KR20150017850A - Card test device using network analyzer and method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 네트워크 아날라이저(network analyzer)를 이용한 카드 검사에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 RFID카드(교통카드, 스마트카드, 기타)의 공진주파수 파형을 검사하여 카드의 상태(정상 및 불량)를 판단할 수 있도록 한 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to card inspection using a network analyzer, and more particularly, to a card inspection method for checking a resonance frequency waveform of an RFID card (traffic card, smart card, etc.) And more particularly, to a card inspecting apparatus using a network analyzer and a method thereof.
일반적으로 지하철, 버스 등의 대중교통 수단의 요금 결재방법으로써 자기기록매체가 형성된 마그네틱 카드를 사용하였으나, 오류발생이 빈번하고 수명이 짧아 사용되지 않고 있으며, 최근에는 루프안테나와 알에프아이디 칩(RFID 칩)이 내장된 13.56MHz의 공진 주파수를 갖는 알에프아이디 카드(RFID card)로 대체되어 사용되고 있다. 이러한 RFID 카드는 통상적으로 1 ~ 1.2mm 두께를 갖는 일정한 규격의 직사각형 형태이다.Generally, a magnetic card having a magnetic recording medium is used as a payment method for public transportation such as a subway or a bus. However, errors are frequent and life span is short, so that a loop antenna and an RFID ID chip ) Is replaced with an RFID card having a resonance frequency of 13.56 MHz. Such an RFID card is typically in the form of a rectangle of a certain size with a thickness of 1 to 1.2 mm.
RFID 카드는 공 카드의 이송 내지 공급, 마그네틱 스트라이프(Magnetic strip)의 정보 기록, 엠보싱, IC 정보 기록, 인덴트(indent), RFID 공정, 라미네이팅 코팅, 적재 등의 과정이 수행되어 제조되며, 이러한 과정은 카드의 이송에 따라 순차적으로 작업이 진행되는 시퀀스 제어(Sequence control)를 거쳐 완성된다.The RFID card is manufactured by carrying out processes such as transfer or supply of a blank card, information recording of a magnetic stripe, embossing, IC information recording, indent, RFID process, laminating coating, Is completed through a sequence control in which the operation is sequentially performed in accordance with the transfer of the card.
이렇게 완성된 RFID 카드는 여러 가지 항목의 검수 내지 검사 과정을 거쳐 최종적으로 고객에게 제공되게 되는 데, 이러한 검수 과정은 현재와 같은 정보화시대에는 더욱 그 중요성이 높아지고 있다. 여기서 ISO 14443에서는 스마트카드와 단말기의 공진 주파수를 13.56MHz±0.5MHz로 규정하고 있다.The RFID card thus completed is finally provided to the customer through inspection and inspection of various items. Such inspection process is becoming more important in the information age. In ISO 14443, the resonance frequency of the smart card and the terminal is defined as 13.56 MHz ± 0.5 MHz.
완성된 RFID 카드는 지하철역이나 상점 또는 특정장소에 배치된 교통카드 자동발매기에서 구매하도록 되어 있다.The completed RFID card is to be purchased at a subway station, at a shopping mall, or at a traffic card automatic ticket machine disposed at a specific place.
RFID 카드를 발매하는 기술이 하기의 <특허문헌 1> 대한민국 공개특허 공개번호 10-2006-0099487호(2006.09.19. 공개)에 개시된다.A technology for releasing an RFID card is disclosed in the following Patent Document 1: Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-2006-0099487 (published on September 19, 2006).
<특허문헌 1>은 다양한 디자인의 교통카드를 진열할 수 있는 교통카드 진열창을 구비하고, 터치스크린의 조작으로 이용자가 원하는 디자인의 교통카드를 선택적으로 구매할 수 있도록 하여, 이용자의 취향에 따른 구매 욕구를 만족시켜 준다.
Patent Document 1 discloses a transportation card display window that can display traffic cards of various designs and allows a user to selectively purchase a transportation card of a desired design by operating a touch screen, .
그러나 상기와 같은 교통카드 자동발매기는 다양한 교통카드의 발매는 가능하나, 발매되는 교통카드를 검사하는 것은 불가능한 단점이 있었다.However, although the above-described automatic ticket vending machine of the traffic card can release a variety of traffic cards, it has a disadvantage that it is impossible to inspect the issued traffic card.
