KR20160035879A - 광학 이미지 검출 장치 - Google Patents

광학 이미지 검출 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20160035879A
KR20160035879A KR1020140127779A KR20140127779A KR20160035879A KR 20160035879 A KR20160035879 A KR 20160035879A KR 1020140127779 A KR1020140127779 A KR 1020140127779A KR 20140127779 A KR20140127779 A KR 20140127779A KR 20160035879 A KR20160035879 A KR 20160035879A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
image
interface
prism
detecting apparatus
angle
Prior art date
Application number
KR1020140127779A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101686918B1 (ko
Inventor
김홍민
Original Assignee
주식회사 고영테크놀러지
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 고영테크놀러지 filed Critical 주식회사 고영테크놀러지
Priority to KR1020140127779A priority Critical patent/KR101686918B1/ko
Priority to EP15843505.7A priority patent/EP3199986A4/en
Priority to PCT/KR2015/010027 priority patent/WO2016048040A1/ko
Priority to US15/513,258 priority patent/US20170315370A1/en
Priority to CN201580051054.3A priority patent/CN106716186A/zh
Publication of KR20160035879A publication Critical patent/KR20160035879A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101686918B1 publication Critical patent/KR101686918B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G02B27/1006—Beam splitting or combining systems for splitting or combining different wavelengths
    • G02B27/1013—Beam splitting or combining systems for splitting or combining different wavelengths for colour or multispectral image sensors, e.g. splitting an image into monochromatic image components on respective sensors
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00—Optical elements other than lenses
    • G02B5/04—Prisms
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G02B27/1066—Beam splitting or combining systems for enhancing image performance, like resolution, pixel numbers, dual magnifications or dynamic range, by tiling, slicing or overlapping fields of view
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
    • G02B27/144—Beam splitting or combining systems operating by reflection only using partially transparent surfaces without spectral selectivity
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
    • G02B27/145—Beam splitting or combining systems operating by reflection only having sequential partially reflecting surfaces
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/45—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from two or more image sensors being of different type or operating in different modes, e.g. with a CMOS sensor for moving images in combination with a charge-coupled device [CCD] for still images

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Color Television Image Signal Generators (AREA)

Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 광학 이미지 검출 장치는, 외부로부터 입사된 이미지 영상을 투과 및 반사시키기 위해, 서로 접하여 제1경계면을 형성하는 제1직각 프리즘 및 제2직각 프리즘을 포함하는 프리즘 구조체를 포함하되, 상기 제2직각 프리즘은 서로 접하여 제2경계면을 형성하는 적어도 두 개의 서브 직각 프리즘을 포함할 수 있다.

Description

광학 이미지 검출 장치{OPTICAL IMAGE DETECTING APPARATUS}
본 발명은 프리즘을 이용한 광학 이미지 검출 장치에 관련된 것으로, 더욱 구체적으로는 투과 및 반사도가 각각 50%인 제1경계면과, 반사도가 100%인 제2경계면을 갖는 프리즘을 이용한 광학 이미지 검출 장치에 관련된 것이다.
도1a는 종래기술에 따른 3CCD 또는 3CMOS 방식의 이미지 센서에서 각 컬러 영상을 입력 받는 방식을 나타내는 개념도이다. 도1a를 참조하면 프리즘에 입사된 백생광은 각각 RGB 파장대 별로 나뉘어서 출력된다. 그리고 각각 출력되는 RGB 파장대 광은 각 복수의 이미지 센서로 입력된다. 구체적으로 프리즘에 입사된 빛은 도1a에 나타난 바와 같이 첫번째 면은 2/3을 투과하고, 두 번째 면은 1/2를 투과하게 된다.
이와 같은 종래기술에 있어서, 복수의 이미지 센서를 이용해 대면적 이미지를 수신하기 위해서는 파장별로 빛을 분할하는 것이 아니라 전체 빛을 특정 비율로 분할하여 이미지 센서의 위치를 시프트 하는 방식으로 구현할 수 있다.
그러나 이러한 종래기술의 방식은 각 이미지센서로 들어오는 빛의 세기가 원래 입력된 영상의 1/3로 감소되어 밝기 감소량이 매우 크며, 3개로 분할된 영상이 하나로 만들어지기 위해서는 각각의 이미지센서에서 입력받는 이미지는 서로 중첩된 부분이 존재해야 하는 문제점이 있다.
도1b는 종래 방식에 따른, 입력된 이미지 영상을 복수 경로로 반사하기 위한 프리즘 블록을 나타낸다. 도1b를 참조하면 프리즘 블록은 서로 적층된 블록들로 구성된다. 그러나 이 경우 적층된 블록 상하 경계면에서 영상품질이 저하되는 문제점이 발생할 수 있고, 이러한 영상품질의 저하는 검사 신뢰성을 떨어뜨리는 요인이 된다.
한국등록특허 10-1233816
이와 같은 문제점을 해결하기 위해서, 다수의 경로로 분할된 빛의 광도 저하가 크지 않고, 경계면에 의한 영상품질 저하가 없는 프리즘(빔스플리터)가 요구된다.
본 발명의 일 실시예에 따른 광학 이미지 검출 장치는, 외부로부터 입사된 이미지 영상을 투과 및 반사시키기 위해, 서로 접하여 제1경계면을 형성하는 제1직각 프리즘 및 제2직각 프리즘을 포함하는 프리즘 구조체를 포함하되, 상기 제2직각 프리즘은 서로 접하여 제2경계면을 형성하는 적어도 두 개의 서브 직각 프리즘을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 상기 광학 이미지 검출 장치는, 상기 제1경계면은 투과 및 반사도가 각각 50%인 것을 특징으로 할 수 있다.
또한 상기 광학 이미지 검출 장치는, 상기 제2경계면은 반사도 100%인 것을 특징으로 할 수 있다.
또한 상기 광학 이미지 검출 장치는, 상기 제2직각 프리즘은 상기 제1경계면을 투과한 이미지 영상이 입사되도록 위치되는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한 상기 광학 이미지 검출 장치는, 상기 제1경계면을 투과한 이미지 영상을 획득하는 제1이미지 센서, 상기 제1경계면에 반사된 이미지 영상을 획득하는 제2이미지 센서 및 상기 제1경계면을 투과하고 상기 제2경계면에 반사된 이미지 영상을 획득하는 제3이미지 센서를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한 상기 광학 이미지 검출 장치는, 상기 프리즘 구조체로부터 출력된 이미지 영상을 입사 받아, 입사된 이미지 영상을 투과 및 반사시키기 위해, 서로 접하여 제3경계면을 형성하는 제3직각 프리즘 및 제4직각 프리즘을 포함하는 복수의 추가 프리즘 구조체를 포함하되, 상기 제4직각 프리즘은 서로 접하여 제4경계면을 형성하는 적어도 두 개의 서브 직각 프리즘을 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한 상기 광학 이미지 검출 장치는, 상기 프리즘 구조체로부터 출력된 이미지 영상은, 상기 제1경계면을 투과한 이미지 영상, 상기 제1경계면에 반사된 이미지 영상 및 상기 제1경계면을 투과하고 상기 제2경계면에 반사된 세 개의 이미지 영상이며, 상기 복수의 추가 프리즘 구조체는 상기 세 개의 이미지 영상을 각각 입사 받는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한 상기 광학 이미지 검출 장치는, 상기 복수의 추가 프리즘 구조체로부터 출력되는 각 이미지 영상을 각 획득하는 복수의 이미지 센서를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 광학 이미지 검출 장치를 이용하면, 종래기술에서와 같이 영상의 밝기가 1/3 로 줄어들지 않고 대략 1/2정도만 줄어들게 되어 밝기 손실이 최소화되는 이점이 있으며, 적층된 블록에 이미지 영상이 입력되는 것이 아니므로 적층된 부분에 의해 발생되는 오차에 대한 문제도 발생되지 않는 이점이 있다.
도1a은 종래기술에 따라 3CCD 또는 3CMOS 방식으로 이미지 센서에서 각 컬러 영상을 입력 받는 방식을 나타내는 개념도이다.
도1b는 종래 방식에 따른, 입력된 이미지 영상을 복수 경로로 반사하기 위한 프리즘 블록을 나타낸다.
도2a 및 도2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 이미지 검출 장치(1000)의 개략적인 개념도이다.
도3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 이미지 검출 장치의 개략적인 개념도이다.
도4a 및 도4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 이미지 검출 장치의 이미지 센서의 배열을 나타내는 도이다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 설시 된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미이다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미인 것으로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다. 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다. 다만, 실시형태를 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그에 대한 상세한 설명은 생략한다. 또한, 도면에서의 각 구성요소들의 크기는 설명을 위하여 과장될 수 있으며, 실제로 적용되는 크기를 의미하는 것은 아니다.
이하에서, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들에 대하여 상세히 살펴본다.
도2a 및 도2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 이미지 검출 장치(1000)의 개략적인 개념도이다. 도2a를 참조하면 광학 이미지 검출 장치(1000)는 외부로부터 입사된 이미지 영상을 투과 및 반사시키기 위해, 서로 접하여 제1경계면(110)을 형성하는 제1직각 프리즘(101) 및 제2직각 프리즘(102,103)을 포함하는 프리즘 구조체(100)를 포함하며, 상기 제2직각 프리즘(102, 103)은 서로 접하여 제2경계면(120)을 형성하는 적어도 두 개의 서브 직각 프리즘(102,103)을 포함한다.
일 예에서 상기 프리즘 구조체(100)를 구성하는 제1직각 프리즘(101) 및 제2직각 프리즘(102,103)은 길이형상의 직각 프리즘으로, 상기 프리즘 구조체(1000)는 육면체 구조를 가질 수 있다. 또한 직각 프리즘의 길이는 이미지 영상의 면적에 따라 결정될 수 있다.
일 실시예에서 외부(P)로부터 본 발명의 프리즘 구조체(100)로 입사되는 이미지 영상은 도2a에 나타난 바와 같이 세 개의 경로(a,b,c)로 분기되어 진행될 수 있다. 이와 같은 세 개의 경로는 프리즘 구조체에 형성된 제1경계면(110) 및 제2경계면(120)에 의해 구현될 수 있다.
제2직각 프리즘은 도2a에 도시된 바와 같이 두 개의 서브 직각 프리즘(102,103)이 접하여 형성될 수 있다. 이에 따라서 제2직각 프리즘은 제1경계면(110)을 투과한 이미지 영상이 입사되도록 도2a에 도시된 바와 같이 제1경계면(110)의 후면부에 위치될 수 있다.
일 실시예에서 제1경계면(110) 및 제2경계면(120) 사이의 각 투과 및 반사도는 소정 비율로 설정될 수 있다. 예컨대 제1경계면(120)은 투과 및 반사도가 각각 약 50%일 수 있으며, 바람직하게는 정확하게 50%인 것이 요구된다. 또한 제2경계면(120)은 반사도가 약 100%일수 있으며, 바람직하게는 정확하게 100%일 수 있다.
또한 제1경계면(110)은 도2a에 도시된 바와 같이 입사되는 이미지 영상을 수신하여, 일부는 입사 방향으로 투과시키고(a,c), 다른 일부는 입사 방향과 다른 방향으로 반사시킬 수 있다.
또한 제1경계면(110)을 투과한 이미지 영상 중 일부(a)는 서브 직각 프리즘(102)을 투과하여 프리즘 구조체(100) 외부로 출력되며, 제1경계면(100)을 투과한 이미지 영상 중 다른 일부(c)는 제2경계면(120)에 반사되어 서브 직각 프리즘(130)을 투과하여 프리즘 구조체 외부로 출력될 수 있다.
다른 일 실시예에서 광학 이미지 검출 장치(1000)는 상기 제1경계면(110)을 투과한 이미지 영상을 획득하는 제1이미지 센서(10), 상기 제1반사면(110)에 반사된 이미지 영상을 획득하는 제2이미지 센서(20) 및 상기 제1경계면(110)을 투과하고 상기 제2경계면(120)에 반사된 이미지 영상을 획득하는 제3이미지 센서(30)를 더 포함할 수 있다.
구체적으로 제1이미지 센서(10)는 도2a에서 경로(a)에 따라 진행하는 이미지 영상을 획득하며, 제2이미지 센서(20)는 경로(b)에 따라 진행하는 이미지 영상을 획득하며, 제3이미지 센서(30)는 경로(c)에 따라 진행하는 이미지 영상을 획득할 수 있다. 각각의 이미지 영상은 투과도 50%인 제1경계면(110)을 투과하여 밝기가 50%정도 감소될 수 있다.
