KR20160002948A - 진동 계량기용 계량 센서의 확인 - Google Patents

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Abstract

진동 센서의 확인을 위한 진동 계량기 및 확인 방법이 제공된다. 이 방법은 온도 센서를 사용하여 복수의 온도들을 측정하는 단계 및 센서 조립체를 사용하여 복수의 센서 시간 기간들을 측정하는 단계를 포함한다. 평균 온도 및 평균 센서 시간 기간이 판정된다. 평균 센서 시간 기간은 평균 온도를 사용하여 보상되고, 보상된 센서 시간 기간을 발생한다. 보상된 센서 시간 기간은 기준 센서 시간 기간과 비교된다. 결과들이 표시된다. 다른 실시예들에서, 복수의 온도들 또는 복수의 센서 시간 기간들의 표준 편차가 한도에 비교되고 센서 안정성이 표시된다. 다른 실시예들에서, 유체의 측정된 밀도와 기준 밀도 사이의 차이는 고도 및 평균 온도를 사용하여 보상된다.

Description

진동 계량기용 계량 센서의 확인 {VERIFICATION OF A METER SENSOR FOR A VIBRATORY METER}
본 발명은 진동 소자 계량기들, 그리고 더 구체적으로는 진동 소자 계량기의 센서 조립체의 인증을 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.
예컨대, 액체 밀도 계량기들, 가스 밀도 계량기들, 액체 점도 계량기들, 가스/액체 비중 계량기들, 가스/액체 상대 밀도 계량기들 및 가스 몰 분자 계량기들과 같은 진동 계량기들이 일반적으로 공지되며 유체들의 특징들을 측정하는데 사용된다. 일반적으로, 계량기들은 센서 조립체 및 전자기기 부분을 포함한다. 센서 조립체 내의 재료는 유동할 수 있거나 고정적일 수 있다. 센서의 각각의 타입은 계량기가 최적의 성능을 달성하기 위해 고려해야만 하는 고유의 특징들을 가질 수 있다. 예컨대, 일부 센서들은 특별한 변위 레벨들에서 진동하기 위해 튜브 장치를 요구할 수 있다. 다른 센서 조립체 타입들은 특별한 보상 알고리즘들을 요구할 수 있다.
다른 기능들의 수행 중에서도, 계량 전자기기들은 통상적으로 사용되는 특정 센서에 대한 저장된 센서 교정 값들을 포함한다. 예컨대 계량 전자기기들은 기준 센서 시간 기간(즉 기준 공진 주파수의 역전)을 포함할 수 있다. 기준 센서 시간 기간은 기준 조건들 하에서 공장에서 측정된, 특정 센서 조립체에 대한 센서 기하학적 형상의 기본 측정 성능을 나타낸다. 진동 소자 계량기가 고객 현장에 설치된 후에 측정된 센서 시간 기간과 기준 센서 시간 기간 사이의 변경은 다른 원인들 외에, 진동 소자 센서에 대한 코팅, 침식, 부식 또는 손상으로 인한 센서 조립체의 물리적 변경을 나타낼 수 있다.
진동 계량기들의 센서 시간 기간의 변경을 감시하기 위해 일반적으로 사용되는 기술은 공기-포인트 정상 상태 체크, 진공-포인트 정상 상태 체크, 또는 정확하게 공지된 밀도를 갖는 임의의 유체를 사용하는 정상 상태 체크를 수행하는 것이다. 임의의 3 개의 정상 상태 체크 방법론들에서, 계량기는 오프 라인이 되고 시험 조건들 하에 놓인다. 계량기는 종종 시험 조건들 하에 놓이기 전에, 기계적 또는 용제 기반 기술들을 통하여 세정된다. 액체 또는 가스 계량기 중 하나가 다음에 진공 하에 놓일 수 있거나 공기 또는 물과 같은 정확하게 공지된 밀도를 갖는 유체로 충전될 수 있다. 액체 계량기에 대하여, 시험 조건들은 일반적으로 계량기를 주변 공기 조건들 하에 놓는 것을 포함한다. 가스 계량기들에 대하여, 시험 조건들은 일반적으로 계량기를 진공 조건들 하에 놓는 것을 포함한다. 센서 시간 기간은 그 후 판정되고 기준 센서 시간 기간 측정과 비교된다.
통상적으로, 시험 측정들은 정상 상태 체크 시험의 기준 조건들과는 상이한 조건들 하에서 취해진다. 정상 상태 체크 동안 측정되는 센서 시간 기간은 따라서 센서 조립체의 변경들로 인한 것 뿐만 아니라, 또한 기준 조건과 시험 조건 사이의 차이로 인한 진동 반응의 변동들을 반영할 수 있다. 현재의 정상 상태 체크 방법론들은 물리적 센서 조립체의 변경들로 인한 진동 반응의 변경들과 시험 조건들에서의 변경들을 구분하는데 실패하였다.
예컨대, 센서 시간 기간 측정은 온도에 의해 영향을 받을 수 있다. 온도가 센서 시간 기간에 영향을 미칠 수 있는 첫 번째 이유는 온도가 센서 조립체 자체의 강성에 영향을 미칠 수 있기 때문이다. 두 번째 이유는 센서 조립체 내의 이동하는 유체의 밀도가 온도에 의존할 수 있기 때문이다. 온도가 정상 상태 체크의 건실함에 영향을 미치는 세 번째 메커니즘은 센서 조립체가 안정적인 온도에 있지 않거나 온도 변화가 있는 경우이다. 이러한 온도 효과들 중 어떠한 것도 종래의 진동 센서 정상 상태 체크 기술들 하에서는 고려되지 않으며, 이는 센서 조립체가 고장이거나 정상 상태인지에 대한 잘못된 표시들을 유도할 수 있다. 에러들은 부정확한 고객 결정들 및 불필요한 서비스 요청들을 유도할 수 있다.
온도, 압력 및 밀도로 인한 측정된 센서 시간 기간의 변동들을 보정하는 센서 정상 상태 평가가 필요하다. 센서 조립체가 공기-포인트 정상 상태 체크, 진공-포인트 정상 상태 체크 또는 다른 유체를 사용하는 정상 상태 체크로부터 정확한 결과를 제공하기에 충분히 안정적인지를 판정하기 위한 방법이 또한 필요하다.
계량기 정상 상태 확인을 위한 진동 소자 계량기가 제공된다. 진동 소자 계량기는 센서 조립체, 하나 이상의 온도 센서 및 계량 전자기기를 포함한다. 센서 조립체는 진동 부재, 픽오프(pickoff)/검출 센서 및 진동 부재를 진동시키도록 구성되는 구동기를 포함한다. 계량 전자기기는 픽오프/검출 센서, 구동기 및 하나 이상의 온도 센서에 커플링된다. 계량 전자기기는 하나 이상의 온도 센서를 사용하여 복수의 온도들을 측정하도록 구성된다. 계량 전자기기는 또한 센서 조립체를 사용하여 복수의 센서 시간 기간들을 측정하도록 구성된다. 계량 전자기기는 또한 복수의 온도들로부터 평균 온도를 판정하도록 구성된다. 계량 전자기기는 또한 복수의 센서 시간 기간들로부터 평균 센서 시간 기간을 판정하도록 구성된다. 계량 전자기기는 또한 보상된 센서 시간 기간을 발생하기 위해 평균 온도를 사용하여 평균 센서 시간 기간을 보상하도록 구성된다. 계량 전자기기는 또한 기준 센서 시간 기간에 보상된 센서 시간 기간을 비교하도록 구성된다. 계량 전자기기는 또한 보상된 센서 시간 기간이 기준 센서 시간 기간의 센서 시간 기간 에러 한도 내에 있는지를 표시하도록 구성된다.
