KR20160074245A - Transparent gas barrier film and method for manufacturing transparent gas barrier film - Google Patents

Transparent gas barrier film and method for manufacturing transparent gas barrier film Download PDF

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KR20160074245A
KR20160074245A KR1020140183333A KR20140183333A KR20160074245A KR 20160074245 A KR20160074245 A KR 20160074245A KR 1020140183333 A KR1020140183333 A KR 1020140183333A KR 20140183333 A KR20140183333 A KR 20140183333A KR 20160074245 A KR20160074245 A KR 20160074245A
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transparent gas
base substrate
gas barrier
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신충환
김경각
김태현
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한화첨단소재 주식회사
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Abstract

Disclosed in the present invention are a transparent gas barrier film and a method for fabricating the same. According to one aspect of the present invention, the transparent gas barrier film includes: a base substrate; a first barrier layer disposed on the base substrate to prevent moisture from being infiltrated into the base substrate; an adhesive layer disposed on the first barrier layer to bond the first barrier layer to a second barrier layer, and formed of an organic material; and the second barrier layer disposed on the adhesive layer to prevent moisture, which is additionally produced, from being infiltrated into the adhesive layer. The second barrier layer is formed of an inorganic material having a hydrophobic property. According to one aspect of the present invention, an inorganic layer having the hydrophobic property is provided on the base substrate to effectively prevent moisture in air from being introduced.

Description

투명 가스 배리어성 필름 및 이를 제조하는 방법{TRANSPARENT GAS BARRIER FILM AND METHOD FOR MANUFACTURING TRANSPARENT GAS BARRIER FILM}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a transparent gas barrier film and a method of manufacturing the same. BACKGROUND ART < RTI ID = 0.0 >

본 발명은 가스 배리어성 필름 및 이를 제조하는 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 투명 가스 배리어성 필름 및 이를 제조하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a gas barrier film and a method of manufacturing the same, and more particularly, to a transparent gas barrier film and a method of manufacturing the same.

다양한 정보를 화면으로 구현해 주는 영상표시장치는 정보 통신 시대의 핵심 기술로 더 얇고 더 가볍고 휴대가 가능하면서도 고성능의 방향으로 발전하고 있다. 이에 음극선관(CRT)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 평판표시장치로 유기 발광층의 발광량을 제어하여 영상을 표시하는 유기전계발광 표시장치(OLED) 등이 각광받고 있다. 상기 유기전계발광 표시장치는 전극 사이의 얇은 발광층을 이용한 자발광 소자로 종이와 같이 박막화가 가능하다는 장점이 있다. The image display device that realizes various information on the screen is a core technology of the information communication age and it is becoming thinner, lighter, more portable and higher performance. An organic light emitting display (OLED) for displaying an image by controlling the amount of light emitted from the organic light emitting layer by using a flat panel display capable of reducing weight and volume, which is a disadvantage of a cathode ray tube (CRT) The organic light emitting display device is a self-luminous device using a thin light emitting layer between electrodes, and has an advantage that it can be made as thin as paper.

일반적인 유기전계발광 표시장치는 기판에 서브화소 구동부 어레이와 유기전계발광 어레이가 형성된 구조로, 유기전계발광 어레이의 유기발광소자에서 방출된 빛이 기판 또는 배리어층을 통과하면서 화상을 표시하게 된다.A general organic light emitting display has a structure in which a sub-pixel driver array and an organic electroluminescent array are formed on a substrate, and light emitted from the organic electroluminescent array of the organic electroluminescent array passes through the substrate or the barrier layer to display an image.

유기발광소자는 산소에 의한 전극 및 발광층의 열화, 발광층-계면간의 반응에 의한 열화 등 내적 요인에 의한 열화가 있는 동시에 외부의 수분, 산소, 자외선 및 소자의 제작 조건 등 외적 요인에 의해 쉽게 열화가 일어나는 단점이 있다. 특히 외부의 산소와 수분은 소자의 수명에 치명적인 영향을 주므로 유기전계발광 표시장치에 있어, 상기 산소와 수분의 침투를 방지하는 것은 매우 중요하다.The organic light emitting device has deterioration due to internal factors such as deterioration of the electrode and the light emitting layer caused by oxygen, deterioration due to reaction between the light emitting layer and the interface, and deterioration easily due to external factors such as moisture, oxygen, ultraviolet rays, There are disadvantages that occur. In particular, it is very important to prevent penetration of oxygen and moisture in the organic electroluminescent display device because external oxygen and moisture have a critical effect on the lifetime of the device.

일반적으로 유기발광다이오드(OLED)와 같은 유기발광소자는 외부 광원을 필요로 하지 않고 스스로 발광하는 발광소자로 특히, 높은 발광 효율을 가지며, 휘도 및 시야각이 뛰어나며 응답속도가 빠르다는 장점을 갖는다. 하지만, 대기 중의 수분이나 산소와 같은 가스가 발광소자의 내측으로 유입되어 전극이 산화되거나 소자 자체의 열화가 진행되면서 수명이 단축되고 발광 휘도, 발광 효율 및 발광 균일성이 점차적으로 열화된다는 단점이 있다. 이러한 문제점들을 해결하기 위해 수분과 산소와의 접촉을 억제하기 위한 유기발광소자를 밀봉하는 다양한 기술들이 연구되고 있다.In general, an organic light emitting diode such as an organic light emitting diode (OLED) is a light emitting device that does not require an external light source and emits light by itself, and has an advantage of high luminous efficiency, excellent luminance and viewing angle, and high response speed. However, there is a disadvantage in that the gas such as moisture and oxygen in the air flows into the light emitting device to oxidize the electrodes or deteriorate the device itself, shortening the life span and gradually degrading the light emitting luminance, the light emitting efficiency, and the light emitting uniformity . In order to solve these problems, various techniques for sealing organic light emitting devices for suppressing contact between moisture and oxygen have been studied.

한국등록특허 제10-1148144호(2012.05.23 공고)Korean Patent No. 10-1148144 (published on May 23, 2012)

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 소수성을 갖는 무기막층을 구비하는 투명 가스 배리어성 필름 및 이를 제조하는 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide a transparent gas barrier film having an inorganic film layer having hydrophobic property and a method of manufacturing the same.

본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있으며, 본 발명의 실시 예에 의해 보다 분명하게 알게 될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허청구범위에 나타낸 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.Other objects and advantages of the present invention will become apparent from the following description, and it will be understood by those skilled in the art that the present invention is not limited thereto. It will also be readily apparent that the objects and advantages of the invention may be realized and attained by means of the instrumentalities and combinations particularly pointed out in the appended claims.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 투명 가스 배리어성 필름은, 베이스 기재; 상기 베이스 기재의 상부에 위치하여 수분의 침투를 방지하는 제 1 배리어층; 상기 제 1 배리어층의 상부에 위치하여 상기 제 1 배리어층과 제 2 배리어층을 접착시키는 역할을 하는 유기물로 이루어진 접착층; 및 상기 접착층의 상부에 위치하여 추가적으로 발생할 수 있는 수분의 침투를 방지하는 역할을 하는 제 2 배리어층;을 포함하고, 상기 제 2 배리어층은 소수성을 갖는 무기물로 이루어진다.According to an aspect of the present invention, there is provided a transparent gas barrier film comprising: a base substrate; A first barrier layer positioned above the base substrate to prevent penetration of moisture; An adhesive layer disposed on the first barrier layer and configured to adhere the first barrier layer and the second barrier layer; And a second barrier layer positioned above the adhesive layer and serving to prevent penetration of moisture that may be additionally generated, wherein the second barrier layer is made of an inorganic material having hydrophobicity.

상기 제 2 배리어층은 산화하프늄(HfOx)로 이루어지며, 상기 산화하프늄(HfOx)은 32 내지 37.5at%의 하프늄(Hf) 및 잔부가 62.5 내지 68at%의 산소(O)을 함유할 수 있다.Wherein the second barrier layer is comprised of hafnium oxide (HfO x ), wherein the hafnium oxide (HfO x ) may contain 32 to 37.5 at% of hafnium (Hf) and the remainder of 62.5 to 68 at% have.

상기 제 2 배리어층은 95도 이상의 접촉각을 형성할 수 있다.The second barrier layer may form a contact angle of greater than 95 degrees.

상기 제 1 배리어층은 SiOx, SiNx, SiOxNy, AlxOy, AlxNy, NiOx, CoOx, MgO 중 어느 하나 이상의 무기막으로 이루어질 수 있다. The first barrier layer may be made of at least one of SiOx, SiNx, SiOxNy, AlxOy, AlxNy, NiOx, CoOx, and MgO.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 측면에 따른 투명 가스 배리어성 필름의 제조 방법은, 베이스 기재의 상부에 수분의 침투를 방지하는 제 1 배리어층을 형성하는 단계; 상기 제 1 배리어층의 상부에 상기 제 1 배리어층과 제 2 배리어층을 접착시키는 역할을 하는 유기물로 이루어진 접착층을 형성하는 단계; 및 상기 접착층의 상부에 추가적으로 발생할 수 있는 수분의 침투를 방지하는 역할을 하는 소수성을 갖는 무기물로 이루어진 제 2 배리어층을 형성하는 단계;를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of fabricating a transparent gas barrier film, including: forming a first barrier layer on an upper portion of a base substrate to prevent moisture from penetrating; Forming an adhesive layer made of an organic material on the first barrier layer and serving to adhere the first barrier layer and the second barrier layer; And forming a second barrier layer made of an inorganic material having hydrophobicity to prevent penetration of moisture, which may be additionally generated in the upper portion of the adhesive layer.

상기 제 2 배리어층은 산화하프늄(HfOx)로 이루어지며, 상기 산화하프늄(HfOx)은 32 내지 37.5at%의 하프늄(Hf) 및 잔부가 62.5 내지 68at%의 산소(O)을 함유할 수 있다.Wherein the second barrier layer is comprised of hafnium oxide (HfO x ), wherein the hafnium oxide (HfO x ) may contain 32 to 37.5 at% of hafnium (Hf) and the remainder of 62.5 to 68 at% have.

상기 제 2 배리어층은 95도 이상의 접촉각을 형성할 수 있다.The second barrier layer may form a contact angle of greater than 95 degrees.

본 발명의 일 측면에 따르면, 베이스 기재 상에 소수성을 갖는 무기막층을 구비하여 대기 중의 수분이 유입되는 것을 효과적으로 방지할 수 있는 효과가 있다.According to an aspect of the present invention, an inorganic film layer having hydrophobicity is provided on a base substrate to effectively prevent moisture from entering the atmosphere.

또한, 베이스 기재 상에 접착층과 배리어층의 증착을 한 챔버내에서 수행하여 비용을 절감할 수 있다.Further, it is possible to reduce the cost by performing the deposition in the chamber in which the adhesive layer and the barrier layer are deposited on the base substrate.

본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시하는 것이며, 후술되는 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니된다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름의 적층 구성을 나타낸 도면,
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름을 제조하는 방법에 대한 흐름도,
도 3은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름을 제조하는 방법에 대한 흐름도,
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름의 실험 결과를 나타낸 도면이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The accompanying drawings, which are incorporated in and constitute a part of the specification, illustrate preferred embodiments of the invention and, together with the description of the invention given below, serve to further the understanding of the technical idea of the invention. And should not be construed as limiting.
1 is a view showing a lamination structure of a transparent gas barrier film according to an embodiment of the present invention,
2 is a flow chart of a method for producing a transparent gas barrier film according to an embodiment of the present invention,
3 is a flow chart of a method for producing a transparent gas barrier film according to another embodiment of the present invention,
4 is a graph showing an experimental result of a transparent gas barrier film according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시 예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Prior to this, terms and words used in the present specification and claims are to be construed in accordance with the technical idea of the present invention based on the principle that the concept of a term can be properly defined in order to describe its own invention in the best way It must be interpreted as meaning and concept. Therefore, the embodiments described in this specification and the configurations shown in the drawings are merely the most preferred embodiments of the present invention and do not represent all the technical ideas of the present invention. Therefore, It is to be understood that equivalents and modifications are possible.

또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름의 적층 구성을 나타낸 도면이다.1 is a view showing a lamination structure of a transparent gas barrier film according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름은 베이스 기재(100), 제 1 배리어층(200), 접착층(300) 및 제 2 배리어층(400)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, the transparent gas barrier film according to the present embodiment may include a base substrate 100, a first barrier layer 200, an adhesive layer 300, and a second barrier layer 400.

베이스 기재(100)는 고분자 플라스틱 필름일 수 있으며, 바람직하게 PET(polyethylene terephthalate), COP(Cyclo Olefin Polymer), PC(polycarbonate) 등 일 수 있다. 하지만, 상기 베이스 기재(100)는 이에 한하지 않으며, OLED 봉지제, OPV 봉지제 등을 제조할 수 있으면 관계없다. 일반적으로, 상기 베이스 기재(100)는 15~100㎛ 두께로 형성될 수 있다.The base substrate 100 may be a polymer plastic film, and may preferably be PET (polyethylene terephthalate), COP (Cyclo Olefin Polymer), PC (polycarbonate), or the like. However, the base substrate 100 is not limited thereto, and it is not necessary to be able to manufacture an OLED encapsulant, an OPV encapsulant, or the like. Generally, the base substrate 100 may have a thickness of 15 to 100 탆.

제 1 배리어층(200)은 상기 베이스 기재(100)의 상부에 형성되어 수분의 침투를 1차로 방지하는 역할을 할 수 있다.The first barrier layer 200 may be formed on the base substrate 100 to primarily prevent the penetration of moisture.

이때, 상기 제 1 배리어층(200)은 무기막일 수 있으며, 바람직하게 SiOx, SiNx, SiOxNy, AlxOy, AlxNy, NiOx, CoOx, MgO 중 어느 하나 이상의 물질로 형성될 수 있다.At this time, the first barrier layer 200 may be an inorganic film, and may be formed of at least one of SiOx, SiNx, SiOxNy, AlxOy, AlxNy, NiOx, CoOx, and MgO.

접착층(300)은 상기 제 1 배리어층(200)의 상부에 형성되며, 후술할 제 2 배리어층(400)과 상기 제 1 배리어층(200)을 접착시키는 역할을 할 수 있다. 바람직하게, 상기 접착층(300)은 유기물로 이루어질 수 있다.The adhesive layer 300 may be formed on the first barrier layer 200 to adhere the second barrier layer 400 and the first barrier layer 200 to each other. Preferably, the adhesive layer 300 may be formed of an organic material.

제 2 배리어층(400)은 상기 접착층(300)의 상부에 형성되어 수분의 침투를 2차로 방지하는 역할을 할 수 있다.The second barrier layer 400 may be formed on the adhesive layer 300 to prevent moisture from penetrating into the second barrier layer 400.

상기 제 2 배리어층(400)은 소수성을 갖는 무기물일 수 있다. 일반적으로, 소수성을 갖는 물질은 액체와의 접촉각이 90도 이상이다. 바람직하게, 상기 소수성을 갖는 무기물은 산화하프늄(HfOx)일 수 있으며, 상기 산화하프늄(HfOx)은 32 내지 37.5at%의 하프늄(Hf) 및 잔부가 62.5 내지 68at%의 산소(O)을 함유할 경우 수분 침투 방지 효과가 우수하다. 예컨대, 본 실시 예에 따르면, 상기 범위를 포함하는 산화하프늄(HfOx)으로 형성된 상기 제 2 배리어층(400)은 95도 이상의 높은 접촉각을 가지며, 이에 따라 낮은 젖음성 즉, 소수성이 강해 낮은 표면 에너지를 가짐으로써 수분 침투 방지 효과가 우수하다. 이때, 상기 접촉각은 고체표면의 젖음성을 나타내는 척도로서, 액체가 고체 표면 위에서 열역학적으로 평형을 이룰 때 가지는 각을 말한다. 상기 접촉각은 대부분 고착된 물방울에 의해 측정하며, 그 값이 낮으면 친수성이 강하고, 그 값이 높으면 소수성이 강하다. 이와 관련한 자세한 설명은 도 4를 통해 설명하기로 한다.The second barrier layer 400 may be an inorganic material having hydrophobicity. Generally, a hydrophobic substance has a contact angle with liquid of 90 degrees or more. Preferably, the hydrophobic inorganic material may be hafnium oxide (HfO x ), wherein the hafnium oxide (HfO x ) comprises 32 to 37.5 at% hafnium (Hf) and the remainder is 62.5 to 68 at% oxygen When it is contained, it has excellent effect of preventing moisture penetration. For example, according to this embodiment, the second barrier layer 400 formed of hafnium oxide (HfO x ) containing the above range has a high contact angle of 95 degrees or higher, and thus has low wettability, that is, The effect of preventing moisture permeation is excellent. The contact angle is a measure of the wettability of a solid surface, and refers to an angle when the liquid equilibrates thermodynamically on a solid surface. The contact angle is measured by most of the fixed water droplets. When the value is low, the hydrophilic property is strong. When the value is high, the hydrophobic property is strong. A detailed description thereof will be given with reference to FIG.

상기 제 2 배리어층(400)은 상기 접착층(300)의 상부에 화학기상증착법(Chemical Vapor Deposition : CVD)을 이용하여 형성될 수 있다. 이때, 상기 화학기상증착법(Chemical Vapor Deposition : CVD)은 CCP(Capacitively Coupled Plasma) 화학기상증착법 또는 ICP(Inductively Coupled Plasma) 화학기상 증착법 중 어느 하나일 수 있다. The second barrier layer 400 may be formed on the adhesive layer 300 by using a chemical vapor deposition (CVD) method. In this case, the chemical vapor deposition (CVD) may be any one of CCP (Capacitively Coupled Plasma) chemical vapor deposition and ICP (Inductively Coupled Plasma) chemical vapor deposition.

상기 제 2 배리어층(400)을 포함하는 필름은 빛의 투과도가 낮을 경우 빛의 발광 효율이 떨어져 제품의 신뢰성을 감소시킬 수 있으므로, 상기 투과도 측정시 투과율이 85%이상인 것이 바람직하다.When the light transmittance of the film including the second barrier layer 400 is low, the luminous efficiency of the light may be low and the reliability of the product may be reduced. Therefore, the transmittance of the film including the second barrier layer 400 is preferably 85% or more.

상술한 투명 배리어성 필름을 형성하는 각 층은 베이스 기재(100)의 상부에 제 1 배리어층(200), 접착층(300) 및 제 2 배리어층(400)을 한 챔버 내에서 연속적인 공정을 통해 형성하므로 공정 비용을 절감할 수 있다.Each of the layers forming the above-described transparent barrier film is formed by sequentially performing a first barrier layer 200, an adhesive layer 300, and a second barrier layer 400 on a base substrate 100 in a chamber So that the process cost can be reduced.

또한, 상기 제 2 배리어층(400)은 스퍼터링 공정과 같은 진공증착법을 통해 형성될 수도 있다. 하지만, 상기 제 2 배리어층(400)은 유기물로 이루어진 접착층(300)의 상부에 상기 스퍼터링과 같은 증착법을 이용할 경우 바로 형성할 수 없다. 이와 관련한 보다 자세한 설명은 도 3을 통해 후술하기로 한다.In addition, the second barrier layer 400 may be formed by a vacuum deposition method such as a sputtering process. However, the second barrier layer 400 can not be formed directly on the adhesive layer 300 made of an organic material by using a deposition method such as sputtering. A more detailed description will be given later with reference to FIG.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름을 제조하는 방법에 대한 흐름도이다.2 is a flow chart of a method for producing a transparent gas barrier film according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 우선 준비된 베이스 기재(100)의 상부에 제 1 배리어층(200)을 형성한다(S210). 이때, 베이스 기재(100)는 고분자 플라스틱 필름일 수 있으며, 바람직하게 PET(polyethylene terephthalate), COP(Cyclo Olefin Polymer), PC(polycarbonate) 등 일 수 있다.Referring to FIG. 2, a first barrier layer 200 is formed on the prepared base substrate 100 (S210). In this case, the base substrate 100 may be a polymer plastic film, preferably PET (polyethylene terephthalate), COP (Cyclo Olefin Polymer), PC (polycarbonate), or the like.

일반적으로, 상기 베이스 기재(100)는 15~100㎛ 두께로 형성될 수 있다.Generally, the base substrate 100 may have a thickness of 15 to 100 탆.

상기 제 1 배리어층(200)은 상기 베이스 기재(100)의 상부에 형성되어 수분의 침투를 1차로 방지하는 역할을 할 수 있다. 이때, 상기 제 1 배리어층(200)은 무기막일 수 있으며, 바람직하게 SiOx, SiNx, SiOxNy, AlxOy, AlxNy, NiOx, CoOx, MgO 중 어느 하나 이상의 물질로 형성될 수 있다.The first barrier layer 200 may be formed on the upper surface of the base substrate 100 to primarily prevent moisture from penetrating the barrier layer. At this time, the first barrier layer 200 may be an inorganic film, and may be formed of at least one of SiOx, SiNx, SiOxNy, AlxOy, AlxNy, NiOx, CoOx, and MgO.

상기 제 1 배리어층(200)은 상기 베이스 기재(100)의 상부에 화학기상증착법(Chemical Vapor Deposition : CVD)을 이용하여 형성될 수 있다. 이때, 상기 화학기상증착법(Chemical Vapor Deposition : CVD)은 CCP(Capacitively Coupled Plasma) 화학기상증착법 또는 ICP(Inductively Coupled Plasma) 화학기상 증착법 중 어느 하나일 수 있다.The first barrier layer 200 may be formed on the base substrate 100 by using a chemical vapor deposition (CVD) method. In this case, the chemical vapor deposition (CVD) may be any one of CCP (Capacitively Coupled Plasma) chemical vapor deposition and ICP (Inductively Coupled Plasma) chemical vapor deposition.

이후, 상기 제 1 배리어층(200)의 상부에 접착층(300)을 형성한다(S230).Thereafter, an adhesive layer 300 is formed on the first barrier layer 200 (S230).

