KR20160047880A - Scanning system and result processing method thereof - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a scanning system and a scanning result processing method. The present invention includes: a scanner detecting a signal generated from a scanning target; a mode generator generating a control signal to execute at least one mode matched with an actual motion of the scanning target; a signal analyzer analyzing the signal, detected from the scanner, depending each mode of the scanning target; and a data processor providing an analysis result, indicating frequency change progress in each mode, by using the signal analyzed by the signal analyzer. Therefore, the present invention is capable of identifying the distribution of electronic waves depending on a mode and the distribution of electronic waves depending on a frequency as well as identifying electronic wave change progress depending on a time flow and a mode change at a specific interest frequency.

Description

스캐닝 시스템 및 스캐닝 결과 처리 방법{SCANNING SYSTEM AND RESULT PROCESSING METHOD THEREOF}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a scanning system and a scanning method,

본 발명은 스캐닝 시스템 및 스캐닝 결과 처리 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a scanning system and a scanning result processing method.

전자 부품, 인쇄회로기판(PCB: Printed Circuit Board), 전자 장치 등에서는 여러 요인에 의해 전자파 등의 신호가 발생하는데, 이러한 신호는 사람에 유해하거나 주변 회로에 문제를 발생시킬 수 있다. In electronic parts, printed circuit boards (PCBs), and electronic devices, signals such as electromagnetic waves are generated by various factors. Such signals may be harmful to people or cause problems in peripheral circuits.

따라서, 전자 부품, 인쇄회로기판, 전자 장치 등에서 전자파 등의 신호가 얼마나 발생하는지 등을 정확하게 파악하는 것이 중요하다. 전자파 등의 신호를 측정한 결과 토대로, 설계를 변경하거나 부품 등을 교체하거나 기구의 구조를 변경할 수도 있고, 전자 장치, 전자 부품 등에 대한 전자파 적합성을 테스트할 수도 있다. Therefore, it is important to grasp precisely how many signals such as electromagnetic waves occur in electronic parts, printed circuit boards, electronic devices, and the like. It is also possible to change the design, change the parts or the like, change the structure of the mechanism, or test the electromagnetic compatibility with respect to electronic devices, electronic components, etc. based on the result of measuring the signals such as electromagnetic waves.

이렇게 전자파를 측정하기 위해, 전자 부품, 인쇄회로기판, 전자 장치 등의 스캐닝 대상체를 스캐너의 거치대에 장착하고, 프로브를 이용하여 스캔하면서 전자파 등의 신호를 검출하는 스캐닝 시스템을 사용한다. In order to measure the electromagnetic waves, a scanning system is used in which a scanning object such as an electronic component, a printed circuit board, or an electronic device is mounted on a holder of a scanner, and a signal such as an electromagnetic wave is detected while scanning with a probe.

이러한 기존의 스캐닝 시스템에서는 스캐닝 경로를 따라 스캐닝 대상체를 스캐닝하며, 각 스캔 지점에서 프로브를 통해 검출된 신호를 분석하여 주파수 스펙트럼을 제공하고 있다. In this conventional scanning system, a scanning object is scanned along a scanning path, and a signal is detected through a probe at each scanning point to provide a frequency spectrum.

한편, 일반적으로 스캐닝 대상체가 장착되는 전자 제품은 실제 동작에 따라 여러가지 모드를 가지고 있으며, 각 모드에 따라 검출되는 신호의 분포가 상이할 수 있다. 그런데, 기존의 스캐닝 시스템에서는 각 모드에 따라 신호를 검출하지 않고 있다. Generally, an electronic product to which a scanning object is mounted has various modes according to actual operation, and the distribution of signals to be detected may be different depending on each mode. However, in the conventional scanning system, no signal is detected according to each mode.

본 발명은, 스캐닝 대상체의 실제 동작에 부합되는 복수의 모드를 구현하도록 작동하여 각 모드에서의 신호를 검출할 수 있도록 하는 스캐닝 시스템 및 스캐닝 결과 처리 방법을 제안한다. The present invention proposes a scanning system and a scanning result processing method that enable to detect signals in each mode by operating to implement a plurality of modes corresponding to the actual operation of the scanning object.

본 발명은, 임의의 스캔 지점에 대해 각 모드에서 검출된 신호를 분석하여 모드에 따른 전자파 분포와, 주파수에 따른 전자파 분포를 파악할 수 있도록 하는 스캐닝 시스템 및 스캐닝 결과 처리 방법을 제안한다. The present invention proposes a scanning system and a scanning result processing method for analyzing a signal detected in each mode at an arbitrary scanning point to grasp an electromagnetic wave distribution according to a mode and an electromagnetic wave distribution according to a frequency.

본 발명은, 임의의 스캔 지점에 대해 하나의 모드에서 시간 간격을 두고 복수회 검출된 신호를 분석하여 시간 흐름에 따른 전자파 변화 추이를 파악할 수 있도록 하는 스캐닝 시스템 및 스캐닝 결과 처리 방법을 제안한다. The present invention proposes a scanning system and a scanning result processing method for analyzing a signal detected a plurality of times at a time interval in a single mode for an arbitrary scanning point so as to grasp the trend of the electromagnetic wave change with time.

상기 목적은, 스캐닝 대상체에서 발생하는 신호를 검출하는 스캐너; 상기 스캐닝 대상체의 실제 동작에 부합되는 적어도 하나의 모드 실행을 위한 제어신호를 발생시키는 모드 발생기; 상기 스캐닝 대상체의 각 모드에 따라 상기 스캐너에서 검출된 신호를 분석하는 신호 분석기; 및 상기 신호 분석기에서 분석된 신호를 이용하여 각 모드에서의 주파수 변화 추이를 나타내는 분석 결과를 제공하는 데이터 처리기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 시스템에 의해 달성될 수 있다. The above object is achieved by a scanner comprising: a scanner for detecting a signal generated in a scanning object; A mode generator for generating a control signal for at least one mode execution corresponding to an actual operation of the scanning object; A signal analyzer for analyzing a signal detected by the scanner according to each mode of the scanning object; And a data processor for providing an analysis result indicating a frequency change trend in each mode using the signal analyzed by the signal analyzer.

상기 목적은, 스캐닝 대상체의 실제 동작에 부합되는 적어도 하나의 모드 실행을 위한 제어신호를 발생시키는 단계; 상기 제어신호에 따라 프로브를 동작시켜 상기 모드에 따라 상기 스캐닝 대상체를 스캐닝하는 단계; 상기 스캐닝 대상체의 각 모드에 따라 상기 프로브에서 검출된 신호를 분석하는 단계; 및 상기 분석된 신호를 이용하여 복수의 모드에서의 주파수 변화 추이를 나타내는 분석 결과를 제공하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 결과 처리 방법에 의해 달성될 수 있다. The object is achieved by a method comprising: generating a control signal for at least one mode execution conforming to an actual operation of a scanning object; Operating the probe according to the control signal to scan the scanning object according to the mode; Analyzing a signal detected by the probe according to each mode of the scanning object; And providing an analysis result indicating a frequency change trend in a plurality of modes using the analyzed signal.

본 발명의 스캐닝 시스템 및 스캐닝 결과 처리 방법에 따르면, 각 모드에서 검출된 신호를 분석 및 처리하여 2차원 분석 그래프, 3차원 분석 그래프, 싱글 주파수 분석 그래프로 표시함으로써, 모드에 따른 전자파 분포와, 주파수에 따른 전자파 분포를 파악할 수 있을 뿐만 아니라, 하나의 모드에서 시간 흐름에 따른 전자파 변화 추이를 직관적으로 용이하게 파악할 수 있다.According to the scanning system and the scanning result processing method of the present invention, a signal detected in each mode is analyzed and processed to display a two-dimensional analysis graph, a three-dimensional analysis graph, and a single frequency analysis graph, It is possible to intuitively and easily grasp the change of the electromagnetic wave according to the time flow in one mode.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스캐닝 시스템의 개략적 구성도,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 스캐너의 제어유닛을 포함하는 스캐닝 시스템의 구성블럭도,
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 스캐닝 시스템에서 분석된 임의의 스캔 시점에 대한 각 모드의 주파수 스펙트럼을 이용한 2차원 분석 그래프의 예시도,
도 4는 도 3의 2차원 분석 그래프를 3차원으로 처리한 3차원 분석 그래프의 예시도,
도 5는 도 4의 3차원 분석 그래프에서 특정 관심 주파수에 대한 모드에 따른 신호량 변화를 나타낸 싱글 주파수 분석 그래프의 예시도,
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 스캐닝 시스템에서 분석된 임의의 스캔 시점에서 임의의 모드에 대해 복수회 분석된 주파수 스펙트럼을 이용한 2차원 분석 그래프의 예시도,
도 7은 도 6의 2차원 분석 그래프를 3차원으로 처리한 3차원 분석 그래프의 예시도,
도 8은 도 7의 3차원 분석 그래프에서 특정 관심 주파수에 대한 시간 변화에 따른 신호량 변화를 나타낸 싱글 주파수 분석 그래프의 예시도이다. 1 is a schematic configuration diagram of a scanning system according to an embodiment of the present invention;
2 is a structural block diagram of a scanning system including a control unit of a scanner according to an embodiment of the present invention,
FIG. 3 illustrates an example of a two-dimensional analysis graph using a frequency spectrum of each mode at an arbitrary scan time analyzed in a scanning system according to an exemplary embodiment of the present invention. FIG.
FIG. 4 is an exemplary view of a three-dimensional analysis graph obtained by three-dimensionally processing the two-dimensional analysis graph of FIG. 3;
FIG. 5 is a diagram illustrating a single frequency analysis graph showing a signal amount change according to a mode for a specific frequency of interest in the three-dimensional analysis graph of FIG. 4;
FIG. 6 illustrates an example of a two-dimensional analysis graph using a frequency spectrum analyzed for an arbitrary mode at an arbitrary scan time analyzed in a scanning system according to an exemplary embodiment of the present invention. FIG.
FIG. 7 is an exemplary view of a three-dimensional analysis graph obtained by three-dimensionally processing the two-dimensional analysis graph of FIG. 6;
FIG. 8 is an exemplary diagram of a single frequency analysis graph showing a change in a signal amount with respect to a specific interest frequency in a three-dimensional analysis graph of FIG.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성 요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to exemplary drawings. It should be noted that, in adding reference numerals to the constituent elements of the drawings, the same constituent elements are denoted by the same reference symbols as possible even if they are shown in different drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used. These terms are intended to distinguish the constituent elements from other constituent elements, and the terms do not limit the nature, order or order of the constituent elements. When a component is described as being "connected", "coupled", or "connected" to another component, the component may be directly connected to or connected to the other component, It should be understood that an element may be "connected," "coupled," or "connected."

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스캐닝 시스템의 개략적 구성도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 스캐너의 제어유닛을 포함하는 스캐닝 시스템의 구성블럭도이다. FIG. 1 is a schematic block diagram of a scanning system according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of a scanning system including a control unit of a scanner according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 스캐닝 시스템은, 다양한 모드에서 스캐닝 대상체(5)를 스캔하여 분석하며, 신호의 분석결과를 모드 또는 시간 변화에 따라 3차원적으로 표시함으로써, 모드에 따른 전자파 분포와, 주파수에 따른 전자파 분포를 파악할 수 있을 뿐만 아니라, 하나의 주파수에 대해 모드변화 또는 시간변화에 따른 신호량을 그래프로 나타냄으로써, 특정 관심 주파수에서 모드변화와 시간 흐름에 따른 전자파 변화 추이를 파악할 수 있도록 한다. The scanning system according to the embodiment of the present invention scans and analyzes the scanning object 5 in various modes and three-dimensionally displays the analysis result of the signal according to the mode or time change, , It is possible to grasp the electromagnetic wave distribution according to the frequency and to graph the signal amount according to the mode change or the time change with respect to one frequency so as to grasp the mode change and the electromagnetic wave change according to the time flow at a specific frequency of interest .

본 스캐닝 시스템(1)은, 스캐닝 대상체(5)를 스캐닝하는 스캐너(10), 스캐닝 대상체(5)의 실제 동작에 따른 모드를 구현하기 위한 모드 발생기(50), 스캐너(10)에서 검출된 신호를 토대로 신호 분석 처리를 수행하는 신호 분석기(20), 신호 분석기(20)에서 분석된 결과를 처리하여 그래프화하는 데이터 처리기(60), 스캐너(10)의 작동을 제어하고 신호 분석기(20)로부터 처리되어 데이터 처리기(60)에서 변환된 분석 결과를 표시하는 콘트롤러(30)를 포함할 수 있다. The scanning system 1 includes a scanner 10 for scanning the scanning object 5, a mode generator 50 for implementing a mode according to the actual operation of the scanning target 5, a signal detected by the scanner 10 A data processor 60 for processing and analyzing the results analyzed by the signal analyzer 20 and a controller 60 for controlling the operation of the scanner 10 and controlling the operation of the scanner 10 from the signal analyzer 20 And a controller 30 for displaying the analyzed result processed in the data processor 60.

스캐너(10)는 본체(15), 본체(15)의 상면에 위치하며 스캐닝 대상체(5)가 거치되는 거치대(17), 스캐닝 대상체(5)를 촬영하는 복수개의 카메라(11), 본체(15)에 결합되며 복수개의 카메라(11)가 장착되는 카메라 장착부(12), 스캐닝 대상체(5)를 탐지하는 프로브(13), 프로브(13)를 상하 좌우로 이동시키기 위한 프로브 구동부(19)를 포함할 수 있다. The scanner 10 includes a main body 15, a cradle 17 positioned on the top surface of the main body 15 and on which the scanning target 5 is mounted, a plurality of cameras 11 for capturing the scanning target 5, A camera mounting portion 12 to which a plurality of cameras 11 are mounted, a probe 13 to detect the scanning object 5, and a probe driving portion 19 to move the probe 13 up, down, left, and right can do.

복수개의 카메라(11)는 거치대(17)에 거치된 스캐닝 대상체(5)를 촬영하여 영상 데이터를 카메라(11) 제어용 통신선을 통해 출력하며, 출력된 영상 데이터는 콘트롤러(30)의 모니터(31)에 표시될 수 있다. The plurality of cameras 11 photographs the scanning object 5 placed on the cradle 17 and outputs the image data through the communication line for controlling the camera 11. The outputted image data is sent to the monitor 31 of the controller 30, Lt; / RTI >

프로브(13)는 스캐닝 대상체(5)의 상부를 이동하면서 스캐닝 대상체(5)에서 발생하는 신호를 수신함으로써, 스캐닝 대상체(5)의 신호를 검출할 수 있다. 프로브(13)는 프로브 구동부(19)에 의해 스캐닝 경로를 따라 이동하면서 스캐닝 대상체(5)를 스캔한다. The probe 13 can detect a signal of the scanning target object 5 by receiving a signal generated from the scanning target object 5 while moving the scanning target object 5. [ The probe 13 scans the scanning target body 5 while moving along the scanning path by the probe driving unit 19. [

프로브 구동부(19)는, 프로브(13)를 구동하기 위한 하드웨어적인 구성으로서, 프로브(13)의 이동 제어를 위한 모터, 벨트 등의 구조물을 포함할 수 있다. The probe driving unit 19 may include a structure such as a motor and a belt for controlling the movement of the probe 13 as a hardware structure for driving the probe 13. [

이러한 하드웨어적인 구성과 함께, 스캐너(10)는 카메라(11)의 동작과 프로브(13)의 동작을 제어하기 위한 제어유닛(40)을 포함할 수 있다. In addition to this hardware configuration, the scanner 10 may include a control unit 40 for controlling the operation of the camera 11 and the operation of the probe 13.

제어유닛(40)은, 카메라(11)의 촬영 작동을 제어하는 카메라 제어부(43), 프로브 구동부(19)의 동작을 제어하는 프로브 제어부(47), 콘트롤러(30)와의 정보 송수신을 위한 콘트롤러측 통신부(41), 신호 분석기(20)로 프로브(13)에서 감지된 신호를 제공하는 분석기측 통신부(49)를 포함할 수 있다. The control unit 40 includes a camera control unit 43 for controlling the photographing operation of the camera 11, a probe control unit 47 for controlling the operation of the probe driving unit 19, a controller for transmitting and receiving information to and from the controller 30 Side communication unit 49 that provides a signal sensed by the probe 13 to the communication unit 41 and the signal analyzer 20. The analyzer-

카메라 제어부(43)는 콘트롤러(30)로부터의 명령에 따라 카메라(11)를 작동시켜 스캐닝 대상체(5)를 촬영하도록 한다. The camera control unit 43 operates the camera 11 in accordance with a command from the controller 30 so as to photograph the scanning target object 5.

콘트롤러측 통신부(41)는, 콘트롤러(30)와의 통신을 통해 콘트롤러(30)에서 입력된 명령을 수신하여 프로브 제어부(47)로 제공할 수 있다. The controller-side communication unit 41 may receive the command input from the controller 30 through the communication with the controller 30 and provide the received command to the probe control unit 47.

분석기측 통신부(49)는 신호 분석기(20)와 통신하며, 프로브(13)에서 감지된 신호를 신호 분석기(20)로 전달할 수 있다. The analyzer side communication unit 49 communicates with the signal analyzer 20 and can transmit the signal detected by the probe 13 to the signal analyzer 20. [

프로브 제어부(47)는 프로브 구동부의 동작을 제어하여 프로브의 스캔 동작을 제어할 수 있으며, 이때, 프로브 제어부(47)는 프로브가 미리 결정된 스캐닝 경로를 따라 이동하도록 프로브 구동부(19)의 동작을 제어한다. 프로브 제어부(47)는 스캐닝 경로 상의 각 스캔 지점에서 프로브(13)가 신호를 수신하도록 프로브 구동부(19)를 제어하며, 프로브(13)가 각 스캔 지점에서 적어도 스윕 주기(Sweep Time)동안 머물도록 한다. The probe control unit 47 controls the operation of the probe driving unit 19 to control the operation of the probe driving unit 19 so that the probe moves along a predetermined scanning path. do. The probe control unit 47 controls the probe driving unit 19 so that the probe 13 receives a signal at each scan point on the scanning path so that the probe 13 stays at least during a sweep period at each scan point. do.

한편, 프로브 제어부(47)는 스캐닝 대상체(5)를 스캔해야 하는 모드의 개수가 여러 개인 경우, 모드의 개수만큼 프로브(13)가 스캐닝 경로를 이동하면서 스캔하도록 프로브 구동부(19)를 제어한다. 즉, 모드의 개수가 5이면, 프로브 제어부(47)는 프로브(13) 동일한 스캐닝 경로를 5번 이동하면서 스캔하도록 프로브 구동부(19)를 제어한다.The probe control unit 47 controls the probe driving unit 19 so that the probe 13 scans while moving the scanning path by the number of modes when there are a plurality of modes in which the scanning object 5 should be scanned. That is, when the number of modes is 5, the probe control unit 47 controls the probe driving unit 19 to scan the same scanning path five times while the probe 13 is moving.

모드 발생기(50)는, 스캐닝 대상체(5)를 스캐닝할 때, 스캐닝 대상체(5)의 작동 모드에 대응되는 모드를 구현하기 위한 제어신호를 발생시킬 수 있다. 스캐닝 대상체(5)는 다양한 전자제품의 인쇄회로기판일 수 있으며, 이 경우, 각 전자제품은 상호 상이한 다양한 작동 모드를 가지게 된다. 그리고 각 작동 모드에서 인쇄회로기판에서 발생하는 각 주파수의 신호레벨이 상이할 수 있다. 이에 따라, 본 모드 발생기(50)는, 각 전자제품의 작동 모드에 대한 정보를 가지고 있으며, 해당 작동 모드에 대응되도록 전원공급을 제어하기 위한 제어신호를 발생시킬 수 있다.The mode generator 50 may generate a control signal for implementing a mode corresponding to the operation mode of the scanning target object 5 when scanning the scanning target object 5. [ The scanning object 5 may be a printed circuit board of various electronic products, in which case the electronic products have different operating modes which are different from each other. And the signal level of each frequency generated in the printed circuit board in each operation mode may be different. Accordingly, the mode generator 50 has information on the operation mode of each electronic product, and can generate a control signal for controlling the power supply to correspond to the operation mode.