센서 확인 방법이 제공된다. 이 방법은 하나 이상의 온도 센서를 사용하여 복수의 온도들을 측정하는 단계 및 센서 조립체를 사용하여 복수의 센서 시간 기간들을 측정하는 단계를 포함한다. 센서 조립체는 진동 부재, 픽오프/검출 센서 및 진동 부재를 진동시키도록 구성되는 구동기를 포함한다. 이 방법은 복수의 온도들로부터 평균 온도를 판정하는 단계를 더 포함한다. 이 방법은 복수의 센서 시간 기간들로부터 평균 센서 시간 기간을 판정하는 단계를 더 포함한다. 이 방법은 보상된 센서 시간 기간을 발생하기 위해 평균 온도를 사용하여 평균 센서 시간 기간을 보상하는 단계를 더 포함한다. 이 방법은 기준 센서 시간 기간에 보상된 센서 시간 기간을 비교하는 단계를 더 포함한다. 이 방법은 보상된 센서 시간 기간이 기준 센서 시간 기간의 센서 시간 기간 에러 한도 내에 있는지를 표시하는 단계를 더 포함한다.
센서의 정상 상태 확인 방법이 제공된다. 이 방법은 하나 이상의 온도 센서를 사용하여 복수의 온도들을 측정하는 단계 및 센서 조립체를 사용하여 복수의 센서 시간 기간들을 측정하는 단계를 포함한다. 센서 조립체는 진동 부재, 픽오프/검출 센서 및 진동 부재를 진동시키도록 구성되는 구동기를 포함한다. 이 방법은 복수의 온도들 또는 복수의 센서 시간 기간들 중 하나를 포함하는 제 1 데이터 세트를 사용하여 제 1 표준 편차를 계산하는 단계를 더 포함한다. 이 방법은 제 1 한도에 제 1 표준 편차를 비교하는 단계를 더 포함한다. 이 방법은 제 1 표준 편차가 제 1 한도보다 더 큰지를 표시하는 단계를 더 포함한다.
센서의 정상 상태 확인 방법이 제공된다. 이 방법은 하나 이상의 온도 센서를 사용하여 복수의 온도들을 측정하는 단계 및 센서 조립체를 사용하여 복수의 센서 시간 기간들을 측정하는 단계를 포함한다. 센서 조립체는 하나 또는 그 초과의 진동 소자들, 하나 또는 그 초과의 픽오프/검출 센서들 및 하나 또는 그 초과의 진동 소자들을 진동시키도록 구성되는 구동기를 포함한다. 이 방법은 복수의 온도들로부터 평균 온도를 판정하는 단계를 더 포함한다. 이 방법은 복수의 센서 시간 기간들로부터 평균 센서 시간 기간을 판정하는 단계를 더 포함한다. 이 방법은 고도(altitude)를 수신하는 단계를 더 포함한다. 이 방법은 센서 조립체를 사용하여 유체의 밀도를 측정하는 단계를 더 포함한다. 이 방법은 고도 및 평균 온도를 사용하여 기준 밀도와 측정된 밀도 사이의 밀도의 차이에 대한 센서 시간 기간을 보상하는 단계를 더 포함한다.
바람직하게는, 온도 센서를 사용하여 복수의 온도들을 측정하는 단계 및 센서 조립체를 사용하여 복수의 센서 시간 기간들을 측정하는 단계는 센서 조립체를 세정하는 단계를 더 포함한다.
바람직하게는, 온도 센서를 사용하여 복수의 온도들을 측정하는 단계 및 센서 조립체를 사용하여 복수의 센서 시간 기간들을 측정하는 단계는 주변 공기로 센서 조립체를 충전하는 단계를 더 포함한다.
바람직하게는, 온도 센서를 사용하여 복수의 온도들을 측정하는 단계 및 센서 조립체를 사용하여 복수의 센서 시간 기간들을 측정하는 단계는 진공 하에 센서 조립체를 놓는 단계를 더 포함한다.
바람직하게는, 온도 센서를 사용하여 복수의 온도들을 측정하는 단계 및 센서를 사용하여 복수의 센서 시간 기간들을 측정하는 단계는 센서 조립체를 정확하게 공지된 밀도를 갖는 유체로 충전하는 단계 또는 센서 조립체 안에 정확하게 공지된 밀도를 갖는 유체를 채워넣는 단계를 더 포함한다.
바람직하게는, 계량 전자기기는 또한 복수의 온도들 및 복수의 센서 시간 기간들 중 하나를 사용하여 표준 편차를 계산하고, 한도에 표준 편차를 비교하고, 및 표준 편차가 한도보다 더 큰지를 표시하도록 구성된다.
바람직하게는, 계량 전자기기는 또한 고도를 수신하고, 고도를 사용하여 보상된 센서 시간 기간을 보상하도록 구성된다.
바람직하게는, 계량 전자기기는 또한 센서 조립체를 사용하여 유체의 밀도를 측정하도록, 그리고 고도 및 평균 온도를 사용하여 기준 밀도와 측정된 밀도 사이의 밀도의 차이에 대한 보상된 센서 시간 기간을 보상하도록 구성된다.
바람직하게는, 이 방법은 복수의 온도들 또는 복수의 센서 시간 기간들 중 하나를 포함하는 제 1 데이터 세트와 상이한 제 2 데이터 세트를 사용하여 제 2 표준 편차를 계산하는 단계, 제 2 한도에 제 2 표준 편차를 비교하는 단계 및 제 2 표준 편차가 제 2 한도보다 더 큰지를 나타내는 단계를 더 포함한다.
동일한 참조 부호는 모든 도면들에서 동일한 요소를 나타낸다. 도면들은 반드시 축척대로인 것은 아니다.
도 1은 출원의 실시예에 따른 진동 소자 계량기(5)를 묘사한다.
도 2는 출원의 실시예에 따른 계량 전자기기(20)를 묘사한다.
도 3은 출원의 실시예에 따른 방법(300)을 묘사한다.
도 4는 출원의 실시예에 따른 방법(400)을 묘사한다.
도 5는 출원의 실시예에 따른 방법(500)을 묘사한다.
도 1 내지 도 5 및 이후의 설명은 어떻게 본 출원의 최적의 모드를 만들고 사용하는지를 당업자에게 교시하기 위한 특정 예들을 묘사한다. 본 발명의 원리들을 교시하는 목적을 위해, 일부 종래의 양태들은 간소화되거나 생략되었다. 당업자는 본 출원의 범주 내에 속하는 이러한 예들로부터의 변형들을 이해할 것이다. 당업자는 이하에 설명되는 특징들이 본 출원의 다수의 변형들을 형성하기 위해 다양한 방식들로 조합될 수 있다는 것을 이해할 것이다. 그 결과, 본 출원은 이하에 설명되는 특정 예들로 제한되지 않으며, 단지 청구 범위들 및 이들의 등가물들에 의해 제한된다.
도 1은 진동 소자 계량기(5), 즉 밀도 계량기를 도시한다. 진동 소자 계량기(5)는 센서 조립체(10) 및 계량 전자기기(20)를 포함한다. 하지만 밀도 계량기의 실시예는 제한하려는 것이 아니다. 당업자는 본원에 설명된 본 출원의 실시예들이 액체 밀도 계량기들, 가스 밀도 계량기들, 액체 점도 계량기들, 가스/액체 비중 계량기들, 가스/액체 상대 밀도 계량기들, 가스 몰 분자량 계량기들 및/또는 임의의 타입의 진동 계량기의 확인에 적용될 수 있다는 것을 즉시 인지할 것이다.
진동 소자 계량기(5)는 예컨대 액체 또는 가스와 같은 유체의 밀도를 측정하도록 구성될 수 있다. 진동 소자 계량기(5)는 하우징(11)을 포함하며 진동 부재(12)가 하우징(11) 내에 적어도 부분적으로 위치된다. 하우징(11)의 일부는 진동 부재(12)를 도시하기 위해 절단되었다. 진동 소자 계량기(5)는 예컨대 기존의 파이프라인에 정렬되어(in-line) 놓일 수 있다. 대안적으로, 하우징(11)은 예컨대 유체 샘플을 수신하기 위해 구멍들을 갖는 폐쇄 단부들을 포함할 수 있다. 따라서, 플랜지들이 도시되지 않지만, 많은 경우들에서, 하우징(11) 또는 진동 부재(12)는 파이프라인 또는 유사한 유체 전달 장치에 액밀 방식으로 진동 소자 계량기(5)를 작동식으로 커플링하기 위해 플랜지들 또는 다른 부재들을 포함할 수 있다. 도시된 예에 따르면, 진동 부재(12)는 하우징(11)에 장착된 캔틸레버이다. 출구 단부(14)가 자유롭게 진동하면서 입구 단부(13)에서 하우징(11)에 커플링되는 진동 부재(12)가 도시된다.
도시된 예에 따르면, 진동 부재(12)는 또한 입구 단부(13) 근처에 복수의 유체 구멍(15)들을 포함한다. 유체 구멍(15)들은 진동 소자 계량기(5)에 들어가는 유체의 일부가 하우징(11)과 진동 부재(12) 사이에서 유동하는 것을 가능하게 하기 위해 제공될 수 있다. 따라서, 유체는 진동 부재(12)의 내측 뿐만 아니라 외측 표면들과 접촉한다. 이는 시험 하의 유체가 가스를 포함할 때 특히 유용한데 이는 더 큰 표면적이 가스에 노출되기 때문이다. 다른 예들에서, 구멍들은 시험 하의 유체를 진동 부재(12)의 외부 표면에 노출하기 위해 하우징(11)에 제공될 수 있고, 따라서 구멍(15)들은 진동 부재(12)에 요구되지 않는다.
실린더(50) 내에 위치되는 구동기(16) 및 픽오프/검출 센서(17)가 또한 도 1에 도시된다. 구동기(16) 및 픽오프/검출 센서(17)는 당업계에 주지된 코일들을 포함하는 것으로 도시된다. 전류가 코일에 제공된다면, 자기장이 진동 부재(12)에 유도되며 이는 진동 부재(12)가 진동하는 것을 야기한다. 반대로, 진동 부재(12)의 진동은 픽오프/검출 센서(17)의 전압을 유도한다. 구동기(16)는 예컨대 간단한 굽힘, 비틀림, 반경방향 또는 커플링된 타입을 포함하는, 복수의 진동 모드들 중 하나의 그의 공진 주파수들 중 하나에서 진동 부재(12)를 진동시키기 위해 계량 전자기기(20)로부터 구동 신호를 수신한다. 픽오프/검출 센서(17)는, 진동 부재(12)가 진동하고 프로세싱을 위해 계량 전자기기(20)에 진동 정보를 전송하는 주파수를 포함하는 진동 부재(12)의 진동을 검출한다. 진동 부재(12)가 진동할 때, 진동 부재의 벽에 접촉하는 유체는 진동 부재(12)와 함께 진동한다. 진동 부재(12)와 접촉하는 유체의 부가된 질량은 공진 주파수를 낮춘다. 진동 부재(12)의 새로운, 더 낮은 공진 주파수는, 예컨대 이전에 판정된 상관 관계에 따른 당업계에서 일반적으로 공지된 것과 같이 유체의 밀도를 판정하는데 사용된다.
진동 소자 계량기(5)는 온도 센서(112)를 더 포함한다. 실시예들에서, 온도 센서(112)는 하우징(11)에 커플링된다. 하지만 다른 실시예들에서, 온도 센서(112)는 구동기(16), 픽오프/검출 센서(17), 입구(13) 또는 센서 조립체(10)의 임의의 다른 부분에 커플링될 수 있다. 실시예들에서, 진동 소자 계량기(5)는 하나 초과의 온도 센서를 포함할 수 있고, 각각의 온도 센서는 각각 센서 조립체(10)의 동일한 또는 상이한 구성요소들에 커플링될 수 있다. 온도 센서(112)들에 의해 제공되는 하나 또는 그 초과의 신호들은 하나 또는 그 초과의 온도 측정 값들을 발생하기 위해 당업자에게 일반적으로 공지된 임의의 방식으로 조합될 수 있다.
도 2는 본 출원의 실시예에 따른 진동 소자 계량기(5)의 계량 전자기기(20)를 묘사한다. 계량 전자기기(20)는 인터페이스(201) 및 프로세싱 시스템(203)을 포함할 수 있다. 프로세싱 시스템(203)은 저장 시스템(204)을 포함할 수 있다. 이전에 논의된 바와 같이, 계량 전자기기(20)는 구동기(16)에 공급하기 위한 구동 신호를 발생하고 픽오프/검출 센서(17) 및 온도 센서(112)로부터 신호들을 수신할 수 있다. 일부 실시예들에서, 계량 전자기기(20)는 구동기(16)로부터 신호들을 수신할 수 있다. 계량 전자기기(20)는 센서 조립체(10)를 밀도 계량기, 점도 계량기 또는 코리올리 질량 유량계(Coriolis mass flow meter)와 같은 유량계로서 작동할 수 있다. 계량 전자기기(20)는 또한 다른 타입들의 진동 계량기들로서 작동할 수 있고, 제공되는 특별한 예들은 본 발명의 범주를 제한하지 않아야 하는 것이 이해되어야 한다. 계량 전자기기(20)는 하우징(11)의 재료의 하나 또는 그 초과의 특징들을 얻기 위해 진동 센서 신호들을 프로세싱할 수 있다.
인터페이스(201)는 구동기(16), 픽오프/검출 센서(17) 또는 온도 센서(112)로부터 리드(lead)들을 통하여 센서 신호들을 수신할 수 있다. 인터페이스(201)는 임의의 방식의 포맷팅(formatting), 증폭, 버퍼링(buffering) 등과 같은 임의의 필요한 또는 바람직한 신호 조정(conditioning)을 수행할 수 있다. 대안적으로, 신호 조정의 일부 또는 모두가 프로세싱 시스템(203)에서 수행될 수 있다. 게다가, 인터페이스(201)는 계량 전자기기(20)와 외부 장치들 사이의 통신들을 가능하게 한다. 인터페이스(201)는 임의의 방식의 전자, 광 또는 무선 통신이 가능할 수 있다. 게다가, 인터페이스(201)는 예컨대 계량 전자기기(20)와 외부 장치들 사이의 통신을 가능하게 한다. 인터페이스(201)는 임의의 방식의 전자, 광 또는 무선 통신이 가능할 수 있다.
일 실시예의 인터페이스(201)는 디지털화기(digitizer)(도시되지 않음)를 포함할 수 있으며, 여기서 센서 조립체(10) 신호들은 아날로그 센서 신호들을 포함한다. 디지털화기는 아날로그 센서 신호들을 샘플링하고 디지털화하며 디지털 센서 신호들을 발생한다. 디지털화기는 또한 임의의 요구되는 십진화(decimation)를 수행할 수 있으며, 디지털 센서 신호는 요구되는 신호 프로세싱의 양을 감소시키고 프로세싱 시간을 감소시키기 위해 십진화된다.
프로세싱 시스템(203)은 계량 전자기기(20)의 작업들을 안내하고 센서 조립체(10)로부터의 밀도/점도/유량 측정들을 프로세싱한다. 프로세싱 시스템(203)은 센서 확인 루틴(205)과 같은 하나 또는 그 초과의 프로세싱 루틴들을 또한 이행한다.
프로세싱 시스템(203)은 범용 컴퓨터, 마이크로 프로세싱 시스템들, 논리 회로 또는 임의의 본원에 설명된 기능들을 수행할 수 있는 다른 범용 또는 맞춤 프로세싱 장치를 포함할 수 있다. 프로세싱 시스템(203)은 다중 프로세싱 장치들 중으로 분산될 수 있다. 프로세싱 시스템(203)은 저장 시스템(204)과 같은 임의의 방식의 일체형 또는 독립 전자 저장 매체를 포함할 수 있다.
저장 시스템(204)은 계량 파라미터들 및 데이터, 소프트웨어 루틴들, 상수 값들 및 변수 값들을 저장할 수 있다. 저장 시스템(204)은 임의 접근 메모리(RAM)와 같은 주요 또는 메인 메모리를 포함할 수 있다. 실시예들에서, 저장 시스템(204)은 하드 디스크 드라이브, 제거 가능한 저장 장치, 메모리 카드, 플로피 디스크 드라이브, 자기 테이프 드라이브, 콤팩트 디스크 드라이브, 디지털 다기능 디스크, 블루-레이 디스크, 광 저장 장치, 테이프 백업 또는 임의의 다른 컴퓨터 사용 가능 또는 판독 가능한 저장 매체를 포함할 수 있다.
계량 전자기기(20)는 일반적으로 당업계에 공지된 다양한 다른 구성요소들 및 기능들을 포함할 수 있다는 것이 이해되어야 한다. 이러한 부가적인 특징들은 간결함의 목적을 위해 설명 및 도면들로부터 생략된다. 따라서, 본 발명은 도시되고 논의되는 특정 실시예들로 제한되지 않아야 한다.
도 1은 계량 전자기기(20)와 통신하는 단지 단일 센서 조립체(10)를 묘사하지만, 당업자는 다중 센서 조립체들이 계량 전자기기(20)와 통신할 수 있다는 것을 즉시 이해할 것이다. 또한, 계량 전자기기(20)는 다양한 상이한 센서 타입들을 작동시킬 수 있다. 따라서, 계량 전자기기(20)와 통신하는 특별한 센서 조립체들이 유효한 센서들을 포함하는 것을 확인하는 것이 중요하다. 계량 전자기기(20)와 통신하는 센서 조립체(10)와 같은 각각의 센서 조립체는 공기-포인트, 진공-포인트 또는 유체 정상 상태 체크 전용의 저장 시스템(204)의 각각의 섹션을 가질 수 있다. 예컨대, 센서 조립체가, 센서 조립체(10)의 예에서와 같이 밀도 계량기를 포함한다면, 교정 값들은 기준 조건들에서의 센서 시간 기간 값을 포함할 수 있다. 다른 센서 교정 값들이 고려되며 본 발명의 범주 내에 포함된다.
저장 시스템(204)은 센서 조립체(10)의 정상 상태를 확인하기 위해 센서 확인 루틴(205)에 의해 사용될 수 있는 변수들을 저장한다. 예컨대, 저장 시스템(204)은 복수의 온도(206)들 및 복수의 센서 시간 기간(207)들을 저장한다. 복수의 온도(206)들은 하나 이상의 온도 센서(112)로부터의 일련의 시간의 측정들을 얻음으로써 판정될 수 있다. 복수의 센서 시간 기간(207)들은 센서 조립체를 그의 고유 진동수에서 구동하고 가장 큰 반응의 주파수의 역을 판정함으로써 판정될 수 있다. 센서 조립체(10)의 예에서, 구동기(16)는 진동 부재(12)를 흔들리게 할 수 있고, 이는 센서 조립체(10)의 일련의 센서 시간 기간들을 판정하는데 사용될 수 있는 픽오프/검출 센서(17)에서 신호들을 발생한다. 실시예들에서, 복수의 온도(206)들의 각각의 온도는 복수의 센서 시간 기간(207)들의 각각의 센서 시간 기간에 대응할 수 있다. 예컨대, 복수의 온도(206)들의 각각의 온도 및 복수의 센서 시간 기간(207)들의 각각의 센서 시간 기간 각각은 20 초의 기간 동안 1 초 간격들로 측정될 수 있다.
저장 시스템(204)은 또한 평균 온도(208) 및 평균 센서 시간 기간(209)을 저장한다. 평균 온도(208)는 복수의 온도(206)들을 평균을 내는 것에 의해 판정될 수 있다. 평균 센서 시간 기간(209)은 복수의 센서 시간 기간(207)들을 평균을 내는 것에 의해 판정될 수 있다.
저장 시스템(204)은 또한 보상된 센서 시간 기간(210)을 저장한다. 보상된 센서 시간 기간(210)은 온도, 압력, 고도 및 밀도의 임의의 조합과 같이, 센서 시간 기간 측정에 영향을 줄 수 있는 하나 또는 그 초과의 물리적 요인들에 대하여 보정된 값이다.
센서 조립체(10)의 보상된 센서 시간 기간(210)은 온도에 대하여 보상될 수 있다. 예컨대, 하나 이상의 온도 센서(112)는 센서 조립체(10)가 기준 교정 온도와 상이한 온도인 것을 표시할 수 있다. 실시예들에서, 기준 교정 온도는 20℃ 일 수 있다. 온도는 센서 조립체(10)의 강성에 영향을 미칠 수 있고, 이는 측정된 센서 시간 기간에 오프셋을 유도한다. 실시예에서, 보상된 센서 시간 기간(210)은 평균 온도(208)를 기본으로 하여 평균 센서 시간 기간(209)에 대한 오프셋을 계산함으로써 판정될 수 있다.
실시예에서, 주변 공기의 밀도가 공기-포인트 정상 상태 체크 동안 측정될 수 있다. 측정된 센서 시간 기간은 고객 현장과 공장에서의 기준 조건들 사이의 대기압 차이들에 의해 또한 영향을 받을 수 있다. 기준 조건들과 고객 현장 사이의 대기압 차이들은 시험 현장들 사이의 표고의 차이들로 인한 것일 수 있다. 실시예들에서, 기준 대기압은 101.325 ㎪ 일 수 있다. 기상 변경들로 인한 압력 변동들이 또한 존재할 수 있지만, 표고로 인한 압력의 변경들보다는 덜 중대하다. 정상 상태 체크가 기준 가스 압력과는 상이한 압력인 가스에 의해 수행될 때, 압력의 차이는 측정된 센서 시간 기간에 오프셋을 생성할 수 있다.
저장 시스템(204)은 고도(218), 측정된 밀도(219), 기준 밀도(220), 밀도 감도(221), 상이한 밀도(222), 보상된 기준 밀도(223) 및 밀도 시간 기간 오프셋(224)을 더 포함할 수 있다. 고도(218)는 센서가 설치되는 고도를 나타낼 수 있다. 실시예들에서, 고도(218)는 사용자에 의해 입력되고 저장 시스템(204)에 저장될 수 있다. 예컨대, 고도(218)는 정상 상태 체크의 시작 시에, 고객 현장에서의 센서의 설치 시에 또는 임의의 다른 시간에 입력될 수 있다. 다른 실시예들에서, 고도(218)는 계량 전자기기(20)에서 전자 메시지를 통하여 수신될 수 있다.
측정된 밀도(219)는 상기 설명된 바와 같은 센서 조립체(10)를 사용하여 정상 상태 체크 동안 측정될 수 있다. 기준 밀도(220)는 주변 대기 가스에 의한 기준 조건들 하에서 진동 소자 계량기(5)에 의해 측정되는 밀도일 수 있다. 기준 밀도(220)는 보상된 기준 밀도(223)를 발생하기 위해 고도, 온도 및 압력의 변경들에 대하여 보상될 수 있다 :
Figure pct00001
상기 등식에서, ρ0, Τ0 및 Ρ0 는 각각의 기준 밀도, 온도 및 압력을 나타낸다. 보상된 기준 밀도(223)는 ρ1 에 의해 표시된다. Τ1 은 정상 상태 체크 현장에서의 주변 공기의 온도이다. 예컨대, Τ1 은 복수의 온도(206)들의 온도 또는 평균 온도(208)를 나타낼 수 있다. Ρ1 은 정상 상태 체크 현장에서의 주변 공기의 압력이다. Ρ1 은 이하의 등식을 사용하여 추정될 수 있다 :
Ρ1 = Ρ0(1-2.25577-5 x h)5.2558
여기서 h 는 시험 현장의 고도를 미터 단위로 나타낸다.
다른 실시예에서, 측정된 밀도(219)는 기준 고도, 온도 및 압력에 대해 보상될 수 있다.
밀도 감도(221) 및 상이한 밀도(222)는 밀도 시간 기간 오프셋(224)을 계산하는데 사용될 수 있다. 상이한 밀도(222)는 보상된 기준 밀도(223)와 측정된 밀도(219) 사이의 차이를 나타낸다. 하지만 이는 제한하려는 것은 아니다. 다른 실시예들에서, 상이한 밀도(222)는 기준 밀도와 기준 고도, 압력 및 온도에 대하여 보상된 측정된 밀도 사이의 차이를 나타낼 수 있다.
밀도 감도(221)는 계량기의 재료에 의해 영향을 받는 계량기의 정확도의 측정이며, 포크 타입 밀도 계량기에 대하여 이하와 같이 정의된다 :
밀도 감도 = K1 + 2 x K2 x (온도 보상된 센서 시간 기간)
밀도 감도(221)는 가스 밀도 계량기에 대하여 이하와 같이 정의된다 :
밀도 감도 = 2 x K2 x (온도 보상된 센서 시간 기간)
상기 밀도 감도 등식들 모두에서, K1 및 K2 는 계량기 교정 프로세스 동안 판정될 수 있는 교정 상수들을 나타낸다. 예컨대, K1 및 K2 는 높은 정확도로 공지된 밀도들을 갖는 2 개의 상이한 유체들을 사용하는 교정 프로세스에 의해 판정될 수 있다.
밀도 시간 기간 오프셋(224)은 정상 상태 포인트 체크와 기준 조건들에서의 그 유체의 밀도 사이의 유체 밀도의 차이로 여겨질 수 있는 오프셋이다. 밀도 시간 기간 오프셋(224)은 이하의 등식에 의해 판정될 수 있다 :
Figure pct00002

실시예들에서, 밀도 시간 기간 오프셋(224)은 보상된 센서 시간 기간(210)을 더 보상하는데 사용될 수 있다. 다른 실시예들에서, 밀도 시간 기간 오프셋(224)은 평균 센서 시간 기간(209), 또는 복수의 센서 시간 기간(207)들 중 어떠한 것을 보상하는데 사용될 수 있다.
저장 시스템(204)은 기준 센서 시간 기간(211) 및 센서 시간 에러 한도(212)를 또한 저장할 수 있다. 실시예들에서, 기준 센서 시간 기간(211)은 센서 조립체가 고객에게 배송되기 전에 기준 조건들 하에서 공장에서 측정될 수 있다. 다른 실시예들에서, 기준 센서 시간 기간(211)은 계량기가 고객 현장에서 설치되거나 구성될 때 판정되는 기준 값을 나타낼 수 있다. 기준 센서 시간 기간(211)은 기준 압력, 온도, 고도 및/또는 유체 밀도에 대하여 특정할 수 있다. 실시예에서, 기준 센서 시간 기간(211)은 해수면에서의 주변 가스로 충전된 센서의 진동 소자들에 의해 판정될 수 있다. 다른 실시예들에서, 기준 센서 시간 기간(211)은 진공 하에서의 센서의 진동 소자들에 의해 판정될 수 있다. 다른 실시예들에서, 기준 센서 시간 기간(211)은 온도 및 압력의 임의의 조합 하에서 판정될 수 있고 임의의 기준 유체를 포함할 수 있다. 예컨대, 물은 기준 유체로서 사용될 수 있다.
센서 시간 에러 한도(212)는 계량기 센서에 대한 유효성의 발견을 제공하는 것을 가능하게 하는 기준 센서 시간 기간(211)과 보상된 센서 시간 기간(210) 사이의 최대 허용 가능한 차이를 나타낸다.
저장 시스템(204)은 센서 유효성 표시기(225)를 더 포함할 수 있다. 센서 유효성 표시기(225)는 보상된 센서 시간 기간(210)과 기준 센서 시간 기간(211) 사이의 차이가 센서 시간 에러 한도(212) 미만인지의 판정 시에 설정될 수 있다. 센서 유효성 표시기(225)는 센서 조립체(10)가 질량 유동, 밀도, 점도 또는 임의의 다른 측정의 정확한 측정들을 제공할 수 있는지를 표시할 수 있다. 실시예들에서, 계량 전자기기(20)는 진동 소자 계량기(5) 상의 라이트 또는 디스플레이를 토글링(toggling)함으로써 센서 유효성 표시기(225)의 상태를 표시할 수 있다. 다른 실시예들에서, 계량 전자기기(20)는 다른 계산 장치에 전자 리포트를 전송함으로써 센서 조립체(10)가 유효한 것을 나타낼 수 있다.
