KR20150096150A

KR20150096150A - 비접촉식 셀 정렬방법

Info

Publication number: KR20150096150A
Application number: KR1020140017231A
Authority: KR
Inventors: 이한진; 신균섭; 지성근; 김종현
Original assignee: 주식회사 엘지화학
Priority date: 2014-02-14
Filing date: 2014-02-14
Publication date: 2015-08-24
Also published as: KR101800065B1

Abstract

본 발명은 셀 정렬 과정에서 셀에 접촉하지 않고 정렬을 실시하여 접촉에 따른 셀의 파손을 방지할 수 있는 비접촉식 셀 정렬방법에 관한 것이다.
본 발명은, 정렬 스테이지(20) 상에 셀(10)을 로딩하는 로딩 단계; 로딩된 상기 셀(10)을 비젼으로 촬영하는 촬영 단계; 촬영된 이미지를 근거로 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하는 인식 및 분석 단계; 및 상기 셀의 상대적인 위치가 제거되는 방향으로 정렬 스테이지(20)를 이동하는 정렬 단계;를 포함하고, 정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치는 x,y 좌표 및 기울어진 각도(θ)로 계산되며, 상기 정렬 단계는, 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전하는 제1정렬단계와, 정렬위치(P)를 향해 정렬 스테이지(20)가 x,y 방향으로 평행 이동하는 제2정렬단계로 이루어지고, 상기 제1정렬단계가 진행된 후 제2정렬단계가 진행되며, 정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치인 x,y 좌표는 제1정렬단계가 진행된 후 촬영 단계와 인식 및 분석 단계를 한 번 더 거쳐 파악되는 비접촉식 셀 정렬방법이다.

Description

비접촉식 셀 정렬방법{Cell Alignment Methods without Touching the Cell}

본 발명은 셀 정렬방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 정렬 과정에서 셀에 접촉하지 않고 정렬을 실시하여 접촉에 따른 셀의 파손을 방지할 수 있는 비접촉식 셀 정렬방법에 관한 것이다.

이차전지를 패키징하는 공정에서, 적층된 셀의 위치를 정렬하는 과정이 선행된 후 이를 파우치와 같은 포장재에 수납하게 된다. 통상적으로 셀의 위치를 정렬하는 과정은 정렬 지그에 셀을 로딩하고 게이지 등으로 일정한 반발력이 생길 때까지 셀을 밀어 접촉식으로 셀을 정렬하는 방법이 사용되고 있다.

도 1은 종래의 접촉식 정렬 방법을 나타낸 도면이다. 도 1의 (a)에 도시된 바와 같이 정렬 지그(70)에 셀(10)을 로딩한 상태에서 x축 방향으로 게이지(80)를 이동시켜 게이지(80)가 셀(10)을 도면 상 좌측으로 밀어 줌으로써, 도 1의 (b)에 도시된 바와 같이 셀(10)의 좌측면이 정렬 지그(70)에 접촉하도록 한다.

셀(10)의 좌측면이 정렬 지그에 맞닿으면 도면 상 좌측으로 이동하던 게이지(80)에 일정 수준 이상의 부하가 걸리게 되고, 이러한 부하가 인식되면 게이지는 이동을 중단하게 된다. 또한 이러한 정렬 과정은 y축 방향으로도 이루어지게 된다.

그러나 도 1의 (a)에 도시된 바와 같이 셀(10)이 정상적인 위치에 대해 약간이라도 기울어진 상태로 로딩이 되어 있는 경우, 셀(10)의 모서리 부분과 게이지(80)가 점 접촉하며 응력이 집중됨으로 인해 전극이 파손되거나 변형되는 문제점이 있다.

또한 도 1의 (b)에 도시된 바와 같이 셀(10)이 x축 방향으로 좌측으로 정렬 지그(70)에 밀착되면서 셀(10)의 좌측면에 충격이 가해지게 됨으로 인해 전극이 파손되거나 변형되는 문제점이 있으며, 이렇게 정렬된 상태에서도 게이지(80)에 걸리는 부하에 대한 인식이나 그러한 인식에 따라 게이지의 이동을 중단하는 것에 대한 응답이 즉각적이지 못하여 셀의 전극이 파손되거나 변형되는 문제점이 있다.

아울러 도 1의 (b)에 도시된 바와 같이 셀(10)을 y축 방향으로 아래쪽으로 정렬시키는 과정에서도 셀(10)의 상부에 형성된 탭이 게이지와의 충격에 의해 변형되거나 그 주변이 파손되는 경우가 발생하고 있고, 도 1의 (c)에 도시된 바와 같이 셀(10)의 하부 역시 정렬 지그(70)에 부딪히며 파손되거나 변형되는 문제점이 있다.

위와 같은 접촉 방식으로 셀을 정렬하는 것은 촬영이나 인식 및 분석의 절차가 없어 정렬 장치를 간단하게 구성할 수 있다는 장점이 있으나, 앞서 살펴본 바와 같이 셀에 대해 접촉을 하면서 셀에 기계적인 충격이 전달됨으로써 정렬 과정에서 불량이 발생한다는 문제점이 있었다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 접촉식 정렬 과정을 생략하고 비접촉식으로 정렬을 할 수 있는 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

또한 본 발명은 비접촉식으로 정렬을 함에 있어서 정렬의 기준이 되는 인자를 제공하는 것을 목적으로 한다.

또한 본 발명은 비접촉식으로 정렬을 함에 있어서 알고리즘을 간단하게 구성할 수 있는 정렬 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

또한 본 발명은 비접촉식으로 정렬을 함에 있어서, 정렬에 필요한 인자를 최소한으로 구성하고, 특히 이러한 인자가 정렬 장치 자체로부터 고려해야 되는 인자를 포함하지 않도록 함으로써, 정렬 장치의 특성에 영향을 받지 않고 범용적으로 적용할 수 있는 정렬 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

또한 본 발명은 비접촉식으로 정렬을 하기 위해 셀의 위치를 인식함에 있어서, 가장 염가로 가장 정밀도 높은 인식 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

또한 본 발명은 정렬이 반복됨에 따라 반복되는 로딩 구조의 패턴을 보정함으로써 로딩 구조 자체를 수정할 수 있는 정렬 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기와 같은 과제를 해결하기 위해 본 발명은, 정렬 스테이지(20) 상에 셀(10)을 로딩하는 로딩 단계; 로딩된 상기 셀(10)을 비젼으로 촬영하는 촬영 단계; 촬영된 이미지를 근거로 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하는 인식 및 분석 단계; 및 상기 셀의 상대적인 위치가 제거되는 방향으로 정렬 스테이지(20)를 이동하는 정렬 단계;를 포함하는 비접촉식 셀 정렬방법을 제공한다.

여기서 정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치는 x,y 좌표 및 기울어진 각도(θ)로 계산된다.

여기서 상기 정렬 단계는, 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전하는 제1정렬단계와, 정렬위치(P)를 향해 정렬 스테이지(20)가 x,y 방향으로 평행 이동하는 제2정렬단계로 이루어진다.

여기서 상기 제1정렬단계가 진행된 후 제2정렬단계가 진행된다.

여기서 정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치인 x,y 좌표는 제1정렬단계가 진행된 후 촬영 단계와 인식 및 분석 단계를 한 번 더 거쳐 파악된다.

여기서 상기 비젼은 셀을 비추는 조명과, 상기 셀을 가시광선 영역에서 촬영하는 카메라를 포함한다.

여기서 상기 인식 및 분석 단계는, 촬영된 셀의 이미지에서 전극 탭(12,14)의 모서리(13,15) 좌표를 복수 개 인식하여 정렬위치(P)의 전극 탭의 모서리 좌표와 대응시킴으로써 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 분석한다.

여기서 상기 인식 및 분석 단계는, 촬영된 셀의 이미지에서 분리막의 모서리(16,18) 좌표를 복수 개 인식하여 정렬위치(P)의 분리막의 모서리 좌표와 대응시킴으로써 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 분석한다.

여기서 상기 분리막의 모서리 좌표는 분리막의 모서리에 형성된 라운딩(R) 부위를 제외하고 분리막의 양 변이 만나는 가상의 지점을 기준으로 모서리 좌표를 분석한다.

여기서 정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치가 로딩되는 셀의 정렬과정마다 일정 수준 이상 반복되는 경우, 셀의 로딩 구조 자체를 보정한다.

본 발명에 의하면, 비접촉식으로 셀을 정렬할 수 있어 정렬과정에서 셀에 불량이 발생하는 현상을 미연에 방지할 수 있다.

또한 본 발명에 의하면, 비접촉식으로 셀을 정렬함에 있어서 정렬 인자를 최소화함으로써 간단한 알고리즘으로 정렬을 실시할 수 있다.

또한 본 발명에 의하면, 비접촉식으로 셀을 정렬함에 있어서 정렬 장치의 특성에 관계없이 동일한 알고리즘으로 정렬을 실시할 수 있어 범용적인 활용이 가능하다.

또한 본 발명에 의하면, 셀의 위치 인식을 가장 염가로 정확하게 할 수 있어 정렬 정밀도를 쉽게 높일 수 있다.

또한 본 발명에 의하면, 반복되는 정렬 패턴을 인식하여 이를 셀의 로딩 과정에서 보정하도록 함으로써 셀의 정렬 과정이 반복될수록 셀이 보다 정확하게 로딩이 이루어지도록 하여 비접촉식 정렬에 소요되는 시간과 공수를 최소화할 수 있다.

상술한 효과와 더불어 본 발명의 구체적인 효과는 이하 발명을 실시하기 위한 구체적인 사항을 설명하면서 함께 기술한다.

도 1은 종래의 접촉식 정렬 방법을 나타낸 도면,
도 2는 본 발명에 따른 비접촉식 정렬 방법을 나타낸 도면,
도 3은 비젼으로 촬영된 셀의 이미지(전극탭이 있는 경우)를 나타낸 도면,
도 4는 도 3의 셀의 이미지에서 전극탭의 모서리를 인식하는 상태를 나타낸 도면,
도 5는 비젼으로 촬영된 셀의 이미지(전극탭이 없는 경우)를 나타낸 도면, 그리고
도 6는 도 5의 셀의 이미지에서 분리막의 모서리를 인식하는 상태를 나타낸 도면이다.

이하 본 발명에 따른 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 2는 본 발명에 따른 비접촉식 정렬 방법을 나타낸 도면이다.

본 발명에 따른 비접촉식 셀 정렬방법은, 정렬 스테이지(20) 상에 셀(10)을 로딩하는 로딩 단계, 로딩된 상기 셀(10)을 비젼으로 촬영하는 촬영 단계, 촬영된 이미지를 근거로 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하는 인식 및 분석 단계 및 상기 셀의 상대적인 위치가 제거되는 방향으로 정렬 스테이지(20)를 이동하는 정렬 단계를 포함한다.

여기서 정렬 스테이지(20)는 자체적으로 회전이 가능함은 물론, x축과 y축 방향으로 병진 이동 가능하다. 정렬 스테이지 상에 셀을 로딩하는 방식은 로봇 암의 파지에 의한 로딩 방식, 흡착 및 흡착 해제 방식 등 다양한 방식이 적용될 수 있다.

상기 비젼은 셀을 비추는 조명(미도시)과, 상기 셀을 가시광선 영역에서 촬영하는 카메라(미도시)를 포함할 수 있다.

정렬위치(P)는 후속 공정에 들어가기 전, 셀이 정렬되어야 하는 위치를 의미하는 것으로, 가령 종래 기술에서 도 1의 (c)와 같은 위치이다.

정렬 스테이지(20) 상에 셀(10)이 로딩되어 얹어지면, 비젼으로 셀을 촬영하여 현재 셀의 위치를 파악한다. 이렇게 셀의 위치를 파악함에 있어서는, 정렬위치(P)에 대비하여 셀이 x,y축 방향으로 얼마나 이탈되어 있는지, 또 얼마나 기울어져 있는지(θ) 파악한다. 이는 카메라에 의해 촬영된 이미지에 나타난 셀의 위치가 이상적인 위치(P)에서 얼마나 벗어나 있는지를 기준으로 파악하게 된다.

이상적인 위치(P)의 설정은, 카메라가 정렬 장치에 고정 설치된 후, 가령 그 상태에서 이상적인 위치(P)에 셀을 놓고 촬영을 함으로써 얻어지는 이미지에서 셀이 나타나는 위치를 이상적인 위치(P)로 설정하는 방식으로 이루어질 수 있다.

이후 정렬 스테이지(20) 상에 정렬하고자 하는 셀이 로딩되면, 동일한 위치에 카메라가 고정된 상태에서 다시 촬영을 실시하여 이미지를 획득하고, 그 이미지에서 얻어지는 셀의 위치가 기 설정된 이상적인 위치(P)에서 얼마나 벗어나 있는지를 파악하게 된다도 2의 (a) 참조.

이렇게 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하게 되면, 현재 셀의 위치를 이동시켜 정렬위치(P)에 일치하도록 정렬 스테이지(20)를 이동하게 된다.

이러한 정렬 과정은, 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전하는 제1정렬단계도 2의 (b) 참조와, 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 x,y 좌표만큼 평행 이동하는 제2정렬단계도 2의 (c) 및 (d) 참조로 이루어지도록 할 수 있다.

여기서 주의 깊게 고려하여야 할 것은 정렬 스테이지가 기울어진 각도를 제거하는 방향으로 회전할 때의 회전축의 좌표이다. 정렬 스테이지가 회전할 때 그 회전축의 위치에 따라 현재 셀의 x,y 좌표가 달라지는 위치 역시 달라지게 되기 때문에, 현재 셀의 위치를 정렬 위치(P)로 이동시킴에 있어서는 이러한 정렬 스테이지의 회전축의 위치 역시 고려하지 않으면 안 된다.

이처럼 촬영 단계를 통해 현재 셀의 위치(x,y,θ)를 파악한 후 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전하는 제1정렬단계를 거치면 셀의 x,y좌표에 변동이 생기게 되므로, 촬영 단계를 통해 파악된 현재 셀의 위치(x,y)로부터, 정렬 스테이지(20)의 회전축을 중심으로 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전한 후, 셀의 x,y 좌표가 어떻게 변화했는지에 대한 계산이 필요하다.

그리고 이렇게 회전에 의해 변화된 부분이 계산된 x,y 좌표에 따라 정렬 스테이지(20)를 x,y 방향으로 평행 이동하면 정렬 스테이지 상에 놓여진 셀은 정렬위치(P)에 위치하게 된다.

이러한 과정을 살펴보면, 상기 제1정렬단계가 진행된 후 제2정렬단계가 진행되는 것이 알고리즘을 간단하게 구성할 수 있어 편리하다. 만약 최초 촬영 후 위치를 인식하고 나서 정렬을 행하는 단계에서 x,y에 대한 이동이 먼저 이루어진다면, 추후 기울어진 각도를 보정하는 과정에서 x,y 좌표가 변하게 되어, 재차 x,y 이동을 해야 할 필요가 있다.

따라서 본 발명에서는 촬영된 셀의 이미지에서 파악된 좌표(x,y,θ) 중 기울어진 각도를 먼저 보정하고 난 후, 변화된 x,y 좌표에 맞추어 평행이동으로 위치를 보정하는 방식을 적용하였다.

결국 위와 같은 정렬 과정을 따른다면, 최초 셀의 위치에 대한 촬영 후 셀의 위치(x,y,θ)를 파악하고, 정렬 스테이지(20)의 회전축의 좌표를 활용하면, 기울어진 각도를 보정하는 제1정렬단계, 그리고 제1정렬 후 변경된 x,y좌표를 기준으로 정렬 스테이지(20)를 평행이동하는 제2정렬단계만으로 정렬을 완료할 수 있다.

또한 본 발명은 나아가, 상기 제1정렬 후 변경된 x,y좌표를 계산할 필요 없이 간단하게 제2정렬이 이루어지도록 할 수도 있다. 앞서 살펴본 정렬 방식은, 제1정렬 후 변경된 x,y좌표를 계산함에 있어서 정렬 스테이지(20)의 회전축의 좌표값이 필수적으로 요구되는데, 만약 정렬 스테이지(20)의 회전축의 좌표값 자체에 오차가 있다면, 이를 기준으로 변경된 x,y좌표를 계산할 때 오차가 누적될 수 있다.

따라서 본 발명은 이러한 점까지 감안하여, 정렬 스테이지(20)의 회전축의 좌표에 대한 정보 없이도 정확하게 제2정렬이 이루어지도록 할 수 있다.

이를 위해 본 발명은, 제1정렬을 통해 정렬 위치(P)에 대해 정렬하고자 하는 셀의 기울어짐을 해소한 후 다시 셀에 대한 촬영을 실시한다. 이러한 촬영의 결과에 대한 이미지는 도 2의 (b)와 같이 기울기의 차이 없이 셀(10)이 x,y 방향으로만 벗어난 상태가 되고, 결국 이러한 이미지에서 얻어지는 셀의 위치가 기 설정된 이상적인 위치(P)에서 x,y 방향으로 얼마나 벗어나 있는지를 파악할 수 있다.

따라서 정렬 장치는 이렇게 x,y 방향으로 벗어난 양만큼 정렬 스테이지(20)를 평행 이동시켜 셀이 정렬 위치(P)에 정확히 위치하도록 할 수 있다.

이러한 방식에 의하면 정렬 스테이지(20)의 회전축의 좌표에 대한 정보 없이도 비접촉식 정렬을 행할 수 있게 되는바, 복수 개의 정렬 스테이지에서 각각 정렬 과정을 수행함에 있어서도 동일한 알고리즘으로 간단하게 정렬을 실시할 수 있게 되며, 정렬과정에서 각 스테이지에서 발생하는 오차가 누적되는 것을 방지할 수 있다.

나아가 본 발명에서는, 정렬 스테이지 외의 다른 구성에서 위치 오차의 요인이 있는 경우 이를 제거할 수 있는 방법까지 제공한다.

가령 정렬 스테이지 상에 셀을 로딩하는 구성이 지속적으로 동일한 위치 오차를 부가하면서 정렬 스테이지 상에 셀을 로딩하는 경우, 본 발명의 정렬 장치에서는 이를 파악하여 로딩 과정 자체를 보정하도록 할 수 있다.

만약 촬영된 이미지를 근거로 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하는 인식 및 분석 단계에서 정해진 횟수(가령 10회) 이상 유사한 범위 내의 오차가 반복적으로 인식되고 파악되면, 본 발명은 이러한 오차 수치를 운용자에게 정보로서 제공할 수 있다.

장비 운용자는 이러한 정보가 제공되는 경우, 로딩 장치의 정렬을 통해 정렬 스테이지(20)에 셀(10)이 로딩되는 위치 자체를 보정함으로써, 로딩 과정에서 발생하는 위치 편차를 해소할 수 있다. 따라서 이러한 과정이 반복되면 로딩 과정에서 미리 정렬위치에 가까운 로딩이 가능하게 되므로, 비접촉식 정렬 양이 점차 줄어들도록 할 수 있어, 장비 운용을 더욱 효율적으로 할 수 있게 된다.

다음으로, 촬영된 셀의 이미지에서 셀의 위치를 인식하는 방법에 대해 설명한다.

도 3은 비젼으로 촬영된 셀의 이미지(전극탭이 있는 경우)를 나타낸 도면, 그리고 도 4는 도 3의 셀의 이미지에서 전극탭의 모서리를 인식하는 상태를 나타낸 도면이다.

촬영된 셀의 이미지에 전극탭이 있는 경우, 도 3에 도시된 바와 같이 먼저 셀(10)의 이미지에서 셀의 모서리에 해당하는 패턴(

,

)을 찾고, 그 패턴 내에서 모서리(16,18)을 찾는다.

그리고 두 모서리를 잇는 가상의 선 상에서 음극탭(12)과 양극탭(14)이 셀과 연결되는 부분의 패턴(

,

)을 찾은 후, 그 패턴 내에서 모서리(13,15)를 찾는다.

이렇게 인식된 모서리(13,15)의 좌표가, 정렬 위치(P)의 대응하는 모서리의 좌표에 대해 얼마나 벗어나 있는지 그 좌표(x,y,θ)를 확인하면, 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악할 수 있다.

도 5는 비젼으로 촬영된 셀의 이미지(전극탭이 없는 경우)를 나타낸 도면, 그리고 도 6는 도 5의 셀의 이미지에서 분리막의 모서리를 인식하는 상태를 나타낸 도면이다.

촬영된 셀의 이미지에 전극탭이 없는 경우에는, 도 5에 도시된 바와 같이 셀(10)의 이미지에서 분리막의 모서리에 해당하는 패턴(

,

)을 찾고, 그 패턴 내에서 모서리(16,18)을 찾는다.

적층된 셀에서 가장 면적이 큰 부분은 분리막이 되므로, 분리막을 기준으로 패턴을 파악하는 것이 바람직하다.

한편 분리막의 단부는 라운딩(R) 처리가 되어 있는 경우가 대부분이다. 라운딩 처리가 된 경우에는 라운딩 부위를 따라 일 지점을 설정하는 것이 모호하고 그 기준도 일정하게 하기 어렵다. 따라서 본 발명에서는 분리막의 모서리에 형성된 라운딩(R) 부위를 제외하고 분리막의 모서리를 이루는 양 변이 만나는 가상의 지점을 기준으로 모서리 좌표를 정하도록 하였다. 이는 정렬위치(P)에 대해서도 마찬가지로 적용할 수 있다.

이러한 방식으로 셀의 위치를 파악하여 정렬 위치(P)에 대해 현재 셀이 가지는 위치 편차를 파악하면, 상술한 바와 같은 정렬 스테이지의 이동에 의해 정렬을 하는 것이 가능하게 된다.

본 발명의 각 구성은 그 기능이 훼손되지 아니하는 범위 내에서 적절히 변경 가능함은 물론이며, 상술한 실시예에 한정되지 않고 특허청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상의 범위 안에서 자유롭게 변경될 수 있다.

10: 셀
12: 음극탭
13: 음극탭 모서리
14: 양극탭
15: 양극탭 모서리
16: 셀 제1모서리
18: 셀 제2모서리
20: 정렬 스테이지
70: 정렬 지그
80: 게이지
P: 정렬 위치
R: 라운딩

Claims

정렬 스테이지(20) 상에 셀(10)을 로딩하는 로딩 단계;
로딩된 상기 셀(10)을 비젼으로 촬영하는 촬영 단계;
촬영된 이미지를 근거로 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하는 인식 및 분석 단계; 및
상기 셀의 상대적인 위치가 제거되는 방향으로 정렬 스테이지(20)를 이동하는 정렬 단계;를 포함하는 비접촉식 셀 정렬방법.
청구항 1에 있어서,
정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치는 x,y 좌표 및 기울어진 각도(θ)로 계산되는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
청구항 2에 있어서,
상기 정렬 단계는, 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전하는 제1정렬단계와, 정렬위치(P)를 향해 정렬 스테이지(20)가 x,y 방향으로 평행 이동하는 제2정렬단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
청구항 3에 있어서,
상기 제1정렬단계가 진행된 후 제2정렬단계가 진행되는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
청구항 4에 있어서,
정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치인 x,y 좌표는 제1정렬단계가 진행된 후 촬영 단계와 인식 및 분석 단계를 한 번 더 거쳐 파악하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서,
상기 비젼은 셀을 비추는 조명과, 상기 셀을 가시광선 영역에서 촬영하는 카메라를 포함하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서,
상기 인식 및 분석 단계는, 촬영된 셀의 이미지에서 전극 탭(12,14)의 모서리(13,15) 좌표를 복수 개 인식하여 정렬위치(P)의 전극 탭의 모서리 좌표와 대응시킴으로써 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 분석하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
청구항 7에 있어서,
상기 전극 탭(12,14)의 모서리(13,15) 좌표는 전극탭의 외곽선과 분리막의 외곽선이 만나는 지점인 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서,
상기 인식 및 분석 단계는, 촬영된 셀의 이미지에서 분리막의 모서리(16,18) 좌표를 복수 개 인식하여 정렬위치(P)의 분리막의 모서리 좌표와 대응시킴으로써 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 분석하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
청구항 9에 있어서,
상기 분리막의 모서리 좌표는 분리막의 모서리에 형성된 라운딩(R) 부위를 제외하고 분리막의 양 변이 만나는 가상의 지점을 기준으로 모서리 좌표를 분석하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서,
정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치가 로딩되는 셀의 정렬과정마다 일정 수준 이상 반복되는 경우, 셀의 로딩 구조 자체를 보정하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.