KR20150106234A - 성능검사기 - Google Patents

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이진희
정규남
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주식회사 두성테크
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Abstract

본 발명에 따른 성능검사기는 베이스와; 베이스에 배치되고 전자부품이 안착되는 검사대와; 복수개 이미지 센서가 전자부품의 엘이디 광 영역을 분할하여 촬상하는 이미지 센서 모듈과; 이미지 센서 모듈을 승강시키는 모듈 승강기구와; 복수개 이미지 센서 각각의 출력값에 따라 엘이디를 검사하는 제어부와; 제어부의 검사결과가 표시되는 디스플레이를 포함하여, 전자부품의 엘이디 광 영역이 복수개의 이미지 센서에 의해 분할 촬상되어 엘이디 광 영역의 휘도 편차를 감지할 수 있고, 엘이디의 성능을 쉽게 검사할 수 있는 이점이 있다.

Description

성능검사기{Tester}
본 발명은 성능검사기에 관한 것으로서, 특히 적어도 하나의 엘이디가 설치된 전자부품의 성능을 검사하는 성능검사기에 관한 것이다.
일반적으로 성능검사기는 PCB나 FPCB 등의 전자부품의 성능을 검사할 수 있는 장비이다.
성능검사기는 검사 대상인 전자부품에 직접 접촉되는 검사모듈을 포함할 수 있고, 작업자는 전자부품을 검사대에 올려놓은 후 성능검사기를 조작하여 전자부품을 성능 검사할 수 있다.
전자부품은 엘이디가 설치된 전자부품일 수 있고, 검사모듈에서 전자부품으로 전류가 인가되면, 엘이디는 인가된 전류에 따라 발광될 수 있다.
작업자는 엘이디에서 조사된 광을 육안 검사할 수 있고, 육안 검사시 불량으로 판단되면, 전자부품을 불량품으로 판정하고, 육안 검사시 정상으로 판단되면, 전자부품을 정상품으로 판정할 수 있다.
종래에는 엘이디의 성능을 작업자의 육안 검사에 의존하여, 그 정확도가 낮은 문제점이 있다.
본 발명은 엘이디에서 조사된 광의 휘도 편차를 검사할 수 있는 성능검사기를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기한 과제를 해결하기 위한 본 발명은 적어도 하나의 엘이디가 설치된 전자부품의 성능을 검사하는 성능검사기에 있어서, 베이스와; 상기 베이스에 배치되고 상기 전자부품이 안착되는 검사대와; 복수개 이미지 센서가 상기 엘이디의 광 영역을 분할하여 촬상하는 이미지 센서 모듈과; 상기 이미지 센서 모듈을 승강시키는 모듈 승강기구와; 상기 복수개 이미지 센서 각각의 출력값에 따라 상기 전자부품을 검사하는 제어부와; 상기 제어부의 검사결과가 표시되는 디스플레이를 포함한다.
상기 베이스의 상측에 승강 가능하게 배치된 마킹부와; 상기 마킹부를 승강시키는 마킹부 승강기구를 포함할 수 있다.
상기 검사대는 상기 마킹부의 아래로 위치이동 가능하게 배치될 수 있다.
상기 검사대를 이동시키는 검사대 이동기구를 더 포함할 수 있다. 상기 검사대 이동기구는 상기 엘이디가 상기 이미지 센서 모듈에 의해 검사되는 검사위치로 수평 이동되게 상기 검사대를 이동시키는 검사모드와, 상기 전자부품의 일부가 상기 마킹부에 의해 마킹되는 마킹위치로 수평 이동되게 상기 검사대를 이동시키는 마킹모드를 갖을 수 있다.
상기 엘이디는 복수개가 상기 전자부품에 이격되게 설치될 수 있고. 상기 이미지 센서 모듈은 복수개가 이격되게 배치될 수 있다.
상기 이미지 센서 모듈은 피시비와; 상기 피시비에 설치된 한 쌍의 이미지 센서를 포함할 수 있다.
상기 한 쌍의 이미지 센서는 상기 엘이디의 광 영역 중 좌측 영역을 좌측 이미지 센서와, 상기 엘이디의 광 영역 중 우측 영역을 촬상하는 우측 이미지 센서를 포함할 수 있다.
상기 이미지 센서 모듈은 상기 이미지 센서 모듈의 하강시 상기 엘이디의 광 영역을 차광하는 프레임을 더 포함할 수 있다.
상기 한 쌍의 이미지 센서는 상기 프레임에 형성된 공간의 내부에 위치될 수 있다.
상기 피시비는 상기 프레임에 설치될 수 있다.
상기 모듈 승강기구는 승강판과; 상기 승강판에 설치된 윈도우를 포함할 수 있다.
상기 이미지 센서 모듈은 상기 윈도우를 노출하는 노출위치와, 상기 윈도우를 덮는 차폐위치로 이동 가능하게 배치될 수 있다.
상기 이미지 센서 모듈을 이동시키는 이미지 센서 모듈 이동기구를 포함할 수 있다. 상기 이미지 센서 모듈 이동기구는 상기 이미지 센서 모듈을 상기 노출위치로 이동시키는 노출모드와, 상기 이미지 센서 모듈을 상기 차폐위치로 이동시키는 차폐모드를 갖을 수 있다.
상기한 과제를 해결하기 위한 본 발명은 한 쌍의 엘이디가 이격되게 설치된 전자부품의 성능을 검사하는 성능검사기에 있어서, 베이스와; 상기 베이스에 배치되고 상기 전자부품이 안착되는 검사대와; 한 쌍의 엘이디 중 어느 하나의 광 영역을 분할하여 촬상하는 한 쌍의 이미지 센서를 갖는 제 1 이미지 센서 모듈과; 한 쌍의 엘이디 중 다른 하나의 광 영역을 분할하여 촬상하는 한 쌍의 이미지 센서를 갖는 제 2 이미지 센서 모듈과; 상기 제 1 이미지 센서 모듈과 제 2 이미지 센서 모듈을 함께 승강시키는 모듈 승강기구와; 상기 제 1 이미지 센서 모듈과 제 2 이미지 센서 모듈 각각의 출력값에 따라 상기 전자부품을 검사하는 제어부와; 상기 제어부의 검사결과가 표시되는 디스플레이를 포함한다.
상기 베이스의 상측에 승강 가능하게 배치된 마킹부와; 상기 마킹부를 승강시키는 마킹부 승강기구를 포함할 수 있다.
상기 검사대는 상기 마킹부의 아래로 위치이동 가능하게 배치될 수 있다.
상기 검사대를 이동시키는 검사대 이동기구를 더 포함할 수 있다. 상기 검사대 이동기구는 상기 전자부품이 상기 제 1 이미지 센서 모듈 및 제 2 이미제 센서 모듈에 의해 검사되는 검사위치로 수평 이동되게 상기 검사대를 이동시키는 검사모드와, 상기 전자부품의 일부가 상기 마킹부에 의해 마킹되는 마킹위치로 수평 이동되게 상기 검사대를 이동시키는 마킹모드를 갖을 수 있다.
상기 모듈 승강기구는 승강판과; 상기 승강판에 설치되고 상기 한 쌍의 엘이디 중 어느 하나의 광이 투과되는 제 1 윈도우와; 상기 승강판에 설치되고 상기 한 쌍의 엘이디 중 다른 하나의 광이 투과되는 제 2 윈도우를 포함할 수 있다.
상기 제 1 이미지 센서 모듈와 제 2 이미지 센서 모듈을 이동시키는 이미지 센서 모듈 이동기구를 포함할 수 있다.상기 이미지 센서 모듈 이동기구는 상기 제 1 이미지 센서 모듈을 제 1 윈도우 노출위치로 이동시키고 상기 제 2 이미지 센서 모듈을 제 2 윈도우 노출위치로 이동시키는 노출모드와, 상기 제 1 이미지 센서 모듈을 제 1 윈도우 차폐위치로 이동시키고 상기 제 2 이미지 센서 모듈을 제 2 윈도우 차폐위치로 이동시키는 차폐모드를 갖을 수 있다.
상기 제 1 이미지 센서 모듈과 제 2 이미지 센서 모듈 각각은, 상기 한 쌍의 이미지 센서가 설치된 피시비와; 상기 피시비가 설치되고 상기 피시비와 전자부품 사이를 차광하는 프레임을 포함할 수 있다. 상기 한 쌍의 이미지 센서는 상기 프레임에 형성된 공간의 내부에 위치될 수 있다.
본 발명은 전자부품의 엘이디 광 영역이 복수개의 이미지 센서에 의해 분할 촬상되어 엘이디 광 영역의 휘도 편차를 감지할 수 있고, 엘이디의 성능을 쉽게 검사할 수 있는 이점이 있다.
또한, 하나의 성능 검사기로 복수개 엘이디 광 영역의 휘도 편차를 감지할 수 있는 이점이 있다.
또한, 성능 검사기가 마킹기를 겸할 수 있고, 성능 검사와 마킹 작업이 하나의 기기에서 순차적으로 시행되어 검사 작업의 편의성이 향상되는 이점이 있다.
도 1은 본 발명에 따른 성능검사기 일실시예에 의해 검사되는 전자부품의 일예가 도시된 평면도,
도 2는 본 발명에 따른 성능검사기 일실시예에 전자부품이 안착되었을 때의 사시도,
도 3은 도 2에 도시된 이미지 센서 모듈이 하강되었을 때의 사시도,
도 4는 도 3에 도시된 이미지 센서 모듈이 전진되었을 때의 사시도,
도 5는 본 발명에 따른 성능검사기 일실시예가 전자부품의 성능을 검사할 때의 주요부 단면도,
도 6은 도 4에 도시된 이미지 센서 모듈이 후퇴됨과 아울러 상승되었을 때의 사시도,
도 7은 도 6에 도시된 전자부품이 마킹부의 하부로 이동되었을 때의 사시도,
도 8은 도 7에 도시된 마킹부가 전자부품으로 하강되었을 때의 사시도,
도 9는 도 8에 도시된 마킹부가 상승되었을 때의 사시도,
도 10은 본 발명에 따른 성능검사기 일실시예의 제어 블럭도이다.
이하, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 성능검사기 일실시예에 의해 검사되는 전자부품의 일예가 도시된 평면도이다.
본 실시예에 따른 성능검사기는 적어도 하나의 엘이디(L1)(L2)가 설치된 전자부품(E)의 성능을 검사할 수 있다. 성능검사기에 의해 검사되는 전자부품(E)은 이동단말기 등의 통신기기 등에 설치되는 부품일 수 있다. 전자부품(E)은 적어도 하나의 엘이디가 설치된 인쇄회로기판일 수 있다. 전자부품(E)에는 한 쌍의 엘이디(L1)(L2)가 설치될 수 있다. 전자부품(E)은 엘이디(L1)(L2)에서 조사된 광이 통과하는 도파로(T1)(T2)가 형성될 수 있다.
엘이디(L1)(L2)에서 조사된 광은 도파로(T1)(T2)를 통과하여 도파로(T1)(T2) 주변을 밝게 할 수 있고, 전자부품(E)은 도파로(T1)(T2) 및 도파로(T1)(T2)의 주변이 엘이디에 조사된 광에 의해 밝게 보이는 엘이디의 광 영역(A1)(A2)이 될 수 있다.
한 쌍의 엘이디(L1)(L2) 중 어느 하나(L1)에서 조사된 광은 전자부품(E)에 형성된 제1도파로(T1)를 통해 제1도파로(T1) 및 그 주변에 제1광영역(A1)을 형성할 수 있다. 제1광역역(A1)은 좌우로 구획하면, 제1광역역(A1)은 좌측 영역(A11)과 우측 영역(A12)로 구분될 수 있다.
한 쌍의 엘이디(L1)(L2) 중 다른 하나(L2)에서 조사된 광은 전자부품(E)에 형성된 제2도파로(T2)를 통해 제2도파로(T1) 및 그 주변에 제2광영역(A2)을 형성할 수 있다. 제2광영역(A2)을 좌우로 구획하면, 제2광영역(A2)은 좌측 영역(A21)과 우측영역(A22)으로 구분될 수 있다.
도 2는 본 발명에 따른 성능검사기 일실시예에 전자부품이 안착되었을 때의 사시도이고, 도 3은 도 2에 도시된 이미지 센서 모듈이 하강되었을 때의 사시도이며, 도 4는 도 3에 도시된 이미지 센서 모듈이 전진되었을 때의 사시도이고, 도 5는 본 발명에 따른 성능검사기 일실시예가 전자부품의 성능을 검사할 때의 주요부 단면도이며, 도 6은 도 4에 도시된 이미지 센서 모듈이 후퇴됨과 아울러 상승되었을 때의 사시도이며, 도 7은 도 6에 도시된 전자부품이 마킹부의 하부로 이동되었을 때의 사시도이고, 도 8은 도 7에 도시된 마킹부가 전자부품으로 하강되었을 때의 사시도이며, 도 9는 도 8에 도시된 마킹부가 상승되었을 때의 사시도이고, 도 10은 본 발명에 따른 성능검사기 일실시예의 제어 블럭도이다.
성능검사기는 베이스(2)와; 베이스(2)에 배치되고 전자부품(E)이 안착되는 검사대(4)와; 복수개 이미지 센서가 엘이디의 광 영역을 분할하여 촬상하는 이미지 센서 모듈(10)(11)과; 이미지 센서 모듈(10)(11)을 승강시키는 모듈 승강기구(20)와; 복수개 이미지 센서 각각의 출력값에 따라 전자부품(L)을 검사하는 제어부(80)와; 제어부(80)의 검사결과가 표시되는 디스플레이(90)를 포함한다.
성능검사기는 그 외관을 형성하고 내부에 공간이 형성된 검사기 바디(3)를 포함할 수 있다. 검사기 바디(3)는 내부에 공간이 형성될 수 있다. 검사기 바디(3)의 공간에는 후술하는 검사모듈(8)과 연결된 케이블 등의 각종 케이블이 배치될 수 있다. 검사기 바디(3)에는 성능검사기를 조작할 수 있는 조작부(82)가 적어도 하나 설치될 수 있다. 검사기 바디(3)는 박스 형상으로 형성될 수 있고, 그 상판에는 케이블이 통과하는 케이블 관통공이 형성될 수 있다.
베이스(2)는 검사기 바디(3)의 상부에 설치될 수 있다. 성능검사기는 검사기 바디(3)의 상판이 베이스(2)로 구성되는 것도 가능하고, 검사기 바디(3)와 별도의 베이스(2)가 검사기 바디(3)의 상판에 올려져 설치되는 것이 가능하다.
검사대(4)에는 전자부품(E)이 삽입되어 수용되는 전자부품 수용부(5)가 형성될 수 있다. 전자부품 수용부(5)는 검사대(4)에 함몰된 형상으로 형성될 수 있다. 전자부품(E)은 전자부품 수용부(5)에 삽입되었을 때, 그 상면이 노출될 수 있다.
검사대(4)는 전자부품(E)으로 엘이디(L1)(L2)를 온시키는 제어신호를 인가할 수 있는 검사모듈(8)을 포함할 수 있다. 전자부품(E)은 전자부품 수용부(5)에 수용되었을 때, 그 단자부가 검사모듈(8)과 접촉되어 검사모듈(8)과 전기적으로 연결될 수 있다.
검사대(4)는 베이스(2)에 위치 고정되게 설치되는 것이 가능하고, 베이스(2)에 위치 가변되게 배치되는 것이 가능하다. 검사대(4)는 베이스(2)의 상면에 슬라이딩 이동 가능하게 배치될 수 있다. 검사대(4)의 이동시 전자부품(E)은 검사대(4)와 함께 이동 될 수 있다. 검사대(4)는 후술하는 마킹부(50)의 아래로 위치이동 가능하게 배치될 수 있다. 검사대(4)는 전자부품(E)을 마킹부(50)에 마킹될 수 있는 위치로 이동시킬 수 있다. 전자부품(E)은 검사대(4)에 의해 위치 이동되어 그 일부가 마킹부(50)의 하측 위치로 위치 이동될 수 있고, 전자부품(E)의 일부는 마킹부(50)의 하측 위치에서 마킹부(50)와 수직 방향으로 마주볼 수 있다.
이미지 센서 모듈(10)(11)은 한 쌍의 이미지 센서가 하나의 엘이디 광 영역을 분할하여 촬상할 수 있다.
성능검사기는 하나의 이미지 센서 모듈(10)이 하나의 엘이디(L1)가 형성하는 광 영역(A1)을 촬상하는 것이 가능하다. 성능검사기는 단수개 이미지 센서 모듈(10)을 포함하는 것이 가능하다. 성능검사기는 복수개의 이미지 센서 모듈(10)(11)을 포함하는 것이 가능하고, 이 경우 복수개의 이미지 센서 모듈(10)(11)은 서로 이격되게 위치될 수 있다. 성능 검사기는 복수개의 이미지 센서 모듈(10)(11)이 복수개 엘이디(L1)(L2)의 광 영역(A1)(A2)을 촬상할 수 있다.
전자부품(E)에 한 쌍의 엘이디(L1)(L2)가 설치될 경우, 성능검사기는 한 쌍의 이미지 센서 모듈(10)(11)을 포함할 수 있고, 한 쌍의 이미지 센서 모듈(10)(11) 각각은 대응되는 엘이디의 광 영역(A1)(A2)을 각각 독립적으로 촬상할 수 있다.
한 쌍의 이미지 센서 모듈(10)(11)은 한 쌍의 엘이디(L1)(L2) 중 어느 하나(L1)의 광 영역(A1)을 촬상하는 제 1 이미지 센서 모듈(10)과, 한 쌍의 엘이디(L1)(L2) 중 다른 하나(L2)의 광 영역(A2)을 촬상하는 제 2 이미지 센서 모듈(11)을 포함할 수 있다.
제 1 이미지 센서 모듈(10)은 한 쌍의 엘이디(L1)(L2) 중 어느 하나(L1)의 광 영역(A1)을 분할하여 촬상하는 한 쌍의 이미지 센서를 포함할 수 있고,
제 2 이미지 센서 모듈(11)은 한 쌍의 엘이디(L1)(L2) 중 다른 하나(L2)의 광 영역(A2)를 분할하여 촬상하는 한 쌍의 이미지 센서를 포함할 수 있다.
전자부품(E)에 2개의 엘이디(L1)(L2)가 설치된 경우, 성능검사기는 2개의 이미지 센서 모듈(10)(11)을 포함할 수 있고, 성능검사기는 4개의 이미지 센서를 포함할 수 있다.
제 1 이미지 센서 모듈(10)과 제 2 이미지 센서 모듈(11)은 구조가 동일하고, 이하 공통된 구성에 대해서는 설명의 편의를 위해 이미지 센서 모듈(10)(11)로 칭하여 설명하고, 구분하여 설명하는 경우에는 제 1 이미지 센서 모듈(10)과 제 2 이미지 센서 모듈(11)로 칭하여 설명한다.
또한, 제 1 이미지 센서 모듈(10)에 의해 촬상되는 엘이디(L1)는 제1엘이디일 수 있고, 제 2 이미지 센서 모듈(11)에 의해 촬상되는 엘이디(L2)는 제 2 엘이디일 수 있으며, 이하, 제1엘이디(L1)와 제2엘이디(L2)의 공통된 구성에 대해서는 엘이디(L1)(L2)로 칭하여 설명하고, 제1엘이디(L1)와 제2엘이디(L2)를 구분하여 설명할 경우에는 제1엘이디(L1)와 제2엘이디(L2)로 칭하여 설명한다.
이미지 센서 모듈(10)(11)은 피시비(12)와; 피시비(12)에 설치된 한 쌍의 이미지 센서(13)(14)를 포함할 수 있다. 이미지 센서 모듈(10)(11)은 이미지 센서 모듈(10)(11)의 하강시 엘이디 광 영역을 차광하는 프레임(15)을 더 포함할 수 있다.
피시비(12)는 프레임(15)에 설치될 수 있다. 피시비(12)는 프레임(15)의 내부에 설치될 수 있다.
한 쌍의 이미지 센서(13)(14)는 엘이디(L1)(L2)의 광 영역(A1)(A2) 중 좌측 영역(A11)(A21)을 촬상하는 좌측 이미지 센서(13)와, 엘이디(L1)(L2)의 광 영역(A1)(A2) 중 우측 영역(A12)(A22)을 촬상하는 우측 이미지 센서(14)를 포함할 수 있다. 한 쌍의 이미지 센서(13)(14)는 프레임(15)에 형성된 공간(16)의 내부에 위치될 수 있다.
프레임(15)은 엘이디의 검사시, 엘이디의 광이 주변으로 퍼지는 것을 막는 차광 프레임일 수 있다. 프레임(15)은 내부에 피시비(12)와 한 쌍의 엘이디(12)(13)가 위치되는 공간(16)이 형성될 수 있다.
제 1 이미지 센서 모듈(10)과 제 2 이미지 센서 모듈(11) 각각은 한 쌍의 이미지 센서(12)(13)가 설치된 피시비(11)와; 피시비가 설치되고 피시비와 전자부품 사이를 차광하는 프레임(15)을 포함할 수 있다.
제 1 이미지 센서 모듈(10)의 좌측 이미지 센서(13)는 제 1 엘이디의 광 영역(A1)중 좌측 영역(A11)을 촬상할 수 있고, 제 1 이미지 센서 모듈(10)의 우측 이미지 센서(14)는 제 1 엘이디의 광 영역(A1) 중 우측 영역(A12)을 촬상할 수 있다.
제 2 이미지 센서 모듈(11)의 좌측 이미지 센서(13)는 제 2 엘이디의 광 영역(A2)중 좌측 영역(A21)을 촬상할 수 있고, 제 2 이미지 센서 모듈(11)의 우측 이미지 센서(14)는 제 2 엘이디의 광 영역(A2) 중 우측 영역(A22)을 촬상할 수 있다.
성능검사기는 제 1 이미지 센서 모듈(10)의 프레임(15)과, 제 2 이미지 센서 모듈(11)의 프레임(15)이 서로 연결될 수 있고, 제 1 이미지 센서 모듈(10)의 프레임(15)과, 제 2 이미지 센서 모듈(11)의 프레임(15)은 프레임 연결부로 연결될 수 있다.
모듈 승강기구(20)는 승강판(22)과; 승강판(22)에 설치된 윈도우(23)(24)를 포함할 수 있다. 윈도우(23)(24)는 승강판(22)에 한 쌍이 설치될 수 있고, 모듈 승강기구(20)는 승강판(22)과; 승강판(22)에 설치되고 한 쌍의 엘이디(L1)(L2) 중 어느 하나(L1)의 광이 투과되는 제 1 윈도우(24)와; 승강판(22)에 설치되고 한 쌍의 엘이디 중 다른 하나(L2)의 광이 투과되는 제 2 윈도우(25)를 포함할 수 있다.
모듈 승강기구(20)는 제 1 이미지 센서 모듈(10)과 제 2 이미지 센서 모듈(21)을 함께 승강시킬 수 있다. 모듈 승강기구(20)는 승강판(22)을 승강시키는 승강판 구동기구(26)을 포함할 수 있다. 승강판 구동기구(26)는 전자부품(E)의 검사전 승강판(22)를 상승시킬 수 있고, 전자부품의 검사 이전에 승강판(22)을 하강시킬 수 있다. 승강판 구동기구(26)는 전자부품의 검사 도중에 승강판(22)의 위치를 유지시킬 수 있고, 전자부품(E)의 검사가 완료되면, 승강판(22)을 상승시킬 수 있다.
승강판 구동기구(26)는 승강로드(26A)를 갖는 승강용 엑츄에이터(26B)를 포함할 수 있다. 승강용 엑츄에이터(26B)는 승강로드(26A)를 수직방향으로 이동시키는 유압실린더, 공압실린더, 전동실린더 중의 하나일 수 있다. 승강로드(26A)는 상부가 승강판(22)과 연결될 수 있다.
이미지 센서 모듈(10)(11)은 승강판(22)에 설치될 수 있고, 승강판(22)과 함께 승강될 수 있다. 승강판(22)의 상승시 이미지 센서 모듈(10)(11)은 승강판(22)과 함께 상승될 수 있고, 승강판(22)의 하강시 이미지 센서 모듈(10)(11)은 승강판(22)과 함께 하강될 수 있다. 이미지 센서 모듈(10)(11)은 승강판(22)에 안착되게 배치될 수 있다. 이미지 센서 모듈(10)(11)은 승강판(22)에 이동 가능하게 설치될 수 있다.
성능검사기는 윈도우(23)(24)를 통해 전자부품(E)의 광을 육안 검사할 수 있다. 이미지 센서 모듈(10)(11)은 작업자의 육안 검사시 윈도우(23)(24)를 노출시키는 위치로 이동될 수 있고, 이미지 센서 모듈(10)(11)에 의한 성능 검사시 윈도우(23)(24)를 덮는 위치로 이동될 수 있다. 이미지 센서 모듈(10)(11)은 승강판(22)에 전후 방향으로 진퇴되게 배치될 수 있다. 이미지 센서 모듈(10)(11)은 윈도우(23)(24)를 노출하는 노출위치(P1)와, 윈도우(23)(24)를 덮는 차폐위치(P2)로 이동 가능하게 배치될 수 있다.
여기서, 노출위치(P1)는 이미지 센서 모듈(10)(11)이 윈도우(23)(24)를 가리지 않고, 검사자 등의 작업자가 윈도우(23)(24)를 통해 전자부품(E)의 광을 육안으로 검사할 수 있는 위치일 수 있다. 그리고, 차폐위치(P2)는 이미지 센서 모듈(10)(110)이 윈도우(23)(24)를 덮고, 이미지 센서 모듈(10)(11)이 윈도우(23)(24)를 통해 조사되는 광을 감지할 수 있는 검사위치일 수 있다.
이미지 센서 모듈(10)(11)은 후퇴시 노출위치(P1)로 이동될 수 있고, 전진시 차폐위치(P2)로 이동될 수 있다.
성능검사기는 이미지 센서 모듈(10)(11)을 이동시키는 이미지 센서 모듈 이동기구(28)를 포함할 수 있다.
이미지 센서 모듈 이동기구(28)는 승강판(22)에 설치될 수 있다.
이미지 센서 모듈 이동기구(28)는 이미지 센서 모듈(10)(11)을 노출위치(P1)로 이동시키는 노출모드와, 이미지 센서 모듈(10)(11)을 차폐위치(P2)로 이동시키는 차폐모드를 갖을 수 있다.
이미지 센서 모듈 이동기구(28)는 제 1 이미지 센서 모듈(10)과 제 2 이미지 센서 모듈(11)을 함께 이동시킬 수 있다.
이미지 센서 모듈 이동기구(28)는 노출모드시 제 1 이미지 센서 모듈(10)을 제 1 윈도우 노출위치(P1)로 이동시킴과 아울러 제 2 이미지 센서 모듈(11)을 제 2 윈도우 노출위치(P1)로 이동시킬 수 있다.
이미지 센서 모듈 이동기구(28)는 차폐모드시 제 1 이미지 센서 모듈(10)을 제 1 윈도우 차폐위치(P2)로 이동시킴과 아울러 제 1 이미지 센서 모듈(11)을 제 2 윈도우 차폐위치(P2)로 이동시킬 수 있다.
이미지 센서 모듈 이동기구(28)는 진퇴로드(28A)를 갖는 진퇴용 엑츄에이터(28B)를 포함할 수 있다. 진퇴용 엑츄에이터(28B)는 진퇴로드(28A)를 수평방향으로 이동시키는 유압실린더, 공압실린더, 전동실린더 중의 하나일 수 있다. 이미지 센서 모듈 이동기구(28)는 진퇴로드(28A)에 연결되고 이미지 센서 모듈(10)(11)에 장착된 진퇴판(28C)를 포함할 수 있다. 진퇴로드(28A)는 선단부가 진퇴판(28C)과 연결될 수 있다. 진퇴판(28C)은 이미지 센서 모듈(10)(11)의 프레임(15)과 결합될 수 있다.
성능검사기는 전자부품(E)의 성능을 검사함과 아울러 성능검사기의 성능 검사 여부를 전자부품(E)에 표식할 수 있다. 성능검사기는 전자부품(E)이 불량품이면, 전자부품(E)에 표식을 하지 않고, 전자부품(E)의 성능이 정상이면, 전자부품(E)에 표식을 할 수 있다.
성능검사기는 베이스(2)의 상측에 승강 가능하게 배치된 마킹부(50)와; 마킹부(50)를 승강시키는 마킹부 승강기구(60)를 더 포함할 수 있다. 성능검사기는 검사대(4)를 이동시키는 검사대 이동기구(70)를 더 포함할 수 있다.
마킹부(50)는 전자부품(E)에 접촉되어 전자부품(E)을 마킹할 수 있다. 마킹부(50)는 전자부품(E)에 마킹을 표시하는 인장부재를 포함할 수 있다. 인장부재는 탄성을 갖는 탄성부재일 수 있다. 인장부재는 전자부품(E)이 마킹위치(P4)로 이동되었을 때, 그 하측에 위치하는 전자부품(E)과 마주볼 수 있다. 인장부재는 전자부품(E)으로 하강되었을 때, 그 하단이 전자부품(E)의 상면에 접촉될 수 있고, 전자부품(E)에 마킹을 표식할 수 있다. 마킹부(50)는 잉크를 수용하는 잉크 수용체를 포함할 수 있고, 잉크 수용체의 잉크는 인장부재로 공급되는 것이 가능하다.
마킹부 승강기구(60)는 마킹부(50)를 하강시켜 마킹부(50)를 전자부품(E)에 접촉시킬 수 있고, 마킹부(50)를 상승시켜 마킹부(50)를 전자부품(E)과 비접촉시킬 수 있다. 마킹부 승강기구(60)는 이미지 센서 모듈(10)(11)에 의한 검사가 완료된 후 작동될 수 있다. 마킹부 승강기구(60)는 검사대 이동기구(70)에 의한 검사대(4)의 이동이 완료된 후 마킹부(50)를 하강시킬 수 있고, 마킹부(50)를 하강시킨 후 마킹부(50)를 상승시킬 수 있다.
마킹부 승강기구(60)는 승강로드(60A)를 갖는 승강용 엑츄에이터(60B)를 포함할 수 있다. 승강용 엑츄에이터(60B)는 승강로드(60A)를 수직방향으로 이동시키는 유압실린더, 공압실린더, 전동실린더 중의 하나일 수 있다. 승강로드(60A)는 상부가 승강판(60C)과 연결될 수 있다. 승강판(60C)은 마킹부(50)의 상부와 결합될 수 있고, 마킹부(50)은 승강판(60C)에 매달린 상태로 승강판(60C)에 의해 승강될 수 있다.
검사대 이동기구(70)는 엘이디가 이미지 센서 모듈(10)(11)에 의해 검사되는 검사위치(P3)로 수평 이동되게 검사대(4)를 이동시키는 검사모드와, 전자부품(E)의 일부가 마킹부(50)에 의해 마킹되는 마킹위치(P4)로 수평 이동되게 검사대(4)를 이동시키는 마킹모드를 갖을 수 있다. 검사대 이동기구는 검사모드시 전자부품(E)이 제 1 이미지 센서 모듈(10) 및 제 2 이미지 센서 모듈(11)에 의해 검사될 수 있는 검사위치(P3)로 수평 이동되게 검사대(4)를 이동시킬 수 있다. 검사대 이동기구는 마킹모드시 전자부품(E)의 일부가 마킹부(50)에 의해 마킹될 수 있는 마킹위치(P4)로 수평 이동되게 검사대(4)를 이동시킬 수 있다.
검사대 이동기구(70)는 검사대(4)가 검사위치(P3)에 위치될 때 마킹모드가 개시될 수 있고, 검사대(4)를 검사위치(P3)에서 마킹위치(P4)로 이동시킬 수 있다. 검사대 이동기구(70)는 마킹부 승강기구(60)가 마킹부(50)를 하강시킨 후 상승시키는 동안 검사대(4)를 마킹위치(P4)에 유지시킬 수 있다. 마킹부 승강기구(60)에 의한 마킹부(50)의 상승이 완료되면, 검사대 이동기구(70)는 검사모드가 개시될 수 있다. 검사대 이동기구(70)는 검사모드 개시시 검사대(4)를 마킹위치(P4)에서 검사위치(3)로 이동시킬 수 있다.
검사대 이동기구(70)는 이동로드(70A)를 갖는 이동용 엑츄에이터(70B)를 포함할 수 있다. 이동용 엑츄에이터(70B)는 이동로드(70A)를 수평방향으로 이동시키는 유압실린더, 공압실린더, 전동실린더 중의 하나일 수 있다. 검사대 이동기구(70)는 이동로드(70A)에 연결되고 검사대(4)에 장착된 이동판(70C)을 포함할 수 있다. 이동로드(70A)는 단부가 이동판(70C)과 연결될 수 있다. 이동판(70C)은 검사대(4)와 결합될 수 있다. 검사대 이동기구(70)는 검사대(4)를 좌우 방향으로 수평 이동시킬 수 있다.
제어부(80)는 조작부(82)의 조작시 성능검사기를 운전시킬 수 있다. 제어부(80)는 전자부품(E)의 성능검사시 검사모듈(8)을 온시킬 수 있고, 검사모듈(8)은 전자부품(E)으로 제어신호를 인가할 수 있다.
제어부(80)는 승강판 구동기구(26)를 상승모드로 제어하거나 하강모드로 제어할 수 있다.
제어부(80)는 이미지 센서 모듈 이동기구(28)를 전진모드로 제어하거나 후퇴모드로 제어할 수 있다.
제어부(80)는 이미지 센서 모듈(10)(11)의 출력값에 따라 엘이디 각각의 성능을 판단할 수 있다. 제어부(80)는 이미지 센서 모듈(10)(11)의 출력값에 따라 2개 엘이디의 성능을 비교 판단할 수 있다.
제어부(80)는 제 1 이미지 센서 모듈(10)과 제 2 이미지 센서 모듈(11) 각각의 출력값에 따라 전자부품을 검사할 수 있다.
제어부(80)는 제 1 이미지 센서 모듈(10)의 좌측 이미지 센서(13)에서 출력된 출력값으로부터 제1엘이디(L1)의 광 영역(A1) 중 좌측 영역(A11)의 휘도(LL: 이하, 제1휘도라 칭함)를 산출할 수 있다.
제어부(80)는 제 1 이미지 센서 모듈(10)의 우측 이미지 센서(14)에서 출력된 출력값으로부터, 제1엘이디(L1)의 광 영역(A1) 중 우측 영역(A12)의 휘도(LR; 이하 제2휘도라 칭함)를 산출할 수 있다.
제어부(80)는 제 2 이미지 센서 모듈(11)의 좌측 이미지 센서(13)에서 출력된 출력값으로부터, 제2엘이디(L2)의 광 영역(A2) 중 좌측 영역(A21)의 휘도(RL: 이하, 제3휘도라 칭함)를 산출할 수 있다.
제어부(80)는 제 2 이미지 센서 모듈(11)의 우측 이미지 센서(14)에서 출력된 출력값으로부터, 제2엘이디(L2)의 광 영역(A2) 중 우측 영역(A22)의 휘도(RR: 이하, 제4휘도라 칭함)를 산출할 수 있다.
제어부(80)는 제1휘도와 제2휘도의 차가 설정값 이내이면, 제1엘이디(L1)가 정상품인 것으로 판단할 수 있다.
제어부(80)는 제어부(80)는 제1휘도와 제2휘도의 차가 설정값 이내이면서, 제1휘도가 제1설정범위이고, 제2휘도가 제2설정범위이면, 제1엘이디(L1)가 정상품인 것으로 판단할 수 있다.
제어부(80)는 디스플레이(90)로 제1엘이디(L1)의 정상을 표시하기 위한 신호값을 출력할 수 있고, 디스플레이(90)로 제1엘이디(L1)의 불량을 표시하기 위한 신호값을 출력할 수 있다.
제어부(80)는 디스플레이(90)로 제1휘도와 대응되는 신호값과 제2휘도와 대응되는 신호값을 각각 출력할 수 있다.
제어부(80)는 제3휘도와 제4휘도의 차가 설정값 이내이면, 제2엘이디(L2)이 정상품인 것으로 판단할 수 있다.
제어부(80)는 제3휘도와 제4휘도의 차가 설정값 이내이면서, 제3휘도가 제3설정범위이고, 제4휘도가 제4설정범위이면, 제2엘이디(L2)가 정상품인 것으로 판단할 수 있다.
제어부(80)는 디스플레이(90)로 제2엘이디(L2)의 정상을 표시하기 위한 신호값을 출력할 수 있다. 제어부(80)는 디스플레이(90)로 제2엘이디(L2)의 불량을 표시하기 위한 신호값을 출력할 수 있다.
제어부(80)는 디스플레이(90)로 제3휘도와 대응되는 신호값과 제4휘도와 대응되는 신호값을 각각 출력할 수 있다.
성능검사기는 복수개의 엘이디 센서 모듈(10)(11)을 이용하여 복수개 엘이디 광 영역 간의 좌우 휘도 편차를 검사할 수 있다.
제어부(80)는 제1휘도와 제2휘도를 더한 값과, 제3휘도와 제4휘도를 더한 값을 비교하여 엘이디 광 영역(A1)(A2) 간의 휘도 편차를 검사할 수 있다. 제어부(80)는 제1휘도와 제2휘도를 더한 값과 제3휘도와 제4휘도를 더한 값의 차가 설정값 이내이면, 제1엘이디 광 영역(A1)의 휘도와 제2엘이디 광영역(A2)의 휘도의 편차가 크지 않는 것으로 판단할 수 있고, 제어부(80)는 제1엘이디(L1)와 제2엘이디(L2)가 모두 정상품인 것으로 판단할 수 있다.
제어부(80)는 디스플레이(90)로 제1엘이디(L1)과 제2엘이디(L2) 각각의 정상을 표시하기 위한 신호값을 출력할 수 있다. 제어부(80)는 디스플레이(90)로 제1엘이디(L1)과 제2엘이디(L2) 중 적어도 하나의 불량을 표시하기 위한 신호값을 출력할 수 있다.
디스플레이(90)는 검사된 전자부품(E)의 검사결과를 표시할 수 있다. 디스플레이(90)는 전자부품(E)의 불량품, 정상품 여부을 표시하는 것이 가능하다.
디스플레이(90)는 엘이디(L1)(L2)의 휘도값을 표시하는 것이 가능하다.
디스플레이(90)는 하나의 엘이디 광 영역(A1) 중 좌측 영역(A11)과 우측 영역(A12)의 휘도를 각각 표시하는 것이 가능하고, 좌측 영역(A11)과 우측 영역(A12)의 휘도 편차를 표시하는 것이 가능하다.
디스플레이(90)는 복수개 엘이디 광 영역(A1)(A2)의 휘도를 각각 표시하는 것이 가능하고, 어느 하나 광 영역(A1)과 다른 하나 광 영역(A2)의 휘도 편차를 표시하는 것이 가능하다.
제어부(80)는 이미지 센서 모듈(10)(11)에 의한 검사가 완료되면, 디스플레이(90)를 그 검사 결과를 출력하는 제어신호를 출력할 수 있다.
제어부(80)는 마킹부 이동기구(60)를 상승모드로 제어하거나 하강모드로 제어할 수 있다.
제어부(70)는 검사대 이동기구(70)를 검사모드로 제어하거나 마킹모드로 제어할 수 있다.
이하, 상기와 같이 구성된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 작업자는 도 2에 도시된 바와 같이, 전자부품(E)을 검사대(4)의 검사대 수용 공간(5)에 삽입하여 수용할 수 있다.
작업자는 조작부(82)를 조작하여 전자부품의 성능검사 개시 명령을 입력할 수 있고, 제어부(80)는 승강판 구동기구(26)로 하강모드의 신호값을 출력할 수 있고, 승강판 구동기구(26)는 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 승강판(22)를 하강시킬 수 있다. 승강판(22)의 하강시, 제 1 이미지 센서 모듈(10)과 제 2 이미지 센서 모듈(11)은 승강판(22)과 함께 하강될 수 있다.
제어부(80)는 승강판(22)의 하강이 완료되면, 검사모듈(8)로 검사명령의 신호값을 출력할 수 있다. 검사모듈(8)은 전자부품(E)으로 전류를 인가할 수 있고, 제 1 엘이디(L1)와 제 2 엘이디(L2)는 온될 수 있다. 제 1 엘이디(L1)의 온시, 제 1 엘이디(L1)에서 조사된 광은 제 1 윈도우(24)를 통해 외부로 조사될 수 있다. 제 2 엘이디(L2)의 온시, 제 2 엘이디(L2)에서 조사된 광은 제 2 윈도우(24)를 통해 외부로 조사될 수 있다.
작업자는 도 3에 도시된 제 1 윈도우(24) 및 제 2 윈도우(25)를 통해 제 1 엘이디(L1)과 제 2 엘이디(L2)를 육안 검사할 수 있다.
제어부(80)는 검사모듈(8)로 검사명령의 신호값을 출력한 이후 설정시간 대기할 수 있고, 설정시간이 경과되면, 이미지 센서 모듈 이동기구(28)로 전진모드의 신호값을 출력할 수 있다. 이미지 센서 모듈 이동기구(28)는 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 이미지 센서 모듈(10)과 제 2 이미지 센서 모듈(11)을 전진시킬 수 있고, 제 1 이미지 센서 모듈(10)은 제 1 윈도우(24)의 상측으로 전진되어 제 1 윈도우(24)의 상측을 덮을 수 있으며, 제 2 이미지 센서 모듈(11)은 제 2 윈도우(25)의 상측으로 전진되어 제 2 윈도우(25)의 상측을 덮을 수 있다.
제 1 이미지 센서 모듈(10)은 제 1 윈도우(24)의 차폐위치(P2)로 전진된 후, 좌측 이미지 센서(13)가 제 1 엘이디의 광 영역(A1) 중 좌측 영역(A11)을 촬상할 수 있고, 우측 이미지 센서(14)가 제 1 엘이디의 광 영역(A1) 중 우측 영역(A12)를 촬상할 수 있으며, 좌측 이미지 센서(13)와 우측 이미지 센서(14)는 그 결과를 제어부(80)로 출력할 수 있다.
제 2 이미지 센서 모듈(11)은 제 2 윈도우(25)의 차폐위치(P2)로 전진된 후, 좌측 이미지 센서(13)가 제 1 엘이디의 광 영역(A1) 중 좌측 영역(A11)을 촬상할 수 있고, 우측 이미지 센서(14)가 제 1 엘이디의 광 영역(A1) 중 우측 영역(A12)를 촬상할 수 있으며, 좌측 이미지 센서(13)와 우측 이미지 센서(14)는 그 결과를 제어부(80)로 출력할 수 있다.
제어부(80)는 제 1 이미지 센서 모듈(10)의 출력값과, 제 2 이미지 센서 모듈(11)의 출력값에 따라, 제 1 엘이디(L1)와 제 2 엘이디(L2)의 정상,불량을 판단하고 그에 따른 신호를 디스플레이(90)로 출력할 수 있다.
디스플레이(90)는 제어부(80)의 출력값에 따른 정보를 표시한다.
작업자는 디스플레이(90)를 확인하여, 현재 검사된 전자부품(E)의 정상, 불량을 인지할 수 있다.
제어부(80)는 전자부품(E)의 성능 검사가 완료되면, 제어부(80)는 도 6에 도시된 바와 같이, 이미지 센서 모듈 이동기구(28)로 후퇴모드의 신호값을 출력하여, 이미지 센서 모듈(10)(11)을 노출위치(P1)로 이동시킬 수 있고, 승강판 구동기구(26)로 상승모드의 신호값을 출력하여, 승강판(22)을 상승시킬 수 있다.
성능검사기는 도 6에 도시된 바와 같이, 이미지 센서 모듈(10)(11)이노출위치(P1)로 이동되고 승강판(22)이 상승된 후, 전자부품(E)이 정상, 불량에 따라 상이하게 제어될 수 있다.
전자부품(E)이 불량인 경우, 제어부(80)는 새로운 전자부품(E)의 검사가 행해지기 전까지, 검사대 이동기구(70) 및 마킹부 승강기구(60)를 작동시키지 않고, 도 2에 도시된 바와 같이 초기화된 상태를 유지할 수 있다.
전자부품(E)이 정상인 경우, 제어부(80)는 검사대 이동기구(70)로 마킹모드의 신호값을 출력할 수 있고, 검사대 이동기구(70)는 도 7에 도시된 바와 같이, 검사대(4)를 마킹위치(P4)로 이동시킬 수 있다. 검사대(4)의 마킹위치(P4)는 전자부품(E)은 일부가 마킹부(50)의 하측 위치에 마킹부(50)를 상하 방향으로 마주보게 위치될 수 있다.
제어부(80)는 검사대(4)가 마킹위치(P4)로 이동된 후, 마킹부 승강기구(60)로 하강모드의 신호값을 출력할 수 있다. 마킹부 승강기구(60)는 도 8에 도시된 바와 같이, 마킹부(50)를 하강시킬 수 있고, 마킹부(50)는 전자부품(E)에 접촉되어 전자부품(E)에 마킹을 표시할 수 있다. 제어부(90)는 마킹부(50)의 하강이 완료된 후 마킹부 승강기구(60)로 상승모드의 신호값을 출력할 수 있다. 마킹부 승강기구(60)는 도 9에 도시된 바와 같이, 마킹부(50)를 상승시킬 수 있고, 마킹부(50)는 전자부품(E)과 이격될 수 있다.
제어부(80)는 마킹부 승강기구(60)를 상승모드로 제어한 후, 검사대 이동기구(70)로 검사모드의 신호값을 출력할 수 있고, 검사대 이동기구(70)는 도 2에 도시된 바와 같이, 검사대(4)를 검사위치(P3)로 이동시킬 수 있고, 성능검사기는 도 2에 도시된 바와 같이 초기화된 상태를 유지할 수 있다.
작업자는 검사대(4)에서 전자부품(E)을 꺼내어 이동시킬 수 있고, 이후 새로운 전자부품을 검사대에 안착한 후 상기와 같이 검사할 수 있다.
2: 베이스 4: 검사대
10: 제 1 이미지 센서 모듈 11: 제 2 이미지 센서 모듈
12: 피시비 13: 좌측 이미지 센서
14: 우측 이미지 센서 15: 프레임
20: 이미지 센서 모듈 이동기구 22: 승강판
24: 제 1 윈도우 25: 제 2 윈도우
26: 승강판 구동기구 28: 이미지 센서 모듈 이동기구
50: 마킹부 60: 마킹부 승강기구
70: 검사대 이동기구 80: 제어부
90: 디스플레이

Claims (20)

  1. 적어도 하나의 엘이디가 설치된 전자부품의 성능을 검사하는 성능검사기에 있어서,
    베이스와;
    상기 베이스에 배치되고 상기 전자부품이 안착되는 검사대와;
    복수개 이미지 센서가 상기 엘이디의 광 영역을 분할하여 촬상하는 이미지 센서 모듈과;
    상기 이미지 센서 모듈을 승강시키는 모듈 승강기구와;
    상기 복수개 이미지 센서 각각의 출력값에 따라 상기 전자부품을 검사하는 제어부와;
    상기 제어부의 검사결과가 표시되는 디스플레이를 포함하는 성능검사기.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 베이스의 상측에 승강 가능하게 배치된 마킹부와;
    상기 마킹부를 승강시키는 마킹부 승강기구를 포함하는 성능검사기.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 검사대는 상기 마킹부의 아래로 위치이동 가능하게 배치된 성능검사기.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 검사대를 이동시키는 검사대 이동기구를 더 포함하고,
    상기 검사대 이동기구는
    상기 엘이디가 상기 이미지 센서 모듈에 의해 검사되는 검사위치로 수평 이동되게 상기 검사대를 이동시키는 검사모드와,
    상기 전자부품의 일부가 상기 마킹부에 의해 마킹되는 마킹위치로 수평 이동되게 상기 검사대를 이동시키는 마킹모드를 갖는 성능 검사기.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 엘이디는 복수개가 상기 전자부품에 이격되게 설치되고,
    상기 이미지 센서 모듈은 복수개가 이격되게 배치된 성능검사기.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 이미지 센서 모듈은
    피시비와;
    상기 피시비에 설치된 한 쌍의 이미지 센서를 포함하는 성능검사기.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 한 쌍의 이미지 센서는
    상기 엘이디의 광 영역 중 좌측 영역을 좌측 이미지 센서와,
    상기 엘이디의 광 영역 중 우측 영역을 촬상하는 우측 이미지 센서를 포함하는 성능검사기.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 이미지 센서 모듈은 상기 이미지 센서 모듈의 하강시 상기 엘이디의 광 영역을 차광하는 프레임을 더 포함하는 성능검사기.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 한 쌍의 이미지 센서는 상기 프레임에 형성된 공간의 내부에 위치되는 성능검사기.
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 피시비는 상기 프레임에 설치된 성능검사기.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 모듈 승강기구는 승강판과;
    상기 승강판에 설치된 윈도우를 포함하는 성능 검사기.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 이미지 센서 모듈은
    상기 윈도우를 노출하는 노출위치와,
    상기 윈도우를 덮는 차폐위치로 이동 가능하게 배치된 성능검사기.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 이미지 센서 모듈을 이동시키는 이미지 센서 모듈 이동기구를 포함하고,
    상기 이미지 센서 모듈 이동기구는
    상기 이미지 센서 모듈을 상기 노출위치로 이동시키는 노출모드와, 상기 이미지 센서 모듈을 상기 차폐위치로 이동시키는 차폐모드를 갖는 성능검사기.
  14. 한 쌍의 엘이디가 이격되게 설치된 전자부품의 성능을 검사하는 성능검사기에 있어서,
    베이스와;
    상기 베이스에 배치되고 상기 전자부품이 안착되는 검사대와;
    한 쌍의 엘이디 중 어느 하나의 광 영역을 분할하여 촬상하는 한 쌍의 이미지 센서를 갖는 제 1 이미지 센서 모듈과,
    한 쌍의 엘이디 중 다른 하나의 광 영역을 분할하여 촬상하는 한 쌍의 이미지 센서를 갖는 제 2 이미지 센서 모듈과;
    상기 제 1 이미지 센서 모듈과 제 2 이미지 센서 모듈을 함께 승강시키는 모듈 승강기구와;
    상기 제 1 이미지 센서 모듈과 제 2 이미지 센서 모듈 각각의 출력값에 따라 상기 전자부품을 검사하는 제어부와;
    상기 제어부의 검사결과가 표시되는 디스플레이를 포함하는 성능검사기.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 베이스의 상측에 승강 가능하게 배치된 마킹부와;
    상기 마킹부를 승강시키는 마킹부 승강기구를 포함하는 성능검사기.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 검사대는 상기 마킹부의 아래로 위치이동 가능하게 배치된 성능검사기.
  17. 제 15 항에 있어서,
    상기 검사대를 이동시키는 검사대 이동기구를 더 포함하고,
    상기 검사대 이동기구는
    상기 전자부품이 상기 제 1 이미지 센서 모듈 및 제 2 이미제 센서 모듈에 의해 검사되는 검사위치로 수평 이동되게 상기 검사대를 이동시키는 검사모드와,
    상기 전자부품의 일부가 상기 마킹부에 의해 마킹되는 마킹위치로 수평 이동되게 상기 검사대를 이동시키는 마킹모드를 갖는 성능 검사기.
  18. 제 14 항에 있어서,
    상기 모듈 승강기구는 승강판과;
    상기 승강판에 설치되고 상기 한 쌍의 엘이디 중 어느 하나의 광이 투과되는 제 1 윈도우와;
    상기 승강판에 설치되고 상기 한 쌍의 엘이디 중 다른 하나의 광이 투과되는 제 2 윈도우를 포함하는 성능 검사기.
  19. 제 17 항에 있어서,
    상기 제 1 이미지 센서 모듈와 제 2 이미지 센서 모듈을 이동시키는 이미지 센서 모듈 이동기구를 포함하고,
    상기 이미지 센서 모듈 이동기구는
    상기 제 1 이미지 센서 모듈을 제 1 윈도우 노출위치로 이동시키고 상기 제 2 이미지 센서 모듈을 제 2 윈도우 노출위치로 이동시키는 노출모드와,
    상기 제 1 이미지 센서 모듈을 제 1 윈도우 차폐위치로 이동시키고 상기 제 2 이미지 센서 모듈을 제 2 윈도우 차폐위치로 이동시키는 차폐모드를 갖는 성능검사기.
  20. 제 14 항에 있어서,
    상기 제 1 이미지 센서 모듈과 제 2 이미지 센서 모듈 각각은,
    상기 한 쌍의 이미지 센서가 설치된 피시비와;
    상기 피시비가 설치되고 상기 피시비와 전자부품 사이를 차광하는 프레임을 포함하고,
    상기 한 쌍의 이미지 센서는 상기 프레임에 형성된 공간의 내부에 위치되는 성능검사기.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112113975A (zh) * 2019-08-15 2020-12-22 捷智科技股份有限公司 利用二维影像辨识连接端子的品管检测装置及其方法

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