즉 제2경계면(120)은 제1경계면(110)입사되는 이미지 영상의 일부를 받는다. 상술한 경로a,b,c 를 실현 시키기 위해, 도2a에 나타난 바와 같이 제1경계면(110)의 중심 부분에서 제2경계면(120)이 수직한 방향으로 형성될 수 있다.
또한 이러한 이미지 센서는 도2b에 도시된 바와 같이 직렬로 배치가 가능하다. 이 경우 촬영된 이미지 즉, 카메라의 시야범위(FOV)는 도2b와 같이 표현될 수 있다.
도3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 이미지 검출 장치의 개략적인 개념도이다. 도3을 참조하면 광학 이미지 검출 장치는 도2a에서 설명한 프리즘 구조체(100)외에 복수의 추가 프리즘 구조체(200-400)를 더 포함한다.
각각의 추가 프리즘 구조체(200-400)는 프리즘 구조체(100)에서 출력되는 이미지 영상을 수신받아 프리즘 구조체와 동일한 기능을 수행할 수 있다. 상기 동일한 기능은 입사되는 광을 세 개의 경로로 분기시켜 출력하는 것을 포함한다.
일 실시예에서 상기 추가 프리즘 구조체(200-400) 각각은 프리즘 구조체(100)와 동일한 구조를 가질 수 있다. 즉, 입사된 이미지 영상을 투과 및 반사시키기 위해, 서로 접하여 제3 경계면을 형성하는 두 개의 직각 프리즘을 포함하며, 상기 두 개의 직각 프리즘 중에서 입사 방향을 기준으로 상기 제3경계면 후면부에 위치한 직각 프리즘은 두 개의 서브 직각 프리즘이 서로 접하여 제4경계면을 형성하도록 구성될 수 있다.
즉 상기 프리즘 구조체(100)로부터 출력된 이미지 영상은, 상기 제1경계면을 투과한 이미지 영상(도2a의 (a)), 상기 제1경계면에 반사된 이미지 영상(도2a의 (b)) 및 상기 제1경계면을 투과하고 상기 제2경계면에 반사된 세 개의 이미지 영상(도2a의 (c))을 포함할 수 있다. 상기 복수의 추가 프리즘 구조체는 상기 세 개의 이미지 영상을 각각 입사 받는다.
일 예에서 상기 두 개의 서브 직각 프리즘에 의해 형성되는 제4경계면은 약 반사도100%를 가질 수 있으며, 상기 제3경계면은 각각 약 50%의 투과 및 반사도를 가질 수 있다.
도3에 나타난 바와 같이 각각의 추가 프리즘 구조체(200-400)에 의해서 외부광원으로부터 입사된 이미지 영상은 9 개의 경로로 분기될 수 있다.
일 실시예에서 광학 이미지 검출 장치(1000)는 상기 분기된 이미지 영상을 획득하기 위한 복수의 이미지 센서들(11,12,13,21,22,23,31,32,33)을 포함할 수 있다.
도4a 및 도4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 이미지 검출 장치의 이미지 센서의 배열을 나타내는 도이다. 도3에 나타난 복수의 이미지 센서들은 도4b에 나타난 바와 같이 배열될 수 있다. 또한 도3의 프리즘 구조체(100)을 소정각도 회전시킬 수 있으며, 회전되는 각도에 따라서 추가 프리즘 구조체의 위치도 대응되도록 변경될 수 있다.
프리즘 구조체(100)를 90도 각도 회전한 경우, 추가 프리즘 구조체(300) 및 추가 프리즘 구조체(400)는 이에 대응되도록 이동될 수 있다. 예컨대 도3에서와 같이 배치된 프리즘 구조체(100)가 제1방향 또는 제2방향으로 90도 각도 회전한 경우 이미지 센서는 도4a에 나타난 바와 같이 배치될 수 있으며, 촬영된 이미지 또한 도4a에 도시된 바와 같이 나타날 수 있다. 여기서 제1방향은 +x 를 향하는 프리즘 구조체(100) 면이 +z 를 향하도록 회전하는 방향이며, 제2방향은 ?를 향하는 프리즘 구조체(100)의 면이 +z 를 향하도록 회전하는 방향일 수 있다. 이를 통해 사용자가 원하는 이미지 형태 또는 측정 대상물의 크기 혹은 모양에 따라 다양한 이미지 촬상을 가능하게 할 수 있다.
이와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 검출 장치의 프리즘 구조체는, 투과 및 반사도가 각각 약 50%인 제1경계면과 상기 제1경계면 뒷면에 위치한 반사도가 약100%인 제2경계면을 포함하는 프리즘을 이용하여 입사된 이미지 영상을 분기시키게 되며, 이에 따라서 종래기술에서와 같이 영상의 밝기가 1/3 줄어들지 않고 대략 1/2정도만 줄어들게 되는 이점이 있으며, 적층된 블록에 이미지 영상이 입력되는 것인 아니므로, 적층된 부분에 의해 발생되는 오차에 대한 문제도 발생되지 않는 이점이 있다.
이상에서 살펴본 본 발명은 도면에 도시된 실시예들을 참고로 하여 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하며 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 실시예의 변형이 가능하다는 점을 이해할 것이다. 그러나, 이와 같은 변형은 본 발명의 기술적 보호범위 내에 있다고 보아야 한다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해서 정해져야 할 것이다.
100 : 프리즘 구조체
200 : 추가 프리즘 구조체
101 : 제1직각 프리즘
102 : 제2직각 프리즘
110 : 제1경계면
120 : 제2경계면
1000: 광학 이미지 검출 장치

Claims (8)

  1. 외부로부터 입사된 이미지 영상을 투과 및 반사시키기 위해, 서로 접하여 제1경계면을 형성하는 제1직각 프리즘 및 제2직각 프리즘을 포함하는 프리즘 구조체를 포함하되,
    상기 제2직각 프리즘은 서로 접하여 제2경계면을 형성하는 적어도 두 개의 서브 직각 프리즘을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 이미지 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1경계면은 투과 및 반사도가 각각 50%인 것을 특징으로 하는 광학 이미지 검출 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제2경계면은 반사도 100%인 것을 특징으로 하는 광학 이미지 검출 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제2직각 프리즘은 상기 제1경계면을 투과한 이미지 영상이 입사되도록 위치되는 것을 특징으로 하는 광학 이미지 검출 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제1경계면을 투과한 이미지 영상을 획득하는 제1이미지 센서;
    상기 제1경계면에 반사된 이미지 영상을 획득하는 제2이미지 센서; 및
    상기 제1경계면을 투과하고 상기 제2경계면에 반사된 이미지 영상을 획득하는 제3이미지 센서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 이미지 검출 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 프리즘 구조체로부터 출력된 이미지 영상을 입사 받아, 입사된 이미지 영상을 투과 및 반사시키기 위해, 서로 접하여 제3경계면을 형성하는 제3직각 프리즘 및 제4직각 프리즘을 포함하는 복수의 추가 프리즘 구조체를 포함하되,
    상기 제4직각 프리즘은 서로 접하여 제4경계면을 형성하는 적어도 두 개의 서브 직각 프리즘을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 이미지 검출 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 프리즘 구조체로부터 출력된 이미지 영상은,
    상기 제1경계면을 투과한 이미지 영상, 상기 제1경계면에 반사된 이미지 영상 및 상기 제1경계면을 투과하고 상기 제2경계면에 반사된 세 개의 이미지 영상이며,
    상기 복수의 추가 프리즘 구조체는 상기 세 개의 이미지 영상을 각각 입사 받는 것을 특징으로 하는 광학 이미지 검출 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 복수의 추가 프리즘 구조체로부터 출력되는 각 이미지 영상을 각 획득하는 복수의 이미지 센서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 이미지 검출 장치.
KR1020140127779A 2014-09-24 2014-09-24 광학 이미지 검출 장치 KR101686918B1 (ko)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140127779A KR101686918B1 (ko) 2014-09-24 2014-09-24 광학 이미지 검출 장치
EP15843505.7A EP3199986A4 (en) 2014-09-24 2015-09-23 Optical image detecting apparatus
PCT/KR2015/010027 WO2016048040A1 (ko) 2014-09-24 2015-09-23 광학 이미지 검출 장치
US15/513,258 US20170315370A1 (en) 2014-09-24 2015-09-23 Optical image detecting apparatus
CN201580051054.3A CN106716186A (zh) 2014-09-24 2015-09-23 光学图像检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140127779A KR101686918B1 (ko) 2014-09-24 2014-09-24 광학 이미지 검출 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20160035879A true KR20160035879A (ko) 2016-04-01
KR101686918B1 KR101686918B1 (ko) 2016-12-16

Family

ID=55581472

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020140127779A KR101686918B1 (ko) 2014-09-24 2014-09-24 광학 이미지 검출 장치

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20170315370A1 (ko)
EP (1) EP3199986A4 (ko)
KR (1) KR101686918B1 (ko)
CN (1) CN106716186A (ko)
WO (1) WO2016048040A1 (ko)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107121783A (zh) * 2017-06-23 2017-09-01 中山联合光电科技股份有限公司 一种成像系统
US20220070348A1 (en) * 2018-12-11 2022-03-03 National University Of Singapore Assembly and method for switching direction of camera view
KR102554488B1 (ko) * 2021-01-21 2023-07-11 주식회사 뷰웍스 영상 획득 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007528028A (ja) * 2004-03-09 2007-10-04 イアティア イメージング プロプライアタリー リミティド 異なる焦点に合わせられた画像を生成する光学システム
KR101233816B1 (ko) 2011-01-21 2013-02-18 (주)오로스 테크놀로지 프리즘을 이용한 검사장비용 광학검출모듈
KR101379448B1 (ko) * 2013-04-10 2014-03-31 (주)넥스틴 다중 조명 장치를 이용한 웨이퍼 영상 검사 장치
KR101403469B1 (ko) * 2013-03-08 2014-06-03 (주)넥스틴 이중 거울 방식을 이용한 웨이퍼 영상 검사 장치

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB191513042A (en) * 1915-09-11 1916-09-07 Harold Workman Compound Cross-reflecting and Transmitting Prism-block, and the Use thereof in Cameras and like Optical Devices.
JPH0614658B2 (ja) * 1985-08-20 1994-02-23 大日本スクリ−ン製造株式会社 画像読取り装置
US4940309A (en) * 1987-04-20 1990-07-10 Baum Peter S Tessellator
US5005974A (en) * 1989-01-25 1991-04-09 Baum Peter S Projecting tessellator
US5900942A (en) * 1997-09-26 1999-05-04 The United States Of America As Represented By Administrator Of National Aeronautics And Space Administration Multi spectral imaging system
US6980280B2 (en) * 2001-10-12 2005-12-27 Eastman Kodak Company Two level image writer
US6781763B1 (en) * 2002-04-01 2004-08-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Image analysis through polarization modulation and combination
US6863400B1 (en) * 2004-01-21 2005-03-08 Eastman Kodak Company Tiled projection display using spatial light modulators
EP1708512A1 (en) * 2005-03-31 2006-10-04 SONY DEUTSCHLAND GmbH Image generation unit with four primary colors
CN1953071A (zh) * 2006-11-06 2007-04-25 中国科学院上海光学精密机械研究所 微缩型兼容性双波长光学头
US8441732B2 (en) * 2008-03-28 2013-05-14 Michael D. Tocci Whole beam image splitting system
CN101303454A (zh) * 2008-06-25 2008-11-12 福州高意光学有限公司 一种led投影机光学系统
KR101146922B1 (ko) * 2010-08-18 2012-05-23 주식회사 에프에스티 웨이퍼 검사용 광학 검출모듈
US8988564B2 (en) * 2011-09-09 2015-03-24 Apple Inc. Digital camera with light splitter
KR20130103171A (ko) * 2012-03-09 2013-09-23 (주)오로스 테크놀로지 Ｌｃｄ 검사용 대면적 고속 검출모듈이 구비된 검사장치
US9467666B1 (en) * 2014-09-29 2016-10-11 Apple Inc. Miniature camera super resolution for plural image sensor arrangements

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007528028A (ja) * 2004-03-09 2007-10-04 イアティア イメージング プロプライアタリー リミティド 異なる焦点に合わせられた画像を生成する光学システム
KR101233816B1 (ko) 2011-01-21 2013-02-18 (주)오로스 테크놀로지 프리즘을 이용한 검사장비용 광학검출모듈
KR101403469B1 (ko) * 2013-03-08 2014-06-03 (주)넥스틴 이중 거울 방식을 이용한 웨이퍼 영상 검사 장치
KR101379448B1 (ko) * 2013-04-10 2014-03-31 (주)넥스틴 다중 조명 장치를 이용한 웨이퍼 영상 검사 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR101686918B1 (ko) 2016-12-16
WO2016048040A1 (ko) 2016-03-31
CN106716186A (zh) 2017-05-24
EP3199986A4 (en) 2017-09-20
US20170315370A1 (en) 2017-11-02
EP3199986A1 (en) 2017-08-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10539763B2 (en) Optical system, electronic device, camera, method and computer program
US11457132B2 (en) Imaging using optical cavity
KR102380693B1 (ko) 투사형 표시 장치
US8629388B2 (en) Three-dimensional image capturing device
US20140092282A1 (en) Spectral imaging apparatus
WO2011142063A1 (ja) ３次元撮像装置
US20190166348A1 (en) Optically offset three-dimensional imager
KR101493451B1 (ko) 다축 광학계의 축 정렬 점검장치 및 이의 정렬점검방법
KR20110084703A (ko) 기판 검사장치
JP6087705B2 (ja) 多機能画像取得装置およびケスタープリズム
US20180075615A1 (en) Imaging device, subject information acquisition method, and computer program
KR101686918B1 (ko) 광학 이미지 검출 장치
KR102099935B1 (ko) Ｔｏｆ 카메라 장치
US11375888B2 (en) Intraoral three-dimensional scanning system based on stereo vision using a monocular camera
US9664988B2 (en) Light source system with light coupling module and display apparatus comprising the same
US9485491B2 (en) Optical system
TW202117360A (zh) 光學試驗用裝置及光學測定器具的試驗方法
KR101233816B1 (ko) 프리즘을 이용한 검사장비용 광학검출모듈
US11378810B2 (en) Polygon x-prism for imaging and display applications
JP2017227625A (ja) 直線偏光による計測誤差が補正された輝度色度計
CN103675960A (zh) 光学元件、光学系统和图像处理方法
JP2019138682A (ja) 画像検査装置および照明装置
TWI402607B (zh) 成像設備
WO2021137799A3 (en) An imaging apparatus
US9279663B2 (en) Method and apparatus to fold optics in tools for measuring shape and/or thickness of a large and thin substrate

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E90F Notification of reason for final refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190909

Year of fee payment: 4