KR20150017256A - 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치 - Google Patents

밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20150017256A
KR20150017256A KR1020130093293A KR20130093293A KR20150017256A KR 20150017256 A KR20150017256 A KR 20150017256A KR 1020130093293 A KR1020130093293 A KR 1020130093293A KR 20130093293 A KR20130093293 A KR 20130093293A KR 20150017256 A KR20150017256 A KR 20150017256A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
unit
angle
simulator
signal
thyristor valve
Prior art date
Application number
KR1020130093293A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101748724B1 (ko
Inventor
파자르 사스트로위조
Original Assignee
엘에스산전 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘에스산전 주식회사 filed Critical 엘에스산전 주식회사
Priority to KR1020130093293A priority Critical patent/KR101748724B1/ko
Publication of KR20150017256A publication Critical patent/KR20150017256A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101748724B1 publication Critical patent/KR101748724B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/02Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/263Circuits therefor for testing thyristors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318342Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences by preliminary fault modelling, e.g. analysis, simulation
    • G01R31/318357Simulation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

본 발명은 시간과 비용의 효율성을 향상시킬 수 있고 C&P 시스템의 연결 없이 사이리스터 밸브의 시험이 가능한 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치를 제공하려는 것으로서, 본 발명에 따른 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치는 사용자가 설정한 점호 각 지령을 근거로, VBE 장치에 점호 지령 신호를 생성하여 출력하는 시뮬레이터(simulator)를 포함한다.

Description

밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치{APPARATUS FOR TESTING VALVE BASE ELECTRONICS}
본 발명은 초고전압 직류(High Voltage Direct Current, 이하 HVDC로 약칭함) 송전 시스템에 있어서 주요 장치인 밸브 베이스 일렉트로닉스(Valve Base Electronics) 장치(이하 VBE 장치로 약칭함)의 기능 시험을 위한 시험 장치에 관한 것으로, 특히 제어 및 보호 시스템(Control and Protection) 시스템이 불요한 VBE 장치의 시험 장치에 관한 것이다.
종래기술에 따른 사이리스터 밸브의 시험 장치를 도 1을 참조하여 설명한다.
도 1에 도시된 바와 같이 종래기술에 따른 사이리스터 밸브의 시험 장치는 제어 및 보호(Control and Protection, 이하 C&P로 약칭함) 시스템(100-1), 밸브 베이스 일렉트로닉스(Valve Base Electronics) 장치(이하 VBE 장치로 약칭함) (200) 및 게이트 유닛(Gate Unit)(300)을 포함하여 구성된다.
도 1에서 부호 400은 시험 대상인 사이리스터 밸브를 지시한다.
C&P 시스템(100-1)은 사이리스터 밸브(400)의 게이트 구동을 위한 점호 신호와, 통신을 위한 프로토콜(protocol) 신호를 생성하여 출력한다.
여기서 통신을 위한 프로토콜(protocol) 신호는 이디넷 아이피(EtherNet/IP), 프로피버스(PROFIBUS), 필드버스(Fieldbus), 라피넷(RAPIEnet) 등과 같은 산업용 통신 프로토콜 중 어느 하나에 따른 신호일 수 있다.
VBE 장치(200)는 C&P 시스템(100-1)과 프로토콜 신호 선으로 접속되어 C&P 시스템(100-1)으로부터 통신을 위한 상기 프로토콜 신호와 사이리스터 밸브(400)의 게이트 구동을 위한 점호 신호를 수신하고, 수신한 점호 신호를 게이트 유닛(300)에 전송하기 위한 광 펄스신호로 변환하여 출력한다.
VBE 장치(200)와 게이트 유닛(300)은 광 케이블(optic cable)로 접속되어, 게이트 유닛(300)은 상기 광 케이블을 통해 수신한 VBE 장치(200)로부터의 광 펄스신호 형태의 점호 신호를 사이리스터 밸브(400)의 게이트에 출력하거나 출력을 중단하여 사이리스터 밸브(400)를 턴 온(turn on) 또는 턴 오프(turn off) 시킨다.
사이리스터 밸브(400)의 정상 여부에 대한 결정은 상기 점호 신호를 인가하거나 인가를 중지했을 때 사이리스터 밸브(400)의 양단 전압을 검출하여 결정할 수 있다.
