KR20150034465A - Measuring System Including Transparency Measurement Device And Measurement Method Of Transparency - Google Patents

Measuring System Including Transparency Measurement Device And Measurement Method Of Transparency Download PDF

Info

Publication number
KR20150034465A
KR20150034465A KR20130114583A KR20130114583A KR20150034465A KR 20150034465 A KR20150034465 A KR 20150034465A KR 20130114583 A KR20130114583 A KR 20130114583A KR 20130114583 A KR20130114583 A KR 20130114583A KR 20150034465 A KR20150034465 A KR 20150034465A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
transparency
pattern
data
measurement
transparent display
Prior art date
Application number
KR20130114583A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102129973B1 (en
Inventor
김푸름
김욱성
안지영
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020130114583A priority Critical patent/KR102129973B1/en
Publication of KR20150034465A publication Critical patent/KR20150034465A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102129973B1 publication Critical patent/KR102129973B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

The present invention relates to a measuring system comprising: a transparency measuring apparatus which can assess a transparency grade; a background for measuring, used as data for an assessment to the transparency measuring apparatus, displaying one or more among a spiral pattern where a first through N pattern area is divided, a circular pattern where circles of which the thickness of a line and a separation gap are equal are displayed, a circular pattern where circles of which the thickness of a line and the separation gap are wide are sequentially displayed in a direction from the external surface to the internal surface, or a figure displayed with the three primary colors of light; a transparent display which is located between the transparency measuring apparatus and the background for measuring and is fixed by a support apparatus; and a light source apparatus radiating light in order to make the transparency measuring apparatus measure the background for measuring and the transparent display.

Description

투명도 측정장치를 포함하는 측정 시스템 및 투명도 측정 방법{Measuring System Including Transparency Measurement Device And Measurement Method Of Transparency}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a measurement system including a transparency measuring device and a transparency measuring method,

본 발명은 투명도 측정장치를 포함하는 측정 시스템 및 투명도 측정 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a measurement system including a transparency measurement apparatus and a transparency measurement method.

디스플레이 장치(Display Device)는 일반적으로 일정 신호에 의한 전압 인가에 따라 화상을 표현하는 장치를 뜻하는 것으로, 대표적으로 액정 디스플레이 장치(Liquid Crystal Display Divice)와 유기 발광 디스플레이 장치(Organic Light Emitting Diode Divice)가 있다.A display device generally refers to a device that displays an image according to a voltage applied by a predetermined signal, and typically includes a liquid crystal display device and an organic light emitting diode (OLED) device, .

이러한 디스플레이 장치는 두 개의 투명 기판 내부에 회로를 형성한 디스플레이 패널(Display Panel)을 구비하는 것으로, 화상을 표현하는 면의 반대편에 케이스를 씌워 사용하는 것이 일반적이었으나, 근래에 들어 케이스가 없고, 디스플레이 패널로만 형성된 디스플레이 장치를 수족관, 또는 유리벽 등 종래의 투명한 기재를 사용하는 사물을 대체하여 시각적 효과를 도모하는 기술이 제안되고, 이를 인정받아 투명 디스플레이(Transparent Display)로 명명된 신기술로 분류되어 연구되고 있다.Such a display device has a display panel in which a circuit is formed in two transparent substrates. In general, it has been generally used to cover a case on the opposite side of a surface on which an image is displayed. In recent years, A technique for replacing objects using a conventional transparent substrate, such as an aquarium or a glass wall, with a display device formed only of a panel has been proposed and recognized as a new technology called a transparent display (Transparent Display) .

이와 같은 투명 디스플레이는 일부 실용화 되어 광고에 사용되고 있으며, 추후 다양한 분야에 적용될 수 있어 근래에 들어 주목받고 있다.Such a transparent display is partially used for advertising, and can be applied to various fields in the future.

한편, 이러한 투명 디스플레이는 이를 통과하는 빛 뿐만 아니라 투명 디스플레이 후면에 위치한 물체의 상을 얼마나 선명하게 투과시킬 수 있는지에 따라 사용할 수 있는 분야가 나뉠 수 있으나 정확한 측정 방법 및 기준이 정해지지 않았기 때문에 투과된 빛의 휘도만을 측정하여 이를 투명 디스플레이의 투명도 기준으로 삼았다.The transparent display can be used not only for the light passing through it but also depending on how clearly the image of the object located on the rear side of the transparent display can be transmitted. However, since the accurate measurement method and criteria are not determined, Was measured as the transparency standard of the transparent display.

이 때문에 빛의 투과율이 높아도 광 분산도 및 투명 디스플레이 자체의 편광 특성을 비롯한 빛의 왜곡 현상이 고려되지 않아 높은 등급을 받은 투명 디스플레이의 후면에서 비춰지는 물체의 상과 관측자가 인식하는 물체의 상에 대한 기대가 서로 상이한 문제가 발생함에 따라 투명도 등급의 실효성이 낮아지는 문제가 있다.
Therefore, even if the light transmittance is high, the distortion of the light including the optical dispersion and the polarization characteristic of the transparent display itself is not taken into consideration, so that the image of the object illuminated from the rear of the transparent display of high rating and the image of the object recognized by the observer There is a problem in that the transparency grade becomes less effective as the expectation of the transparency is different.

본 발명은, 투명 디스플레이의 특성을 고려하지 않고 단순히 투명 디스플레이를 통과한 빛의 휘도를 기준으로 투명도 등급을 평가하는 종래의 측정 방법에 의해 투명도 등급의 실효성이 낮아지는 문제를 해결하고자 한다.
The present invention solves the problem that the effectiveness of the transparency grade is lowered by a conventional measuring method that evaluates the transparency rating based on the brightness of light passing through the transparent display without considering the characteristics of the transparent display.

상기한 문제를 해결하기 위하여, 본 발명은, 투명도 등급을 평가할 수 있는 투명도 측정장치와; 상기 투명도 측정장치에 평가를 위한 데이터로 사용되는 것으로, 제 1 내지 N 패턴 영역이 구분된 선형 패턴, 또는 선의 굵기와 이격 간격이 일정한 원이 다수 표시된 원형 패턴, 또는 외면에서 내면으로 향하는 방향으로 선의 굵기와 이격 간격이 넓은 것부터 순차적으로 표시된 원형 패턴, 또는 빛의 삼원색으로 표현된 도형 중 어느 하나 이상이 표시된 측정용 배경과; 상기 투명도 측정장치와 상기 측정용 배경 사이에 위치하여 지지장치로 고정되는 투명 디스플레이와; 상기 투명도 측정장치가 상기 측정용 배경 및 상기 투명 디스플레이를 측정할 수 있도록 빛을 조사하는 광원장치를 포함하는 측정 시스템을 제공한다.In order to solve the above problems, the present invention provides a transparency measuring apparatus comprising: As the data for evaluation in the transparency measurement apparatus, a linear pattern in which the first to N-pattern regions are divided, or a circle pattern in which a plurality of circles having a constant spacing between the line thickness and the line are constant, A measurement background in which at least one of a thickness and a spacing interval, a circular pattern sequentially displayed, or a figure represented by three primary colors of light is displayed; A transparent display positioned between the transparency measurement device and the measurement background and fixed to the support device; And a light source device for irradiating light for allowing the transparency measurement device to measure the background for measurement and the transparent display.

그리고, 상기 투명도 측정장치는 투명도 등급 평가를 위한 연산을 수행하는 제어부와, 상기 제어부가 투명도 등급 평가를 위해 연산을 수행하도록 상기 데이터를 생성하는 카메라와, 상기 카메라에서 생성된 상기 데이터를 저장하는 저장부를 구비하는 것을 특징으로 한다.The transparency measuring apparatus includes a controller for performing an operation for evaluating transparency grade, a camera for generating the data to perform an operation for evaluating transparency grade, a storage for storing the data generated by the camera, And a step of forming a pattern.

그리고, 상기 투명도 측정장치와, 상기 광원과, 상기 측정용 배경과, 상기 투명 디스플레이를 고정하는 지지장치 중 어느 하나, 또는 복수에 이동수단을 더욱 구비하는 것을 특징으로 한다.It is further characterized in that the apparatus further comprises one or more of the transparency measuring device, the light source, the background for measurement, and the supporting device for fixing the transparent display.

한편, 본 발명은, 투명도 등급을 평가할 수 있는 투명도 측정장치와, 상기 투명도 측정장치에 평가를 위한 데이터로 사용되는 것으로, 제 1 내지 N 패턴 영역이 구분된 선형 패턴, 또는 선의 굵기와 이격 간격이 일정한 원이 다수 표시된 원형 패턴, 또는 외면에서 내면으로 향하는 방향으로 선의 굵기와 이격 간격이 넓은 것부터 순차적으로 표시된 원형 패턴, 또는 빛의 삼원색으로 표현된 도형 중 어느 하나 이상이 표시된 측정용 배경과, 상기 투명도 측정장치와 상기 측정용 배경 사이에 위치하여 지지장치로 고정되는 투명 디스플레이와, 상기 투명도 측정장치가 상기 측정용 배경 및 상기 투명 디스플레이를 측정할 수 있도록 빛을 조사하는 광원장치를 포함하는 측정 시스템을 이용한 투명도 측정 방법에 있어서, 제 1 내지 제 N 패턴 영역에 대한 기준 데이터와 취득 데이터를 생성하는 측정 단계와; 상기 제 1 내지 제 N 패턴 영역 중 선택된 제 n 패턴 영역에 대하여, 상기 취득 데이터와 상기 기준 데이터의 명암도를 분석하여 기준 패턴 데이터와 취득 패턴 데이터로 변환하는 분석 단계와; 상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 기준 패턴 데이터 및 상기 취득 패턴 데이터 각각의 명암도를 비교하는 평가 단계와; 상기 평가 단계에서 출력된 판정 데이터를 출력하는 판정 단계를 포함하는 투명도 측정 방법을 제공한다.On the other hand, the present invention relates to a transparency measuring device capable of evaluating the degree of transparency, and a transparency measuring device, which is used as data for evaluation in the transparency measuring device, in which a linear pattern in which first to N- A background for measurement in which at least one of a circular pattern having a plurality of regular circles or a circular pattern sequentially displaying a thickness and a spacing interval of a line in a direction from the outer surface toward the inner surface or a figure represented by three primary colors of light is displayed; A transparent display that is positioned between the transparency measurement device and the measurement background and fixed to the support device; and a light source device that irradiates light to enable the transparency measurement device to measure the measurement background and the transparent display In the first to Nth pattern regions, A measurement step of generating data and acquisition data; An analysis step of analyzing the acquired data and the intensity of the reference data for the selected n-th pattern area of the first to N-th pattern areas and converting the analyzed data into reference pattern data and acquired pattern data; An evaluation step of comparing intensity of each of the reference pattern data and the acquired pattern data with respect to the n-th pattern area; And a determination step of outputting the determination data output in the evaluation step.

그리고, 상기 기준 패턴 데이터는 유리 기판의 후면에 위치하는 상기 측정용 배경을 촬영하여 변환된 것을 포함한다.The reference pattern data includes the image obtained by photographing the background for measurement located on the rear surface of the glass substrate.

그리고, 상기 평가 단계는, 상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 취득 패턴 데이터의 명암도가 상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 기준 데이터의 명암도에 비해 낮을 경우 상기 판정 단계로 상기 판정 데이터를 출력하는 단계와;상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 취득 패턴 데이터의 명암도가 상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 기준 데이터의 명암도와 유사할 경우 상기 분석 단계를 반복하는 단계를 포함한다.The evaluation step may include outputting the determination data to the determination step when the intensity of the acquired pattern data for the n-th pattern area is lower than the lightness of the reference data for the n-th pattern area; And repeating the analyzing step when the intensity of the acquired pattern data for the n-th pattern area is similar to the intensity of the reference data for the n-th pattern area.

그리고, 상기 분석 단계를 반복하는 단계는, 제 (n+1) 패턴 영역에 대한 취득 패턴 데이터 및 기준 패턴 데이터 각각의 명암도를 분석하는 것이 특징이다.The step of repeating the analysis step is characterized by analyzing the intensity of each of the acquired pattern data and the reference pattern data for the (n + 1) -th pattern area.

그리고, 상기 분석 단계를 반복하는 단계는, 상기 투명 디스플레이를 상기 투명도 측정장치의 방향으로 이동시킨 후, 상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 취득 패턴 데이터를 재생성하는 것이 특징이다.The repeating of the analysis step is characterized in that after the transparent display is moved in the direction of the transparency measurement device, the acquisition pattern data for the n-th pattern area is regenerated.

그리고, 상기 판정 단계는 상기 투명도 측정장치의 저장부에서 등급 평가 기준을 받아와 상기 평가 단계에서 출력된 상기 판정 데이터를 대입하는 단계를 더욱 포함한다.The determining step further includes a step of receiving a rating evaluation criterion in a storage unit of the transparency measurement apparatus and substituting the determination data output in the evaluation step.

그리고, 상기 제 n 패턴 영역은 제 1 패턴 영역부터 오름차순으로 측정되거나, 제 N 패턴 영역부터 내림차순으로 측정되는 것을 포함한다.
The n-th pattern region may be measured in ascending order from the first pattern region, or may be measured in descending order from the Nth pattern region.

본 발명에 따른 투명도 측정장치를 포함하는 측정 시스템 및 투명도 측정 방법은 빛의 휘도뿐만 아니라 투명 디스플레이를 통과한 물체의 상에 대한 선명도를 비롯하여 투명 디스플레이를 투과한 빛의 분산도 및 투명 디스플레이의 편광 특성 등을 고려한 측정 방법과 이를 위한 측정 시스템 및 등급을 평가할 수 있는 투명도 측정장치를 제공함으로써 투명 디스플레이의 투명도 등급의 실효성을 높일 수 있다.
The measurement system and the transparency measuring method including the transparency measuring apparatus according to the present invention can be applied not only to the luminance of light but also to the clarity of the image of the object passing through the transparent display and the dispersion of light transmitted through the transparent display, And transparency measuring device for evaluating the degree of transparency of the transparent display can be improved.

도 1는 본 발명의 실시예에 따른 측정 시스템을 나타낸 구성도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치의 등급 산출 과정을 나타낸 알고리즘이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치 및 이를 포함하는 측정 시스템에 따라 촬영되어 등급이 평가된 순간에 대한 사진을 나열한 것이다.
1 is a block diagram illustrating a measurement system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an algorithm illustrating a process of calculating a degree of transparency measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a photograph showing photographs taken at a moment when the degree of transparency is measured and evaluated according to the transparency measuring apparatus and the measuring system including the transparency measuring apparatus according to the embodiment of the present invention.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치를 포함하는 측정 시스템 및 투명도 측정 방법을 설명하도록 한다.Hereinafter, a measuring system and a transparency measuring method including the transparency measuring apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

도 1는 본 발명의 실시예에 따른 측정 시스템을 나타낸 구성도이다.1 is a block diagram illustrating a measurement system according to an embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치의 측정 시스템은 시청 위치 및 투명 디스플레이(110) 후면의 피사체의 거리가 변경될 수 있는 환경에 대해서도 적용 가능한 것으로, 투명도 측정장치(101)와, 지지장치(115)에 고정된 투명 상태의 투명 디스플레이(110)와, 휘도를 조절할 수 있는 광원장치(130)와, 다수의 패턴을 표시하는 측정용 배경(120)을 포함하며, 투명도 측정장치(101) 및 지지장치(115) 각각은 필요에 따라 이동 수단(105a, 105b)을 더욱 구비할 수 있다.1, the measurement system of the transparency measurement apparatus according to the embodiment of the present invention can be applied to an environment in which the viewing position and the distance of the subject on the back of the transparent display 110 can be changed. A transparent display 110 in a transparent state fixed to the supporting device 115, a light source device 130 capable of adjusting the luminance, and a measurement background 120 displaying a plurality of patterns, The transparency measuring device 101 and the supporting device 115 may further include moving means 105a and 105b as necessary.

측정용 배경(120)은 굵기와 이격 간격이 서로 다른 다수의 선형 및 원형 패턴이나 빛의 삼원색이 도시되는 인쇄물을 사용할 수 있으며, 경우에 따라 상기 선형 및 원형 패턴과 빛의 삼원색을 표현할 수 있는 디스플레이 장치가 사용될 수도 있다.The measurement background 120 may include a plurality of linear and circular patterns having different thicknesses and spacing, or a printed material having three primary colors of light. In some cases, the linear and circular patterns and the display The device may also be used.

특히, 측정용 배경(120)에 도시된 각각의 패턴들은 선, 또는 원을 이루는 둘레의 굵기와 이격된 간격이 순차적으로 좁아지게 배열할 수 있는데, 본 발명의 실시예에서는 선의 굵기와 이격된 간격이 순차적으로 정렬된 제 1 내지 제 N 패턴 영역을 표시하는 것을 예로 들어 설명하도록 한다.In particular, each of the patterns shown in the measurement background 120 may be arranged in such a manner that the thickness of the line or the circumference of the circle and the spaced distance are sequentially narrowed. In the embodiment of the present invention, the thickness of the line and the spacing And the first to N-th pattern regions arranged in this order are displayed.

이때, 상기 제 1 내지 제 N 패턴 영역은, 제 1 패턴 영역에 가까워질수록 선의 굵기와 각 패턴의 이격 거리가 넓어지고, 제 N 패턴 영역에 가까워질수록 선의 굵기와 각 패턴의 이격 거리가 좁아지도록 배열된 특징을 나타낸다.At this time, as the first to Nth pattern regions become closer to the first pattern region, the line thickness and the spacing distance between the patterns become wider, and the closer to the Nth pattern region, the narrower the line width and the narrower the distance between the patterns And the like.

투명도 측정장치(101)는 측정 및 분석과 판정을 수행하기 위해 일정한 알고리즘을 수행하는 제어부(미도시)와, 비교를 위한 데이터 및 판정 기준을 저장하는 저장부(미도시)와, 비교를 위한 데이터를 생성할 수 있는 카메라(미도시)가 서로 연결된 것이다.The transparency measuring apparatus 101 includes a control unit (not shown) that performs a predetermined algorithm to perform measurement, analysis, and determination; a storage unit (not shown) that stores data and determination criteria for comparison; (Not shown) capable of generating images are connected to each other.

투명도 측정장치(101)는 측정용 배경(120)과 제 1 거리(d1)만큼 이격되어 있으며, 이들의 간격은 더욱 상세한 측정을 위해 투명도 측정장치(101)를 이동시켜 변경할 수 있다.The transparency measuring device 101 is spaced apart from the background for measurement 120 by a first distance d1 and the interval between them can be changed by moving the transparency measuring device 101 for more detailed measurement.

투명도 측정장치(101)와 투명 디스플레이(110)의 간격을 나타내는 제 2 거리(d2)와, 투명 디스플레이(110)와 측정용 배경(120)의 간격을 나타내는 제 3 거리(d3)는 제 2 및 제 3 거리(d1, d2)의 합이 제 1 거리(d1)를 넘지 않는 한도 내에서 변경될 수 있는 것으로, 상기 투명도 측정장치(101) 및 투명 디스플레이(110), 측정용 배경(120)은 일 직선상에서 위치하는 것이 바람직하다.A second distance d2 indicating the distance between the transparency measuring device 101 and the transparent display 110 and a third distance d3 indicating the distance between the transparent display 110 and the measurement background 120 are the second distance d2, The transparency measuring device 101 and the transparent display 110 and the measurement background 120 can be changed as long as the sum of the third distances d1 and d2 does not exceed the first distance d1. It is preferable to be located on one straight line.

이와 같은 경우, 투명 디스플레이(110)의 이동에 따라 투명도 측정장치(101)에 측정되는 측정용 배경(120)에 대한 화상이 변하게 되어 다양한 상황에서의 투명도를 측정할 수 있다.In this case, the image of the measurement background 120 measured by the transparency measuring apparatus 101 changes according to the movement of the transparent display 110, and transparency in various situations can be measured.

본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치(101)를 포함하는 측정 시스템의 경우, 하나의 광원장치(130)가 투명 디스플레이(110)의 상부에 위치하는 것에 대하여 기재하고 있으나, 복수의 광원을 요구할 경우 투명도 측정장치(101)와 투명 디스플레이(110)의 사이와 투명 디스플레이(110)와 측정용 배경(120)의 사이 각각에 2개의 광원을 배치할 수 있다.In the case of the measurement system including the transparency measurement apparatus 101 according to the embodiment of the present invention, one light source apparatus 130 is located above the transparent display 110, but a plurality of light sources are required Two light sources may be disposed between the transparency measuring device 101 and the transparent display 110 and between the transparent display 110 and the measurement background 120, respectively.

본 발명의 실시예에 따른 측정 시스템은 투명 디스플레이(110)를 투과하는 빛의 광 분산도와 투명 디스플레이(110) 후면에서 비춰지는 물체의 상에 대한 선명도뿐만 아니라 투명 디스플레이(110) 특성에 따른 빛의 왜곡 등 실 관측시 비춰지는 물체의 상을 측정할 수 있어 관측자가 관측하는 물체의 상에 부합하는 투명도를 평가할 수 있다. The measurement system according to an embodiment of the present invention can measure the light distribution of light transmitted through the transparent display 110 and the sharpness of the image of the object reflected from the rear surface of the transparent display 110, It is possible to measure the image of the object which is illuminated at the time of the actual observation such as the distortion, so that the transparency corresponding to the image of the object observed by the observer can be evaluated.

이는 투명도 측정장치(101)의 알고리즘에 따라 구동하는 것으로, 아래 도 2를 참조하여 설명하도록 한다.
This is driven according to the algorithm of the transparency measurement apparatus 101, and will be described with reference to Fig. 2 below.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치의 등급 산출 과정을 나타낸 알고리즘이다.FIG. 2 is an algorithm illustrating a process of calculating a degree of transparency measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치는 투명도를 관측하여 평가하는 방식으로 구동할 수 있는 제어부(미도시)와, 이를 평가하기 위한 패턴 데이터를 보관하는 저장부(미도시)와, 평가에 사용되는 패턴 데이터를 생성하는 카메라(미도시)를 구비하는 것으로, 제어부(미도시)는 측정 단계(S11)와, 분석 단계(S12)와, 평가 단계(S13)를 거쳐 판정 단계(S14)에서 등급을 판정하는 알고리즘에 따라 구동되는 것이다.2, the transparency measuring apparatus according to an embodiment of the present invention includes a controller (not shown) that can be driven in a manner of observing transparency and evaluating the transparency, and a storage unit And a camera (not shown) that generates pattern data used for evaluation. The control unit (not shown) includes a measuring step S11, an analyzing step S12, and an evaluating step S13 And is driven according to an algorithm for determining the grade in the determination step S14.

측정 단계(S11)에서는 투명도 측정장치(101) 내부에 설치된 카메라(미도시)를 사용함으로써 투명 디스플레이(도 1의 110)를 투과하여 전하결합소자(Charge Coupled Device)에 맺힌 측정용 배경(도 1의 120)의 상을 취득 데이터로 변환한다.In the measurement step S11, a measurement background (FIG. 1 (a)) formed on the charge coupled device (charge coupled device) through the transparent display (110 in FIG. 1) Of image data 120) into acquisition data.

이때, 최초의 측정 단계(S11)에서, 측정용 배경(도 1의 120)에 대한 기준 데이터가 저장부(미도시)에 존재하지 않을 경우, 측정용 배경(도 1의 120)만을 촬영하는 단계를 포함하여 전하결합소자에 맺힌 측정용 배경(도 1의 120)의 상을 기준 데이터로 변환하는 단계를 포함할 수 있다.At this time, if the reference data for the measurement background (120 in FIG. 1) is not present in the storage unit (not shown) in the first measurement step S11, (Reference numeral 120 in FIG. 1) formed on the charge coupled device, including reference voltages, to the reference data.

상기 기준 데이터는 측정용 배경(도 1의 120) 전면에 투명 디스플레이(도 1의 110)를 대신하는 유리 기판을 위치시켜 촬영하는 것으로, 주로 선형 패턴과 원형 패턴, 빛의 삼원색에 대한 정보를 담는 것을 특징으로 한다.The reference data is obtained by placing a glass substrate in place of the transparent display (110 in FIG. 1) on the front surface of the measurement background (120 in FIG. 1) and photographing mainly a linear pattern and a circular pattern, .

이때, 유리 기판을 위치시켜 촬영한 기준 데이터는 투명 디스플레이(도 1의 110)을 위치시켜 촬영한 취득 데이터에 비해 명암도가 월등히 높게 나타나기 때문에 실제 명암도보다 낮게 나타나도록 보정하여 식별 가능한 수준에 대한 정의를 내릴 수 있다.At this time, since the reference data photographed with the glass substrate positioned is much higher in intensity than the acquired data obtained by placing the transparent display (110 in FIG. 1), it is corrected to appear lower than the actual intensity, I can get off.

분석 단계(S12)에서는 동일 패턴 영역에 대한 취득 데이터와 기준 데이터 각각의 명암도를 분석하여 취득 패턴 데이터와 기준 패턴 데이터로 변환하는 단계이다.In the analysis step S12, the intensity of each of the acquired data and the reference data for the same pattern area is analyzed and converted into acquisition pattern data and reference pattern data.

최초의 분석 단계(S12)는, 제 1 패턴 영역에 대한 취득 데이터와 기준 데이터 각각의 명암도를 비교할 수 있도록 수치상으로 변환된 취득 패턴 데이터 및 기준 패턴 데이터를 생성한다.The first analysis step (S12) generates acquired pattern data and reference pattern data which are converted into numerical values so that the obtained data for the first pattern area and the intensity of each of the reference data can be compared.

이때, 선형 패턴에 대한 명암도는 패턴 영역별로 측정된 휘도 분포의 평균을 통하여 정의될 수 있고, 원형 패턴에 대한 명암도는 패턴 영역별로 측정된 휘도 분포의 평균을 통하여 정의될 수 있으며, 빛의 삼원색에 대한 명암도는 일 영역에 대한 계조값으로 정의될 수 있다.In this case, the intensity of the linear pattern can be defined through the average of the luminance distribution measured for each pattern region, and the intensity of the circular pattern can be defined through the average of the luminance distribution measured for each pattern region. The intensity of light can be defined as a tone value for one area.

또한, 제 1 내지 제 N 패턴 영역 이외의 부분에 대해 측정하여 기준 데이터가 나타내는 휘도와 취득 데이터가 나타내는 휘도를 비교함으로써 광 분산 및 투명 디스플레이(도 1의 110)를 투과한 빛에 대한 휘도를 측정하는 단계를 포함할 수 있다.Further, by measuring the portions other than the first to Nth pattern regions and comparing the brightness represented by the reference data with the brightness represented by the acquired data, the brightness for light transmitted through the optical dispersion and transparent display (110 in FIG. 1) is measured .

최초의 평가 단계(S13)는 상기 최초의 분석 단계(S12)에서 생성한 제 1 패턴 영역에 대한 취득 및 기준 패턴 데이터를 비교하는 것으로, 취득 패턴 데이터가 기준 패턴 데이터와 유사하여 제 1 패턴 영역에 도시된 패턴들을 용이하게 식별할 수 있을 경우, 다시 분석 단계(S12)로 돌아가 선의 굵기 및 이격 간격이 제 1 패턴 영역에 비해 비교적 좁은 제 2 패턴 영역에 대한 취득 패턴 데이터와 기준 패턴 데이터를 생성하도록 한다.The first evaluation step S13 compares the acquisition of the first pattern area generated in the first analysis step S12 and the reference pattern data so that the acquired pattern data is similar to the reference pattern data, If the illustrated patterns can be easily identified, the process returns to the analysis step S12 again to generate acquired pattern data and reference pattern data for the second pattern area whose line thickness and spacing are relatively narrow compared to the first pattern area do.

상기 분석 단계(S12)와 평가 단계(S13)를 반복하여, 제 n 패턴 영역(1≤n≤N-1 중 선택된 일 영역)에 대한 취득 패턴 데이터에서 나타내는 명암도가 제 n 패턴 영역에 대한 기준 패턴 데이터에서 나타내는 명암도에 비해 크게 떨어져 제 n 패턴 영역에 도시된 패턴들을 식별하기 어렵다고 판단되거나, 선의 굵기 및 이격 간격이 가장 좁은 제 N 패턴 영역에 대한 취득 패턴 데이터와 기준 패턴 데이터의 차이가 없거나 유사하다고 판단되면 판정 단계(S14)로 넘어간다.The analysis step S12 and the evaluation step S13 are repeated to determine whether the lightness represented by the acquired pattern data for the n-th pattern area (one area selected from among 1? N? N-1) It is judged that it is difficult to identify the patterns shown in the n-th pattern area or the similarity between the acquired pattern data and the reference pattern data for the N-th pattern area in which the line thickness and spacing interval is the narrowest If so, the process goes to the determination step S14.

예를 들어, 제 1 패턴 영역에 대한 취득 패턴 데이터의 명암도가 동일 패턴 영역에 대한 기준 패턴 데이터의 명암도에 비해 높을 경우 분석 단계(S12)로 돌아가 제 2 패턴 영역에 대한 취득 데이터의 명암도와 동일 패턴 영역에 대한 기준 데이터의 명암도를 생성하여 다시 평가 단계(S13)를 진행하는 반면, 제 1 패턴 영역에 대한 취득 패턴 데이터의 명암도가 동일 패턴 영역에 대한 기준 패턴 데이터의 명암도에 비해 낮을 경우 바로 판정 단계(S14)를 진행하게 된다.For example, when the intensity of the acquired pattern data for the first pattern area is higher than the intensity of the reference pattern data for the same pattern area, the process returns to the analysis step S12 to obtain the same pattern as the intensity of the acquired data for the second pattern area If the intensity of the acquired pattern data for the first pattern area is lower than the intensity of the reference pattern data for the same pattern area, (S14).

판정 단계(S14)에서는 평가 단계(S13)에서 출력된 취득 패턴 데이터를 인가받는 것으로, 상기 분석 단계(S12)와 평가 단계(S13)를 반복한 횟수에 따라 판정 데이터를 생성할 수 있으며, 구체적인 등급 평가 기준을 투명도 측정장치(도 1의 101)의 저장부(미도시)로부터 받아와 판정 데이터를 대입함으로써 등급을 설정할 수도 있다.In the determination step S14, the determination pattern data outputted in the evaluation step S13 is received, and determination data can be generated in accordance with the number of times of repeating the analysis step S12 and the evaluation step S13, The rating can be set by receiving the evaluation criterion from the storage (not shown) of the transparency measurement device (101 of FIG. 1) and substituting the judgment data.

이러한 단계를 거친 판정 데이터, 또는 등급은 실 관측에 따른 이격 거리별 투명도 평가 기준이 될 뿐만 아니라, 상기 분석 단계(S12)에서 휘도 및 광 분산도를 측정하는 단계를 더욱 진행하는 경우 다양한 측면에서의 투명도 평가 기준으로 활용할 수 있다.The judgment data or gradation after this step is not only a transparency evaluation standard for the distance according to the actual observation but also a case where the step of measuring the luminance and the light dispersion is further performed in the analysis step S12, It can be used as a transparency evaluation standard.

한편, 상기와 같이 실시예에 따른 투명도 측정장치(도 1의 101)는 고정된 상태에서 촬영한 다수의 패턴 영역을 분석하는 공간상의 측정 방법으로, 이동 상태인 투명 디스플레이(도 1의 110)의 후면에 비춰지는 일 패턴 영역에 대한 상을 연속으로 촬영하여 이를 분석하는 시간상의 측정 방법을 사용할 수도 있다.1) is a spatial measurement method for analyzing a plurality of pattern areas photographed in a fixed state. The transparency measuring apparatus according to an embodiment of the present invention includes a transparent display (110 of FIG. 1) It is also possible to use a temporal measuring method of continuously photographing an image of one pattern area projected on the rear surface and analyzing the image.

이러한 측정 방법에 따라 구동하는 투명도 측정장치(도 1의 101)는 한 위치에서 취득 패턴 데이터를 동일 패턴 영역에 대한 기준 패턴 데이터와 비교함으로써 실 사용시 관측되는 물체의 상에 대한 투명도에 따른 평가 및 등급을 설정할 수 있는 것으로, 이에 따라 평가된 투명 디스플레이(도 1의 110) 및 이를 통과하는 패턴의 상을 촬영한 도 3을 참조하여 설명하도록 한다.
The transparency measuring apparatus (101 in FIG. 1) driven according to this measuring method compares the acquired pattern data with the reference pattern data for the same pattern area at one position, thereby to evaluate and evaluate the transparency of the object, (110 in FIG. 1) and an image of a pattern passing through the transparent display (FIG. 1) will be described with reference to FIG.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치 및 이를 포함하는 측정 시스템에 따라 촬영되어 등급이 평가된 순간에 대한 사진을 나열한 것이다.FIG. 3 is a photograph showing photographs taken at a moment when the degree of transparency is measured and evaluated according to the transparency measuring apparatus and the measuring system including the transparency measuring apparatus according to the embodiment of the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치(도 1의 101)는 측정용 배경(도 1의 120)에 도시된 다수의 패턴을 촬영한 후, 이를 비교하여 등급을 판정하는 것으로, 투명 디스플레이(도 1의 110)를 이동시켜 제 2 거리(도 1의 D2)와 제 3 거리(도 1의 D3)를 10㎝ 간격으로 이동시킬 때마다 측정된 패턴 영역에 대한 사진의 등급이 서로 다른 것을 볼 수 있다.As shown in FIG. 3, a transparency measuring apparatus 101 (FIG. 1) according to an embodiment of the present invention photographs a plurality of patterns shown in a measurement background (120 in FIG. 1) (D2 in Fig. 1) and the third distance (D3 in Fig. 1) are moved at intervals of 10 cm by moving the transparent display (110 in Fig. 1) Are different from each other.

이때, 패턴의 좌측에 기재된 숫자는 실험 당시의 등급 책정을 위해 단순 구분한 단위를 나타내며, 숫자가 높을수록 높은 등급을 나타내는 것이다.At this time, the numbers shown on the left side of the pattern indicate simple units for rating at the time of experiment, and the higher the number, the higher the rating.

투명 디스플레이(도 1의 110)가 측정용 배경(도 1의 120)에 밀착하여 제 3 거리(도 1의 d3)가 0cm인 것을 나타내는 P1의 경우, 제 9 패턴 영역(사진 좌측에 표시된 8, 9의 사이에 위치한 영역)에 대한 취득 패턴 데이터의 명암도가 동일 패턴 영역에 대한 기준 패턴 데이터의 명암도와 유사하여 식별이 용이하나, 제 10 패턴 영역(사진 좌측의 9 하단부의 영역)에 대한 취득 패턴 데이터의 명암도는 동일 패턴 영역에 대한 기준 패턴 데이터의 명암도에 비해 낮아 식별이 어렵다고 판정하여 투명도 측정장치(도 1의 101)는 이를 9등급으로 평가하였다.In the case of P1 indicating that the transparent display (110 in Fig. 1) is close to the measurement background (120 in Fig. 1) and the third distance (d3 in Fig. 1) is 0 cm, the ninth pattern area 9) is similar to the intensity of the reference pattern data for the same pattern area, and the intensity of the acquired pattern data for the tenth pattern area (the area at the lower end of the left side of the photograph) The intensity of the data was lower than that of the reference pattern data for the same pattern area, and it was judged that the discrimination was difficult. The transparency measuring apparatus (101 in FIG.

즉, 투명 디스플레이(도 1의 110)가 측정용 배경(도 1의 120)과 0cm만큼 이격된 경우, 제 9 패턴 영역에 표시된 선의 굵기 및 이격 간격과 같거나 더 넓은 폭을 갖는 선, 또는 이미지에 대해서 식별 가능한 것을 나타내도록 등급을 평가하고 있다.
That is, when the transparent display (110 in FIG. 1) is spaced apart from the background for measurement (120 in FIG. 1) by 0 cm, a line having a width equal to or wider than the thickness and spacing of lines displayed in the ninth pattern area, Are evaluated to indicate that they can be identified.

제 3 거리(도 1의 d3)가 10cm인 것을 나타내는 P2의 경우, 사진에 도시된 제 6 패턴 영역(사진 좌측에 표시된 6, 7의 사이에 위치한 영역)과 제 7 패턴 영역(사진 좌측에 표시된 7 하단부의 영역)의 중간점을 경계로 명암도가 크게 차이가 나게 되어 이의 상부와 하부의 식별 난이도가 상이하므로 투명도 측정장치(도 1의 101)는 이를 6등급과 7등급의 중간점인 6.5등급으로 평가하였다.In the case of P2 indicating that the third distance (d3 in Fig. 1) is 10 cm, the sixth pattern area (the area located between 6 and 7 shown on the left side of the photograph) and the seventh pattern area 7), the transparency measuring device (101 in FIG. 1) converts it to a middle grade of grade 6 and grade 7, which is a middle grade between grade 6 and grade 7, Respectively.

즉, 투명 디스플레이(도 1의 110)가 측정용 배경(도 1의 120)과 10cm만큼 이격된 경우, 제 6 패턴 영역과 제 7 패턴 영역 사이의 구간에 표시된 굵기 및 이격 간격과 같거나 더 넓은 폭을 갖는 선, 또는 이미지에 대해서 식별 가능한 것을 나타내도록 등급을 평가하고 있다.
That is, when the transparent display (110 in FIG. 1) is spaced apart by 10 cm from the measurement background (120 in FIG. 1), the thickness and spacing shown in the interval between the sixth pattern area and the seventh pattern area A line having a width, or an image.

제 3 거리(도 1의 d3)가 20cm인 것을 나타내는 P3의 경우, 사진에 도시된 제 3 패턴 영역(사진 좌측에 표시된 3, 4의 사이에 위치한 영역)에 대한 취득 패턴 데이터의 명암도가 동일 패턴 영역에 대한 기준 패턴 데이터의 명암도와 유사하여 식별이 용이하나, 제 4 패턴 영역(사진 좌측의 4 하단부의 영역)에 대한 취득 패턴 데이터의 명암도는 동일 패턴 영역에 대한 기준 패턴 데이터의 명암도에 비해 낮아 식별이 어렵다고 판정하여 투명도 측정장치(도 1의 101)는 이를 3등급으로 평가하였다.In the case of P3 indicating that the third distance (d3 in Fig. 1) is 20 cm, the intensity of the acquired pattern data for the third pattern area shown in the photograph (the area located between 3 and 4 shown on the left side of the photograph) The intensity of the acquired pattern data for the fourth pattern area (the area at the lower end of the left 4 of the photograph) is lower than the intensity of the reference pattern data for the same pattern area It was determined that the identification was difficult, and the transparency measuring apparatus (101 in FIG.

즉, 투명 디스플레이(도 1의 110)가 측정용 배경(도 1의 120)과 20cm만큼 이격된 경우, 제 3 패턴 영역에 표시된 굵기 및 이격 간격과 같거나 더 넓은 폭을 갖는 선, 또는 이미지에 대해서 식별 가능한 것을 나타내도록 등급을 평가하고 있다.
That is, when the transparent display (110 in FIG. 1) is spaced apart by 20 cm from the measurement background (120 in FIG. 1), a line having a width equal to or wider than the thickness and spacing indicated in the third pattern area, Are evaluated to indicate that they can be identified.

제 3 거리(도 1의 d3)가 30cm인 것을 나타내는 P4의 경우, 사진에 도시된 제 1 패턴 영역(사진 좌측에 표시된 1, 2의 사이에 위치한 영역)과 제 2 패턴 영역(사진 좌측에 표시된 2 하단부의 영역)의 중간점을 경계로 명암도가 크게 차이가 나게 되어 이의 상부와 하부의 식별 난이도가 상이하므로 투명도 측정장치(도 1의 101)는 이를 1등급과 2등급의 중간점인 1.5등급으로 평가하였다.In the case of P4 indicating that the third distance (d3 in Fig. 1) is 30 cm, the first pattern area shown in the photograph (the area located between 1 and 2 shown on the left side of the photograph) and the second pattern area 2) of the first and second grades, which is a midpoint between the first grade and the second grade, is different from the middle grade of the first grade and the second grade, Respectively.

즉, 투명 디스플레이(도 1의 110)가 측정용 배경(도 1의 120)에서 30cm만큼 이격된 경우, 제 1 패턴 영역과 제 2 패턴 영역 사이의 구간에 도시된 굵기 및 이격 간격에 비해 넓은 폭을 갖는 선, 또는 이미지에 대해서 식별 가능한 것을 나타내도록 등급을 평가하고 있다.
That is, when the transparent display (110 in FIG. 1) is spaced by 30 cm from the background for measurement (120 in FIG. 1), the thickness and spacing shown in the interval between the first pattern area and the second pattern area , Or images that can be identified.

이와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치(도 1의 101)는 관측자가 실제로 관측하는 물체의 상과 유사한 정보를 받아들일 수 있는 카메라(미도시)를 이용해 물체의 상을 받아들여 취득 패턴 데이터로 변환하고, 이를 저장하고 있던 기준 패턴 데이터와 비교하여 등급을 지정하므로, 관측자는 물체의 상을 정상적으로 인지할 수 있는 등급을 제공할 수 있게 된다.As described above, the transparency measuring apparatus (101 in FIG. 1) according to the embodiment of the present invention accepts an image of an object by using a camera (not shown) capable of receiving information similar to an image of an object actually observed by an observer The pattern data is converted into the pattern data and compared with the stored reference pattern data to designate the class. Thus, the observer can provide a class that can recognize the image of the object normally.

즉, 본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치 및 이의 측정 방법은 조건별로 등급 측정을 반복할 경우 관측자가 인식할 수 있는 물체의 상에 대한 등급을 정확하게 판정하고, 종래에 측정하던 휘도 및 광 분산도까지 측정할 수 있어 본 발명의 실시예에 따른 투명도 측정장치의 등급 판정에 대한 등급의 실효성이 높아지게 된다.That is, in the transparency measuring apparatus and the measuring method thereof according to the embodiment of the present invention, when the grading is repeated for each condition, it is possible to accurately determine the degree of the image of the object that can be recognized by the observer, The degree of effectiveness of the grade for the grade determination of the transparency measuring apparatus according to the embodiment of the present invention becomes high.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It can be understood that

100 : 관측 시스템 101 : 투명도 측정장치
105 : 이동 수단 115 : 지지장치
110 : 투명 디스플레이 120 : 측정용 배경
130 : 광원장치
100: Observation system 101: Transparency measuring device
105: moving means 115: supporting device
110: Transparent display 120: Background for measurement
130: Light source device

Claims (10)

투명도 등급을 평가할 수 있는 투명도 측정장치와;
상기 투명도 측정장치에 평가를 위한 데이터로 사용되는 것으로, 제 1 내지 N 패턴 영역이 구분된 선형 패턴, 또는 선의 굵기와 이격 간격이 일정한 원이 다수 표시된 원형 패턴, 또는 외면에서 내면으로 향하는 방향으로 선의 굵기와 이격 간격이 넓은 것부터 순차적으로 표시된 원형 패턴, 또는 빛의 삼원색으로 표현된 도형 중 어느 하나 이상이 표시된 측정용 배경과;
상기 투명도 측정장치와 상기 측정용 배경 사이에 위치하여 지지장치로 고정되는 투명 디스플레이와;
상기 투명도 측정장치가 상기 측정용 배경 및 상기 투명 디스플레이를 측정할 수 있도록 빛을 조사하는 광원장치
를 포함하는 측정 시스템.
A transparency measuring device capable of evaluating transparency grade;
As the data for evaluation in the transparency measurement apparatus, a linear pattern in which the first to N-pattern regions are divided, or a circle pattern in which a plurality of circles having a constant spacing between the line thickness and the line are constant, A measurement background in which at least one of a thickness and a spacing interval, a circular pattern sequentially displayed, or a figure represented by three primary colors of light is displayed;
A transparent display positioned between the transparency measurement device and the measurement background and fixed to the support device;
Wherein the transparency measuring device is a light source device for irradiating light for measuring the measurement background and the transparent display
.
제 1 항에 있어서,
상기 투명도 측정장치는 투명도 등급 평가를 위한 연산을 수행하는 제어부와, 상기 제어부가 투명도 등급 평가를 위해 연산을 수행하도록 상기 데이터를 생성하는 카메라와, 상기 카메라에서 생성된 상기 데이터를 저장하는 저장부를 구비하는 것을 특징으로 하는 측정 시스템.
The method according to claim 1,
The transparency measuring apparatus includes a controller for performing an operation for evaluating transparency grade, a camera for generating the data to perform an arithmetic operation for evaluating transparency rating, and a storage unit for storing the data generated by the camera The measurement system comprising:
제 1 항에 있어서,
상기 투명도 측정장치와, 상기 광원과, 상기 측정용 배경과, 상기 투명 디스플레이를 고정하는 지지장치 중 어느 하나, 또는 복수에 이동수단을 더욱 구비하는 것을 특징으로 하는 측정 시스템.
The method according to claim 1,
Wherein the measurement system further comprises a moving means for moving at least one of the transparency measurement device, the light source, the background for measurement, and the support device for fixing the transparent display.
투명도 등급을 평가할 수 있는 투명도 측정장치와, 상기 투명도 측정장치에 평가를 위한 데이터로 사용되는 것으로, 제 1 내지 N 패턴 영역이 구분된 선형 패턴, 또는 선의 굵기와 이격 간격이 일정한 원이 다수 표시된 원형 패턴, 또는 외면에서 내면으로 향하는 방향으로 선의 굵기와 이격 간격이 넓은 것부터 순차적으로 표시된 원형 패턴, 또는 빛의 삼원색으로 표현된 도형 중 어느 하나 이상이 표시된 측정용 배경과, 상기 투명도 측정장치와 상기 측정용 배경 사이에 위치하여 지지장치로 고정되는 투명 디스플레이와, 상기 투명도 측정장치가 상기 측정용 배경 및 상기 투명 디스플레이를 측정할 수 있도록 빛을 조사하는 광원장치를 포함하는 측정 시스템을 이용한 투명도 측정 방법에 있어서,
제 1 내지 제 N 패턴 영역에 대한 기준 데이터와 취득 데이터를 생성하는 측정 단계와;
상기 제 1 내지 제 N 패턴 영역 중 선택된 제 n 패턴 영역에 대하여, 상기 취득 데이터와 상기 기준 데이터의 명암도를 분석하여 기준 패턴 데이터와 취득 패턴 데이터로 변환하는 분석 단계와;
상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 기준 패턴 데이터 및 상기 취득 패턴 데이터 각각의 명암도를 비교하는 평가 단계와;
상기 평가 단계에서 출력된 판정 데이터를 출력하는 판정 단계
를 포함하는 투명도 측정 방법.
A transparency measuring device capable of evaluating the degree of transparency; a transparency measuring device used as data for evaluation of the transparency measuring device, in which a linear pattern in which first to N-pattern regions are divided, or a circle having a plurality of circles A background for measurement in which at least one of a pattern or a circular pattern sequentially displayed in a direction from the outer surface to the inner surface in the thickness and spacing interval of the line or a figure represented in the three primary colors of light is displayed, And a light source device for illuminating the measurement background and the transparent display so that the transparency measurement device can measure the background and the transparent display. The transparency measurement method includes the steps of: As a result,
A measurement step of generating reference data and acquisition data for the first to Nth pattern regions;
An analysis step of analyzing the acquired data and the intensity of the reference data for the selected n-th pattern area of the first to N-th pattern areas and converting the analyzed data into reference pattern data and acquired pattern data;
An evaluation step of comparing intensity of each of the reference pattern data and the acquired pattern data with respect to the n-th pattern area;
A determination step of outputting the determination data output in the evaluation step
Wherein the transparency measurement method comprises the steps of:
제 4 항에 있어서,
상기 기준 패턴 데이터는 유리 기판의 후면에 위치하는 상기 측정용 배경을 촬영하여 변환된 것을 포함하는 투명도 측정 방법.
5. The method of claim 4,
Wherein the reference pattern data is obtained by photographing the background for measurement located on the rear surface of the glass substrate.
제 4 항에 있어서,
상기 평가 단계는,
상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 취득 패턴 데이터의 명암도가 상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 기준 데이터의 명암도에 비해 낮을 경우 상기 판정 단계로 상기 판정 데이터를 출력하는 단계와;
상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 취득 패턴 데이터의 명암도가 상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 기준 데이터의 명암도와 유사할 경우 상기 분석 단계를 반복하는 단계
를 포함하는 투명도 측정 방법.
5. The method of claim 4,
In the evaluation step,
Outputting the determination data to the determination step when the intensity of the acquired pattern data for the n-th pattern area is lower than the lightness of the reference data for the n-th pattern area;
Repeating the analysis step when the intensity of the acquired pattern data for the n-th pattern area is similar to the intensity of the reference data for the n-th pattern area
Wherein the transparency measurement method comprises the steps of:
제 6 항에 있어서,
상기 분석 단계를 반복하는 단계는, 제 (n+1) 패턴 영역에 대한 취득 패턴 데이터 및 기준 패턴 데이터 각각의 명암도를 분석하는 것이 특징인 투명도 측정 방법.
The method according to claim 6,
Wherein the step of repeating the analysis step is performed by analyzing intensity of each of the acquired pattern data and reference pattern data for the (n + 1) -th pattern area.
제 6 항에 있어서,
상기 분석 단계를 반복하는 단계는, 상기 투명 디스플레이를 상기 투명도 측정장치의 방향으로 이동시킨 후, 상기 제 n 패턴 영역에 대한 상기 취득 패턴 데이터를 재생성하는 것이 특징인 투명도 측정 방법.
The method according to claim 6,
Wherein the step of repeating the analysis step regenerates the acquired pattern data for the n-th pattern area after moving the transparent display in the direction of the transparency measurement device.
제 4 항에 있어서,
상기 판정 단계는 상기 투명도 측정장치의 저장부에서 등급 평가 기준을 받아와 상기 평가 단계에서 출력된 상기 판정 데이터를 대입하는 단계를 더욱 포함하는 투명도 측정 방법.
5. The method of claim 4,
Wherein said determining step further includes the step of receiving a rating evaluation criterion in a storage section of said transparency measurement apparatus and substituting said judgment data outputted in said evaluation step.
제 1 항에 있어서,
상기 제 n 패턴 영역은 제 1 패턴 영역부터 오름차순으로 측정되거나, 제 N 패턴 영역부터 내림차순으로 측정되는 것을 포함하는 투명도 측정 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the n-th pattern area is measured in ascending order from the first pattern area or in descending order from the N-th pattern area.
KR1020130114583A 2013-09-26 2013-09-26 Measuring System Including Transparency Measurement Device And Measurement Method Of Transparency KR102129973B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130114583A KR102129973B1 (en) 2013-09-26 2013-09-26 Measuring System Including Transparency Measurement Device And Measurement Method Of Transparency

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130114583A KR102129973B1 (en) 2013-09-26 2013-09-26 Measuring System Including Transparency Measurement Device And Measurement Method Of Transparency

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150034465A true KR20150034465A (en) 2015-04-03
KR102129973B1 KR102129973B1 (en) 2020-07-03

Family

ID=53031275

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130114583A KR102129973B1 (en) 2013-09-26 2013-09-26 Measuring System Including Transparency Measurement Device And Measurement Method Of Transparency

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102129973B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107702893A (en) * 2017-05-26 2018-02-16 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Measure the method and system of transparent display transparent effect

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0618414A (en) * 1992-03-03 1994-01-25 Saint Gobain Vitrage Internatl Method and device for monitoring transparency of laminated window glass
JPH06265478A (en) * 1993-03-16 1994-09-22 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Transmission observation device
JPH10274593A (en) * 1997-03-31 1998-10-13 Komatsu Ltd Liquid crystal panel light transmittance measuring device
KR20070056453A (en) * 2005-11-29 2007-06-04 삼성전자주식회사 Apparatus for measuring lcd panel transmission

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0618414A (en) * 1992-03-03 1994-01-25 Saint Gobain Vitrage Internatl Method and device for monitoring transparency of laminated window glass
JPH06265478A (en) * 1993-03-16 1994-09-22 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Transmission observation device
JPH10274593A (en) * 1997-03-31 1998-10-13 Komatsu Ltd Liquid crystal panel light transmittance measuring device
KR20070056453A (en) * 2005-11-29 2007-06-04 삼성전자주식회사 Apparatus for measuring lcd panel transmission

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107702893A (en) * 2017-05-26 2018-02-16 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Measure the method and system of transparent display transparent effect
WO2018214255A1 (en) * 2017-05-26 2018-11-29 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Method and system for measuring transparent effect of transparent display
CN107702893B (en) * 2017-05-26 2019-09-10 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Measure the method and system of transparent display transparent effect
US10417944B2 (en) 2017-05-26 2019-09-17 Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Method and system of measuring a transparent effect of transparent display

Also Published As

Publication number Publication date
KR102129973B1 (en) 2020-07-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2159783A1 (en) Method and system for compensating ageing effects in light emitting diode display devices
CN107238484B (en) Method and device for detecting definition of transparent display screen
US20080232637A1 (en) Appliance for Controlling Transparent or Reflective Elements
CN103097879A (en) Method and device for analyzing the optical quality of a transparent substrate
EP3557216B1 (en) Inspecting device, inspecting method, and program
CN110211518A (en) Circuit device and electronic equipment
EP3557217B1 (en) Inspecting device, inspecting method, and program
JP2018146650A (en) Defective image generation prediction system and defective image generation prediction program
CN109036266A (en) Optical compensating member and its operation method applied to display panel
US8553082B2 (en) Distortion inspecting apparatus and distortion inspecting method
JP2017146388A (en) Defective image occurrence prediction system and defective image occurrence prediction program
Koshti Assessing visual and system flaw detectability in nondestructive evaluation
US20180357943A1 (en) Method and system of measuring a transparent effect of transparent display
CN104658461A (en) Method for testing light emission uniformity of display
KR20150034465A (en) Measuring System Including Transparency Measurement Device And Measurement Method Of Transparency
Mori et al. Quantitative evaluation of “mura” in liquid crystal displays
EP3557526B1 (en) Striated region detection device, striated region detection method, and program
Mori et al. Extraction and evaluation of mura in liquid crystal displays
EP0925549B1 (en) Contrast determining apparatus and methods
KR100249597B1 (en) Apparatus for inspecting optical uniformity and method therefor
Pfullmann et al. A unified homogeneity criterion for rear lamps
CN117405363B (en) Halation characterization method and system of Mini-LED partition backlight display
JP2003149081A (en) Method of inspecting display device and inspecting apparatus using the same
CN114625332A (en) LED screen display splicing method and device, electronic equipment and storage medium
US20190227002A1 (en) Apparatus and methods for inspecting damage intensity

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant