KR20140146336A - Method for evaluating a luminance of a light source and lighting apparatus - Google Patents

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KR20140146336A KR1020130068849A KR20130068849A KR20140146336A KR 20140146336 A KR20140146336 A KR 20140146336A KR 1020130068849 A KR1020130068849 A KR 1020130068849A KR 20130068849 A KR20130068849 A KR 20130068849A KR 20140146336 A KR20140146336 A KR 20140146336A
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Abstract

A brightness evaluation method according to an embodiment of the present invention includes the steps of; partitioning a light source into multiple cells; obtaining a plurality of first data by measuring the brightness of each cell; and deriving second data of multiple vertical cell sets classified by arranging the cells in the vertical direction and of multiple horizontal cell sets classified by arranging the cells in the horizontal directions; calculating the vertical and horizontal moving average values which are the average values of the vertical and horizontal cell sets′ second data; and obtaining a vertical ripple factor and a horizontal ripple factor form the difference between the second data of the vertical moving average and the horizontal moving average.

Description

광원의 휘도 평가 방법 및 조명 장치{METHOD FOR EVALUATING A LUMINANCE OF A LIGHT SOURCE AND LIGHTING APPARATUS}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a method of evaluating brightness of a light source,

실시예는 광원의 휘도 평가 방법 및 조명장치에 관한 것이다.Embodiments relate to a method of evaluating luminance of a light source and a lighting apparatus.

GaN, AlGaN 등의 3-5 족 화합물 반도체는 넓고 조정이 용이한 밴드 갭 에너지를 가지는 등의 많은 장점으로 인해 광 전자 공학 분야(optoelectronics)와 전자 소자에 많이 사용된다.GaN, and AlGaN are widely used in optoelectronics and electronic devices due to many advantages such as wide and easy bandgap energy adjustment.

특히 반도체의 3-5족 또는 2-6족 화합물 반도체 물질을 이용한 발광 다이오드(Light Emitting Diode)나 레이저 다이오드와 같은 발광소자는 박막 성장기술 및 소자 재료의 개발로 적색, 녹색, 청색 및 자외선 등 다양한 색을 구현할 수 있으며, 형광 물질을 이용하거나 색을 조합함으로써 효율이 좋은 백색 광선도 구현이 가능하며, 형광등, 백열등 등 기존의 광원에 비해 저소비전력 반영구적인 수명, 빠른 응답 속도, 안전성 환경친화성의 장점을 가진다.Particularly, a light emitting device such as a light emitting diode or a laser diode using a semiconductor material of a group 3-5 or a group 2-6 compound semiconductor has been widely used in various fields such as red, green, blue, and ultraviolet It is possible to realize white light rays with high efficiency by using fluorescent material or color combination. Low power consumption compared to conventional light sources such as fluorescent lamps, incandescent lamps. Semi-permanent life span, fast response speed, safety. .

따라서, 광통신 수단의 송신 모듈, LCD(Liquid Crystal Display) 표시장치의 백라이트를 구성하는 냉음극관(CCFL : Cold Cathode Fluorescence Lamp)을 대체하는 발광 다이오드 백라이트, 형광등이나 백열전구를 대체할 수 있는 백색 발광 다이오드 조명장치, 자동차 헤드램프 및 신호등에까지 응용이 확대되고 있다.Therefore, a transmission module of the optical communication means, a light emitting diode backlight replacing a cold cathode fluorescent lamp (CCFL) constituting a backlight of an LCD (Liquid Crystal Display) display device, a white light emitting diode capable of replacing a fluorescent lamp or an incandescent lamp Lighting devices, automobile headlamps, and traffic lights.

조명장치나 자동차 헤드램프에는 하나의 유닛 내에 복수개의 발광소자가 배치된 발광소자 패키지가 사용될 수 있다.A light emitting device package in which a plurality of light emitting elements are arranged in one unit may be used for the lighting device or the automobile head lamp.

조명장치나 헤드램프의 제품 특성에서 휘도는 중요한 요소이고, 특히 휘도의 균일성(uniformity)이 우수한 조명 장치나 헤드램프에 대한 요구가 증가하고 있다.Brightness is an important factor in the product characteristics of a lighting apparatus and a headlamp, and in particular, there is an increasing demand for a lighting apparatus and a headlamp which are excellent in uniformity of luminance.

현재 조명 장치 등의 휘도의 균일성을 판단하는 기준으로 휘도 데이터를 최대값/최소값을 사용하고 있다. 그러나, 상술한 휘도 데이터의 최대값/최소값은 하나의 조명장치 내에서 각 영역의 휘도의 최대값과 최소값 만을 나타낸 것이며, 전체적인 평균값을 나타내지 않는다.The maximum value / minimum value of luminance data is used as a criterion for judging the uniformity of luminance of the lighting apparatus and the like at present. However, the maximum value / minimum value of the luminance data described above represents only the maximum value and the minimum value of the luminance of each region in one illuminator, and does not show the overall average value.

또한, 조명 장치 등의 전체적인 휘도의 평균 값과 각 영역의 편차는 휘도의 균일성을 판단하는 중요한 요소이나, 각 영역의 휘도의 최대값과 최소값 만으로는 표현할 수 없다.The average value of the overall luminance of the lighting apparatus and the deviation of each area are important factors for determining the uniformity of the luminance, but can not be expressed only by the maximum value and the minimum value of the luminance of each area.

또한, 조명장치의 가장자리 영역에서의 휘도는 상대적으로 낮으므로, 상술한 각 영역의 휘도의 최소값에 영향을 미칠 수 있다.In addition, since the luminance in the edge region of the lighting apparatus is relatively low, it can affect the minimum value of the luminance of each region described above.

본 발명의 실시예는 조명장치의 전체 영역에서의 휘도의 균일성을 판단하여, 조명장치의 휘도 균일성을 확보하고자 한다.An embodiment of the present invention attempts to determine the uniformity of luminance in the entire area of the lighting apparatus, thereby ensuring the luminance uniformity of the lighting apparatus.

본 발명의 실시예의 광원의 휘도 평가방법은, 광원을 복수의 셀로 구획하는 단계; 복수의 셀 각각의 휘도를 측정하여 복수의 제1 데이터를 구하는 단계; 복수의 셀을 수직방향으로 나열하여 구분한 복수의 수직 셀집합 및 복수의 셀을 수평방향으로 나열하여 구분한 복수의 수평 셀집합의 제2 데이터를 도출하는 단계; 복수의 수직 셀집합의 제2 데이터 또는 복수의 수평 셀집합의 제2 데이터를 평균낸 수직 무빙 에버리지 및 수평 무빙 에버리지를 계산하는 단계; 및 수직 무빙 에버리지 또는 수평 무빙 에버리지와 제2 데이터의 차이로부터 수직 리플 팩터 및 수평 리플 팩터를 구하는 단계;를 포함한다.A method of evaluating luminance of a light source of an embodiment of the present invention includes: dividing a light source into a plurality of cells; Measuring a luminance of each of a plurality of cells to obtain a plurality of first data; Deriving second data of a plurality of sets of vertical cells that are divided by arranging a plurality of cells in a vertical direction and a plurality of sets of horizontal cells that are arranged by horizontally arranging a plurality of cells; Calculating vertical moving average and horizontal moving average that averages second data of a plurality of vertical cell sets or second data of a plurality of horizontal cell sets; And obtaining a vertical ripple factor and a horizontal ripple factor from the difference between the vertical moving average or the horizontal moving average and the second data.

