KR101505048B1 - Card test device using network analyzer and method thereof - Google Patents

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KR101505048B1 KR1020130093959A KR20130093959A KR101505048B1 KR 101505048 B1 KR101505048 B1 KR 101505048B1 KR 1020130093959 A KR1020130093959 A KR 1020130093959A KR 20130093959 A KR20130093959 A KR 20130093959A KR 101505048 B1 KR101505048 B1 KR 101505048B1
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Abstract

RFID카드(교통카드, 스마트카드, 기타)의 공진주파수 파형을 검사하여 카드의 상태(정상 및 불량)를 판단할 수 있도록 한 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 검사 대상 카드를 검사 위치로 이송시키는 이송부; 검사 위치로 이송된 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형을 추출하는 네트워크 아날라이저; 상기 네트워크 아날라이저에서 추출한 공진 주파수 파형과 카드의 상태를 판단하기 위해 미리 등록해 놓은 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드의 상태를 판정하는 카드 검사부를 포함함으로써, RFID카드(교통카드, 스마트카드, 기타)의 공진 주파수 파형의 검사를 통해 카드의 상태(정상 및 불량)를 정확하게 판정할 수 있으며, 검사 결과에 따라 정상 카드와 불량카드를 자동으로 분류하여 따로 적재할 수 있게 된다.The present invention relates to an apparatus and method for inspecting a card using a network analyzer capable of checking the resonance frequency waveform of an RFID card (traffic card, smart card, etc.) A conveying part for conveying the inspection sheet to an inspection position; A network analyzer for extracting a resonance frequency waveform of the inspection target card transferred to the inspection position; (Card, smart card, etc.) by comparing the resonance frequency waveform extracted from the network analyzer with the standard waveform registered in advance in order to determine the state of the card, (Normal and defective) of the card can be accurately determined by checking the resonance frequency waveform of the card, and the normal card and the defective card can be automatically classified according to the inspection result and can be loaded separately.

Figure R1020130093959
Figure R1020130093959

Description

네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치 및 그 방법{Card test device using network analyzer and method thereof}Technical Field [0001] The present invention relates to a card test apparatus using a network analyzer,

본 발명은 네트워크 아날라이저(network analyzer)를 이용한 카드 검사에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 RFID카드(교통카드, 스마트카드, 기타)의 공진주파수 파형을 검사하여 카드의 상태(정상 및 불량)를 판단할 수 있도록 한 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to card inspection using a network analyzer, and more particularly, to a card inspection method for checking a resonance frequency waveform of an RFID card (traffic card, smart card, etc.) And more particularly, to a card inspecting apparatus using a network analyzer and a method thereof.

일반적으로 지하철, 버스 등의 대중교통 수단의 요금 결재방법으로써 자기기록매체가 형성된 마그네틱 카드를 사용하였으나, 오류발생이 빈번하고 수명이 짧아 사용되지 않고 있으며, 최근에는 루프안테나와 알에프아이디 칩(RFID 칩)이 내장된 13.56MHz의 공진 주파수를 갖는 알에프아이디 카드(RFID card)로 대체되어 사용되고 있다. 이러한 RFID 카드는 통상적으로 1 ~ 1.2mm 두께를 갖는 일정한 규격의 직사각형 형태이다.Generally, a magnetic card having a magnetic recording medium is used as a payment method for public transportation such as a subway or a bus. However, errors are frequent and life span is short, so that a loop antenna and an RFID ID chip ) Is replaced with an RFID card having a resonance frequency of 13.56 MHz. Such an RFID card is typically in the form of a rectangle of a certain size with a thickness of 1 to 1.2 mm.

RFID 카드는 공 카드의 이송 내지 공급, 마그네틱 스트라이프(Magnetic strip)의 정보 기록, 엠보싱, IC 정보 기록, 인덴트(indent), RFID 공정, 라미네이팅 코팅, 적재 등의 과정이 수행되어 제조되며, 이러한 과정은 카드의 이송에 따라 순차적으로 작업이 진행되는 시퀀스 제어(Sequence control)를 거쳐 완성된다.The RFID card is manufactured by carrying out processes such as transfer or supply of a blank card, information recording of a magnetic stripe, embossing, IC information recording, indent, RFID process, laminating coating, Is completed through a sequence control in which the operation is sequentially performed in accordance with the transfer of the card.

이렇게 완성된 RFID 카드는 여러 가지 항목의 검수 내지 검사 과정을 거쳐 최종적으로 고객에게 제공되게 되는 데, 이러한 검수 과정은 현재와 같은 정보화시대에는 더욱 그 중요성이 높아지고 있다. 여기서 ISO 14443에서는 스마트카드와 단말기의 공진 주파수를 13.56MHz±0.5MHz로 규정하고 있다.The RFID card thus completed is finally provided to the customer through inspection and inspection of various items. Such inspection process is becoming more important in the information age. In ISO 14443, the resonance frequency of the smart card and the terminal is defined as 13.56 MHz ± 0.5 MHz.

완성된 RFID 카드는 지하철역이나 상점 또는 특정장소에 배치된 교통카드 자동발매기에서 구매하도록 되어 있다.The completed RFID card is to be purchased at a subway station, at a shopping mall, or at a traffic card automatic ticket machine disposed at a specific place.

RFID 카드를 발매하는 기술이 하기의 <특허문헌 1> 대한민국 공개특허 공개번호 10-2006-0099487호(2006.09.19. 공개)에 개시된다.A technology for releasing an RFID card is disclosed in the following Patent Document 1: Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-2006-0099487 (published on September 19, 2006).

<특허문헌 1>은 다양한 디자인의 교통카드를 진열할 수 있는 교통카드 진열창을 구비하고, 터치스크린의 조작으로 이용자가 원하는 디자인의 교통카드를 선택적으로 구매할 수 있도록 하여, 이용자의 취향에 따른 구매 욕구를 만족시켜 준다.
Patent Document 1 discloses a transportation card display window that can display traffic cards of various designs and allows a user to selectively purchase a transportation card of a desired design by operating a touch screen, .

<특허문헌 1> 대한민국 공개특허 공개번호 10-2006-0099487호(2006.09.19. 공개)[Patent Document 1] Korean Published Patent Application No. 10-2006-0099487 (published on September 19, 2006)

그러나 상기와 같은 교통카드 자동발매기는 다양한 교통카드의 발매는 가능하나, 발매되는 교통카드를 검사하는 것은 불가능한 단점이 있었다.However, although the above-described automatic ticket vending machine of the traffic card can release a variety of traffic cards, it has a disadvantage that it is impossible to inspect the issued traffic card.

또한, 기존의 RFID 카드 제조사는 다양한 데, 각각의 제조사별로 제조한 RFID 카드의 공진 특성이 달라서 규격 준수가 필요하며, 이러한 규격 준수를 위해 제작된 RFID 카드의 공진 특성을 검사하는 장치가 요구되었다.
In addition, there are a variety of existing RFID card manufacturers, and the resonance characteristics of the RFID cards manufactured by the respective manufacturers are different, so that the standards are required to be complied with, and a device for inspecting the resonance characteristics of the RFID cards fabricated for compliance with such specifications is required.

본 발명의 목적은 상기한 바와 같은 종래 교통카드 발매기에서 발생하는 단점과 RFID 카드 제조사별로 제작한 RFID 카드의 공진 특성이 달라서 발생하는 제반 문제점을 해결하기 위한 것으로, RFID카드(교통카드, 스마트카드, 기타)의 공진주파수 파형을 검사하여 카드의 상태(정상 및 불량)를 판단할 수 있도록 한 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 것이다.An object of the present invention is to solve the problems caused by the disadvantages of the conventional traffic card ticket dispenser and the RFID card made by the manufacturer of the RFID card, The present invention is to provide a card inspecting apparatus using a network analyzer capable of judging the state (normal and defective) of a card by inspecting the resonance frequency waveform of the card.

본 발명의 다른 목적은 RFID 카드를 검사하고, 그 검사 결과에 따라 정상 카드와 불량카드를 분류하여 따로 적재할 수 있도록 한 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 것이다.
It is another object of the present invention to provide a card inspecting apparatus using a network analyzer which inspects an RFID card and classifies a normal card and a defective card according to a result of the inspection.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치는 검사 대상 카드를 검사 위치로 이송시키는 이송부; 검사 위치로 이송된 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형을 추출하는 네트워크 아날라이저; 상기 네트워크 아날라이저에서 추출한 공진 주파수 파형과 카드의 상태를 판단하기 위해 미리 등록해 놓은 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드의 상태를 판정하는 카드 검사부를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a card inspecting apparatus using a network analyzer, comprising: a transferring unit for transferring a card to be inspected to an inspection position; A network analyzer for extracting a resonance frequency waveform of the inspection target card transferred to the inspection position; And a card inspector for comparing the resonance frequency waveform extracted from the network analyzer with a standard waveform registered in advance to determine the state of the card to determine the state of the card to be inspected.

상기에서 카드 검사부는 검사 대상 카드의 상태를 판정한 결과에 따라 검사 카드의 적재 위치를 결정하기 위한 카드 적재위치 제어신호를 발생하는 것을 특징으로 한다.The card inspecting unit generates a card stacking position control signal for determining a stacking position of the test card according to a result of determination of the state of the card to be inspected.

상기에서 이송부는 상기 카드 검사부에서 발생하는 카드 적재위치 제어신호에 따라 검사 대상 카드를 적재 위치로 이송시키는 것을 특징으로 한다.Wherein the transferring unit transfers the card to be inspected to the loading position according to a card loading position control signal generated in the card checking unit.

상기에서 카드 검사부는 상기 네트워크 아날라이저에서 출력되는 공진 주파수의 파형을 입력받는 파형 입력 모듈; 상기 파형 입력 모듈에서 입력받은 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스에 기등록된 표준 파형을 비교하여 검사 결과 신호를 출력하는 파형 비교 모듈을 포함하는 것을 특징으로 한다.Wherein the card checking unit includes: a waveform input module receiving a waveform of the resonance frequency output from the network analyzer; And a waveform comparison module for comparing the resonance frequency waveform of the card to be inspected, which is input from the waveform input module, with a standard waveform previously registered in the waveform database, and outputting a test result signal.

상기에서 카드 검사부는 상기 파형 비교 모듈에서 출력되는 검사 결과 신호를 기반으로 카드 적재위치 제어신호를 발생하는 카드 적재 제어모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The card checking unit may further include a card loading control module for generating a card loading position control signal based on the inspection result signal output from the waveform comparison module.

상기에서 카드 검사부는 상기 파형 비교 모듈에서 출력되는 검사 결과 신호를 검사 결과 표시 데이터로 만들어 출력하는 검사결과 표시모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The card checking unit may further include a test result display module for outputting a test result signal output from the waveform comparison module as test result display data.

또한, 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치는 상기 이송부에서 정상 카드와 불량 카드로 분류되어 이송된 검사 대상 카드를 정상카드 적재함 또는 불량카드 적재함에 분류하여 적재하는 카드분류 적재부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The card inspecting apparatus using the network analyzer according to the present invention may further include a card sorting and loading unit for sorting and inserting inspection target cards classified into a normal card and a defective card in the transfer unit into a normal card loader or a bad card loader, .

또한, 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치는 상기 카드 검사부에서 출력되는 검사결과 표시데이터를 화면에 표시해주는 표시부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
In addition, the card inspecting apparatus using the network analyzer according to the present invention may further include a display unit for displaying test result display data output from the card inspecting unit on a screen.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법은 (a) 검사 대상 카드를 이송시키는 이송부에서 검사 대상 카드를 검사 위치로 이송시키는 단계; (b) 네트워크 아날라이저에서 상기 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형을 측정하는 단계; (c) 카드 검사부에서 상기 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스에 기등록된 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드의 상태를 판정하는 단계; (d) 상기 검사 대상 카드의 상태 판정 결과에 따라 검사 대상 카드의 적재 위치를 결정하고, 검사 대상 카드를 분류하여 적재토록 제어하는 단계; (e) 검사 대상 카드의 검사 결과를 표시해주는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a card using a network analyzer, including the steps of: (a) transferring a card to be inspected from a transfer unit for transferring a card to be inspected to an inspection position; (b) measuring a resonance frequency waveform of the test object card in a network analyzer; (c) comparing the resonance frequency waveform with a standard waveform previously registered in the waveform database to determine a state of the card to be inspected; (d) determining a loading position of the card to be inspected according to a result of state determination of the card to be inspected, and classifying and inserting the card to be inspected; (e) displaying a test result of the card to be inspected.

상기에서 (d) 단계는 상기 검사 대상 카드의 상태 판정 결과, 정상일 경우 정상카드 적재함으로 이송시키라는 제1 카드 적재위치 제어신호를 발생하고, 상기 검사 대상 카드의 상태 판정 결과, 불량일 경우 불량카드 적재함으로 이송시키라는 제2 카드 적재위치 제어신호를 발생하는 것을 특징으로 한다.
(D) generates a first card loading position control signal for transferring the state of the card to be inspected to a normal card loading case when the card is normal, And a second card loading position control signal for transferring the second card loading position control signal to the loading box.

본 발명에 따르면 RFID카드(교통카드, 스마트카드, 기타)의 공진 주파수 파형을 검사함으로써, 카드의 상태(정상 및 불량)를 정확하게 판정할 수 있는 장점이 있다.According to the present invention, by checking the resonance frequency waveform of an RFID card (traffic card, smart card, etc.), it is possible to accurately determine the state of the card (normal and defective).

또한, 본 발명에 따르면 RFID 카드를 검사하고, 그 검사 결과에 따라 정상 카드와 불량카드를 자동으로 분류하여 따로 적재할 수 있는 장점이 있다.
In addition, according to the present invention, there is an advantage that an RFID card is inspected, and a normal card and a defective card are automatically classified according to the inspection result and can be loaded separately.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치의 구성을 나타낸 블록도,
도 2는 도 1의 카드 검사부의 실시 예 블록도,
도 3은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법을 보인 흐름도.1 is a block diagram illustrating a configuration of a card testing apparatus using a network analyzer according to a preferred embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram of an embodiment of the card checking unit of FIG.
3 is a flowchart illustrating a method of inspecting a card using a network analyzer according to a preferred embodiment of the present invention.

이하 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치 및 그 방법을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an apparatus and method for inspecting a card using a network analyzer according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치의 구성을 보인 블록도로서, 이송부(20), 카드 분류 적재부(30), 네트워크 아날라이저(40), 파형 데이터베이스(DB)(50), 카드 검사부(60) 및 표시부(70)를 포함한다.FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a card testing apparatus using a network analyzer according to a preferred embodiment of the present invention. The card testing apparatus includes a transfer unit 20, a card sorting unit 30, a network analyzer 40, a waveform database (DB) (50), a card checking unit (60), and a display unit (70).

이송부(20)는 검사 대상 카드(10)를 검사 위치로 이송시키는 역할을 한다. 즉, 이송부(20)는 검사 대상 카드(10)를 네트워크 아날라이저(40)의 검사 위치로 이송시키는 역할을 한다.The transfer unit 20 serves to transfer the card 10 to be inspected to the inspection position. That is, the transfer unit 20 serves to transfer the card 10 to be inspected to the inspection position of the network analyzer 40.

네트워크 아날라이저(40)는 검사 위치로 이송된 검사 대상 카드(10)의 공진 주파수 파형을 추출하는 역할을 한다. 여기서 네트워크 아날라이저(40)는 검사 대상 카드의 공진 주파수를 추출하기 위한 통상의 주파수 분석기를 이용하는 것이 바람직하다.The network analyzer 40 serves to extract the resonance frequency waveform of the inspection target card 10 transferred to the inspection position. Here, the network analyzer 40 preferably uses a conventional frequency analyzer for extracting the resonance frequency of the card to be inspected.

카드 검사부(60)는 상기 네트워크 아날라이저(40)에서 추출한 공진 주파수 파형과 카드의 상태를 판단하기 위해 파형 데이터베이스(DB)(50)에 미리 등록해 놓은 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드의 상태를 판정하는 역할을 한다.The card inspector 60 compares the standard waveform previously registered in the waveform database (DB) 50 to determine the resonance frequency waveform extracted from the network analyzer 40 and the state of the card, .

이러한 카드 검사부(60)는 도 2에 도시한 바와 같이, 상기 네트워크 아날라이저(40)에서 출력되는 공진 주파수의 파형을 입력받는 파형 입력 모듈(61); 상기 파형 입력 모듈(61)에서 입력받은 검사 대상 카드(10)의 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스(50)에 기등록된 표준 파형을 비교하여 검사 결과 신호를 출력하는 파형 비교 모듈(62); 상기 파형 비교 모듈(62)에서 출력되는 검사 결과 신호를 기반으로 카드 적재위치 제어신호를 발생하는 카드 적재 제어모듈(64); 및 상기 파형 비교 모듈(62)에서 출력되는 검사 결과 신호를 검사 결과 표시 데이터로 만들어 출력하는 검사결과 표시모듈(63)을 포함한다.As shown in FIG. 2, the card inspector 60 includes a waveform input module 61 receiving a waveform of a resonance frequency output from the network analyzer 40; A waveform comparison module 62 for comparing the resonance frequency waveform of the inspection target card 10 inputted from the waveform input module 61 with the standard waveform previously registered in the waveform database 50 and outputting the inspection result signal; A card loading control module (64) for generating a card loading position control signal based on the inspection result signal output from the waveform comparison module (62); And a test result display module 63 that outputs test result signals output from the waveform comparison module 62 as test result display data.

카드분류 적재부(30)는 상기 이송부(20)에서 정상카드와 불량카드로 분류되어 이송된 검사 대상 카드를 정상카드 적재함 또는 불량카드 적재함에 분류하여 적재하는 역할을 한다.The card sorting and loading unit 30 serves to sort and load the inspection target cards, which are classified into the normal card and the defective card, in the transfer unit 20 into the normal card loader or the defective card loader.

표시부(70)는 상기 카드 검사부(60)에서 출력되는 검사 결과 표시데이터를 화면에 표시해주는 역할을 한다. 이러한 표시부(70)는 액정표시장치(LCD)로 구현할 수 있다.The display unit 70 displays test result display data output from the card check unit 60 on the screen. The display unit 70 may be implemented by a liquid crystal display (LCD).

이와 같이 구성된 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치의 동작을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.The operation of the card inspecting apparatus using the network analyzer according to the present invention will now be described in detail.

먼저, 이송부(20)는 적재모듈에 정렬되어 있는 검사 대상 카드 중 검사할 검사 대상 카드(10)만을 네트워크 아날라이저(40)의 검사 위치로 이송시킨다. 이송 방법은 컨베이어 벨트 등을 구비한 이송장치를 이용하여 검사 대상 카드(10)를 검사 위치로 이송시키게 된다. First, the transfer unit 20 transfers only the inspection target card 10 to be inspected among the inspection target cards arranged in the loading module to the inspection position of the network analyzer 40. The conveying method uses a conveying device having a conveyor belt or the like to convey the inspection target card 10 to the inspection position.

검사 대상 카드(10)가 검사 위치로 이송되면, 네트워크 아날라이저(40)는 안테나를 이용하여 검사 대상 카드(10)와 공진을 하게 되고, 이때 발생하는 공진 주파수 파형을 추출하여 카드 검사부(60)에 전달한다. 여기서 네트워크 아날라이저(40)가 RFID 카드와 공진을 하여 공진 주파수 파형을 추출하는 것은 일반적인 네트워크 아날라이저의 기능이므로, 구체적인 설명은 생략하기로 한다. 필요에 따라 네트워크 아날라이저(40)는 발생하는 공진 주파수의 파형 중 일정 구간의 공진 주파수의 파형만을 추출할 수 있다. 이것은 검사 초기의 공진 주파수와 안정화된 상태의 공진 주파수가 달라질 수 있기 때문이다. 따라서 검사 초기부터 공진 주파수의 파형을 지속적으로 추출하고, 그 추출한 공진 주파수의 파형을 시간을 기준으로 일정 구간의 공진 주파수 파형만을 추출하여 사용하는 것이 바람직하다.When the card 10 to be inspected is transferred to the inspection position, the network analyzer 40 resonates with the card 10 to be inspected using the antenna, extracts the resonance frequency waveform generated at this time, . Here, since the network analyzer 40 resonates with the RFID card to extract the resonance frequency waveform is a function of a general network analyzer, a detailed description will be omitted. If necessary, the network analyzer 40 can extract only a waveform of the resonance frequency of a certain section of the generated waveform of the resonance frequency. This is because the initial resonance frequency and the resonance frequency of the stabilized state can be changed. Therefore, it is preferable that the waveform of the resonance frequency is continuously extracted from the beginning of the test, and only the resonance frequency waveform of the predetermined section is extracted based on the extracted waveform of the resonance frequency.

카드 검사부(60)의 파형 입력 모듈(61)은 검사 대상 카드(10)에 대한 공진 주파수 파형을 입력받아 파형 비교 모듈(62)에 전달한다. 파형 비교 모듈(62)은 전달되는 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스(50)에 기등록된 표준 파형을 비교한다. 여기서 표준 파형은 검사 대상 카드(RFID 카드)의 정상 및 불량을 판정하기 위한 기준 파형을 의미하며, ISO 14443에서 정의한 13.56MHz±0.5MHz 파형을 의미한다.The waveform input module 61 of the card inspector 60 receives the resonance frequency waveform of the card 10 to be inspected and transfers the waveform to the waveform comparison module 62. The waveform comparison module 62 compares the transmitted resonance frequency waveform with the standard waveform previously registered in the waveform database 50. Here, the standard waveform refers to a reference waveform for determining whether the card to be inspected (RFID card) is normal or defective and refers to a 13.56 MHz ± 0.5 MHz waveform defined by ISO 14443.

파형 비교 방법은 표준 파형 위에 측정한 공진 주파수 파형을 중첩시키고, 그 차이를 산출하는 방법을 이용할 수 있다. 그리고 산출한 차이가 상기 표준 파형(13.56MHz±0.5MHz)의 범위에 포함되면 정상 카드로 판정을 하고, 이와는 달리 산출한 차이가 표준 파형의 범위를 벗어나면 불량 카드로 판정을 한다.The waveform comparison method can use a method of superimposing the resonance frequency waveform measured on the standard waveform and calculating the difference. If the calculated difference is within the range of the standard waveform (13.56 MHz ± 0.5 MHz), it is judged as a normal card. Otherwise, if the calculated difference is out of the range of the standard waveform, it is judged as a defective card.

이후, 검사 대상 카드를 판정한 결과에 대한 검사 결과 표시 데이터를 생성하여 검사 결과 표시모듈(63)에 전달하고, 아울러 검사 결과 데이터(정상 상태 데이터 또는 불량 상태 데이터)를 발생하여 카드 적재 제어모듈(64)에 전달한다.Thereafter, inspection result display data for the result of determination of the card to be inspected is generated and transmitted to the inspection result display module 63. In addition, inspection result data (normal state data or bad state data) is generated and stored in the card loading control module 64).

카드적재 제어모듈(64)은 입력되는 검사 결과 데이터에 따라 카드의 적재 위치를 결정하기 위한 신호 즉, 카드 적재위치 제어신호를 발생하여 이송부(20)에 전달한다. 여기서 카드 적재위치 제어신호는 검사 결과 정상 카드로 판정되어 검사 대상 카드를 정상카드 적재함에 이송하라는 제1 카드 적재위치 제어신호와, 검사 결과 불량 카드로 판정되어 검사 대상 카드를 불량카드 적재함에 이송하라는 제2 카드 적재위치 제어신호로 대별된다. 제1 카드 적재위치 제어신호는 디지털 신호로 "1"이 될 수 있으며, 제2 카드 적재위치 제어신호는 디지털 신호로 "0"이 될 수 있다.The card loading control module 64 generates a signal for determining the loading position of the card, that is, a card loading position control signal, according to the input test result data, and transmits the signal to the transfer unit 20. Here, the card loading position control signal includes a first card loading position control signal for judging that the card to be inspected is a normal card and transferring the card to be inspected to the normal card loader, and a second card loading position control signal for determining that the card is a defective card And a second card loading position control signal. The first card loading position control signal may be a digital signal "1 ", and the second card loading position control signal may be a digital signal" 0 ".

이송부(20)는 상기 카드 검사부(60) 내의 카드적재 제어모듈(64)에서 출력되는 제1 카드 적재위치 제어신호 또는 제2 카드 적재위치 제어신호에 따라 검사 대상 카드(40)를 분류하여 카드 분류 적재부(30)에 이송하여, 해당 적재함에 적재를 하게 된다. 예컨대, 카드 적재위치 제어신호가 제1 카드 적재위치 제어신호일 경우에는 검사 대상 카드가 정상상태이므로, 카드 분류 적재부(30)의 정상카드 적재함에 검사 대상 카드를 적재한다. 아울러 카드 적재위치 제어신호가 제2 카드 적재위치 제어신호일 경우에는 검사 대상 카드가 불량상태이므로, 카드 분류 적재부(30)의 불량카드 적재함에 검사 대상 카드를 적재한다. The transfer unit 20 classifies the card 40 to be inspected according to the first card loading position control signal or the second card loading position control signal output from the card loading control module 64 in the card checking unit 60, And is transported to the loading unit 30 to be loaded on the loading bay. For example, when the card stacking position control signal is the first card stacking position control signal, the card to be inspected is loaded in the normal card loading box of the card sorting unit 30 since the card to be inspected is in a normal state. When the card loading position control signal is the second card loading position control signal, the card to be inspected is loaded in the defective card loading box of the card sorting unit 30 because the card to be inspected is in a defective state.

이러한 방식은 정상카드와 불량카드의 경로를 달리하여 적재하는 방식이다. 이러한 방식 이외에 카드 검사 결과에 따라 검사 대상 카드에 인덱스를 하여 적재시 이를 참조하도록 하는 방법도 가능하다. 예컨대, 이송부(20)는 검사 결과, 불량 카드일 경우에는 검사 대상 카드에 미리 설정된 불량카드임을 나타내는 태그를 붙여 카드 분류 적재부(30)로 이송한다. 그러면 카드 분류 적재부(30)에서 태그 인식 동작을 수행하여, 태그가 인식되지 않으면 정상 카드로 판단을 하여 정상 카드 적재함에 적재하고, 태그가 인식되면 불량 카드로 판단을 하고 불량 카드 적재함에 적재하게 되는 것이다.This method is a method in which the paths of the normal card and the defective card are loaded differently. In addition to this method, it is also possible to index the card to be inspected according to the result of the card inspection to refer to it when the card is loaded. For example, if the card 20 is a defective card, the transfer unit 20 attaches a tag indicating that it is a bad card set in advance to the card to be inspected, and transfers the card to the card sorting unit 30. If the tag is not recognized, it is determined that the tag is a normal card, and the tag is loaded in the normal card loading tray. If the tag is recognized, it is determined that the card is a bad card and the loaded card is loaded in the bad card loading box .

한편, 카드 검사부(60)의 검사 결과 표시모듈(63)은 파형 비교 모듈(62)로부터 전달되는 검사 결과 표시 데이터를 표시부(70)로 출력하여, 표시부(70)의 화면상에 검사 대상 카드의 검사 결과가 표시되도록 한다. 표시부(70)에 표시되는 검사 결과는 정상, 불량 여부에 대한 데이터, 불량 개수에 대한 데이터, 불량률에 대한 데이터일 수 있다.On the other hand, the inspection result display module 63 of the card inspection section 60 outputs the inspection result display data transmitted from the waveform comparison module 62 to the display section 70, and displays the inspection result display data on the screen of the display section 70 Ensure that the test results are displayed. The inspection result displayed on the display unit 70 may be normal, data on a defect, data on a defect count, and data on a defect rate.

또한, 카드 검사부(60)의 파형 비교 모듈(62)은 카드 검사 결과를 내부 메모리에 저장할 수 있다. 이렇게 저장된 카드 검사 결과는 추후 제조사에 전달되어, 제조사에서 카드를 제조할 때 불량률을 낮추는 정보로 활용할 수 있다.Further, the waveform comparison module 62 of the card checking unit 60 can store the card checking result in the internal memory. The result of the stored card test is transmitted to the manufacturer in the future and can be used as information for lowering the defect rate when the card is manufactured by the manufacturer.

도 3은 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법을 보인 흐름도로서, S는 단계(step)를 나타낸다.3 is a flowchart illustrating a method of inspecting a card using a network analyzer according to the present invention, wherein S represents a step.

도 3에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법은 (a) 검사 대상 카드를 이송시키는 이송부(20)에서 검사 대상 카드(10)를 검사 위치로 이송시키는 단계(S11); (b) 네트워크 아날라이저(40)에서 상기 검사 대상 카드(10)의 공진 주파수 파형을 측정하는 단계(S12); (c) 카드 검사부(60)에서 상기 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스(50)에 기등록된 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드(10)의 상태를 판정하는 단계(S13 ~ S14); (d) 상기 검사 대상 카드(10)의 상태 판정 결과에 따라 검사 대상 카드(10)의 적재 위치를 결정하여, 검사 대상 카드(10)를 분류하여 적재토록 제어하는 단계(S15, S17, S18); (e) 검사 대상 카드(10)의 검사 결과를 표시해주는 단계(S16)를 포함한다.As shown in FIG. 3, the card inspecting method using the network analyzer according to the present invention includes the steps of: (a) transferring a card 10 to be inspected from a transferring unit 20 for transferring a card to be inspected (S11) ; (b) measuring the resonance frequency waveform of the card to be inspected (10) in the network analyzer (40) (S12); (c) comparing the resonance frequency waveform with the standard waveform previously registered in the waveform database 50 to determine the state of the card 10 to be inspected (S13 to S14); (S15, S17, S18) of determining the stacking position of the card 10 to be inspected according to a result of state determination of the card 10 to be inspected, ; (e) a step (S16) of displaying the inspection result of the card 10 to be inspected.

이와 같이 이루어지는 본 발명에 따른 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.A method of inspecting a card using the network analyzer according to the present invention will now be described in detail.

먼저, 단계 S11에서 이송부(20)는 검사 대상 카드(10)를 검사 위치로 이송하게 되고, 단계 S12에서 네트워크 아날라이저(40)는 상기 검사 대상 카드(10)의 공진 주파수 파형을 측정한다.First, in step S11, the transfer unit 20 transfers the card 10 to be inspected to the inspection position. In step S12, the network analyzer 40 measures the resonance frequency waveform of the card 10 to be inspected.

이후, 단계 S13 및 S14에서 측정한 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스(50)에 기등록된 표준 파형을 비교하여, 정상 카드인지 불량카드인지를 판정한다. 여기서 검사 대상 카드의 판정 방법은 전술한 도 1 및 도 2에서 설명한 카드 판정 방법을 그대로 채택하는 것이 바람직하다.Thereafter, the resonance frequency waveform measured in steps S13 and S14 is compared with the standard waveform previously registered in the waveform database 50 to determine whether it is a normal card or a bad card. Here, it is preferable that the method of determining a card to be inspected adopts the card determination method described with reference to FIG. 1 and FIG. 2 as it is.

이 판정 결과 불량 카드일 경우에는 단계 S17로 이동하여 불량 카드로 판정을 하고, 제2카드 적재위치 제어신호를 발생하여 이송부(20)에 전달한다. 아울러 판정 결과 정상 카드일 경우에는 단계 S15로 이동하여 제1카드 적재위치 제어신호를 발생하여 이송부(20)에 전달한다.As a result of the determination, if the card is a bad card, the process proceeds to step S17 to determine that the card is a bad card, generates a second card loading position control signal, and transmits the second card loading position control signal to the transferring unit 20. If it is determined that the card is a normal card, the process proceeds to step S15 where a first card loading position control signal is generated and transmitted to the transfer unit 20.

이송부(20)는 상기 제1카드 적재위치 제어신호 또는 제2카드 적재위치 제어신호에 따라 검사 대상 카드를 분류하여 적재함에 적재하게 된다. 이로써 추후 관리자가 별도로 검사 대상 카드를 정상 카드와 불량 카드로 분류하여 적재하는 불편함을 해소할 수 있게 된다.The transfer unit 20 classifies the card to be inspected according to the first card loading position control signal or the second card loading position control signal, and loads the card in the loading box. This makes it possible to eliminate the inconvenience that the administrator later separately classifies the test target card as a normal card and a defective card.

마지막으로, 단계 S16에서는 카드 검사 결과를 표시부(70)에 표시해주어, 관리자가 육안으로 용이하게 카드 검사 결과를 확인할 수 있도록 한다.Finally, in step S16, the card inspection result is displayed on the display unit 70 so that the administrator can easily check the card inspection result with the naked eye.

이상 본 발명자에 의해서 이루어진 발명을 상기 실시 예에 따라 구체적으로 설명하였지만, 본 발명은 상기 실시 예에 한정되는 것은 아니고 그 요지를 이탈하지 않는 범위에서 여러 가지로 변경 가능한 것은 물론이다.
Although the present invention has been described in detail with reference to the above embodiments, it is needless to say that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications may be made without departing from the spirit of the present invention.

본 발명은 RFID 카드를 검사하는 기술에 적용된다. 특히, RFID카드의 공진 주파수를 검출하여 RFID 카드를 검사하는 기술에 효과적으로 적용된다.
The present invention is applied to a technology for inspecting an RFID card. In particular, the present invention is effectively applied to a technology for detecting the resonance frequency of the RFID card and inspecting the RFID card.

10: 검사 대상 카드
20: 이송부
30: 카드 분류 적재부
40: 네트워크 아날라이저
50: 파형 데이터베이스(DB)
60: 카드 검사부
70: 표시부10: Card to be inspected
20:
30: Card sorting loading section
40: Network Analyzer
50: Waveform database (DB)
60: Card inspector
70:

Claims (10)

검사 대상 카드를 검사 위치로 이송시키는 이송부; 검사 위치로 이송된 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형을 추출하는 네트워크 아날라이저; 및 상기 네트워크 아날라이저에서 추출한 공진 주파수 파형과 카드의 상태를 판단하기 위해 미리 등록해 놓은 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드의 상태를 판정하는 카드 검사부를 포함하고,
상기 네트워크 아날라이저는 검사 초기부터 공진 주파수의 파형을 지속적으로 추출하고, 그 추출한 공진 주파수의 파형을 안정화에 필요한 시간이 지난 후의 시간을 기준으로 일정 구간의 공진 주파수 파형만을 추출하며,
상기 카드 검사부는 상기 네트워크 아날라이저에서 출력되는 공진 주파수의 파형을 입력받는 파형 입력 모듈; 상기 파형 입력 모듈에서 입력받은 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스에 기등록된 표준 파형(13.56MHz±0.5MHz)을 비교하여 검사 결과 신호를 출력하는 파형 비교 모듈을 포함하며,
상기 파형 비교 모듈은 상기 표준 파형 위에 측정한 공진 주파수 파형을 중첩시키고, 그 차이를 산출하는 방법을 이용하여 파형을 비교하되, 산출한 차이가 상기 표준 파형(13.56MHz±0.5MHz)의 범위에 포함되면 정상 카드로 판정을 하고, 상기 산출한 차이가 표준 파형의 범위를 벗어나면 불량 카드로 판정하는 것을 특징으로 하는 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치.
A transfer unit for transferring the card to be inspected to the inspection position; A network analyzer for extracting a resonance frequency waveform of the inspection target card transferred to the inspection position; And a card inspector for comparing a resonance frequency waveform extracted from the network analyzer with a standard waveform registered in advance to determine a state of the card,
The network analyzer continuously extracts the waveform of the resonance frequency from the beginning of the test and extracts only the resonance frequency waveform of the predetermined section based on the time after the time required for stabilization of the waveform of the extracted resonance frequency,
Wherein the card checking unit comprises: a waveform input module receiving a waveform of a resonance frequency output from the network analyzer; And a waveform comparison module for comparing the resonance frequency waveform of the card to be inspected inputted from the waveform input module with a standard waveform (13.56 MHz ± 0.5 MHz) previously registered in the waveform database and outputting a test result signal,
Wherein the waveform comparison module compares the waveforms with a method of superimposing the resonance frequency waveform measured on the standard waveform and calculating the difference, and the calculated difference is included in the range of the standard waveform (13.56 MHz ± 0.5 MHz) And judges the card as a bad card if the calculated difference is out of the standard waveform range.
청구항 1에 있어서, 상기 카드 검사부는 검사 대상 카드의 상태를 판정한 결과에 따라 검사 카드의 적재 위치를 결정하기 위한 카드 적재위치 제어신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치.
The card inspecting apparatus according to claim 1, wherein the card inspecting unit generates a card stacking position control signal for determining a stacking position of a test card according to a result of determination of a state of a card to be inspected.
청구항 2에 있어서, 상기 이송부는 상기 카드 검사부에서 발생하는 카드 적재위치 제어신호에 따라 검사 대상 카드를 적재 위치로 이송시키는 것을 특징으로 하는 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치.
The card inspecting apparatus according to claim 2, wherein the transferring unit transfers the card to be inspected to the loading position according to a card loading position control signal generated in the card inspecting unit.
삭제delete 청구항 1에 있어서, 상기 카드 검사부는 상기 파형 비교 모듈에서 출력되는 검사 결과 신호를 기반으로 카드 적재위치 제어신호를 발생하는 카드 적재 제어모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치.
The apparatus of claim 1, wherein the card checking unit further comprises a card loading control module for generating a card loading position control signal based on the inspection result signal output from the waveform comparison module.
청구항 1에 있어서, 상기 카드 검사부는 상기 파형 비교 모듈에서 출력되는 검사 결과 신호를 검사 결과 표시 데이터로 만들어 출력하는 검사결과 표시모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치.
The apparatus of claim 1, wherein the card testing unit further comprises a test result display module that outputs test result signals output from the waveform comparison module as test result display data.
청구항 1에 있어서, 상기 이송부에서 정상 카드와 불량 카드로 분류되어 이송된 검사 대상 카드를 정상카드 적재함 또는 불량카드 적재함에 분류하여 적재하는 카드분류 적재부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치.
The card analyzer according to claim 1, further comprising a card classifying unit for classifying and loading the inspection target card, which is classified into a normal card and a defective card, in the transfer unit into a normal card loader or a defective card loader, Inspection device.
청구항 1에 있어서, 상기 카드 검사부에서 출력되는 검사결과 표시데이터를 화면에 표시해주는 표시부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 장치.
The apparatus of claim 1, further comprising a display unit for displaying test result display data output from the card check unit on a screen.
(a) 검사 대상 카드를 이송시키는 이송부에서 검사 대상 카드를 검사 위치로 이송시키는 단계;
(b) 네트워크 아날라이저에서 상기 검사 대상 카드의 공진 주파수 파형을 측정하는 단계;
(c) 카드 검사부에서 상기 공진 주파수 파형과 파형 데이터베이스에 기등록된 표준 파형을 비교하여 검사 대상 카드의 상태를 판정하는 단계;
(d) 상기 검사 대상 카드의 상태 판정 결과에 따라 검사 대상 카드의 적재 위치를 결정하고, 검사 대상 카드를 분류하여 적재토록 제어하는 단계; 및
(e) 검사 대상 카드의 검사 결과를 표시해주는 단계를 포함하고,
상기 (c)단계는 상기 표준 파형 위에 측정한 공진 주파수 파형을 중첩시키고, 그 차이를 산출하는 방법을 이용하여 파형을 비교하되, 산출한 차이가 상기 표준 파형(13.56MHz±0.5MHz)의 범위에 포함되면 정상 카드로 판정을 하고, 상기 산출한 차이가 표준 파형의 범위를 벗어나면 불량 카드로 판정하는 것을 특징으로 하는 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법.
(a) transferring a card to be inspected from a transfer unit for transferring a card to be inspected to an inspection position;
(b) measuring a resonance frequency waveform of the test object card in a network analyzer;
(c) comparing the resonance frequency waveform with a standard waveform previously registered in the waveform database to determine a state of the card to be inspected;
(d) determining a loading position of the card to be inspected according to a result of state determination of the card to be inspected, and classifying and inserting the card to be inspected; And
(e) displaying a test result of the card to be inspected,
The step (c) includes comparing the waveforms by using a method of superimposing the resonance frequency waveform measured on the standard waveform and calculating the difference, and comparing the calculated difference with the standard waveform (13.56 MHz ± 0.5 MHz) And judges the card as a bad card if the calculated difference is out of the standard waveform range.
청구항 9에 있어서, 상기 (d) 단계는 상기 검사 대상 카드의 상태 판정 결과, 정상일 경우 정상카드 적재함으로 이송시키라는 제1 카드 적재위치 제어신호를 발생하고, 상기 검사 대상 카드의 상태 판정 결과, 불량일 경우 불량카드 적재함으로 이송시키라는 제2 카드 적재위치 제어신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 네트워크 아날라이저를 이용한 카드 검사 방법.

The method according to claim 9, wherein the step (d) further comprises: generating a first card loading position control signal to transfer the state of the card to be tested to a normal card loading case when the card is normal, A second card loading position control signal for transferring the second card loading position control signal to the defective card loading box.

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040003105A (en) * 2002-06-25 2004-01-13 주식회사 케이디엔스마텍 Apparatus of inspection and sorting card
KR20060017530A (en) * 2003-06-03 2006-02-23 애질런트 테크놀로지스, 인크. A network analyzing method and a network analyzing apparatus
JP2009080687A (en) * 2007-09-26 2009-04-16 Sony Ericsson Mobilecommunications Japan Inc Contactless ic card measurement apparatus, contactless ic card measurement method and contactless ic card measurement program

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040003105A (en) * 2002-06-25 2004-01-13 주식회사 케이디엔스마텍 Apparatus of inspection and sorting card
KR20060017530A (en) * 2003-06-03 2006-02-23 애질런트 테크놀로지스, 인크. A network analyzing method and a network analyzing apparatus
JP2009080687A (en) * 2007-09-26 2009-04-16 Sony Ericsson Mobilecommunications Japan Inc Contactless ic card measurement apparatus, contactless ic card measurement method and contactless ic card measurement program

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230100847A (en) 2021-12-29 2023-07-06 주식회사 바이오소프트 Measurement system using multiple instruments

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