그러나 상술한 바와 같은 종래기술에 따른 사이리스터 밸브의 시험 장치에 있어서 C&P 시스템(100-1)은 VBE 장치의 시험 전용의 장치가 아니고 초고압 직류 송전시스템에 있어서 직류/교류의 변환소에 설치되는 운용장비, 제어장비 및 현장 장비 중 제어장비에 해당하는 장비로서, 복수의 현장장비의 상태를 측정, 감시 및 제어하기 위해서 복수의 제어회로기판 즉 제어카드(CPU 카드로 통칭됨), 통신을 위한 통신 프로토콜 주(master)/종(slave) 장치, 측정신호 인터페이스, 아날로그/디지털 입출력 부 등을 가진다.
따라서 C&P 시스템(100-1)을 이용해서 VBE 장치의 시험하기 위해서는 C&P 시스템(100-1)이 다른 기능들의 수행을 종료할 때까지 기다려야 하며, 이에 앞서서 VBE 장치를 시험하는 것은 불가능하다.
또한 상기 변환소에서 C&P 시스템(100-1)의 운용을 담당하고 있는 사람들의 디버깅(debugging)등 성공적 시험을 위한 지원이 필요하다.
이는 불편함을 야기하고 복수의 작업자의 시간 손실을 초래하며 따라서 비용의 증가를 초래하는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상술한 종래기술의 문제점을 해소하는 것으로서, 본 발명의 목적은 시간과 비용의 효율성을 향상시킬 수 있고 C&P 시스템의 연결 없이 VBE 장치의 시험이 가능한 VBE 장치의 시험 장치를 제공하는 것이다.
상기 본 발명의 목적은, 사이리스터 밸브의 게이트에 점호 신호를 출력하는 게이트 유닛(gate unit)과, 상기 게이트 유닛이 상기 점호 신호를 만들 수 있도록 상응한 광 신호(optic signal)를 상기 게이트 유닛에 출력하는 VBE(Valve Base Electronics) 장치의 기능 시험용으로서, 상기 VBE 장치의 시험 장치에 있어서,
사용자가 설정한 점호 각 지령을 근거로, 상기 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치에 점호 지령 신호를 생성하여 출력하는 시뮬레이터(simulator);를 포함하는 본 발명에 따른 VBE 장치의 시험 장치를 제공함으로써 달성될 수 있다.
본 발명의 바람직한 일 양상에 따라서, 상기 시뮬레이터는 사용자가 점호 각 지령을 설정할 수 있는 수단을 제공하는 키이패드(keypad)를 포함한다.
본 발명의 바람직한 다른 일 양상에 따라서, 상기 키이패드는, 사용자에게 사이리스터 밸브의 점호 각을 설정하도록 입력 수단을 제공하는 키이 입력(key switch)부; 및 상기 키이 입력 부에 의해 설정한 사이리스터 밸브의 점호 각을 확인할 수 있도록 표시하는 표시 부;를 포함한다.
본 발명의 바람직한 또 다른 일 양상에 따라서, 상기 시뮬레이터는, 상기 시뮬레이터의 기능을 제어하는 제어부; 및 상기 제어부에 접속되고, 상기 제어부가 상기 점호 지령 신호를 출력하도록 지령하는 속행 지령 선택 스위치(deblock switch)와, 상기 제어부가 상기 점호 지령 신호의 출력을 중단하도록 지령하는 중단 선택 스위치(block switch)를 포함하여 사용자에게 동작 선택 수단을 제공하는 동작 선택 스위치 부;를 더 포함한다.
본 발명에 따른 VBE 장치의 시험 장치는, C&P 시스템 대신에 사용자가 설정한 점호 각 지령을 근거로, VBE 장치에 점호 지령 신호를 생성하여 출력하는 시뮬레이터를 포함하므로, C&P 시스템 연결에 따른 시간손실, C&P 시스템 관리 인원의 지원이 불필요하며, C&P 시스템의 연결 없이 간편하고 신속하게 VBE 장치에 대한 정상 여부를 시험할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
본 발명에 따른 VBE 장치의 시험 장치에 있어서, 상기 시뮬레이터는 사용자가 점호 각 지령을 설정할 수 있는 수단을 제공하는 키이패드(keypad)를 포함하므로, C&P 시스템의 연결 없이 시험자가 키이패드를 조작하여 간편하게 VBE 장치에 대한 정상 여부를 시험할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
본 발명에 따른 VBE 장치의 시험 장치에 있어서, 상기 키이패드는, 키이 입력(key switch)부 및 표시 부를 포함하므로, 사용자에게 사이리스터 밸브의 점호 각을 설정하도록 입력 수단을 제공할 수 있고, 상기 키이 입력 부에 의해 설정한 사이리스터 밸브의 점호 각을 표시하여 확인할 수 있는 효과가 있다.
본 발명에 따른 VBE 장치의 시험 장치에 있어서, 상기 시뮬레이터는, 상기 시뮬레이터의 기능을 제어하는 제어부를 포함하므로 상기 시뮬레이터의 기능들을 통합 제어하는 것이 가능하며, 상기 제어부가 상기 점호 지령 신호를 출력하도록 지령하는 속행 지령 선택 스위치(deblock switch)와, 상기 제어부가 상기 점호 지령 신호의 출력을 중단하도록 지령하는 중단 지령 선택 스위치(block switch)를 포함한 동작 선택 스위치 부를 더 포함하므로, 사용자에게 동작 선택 수단을 제공하고 지령할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
도 1은 종래기술에 따른 사이리스터 밸브의 시험 장치 전체 구성을 보여주는 블록 도이고,
도 2는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 VBE 장치의 시험 장치를 구성하는 시뮬레이터의 외형 구성을 보여주는 정면도이고,
도 3은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 VBE 장치의 시험 장치를 포함하는 전체 사이리스터 밸브의 시험 장치 구성을 보여주는 구성 블록 도이며,
도 4는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 VBE 장치의 시험 장치를 구성하는 시뮬레이터의 회로 구성을 보여주는 블록 도이고,
도 5는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 VBE 장치의 시험 장치를 구성하는 시뮬레이터에 있어서 제어부의 제어 동작을 보여주는 흐름도이다.
상술한 본 발명의 목적과 이를 달성하는 본 발명의 구성 및 그의 작용효과는 첨부한 도면을 참조한 본 발명의 바람직한 실시 예에 대한 이하의 설명에 의해서 좀 더 명확히 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 VBE 장치의 시험 장치를 포함하는 사이리스터 밸브의 시험 장치의 전체 구성을 보여주는 구성 블록 도인 도 3을 참조할 수 있는 바와 같이, 사이리스터 밸브의 시험 장치는 게이트 유닛(gate unit)(300)과 VBE(Valve Base Electronics) 장치(이하 VBE 장치로 약칭함)(200)를 포함하며, 상술한 종래기술에 따른 사이리스터 밸브의 시험 장치와 다르게 C&P 시스템 대신 시뮬레이터(simulator)(100)를 포함하여 구성된다.
상술한 종래기술에 따른 사이리스터 밸브의 시험 장치와 마찬가지로 게이트 유닛(300)은 사이리스터 밸브(400)의 게이트에 점호 신호(firing signal)를 출력하는 수단이다.
상술한 종래기술에 따른 사이리스터 밸브의 시험 장치와 마찬가지로 VBE 장치(200)는 게이트 유닛(300)이 상기 점호 신호를 만들 수 있도록 상응한 광 신호(optic signal)(또는 일명 광 펄스 신호)를 게이트 유닛(300)에 출력하는 수단이다.
시뮬레이터(100)는 사용자가 설정한 점호 각 지령을 근거로, 상기 VBE 장치(200)에 점호 지령 신호를 생성하여 출력한다.
또한 시뮬레이터(100)는 외부의 3상 교류 전원과 접속되는 3상 전압 입력 부(120)가 3상 교류 전압 신호를 출력 부(150)를 통해 상기 VBE 장치(200)에 출력하도록 3상 전압 입력 부(120) 및 출력 부(150)를 제어할 수 있다.
시뮬레이터(100)는 도 2를 참조할 수 있는 바와 같이 사용자가 점호 각 지령을 설정할 수 있는 수단을 제공하는 키이패드(keypad)(140)를 포함한다.
도 2를 참조할 수 있는 바와 같이, 상기 키이패드(140)는, 사용자에게 사이리스터 밸브(400)의 점호 각을 설정하도록 입력 수단을 제공하는 키이 입력(key switch)부(140a) 및 키이 입력 부(140a)에 의해 설정한 사이리스터 밸브(400)의 점호 각을 확인할 수 있도록 표시하는 표시 부(140b)를 포함하게 구성될 수 있다.
여기서, 키이 입력 부(140a)는 복수의 키이 스위치(key switch)로 구성될 수 있고, 표시 부(140b)는 도트 매트릭스 디스플레이(dot matrix display) 또는 액정 디스플레이(Liquid Crystal Display)로 구성될 수 있다.
시뮬레이터(100)는 도 2를 참조할 수 있는 바와 같이 동작 선택 스위치 부(110)를 더 포함한다.
동작 선택 스위치 부(110)는 전원 스위치, 준비 상태 버튼 스위치(ready button switch), 예비 시험 버튼 스위치(pre-check button switch), 속행 지령 선택 스위치(deblock switch), 중단 지령 선택 스위치(block switch) 및 리셋 버튼 스위치(reset button switch) 등을 포함할 수 있다.
동작 선택 스위치 부(110)는 도 4를 참조하여 후술하는 시뮬레이터(100)의 회로 구성 블록 도에 도시된 제어부(130)와 전기적으로 접속된다.
상기 전원 스위치는 시뮬레이터(100)의 구성부품들에 전원을 공급하는 전원 스위치이다.
상기 준비 상태 버튼 스위치는 시뮬레이터(100)의 구성부품들을 후속하는 예비 시험 및 속행 지령 등의 동작에 앞서 준비를 지령하는 선택 스위치이다.
상기 속행 지령 선택 스위치는 상기 제어부(130)가 상기 점호 지령 신호를 출력하도록 지령하는 선택 스위치이다.
상기 중단 지령 선택 스위치는 상기 제어부(130)가 상기 점호 지령 신호의 출력을 중단하도록 지령하는 선택 스위치이다.
상기 리셋 버튼 스위치는 키이패드(140)에 의해 사용자가 설정한 점호 각 설정을 초기화하는 선택 스위치이다.
한편, 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 VBE 장치의 시험 장치를 구성하는 시뮬레이터의 회로 구성을 보여주는 블록 도인 도 4를 참조하여 시뮬레이터의 회로 구성을 설명한다.
도 4를 참조할 수 있는 바와 같이, 시뮬레이터(100)는 본 발명의 바람직한 일 실시 예에 따라서 동작 선택 스위치 부(110), 3상 전압 입력 부(120), 키이패드(140), 출력 부(150), 메모리(160) 및 제어부(130)를 포함하게 구성될 수 있다.
동작 선택 스위치 부(110)는 전술한 바와 같으므로 설명을 생략한다.
3상 전압 입력 부(120)는 3상의 교류 전압 신호를 제공한다. 여기서 3상 교류 전압 신호는 시뮬레이터(100)에 접속되는 외부의 3상 상용 교류 전원과 연결되어 해당 3상 상용 교류 전원으로부터 얻을 수 있다. 3상 전압 입력 부(120)는 제어부(130)와의 신호 송수신을 위해 아날로그 디지털 변환 회로 부(미 도시)를 더 포함할 수 있다.
3상 전압 입력 부(120)는 제어부(130)의 제어에 따라 상기 3상 교류 전압 신호를 출력 부(150)에 전송할 수 있다.
키이패드(140)는 상술한 바와 같이 사용자에게 사이리스터 밸브(400)의 점호 각을 설정하도록 입력 수단을 제공하는 키이 입력 부(140a) 및 키이 입력 부(140a)에 의해 설정한 사이리스터 밸브(400)의 점호 각을 확인할 수 있도록 표시하는 표시 부(140b)를 포함하게 구성되며, 제어부(130)와의 신호 송수신을 위해 전기적으로 접속된다.
출력 부(150)는 제어부(130)에 전기적으로 접속되며, 제어부(130)의 제어에 따라 제어부(130)가 제공하는 사용자가 설정한 점호 각 설정 값(점호 각 설정 데이터)을 근거로 상기 점호 지령 신호를 발생시키며, 해당 점호 지령 신호와 3상 전압 입력 부(120)로부터의 상기 3상 교류 전압 신호를 함께 VBE 장치(200)에 출력한다.
메모리(160)는 제어부(130)가 처리하는 제어 프로그램을 저장하는 메모리와, 제어부(130)가 처리 또는 연산한 데이터를 저장하는 메모리, 동작 선택 스위치 부(110)의 조작에 따른 입력 데이터를 저장하는 메모리 및 키이패드(140)에 의해 사용자가 설정한 점호 각 설정 데이터를 저장하는 메모리를 포함하게 구성될 수 있다.
제어부(130)는 전술한 동작 선택 스위치 부(110), 3상 전압 입력 부(120), 키이패드(140), 출력 부(150) 및 메모리(160)에 전기적으로 접속되며, 메모리(160)저장된 제어 프로그램을 이용하여 이들 동작 선택 스위치 부(110), 3상 전압 입력 부(120), 키이패드(140), 출력 부(150) 및 메모리(160)를 통괄 제어함으로써 시뮬레이터(100)의 기능을 제어한다.
제어부(130)는 마이크로프로세서(microprocessor) 또는 마이크로프로세서의 중앙처리장치로 구성될 수 있다.
한편, 상술한 바와 같이 구성되는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 VBE 장치의 시험 장치의 동작을 도 5를 주로 참조하고 도 2 내지 도 4를 보조적으로 참조하여 설명한다.
먼저 단계 S1에서 제어부(130)는 사용자가 키이 패드(140)의 키이 입력 부(140a)를 조작함에 따른 점호 각의 입력이 있는지 확인(check)한다.
단계 S1에서 제어부(130)가 점호 각의 입력이 있는지 확인하는 작업은 메모리(160)에 저장된 점호 각 설정 데이터를 읽는 것으로 이루어질 수 있다.
단계 S1에서 점호 각의 입력이 있으면 즉, 저장된 점호 각 설정 데이터가 있으면, 단계 S2로 진행하고, 점호 각의 입력이 없으면 즉, 저장된 점호 각 설정 데이터가 없으면, 제어부(130)는 단계 S1를 반복 수행한다.
단계 S1에서 점호 각의 입력이 있는 경우 즉, 저장된 점호 각 설정 데이터가 있는 경우, 단계 S2에서 제어부(130)는 사용자가 시뮬레이터(100)의 동작 선택 스위치 부(110) 중 상기 속행 지령 선택 스위치의 입력이 있는지 확인(check)한다. 여기서 확인은 메모리(160)의 해당 영역에 상기 속행 지령 선택 스위치의 입력 데이터(조작 상태 데이터)가 설정(set, 예컨대 로직 하이)으로 되어 있는지 비설정(예컨대 로직 로우)으로 되어있는지 확인하는 것으로 수행될 수 있다.
단계 S2에서 상기 속행 지령 선택 스위치의 입력이 있는 경우, 제어부(130)는 단계 S3로 진행하고, 상기 속행 지령 선택 스위치의 입력이 없는 경우, 제어부(130)는 단계 S2의 동작을 반복수행하면서 상기 속행 지령 선택 스위치의 입력을 대기한다.
단계 S3에서 제어부(130)는 출력 부(150)를 제어하여, 출력 부(150)는 VBE 장치(200)에 3상 전압 입력 부(120)의 상기 3상 교류 전압 신호와 사용자가 설정한 점호 각 설정 값(점호 각 설정 데이터)을 근거로 생성한 상기 점호 지령 신호를 출력한다.
이에 전술한 종래기술과 마찬가지로 VBE 장치(200)는 수신한 상기 3상 교류 전압 신호와 상기 점호 지령 신호를 광 펄스신호로 변환하여 게이트 유닛(300)에 전송하며, 게이트 유닛(300)은 상기 광 케이블을 통해 수신한 VBE 장치(200)로부터의 광 펄스신호 형태의 상기 3상 교류 전압 신호와 상기 점호 지령 신호를 사이리스터 밸브(400)의 게이트에 출력하여 사이리스터 밸브(400)를 턴 온(turn on) 시킨다.