본 발명의 일 실시예의 광원의 휘도 평가 방법 및 조명장치는 조명장치를 복수개의 셀로 구획하여 복수의 휘도 데이터를 구하여, 각각의 셀별로 정확한 휘도평가가 가능하다.The method and apparatus for evaluating brightness of a light source according to an embodiment of the present invention divides an illumination apparatus into a plurality of cells to obtain a plurality of brightness data, and it is possible to evaluate the brightness accurately for each cell.

본 발명의 일 실시예의 광원의 휘도 평가 방법 및 조명장치는 복수개의 셀의 휘도 데이터에 기초하여, 무빙 에버리지와 리플펙터를 구하여, 각각의 셀별로 휘도의 차이를 명확하게 확인할 수 잇다.The method and apparatus for evaluating the luminance of the light source of one embodiment of the present invention can determine the difference in luminance for each cell by obtaining the moving average and the ripple factor based on the luminance data of a plurality of cells.

본 발명의 일 실시예의 광원의 휘도 평가 방법 및 조명장치는 복수개의 셀의 휘도 데이터에 기초하여 구한 리플펙터의 분산을 구하여, 조명장치의 휘도의 균일도를 하나의 파라미터로 표현하여, 간이한 평가가 이루어지도록 할 수 있다.The method and apparatus for evaluating the luminance of the light source of one embodiment of the present invention is characterized in that the variance of the reflector obtained on the basis of the luminance data of the plurality of cells is obtained and the uniformity of the luminance of the illuminator is expressed by one parameter, .

본 발명의 일 실시예의 광원의 휘도 평가 방법 및 조명장치는 수직방향 및 수평방향의 두 개의 방향으로 무빙에버리지를 구하고, 두 개의 무빙에버리지로부터 도출한 리플펙터의 분산을 이용하여, 신뢰도가 더욱더 높을 수 있다.The luminance evaluation method and the lighting apparatus of the light source of the embodiment of the present invention are characterized in that the drift is obtained in two directions of vertical and horizontal directions and the dispersion of the ripple effector derived from the release is used for the two movements, Can be high.

본 발명의 일 실시예의 광원의 휘도 평가 방법 및 조명장치는 제1 데이터에서 제2 데이터를 도출하는 단계에서, 조명장치의 테두리 영역의 데이터를 제거하여, 테두리 영역에서의 낮은 휘도값으로 인한 신뢰도 하락을 막을 수 있다.The method and apparatus for evaluating the luminance of a light source of an embodiment of the present invention is a method for evaluating luminance of a light source by deriving second data from the first data by removing data in a border region of the illumination apparatus, .

도 1은 광원 내의 발광소자 패키지의 배열을 나타낸 도면이고,
도 2는 도 1의 광원에서 광원의 제1 데이터에 해당하는 영역을 나타낸 도면이고,
도 3은 제2 데이터를 도출하기 위한 도 2 에서 구하여진 제1 데이터의 배열 방향에 대한 도면이고,
도 4 및 도 5 는 제1 데이터로부터 제2 데이터를 구하는 것을 나타낸 도면이고,
도 6은 신뢰도가 낮은 제2 데이터를 제외하는 방법에 관한 도면이고,
도 7 내지 도 10는 일 실시예의 광원의 휘도 평가 방법을 사용하여 마련한 휘도 분포를 나타낸다.
1 is a view showing an arrangement of light emitting device packages in a light source,
FIG. 2 is a view showing a region corresponding to first data of a light source in the light source of FIG. 1,
FIG. 3 is a diagram illustrating an arrangement direction of first data obtained in FIG. 2 for deriving the second data,
4 and 5 are diagrams for obtaining second data from the first data,
6 is a diagram of a method for excluding second data with low reliability,
7 to 10 show luminance distributions prepared using the luminance evaluation method of the light source of one embodiment.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention and the manner of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. To fully disclose the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.

다양한 요소들을 설명하기 위해 제1, 제2 등의 용어가 이용될 수 있으나, 이러한 요소들은 이러한 용어들에 의해 제한되지 아니한다. 이러한 용어들은 한 요소를 다른 요소로부터 구별하기 위해서만 이용된다. 예를 들어, 본 발명의 범위를 벗어나지 않고서, 제1 접촉이 제2 접촉이라고 칭해질 수 있으며, 마찬가지로, 제2 접촉이 제1 접촉이라고 칭해질 수 있고, 상기 제1 접촉 및 제2 접촉은 둘 모두 접촉이지만, 동일한 접촉은 아닐 수 있다.The terms first, second, etc. may be used to describe various elements, but such elements are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one element from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first contact may be referred to as a second contact, and likewise, the second contact may be referred to as a first contact, It is all contact, but not the same contact.

발명의 설명에서 이용되는 용어들은 오직 특정 실시예들을 설명하기 위한 것이며, 발명을 제한하도록 의도된 것이 아니다. 발명의 설명 및 첨부된 청구항에서 이용될 때, 단수 형태는 문맥상 명백하게 다르게 나타나지 않는 한은 복수 형태도 물론 포함하도록 의도된 것이다. 표시의 사용은 그 용어의 단수 용법 또는 복수 형태 중 어느 하나 또는 둘 다를 나타낼 수 있으며, 그 반대도 마찬가지이다.The terms used in the description of the invention are intended to be illustrative only of specific embodiments and are not intended to limit the invention. As used in the description of the invention and the appended claims, the singular forms are intended to include the plural forms as well, unless the context clearly indicates otherwise. The use of an indication may denote either or both of the singular and plural forms of the term and vice versa.

" 및/ 또는" 이라는 용어는 나열된 관련 항목들 중 하나 이상의 임의의 모든 가능한 조합들을 참조하며 그들을 포괄하는 것임을 이해할 것이다. 본 명세서에서 사용될 때의 "포함한다 (comprises)" 및 / 또는 "포함하는(comprising)" 이라는 용어는 명시된 특징들, 정수들, 단계들, 동작들, 요소들 및 또는 컴포넌트들의 존재를 지정하지만, 하나 이상의 다른 특징들, 정수들, 단계들, 동작들, 요소들, 컴포넌트 들 및 / 또는 그들의 그룹의 존재 또는 추가를 배제하지 않음을 더 이해할 것이다.It will be understood that the term "and / or" refers to and encompasses any and all possible combinations of one or more of the listed related items. The terms "comprises" and / or "comprising" when used in this specification specify the presence of stated features, integers, steps, operations, elements and / or components, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, and / or groups thereof.

