KR20160094552A - Display panel and apparatus for inspecting the same - Google Patents

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Abstract

Provided are a display panel capable of preventing various circuit elements installed on a display panel from being damaged due to an over current when an inspection is performed, and an apparatus for inspecting the same. The display panel inspected by an inspection device including a connector including first and second inspection pins comprises: a connection pad unit including first and second connection pads corresponding to first and second inspection pins, respectively; and a connection detecting unit outputting a power enable signal when the first and second inspection pins are connected with the first and second connection pads, respectively. The apparatus for inspecting a display panel including a connection pad unit including the first and second connection pads comprises: a connector including first and second inspection pins corresponding to the first and second connection pads, respectively; a connection detecting unit outputting a power enable signal when the first and second connection pads are connected with the first and the second inspection pins, respectively, in the event of inspection; and a power supplying unit supplying power to the display panel by receiving a power enable signal.

Description

표시 패널 및 이의 검사 장치{Display panel and apparatus for inspecting the same}[0001] DESCRIPTION [0002] DISPLAY PANEL AND APPARATUS FOR INSPECTING THE SAME [

본 발명은 표시 패널 및 이의 검사 장치에 관한 것으로, 특히 검사 시 과전류로 인해 표시 패널에 실장된 각종 회로 소자들이 손상되는 것을 방지할 수 있는 표시 패널 및 이의 검사 장치에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a display panel and an inspection apparatus therefor, and more particularly, to a display panel and an inspection apparatus thereof that can prevent various circuit elements mounted on a display panel from being damaged due to an overcurrent during inspection.

최근, 퍼스널 컴퓨터, 휴대용 단말기, 및 모바일 통신기기 등에 사용되는 영상 표시장치로 경량 박형의 평판 표시장치(Flat Panel Display)가 주로 이용되고 있다. Description of the Related Art [0002] Lightweight thin flat panel displays (LCDs) are mainly used as image display devices used in personal computers, portable terminals, and mobile communication devices.

이러한, 평판 표시장치로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 유기 발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display), 플라즈마 표시 패널(Plasma Display Panel), 전계방출 표시장치(Field Emission Display) 등이 대두되고 있다.Examples of such flat panel display devices include a liquid crystal display, an organic light emitting diode display, a plasma display panel, a field emission display, .

이러한 평판 표시장치를 이루는 각각의 표시 패널 즉, 액정 패널이나 유기 발광 표시 패널 등은 별도의 구동회로부나 전원 공급부 등과 조립되는 모듈 조립공정에 들어가기에 앞서, 점등 검사과정을 통해 불량 여부를 판별하게 된다. Each of the display panels constituting such a flat panel display, that is, the liquid crystal panel, the organic light emitting display panel, and the like, is checked for failure through a lighting inspection process before entering a module assembling process to be assembled with a separate driving circuit unit or a power supply unit .

이러한 불량 검사는 오토 프로브 장치(Auto-Probe Apparatus) 등의 검사 장치를 이용하여 각 표시 패널의 구동 및 화질 불량 유무를 판별하게 된다.Such defective inspection is carried out by using an inspection apparatus such as an auto-probe apparatus or the like to judge whether each display panel is driven and whether image quality is defective or not.

표시 패널의 검사 장치는 완성된 표시 패널에 미리 셋팅된 구동회로나 백 라이트 유닛 등을 임시로 연결시키고, 표시 패널이 소정 시간 동안 구동되도록 함으로써 각 표시 패널의 불량 유무를 판별한다.The inspection apparatus of the display panel temporarily connects a drive circuit, a backlight unit, and the like set in advance to the completed display panel, and drives the display panel for a predetermined period of time to determine whether or not each display panel is defective.

이러한 표시 패널의 검사 장치는 검사 장치에 배치되는 커넥터를 통해 표시 패널과 연결되며, 커넥터에 포함된 검사 핀과 이와 대응되는 표시 패널에 배치된 접속 패드부의 접속 패드와 전기적으로 연결됨으로써, 표시 패널의 각 화소에 검사 데이터 전압과 게이트 신호 등을 공급한다. The inspection apparatus of the display panel is connected to the display panel through a connector disposed in the inspection apparatus and is electrically connected to the connection pads of the connection pad unit disposed on the display panel corresponding to the inspection pins included in the connector, The inspection data voltage and the gate signal are supplied to each pixel.

한편, 커넥터의 검사 핀 및 표시 패널의 접속 패드 수는 증가하는 추세이고, 이에 따라 검사 핀 및 접속 패드의 간격 또한 좁아지고 있다. On the other hand, the number of connection pads of the inspection pin and the display panel of the connector is increasing, and the distance between the inspection pin and the connection pad is also narrowed.

이 때, 표시 패널을 검사하기 위해 반복적으로 커넥터에 접속 패드부를 삽입 및 분리하게 되면 마찰력으로 인해 검사 핀 및 접속 패드가 마모되며, 이후 접속 불량을 유발 할 수 있다.At this time, if the connection pad portion is repeatedly inserted into and detached from the connector to inspect the display panel, the inspection pins and the connection pads are worn due to the frictional force, which may cause a poor connection thereafter.

이와 같은 문제점을 해결하기 위해, 최근 ZIF(Zero insertion force) 커넥터가 등장하였다.In order to solve such a problem, a ZIF (Zero insertion force) connector recently appeared.

ZIF(Zero insertion force) 커넥터는 접속 패드부가 커넥터에 삽입될 때 검사 핀 및 접속 패드가 접촉되지 않은 상태에 있게 되며, 삽입 후에 커넥터의 가압부를 이용해 접속 패드부의 접속 패드를 가압함으로써 검사 핀 및 접속 패드를 접촉시킨다.The ZIF (Zero insertion force) connector is in a state in which the inspection pin and the connection pad are not in contact with each other when the connection pad portion is inserted into the connector. After inserting, the connection pin of the connection pad portion is pressed using the pressing portion of the connector, .

이후, 커넥터와 접속 패드부를 분리할 때는 가압부가 가압을 해제하여 검사 핀 및 접속 패드의 접촉을 분리하게 된다.Thereafter, when the connector and the connection pad portion are separated, the pressing portion releases the pressure to separate the contact between the inspection pin and the connection pad.

이에 따라, 커넥터에서 접속 패드부가 삽입 및 분리 될 때, 검사 핀 및 접속 패드가 마모되어 발생되는 접속 불량을 방지 할 수 있다.Accordingly, when the connection pad portion is inserted and removed from the connector, it is possible to prevent the connection failure which is caused by the wear of the inspection pin and the connection pad.

그러나, ZIF(Zero insertion force) 커넥터에 접속 패드부를 삽입 후 가압 전에 검사 핀 및 접속 패드의 미스 얼라인(Miss align)이 발생될 수 있으며, 가압 후에 이러한 미스 얼라인(Miss align)으로 인해 검사 핀 및 접속 패드의 접촉 불량이 발생될 수 있다.However, after inserting the connection pad portion into the ZIF (Zero insertion force) connector, misalignment of the inspection pins and connection pads may occur before pressing, and due to such misalignment, And contact failure of the connection pad may occur.

이러한 접촉 불량으로 인해, 검사 시 검사장치에서 표시 패널로 과전류가 흘러 표시 패널에 실장된 회로 소자에 손상을 일으키는 문제점이 있다.
This insufficient contact causes a problem in that an overcurrent flows to the display panel from the inspection apparatus during the inspection to damage the circuit elements mounted on the display panel.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 검사 시 표시 패널 및 검사 장치의 커넥터의 체결 불량에 의해 발생되는 과전류로 인해 표시 패널에 실장된 각종 회로 소자들이 손상되는 것을 방지할 수 있는 표시 패널 및 이의 검사 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been devised to solve the problems described above, and it is an object of the present invention to provide a display apparatus and a display apparatus capable of preventing various circuit elements mounted on a display panel from being damaged due to an over- A display panel and an inspection apparatus therefor are provided.

전술한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 제1 및 제2검사 핀을 포함하는 커넥터를 포함하는 검사 장치에 의해 검사되는 표시 패널에 있어서, 제1 및 제2검사 핀과 각각 대응되는 제1 및 제2접속 패드를 포함하는 접속 패드부 및 검사 시, 제1 및 제2검사 핀과 제1 및 제2접속 패드가 각각 연결되면 전원 인에이블 신호를 출력하는 연결 감지부를 포함하는 표시 패널을 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a display panel that is inspected by an inspection apparatus including a connector including first and second inspection pins, 1 and a second connection pad; and a connection sensing unit for outputting a power-on signal when the first and second inspection pins are connected to the first and second connection pads, respectively, to provide.

또한, 연결 감지부는 제1 및 제2오피엠프와 제1 및 제2저항과 앤드 게이트를 포함하며, 제1 및 제2오피엠프의 비반전 단자는 제1 및 제2저항의 일단과 각각 연결되고, 제1 및 제2오피엠프의 출력단자는 앤드 게이트의 입력단과 연결되고, 제1 및 제2오피엠프의 비반전 단자는 제1 및 제2접속 패드와 각각 연결되고, 제1 및 제2오피엠프의 반전 단자에는 기준 전압이 각각 인가되고, 제1 및 제2저항의 타단에는 저전위 전압이 각각 인가된다.The connection sensing unit includes first and second operational amplifiers, first and second resistors and an AND gate, and the non-inverting terminal of the first and second operational amplifiers is connected to one end of the first and second resistors, respectively , The output terminals of the first and second operational amplifiers are connected to the input terminal of the end gate, the non-inverted terminals of the first and second operational amplifiers are respectively connected to the first and second connection pads, And a low potential voltage is applied to the other end of the first and second resistors, respectively.

또한, 제1 및 제2오피엠프는 비반전 단자의 전압과 기준 전압을 비교하여, 비반전 단자의 전압이 기준 전압보다 크면 제1신호를 출력하고 비반전 단자의 전압이 기준 전압보다 작으면 제2신호를 출력한다.The first and second operational amplifiers compare the voltage of the non-inverting terminal with the reference voltage. When the voltage of the non-inverting terminal is greater than the reference voltage, the first signal is output. When the voltage of the non- 2 signal.

또한, 앤드 게이트는 제1 및 제2오피엠프로부터 각각 제1신호를 인가 받은 경우 전원 인에이블 신호를 출력한다.In addition, the AND gate outputs a power enable signal when the first signal is applied from the first and second operational amplifiers, respectively.

또한, 제1 및 제2접속 패드를 포함하는 접속 패드부를 포함하는 표시 패널의 검사 장치에 있어서, 제1 및 제2접속 패드와 각각 대응되는 제1 및 제2검사 핀을 포함하는 커넥터와 검사 시, 제1 및 제2접속 패드와 제1 및 제2검사 핀이 각각 연결되면 전원 인에이블 신호를 출력하는 연결 감지부 및 전원 인에이블 신호를 인가 받아 표시 패널에 전원을 공급하는 전원 공급부를 포함하는 표시 패널의 검사 장치를 제공한다.The inspection apparatus of the display panel including the connection pad portion including the first and second connection pads may further include a connector including first and second inspection pins respectively corresponding to the first and second connection pads, A connection sensing unit for outputting a power enable signal when the first and second connection pads are connected to the first and second test pins, and a power supply unit for receiving power supply enable signals and supplying power to the display panel, Thereby providing an inspection apparatus for a display panel.

또한, 연결 감지부로부터 전원 인에이블 신호를 인가 받아 전원 공급부에 출력하는 제어부를 더 포함한다.And a control unit for receiving the power enable signal from the connection sensing unit and outputting the power enable signal to the power supply unit.

또한, 연결 감지부는 제1 및 제2오피엠프와 제1 및 제2저항과 앤드 게이트를 포함하며, 제1 및 제2오피엠프의 비반전 단자는 제1 및 제2저항의 일단과 각각 연결되고, 제1 및 제2오피엠프의 출력단자는 앤드 게이트의 입력단과 연결되고, 앤드 게이트의 출력단은 제어부와 연결되고, 제1 및 제2오피엠프의 비반전 단자는 제1 및 제2검사 핀과 각각 연결되고, 제1 및 제2오피엠프의 반전 단자에는 기준 전압이 각각 인가되고, 제1 및 제2저항의 타단에는 저전위 전압이 각각 인가된다.The connection sensing unit includes first and second operational amplifiers, first and second resistors and an AND gate, and the non-inverting terminal of the first and second operational amplifiers is connected to one end of the first and second resistors, respectively , The output terminals of the first and second operational amplifiers are connected to the input terminal of the AND gate, the output terminal of the AND gate is connected to the control section, the non-inverting terminals of the first and second operational amplifiers are connected to the first and second test pins A reference voltage is applied to the inverting terminal of the first and second operational amplifiers, and a low potential voltage is applied to the other terminal of the first and second resistors, respectively.

또한, 제1 및 제2오피엠프는 비반전 단자의 전압과 기준 전압을 비교하여, 비반전 단자의 전압이 기준 전압보다 크면 제1신호를 출력하고 비반전 단자의 전압이 기준 전압보다 작으면 제2신호를 출력한다.The first and second operational amplifiers compare the voltage of the non-inverting terminal with the reference voltage. When the voltage of the non-inverting terminal is greater than the reference voltage, the first signal is output. When the voltage of the non- 2 signal.

또한, 앤드 게이트는 제1 및 제2오피엠프로부터 각각 제1신호를 인가 받은 경우 전원 인에이블 신호를 출력한다.
In addition, the AND gate outputs a power enable signal when the first signal is applied from the first and second operational amplifiers, respectively.

본 발명은 표시 패널 또는 검사 장치에 커넥터와 접속 패드부의 정상 연결 여부를 감지하는 연결 감지부를 구비하여, 검사 시 표시 패널 및 검사 장치의 커넥터의 체결 불량에 의해 발생되는 과전류로 인해 표시 패널에 실장된 각종 회로 소자들이 손상되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.
The present invention provides a display panel or an inspection apparatus that includes a connection sensing unit that detects whether a connector and a connection pad unit are normally connected to each other. The display panel or the inspection apparatus is mounted on a display panel due to an over- It is possible to prevent the various circuit elements from being damaged.

도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 표시 패널 및 검사 장치의 개략적인 블록도이다.
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시 패널 및 검사 장치의 개략적인 회로도이다.
도 3은 본 발명의 제2실시예에 따른 표시 패널 및 검사 장치의 개략적인 블록도이다.
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 표시 패널 및 검사 장치의 개략적인 회로도이다.
도 5는 본 발명의 제1 및 제2실시예에 따른 검사 방법의 순서도이다.1 is a schematic block diagram of a display panel and an inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.
2 is a schematic circuit diagram of a display panel and an inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.
3 is a schematic block diagram of a display panel and a testing apparatus according to a second embodiment of the present invention.
4 is a schematic circuit diagram of a display panel and an inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.
5 is a flowchart of the inspection method according to the first and second embodiments of the present invention.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

<제 1 실시예>&Lt; Embodiment 1 >

도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 표시 패널 및 검사 장치의 개략적인 블록도이고, 도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시 패널 및 검사 장치의 개략적인 회로도이다.FIG. 1 is a schematic block diagram of a display panel and an inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic circuit diagram of a display panel and an inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention.

도면에 도시한 바와 같이, 검사 장치(200)는 다수의 검사 핀(251)을 구비하는 커넥터(250), 제어부(260) 및 전원 공급부(290)를 포함하며, 표시 패널(100)은 다수의 접속 패드(151)를 구비하는 접속 패드부(150) 및 연결 감지부(170)를 포함한다.The inspection apparatus 200 includes a connector 250 having a plurality of inspection pins 251, a control unit 260 and a power supply unit 290. The display panel 100 includes a plurality of And a connection pad unit 150 having a connection pad 151 and a connection sensing unit 170.

구체적으로, 표시 패널(100)의 접속 패드부(150)는 검사 장치(200)에 배치된 커넥터(250)의 제1 및 제2검사 핀(251a, 251b)과 각각 대응되는 제1 및 제2접속 패드(151a, 151b)를 포함하는데, 제1 및 제2검사 핀(251a, 251b)과 제1 및 제2접속 패드(151a, 151b)는 커넥터(250)와 접속 패드부(150)가 정상적으로 연결되었는지 감지하기 위한 핀들로서, 다수의 검사 핀 및 접속 패드(251, 151) 중 2개를 임의로 각각 선택할 수 있다.More specifically, the connection pad unit 150 of the display panel 100 is connected to the first and second test pins 251a and 251b of the connector 250 disposed in the testing apparatus 200, The first and second test pins 251a and 251b and the first and second connection pads 151a and 151b are formed such that the connector 250 and the connection pad portion 150 are normally As the pins for detecting connection, it is possible to arbitrarily select two of the plurality of inspection pins and the connection pads 251 and 151, respectively.

또한, 표시 패널(100)의 연결 감지부(170)는 검사 시, 검사 장치(200)에 배치된 커넥터(250)의 제1 및 제2검사 핀(251a, 251b)과 표시 패널(100)의 접속 패드부(150)의 제1 및 제2접속 패드(151a, 151b)가 각각 연결되면, 전원 인에이블 신호(PWR EN)를 출력한다.The connection sensing unit 170 of the display panel 100 is connected to the first and second test pins 251a and 251b of the connector 250 disposed on the testing apparatus 200 and the first and second test pins 251a and 251b of the display panel 100, When the first and second connection pads 151a and 151b of the connection pad unit 150 are connected to each other, the power supply enable signal PWR EN is output.

또한, 연결 감지부(170)는 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)와 제1 및 제2저항(R1, R2)과 앤드 게이트(AND)를 포함하며, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 비반전 단자(+)는 제1 및 제2저항(R1, R2)의 일단과 각각 연결되고, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 출력단자는 앤드 게이트(AND)의 입력단과 연결되고, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 반전 단자(-)에는 기준 전압(Vref)이 각각 인가되고, 제1 및 제2저항(R1, R2)의 타단에는 저전위 전압(VCC)이 각각 인가된다.The connection sensing unit 170 includes first and second op-amps OP1 and OP2 and first and second resistors R1 and R2 and an AND gate. The first and second op- Inverting terminals of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2 are connected to one ends of the first and second resistors R1 and R2 respectively and the output terminals of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2 are connected to the AND gate The reference voltage Vref is applied to the inverting terminal of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2 and the other terminal of the first and second resistors R1 and R2 is connected to the input terminal of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2. And the low-potential voltage VCC are respectively applied.

또한, 연결 감지부(170)의 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 비반전 단자(+)는 접속 패드부(150)의 제1 및 제2접속 패드(151a, 151b)와 각각 연결된다.The non-inverting terminal (+) of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2 of the connection sensing unit 170 is connected to the first and second connection pads 151a and 151b of the connection pad unit 150, .

이에 따라, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)는 비반전 단자(+)의 전압과 기준 전압(Vref)을 비교하여, 비반전 단자(+)의 전압이 기준 전압(Vref)보다 크면 제1신호를 출력하고 비반전 단자(+)의 전압이 상기 기준 전압(Vref)보다 작으면 제2신호를 출력한다.Thus, the first and second opamps OP1 and OP2 compare the voltage of the non-inverting terminal (+) with the reference voltage Vref, and if the voltage of the non-inverting terminal (+) is larger than the reference voltage Vref And outputs a second signal when the voltage of the non-inverting terminal (+) is smaller than the reference voltage (Vref).

구체적으로, 커넥터(250)와 접속 패드부(150)가 연결된 후, 커넥터(250)의 제1 및 제2검사 핀(251a, 251b)과 접속 패드부(150)의 제1 및 제2접속 패드(151a, 151b)가 각각 모두 미스 얼라인(Miss align)되면, 제1 및 제2스위치(SW1, SW2)는 각각 턴-오프되며, 제1저항(R1)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제1저항(R1)과 제1접속 패드 저항(Rc1)에 의해 분압되고, 제2저항(R2)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제2저항(R2)과 제2접속 패드 저항(Rc2)에 의해 분압되며, 이 때 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제1 및 제2오피엠프의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 작다.The first and second test pins 251a and 251b of the connector 250 and the first and second connection pads 251a and 251b of the connection pad unit 150 are connected to each other, The first and second switches SW1 and SW2 are respectively turned off and the low potential voltage (the first potential) applied to the other end of the first resistor R1 VCC is divided by the first resistor R1 and the first connection pad resistor Rc1 and the low potential voltage VCC applied to the other end of the second resistor R2 is divided by the second resistor R2 and the second resistor R2, The voltage applied to the non-inverting terminal (+) of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2 is applied to the inverting terminal (-) of the first and second operational amplifiers Is smaller than an applied reference voltage Vref.

이에 따라, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 출력단에서 로우 상태의 제2신호가 각각 출력된다.Thus, the second signals in the low state are output from the output terminals of the first and second op-amps OP1 and OP2, respectively.

또한, 커넥터(250)와 접속 패드부(150)가 연결된 후, 커넥터(250)의 제1검사 핀(251a)과 접속 패드부(150)의 제1접속 패드(151a)는 정상 연결되고, 커넥터(250)의 제2검사 핀(251b)과 접속 패드부(150)의 제2접속 패드(151b)는 미스 얼라인(Miss align)되면, 제1스위치(SW1)는 턴-온되고 제2스위치(SW2)는 턴-오프되며, 제1저항(R1)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제1저항(R1)과, 병렬 연결된 제1접속 패드 저항(Rc1) 및 제1검사 핀 저항(Rp1)에 의해 분압되고, 제2저항(R2)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제2저항(R2)과 제2접속 패드 저항(Rc2)에 의해 분압되며, 이 때 제1오피엠프(OP1)의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제1오피엠프(OP1)의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 크고, 제2오피엠프(OP2)의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제2오피엠프(OP2)의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 작다.The first inspection pin 251a of the connector 250 and the first connection pad 151a of the connection pad portion 150 are normally connected to each other and the connector 250 and the connection pad portion 150 are connected to each other, When the second test pin 251b of the connection pad unit 250 and the second connection pad 151b of the connection pad unit 150 are misaligned, the first switch SW1 is turned on, The low potential voltage VCC applied to the other end of the first resistor R1 is turned off by the first resistor R1 and the first connection pad resistor Rc1 and the first test pin R1 connected in parallel, The low potential voltage VCC applied to the other end of the second resistor R2 is divided by the resistor Rp1 and divided by the second resistor R2 and the second connection pad resistor Rc2, The voltage applied to the noninverting terminal (+) of the first op-amp OP1 is larger than the reference voltage Vref applied to the inverting terminal (-) of the first op amp OP1, The voltage applied to the inverting terminal (+) is applied to the inverting terminal (-) of the second op amp OP2 Is smaller than the reference voltage Vref.

이에 따라, 제1오피엠프(OP1)의 출력단에서는 하이 상태의 제1신호가 출력되고, 제2오피엠프의 출력단에서는 로우 상태의 제2신호가 출력된다.Thus, the first signal of the high state is outputted at the output terminal of the first op-amp OP1, and the second signal of the low state is outputted at the output terminal of the second op amp.

또한, 커넥터(250)와 접속 패드부(150)가 연결된 후, 커넥터(250)의 제2검사 핀(251b)과 접속 패드부(150)의 제2접속 패드(151b)는 정상 연결되고, 커넥터(250)의 제1검사 핀(251a)과 접속 패드부(150)의 제1접속 패드(151a)는 미스 얼라인(Miss align)되면, 제2스위치(SW2)는 턴-온되고 제1스위치(SW1)는 턴-오프되며, 제2저항(R2)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제2저항(R2)과, 병렬 연결된 제2접속 패드 저항(Rc2) 및 제2검사 핀 저항(Rp2)에 의해 분압되고, 제1저항(R1)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제1저항(R1)과 제1접속 패드 저항(Rc1)에 의해 분압되며, 이 때 제2오피엠프(OP2)의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제2오피엠프(OP2)의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 크고, 제1오피엠프(OP1)의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제1오피엠프(OP1)의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 작다.The second test pins 251b of the connector 250 and the second connection pads 151b of the connection pad portion 150 are normally connected to each other after the connector 250 and the connection pad portion 150 are connected, When the first test pin 251a of the connection pad unit 250 and the first connection pad 151a of the connection pad unit 150 are misaligned, the second switch SW2 is turned on, The low potential voltage VCC applied to the other end of the second resistor R2 is turned off by the second resistor R2 and the second connection pad resistor Rc2 and the second test resistor Rc2 connected in parallel, The low potential voltage VCC applied to the other end of the first resistor R1 is divided by the resistor Rp2 and divided by the first resistor R1 and the first connection pad resistor Rc1, The voltage applied to the noninverting terminal (+) of the second op-amp OP2 is larger than the reference voltage Vref applied to the inverting terminal (-) of the second op amp OP2, The voltage applied to the inverting terminal (+) is applied to the inverting terminal (-) of the first op amp OP1 Is smaller than the reference voltage Vref.

이에 따라, 제2오피엠프(OP2)의 출력단에서는 하이 상태의 제1신호가 출력되고, 제1오피엠프(OP1)의 출력단에서는 로우 상태의 제2신호가 출력된다.Accordingly, the first signal of the high state is outputted at the output terminal of the second op-amp OP2, and the second signal of the low state is outputted at the output terminal of the first op amp OP1.

커넥터(250)와 접속 패드부(150)가 연결된 후, 커넥터(250)의 제1 및 제2검사 핀(251a, 251b)과 접속 패드부(150)의 제1 및 제2접속 패드(151a, 151b)가 각각 모두 정상 연결되면, 제1 및 제2스위치(SW1, SW2)는 각각 턴-온되며, 제1저항(R1)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제1저항(R1)과, 병렬 연결된 제1접속 패드 저항(Rc1) 및 제1검사 핀 저항(Rp1)에 의해 분압되고, 제2저항(R2)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제2저항(R2)과, 병렬 연결된 제2접속 패드 저항(Rc2) 및 제2검사 핀 저항(Rp2)에 의해 분압되며, 이 때 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 크다.The first and second test pins 251a and 251b of the connector 250 and the first and second connection pads 151a and 151b of the connection pad unit 150 of the connector 250 are connected to each other after the connector 250 and the connection pad unit 150 are connected. The first and second switches SW1 and SW2 are turned on and the low potential voltage VCC applied to the other end of the first resistor R1 is connected to the first resistor R1 And a low potential voltage VCC applied to the other end of the second resistor R2 is divided by the first resistor Rc1 and the first resistor Rp1 connected in parallel to the second resistor R2 Connected to the non-inverting terminal (+) of the first and second op-amps OP1 and OP2 at this time, by the second connecting pad resistor Rc2 and the second checking pin resistor Rp2 connected in parallel, The voltage is larger than the reference voltage Vref applied to the inverting terminal (-) of the first and second op amps OP1 and OP2.

이에 따라, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 출력단에서 하이 상태의 제1신호가 각각 출력된다.Thus, the first signals in a high state are output from the output terminals of the first and second op-amps OP1 and OP2, respectively.

또한, 앤드 게이트(AND)는 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)로부터 각각 하이 상태의 제1신호를 인가 받은 경우에만 전원 인에이블 신호(PWR EN)를 출력한다.The AND gate AND outputs the power enable signal PWR EN only when the first signal in the high state is applied from the first and second operational amplifiers OP1 and OP2, respectively.

즉, 앤드 게이트(AND)는 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)로부터 각각 로우 상태의 제2신호를 인가 받거나, 제1 또는 제2오피엠프(OP1, OP2) 중 어느 하나로부터 로우 상태의 제2신호를 인가받는 경우에는 전원 인에이블 신호(PWR EN)를 출력하지 않는다.That is, the AND gate AND receives a second signal in the low state from the first and second operational amplifiers OP1 and OP2, and receives a second signal from either the first or the second op amp OP1 or OP2, The power supply enable signal PWR EN is not output.

또한, 앤드 게이트(AND)로부터 출력된 전원 인에이블 신호(PWR EN)는 검사장치(200)의 제어부(260)에 인가되며, 검사장치(200)의 전원 공급부(290)는 제어부(260)로부터 전원 인에이블 신호(PWR EN)를 인가 받아 표시 패널(100)에 고전위 전압(VDD), 저전위 전압(VCC) 및 기준 전압(Vref)을 공급한다.The power supply enable signal PWR EN outputted from the AND gate AND is applied to the control unit 260 of the inspection apparatus 200 and the power supply unit 290 of the inspection apparatus 200 is controlled by the control unit 260 A high potential voltage (VDD), a low potential voltage (VCC), and a reference voltage (Vref) are supplied to the display panel 100 by receiving the power enable signal PWR EN.

이에 따라, 본 발명의 제1실시예에 따른 표시 패널(100)은 표시 패널(100)에 커넥터(250)와 접속 패드부(150)의 정상 연결 여부를 감지하는 연결 감지부(170)를 구비하여, 검사 시 표시 패널(100) 및 검사 장치(200)의 커넥터(250)의 체결 불량에 의해 발생되는 과전류로 인해 표시 패널(100)에 실장된 각종 회로 소자들이 손상되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.
The display panel 100 according to the first embodiment of the present invention includes a connection sensing unit 170 for sensing whether the connector 250 and the connection pad unit 150 are normally connected to the display panel 100 It is possible to prevent the various circuit elements mounted on the display panel 100 from being damaged due to the overcurrent generated by the failure of fastening of the connector 250 of the display panel 100 and the inspection apparatus 200 at the time of inspection .

<제 2 실시예>&Lt; Embodiment 2 >

도 3은 본 발명의 제2실시예에 따른 표시 패널 및 검사 장치의 개략적인 블록도이고, 도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 표시 패널 및 검사 장치의 개략적인 회로도이다.FIG. 3 is a schematic block diagram of a display panel and an inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a schematic circuit diagram of a display panel and an inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.

도면에 도시한 바와 같이, 검사 장치(400)는 다수의 검사 핀(451)을 구비하는 커넥터(450), 연결 감지부(470), 제어부(460) 및 전원 공급부(490)를 포함하며, 표시 패널(300)은 다수의 접속 패드(351)를 구비하는 접속 패드부(350)를 포함한다.The inspection apparatus 400 includes a connector 450 having a plurality of inspection pins 451, a connection sensing unit 470, a control unit 460 and a power supply unit 490, The panel 300 includes a connection pad portion 350 having a plurality of connection pads 351.

구체적으로, 표시 패널(300)의 접속 패드부(350)는 검사 장치(400)에 배치된 커넥터(450)의 제1 및 제2검사 핀(451a, 451b)과 각각 대응되는 제1 및 제2접속 패드(351a, 351b)를 포함하는데, 제1 및 제2검사 핀(451a, 451b)과 제1 및 제2접속 패드(351a, 351b)는 커넥터(450)와 접속 패드부(350)가 정상적으로 연결되었는지 감지하기 위한 핀들로서, 다수의 검사 핀 및 접속 패드(451, 351) 중 2개를 임의로 각각 선택할 수 있다.Specifically, the connection pad portion 350 of the display panel 300 is connected to the first and second test pins 451a and 451b of the connector 450 disposed in the test apparatus 400, The first and second test pins 451a and 451b and the first and second connection pads 351a and 351b include the connection pads 351a and 351b such that the connector 450 and the connection pad portion 350 are normally As the pins for detecting connection, it is possible to arbitrarily select two of the plurality of inspection pins and the connection pads 451 and 351, respectively.

또한, 검사 장치(400)의 연결 감지부(470)는 검사 시, 검사 장치(400)에 배치된 커넥터(450)의 제1 및 제2검사 핀(451a, 451b)과 표시 패널(300)의 접속 패드부(350)의 제1 및 제2접속 패드(351a, 351b)가 각각 연결되면 전원 인에이블 신호(PWR EN)를 출력한다.The connection detecting unit 470 of the inspecting apparatus 400 detects the connection of the first and second test pins 451a and 451b of the connector 450 disposed on the inspecting apparatus 400 and the first and second test pins 451a and 451b of the display panel 300, When the first and second connection pads 351a and 351b of the connection pad unit 350 are connected to each other, a power supply enable signal PWR EN is output.

또한, 연결 감지부(470)는 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)와 제1 및 제2저항(R1, R2)과 앤드 게이트(AND)를 포함하며, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 비반전 단자(+)는 제1 및 제2저항(R1, R2)의 일단과 각각 연결되고, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 출력단자는 앤드 게이트(AND)의 입력단과 연결되고, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 반전 단자(-)에는 기준 전압(Vref)이 각각 인가되고, 제1 및 제2저항(R1, R2)의 타단에는 저전위 전압(VCC)이 각각 인가된다.The connection sensing unit 470 includes first and second op-amps OP1 and OP2, first and second resistors R1 and R2 and an AND gate, and the first and second op- Inverting terminals of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2 are connected to one ends of the first and second resistors R1 and R2 respectively and the output terminals of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2 are connected to the AND gate The reference voltage Vref is applied to the inverting terminal of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2 and the other terminal of the first and second resistors R1 and R2 is connected to the input terminal of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2. And the low-potential voltage VCC are respectively applied.

또한, 연결감지부(470)의 앤드 게이트(AND)의 출력단은 제어부(460)와 연결되고, 연결 감지부(470)의 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 비반전 단자(+)는 커넥터(450)의 제1 및 제2검사 핀(451a, 451b)과 각각 연결된다.The output terminal of the AND gate of the connection sensing unit 470 is connected to the control unit 460 and the non-inverting terminal + of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2 of the connection sensing unit 470, Are connected to the first and second test pins 451a and 451b of the connector 450, respectively.

이에 따라, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)는 비반전 단자(+)의 전압과 기준 전압(Vref)을 비교하여, 비반전 단자(+)의 전압이 기준 전압(Vref)보다 크면 제1신호를 출력하고 비반전 단자(+)의 전압이 기준 전압(Vref)보다 작으면 제2신호를 출력한다.Thus, the first and second opamps OP1 and OP2 compare the voltage of the non-inverting terminal (+) with the reference voltage Vref, and if the voltage of the non-inverting terminal (+) is larger than the reference voltage Vref And outputs a second signal when the voltage of the non-inverting terminal (+) is smaller than the reference voltage (Vref).

구체적으로, 커넥터(450)와 접속 패드부(350)가 연결된 후, 커넥터(450)의 제1 및 제2검사 핀(451a, 451b)과 접속 패드부(350)의 제1 및 제2접속 패드(351a, 351b)가 각각 모두 미스 얼라인(Miss align)되면, 제1 및 제2스위치(SW1, SW2)는 각각 턴-오프되며, 제1저항(R1)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제1저항(R1)과 제1검사 핀 저항(Rp1)에 의해 분압되고, 제2저항(R2)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제2저항(R2)과 제2검사 핀 저항(Rp2)에 의해 분압되며, 이 때 제1 및 제2오피엠프의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 작다.The first and second test pins 451a and 451b of the connector 450 and the first and second connection pads 350a and 350b of the connection pad portion 350 are connected to each other, The first and second switches SW1 and SW2 are respectively turned off and the low potential voltage (the first potential) applied to the other end of the first resistor R1 VCC is divided by the first resistor R1 and the first test pin resistor Rp1 and the low potential voltage VCC applied to the other end of the second resistor R2 is divided by the second resistor R2 and the second resistor R2, The voltage applied to the noninverting terminal (+) of the first and second operational amplifiers is applied to the inverting terminal (-) of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2 Is smaller than an applied reference voltage Vref.

이에 따라, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 출력단에서 로우 상태의 제2신호가 각각 출력된다.Thus, the second signals in the low state are output from the output terminals of the first and second op-amps OP1 and OP2, respectively.

또한, 커넥터(450)와 접속 패드부(350)가 연결된 후, 커넥터(450)의 제1검사 핀(451a)과 접속 패드부(350)의 제1접속 패드(351a)는 정상 연결되고, 커넥터(450)의 제2검사 핀(451b)과 접속 패드부(350)의 제2접속 패든(351b)는 미스 얼라인(Miss align)되면, 제1스위치(SW1)는 턴-온되고 제2스위치(SW2)는 턴-오프되며, 제1저항(R1)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제1저항(R1)과, 병렬 연결된 제1검사 핀 저항(Rp1) 및 제1접속 패드 저항(Rc1)에 의해 분압되고, 제2저항(R2)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제2저항(R2)과 제2검사 핀 저항(Rp2)에 의해 분압되며, 이 때 제1오피엠프(OP1)의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제1오피엠프(OP1)의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 크고, 제2오피엠프(OP2)의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제2오피엠프(OP2)의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 작다.The first inspection pin 451a of the connector 450 and the first connection pad 351a of the connection pad portion 350 are normally connected to each other, When the second test pin 451b of the connection pad unit 450 and the second connection pad 351b of the connection pad unit 350 are misaligned, the first switch SW1 is turned on, The low potential voltage VCC applied to the other end of the first resistor R1 is connected to the first resistor R1 through the first check pin resistor Rp1 and the first connection pin Rp2 connected in parallel, The low potential voltage VCC applied to the other end of the second resistor R2 is divided by the resistor Rc1 and divided by the second resistor R2 and the second check pin resistor Rp2, The voltage applied to the noninverting terminal (+) of the first op-amp OP1 is larger than the reference voltage Vref applied to the inverting terminal (-) of the first op amp OP1, The voltage applied to the inverting terminal (+) is applied to the inverting terminal (-) of the second op amp OP2 Is smaller than the reference voltage Vref.

이에 따라, 제1오피엠프(OP1)의 출력단에서는 하이 상태의 제1신호가 출력되고, 제2오피엠프(OP2)의 출력단에서는 로우 상태의 제2신호가 출력된다.As a result, the first signal of the high state is outputted at the output terminal of the first op-amp OP1 and the second signal of the low state is outputted at the output terminal of the second op amp OP2.

또한, 커넥터(450)와 접속 패드부(350)가 연결된 후, 커넥터(450)의 제2검사 핀(451b)과 접속 패드부(350)의 제2접속 패드(351b)는 정상 연결되고, 커넥터(450)의 제1검사 핀(451a)과 접속 패드부(350)의 제1접속 패드(351a)는 미스 얼라인(Miss align)되면, 제2스위치(SW2)는 턴-온되고 제1스위치(SW1)는 턴-오프되며, 제2저항(R2)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제2저항(R2)과, 병렬 연결된 제2검사 핀 저항(Rp2) 및 제2접속 패드 저항(Rc2)에 의해 분압되고, 제1저항(R1)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제1저항(R1)과 제1검사 핀 저항(Rp1)에 의해 분압되며, 이 때 제2오피엠프(OP2)의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제2오피엠프(OP2)의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 크고, 제1오피엠프(OP1)의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제1오피엠프(OP1)의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 작다.The second test pin 451b of the connector 450 and the second connection pad 351b of the connection pad portion 350 are normally connected to each other after the connector 450 and the connection pad portion 350 are connected, When the first test pin 451a of the connection pad portion 450 and the first connection pad 351a of the connection pad portion 350 are misaligned, the second switch SW2 is turned on, The low potential voltage VCC applied to the other end of the second resistor R2 is turned off by the second resistor R2 and the second test pin resistor Rp2 and the second connection pin The low potential voltage VCC applied to the other end of the first resistor R1 is divided by the resistor Rc2 and divided by the first resistor R1 and the first check pin resistor Rp1, The voltage applied to the noninverting terminal (+) of the second op-amp OP2 is larger than the reference voltage Vref applied to the inverting terminal (-) of the second op amp OP2, The voltage applied to the inverting terminal (+) is applied to the inverting terminal (-) of the first op amp OP1 Is smaller than the reference voltage Vref.

이에 따라, 제2오피엠프(OP2)의 출력단에서는 하이 상태의 제1신호가 출력되고, 제1오피엠프(OP1)의 출력단에서는 로우 상태의 제2신호가 출력된다.Accordingly, the first signal of the high state is outputted at the output terminal of the second op-amp OP2, and the second signal of the low state is outputted at the output terminal of the first op amp OP1.

커넥터(450)와 접속 패드부(350)가 연결된 후, 커넥터(450)의 제1 및 제2검사 핀(451a, 451b)과 접속 패드부(350)의 제1 및 제2접속 패드(351a, 351b)가 각각 모두 정상 연결되면, 제1 및 제2스위치(SW1, SW2)는 각각 턴-온되며, 제1저항(R1)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제1저항(R1)과, 병렬 연결된 제1검사 핀 저항(Rp1) 및 제1접속 패드 저항(Rc1)에 의해 분압되고, 제2저항(R2)의 타단에 인가되는 저전위 전압(VCC)은 제2저항(R2)과, 병렬 연결된 제2검사 핀 저항(Rp2) 및 제2접속 패드 저항(Rc2)에 의해 분압되며, 이 때 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 비반전 단자(+)에 걸리는 전압은 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 반전 단자(-)에 인가되는 기준 전압(Vref) 보다 작다.The first and second test pins 451a and 451b of the connector 450 and the first and second connection pads 351a and 351b of the connection pad portion 350 of the connector 450 are connected after the connector 450 and the connection pad portion 350 are connected, The first and second switches SW1 and SW2 are turned on and the low potential voltage VCC applied to the other end of the first resistor R1 is connected to the first resistor R1 And the low potential voltage VCC applied to the other end of the second resistor R2 is divided by the first resistor Rp1 and the first connection pad resistor Rc1 connected in parallel to the second resistor R2 Connected to the non-inverting terminal (+) of the first and second op-amps OP1 and OP2 at this time, by the second test pin resistor Rp2 and the second connecting pad resistor Rc2 connected in parallel, The voltage is smaller than the reference voltage Vref applied to the inverting terminal (-) of the first and second operational amplifiers OP1 and OP2.

이에 따라, 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)의 출력단에서 하이 상태의 제1신호가 각각 출력된다.Thus, the first signals in a high state are output from the output terminals of the first and second op-amps OP1 and OP2, respectively.

또한, 앤드 게이트(AND)는 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)로부터 각각 하이 상태의 제1신호를 인가 받은 경우에만 전원 인에이블 신호(PWR EN)를 출력한다.The AND gate AND outputs the power enable signal PWR EN only when the first signal in the high state is applied from the first and second operational amplifiers OP1 and OP2, respectively.

즉, 앤드 게이트(AND)는 제1 및 제2오피엠프(OP1, OP2)로부터 각각 로우 상태의 제2신호를 인가 받거나, 제1 또는 제2오피엠프(OP1, OP2) 중 어느 하나로부터 로우 상태의 제2신호를 인가받는 경우에는 전원 인에이블 신호(PWR EN)를 출력하지 않는다.That is, the AND gate AND receives a second signal in the low state from the first and second operational amplifiers OP1 and OP2, and receives a second signal from either the first or the second op amp OP1 or OP2, The power supply enable signal PWR EN is not output.

또한, 앤드 게이트(AND)로부터 출력된 전원 인에이블 신호(PWR EN)는 검사장치(400)의 제어부(460)에 인가되며, 검사장치(400)의 전원 공급부(490)는 제어부(460)로부터 전원 인에이블 신호(PWR EN)를 인가 받아 표시 패널(300)에 고전위 전압(VDD)을 공급한다.The power supply enable signal PWR EN outputted from the AND gate AND is applied to the control unit 460 of the inspection apparatus 400 and the power supply unit 490 of the inspection apparatus 400 is controlled by the control unit 460 And receives the power-on enable signal PWR EN to supply the high-potential voltage VDD to the display panel 300.

이에 따라, 본 발명의 제2실시예에 따른 검사장치(400)는 검사장치(400)에 커넥터(450)와 접속 패드부(350)의 정상 연결 여부를 감지하는 연결 감지부(470)를 구비하여, 검사 시 표시 패널(300) 및 검사 장치(400)의 커넥터(450)의 체결 불량에 의해 발생되는 과전류로 인해 표시 패널(300)에 실장된 각종 회로 소자들이 손상되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.The inspection apparatus 400 according to the second embodiment of the present invention includes a connector 450 and a connection sensing unit 470 for sensing whether the connection pad unit 350 is normally connected to the inspection apparatus 400 It is possible to prevent the various circuit elements mounted on the display panel 300 from being damaged due to the overcurrent generated by the failure of fastening of the connector 450 of the display panel 300 and the inspection apparatus 400 at the time of inspection .

도5는 본 발명의 제1 및 제2실시예에 따른 검사 방법의 순서도이다.5 is a flowchart of the inspection method according to the first and second embodiments of the present invention.

도면에 도시한 바와 같이, 먼저 검사 장치 및 표시 패널의 연결 여부를 판단한다.As shown in the drawing, first, it is determined whether or not the inspection apparatus and the display panel are connected.

이 때, 검사 장치의 커넥터와 표시 패널의 접속 패드가 연결되지 않았으면 검사장치의 전원을 차단하고, 검사 장치의 커넥터와 표시패널의 접속 패드가 연결되면 검사장치에 전원을 공급한다.At this time, if the connector of the test apparatus is not connected to the connection pad of the display panel, the power of the test apparatus is turned off, and when the connector of the test apparatus is connected to the connection pad of the display panel, power is supplied to the test apparatus.

다음, 연결 감지부를 통해 검사 장치의 커넥터와 표시패널의 접속 패드가 정상적인 얼라인(align)인지 판단하다.Next, it is determined whether the connector of the testing apparatus and the connection pad of the display panel are properly aligned through the connection detecting unit.

이 때, 정상 얼라인(align)이면 검사 장치는 표시 패널에 구동 전원을 공급하여 검사를 진행하고, 미스 얼라인(miss align)인 경우 검사 장치의 전원을 차단한다.At this time, if the alignment is normal, the inspection apparatus supplies the driving power to the display panel to proceed the inspection, and in case of misalignment, the inspection apparatus is powered off.

이에 따라, 검사 시 표시 패널 및 검사 장치의 커넥터의 체결 불량에 의해 발생되는 과전류로 인해 표시 패널에 실장된 각종 회로 소자들이 손상되는 것을 방지할 수 있다.
Accordingly, it is possible to prevent the various circuit elements mounted on the display panel from being damaged due to the overcurrent generated by the defective fastening of the connector of the display panel and the inspection apparatus at the time of inspection.

본 발명은 전술한 실시예에 한정되지 아니하며, 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 이상 다양한 변화와 변형이 가능하다.
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various changes and modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

100 : 표시 패널 150 : 접속 패드부
200 : 검사 장치 170 : 연결 감지부
260 : 제어부 250 : 커넥터
290 : 전원 공급부100: display panel 150: connection pad portion
200: inspection apparatus 170: connection detection unit
260: control unit 250: connector
290: Power supply

Claims (9)

제1 및 제2검사 핀을 포함하는 커넥터를 포함하는 검사 장치에 의해 검사되는 표시 패널에 있어서,
상기 제1 및 제2검사 핀과 각각 대응되는 제1 및 제2접속 패드를 포함하는 접속 패드부; 및
검사 시, 상기 제1 및 제2검사 핀과 상기 제1 및 제2접속 패드가 각각 연결되면 전원 인에이블 신호를 출력하는 연결 감지부
를 포함하는 표시 패널.
A display panel to be inspected by a testing apparatus including a connector including first and second test pins,
A connection pad portion including first and second connection pads respectively corresponding to the first and second test pins; And
When the first and second test pins and the first and second connection pads are connected to each other,
.
제 1 항에 있어서,
상기 연결 감지부는 제1 및 제2오피엠프와 제1 및 제2저항과 앤드 게이트를 포함하며,
상기 제1 및 제2오피엠프의 비반전 단자는 상기 제1 및 제2저항의 일단과 각각 연결되고, 상기 제1 및 제2오피엠프의 출력단자는 상기 앤드 게이트의 입력단과 연결되고, 상기 제1 및 제2오피엠프의 비반전 단자는 상기 제1 및 제2접속 패드와 각각 연결되고,
상기 제1 및 제2오피엠프의 반전 단자에는 기준 전압이 각각 인가되고, 상기 제1 및 제2저항의 타단에는 저전위 전압이 각각 인가되는 표시 패널.
The method according to claim 1,
The connection sensing unit includes first and second operational amplifiers, first and second resistors and an AND gate,
Inverting terminals of the first and second operational amplifiers are respectively connected to one ends of the first and second resistors, the output terminals of the first and second operational amplifiers are connected to the input terminal of the end gate, And the non-inverting terminal of the second operational amplifier are respectively connected to the first and second connection pads,
Wherein a reference voltage is applied to the inverting terminal of each of the first and second operational amplifiers and a low potential voltage is applied to the other terminal of the first and second resistors, respectively.
제 2 항에 있어서,
상기 제1 및 제2오피엠프는 상기 비반전 단자의 전압과 상기 기준 전압을 비교하여, 상기 비반전 단자의 전압이 상기 기준 전압보다 크면 제1신호를 출력하고 상기 비반전 단자의 전압이 상기 기준 전압보다 작으면 제2신호를 출력하는 표시 패널.
3. The method of claim 2,
Wherein the first and second operational amplifiers compare the voltage of the non-inverting terminal with the reference voltage to output a first signal if the voltage of the non-inverting terminal is greater than the reference voltage, And outputs a second signal when the voltage is lower than the voltage.
제 3 항에 있어서,
상기 앤드 게이트는 상기 제1 및 제2오피엠프로부터 각각 상기 제1신호를 인가 받은 경우 전원 인에이블 신호를 출력하는 표시 패널.
The method of claim 3,
Wherein the AND gate outputs a power enable signal when the first signal is applied from the first and second op-amps, respectively.
제1 및 제2접속 패드를 포함하는 접속 패드부를 포함하는 표시 패널의 검사 장치에 있어서,
상기 제1 및 제2접속 패드와 각각 대응되는 제1 및 제2검사 핀을 포함하는 커넥터;
검사 시, 상기 제1 및 제2접속 패드와 상기 제1 및 제2검사 핀이 각각 연결되면 전원 인에이블 신호를 출력하는 연결 감지부; 및
상기 전원 인에이블 신호를 인가 받아 상기 표시 패널에 전원을 공급하는 전원 공급부
를 포함하는 표시 패널의 검사 장치.
An inspection apparatus for a display panel including a connection pad portion including first and second connection pads,
A connector including first and second test pins corresponding respectively to the first and second connection pads;
A connection sensing unit for outputting a power enable signal when the first and second connection pads are connected to the first and second inspection pins, respectively; And
A power supply unit for receiving the power supply enable signal and supplying power to the display panel,
And a display panel.
제 5 항에 있어서,
상기 연결 감지부로부터 상기 전원 인에이블 신호를 인가 받아 상기 전원 공급부에 출력하는 제어부를 더 포함하는 표시 패널의 검사 장치.
6. The method of claim 5,
And a control unit for receiving the power enable signal from the connection sensing unit and outputting the power enable signal to the power supply unit.
제 6 항에 있어서,
상기 연결 감지부는 제1 및 제2오피엠프와 제1 및 제2저항과 앤드 게이트를 포함하며,
상기 제1 및 제2오피엠프의 비반전 단자는 상기 제1 및 제2저항의 일단과 각각 연결되고, 상기 제1 및 제2오피엠프의 출력단자는 상기 앤드 게이트의 입력단과 연결되고, 상기 앤드 게이트의 출력단은 상기 제어부와 연결되고, 상기 제1 및 제2오피엠프의 비반전 단자는 상기 제1 및 제2검사 핀과 각각 연결되고,
상기 제1 및 제2오피엠프의 반전 단자에는 기준 전압이 각각 인가되고, 상기 제1 및 제2저항의 타단에는 저전위 전압이 각각 인가되는 표시 패널의 검사 장치.
The method according to claim 6,
The connection sensing unit includes first and second operational amplifiers, first and second resistors and an AND gate,
Inverting terminals of the first and second operational amplifiers are respectively connected to one ends of the first and second resistors, the output terminals of the first and second operational amplifiers are connected to the input terminal of the AND gate, Wherein the non-inverting terminal of the first and second operational amplifiers is connected to the first and second test pins, respectively,
Wherein a reference voltage is applied to the inverting terminal of each of the first and second operational amplifiers and a low potential voltage is applied to the other terminal of the first and second resistors, respectively.
제 7 항에 있어서,
상기 제1 및 제2오피엠프는 상기 비반전 단자의 전압과 상기 기준 전압을 비교하여, 상기 비반전 단자의 전압이 상기 기준 전압보다 크면 제1신호를 출력하고 상기 비반전 단자의 전압이 상기 기준 전압보다 작으면 제2신호를 출력하는 표시 패널의 검사 장치.
8. The method of claim 7,
Wherein the first and second operational amplifiers compare the voltage of the non-inverting terminal with the reference voltage to output a first signal if the voltage of the non-inverting terminal is greater than the reference voltage, And outputs a second signal when the voltage is lower than the predetermined voltage.
제 8 항에 있어서,
상기 앤드 게이트는 상기 제1 및 제2오피엠프로부터 각각 상기 제1신호를 인가 받은 경우 전원 인에이블 신호를 출력하는 표시 패널의 검사 장치.9. The method of claim 8,
Wherein the AND gate outputs a power enable signal when the first signal is applied from the first and second operational amplifiers, respectively.
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