또한, 기존의 RFID 카드 제조사는 다양한 데, 각각의 제조사별로 제조한 RFID 카드의 공진 특성이 달라서 규격 준수가 필요하며, 이러한 규격 준수를 위해 제작된 RFID 카드의 공진 특성을 검사하는 장치가 요구되었다.
In addition, there are a variety of existing RFID card manufacturers, and the resonance characteristics of the RFID cards manufactured by the respective manufacturers are different, so that the standards are required to be complied with, and a device for inspecting the resonance characteristics of the RFID cards fabricated for compliance with such specifications is required.
본 발명의 목적은 상기한 바와 같은 종래 교통카드 발매기에서 발생하는 단점과 RFID 카드 제조사별로 제작한 RFID 카드의 공진 특성이 달라서 발생하는 제반 문제점을 해결하기 위한 것으로, RFID카드(교통카드, 스마트카드, 기타)의 공진주파수 파형을 검사하여 카드의 상태(정상 및 불량)를 판단할 수 있도록 한 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 것이다.An object of the present invention is to solve the problems caused by the disadvantages of the conventional traffic card ticket dispenser and the RFID card made by the manufacturer of the RFID card, The present invention is to provide a card inspecting apparatus using a network analyzer capable of judging the state (normal and defective) of a card by inspecting the resonance frequency waveform of the card.
본 발명의 다른 목적은 RFID 카드를 검사하고, 그 검사 결과에 따라 정상 카드와 불량카드를 분류하여 따로 적재할 수 있도록 한 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 것이다.
It is another object of the present invention to provide a card inspecting apparatus using a network analyzer which inspects an RFID card and classifies a normal card and a defective card according to a result of the inspection.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치는 검사 대상 카드를 검사 위치로 이송시키는 이송부; 검사 위치로 이송된 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형을 추출하는 네트워크 아날라이저; 상기 네트워크 아날라이저에서 추출한 공진 주파수 파형과 카드의 상태를 판단하기 위해 미리 등록해 놓은 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드의 상태를 판정하는 카드 검사부를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a card inspecting apparatus using a network analyzer, comprising: a transferring unit for transferring a card to be inspected to an inspection position; A network analyzer for extracting a resonance frequency waveform of the inspection target card transferred to the inspection position; And a card inspector for comparing the resonance frequency waveform extracted from the network analyzer with a standard waveform registered in advance to determine the state of the card to determine the state of the card to be inspected.
상기에서 카드 검사부는 검사 대상 카드의 상태를 판정한 결과에 따라 검사 카드의 적재 위치를 결정하기 위한 카드 적재위치 제어신호를 발생하는 것을 특징으로 한다.The card inspecting unit generates a card stacking position control signal for determining a stacking position of the test card according to a result of determination of the state of the card to be inspected.
상기에서 이송부는 상기 카드 검사부에서 발생하는 카드 적재위치 제어신호에 따라 검사 대상 카드를 적재 위치로 이송시키는 것을 특징으로 한다.Wherein the transferring unit transfers the card to be inspected to the loading position according to a card loading position control signal generated in the card checking unit.
상기에서 카드 검사부는 상기 네트워크 아날라이저에서 출력되는 공진 주파수의 파형을 입력받는 파형 입력 모듈; 상기 파형 입력 모듈에서 입력받은 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스에 기등록된 표준 파형을 비교하여 검사 결과 신호를 출력하는 파형 비교 모듈을 포함하는 것을 특징으로 한다.Wherein the card checking unit includes: a waveform input module receiving a waveform of the resonance frequency output from the network analyzer; And a waveform comparison module for comparing the resonance frequency waveform of the card to be inspected, which is input from the waveform input module, with a standard waveform previously registered in the waveform database, and outputting a test result signal.
상기에서 카드 검사부는 상기 파형 비교 모듈에서 출력되는 검사 결과 신호를 기반으로 카드 적재위치 제어신호를 발생하는 카드 적재 제어모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The card checking unit may further include a card loading control module for generating a card loading position control signal based on the inspection result signal output from the waveform comparison module.