"~는 경우(if)"라는 용어는 "~할 때(when)" 또는 "~ 시(upon)", 또는 문맥에 따라 "결정한 것에 응답하여(in response to determining)" 또는 "검출한 것에 응답하여" 를 의미하는 것으로 해석될 수 있다. 마찬가지로, "결정된 경우" 또는 "[명시된 조건 또는 이벤트가] 검출된 경우"라는 구문은 문맥에 따라, "결정시" 또는 "결정한 것에 응답하여" 또는 "[명시된 조건 또는 이벤트의] 검출 시", 또는 "[명시된 조건 또는 이벤트를] 검출한 것에 응답하여"를 의미하는 것으로 해석될 수 있다.The term " if, "as used herein refers to the term" when "or" upon ", or" in response to determining "or" Quot; and "to " Similarly, the phrase " when determined "or" when an " specified condition or event is detected " Quot; or "in response to detecting [the specified condition or event]. &Quot;

본 발명에 따른 실시예의 설명에 있어서, 각 element의 " 상(위) 또는 하(아래)(on or under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)(on or under)는 두개의 element가 서로 직접(directly)접촉되거나 하나 이상의 다른 element가 상기 두 element사이에 배치되어(indirectly) 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 “상(위) 또는 하(아래)(on or under)”으로 표현되는 경우 하나의 element를 기준으로 위쪽 방향 뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In the description of the embodiment according to the present invention, in the case of being described as being formed "on or under" of each element, the upper (upper) or lower (lower) or under are all such that two elements are in direct contact with each other or one or more other elements are indirectly formed between the two elements. Also, when expressed as "on or under", it may include not only an upward direction but also a downward direction with respect to one element.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 대해서 구체적으로 설명하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 1은 광원 내의 발광소자 패키지의 배열을 나타낸 도면이다.1 is a view showing an arrangement of light emitting device packages in a light source.

광원(100)은 조명 장치나 자동차의 헤드 램프 등일 수 있으며, 복수 개의 발광소자(50)가 기판(10)에 배치된 형상일 수 있다. 조명장치는 기판(10), 기판(10) 상에 배치되는 적어도 1열의 발광소자 어레이를 포함하고, 발광소자 어레이는 이하에서 도출할 휘도 파라미터가 최소가 되도록 배치될 수 있다.The light source 100 may be a lighting device, a head lamp of an automobile, or the like, and a plurality of light emitting devices 50 may be disposed on the substrate 10. The illuminating device includes at least one row of light emitting element arrays disposed on the substrate 10 and the substrate 10, and the light emitting element arrays can be arranged such that the brightness parameters to be derived below are minimized.

발광소자(50)는 발광 다이오드(Light emitting diode)일 수 있고, 기판(10)은 발광소자(50)에 전류를 공급할 수 있는 인쇄회로기판(printed circuit board) 등일 수 있다.The light emitting device 50 may be a light emitting diode and the substrate 10 may be a printed circuit board capable of supplying current to the light emitting device 50.

발광소자(50)는 수직형 타입의 발광소자나 수평형 타입의 발광소자 및 플립 칩 타입의 발광소자일 수 있다.The light emitting element 50 may be a vertical type light emitting element, a horizontal type light emitting element, and a flip chip type light emitting element.

발광소자는 제1 도전형 반도체층과 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 발광 구조물을 포함할 수 있다.The light emitting device may include a light emitting structure including a first conductive semiconductor layer, an active layer, and a second conductive semiconductor layer.

제1 도전형 반도체층은 Ⅲ-Ⅴ족, Ⅱ-Ⅵ족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제1 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다. 예를 들어, 제1 도전형 반도체층은 AlxInyGa(1-x-y)N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질, AlGaN, GaN, InAlGaN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 중 어느 하나 이상으로 형성될 수 있다.The first conductive semiconductor layer may be formed of a compound semiconductor such as Group III-V or Group II-VI, and may be doped with a first conductive dopant. For example, the first conductive semiconductor layer may be a semiconductor material having a composition formula of Al x In y Ga (1-xy) N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + AlGaN, GaN, InAlGaN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, and AlGaInP.

제1 도전형 반도체층이 n형 반도체층인 경우, 제1 도전형 도펀트는 Si, Ge, Sn, Se, Te 등과 같은 n형 도펀트를 포함할 수 있다. 제1 도전형 반도체층은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.When the first conductivity type semiconductor layer is an n-type semiconductor layer, the first conductivity type dopant may include n-type dopants such as Si, Ge, Sn, Se, and Te. The first conductivity type semiconductor layer may be formed as a single layer or a multilayer, but is not limited thereto.

발광 소자가 자외선(UV), 심자외선(Deep UV) 또는 무분극 발광 소자일 경우, 제1 도전형 반도체층은 InAlGaN 및 AlGaN 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.When the light emitting device is ultraviolet (UV), deep ultraviolet (Deep UV), or nonpolar light emitting device, the first conductivity type semiconductor layer may include at least one of InAlGaN and AlGaN.

활성층은 제1 도전형 반도체층과 제2 도전형 반도체층 사이에 배치되며, 단일 우물 구조(Double Hetero Structure), 다중 우물 구조, 단일 양자 우물 구조, 다중 양자 우물(MQW:Multi Quantum Well) 구조, 양자점 구조 또는 양자선 구조 중 어느 하나를 포함할 수 있다.The active layer is disposed between the first conductivity type semiconductor layer and the second conductivity type semiconductor layer and includes a single well structure, a multiple well structure, a single quantum well structure, a multi quantum well (MQW) structure, A quantum dot structure or a quantum wire structure.

활성층은 Ⅲ-Ⅴ족 원소의 화합물 반도체 재료를 이용하여 우물층과 장벽층, 예를 들면 AlGaN/AlGaN, InGaN/GaN, InGaN/InGaN, GaN/AlGaN, InAlGaN/GaN, GaAs(InGaAs)/AlGaAs, GaP(InGaP)/AlGaP 중 어느 하나 이상의 페어 구조로 형성될 수 있으나 이에 한정되지는 않는다. 우물층은 장벽층의 에너지 밴드 갭보다 작은 에너지 밴드 갭을 갖는 물질로 형성될 수 있다.The active layer may include a well layer and a barrier layer such as AlGaN / AlGaN, InGaN / GaN, InGaN / InGaN, GaN / AlGaN, InAlGaN / GaN, GaAs (InGaAs) / AlGaAs, GaP (InGaP) / AlGaP, but the present invention is not limited thereto. The well layer may be formed of a material having an energy band gap smaller than the energy band gap of the barrier layer.

제2 도전형 반도체층은 반도체 화합물로 형성될 수 있다. 제2 도전형 반도체층은 Ⅲ-Ⅴ족, Ⅱ-Ⅵ족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제2 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다. 제2 도전형 반도체층은 예컨대, InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질, AlGaN, GaN AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 중 어느 하나 이상으로 형성될 수 있다.The second conductivity type semiconductor layer may be formed of a semiconductor compound. The second conductivity type semiconductor layer may be formed of a compound semiconductor such as a group III-V or II-VI group, and may be doped with a second conductivity type dopant. The second conductivity type semiconductor layer may be a semiconductor material having a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y? GaN AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, and AlGaInP.

제2 도전형 반도체층이 p형 반도체층인 경우, 제2 도전형 도펀트는 Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등과 같은 p형 도펀트일 수 있다. 제2 도전형 반도체층은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 만일, 발광 소자가 자외선(UV), 심자외선(Deep UV) 또는 무분극 발광 소자일 경우, 제2 도전형 반도체층은 InAlGaN 및 AlGaN 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.When the second conductivity type semiconductor layer is a p-type semiconductor layer, the second conductivity type dopant may be a p-type dopant such as Mg, Zn, Ca, Sr, or Ba. The second conductivity type semiconductor layer may be formed as a single layer or a multilayer, but is not limited thereto. If the light emitting device is ultraviolet (UV), deep ultraviolet (Deep UV), or nonpolar light emitting device, the second conductivity type semiconductor layer may include at least one of InAlGaN and AlGaN.

제1 도전형 반도체층의 표면에 요철 구조가 형성되어 발광소자의 광추출 효율을 향상시킬 수 있다.A concavo-convex structure may be formed on the surface of the first conductivity type semiconductor layer to improve light extraction efficiency of the light emitting device.

상술한 발광소자(50)들은 기판(10) 위에 행(column)과 열(row)을 맞추어 가로 방향과 세로 방향으로 나란하게 배치될 수도 있으나, 행과 열 사이의 간격이 일치하지 않거나 무작위로 배치될 수도 있다.The above-described light emitting devices 50 may be arranged side by side in a horizontal direction and a vertical direction by aligning rows and columns on the substrate 10, but the intervals between the rows and the columns may not coincide or may be randomly arranged .

도 2는 도 1의 광원에서 광원의 제1 데이터에 해당하는 영역을 나타낸 도면이다.FIG. 2 is a diagram showing a region corresponding to first data of a light source in the light source of FIG. 1; FIG.

본 발명의 일 실시예의 광원의 휘도 평가방법은, 광원을 복수의 셀로 구획하는 단계, 복수의 셀 각각의 휘도를 측정하여 복수의 제1 데이터를 구하는 단계, 복수의 셀을 수직방향으로 나열하여 구분한 복수의 수직 셀집합 및 복수의 셀을 수평방향으로 나열하여 구분한 복수의 수평 셀집합의 제2 데이터를 도출하는 단계, 복수의 수직 셀집합의 제2 데이터 또는 복수의 수평 셀집합의 제2 데이터를 평균낸 수직 무빙 에버리지 및 수평 무빙 에버리지를 계산하는 단계 및 수직 무빙 에버리지 또는 수평 무빙 에버리지와 제2 데이터의 차이로부터 수직 리플 팩터 및 수평 리플 팩터를 구하는 단계를 포함할 수 있다.A method of evaluating luminance of a light source of an embodiment of the present invention includes a step of dividing a light source into a plurality of cells, a step of measuring a luminance of each of a plurality of cells to obtain a plurality of first data, Deriving second data of a plurality of vertical cell sets and a plurality of horizontal cell sets dividing a plurality of cells in a horizontal direction and dividing the second data of the plurality of vertical cell sets and the second data of the plurality of horizontal cell sets, Calculating vertical moving average and horizontal moving average over the data, and obtaining a vertical ripple factor and horizontal ripple factor from the difference between vertical moving average or horizontal moving average and second data.

도시된 바와 같이, 광원의 휘도를 측정하고 평가할 때 기판(10)에 배치된 복수 개의 발광소자로부터 방출되는 빛의 휘도를 측정할 때, 기판(10)의 복수개의 셀마다 방출하는 빛의 휘도를 측정하여 제1 데이터를 구할 수 있다.As shown, when measuring the brightness of the light source and evaluating the brightness, the brightness of the light emitted from each of the plurality of cells of the substrate 10 when measuring the brightness of the light emitted from the plurality of light emitting devices disposed on the substrate 10 So that the first data can be obtained.

일 실시예의 광원의 휘도 측정 방법은 광원의 빛을 방출하는 전 영역을 복수의 셀로 구획하고, 모든 셀의 빛을 방출하는 정도를 파악할 수 있다.The luminance measuring method of the light source of one embodiment can divide the entire area of the light source emitting light into a plurality of cells, and can grasp the degree of light emission of all the cells.

복수의 셀은 P11 부터 Pmn 까지 m*n 개일 수 있다. m*n 개의 셀의 휘도를 모두 측정하여 복수의 제1 데이터를 얻을 수 있다. 제1 데이터의 개수는 m*n 개일 수 있다.The plurality of cells may be m * n from P 11 to P mn . it is possible to obtain a plurality of first data by measuring all the luminances of m * n cells. The number of first data may be m * n.

도 3은 제2 데이터를 도출하기 위한 도 2 에서 구하여진 제1 데이터의 배열 방향에 대한 도면이다.FIG. 3 is a diagram illustrating an arrangement direction of first data obtained in FIG. 2 for deriving the second data.

도 3 을 참조하면, 일 실시예의 광원의 휘도 평가 방법은 복수의 셀을 수직방향으로 나열하여 구분한 복수의 수직 셀집합 및 복수의 셀을 수평방향으로 나열하여 구분한 복수의 수평 셀집합의 제2 데이터를 도출하는 단계를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3, a luminance evaluation method of a light source according to an exemplary embodiment includes a plurality of sets of vertical cells divided into a plurality of cells arranged in the vertical direction, and a plurality of sets of horizontal cells 2 < / RTI > data.

도 4 및 도 5 는 제1 데이터로부터 제2 데이터를 구하는 것을 나타낸 도면이다.Figs. 4 and 5 are diagrams for obtaining second data from the first data. Fig.

도 4 는 수평방향으로 나열된 셀의 제1 방향의 개수를 도시하고 있다. 기판(10)의 전 영역을 복수의 셀로 구획하고 복수의 셀 각각의 휘도를 측정하여 복수의 제1 데이터를 구할 수 있다. 제1 데이터는 도 3에 도시된 바와 같이 한 개의 열에서, P11로부터 P12,..., P1 (n-1), P1n까지 총 n개의 셀(cell)에 대응하는 휘도 값을 얻을 수 있다. 모든 셀의 휘도를 조사하여, 한 열에 n 개의 제1 데이터를 구할 수 있고, 전체 열을 합치면 m*n 개의 제1 데이터를 얻을 수 있다.Figure 4 shows the number of cells arranged in the horizontal direction in the first direction. A plurality of first data can be obtained by dividing the entire region of the substrate 10 into a plurality of cells and measuring the luminance of each of the plurality of cells. As shown in FIG. 3, the first data represents a luminance value corresponding to a total of n cells from P 11 to P 12 , ..., P 1 (n-1) , P 1n in one column Can be obtained. N first data in one column can be obtained by examining the brightness of all the cells, and m * n first data can be obtained by combining all the columns.

예를 들어, 각각의 셀(P11, …., Pmn)의 가로 방향의 길이(d1)와 세로 방향의 길이(d2)는 모두 3 밀리미터일 수 있다. 각각의 셀(P11, …., Pmn)의 휘도를 측정하는 단계는, 카메라 등의 휘도 측정 유닛을 통하여 각각의 셀(P11, …., Pmn)의 평균 휘도를 검출할 수 있다.For example, the length d 1 in the horizontal direction and the length d 2 in the vertical direction of each cell P 11 , ..., P mn may all be 3 millimeters. Measuring the luminance of each of the cells (P 11, ...., P mn) , each of the cells through the brightness measuring unit such as a camera capable of detecting an average brightness of the (P 11, ...., P mn) .

도 4는 제1 데이터로부터 제2 데이터를 구하는 것을 나타낸 도면이다.4 is a diagram showing obtaining second data from the first data.

제1 데이터는 기판(10) 크기 내지 발광소자(50)의 개수가 너무 많을 경우 데이터의 양이 너무 많을 수 있고, 가장 자리에 배치된 영역의 휘도 값은 상대적으로 낮으므로, 각 영역의 휘도의 최소값에 영향을 미칠 수 있으므로 휘도 평가에서 제외할 수 있다.The amount of data may be excessively large when the number of the light emitting elements 50 is too large, and the luminance value of the region disposed at the edge is relatively low. Therefore, It can be excluded from the luminance evaluation because it may affect the minimum value.

제2 데이터는 기설정된 방향의 기설정된 개수의 제1 데이터를 평균낸 값일 수 있다. 예를 들어, 제2 데이터는 수직방향 또는 수평방향으로 연속적으로 나열된 5개의 셀의 제1 데이터를 평균낸 값일 수 있으나, 이에 한정하지 아니하고, 제2 데이터를 얻기 위한 셀의 개수는 실시예에 따라서 다를 수 있다.The second data may be a value obtained by averaging a predetermined number of first data in a predetermined direction. For example, the second data may be a value obtained by averaging first data of five cells continuously arranged in the vertical direction or the horizontal direction, but the number of cells for obtaining the second data is not limited to this, can be different.

도 4 및 도 5 를 참조하면, 일 실시예의 광원의 휘도 평가방법은, 상기 복수의 셀을 수직방향으로 나열하여 구분한 복수의 수직 셀집합 및 상기 복수의 셀을 수평방향으로 나열하여 구분한 복수의 수평 셀집합의 제2 데이터를 도출하는 단계를 포함할 수 있다.4 and 5, a luminance evaluation method of a light source according to an exemplary embodiment of the present invention includes: a plurality of vertical cell sets divided into a plurality of vertical cells by vertically arranging the plurality of cells; Of the horizontal cell set of the first set of horizontal cells.

수평방향 또는 수직방향으로 연속적으로 나열된 기 설정된 개수의 셀을 포함하는 셀집합으로부터 제2 데이터를 얻을 수 있다. 제2 데이터는 수평방향 또는 수직방향으로 연속적으로 나열된 기 설정된 개수의 셀의 제1 데이터를 평균낸 값일 수 있다.The second data can be obtained from a set of cells including a predetermined number of cells continuously arranged in the horizontal direction or the vertical direction. The second data may be a value obtained by averaging the first data of a predetermined number of cells continuously arranged in the horizontal direction or the vertical direction.

제1 데이터를 복수 개의 단위 셀(unit cell)에 대응하는 제2 데이터로 변환할 수 있다. 인접한 복수 개의 제1 데이터의 휘도값을 평균하여, 단위 셀에 대응하는 제2 데이터로 정할 수 있다.The first data can be converted into second data corresponding to a plurality of unit cells. The luminance values of a plurality of adjacent first data may be averaged to determine second data corresponding to the unit cell.

예를 들어, 수평방향의 하나의 열로부터 a1, a2, 2P11, 2P12, ..., 2P1 (i-1), 2P1i, b2, b1 의 제2 데이터를 도출할 수 있다. 수평방향으로 연속적으로 나열된 셀로부터 얻은 제2 데이터는 m*n 개일 수 있다.For example, to derive the second data of a 1 , a 2 , 2P 11 , 2P 12 , ..., 2P 1 (i-1) , 2P 1i , b 2 , b 1 from one row in the horizontal direction . The second data obtained from the cells continuously arranged in the horizontal direction may be m * n.

무빙 에버리지를 도출하는 경우, 광원의 테두리에 위치한 셀로부터 얻은 신뢰도가 낮은 제2 데이터는 제외될 수 있다. 예를 들어, 제2 데이터가 z개의 제1 데이터를 평균내어 도출되는 경우, z개 미만의 제1 데이터를 기초로 도출된 제2 데이터는 무빙 에버리지를 도출하는 데에 활용되지 않을 수 있다.In deriving the moving average, the second data with low reliability obtained from the cell located at the edge of the light source may be excluded. For example, if the second data is derived by averaging z first data, the second data derived based on less than z first data may not be utilized to derive the moving average.

도 4 에 도시된 바와 같이, z 가 5 인 경우, 세 개의 제1 데이터를 평균 내어 도출된 a1 및 b1 과, 네 개의 제1 데이터를 평균 내어 도출된 a2 및 b2는 무빙 에버리지를 도출하는데 활용되지 않을 수 있다.As shown in FIG. 4, when z is 5, a1 and b1 derived by averaging the three first data and a2 and b2 derived by averaging the four first data are utilized to derive the moving average .

도 5 를 참조하면, 수직방향으로 연속적으로 나열된 기 설정된 개수의 셀로부터 제2 데이터를 도출할 수 있다. 예를 들어, 수직방향의 하나의 열로부터 a1, a2, 2P11, 2P21,..., 2P(k-1)1, 2Pk1, b2, b1 의 제2 데이터를 도출할 수 있다. Referring to FIG. 5, second data can be derived from a predetermined number of cells continuously arranged in the vertical direction. For example, to derive the second data of a 1 , a 2 , 2P 11 , 2P 21 , ..., 2P (k-1) 1 , 2P k1 , b 2 , b 1 from one row in the vertical direction .

무빙 에버리지를 도출하는 경우, 광원의 테두리에 위치한 셀로부터 얻은 신뢰도가 낮은 제2 데이터는 제외될 수 있다. 예를 들어, 제2 데이터가 z개의 제1 데이터를 평균내어 도출되는 경우, z개 미만의 제1 데이터를 기초로 도출된 제2 데이터는 무빙 에버리지를 도출하는 데에 활용되지 않을 수 있다.In deriving the moving average, the second data with low reliability obtained from the cell located at the edge of the light source may be excluded. For example, if the second data is derived by averaging z first data, the second data derived based on less than z first data may not be utilized to derive the moving average.

도 5 에 도시된 바와 같이, z 가 5 인 경우, 세 개의 제1 데이터를 평균 내어 도출된 a1 및 b1 과, 네 개의 제1 데이터를 평균 내어 도출된 a2 및 b2는 무빙 에버리지를 도출하는데 활용되지 않을 수 있다.As shown in FIG. 5, when z is 5, a1 and b1 derived by averaging three first data and a2 and b2 derived by averaging the four first data are utilized to derive moving average .

5개의 인접한 셀의 휘도 값(Original data)의 평균 값이, 새로운 하나의 단위 셀에 대응하는 휘도 값(New data)으로 변환되어 정하여질 수 있다. 변환 전의 휘도 값(Original data)은 제1 데이터일 수 있고, 변환 후의 휘도 값(New data)은 제2 데이터일 수 있다.The average value of the luminance values (original data) of the five adjacent cells can be converted into the luminance value (New data) corresponding to a new unit cell and can be determined. The luminance value (Original data) before the conversion may be the first data, and the luminance value (New data) after the conversion may be the second data.

도 6은 신뢰도가 낮은 제2 데이터를 제외하는 방법에 관한 도면이다.6 is a diagram of a method for excluding second data with low reliability.

도 6 을 참조하면, 일 실시예의 광원의 휘도 평가 방법은, 제2 데이터의 무빙 에버리지(moving average)를 구하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 무빙 에버리지를 구하는 단계는, 복수의 수직 셀집합의 제2 데이터 또는 복수의 수평 셀집합의 제2 데이터를 평균낸 수직 무빙 에버리지 및 수평 무빙 에버리지를 계산할 수 있다.Referring to FIG. 6, the luminance evaluation method of the light source of one embodiment may include a step of obtaining a moving average of the second data. For example, the step of obtaining moving average can calculate the vertical moving average and the horizontal moving average that averaged the second data of a plurality of vertical cell sets or the second data of a plurality of horizontal cell sets.

무빙 에버리지를 계산하는 단계는, 광원의 외곽에 위치한 신뢰도가 낮은 수직 셀집합 또는 수평 셀집합은 제외하고, 무빙 에버리지를 계산할 수 있다.The step of calculating moving average can calculate the moving average except for a set of low-reliability vertical cells or a set of horizontal cells located at the outer periphery of the light source.

제1 데이터가 가로와 세로의 길이가 각각 3 밀리미터인 영역에 대응하는 휘도 값이라면, 제2 데이터는 인접하는 영역의 제1 데이터를 평균한 값이고, 제2 데이터 중 좌측과 우측의 일부 영역(n-1)/2에 대응하는 값은 무시될 수 있다.If the first data is a luminance value corresponding to an area having a length of 3 mm and a length of 3 mm respectively, the second data is a value obtained by averaging the first data of the adjacent area, and a part of the left and right n-1) / 2 may be ignored.

신뢰도가 낮은 수직 셀집합 또는 수평 셀집합은 광원의 테두리로부터 (n-1)/2 개의 셀을 포함하는 셀집합이며, n 은 복수의 셀의 수직방향의 개수인 nver 또는 수평방향의 개수인 nhor 일 수 있다.(N-1) / 2 cells from the edge of the light source, n is the number of vertical directions of the plurality of cells, n ver, or the number of horizontal directions n hor may be.

무빙 에버리지(Ma)를 구하는 방법은 복수개일 수 있다. 무빙 에버리지(Ma)를 구하는 제1 방법에서, 무빙 에버리지(Ma)는 각각의 셀집합으로부터 도출한 셀집합의 평균 휘도 값인 제2 데이터의 평균 값일 수 있다.Obtaining a moving AVERAGE (M a) may be a plurality. AVERAGE moving in a first method to obtain the (M a), the moving AVERAGE (M a) may be a value of the average value of average brightness of a set of cells derived from each set of cells second data.

무빙 에버리지(MaS)를 구하는 제2 방법에서, 제2 데이터를 제2 데이터의 기초가 되는 제1 데이터 중 가장 큰 제1 데이터로 나눈 스케일링된 제2 데이터를 평균낸 값일 수 있다. 따라서, 스케일링된 제2 데이터는 0과 1 사이에 위치한 값일 수 있다.In a second method to obtain a moving AVERAGE (M aS), the may be a value averaged for the first scaled second data divided by the largest first data of the data that is the basis of the second data the second data. Thus, the scaled second data may be a value located between 0 and 1.

무빙 에버리지를 구할 때, 셀집합의 개수를 무빙 에버리지 데이터 넘버(moving average data number)라고 할 수 있다. 무빙 에버리지 데이터 넘버는 홀수로 할 수 있고, 만약 무빙 에버리지 데이터 넘버가 짝수인 경우, 상기 무빙 에버리지 개수보다 1개 더 많은 개수의 셀집합의 평균 휘도 값을 제2 데이터로 도출할 수 있다. 무빙 에버리지 데이터 넘버는 샘플의 길이, 즉 측정된 광원의 길이에 따라 변할 수 있는데, 샘플의 길이를 25로 나눈 값 무빙 에버리지 데이터 넘버로 할 수 있다. When moving average is obtained, the number of cell aggregates can be referred to as a moving average data number. The moving average data number may be an odd number, and if the moving average data number is an even number, the average luminance value of the number of sets of the number of cells that is one more than the moving average number may be derived as the second data. The moving average data number may vary depending on the length of the sample, that is, the length of the measured light source, which can be a moving average data number obtained by dividing the length of the sample by 25.

무빙 에버리지는 수직방향으로 나열된 셀들의 셀집합의 제2 데이터로부터 도출한 수직 무빙 에버리지와, 수평방향으로 나열된 셀들의 셀집합의 제2 데이터로부터 도출한 수평 무빙 에버리지가 있다.Moving average is the vertical moving average derived from the second data of the cell set of cells arranged in the vertical direction and the horizontal moving average derived from the second data of the cell set of cells arranged in the horizontal direction.

일 실시예의 광원의 휘도 평가방법은, 상기 수직 무빙 에버리지 또는 상기 수평 무빙 에버리지와 상기 제2 데이터의 차이로부터 수직 리플 팩터 및 수평 리플 팩터를 구하는 단계를 포함할 수 있다. 상술한 무빙 에버리지로부터 리플 팩터(ripple factor)를 구한다. 리플 팩터(RF)는 아래의 수학식 1 또는 수학식 2 로 정의될 수 있다.The brightness evaluation method of the light source of one embodiment may include obtaining a vertical ripple factor and a horizontal ripple factor from the difference between the vertical moving average or the horizontal moving average and the second data. A ripple factor is obtained from the above-mentioned moving average. The ripple factor (RF) can be defined by the following equation (1) or (2).

수학식 1Equation 1

RF=(Draw-Ma)/Ma RF = (D raw- M a ) / M a

수학식 2Equation 2

RF=DSraw-MaS
RF = D Sraw -M aS

리플팩터(RF)는 무빙 에버리지(Ma)를 위에서 언급한 제1 방법으로 구한 경우, 수학식 1로 구할 수 있고, 무빙 에버리지(MaS)를 위에서 언급한 제2 방법으로 구한 경우, 수학식 2로 구할 수 있다.When obtained by the ripple factor (RF) when determined in the first method mentioned above, the moving AVERAGE (M a), can be obtained by equation (1), moving AVERAGE second method mentioned above, the (M aS), equation 2 can be obtained.

무빙 에버리지(Ma)를 구하는 방법은 복수개일 수 있다. 무빙 에버리지(Ma)를 구하는 제1 방법에서, 무빙 에버리지(Ma)는 각각의 셀집합으로부터 도출한 셀집합의 평균 휘도 값인 제2 데이터의 평균 값일 수 있다. 무빙 에버리지(MaS)를 구하는 제2 방법에서, 제2 데이터를 제2 데이터의 기초가 되는 제1 데이터 중 가장 큰 제1 데이터로 나눈 스케일링된 제2 데이터를 평균낸 값일 수 있다.Obtaining a moving AVERAGE (M a) may be a plurality. AVERAGE moving in a first method to obtain the (M a), the moving AVERAGE (M a) may be a value of the average value of average brightness of a set of cells derived from each set of cells second data. In a second method to obtain a moving AVERAGE (M aS), the may be a value averaged for the first scaled second data divided by the largest first data of the data that is the basis of the second data the second data.

즉, 리플 팩터(RF)는 각각의 Draw 또는 DSraw 가 무빙 에버리지(Ma 또는 MaS)로부터 얼마만큼 차이가 나는지를 나타낼 수 있고, Draw는 각각의 단위 셀에 대응하는 평균 휘도 값인 제2 데이터일 수 있다.That is, the ripple factor RF may indicate how much the respective D raw or D Sraw differs from the moving average (M a or M aS ), and D raw may represent the average luminance value corresponding to each unit cell 2 < / RTI > data.

리플 팩터는 수직 무빙에버리지로부터 도출한 수직 리플 팩터와, 수평 무빙에버리지로부터 도출한 수평 리플 팩터가 있을 수 있다.The ripple factor can be a vertical ripple factor derived from the throw in vertical moving and a horizontal ripple factor derived from the throw in horizontal moving.

수학식 1 로 리플 팩터를 구하는 경우, 수직 리플 팩터 또는 수평 리플 팩터는 (Draw-Ma)/Ma이고, Draw는 수직 셀집합 또는 수평 셀집합의 제2 데이터고, Ma는 수직 무빙 에버리지 또는 수평 무빙 에버리지일 수 있다.If you obtain a ripple factor in equation (1), and vertical or horizontal ripple factor ripple factor (D a raw -M) / M and a, D a second raw data set of cells in the vertical or horizontal cell group, M is a vertical Moving average or horizontal moving average.

수학식 2 로 리플 팩터를 구하는 경우, 수직 리플 팩터 또는 수평 리플 팩터는 DSraw-MaS 이고, DSraw 는 수직 셀집합 또는 수평 셀집합의 제2 데이터고, MaS 는 수직 무빙 에버리지 또는 수평 무빙 에버리지일 수 있다.When the ripple factor is obtained from Equation (2), the vertical ripple factor or the horizontal ripple factor is D Sraw -M aS , D Sraw is the second data of the vertical cell set or horizontal cell set, M aS is the vertical moving average or horizontal moving It can be over-the-air.

각각의 단위 셀에 대응하는 리플 팩터(RF)는 무빙 에버리지(Ma)보다 크거나 같거나 혹은 작을 수 있다.The ripple factor RF corresponding to each unit cell may be greater than, equal to, or less than the moving average M a .

리플 팩터는 각각의 단위 셀의 휘도가 무빙 에버리지(Ma)로부터 얼마만큼 차이가 나는지를 나타낼 수 있다. 그러나, 리플 팩터는 +값 또는 -값을 나타내므로 조명 장치 내에서 각각의 단위 셀의 리플 팩터를 평균하더라도, +값과 -값이 상쇄되어 조명 장치가 전체적으로 균일한지 여부를 나타내기 어렵다.Ripple factor may indicate the luminance of each of the unit cells of naneunji differ much from moving AVERAGE (M a). However, since the ripple factor represents the + value or the negative value, even if the ripple factors of the unit cells in the illumination apparatus are averaged, + and - values are canceled to make it difficult to indicate whether the illumination apparatus is uniform as a whole.

일 실시예의 광원의 휘도 평가 방법은, 수직 리플 팩터 및 수평 리플 팩터의 분산을 구하는 단계 및 수직 리플 팩터의 분산과 수평 리플 팩터의 분산의 크기를 비교하는 단계를 포함할 수 있다.The method of evaluating the luminance of the light source of one embodiment may include obtaining the variance of the vertical ripple factor and the horizontal ripple factor and comparing the variance of the vertical ripple factor and the variance of the horizontal ripple factor.

리플 팩터(RF)의 분산을 구하면, 각각의 단위 셀의 휘도가 무빙 에버리지(Ma)로부터 얼마만큼 차이가 나는지를 확인하여, 조명 장치 내에서의 휘도 균일성을 확인할 수 있다.When the dispersion of the ripple factor RF is obtained, it is possible to confirm how much the luminance of each unit cell differs from the moving average (M a ), thereby confirming the luminance uniformity in the lighting apparatus.

리플 팩터의 분산은 아래의 수학식 2로부터 구할 수 있다.The dispersion of the ripple factor can be found from the following equation (2).

수학식 2Equation 2

VRF=VAR[(Draw-Ma)/Ma] VRF = VAR [(D raw -M a) / M a]

VRF는 리플 팩터의 분산을 나타내며, 기재된 바와 같이 각각의 Draw가 무빙 에버리지(Ma)로부터 얼마만큼 차이가 나는지를 나타내며, 이때 각각의 Draw가 무빙 에버리지(Ma)보다 크거나 작은지 여부를 고려하지 않는다.VRF is whether a small denotes the variance of the ripple factor, as described shows the respective D raw an naneunji differ much from moving AVERAGE (M a) As described, this time is greater each D raw more moving AVERAGE (M a), or .

일 실시예의 광원의 휘도 평가 방법은, 수직 리플 팩터의 분산과 수평 리플 팩터의 분산의 크기 중 더 큰 것을 휘도 파라미터로 결정할 수 있다.The luminance evaluation method of the light source of one embodiment can determine the larger of the dispersion of the vertical ripple factor and the dispersion of the horizontal ripple factor as the luminance parameter.

도 7 내지 도 10는 일 실시예의 광원의 휘도 평가 방법을 사용하여 마련한 휘도 분포를 나타낸다.7 to 10 show luminance distributions prepared using the luminance evaluation method of the light source of one embodiment.

도 7 내지 도 10 을 참조하면, 상기의 광원의 휘도 평가 방법을 통하여 2차원으로 측정된 광원의 휘도에 대한 데이터를 확인할 수 있다.Referring to FIGS. 7 to 10, data on the luminance of the light source measured in two dimensions can be confirmed through the luminance evaluation method of the light source.

도 7 을 참조하면, 광원의 구역별 휘도의 차이를 색상과 높이를 통하여 파악할 수 있고, 도 8 을 참조하면, 제2 데이터로부터 도출한 2차원의 무빙 에버리지를 확인할 수 있다. 도 9 를 참조하면, 원자료(raw data)와 2차원의 무빙 에버리지값을 함께 표시하여, 평균화된 휘도값을 확인할 수 있고, 도 10 을 참조하면, 2차원의 무빙 에버리지 값으로부터 리플 팩터를 도출하여 도시한 사항을 확인할 수 있다.Referring to FIG. 7, the difference in luminance of each light source can be detected through color and height. Referring to FIG. 8, the two-dimensional moving average derived from the second data can be confirmed. Referring to FIG. 9, raw data and two-dimensional moving average values are displayed together to confirm the averaged luminance value. Referring to FIG. 10, a ripple factor is derived from a two-dimensional moving average value You can see what you see.

상술한 광원의 휘도 평가 방법은 리플 팩터의 분산인 VRF를 도입하여, 조명 장치 등의 광원 내에서 각 영역의 휘도 분포의 균일성을 정량화하여 판단할 수 있다. 그리고, 제1 데이터로부터 제2 데이터의 변환 단계에서 가장 자리 영역의 데이터를 제거하여, 가장 자리 영역에서의 낮은 휘도 값의 영향을 배제할 수 있다.In the brightness evaluation method of the light source described above, VRF which is dispersion of the ripple factor can be introduced to determine the uniformity of the luminance distribution in each region in the light source such as an illumination device. Then, in the conversion of the second data from the first data, the data of the edge region can be removed, and the influence of the low luminance value in the edge region can be excluded.

상술한 광원의 휘도 평가 방법은, 광원의 휘도를 2차원적으로 계산하여 휘도 파라미터를 도출하여, 1차원적으로 휘도를 계산한 휘도 파라미터의 경우 발생할 수 있는 휘도를 조사하는 셀과 조명의 내부에 배치된 광원이 수직적으로 중첩되지 않는 경우, 발생이 가능한 오차를 최소화할 수 있다.The luminance evaluation method of the light source described above is a method of calculating the luminance of a light source two-dimensionally to derive a luminance parameter, and in a case where a luminance parameter is calculated in a one- When the arranged light sources are not superimposed vertically, the error that can occur can be minimized.

이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재될 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다.It is to be understood that the terms "comprises", "comprising", or "having" as used in the foregoing description mean that the constituent element can be implanted unless specifically stated to the contrary, But should be construed as further including other elements.

기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다.All terms, including technical and scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs, unless otherwise defined.

사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥 상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Commonly used terms, such as predefined terms, should be interpreted to be consistent with the contextual meanings of the related art, and are not to be construed as ideal or overly formal, unless expressly defined to the contrary.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다.The foregoing description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention.

이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, It will be understood that various modifications and applications are possible.

예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
For example, each component specifically shown in the embodiments can be modified and implemented. It is to be understood that all changes and modifications that come within the meaning and range of equivalency of the claims are therefore intended to be embraced therein.

10: 기판 50: 발광소자
100: 조명 장치
10: substrate 50: light emitting element
100: Lighting device

Claims (13)

광원을 복수의 셀로 구획하는 단계;
상기 복수의 셀 각각의 휘도를 측정하여 복수의 제1 데이터를 구하는 단계;
상기 복수의 셀을 수직방향으로 나열하여 구분한 복수의 수직 셀집합 및 상기 복수의 셀을 수평방향으로 나열하여 구분한 복수의 수평 셀집합의 제2 데이터를 도출하는 단계;
상기 복수의 수직 셀집합의 제2 데이터 또는 상기 복수의 수평 셀집합의 제2 데이터를 평균낸 수직 무빙 에버리지 및 수평 무빙 에버리지를 계산하는 단계; 및
상기 수직 무빙 에버리지 또는 상기 수평 무빙 에버리지와 상기 제2 데이터의 차이로부터 수직 리플 팩터 및 수평 리플 팩터를 구하는 단계;를 포함하는 광원의 휘도 평가방법.
Dividing the light source into a plurality of cells;
Measuring a luminance of each of the plurality of cells to obtain a plurality of first data;
Deriving second data of a set of a plurality of vertical cells that are divided by arranging the plurality of cells in a vertical direction and a plurality of sets of horizontal cells that are arranged by horizontally arranging the plurality of cells;
Calculating vertical moving average and horizontal moving average that averages the second data of the plurality of sets of vertical cells or the second data of the plurality of sets of horizontal cells; And
And obtaining a vertical ripple factor and a horizontal ripple factor from the difference between the vertical moving average or the horizontal moving average and the second data.
제1항에 있어서,
상기 리플 팩터를 구하는 단계;에서,
상기 수직 리플 팩터 또는 상기 수평 리플 팩터는 (Draw-Ma)/Ma이고,
Draw는 상기 수직 셀집합 또는 상기 수평 셀집합의 제2 데이터고, Ma는 상기 수직 무빙 에버리지 또는 상기 수평 무빙 에버리지인 광원의 휘도 평가 방법.
The method according to claim 1,
In the step of obtaining the ripple factor,
The vertical ripple factor or the ripple factor is the horizontal (D raw -M a) / M a,
D raw is a second data height of the vertical cell set or the horizontal cell set, and M a is the vertical moving average or the horizontal moving average.
제1항에 있어서,
상기 제2 데이터를 상기 제2 데이터의 기초가 되는 상기 제1 데이터 가장 큰 제1 데이터로 나눈 스케일링된 제2 데이터를 구하는 단계;를 더 포함하는 광원의 휘도 평가 방법.
The method according to claim 1,
And obtaining second data scaled by dividing the second data by the first data having the largest first data as a basis of the second data.
제3항에 있어서,
상기 무빙 에버리지는 계산하는 단계;에서,
복수의 상기 스케일링된 제2 데이터를 평균내 상기 무빙에버리지를 구하는 광원이 휘도 평가방법.
The method of claim 3,
Wherein the moving average is calculated,
And deriving a plurality of the scaled second data from the average to the moving image.
제4항에 있어서,
상기 리플 팩터를 구하는 단계;에서,
상기 수직 리플 팩터 또는 상기 수평 리플 팩터는 DSraw-MaS이고,
DSraw는 상기 스케일링된 제2 데이터고, MaS는 상기 수직 무빙 에버리지 또는 상기 수평 무빙 에버리지인 광원의 휘도 평가 방법.
5. The method of claim 4,
In the step of obtaining the ripple factor,
Wherein the vertical ripple factor or the horizontal ripple factor is D Sraw- M aS ,
D Sraw is the scaled second data height , and M aS is the vertical moving average or the horizontal moving average.
제1항에 있어서,
상기 제2 데이터를 도출하는 단계;에서,
상기 제2 데이터는 상기 수직 셀집합 또는 상기 수평 셀집합에 포함되는 상기 복수의 셀의 제1 데이터의 평균값인 광원의 휘도 평가 방법.
The method according to claim 1,
Deriving the second data,
Wherein the second data is an average value of the first data of the plurality of cells included in the set of vertical cells or the set of horizontal cells.
제1항에 있어서,
상기 수직 리플 팩터 및 상기 수평 리플 팩터의 분산을 구하는 단계;를 더 포함하는 광원의 휘도 평가 방법.
The method according to claim 1,
And obtaining a dispersion of the vertical ripple factor and the horizontal ripple factor.
제7항에 있어서,
상기 수직 리플 팩터의 분산과 상기 수평 리플 팩터의 분산의 크기를 비교하는 단계;를 더 포함하는 광원의 휘도 평가 방법.
8. The method of claim 7,
And comparing the variance of the vertical ripple factor with the magnitude of the variance of the horizontal ripple factor.
제8항에 있어서,
상기 수직 리플 팩터의 분산과 상기 수평 리플 팩터의 분산의 크기 중 더 큰 것을 휘도 파라미터로 결정하는 광원의 휘도 평가 방법.
9. The method of claim 8,
Wherein the luminance parameter is larger than the variance of the vertical ripple factor and the variance of the horizontal ripple factor.
제1항에 있어서,
상기 무빙 에버리지를 계산하는 단계;는,
상기 광원의 외곽에 위치한 신뢰도가 낮은 상기 수직 셀집합 또는 상기 수평 셀집합은 제외하고, 상기 무빙 에버리지를 계산하는 광원의 휘도 평가 방법.
The method according to claim 1,
Calculating the moving average,
And calculating the moving average by excluding the set of vertical cells or the set of horizontal cells having a low reliability at an outer edge of the light source.
제10항에 있어서,
상기 신뢰도가 낮은 상기 수직 셀집합 또는 상기 수평 셀집합은 상기 광원의 테두리로부터 (n-1)/2 개의 셀을 포함하는 셀집합이며,
상기 n 은 상기 복수의 셀의 수직방향의 개수인 nver 또는 수평방향의 개수인 nhor 인 광원의 휘도 평가 방법.
11. The method of claim 10,
The set of vertical cells or the set of horizontal cells having the low reliability is a set of cells including (n-1) / 2 cells from the edge of the light source,
Wherein n is the number of the plurality of cells in the vertical direction, n ver, or the number of the horizontal direction is n hor .
제1 항에 있어서,
상기 셀을 구획하는 단계는,
가로 방향과 세로 방향의 크기가 각각 3 밀리미터인 복수 개의 영역을 상기 셀로 구획하는 광원의 휘도 평가 방법.
The method according to claim 1,
The step of partitioning the cells comprises:
And dividing a plurality of regions each having a size of a horizontal direction and a vertical direction of 3 millimeters into the cells.
기판;
상기 기판 상에 배치되는 적어도 1열의 발광소자 어레이를 포함하고,
상기 발광소자 어레이는 제9 항의 휘도 파라미터가 최소가 되도록 배치되는 조명 장치.
Board;
And at least one row of light emitting element arrays disposed on the substrate,
Wherein the light emitting element array is arranged such that the luminance parameter of the ninth aspect is minimized.
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