기존의 정상 상태 체크 방법론들에 의한 센서 조립체의 유효성을 판정할 때, 센서 안정성은 정확한 결과들의 수신에 대한 추가의 제한을 나타낼 수 있다. 안정적이거나 지속적인 상태에 있지 않은 계량기는 잘못된 결과들을 제공하는, 넓은 범위의 값들에 걸쳐 변동하는 센서 시간 기간 측정들을 제공할 수 있다. 저장 시스템(204)은 이러한 가능한 제한을 처리하기 위해 표준 편차 온도(213), 표준 편차 센서 시간 기간(214), 표준 편차 센서 시간 기간 한도(215), 표준 편차 온도 한도(216) 및 조건 안정 표시기(217)를 더 포함한다. 표준 편차 온도(213)는 복수의 온도(206)들의 표준 편차를 나타낸다. 표준 편차 센서 시간 기간(214)은 복수의 센서 시간 기간(207)들의 표준 편차를 나타낸다.
표준 편차 온도 한도(216)는 안정적인 센서가 표시할 수 있는 최대 표준 편차 온도(213)를 나타낼 수 있다. 표준 편차 온도(213)는 센서 조립체(10)의 온도가 급격하게 변경될 때 상승될 수 있다. 표준 편차 온도(213)가 표준 편차 온도 한도(216)보다 더 클 때, 진동 계량기는 신뢰할 수 있는 측정들을 제공하지 않을 수 있고, 정상 상태 체크는 정확한 결과들을 발생하지 않을 수 있다.
표준 편차 센서 시간 기간(214)은 환경적 또는 시험 조건들이 급격하게 변경되는 것을 포함하는, 임의의 수의 이유들로 인해 상승될 수 있다. 표준 편차 센서 시간 기간 한도(215)는 안정적인 센서가 표시할 수 있는 최대 센서 시간 기간 표준 편차를 나타낼 수 있다. 표준 편차 센서 시간 기간(214)이 표준 편차 센서 시간 기간 한도(215)보다 더 클 때, 진동 계량기는 신뢰할 수 있는 측정들을 제공하는 것이 가능하지 않을 수 있고, 정상 상태 체크는 정확한 결과들을 발생하지 않을 수 있다.
조건 안정 표시기(217)는 센서가 안정적인 것으로 판정되는지를 나타내도록 설정될 수 있다. 실시예들에서, 조건 안정 표시기(217)는 사용자를 위해 광 또는 다른 디스플레이로 표시될 수 있다. 다른 실시예들에서, 조건 안정 표시기(217)는 다른 컴퓨팅 장치에 보고하기 위해 전자기기를 통하여 전송될 수 있다.
실시예에서, 저장 시스템(204)은 프로세싱 시스템(203)에 의해 실행되는 루틴들을 포함한다. 예컨대, 저장 시스템(204)은 센서 확인 루틴(205)을 저장한다. 계량 전자기기(20)는 센서 조립체(10)를 확인하기 위해 센서 확인 루틴(205)을 개시하고 작동할 수 있다. 실시예들에서, 센서 확인 루틴(205)은 센서 조립체의 유효성을 판정하기 위해 정상 상태 체크를 수행할 수 있고 상기 논의된 방법들을 사용하여 센서 유효 표시기(225)를 통하여 결과들을 표시할 수 있다. 다른 실시예들에서, 센서 확인 루틴(205)은 상기 설명된 바와 같이, 센서 조립체(10)가 안정적인 측정들을 제공하고 조건 안정 표시기(217)를 통하여 결과들을 표시하는지를 판정할 수 있다.
도 3 내지 도 5는 각각 센서 확인 방법(300, 400 및 500)들을 묘사한다. 센서 확인 방법(300, 400 및 500)들은 센서 확인 루틴(205)의 예의 실시예들을 나타낸다. 프로세싱 시스템(203)은, 센서 확인 방법(300l, 400 및 500)들의 임의의 조합을 수행하는 것을 포함할 수 있는, 센서 확인 루틴(205)을 실행하기 위해 필요한 신호 및 데이터 프로세싱을 수행하도록 구성될 수 있다.
도 3의 센서 확인 방법(300)은 단계(302)로부터 시작한다. 단계(302)에서, 복수의 온도들은 하나 이상의 온도 센서를 사용하여 측정되고 복수의 센서 시간 기간들은 센서 조립체(10)를 사용하여 측정된다. 예컨대, 복수의 온도(206)들은 온도 센서(112)를 사용하여 측정될 수 있다. 실시예들에서, 복수의 온도(206)들은 센서 조립체(10)의 임의의 부분에 커플링되는 하나 초과의 온도 센서를 사용하여 측정될 수 있다. 복수의 센서 시간 기간(207)들은 구동기(16)를 진동시키고 계량 전자기기(20)에서 픽오프/검출 센서(17)에 의한 진동 반응을 수신함으로써 판정될 수 있다.
실시예들에서, 단계(302)는 센서 조립체(10)를 세정하는 단계를 더 포함할 수 있다. 예컨대, 하우징(11), 진동 부재(12), 입구 단부(13), 유체 구멍(15)들, 구동기(16), 픽오프/검출 센서(17) 또는 실린더(50)의 내측들 또는 외측들은 용제 또는 당업자에게 일반적으로 공지된 임의의 다른 방법에 의해 세정될 수 있다.
실시예들에서, 단계(302)는 주변 공기에 의해 센서 조립체(10)를 충전하는 단계를 더 포함할 수 있다.
실시예들에서, 단계(302)는 진공 하에서 센서 조립체(10)를 놓는 단계를 더 포함할 수 있다.
실시예들에서, 단계(302)는 정확하게 공지된 밀도를 갖는 유체에 의해 센서 조립체(10)를 충전하는 단계를 더 포함할 수 있다. 예컨대, 센서 조립체는 물로 충전될 수 있다.
방법(300)은 단계(304)에 의해 계속된다. 단계(304)에서, 평균 온도가 복수의 온도들로부터 판정된다. 예컨대, 평균 온도(208)는 상기 설명된 바와 같이 복수의 온도(206)들을 평균을 내는 것에 의해 판정될 수 있다.
방법(300)은 단계(306)에 의해 계속된다. 단계(306)에서, 평균 센서 시간 기간이 복수의 센서 시간 기간들로부터 판정된다. 예컨대, 평균 센서 시간 기간(209)은 상기 설명된 바와 같이 복수의 센서 시간 기간(207)들을 평균을 내는 것에 의해 판정될 수 있다.
방법(300)은 단계(308)에 의해 계속된다. 단계(308)에서, 평균 센서 시간 기간이 보상된 센서 시간 기간을 발생하기 위해 평균 온도를 사용하여 보상된다. 예컨대, 평균 센서 시간 기간(209)은 상기 설명된 바와 같이 보상된 센서 시간 기간(210)을 발생하기 위해 평균 온도(208)를 사용하여 보상될 수 있다.
방법(300)은 단계(310)에 의해 계속된다. 단계(310)에서, 보상된 센서 시간 기간은 기준 센서 시간 기간에 비교된다. 예컨대, 보상된 센서 시간 기간(210)은 상기 설명된 바와 같이 기준 센서 시간 기간(211)에 비교될 수 있다.
방법(300)은 단계(312)에 의해 계속된다. 단계(312)에서, 보상된 센서 시간 기간이 기준 센서 시간 기간의 센서 시간 기간 에러 한도 내인지가 표시된다. 예컨대, 보상된 센서 시간 기간(210)이 상기 설명된 바와 같이 기준 센서 시간 기간(211)의 센서 시간 에러 한도(212) 내인지가 표시될 수 있다.
실시예들에서, 센서 확인 방법(400)이 방법(300) 외에 수행될 수 있다. 도 4 의 방법(400)은 단계(402)에 의해 시작된다. 단계(402)에서, 고도가 수신된다. 고도는 해수면 상의 센서의 위치의 높이이다. 예컨대, 고도(218)는 상기 설명된 바와 같이 수신될 수 있다.
방법(400)은 단계(404)에 의해 계속된다. 단계(404)에서, 보상된 센서 시간 기간은 고도를 사용하여 보상된다. 예컨대, 보상된 센서 시간 기간(210)은 상기 설명된 바와 같이 고도(218)를 사용하여 보상된다.
실시예들에서, 단계(404)는 센서 조립체를 사용하여 유체의 밀도를 측정하는 단계, 및 고도를 사용하여 측정된 밀도와 기준 밀도 사이의 밀도의 차이에 대하여 보상된 센서 시간 기간을 보상하는 단계를 더 포함할 수 있다. 예컨대, 측정된 밀도(219)는 센서 조립체(10)를 사용하여 측정될 수 있다. 고도(218)는 상기 설명된 바와 같이 복수의 센서 시간 기간(207)들, 평균 센서 시간 기간(209) 또는 보상된 센서 시간 기간(210) 중 임의의 것을 보상하는데 사용될 수 있다.
실시예들에서, 센서 확인 방법(500)이 방법(300 및/또는 400)들 외에 수행될 수 있다. 도 5에 묘사된 바와 같이, 방법(500)은 단계(502)에 의해 시작된다. 단계(502)에서, 표준 편차가 복수의 온도들 및 복수의 센서 시간 기간들 중 하나를 사용하여 계산된다. 예컨대, 상기 설명된 바와 같이 표준 편차 온도(213)는 복수의 온도(206)들을 사용하여 계산될 수 있거나, 표준 편차 센서 시간 기간(214)은 복수의 센서 시간 기간(207)들을 사용하여 계산될 수 있다.
방법(500)은 단계(504)에 의해 계속된다. 단계(504)에서, 표준 편차가 한도보다 더 큰지가 판정된다. 예컨대, 상기 설명된 바와 같이 표준 편차 온도(213)가 표준 편차 온도 한도(216)보다 더 큰지가 판정될 수 있거나, 표준 편차 센서 시간 기간(214)이 표준 편차 센서 시간 기간(215)보다 더 큰지가 판정될 수 있다. 실시예들에서, 방법(500)은 2 번 수행될 수 있고, 표준 편차 온도(213) 및 표준 편차 센서 시간 기간(214)을 각각 평가한다.
단계(504)에서 표준 편차가 한도보다 더 큰 것으로 판정된다면, 방법(500)은 단계(506)에 의해 계속된다. 단계(504)에서 표준 편차가 한도보다 더 크지않는 것으로 판정된다면, 방법(500)은 단계(508)에 의해 계속된다. 단계(506)에서 조건이 불안정한 것으로 표시된다. 단계(508)에서 조건이 안정적인 것으로 표시된다. 예컨대, 조건 안정 표시기(217)는 센서 조립체(10)의 조건이 안정적인지를 표시하는데 사용될 수 있다. 실시예에서, 계량 전자기기(20)는 표시기 광을 토글링함으로써 또는 다른 방식으로 사용자에게 디스플레이를 제공함으로써 조건이 안정적인지를 표시할 수 있다. 다른 실시예에서, 계량 전자기기(20)는 전자 리포트를 전송함으로써 조건이 안정적인지를 표시할 수 있다. 당업자에 의해 이해될 바와 같이, 센서 조립체(10)의 안정성을 표시하는 다른 방법들이 본 출원에 의해 또한 고려될 수 있다.
상기 실시예들의 상세한 설명들은 출원의 범주 내에 있게 될 발명자들에 의해 고려되는 모든 실시예들의 배타적인 설명들이 아니다. 실제로, 당업자는 상기 설명된 실시예들의 특정 요소들은 추가의 실시예들을 생성하기 위해 다양하게 조합되거나 삭제될 수 있고, 이러한 추가의 실시예들은 본 출원의 범주 및 교시들 내에 속하는 것을 인지할 것이다. 상기 설명된 실시예들은 본 발명의 범주 및 교시들 내에서 부가적인 실시예들을 생성하기 위해 전체적으로 또는 부분적으로 조합될 수 있다는 것이 당업자에게 또한 자명할 것이다.
따라서, 본 출원의 특정 실시예들 및 이에 대한 예들은 예시의 목적들을 위해 본원에 설명되며, 당업자가 인지할 바와 같이 다양한 동등한 수정들이 본 출원의 범주 내에서 가능하다. 본원에 제공되는 교시들은 상기 설명된 그리고 첨부된 도면에 도시된 실시예들 뿐만 아니라 다른 계량기들에 적용될 수 있다. 따라서, 본 출원의 범주는 이후의 청구 범위들로부터 판정되어야 한다.

Claims (19)

  1. 계량기 정상 상태 확인용 진동 소자 계량기(5)로서,
    진동 부재(12), 픽오프/검출 센서(17) 및 진동 부재(12)를 진동시키도록 구성되는 구동기(16)를 포함하는 센서 조립체(10);
    하나 이상의 온도 센서(112); 및
    상기 픽오프/검출 센서(17), 구동기(16) 및 하나 이상의 온도 센서(112)에 커플링되는 계량 전자기기(20)를 포함하며,
    상기 계량 전자기기(20)는 하나 이상의 온도 센서(112)를 사용하여 복수의 온도들을 측정하고 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간들을 측정하고, 복수의 온도들로부터 평균 온도를 판정하고, 복수의 센서 시간 기간들로부터 평균 센서 시간 기간을 판정하고, 보상된 센서 시간 기간을 발생하기 위해 평균 온도를 사용하여 평균 센서 시간 기간을 보상하고, 기준 센서 시간 기간에 보상된 센서 시간 기간을 비교하고, 보상된 센서 시간 기간이 기준 센서 시간 기간의 센서 시간 기간 에러 한도 내에 있는지를 표시하도록 구성되는,
    진동 소자 계량기.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 온도 센서(112)를 사용하여 복수의 온도(206)들을 측정하는 단계 및 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간(207)들을 측정하는 단계는 센서 조립체(10)를 세정하는 단계를 더 포함하는,
    진동 소자 계량기.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 온도 센서(112)를 사용하여 복수의 온도(206)들을 측정하는 단계 및 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간(207)들을 측정하는 단계는 주변 공기로 센서 조립체(10)를 충전하는 단계를 더 포함하는,
    진동 소자 계량기.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 온도 센서(112)를 사용하여 복수의 온도(206)들을 측정하는 단계 및 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간(207)들을 측정하는 단계는 진공 하에 센서 조립체(10)를 놓는 단계를 더 포함하는,
    진동 소자 계량기.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 온도 센서(112)를 사용하여 복수의 온도(206)들을 측정하는 단계 및 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간(207)들을 측정하는 단계는 정확하게 공지된 밀도를 갖는 유체로 센서 조립체(10)를 충전하는 단계 또는 상기 유체로 센서 조립체를 채워넣는 단계를 더 포함하는,
    진동 소자 계량기.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 계량 전자기기(20)는 복수의 온도(206)들 및 복수의 센서 시간 기간(207)들 중 하나를 사용하여 표준 편차를 계산하고, 한도에 표준 편차를 비교하고, 상기 표준 편차가 한도보다 더 큰지를 표시하도록 더 구성되는,
    진동 소자 계량기.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 계량 전자기기(20)는 고도(218)를 수신하고, 상기 고도(218)를 사용하여 보상된 센서 시간 기간(210)을 보상하도록 더 구성되는,
    진동 소자 계량기.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 계량 전자기기(20)는 센서 조립체(10)를 사용하여 유체의 밀도를 측정하고, 고도(218) 및 평균 온도(208)를 사용하여 기준 밀도(220)와 측정된 밀도(219) 사이의 밀도의 차이에 대하여 보상된 센서 시간 기간(210)을 보상하도록 더 구성되는,
    진동 소자 계량기.
  9. 센서의 정상 상태 확인 방법으로서,
    하나 이상의 온도 센서(112)를 사용하여 복수의 온도(206)들을 측정하는 단계 및 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간(207)들을 측정하는 단계로서, 상기 센서 조립체(10)는 진동 부재(12), 픽오프/검출 센서(17) 및 진동 부재(12)를 진동시키도록 구성되는 구동기(16)를 포함하는, 단계;
    상기 복수의 온도(206)들로부터 평균 온도(208)를 판정하는 단계;
    상기 복수의 센서 시간 기간(207)들로부터 평균 센서 시간 기간(209)을 판정하는 단계;
    보상된 센서 시간 기간(210)을 발생하기 위해 평균 온도(208)를 사용하여 평균 센서 시간 기간(209)을 보상하는 단계;
    기준 센서 시간 기간(211)에 보상된 센서 시간 기간(210)을 비교하는 단계; 및
    상기 보상된 센서 시간 기간(210)이 기준 센서 시간 기간(211)의 센서 시간 에러 한도(212) 내에 있는지를 표시하는 단계를 포함하는,
    센서의 정상 상태 확인 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 복수의 온도(206)들을 측정하는 단계 및 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간(207)들을 측정하는 단계는 센서 조립체(10)를 세정하는 단계를 더 포함하는,
    센서의 정상 상태 확인 방법.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 복수의 온도(206)들을 측정하는 단계 및 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간(207)들을 측정하는 단계는 주변 공기로 센서 조립체(10)를 충전하는 단계를 더 포함하는,
    센서의 정상 상태 확인 방법.
  12. 제 9 항에 있어서,
    상기 복수의 온도(206)들을 측정하는 단계 및 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간(207)들을 측정하는 단계는 진공 하에 센서 조립체(10)를 놓는 단계를 더 포함하는,
    센서의 정상 상태 확인 방법.
  13. 제 9 항에 있어서,
    상기 복수의 온도(206)들을 측정하는 단계 및 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간(207)들을 측정하는 단계는 정확하게 공지된 밀도를 갖는 유체로 센서 조립체(10)를 충전하는 단계 또는 상기 유체로 센서 조립체(10)를 채워넣는 단계를 더 포함하는,
    센서의 정상 상태 확인 방법.
  14. 제 9 항에 있어서,
    상기 복수의 온도(206)들 및 복수의 센서 시간 기간(207)들 중 하나를 사용하여 표준 편차를 계산하는 단계;
    한도에 표준 편차를 비교하는 단계; 및
    상기 표준 편차가 한도보다 더 큰지를 표시하는 단계를 더 포함하는,
    센서의 정상 상태 확인 방법.
  15. 제 9 항에 있어서,
    고도(218)를 수신하는 단계; 및
    상기 고도(218)를 사용하여 보상된 센서 시간 기간(210)을 보상하는 단계를 더 포함하는,
    센서의 정상 상태 확인 방법.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 고도(218)를 사용하여 보상된 센서 시간 기간(210)을 보상하는 단계는 :
    상기 센서 조립체(10)를 사용하여 유체의 밀도를 측정하는 단계; 및
    상기 고도(218) 및 평균 온도(208)를 사용하여 기준 밀도(220)와 측정된 밀도(219) 사이의 밀도의 차이에 대하여 보상된 센서 시간 기간(210)을 보상하는 단계를 더 포함하는,
    센서의 정상 상태 확인 방법.
  17. 센서의 정상 상태 확인 방법으로서,
    하나 이상의 온도 센서(112)를 사용하여 복수의 온도(206)들을 측정하는 단계 및 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간(207)들을 측정하는 단계로서, 상기 센서 조립체(10)는 진동 부재(12), 픽오프/검출 센서(17) 및 진동 부재(12)를 진동시키도록 구성되는 구동기(16)를 포함하는, 단계;
    상기 복수의 온도(206)들 또는 복수의 센서 시간 기간(207)들을 포함하는 제 1 데이터 세트를 사용하여 제 1 표준 편차를 계산하는 단계;
    제 1 한도(215, 216)에 제 1 표준 편차(213, 214)를 비교하는 단계; 및
    상기 제 1 표준 편차(213, 214)가 제 1 한도(215, 216)보다 더 큰지를 표시하는 단계를 포함하는,
    센서의 정상 상태 확인 방법.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 복수의 온도(206)들 또는 복수의 센서 시간 기간(207)들 중 하나를 포함하는 제 2 데이터 세트를 사용하여 제 2 표준 편차(213, 214)를 계산하는 단계로서, 상기 제 1 데이터 세트는 제 2 데이터 세트와 상이한, 단계;
    제 2 한도(215, 216)에 제 2 표준 편차(213, 214)를 비교하는 단계; 및
    상기 제 2 표준 편차(213, 214)가 제 2 한도(215, 216)보다 더 큰지를 표시하는 단계를 더 포함하는,
    센서의 정상 상태 확인 방법.
  19. 센서의 정상 상태 확인 방법으로서,
    하나 이상의 온도 센서(112)를 사용하여 복수의 온도(206)들을 측정하는 단계 및 센서 조립체(10)를 사용하여 복수의 센서 시간 기간(207)들을 측정하는 단계로서, 상기 센서 조립체(10)는 하나 또는 그 초과의 진동 부재(12), 하나 또는 그 초과의 픽오프/검출 센서(17)들 및 하나 또는 그 초과의 진동 부재(12)들을 진동시키도록 구성되는 구동기(16)를 포함하는, 단계;
    상기 복수의 온도(206)들로부터 평균 온도(208)를 판정하는 단계;
    상기 복수의 센서 시간 기간(207)들로부터 평균 센서 시간 기간(209)을 판정하는 단계;
    고도(218)를 수신하는 단계;
    상기 센서 조립체(10)를 사용하여 유체의 밀도를 측정하는 단계; 및
    상기 고도(218) 및 평균 온도(208)를 사용하여 기준 밀도(220)와 측정된 밀도(219) 사이의 밀도의 차이에 대하여 평균 센서 시간 기간(209)을 보상하는 단계를 포함하는,
    센서의 정상 상태 확인 방법.
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