KR20160094583A - In-Cell Touch Type Display Device and Method for Manufacturing the same - Google Patents

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KR20160094583A
KR20160094583A KR1020150015535A KR20150015535A KR20160094583A KR 20160094583 A KR20160094583 A KR 20160094583A KR 1020150015535 A KR1020150015535 A KR 1020150015535A KR 20150015535 A KR20150015535 A KR 20150015535A KR 20160094583 A KR20160094583 A KR 20160094583A
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    • G06F2203/04103Manufacturing, i.e. details related to manufacturing processes specially suited for touch sensitive devices

Abstract

The present invention discloses an in-cell touch type display device and a method of manufacturing the same. According to the present invention, the disclosed in-cell touch type display device includes a substrate in which a plurality of pixel areas (P) are defined, and a plurality of touch blocks are defined, wherein the touch blocks have some of the pixel areas (P) belonging to one group. The display device includes a gate line and a data line crossing each other to define each pixel area (P), a thin film transistor provided in an intersection between the data line and the gate line, a first protective layer provided on the thin film transistor, a touch wire overlapping with the data line, a second protective layer provided on the touch wire, and a common electrode and a pixel electrode provided on the second protective layer while overlapping with each other. Accordingly, the in-cell device is formed on the substrate in the manufacturing process of the display device, so that the manufacturing process can be simplified and manufacturing costs can be reduced.

Description

인셀 터치 방식 표시장치 및 이의 제조방법{In-Cell Touch Type Display Device and Method for Manufacturing the same}[0001] The present invention relates to an in-cell touch-type display device and a method of manufacturing the same.

본 발명은 인셀 터치 방식 표시장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 표시장치 내에 터치 기능을 내장한 인셀 터치 방식 표시장치 및 이의 제조방법에 관한 것이다.
The present invention relates to an in-cell touch-type display device, and more particularly, to an in-cell touch-type display device having a touch function built in a display device and a method of manufacturing the same.

이동통신 단말기, 노트북 컴퓨터와 같은 각종 휴대용 전자기기가 발전함에 따라 이에 적용할 수 있는 표시장치(Display Device)에 대한 요구가 점차 증대되고 있으며, 이 중, 액정표시장치(Liquid Crystal Display Device)는 양산 기술, 구동수단의 용이성, 고화질 및 대화면 구현의 장점으로 인해 적용 분야가 확대되고 있다.[0002] As portable electronic devices such as mobile communication terminals and notebook computers are developed, a demand for a display device that can be applied to the portable electronic devices is gradually increasing. Among them, a liquid crystal display device The application field is expanding due to the advantages of the technology, the ease of driving means, the high image quality and the large screen realization.

일반적인 액정표시장치는 액정층을 사이에 두고 대향되도록 합착된 하부기판과 상부기판을 포함하여 구성되며, 데이터 전압에 따라 복수의 화소(cell) 각각의 액정층을 투과하는 광의 투과율을 조절하여 영상 신호에 따른 화상을 표시하게 된다. 최근 들어, 액정표시장치의 입력장치로서 종래에 적용되었던 마우스나 키보드 등의 입력장치를 대체하여, 사용자가 손가락이나 펜을 이용하여 스크린에 직접 정보를 입력할 수 있는 터치 스크린이 적용되고 있다.A general liquid crystal display device includes a lower substrate and an upper substrate bonded together to face each other with a liquid crystal layer sandwiched therebetween. The transmissivity of light passing through each liquid crystal layer of each of a plurality of pixels is controlled according to a data voltage, As shown in Fig. 2. Description of the Related Art In recent years, a touch screen capable of inputting information directly to a screen by using a finger or a pen has been applied in place of an input device such as a mouse or a keyboard that has been conventionally applied as an input device of a liquid crystal display device.

상기 터치 스크린은 네비게이션(navigation), 산업용 단말기, 노트북 컴퓨터, 금융 자동화기기, 게임기 등과 같은 모니터와, 휴대전화기, MP3, PDA, PMP, PSP, 휴대용 게임기, DMB 수신기 등과 같은 휴대용 단말기, 및 냉장고, 전자 레인지, 세탁기 등과 같은 가전제품 등에 적용되고 있으며, 누구나 쉽게 조작할 수 있는 장점으로 인해 적용이 확대되고 있다.The touch screen may include a monitor such as navigation, an industrial terminal, a notebook computer, a financial automation device, a game machine, a portable terminal such as a mobile phone, MP3, PDA, PMP, PSP, portable game machine, DMB receiver, Appliances such as a microwave oven, a microwave oven, a microwave oven, a microwave oven, a microwave oven, a microwave oven, a microwave oven, a microwave oven, a microwave oven, a microwave oven,

하지만, 상기 터치 스크린 방식 표시장치는 표시패널과 별도의 터치 스크린(터치패널)을 제작하여 표시패널에 부착하기 때문에 공정이 복잡하고, 제조 비용이 증가하는 문제가 있다.However, since the touch screen type display device is manufactured by manufacturing a touch screen (touch panel) separate from the display panel, the process is complicated and the manufacturing cost is increased.

또한, 상기 터치 스크린 방식 표시장치는 터치 스티린을 표시패널 전면에 부착하기 때문에 표시장치를 경박 단소화 형태로 제작하는데 한계가 있다.In addition, since the touch screen type display device attaches the touch screen to the entire surface of the display panel, there is a limit in manufacturing the display device in the form of light weight and short time.

또한, 상기 터치 스크린 방식 표시장치는 터치 스크린에 센싱 신호를 공급하기 위해 표시패널 외곽으로 복수의 신호라인들이 존재하여 베젤(bezel) 영역을 줄이는데 한계가 있다.
In addition, the touch screen type display device has a limitation in reducing a bezel area by providing a plurality of signal lines outside the display panel in order to supply a sensing signal to the touch screen.

본 발명은, 표시장치 제조 공정시 기판 상에 직접 인셀 터치 소자를 형성하여, 공정을 단순화하고 제조 비용을 줄인 인셀 터치 방식 표시장치 및 이의 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.An object of the present invention is to provide an in-cell touch-type display device and a method of manufacturing the in-cell touch-type display device in which an in-cell touch device is directly formed on a substrate in a display device manufacturing process to simplify the process and reduce the manufacturing cost.

또한, 본 발명은, 표시패널 내부에 직접 인셀 터치 소자를 형성하기 때문에 경박단소화 및 베젤(bezel) 영역을 줄일 수 있는 인셀 터치 방식 표시장치 및 이의 제조방법을 제공하는데 다른 목적이 있다.
It is another object of the present invention to provide an in-cell touch-type display device and a method of manufacturing the in-cell touch-type display device, which can reduce a bezel area and a bezel area by forming an inshell touch device directly inside a display panel.

상기와 같은 종래 기술의 과제를 해결하기 위한 본 발명의 인셀 터치 방식 표시장치는, 다수의 화소영역(P)들이 정의되고, 상기 다수의 화소영역들(P) 중 일부 화소영역들(P)을 하나의 그룹으로 하는 다수의 터치블럭이 정의된 기판을 포함하고, 각 화소영역(P)을 정의하기 위해 교차 배치된 게이트 라인과 데이터 라인을 포함하며, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차 영역에 배치된 박막 트랜지스터를 포함하고, 상기 박막 트랜지스터 상에 배치된 제1 보호층을 포함하며, 상기 데이터 라인과 중첩되도록 배치된 터치 배선을 포함하고, 상기 터치 배선 상에 배치된 제2 보호층을 포함하며, 상기 제2 보호층 상에 배치된 서로 중첩되도록 배치된 공통 전극과 화소 전극을 포함함으로써, 표시장치 제조 공정시 기판 상에 직접 인셀 터치 소자를 형성하여, 공정을 단순화하고 제조 비용을 줄인 효과가 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided an in-cell touch-type display device including a plurality of pixel regions, a plurality of pixel regions, A gate line and a data line intersecting each other to define each pixel region (P), and arranged in an intersecting region of the gate line and the data line And a second protective layer disposed on the touch wiring, the second protective layer including a first protective layer disposed on the thin film transistor, the second protective layer including a touch wiring arranged to overlap with the data line, And a common electrode and a pixel electrode disposed on the second passivation layer so as to overlap with each other, thereby forming an inshell touch element directly on the substrate in a display device manufacturing process, And the manufacturing cost is reduced.

또한, 본 발명의 인셀 터치 방식 표시장치 제조방법은, 다수의 화소영역(P)들이 정의되고, 상기 다수의 화소영역들(P) 중 일부 화소영역들(P)을 하나의 그룹으로 하는 다수의 터치블럭이 정의된 기판을 제공하는 단계를 포함하고, 상기 각 화소영역을 정의하기 위해 교차 배치된 게이트 라인과 데이터 라인을 형성하고, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차 영역에 박막 트랜지스터를 형성하는 단계를 포함하며, 상기 박막 트랜지스터가 형성된 기판 상에 제1 보호층을 형성하고, 상기 데이터 라인과 중첩되도록 상기 제1 보호층 상에 터치 배선을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 터치 배선이 형성된 기판 상에 제2 보호층을 형성하고, 상기 제2 보호층 상에 공통 전극과 화소 전극을 형성하는 단계를 포함함으로써, 표시패널 내부에 직접 인셀 터치 소자를 형성하기 때문에 경박단소화 및 베젤(bezel) 영역을 줄일 수 있는 효과가 있다.
A method of manufacturing an in-cell touch-type display device according to the present invention is characterized in that a plurality of pixel regions (P) are defined and a plurality of pixel regions (P) of a plurality of pixel regions Providing a substrate on which a touch block is defined, forming gate lines and data lines cross-arranged to define each pixel region, and forming a thin film transistor in an intersection region of the gate line and the data line Forming a first protective layer on the substrate on which the thin film transistor is formed and forming a touch wiring on the first protective layer so as to overlap with the data line, And a step of forming a common electrode and a pixel electrode on the second passivation layer, thereby forming an in-cell touch element directly inside the display panel So that it is possible to reduce the area of bezel thinning and the bezel area.

본 발명에 따른 인셀 터치 방식 표시장치 및 이의 제조방법은, 표시장치 제조 공정시 기판 상에 직접 인셀 터치 소자를 형성하여, 공정을 단순화하고 제조 비용을 줄인 효과가 있다.The in-line touch-type display device and the method of manufacturing the same according to the present invention have the effect of simplifying the process and reducing the manufacturing cost by forming the in-cell touch device directly on the substrate in the display device manufacturing process.

또한, 본 발명에 따른 인셀 터치 방식 표시장치 및 이의 제조방법은, 표시패널 내부에 직접 인셀 터치 소자를 형성하기 때문에 경박단소화 및 베젤(bezel) 영역을 줄일 수 있는 효과가 있다.
In addition, since the in-cell touch display device and the method of manufacturing the same according to the present invention directly form an inshell touch device in the display panel, it is possible to reduce the area of bezel thinning and bezel.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 인셀 터치 방식 표시장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 상기 도 1에서 터치 블럭과 터치 배선의 구조를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 인셀 터치 방식 표시장치의 화소 단면도이다.
도 4a 내지 도 4e는 본 발명에 따른 인셀 터치 방식 표시장치의 제조공정을 도시한 도면이다.
1 is a schematic view illustrating an in-cell touch display device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a view showing a structure of a touch block and a touch wiring in FIG.
3 is a pixel cross-sectional view of an in-cell touch display device according to an embodiment of the present invention.
4A to 4E are views showing a process of manufacturing an in-line touch display device according to the present invention.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention, and the manner of achieving them, will be apparent from and elucidated with reference to the embodiments described hereinafter in conjunction with the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as being limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. Is provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims.

본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다.The shapes, sizes, ratios, angles, numbers, and the like disclosed in the drawings for describing the embodiments of the present invention are illustrative, and thus the present invention is not limited thereto. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail.

본 명세서 상에서 언급한 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.In the case where the word 'includes', 'having', 'done', etc. are used in this specification, other parts can be added unless '~ only' is used. Unless the context clearly dictates otherwise, including the plural unless the context clearly dictates otherwise.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.In interpreting the constituent elements, it is construed to include the error range even if there is no separate description.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.In the case of a description of the positional relationship, for example, if the positional relationship between two parts is described as 'on', 'on top', 'under', and 'next to' Or " direct " is not used, one or more other portions may be located between the two portions.

시간 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~후에', '~에 이어서', '~다음에', '~전에' 등으로 시간 적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.In the case of a description of a temporal relationship, for example, if a temporal posterior relationship is described by 'after', 'after', 'after', 'before', etc., 'May not be contiguous unless it is used.

제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.The first, second, etc. are used to describe various components, but these components are not limited by these terms. These terms are used only to distinguish one component from another. Therefore, the first component mentioned below may be the second component within the technical spirit of the present invention.

본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.It is to be understood that each of the features of the various embodiments of the present invention may be combined or combined with each other, partially or wholly, technically various interlocking and driving, and that the embodiments may be practiced independently of each other, It is possible.

이하, 본 발명의 실시예들은 도면을 참고하여 상세하게 설명한다. 그리고 도면들에 있어서, 장치의 크기 및 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수도 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the drawings, the size and thickness of the device may be exaggerated for convenience. Like reference numerals designate like elements throughout the specification.

또한, 본 발명의 실시예는 평판 표시장치에 모두 적용할 수 있다. 여기서는 액정표시장치, 특히 프린지 필드(Fring Field Switching Mode) 액정표시장치인 경우를 중심으로 설명한다.Further, the embodiment of the present invention can be applied to both flat panel display devices. Here, the case of a liquid crystal display device, particularly a Fringe Field Switching Mode liquid crystal display device, will be mainly described.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 인셀 터치 방식 표시장치를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 2는 상기 도 1에서 터치 블럭과 터치 배선의 구조를 도시한 도면이다.FIG. 1 is a schematic view illustrating an in-cell touch-type display device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram illustrating a structure of a touch block and a touch wiring in FIG.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 인셀 터치 방식 표시장치(100)는, 화면이 디스플레이되는 액티브영역(160)을 구비한 터치표시패널(110)과, 상기 터치표시패널(110)의 둘레를 따라 배치된 제1 및 제2 게이트 드라이버(120a, 120b), 데이터 드라이버(130) 및 먹스부(140)를 포함한다. 1 and 2, the in-line touch-type display device 100 according to the present invention includes a touch-display panel 110 having an active area 160 on which a screen is displayed, First and second gate drivers 120a and 120b, a data driver 130, and a mux portion 140 disposed along the periphery of the first gate driver 120a and the second gate driver 120b.

상기 터치표시패널(110)은 표시영역과 대응되는 액티브영역(160)과 표시영역 둘레의 비표시영역으로 구획되고, 상기 비표시영역에 제1 및 제2 게이트 드라이버(120a, 120b), 데이터 드라이버(130) 및 먹스부(140)가 배치된다.The touch display panel 110 is divided into an active region 160 corresponding to the display region and a non-display region around the display region, and the first and second gate drivers 120a and 120b, (130) and a mux portion (140) are disposed.

도면에는 도시하지 않았지만, 터치 드라이버를 상기 데이터 드라이버(130)와 함께 하나의 칩(Chip)으로 형성할 수 있다.Although not shown in the figure, the touch driver may be formed as one chip together with the data driver 130. [

상기 터치표시패널(110)은 액정표시패널 내부에 다수의 터치 블럭(TB)을 구현하여, 터치를 감지할 수 있는 인셀 터치 타입(In Cell Touch Type)으로 형성될 수 있다.The touch display panel 110 may be formed of an in-cell touch type that can detect a touch by implementing a plurality of touch blocks (TB) in a liquid crystal display panel.

상기 데이터 드라이버(130)는 외부 시스템(미도시)에 배치된 타이밍 컨트롤 IC로부터 입력되는 영상 신호(DATA)를 프레임 단위의 디지털 영상 데이터(R, G, B)로 변환하고, 상기 디지털 영상 데이터(R, G, B)를 아날로그 데이터 전압으로 변환하여 상기 터치표시패널(110)로 공급한다.The data driver 130 converts a video signal DATA input from a timing control IC disposed in an external system (not shown) into digital video data R, G, and B for each frame, R, G, B) into an analog data voltage and supplies the analog data voltage to the touch display panel 110.

상기 제1 및 제2 게이트 드라이버(120a, 120b)는 터치표시패널(110)의 하부기판(미도시) 상에 GIP(Gate In Plane) 방식으로 형성될 수 있다. 다른 예로서, 게이트 드라이버는 인쇄회로기판(PCB)에 별도의 드라이버 IC가 실장된 방식으로 형성될 수도 있다. 이러한, 게이트 드라이버는 데이터 드라이버(130)로부터의 제어신호에 기초하여 터치표시패널(110)의 픽셀들 각각에 형성된 박막트랜지스터(TFT)를 구동시키기 위한 스캔 신호(게이트 구동 신호)를 생성하여 터치표시패널(110)에 공급한다.The first and second gate drivers 120a and 120b may be formed on a lower substrate (not shown) of the touch display panel 110 in a GIP (Gate In Plane) manner. As another example, the gate driver may be formed in such a manner that a separate driver IC is mounted on a printed circuit board (PCB). The gate driver generates a scan signal (gate drive signal) for driving the thin film transistor (TFT) formed on each pixel of the touch display panel 110 based on the control signal from the data driver 130, To the panel (110).

상기 터치표시패널(110)의 액티브영역(160)에는 복수개의 화소영역(P)을 포함하고, 이들 복수개의 화소영역(P) 중 일부를 하나의 블록화하여 터치블럭(TB)으로 구획한다.The active area 160 of the touch display panel 110 includes a plurality of pixel areas P and a part of the plurality of pixel areas P is divided into blocks to be divided into touch blocks TB.

따라서, 상기 액티브영역(160)은 다시 복수개의 터치블럭(TB)들로 구분되고, 이들 각 터치블럭(TB)과 대응되도록 공통 전극(180)이 형성된다. 이렇게 터치블럭(TB)로 분리된 공통 전극(180) 간에는 이들 공통 전극(180)을 통해 터치 시 변화되는 커패시턴스의 로드(Load) 변화를 감지하여 센싱회로로 전달하는 터치 배선(170)이 상기 공통 전극(180) 하부에 배치되어 있다.Accordingly, the active area 160 is divided into a plurality of touch blocks TB, and the common electrode 180 is formed to correspond to each of the touch blocks TB. A touch wiring 170 for detecting a change in capacitance of a capacitance which is changed when touching the common electrode 180 separated by the touch block TB is transmitted to the sensing circuit through the common electrode 180, And is disposed under the electrode 180.

또한, 상기 터치블럭(TB) 별로 분리된 공통 전극(180)과 상기 터치 배선(170)들은 선택적으로 연결되어 있다.In addition, the common electrode 180 separated by the touch block TB and the touch wirings 170 are selectively connected.

즉, 상기 터치 배선(170)은 일례로 어느 하나의 터치블럭(TB), 제 1 터치블럭의 내에 위치하는 공통 전극(180)과 터치 콘택부(C) 등을 통해 연결되는 경우 상기 제 1 터치블럭의 공통 전극(180) 이외의 타 터치블럭(TB)의 공통 전극(180)과는 연결되지 않는다.That is, when the touch wiring 170 is connected to one of the touch blocks TB, the common electrode 180 located within the first touch block, and the touch contact unit C, And is not connected to the common electrode 180 of the other touch block TB other than the common electrode 180 of the block.

상기 터치 배선들(170)은 각각의 터치블럭(TB)에 배치된 공통 전극(180)과 독립적으로 연결되어 있고, 디스플레이 구간에서는 상기 터치 배선(170)을 통하여 각 화소 영역에 공통전압을 공급하고, 비디스플레이 구간에서 터치센싱 신호를 공급하여 터치 여부를 감지한다.The touch wirings 170 are independently connected to the common electrode 180 disposed in each of the touch blocks TB. In the display period, a common voltage is supplied to each pixel region through the touch wirings 170 , The touch sensing signal is supplied in the non-display period to detect whether or not the touch is made.

상기 터치 배선(170)을 통하여 공급되는 터치센싱 신호는 복수의 클럭신호(CLK)일 수 있고, 사용자가 손가락을 이용하여 표시영역을 터치하게 되면, 상기 터치블럭(TB) 별로 분리 형성된 상기 공통 전극(180) 간에는 터치 정전용량이 형성되며, 이때, 사용자의 터치에 따른 터치 정전용량과 기준 정전용량을 비교하여 사용자의 터치 위치를 검출할 수 있으며, 검출된 터치 위치에 따른 동작을 실시하게 된다.The touch sensing signal supplied through the touch wiring 170 may be a plurality of clock signals CLK. When a user touches the display area using a finger, Touch capacitances are formed between the touch capacitances according to the touch of the user and the reference capacitances are compared with each other to detect the touch position of the user, and operations according to the detected touch positions are performed.

이때, 상기 터치 정전용량과 기준 정전용량의 비교를 통해 사용자의 터치가 발생된 부분의 좌표를 인식하게 되며, 터치 발생 부분의 좌표에 나타나는 동작을 실시하게 된다.At this time, the coordinates of the portion where the user's touch is generated are recognized through comparison of the touch capacitance and the reference capacitance, and the operation represented by the coordinates of the touch generation portion is performed.

따라서, 본 발명의 실시예에 따른 어레이 기판을 포함하는 터치 인셀 타입 액정표시장치(100)는 화상을 표시하는 표시기간에는 상기 공통 전극(180)에 공통전압을 공급하여 화상을 표시하고 있으며, 화상을 표시하지 않는 비 표시 기간에는 상기 공통 전극(180)은 사용자의 터치 검출을 위한 터치전극으로 이용하고 있다.
Accordingly, the touch-in-cell type liquid crystal display device 100 including the array substrate according to the embodiment of the present invention displays an image by supplying a common voltage to the common electrode 180 during a display period for displaying an image, The common electrode 180 is used as a touch electrode for touch detection of a user.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 인셀 터치 방식 표시장치의 화소 단면도이다.3 is a pixel cross-sectional view of an in-cell touch display device according to an embodiment of the present invention.

도 2과 함께 도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 인셀 터치 인셀 방식 액정표시장치는, 어레이 기판(101)에 있어서, 표시영역은 복수개의 게이트 라인(103)과 데이터 라인(230)이 교차 되어 다수의 화소영역(P)을 정의한다.Referring to FIG. 3 together with FIG. 3, an in-line touch in-cell type liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention includes a plurality of gate lines 103 and a plurality of data lines 230, And a plurality of pixel regions P are defined.

또한, 상기 다수의 화소영역(P)에서 일부 화소영역들을 하나의 그룹으로 하여 다수의 터치블럭(TB)을 정의한다. Also, a plurality of touch blocks (TB) are defined by grouping some pixel regions in the plurality of pixel regions (P).

상기 게이트 라인(미도시)과 데이터 라인(230)의 교차 영역에는 박막 트랜지스터(TFT)가 배치되어 있고, 각 화소영역(P)에는 화소 전극(260)과 공통 전극(180)이 배치되어 있다.A thin film transistor TFT is disposed in an intersection region of the gate line (not shown) and the data line 230 and a pixel electrode 260 and a common electrode 180 are disposed in each pixel region P.

위에서 언급한 바와 같이, 상기 공통 전극(180)은 터치블럭(TB) 단위로 패터닝되어 있어, 하나의 공통 전극(180)은 터치블럭(TB) 내에 포함된 다수의 화소영역(P)에 공통으로 사용된다.As described above, the common electrode 180 is patterned in units of touch blocks (TB), and one common electrode 180 is common to a plurality of pixel regions P included in the touch block TB Is used.

또한, 상기 공통 전극(180)은 박막 트랜지스터(TFT) 영역에서는 소정의 오픈(OP) 영역을 갖는데, 이는 박막 트랜지스터(TFT)와 공통 전극(180) 사이에 형성되는 기생 캐패시턴스를 줄이기 위함이다.The common electrode 180 has a predetermined open (OP) region in the thin film transistor (TFT) region in order to reduce the parasitic capacitance formed between the thin film transistor TFT and the common electrode 180.

따라서, 상기 공통 전극(180)은 하나의 터치블럭(TB) 단위로 분리되어 배치되고, 상기 화소영역(P)의 박막 트랜지스터(TFT) 영역과 대응되는 영역에는 소정의 오픈(OP) 영역을 갖는다.Therefore, the common electrodes 180 are arranged separately in units of one touch block (TB), and have a predetermined open (OP) region in a region corresponding to the thin film transistor (TFT) region of the pixel region P .

상기 어레이 기판(101)의 박막 트랜지스터(TFT) 영역에는 광차단층(200: Light Shield Layer)이 배치되고, 상기 광차단층(200) 상에는 버퍼층(105)이 배치되어 있다. 상기 버퍼층(105) 상에는 채널을 이루는 제1 반도체 영역(113a)과, 상기 제1 반도체 영역(113a) 양측면으로 고농도의 불순물이 도핑된 제2 반도체 영역(113b)으로 구성된 반도체층(113), 상기 반도체층(113) 상에 배치된 게이트 절연막(106), 상기 반도체층(113)과 대응되는 게이트 절연막(106) 상에 배치된 게이트 전극(120), 상기 게이트 전극(120) 상에 배치된 층간 절연막(123), 상기 제2 반도체층(113b) 영역과 콘택홀을 통해 전기적으로 연결된 소스 및 드레인 전극(133, 136)을 포함하는 박막 트랜지스터(TFT)가 배치된다.A light shield layer 200 is disposed on a TFT area of the array substrate 101 and a buffer layer 105 is disposed on the light shield layer 200. A semiconductor layer 113 composed of a first semiconductor region 113a forming a channel and a second semiconductor region 113b doped with impurities at high concentration on both sides of the first semiconductor region 113a; A gate insulating film 106 disposed on the semiconductor layer 113, a gate electrode 120 disposed on the gate insulating film 106 corresponding to the semiconductor layer 113, A thin film transistor (TFT) including an insulating film 123 and source and drain electrodes 133 and 136 electrically connected to the second semiconductor layer 113b region through a contact hole is disposed.

도면에서는 탑 게이트 구조(Top Gate Structure)의 박막 트랜지스터(TFT)를 도시하였지만, 바텀 게이트(Bottom Gate) 박막 트랜지스터(TFT)로 구현될 수 있다.Although a thin film transistor (TFT) of a top gate structure is shown in the drawing, it may be implemented as a bottom gate thin film transistor (TFT).

상기 박막 트랜지스터(TFT)가 배치된 어레이 기판(101) 상에는 제1 보호층(223)이 배치되어 있고, 상기 제1 보호층(223) 상에는 제2 보호층(119)이 배치되어 있다.A first passivation layer 223 is disposed on the array substrate 101 on which the TFTs are disposed and a second passivation layer 119 is disposed on the first passivation layer 223.

상기 제1 보호층(223)과 제2 보호층(119) 사이에는 터치 배선(170)이 배치되는데, 상기 터치 배선(170)은 상기 데이터 라인(230)과 중첩되게 배치되면서, 각 터치블럭(TB) 단위로 상기 터치 배선(170)은 공통 전극(180)과 연결된다. C는 터치 콘택부로써, 상기 터치블럭(TB) 단위의 공통 전극(180)과 터치 배선(170)이 연결되는 영역이다.A touch wiring 170 is disposed between the first passivation layer 223 and the second passivation layer 119. The touch wiring 170 overlaps the data line 230, TB), the touch wiring 170 is connected to the common electrode 180. In this case, C is a touch contact portion, which is a region where the common electrode 180 of the touch block (TB) unit and the touch wiring 170 are connected.

또한, A 영역은 상기 터치 배선(170)이 데이터 라인(230)과 중첩되는데, 상기 터치 콘택부(C)를 제외하고는 상기 터치 배선(170)과 공통 전극(180)은 서로 중첩되고, 전기적으로 접속되지 않는다. 도 3에 도시된 소스 전극(133) 상에 중첩되도록 배치된 터치 배선(170)은 터치 콘택부(C) 영역에서와 달리 상부 공통 전극(180)과 터치 배선(170)이 전기적으로 연결되지 않는다.In the region A, the touch wiring 170 overlaps the data line 230. The touch wiring 170 and the common electrode 180 are overlapped with each other except for the touch contact portion C, . The touch wiring 170 overlapped on the source electrode 133 shown in FIG. 3 is not electrically connected to the upper common electrode 180 and the touch wiring 170, unlike in the touch contact area C .

상기 공통 전극(180)은 위에서 설명한 바와 같이, 각 터치블럭(TB)과 대응되도록 일체로 형성되어 있지만, 각 화소영역의 박막 트랜지스터(TFT) 영역에서는 소정의 오픈(OP) 영역을 갖는다.As described above, the common electrode 180 is integrally formed so as to correspond to each touch block TB, but has a predetermined open (OP) region in the thin film transistor (TFT) region of each pixel region.

상기 공통 전극(180) 상에는 제3 보호층(182)이 배치되어 있고, 상기 제3 보호층(182) 상에는 화소 전극(260)이 배치되어 있다. 상기 화소 전극(260)은 드레인 전극(136) 영역에 형성된 콘택홀을 통하여 드레인 전극(126)과 전기적으로 연결되어 있다.A third passivation layer 182 is disposed on the common electrode 180 and a pixel electrode 260 is disposed on the third passivation layer 182. The pixel electrode 260 is electrically connected to the drain electrode 126 through a contact hole formed in a region of the drain electrode 136.

상기 화소 전극(260)은 화소영역(P)에서 복수개의 슬릿바(Slit bar) 형태로 형성된다.The pixel electrode 260 is formed in a plurality of slit bars in the pixel region P. [

이와 같이, 본 발명에서는 액정표시장치의 제조 공정에서 박막 트랜지스터를 형성한 다음, 터치 배선(170)을 형성하는 공정만 추가함으로써, 인셀 터치 방식 표시장치를 구현할 수 있는 이점이 있다.As described above, according to the present invention, there is an advantage that an in-cell touch-type display device can be realized by adding only a process of forming a thin film transistor and then forming a touch wiring 170 in a manufacturing process of a liquid crystal display device.

또한, 본 발명에서는 게이트 라인 또는 데이터 라인(230)과 같이, 터치 배선(170)을 형성하고, 상기 터치 배선(170)의 가장자리 끝단의 패드를 통해 터치 센싱을 할 수 있어, 터치 스크린 방식 보다 베젤(Bezel) 영역을 줄일 수 있는 효과가 있다.
In addition, in the present invention, the touch wiring 170 can be formed like the gate line or the data line 230, and the touch sensing can be performed through the pad at the edge of the touch wiring 170, It is possible to reduce the bezel area.

도 4a 내지 도 4e는 본 발명에 따른 인셀 터치 방식 표시장치의 제조공정을 도시한 도면이다.4A to 4E are views showing a process of manufacturing an in-line touch display device according to the present invention.

도 2와 함께 도 4a 내지 도 4e를 참조하면, 먼저, 투명성 절연기판으로 형성된 어레이 기판(101)은 다수의 화소영역을 구비한 표시영역과 이의 둘레에 비표시영역이 구획되고, 상기 표시영역에는 다수의 화소영역(P)을 하나의 그룹으로 다수의 터치블럭(TB)을 정의한다.Referring to Figs. 4A to 4E together with Fig. 2, an array substrate 101 formed of a transparent insulating substrate is divided into a display region having a plurality of pixel regions and a non-display region around the display region, A plurality of pixel blocks (P) are defined as a group and a plurality of touch blocks (TB) are defined.

도면에 도시된 바와 같이, 상기 어레이 기판(101) 상에 금속막을 형성한 화소영역(P)의 박막 트랜지스터 영역에 광차단층(200)을 형성한다. 상기와 같이, 광차단층(200)이 형성된 어레이 기판(101) 상에 무기절연물질 예를 들어 산화실리콘(SiO2) 또는 질화실리콘(SiNx)을 형성하여 버퍼층(105)을 형성한다.As shown in the figure, a light blocking layer 200 is formed in a thin film transistor region of a pixel region P having a metal film formed on the array substrate 101. As described above, an inorganic insulating material such as silicon oxide (SiO 2 ) or silicon nitride (SiNx) is formed on the array substrate 101 on which the light blocking layer 200 is formed to form the buffer layer 105.

상기 버퍼층(105)은 비정질 실리콘을 폴리 실리콘으로 재결정화 할 경우, 레이저 조사 또는 열처리 시에 의해 발생하는 열로 인해 어레이 기판(101) 내부에 존재하는 알칼리 이온, 예를 들면 칼륨 이온(K+), 나트륨 이온(Na+) 등이 발생할 수 있는데, 이러한 알칼리 이온에 의해 폴리실리콘으로 이루어진 반도체층의 막특성이 저하되는 것을 방지하기 위함이다. 이때, 상기 버퍼층(105)은 생략할 수 있다.When the amorphous silicon is recrystallized from polysilicon, the buffer layer 105 may be formed of alkali ions such as potassium ions (K +), sodium ions (K +), and the like, which are present in the array substrate 101 due to heat generated by laser irradiation or heat treatment. Ion (Na < + >) may be generated. In order to prevent the film characteristic of the semiconductor layer made of polysilicon from being deteriorated by such an alkali ion. At this time, the buffer layer 105 may be omitted.

다음, 상기 버퍼층(105) 상에는 순수 비정질 실리콘을 증착하여 순수 비정질 실리콘층(미도시)을 형성하고, 엑시머 레이저를 이용한 ELA(Excimer Laser Annealing)법, SLS(Sequential lateral Solidification) 결정화법, 열결정화법, 교번자장 결정화(Alternating Magnetic Field Crystallization : AMFC) 중 어느 하나의 결정화 공정 을 진행함으로써 상기 비정질 실리콘층(미도시)을 폴리실리콘층(미도시)으로 결정화한다.Next, a pure amorphous silicon layer (not shown) is formed on the buffer layer 105 by depositing pure amorphous silicon, and an excimer laser annealing (ELA) method using a excimer laser, a sequential lateral solidification (SLS) crystallization method, The amorphous silicon layer (not shown) is crystallized into a polysilicon layer (not shown) by performing a crystallization process of any one of AMFC and Alternating Magnetic Field Crystallization (AMFC).

이후, 마스크 공정을 실시하여 상기 폴리실리콘층(미도시)을 패터닝함으로써 상기 광차단층(200) 상에 순수 폴리실리콘 상태의 반도체층(113)을 형성한다.Thereafter, a mask process is performed to pattern the polysilicon layer (not shown) to form a semiconductor layer 113 of a pure polysilicon state on the light blocking layer 200.

하지만, 상기 반도체층(113)은 산화물 반도체층으로 형성될 수 있다. 즉, 인듐(In), 아연(Zn), 갈륨(Ga) 또는 하프늄(Hf) 중 적어도 하나를 포함하는 비정질 산화물로 이루어질 수 있다. 예컨대 스퍼터링 (sputtering) 공정으로 Ga-In-Zn-O 산화물 반도체를 형성할 경우, In2O3, Ga2O3 및 ZnO 로 형성된 각각의 타겟을 이용하거나, Ga-In-Zn 산화물의 단일 타겟을 이용할 수 있다. 또한, 스퍼터링 (sputtering) 공정으로 hf-In-Zn-O 산화물 반도체를 형성할 경우, HfO2, In2O3 및 ZnO로 형성된 각각의 타겟을 이용하거나, Hf-In-Zn 산화물의 단일 타겟을 이용할 수 있다.However, the semiconductor layer 113 may be formed of an oxide semiconductor layer. That is, it may be composed of an amorphous oxide containing at least one of indium (In), zinc (Zn), gallium (Ga), and hafnium (Hf). For example, when a Ga-In-Zn-O oxide semiconductor is formed by a sputtering process, each target formed of In2O3, Ga2O3, and ZnO may be used, or a single target of Ga-In-Zn oxide may be used. When the hf-In-Zn-O oxide semiconductor is formed by a sputtering process, each target formed of HfO 2, In 2 O 3, and ZnO may be used, or a single target of Hf-In-Zn oxide may be used.

상기 순수 폴리실리콘의 반도체층(113) 위로 무기절연물질 예를들면 산화실리콘(SiO2) 또는 질화실리콘(SiNx)을 증착하여 게이트 절연막(106)을 형성한다.An inorganic insulating material such as silicon oxide (SiO 2) or silicon nitride (SiN x) is deposited on the semiconductor layer 113 of the pure polysilicon to form a gate insulating film 106.

다음, 상기 게이트 절연막(106) 위로 금속물질 예를들면 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합 금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi) 중 어느 하나 또는 둘 이상의 물질로서 단일층 또는 다중층 구조를 갖는 제 1 금속층(미도시)을 형성한다.Next, a metal material such as aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum (Mo), molybdenum (MoTi) A first metal layer (not shown) having a single layer or a multilayer structure is formed as a material.

이후, 상기 제 1 금속층(미도시)을 마스크 공정을 실시하여 패터닝함으로써 상기 각 반도체층(113)의 중앙부에 대응하여 게이트 전극(120)을 각각 형성하고, 동시에 상기 게이트 절연막(106) 위로 상기 화소영역(P)의 경계에 상기 소자영역에 형성된 게이트 전극(120)과 연결되며 일 방향으로 연장하는 게이트 라인(미도시)을 형성한다.Thereafter, the first metal layer (not shown) is masked and patterned to form gate electrodes 120 corresponding to the central portions of the respective semiconductor layers 113, and at the same time, the gate electrodes 120 are formed on the gate insulating film 106, (Not shown) connected to the gate electrode 120 formed in the device region and extending in one direction is formed at the boundary of the region P.

이때, 도면에 나타내지 않았지만, 비표시영역에는 상기 게이트 라인의 일끝단과 연결된 게이트 링크라인(미도시)을 형성하고, 동시에 패드부에는 상기 게이트 링크라인(미도시)의 일끝단과 연결된 게이트 패드전극(미도시)을 형성한다.At this time, a gate link line (not shown) connected to one end of the gate line is formed in the non-display region, and a gate pad line (not shown) connected to one end of the gate line (Not shown).

그런 다음, 상기 각 게이트 전극(120)을 블록킹 마스크로 이용하여 상기 어레이 기판(101) 전면에 불순물을 도핑함으로써, 상기 반도체층(113) 중 상기 게이트 전극(120) 외측에 위치한 부분에 상기 불순물이 도핑된 제 2 반도체영역(113b)을 이루도록 하고, 블록킹됨으로써 상기 불순물의 도핑이 방지된 게이트 전극(120)에 대응하는 부분은 순수 폴리실리콘의 제 1 반도체영역(113a)을 이루도록 한다.Then, impurities are doped on the entire surface of the array substrate 101 by using each of the gate electrodes 120 as a blocking mask so that the impurity is doped in a portion of the semiconductor layer 113 located outside the gate electrode 120 Doped second semiconductor region 113b and a portion corresponding to the gate electrode 120, which is blocked by doping of the impurity, forms a first semiconductor region 113a of pure polysilicon.

그런 다음, 상기 제 1 및 제 2 반도체영역(113a, 113b)으로 나뉘어진 반도체층(113) 위로 전면에 무기절연물질 예를들면 질화실리콘(SiNx) 또는 산화실리콘(SiO2)을 증착하여 전면에 층간절연막(123)을 형성 한다.Then, an inorganic insulating material such as silicon nitride (SiNx) or silicon oxide (SiO2) is deposited on the entire surface of the semiconductor layer 113 divided into the first and second semiconductor regions 113a and 113b, An insulating film 123 is formed.

이후, 상기 층간절연막(123)을 패터닝함으로써 상기 각 반도체층(113)의 제 2 반도체영역(113b)을 각각 노출시키는 콘택홀을 형성한다.Then, the interlayer insulating layer 123 is patterned to form contact holes exposing the second semiconductor regions 113b of the semiconductor layers 113, respectively.

상기 콘택홀이 형성된 어레이 기판(101) 상에 금속물질 예를들면, 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi) 중 어느 하나 또는 둘 이상의 물질로서 단일층 또는 다중층 구조의 제 2 금속층(미도시)을 형성한다.(Al), an aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), a copper alloy, molybdenum (Mo), or moly titanium (MoTi) is formed on the array substrate 101 on which the contact holes are formed. Or a second metal layer (not shown) of a single layer or multilayer structure is formed as two or more materials.

이후, 상기 금속층(미도시)을 패터닝함으로써, 상기 콘택홀을 통해 상기 제 2 반도체 영역(113b)과 각각 접촉하며 서로 이격하는 소스 및 드레인 전극(133, 136)을 형성 한다. Subsequently, the metal layer (not shown) is patterned to form source and drain electrodes 133 and 136 which are in contact with the second semiconductor region 113b through the contact hole and are spaced apart from each other.

동시에 상기 층간절연막(123) 상에는 상기 화소 영역(P)의 경계에 상기 박막 트랜지스터의 소스 전극(133)과 연결되며 상기 게이트 라인(미도시)과 교차하는 데이터 라인(230)을 형성한다.At the same time, a data line 230 connected to the source electrode 133 of the thin film transistor and crossing the gate line (not shown) is formed on the interlayer insulating layer 123 at the boundary of the pixel region P.

또한, 비표시영역에는 상기 층간절연막(123) 위로 상기 데이터 라인(230)과 연결된 데이터 링크라인(미도시)을 형성하고, 패드부에는 상기 층간절연막(223) 위로 상기 데이터 링크라인(미도시)과 연결된 데이터 패드전극(미도시)을 형성한다.A data link line (not shown) connected to the data line 230 is formed on the interlayer insulating layer 123 in the non-display area. The data link line (not shown) is formed on the interlayer insulating layer 223, A data pad electrode (not shown) is formed.

상기와 같이, 소스 전극(133)과 드레인 전극(136)이 어레이 기판(101) 상에 형성되면, 상기 어레이 기판(101) 전면에 제1 보호막(223)을 형성한다.As described above, when the source electrode 133 and the drain electrode 136 are formed on the array substrate 101, the first protective film 223 is formed on the entire surface of the array substrate 101.

상기 제1 보호막(223)이 형성된 어레이 기판(101) 상에 금속막을 형성한 다음, 마스크 공정에 따라 상기 소스 전극(133) 및 데이터 라인(230)과 중첩되는 터치 배선(170)을 형성한다.A metal film is formed on the array substrate 101 on which the first protective film 223 is formed and a touch wiring 170 is formed to overlap the source electrode 133 and the data line 230 according to a mask process.

상기 터치 배선(170)은 도 2에 도시한 바와 같이, 각 터치 블럭(TB)의 공통 전극(180)과 전기적으로 연결된다.The touch wiring 170 is electrically connected to the common electrode 180 of each touch block TB as shown in FIG.

상기와 같이, 어레이 기판(101) 상에 터치 배선(170)이 형성되면, 상기 어레이 기판(101)의 패드부를 제외한 영역에 절연물질 예를들면 포토아크릴(photo acryl) 또는 벤조사이클로부텐(BCB)을 도포하여 그 표면이 평탄한 형태를 갖는 제 2 보호층(119)을 형성한다.As described above, when the touch wiring 170 is formed on the array substrate 101, an insulating material such as photo acryl or benzocyclobutene (BCB) is formed on a region of the array substrate 101 excluding the pad portion. To form a second protective layer 119 having a flat surface.

그런 다음, 상기 박막 트랜지스터의 드레인 전극(136)과 대응되는 제 1 보호층(223)과 제2 보호층(119)의 일부를 제거하여, 상기 드레인 전극(136)의 일부가 노출된 콘택홀을 형성한다. 이때, 상기 터치 배선(170)과 대응되는 제2 보호층(119)에 콘택홀을 형성한다.A part of the first passivation layer 223 and the second passivation layer 119 corresponding to the drain electrode 136 of the thin film transistor are removed so that a part of the drain electrode 136 is exposed, . At this time, a contact hole is formed in the second passivation layer 119 corresponding to the touch wiring 170.

상기와 같이, 제2 보호층(119) 상에 콘택홀이 형성되면, 도 4d에 도시한 바와 같이, 상기 어레이 기판(101) 전면에 투명성 도전물질막을 형성한다. 상기 투명성 도전물질막은 틴 옥사이드(Tin Oxide: TO), 인듐 틴 옥사이드(Indium Tin Oxide: ITO), 인듐 징크 옥사이드(Indium Zinc Oxide: IZO), 인듐 틴 징크 옥사이드(Indium Tin Zinc Oxide: ITZO)일 수 있다.As described above, when the contact hole is formed on the second passivation layer 119, a transparent conductive material film is formed on the entire surface of the array substrate 101, as shown in FIG. 4D. The transparent conductive material layer may be a transparent conductive material such as tin oxide (TO), indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), or indium tin zinc oxide have.

상기와 같이, 투명성 도전물질막이 형성되면, 마스크 공정에 따라 상기 제2 보호층(119) 상에 공통 전극(180)을 형성한다. 상기 공통 전극(180)은 터치 콘택부(C) 영역에 형성된 콘택홀을 통하여 하부의 터치 배선(170)과 전기적으로 연결된다.As described above, when the transparent conductive material layer is formed, the common electrode 180 is formed on the second passivation layer 119 according to a mask process. The common electrode 180 is electrically connected to the lower touch wiring 170 through a contact hole formed in the touch contact area C.

따라서, 표시장치에 터치가 이루어지면 상기 터치 수단(예를 들어, 손가락, 펜)과 공통 전극(180) 사이에 캐패시턴스가 변경되고, 이를 상기 터치 배선(170)을 통하여 인지함으로써, 터치 여부를 감지한다(Detect).Therefore, when the display device is touched, the capacitance is changed between the touching means (e.g., a finger or a pen) and the common electrode 180 and is recognized through the touch wiring 170, Detect.

상기와 같이, 어레이 기판(101) 상에 공통 전극(180)이 형성되면, 도 4e에 도시한 바와 같이, 상기 어레이 기판(101)의 전면에 절연물질을 형성하여, 제3 보호층(182)을 형성한다. 그런 다음, 상기 드레인 전극(136)과 대응되는 제3 보호층(182)에 콘택홀을 형성한다.4E, when the common electrode 180 is formed on the array substrate 101, an insulating material is formed on the entire surface of the array substrate 101 to form the third protective layer 182, . Then, a contact hole is formed in the third passivation layer 182 corresponding to the drain electrode 136.

그런 다음, 상기 어레이 기판(101) 전면에 투명성 도전물질막을 형성한 다음, 마스크 공정에 따라 상기 제3 보호층(182) 상에 화소 전극(260)을 형성한다.Then, a transparent conductive material layer is formed on the entire surface of the array substrate 101, and a pixel electrode 260 is formed on the third passivation layer 182 according to a mask process.

상기 투명성 도전물질막은 틴 옥사이드(Tin Oxide: TO), 인듐 틴 옥사이드(Indium Tin Oxide: ITO), 인듐 징크 옥사이드(Indium Zinc Oxide: IZO), 인듐 틴 징크 옥사이드(Indium Tin Zinc Oxide: ITZO)일 수 있다.The transparent conductive material layer may be a transparent conductive material such as tin oxide (TO), indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), or indium tin zinc oxide have.

본 발명에 따른 인셀 터치 방식 표시장치 및 이의 제조방법은, 표시장치 제조 공정시 기판 상에 직접 인셀 터치 소자를 형성하여, 공정을 단순화하고 제조 비용을 줄인 효과가 있다.The in-line touch-type display device and the method of manufacturing the same according to the present invention have the effect of simplifying the process and reducing the manufacturing cost by forming the in-cell touch device directly on the substrate in the display device manufacturing process.

또한, 본 발명에 따른 인셀 터치 방식 표시장치 및 이의 제조방법은, 표시패널 내부에 직접 인셀 터치 소자를 형성하기 때문에 경박단소화 및 베젤(bezel) 영역을 줄일 수 있는 효과가 있다.
In addition, since the in-cell touch display device and the method of manufacturing the same according to the present invention directly form an inshell touch device in the display panel, it is possible to reduce the area of bezel thinning and bezel.

100: 인셀 터치 방식 표시장치
160: 액티브영역
110: 터치표시패널
120a: 제1 게이트 드라이버
120b: 제2 게이트 드라이버
130: 데이터 드라이버
140: 먹스부
170: 터치 배선
180: 공통 전극
100: Insel-touch display device
160: Active area
110: Touch display panel
120a: a first gate driver
120b: second gate driver
130: Data driver
140: Muppets
170: Touch wiring
180: common electrode

Claims (8)

다수의 화소영역(P)들이 정의되고, 상기 다수의 화소영역들(P) 중 일부 화소영역들(P)을 하나의 그룹으로 하는 다수의 터치블럭이 정의된 기판;
각 화소영역(P)을 정의하기 위해 교차 배치된 게이트 라인과 데이터 라인;
상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차 영역에 배치된 박막 트랜지스터;
상기 박막 트랜지스터 상에 배치된 제1 보호층;
상기 데이터 라인과 중첩되도록 배치된 터치 배선;
상기 터치 배선 상에 배치된 제2 보호층; 및
상기 제2 보호층 상에 배치된 서로 중첩되도록 배치된 공통 전극과 화소 전극을 포함하는 인셀 터치 방식 표시장치.
A substrate on which a plurality of pixel regions (P) are defined and on which a plurality of touch blocks having a certain group of pixel regions (P) among the plurality of pixel regions (P) are defined;
A gate line and a data line cross-arranged to define each pixel region (P);
A thin film transistor disposed at a crossing region of the gate line and the data line;
A first protective layer disposed on the thin film transistor;
A touch wiring arranged to overlap with the data line;
A second protection layer disposed on the touch wiring; And
And a common electrode and a pixel electrode arranged on the second passivation layer so as to overlap each other.
제1항에 있어서, 상기 공통 전극은 상기 터치블럭 단위로 분리되어 배치되는 인셀 터치 방식 표시장치.
The in-line touch-type display device according to claim 1, wherein the common electrodes are disposed in units of the touch blocks.
제2항에 있어서, 상기 터치 배선은 상기 터치블럭 단위로 공통 전극과 전기적으로 연결된 인셀 터치 방식 표시장치.
The in-line touch display device of claim 2, wherein the touch wiring is electrically connected to the common electrode in units of the touch block.
제1항에 있어서, 상기 공통 전극과 화소 전극은 제3 보호층을 사이에 두고 서로 중첩되는 인셀 터치 방식 표시장치.
The in-cell touch-type display device according to claim 1, wherein the common electrode and the pixel electrode overlap each other with a third protective layer interposed therebetween.
다수의 화소영역(P)들이 정의되고, 상기 다수의 화소영역들(P) 중 일부 화소영역들(P)을 하나의 그룹으로 하는 다수의 터치블럭이 정의된 기판을 제공하는 단계;
상기 각 화소영역을 정의하기 위해 교차 배치된 게이트 라인과 데이터 라인을 형성하고, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차 영역에 박막 트랜지스터를 형성하는 단계;
상기 박막 트랜지스터가 형성된 기판 상에 제1 보호층을 형성하고, 상기 데이터 라인과 중첩되도록 상기 제1 보호층 상에 터치 배선을 형성하는 단계; 및
상기 터치 배선이 형성된 기판 상에 제2 보호층을 형성하고, 상기 제2 보호층 상에 공통 전극과 화소 전극을 형성하는 단계를 포함하는 인셀 터치 방식 표시장치 제조방법.
Providing a substrate on which a plurality of pixel regions (P) are defined and a plurality of touch blocks having a certain group of pixel regions (P) among the plurality of pixel regions (P) are defined;
Forming gate lines and data lines cross-arranged to define the respective pixel regions, and forming thin-film transistors at intersections of the gate lines and the data lines;
Forming a first protective layer on a substrate on which the thin film transistor is formed, and forming a touch wiring on the first protective layer so as to overlap with the data line; And
Forming a second protective layer on the substrate on which the touch wiring is formed, and forming a common electrode and a pixel electrode on the second protective layer.
제5항에 있어서, 상기 공통 전극과 화소 전극 사이에 제3 보호층을 형성하는 단계를 더 포함하는 인셀 터치 방식 표시장치 제조방법.
6. The method of claim 5, further comprising forming a third passivation layer between the common electrode and the pixel electrode.
제5항에 있어서, 상기 터치 배선은 상기 터치블럭 단위로 공통 전극과 전기적으로 연결된 인셀 터치 방식 표시장치 제조방법.
6. The method of claim 5, wherein the touch wiring is electrically connected to the common electrode in units of the touch block.
제7항에 있어서, 상기 공통 전극은 각각의 터치블럭 단위로 분리되어 형성하는 인셀 터치 방식 표시장치 제조방법.
The method as claimed in claim 7, wherein the common electrode is divided into individual touch block units.
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