예를 들어, 스캐닝 대상체(5)가 TV에 장착되는 인쇄회로기판인 경우, 모드 발생기(50)는 TV의 작동 모드에 대응되는 모드를 위한 제어신호를 발생시킨다. 일반적으로 TV의 작동 모드는, 전원이 인가되지 아니한 상태인 OFF 모드, 전원이 인가되고 리모콘으로부터의 턴온 신호를 대기하는 스탠바이 모드, 전원이 인가된 상태의 동작 I 모드, 채널이 변경되는 상태의 동작 II 모드, DVD 플레이어 등이 연결되어 동작하는 동작 III 모드, TV에는 전원이 인가되었으나 셋톱박스가 동작하지 아니하여 신호가 없는 슬립 모드(Sleep Mode) 등을 포함할 수 있다. 이에 따라, 모드 발생기(50)는 OFF 모드, 스탠바이 모드, 동작 I 모드, 동작 II 모드, 동작 III 모드, 슬립 모드에 부합되도록 인쇄회로기판의 전원 공급 및 동작을 제어하는 제어신호를 생성하여 스캐너(10)로 제공할 수 있다. For example, when the scanning object 5 is a printed circuit board mounted on a TV, the mode generator 50 generates a control signal for a mode corresponding to the operation mode of the TV. In general, an operation mode of the TV is an OFF mode in which power is not applied, a standby mode in which power is applied and a turn-on signal is received from the remote controller, an operation I mode in which power is supplied, A sleep mode in which the power is supplied to the TV but the set-top box is not operated and there is no signal, and the like. Accordingly, the mode generator 50 generates a control signal for controlling power supply and operation of the printed circuit board so as to match the OFF mode, the standby mode, the operation I mode, the operation II mode, the operation III mode, 10).

또한, 모드 발생기(50)에서는 이러한 모드들 중 특정 모드들을 선택하여 실험을 위한 실험 모드 그룹을 구성하고, 실험 모드 그룹을 구현하기 위한 제어신호를 제공할 수 있다. 실험 모드 그룹은, 스캐닝 대상체(5)에 대해 주로 사용되는 모드들이 반복적으로 동작하도록 설계한 것이다. 예를 들어, TV의 경우에는 전원이 인가되고 리모콘에 의해 턴온되면, 전원이 인가된 상태의 동작 I 모드와 채널이 변경되는 상태인 동작 II 모드가 주로 번갈아 사용된다. 따라서, 모드 발생기(50)는 동작 I 모드와 동작 II 모드가 소정 간격으로 번갈아가며 작동되도록 하는 실험 모드 그룹을 설정하여 제공할 수 있다. 이러한 실험 모드 그룹은 스캐닝 대상체(5)의 종류에 따라 다양하게 구성될 수 있다. Also, in the mode generator 50, it is possible to select specific modes among these modes to configure an experiment mode group for experimentation and provide a control signal for implementing the experiment mode group. The experiment mode group is designed so that the modes mainly used for the scanning object 5 are repeatedly operated. For example, in the case of a TV, when the power is applied and turned on by the remote controller, the operation I mode in which the power is applied and the operation II mode in which the channel is changed are mainly used alternately. Accordingly, the mode generator 50 may set and provide an experimental mode group in which the operation I mode and the operation II mode are alternately operated at predetermined intervals. The experiment mode group may be configured in various ways according to the type of the scanning object 5.

모드 발생기(50)는 스캐너(10)의 프로브 제어부(47)로 각 모드에 부합되는 제어신호를 제공하는 한편, 모드에 대한 정보를 데이터 처리기(60)로 제공함으로써, 데이터 처리기(60)에서 분석된 신호를 기반으로 2차원 및 3차원 분석 그래프를 작성할 때, 분석된 신호와 모드를 매칭하여 그래프를 작성할 수 있도록 한다. The mode generator 50 provides the control signal corresponding to each mode to the probe control unit 47 of the scanner 10 while providing information on the mode to the data processor 60, When two-dimensional and three-dimensional analytical graphs are created based on the signals obtained, it is possible to create a graph by matching the analyzed signals and modes.

모드 발생기(50)에서 제어신호를 제공받은 프로브 제어부(47)는, 각 모드에 따라 스캐닝 대상체(5)에 공급되는 전원을 제어하는 한편, 스캐닝 대상체(5)의 회로동작을 제어할 수 있다. 예를 들어, off 모드인 경우, 프로브 제어부(47)는 스캐닝 대상체(5)로 전원공급을 차단하고, 스탠바이 모드인 경우에는 리모콘과의 통신을 위한 회로에만 전원을 공급하는 등 스캐닝 대상체(5)에 공급되는 전원을 제어할 수 있다. The probe control unit 47 that has received the control signal from the mode generator 50 can control the power supply to the scanning target object 5 and control the circuit operation of the scanning target object 5 according to each mode. For example, in the off mode, the probe control unit 47 cuts off the power supply to the scanning object 5, supplies power only to the circuit for communication with the remote controller in the standby mode, Can be controlled.

신호 분석기(20)는 스캐닝 대상체(5)를 스캔하여 획득한 신호를 입력받아 분석처리하고, 분석처리된 결과를 데이터 처리기(60)로 전달할 수 있다. 신호 분석기(20)는 모드 발생기(50)에 의해 제어된 스캐너(10)의 각 모드에서 스캐닝 대상체(5)에서 발생된 신호를 제공받아 분석할 수 있다. 이때, 스캐너(10)의 프로브에서는 하나의 스캔 지점에서 스윕 주기(Sweep Time)동안 신호를 수신하며, 이에 따라, 신호 분석기(20)에서는 스윕 주기마다 하나의 스캔 지점에 대해 하나의 모드에서 수집된 신호를 분석하여 주파수 스펙트럼을 형성하게 된다. 즉, 신호 분석기(20)에서는 각 스캔 지점에서 복수의 모드 각각에 대한 주파수 스펙트럼을 생성하게 된다. 이렇게 각 스캔 지점에서 복수의 모드 각각에 대해 분석된 주파수 스펙트럼은 데이터 처리기(60)로 제공된다. The signal analyzer 20 receives the signal obtained by scanning the scanning object 5, analyzes and processes the signal, and transmits the analyzed result to the data processor 60. The signal analyzer 20 can receive and analyze the signal generated from the scanning object 5 in each mode of the scanner 10 controlled by the mode generator 50. [ At this time, in the probe of the scanner 10, the signal is received during one sweep period at one scan point. Accordingly, in the signal analyzer 20, one scan point is collected in one mode per sweep period The signal is analyzed to form a frequency spectrum. That is, the signal analyzer 20 generates a frequency spectrum for each of a plurality of modes at each scan point. The frequency spectrum thus analyzed for each of the plurality of modes at each scan point is provided to the data processor 60.

데이터 처리기(60)는 신호 분석기(20)로부터 각 모드에 대한 주파수 스펙트럼을 제공받아 2차원 분석 그래프, 3차원 분석 그래프, 및 싱글 주파수 분석 그래프를 작성할 수 있다. The data processor 60 receives the frequency spectrum for each mode from the signal analyzer 20 and can generate a two-dimensional analysis graph, a three-dimensional analysis graph, and a single frequency analysis graph.

먼저, 데이터 처리기(60)는 신호 분석기(20)로부터 한 스캔 지점에서 검출되어 분석된 복수의 모드에 대한 주파수 스펙트럼을 제공받으면, 도 3의 (a) 내지 (f)에 도시된 바와 같이, 각 모드에 대한 주파수 스펙트럼 그래프를 생성한다. 그런 다음, 복수의 모드에 대한 주파수 스펙트럼 그래프를, 도 3에 도시된 바와 같이, 순차적으로 나열하여 2차원 분석 그래프를 생성할 수 있다. First, the data processor 60 receives a frequency spectrum of a plurality of modes detected and analyzed at a scan point from the signal analyzer 20, and then, as shown in FIGS. 3A through 3F, Mode frequency spectrum graph for the mode. Then, a frequency spectrum graph for a plurality of modes can be sequentially arranged as shown in FIG. 3 to generate a two-dimensional analysis graph.

또한, 데이터 처리기(60)는 복수의 모드에 대한 주파수 스펙트럼 그래프를 미리 설정된 소정 간격을 두고 배치한 다음, 동일한 주파수에서의 신호레벨들을 상호 연결함으로써, 도 4에 도시된 바와 같이, 3차원 분석 그래프를 생성할 수 있다. In addition, the data processor 60 arranges the frequency spectrum graphs for the plurality of modes at predetermined intervals, and then interconnects the signal levels at the same frequency. As a result, as shown in FIG. 4, Lt; / RTI >

2차원 분석 그래프와 3차원 분석 그래프는 모두 한 스캔 지점에서 감지된 신호를 분석하여 생성된 것으로서, x축은 주파수를 나타내고 y축은 각 주파수의 신호레벨을 나타낸다. The two-dimensional analysis graph and the three-dimensional analysis graph are generated by analyzing a signal detected at one scan point. The x-axis represents the frequency and the y-axis represents the signal level of each frequency.

이러한 2차원 분석 그래프와 3차원 분석 그래프를 통해, 하나의 스캔 지점에 대해 모드에 따른 각 주파수의 신호레벨의 변화 추이를 파악할 수 있으므로, 모드에 따른 전자파 분포와, 주파수에 따른 전자파 분포를 파악할 수 있다. The two-dimensional analysis graph and the three-dimensional analysis graph can grasp the change in the signal level of each frequency according to the mode with respect to one scan point. Therefore, it is possible to grasp the electromagnetic wave distribution according to the mode and the electromagnetic wave distribution according to the frequency have.

이러한 2차원 및 3차원 분석 그래프와 함께, 도 5에 도시된 바와 같이, 데이터 처리기(60)는 하나의 특정 관심 주파수에 대해 각 모드에서 얻어진 신호레벨을 하나의 그래프로 작성한 싱글 주파수 분석 그래프를 생성할 수 있다. 데이터 처리기(60)는 미리 설정된 복수의 주파수에 대해 싱글 주파수 분석 그래프를 생성할 수 있으며, 싱글 주파수 분석 그래프는 일반적으로 해당 스캐닝 대상체(5)의 성능에 영향을 줄 수 있는 복수의 주파수에 대해 작성될 수 있다. In addition to the two-dimensional and three-dimensional analysis graphs, the data processor 60 generates a single frequency analysis graph in which a signal level obtained in each mode for one specific frequency of interest is created as one graph, as shown in FIG. can do. The data processor 60 may generate a single frequency analysis graph for a plurality of predetermined frequencies, and the single frequency analysis graph is generally prepared for a plurality of frequencies that may affect the performance of the corresponding scanning object 5 .

싱글 주파수 분석 그래프는, x축은 각 모드를 나타내고, y축은 각 모드에서의 해당 주파수의 신호레벨을 나타낸다. 이러한 싱글 주파수 분석 그래프를 통해, 특정 관심 주파수에 대해 어떤 모드에서 신호레벨이 높은지 작은지 등을 파악할 수 있다. In the single frequency analysis graph, the x-axis represents each mode and the y-axis represents the signal level of the corresponding frequency in each mode. Through this single frequency analysis graph, it is possible to grasp whether the signal level is high or low in a certain mode for a particular frequency of interest.

한편, 데이터 처리기(60)는 하나의 모드에 대해 복수회의 스캐닝이 이루어진 경우, 도 6에 도시된 바와 같이, 해당 모드에 대해 분석된 주파수 스펙트럼을 시간 순서에 따라 배열하고, 도 7에 도시된 바와 같이, 동일한 주파수의 신호레벨들을 상호 선형적으로 연결하여 3차원 분석 그래프를 생성할 수 있다. 이에 따라, 각 모드에서 전원이 공급되고 시간이 경과함에 따라 회로 상의 소자간 간섭이나 열화 등에 의한 스캐닝 대상체(5)의 전자파 변화를 파악할 수 있다. 6, the data processor 60 arranges the frequency spectrum analyzed for the corresponding mode in time order, as shown in FIG. 6, Likewise, signal levels of the same frequency can be interconnected linearly to generate a three-dimensional analysis graph. Thus, as the power is supplied in each mode and the time elapses, it is possible to grasp the electromagnetic wave change of the scanning object 5 due to inter-element interference or degradation in the circuit.

또한, 데이터 처리기(60)는, 도 7의 3차원 분석 그래프에서 특정 관심 주파수에 대해 각 검출 회차의 신호레벨을 이용하여, 도 8에 도시된 바와 같이, 싱글 주파수 분석 그래프를 작성할 수 있다. Further, the data processor 60 can generate a single frequency analysis graph as shown in FIG. 8 by using the signal level of each detection interval for a specific frequency of interest in the three-dimensional analysis graph of FIG.

이렇게 데이터 처리기(60)에서 생성된 2차원 및 3차원 분석 그래프와 싱글 주파수 분석 그래프는 콘트롤러(30)로 제공된다. The two-dimensional and three-dimensional analysis graph and the single frequency analysis graph generated in the data processor 60 are provided to the controller 30.

콘트롤러(30)는, 스캐너(10)의 제어 및 결과 표시를 위한 모니터(31)와, 스캐너(10)의 작동을 제어하기 위한 자판, 마우스 등의 입력장치(33)를 포함할 수 있다. The controller 30 may include a monitor 31 for controlling the scanner 10 and displaying the results thereof and an input device 33 such as a keyboard and a mouse for controlling the operation of the scanner 10.

콘트롤러(30)의 모니터(31)에는 스캐너(10)의 작동시 스캐닝 대상체(5)의 모드를 선택하기 위한 모드선택화면이 제공되고, 실험자는 모드선택화면을 통해 스캐닝 대상체(5)를 선택하거나, 모드의 변경시마다 모드를 선택하도록 할 수도 있다. 콘트롤러(30)의 입력장치(33)를 이용하여 스캐닝 대상체(5)를 선택하면, 모드 발생기(50)는 선택된 대상체(5)에 대해 미리 설정된 모드 그룹 또는 실험 모드 그룹을 표시하고, 실험자의 선택에 따라 선택된 모드 그룹 또는 실험 모드 그룹에 포함된 순서대로 모드를 실행하도록 제어신호를 발생시켜 스캐너(10)로 전달할 수 있다. 또는 콘트롤러(30)의 입력장치(33)를 이용하여 스캐닝 대상체(5)의 실험에 필요한 모드를 직접 선택하면, 모드 발생기(50)에서는 해당 모드에 대한 제어신호를 발생시켜 스캐너(10)로 전달할 수 있다. A mode selection screen for selecting a mode of the scanning object 5 in operation of the scanner 10 is provided on the monitor 31 of the controller 30 and the experimenter selects the scanning target object 5 through the mode selection screen , The mode may be selected each time the mode is changed. When the scanning object 5 is selected using the input device 33 of the controller 30, the mode generator 50 displays a preset mode group or an experiment mode group for the selected object 5, A control signal may be generated to be transmitted to the scanner 10 in order to execute the mode in the order of the selected mode group or the experiment mode group. The mode generator 50 generates a control signal for the corresponding mode and transmits the control signal to the scanner 10 using the input device 33 of the controller 30 or directly selects a mode necessary for the experiment of the scanning object 5 .

한편, 콘트롤러(30)의 모니터(31)에는 데이터 처리기(60)에서 생성된 2차원 및 3차원 분석 그래프와 싱글 주파수 분석 그래프가 표시될 수 있다. On the other hand, the monitor 31 of the controller 30 may display a two-dimensional and three-dimensional analysis graph and a single frequency analysis graph generated by the data processor 60.

이러한 구성에 의한 스캐닝 시스템(1)에서 스캐닝 대상체(5)의 신호를 분석한 결과를 표시하는 과정을 살펴보면 다음과 같다. A process of displaying the result of analyzing the signal of the scanning object 5 in the scanning system 1 with such a configuration will be described below.

스캐닝 시스템(1)에 전원이 공급되고 거치대에 스캐닝 대상체(5)가 거치되면, 실험자는 콘트롤러(30)의 모니터(31)를 통해 모드선택화면을 제공받는다. 실험자가 모드선택화면에서 스캐닝 대상체(5)의 모드 그룹, 실험 모드 그룹, 모드 중 하나를 선택하면, 콘트롤러(30)는 실험자가 선택한 정보를 모드 발생기(50)로 제공한다. When power is supplied to the scanning system 1 and the scanning object 5 is placed on the cradle, the experimenter is provided with a mode selection screen through the monitor 31 of the controller 30. When the experimenter selects one of the mode group, the experiment mode group, and the mode of the scanning target object 5 on the mode selection screen, the controller 30 provides the information selected by the experimenter to the mode generator 50.

모드 발생기(50)에서는 스캐닝 대상체(5)의 모드 그룹 또는 실험 모드 그룹이 선택된 경우에는 스캐닝 대상체(5)에 대한 모드 그룹 또는 실험 모드 그룹에 부합되는 제어신호를 스캐너(10)로 제공한다. 모드 발생기(50)에서는 모드가 선택된 경우에는 해당 모드에 부합되는 제어신호를 스캐너(10)로 제공한다. In the mode generator 50, when a mode group or an experiment mode group of the scanning target object 5 is selected, a control signal corresponding to a mode group or an experiment mode group for the scanning target object 5 is provided to the scanner 10. When the mode is selected in the mode generator 50, the control signal corresponding to the mode is supplied to the scanner 10.

스캐너(10)의 프로브 제어부(47)에서는 제어신호에 부합되도록 스캐닝 대상체(5)에 공급되는 전원을 제어하고 스캐닝 대상체(5)의 회로동작을 제어하는 한편, 프로브 구동부(19)로 구동신호를 제공하여 프로브(13)의 동작을 제어한다. 이때, 모드가 복수개이므로, 프로브 제어부(47)는 하나의 모드에 대해 프로브(13)가 스캐닝 경로를 따라 이동하여 스캔을 완료하도록 제어한 다음, 다른 모드로 셋팅하고 프로브(13)가 스캐닝 경로를 따라 이동하면서 새로이 신호의 검출을 수행하도록 한다. The probe control unit 47 of the scanner 10 controls the power source supplied to the scanning object 5 so as to conform to the control signal and controls the circuit operation of the scanning target object 5 and the driving signal to the probe driving unit 19 So as to control the operation of the probe 13. In this case, since there are a plurality of modes, the probe control unit 47 controls the probe 13 to move along the scanning path to complete the scanning for one mode, and then sets the mode to another mode, and the probe 13 sets the scanning path So that detection of a new signal is performed.

이렇게 스캔이 완료되면, 스캔에 의해 검출된 신호는 신호 분석기(20)로 제공된다. 신호 분석기(20)에서는 검출된 신호를 분석하여 주파수 스펙트럼 을 데이터 처리기(60)로 전달한다. When the scan is completed, the signal detected by the scan is supplied to the signal analyzer 20. The signal analyzer 20 analyzes the detected signal and transmits the frequency spectrum to the data processor 60.

데이터 처리기(60)에서는 각 스캔 지점에 대해 복수의 모드에서의 2차원 주파수 스펙트럼 그래프를 생성하고, 복수의 2차원 주파수 스펙트럼 그래프를 배열하여 2차원 분석 그래프를 제공한다. 그리고, 2차원 분석 그래프에서 이웃하는 모드의 각 주파수 신호레벨들을 연결하여 3차원 분석 그래프를 생성한다. 그런 다음, 각 모드에서 동일한 주파수에 대한 신호레벨들을 선택하여 싱글 주파수 분석 그래프를 생성한다. The data processor 60 generates a two-dimensional frequency spectrum graph in a plurality of modes for each scan point, and arranges a plurality of two-dimensional frequency spectrum graphs to provide a two-dimensional analysis graph. Then, the three-dimensional analysis graph is generated by connecting the frequency signal levels of neighboring modes in the two-dimensional analysis graph. Then, in each mode, the signal levels for the same frequency are selected to generate a single frequency analysis graph.

또한, 데이터 처리기(60)에서는 각 스캔 지점에 대해 하나의 모드로 복수회 신호를 측정한 경우, 각 회차에서 검출하여 분석한 주파수 스펙트럼을 회차 별로 나열한 다음, 동일한 주파수에 대한 신호레벨들을 연결하여 3차원 분석 그래프를 생성한다. 그런 다음, 각 회차에서 동일한 주파수에 대한 신호레벨들을 선택하여 싱글 주파수 분석 그래프를 생성한다. In the data processor 60, when the signal is measured a plurality of times in one mode for each scan point, the frequency spectra detected and analyzed in each cycle are arranged for each rotation, and the signal levels for the same frequency are connected to each other Generate dimension analysis graph. Then, the signal levels for the same frequency are selected in each cycle to generate a single frequency analysis graph.

데이터 처리기(60)에서는 생성된 2차원 분석 그래프, 3차원 분석 그래프, 싱글 주파수 분석 그래프를 실험자의 선택에 따라 콘트롤러(30)의 모니터에 표시한다. The data processor 60 displays the generated two-dimensional analysis graph, three-dimensional analysis graph, and single frequency analysis graph on the monitor of the controller 30 according to the selection of the experimenter.

이와 같이, 본 발명에 따른 스캐닝 시스템에서는 스캐닝 대상체(5)의 실제 작동에 따른 복수의 모드로 스캐닝 대상체(5)를 구동하고, 각 모드에서 검출된 신호를 분석 및 처리할 수 있다. 이때, 임의의 스캔 지점에 대해 각 모드에서 검출된 신호를 분석함으로써, 모드에 따른 전자파 분포와, 주파수에 따른 전자파 분포를 파악할 수 있다. 또한, 임의의 스캔 지점에 대해 하나의 모드에서 시간 간격을 두고 복수회 검출된 신호를 분석함으로써, 시간 흐름에 따른 전자파 변화 추이를 파악할 수 있도록 한다. 뿐만 아니라, 분석결과를 2차원 분석 그래프, 3차원 분석 그래프, 싱글 주파수 분석 그래프로 각각 나타낼 수 있도록 함으로써, 스캐닝 시스템에서 검출하여 분석한 결과를 직관적으로 용이하게 파악할 수 있다. As described above, in the scanning system according to the present invention, the scanning object 5 can be driven in a plurality of modes according to the actual operation of the scanning object 5, and the signals detected in each mode can be analyzed and processed. At this time, by analyzing the signals detected in each mode for an arbitrary scan point, it is possible to grasp the electromagnetic wave distribution according to the mode and the electromagnetic wave distribution according to the frequency. In addition, by analyzing a signal detected a plurality of times with a time interval in one mode for an arbitrary scan point, it is possible to grasp the change of the electromagnetic wave according to time. In addition, the analysis results can be represented by a two-dimensional analysis graph, a three-dimensional analysis graph, and a single frequency analysis graph, respectively, so that the results of detection and analysis in a scanning system can be intuitively and easily grasped.

전술한 실시예에서 언급한 표준내용 또는 표준문서들은 명세서의 설명을 간략하게 하기 위해 생략한 것으로 본 명세서의 일부를 구성한다. 따라서, 위 표준내용 및 표준문서들의 일부의 내용을 본 명세서에 추가하거나 청구범위에 기재하는 것은 본 발명의 범위에 해당하는 것으로 해석되어야 한다. The standard content or standard documents referred to in the above-mentioned embodiments constitute a part of this specification, for the sake of simplicity of description of the specification. Therefore, it is to be understood that the content of the above standard content and portions of the standard documents are added to or contained in the scope of the present invention.

이상의 설명은 본 발명의 기술사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야하며, 그와 동등한 범위내에 있는 모든 기술사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The foregoing description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents thereof should be construed as falling within the scope of the present invention.

1 : 스캐닝 시스템 5 : 스캐닝 대상체
10 : 스캐너 13 : 프로브
20 : 신호 분석기 30 : 콘트롤러
40 : 제어유닛 50 : 모드 발생기
60 : 데이터 처리기 1: Scanning system 5: Scanning object
10: scanner 13: probe
20: Signal Analyzer 30: Controller
40: control unit 50: mode generator
60: Data processor

Claims (20)

스캐닝 대상체에서 발생하는 신호를 검출하는 스캐너;
상기 스캐닝 대상체의 실제 동작에 부합되는 적어도 하나의 모드 실행을 위한 제어신호를 발생시키는 모드 발생기;
상기 스캐닝 대상체의 각 모드에 따라 상기 스캐너에서 검출된 신호를 분석하는 신호 분석기; 및
상기 신호 분석기에서 분석된 신호를 이용하여 각 모드에서의 주파수 변화 추이를 나타내는 분석 결과를 제공하는 데이터 처리기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 시스템. A scanner for detecting a signal generated in the scanning object;
A mode generator for generating a control signal for at least one mode execution corresponding to an actual operation of the scanning object;
A signal analyzer for analyzing a signal detected by the scanner according to each mode of the scanning object; And
And a data processor for providing an analysis result indicating a frequency change trend in each mode using a signal analyzed by the signal analyzer. 제1항에 있어서,
상기 모드 발생기는, 상기 스캐닝 대상체의 종류에 따라, 상기 스캐닝 대상체의 실제 동작에 부합되는 복수의 모드로 조합된 모드 그룹의 작동을 제어하는 제어신호를 발생시키는 것을 특징으로 하는 스캐닝 시스템. The method according to claim 1,
Wherein the mode generator generates a control signal for controlling operation of a mode group combined in a plurality of modes corresponding to the actual operation of the scanning target object in accordance with the type of the scanning target object. 제1항에 있어서,
상기 모드 발생기는, 상기 스캐닝 대상체의 종류에 따라 주로 사용되는 모드들이 반복적으로 동작하도록 설계된 실험 모드 그룹의 작동을 제어하는 제어신호를 발생시키는 것을 특징으로 하는 스캐닝 시스템. The method according to claim 1,
Wherein the mode generator generates a control signal for controlling the operation of the experiment mode group designed to repeatedly operate the modes mainly used depending on the type of the scanning object. 제1항에 있어서,
상기 신호 분석기는 임의의 스캔 지점에 대해 상기 각 모드에서의 신호를 분석하여 주파수 스펙트럼을 형성하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 시스템. The method according to claim 1,
Wherein the signal analyzer analyzes the signal in each mode for an arbitrary scan point to form a frequency spectrum. 제1항에 있어서,
상기 신호 분석기는 임의의 스캔 지점에서 임의의 모드에 대해 복수회 스캔하여 생성된 신호를 분석하여 복수의 주파수 스펙트럼을 형성하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 시스템. The method according to claim 1,
Wherein the signal analyzer scans the generated signal a plurality of times for an arbitrary mode at an arbitrary scan point to form a plurality of frequency spectra. 제1항에 있어서,
상기 데이터 처리기는 상기 신호 분석기에서 분석된 상기 각 모드에서의 주파수 스펙트럼을 소정 간격을 두고 순차적으로 배치한 2차원 분석 그래프를 생성하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 시스템. The method according to claim 1,
Wherein the data processor generates a two-dimensional analysis graph in which frequency spectra in the respective modes analyzed in the signal analyzer are sequentially arranged at predetermined intervals. 제6항에 있어서,
상기 데이터 처리기는 상기 2차원 분석 그래프에서 이웃하는 모드의 동일한 주파수에 대한 신호레벨을 연결하여 3차원 분석 그래프를 생성하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 시스템. The method according to claim 6,
Wherein the data processor generates a three-dimensional analysis graph by connecting signal levels for the same frequency in a neighboring mode in the two-dimensional analysis graph. 제1항에 있어서,
상기 데이터 처리기는 임의의 모드에 대해 생성된 복수의 주파수 스펙트럼을 시간에 따라 배치하고, 동일한 주파수에 대한 신호레벨을 연결하여 3차원 분석 그래프를 생성하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 시스템. The method according to claim 1,
Wherein the data processor generates a three-dimensional analysis graph by arranging a plurality of frequency spectra generated for a certain mode in time and connecting signal levels for the same frequency. 제6항에 있어서,
상기 데이터 처리기는 상기 2차원 분석 그래프에서 특정 관심 주파수에 대해 각 모드에서의 신호레벨을 추출하여 싱글 주파수 분석 그래프를 생성하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 시스템. The method according to claim 6,
Wherein the data processor extracts a signal level in each mode for a particular frequency of interest in the two-dimensional analysis graph to generate a single frequency analysis graph. 제1항에 있어서,
상기 스캐너는, 상기 모드 발생기로부터의 제어신호에 따라 상기 스캐닝 대상체로 제공되는 전원 공급 및 회로 동작을 제어하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 시스템. The method according to claim 1,
Wherein the scanner controls power supply and circuit operation provided to the scanning object according to a control signal from the mode generator. 스캐닝 대상체의 실제 동작에 부합되는 적어도 하나의 모드 실행을 위한 제어신호를 발생시키는 단계;
상기 제어신호에 따라 프로브를 동작시켜 상기 모드에 따라 상기 스캐닝 대상체를 스캐닝하는 단계;
상기 스캐닝 대상체의 각 모드에 따라 상기 프로브에서 검출된 신호를 분석하는 단계; 및
상기 분석된 신호를 이용하여 복수의 모드에서의 주파수 변화 추이를 나타내는 분석 결과를 제공하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 결과 처리 방법. Generating a control signal for at least one mode execution corresponding to an actual operation of the scanning object;
Operating the probe according to the control signal to scan the scanning object according to the mode;
Analyzing a signal detected by the probe according to each mode of the scanning object; And
And providing an analysis result indicating a frequency change trend in a plurality of modes using the analyzed signal. 제11항에 있어서,
상기 제어신호를 발생시키는 단계는, 상기 각 모드에 따라 상기 스캐닝 대상체로의 전원 공급 및 회로 동작을 제어하기 위한 제어신호를 발생시키는 단계인 것을 특징으로 하는 스캐닝 결과 처리 방법. 12. The method of claim 11,
Wherein the step of generating the control signal is a step of generating a control signal for controlling power supply to the scanning object and circuit operation according to each mode. 제11항에 있어서,
상기 신호를 분석하는 단계는, 임의의 스캔 지점에 대해 상기 각 모드에서 검출된 신호를 분석하여 복수의 주파수 스펙트럼을 형성하는 단계인 것을 특징으로 하는 스캐닝 결과 처리 방법. 12. The method of claim 11,
Wherein the step of analyzing the signal is a step of analyzing a signal detected in each mode with respect to an arbitrary scan point to form a plurality of frequency spectra. 제11항에 있어서,
상기 신호를 분석하는 단계는, 임의의 스캔 지점에서 임의의 모드에 대해 복수회 스캔하여 검출된 신호를 분석하여 복수의 주파수 스펙트럼을 형성하는 단계인 것을 특징으로 하는 스캐닝 결과 처리 방법. 12. The method of claim 11,
Wherein the step of analyzing the signal is a step of scanning plural times for an arbitrary mode at an arbitrary scan point and analyzing the detected signal to form a plurality of frequency spectra. 제11항 또는 제13항에 있어서,
상기 분석 결과를 제공하는 단계는, 상기 각 모드에서 대해 생성된 주파수 스펙트럼을 소정 간격을 두고 순차적으로 배치한 2차원 분석 그래프를 생성하는 단계인 것을 특징으로 하는 스캐닝 결과 처리 방법. 14. The method according to claim 11 or 13,
Wherein the step of providing the analysis result is a step of generating a two-dimensional analysis graph in which frequency spectra generated in each mode are sequentially arranged at predetermined intervals. 제15항에 있어서,
상기 분석 결과를 제공하는 단계는, 상기 2차원 분석 그래프에서 이웃하는 모드의 동일한 주파수에 대한 신호레벨을 연결하여 3차원 분석 그래프를 생성하는 단계인 것을 특징으로 하는 스캐닝 결과 처리 방법. 16. The method of claim 15,
Wherein the providing of the analysis result is a step of generating a three-dimensional analysis graph by connecting the signal levels for the same frequency in the neighboring mode in the two-dimensional analysis graph. 제16항에 있어서,
상기 분석 결과를 제공하는 단계는, 상기 3차원 분석 그래프에서 특정 관심 주파수에 대해 각 모드에서의 신호레벨을 추출하여 싱글 주파수 분석 그래프를 생성하는 단계인 것을 특징으로 하는 스캐닝 결과 처리 방법. 17. The method of claim 16,
Wherein the step of providing the analysis result is a step of generating a single frequency analysis graph by extracting signal levels in each mode for a specific frequency of interest in the three-dimensional analysis graph. 제11항 또는 제14항에 있어서,
상기 분석 결과를 제공하는 단계는, 상기 임의의 모드에서 복수회 스캔하여 생성된 복수의 주파수 스펙트럼을 소정 간격을 두고 순차적으로 배치한 2차원 분석 그래프를 생성하는 단계인 것을 특징으로 하는 스캐닝 결과 처리 방법. 15. The method according to claim 11 or 14,
Wherein the step of providing the analysis result is a step of generating a two-dimensional analysis graph in which a plurality of frequency spectra generated by scanning a plurality of times in the arbitrary mode are sequentially arranged at predetermined intervals . 제18항에 있어서,
상기 분석 결과를 제공하는 단계는, 상기 2차원 분석 그래프에서 이웃하는 그래프의 동일한 주파수에 대한 신호레벨을 연결하여 3차원 분석 그래프를 생성하는 단계인 것을 특징으로 하는 스캐닝 결과 처리 방법.19. The method of claim 18,
Wherein the providing of the analysis result is a step of generating a three-dimensional analysis graph by connecting signal levels for the same frequency of neighboring graphs in the two-dimensional analysis graph. 제19항에 있어서,
상기 분석 결과를 제공하는 단계는, 상기 3차원 분석 그래프에서 특정 관심 주파수에 대해 각 회차에서의 신호레벨을 추출하여 싱글 주파수 분석 그래프를 생성하는 단계인 것을 특징으로 하는 스캐닝 결과 처리 방법. 20. The method of claim 19,
Wherein the providing of the analysis result is a step of generating a single frequency analysis graph by extracting a signal level at each rotation for a specific frequency of interest in the three-dimensional analysis graph.
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