상기에서 카드 검사부는 상기 파형 비교 모듈에서 출력되는 검사 결과 신호를 검사 결과 표시 데이터로 만들어 출력하는 검사결과 표시모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The card checking unit may further include a test result display module for outputting a test result signal output from the waveform comparison module as test result display data.
또한, 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치는 상기 이송부에서 정상 카드와 불량 카드로 분류되어 이송된 검사 대상 카드를 정상카드 적재함 또는 불량카드 적재함에 분류하여 적재하는 카드분류 적재부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The card inspecting apparatus using the network analyzer according to the present invention may further include a card sorting and loading unit for sorting and inserting inspection target cards classified into a normal card and a defective card in the transfer unit into a normal card loader or a bad card loader, .
또한, 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치는 상기 카드 검사부에서 출력되는 검사결과 표시데이터를 화면에 표시해주는 표시부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
In addition, the card inspecting apparatus using the network analyzer according to the present invention may further include a display unit for displaying test result display data output from the card inspecting unit on a screen.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법은 (a) 검사 대상 카드를 이송시키는 이송부에서 검사 대상 카드를 검사 위치로 이송시키는 단계; (b) 네트워크 아날라이저에서 상기 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형을 측정하는 단계; (c) 카드 검사부에서 상기 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스에 기등록된 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드의 상태를 판정하는 단계; (d) 상기 검사 대상 카드의 상태 판정 결과에 따라 검사 대상 카드의 적재 위치를 결정하고, 검사 대상 카드를 분류하여 적재토록 제어하는 단계; (e) 검사 대상 카드의 검사 결과를 표시해주는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a card using a network analyzer, including the steps of: (a) transferring a card to be inspected from a transfer unit for transferring a card to be inspected to an inspection position; (b) measuring a resonance frequency waveform of the test object card in a network analyzer; (c) comparing the resonance frequency waveform with a standard waveform previously registered in the waveform database to determine a state of the card to be inspected; (d) determining a loading position of the card to be inspected according to a result of state determination of the card to be inspected, and classifying and inserting the card to be inspected; (e) displaying a test result of the card to be inspected.
상기에서 (d) 단계는 상기 검사 대상 카드의 상태 판정 결과, 정상일 경우 정상카드 적재함으로 이송시키라는 제1 카드 적재위치 제어신호를 발생하고, 상기 검사 대상 카드의 상태 판정 결과, 불량일 경우 불량카드 적재함으로 이송시키라는 제2 카드 적재위치 제어신호를 발생하는 것을 특징으로 한다.
(D) generates a first card loading position control signal for transferring the state of the card to be inspected to a normal card loading case when the card is normal, And a second card loading position control signal for transferring the second card loading position control signal to the loading box.
본 발명에 따르면 RFID카드(교통카드, 스마트카드, 기타)의 공진 주파수 파형을 검사함으로써, 카드의 상태(정상 및 불량)를 정확하게 판정할 수 있는 장점이 있다.According to the present invention, by checking the resonance frequency waveform of an RFID card (traffic card, smart card, etc.), it is possible to accurately determine the state of the card (normal and defective).
또한, 본 발명에 따르면 RFID 카드를 검사하고, 그 검사 결과에 따라 정상 카드와 불량카드를 자동으로 분류하여 따로 적재할 수 있는 장점이 있다.
In addition, according to the present invention, there is an advantage that an RFID card is inspected, and a normal card and a defective card are automatically classified according to the inspection result and can be loaded separately.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치의 구성을 나타낸 블록도,
도 2는 도 1의 카드 검사부의 실시 예 블록도,
도 3은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법을 보인 흐름도.1 is a block diagram illustrating a configuration of a card testing apparatus using a network analyzer according to a preferred embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram of an embodiment of the card checking unit of FIG.
3 is a flowchart illustrating a method of inspecting a card using a network analyzer according to a preferred embodiment of the present invention.
이하 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치 및 그 방법을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an apparatus and method for inspecting a card using a network analyzer according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치의 구성을 보인 블록도로서, 이송부(20), 카드 분류 적재부(30), 네트워크 아날라이저(40), 파형 데이터베이스(DB)(50), 카드 검사부(60) 및 표시부(70)를 포함한다.FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a card testing apparatus using a network analyzer according to a preferred embodiment of the present invention. The card testing apparatus includes a
이송부(20)는 검사 대상 카드(10)를 검사 위치로 이송시키는 역할을 한다. 즉, 이송부(20)는 검사 대상 카드(10)를 네트워크 아날라이저(40)의 검사 위치로 이송시키는 역할을 한다.The
네트워크 아날라이저(40)는 검사 위치로 이송된 검사 대상 카드(10)의 공진 주파수 파형을 추출하는 역할을 한다. 여기서 네트워크 아날라이저(40)는 검사 대상 카드의 공진 주파수를 추출하기 위한 통상의 주파수 분석기를 이용하는 것이 바람직하다.The
카드 검사부(60)는 상기 네트워크 아날라이저(40)에서 추출한 공진 주파수 파형과 카드의 상태를 판단하기 위해 파형 데이터베이스(DB)(50)에 미리 등록해 놓은 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드의 상태를 판정하는 역할을 한다.The
이러한 카드 검사부(60)는 도 2에 도시한 바와 같이, 상기 네트워크 아날라이저(40)에서 출력되는 공진 주파수의 파형을 입력받는 파형 입력 모듈(61); 상기 파형 입력 모듈(61)에서 입력받은 검사 대상 카드(10)의 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스(50)에 기등록된 표준 파형을 비교하여 검사 결과 신호를 출력하는 파형 비교 모듈(62); 상기 파형 비교 모듈(62)에서 출력되는 검사 결과 신호를 기반으로 카드 적재위치 제어신호를 발생하는 카드 적재 제어모듈(64); 및 상기 파형 비교 모듈(62)에서 출력되는 검사 결과 신호를 검사 결과 표시 데이터로 만들어 출력하는 검사결과 표시모듈(63)을 포함한다.As shown in FIG. 2, the
카드분류 적재부(30)는 상기 이송부(20)에서 정상카드와 불량카드로 분류되어 이송된 검사 대상 카드를 정상카드 적재함 또는 불량카드 적재함에 분류하여 적재하는 역할을 한다.The card sorting and
표시부(70)는 상기 카드 검사부(60)에서 출력되는 검사 결과 표시데이터를 화면에 표시해주는 역할을 한다. 이러한 표시부(70)는 액정표시장치(LCD)로 구현할 수 있다.The
이와 같이 구성된 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치의 동작을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.The operation of the card inspecting apparatus using the network analyzer according to the present invention will now be described in detail.
먼저, 이송부(20)는 적재모듈에 정렬되어 있는 검사 대상 카드 중 검사할 검사 대상 카드(10)만을 네트워크 아날라이저(40)의 검사 위치로 이송시킨다. 이송 방법은 컨베이어 벨트 등을 구비한 이송장치를 이용하여 검사 대상 카드(10)를 검사 위치로 이송시키게 된다. First, the
검사 대상 카드(10)가 검사 위치로 이송되면, 네트워크 아날라이저(40)는 안테나를 이용하여 검사 대상 카드(10)와 공진을 하게 되고, 이때 발생하는 공진 주파수 파형을 추출하여 카드 검사부(60)에 전달한다. 여기서 네트워크 아날라이저(40)가 RFID 카드와 공진을 하여 공진 주파수 파형을 추출하는 것은 일반적인 네트워크 아날라이저의 기능이므로, 구체적인 설명은 생략하기로 한다. 필요에 따라 네트워크 아날라이저(40)는 발생하는 공진 주파수의 파형 중 일정 구간의 공진 주파수의 파형만을 추출할 수 있다. 이것은 검사 초기의 공진 주파수와 안정화된 상태의 공진 주파수가 달라질 수 있기 때문이다. 따라서 검사 초기부터 공진 주파수의 파형을 지속적으로 추출하고, 그 추출한 공진 주파수의 파형을 시간을 기준으로 일정 구간의 공진 주파수 파형만을 추출하여 사용하는 것이 바람직하다.When the
카드 검사부(60)의 파형 입력 모듈(61)은 검사 대상 카드(10)에 대한 공진 주파수 파형을 입력받아 파형 비교 모듈(62)에 전달한다. 파형 비교 모듈(62)은 전달되는 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스(50)에 기등록된 표준 파형을 비교한다. 여기서 표준 파형은 검사 대상 카드(RFID 카드)의 정상 및 불량을 판정하기 위한 기준 파형을 의미하며, ISO 14443에서 정의한 13.56MHz±0.5MHz 파형을 의미한다.The
파형 비교 방법은 표준 파형 위에 측정한 공진 주파수 파형을 중첩시키고, 그 차이를 산출하는 방법을 이용할 수 있다. 그리고 산출한 차이가 상기 표준 파형(13.56MHz±0.5MHz)의 범위에 포함되면 정상 카드로 판정을 하고, 이와는 달리 산출한 차이가 표준 파형의 범위를 벗어나면 불량 카드로 판정을 한다.The waveform comparison method can use a method of superimposing the resonance frequency waveform measured on the standard waveform and calculating the difference. If the calculated difference is within the range of the standard waveform (13.56 MHz ± 0.5 MHz), it is judged as a normal card. Otherwise, if the calculated difference is out of the range of the standard waveform, it is judged as a defective card.
이후, 검사 대상 카드를 판정한 결과에 대한 검사 결과 표시 데이터를 생성하여 검사 결과 표시모듈(63)에 전달하고, 아울러 검사 결과 데이터(정상 상태 데이터 또는 불량 상태 데이터)를 발생하여 카드 적재 제어모듈(64)에 전달한다.Thereafter, inspection result display data for the result of determination of the card to be inspected is generated and transmitted to the inspection
카드적재 제어모듈(64)은 입력되는 검사 결과 데이터에 따라 카드의 적재 위치를 결정하기 위한 신호 즉, 카드 적재위치 제어신호를 발생하여 이송부(20)에 전달한다. 여기서 카드 적재위치 제어신호는 검사 결과 정상 카드로 판정되어 검사 대상 카드를 정상카드 적재함에 이송하라는 제1 카드 적재위치 제어신호와, 검사 결과 불량 카드로 판정되어 검사 대상 카드를 불량카드 적재함에 이송하라는 제2 카드 적재위치 제어신호로 대별된다. 제1 카드 적재위치 제어신호는 디지털 신호로 "1"이 될 수 있으며, 제2 카드 적재위치 제어신호는 디지털 신호로 "0"이 될 수 있다.The card
이송부(20)는 상기 카드 검사부(60) 내의 카드적재 제어모듈(64)에서 출력되는 제1 카드 적재위치 제어신호 또는 제2 카드 적재위치 제어신호에 따라 검사 대상 카드(40)를 분류하여 카드 분류 적재부(30)에 이송하여, 해당 적재함에 적재를 하게 된다. 예컨대, 카드 적재위치 제어신호가 제1 카드 적재위치 제어신호일 경우에는 검사 대상 카드가 정상상태이므로, 카드 분류 적재부(30)의 정상카드 적재함에 검사 대상 카드를 적재한다. 아울러 카드 적재위치 제어신호가 제2 카드 적재위치 제어신호일 경우에는 검사 대상 카드가 불량상태이므로, 카드 분류 적재부(30)의 불량카드 적재함에 검사 대상 카드를 적재한다. The
이러한 방식은 정상카드와 불량카드의 경로를 달리하여 적재하는 방식이다. 이러한 방식 이외에 카드 검사 결과에 따라 검사 대상 카드에 인덱스를 하여 적재시 이를 참조하도록 하는 방법도 가능하다. 예컨대, 이송부(20)는 검사 결과, 불량 카드일 경우에는 검사 대상 카드에 미리 설정된 불량카드임을 나타내는 태그를 붙여 카드 분류 적재부(30)로 이송한다. 그러면 카드 분류 적재부(30)에서 태그 인식 동작을 수행하여, 태그가 인식되지 않으면 정상 카드로 판단을 하여 정상 카드 적재함에 적재하고, 태그가 인식되면 불량 카드로 판단을 하고 불량 카드 적재함에 적재하게 되는 것이다.This method is a method in which the paths of the normal card and the defective card are loaded differently. In addition to this method, it is also possible to index the card to be inspected according to the result of the card inspection to refer to it when the card is loaded. For example, if the
한편, 카드 검사부(60)의 검사 결과 표시모듈(63)은 파형 비교 모듈(62)로부터 전달되는 검사 결과 표시 데이터를 표시부(70)로 출력하여, 표시부(70)의 화면상에 검사 대상 카드의 검사 결과가 표시되도록 한다. 표시부(70)에 표시되는 검사 결과는 정상, 불량 여부에 대한 데이터, 불량 개수에 대한 데이터, 불량률에 대한 데이터일 수 있다.On the other hand, the inspection
또한, 카드 검사부(60)의 파형 비교 모듈(62)은 카드 검사 결과를 내부 메모리에 저장할 수 있다. 이렇게 저장된 카드 검사 결과는 추후 제조사에 전달되어, 제조사에서 카드를 제조할 때 불량률을 낮추는 정보로 활용할 수 있다.Further, the
도 3은 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법을 보인 흐름도로서, S는 단계(step)를 나타낸다.3 is a flowchart illustrating a method of inspecting a card using a network analyzer according to the present invention, wherein S represents a step.
도 3에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법은 (a) 검사 대상 카드를 이송시키는 이송부(20)에서 검사 대상 카드(10)를 검사 위치로 이송시키는 단계(S11); (b) 네트워크 아날라이저(40)에서 상기 검사 대상 카드(10)의 공진 주파수 파형을 측정하는 단계(S12); (c) 카드 검사부(60)에서 상기 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스(50)에 기등록된 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드(10)의 상태를 판정하는 단계(S13 ~ S14); (d) 상기 검사 대상 카드(10)의 상태 판정 결과에 따라 검사 대상 카드(10)의 적재 위치를 결정하여, 검사 대상 카드(10)를 분류하여 적재토록 제어하는 단계(S15, S17, S18); (e) 검사 대상 카드(10)의 검사 결과를 표시해주는 단계(S16)를 포함한다.As shown in FIG. 3, the card inspecting method using the network analyzer according to the present invention includes the steps of: (a) transferring a
이와 같이 이루어지는 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.A method of inspecting a card using the network analyzer according to the present invention will now be described in detail.
먼저, 단계 S11에서 이송부(20)는 검사 대상 카드(10)를 검사 위치로 이송하게 되고, 단계 S12에서 네트워크 아날라이저(40)는 상기 검사 대상 카드(10)의 공진 주파수 파형을 측정한다.First, in step S11, the
이후, 단계 S13 및 S14에서 측정한 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스(50)에 기등록된 표준 파형을 비교하여, 정상 카드인지 불량카드인지를 판정한다. 여기서 검사 대상 카드의 판정 방법은 전술한 도 1 및 도 2에서 설명한 카드 판정 방법을 그대로 채택하는 것이 바람직하다.Thereafter, the resonance frequency waveform measured in steps S13 and S14 is compared with the standard waveform previously registered in the
이 판정 결과 불량 카드일 경우에는 단계 S17로 이동하여 불량 카드로 판정을 하고, 제2카드 적재위치 제어신호를 발생하여 이송부(20)에 전달한다. 아울러 판정 결과 정상 카드일 경우에는 단계 S15로 이동하여 제1카드 적재위치 제어신호를 발생하여 이송부(20)에 전달한다.As a result of the determination, if the card is a bad card, the process proceeds to step S17 to determine that the card is a bad card, generates a second card loading position control signal, and transmits the second card loading position control signal to the transferring
이송부(20)는 상기 제1카드 적재위치 제어신호 또는 제2카드 적재위치 제어신호에 따라 검사 대상 카드를 분류하여 적재함에 적재하게 된다. 이로써 추후 관리자가 별도로 검사 대상 카드를 정상 카드와 불량 카드로 분류하여 적재하는 불편함을 해소할 수 있게 된다.The
마지막으로, 단계 S16에서는 카드 검사 결과를 표시부(70)에 표시해주어, 관리자가 육안으로 용이하게 카드 검사 결과를 확인할 수 있도록 한다.Finally, in step S16, the card inspection result is displayed on the
이상 본 발명자에 의해서 이루어진 발명을 상기 실시 예에 따라 구체적으로 설명하였지만, 본 발명은 상기 실시 예에 한정되는 것은 아니고 그 요지를 이탈하지 않는 범위에서 여러 가지로 변경 가능한 것은 물론이다.
Although the present invention has been described in detail with reference to the above embodiments, it is needless to say that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications may be made without departing from the spirit of the present invention.
본 발명은 RFID 카드를 검사하는 기술에 적용된다. 특히, RFID카드의 공진 주파수를 검출하여 RFID 카드를 검사하는 기술에 효과적으로 적용된다.
The present invention is applied to a technology for inspecting an RFID card. In particular, the present invention is effectively applied to a technology for detecting the resonance frequency of the RFID card and inspecting the RFID card.
10: 검사 대상 카드
20: 이송부
30: 카드 분류 적재부
40: 네트워크 아날라이저
50: 파형 데이터베이스(DB)
60: 카드 검사부
70: 표시부10: Card to be inspected
20:
30: Card sorting loading section
40: Network Analyzer
50: Waveform database (DB)
60: Card inspector
70:
Claims (10)
검사 위치로 이송된 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형을 추출하는 네트워크 아날라이저; 및
상기 네트워크 아날라이저에서 추출한 공진 주파수 파형과 카드의 상태를 판단하기 위해 미리 등록해 놓은 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드의 상태를 판정하는 카드 검사부를 포함하는 것을 특징으로 하는 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치.
A transfer unit for transferring the card to be inspected to the inspection position;
A network analyzer for extracting a resonance frequency waveform of the inspection target card transferred to the inspection position; And
And a card inspector for comparing a resonance frequency waveform extracted from the network analyzer with a standard waveform registered in advance to determine a state of the card to determine a state of the card to be inspected.
The card inspecting apparatus according to claim 1, wherein the card inspecting unit generates a card stacking position control signal for determining a stacking position of a test card according to a result of determination of a state of a card to be inspected.
The card inspecting apparatus according to claim 2, wherein the transferring unit transfers the card to be inspected to the loading position according to a card loading position control signal generated in the card inspecting unit.
The system of claim 1, wherein the card inspector comprises: a waveform input module receiving a waveform of a resonance frequency output from the network analyzer; And a waveform comparison module for comparing the resonance frequency waveform of the card to be inspected, which is input from the waveform input module, with a pre-registered standard waveform in the waveform database, and outputting a test result signal.
The apparatus of claim 4, wherein the card checking unit further comprises a card loading control module for generating a card loading position control signal based on the inspection result signal output from the waveform comparison module.
The apparatus of claim 4, wherein the card testing unit further comprises a test result display module that outputs test result signals output from the waveform comparison module as inspection result display data.
The card analyzer according to claim 1, further comprising a card classifying unit for classifying and loading the inspection target card, which is classified into a normal card and a defective card, in the transfer unit into a normal card loader or a defective card loader, Inspection device.
The apparatus of claim 1, further comprising a display unit for displaying test result display data output from the card check unit on a screen.
(b) 네트워크 아날라이저에서 상기 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형을 측정하는 단계;
(c) 카드 검사부에서 상기 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스에 기등록된 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드의 상태를 판정하는 단계;
(d) 상기 검사 대상 카드의 상태 판정 결과에 따라 검사 대상 카드의 적재 위치를 결정하고, 검사 대상 카드를 분류하여 적재토록 제어하는 단계; 및
(e) 검사 대상 카드의 검사 결과를 표시해주는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법.
(a) transferring a card to be inspected from a transfer unit for transferring a card to be inspected to an inspection position;
(b) measuring a resonance frequency waveform of the test object card in a network analyzer;
(c) comparing the resonance frequency waveform with a standard waveform previously registered in the waveform database to determine a state of the card to be inspected;
(d) determining a loading position of the card to be inspected according to a result of state determination of the card to be inspected, and classifying and inserting the card to be inspected; And
(e) displaying a test result of the card to be inspected.
The method according to claim 9, wherein the step (d) further comprises: generating a first card loading position control signal to transfer the state of the card to be tested to a normal card loading case when the card is normal, A second card loading position control signal for transferring the second card loading position control signal to the defective card loading box.
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