KR20150060295A - Electronic Parking Brake System and Error Detect Method for the same - Google Patents

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KR20150060295A KR1020130144539A KR20130144539A KR20150060295A KR 20150060295 A KR20150060295 A KR 20150060295A KR 1020130144539 A KR1020130144539 A KR 1020130144539A KR 20130144539 A KR20130144539 A KR 20130144539A KR 20150060295 A KR20150060295 A KR 20150060295A
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송봉용
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현대모비스 주식회사
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    • B60T13/74—Transmitting braking action from initiating means to ultimate brake actuator with power assistance or drive; Brake systems incorporating such transmitting means, e.g. air-pressure brake systems with electrical assistance or drive

Abstract

According to the present invention, an electronic parking brake system comprises: a first and a second driving chip comprising normally or reversely rotating a motor selectively; and a first and a second auxiliary driving chip driving and controlling the motor by substituting the first and the second driving chip during malfunction of the first and the second driving chip.

Description

전자식 주차 브레이크 시스템{Electronic Parking Brake System and Error Detect Method for the same}Electronic Parking Brake System and Error Detect Method for the Same

본 발명은 전자식 주차 브레이크 시스템에 관한 것으로, 더 구체적으로는 EPB를 구동 제어하는 구동칩의 오작동을 검증하고 파손된 구동소자를 대체하여 EPB를 제어할 수 있는 전자식 주차 브레이크 시스템에 관한 것이다.
The present invention relates to an electronic parking brake system, and more particularly, to an electronic parking brake system capable of verifying a malfunction of a driving chip for driving and controlling an EPB and controlling an EPB by replacing a damaged driving element.

일반적으로 전자식 주차 브레이크(EPB : Electronic Parking Brake) 시스템은 EPB 액츄에이터 속에 내장되어 있는 모터를 이용 케이블을 잡아당기거나 풀어서 후륜의 DIH(Drum in hat) 브레이크를 작동시키는 시스템이다.
An electronic parking brake (EPB) system is a system that operates a DIH (Drum in line) brake on the rear wheel by pulling or loosening the cable using a motor built into the EPB actuator.

전자 제어 유니트(ECU)에는 사용자의 입력 및 차량의 상태를 파악하여 동작 상태를 결정하는 마이크로 컨트롤러(MCU)가 내장되어 있으며, 마이크로 컨트롤러(MCU)의 제어에 따라 모터의 동작속도 및 토크를 조정할 수 있다. 일반적으로 모터는 DC 모터를 사용하며, 전자 제어 유니트(ECU)는 모터를 구동시키기 위해서 10A 가량의 전류를 흘려주게 되며, 차축의 부하에 따라(예 : 차량이 오르막 또는 내리막길에서 주차할 경우) 최대 50A 가량의 전류 용량을 흘릴 수 있도록 구성되어 있다.
An electronic control unit (ECU) incorporates a microcontroller (MCU) that determines the state of the vehicle by inputting user input and determining the operating state of the vehicle. The microprocessor controls the operation speed and torque of the motor under the control of a microcontroller have. Generally, a motor uses a DC motor, and an electronic control unit (ECU) flows a current of about 10A to drive the motor. Depending on the load on the axle (for example, when the vehicle is parked on an uphill or downhill road) It is configured to allow current capacity of up to 50A to flow.

전자식 주차 브레이크(EPB)는 종래 주차 브레이크를 이용해서 사용자가 손으로 조작하는 방법 대신 간단한 버튼 동작으로 주차 브레이크 작동이 가능하며, 일반 공로 주행 시 자동 모드(Auto mode)로 설정해 놓은 후 2초 이상 풋 브레이크를 밟고 있으면 자동으로 주차 브레이크를 작동시키도록 함으로써 운전자는 풋 브레이크를 밟지 않고도 차량을 정지 상태로 유지할 수 있기 때문에 도심의 차량 정체 시 다리의 피로감을 경감시킬 수 있다.
Electronic parking brake (EPB) can be operated by simple button operation instead of user's manual operation by using conventional parking brake, and it is possible to set parking mode for automatic mode (Auto mode) Since the parking brake is automatically activated when the brake pedal is depressed, the driver can keep the vehicle in a stopped state without stepping on the foot brake, thereby relieving fatigue of the leg when the vehicle stalls in the city center.

도 3a 및 도 3b는 일반적인 전자식 주차 브레이크 시스템의 모터 구동 방법을 설명하기 위한 예시도이다. 도시된 바와 같이 EPB 구동 시스템(10)은 모터(M)를 구동하기 위해 Half-Bridge 방식으로 설계되어 있으며 12V의 전위차를 발생시켜 모터에 전류가 흐르도록 제작되어 있다. EPB 구동 시스템(10)은 HighSide FET와 LowSide FET를 구비한 구동칩(20,30) 두 개를 이용하여 Half-Bridge 회로를 구성하고 있으며, 제1구동칩(20)은 제1HS FET(21)와 제1LS FET(22)를 포함하고, 제2구동칩(30)은 제2HS FET(31)와 제2LS FET(32)를 포함할 수 있다.
3A and 3B are diagrams for explaining a motor driving method of a general electronic parking brake system. As shown in the figure, the EPB driving system 10 is designed in a half-bridge manner to drive the motor M and generates a potential difference of 12 V so that current flows in the motor. The EPB driving system 10 constitutes a half-bridge circuit using two driving chips 20 and 30 having a HighSide FET and a LowSide FET. The first driving chip 20 includes a first HS FET 21, And a second LS FET 22 and the second driving chip 30 may include a second HS FET 31 and a second LS FET 32.

제1구동칩(20)의 제1HS FET(21)를 On 시키고 제2구동칩(30)의 제2LS FET(32)를 On 시키면 도 3a와 같이 폐회로가 형성되어 모터(M)가 정방향으로 회전하여 주차 브레이크를 작동시키고, 제1구동칩(20)의 제1LS FET(22)를 On 시키고 제2구동칩(30)의 제2HS FET(31)를 On 시키면 모터(M)가 역방향으로 회전하여 주차 브레이크를 해제하게 된다.
When the first HS FET 21 of the first driving chip 20 is turned on and the second LS FET 32 of the second driving chip 30 is turned on, a closed circuit is formed as shown in FIG. 3a, The parking brake is operated to turn on the first LS FET 22 of the first driving chip 20 and turn on the secondHS FET 31 of the second driving chip 30 so that the motor M rotates in the reverse direction The parking brake is released.

그러나 종래의 전자식 주차 브레이크(EPB)는 편리한 장점에도 불구하고 모터 구동 시 계속적인 과도전류(모터를 기동시키기 위한 전류)가 누적될 경우에는 모터 및 모터구동 소자(예 : FET)에 전기적인 스트레스가 가해져 소자가 파손되는 문제점이 있었고, 이로 인해 주차 브레이크가 작동된 상태에서 FET가 파손될 경우 차량 주차 브레이크의 해제가 불가능하여 차량 운행이 어려운 문제점이 있었다.
However, in the conventional electronic parking brake (EPB), electric stress is applied to the motor and the motor driving element (for example, FET) when the continuous transient current (current for starting the motor) There is a problem that the device breaks down. Therefore, if the FET is broken in a state where the parking brake is operated, it is impossible to release the parking brake of the vehicle, which makes it difficult to operate the vehicle.

한국공개특허공보 제10-2013-0040356호(출원일 : 2011.10.14)Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-2013-0040356 (filed on October 14, 2011)

본 발명은 EPB 제어를 위한 예비 구동칩을 구비하여 주 구동칩의 오작동 또는 파손시에도 안정된 EPB 제어 성능을 보장할 수 있는 전자식 주차 브레이크 시스템을 제공함을 목적으로 한다.
It is an object of the present invention to provide an electronic parking brake system which is provided with a preliminary driving chip for EPB control and can ensure a stable EPB control performance even when the main driving chip malfunctions or breaks.

본 발명에 따른 전자식 주차 브레이크 시스템은 모터를 선택적으로 정역회전시키도록 구성된 제1 및 제2구동칩; 및 상기 제1 및 제2구동칩의 오작동시 상기 제1 및 제2구동칩을 대체하여 상기 모터를 구동 제어하는 제1 및 제2예비 구동칩을 포함할 수 있다.
An electronic parking brake system according to the present invention comprises first and second driving chips configured to selectively rotate the motor selectively and reversely; And first and second preliminary driving chips for drivingly controlling the motor by replacing the first and second driving chips when the first and second driving chips malfunction.

여기서, 상기 제1구동칩은 상호 선택적으로 On/Off되는 제1HS FET와 제1LS FET포함하고 상기 제2구동칩은 상호 선택적으로 On/Off되는 제2HS FET와 제2LS FET를 포함하며, 상기 제1HS FET와 제2LS FET가 On되면 상기 모터를 정회전시켜 주차 브레이크가 작동되고 상기 제1LS FET와 제2HS FET가 On되면 상기 모터를 역회전시켜 주차 브레이크를 해제시킬 수 있다.
Here, the first driving chip includes a first HS FET and a first LS FET that are selectively turned on / off, and the second driving chip includes a second HS FET and a second LS FET that are selectively turned on / off, When the 1 HS FET and the second LS FET are turned on, the parking brake is operated by forward rotation of the motor, and when the first LS FET and the second HS FET are turned on, the motor can be reversely rotated to release the parking brake.

또한, 상기 제1예비 구동칩은 제1예비 HS FET와 제1예비 LS FET를 포함하고 상기 제2예비 구동칩은 제2예비 HS FET와 제2예비 LS FET를 포함하며, 상기 제1예비 구동칩과 제2예비 구동칩은 상기 제1구동칩 또는 제2구동칩의 오작동시 활성화될 수 있다.
Also, the first preliminary driving chip may include a first preliminary HS FET and a first preliminary LS FET, and the second preliminary driving chip may include a second preliminary HS FET and a second preliminary LS FET, The chip and the second preliminary driving chip may be activated when the first driving chip or the second driving chip malfunctions.

또한, 상기 제1 및 제2구동칩은 구동펄스(1001,0110)에 의해 상기 모터를 정역회전시키며, 상기 구동펄스와 검증펄스(0001,0010,0100,1000)에 의해 오작동이 검출될 수 있다.
In addition, the first and second driving chips rotate the motor in normal and reverse directions by drive pulses 1001 and 0110, and a malfunction can be detected by the drive pulse and the verify pulse (0001, 0000, 0, 100, 1000) .

또한, 상기 제1HS FET는 구동펄스(1001)과 검증펄스(0001)에 의해, 상기 제1LS FET는 구동펄스(0110)과 검증펄스(0010)에 의해, 상기 제2HS FET는 구동펄스(0110)과 검증펄스(0100)에 의해, 상기 제2LS FET는 구동펄스(1001)과 검증펄스(1000)에 의해 오작동이 판별될 수 있다.
The first HS FET is driven by the drive pulse 0110 and the verify pulse 0010 and the second HS FET is driven by the drive pulse 0110 and the verify pulse 0001 by the drive pulse 1001 and the verify pulse 0001, And the verify pulse (0100), the second LS FET can determine a malfunction by the drive pulse (1001) and the verify pulse (1000).

본 발명의 전자식 주차 브레이크 시스템에 따르면, 주 구동칩의 오작동을 검증하고 오작동 발생시 예비 구동칩을 사용하여 안정된 EPB 제어 성능을 보장할 수 있다.
According to the electronic parking brake system of the present invention, the malfunction of the main drive chip can be verified and stable EPB control performance can be ensured by using the spare drive chip when a malfunction occurs.

도 1은 본 발명의 전자식 주차 브레이크 시스템의 개략도;
도 2는 FET 소자의 에러 발생시 제어 흐름도; 및
도 3a 및 도3b는 종래 기술의 전자식 주차 브레이크 시스템의 개략도;이다.1 is a schematic view of an electronic parking brake system of the present invention;
FIG. 2 is a control flowchart when an error occurs in the FET device; FIG. And
Figures 3a and 3b are schematic diagrams of a prior art electronic parking brake system;

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention and the manner of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. To fully disclose the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.

따라서, 몇몇 실시예에서, 잘 알려진 공정 단계들, 공지된 구조 및 공지된 기술들은 본 발명이 모호하게 해석되는 것을 피하기 위하여 구체적으로 설명되지 않는다.Thus, in some embodiments, well known process steps, known structures, and known techniques are not specifically described to avoid an undesirable interpretation of the present invention.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다" 및/또는 "포함하는"은 언급된 구성요소, 단계 및/또는 동작 이외의 하나 이상의 다른 구성요소, 단계 및/또는 동작의 존재 또는 추가를 배제하지 않는 의미로 사용한다. 그리고, "및/또는"은 언급된 아이템들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.The terminology used herein is for the purpose of illustrating embodiments and is not intended to be limiting of the present invention. In the present specification, the singular form includes plural forms unless otherwise specified in the specification. Used in the sense of the description does not exclude the presence or addition of one or more other components, steps and / or operations other than the stated components, steps and / or operations. do. And "and / or" include each and any combination of one or more of the mentioned items.

또한, 본 명세서에서 기술된 실시예들은 본 발명의 이상적인 예시도인 사시도, 단면도, 측면도 및/또는 개략도들을 참고하여 설명될 것이다. 따라서, 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수있다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도시된 특정 형태로 제한되는 것이 아니라 제조 공정에 따라 생성되는 형태의 변화도 포함하는 것이다. 또한, 본 발명에 도시된 각 도면에 있어서 각 구성 요소들은 설명의 편의를 고려하여 다소 확대 또는 축소되어 도시된 것일 수 있다.In addition, the embodiments described herein will be described with reference to perspective, sectional, side view, and / or schematic views that are ideal illustrations of the present invention. Thus, the shape of the illustrations may be modified by manufacturing techniques and / or tolerances. Accordingly, the embodiments of the present invention are not limited to the specific forms shown, but also include changes in the shapes that are generated according to the manufacturing process. In addition, in the drawings of the present invention, each constituent element may be somewhat enlarged or reduced in view of convenience of explanation.

이하, 첨부한 도면을 참조로 본 발명의 실시예에 따른 전자식 주차 브레이크 시스템(EPB)에 대해 상세하게 설명하도록 한다.
Hereinafter, an electronic parking brake system (EPB) according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 전자식 주차 브레이크 시스템(100)은 모터(M)를 선택적으로 정역회전시키도록 구성된 제1 및 제2구동칩(110,120) 및 제1 및 제2구동칩(110,120)의 오작동시 제1 및 제2구동칩(110,120)을 대체하여 모터(M)를 구동 제어하는 제1 및 제2예비 구동칩(130,140)을 포함할 수 있다.
1, an electronic parking brake system 100 according to an embodiment of the present invention includes first and second driving chips 110 and 120 configured to selectively and regularly rotate a motor M, And first and second preliminary driving chips 130 and 140 for replacing the first and second driving chips 110 and 120 when the first and second driving chips 110 and 120 malfunction.

제1구동칩(110)은 제1HS FET(111)(HighSide FET)와 제1LS FET(112)(LowSide Fet)를 포함하여 제어부(미도시)의 구동신호에 대응하여 제1HS FET(111) 또는 제1LS FET(112)가 선택적으로 On/Off 될 수 있다.
The first driving chip 110 includes a first HS FET 111 and a first LS FET 112 and is connected to a first HS FET 111 or a second HS FET 111 corresponding to a driving signal of a controller The first LS FET 112 can be selectively turned on / off.

제2구동칩(120)은 제2HS FET(121)(HighSide FET)와 제2LS FET(122)(LowSide FET)를 포함하여 제어부(미도시)의 구동신호에 대응하여 제2HS FET(121) 또는 제2LS FET(122)가 선택적으로 On/Off 될 수 있다.
The second driving chip 120 includes a second HS FET 121 and a second LS FET 122 and is connected to the second HS FET 121 or the second HS FET 121 in response to a driving signal of a controller The second LS FET 122 can be selectively turned on / off.

이와 같은 제1 및 제2구동칩(110,120)의 HS/LS FET를 사용하여 주차 브레이크를 작동시키기 위해 모터(M)를 정방향으로 회전시키는 경우, 제1HS FET(111), 제1LS FET(112), 제2HS FET(121) 및 제2LS FET(122)에는 1001의 제어 구동신호가 입력될 수 있고, 이와 반대로 모터(M)를 역방향으로 회전시키는 경우, 제1HS FET(111), 제1LS FET(112), 제2HS FET(121) 및 제2LS FET(122)에는 0110의 제어 구동신호가 입력될 수 있다.
When the motor M is rotated in the forward direction to operate the parking brake using the HS / LS FETs of the first and second driving chips 110 and 120, the first HS FET 111, the first LS FET 112, The second HS FET 121 and the second LS FET 122 can receive the control driving signal of 1001. Conversely, when the motor M is rotated in the opposite direction, the first HS FET 111, the first LS FET 112), the second HS FET 121 and the second LS FET 122 may be inputted with a control drive signal of 0110. [

즉, 모터(M)를 구동시키기 위한 제어 구동신호 1001과 0110 및 모터(M)가 비구동되는 제어 구동신호(0001,0010,0100,1000)에 대해 반응하는 제1 및 제2구동칩(110,120)의 개별 FET의 상태를 확인하여 각 FET의 파손 여부를 확인할 수 있다.
That is, the control driving signals 1001 and 0110 for driving the motor M and the first and second driving chips 110 and 120 (first and second driving chips) 110 and 110, which react to the control driving signals 0001, ) Of each FET can be checked to check whether or not each FET is damaged.

제1예비 구동칩(130)과 제2예비 구동칩(140)은 실질적으로 제1구동칩(110) 및 제2구동칩(120)과 동일한 구성 및 동작을 하도록 구성되어 있으며, 제1예비 구동칩(130)은 제1예비 HS FET(131)와 제1예비 LS FET(132)를 포함하고, 제2예비 구동칩(140)은 제2예비 HS FET(141)와 제2예비 LS FET(142)를 포함할 수 있다.
The first preliminary driving chip 130 and the second preliminary driving chip 140 are configured to have substantially the same configuration and operation as those of the first driving chip 110 and the second driving chip 120, The chip 130 includes a first preliminary HS FET 131 and a first preliminary LS FET 132 and a second preliminary drive chip 140 includes a second preliminary HS FET 141 and a second preliminary LS FET 132. [ 142).

이와 같은 제1 및 제2예비 구동칩(130,140)은 제1구동칩(110) 또는 제2구동칩(120)의 파손이나 오작동시 제1 또는 제2구동칩(110,120)을 대체하여 구동될 수 있으며, 에러 검출방법에 따라 개별 FET의 에러가 검출될 수 있기 때문에 개별 FET를 대체하여 예비 구동칩의 예비 FET가 각각 사용될 수 있다.
The first and second preliminary driving chips 130 and 140 can be driven by replacing the first or second driving chips 110 and 120 when the first driving chip 110 or the second driving chip 120 breaks or malfunctions. And spare FETs of the preliminary driving chips can be used instead of individual FETs, respectively, since errors of individual FETs can be detected according to the error detection method.

본 실시예의 전자식 주차 브레이크 시스템(100)은 제1 및 제2구동칩(110,120)의 각 FET에 검증펄스를 인가하여 모터(M)의 구동 또는 비구동 상태를 확인하여 각 FET의 에러를 검출할 수 있다.
The electronic parking brake system 100 of the present embodiment applies a verify pulse to each FET of the first and second drive chips 110 and 120 to check whether the motor M is driven or not, .

우선, 모터(M)를 비구동시키는 검증펄스(0001)을 제1 및 제2구동칩(110,120)에 인가하였을 경우 모터(M)가 구동된다면 제1구동칩(110)의 제1HS FET(111)가 오작동하고 있음을 확인할 수 있고 이후 모터(M)를 구동시키는 구동펄스(1001)을 제1 및 제2구동칩(110,120)에 인가하였을 경우 모터(M)가 비구동된다면 제1HS FET(111)가 오작동하고 있음이 확실하게 검증될 수 있다.First, if the motor M is driven when the verify pulse 0001 for disabling the motor M is applied to the first and second drive chips 110 and 120, the first HS FET 111 of the first drive chip 110 If the motor M is not driven when the driving pulse 1001 for driving the motor M is applied to the first and second driving chips 110 and 120, the first HS FET 111 ) Is malfunctioning can be reliably verified.

즉, 제1구동칩(110)의 제1HS FET(111)는 검증펄스(0001)과 구동펄스(1001)에 의해 오작동 여부가 판별될 수 있고, 이때 제1구동칩(110)의 제1HS FET(111)의 오작동이 확인되면 제1예비 구동칩(130)의 제1예비 HS FET(131)가 활성화되어 제1HS FET(111)를 대체할 수 있다.
That is, the first HS FET 111 of the first driving chip 110 can be judged as a malfunction by the verification pulse 0001 and the driving pulse 1001, and at this time, the first HS FET 111 of the first driving chip 110, The first preliminary HS FET 131 of the first preliminary driving chip 130 is activated to replace the first HS FET 111.

다음, 모터(M)를 비구동시키는 검증펄스(0010)을 제1 및 제2구동칩(110,120)에 인가하였을 경우 모터(M)가 구동된다면 제1구동칩(110)의 제1LS FET(112)가 오작동하고 있음을 확인할 수 있고 이후 모터(M)를 구동시키는 구동펄스(0110)을 제1 및 제2구동칩(110,120)에 인가하였을 경우 모터(M)가 비구동된다면 제1LS FET(112)가 오작동하고 있음이 확실하게 검증될 수 있다.Next, if the motor M is driven when the verify pulse 0010 for disabling the motor M is applied to the first and second driving chips 110 and 120, the first LS FET 112 of the first driving chip 110 If the motor M is not driven when the drive pulse 0110 for driving the motor M is applied to the first and second driving chips 110 and 120, the first LS FET 112 ) Is malfunctioning can be reliably verified.

즉, 제1구동칩(110)의 제1LS FET(112)는 검증펄스(0010)과 구동펄스(0110)에 의해 오작동 여부가 판별될 수 있고, 이때 제1구동칩(110)의 제1LS FET(112)의 오작동이 확인되면 제1예비 구동칩(130)의 제1예비 LS FET(132)가 활성화되어 제1LS FET(112)를 대체할 수 있다.
That is, the first LS FET 112 of the first driving chip 110 can be judged as a malfunction by the verification pulse 0010 and the driving pulse 0110, and at this time, the first LS FET 112 of the first driving chip 110, The first preliminary LS FET 132 of the first preliminary driving chip 130 is activated to replace the first LS FET 112.

다음, 모터(M)를 비구동시키는 검증펄스(0100)을 제1 및 제2구동칩(110,120)에 인가하였을 경우 모터(M)가 구동된다면 제2구동칩(120)의 제2HS FET(121)가 오작동하고 있음을 확인할 수 있고 이후 모터(M)를 구동시키는 구동펄스(0110)을 제1 및 제2구동칩(110,120)에 인가하였을 경우 모터(M)가 비구동된다면 제2HS FET(121)가 오작동하고 있음이 확실하게 검증될 수 있다.Next, if the motor M is driven when the verify pulse 0100 for driving the motor M is applied to the first and second driving chips 110 and 120, the second HS FET 121 of the second driving chip 120 If the motor M is not driven when the driving pulse 0110 for driving the motor M is applied to the first and second driving chips 110 and 120, the second HS FET 121 ) Is malfunctioning can be reliably verified.

즉, 제2구동칩(120)의 제2HS FET(121)는 검증펄스(0100)과 구동펄스(0110)에 의해 오작동 여부가 판별될 수 있고, 이때 제2구동칩(120)의 제2HS FET(121)의 오작동이 확인되면 제2예비 구동칩(140)의 제2예비 HS FET(141)가 활성화되어 제2HS FET(121)를 대체할 수 있다.
That is, the second HS FET 121 of the second driving chip 120 can be judged whether the malfunction is caused by the verification pulse 0100 and the driving pulse 0110, and the second HS FET 121 of the second driving chip 120, The second preliminary HS FET 141 of the second preliminary driving chip 140 is activated to replace the second HS FET 121. In this case,

다음, 모터(M)를 비구동시키는 검증펄스(1000)을 제1 및 제2구동칩(110,120)에 인가하였을 경우 모터(M)가 구동된다면 제2구동칩(120)의 제2LS FET(122)가 오작동하고 있음을 확인할 수 있고 이후 모터(M)를 구동시키는 구동펄스(1001)을 제1 및 제2구동칩(110,120)에 인가하였을 경우 모터(M)가 비구동된다면 제2LS FET(122)가 오작동하고 있음이 확실하게 검증될 수 있다.Next, if the motor M is driven when the verify pulse 1000 for driving the motor M is applied to the first and second driving chips 110 and 120, the second LS FET 122 of the second driving chip 120 If the motor M is not driven when the driving pulse 1001 for driving the motor M is applied to the first and second driving chips 110 and 120, the second LS FET 122 ) Is malfunctioning can be reliably verified.

즉, 제2구동칩(120)의 제2LS FET(122)는 검증펄스(1000)과 구동펄스(1001)에 의해 오작동 여부가 판별될 수 있고, 이때 제2구동칩(120)의 제2LS FET(122)의 오작동이 확인되면 제2예비 구동칩(140)의 제2예비 LS FET(142)가 활성화되어 제2LS FET(122)를 대체할 수 있다.
That is, the second LS FET 122 of the second driving chip 120 can be judged as a malfunction by the verification pulse 1000 and the driving pulse 1001, and at this time, the second LS FET 122 of the second driving chip 120, The second preliminary LS FET 142 of the second preliminary driving chip 140 is activated to replace the second LS FET 122.

상술한 바와 같은 본 발명의 전자식 주차 브레이크 시스템(100)은 FET의 에러 검출 후, 도 2와 같은 방식으로 구동 제어될 수 있다.The electronic parking brake system 100 of the present invention as described above can be driven and controlled in the same manner as in Fig. 2 after error detection of the FET.

도 2에 도시한 바와 같이, 전자식 주차 브레이크 시스템(100)의 제어방법은 FET 소자 에러 검출단계(S110), 에러 검출시 제1 및 제2구동칩을 비활성화하고 제1 및 제2예비 구동칩을 활성화하는 단계(S120), 현재 EPB의 상태를 확인한 후 주차 브레이크를 해제하는 단계(S130)를 포함할 수 있다.As shown in FIG. 2, the control method of the electronic parking brake system 100 includes an FET device error detection step (S110), deactivation of the first and second driving chips at the time of error detection and control of the first and second preliminary driving chips (S120), a step of checking the current EPB state and releasing the parking brake (S130).

FET 소자 에러 검출단계(S110)는 상술한 바와 같이 모터를 구동시키는 구동펄스와 비구동시키는 검증펄스를 제1 및 제2구동칩(110,120)에 인가하여 각 FET의 에러를 검출할 수 있다.The FET device error detection step S110 may detect the error of each FET by applying a drive pulse for driving the motor and a verify pulse for driving the first and second driving chips 110 and 120 as described above.

제1 및 제2예비 구동칩 활성화 단계(S120)는 에러가 검출된 FET를 구비한 제1 또는 제2구동칩(110,120)을 비활성화하고 비활성화된 제1 또는 제2구동칩(110,120)을 대체하기 위한 제1 또는 제2예비 구동칩(130,140)을 활성화하여 사용할 수 있다.The first and second preliminary driving chip activating step S120 may be performed by deactivating the first or second driving chips 110 and 120 having the FET in which an error is detected and replacing the deactivated first or second driving chips 110 and 120 The first or second preliminary driving chips 130 and 140 may be activated and used.

주차 브레이크를 해제하는 단계(S130)는 EPB의 현재 상태를 확인하여 현재 EPB가 주차 브레이크를 작동시키는 경우 운전자의 스위치 입력을 체크하여 주차 브레이크의 해제 명령이 입력될 시 제1 및 제2예비 구동칩(130,140)에 모터의 역회전에 해당하는 구동 제어신호 0110을 인가할 수 있다.
The step of releasing the parking brake (S130) checks the current state of the EPB. When the current EPB activates the parking brake, the switch input of the driver is checked. When the parking brake release command is inputted, It is possible to apply the drive control signal 0110 corresponding to the reverse rotation of the motor to the control units 130 and 140.

이상, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조로 본 발명의 전자식 주차 브레이크 시스템에 대하여 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구의 범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구의 범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or essential characteristics thereof. It will be understood that the invention can be practiced in a specific form. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the foregoing detailed description, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and the equivalents thereof are included in the scope of the present invention Should be interpreted.

Claims (5)

모터를 선택적으로 정역회전시키도록 구성된 제1 및 제2구동칩; 및
상기 제1 및 제2구동칩의 오작동시 상기 제1 및 제2구동칩을 대체하여 상기 모터를 구동 제어하는 제1 및 제2예비 구동칩을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자식 주차 브레이크 시스템.
A first and a second driving chip configured to selectively rotate the motor selectively and reversely; And
And first and second preliminary driving chips for drivingly controlling the motor by replacing the first and second driving chips when the first and second driving chips malfunction.
청구항 1에 있어서,
상기 제1구동칩은 상호 선택적으로 On/Off되는 제1HS FET와 제1LS FET포함하고 상기 제2구동칩은 상호 선택적으로 On/Off되는 제2HS FET와 제2LS FET를 포함하며, 상기 제1HS FET와 제2LS FET가 On되면 상기 모터를 정회전시켜 주차 브레이크가 작동되고 상기 제1LS FET와 제2HS FET가 On되면 상기 모터를 역회전시켜 주차 브레이크를 해제시키는 것을 특징으로 하는 전자식 주차 브레이크 시스템.
The method according to claim 1,
The first driving chip includes a first HS FET and a first LS FET that are selectively turned on / off, and the second driving chip includes a second HS FET and a second LS FET that are selectively turned on / off, And when the second LS FET is on, the motor is rotated forward to operate the parking brake, and when the first LS FET and the second HS FET are turned on, the motor is reversely rotated to release the parking brake.
청구항 2에 있어서,
상기 제1예비 구동칩은 제1예비 HS FET와 제1예비 LS FET를 포함하고 상기 제2예비 구동칩은 제2예비 HS FET와 제2예비 LS FET를 포함하며, 상기 제1예비 구동칩과 제2예비 구동칩은 상기 제1구동칩 또는 제2구동칩의 오작동시 활성화되는 것을 특징으로 하는 전자식 주차 브레이크 시스템.
The method of claim 2,
The first preliminary driving chip includes a first preliminary HS FET and a first preliminary LS FET and the second preliminary driving chip includes a second preliminary HS FET and a second preliminary LS FET, And the second preliminary driving chip is activated when the first driving chip or the second driving chip malfunctions.
청구항 3에 있어서,
상기 제1 및 제2구동칩은 구동펄스(1001,0110)에 의해 상기 모터를 정역회전시키며, 상기 구동펄스와 검증펄스(0001,0010,0100,1000)에 의해 오작동이 검출되는 것을 특징으로 하는 전자식 주차 브레이크 시스템.
The method of claim 3,
Wherein the first and second driving chips rotate the motor in normal and reverse directions by drive pulses (1001, 0110), and a malfunction is detected by the drive pulse and the verify pulse (0001, 0000, 0, 100, 1000) Electronic parking brake system.
청구항 4에 있어서,
상기 제1HS FET는 구동펄스(1001)과 검증펄스(0001)에 의해, 상기 제1LS FET는 구동펄스(0110)과 검증펄스(0010)에 의해, 상기 제2HS FET는 구동펄스(0110)과 검증펄스(0100)에 의해, 상기 제2LS FET는 구동펄스(1001)과 검증펄스(1000)에 의해 오작동이 판별되는 것을 특징으로 하는 전자식 주차 브레이크 시스템.







The method of claim 4,
The first HS FET is driven by a drive pulse 1001 and a verify pulse 0001 and the first LS FET is driven by a drive pulse 0110 and a verify pulse 0010, And the malfunction of the second LS FET is discriminated by the drive pulse (1001) and the verify pulse (1000) by the pulse (0100).







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WO2022131856A1 (en) * 2020-12-17 2022-06-23 주식회사 만도 Motor driving circuit for electric parking brake system

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