사이리스터 밸브(400)의 정상 여부에 대한 결정은 상기 점호 지령 신호를 인가하거나 인가를 중지했을 때 사이리스터 밸브(400)의 양단 전압을 별도로 미 도시한 제어기가 검출하여 결정할 수 있다. 다시 말해서, 상기 점호 지령 신호를 인가해서 사이리스터 밸브(400)가 턴온되었을 때 사이리스터 밸브(400)의 양단 전압은 예컨대 저 전압 상태가 되고, 상기 점호 지령 신호의 인가를 중지해서 사이리스터 밸브(400)가 턴 오프(turn off)되었을 때 사이리스터 밸브(400)의 양단 전압은 예컨대 고 전압 상태가 되며, 이러한 사이리스터 밸브(400)의 양단 전압을 검출하여 미리 결정된 기준전압과 비교함으로써 사이리스터 밸브(400)의 고장 여부를 결정할 수 있는 것이다.
이후 단계 S4에서 제어부(130)는 사용자가 전술한 동작 선택 스위치 부(110)중 상기 중단 지령 선택 스위치를 조작하여(눌러) 상기 중단 지령 선택 스위치의 입력이 있는지 확인(check)한다. 여기서 확인은 메모리(160)의 해당 영역에 상기 중단 지령 선택 스위치의 입력 데이터(조작 상태 데이터)가 설정(set, 예컨대 로직 하이)으로 되어 있는지 비설정(예컨대 로직 로우)으로 되어있는지 확인하는 것으로 수행될 수 있다.
단계 S4에서 상기 중단 지령 선택 스위치의 입력이 있는 것으로 확인되는 경우, 제어부(130)는 단계 S5로 진행하여 상기 3상 교류 전압 신호와 상기 점호 지령 신호의 출력을 중단하도록 출력 부(150)를 제어하며, 이에 응답하여 출력 부(150)는 상기 3상 교류 전압 신호와 상기 점호 지령 신호의 출력을 중단한다. 따라서, BE 장치(200)와 게이트 유닛(300)을 통한 상기 3상 교류 전압 신호와 상기 점호 지령 신호의 출력 중단에 의해서 사이리스터 밸브(400)는 턴 오프(turn off)된다.
이와 같이 사용자는, 시뮬레이터(100)를 이용해서 점호 각을 입력하고 속행 지령 선택 스위치의 입력을 통해 속행을 지령했을 때, 정상적으로 사이리스터 밸브(400)가 턴 온 되는지 여부, 그리고 사용자가 시뮬레이터(100)를 이용해서 중단 지령 선택 스위치를 입력하여 상기 점호 지령 신호의 인가를 중지했을 때, 정상적으로 사이리터 밸브(400)가 턴 오프되는 지 여부를 확인함으로써, VBE 장치(200)가 정상 기능 하는지 시험할 수 있다.
또한, 상기 점호 지령 신호의 인가를 중지해서 사이리스터 밸브(400)가 턴 오프 되었을 때 사이리스터 밸브(400)의 양단 전압은 예컨대 고 전압 상태가 되며, 이러한 사이리스터 밸브(400)의 양단 전압을 검출하여 상기 미 도시한 제어기가 미리 결정된 기준전압과 비교해서 상기 기준전압 보다 높으면 사이리스터 밸브(400)가 정상인 것으로 결정하고 상기 기준전압 보다 낮면 사이리스터 밸브(400)가 고장인 것으로 결정함으로써 사이리스터 밸브(400)의 고장 여부를 결정할 수 있다.
단계 S4에서 상기 중단 지령 선택 스위치의 입력이 없는 것으로 확인되는 경우, 제어부(130)는 단계 S4의 동작을 반복 수행한다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 사이리스터 밸브의 시험 장치는, C&P 시스템 대신에 사용자가 설정한 점호 각 지령을 근거로, VBE 장치(200)에 점호 지령 신호를 생성하여 출력하는 간단한 시뮬레이터(100)를 포함하므로, C&P 시스템 연결에 따른 시간손실, C&P 시스템 관리 인원의 지원이 발생하지 않으며, C&P 시스템의 연결 없이 간편하고 신속하게 VBE 장치(200)에 대한 정상 여부를 시험할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
본 발명에 따른 VBE 장치의 시험 장치를 구성하는 상기 시뮬레이터(100)는 사용자가 점호 각 지령을 설정할 수 있는 수단을 제공하는 키이패드(140)를 포함하므로, C&P 시스템의 연결 없이 시험자가 키이패드(140)를 조작하여 간편하게 사이리스터 밸브(400) 및 VBE 장치에 대한 정상 기능 여부를 시험할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
본 발명에 따른 VBE 장치의 시험 장치에 있어서, 상기 키이패드(140)는, 키이 입력 부(140a) 및 표시 부(140b)를 포함하므로, 키이 입력 부(140a)를 통해서 사용자에게 사이리스터 밸브(400)의 점호 각을 설정하도록 입력 수단을 제공할 수 있고, 표시 부(140b)를 통해서 설정한 사이리스터 밸브(400)의 점호 각을 표시하여 확인할 수 있는 효과를 제공할 수 있다.
본 발명에 따른 VBE 장치의 시험 장치로서, 상기 시뮬레이터(100)는, 상기 시뮬레이터(100)의 기능을 제어하는 제어부(130)를 포함하므로 상기 시뮬레이터(100)의 기능들을 통합 제어하는 것이 가능하며, 상기 제어부(130)가 상기 점호 지령 신호를 출력하도록 지령하는 속행 지령 선택 스위치(deblock switch)와, 상기 제어부(130)가 상기 점호 지령 신호의 출력을 중단하도록 지령하는 중단 지령 선택 스위치(block switch)를 포함한 동작 선택 스위치 부(110)를 더 포함하므로, 사용자에게 동작 선택 수단을 제공하고 지령하게 할 수 있는 잇점을 제공할 수 있다.
100: 시뮬레이터 100-1: 제어 및 보호 시스템
110: 동작 선택 스위치 부
120: 3상 전압 입력 부 130: 제어부
140: 키이 패드 140a: 키이 입력 부
140b: 표시 부 150: 출력 부
160: 메모리 200: VBE 장치
300: 게이트 유닛 400: 사이리스터 밸브

Claims (4)

  1. 사이리스터 밸브의 게이트에 점호 신호(firing signal)를 출력하는 게이트 유닛(gate unit)이 상기 점호 신호를 만들 수 있도록 상응한 광 신호(optic signal)를 상기 게이트 유닛에 출력하는 밸브 베이스 일렉트로닉스(Valve Base Electronics) 장치의 기능 시험용으로서 상기 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치에 있어서,
    사용자가 설정한 점호 각 지령을 근거로, 상기 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치에 점호 지령 신호를 생성하여 출력하는 시뮬레이터(simulator);를 포함하는 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 시뮬레이터는 사용자가 점호 각 지령을 설정할 수 있는 수단을 제공하는 키이패드(keypad)를 포함하는 것을 특징으로 하는 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 키이패드는,
    사용자에게 사이리스터 밸브의 점호 각을 설정하도록 입력 수단을 제공하는 키이 입력(key switch)부; 및
    상기 키이 입력 부에 의해 설정한 사이리스터 밸브의 점호 각을 확인할 수 있도록 표시하는 표시 부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 시뮬레이터는,
    상기 시뮬레이터의 기능을 제어하는 제어부; 및
    상기 제어부에 접속되고, 상기 제어부가 상기 점호 지령 신호를 출력하도록 지령하는 속행 지령 선택 스위치(deblock switch)와, 상기 제어부가 상기 점호 지령 신호의 출력을 중단하도록 지령하는 중단 선택 스위치(block switch)를 포함하여 사용자에게 동작 선택 수단을 제공하는 동작 선택 스위치 부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치.
KR1020130093293A 2013-08-06 2013-08-06 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치 KR101748724B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130093293A KR101748724B1 (ko) 2013-08-06 2013-08-06 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130093293A KR101748724B1 (ko) 2013-08-06 2013-08-06 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150017256A true KR20150017256A (ko) 2015-02-16
KR101748724B1 KR101748724B1 (ko) 2017-06-27

Family

ID=53046206

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130093293A KR101748724B1 (ko) 2013-08-06 2013-08-06 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101748724B1 (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105242663A (zh) * 2015-10-23 2016-01-13 许继电气股份有限公司 一种换流阀回报脉冲动态性能的模拟系统
CN106950851A (zh) * 2017-03-15 2017-07-14 平高集团有限公司 一种晶闸管仿真装置以及晶闸管半实物仿真平台
CN107168106A (zh) * 2017-06-30 2017-09-15 云南电网有限责任公司电力科学研究院 一种vbe系统模拟方法
WO2019011113A1 (zh) * 2017-07-10 2019-01-17 南京南瑞继保电气有限公司 一种基于软件逻辑功能配合的晶闸管阀测试系统

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200268296Y1 (ko) * 2001-08-10 2002-03-16 한홍석 휴대용 차단기시험기
KR200429174Y1 (ko) 2006-07-24 2006-10-18 한국수력원자력 주식회사 자동전압조정기 검사장치 및 이를 이용한 검사 시스템

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105242663A (zh) * 2015-10-23 2016-01-13 许继电气股份有限公司 一种换流阀回报脉冲动态性能的模拟系统
CN106950851A (zh) * 2017-03-15 2017-07-14 平高集团有限公司 一种晶闸管仿真装置以及晶闸管半实物仿真平台
CN107168106A (zh) * 2017-06-30 2017-09-15 云南电网有限责任公司电力科学研究院 一种vbe系统模拟方法
WO2019011113A1 (zh) * 2017-07-10 2019-01-17 南京南瑞继保电气有限公司 一种基于软件逻辑功能配合的晶闸管阀测试系统
KR20190099086A (ko) * 2017-07-10 2019-08-23 엔알 일렉트릭 컴퍼니 리미티드 소프트웨어의 논리적 기능 협력에 기반한 사이리스터 밸브 테스트 시스템
US11009542B2 (en) 2017-07-10 2021-05-18 Nr Electric Co., Ltd Thyristor valve test system based on cooperation of logical functions of software

Also Published As

Publication number Publication date
KR101748724B1 (ko) 2017-06-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9300144B2 (en) Integrated drive motor power interface
KR101748724B1 (ko) 밸브 베이스 일렉트로닉스 장치의 시험 장치
JP2010205163A (ja) プラント監視制御システム移行装置
EP2365703A2 (en) Optical switch and optical-switch control method
EP3125388B1 (en) Power failure monitoring device of digital protection relay
US20180107170A1 (en) Electric motor drive control system and driving instruction method of electric motor drive control device
KR102014643B1 (ko) 지능형 전자장치의 테스트 장치 및 이를 이용하여 지능형 전자 장치를 테스트하는 방법
KR20200038244A (ko) 충전 장치의 테스트 보드, 테스트 시스템 및 테스트 방법
US8959252B2 (en) Method for configuring a field device and corresponding system for parameterization
JP5054654B2 (ja) プラント運転装置
US20210109156A1 (en) Testing device for protective relays in electric power delivery systems
US10691079B2 (en) Secure electronic device
US20140223236A1 (en) Device for testing a graphics card
KR101916021B1 (ko) 사물 인터넷 네트워크 접속용 보조장치
KR101603248B1 (ko) 비상 발전기의 구동 방법 및 장치
KR20080062840A (ko) 기중차단기의 원격 제어장치 및 방법
KR20160096398A (ko) 티칭 펜던트를 이용한 이종 로봇 제어장치 및 제어방법
JP2007244167A (ja) 電源制御装置及び電源制御方法
US20230418253A1 (en) Input/output module and control system
KR101466015B1 (ko) 일체형 원자로 안전 등급 소프트 제어기 및 그것의 제어 방법
KR102085731B1 (ko) 배전반 결선 시험 장치
JP2019200988A (ja) 安全スイッチ
KR20150027591A (ko) 원방 감시 시스템용 비상 정지 장치
US20200218680A1 (en) Field bus system for driving power outputs
KR20180000236A (ko) 임베디드 디바이스 제어장치 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant