KR20160069357A - 각 센서 패드 간의 오프셋 보정을 수행하는 지문 검출 장치 및 이의 구동 방법 - Google Patents

각 센서 패드 간의 오프셋 보정을 수행하는 지문 검출 장치 및 이의 구동 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따르면, 외부 전극으로의 구동 신호 인가에 따른 손가락으로부터의 응답 신호를 수신하는 복수의 센서 패드들; 상기 응답 신호에 기초하여 검출 신호를 출력하는 센싱 회로; 상기 센싱 회로로부터의 검출 신호를 샘플링하여 유지하는 데이터 샘플 앤 홀드부; 상기 센싱 회로로부터의 검출 신호에서 오프셋을 검출하고, 검출한 오프셋을 샘플링하여 유지하는 오프셋 샘플 앤 홀드부; 및 상기 데이터 샘플 앤 홀드부로부터 수신된 제1 샘플링 신호에서 상기 오프셋 샘플 앤 홀드부로부터 수신된 제2 샘플링 신호를 차감하여 일정 비율로 증폭하는 PGA(Programmable Gain Amplifer)를 포함하는, 지문 검출 장치가 제공된다.

Description

각 센서 패드 간의 오프셋 보정을 수행하는 지문 검출 장치 및 이의 구동 방법{FINGERPRINT DETECTING APPARATUS CONTROLING OFFSET AND OPERATING METHOD THEREOF}
본 발명은 지문 검출 장치 및 이의 구동 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 지문 검출 장치를 구성하는 각각의 센서 패드에 따라 상이하게 발생하는 오프셋을 제거함으로써, 일정한 품질의 지문 이미지를 획득하도록 하는 지문 검출 장치 및 이의 구동 방법에 관한 것이다.
지문의 무늬는 사람마다 다르기 때문에, 개인 식별 분야에 많이 이용되고 있다. 특히, 지문은 개인 인증 수단으로서 금융, 범죄수사, 보안 등의 다양한 분야에서 널리 사용되고 있다.
이러한 지문을 인식하여 개인을 식별하기 위해 지문 검출 장치가 개발되었다. 지문 검출 장치는 사람의 손가락을 접촉하고 손가락 지문을 인식하는 장치로서, 정당한 사용자인지 여부를 판단할 수 있는 수단으로 활용되고 있다.
지문 검출 장치를 구현하는 방식으로는 광학방식, 열감지 방식 및 정전용량 방식 등의 다양한 인식 방식이 알려져 있다. 이 중 정전용량 방식의 지문 검출 장치는 사람의 손가락 표면이 도전성 감지 패턴에 접촉될 때 지문의 골과 융선 형상에 따른 정전용량의 변화를 검출함으로써 지문의 모양(지문 패턴)을 획득한다.
최근에는 휴대용 장치를 통해, 전화, 문자 메시지 전송 서비스와 같은 통신 기능뿐 아니라, 금융, 보안 등 개인 정보가 활용되는 다양한 부가 기능이 제공되고 있으며, 휴대용 장치의 잠금 장치에 대한 필요성이 더욱 중요하게 부각되고 있다. 이러한 휴대용 장치의 잠금 효과를 향상시키기 위하여, 지문 인식을 통한 잠금 장치가 장착된 단말기를 본격적으로 개발하고 있다.
도 1은 종래 기술에 따른, 지문 검출 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 블록도이다.
종래의 지문 검출 장치에서는, 동일한 손가락 지문이 센서 패드(20)에 접촉한 경우에도, 각 센서 패드(20)에서 발생되는 오프셋이 서로 상이하여, 획득되는 전압값이 달라짐에 따라 최종적으로 획득되는 지문 이미지의 질이 저하되는 문제점이 발생하였다.
상세하게는, 샘플 앤 홀드부(50)가 센싱 회로(40)로부터 획득하는 응답 신호에는 각 센서 패드(20) 별로 발생되는 오프셋이 포함되었으며, 이러한 오프셋이 PGA(70)에서 증폭되면, 센서 패드(20)에 접촉한 부분이 손가락의 골인지 융선인지를 구분하기 힘든 경우가 발생하였다.
이러한 문제점을 해결하기 위해, 센싱 회로(40) 이후의 신호 처리 단계에서의 신호 캘리브레이션(calibration) 등 오프셋을 보정하기 위한 시도가 있었으나, 전체 출력 데이터에서 각 센서 패드(20)에서 발생되는 상이한 오프셋을 정확하게 구별하여 제거하기 힘든 문제점 또한 존재하였다.
따라서, 이러한 문제점을 방지하기 위해 상기와 같이 각 센서 패드(20) 별로 상이하게 출력되는 오프셋을 효율적으로 제거하여, 획득되는 전압 레벨을 일정하게 변환하는 방법이 필요하다.
본 발명은 전술한 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 것을 그 목적으로 한다.
본 발명은 각각의 센서 패드로부터 발생하는 오프셋을 적응적으로 제거하여 획득되는 지문 이미지의 품질을 향상시키는 것을 그 목적으로 한다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따르면, 외부 전극으로의 구동 신호 인가에 따른 손가락으로부터의 응답 신호를 수신하는 복수의 센서 패드들; 상기 응답 신호에 기초하여 검출 신호를 출력하는 센싱 회로; 상기 센싱 회로로부터의 검출 신호를 샘플링하여 유지하는 데이터 샘플 앤 홀드부; 상기 센싱 회로로부터의 검출 신호에서 오프셋을 검출하고, 검출한 오프셋을 샘플링하여 유지하는 오프셋 샘플 앤 홀드부; 및 상기 데이터 샘플 앤 홀드부로부터 수신된 제1 샘플링 신호에서 상기 오프셋 샘플 앤 홀드부로부터 수신된 제2 샘플링 신호를 차감하여 일정 비율로 증폭하는 PGA(Programmable Gain Amplifer)를 포함하는, 지문 검출 장치가 제공된다.
상기 오프셋 샘플 앤 홀드부는, 상기 구동 신호가 인가되기 전에 검출되는 상기 센싱 회로로부터의 검출 신호를 토대로 오프셋을 샘플링할 수 있다.
상기 데이터 샘플 앤 홀드부는, 상기 구동 신호가 인가되는 동안 검출되는 상기 센싱 회로로부터 검출되는 검출 신호에 대한 샘플링을 수행할 수 있다.
상기 PGA는 상기 구동 신호의 인가가 종료된 후에 상기 오프셋 샘플 앤 홀드부 및 데이터 샘플 앤 홀드부로부터 상기 제1 샘플링 신호 및 상기 제2 샘플링 신호를 수신할 수 있다.
상기 PGA는 제1 구간에 상기 오프셋 샘플 앤 홀드부로부터 상기 제1 샘플링 신호를 수신하고, 제2 구간에 상기 데이터 샘플 앤 홀드부로부터 상기 제2 샘플링 신호를 수신하며, 상기 제1 구간 및 제2 구간은 시간적으로 분리된 구간일 수 있다.
상기 오프셋 샘플 앤 홀드부는, 상기 센서 패드들 전부에 대한 지문 검출이 이루어지는 단위인 일 프레임 동안 각 센서 패드에 대한 샘플링을 한번씩 수행할 수 있다.
상기 센싱 회로는 연산 증폭기, 상기 연산 증폭기의 제1 입력단과 출력단에 연결된 피드백 커패시터, 상기 피드백 커패시터의 양단을 연결하는 피드백 스위치, 상기 연산 증폭기의 제1 입력단과 상기 센서 패드들을 연결하는 입력 스위치, 상기 연산 증폭기의 출력단과 상기 데이터 샘플 앤 홀드부 및 오프셋 샘플 앤 홀드부를 연결하는 출력 스위치를 포함할 수 있다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시예에 따르면, 외부 전극으로의 구동 신호 인가에 따른 손가락으로부터의 응답 신호를 각각 출력하는 복수의 센서 패드들을 포함하는 지문 검출 장치의 동작 방법으로서, 상기 외부 전극에 구동 신호가 인가되기 전에 상기 각 센서 패드로부터 출력되는 검출 신호에 대한 오프셋을 검출하는 단계; 및 상기 외부 전극에 구동 신호가 인가된 후, 상기 각 센서 패드로부터 출력되는 검출 신호에서 상기 오프셋을 차감하여 증폭하는 단계를 포함하는, 지문 검출 장치의 동작 방법이 제공된다.
상기 오프셋을 검출하는 단계는, 상기 각 센서 패드에 대한 피드백 커패시턴스가 초기화된 후에 수행될 수 있다.
본 발명의 지문 검출 장치에 따르면, 구동 신호가 인가 되기 전에 오프셋을 미리 샘플링함으로써 구동 신호 및 그에 따른 응답 신호에 영향을 받지 않은 센서 패드 각각의 오프셋을 검출할 수 있다.
본 발명의 지문 검출 장치에 따르면, 각 센서 패드별로 상이하게 발생되는 오프셋을 반영하여 지문 검출 데이터를 출력함으로써 오프셋 노이즈가 제거된 일정한 품질의 지문 이미지를 획득할 수 있다.
본 발명의 지문 검출 장치에 따르면, 일정한 품질의 지문 이미지가 획득됨으로써 동일 지문에 대한 지문 인증률이 보다 향상될 수 있다.
본 발명의 효과는 상기한 효과로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 상세한 설명 또는 특허청구범위에 기재된 발명의 구성으로부터 추론 가능한 모든 효과를 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 종래 기술에 따른, 지문 검출 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 지문 검출 장치의 구조 중 일부를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 2의 지문 검출 장치의 베젤에 인가되는 구동 신호와, 센싱 회로내 스위치들의 동작에 따라 센싱 회로에서 검출되는 신호에 대한 타이밍도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른, 오프셋 보정을 위해 개선된 지문 검출 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 블록도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 지문 검출 장치의 동작에 대한 타이밍도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른, 다양한 상태의 오프셋이 제거되는 모습을 개략적으로 나타낸 도면이다.
이하에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며, 따라서 여기에서 설명하는 실시예로 한정되는 것은 아니다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 부재를 사이에 두고 "간접적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 구비할 수 있다는 것을 의미한다.
이하 첨부된 도면을 참고하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 지문 검출 장치의 구조 중 일부를 나타내는 도면이다.
도 2에 도시한 지문 검출 장치는 정전용량 방식으로서, 베젤(110), 복수의 센서 패드(120)들을 포함하는 센서 어레이(130) 및 센싱 회로(140)를 포함한다.
지문 검출 장치에서 지문의 골과 융선에 따른 정전용량의 변화를 검출하기 위해서는 베젤(110)을 통해 구동 신호(Vdrv)를 손가락으로 인가하고, 손가락으로부터의 응답 신호를 센서 패드(120)를 통해 센싱 회로(140)에서 검출한다. 센싱 회로(140)는 손가락의 골과 융선의 센서패드로부터의 거리에 따른 정전용량 차이에 의해 상이한 검출 신호를 출력하게 된다.
Figure pat00001
수학식 1은 도 2의 지문 검출 장치에서 손가락 지문의 골과 융선에 따른 전압 크기를 구하는 공식이다.
수학식 1을 참조하면, Vout은 출력 전압이고, Vref는 기준전압이며, CFB는 피드백 커패시터의 정전용량을 의미한다. Vdrv는 구동 신호이며, Cfinger는 손가락이 센서 패드에 접촉하였을 때 형성되는 정전용량이다.
도 3은 도 2의 지문 검출 장치의 베젤(110)에 인가되는 구동 신호(Vdrv)와, 센싱 회로(140)내 스위치들의 동작에 따라 센싱 회로(140)에서 출력되는 검출 신호에 대한 타이밍도이다.
도 3에서 각 스위치(S1~S3)에 대해 하이(high)로 표현된 것은 온 상태를 의미하며, 로우(low)로 표현된 것은 오프 상태를 의미한다. 또한 구동 신호(Vdrv)에 대해 하이로 표현된 것은 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가되는 것을 의미하며, 로우로 표현된 것은 구동 신호(Vdrv)가 인가되지 않는 상태를 의미한다. 일 실시예에 따르면, 구동 신호(Vdrv)는 클록 신호에 의해 제어되는 펄스 신호일 수도 있으며, 기 설정된 주파수를 갖는 AC 전압 또는 DC 전압 등으로 다양하게 구현될 수 있다.
도 3을 참조하여 살펴보면, S1은 센서 패드(120)로부터 센싱 회로(140)를 연결시키는 입력 스위치이고, S2는 피드백 커패시터(CFB)의 양단에 연결된 피드백 스위치이며, S3은 센싱 회로(140)의 출력인 검출 신호(또는 출력 신호, OUTPUT)를 후단의 샘플 앤 홀드부 등에 전달시키는 출력 스위치이다.
지문 검출 장치의 베젤(110)은 한 프레임 당 적어도 한번의 구동 신호(Vdrv)를 인가받을 수 있다. 본 명세서 상에서 “프레임”이라 함은 센서 어레이(130)에 포함되는 센서 패드(120)들 전체에 대한 지문 검출 동작이 이루어지는 시간의 단위이다.
도 3을 참조하면, 2개의 프레임(F1, F2)에 대한 스위치들의 동작과, 베젤(110)에 인가되는 구동 신호(Vdrv) 및 그에 따라 센싱 회로(140)에서 검출되는 출력 신호(OUTPUT)가 표시되어 있다.
입력 스위치(S1)의 동작을 살펴보면, 프레임의 시작과 동시에 온되어, 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)의 인가가 시작되었다가 종료될 때까지 온 상태를 유지한다. 입력 스위치(S1)가 오프(off)되면 센서 패드(120)로부터의 응답 신호가 센싱 회로(140)의 후단에 전달되지 못하기 때문에, 입력 스위치(S1)는 한 프레임의 대부분에서 온 상태로 유지된다.
피드백 스위치(S2)는 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가 되기 전에 온되며, 마찬가지로 구동 신호(Vdrv)가 인가 되기 전에 오프된다. 피드백 스위치(S2)가 온 상태로 유지되는 동안, 피드백 커패시터(CFB)의 양단은 같은 전위를 갖게 되는데, 피드백 커패시터(CFB)가 역할을 수행하기 위해서는 피드백 스위치(S2)는 오프되어야 한다. 즉, 피드백 스위치(S2)는 각 프레임이 시작할 때 피드백 커패시터(CFB)의 양단 전위차를 0으로 만들어, 피드백 커패시터(CFB)에 충전되는 전하량이 0이 되도록 하여 센싱 회로(140)를 초기화하는 역할을 수행한다.
출력 스위치(S3)는, 입력 스위치(S1)와 같이 프레임의 시작에서 온 상태로 전환된다. 다만, 입력 스위치(S1)와는 다르게, 출력 스위치(S3)는 구동 신호(Vdrv)의 인가가 종료되기 전에 오프되는데, 이는 구동 신호(Vdrv) 인가로 인한 출력 신호(OUTPUT)의 변화가 센싱 회로(140)의 출력단과 연결된 샘플 앤 홀드부 등에 충분히 인가되고 나서 구동 신호(Vdrv) 인가가 종료되기 전에 출력 스위치(S3)를 오프하는 것으로, 출력 스위치(S3)가 온 상태로 유지되고 있을 때 구동 신호(Vdrv)가 종료되면, 그에 따른 원치 않은 오프셋, 노이즈 등이 센싱 회로(140)의 출력단으로 전달될 수도 있기 때문이다.
도 2의 지문 검출 장치에서는, 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가되기 전이라도, 센서 패드(120)로부터의 응답 신호가 센싱 회로(140)에서 검출될 수 있다. 이상적으로는, 피드백 스위치(S2)가 오프된 후, 구동 신호(Vdrv)가 인가되기 전까지 센싱 회로(140)에서 검출되는 출력 신호(OUTPUT)는 일정한 값을 유지하여야 하는데, 각 센서 패드(120)들마다 발생하는 임의의 오프셋에 따라, 도 2의 A 영역과 같이 출력 신호(OUTPUT)가 변화할 수 있다. A 영역에서 보여지는 오프셋은 예시적인 파형으로, 오프셋이 반영되기 전의 기준 전압값에서 증가할 수도 있고, 감소할 수도 있을 것이며, 다양한 파형의 오프셋이 검출될 수 있다.
각각의 센서 패드(120)에서 발생하는 오프셋은, 지문 검출 장치의 동작 상황, 공정상 설계에 의해 발생하는 센서 패드(120)의 구조상 차이, 지문 검출 장치 내에서 각 센서 패드(120)가 배치된 위치 등에 따라 상이해질 수 있다.
이와 같이, 센서 패드(120) 간 상이하게 발생하는 오프셋이 구동 신호에 따른 응답 신호에 포함됨에 따라, 지문의 골(valley)과 융선(ridge)에 따라 출력되는 전압값이 센서 패드(120) 별로 일정하지 않게 되고, 결과적으로는 검출되는 지문 이미지 품질의 저하를 가져오게 된다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른, 오프셋 보정을 위해 개선된 지문 검출 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 블록도이다.
도 4를 참조하면, 본 발명에서 개시하는 지문 검출 장치는 베젤(110), 센서 패드(120), 센서 어레이(130), 센싱 회로(140), 데이터 샘플 앤 홀드부(150), 오프셋 샘플 앤 홀드부(160), PGA(Programmable Gain Amplifier)(170), DSG(Differential Signal Generator)(180), ADC(Analog to Digital Converter)(190)를 포함하여 구성될 수 있다.
베젤(또는 외부 전극, 110)은 센서 어레이(130)를 감싸는 테두리 부분으로, 일 실시예에 따르면, 베젤(110)을 통해 손가락에 구동 신호(Vdrv)가 인가되고, 복수개의 센서 패드(120)들은 손가락으로부터 구동 신호(Vdrv)에 대한 응답 신호를 수신할 수 있다. 다른 실시예에 따르면, 베젤(110)에 접지 단자가 연결되어, 주변부로부터의 노이즈가 센서 패드들에 영향을 미치지 않도록 하고, 센서 패드(120)들이 지문 검출 장치에 접촉된 손가락에 구동 신호를 전달한 후 그 응답 신호를 수신할 수 있다.
베젤(110)은 구동 신호(Vdrv)가 인가될 수 있는 다양한 종류의 메탈을 소재로 하여 구성될 수 있으며, 지문 검출 장치의 적어도 일부 테두리에 돌출된 형태로 구성될 수 있다. 또한, 일부의 전자기기에서는 베젤(110)이 존재하지 않으며, 복수의 센서 패드(120)들에 구동 신호를 전달하는 역할을 지문 검출 장치 내의 다른 구성 요소가 수행할 수도 있다.
일 실시예에 따른 센서 패드(120)는 손가락 지문의 골과 융선에 따른 정전용량의 변화를 인식하기 위한 기본 단위이며, 적어도 하나의 센서 패드(120)는 센싱 회로(140)에 연결되어, 손가락으로부터의 응답 신호를 센싱할 수 있다.
복수의 센서 패드(120)들은 원형, 사각형 또는 마름모꼴일 수 있으나 이와 다른 형태일 수도 있으며, 균일한 형태의 다각형 형태일 수도 있다. 센서 패드(120)는 인접한 다각형의 매트릭스 형태로 배열될 수 있다.
사람의 손가락이 지문 검출 장치에 접촉되는 경우 손가락과 센서 패드(120) 사이에 형성되는 정전용량은 손가락의 어느 부위가 센서 패드(120)에 터치되었는지에 따라 상이한 값을 가질 수 있다.
상세하게는, 손가락 지문의 골(valley)과 융선(ridge)에 따라 형성되는 정전용량이 상이하게 되며, 지문 검출 장치는 이러한 정전용량의 차이를 통해 지문 이미지를 획득한다.
일 실시예에 따른 센서 어레이(130)는 복수의 행과 열을 이루며 배치되는 복수의 센서 패드(120)들로 구성될 수 있으며, 복수의 센서 패드(120)들로부터 출력되는 응답 신호를 센싱 회로(140)로 전달할 수 있다.
일 실시예에 따른 센싱 회로(140)는 센서 패드(120)들로부터의 출력 신호를 검출하는 회로로, 검출 신호를 데이터 샘플 앤 홀드부(150) 및 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)에 전달한다. 일 실시예에 따르면, 센싱 회로(140)는 적어도 하나의 연산 증폭기 및 적어도 하나의 임피던스 소자를 포함하여, 응답 신호를 증폭기의 이득 및 임피던스 크기에 기초하여 증폭하여 출력할 수 있다. 또한, 센싱 회로(140)는 피드백 커패시터(CFB), 피드백 커패시터의 양단을 연결하는 피드백 스위치(S2), 연산 증폭기의 제1 입력단과 상기 센서 패드(120)들을 연결하는 입력 스위치(S1), 연산 증폭기의 출력단과 샘플 앤 홀드부들을 연결하는 출력 스위치(S3) 등을 포함할 수 있다.
센싱 회로(140)는 일 실시예에 따라 지문 검출 장치를 구성하는 각 센서 패드(120) 당 하나씩 구비될 수도 있고, 다른 실시예에 따라 하나의 센싱 회로(140)에 복수 개의 센서 패드(120) 그룹으로부터의 출력 신호가 입력될 수도 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 센싱 회로(140)로부터 출력되는 검출 신호는 데이터 샘플 앤 홀드부(150) 및 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)로 인가될 수 있다.
기존의 지문 검출 장치에 있어서는, 샘플 앤 홀드부가 하나만 존재하였고, 샘플 앤 홀드부가 센싱 회로(140)로부터 출력되는 검출 신호에 대한 데이터를 샘플링하여 이를 유지하고, 그 값을 출력하였다. 또한 이에 따라, 응답 신호에 포함된 오프셋이 추후 신호 캘리브레이션(calibration) 등에 의해 제거되기도 하였으나, 오프셋 보정의 정확도가 다소 떨어지는 문제점이 존재하였다.
일 실시예에 따르면, 본 발명의 데이터 샘플 앤 홀드부(150)는 센싱 회로(140)로부터 출력되는 검출 신호를 샘플링하여 이를 유지하고, 그 값을 저장하는 기능을 수행하는데, 기존의 지문 검출 장치에서와 같이 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가됨에 따라 센싱 회로(140)에서 출력되는 검출 신호를 일정 시간 동안 샘플링할 수 있다. 따라서, 데이터 샘플 앤 홀드부(150)가 샘플링하여 저장하는 응답 신호에는 각 센서 패드(120)들 별로 상이하게 발생하는 오프셋이 포함될 수 있다.
일 실시예에 따르면, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)는 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가되기 전에 센싱 회로(140)로부터 출력되는 검출 신호의 오프셋을 샘플링하여 그 값을 유지하고 저장할 수 있다. 도 1 및 도 2에서 나타난 것과 같이, 센싱 회로(140)의 구성 중 피드백 스위치(S2)가 온 상태에서 오프 상태로 전환되고 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가되기 전에 오프셋이 발생하게 되는데, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)는 이 오프셋을 샘플링하여 저장할 수 있다.
즉, 데이터 샘플 앤 홀드부(150)와 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)는 하나의 프레임 내에서 동작하는 타이밍이 다를 수 있다. 데이터 샘플 앤 홀드부(150)가 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가된 후에 동작을 수행한다면, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)는 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가되기 전에 동작을 수행할 수 있다.
이와 같이, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)가 데이터 샘플 앤 홀드부(150)와 상이한 타이밍에 동작을 수행하는 이유를 살펴보면, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)가 데이터 샘플 앤 홀드부(150)와 같이 구동 신호(Vdrv) 인가 후에 동작하게 된다면, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160) 동작의 영향으로 데이터 샘플 앤 홀드부(150)가 획득하는 데이터 값이 상이해질 수 있다.
또한, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)가 데이터 샘플 앤 홀드부(150)와 같이 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가된 후에 동작한다면, 센서 패드(120)들로부터의 응답 신호에 오프셋이 포함되어 있어, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)도 응답 신호와 오프셋 신호가 합성된 신호를 샘플링하게 되고, 이에 따라 오프셋 신호만을 샘플링하는데 어려움이 있을 수 있다.
상기 실시예와 같이, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)가, 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가되기 전에 동작함으로써, 오프셋이 보다 수월하게 샘플링될 수 있다. 상세하게는, 센싱 회로(140)의 피드백 스위치(S2)가 온 상태에서 오프 상태로 전환되는 경우에, 전술한 바와 같이 이상적으로는 일정한 전압 값이 출력단으로 출력되어야 한다. 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)는, 피드백 스위치(S2)가 오프되고 구동 신호(Vdrv)가 인가되기 전에 발생하는 출력 신호를, 오프셋이 존재하지 않는 이상적인 전압 값과 비교하여, 출력 신호에 포함된 오프셋만을 샘플링할 수 있다.
한편, 데이터 샘플 앤 홀드부(150) 및 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)의 샘플링 주기는 소정의 클록 신호에 의해 제어될 수 있다.
일 실시예에 따르면, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)는 일 프레임 동안 각각의 센서 패드(120)들에 대한 샘플링을 한 번씩 수행하도록 샘플링 주기가 제어될 수 있다. 샘플 앤 홀드부는 일반적으로 커패시터를 포함하고 있으며, 커패시터에 신호가 인가됨에 따라 전하가 축적되어, 축적된 전하량을 토대로 샘플 앤 홀드부의 출력이 결정되게 된다. 따라서, 오프셋이 검출되는 시간 간격 동안 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)가 한 번의 샘플링을 수행하도록 샘플링 주기가 제어됨으로써, 오프셋의 총량이 샘플링될 수 있다.
PGA(170)는 센싱된 데이터를 일정 비율로 증폭하는 기능을 수행한다. 지문 검출 장치를 구성하는 각 센서 패드(120)에 손가락 지문의 융선이 접촉하는지 골이 접촉하는지에 따라 다른 출력 데이터가 생성되는데, PGA(170)의 이득을 높이거나 낮추어 제어하여 서로 다른 크기의 출력 데이터의 차이를 크게 할 수 있다.
일 실시예에 따른 PGA(170)는 데이터 입력부와 오프셋 입력부를 포함할 수 있으며, 오프셋 입력부를 통해 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)로부터 오프셋을 수신하고, 데이터 입력부를 통해 데이터 샘플 앤 홀드부(150)로부터 구동 신호(Vdrv) 인가에 따른 센싱 회로(140)의 검출 신호에 대한 데이터를 수신할 수 있다. 그 후, PGA(170)는 데이터 샘플 앤 홀드부(150)로부터 수신한 데이터를 증폭하는데에 있어, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)로부터 수신한 오프셋을 차감한 후 증폭을 수행할 수 있다. 즉, PGA(170)는 데이터 샘플 앤 홀드부(150)로부터 수신된 제1 샘플링 신호에서, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)로부터 수신된 제2 샘플링 신호를 차감함으로써, 구동 신호 인가에 따라 센싱 회로(140)에서 출력되는 검출 신호에서 오프셋을 제거할 수 있다.
PGA(170)는 오프셋 샘플 앤 홀드부(160) 및 데이터 샘플 앤 홀드부(150)로부터 오프셋 및 데이터 신호를 수신함에 있어, 이를 동시에 수신하지 않고, 일정한 시간 간격을 두고 수신할 수 있다. 상세하게는, PGA(170)는 제1 구간에서는 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)로부터의 제1 샘플링 신호를 수신하고, 제1 구간과 시간적으로 분리된 제2 구간에서는 데이터 샘플 앤 홀드부(150)로부터의 제2 샘플링 신호를 수신할 수 있다. 이와 같이, PGA(170)가 두 종류의 신호를 일정한 시간 간격을 두고 수신하는 이유는, 각각의 센서 패드(120)의 특성에 따라 임의적으로 발생하는 오프셋을 제거하기 위함이다.
DSG(180)는 PGA(170)로부터 수신된 증폭 신호를 차동 신호(Differential Siganl)로 변환하는 기능을 수행한다. 차동 신호란, 한 쌍의 서로 반전된 형태의 신호를 의미하며, 하나의 신호가 양의 전압을 갖을 때 다른 하나의 신호는 같은 크기의 음의 전압을 갖게 된다. 차동 신호를 사용할 때 발생되는 이점은, 노이즈가 발생하더라도 한 쌍의 차동 신호에 동시에 영향을 주게 되므로 차동 신호의 차가 그대로 유지되어 노이즈에 대한 내성이 강한 점, 신호의 타이밍과 관련된 오류가 발생할 확률이 적은 점, 주변의 다른 신호 배선들로 인한 간섭의 영향을 적게 받는 점 등이 존재할 수 있다.
ADC(190)는 아날로그 형태의 센싱 데이터를 디지털화하는 기능을 수행할 수 있다. ADC(190)를 통해 디지털 형태로 변환된 데이터는 지문 검출 장치의 메모리에 저장되며, 지문 검출 장치는 디지털 형태로 변환된 해당 데이터를 통해 지문 이미지를 획득할 수 있다.
일 실시예에 따른 지문 검출 장치는 구동 장치를 포함할 수 있으며, 구동 장치는 지문 정보 처리부, 메모리 및 제어부 등을 포함할 수 있고, 하나 이상의 집적회로(IC) 칩으로 구현될 수 있다.
메모리는 ADC(190)를 통해 디지털 형태로 변환된 데이터 및 지문 위치 검출, 지문의 면적 산출, 지문 이미지의 골과 융선 구분 등에 이용되는 미리 정해진 데이터 또는 실시간 수신되는 데이터를 기억할 수 있다.
지문 정보 처리부는 메모리에 기억된 디지털 형식 데이터의 전압값을 통해 손가락 지문의 접촉 여부, 접촉된 지문의 면적 및 지문의 골과 융선 구분 등을 계산하여 필요한 정보를 생성할 수 있다.
제어부는 마이크로 컨트롤 유닛(micro control unit, MCU)을 포함할 수 있으며, 데이터 샘플 앤 홀드부(150), 오프셋 샘플 앤 홀드부(160), PGA(170), DSG(180), ADC(190), 지문 정보 처리부, 메모리 등에서 각각 고유한 기능을 수행하도록 제어할 수 있으며, 상세하게는, 센싱 회로(140)에 포함되는 각종 스위치의 온/오프 등을 제어할 수 있다. 제어부는 펌 웨어를 통해 정해진 신호 처리를 수행할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 지문 검출 장치의 동작에 대한 타이밍도이다.
도 5를 참조하면, 구동 신호(Vdrv)의 인가 타이밍, 입력 스위치(S1), 피드백 스위치(S2), 출력 스위치(S3)등의 온/오프 타이밍 및 센싱 회로(140)의 출력단에서 검출되는 출력 신호(OUTPUT)의 변화가 나타나 있다.
도 5에서 S/H offset은 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)에 인가되는 인에이블(enable) 신호를 나타내며, S/H offset OUT은 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)가 유지하고 있다가 출력하는 신호를 나타낸다. 이와 마찬가지로, S/H data는 데이터 샘플 앤 홀드부(150)에 인가되는 인에이블 신호를 나타내며, S/H data OUT은 데이터 샘플 앤 홀드부(150)가 유지하고 있다가 출력하는 신호를 나타낸다. PGA offset은 PGA(170)가 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)로부터 입력받는 신호를 나타내며, PGA data는 PGA(170)가 데이터 샘플 앤 홀드부(150)로부터 입력받는 신호를 나타낸다.
이하, 도 5를 참조하여, 하나의 프레임에서 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가되고, 이에 따라 센서 패드(120)에서 검출되는 응답 신호가 증폭기, 피드백 커패시터, 복수 개의 스위치로 구성된 센싱 회로(140)를 통과하여 데이터 샘플 앤 홀드부(150) 및 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)를 거쳐 PGA(170)에서 증폭되는 과정을 설명하기로 한다. 도 5에는 두 개의 프레임(F1, F2)에 대한 타이밍이 도시되어 있는데, 동작이 중복되므로 편의상 첫번째 프레임(F1)에 대해서만 설명하기로 한다.
도 5에서, 구동 신호(Vdrv) 인가 및 입력 스위치(S1), 피드백 스위치(S2), 출력 스위치(S3)의 동작과 그에 따른 출력 신호(OUTPUT)의 변화는 도 3을 참조하여 설명한 것과 동일하다.
전술한 바와 같이, T1 구간에서는 피드백 스위치(S2)가 온 상태로 유지된다. 이를 통해 해당 프레임(F1) 이전에 수행된 지문 검출 동작으로 인해 전하를 저장하고 있던 피드백 커패시터(CFB) 등이 초기화 될 수 있다. T1 구간에서는 입력 스위치(S1)와 출력 스위치(S3)가 온 상태로 유지되며, 센서 패드(120)로부터 검출되는 출력 신호(OUTPUT)도 일정한 값을 유지한다.
피드백 스위치(S2)가 오프되면, T2 구간이 시작된다. T2 구간은 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가되기 전이나, 피드백 스위치(S2)가 온 상태에서 오프 상태로 전환됨에 따라, A 영역에서와 같이 센서 패드(120)에서 발생하는 임의의 오프셋이 출력 신호(OUTPUT)에 포함될 수 있다.
T2 구간에서는 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)에 B 영역에서와 같이 인에이블 신호가 인가되며, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)는 이에 따라, 출력 신호(OUTPUT)에 포함된 오프셋을 샘플링한다. 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)는 오프셋이 발생하지 않는 이상적인 경우에 T2 구간에서 검출될 전압값을 저장해두고, 샘플링 한 데이터 값에서 이를 차감함으로써, 각 센서 패드(120)의 특성 등으로 인해 발생되는 오프셋 만을 샘플링할 수 있다.
T2 구간의 A영역에서 나타나는 것과 같이, 센서 패드(120)에서 발생하는 오프셋은 일정한 구형파 형태로 발생되지 않을 수 있다. 일 실시예에 따르면, 이 경우, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)는 샘플링의 한 주기가 T2 구간의 시간 간격으로 제어될 수 있으며, 일정하지 않은 오프셋의 신호를 합산하여 그 총 합을 샘플링하고 추후에 출력할 수 있다.
오프셋 샘플 앤 홀드부(160)는 하나의 프레임(F1) 내에서, 피드백 스위치(S2)가 오프된 후, 구동 신호(Vdrv)가 인가되기 전까지의 T2 구간에서 샘플링을 수행하며, 샘플링을 통해 유지 및 저장하고 있는 값을 구동 신호(Vdrv) 인가가 종료된 시점인 T4 구간에 출력하여 PGA(170)가 이를 수신하도록 할 수 있다. 즉, 본 발명에서 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)가 오프셋을 검출하는 동작은 온 상태로 유지되던 피드백 스위치(S2)가 오프됨으로 인해 피드백 커패시턴스가 초기화된 후에 수행될 수 있다. PGA(170)가 수신하는 오프셋 데이터는 C 영역에 도시된 것과 같을 수 있으며, 이는 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)가 T2 구간에서 샘플링 한 값을 전달받은 것이다.
T3 구간의 동작을 살펴보면, 이 구간에서는 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가되며, 센서 패드(120)들로부터의 응답 신호가 센싱 회로(140)를 거쳐 출력단의 출력 신호(OUTPUT)로 검출된다. 도 5에서, T3 구간의 출력 신호(OUTPUT) 파형에는 도시되어 있지 않지만, 출력 신호(OUTPUT)는 손가락 지문의 접촉 여부와 센서 패드(120) 상에서 발생되는 오프셋을 포함하므로 다양한 형태로 검출될 수 있다.
T3 구간에서 S/H data를 살펴보면, 데이터 샘플 앤 홀드부(150)는 이 구간에서 인에이블 신호를 인가 받아, 구동 신호(Vdrv) 인가에 따라 센싱 회로(140)에서 검출되는 출력 신호(OUTPUT)에 대한 샘플링을 수행할 수 있다. 이후, 데이터 샘플 앤 홀드부(150)는 샘플링을 통해 유지 및 저장하고 있는 값을 구동 신호(Vdrv) 인가가 종료된 T5 구간에서 출력하여 PGA(170)에 전달할 수 있다.
데이터 샘플 앤 홀드부(150)가 샘플링하여 출력하는 데이터에는 오프셋이 포함될 수 있으며, 이 데이터에서 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)가 출력하는 오프셋을 제거하여야 각 센서 패드(120)의 특성에 따라 임의적으로 발생하는 오프셋이 제거된 데이터를 획득할 수 있다.
T4 구간 및 T5 구간에서의 동작을 살펴보면, 구동 신호(Vdrv)의 인가가 종료되고, 입력 스위치(S1) 및 출력 스위치(S3) 또한 오프됨에 따라, 출력 신호(OUTPUT)가 검출되지 않는다.
이 구간에서, PGA(170)는 데이터 샘플 앤 홀드부(150)로부터 수신한 응답 신호에 대한 데이터에서, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)로부터 수신한 오프셋을 차감한 후, 남은 데이터 신호를 증폭시킬 수 있다.
상세하게는, PGA(170)는 T4 구간에서 오프셋 입력부를 통해 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)로부터 출력되는 오프셋을 수신하고, T5 구간에서 데이터 입력부를 통해 데이터 샘플 앤 홀드부(150)로부터 출력되는 데이터 신호를 수신할 수 있다.
도 5를 참조하면, T4 구간에서 S/H offset OUT 신호가 PGA offset 신호와 일치하는 것을 볼 수 있는데, 이는 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)의 출력이 PGA(170)로 바로 입력되기 때문이며, 이와 마찬가지로 T5구간에서 S/H data OUT 신호는 PGA data 신호와 일치하는 것을 확인할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 도 5에서와 같이 PGA(170)는 오프셋을 우선적으로 수신하고, 응답 신호에 대한 데이터를 추후에 수신하여, 응답 신호의 데이터에서 오프셋을 제거한 후에, 오프셋이 제거된 데이터를 증폭시킬 수 있다.
상기와 같이, PGA(170)에 의해 오프셋이 조절되고 증폭된 데이터는 DSG(180) 및 ADC(190)를 거쳐 디지털 신호로 변환되며, 지문 검출 장치는 변환된 디지털 신호를 조합하여 지문 이미지를 획득하게 된다. 획득되는 지문 이미지는 각 센서 패드(120)의 동작 환경, 공정상에 의해 발생하는 구조의 차이, 각 센서 패드(120)의 센서 어레이(130) 내에서의 위치 등에 따라 발생하는 임의의 오프셋에 의한 영향이 최소화된, 일정한 품질의 이미지일 수 있다.
이하, 도 6을 참조하여, 각 센싱 회로(140)에서 검출되는 출력 신호(OUTPUT)에서 오프셋이 제거되는 과정을 설명하기로 한다. 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른, 다양한 상태의 오프셋이 제거되는 모습을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 6의 (a)를 참조하면, 지문 검출 장치의 내부 설계, 동작 환경 및 외부 환경 등에 의하여 센서 패드(120)들로부터의 응답 신호가 상이한 오프셋 레벨을 형성할 수 있다.
도 6의 (b)를 참조하면, 상기 응답 신호들은 데이터 샘플 앤 홀드부(150) 및 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)를 거쳐 PGA(170)에서 증폭되기 전 오프셋이 조절될 수 있다. 전술한 바와 같이, PGA(170)는 데이터 샘플 앤 홀드부(150)의 출력 신호에서, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)의 출력 신호를 차감함으로써, 센싱 회로(140)에서 검출되는 출력 신호(OUTPUT)에 포함된 오프셋을 제거할 수 있다.
도 6의 (c)를 참조하면, 오프셋이 조절된 상태의 출력 신호는 PGA(170)에 의해 증폭됨으로써, 지문 검출 장치와 접촉하는 손가락 지문의 골과 융선에 따른 차이가 더욱 부각될 수 있다.
이와 같이, 오프셋 샘플 앤 홀드부(160)에서 샘플링된 오프셋이 구동 신호(Vdrv)인가에 따라 센싱 회로(140)에서 검출되는 출력 신호(OUTPUT)에서 차감되며, PGA(170)에서 오프셋이 조절되고 증폭이 된 신호는 ADC(190)를 통해 디지털 신호로 변환되며, 지문 검출 장치는 변환된 디지털 신호를 조합하여 지문 이미지를 획득하게 된다. 상기와 같은 오프셋의 조절을 통해, 획득되는 지문 이미지는 진하거나 흐린 지문이 아닌, 일정한 농도의 지문일 수 있으며, 지문 이미지 내에서의 골과 융선도 뚜렷히 구분될 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 실시예에 따르면, 베젤(110)에 구동 신호(Vdrv)가 인가되기 전에 각 센서 패드(120)에서 발생하는 임의의 오프셋을 미리 검출하고, 이를 이용하여 추후 검출되는 데이터에서 오프셋을 제거함으로써, 센싱 회로(140)로부터 검출되는 출력 신호(OUTPUT)에 포함된 오프셋 제거를 보다 효율적, 효과적으로 수행할 수 있다.
전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.
본 발명의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
110: 베젤
120: 센서 패드
130: 센서 어레이
140: 센싱 회로
150: 데이터 샘플 앤 홀드부
160: 오프셋 샘플 앤 홀드부
170: PGA
180: DSG
190: ADC

Claims (9)

  1. 외부 전극으로의 구동 신호 인가에 따른 손가락으로부터의 응답 신호를 수신하는 복수의 센서 패드들;
    상기 응답 신호에 기초하여 검출 신호를 출력하는 센싱 회로;
    상기 센싱 회로로부터의 검출 신호를 샘플링하여 유지하는 데이터 샘플 앤 홀드부;
    상기 센싱 회로로부터의 검출 신호에서 오프셋을 검출하고, 검출한 오프셋을 샘플링하여 유지하는 오프셋 샘플 앤 홀드부; 및
    상기 데이터 샘플 앤 홀드부로부터 수신된 제1 샘플링 신호에서 상기 오프셋 샘플 앤 홀드부로부터 수신된 제2 샘플링 신호를 차감하여 일정 비율로 증폭하는 PGA(Programmable Gain Amplifer)를 포함하는, 지문 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 오프셋 샘플 앤 홀드부는, 상기 구동 신호가 인가되기 전에 검출되는 상기 센싱 회로로부터의 검출 신호를 토대로 오프셋을 샘플링하는, 지문 검출 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 샘플 앤 홀드부는, 상기 구동 신호가 인가되는 동안 검출되는 상기 센싱 회로로부터의 검출 신호에 대한 샘플링을 수행하는, 지문 검출 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 PGA는 상기 구동 신호의 인가가 종료된 후에 상기 오프셋 샘플 앤 홀드부 및 데이터 샘플 앤 홀드부로부터 상기 제1 샘플링 신호 및 상기 제2 샘플링 신호를 수신하는, 지문 검출 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 PGA는 제1 구간에 상기 오프셋 샘플 앤 홀드부로부터 상기 제1 샘플링 신호를 수신하고, 제2 구간에 상기 데이터 샘플 앤 홀드부로부터 상기 제2 샘플링 신호를 수신하며, 상기 제1 구간 및 제2 구간은 시간적으로 분리된 구간인, 지문 검출 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 오프셋 샘플 앤 홀드부는, 상기 센서 패드들 전부에 대한 지문 검출이 이루어지는 단위인 일 프레임 동안 각 센서 패드에 대한 샘플링을 한번씩 수행하는, 지문 검출 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 센싱 회로는 연산 증폭기, 상기 연산 증폭기의 제1 입력단과 출력단에 연결된 피드백 커패시터, 상기 피드백 커패시터의 양단을 연결하는 피드백 스위치, 상기 연산 증폭기의 제1 입력단과 상기 센서 패드들을 연결하는 입력 스위치, 상기 연산 증폭기의 출력단과 상기 데이터 샘플 앤 홀드부 및 오프셋 샘플 앤 홀드부를 연결하는 출력 스위치를 포함하는, 지문 검출 장치.
  8. 외부 전극으로의 구동 신호 인가에 따른 손가락으로부터의 응답 신호를 각각 센싱하는 복수의 센서 패드들을 포함하는 지문 검출 장치의 동작 방법으로서,
    상기 외부 전극에 구동 신호가 인가되기 전에 상기 각 센서 패드로부터 출력되는 검출 신호에 대한 오프셋을 검출하는 단계; 및
    상기 외부 전극에 구동 신호가 인가된 후, 상기 각 센서 패드로부터 출력되는 검출 신호에서 상기 오프셋을 차감하여 증폭하는 단계를 포함하는, 지문 검출 장치의 동작 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 오프셋을 검출하는 단계는, 상기 각 센서 패드에 대한 피드백 커패시턴스가 초기화된 후에 수행되는, 지문 검출 장치의 동작 방법.
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KR1020140175215A KR20160069357A (ko) 2014-10-16 2014-12-08 각 센서 패드 간의 오프셋 보정을 수행하는 지문 검출 장치 및 이의 구동 방법

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190018334A (ko) * 2017-08-14 2019-02-22 엘지디스플레이 주식회사 표시장치와 지문 센서 및 그 구동 방법
KR20200076984A (ko) 2018-12-20 2020-06-30 주식회사 바이오로그디바이스 지문인식센서 자동 보정 시스템
US10846507B2 (en) 2017-06-19 2020-11-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus for recognizing pressure and electronic apparatus including the same

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