KR20150101643A - 대면적 라만 분광 이미징 장치 및 그 방법 - Google Patents
대면적 라만 분광 이미징 장치 및 그 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20150101643A KR20150101643A KR1020140023190A KR20140023190A KR20150101643A KR 20150101643 A KR20150101643 A KR 20150101643A KR 1020140023190 A KR1020140023190 A KR 1020140023190A KR 20140023190 A KR20140023190 A KR 20140023190A KR 20150101643 A KR20150101643 A KR 20150101643A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- light
- sample
- laser
- wavelength
- filter
- Prior art date
Links
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 title claims abstract description 75
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 238000000701 chemical imaging Methods 0.000 title abstract description 17
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 29
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 14
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 11
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 9
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004624 confocal microscopy Methods 0.000 description 2
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000003332 Raman imaging Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000000794 confocal Raman spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 230000007847 structural defect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/65—Raman scattering
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
- G01J3/4412—Scattering spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
본 발명은 라만 분광 이미징 장치에 관한 것으로서, 이미지화하고자 하는 시료의 영역에 레이저를 조사하고, 상기 시료에 의해 산란된 빛을 수신하는 빛 조사부, 상기 빛 조사부가 수신한 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키는 필터, 및 상기 필터를 통과한 빛을 이용하여 이미지를 생성하는 이미지화부를 포함함으로써, 넓은 영역에 대하여 고해상도의 이미지를 빠른 시간 안에 얻을 수 있다.
Description
본 발명은 라만 분광 이미징 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 대면적 라만 분광 이미지를 생성하는 라만 분광 이미징 장치 ? 그 방법에 관한 것이다.
라만 분광법은 단일 파장의 광원을 시료에 입사하였을 때, 빛과 격자간의 상호작용으로 인하여 산란된 빛을 분석하여 물질의 특성을 파악하는 방법이다. 물질은 각자의 고유한 격자 진동을 갖기 때문에 이를 통하여 비파괴적으로 물질의 특성을 파악할 수 있을 뿐만 아니라 빛과 물질의 상호작용을 연구함에 있어 매우 중요한 방법이다. 특히 최근 들어 나노물질에 관한 연구가 활발해지면서 공초점 현미경 방식의 라만 분광법이 널리 사용되고 있다. 이는 대물렌즈를 이용하여 레이저를 집중시킴으로써 공간상의 해상도를 광학적 한계(~ 1 μm)까지 향상시킬 수 있다. 이러한 공초점 현미경 방식에서 라만 이미지는 주로 point-by-point scanning 방법을 사용한다. 레이저를 한 점에 집중시키고 이에서 산란되는 빛을 측정한 이후에, 샘플을 움직이거나 레이저를 움직여 다른 점에 집중시킨 후에 다시 신호를 얻는다. 이렇게 각각의 점에서 모아진 신호를 다시 이미지화하면 시료의 라만 이미지를 얻을 수 있다. 이의 경우 각각의 점에서 모두 신호를 얻어야 하기 ?문에 측정해야 하는 범위가 넓어질수록 측정에 필요한 시간이 기하급수적으로 늘어나게 된다. 실제로 수십에서 수백마이크로 영역을 위와 같은 방식으로 이미징 할 경우 수시간이 걸리게 되어, 짧은 순간에 일어나는 물질의 변화는 측정이 불가능하게 된다.
본 발명과 관련된 선행기술로는 '세포 또는 생체 조직의 라만 신호 영상화 방법 및 장치(한국공개특허 10-2010-0002742)' 등이 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 첫 번째 과제는 대면적 라만 분광 이미지를 생성하는 라만 분광 이미징 장치를 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 두 번째 과제는 대면적 라만 분광 이미지를 생성하는 라만 분광 이미징 방법을 제공하는 것이다.
본 발명은 상기 첫 번째 과제를 달성하기 위하여, 이미지화하고자 하는 시료의 영역에 레이저를 조사하고, 상기 시료에 의해 산란된 빛을 수신하는 빛 조사부; 상기 빛 조사부가 수신한 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키는 필터; 및 상기 필터를 통과한 빛을 이용하여 이미지를 생성하는 이미지화부를 포함하는 라만 분광 이미징 장치를 제공한다.
본 발명의 실시예에 의하면, 상기 빛 조사부는, 상기 레이저를 볼록렌즈 및 대물렌즈에 순서대로 입사시켜 상기 레이저가 상기 이미지화하고자 하는 시료의 영역 전체에 조사되도록 하는 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 장치일 수 있다.
본 발명의 실시예에 의하면, 광학적으로 평평하게 조사되도록 상기 시료에 조사되는 레이저를 변환하는 빔 쉐이퍼를 더 포함하거나, 상기 필터는, 복수의 파장영역에 해당하는 빛을 통과시킬 수 있는 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 장치일 수 있다.
본 발명의 실시예에 의하면, 상기 필터는, 액정을 이용하여 소정의 파장영역만을 통과시키는 가변대역통과필터인 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 장치일 수 있다.
본 발명의 실시예에 의하면, 상기 이미지화부는, 상기 필터를 통과한 빛을 이용하여 대면적인 이미지를 생성하고, 상기 이미지화부는 전자증배카메라인 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 장치일 수 있다.
본 발명의 실시예에 의하면, 상기 시료에 의해 산란된 빛을 분광하는 분광기를 더 포함하고, 상기 빛 조사부는, 상기 레이저를 한 위치에 집중시켜 상기 시료에 조사하고, 상기 이미지화부는, 상기 분광된 빛으로부터 상기 레이저를 조사한 위치에 대한 이미지를 생성하는 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 장치일 수 있다.
본 발명은 상기 두 번째 과제를 달성하기 위하여, 이미지화하고자 하는 시료의 영역에 레이저를 조사하는 단계; 상기 시료로부터 산란된 빛을 수신하는 단계; 상기 수신된 시료로부터 산란된 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키는 단계; 및 상기 통과한 빛을 이용하여 이미지를 생성하는 단계를 포함하는 라만 분광 이미징 방법을 제공한다.
본 발명에 따르면, 넓은 영역에 대하여 고해상도의 이미지를 빠른 시간 안에 얻을 수 있으므로, 기존의 라만 이미징에 비해 더욱 효율적이고, 물질의 동적인 특성변화까지 관측할 수 있다. 또한, 고분해능을 가지므로 좁은 peak width를 갖는 라만 신호를 연구하기에 적합하다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 이미징 장치의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 라만 분광 이미징 장치이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 라만 분광 이미징 장치에 의해 생성되는 대면적 이미지이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 검사 장치의 블록도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 이미징 방법의 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 검사 방법의 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 라만 분광 이미징 장치이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 라만 분광 이미징 장치에 의해 생성되는 대면적 이미지이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 검사 장치의 블록도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 이미징 방법의 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 검사 방법의 흐름도이다.
본 발명에 관한 구체적인 내용의 설명에 앞서 이해의 편의를 위해 본 발명이 해결하고자 하는 과제의 해결 방안의 개요 혹은 기술적 사상의 핵심을 우선 제시한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 이미징 장치는 이미지화하고자 하는 시료의 영역에 레이저를 조사하고, 상기 시료에 의해 산란된 빛을 수신하는 빛 조사부, 상기 빛 조사부가 수신한 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키는 필터, 및 상기 필터를 통과한 빛을 이용하여 이미지를 생성하는 이미지화부를 포함한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 실시 예를 상세히 설명한다. 그러나 이들 실시예는 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명의 범위가 이에 의하여 제한되지 않는다는 것은 당업계의 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제의 해결 방안을 명확하게 하기 위한 발명의 구성을 본 발명의 바람직한 실시예에 근거하여 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명하되, 도면의 구성요소들에 참조번호를 부여함에 있어서 동일 구성요소에 대해서는 비록 다른 도면상에 있더라도 동일 참조번호를 부여하였으며 당해 도면에 대한 설명시 필요한 경우 다른 도면의 구성요소를 인용할 수 있음을 미리 밝혀둔다. 아울러 본 발명의 바람직한 실시 예에 대한 동작 원리를 상세하게 설명함에 있어 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명 그리고 그 이외의 제반 사항이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 이미징 장치의 블록도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 이미징 장치(110)는 빛 조사부(111), 필터(112), 및 이미지화부(113)로 구성되며, 빔 쉐이퍼를 더 포함할 수 있다.
빛 조사부(111)는 이미지화하고자 하는 시료의 영역에 레이저를 조사하고, 상기 시료에 의해 산란된 빛을 수신한다.
보다 구체적으로, 빛 조사부(111)는 이미지화하고자 하는 시료(120)에 레이저를 조사하고, 조사된 레이저가 시료(120)에 의해 산란된 빛을 수신한다. 빛 조사부(111)는 시료의 영역 중 이미지화하고자하는 영역 전체에 대해 레이저를 조사한다. 이를 위하여, 레이저를 볼록렌즈 및 대물렌즈에 순서대로 입사시켜 상기 레이저가 상기 이미지화하고자 하는 시료의 영역 전체에 조사한다. 상기 레이저가 조사되는 시료(120)의 영역은 대물렌즈의 가시영역(field of view)에 해당한다. 상기 레이저가 조사되는 시료(120)의 영역의 크기는 대물렌즈와 시료와의 거리에 따라 달라질 수 있다. 입사레이저를 집광하여 시료(120)에 조사하는 것이 아닌 대물렌즈의 가시영역 전체에 레이저를 한 번에 조사한다. 레이저를 볼록렌즈와 대물렌즈를 통과시킴으로써 대물렌즈의 가식영역에 레이저를 조사할 수 있다. 상기 조사된 레이저가 시료(120)에 의해 산란되는 빛을 이용하여 이미지를 생성하기 위하여, 상기 산란된 빛을 수신한다.
필터(112)는 빛 조사부(111)가 수신한 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시킨다.
보다 구체적으로, 빛 조사부(111)가 수신한 시료(120)에 의해 산란된 빛으로부터 라만 이미지를 생성하기 위하여, 라만 이미지 생성에 필요한 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시킨다. 필터(112)는 대역통과필터(bandpass filter)일 수 있다. 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키기 위해, 통과시키고자 하는 특정 파장에 대해 좁은 범위 파장만을 통과시키는 가변대역통과필터(variable bandpass filter, VBPF)를 이용할 수 있다. 나아가, 액정(liquid crystal) 이용하여 특정 파장영역만을 통과시키는 가변대역통과필터를 이용할 수 있다. 필터의 통과파장 폭이 10 nm 정도로 넓은 경우, 라만 분광의 스펙에 현저히 미치지 않을 수 있으나, 액정 이용하여 특정 파장영역만을 통과시키는 가변대역통과필터를 이용하면 0.25 nm의 좁은 파장영역만을 통과시킬 수 있는바, 이를 이용하여 라만 이미지를 생성할 수 있다.
또한, 필터(112)는 복수의 파장영역에 해당하는 빛을 통과시킬 수 있다. 하나의 파장영역을 통과시킬 뿐만 아니라, 이미지화하고자 하는 파장영역이 복수인 경우, 복수의 파장영역에 해당하는 빛을 통과시킬 수 있다. 시료(120)가 복수의 재료로 구성되는 경우, 각 재료에 해당하는 라만 피크가 상이한바, 각 라만 피크의 파장에 해단하는 파장영역을 각각 통과시킴으로써 한 번의 조사로 재료 각각에 대한 이미지를 생성할 수 있다.
이미지화부(113)는 필터(112)를 통과한 빛을 이용하여 이미지를 생성한다.
보다 구체적으로, 필터(112)를 통과한 빛을 이용하여 대면적인 이미지를 생성한다. 필터(112)를 통해 라만 피크의 파장에 해당하는 빛이 추출되는바, 이를 이용하여 이미지를 생성함으로써, 시료(120)에 대한 대면적 라만 이미지를 생성할 수 있다. 이미지화부(113)는 전하결합소자(Charge-Couple Device, CCD)로 구현될 수 있다. 상기 CCD로 시편 표면의 이미지를 한번에 찍으면, 해당 라만 피크의 세기 이미지를 생성할 수 있다. 상기 이미지 생성의 최적화를 위하여, 감도가 좋은 전자증배카메라(EMCCD)를 이용할 수 있다. 상기 전자증배카메라는 작은 신호를 효과적으로 받아들일 수 있고, 실제로 포톤 수 개의 신호도 측정이 가능한바, 대면적 라만 이미지를 생성하기에 적합하다.
빔 쉐이퍼는 광학적으로 평평하게 조사되도록 상기 시료에 조사되는 레이저를 변환한다.
보다 구체적으로, 이미지 생성의 최적화를 위하여, 시료(120)에 조사되는 레이저를 광학적으로 평평하게 조사되도록 변환할 수 있다. 빔 쉐이퍼는 가우시안 형태로 비춰지는 빛을 광학적으로 평평하게 만들어주어 깨끗한 이미지를 생성할 수 있다. 조사되는 레이저와 시료(120)간의 거리 및 조사각도에 따라 각 시료의 영역에 조사되는 레이저가 달라질 수 있는바, 광학적으로 평평하게 조사되도록 빔 쉐이퍼가 상기 레이저를 변환한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 라만 분광 이미징 장치이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 라만 분광 이미징 장치에 의해 생성되는 대면적 이미지이다.
공초점 현미경에서와 같이, 입사레이저를 집광(240)하는 것이 아니라 대물렌즈를 통해 시료의 영역 중 대물렌즈 가시영역에 한번에 레이저를 조사(210)할 수 있다. 시료에서 산란되는 빛을 대물렌즈가 수신하고, 분광기(250)를 사용하는 대신에 상기 수신된 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만을 대역통과필터(bandpass filter)를 통해 통과시켜 CCD로 시편 표면의 이미지를 한 번에 찍으면, 해당 라만 피크의 세기 이미지를 마치 사진(230)처럼 얻을 수 있다. 이런 방식은 기존 방식에 비해 측정시간을 1/1000 이상 줄일 수 있다.
상기 라만 분광 이미징 장치를 통해 도 3과 같이, 대면적인 이미지를 생성할 수 있다. 아울러, 실리콘 기판위에 박리된 수십 마이크로 크기의 흑연에 대해 실리콘 기판 및 흑연에 대한 이미지(310 및 320)를 각각 생성할 수 있다. 즉, VBPF를 이용하여 통과시키기를 워하는 파장대를 선택함으로써, 각 피크에 대한 이미지를 얻을 수 있다. 대면적 라만 분광 이미지를 얻은 후, 공초점 라만 분광 방식으로 전환하고 원하는 지점으로 이동하여 스펙트럼을 확인할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 검사 장치의 블록도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 검사 장치(410)는 라만 분광 이미징 장치의 구성을 이용하여 라만 분광 이미지를 생성하고, 상기 생성된 라만 분광 이미지를 통해 관찰되는 시료의 결함을 빛 스펙트럼 분석을 이용하여 판단할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 검사 장치(410)는 빛 조사부(411), 필터(412), 이미지화부(413), 분광기(414), 및 결함여부 판단부(415)로 구성된다.
빛 조사부(411)는 결함여부를 판단하고자 하는 시료(420)의 영역에 레이저를 조사하고, 상기 시료에 의해 산란된 빛을 수신한다.
보다 구체적으로, 빛 조사부(411)는 대면적인 이미지를 생성하기 위해 시료의 영역 중 결함여부를 판단하고자 하는 영역 전체에 레이저를 조사하고, 시료의 특정 위치에 대한 구체적인 결함 판단을 위해, 시료(420)의 한 위치에 집중시켜 레이저를 조사한다. 이미지 생성을 통해, 대면적으로 결함여부를 판단하고, 결함이 의심되는 위치에 레이저를 집광하여 조사시킴으로써 스펙트럼을 확인할 수 있다. 이미지 생성을 위한 빛 조사부(411)에 대한 상세한 설명은 도 1의 빛 조사부(111)에 대한 상세한 설명에 대응하는바, 도 1의 빛 조사부(111)에 대한 상세한 설명으로 대신한다.
필터(412)는 빛 조사부(411)가 수신한 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키고, 이미지화부(413)는 필터(412)를 통과한 빛을 이용하여 이미지를 생성한다. 필터(412) 및 이미지화부(413)에 대한 상세한 설명은 도 1의 필터(112) 및 이미지화부(113)에 대한 상세한 설명에 대응하는바, 도 1의 필터(112) 및 이미지화부(113)에 대한 상세한 설명으로 대신한다.
분광기(414)는 상기 시료에 의해 산란된 빛을 분광한다. 보다 구체적으로, 시료에 의해 산란된 빛의 스펙트럼을 분석하기 위하여, 시료에 의해 산란된 빛을 분광한다.
결함 여부 판단부(415)는 분광기(414)를 통과한 빛의 스펙트럼을 분석하여 상기 시료의 결함 여부를 판단한다. 보다 구체적으로, 분광기(414)를 통과한 빛의 스펙트럼을 라만 분광법(Raman spectroscopy)을 이용하여 상기 시료의 결함 여부를 판단한다. 이를 통해, 시료의 구조적인 결함(물리, 화학적인 결함)을 찾을 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 이미징 방법의 흐름도이다.
510 단계는 이미지화하고자 하는 시료의 영역에 레이저를 조사하는 단계이다.
보다 구체적으로, 시료의 영역 중 이미지화하고자 하는 시료의 영역에 레이저를 조사한다. 상기 시료의 영역은 대물렌즈의 가시영역에 해당한다. 본 단계에 대한 상세한 설명은 도 1의 빛 조사부(111)에 대한 상세한 설명에 대응하는바, 도 1의 빛 조사부(111)에 대한 상세한 설명으로 대신한다.
520 단계는 상기 시료로부터 산란된 빛을 수신하는 단계이다.
보다 구체적으로, 시료에 조사된 레이저는 시료에 의해 산란된다. 상기 시료로부터 산란된 빛을 수?한다. 본 단계에 대한 상세한 설명은 도 1의 빛 조사부(111)에 대한 상세한 설명에 대응하는바, 도 1의 빛 조사부(111)에 대한 상세한 설명으로 대신한다.
530 단계는 상기 수신된 시료로부터 산란된 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키는 단계이다.
보다 구체적으로, 520단계에서 수신된 시료로부터 산란된 빛 중 라만 이미지를 생성하기 위해 필요한 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시킨다. 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키기 위하여, 액정을 이용하여 소정의 파장영역만을 통과시키는 가변대역통과필터를 이용할 수 있다. 복수의 파장영역에 해당하는 빛을 통과시킬 수도 있다. 본 단계에 대한 상세한 설명은 도 1의 필터(112)에 대한 상세한 설명에 대응하는바, 도 1의 필터(112)에 대한 상세한 설명으로 대신한다.
540 단계는 상기 통과한 빛을 이용하여 상기 이미지화하고자 하는 시료의 영역의 대면적 이미지를 생성하는 단계이다.
보다 구체적으로, 라만 피크의 파장을 가진 빛을 이용하여 라만 분광 이미지를 대면적으로 생성한다. 본 단계에 대한 상세한 설명은 도 1의 이미지화부(113)에 대한 상세한 설명에 대응하는바, 도 1의 이미지화부(113)에 대한 상세한 설명으로 대신한다.
나아가, 이미지의 해상도를 높이기 위하여, 광학적으로 평평하게 조사되도록 상기 시료에 조사되는 레이저를 변환하는 단계를 더 포함할 수 있다. 본 단계에 대한 상세한 설명은 도 1의 빔 쉐이퍼 대한 상세한 설명에 대응하는바, 도 1의 빔 쉐이퍼에 대한 상세한 설명으로 대신한다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 검사 방법의 흐름도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 라만 분광 검사 방법은 대면적 이미지를 생성하는 단계와 특정 위치의 빛 스펙트럼을 확인하는 단계로 나뉜다. 대면적 이미지를 생성하여 결함여부가 있는 것으로 판단된 위치에 대한 스펙트럼을 얻음으로써 시료의 결함여부를 판단한다. 610 단계 내지 640 단계에 대한 상세한 설명은 도 1의 라만 분광 이미지 장치(110)에 대한 상세한 설명에 대응하는바, 도 1의 라만 분광 이미지 장치(110)에 대한 상세한 설명으로 대신한다.
650 단계는 레이저를 한 위치에 집중시켜 상기 시료에 조사하는 단계이다. 결함이 의심되는 위치에 레이저를 집중시켜 조사한다. 660 단계는 상기 한 위치에 집중시켜 조사된 레이저가 상기 시료에 의해 산란된 제 2 빛을 수신하는 단계이다. 집광된 레이저가 시료에 의해 산란된 제 2 빛을 수신한다. 670 단계는 상기 수신한 제 2 빛의 스펙트럼을 생성하기 위하여, 제 2 빛을 분광한다. 680 단계는 상기 분광된 빛의 스펙트럼을 분석하여 시료의 결함 여부를 판단하는 단계이다. 상기 상기 분광된 빛의 스펙트럼을 라만 분광법을 이용하여 분석함으로써, 시료의 결함 여부를 판단한다. 650 단계 내지 680 단계에 대한 상세한 설명은 도 4의 라만 분광 검사 장치(410)에 대한 상세한 설명에 대응하는바, 도 1의 라만 분광 검사 장치(410)에 대한 상세한 설명으로 대신한다.
본 발명의 실시예들은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
이상과 같이 본 발명에서는 구체적인 구성 요소 등과 같은 특정 사항들과 한정된 실시예 및 도면에 의해 설명되었으나 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것일 뿐, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상적인 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.
따라서, 본 발명의 사상은 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니되며, 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등하거나 등가적 변형이 있는 모든 것들은 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
Claims (13)
- 이미지화하고자 하는 시료의 영역에 레이저를 조사하고, 상기 시료에 의해 산란된 빛을 수신하는 빛 조사부;
상기 빛 조사부가 수신한 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키는 필터; 및
상기 필터를 통과한 빛을 이용하여 이미지를 생성하는 이미지화부를 포함하는 라만 분광 이미징 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 빛 조사부는,
상기 레이저를 볼록렌즈 및 대물렌즈에 순서대로 입사시켜 상기 레이저가 상기 이미지화하고자 하는 시료의 영역 전체에 조사되도록 하는 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 장치. - 제 1 항에 있어서,
광학적으로 평평하게 조사되도록 상기 시료에 조사되는 레이저를 변환하는 빔 쉐이퍼를 더 포함하는 라만 분광 이미징 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 필터는,
액정을 이용하여 소정의 파장영역만을 통과시키는 가변대역통과필터인 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 필터는,
복수의 파장영역에 해당하는 빛을 통과시킬 수 있는 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 이미지화부는,
상기 필터를 통과한 빛을 이용하여 대면적인 이미지를 생성하는 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 이미지화부는 전자증배카메라인 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 장치. - 결함여부를 판단하고자 하는 시료의 영역에 레이저를 조사하고, 상기 시료에 의해 산란된 빛을 수신하는 빛 조사부;
상기 빛 조사부가 수신한 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키는 필터;
상기 필터를 통과한 빛을 이용하여 이미지를 생성하는 이미지화부;
상기 시료에 의해 산란된 빛을 분광하는 분광기; 및
상기 분광기를 통과한 빛의 스펙트럼을 분석하여 상기 시료의 결함 여부를 판단하는 결함 여부 판단부를 포함하는 라만 분광 검사장치. - 이미지화하고자 하는 시료의 영역에 레이저를 조사하는 단계;
상기 시료로부터 산란된 빛을 수신하는 단계;
상기 수신된 시료로부터 산란된 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키는 단계; 및
상기 통과한 빛을 이용하여 상기 이미지화하고자 하는 시료의 영역의 대면적 이미지를 생성하는 단계를 포함하는 라만 분광 이미징 방법. - 제 9 항에 있어서,
광학적으로 평평하게 조사되도록 상기 시료에 조사되는 레이저를 변환하는 단계를 더 포함하는 라만 분광 이미징 방법. - 제 9 항에 있어서,
상기 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키는 단계는,
액정을 이용하여 소정의 파장영역만을 통과시키는 가변대역통과필터를 이용하는 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 방법. - 제 9 항에 있어서,
상기 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키는 단계는,
복수의 파장영역에 해당하는 빛을 통과시킬 수 있는 것을 특징으로 하는 라만 분광 이미징 방법. - 이미지화하고자 하는 시료의 영역에 레이저를 조사하는 단계;
상기 이미지화하고자 하는 시료의 영역에 조사된 레이저가 상기 시료에 의해 산란된 제 1 빛을 수신하는 단계;
상기 제 1 빛 중 라만 피크의 파장에 해당하는 빛만 통과시키는 단계;
상기 통과한 빛을 이용하여 상기 이미지화하고자 하는 시료의 영역의 대면적 이미지를 생성하는 단계;
레이저를 한 위치에 집중시켜 상기 시료에 조사하는 단계;
상기 한 위치에 집중시켜 조사된 레이저가 상기 시료에 의해 산란된 제 2 빛을 수신하는 단계;
상기 제 2 빛을 분광하는 단계; 및
상기 분광된 빛의 스펙트럼을 분석하여 시료의 결함 여부를 판단하는 단계를 포함하는 라만 분광 검사 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140023190A KR20150101643A (ko) | 2014-02-27 | 2014-02-27 | 대면적 라만 분광 이미징 장치 및 그 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140023190A KR20150101643A (ko) | 2014-02-27 | 2014-02-27 | 대면적 라만 분광 이미징 장치 및 그 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20150101643A true KR20150101643A (ko) | 2015-09-04 |
Family
ID=54242718
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140023190A KR20150101643A (ko) | 2014-02-27 | 2014-02-27 | 대면적 라만 분광 이미징 장치 및 그 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20150101643A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102245238B1 (ko) * | 2019-10-29 | 2021-04-28 | (주)마이크로디지탈 | 흡광 분석 장치 |
-
2014
- 2014-02-27 KR KR1020140023190A patent/KR20150101643A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102245238B1 (ko) * | 2019-10-29 | 2021-04-28 | (주)마이크로디지탈 | 흡광 분석 장치 |
WO2021085865A1 (ko) * | 2019-10-29 | 2021-05-06 | (주)마이크로디지탈 | 흡광 분석 장치 |
US11977023B2 (en) | 2019-10-29 | 2024-05-07 | Micro Digital Co., Ltd. | Absorbance spectroscopic device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9001321B2 (en) | Microscope and observation method | |
US8310669B2 (en) | Spectroscopic imaging method and system for exploring the surface of a sample | |
US8064053B2 (en) | 3-color multiplex CARS spectrometer | |
JP6116529B2 (ja) | ラマン分光機能を有する荷電粒子顕微鏡 | |
JP6283104B2 (ja) | 光学分析装置 | |
CN107192702B (zh) | 分光瞳激光共焦cars显微光谱测试方法及装置 | |
US10156522B2 (en) | Parallel acquisition of spectral signals from a 2-D laser beam array | |
JP6622723B2 (ja) | 多焦点分光計測装置、及び多焦点分光計測装置用光学系 | |
CN106932357A (zh) | 一种超衍射分辨极限太赫兹光谱成像系统 | |
CN104698068A (zh) | 高空间分辨激光双轴差动共焦光谱-质谱显微成像方法与装置 | |
JP6357245B2 (ja) | 光学分析装置及び生体分子解析装置 | |
CN105067570A (zh) | 双轴激光差动共焦libs、拉曼光谱-质谱成像方法与装置 | |
JP2010190595A (ja) | レーザー分光分析装置およびそれを用いたレーザー分光分析方法 | |
KR101861919B1 (ko) | 반도체의 고속 광학 검사방법 | |
KR20150146075A (ko) | 공초점 분광 현미경 | |
KR20150101643A (ko) | 대면적 라만 분광 이미징 장치 및 그 방법 | |
US20060170916A1 (en) | Method and apparatus for variable-field illumination | |
JPWO2016174963A1 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP4534027B1 (ja) | 電磁波波面整形素子及びそれを備えた電磁波イメージング装置、並びに電磁波イメージング方法 | |
JP6519804B2 (ja) | 積層体の表面の異常部を分析する方法 | |
Tercier et al. | High-Resolution High-Speed LIBS Microscopy | |
JP6279081B2 (ja) | 光学分析装置 | |
JP7313221B2 (ja) | 測定装置及び測定方法 | |
RU108608U1 (ru) | Микроскоп с компактным раман-люминесцентным анализатором | |
JP6790426B2 (ja) | 積層体に内在する異常部を同定する方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |