KR20150108030A - Pattern Image Acquisition Apparatus and Method Comprising Dual Elastic Structure - Google Patents

Pattern Image Acquisition Apparatus and Method Comprising Dual Elastic Structure Download PDF

Info

Publication number
KR20150108030A
KR20150108030A KR1020150035168A KR20150035168A KR20150108030A KR 20150108030 A KR20150108030 A KR 20150108030A KR 1020150035168 A KR1020150035168 A KR 1020150035168A KR 20150035168 A KR20150035168 A KR 20150035168A KR 20150108030 A KR20150108030 A KR 20150108030A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
elastic
pattern
image
elastic pad
pattern image
Prior art date
Application number
KR1020150035168A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101594114B1 (en
Inventor
백영현
김승호
신요식
Original Assignee
주식회사 유니온커뮤니티
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 유니온커뮤니티 filed Critical 주식회사 유니온커뮤니티
Priority to KR1020150035168A priority Critical patent/KR101594114B1/en
Publication of KR20150108030A publication Critical patent/KR20150108030A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101594114B1 publication Critical patent/KR101594114B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/40—Extraction of image or video features
    • G06V10/44—Local feature extraction by analysis of parts of the pattern, e.g. by detecting edges, contours, loops, corners, strokes or intersections; Connectivity analysis, e.g. of connected components
    • G06K9/4604—
    • G06K9/2009—
    • G06K9/2036—
    • G06K9/58—
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/10—Image acquisition
    • G06V10/12—Details of acquisition arrangements; Constructional details thereof
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/10—Image acquisition
    • G06V10/12—Details of acquisition arrangements; Constructional details thereof
    • G06V10/14—Optical characteristics of the device performing the acquisition or on the illumination arrangements
    • G06V10/145—Illumination specially adapted for pattern recognition, e.g. using gratings
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/88—Image or video recognition using optical means, e.g. reference filters, holographic masks, frequency domain filters or spatial domain filters

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Image Input (AREA)
  • Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)

Abstract

Disclosed is a pattern image acquisition apparatus comprising a dual elastic structure. The pattern image acquisition apparatus is an apparatus for acquiring a pattern image of a recessed surface of an object such as a seal or a stamp. Especially, in order to acquire a clear image in spite of contamination due to ink or inkpad stained on the recessed surface, the pattern image acquisition apparatus includes an elastic layer which contacts an object and has elasticity, and an elastic pad of a transparent material which has elasticity and is separated from the elastic layer by being attached to the pattern input surface of a photo refractor. The elastic pad is pressurized by the elastic layer contacting the object so that it takes the pattern of the object. Thereby, even though the elastic layer is contaminated by the inkpad or ink stained on the recessed surface of the object, the elastic pad having the pattern of the object is not contaminated. So, contamination mark is not generated in the image.

Description

이중 탄성구조를 구비한 패턴 이미지 획득장치 및 그 방법{Pattern Image Acquisition Apparatus and Method Comprising Dual Elastic Structure}[0001] The present invention relates to a pattern image acquisition apparatus having a double elastic structure,

본 발명은 지문, 도장 또는 스탬프의 요철면의 패턴 이미지를 획득하는 장치에 있어서 요철면에 묻은 인주나 잉크에 의한 오염에도 불구하고 깨끗한 이미지를 획득할 수 있도록 이중 탄성 구조를 구비한 패턴 이미지 획득장치에 관한 것이다. The present invention relates to an apparatus and method for acquiring a pattern image of an uneven surface of a fingerprint, a painting or a stamp, and a pattern image acquiring apparatus having a double elastic structure so as to acquire a clean image in spite of contamination by ink- .

의사 결정의 수단으로 사용되는 도장이나 스탬프는 요철 형상으로 각인된 면에 인주나 잉크를 묻혀, 지면 등에 압인하는 그 요철 이미지를 생성하는 것이다. 이제까지 도장이나 스탬프로 찍은 이미지를 디지털 이미지로 획득하는 방법은 그 요철 이미지가 찍힌 종이 등을 별도의 디지털 스캔 장치를 이용하여 이미지 스캔하는 방식을 사용하였다. A stamp or a stamp used as a decision-making means is formed by embossing ink or ink on a surface engraved with a concavo-convex shape, thereby creating an image of the concavo-convex shape of the surface or the like. A method of acquiring an image obtained by a stamp or a stamp with a digital image is a method of scanning an image using a separate digital scanning device for the paper on which the uneven image is recorded.

그러나, 최근에 이러한 도장이나 스탬프를 종래의 광학식 지문인식장치를 응용하여 직접 디지털 이미지로 생성하는 방법(예컨대, 대한민국 특허 1179423호, 요철형 패턴 영상 획득장치 및 방법)이 제시되었다. 이 발명에 의할 경우, 도장이 압인되는 과정에서 획득되는 복수 개의 이미지를 누적적으로 합성하여 최종 도장 이미지를 생성하는 방식을 사용한다. Recently, however, there has been proposed a method of directly producing such a painting or stamp using a conventional optical fingerprint recognition apparatus as a digital image (for example, Korean Patent No. 1179423, an apparatus and method for obtaining a concave-convex pattern image). According to the present invention, a method of cumulatively synthesizing a plurality of images obtained in the process of stamping a paint is used to generate a final paint image.

도 1에는 이 특허가 제시하는 이미지 획득장치가 개시되어 있다. 도 1을 참조하면, 제시된 장치(100)는 프리즈(101)과, 프리즘(101)에 이미지 획득용 광을 조사하는 조명부(103)와, 카메라 모듈(105)을 구비하여, 조명부(103)에서 출사된 광이 프리즘(101)에 입사된 후 도장(10)에 의해 산란 또는 반사되어 형성된 영상을 카메라 모듈(105)이 이미지로 획득한다. In Fig. 1, an image acquisition apparatus proposed by this patent is disclosed. 1, the proposed apparatus 100 includes a freeze 101, an illumination unit 103 for irradiating the prism 101 with light for image acquisition, and a camera module 105, The camera module 105 acquires an image formed by scattering or reflecting the emitted light after entering the prism 101 by the coating 10.

문제는, 프리즘(101)의 면은 투명하고 단단한 면이기 때문에, 도장 등에는 인주나 잉크가 묻어있기 마련인데, 그 인주나 잉크가 프리즘(101)에 자국을 남긴다는 것이다. 이러한 인주나 잉크 자국은 다음에 찍게 되는 다른 도장의 이미지에 포착되어 나타남으로써 정확한 도장 패턴 이미지 획득을 방해하게 된다.
The problem is that since the surface of the prism 101 is a transparent and hard surface, phosphorus or ink is present on the surface of the prism 101, and the phosphorus or ink leaves marks on the prism 101. Such indentations or ink marks are caught and appear in images of other marks to be taken next, thereby obstructing the accurate acquisition of the pattern image.

따라서, 본 발명의 목적은 지문, 도장 또는 스탬프의 요철면의 패턴 이미지를 획득하는 장치로서 요철면에 묻은 인주나 잉크에 의한 오염에도 불구하고 깨끗한 이미지를 획득할 수 있도록 이중 탄성 구조를 구비한 패턴 이미지 획득장치를 제공함에 있다. Accordingly, an object of the present invention is to provide an apparatus for obtaining a pattern image of an uneven surface of a fingerprint, a paint, or a stamp, and a pattern having a double elastic structure so as to obtain a clear image despite contamination by irregularities on the irregular surface or ink. And an image acquisition device.

상기한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 이중 탄성구조를 구비한 패턴 이미지 획득장치는, 광굴절기를 구비하여 상기 광굴절기의 패턴입력면에 접착된 물체의 요철면의 패턴 이미지를 광학적으로 생성할 수 있다.In order to solve the above problems, an apparatus for acquiring a pattern image with a double elastic structure according to the present invention includes a light refractor to optically generate a pattern image of an uneven surface of an object adhered to a pattern input surface of the light refractor .

특별히, 본 발명의 이미지 획득장치는 탄성패드와 탄성막을 포함한다. 탄성막은 상기 물체의 요철면이 접촉하며 탄성을 가진다. 탄성패드는 탄성을 가지는 투명한 소재로 마련되어, 상기 광굴절기의 패턴입력면에 부착된 상태로 상기 탄성막으로부터 이격되어 배치됨으로써 상기 탄성막과의 사이에 공간부를 형성한다. In particular, the image acquisition device of the present invention comprises an elastic pad and an elastic membrane. The elastic film has elasticity by contacting the uneven surface of the object. The elastic pad is provided as a transparent material having elasticity, and is disposed apart from the elastic film in a state of being attached to the pattern input surface of the optical refractor, thereby forming a space portion with the elastic film.

탄성패드는 상기 물체의 압인과정에서 상기 물체의 요철면의 형상으로 상기 탄성막에 의해 가압되어, 상기 요철면의 패턴을 입력받는다. 이로써, 탄성막이 물체의 요철면에 묻은 인주나 잉크에 의해 오염되더라도, 실제로 물체의 요철면의 패턴이 입력되는 탄성패드에는 영향을 주지 않기 때문에 오염 자국이 이미지에 나타나지 않게 된다. The elastic pad is pressed by the elastic film in the shape of the uneven surface of the object in the process of depressing the object to receive the pattern of the uneven surface. As a result, even if the elastic membrane is contaminated with ink or ink on the uneven surface of the object, the pattern of the uneven surface of the object does not affect the elastic pad to which the input is made, so that the contamination mark does not appear in the image.

실시 예에 따라, 상기 탄성패드는 탄성을 가지는 투명한 실리콘, 합성수지 또는 천연수지가 바람직하며, 상기 탄성막의 소재는 탄성을 가지는 투명 또는 불투명한 실리콘 또는 합성 수지를 사용할 수 있다. According to an embodiment, the elastic pad is preferably transparent silicone, synthetic resin or natural resin having elasticity, and the elastic film may be made of transparent or opaque silicone or synthetic resin having elasticity.

실시 예에 따라, 상기 탄성막의 표면 중 상기 탄성패드와 면하는 면에는 미세 돌기 또는 미세 홈이 형성되어 상기 탄성패드와의 마찰력을 줄이는 것이 바람직하다. According to an exemplary embodiment of the present invention, fine protrusions or fine grooves are formed on the surface of the elastic membrane facing the elastic pad to reduce the frictional force with the elastic pad.

다른 실시 예에 따라, 상기 탄성패드와 탄성막 사이의 공간부에는 굴절율이 상기 탄성패드보다 작은 기체나 액상의 유체로 채워질 수 있다.According to another embodiment, the space between the elastic pad and the elastic membrane may be filled with a gas having a refractive index smaller than that of the elastic pad or liquid fluid.

본 발명에 의하면, 패턴이미지 획득장치는 지문, 도장, 스탬프처럼 요철 패턴을 가진 물체의 요철면의 이미지를 획득할 수 있다. According to the present invention, the pattern image obtaining apparatus can obtain an image of an uneven surface of an object having a concave-convex pattern such as a fingerprint, a painting, and a stamp.

특별히, 본 발명의 이미지 획득장치는 지문, 도장 또는 스탬프 등이 접촉하는 접촉면이 잉크나 인주 등에 의해 오염되더라도 깨끗한 이미지를 획득할 수 있다. In particular, the image acquiring device of the present invention can acquire a clear image even if the contact surface with which the fingerprint, the stamp, or the stamp comes in contact is contaminated by ink, phosphorus, or the like.

따라서 본 발명의 장치는 이미지를 획득할 때마다 접촉면을 세정할 필요가 없게 되고, 잉크나 인주로 오염된 지문, 도장, 스탬프 등을 반복적으로 사용하더라도, 그 오염 자국이 없는 깨끗한 이미지를 획득할 수 있다.Therefore, the apparatus of the present invention does not need to clean the contact surface every time an image is acquired, and even if fingerprints, painting, stamps or the like contaminated with ink or phosphorus are repeatedly used, a clean image without contamination marks can be obtained have.

도 1은 종래의 패턴 이미지 획득장치의 개념도,
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 패턴 이미지 획득장치의 개념도,
도 3은 물체를 압인한 상태의 도 2의 패턴 이미지 획득장치의 동작 설명에 제공되는 도면, 그리고
도 4는 도 2의 탄성막의 단면도이다. 1 is a conceptual diagram of a conventional pattern image acquisition apparatus,
2 is a conceptual diagram of a pattern image obtaining apparatus according to an embodiment of the present invention,
FIG. 3 is a view provided in an operation description of the pattern image obtaining apparatus of FIG.
4 is a cross-sectional view of the elastic membrane of Fig.

이하 상기 목적이 구체적으로 실현될 수 있는 본 발명의 실시 예들을 첨부된 도면을 참조하여 설명한다. Hereinafter, embodiments of the present invention in which the above object can be specifically realized will be described with reference to the accompanying drawings.

도 2를 참조하면, 본 발명의 이미지 획득장치(200)는 물체(10)의 요철면(10a)에 대한 패턴 이미지를 광학적인 방식으로 생성한다. 여기서, 물체(10)는 일측에 특정 패턴의 요철이 형성된 요철면(10a)을 가진 것이면 어떠한 것도 가능하다. 예컨대, 도장 또는 스탬프 등이 물체(10)에 해당할 수 있다. Referring to FIG. 2, the image acquiring apparatus 200 of the present invention optically generates a pattern image of the uneven surface 10a of the object 10. Here, any object 10 can be used as long as it has an uneven surface 10a on one side of which unevenness of a specific pattern is formed. For example, a paint or a stamp may correspond to the object 10.

본 발명의 이미지 획득장치(200)는 광굴절기(201) 및 패턴입력부(210)를 포함한다. 디지털 패턴 이미지가 생성되기 위해서는 이미지 센서(203)와 광원(205)이 구비되어야 하나, 이러한 구성이 반드시 본 발명의 이미지 획득장치(200) 내에 구비될 필요없고 별도의 장치 내에 구비될 수 있다. 도 2의 이미지 획득장치(200)는 이미지 센서(203)와 광원(205)을 모두 내부에 구비한 예이다. The image obtaining apparatus 200 of the present invention includes a light refractor 201 and a pattern input unit 210. In order to generate the digital pattern image, the image sensor 203 and the light source 205 must be provided. However, such a configuration need not necessarily be provided in the image acquisition apparatus 200 of the present invention, but may be provided in a separate apparatus. 2 is an example in which the image sensor 203 and the light source 205 are both provided.

본 발명의 방식은 소위 '산란식(투과식)'과 '흡수식' 방식을 포함하여 어떠한 형태의 광학식 이미지 획득방식에도 모두 적용될 수 있다. 따라서, 아래에서 설명되는 패턴입력부(210)와 광굴절기(201)의 구성과 배치를 제외하면, 그 광학적 이미지 획득방식에 따라 다양한 구성이 추가 또는 배제될 수 있으며 그 구성들의 배치도 얼마든지 다양하게 구현할 수 있다. The system of the present invention can be applied to any type of optical image acquisition system including a so-called 'scattering system' and an 'absorption system' system. Therefore, except for the configuration and arrangement of the pattern input unit 210 and the optical refractor 201 described below, various configurations can be added or excluded according to the optical image acquisition system, and the arrangement of the configurations can be variously Can be implemented.

광굴절기(201)는 내부로 입사되는 이미지 획득용 광을 반사, 굴절 또는 산란시켜 출사시킴으로써 패턴 영상을 생성하는 구성으로서, 그 단면의 형상이 도 2의 프리즘(Prism)과 같이 삼각형일 수도 있고, 직사각형, 사다리꼴, 이등변삼각형과 같은 사각형일 수도 있다.The optical refractor 201 is configured to generate a pattern image by reflecting, refracting, or scattering the image acquiring light incident to the inside to emit the pattern image. The cross-sectional shape of the pattern image may be triangular as in the prism of FIG. 2 , A rectangle, a trapezoid, or an isosceles triangle.

기본적으로, 광굴절기(201)는 패턴이 접촉되는 패턴입력면(201a)과, 패턴입력면(201a)에서 반사 또는 산란된 광(패턴 영상)이 출사되는 출사면(201b)과, 이미지 획득용 광이 입사되는 입사면(201c)을 포함한다. Basically, the optical refractor 201 includes a pattern input surface 201a on which a pattern is contacted, an emission surface 201b on which light (pattern image) reflected or scattered on the pattern input surface 201a is emitted, And an incident surface 201c on which incident light is incident.

광굴절기(201)로 입사되는 이미지 획득용 광은 획득장치(200) 내부에 구비된 광원으로부터 출사될 수도 있고, 앞서 설명한 바와 같이 별도의 외부장치에 구비되어 다른 광학 수단을 통해 제공될 수도 있다. 예컨대, 도 2의 예에서, 내부 광원(205)에서 출사된 광은 입사면(201c)으로 입사된다. The light for image acquisition incident on the optical refractor 201 may be emitted from a light source provided in the acquisition apparatus 200 or may be provided in another external device as described above and provided through another optical means . For example, in the example of FIG. 2, the light emitted from the internal light source 205 is incident on the incident surface 201c.

이미지 센서(203)는 광굴절기(201)에서 출사된 영상을 이용하여 디지털 패턴 이미지를 생성하며, 이미지 센서(203)도 별도의 외부장치에 구비될 수 있다. The image sensor 203 generates a digital pattern image using the image outputted from the optical refractor 201, and the image sensor 203 may be provided in a separate external device.

패턴입력부(210)는 광굴절기(201)의 패턴입력면(201a)을 대신하여 물체(10)의 패턴을 입력받는 구성으로서, ① 단단한 물체(10)의 패턴 입력을 용이하게 할 뿐만 아니라 ② 물체(10)에 의해 패턴입력면(201a)이 오염되는 것을 방지하고 ③ 패턴입력부(210) 자체가 오염되더라도 패턴 입력을 방해하지 않도록 한다. 패턴입력부(210)는 상호 이격되어 배치된 탄성패드(211)와 탄성막(213)을 포함한다. The pattern input unit 210 receives a pattern of the object 10 instead of the pattern input face 201a of the light refractor 201 and is configured to (1) facilitate input of a pattern of a rigid object 10, Thereby preventing the pattern input surface 201a from being contaminated by the object 10, and (3) preventing the pattern input from being interrupted even if the pattern input unit 210 itself is contaminated. The pattern input unit 210 includes elastic pads 211 and an elastic film 213 spaced from each other.

탄성패드(211)는 광굴절기(201)의 단단한 패턴입력면(201a)을 대신하여 도장이나 스탬프처럼 단단한 물체(10)와 접촉함으로써, (1) 물체(10)가 수직방향으로 압인되지 않고 기울어져 압인되는 경우나 (2) 물체(10)의 요철면(10a)과 광굴절기(201)의 패턴입력면(201a)이 완전히 밀착되는 형상이 아닌 경우라도, 물체(10)의 패턴 형상이 잘 입력될 수 있도록 한다. The elastic pad 211 contacts the rigid object 10 such as a paint or stamp in place of the rigid pattern input surface 201a of the light refractor 201 so that (1) the object 10 is not vertically depressed (2) Even when the irregular surface 10a of the object 10 and the pattern input surface 201a of the optical refractor 201 are not completely in contact with each other, To be input well.

따라서 단단한 물체(10)의 압인방향이 대충 수직방향이면 그 요철면(10a)의 요철부분 전체가 탄성패드(211)와 완전 접착할 수 있도록, 탄성패드(211)는 약한 수준의 탄성을 가지는 투명 소재이면 가능하다. 예를 들어, 실리콘(Silicon) 또는 합성수지 등을 탄성패드(211)의 소재로 사용할 수 있다. Therefore, if the direction of depressing the rigid object 10 is roughly vertical, the elastic pad 211 is made of a transparent material having a low level of elasticity so that the entire uneven portion of the uneven surface 10a can completely adhere to the elastic pad 211 If it is material, it is possible. For example, silicon or a synthetic resin may be used as the material of the elastic pad 211.

탄성패드(211)는 광굴절기(201)의 패턴입력면(201a)에 밀착되어 부착된다. 탄성패드(211)는 패턴입력면(201a)에 부착되면 충분하며, 패턴입력면(201a)과 탄성패드(211) 사이에 별도의 접착제에 의한 접착층을 형성하는 것은 광 경로가 왜곡될 수 있으므로 바람직하지 않다. The elastic pad 211 is adhered to the pattern input surface 201a of the light refractor 201 in close contact. It is sufficient that the elastic pad 211 adheres to the pattern input surface 201a and that forming an adhesive layer between the pattern input surface 201a and the elastic pad 211 by a separate adhesive may distort the optical path, I do not.

탄성막(213)은 탄성패드(211)의 외면(211a)로부터 일정한 간격 이격되어 배치됨으로써, 탄성막(213)과 탄성패드(211) 사이에 공간부(215)가 형성되도록 배치된다. The elastic membrane 213 is disposed at a predetermined distance from the outer surface 211a of the elastic pad 211 so that the space 215 is formed between the elastic membrane 213 and the elastic pad 211.

탄성막(213)은 투명 또는 불투명의 탄성 소재의 얇은 막이면 가능하며, 예를 들어 실리콘, 천연고무 또는 합성수지 등의 얇은 막을 이용할 수 있다. The elastic film 213 may be a thin film of a transparent or opaque elastic material, for example, a thin film such as silicon, natural rubber, or synthetic resin may be used.

이하에서는 도 2 및 도 3을 참조하여 본 발명의 패턴 이미지 획득장치(200)의 동작을 설명한다. Hereinafter, the operation of the pattern image obtaining apparatus 200 of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 and 3. FIG.

사용자가 물체(10)의 요철면(10a)에 대한 디지털 패턴 이미지를 획득하기 위하여, 도 3에서처럼 요철면(10a)으로 탄성막(213)을 가압하면, 탄성막(213)은 다시 탄성패드(211)를 가압한다. 이때, 탄성막(213) 중에서 요철면(10a)의 요철부분과 만나는 부분만 탄성패드(211)와 접촉하게 되고, 탄성막(213)의 나머지 부분은 탄성패드(211)와 접촉하지 않는다. 따라서 요철면(10a)의 요철과 만나는 부분을 제외한 나머지 부분에서, 탄성막(213)과 탄성패드(211)사이에 여전히 공간부(215)의 공기층이 존재하게 된다. 결과적으로, 탄성패드(211)에는 요철면(10a)의 요철부분(정확히는, 그에 대응되는 탄성막 부분)만 접촉하게 되고, 탄성패드(211)의 나머지 영역은 공기와 접촉하게 되어, 탄성패드(211)의 외면(211a)에서 패턴 입력이 발생한다. When the user presses the elastic membrane 213 with the uneven surface 10a as shown in Fig. 3 in order to obtain a digital pattern image of the uneven surface 10a of the object 10, the elastic membrane 213 is again pressed against the elastic pad 213 211). At this time, only the part of the elastic film 213 which is in contact with the concave-convex part of the uneven surface 10a comes into contact with the elastic pad 211, and the remaining part of the elastic film 213 does not contact with the elastic pad 211. The air layer of the space portion 215 still exists between the elastic membrane 213 and the elastic pad 211 in the remaining portion except the portion where the uneven surface of the uneven surface 10a is contacted. As a result, only the uneven portion (more specifically, the corresponding elastic film portion) of the uneven surface 10a comes into contact with the elastic pad 211, and the remaining area of the elastic pad 211 comes into contact with the air, The pattern input is generated on the outer surface 211a of the second electrode 211. [

예컨대 도 2 및 도 3과 같은 흡수식의 경우, 광원(205)에서 출사된 광은 광굴절기(201)의 탄성패드(211)의 외면(211a)에 임계각보다 큰 각으로 입사되기 때문에 요철면(10a)의 요철이 없는 부분에서는 반사가 일어난다. 따라서 패턴 이미지는 요철이 없는 부분이 밝고 요철 부분이 어두운 이미지가 된다.2 and 3, since the light emitted from the light source 205 is incident on the outer surface 211a of the elastic pad 211 of the optical refractor 201 at an angle larger than the critical angle, Reflection occurs at the portion where the concavities and convexities are not present. Therefore, the pattern image has a bright portion with no unevenness and a dark image with uneven portions.

산란식의 경우, 광원은 도 2의 광원(205)과 다른 위치에 마련되며, 이미지 획득을 위한 광은 직각 또는 전반사를 위한 임계각보다 작은 각도로 탄성패드(211)의 외면(211a)에 입사된다. 따라서 요철면(10a)의 요철 부분에서는 산란이 발생하고, 요철이 없는 부분에서는 전반사없이 공간부(215)로 굴절되므로, 요철부분이 밝고 나머지 부분이 어두운 이미지를 획득하게 된다.2, the light for image acquisition is incident on the outer surface 211a of the elastic pad 211 at an angle smaller than a critical angle for perpendicular or total reflection . Therefore, scattering occurs in the concave-convex portion of the uneven surface 10a and refracts in the space portion 215 without total reflection in the uneven portion, so that the uneven portion is bright and the remaining portion is dark.

이때, 탄성막(213)에 잉크나 인주 등의 오염 자국이 있더라도, 그 오염 부분이 요철면(10a)의 요철부분에 해당하지 않으면, 탄성패드(211)에 접촉않게 되어 패턴 이미지에 포착되지 않는다. 다시 말해, 물체(10)의 요철면(10a)에 오염 물질이 있어서 탄성막(213)에 자국을 남기더라도, 다음 물체의 패턴 이미지 형성에 전혀 영향을 주지 않는 것이다.
At this time, even if there is a contamination mark such as ink or phosphorus in the elastic film 213, if the contaminated portion does not correspond to the uneven portion of the uneven surface 10a, it does not come into contact with the elastic pad 211 and is not captured in the pattern image . In other words, even if a contaminant is present on the uneven surface 10a of the object 10, leaving a mark on the elastic film 213, it does not affect the pattern image formation of the next object at all.

실시 예 1Example 1

탄성막(213)과 탄성패드(211)의 소재 조합에 따라, 물체(10)에 의해 압인되었다가 물체(10)가 이탈한 후에도, 탄성막(213)이 탄성패드(211)로부터 즉시 분리되지 않고 탄성패드(211)에 일정 시간동안 서로 붙어 있을 수 있다. The elastic film 213 is not separated from the elastic pad 211 immediately after the object 10 is pulled down by the object 10 and the object 10 is released in accordance with the combination of the elastic film 213 and the elastic pad 211 And may be stuck to the elastic pad 211 for a certain period of time.

이를 방지하기 위하여, 도 4에서처럼, 탄성막(213)의 표면 중 탄성패드(211)를 향하는 내면(213a) 전체에는 직경이 매우 작은 미세 돌기(또는 미세 홈)(213b)가 형성될 수 있다. 미세 돌기(213b)는 탄성패드(211)와 탄성막(213) 사이의 접촉 면적을 줄임으로써 압인과정에서 서로 들러붙는 상황을 방지할 수 있다.
As shown in FIG. 4, fine protrusions (or fine grooves) 213b having a very small diameter may be formed on the entire inner surface 213a of the elastic membrane 213 facing the elastic pad 211. As shown in FIG. The fine protrusions 213b can reduce the contact area between the elastic pad 211 and the elastic membrane 213, thereby preventing a situation where they are stuck together during the stamping process.

실시 예 2Example 2

탄성패드(211)와 탄성막(213) 사이의 이격된 공간부(215)에 공기를 대신하여 굴절율이 작은 소한 매질을 채울 수도 있다. 예컨대, 공간부(215)에는 굴절율이 작은 다른 기체 또는 액상의 유체를 채울 수도 있다.
The spaced space 215 between the elastic pad 211 and the elastic membrane 213 may be filled with a small refractive index medium instead of air. For example, the space 215 may be filled with another gas or liquid fluid having a small refractive index.

위에서 몇몇의 실시 예가 예시적으로 설명되었음에도 불구하고, 본 발명이 이의 취지 및 범주에서 벗어남 없이 다른 여러 형태로 구체화될 수 있다는 사실은 해당 기술에 통상의 지식을 가진 이들에게는 자명한 것이다. 또한 상술된 실시 예는 제한적인 것이 아닌 예시적인 것으로 여겨져야 하며, 첨부된 청구항 및 이의 동등 범위 내의 모든 실시 예는 본 발명의 범주 내에 포함된다.It is to be understood by those skilled in the art that the present invention may be embodied in many other forms without departing from the spirit and scope of the invention, It is also to be understood that the above-described embodiments are to be considered illustrative and not restrictive, and all embodiments within the scope of the appended claims and their equivalents are intended to be included within the scope of the present invention.

201: 광굴절기 203: 이미지 센서
205: 광원 211: 탄성패드
213: 탄성막 215: 공간부201: optical refractor 203: image sensor
205: light source 211: elastic pad
213: elastic membrane 215:

Claims (4)

광굴절기를 구비하여, 상기 광굴절기의 패턴입력면에 접착된 물체의 요철면의 패턴 이미지를 광학적으로 생성하는 패턴 이미지 획득장치에 있어서,
상기 물체의 요철면이 접촉하며, 탄성을 가지는 탄성막; 및
상기 광굴절기의 패턴입력면에 부착된 상태로, 상기 탄성막과의 사이에 공간부를 형성하도록 상기 탄성막으로부터 이격되어 배치되며, 상기 물체의 압인과정에서 상기 물체의 요철면의 형상으로 상기 탄성막에 의해 가압되어, 상기 요철면의 패턴을 입력받는, 탄성을 가지는 투명한 소재의 탄성패드를 포함하여 이중 탄성구조를 구비한 패턴 이미지 획득장치.
An apparatus for acquiring a pattern image optically producing a pattern image of an uneven surface of an object bonded to a pattern input surface of a light refractor,
An elastic membrane having an elasticity, the uneven surface of the object contacting with the elastic membrane; And
Wherein the elastic member is disposed on the pattern input surface of the light refractor so as to be spaced apart from the elastic film so as to form a space between the elastic member and the pattern input surface of the light refractor, And an elastic pad of a transparent material having elasticity, which is pressed by the film and receives the pattern of the uneven surface, and has a double elastic structure.
제1항에 있어서,
상기 탄성패드는 탄성을 가지는 투명한 실리콘, 합성수지 또는 천연수지인 것을 특징으로 하는 이중 탄성구조를 구비한 패턴 이미지 획득장치.
The method according to claim 1,
Wherein the elastic pad is transparent silicone, synthetic resin, or natural resin having elasticity.
제1항에 있어서,
상기 탄성막의 소재는 탄성을 가지는 투명 또는 불투명한 실리콘 또는 합성 수지인 것을 특징으로 하는 이중 탄성구조를 구비한 패턴 이미지 획득장치.
The method according to claim 1,
Wherein the material of the elastic film is transparent or opaque silicone or synthetic resin having elasticity.
제1항에 있어서,
상기 탄성패드와 탄성막 사이의 공간부에는 굴절율이 상기 탄성패드보다 작은 기체나 액상의 유체로 채워진 것을 특징으로 하는 이중 탄성구조를 구비한 패턴 이미지 획득장치.The method according to claim 1,
Wherein a space between the elastic pad and the elastic film is filled with a gas having a refractive index smaller than that of the elastic pad or a liquid fluid.
KR1020150035168A 2015-03-13 2015-03-13 Pattern Image Acquisition Apparatus and Method Comprising Dual Elastic Structure KR101594114B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150035168A KR101594114B1 (en) 2015-03-13 2015-03-13 Pattern Image Acquisition Apparatus and Method Comprising Dual Elastic Structure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150035168A KR101594114B1 (en) 2015-03-13 2015-03-13 Pattern Image Acquisition Apparatus and Method Comprising Dual Elastic Structure

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020140029563A Division KR101542818B1 (en) 2014-03-13 2014-03-13 Pattern Image Acquisition Apparatus and Method Comprising Dual Elastic Input Structure

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150108030A true KR20150108030A (en) 2015-09-24
KR101594114B1 KR101594114B1 (en) 2016-02-16

Family

ID=54246170

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150035168A KR101594114B1 (en) 2015-03-13 2015-03-13 Pattern Image Acquisition Apparatus and Method Comprising Dual Elastic Structure

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101594114B1 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102000942B1 (en) * 2018-04-20 2019-07-17 주식회사 유니온커뮤니티 Scanner Scanning Carved Pattern of Stamp
KR20200046806A (en) * 2018-10-25 2020-05-07 주식회사 유니온커뮤니티 Capacitive-Type Scanner and Method for Scanning Carved Pattern of Stamp
CN111122505A (en) * 2020-01-17 2020-05-08 武汉船用电力推进装置研究所（中国船舶重工集团公司第七一二研究所） Image analysis and calibration system and method for digital refractometer
KR20200054667A (en) * 2018-11-12 2020-05-20 주식회사 유니온커뮤니티 Multi-Functional Scanner and Scanning System

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0599603A (en) * 1991-10-07 1993-04-23 Bridgestone Corp Sensor for measuring amount of indentation of rubber member and measuring apparatus using the sensor
JPH10269341A (en) * 1997-03-27 1998-10-09 Nec Corp Fingerprint detector and its method
JPH10269340A (en) * 1997-03-27 1998-10-09 Nec Corp Fingerprint detector

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0599603A (en) * 1991-10-07 1993-04-23 Bridgestone Corp Sensor for measuring amount of indentation of rubber member and measuring apparatus using the sensor
JPH10269341A (en) * 1997-03-27 1998-10-09 Nec Corp Fingerprint detector and its method
JPH10269340A (en) * 1997-03-27 1998-10-09 Nec Corp Fingerprint detector

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102000942B1 (en) * 2018-04-20 2019-07-17 주식회사 유니온커뮤니티 Scanner Scanning Carved Pattern of Stamp
KR20200046806A (en) * 2018-10-25 2020-05-07 주식회사 유니온커뮤니티 Capacitive-Type Scanner and Method for Scanning Carved Pattern of Stamp
KR20200054667A (en) * 2018-11-12 2020-05-20 주식회사 유니온커뮤니티 Multi-Functional Scanner and Scanning System
CN111122505A (en) * 2020-01-17 2020-05-08 武汉船用电力推进装置研究所（中国船舶重工集团公司第七一二研究所） Image analysis and calibration system and method for digital refractometer
CN111122505B (en) * 2020-01-17 2023-06-30 武汉船用电力推进装置研究所（中国船舶重工集团公司第七一二研究所） Image analysis and calibration system and method for digital refractometer

Also Published As

Publication number Publication date
KR101594114B1 (en) 2016-02-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101594114B1 (en) Pattern Image Acquisition Apparatus and Method Comprising Dual Elastic Structure
US6150665A (en) Fingerprint detecting device having a fluid layer sealed in a gap
US8204284B2 (en) Fingerprint identifying system using a set of microstructure layers formed on one of top and bottom faces of light-transmissive finger press plate
TWI450201B (en) Finger board
US10455129B2 (en) Image capturing apparatus
EP1562079A3 (en) Projection exposure apparatus and sensor unit
JP2007178792A5 (en)
TWI256593B (en) Fingerprint input device
JPH01145785A (en) Method and instrument for measuring surface shape
JP6391732B2 (en) Decimal scanner with double elastic structure and method thereof
KR101542818B1 (en) Pattern Image Acquisition Apparatus and Method Comprising Dual Elastic Input Structure
US20140376066A1 (en) Image Reading Device
JP2007180200A5 (en)
KR100993951B1 (en) Image quality enhancing device for fingerprint acquisition apparatus
CN101363777A (en) Track acquisition instrument
CN207676355U (en) Image capturing device
CN107798273A (en) The method for improving optical finger print recognition performance
US20060043267A1 (en) Optical mouse with replaceable contaminant barrier
KR102000942B1 (en) Scanner Scanning Carved Pattern of Stamp
JPS62280984A (en) Seal print intaking method and its device
TWM558941U (en) Image capture apparatus
KR101515346B1 (en) Image acquisition apparatus for uneven pattern
CN102122221B (en) Optical touch screen and display device
JP2022554314A (en) Method for manufacturing a bio-imaging device using nanoimprint lithography
TWM572985U (en) Testing device

Legal Events

Date Code Title Description
A107 Divisional application of patent
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190117

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200205

Year of fee payment: 5