스위치, 멀티플렉서 등과 같은)로 조합하고 연결하는 것을 포함할 수 있다.

다수의 DUT가 테스터 리소스를 공유하면서 테스트되는 경우, 시간적으로 병렬인 최악의 경우의 추정치들은 일반적으로 DUT 사이에 경쟁이 없다는 것을 보장하기 위해 이들 리소스를 공유하도록 테스트를 프래그래밍할 때 사용된다. 일부 DUT는 다른 것들보다 테스트 단계를 빨리 완료한다. 이와 같은 경우에 DUT들은 테스터 리소스에 대한 프로그래밍된 액세스를 대기하면서 유휴상태가 된다. 테스트 시간에 대해, 이는 시간 소모적이고 테스트 시간과 비용을 증가시킨다.

따라서, 테스터 리소스에 대한 액세스가 다수의 DUT의 실시간 상태와 현재 테스트 환경의 분산 또는 병렬 테스트 우선 순위에 기초하여 최적화되는 동적 액세스 제어를 가지는 것이 바람직하다. 액세스가 무엇보다 중요한 최적화 노력에 의해 결정되는 테스터 리소스의 동적 관리는, 동일한 전체 시간 간격 동안 다수의 장치들이 테스트되도록 하여, 시간 및 비용을 절감하면서 테스터 리소스의 최적의 사용을 하게 한다.

본 발명에 따르면, 단일한 벡터 신호 생성기(VSG) 및 단일한 벡터 신호 분석기(VSA)를 가진 테스터와 같은 공유 피시험장치(DUT) 테스트 리소스를 가지고 데이터 패킷 신호 트랜시버와 같은 다수의 신호 트랜시버 DUT를 테스트하는 방법이 제공된다. 테스터 리소스에 대한 액세스를 위한 DUT에 의한 요청(예를 들면, 신호 생성기로부터 신호를 수신하거나, 또는 신호를 신호 분석기로 제공하기 위한)은 테스터 가용성과 요청하는 DUT가 단독 액세스를 요청하는지 여부 또는 테스터에 대한 액세스를 공유할 수 있는지에 기초하여 우선 순위가 정해진다. 테스터가 가용하지 못하면, DUT 요청은 그들 각각의 우선 순위에 따라 테스터가 사용가능하게 되는 것을 기다리도록 대기한다. 그 결과, 공유 테스터 리소스에 대한 액세스는 다수의 DUT를 동시에 테스트하면서 테스트 시간을 최소화하도록 동적으로 관리될 수 있다.

본 발명의 하나의 실시예에 따라, 공유 피시험장치(DUT) 테스트 리소스를 가지고 복수의 신호 트랜시버 DUT를 테스트하는 방법은:

공유 테스터를 복수의 DUT에 결합시키는 단계;

상기 복수의 DUT의 적어도 일부와 통신하도록 상기 공유 테스터를 사용하기 위한 복수의 요청을 포함하는 하나 이상의 테스트 프로세스를 실행하는 단계로서, 상기 복수의 요청 중 적어도 일부의 각각은 상기 복수의 DUT 중 각각의 DUT와 통신하도록 상기 공유 테스터를 사용하기 위한 각각의 테스터 액세스 우선 순위에 연관되는 상기 단계;

상기 복수의 DUT 중 하나 이상과 통신하도록 상기 공유 테스터를 사용할 수 있을 때, 상기 공유 테스터와 상기 복수의 DUT 중 하나 이상 사이에서 신호 통신을 가능하게 하는 단계로서,

적어도 하나의 다른 DUT에 연관된 테스터 액세스 우선 순위를 가진 요청보다 더 높은 테스터 액세스 우선 순위를 가진 요청에 연관된 상기 복수의 DUT 중 단일한 DUT와 상기 공유 테스터 사이에서 신호 통신을 가능하게 하고, 및

유사한 테스터 액세스 우선 순위를 가진 각각의 요청에 연관된 상기 복수의 DUT 중 다수의 DUT와 상기 공유 테스터 사이의 신호 통신을 가능하게 함으로써,

상기 신호 통신을 가능하게 하는 단계; 및

상기 공유 테스터를 상기 복수의 DUT 중 하나 이상의 DUT와 통신하는 데에 사용할 수 없을 때, 테스터 액세스 우선 순위 큐에서 상기 복수의 요청의 적어도 일부를 대기시키는 단계;

를 포함한다.

도 1은 본 발명의 예시적인 실시예에 따라 다수의 DUT를 테스트하는 테스ㅌ 환경의 블록도를 도시한다.
도 2는 비동기적으로 다수의 테스트 프로세스를 실행하는 다수의 DUT에게 동기 병렬 테스트를 할 수 있는 테스터 리소스에 대한 우선 순위 액세스가 부여될 수 있는 동적 우선 순위 토큰 관리의 예시적 실시예를 도시한다.
도 3은 비동기적으로 테스트 프로세스를 실행하는 다수의 비관리 DUT에게 테스터 리소스 사용 및 테스트 시간을 위해 최적화된 분산 동기 테스트를 가능하게 하는 테스터 리소스에 대한 우선 순위 액세스가 부여될 수 있는 동적 우선 순위 토큰 관리의 예시적 실시예를 도시한다.
도 4는 DUT 테스트 프로세스의 실행 동안 테스터 리소스에 대한 요청에 따라 우선 순위를 할당함으로써 토큰 요청이 서비스되는 예시적인 실시예를 위한 테스트 흐름을 도시한다.
도 5는 토큰 요청 큐의 예시적 실시예를 도시한다.
도 6은 상이한 DUT 토큰 할당이 테스터 액세스 요청 우선 순위에 기초하여 이루어지는 동안의 테스트 시간 간격을 도시한다.

하기의 상세한 설명은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 예시적인 실시예이다. 이러한 설명은 본 발명의 범위에 대한 예시이고 그에 대해 한정하는 것을 의도하지 않는다. 이러한 실시예들은 당업자로 하여금 본 발명을 실시할 수 있도록 충분히 상세히 기술되고, 다른 실시예들이 본 발명의 범위 또는 취지를 벗어나지 않고서 일부 변형을 하여 실시될 수 있다는 것이 이해될 것이다.

문맥으로부터 명시적으로 반대로 지시하지 않는다면 본 명세서 전체에서, 기술된 바와 같은 개별 회로 엘리먼트는 단수이거나 복수일 수 있다는 것이 이해될 것이다. 예를 들면, "circuit" 및 "circuitry"와 같은 용어들은 단일한 컴포넌트 또는 복수의 컴포넌트 중 어느 하나를 포함할 수 있으며, 이는 능동 및/또는 수동이고, 연결되거나 또는 그렇지 않으면 함께 결합되어(예를 들면 하나 이상의 집적회로 칩으로서) 기술된 기능을 제공한다. 추가로, "신호"라는 용어는 하나 이상의 전류, 하나 이상의 전압 또는 데이터 신호를 가리킨다. 도면 내에서, 유사하거나 연관된 엘리먼트들은 유사하거나 연관된 문자, 숫자 또는 문자숫자 지시어를 가질 것이다. 추가로, 본 발명은 이산 전자 회로(바람직하게는 하나 이상의 집적회로 칩의 형태로 된)를 이용하는 실시의 측면에서 개시되었지만, 신호 주파수 또는 처리될 데이터 속도에 따라 이러한 회로의 임의의 부분의 기능은 대안적으로 하나 이상의 적절하게 프로그래밍된 프로세서를 이용하여 구현될 수 있다. 추가로, 도면이 다양한 실시예의 기능 블록도의 다이어그램을 예시하는 정도로, 기능 블록은 필수적으로 하드웨어 회로 사이의 분할을 지시하지는 않는다.

휴대 전화기, 스마트폰, 테블릿 등과 같은 무선 장치들은 IEEE 802.11a/b/g/n/ac, 3GPP LTE, 및 블루투스와 같은 표준 기반 기술들을 이용한다. 이들 기술에 내재한 표준은 신뢰할 수 있는 무선 연결 및/또는 통신을 제공하도록 설계된다. 표준은 무선 스펙트럼에 인접하거나 또는 그를 공유하는 동일한 또는 다른 기술들을 이용하는 장치들 사이에서의 간섭을 최소화하고 일반적으로 에너지 효율적으로 설계된 물리적 및 고 레벨 규격을 제시한다.

이들 표준들에 의해 규정된 테스트들은 이러한 장치들이 표준으로 규정된 규격을 따르도록 설계되고, 제조된 장치가 이들 규정된 규격을 계속해서 따르는 것을 보장하는 것을 의미한다. 다수의 장치들은 적어도 하나 이상의 송수신기를 포함하는 트랜시버이다. 따라서, 테스터는 송수신기 모두가 호환하는지 여부를 확인한다. DUT의 수신기 또는 수신기들의 테스트(RX 테스트)는 일반적으로 테스트 패킷을 수신기(들)로 전송하는 테스트 시스템(테스터) 및 이들 테스트 패킷에 대해 DUT 수신기(들)이 어떻게 응답하는 지를 판정하는 지의 일부 방식을 포함한다. DUT의 송신기는 그것들이 테스트 시스템으로 패킷들을 전송함으로써 테스트되고, 이는 DUT에 의해 전송된 신호의 물리적 특성을 평가한다.

하기에 더 상술된 바와 같이, 본 발명의 예시적 실시예에 따르면, 다수의 테스트를 동시에 테스트함으로써 공유 테스터 리소스에 대한 액세스를 동적으로 관리하는 방법이 제공된다. 그 결과, 테스터 리소스가 다수의 DUT 사이에서 공유되기 때문에, 테스트 환경은 테스트되는 DUT의 숫자보다 더 적은 테스트 파형 생성 및 신호 분석 서브시스템을 가진 테스터 리소스를 필요로한다. 우선 순위가 정해진 리소스-액세스-토큰 기술이 테스트 프로그램과 함께 사용되어 DUT 테스트에 요청되는 액세스가 현재 분산 또는 병렬 테스트 최적화 우선 순위의 측면에서 테스트 단계 완료에서의 자신의 현재 상태에 기초하여 큐 우선 순위가 주어지도록 한다. 따라서, 다수의 DUT는 다른 DUT의 테스트 완료의 각각의 상태를 알 필요가 없고, 테스트 시스템은 리소스 액세스 순서 및 타이밍의 정적, 또는 최악의 경우 도출되는 타임라인에 대해 테스트 리소스 액세스를 적용할 필요가 없다.

도 1을 참조하면, 예시적인 실시예에 따라, 테스트 환경(10)은 일반적으로 외부 컨트롤러(18)(예를 들면, 개인용 컴퓨터)로부터의 적어도 일부 외부 제어하에 있는 다수의 DUT(16)를 테스트하는 테스터(12)를 포함한다. 이러한 컨트롤러(18)는 테스터 제어 신호 인터페이스(19t)를 통해서는 테스터(12)와, 그리고 DUT 제어신호 인터페이스(19d)를 통해서는 DUT(16)와 통신(예를 들면 명령 및 데이터)한다.(이들 제어 신호 인터페이스(19t, 19d)는 직접 또는 네트워크로 연결된 신호 연결에 의해 제공될 수 있다.) 추가로, 테스터(12)와 각각의 DUT(16) 사이에서 신호를 멀티플렉싱 및 분배/분할하는 기능을 제공하기 위해 신호 라우팅 회로(14)가 제공된다. 이 신호 라우팅 회로(14)는 또한 제어 신호 인터페이스(19m)를 통해 컨트롤러(18)에 의해 제어될 수 있다.

테스터(12)는 무선 주파수(RF) 신호 소스(12g)(예를 들면 테스트 데이터 패킷 신호용 VSG), RF 신호 분석기(12a)(DUT로부터의 데이터 패킷 신호를 수신 및 분석하기 위한 VSA), 및 제어 회로(12c)를 포함한다. 제어 회로(12c)는 일반적으로 또한 DUT(16)의 테스트 동안 신호 소스(12g) 및 신호 분석기(12a)를 제어하도록 테스트 프로세스가 프로그래밍되는 펌웨어(12f)를 포함한다. 이러한 제어는 제어 신호 인터페이스(13g, 13a)에 의해 이루어진다. 추가로, 제어 신호 인터페이스(13c)는 신호 라우팅 회로(14)의 제어 회로(12c)에 의한 제어를 제공한다.

신호 소스(12g), 신호 분석기(12a), 및 신호 라우팅 회로(14) 사이에서 RF 신호 연결(예를 들면, 공지된 RF 신호 원리에 따라 임피던스를 제어하는 도전성 신호 경로)의 형태로 있는 추가적인 신호 연결(15g, 15a)이 있다.(대안의 실시예에 따르면, 신호 라우팅 회로(14)는 또한 테스터(12)의 일부로서 포함될 수 있다.)

추가적인 RF 신호 인터페이스(17)가 DUT(16)와 신호 라우팅 회로(14) 사이에 신호를 전송하기 위해 제공된다. 각각의 DUT(16a, 16b, ..., 16n)는 호스트 DUT(16a, 16b, ..., 16n)의 테스트 동작을 초기화 및/또는 제어하기 위해 사용되는 프로그래밍된 명령 및 데이터를 저장하기 위한 펌웨어(18a, 18b, ..., 18n)를 또한 포함할 수 있다.

도 2를 참조하면, 다수의 DUT를 테스트하기 위한 테스트 시나리오는 때때로 테스트 우선 순위가 동기화된 병렬 테스트에 기초할 때 최적이 된다. 예를 들면, DUT 수신기의 테스트 동안, 테스터 신호 소스(12g)가 라우팅 회로(14)를 통해 병렬로 모든 DUT(16)로 동일한 테스트 데이터 패킷을 전송하기 위해 이용될 수 있다. 이러한 테스트에 대해 DUT(16)를 준비하기 위해, 예시적인 실시예에 따라, 각각의 DUT(16)에 대한 비동기 테스트 프로세스(22)에 다수의 DUT(16)가 유사한 상태의 테스트 단계의 완료를 달성하도록 유사한 액세스 우선 순위를 가진 리소스 액세스 토큰을 할당하여, DUT(16)로 하여금 동기화 테스트 프로세스(24)를 이용하여 테스트될 수 있도록 한다.(일반적으로, 각각의 토큰 요청 우선 순위는 다른 토큰 요청 우선 순위 중 하나 이상 보다 더 높거나 낮고, 또는 같을 것이다. 그러나, 본 발명의 목적을 위해, "유사한" 토큰 요청 우선 순위가 모든 방식에 있어서 동일한 토큰 요청 우선 순위를 포함하도록 의도되고, 예를 들면, 그것들은 적어도 부분적으로 "동일한" 토큰 요청 우선 순위 뿐만이 아니라 동일한 테스터 리소스 모두에 대한 액세스를 요청하고 있고, 예를 들면, 그것들은 적어도 일부 시간 간격 동안 동일한 테스터 리소스 중 하나 이상에 대한 액세스를 요청하고 있다.)

도 3을 참조하면, 다른 테스트 시나리오는 분산(예를 들면, 순차적) 테스트를 이용하여 최적화될 수 있다. 예를 들면, DUT(16)의 송신기 테스트시, DUT(16)는 테스터 신호 분석기(12a)로 테스트 데이터 패킷 신호의 시퀀스를 전송한다. DUT(16)가 하나의 신호 분석기(12a)를 공유하는 예시적인 시나리오에서, 이들 테스트 데이터 패킷 신호는 동시에 수신 및 분석될 수 없고, 순차적으로 개별적으로 수신되어야 한다. 그러나, 각각의 DUT(16a, 16b, ..., 16n)의 테스트 프로세스 단계들 중 일부는, 때때로 신호 주파수 또는 파워 레벨이 전이(transition) 상태에 있으며, 신호들이 능동적으로 전송되지 않는 시간 간격을 포함한다. 따라서, 신호 전송 간격이 비전송 간격과 함께 끼워 넣어지는(embedded) 방식으로 DUT 테스트를 파이프라이닝함으로써(pipelining), 전송된 신호들의 순차적 테스트가 다른 DUT에 의해 실행되는 기타 비신호 테스트 단계들과 동시에 최적화될 수 있다. 예시적인 실시예에 따라, 그렇지 않으면 비관리(unmanaged) 비동기 테스트 프로세스(26)를 실행하는 다수의 DUT(16)가 테스트 리소스의 실질적으로 연속적인 액세스 및 사용, 그리고 그에 따른 최소의 테스트 시간을 달성하기 위해 이러한 테스트 프로세스의 최대 비동기적 분산(28)을 달성하는 이들 테스트 프로세스를 최적화하기 위해 관리될 수 있다.

도 4를 참조하면, 예시적인 실시예에 따라, 테스트 리소스 충돌이 발생하지 않을 때(100a) 및 다수의 프로세스가 테스터 리소스에 대해 경쟁할 때(100b)를 포함하는 테스트 흐름(100)을 수행하는 알고리즘이 도시된 바와 같이 수행될 수 있다. 먼저, 테스트 프로세스 프로그램은 테스트 우선 순위에 연관된 DUT에 대한 토큰을 요청한다(102). 토큰이 사용 가능한 경우(104), 즉, 테스터(12)의 리소스가 DUT 테스트에 사용 가능하면, 토큰이 다른 DUT들을 배제하고 그 DUT에 할당되어, 할당된 DUT와 테스터 사이의 통신을 가능하게 한다. 그 DUT에 대한 테스터(12)의 할당은 수행되고 있는 테스트 프로세스가 아직 완료되지 않는 한은 유지된다(108). 그 테스트 프로세스의 완료에 후속하여, 토큰이 해제(110)되어, 테스터 리소스를 다른 DUT가 의해 사용할 수 있도록 한다. 이 프로세스는 그런다음 계속해서 다음 단계로 진행한다(112).

그러나, 토큰이 가용하지 않은 경우(104), 즉, 테스터(12)의 리소스가 현재 하나 이상의 다른 DUT에 사용하기 위해 할당되는 경우, 우선 순위 요청이 큐(122)로 들어간다(122). 재할당을 위한 토큰의 가용성이 그런다음 모니터링된다(124). 결과적으로 토큰이 가용하게 될 때, 테스터 리소스에 대한 요청이 이러한 요청에 연관된 DUT에 대한 자신의 할당을 보증하기 위해 충분히 높은 우선 순위(예를 들면, 큐에서 현재 가장 높은)를 가지는지가 판정된다. 그렇지 않다면, 요청은 큐에 남는다(122). 그러나, 요청의 우선 순위가 충분히 높다면, 테스터 리소스가 연관된 요청 DUT에 할당되고(128), 이러한 DUT의 테스트가 시작된다. 상기와 같이, 요청 DUT에 대한 이러한 테스트 리소스의 할당은 테스트 요청 프로세스가 완료될 때까지 유지된다(130). 이러한 테스트 프로세스 완료에 후속하여, 토큰이 해제되어, 하나 이상의 다른 DUT 테스트시 사용하기 위해 테스터 리소스가 해제된다. 이에 후속하여, 프로세스는 다음 단계로 진행한다(134).

도 5를 참조하면, 상술한 바와 같이, 우선 순위 큐(30)는 테스터 리소스에 대해 경쟁하는 요청(32, 34, 36)을 대기시킨다. 이들 요청(32, 34, 36)은 그들 각각의 우선 순위에 따라 큐(30) 내에서 대기한다. 예를 들면, 하나의 요청(32)은 다른 요청(34a)(하기에 기술된 바와 같이, 유사한 요청의 그룹(34) 중 하나일 수 있는)보다 더 높은 우선 순위를 가지고, 이 경우 테스터 리소스가 가용하게 될 때, 그것들은 더 높은/가장 높은 우선 순위를 가진 요청(32)으로 할당될 것이다.

대안으로, 유사한 우선 순위 레벨을 가진 다수의 요청이 있을 수 있다. 예를 들면, 다수의 요청(34a, 34b, 34c)이 유사한 우선 순위 레벨(예를 들면, DUT 수신기 회로의 병렬 테스트를 수행하기 위해 테스터 리소스를 사용하기 위한)을 가지는 일 세트의 요청(34)이 있을 수 있다. 이 경우, 테스터 리소스가 가용하게 될 때, 그것들은 더 높은/가장 높은 우선 순위를 가지는 일 세트의 요청(32)에 할당될 것이다.

도 6을 참조하면, 상술한 바에 따라, 공유 테스터 리소스에 대한 액세스 요청의 우선 순위가 적어도 3개의 기본 시나리오를 가져올 수 있다는 것이 이해될 것이다. 예를 들면, 하나의 시간 간격(T1)동안, 제1 DUT(16a)는 가장 높은 요청 우선 순위를 가질 수 있고, 테스터 액세스 토큰이 할당된다. 후속하여, 시간 간격(T2) 동안에는, 또다른 DUT(16c)가 가장 높은 요청 우선 순위를 가지고, 테스터 리소스 액세스 토큰이 할당된다. 대안으로, 또다른 시간 간격(T3) 동안에는, 다수의 DUT(16b, 16d)가 유사한 요청 우선 순위(예를 들면, 다른 DUT 요청보다 더 높은)를 가지고, 테스터 리소스의 동시 사용을 위해 테스터 액세스 토큰을 공유할 수 있다.

본 발명의 동작의 구조 및 방법에서의 다양한 기타 변형 및 대안은 본 발명의 범위 및 취지를 벗어나지 않고 당업자에게 명확할 것이다. 본 발명이 특정한 바람직한 실시예와 관련하여 설명되었지만, 청구된 바와 같은 본 발명은 이러한 특정한 실시예에 과도하게 한정되지 않아야 한다는 것이 이해되어야 한다. 하기의 청구 범위는 본 발명의 범위를 정의하고, 이들 청구범위 및 그 등가물의 범위 내에서의 구조 및 방법이 그에 의해 커버되는 것으로 의도된다.

Claims

공유 DUT 테스트 리소스를 가지고 복수의 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법으로서:
공유 테스터를 복수의 DUT에 결합시키는 단계;
상기 복수의 DUT의 적어도 일부와 통신하도록 상기 공유 테스터를 사용하기 위한 복수의 요청을 포함하는 하나 이상의 테스트 프로세스를 실행하는 단계로서, 상기 복수의 요청 중 적어도 일부의 각각은 상기 복수의 DUT 중 각각의 DUT와 통신하도록 상기 공유 테스터를 사용하기 위한 각각의 테스터 액세스 우선 순위에 연관되는 상기 단계;
상기 복수의 DUT 중 하나 이상과 통신하도록 상기 공유 테스터를 사용할 수 있을 때, 상기 공유 테스터와 상기 복수의 DUT 중 하나 이상의 DUT 사이에서 신호 통신을 가능하게 하는 단계로서,
적어도 하나의 다른 DUT에 연관된 테스터 액세스 우선 순위를 가진 요청보다 더 높은 테스터 액세스 우선 순위를 가진 요청에 연관되는 상기 복수의 DUT 중 단일한 DUT와 상기 공유 테스터 사이에서 신호 통신을 가능하게 하고, 및
유사한 테스터 액세스 우선 순위를 가진 각각의 요청에 연관되는 상기 복수의 DUT 중 다수의 DUT와 상기 공유 테스터 사이의 신호 통신을 가능하게 함으로써,
상기 신호 통신을 가능하게 하는 단계; 및
상기 공유 테스터를 상기 복수의 DUT 중 하나 이상의 DUT와 통신하는 데에 사용할 수 없을 때, 테스터 액세스 우선 순위 큐에서 상기 복수의 요청의 적어도 일부를 대기시키는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 복수의 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서, 상기 공유 테스터를 상기 복수의 DUT에 결합시키는 상기 단계는 신호 생성기 및 신호 분석기를 포함하는 테스터를 상기 복수의 DUT에 결합시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 복수의 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서, 상기 복수의 DUT 중 적어도 일부와 통신하도록 상기 공유 테스터를 사용하기 위한 복수의 요청을 포함하는 하나 이상의 테스트 프로세스를 실행하는 상기 단계는, 상기 공유 테스트를 가지고 상기 하나 이상의 테스트 프로세스의 적어도 일부를 실행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 복수의 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서, 상기 복수의 DUT 중 적어도 일부와 통신하도록 상기 공유 테스터를 사용하기 위한 복수의 요청을 포함하는 하나 이상의 테스트 프로세스를 실행하는 상기 단계는, 상기 복수의 DUT 중 각각의 DUT를 가지고 상기 하나 이상의 테스트 프로세스의 각각의 부분을 실행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 복수의 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서, 상기 적어도 하나의 다른 DUT에 연관된 테스터 액세스 우선 순위를 가진 요청보다 더 높은 테스터 액세스 우선 순위를 가진 요청에 연관된 상기 복수의 DUT 중 단일한 DUT와 상기 공유 테스터 사이의 신호 통신을 가능하게 하는 상기 단계는, 상기 공유 테스터를 가지고 상기 복수의 DUT 중 상기 단일한 DUT로부터 하나 이상의 신호를 수신하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 복수의 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서, 유사한 테스터 액세스 우선 순위를 가진 각각의 요청에 연관된 상기 복수의 DUT 중 다수의 DUT와 상기 공유 테스터 사이의 신호 통신을 가능하게 하는 상기 단계는, 상기 공유 테스터를 가지고 상기 복수의 DUT 중 상기 다수의 DUT로 전송하기 위한 하나 이상의 신호를 제공하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 복수의 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서,
상기 복수의 DUT 중 적어도 일부와 통신하도록 상기 공유 테스터를 사용하기 위한 복수의 요청을 포함하는 하나 이상의 테스트 프로세스를 실행하는 상기 단계는, 상기 복수의 DUT 중 하나 이상과 통신하도록 상기 공유 테스터를 실질적으로 사용할 수 있게 될 때,
상기 테스터 액세스 큐에서 또다른 테스터 액세스 우선 순위보다 더 높은 테스터 액세스 우선 순위를 가진 요청에 연관된 상기 복수의 DUT 중 단일한 DUT와 상기 공유 테스터 사이의 신호 통신을 가능하게 하고; 및
상기 테스터 액세스 우선 순위 큐에서 유사한 테스터 액세스 우선 순위를 가진 각각의 요청에 연관된 상기 복수의 DUT 중 다수의 DUT와 상기 공유 테스터 사이의 신호 통신을 가능하게;
함으로써 상기 복수의 DUT 중 하나 이상의 DUT와 상기 공유 테스터 사이의 신호 통신을 가능하게 하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 복수의 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서,
적어도 하나의 다른 DUT에 연관된 테스터 액세스 우선 순위를 가진 요청보다 더 높은 테스터 액세스 우선 순위를 가진 요청에 연관된 상기 복수의 DUT 중 단일한 DUT와 상기 공유 테스터 사이의 신호 통신을 가능하게 하는 상기 단계는:
상기 복수의 DUT 중 상기 단일한 DUT와 상기 공유 테스터 사이의 신호 통신을 가능하게 하는 단계; 및
상기 테스터 액세스 우선 순위 큐에서 적어도 하나의 다른 DUT에 연관된 테스터 액세스 우선 순위를 가진 상기 요청을 대기시키는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 복수의 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서,
유사한 테스터 액세스 우선 순위를 가진 각각의 요청에 연관된 상기 복수의 DUT 중 다수의 DUT와 상기 공유 테스터 사이의 신호 통신을 가능하게 하는 상기 단계는, 상기 테스터 액세스 우선 순위 큐에서 테스터 액세스 우선 순위를 가진 요청에 연관된 적어도 하나의 다른 DUT와 상기 복수의 DUT 중 상기 단일한 DUT와 상기 상기 공유 테스터 사이의 신호 통신을 가능하게 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 복수의 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.