상기 접착층(300)은 상기 제 1 배리어층(200)과 제 2 배리어층(400)을 접착시키는 역할을 한다. 바람직하게, 상기 접착층(300)은 유기물로 이루어질 수 있다.The adhesive layer 300 serves to bond the first barrier layer 200 and the second barrier layer 400 to each other. Preferably, the adhesive layer 300 may be formed of an organic material.

상기 접착층(300)은 상기 제 1 배리어층(200)의 상부에 화학기상증착법(Chemical Vapor Deposition : CVD)을 이용하여 형성될 수 있다. 이때, 상기 화학기상증착법(Chemical Vapor Deposition : CVD)은 CCP(Capacitively Coupled Plasma) 화학기상증착법 또는 ICP(Inductively Coupled Plasma) 화학기상 증착법 중 어느 하나일 수 있다.The adhesive layer 300 may be formed on the first barrier layer 200 by using a chemical vapor deposition (CVD) method. In this case, the chemical vapor deposition (CVD) may be any one of CCP (Capacitively Coupled Plasma) chemical vapor deposition and ICP (Inductively Coupled Plasma) chemical vapor deposition.

마지막으로, 상기 접착층(300)의 상부에 제 2 배리어층(400)을 형성한다(S250).Finally, a second barrier layer 400 is formed on the adhesive layer 300 (S250).

상기 제 2 배리어층(400)은 상기 접착층(300)의 상부에 형성되어 수분의 침투를 2차로 방지하는 역할을 할 수 있다.The second barrier layer 400 may be formed on the adhesive layer 300 to prevent moisture from penetrating into the second barrier layer 400.

상기 제 2 배리어층(400)은 소수성을 갖는 무기물일 수 있다. 일반적으로, 소수성을 갖는 물질은 액체와의 접촉각이 90도 이상이다. 바람직하게, 상기 소수성을 갖는 무기물은 산화하프늄(HfOx)일 수 있으며, 상기 산화하프늄(HfOx)은 32 내지 37.5at%의 하프늄(Hf) 및 잔부가 62.5 내지 68at%의 산소(O)을 함유할 경우 수분 침투 방지 효과가 우수하다. 예컨대, 본 실시 예에 따르면, 상기 범위를 포함하는 산화하프늄(HfOx)으로 형성된 제 2 배리어층(400)은 95도 이상의 높은 접촉각을 가지며, 이에 따라 낮은 젖음성 즉, 소수성이 강해 낮은 표면 에너지를 가짐으로써 수분 침투 방지 효과가 우수하다. 이때, 상기 접촉각은 고체표면의 젖음성을 나타내는 척도로서, 액체가 고체 표면 위에서 열역학적으로 평형을 이룰 때 가지는 각을 말한다. 상기 접촉각은 대부분 고착된 물방울에 의해 측정하며, 그 값이 낮으면 친수성이 강하고, 그 값이 높으면 소수성이 강하다. 이와 관련한 자세한 설명은 도 4를 통해 설명하기로 한다.The second barrier layer 400 may be an inorganic material having hydrophobicity. Generally, a hydrophobic substance has a contact angle with liquid of 90 degrees or more. Preferably, the hydrophobic inorganic material may be hafnium oxide (HfO x ), wherein the hafnium oxide (HfO x ) comprises 32 to 37.5 at% hafnium (Hf) and the remainder is 62.5 to 68 at% oxygen When it is contained, it has excellent effect of preventing moisture penetration. For example, according to the present embodiment, the second barrier layer 400 formed of hafnium oxide (HfO x ) having the above range has a high contact angle of 95 degrees or higher, and thus has low wettability, that is, The effect of preventing moisture penetration is excellent. The contact angle is a measure of the wettability of a solid surface, and refers to an angle when the liquid equilibrates thermodynamically on a solid surface. The contact angle is measured by most of the fixed water droplets. When the value is low, the hydrophilic property is strong. When the value is high, the hydrophobic property is strong. A detailed description thereof will be given with reference to FIG.

상기 제 2 배리어층(400)은 상기 접착층(300)의 상부에 화학기상증착법(Chemical Vapor Deposition : CVD)을 이용하여 형성될 수 있다. 이때, 상기 화학기상증착법(Chemical Vapor Deposition : CVD)은 CCP(Capacitively Coupled Plasma) 화학기상증착법 또는 ICP(Inductively Coupled Plasma) 화학기상 증착법 중 어느 하나일 수 있다. The second barrier layer 400 may be formed on the adhesive layer 300 by using a chemical vapor deposition (CVD) method. In this case, the chemical vapor deposition (CVD) may be any one of CCP (Capacitively Coupled Plasma) chemical vapor deposition and ICP (Inductively Coupled Plasma) chemical vapor deposition.

상기 제 2 배리어층(400)을 포함하는 필름은 빛의 투과도가 낮을 경우 빛의 발광 효율이 떨어져 제품의 신뢰성을 감소시킬 수 있으므로, 상기 투과도 측정시 투과율이 85%이상인 것이 바람직하다.When the light transmittance of the film including the second barrier layer 400 is low, the luminous efficiency of the light may be low and the reliability of the product may be reduced. Therefore, the transmittance of the film including the second barrier layer 400 is preferably 85% or more.

상술한 투명 배리어성 필름을 형성하는 각 층은 베이스 기재(100)의 상부에 제 1 배리어층(200), 접착층(300) 및 제 2 배리어층(400)을 한 챔버 내에서 연속적인 공정을 통해 형성하므로 공정 비용을 절감할 수 있다.Each of the layers forming the above-described transparent barrier film is formed by sequentially performing a first barrier layer 200, an adhesive layer 300, and a second barrier layer 400 on a base substrate 100 in a chamber So that the process cost can be reduced.

도 3은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름을 제조하는 방법에 대한 흐름도이다.3 is a flow chart of a method for producing a transparent gas barrier film according to another embodiment of the present invention.

본 발명의 다른 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름은 상술한 화학기상증착법(Chemical Vapor Deposition : CVD) 이외에 스퍼터링과 같은 증착법을 이용하여 형성할 수 있다. 본 실시 예에 따른 필름은 제조 방법에 이용되는 증착법 이외에 각 층의 기능 및 효과는 동일하므로, 상기 스퍼터링을 이용한 제조 방법에 대해서만 설명하기로 한다.The transparent gas barrier film according to another embodiment of the present invention may be formed using a deposition method such as sputtering in addition to the above-described chemical vapor deposition (CVD). Since the function and effect of each layer are the same in addition to the deposition method used in the manufacturing method of the film according to the present embodiment, only the manufacturing method using the sputtering will be described.

도 3의 (a) 내지 (e)를 참조하면, 베이스 기재(310)의 상부에 제 1 배리어층(320)을 스퍼터링 방법을 이용해 형성하고(도 3의 (a)), 상기 제 1 배리어층(320)의 상부에 상기 제 1 배리어층(320)과 제 2 배리어층(360)을 접착하는 역할을 하는 접착층(330)을 도포하여 제 1 필름을 제조한다(도 3의 (b)).3 (a) to 3 (e), a first barrier layer 320 is formed on the base substrate 310 using a sputtering method (FIG. 3A) The first barrier layer 320 and the second barrier layer 360 are coated with an adhesive layer 330 to form a first film (FIG. 3 (b)).

이후, 베이스 기재(350)의 일측에 제 2 배리어층(360)을 스퍼터링 방법을 이용해 형성하여 제 2 필름을 제조한다(도 3의 (c)).Thereafter, a second barrier layer 360 is formed on one side of the base substrate 350 using a sputtering method to produce a second film (FIG. 3 (c)).

다음으로, 상기 제 1 필름의 접착층(330)이 형성된 부분과 상기 제 2 필름의 제 2 배리어층(360)이 형성된 부분을 맞대어 접착시킨다(도 3의 (d)).Next, the portion of the first film on which the adhesive layer 330 is formed and the portion of the second film on which the second barrier layer 360 is formed are butted against each other (FIG. 3 (d)).

이후, 상기 제 2 필름에 형성된 베이스 기재(350)를 에칭을 통해 제거한다(도 3의 (e)).Thereafter, the base material 350 formed on the second film is removed by etching (Fig. 3 (e)).

투명 가스 배리어성 필름은 스퍼터링과 같은 증착법을 이용하여 제조하는 상술한 방법 이외에, 베이스 기재(310)의 상부에 제 1 배리어층(320)을 진공 챔버 안에 넣어 스퍼터링 방법을 이용해 형성하고, 제 1 배리어층(320)까지 형성된 필름을 진공 챔버 밖으로 꺼내 유기물로 형성된 접착층을 도포한 뒤 다시 진공 챔버에 넣어 스퍼터링 방법을 이용해 제 2 배리어층(360)을 형성함으로써 제조할 수 있다.The first barrier layer 320 is formed on the top of the base substrate 310 in a vacuum chamber by sputtering in addition to the above-described method of manufacturing the transparent gas barrier film using a deposition method such as sputtering, The film formed up to the layer 320 may be taken out of the vacuum chamber to apply an adhesive layer formed of an organic material and then put into the vacuum chamber to form the second barrier layer 360 by a sputtering method.

이하, 본 발명을 하기 실험예를 들어 더욱 상세하게 설명하기로 한다.
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the following experimental examples.

평가시료 준비Evaluation sample preparation

1. 베이스 기재(예컨대, 고분자 플라스틱 필름) 상에 진공 증착법을 활용하여 제 1 배리어층, 접착층 및 제 2 배리어층을 차례로 증착하였다. 이때, 상기 증착은 화학기상증착법(Chemical Vapor Deposition : CVD)을 이용하여 이루어질 수 있다. 상기 화학기상증착법(Chemical Vapor Deposition : CVD)은 CCP(Capacitively Coupled Plasma) 화학기상증착법 또는 ICP(Inductively Coupled Plasma) 화학기상증착법 중 어느 하나일 수 있다. 또한, 증착은 스퍼터링 공정과 같은 진공증착법을 통해 형성될 수도 있다. CVD의 경우 Silane, HMDSO, 질소, 산소, 암모니아 가스 등을 사용하였으며 소스는 RF를 사용하였다. 상기 증착한 제 1 배리어층은 그 두께를 100nm, 제 2 배리어층은 그 두께를 500nm를 가지도록 하였다.1. A first barrier layer, an adhesive layer and a second barrier layer are sequentially deposited on a base substrate (for example, a polymer plastic film) by vacuum deposition. At this time, the deposition may be performed using chemical vapor deposition (CVD). The chemical vapor deposition (CVD) may be any one of capacitively coupled plasma (CCP) chemical vapor deposition and inductively coupled plasma (ICP) chemical vapor deposition. In addition, the deposition may be performed by a vacuum deposition method such as a sputtering process. Silane, HMDSO, nitrogen, oxygen and ammonia gas were used for CVD, and RF was used as the source. The thickness of the deposited first barrier layer was 100 nm, and the thickness of the second barrier layer was 500 nm.

테스트Test

1. 수분 투과율(Water Vapor Transmission Rate : WVTR) 측정1. Measurement of Water Vapor Transmission Rate (WVTR)

: 10cm X 10cm 샘플영역에 있어 챔버 진공상태 유지 후 40℃, 습도 90% 환경을 유지하며 수분을 샘플에 흘려주어 샘플을 투과한 아래쪽 챔버 수분량을 측정하여 수분투과도를 측정한다.(Techmoloc社 deltaperm): 10cm X 10cm After maintaining the vacuum state of the chamber in the sample area, measure the water permeability of the lower chamber (Techmoloc deltaperm) by passing the moisture through the sample while maintaining the environment at 40 ° C and 90% humidity.

2. 투과도 측정2. Measurement of permeability

: 30mm X 30mm 영역에서 가시광(0.35㎛ 내지 0.7㎛) 빛에 대한 투과도를 측정한다.(코니카 미놀타, CM-5 이용): Measurement of the transmittance of visible light (0.35 탆 to 0.7 탆) light in a region of 30 mm X 30 mm (using Konica Minolta, CM-5)

3. 접촉각 측정3. Contact angle measurement

: 접촉각/표면에너지 분석기를 활용한다.(Phoenix 300 이용)
: Use contact angle / surface energy analyzer (using Phoenix 300)

결과result

상기 테스트에 대한 결과는 도 4에 도시된 바와 같다.The results for the test are as shown in FIG.

도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름의 실험 결과를 나타낸 도면이다.4 is a graph showing an experimental result of a transparent gas barrier film according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하여 본 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름의 우수성을 설명하면 다음과 같다.The superiority of the transparent gas barrier film according to this embodiment will be described with reference to FIG.

본 실시 예에 따른 투명 가스 배리어성 필름은 베이스 기재의 상부에 제 1 배리어층, 접착층 및 제 2 배리어층을 차례로 형성한다.The transparent gas barrier film according to this embodiment sequentially forms a first barrier layer, an adhesive layer, and a second barrier layer on the base substrate.

이때, 상기 제 2 배리어층은 수분의 침투를 2차로 방지하는 역할을 수행할 수 있으며, 상기 제 2 배리어층은 소수성을 갖는 무기물로 형성할 수 있다. 바람직하게, 상기 소수성을 갖는 무기물은 산화하프늄(HfOx)일 수 있으며, 상기 산화하프늄(HfOx)은 32 내지 37.5at%의 하프늄(Hf) 및 잔부가 62.5 내지 68at%의 산소(O)을 함유할 경우 수분 침투 방지 효과가 우수하다(실시예 1 내지 3).At this time, the second barrier layer may function to prevent moisture penetration secondarily, and the second barrier layer may be formed of an inorganic material having hydrophobicity. Preferably, the hydrophobic inorganic material may be hafnium oxide (HfO x ), wherein the hafnium oxide (HfO x ) comprises 32 to 37.5 at% hafnium (Hf) and the remainder is 62.5 to 68 at% oxygen (Examples 1 to 3). ≪ tb >< TABLE >

즉, 제 2 배리어층이 소수성을 갖는 무기물인 산화하프늄(HfOx)으로 형성되어, 하프늄(Hf)이 32 내지 37.5at%이고 잔부가 62.5 내지 68at%의 산소(O)를 함유하는 실시예 1 내지 3은, 적층구조는 동일하지만 상기 산화화프늄(HfOx)에 함유된 하프늄(Hf)과 산소(O)의 함유량이 상기 조건을 벗어나는 비교예 1 내지 3에 비해 접촉각이 크며(95도 이상), 이에 따라 수분 투과율(WVTR)이 10-4이하로 낮아져 수분 침투 방지 효과가 더 우수함을 알 수 있다. 일반적으로, 소수성을 갖는 물질은 액체와의 접촉각이 90도 이상이다. 이때, 상기 접촉각은 고체표면의 젖음성을 나타내는 척도로서, 액체가 고체 표면 위에서 열역학적으로 평형을 이룰 때 가지는 각을 말한다. 상기 접촉각은 대부분 고착된 물방울에 의해 측정하며, 그 값이 낮으면 친수성이 강하고, 그 값이 높으면 소수성이 강하다. 또한, 상기 수분 투과율(WVTR)은 수분이 투과되는 정도를 나타내는 인자 값으로, 값이 낮을수록 좋은 특성을 나타낸다. 그리고, 투과율은 필름이 빛을 통과시키는 정도를 나타내기 위한 인자값으로, 투과도가 낮을 경우 빛의 발광 효율이 떨어져 제품의 신뢰성을 감소시킬 수 있으므로, 상기 투과도 측정시 투과율이 85%이상인 것이 바람직하다.That is, in the case where the second barrier layer is made of hafnium oxide (HfO x ), which is an inorganic material having hydrophobicity, and contains hafnium (Hf) in an amount of 32 to 37.5 at% and the remainder in an amount of 62.5 to 68 at% to 3, the laminated structure is the same but the oxidation Chemistry peunyum (HfO x) of hafnium (Hf) and a large contact angle content compared to the comparative examples 1 to 3 fall outside the conditions of the oxygen (O) (95 degrees or more contained in the ), And as a result, the water permeability (WVTR) is lowered to 10 -4 or less, which shows that the water penetration prevention effect is more excellent. Generally, a hydrophobic substance has a contact angle with liquid of 90 degrees or more. The contact angle is a measure of the wettability of a solid surface, and refers to an angle when the liquid equilibrates thermodynamically on a solid surface. The contact angle is measured by most of the fixed water droplets. When the value is low, the hydrophilic property is strong. When the value is high, the hydrophobic property is strong. In addition, the water permeability (WVTR) is a factor indicating the degree of permeation of water, and the lower the value, the better the property. The transmittance is a factor for indicating the extent to which the film passes through the light. When the transmittance is low, the efficiency of light emission is low and the reliability of the product is reduced. Therefore, it is preferable that the transmittance is 85% .

상술한 바와 같이, 베이스 기재의 상부에 무기물로 이루어진 제 1 배리어층을 형성하고, 상기 제 1 배리어층의 상부에 유기물로 이루어진 접착층을 형성한 후, 상기 접착층의 상부에 소수성을 갖는 무기물 즉, 산화하프늄(HfOx)을 하프늄(Hf)이 32 내지 37.5at%이고 잔부가 62.5 내지 68at%의 산소(O)를 함유하는 제 2 배리어층을 형성하면, 투과율 및 수분 투과율(WVTR)이 우수한 투명 가스 배리어성 필름을 얻을 수 있다.As described above, a first barrier layer made of an inorganic material is formed on the base substrate, an adhesive layer made of an organic material is formed on the first barrier layer, and an inorganic substance having hydrophobicity When the second barrier layer containing hafnium (HfO x ) in an amount of 32 to 37.5 at% of hafnium (Hf) and oxygen (O) in the remaining amount of 62.5 to 68 at% is formed, a transparent barrier film having excellent transmittance and water permeability (WVTR) A barrier film can be obtained.

이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. It will be understood that various modifications and changes may be made without departing from the scope of the appended claims.

100 : 베이스 기재
200 : 제 1 배리어층
300 : 접착층
400 : 제 2 배리어층
100: base substrate
200: first barrier layer
300: adhesive layer
400: second barrier layer

Claims (7)

베이스 기재;
상기 베이스 기재의 상부에 위치하여 수분의 침투를 방지하는 제 1 배리어층;
상기 제 1 배리어층의 상부에 위치하여 상기 제 1 배리어층과 제 2 배리어층을 접착시키는 역할을 하는 유기물로 이루어진 접착층; 및
상기 접착층의 상부에 위치하여 추가적으로 발생할 수 있는 수분의 침투를 방지하는 역할을 하는 제 2 배리어층;을 포함하고,
상기 제 2 배리어층은 소수성을 갖는 무기물로 이루어지는 것을 특징으로 하는 투명 가스 배리어성 필름.
A base substrate;
A first barrier layer positioned above the base substrate to prevent penetration of moisture;
An adhesive layer disposed on the first barrier layer and configured to adhere the first barrier layer and the second barrier layer; And
And a second barrier layer positioned above the adhesive layer and serving to prevent further infiltration of moisture,
Wherein the second barrier layer is made of an inorganic material having hydrophobicity.
제 1 항에 있어서,
상기 제 2 배리어층은 산화하프늄(HfOx)로 이루어지며, 상기 산화하프늄(HfOx)은 32 내지 37.5at%의 하프늄(Hf) 및 잔부가 62.5 내지 68at%의 산소(O)을 함유하는 것을 특징으로 하는 투명 가스 배리어성 필름.
The method according to claim 1,
Wherein the second barrier layer is made of hafnium oxide (HfO x ), the hafnium oxide (HfO x ) contains 32 to 37.5 at% hafnium (Hf) and the remainder contains 62.5 to 68 at% oxygen Wherein the transparent gas barrier film is a transparent gas barrier film.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 제 2 배리어층은 95도 이상의 접촉각을 형성하는 것을 특징으로 하는 투명 가스 배리어성 필름.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the second barrier layer forms a contact angle of at least 95 degrees.
제 1 항에 있어서,
상기 제 1 배리어층은 SiOx, SiNx, SiOxNy, AlxOy, AlxNy, NiOx, CoOx, MgO 중 어느 하나 이상의 무기막으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 투명 가스 배리어성 필름.
The method according to claim 1,
Wherein the first barrier layer is made of an inorganic film selected from the group consisting of SiOx, SiNx, SiOxNy, AlxOy, AlxNy, NiOx, CoOx and MgO.
투명 가스 배리어성 필름의 제조 방법에 있어서,
베이스 기재의 상부에 수분의 침투를 방지하는 제 1 배리어층을 형성하는 단계;
상기 제 1 배리어층의 상부에 상기 제 1 배리어층과 제 2 배리어층을 접착시키는 역할을 하는 유기물로 이루어진 접착층을 형성하는 단계; 및
상기 접착층의 상부에 추가적으로 발생할 수 있는 수분의 침투를 방지하는 역할을 하는 소수성을 갖는 무기물로 이루어진 제 2 배리어층을 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명 가스 배리어성 필름의 제조 방법.
A method for producing a transparent gas barrier film,
Forming a first barrier layer on the top of the base substrate to prevent penetration of moisture;
Forming an adhesive layer made of an organic material on the first barrier layer and serving to adhere the first barrier layer and the second barrier layer; And
And forming a second barrier layer made of an inorganic material having hydrophobicity to prevent penetration of moisture that may be additionally generated in the upper portion of the adhesive layer.
제 5 항에 있어서,
상기 제 2 배리어층은 산화하프늄(HfOx)로 이루어지며, 상기 산화하프늄(HfOx)은 32 내지 37.5at%의 하프늄(Hf) 및 잔부가 62.5 내지 68at%의 산소(O)을 함유하는 것을 특징으로 하는 투명 가스 배리어성 필름의 제조 방법.
6. The method of claim 5,
Wherein the second barrier layer is made of hafnium oxide (HfO x ), the hafnium oxide (HfO x ) contains 32 to 37.5 at% hafnium (Hf) and the remainder contains 62.5 to 68 at% oxygen Wherein the transparent gas barrier film is a transparent gas barrier film.
제 5 항 또는 제 6 항에 있어서,
상기 제 2 배리어층은 95도 이상의 접촉각을 형성하는 것을 특징으로 하는 투명 가스 배리어성 필름의 제조 방법.
The method according to claim 5 or 6,
Wherein the second barrier layer forms a contact angle of 95 deg. Or more.
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